JPS62180250A - 部品実装基板の検査方法 - Google Patents
部品実装基板の検査方法Info
- Publication number
- JPS62180250A JPS62180250A JP61023292A JP2329286A JPS62180250A JP S62180250 A JPS62180250 A JP S62180250A JP 61023292 A JP61023292 A JP 61023292A JP 2329286 A JP2329286 A JP 2329286A JP S62180250 A JPS62180250 A JP S62180250A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- color
- image
- printed circuit
- signal
- circuit board
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/302—Contactless testing
- G01R31/308—Contactless testing using non-ionising electromagnetic radiation, e.g. optical radiation
- G01R31/309—Contactless testing using non-ionising electromagnetic radiation, e.g. optical radiation of printed or hybrid circuits or circuit substrates
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
- G01N2021/8845—Multiple wavelengths of illumination or detection
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
- G01N2021/8887—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges based on image processing techniques
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
- G01N21/95607—Inspecting patterns on the surface of objects using a comparative method
- G01N2021/95615—Inspecting patterns on the surface of objects using a comparative method with stored comparision signal
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
- G01N2021/95638—Inspecting patterns on the surface of objects for PCB's
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/10—Scanning
- G01N2201/102—Video camera
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Image Processing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（Ｈ業上の利用分野）
本発明は、部品が実装された被検査基板をＲ像して得ら
れる像を処理して前記基板上の部品の有５ｉｌｔ 、
（ｆｆ、 ｉごずれ等を検査する部品実装基板の検査方
法に関する。
れる像を処理して前記基板上の部品の有５ｉｌｔ 、
（ｆｆ、 ｉごずれ等を検査する部品実装基板の検査方
法に関する。
（従来の技術）
プリン１一基板に抵抗器や半導体木子等の各種デツプ部
品をマウントするときにＪ３いて自動マウント装置を用
いた場合、マウント後においてマウントデータどうりに
部品がマウントされていないことがある。
品をマウントするときにＪ３いて自動マウント装置を用
いた場合、マウント後においてマウントデータどうりに
部品がマウントされていないことがある。
このため、このような自動マウント装置等を用いる場合
には、マウント後にプリント基板をチェックして、この
プリント基板上の正規の位置に正当なチップ部品が正し
い姿勢（位置、方向）でマ。
には、マウント後にプリント基板をチェックして、この
プリント基板上の正規の位置に正当なチップ部品が正し
い姿勢（位置、方向）でマ。
ラントされているかどうか、また脱落がないかどうかを
検査する必要がある。
検査する必要がある。
しかしこのような検査を従来と同じように人手による目
視検査で行なっていたのでは、検査ミスの発生を完全に
無くすことができず、また検査速度を高めることができ
ないという問題がある。
視検査で行なっていたのでは、検査ミスの発生を完全に
無くすことができず、また検査速度を高めることができ
ないという問題がある。
そこで、近年、この種の検査を自動的に行なうことがで
きるプリント基板の自動検査装置が各メーカから種々提
案されている。
きるプリント基板の自動検査装置が各メーカから種々提
案されている。
第９図は、このような自動検査装置の一例を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
この図に示す自１１１Ｊ検査装置は、部品１が実装され
た被検査プリントＪｌ！根２−２や検査基準となる基へ
（プリント基（反２−１を画像するＴＶカメラ３と、こ
のＴＶカメラ３にＪ：つて撮像された前記基準プリント
基板２−１の画像（基準画像）を記憶する記憶部４と、
この記憶部４に記憶されている！、を県画像と前記ＴＶ
カメラ３から供給される前記被検査プリン１一基板２−
２の画像（被検査画像）とを比較して前記被検査プリン
ト基板２−２上に全ての部品１が有るかどうか、またこ
れらの部品１が位置ずれ笠を起こしているかどうかを判
定する判定回路５と、この判定回路５の判定結果を表示
する表示器６とを沿えて構成されている。
た被検査プリントＪｌ！根２−２や検査基準となる基へ
（プリント基（反２−１を画像するＴＶカメラ３と、こ
のＴＶカメラ３にＪ：つて撮像された前記基準プリント
基板２−１の画像（基準画像）を記憶する記憶部４と、
この記憶部４に記憶されている！、を県画像と前記ＴＶ
カメラ３から供給される前記被検査プリン１一基板２−
２の画像（被検査画像）とを比較して前記被検査プリン
ト基板２−２上に全ての部品１が有るかどうか、またこ
れらの部品１が位置ずれ笠を起こしているかどうかを判
定する判定回路５と、この判定回路５の判定結果を表示
する表示器６とを沿えて構成されている。
そして、１１ ｒｌｕプリンｌ−１板２−１として、例
えば第１０図（Ａ）に示ず如く緑色の素基板７上に茶色
の部品８と、白色の部品９と、黒色の部品１０とが載っ
ているものを前記ＴＶカメラ３によって踊りさせて、こ
の基準プリント基板２−１の画像を１１θ記記憶部４に
予め記憶させておけば、前記ＴＶカメラ３がこの基準プ
リント基板２−１と部品配列が異なるプリント基板、例
えば第１０図（Ｂ）に示すように白色の部品９が欠落し
ている被検査プリント基板２−２を搬像したとき、第１
１図（Ｂ）に示す如く前記ＴＶカメラ３が出力する走査
ラインａのビデオ信号Ｓ２と、第１１図（Ａ）に示す如
く前記記憶部４が出力する走査ラインａのビデオ信号Ｓ
１とが一致しなくなり、判定回路５がこれを検知して表
示器６上に第１１図（Ｃ）に示すＪ：うな差分信号Ｓ３
を供給して、この表示器６上に第１０図（Ｃ）に示す如
く、欠落している部品９を表示する。
えば第１０図（Ａ）に示ず如く緑色の素基板７上に茶色
の部品８と、白色の部品９と、黒色の部品１０とが載っ
ているものを前記ＴＶカメラ３によって踊りさせて、こ
の基準プリント基板２−１の画像を１１θ記記憶部４に
予め記憶させておけば、前記ＴＶカメラ３がこの基準プ
リント基板２−１と部品配列が異なるプリント基板、例
えば第１０図（Ｂ）に示すように白色の部品９が欠落し
ている被検査プリント基板２−２を搬像したとき、第１
１図（Ｂ）に示す如く前記ＴＶカメラ３が出力する走査
ラインａのビデオ信号Ｓ２と、第１１図（Ａ）に示す如
く前記記憶部４が出力する走査ラインａのビデオ信号Ｓ
１とが一致しなくなり、判定回路５がこれを検知して表
示器６上に第１１図（Ｃ）に示すＪ：うな差分信号Ｓ３
を供給して、この表示器６上に第１０図（Ｃ）に示す如
く、欠落している部品９を表示する。
（発明が解決しようとする問題点）
しかしながらこのような従来の自動検査装置においては
、プリント基板に実装される部品のなかで、素基板の色
とほぼ同じ色をしたものがある場合、例えば第１０図（
Ａ）、＜８）に示す如く緑色の素基板７上に黒色の部品
１０が載っている場合には、第１１図（Ａ）、（Ｂ）に
示す如く信号Ｓ１．８２の素基板７に対応する部分の信
号レベルと部品１０に対応する部分の信号レベルとの差
が小さくなり、例えこの部品１０が欠落していても、ま
た位置ずれを起していても、これを検出することができ
ないという問題があった。
、プリント基板に実装される部品のなかで、素基板の色
とほぼ同じ色をしたものがある場合、例えば第１０図（
Ａ）、＜８）に示す如く緑色の素基板７上に黒色の部品
１０が載っている場合には、第１１図（Ａ）、（Ｂ）に
示す如く信号Ｓ１．８２の素基板７に対応する部分の信
号レベルと部品１０に対応する部分の信号レベルとの差
が小さくなり、例えこの部品１０が欠落していても、ま
た位置ずれを起していても、これを検出することができ
ないという問題があった。
本発明は上記の事情に爲み、基板上にマウントされた部
品の色が素Ｍ板の色と異なっていれば、この部品の色が
素基板の色と似ていても、この部品の有無１ｆｉ９ｉｉ
’？ずれ等を検出することができる部品実装基板の検査
方法を堤供することを目的としている。
品の色が素Ｍ板の色と異なっていれば、この部品の色が
素基板の色と似ていても、この部品の有無１ｆｉ９ｉｉ
’？ずれ等を検出することができる部品実装基板の検査
方法を堤供することを目的としている。
（問題点を解決するための手段）
上記問題点を解決するため本発明による部品実装基板の
検査方法においては、部品が実装された基板を画像して
得られ１６画像を処即して前記基板上の部品を検査する
部品実装基板の検査方法であって、搬像動作によって１
！７られた複数色のカラー画像間に比較演Ｑを施し、部
品の部分と、部品以外の部分とを区別して前記基板上の
部品を検査することを特徴としている。
検査方法においては、部品が実装された基板を画像して
得られ１６画像を処即して前記基板上の部品を検査する
部品実装基板の検査方法であって、搬像動作によって１
！７られた複数色のカラー画像間に比較演Ｑを施し、部
品の部分と、部品以外の部分とを区別して前記基板上の
部品を検査することを特徴としている。
（実施例）
まず、この発明の詳細な説明に先立って、この発明によ
る検査方法の検査原理を説明する。
る検査方法の検査原理を説明する。
まず、一般的に色彩といわれているらのは色相と、明度
と、彩度とに区分される。
と、彩度とに区分される。
そして、従来の検査方法のように被検査プリント基板を
白黒ＴＶカメラによってｌ１ａｌＥし、これによって得
られる白黒ビデオ信号のレベルを判定するものでは、背
景素基板の色と、部品の色とが同じ明度レベルであれば
、これらを区別することができない。
白黒ＴＶカメラによってｌ１ａｌＥし、これによって得
られる白黒ビデオ信号のレベルを判定するものでは、背
景素基板の色と、部品の色とが同じ明度レベルであれば
、これらを区別することができない。
つまり、第５図で示すマンセル色相環の模式図において
示す如く、無彩＠１１に対して直角な面では、その明度
が同じくなるので、背景素基板の色が緑であり、かつ部
品の邑が赤であっても、これらの色が１つのマンセル色
相環１２を含む同じ面上にあれば、これら背景素基板の
信号レベルと、部品の信号レベルとが同じくなって、こ
れらを区別することができない。
示す如く、無彩＠１１に対して直角な面では、その明度
が同じくなるので、背景素基板の色が緑であり、かつ部
品の邑が赤であっても、これらの色が１つのマンセル色
相環１２を含む同じ面上にあれば、これら背景素基板の
信号レベルと、部品の信号レベルとが同じくなって、こ
れらを区別することができない。
そこで、被検査プリント基板をカラーＴＶカメラによっ
て躍影し、そのとき得られるＲ原色信号。
て躍影し、そのとき得られるＲ原色信号。
Ｇ原色信号、３原色信号のうちの１つ、例えばＲ原色信
号のみを用いることも考えられるが、このような方法で
は、背景素基板の色が、例えばＲ領域のうらの１つの明
度と同じ明度の無彩色であれば、マンセル表色系におい
て、これらが同じ明度になるので、例え部品の色が灰色
（白から黒までの明度のみの無彩色の１つ）をしていて
も、カラーＴＶカメラが出力するＲ原色信号中の前記背
狽素基板部分の信号レベルと竹記部品部分の信号レベル
とが同一になり、これらを区別することができない。
号のみを用いることも考えられるが、このような方法で
は、背景素基板の色が、例えばＲ領域のうらの１つの明
度と同じ明度の無彩色であれば、マンセル表色系におい
て、これらが同じ明度になるので、例え部品の色が灰色
（白から黒までの明度のみの無彩色の１つ）をしていて
も、カラーＴＶカメラが出力するＲ原色信号中の前記背
狽素基板部分の信号レベルと竹記部品部分の信号レベル
とが同一になり、これらを区別することができない。
そこで、被検査プリント基板をカラーＴＶカメラによっ
て県影し、これによって１９られるＲ原色信号、Ｇ原色
信号、Ｂ原色信号が特定の邑（例えば背景素基板の色が
緑なら緑色）を示している場合に、これらＲ原色信号、
Ｇ原色信号、Ｂ原色信号カットして、前記被検査プリン
ト基板のカラー画像から特定の色以外の画像である部品
の画像だけ抽出することも考えられるが、このような方
法では、背景素基板の色と部品とが同じような色相であ
るとき、これらを区別することができない。
て県影し、これによって１９られるＲ原色信号、Ｇ原色
信号、Ｂ原色信号が特定の邑（例えば背景素基板の色が
緑なら緑色）を示している場合に、これらＲ原色信号、
Ｇ原色信号、Ｂ原色信号カットして、前記被検査プリン
ト基板のカラー画像から特定の色以外の画像である部品
の画像だけ抽出することも考えられるが、このような方
法では、背景素基板の色と部品とが同じような色相であ
るとき、これらを区別することができない。
そこでこの発明では、次に述べるようにして基板上にマ
ウントされた部品の色と素基板の色とが似ていても、こ
の部品の有無１位置ずれ等を検出し得るようにしている
。
ウントされた部品の色と素基板の色とが似ていても、こ
の部品の有無１位置ずれ等を検出し得るようにしている
。
まず、第６図に示すようにＸＹＺ表色系をＸ−Ｙ表示し
た色度図において、Ｘ−Ｙ＝にという関数を表わせば、
これはＹ軸（Ｇ原色信号に対応りる軸）の値にの点を通
り、かつＸ軸（Ｒ原色信号に対応する軸）と４５度の角
痩を持って、スベク］・ル軌跡１３と交差する直線にな
る。
た色度図において、Ｘ−Ｙ＝にという関数を表わせば、
これはＹ軸（Ｇ原色信号に対応りる軸）の値にの点を通
り、かつＸ軸（Ｒ原色信号に対応する軸）と４５度の角
痩を持って、スベク］・ル軌跡１３と交差する直線にな
る。
したがって、カラーＴＶカメラが出力するＲ原色信号、
Ｇ原色信号、３原色信号のうち、Ｒ原色信号からＧ原色
信号を減口した信号、つまりＲ−Ｇの減算ビデオ信号を
求めれば、これはＸ−Ｙ＝０という関数で表わされる直
線によって前記スペクトル軌跡１３を分割することにな
る。
Ｇ原色信号、３原色信号のうち、Ｒ原色信号からＧ原色
信号を減口した信号、つまりＲ−Ｇの減算ビデオ信号を
求めれば、これはＸ−Ｙ＝０という関数で表わされる直
線によって前記スペクトル軌跡１３を分割することにな
る。
つまり、刺激純度１００％のスペクトル軌跡１３のＲ−
Ｇの減算ビデオ信号の値を求めて第７図に示す如く、縦
軸にこの値をとり、横軸にその波長を示せば分るように
、スペクトル軌跡１３のうら前記Ｘ−Ｙ−０という関数
より上にある部分と、下にある部分とがレベル０を中心
として２分される。
Ｇの減算ビデオ信号の値を求めて第７図に示す如く、縦
軸にこの値をとり、横軸にその波長を示せば分るように
、スペクトル軌跡１３のうら前記Ｘ−Ｙ−０という関数
より上にある部分と、下にある部分とがレベル０を中心
として２分される。
そしてこのどぎ、この定数Ｋを用いれば、この定数にの
値を基準として、色相および刺激純度の相違を値として
捉えることができる。ただしこの！３合、関数Ｘ−Ｙ＝
には色度図のスペクトル軌跡１３と２回交差するので、
ある色彩を識別抽出しようとする場合には、交差する２
点問に挟まれた波長域の色相および刺激純度を識別抽出
することになる。
値を基準として、色相および刺激純度の相違を値として
捉えることができる。ただしこの！３合、関数Ｘ−Ｙ＝
には色度図のスペクトル軌跡１３と２回交差するので、
ある色彩を識別抽出しようとする場合には、交差する２
点問に挟まれた波長域の色相および刺激純度を識別抽出
することになる。
したがって、特定の色相と刺激純度とを有する色彩を検
出したいときには、第７図に示す如く定数に１．に２を
用い、これらの定ａＫ１．に２によってＲ−Ｇの減９ビ
デオ信号の大小を判別すれば良い。
出したいときには、第７図に示す如く定数に１．に２を
用い、これらの定ａＫ１．に２によってＲ−Ｇの減９ビ
デオ信号の大小を判別すれば良い。
そして、あらゆる色相、明度、彩度の標準色票を用いた
実験によるとカラーＴＶカメラのＲ原色信号からＧｔｉ
；を色信号を減口して１［ＩられたＲ−Ｇの減算ビデオ
信号の値をＯ〜２５６レベルに正規化した場合、例えば
Ｏ〜１００レベルの中に緑色系の（ユどんどの色彩（Ｙ
Ｇ系、Ｇ系、８Ｇ系ンを包含することができ、１０ルベ
ルを越えた色彩と区別できることが分った。
実験によるとカラーＴＶカメラのＲ原色信号からＧｔｉ
；を色信号を減口して１［ＩられたＲ−Ｇの減算ビデオ
信号の値をＯ〜２５６レベルに正規化した場合、例えば
Ｏ〜１００レベルの中に緑色系の（ユどんどの色彩（Ｙ
Ｇ系、Ｇ系、８Ｇ系ンを包含することができ、１０ルベ
ルを越えた色彩と区別できることが分った。
しかし、緑色系の色でも刺激純度が低い場合には、無彩
色との差が小さくなり、区別が付は難くなるので、ある
稈瓜以上の刺激純度が必要であることは論をまたない。
色との差が小さくなり、区別が付は難くなるので、ある
稈瓜以上の刺激純度が必要であることは論をまたない。
すなわら、刺激純度が適宜な値となる緑色に塗装された
基板については、部品が緑色でなければ、これが無彩色
でもＲ原色信号からＧ原色信号を減口したＲ−Ｇの減筒
ビデオ信号またはＧ原色信号からＲ原色信号を減筒した
Ｇ−Ｒの減口ビデオ信号を用いることにより、部品画像
を抽出することができる。
基板については、部品が緑色でなければ、これが無彩色
でもＲ原色信号からＧ原色信号を減口したＲ−Ｇの減筒
ビデオ信号またはＧ原色信号からＲ原色信号を減筒した
Ｇ−Ｒの減口ビデオ信号を用いることにより、部品画像
を抽出することができる。
また、Ｒ原色信号からＧ原色信号をα倍した信号を減算
して得られるＲ−α・Ｇの減算ビデオ信号を用いても同
様な効果を得ることができる。
して得られるＲ−α・Ｇの減算ビデオ信号を用いても同
様な効果を得ることができる。
同様な理由により、Ｙ−ＫＸなる関数を利用し、Ｒ／Ｇ
またはＧ／Ｒなる除算ビデオ信号を用いることもできる
。そして実際に実験してみると、この場合には、減陣ど
デオ信号を用いた場合よりも緑色系の選択識別性が高く
なることが確認された。
またはＧ／Ｒなる除算ビデオ信号を用いることもできる
。そして実際に実験してみると、この場合には、減陣ど
デオ信号を用いた場合よりも緑色系の選択識別性が高く
なることが確認された。
また、ＸＹＺ表色系における色度図をＹ−Ｚ表示してみ
ると第８図のようになり、黄色系を中心とした色彩系（
ＹＲ，Ｙ、ＹＧ）の選択識別が可能であることも分った
。
ると第８図のようになり、黄色系を中心とした色彩系（
ＹＲ，Ｙ、ＹＧ）の選択識別が可能であることも分った
。
すなわち、黄色系に塗装された基板に対して、Ｇ−８ま
たはＢ−Ｇなる減算ビデオ信号を求めれば、黄色系以外
のいかなる色の部品についても選択抽出が可能である。
たはＢ−Ｇなる減算ビデオ信号を求めれば、黄色系以外
のいかなる色の部品についても選択抽出が可能である。
さらに、Ｇ／ＢまたはＢ／Ｇなる除算ビデオ信号も高い
選択性を有し、黄色系の選別に有効である。
選択性を有し、黄色系の選別に有効である。
また、Ｂ／ （Ｒ＋Ｇ）、Ｇ／ （Ｒ±Ｂ）などのよう
に他の演算式によっても色彩の選択識別が可能である。
に他の演算式によっても色彩の選択識別が可能である。
また上述した各演算式のうち、相異なる２つ以上の演算
式によって得られた減算ビデオ信号（または除算ビデオ
信号）を各々に対応したレベルで２値化するとともに、
その２値化結果の論理積をとることにより、特定の色相
および刺激純度の色のみを識別することも勿論可能であ
る。
式によって得られた減算ビデオ信号（または除算ビデオ
信号）を各々に対応したレベルで２値化するとともに、
その２値化結果の論理積をとることにより、特定の色相
および刺激純度の色のみを識別することも勿論可能であ
る。
次に、上述した部品検出原理に基づく、この発明による
部品実装基板根の検査方法について具体的に説明する。
部品実装基板根の検査方法について具体的に説明する。
第１図は、この発明による部品実装基板の検査方法の一
実施例を適用したプリント基板の自動検査装置の一構成
例を示すブロック図である。
実施例を適用したプリント基板の自動検査装置の一構成
例を示すブロック図である。
この図に示す自動検査装置は、黄色系に塗装されたプリ
ント基板に対して、Ｇ−Ｂの減りビデオ信号（またはＢ
−Ｇの減算ビデオ信号）を求めて、黄色系以外のいかな
る色の部品についても部品画像を抽出できるようにした
ものであり、Ｘ−Ｙテーブル部１５と、撮像７２Ｓ１６
と、処理部１７と、判定結果出力部１８と、情報入力部
１９と、テーブルコントローラ２０と、躍＆コントロー
ラ２１を備えて構成されている。
ント基板に対して、Ｇ−Ｂの減りビデオ信号（またはＢ
−Ｇの減算ビデオ信号）を求めて、黄色系以外のいかな
る色の部品についても部品画像を抽出できるようにした
ものであり、Ｘ−Ｙテーブル部１５と、撮像７２Ｓ１６
と、処理部１７と、判定結果出力部１８と、情報入力部
１９と、テーブルコントローラ２０と、躍＆コントロー
ラ２１を備えて構成されている。
Ｘ−Ｙテーブル部１５は、テーブルコントローラ２０に
よって制御される２つのパルスモータ２２．２３と、こ
れらの各パルスモータ２２゜２３によってＸ軸方向およ
びＹ軸方向に駆動されるテーブル２４と、このテーブル
２４上に載せられた基準プリン１一基板２５−１や被検
査プリント基板２５−２を固定するチャック機構２６と
を備えて構成されるものであり、前記テーブル２４上に
載せられた基準プリント基板２５−１ （または被検査
プリント基板２５−２＞は前記チャック機構２６によっ
て固定された後、前記各パルスモータ２２．２３によっ
てＸ軸方向およびＹ軸方向の位置が決められ、九咎部１
６によって囮像される。
よって制御される２つのパルスモータ２２．２３と、こ
れらの各パルスモータ２２゜２３によってＸ軸方向およ
びＹ軸方向に駆動されるテーブル２４と、このテーブル
２４上に載せられた基準プリン１一基板２５−１や被検
査プリント基板２５−２を固定するチャック機構２６と
を備えて構成されるものであり、前記テーブル２４上に
載せられた基準プリント基板２５−１ （または被検査
プリント基板２５−２＞は前記チャック機構２６によっ
て固定された後、前記各パルスモータ２２．２３によっ
てＸ軸方向およびＹ軸方向の位置が決められ、九咎部１
６によって囮像される。
この場合、基準プリント基板２５−１は、第２図に示す
如く黄色に彩色された素基板２７を備えており、この素
基板２７上には：、４色以外の色や無彩色の色をした部
品２８−１〜２８−ｎが正しい位置で、かつ正しい姿勢
で＠けられている。
如く黄色に彩色された素基板２７を備えており、この素
基板２７上には：、４色以外の色や無彩色の色をした部
品２８−１〜２８−ｎが正しい位置で、かつ正しい姿勢
で＠けられている。
また、前記被検査プリント基板２５−２は、前記Ｉ Ｑ
Ｃプリント塁根板５−１を構成する素基板２７と同じく
彩色された素基板２７土に前記基準プリント単板２５−
１上の部品２８−１〜２８−ｎと同じくなるように、部
品２８−１〜２８−ｎが配置された量産基板であり、検
査時において前記基準プリント基板２５−１と比較され
、その良否が判別される。
Ｃプリント塁根板５−１を構成する素基板２７と同じく
彩色された素基板２７土に前記基準プリント単板２５−
１上の部品２８−１〜２８−ｎと同じくなるように、部
品２８−１〜２８−ｎが配置された量産基板であり、検
査時において前記基準プリント基板２５−１と比較され
、その良否が判別される。
また囮像部１６は、前記Ｘ−Ｙテーブル部１５の上方に
配置され、前記搬像コントローラ２１が出ツノする制御
信号によってピント、倍率、感度等が制御されるカラー
ＴＶカメラ２９と、このカラーＴＶｉメラ２９に対して
同軸的に配置され、前記Ｒ像コントローラ２１が出力す
る制御信号によってその明るさ等が制御されるリング照
明装置３０とを備えて構成されるものであり、前記カラ
ーＴＶカメラ２９によって得られたＲＧＢ原色カラー画
像信号（アナログ信号）は処理部１７へ供給される。
配置され、前記搬像コントローラ２１が出ツノする制御
信号によってピント、倍率、感度等が制御されるカラー
ＴＶカメラ２９と、このカラーＴＶｉメラ２９に対して
同軸的に配置され、前記Ｒ像コントローラ２１が出力す
る制御信号によってその明るさ等が制御されるリング照
明装置３０とを備えて構成されるものであり、前記カラ
ーＴＶカメラ２９によって得られたＲＧＢ原色カラー画
像信号（アナログ信号）は処理部１７へ供給される。
処理部１７は、ティーチングモードのときに、前記Ｉｌ
ｉ像部１６から供給されるＲＧＢ原色カラー画像信号（
前記基準プリント基板２５−１のカラー画像）からＧ−
Ｂの減算ビデオ信号を作成するとともに、このＧ−Ｂの
減算ビデオ信号に基づいて部品２８−１〜２８−ｎの特
徴パラメータ（基準パラメータ）を抽出して記憶し、検
査モードのとぎには、前記記像部１６から供給されるＲ
Ｇ３原色カラー画像信号（前記被検査プリン１一基板２
５−２のカラー画像）からＧ−Ｂの減０ビデオ信号を作
成するとと６に、こにＧ−Ｂの減算ビデオ信号に基づい
て、部品２８−１〜２８−ｎの特徴パラメータ（被検査
パラメータ）を抽出した後、この被検査パラメータと前
記基準パラメータとを比較して、この比較結果から前記
被検査プリント基板２５−２の良否を判定するものであ
り、画像入力部３２と、画陸処理部３３と、メモリ３４
と、判定部３５と、ｉ、ＩＩ陣郡部３６を備えて構成さ
れている。
ｉ像部１６から供給されるＲＧＢ原色カラー画像信号（
前記基準プリント基板２５−１のカラー画像）からＧ−
Ｂの減算ビデオ信号を作成するとともに、このＧ−Ｂの
減算ビデオ信号に基づいて部品２８−１〜２８−ｎの特
徴パラメータ（基準パラメータ）を抽出して記憶し、検
査モードのとぎには、前記記像部１６から供給されるＲ
Ｇ３原色カラー画像信号（前記被検査プリン１一基板２
５−２のカラー画像）からＧ−Ｂの減０ビデオ信号を作
成するとと６に、こにＧ−Ｂの減算ビデオ信号に基づい
て、部品２８−１〜２８−ｎの特徴パラメータ（被検査
パラメータ）を抽出した後、この被検査パラメータと前
記基準パラメータとを比較して、この比較結果から前記
被検査プリント基板２５−２の良否を判定するものであ
り、画像入力部３２と、画陸処理部３３と、メモリ３４
と、判定部３５と、ｉ、ＩＩ陣郡部３６を備えて構成さ
れている。
画像入力部３２は、前記―像部１６から供給されたＲＧ
３原色カラー画像信号をＡ／Ｄ変換したり、各種の補正
処理（例えば、シェーディング補正など）をしたりして
、前記基準プリント基板２５−１ （または、被検査プ
リント基板２５−２＞のＲＧ３原色カラー画像データを
作成するものであり、ここで得られた前記基準プリント
基板２５−１（または、被検査プリント基板２５−２）
に関するＲＧ３原色カラー画像データは前記制０１１部
３６などへ供給される。
３原色カラー画像信号をＡ／Ｄ変換したり、各種の補正
処理（例えば、シェーディング補正など）をしたりして
、前記基準プリント基板２５−１ （または、被検査プ
リント基板２５−２＞のＲＧ３原色カラー画像データを
作成するものであり、ここで得られた前記基準プリント
基板２５−１（または、被検査プリント基板２５−２）
に関するＲＧ３原色カラー画像データは前記制０１１部
３６などへ供給される。
また、画像処理部３３は前記制御部３６を介して供給さ
れるＲＧ３原色カラー画（２）データからＧ−Ｂの減容
）ビデオ信号を作成するとともに、このＧ−８の減算ビ
デオ信号に基づいて、部品２８−１〜２８−ｎの色と、
素基板２７の色とを識別し、これら部品２８−１〜２８
−ｎの特徴パラメータ（基準パラメータまたは被検査パ
ラメータ）を抽出するものであり、ここで得られた前記
基準プリント基板２５−１ （または、被検査プリント
基板２５−２）に関する特徴パラメータは前記制御部３
６などへ供給される。
れるＲＧ３原色カラー画（２）データからＧ−Ｂの減容
）ビデオ信号を作成するとともに、このＧ−８の減算ビ
デオ信号に基づいて、部品２８−１〜２８−ｎの色と、
素基板２７の色とを識別し、これら部品２８−１〜２８
−ｎの特徴パラメータ（基準パラメータまたは被検査パ
ラメータ）を抽出するものであり、ここで得られた前記
基準プリント基板２５−１ （または、被検査プリント
基板２５−２）に関する特徴パラメータは前記制御部３
６などへ供給される。
この場合、特徴パラメータとしては、前記各部品２８−
１〜２８−ｎ毎に設けられるウィンド（データの取込み
窓）によって前記Ｇ−８の減算ビデオ信号を切り出した
部品画像を処理手順どうりに処理して得られる各画素の
総加算値、この総加＄７ｉｆＴを前記画素の数で割った
平均値などのように、部品の有無、装置ずれなどを判定
するのに必要なパラメータが用いられる。
１〜２８−ｎ毎に設けられるウィンド（データの取込み
窓）によって前記Ｇ−８の減算ビデオ信号を切り出した
部品画像を処理手順どうりに処理して得られる各画素の
総加算値、この総加＄７ｉｆＴを前記画素の数で割った
平均値などのように、部品の有無、装置ずれなどを判定
するのに必要なパラメータが用いられる。
また、メモリ３４は前記制御部３６から前記基準プリン
ト基板２５−１上にある各部品２８−１〜２８−ｎに関
する特徴パラメータ（基準パラメータ）のファイルやウ
ィンド情報、処理手順ファイルなどを供給されたときに
、これを記憶するものであり、前記制御部３６から転送
要求があったときに、これら基準パラメータ〜処理手順
ファイル等を前記判定部３５や画像処理部３３などへ供
給する。
ト基板２５−１上にある各部品２８−１〜２８−ｎに関
する特徴パラメータ（基準パラメータ）のファイルやウ
ィンド情報、処理手順ファイルなどを供給されたときに
、これを記憶するものであり、前記制御部３６から転送
要求があったときに、これら基準パラメータ〜処理手順
ファイル等を前記判定部３５や画像処理部３３などへ供
給する。
判定部３５は、検査モードのときに前記メモリ３４が出
力する前記基準パラメータと、前記制０１１部３６を介
して供給される画像処理部３３で得られた被１）ｉ査パ
ラメータとを比較して、前記被検査プリン１一基板２５
−２の部品２８−１〜２８−ｎが脱落しているかどうか
、およびこれらの部品２８−１〜２８−ｎが姿勢ずれを
起こしているかどうかなどを判定するしのであり、この
判定結果はｎｔ記制御部３６などへ供給される。
力する前記基準パラメータと、前記制０１１部３６を介
して供給される画像処理部３３で得られた被１）ｉ査パ
ラメータとを比較して、前記被検査プリン１一基板２５
−２の部品２８−１〜２８−ｎが脱落しているかどうか
、およびこれらの部品２８−１〜２８−ｎが姿勢ずれを
起こしているかどうかなどを判定するしのであり、この
判定結果はｎｔ記制御部３６などへ供給される。
制御部３６は館記画象入力部３２と、画像処理部３３と
、メモリ３４と、判定部３５とを制御してこれらをティ
ーチングモードで動作させたり、検査モードで動作させ
たりする。
、メモリ３４と、判定部３５とを制御してこれらをティ
ーチングモードで動作させたり、検査モードで動作させ
たりする。
また、判定結果出力部１８はＣＲＴ （ブラウン管表示
器）やプリンタなどを備えて構成されるものであり、前
記制御部３６から基準パラメータや検査パラメータを供
給されたり、前記基準プリント基板２５−１ （または
、被検査プリント基板２５−２＞のＲＧ３原色カラー画
像データを供給されたり、判定結果を供給されたりした
ときに、これを表示したり、プリントアウトしたりする
。
器）やプリンタなどを備えて構成されるものであり、前
記制御部３６から基準パラメータや検査パラメータを供
給されたり、前記基準プリント基板２５−１ （または
、被検査プリント基板２５−２＞のＲＧ３原色カラー画
像データを供給されたり、判定結果を供給されたりした
ときに、これを表示したり、プリントアウトしたりする
。
また、情報入力部１９は、基準プリン］・基板２５−１
の種類（例えば、基板ナンバ等）およびこの基準プリン
ト基板２５−１に載っている部品２８−１〜２８−ｎの
種類１位首、形状等に関するデータや処理手順等の操作
情報などを入力するためのキーボードやマウスを備え、
さらに入力したデータや操作情報などを確認するための
モニタ。
の種類（例えば、基板ナンバ等）およびこの基準プリン
ト基板２５−１に載っている部品２８−１〜２８−ｎの
種類１位首、形状等に関するデータや処理手順等の操作
情報などを入力するためのキーボードやマウスを備え、
さらに入力したデータや操作情報などを確認するための
モニタ。
ブリンク等を協えて構成されるものであり、ここから入
力されたデータや操作情報などは前記制御部３６へ供給
される。
力されたデータや操作情報などは前記制御部３６へ供給
される。
また、テーブルコントローラ２０は前記制御部３Ｇと前
記Ｘ−Ｙテーブル部１５とを接続するインターフェース
等を備えて構成されるらのであり、前記Ｘ 、−Ｙテー
ブル部１５で得られたデータを前記制御ｉ３６へ供給し
たり、前記制御部３６から供給される制御信号に基づい
て前記Ｘ−Ｙテーブル部１５を制御したりする。
記Ｘ−Ｙテーブル部１５とを接続するインターフェース
等を備えて構成されるらのであり、前記Ｘ 、−Ｙテー
ブル部１５で得られたデータを前記制御ｉ３６へ供給し
たり、前記制御部３６から供給される制御信号に基づい
て前記Ｘ−Ｙテーブル部１５を制御したりする。
また、融像コントローラ２１は前記制御部３６と前記′
ｒｉ像部１６とを接続するインターフェース等を備えて
構成されるものであり、前記制御部３６から供給される
制御信号に基づいて前記躍Ｑ部１６を９１制御したりす
る。
ｒｉ像部１６とを接続するインターフェース等を備えて
構成されるものであり、前記制御部３６から供給される
制御信号に基づいて前記躍Ｑ部１６を９１制御したりす
る。
次に、この実施例の動作をティーチングモードと、検査
ニードとに分けて説明する。
ニードとに分けて説明する。
まず、ティーチングモードにおいては、第３図（Δ）に
示すフローチャートのステップＳＴ１において、制御部
３６が装置各部をティーチングモードにする。
示すフローチャートのステップＳＴ１において、制御部
３６が装置各部をティーチングモードにする。
次いで、υＩＩ（１部３６はステップＳＴ２で前記情報
入力部１９を介して入力される基準プリント基板２５−
１の種類およびこの基準プリント基板２５−１に載って
いる部品２８−１〜２Ｂ−ｎの種類、匍置、形状、処理
手順等に関するデータを取り込み、ステップＳＴ３でこ
れら位費、形状等に関するデータに基づいて、各部品２
８−１〜２８−ｎのエツジに外接するウィンド４０−１
〜４０−ｎ （第４図参照）を作成し、これをウィンド
情報として前記基準プリント基板２５−１の種類１部品
２８−１〜２Ｂ−ｎの種類、！Ｉ！ＸＢ！手順等に関す
るデータと共にメモリ３４に記憶させる。
入力部１９を介して入力される基準プリント基板２５−
１の種類およびこの基準プリント基板２５−１に載って
いる部品２８−１〜２Ｂ−ｎの種類、匍置、形状、処理
手順等に関するデータを取り込み、ステップＳＴ３でこ
れら位費、形状等に関するデータに基づいて、各部品２
８−１〜２８−ｎのエツジに外接するウィンド４０−１
〜４０−ｎ （第４図参照）を作成し、これをウィンド
情報として前記基準プリント基板２５−１の種類１部品
２８−１〜２Ｂ−ｎの種類、！Ｉ！ＸＢ！手順等に関す
るデータと共にメモリ３４に記憶させる。
この後、Ｘ−Ｙテーブル部１５のテーブル２４上にｆｉ
ｌプリント基板２５−１がＩＥｔｉられれば、制御部３
６はステップＳＴ４でチャック機構２６によってこの基
準プリント基板２５−１を固定させ、次いで、各パルス
モータ２２．２３を制御して、基準プリント基板２５−
１のＸ軸方向位置およびＹ軸方向位置を決めるとともに
、リング照明装ｆｆ１３０の明るさおよびカラーＴＶカ
メラ２９のｍ懺条件を調整する。
ｌプリント基板２５−１がＩＥｔｉられれば、制御部３
６はステップＳＴ４でチャック機構２６によってこの基
準プリント基板２５−１を固定させ、次いで、各パルス
モータ２２．２３を制御して、基準プリント基板２５−
１のＸ軸方向位置およびＹ軸方向位置を決めるとともに
、リング照明装ｆｆ１３０の明るさおよびカラーＴＶカ
メラ２９のｍ懺条件を調整する。
次いで１、制御部３６はステップＳＴ５で前記カラーＴ
Ｖカメラ２９によってＭｕプリント基板２５−１を画像
させるとともに、このカラーＴＶカメラ２つによって１
ｑられた前記基準プリント塁板２５−１のＲＧ３原色カ
ラー画像信号を画像入力部３２に取り込ませてＲＧ３原
色カラー画像データを作成さゼる。
Ｖカメラ２９によってＭｕプリント基板２５−１を画像
させるとともに、このカラーＴＶカメラ２つによって１
ｑられた前記基準プリント塁板２５−１のＲＧ３原色カ
ラー画像信号を画像入力部３２に取り込ませてＲＧ３原
色カラー画像データを作成さゼる。
次いで、制御部３６はステップＳＴ６で前記メ七り３４
から画８処理部３３にウィンド情報、処理手順等に関す
るデータを転送させるとともに、前記画像入力部３２で
１７られたＲＧ３原色カラー画像データを両８Ｉ処理部
３３に転送さ往て、前記ウィンド情報で示される各ウィ
ンド４０−１〜４０−ｎ用いてＲＧＢＩｉ１色）Ｊラー
画像データから各部品２８−１〜２８−ｎのＲＧｒ３原
色カラー画酸を各々切り出させて、カラーの部品像を抽
出させろ。
から画８処理部３３にウィンド情報、処理手順等に関す
るデータを転送させるとともに、前記画像入力部３２で
１７られたＲＧ３原色カラー画像データを両８Ｉ処理部
３３に転送さ往て、前記ウィンド情報で示される各ウィ
ンド４０−１〜４０−ｎ用いてＲＧＢＩｉ１色）Ｊラー
画像データから各部品２８−１〜２８−ｎのＲＧｒ３原
色カラー画酸を各々切り出させて、カラーの部品像を抽
出させろ。
この後、制御部３６はステップＳＴ７で画像処理部３３
にＩ）η記カラーの部品像を構成しているＧ原色信号か
ら８原色信号を減算させて、ＧＢの減免ビデオ信号を作
成させる。
にＩ）η記カラーの部品像を構成しているＧ原色信号か
ら８原色信号を減算させて、ＧＢの減免ビデオ信号を作
成させる。
次いで、制御部３６はステップＳＴ８で前記処理手順に
基づいて前記画像処理部３３に、前記Ｇ−８の減算ビデ
オ信号を０〜２５６レベルに正規化させて、部品２８−
１〜２８−〇の色と、素基板２７の色とを識別させると
ともに、これら部品２８−１〜２８−ｎの特徴パラメー
タ（基準パラメータ）を抽出させ、この後ステップＳＴ
９でこれら特徴パラメータの値と、その種類とを記した
パラメータファイルを作成させて、これをメモリ３４に
記憶させる。
基づいて前記画像処理部３３に、前記Ｇ−８の減算ビデ
オ信号を０〜２５６レベルに正規化させて、部品２８−
１〜２８−〇の色と、素基板２７の色とを識別させると
ともに、これら部品２８−１〜２８−ｎの特徴パラメー
タ（基準パラメータ）を抽出させ、この後ステップＳＴ
９でこれら特徴パラメータの値と、その種類とを記した
パラメータファイルを作成させて、これをメモリ３４に
記憶させる。
また、検査モードにおいては第３図（Ｂ）示すフローチ
ャートのステップ５Ｔ１０において、制御部３６が装置
各部を検査モードにし、この後、ステップ５Ｔ１１でメ
モリ３４に記憶されているパラメータファイル内にある
各特徴パラメータの種類と、処理手順に関するデータと
、ウィンド情報等を画像処理７１Ｓ３３に転送させると
ともに、前記パラメータファイル内にある各特徴パラメ
ータの値を判定部３５に転送させる。
ャートのステップ５Ｔ１０において、制御部３６が装置
各部を検査モードにし、この後、ステップ５Ｔ１１でメ
モリ３４に記憶されているパラメータファイル内にある
各特徴パラメータの種類と、処理手順に関するデータと
、ウィンド情報等を画像処理７１Ｓ３３に転送させると
ともに、前記パラメータファイル内にある各特徴パラメ
ータの値を判定部３５に転送させる。
次いで、Ｘ−Ｙテーブル部１５のテーブル２４上に被検
査プリンｌ、 、ｌＺ板２５−２が載せられれば、制御
部３６はステップＳＴＩ ２でチＶツク殿構２６によっ
てこの被検査プリント基板２５−２を固定させ、次いで
、各パルスモータ２２．２３を制御して、被検査プリン
ト基板２５−２のＸ軸方向位置およびＹ軸方向位置を決
めるとともに、リング照明装置３０の明るさおよびカラ
ーＴＶカメラ２９の蹟像条件を調整する。
査プリンｌ、 、ｌＺ板２５−２が載せられれば、制御
部３６はステップＳＴＩ ２でチＶツク殿構２６によっ
てこの被検査プリント基板２５−２を固定させ、次いで
、各パルスモータ２２．２３を制御して、被検査プリン
ト基板２５−２のＸ軸方向位置およびＹ軸方向位置を決
めるとともに、リング照明装置３０の明るさおよびカラ
ーＴＶカメラ２９の蹟像条件を調整する。
次いで、制御部３６はステップ５Ｔ１３で＋ｉｆｆ記カ
ラー゛［■カメラ２９によって被検査プリント基板２５
−２をＩＦ４＆させるとともに、このカラーＴＶカメラ
２９によって１９られた前記被検査プリント基板２５−
２のＲＧＢ原色カラー画像信号を画像入力部３２に取り
込ませてＲＣ，Ｂ原色カラー画像データを作成さＵる。
ラー゛［■カメラ２９によって被検査プリント基板２５
−２をＩＦ４＆させるとともに、このカラーＴＶカメラ
２９によって１９られた前記被検査プリント基板２５−
２のＲＧＢ原色カラー画像信号を画像入力部３２に取り
込ませてＲＣ，Ｂ原色カラー画像データを作成さＵる。
次いで、制υ１１部３６はステップ５Ｔ１４で前記画像
入力部３２で得られたＲＧ３原色カラー画像データを画
像処理部３３に転送させるとともに、ウィンド情報で示
される各ウィンド４０−１〜４０−ｎを用いてＲＧ Ｂ
Ｉ原色カラー画像データから各部品２８−１〜２８−
ｎの１くＧ８原色）Ｊラー画像を各々切り出させて、部
品のカラー画像を抽出させる。
入力部３２で得られたＲＧ３原色カラー画像データを画
像処理部３３に転送させるとともに、ウィンド情報で示
される各ウィンド４０−１〜４０−ｎを用いてＲＧ Ｂ
Ｉ原色カラー画像データから各部品２８−１〜２８−
ｎの１くＧ８原色）Ｊラー画像を各々切り出させて、部
品のカラー画像を抽出させる。
この後、制御部３６はステップ５Ｔ１５で画像処理部３
３に、前記カラーの部品像を構成しているＧ原色信号か
ら８原色信号を減睦さＵて、Ｇ−Ｂの減τ）ビデオ信号
を作成させる。
３に、前記カラーの部品像を構成しているＧ原色信号か
ら８原色信号を減睦さＵて、Ｇ−Ｂの減τ）ビデオ信号
を作成させる。
次いで、制御部３６はステップ５Ｔ１６で１１４記画像
処理部３３に、前記Ｇ−８の減浄ビデオ信号中の部品２
８−１〜２８−ｎの色と、素基板２７の色とを識別さけ
るとともに、処理手順と、各特徴パラメータの種類とに
基づいてこれら部品２８−１〜２８−ｎの特徴パラメー
タ（被検査パラメータ）を抽出させ、これを判定部３５
に供給させて、前記基準パラメータと比較させる。
処理部３３に、前記Ｇ−８の減浄ビデオ信号中の部品２
８−１〜２８−ｎの色と、素基板２７の色とを識別さけ
るとともに、処理手順と、各特徴パラメータの種類とに
基づいてこれら部品２８−１〜２８−ｎの特徴パラメー
タ（被検査パラメータ）を抽出させ、これを判定部３５
に供給させて、前記基準パラメータと比較させる。
そして、この比較結果から判定部３５は、部品２８−１
〜２８−ｎが全て有るかどうか、また位置ずれ等を起し
ているかどうかをチェックし、このチェック結果を判定
結果出力部１８に供給し、これを表示させたり、プリン
トアラ１〜させたりする。
〜２８−ｎが全て有るかどうか、また位置ずれ等を起し
ているかどうかをチェックし、このチェック結果を判定
結果出力部１８に供給し、これを表示させたり、プリン
トアラ１〜させたりする。
また上述した実施例においては、情報入力部１つから部
品２８−１〜２８−ｎの位冒、形状に関するデータを入
力するにうにしているが、これらのデータは素基板が黒
に、部品２８−１−２８−ｎが白に塗装されたテイーヂ
ング用の基板をカラー［Ｖカメラ２９に吊りさせて入力
するようにしても良い。
品２８−１〜２８−ｎの位冒、形状に関するデータを入
力するにうにしているが、これらのデータは素基板が黒
に、部品２８−１−２８−ｎが白に塗装されたテイーヂ
ング用の基板をカラー［Ｖカメラ２９に吊りさせて入力
するようにしても良い。
また上述した実施例においては、テイーヂング時におい
て基準プリント基板２５−１から特徴パラメータを直接
抽出するようにしているが、部品２８−１〜２８−ｎが
実装される前の素基板２７と、これらの部品２８−１−
２８− ｎが実装された基準プリント基板２５−１とを
カラーＴＶカメラ２９に間作させて得られる各ＧＢの減
免ビデオ信号を比較しながら各部品２８−１〜２８−ｎ
毎に有効な特徴パラメータを見出して、これを抽出させ
るようにしてら良い。
て基準プリント基板２５−１から特徴パラメータを直接
抽出するようにしているが、部品２８−１〜２８−ｎが
実装される前の素基板２７と、これらの部品２８−１−
２８− ｎが実装された基準プリント基板２５−１とを
カラーＴＶカメラ２９に間作させて得られる各ＧＢの減
免ビデオ信号を比較しながら各部品２８−１〜２８−ｎ
毎に有効な特徴パラメータを見出して、これを抽出させ
るようにしてら良い。
この場合、各１．１＋徴パラメータを見出し処理を階層
化構造にして、各部品２８−１〜２８−ｎ毎に有効な特
徴パラメータが早く、かつ効率良く見つかるようにして
も良い。
化構造にして、各部品２８−１〜２８−ｎ毎に有効な特
徴パラメータが早く、かつ効率良く見つかるようにして
も良い。
また上述した実施例においては、素基板２７の色を黄色
にしているが、この素基板２７上に塗布されるプリフラ
ックス、ハンダクリーム等に蛍光剤を混ぜたときには、
この蛍光剤が発する光の色と、各部品２８−１〜２８−
ｎの色とを識別できれば良いので、この場合に関しては
前記素基板２７の色が何であってし良い。
にしているが、この素基板２７上に塗布されるプリフラ
ックス、ハンダクリーム等に蛍光剤を混ぜたときには、
この蛍光剤が発する光の色と、各部品２８−１〜２８−
ｎの色とを識別できれば良いので、この場合に関しては
前記素基板２７の色が何であってし良い。
また上述した実施例においては、素基板２７の色を黄色
にしているが、部品２８−１・−２８−〇を黄色にして
も良い。
にしているが、部品２８−１・−２８−〇を黄色にして
も良い。
また素基板２７の色を緑色にしたり、部品２８−１〜２
８−ｎの色を緑色にした場合には、Ｇ−８の減口ビデオ
信号に代えて、Ｒ−Ｇの減算ビデオ信号簀が用いられる
。
８−ｎの色を緑色にした場合には、Ｇ−８の減口ビデオ
信号に代えて、Ｒ−Ｇの減算ビデオ信号簀が用いられる
。
（発明の効果）
以上説明したように本発明によれば、基板、［にマウン
トされた部品の色が素基板の色と責なっていれば、この
部品の色が素基板の色と似ていてら、この部品の有無、
（存置ずれ笠を検出することができる。
トされた部品の色が素基板の色と責なっていれば、この
部品の色が素基板の色と似ていてら、この部品の有無、
（存置ずれ笠を検出することができる。
第１図はこの発明による部品実装基板の検査方法の一実
施例を適用した自動検査装置の一溝成例を示すブロック
図、第２図はこの実施例で用いられるｐ３１％ｕプリン
ト基板の一例を示す平面図、第３図（Δ）はこの実施例
のティーチング動作例を示すフローチャー１・、第３図
（Ｂ）はこの実施例の検査動作例を示すフローチャート
、第４図はこの実施例で用いられるウィンドの一例を示
す模式図、第５図は従来の部品検出原理を説明づるため
に用いたマンセル色相環の模式図、第６図ｔまこの発明
による検査方法を説明するために用いたＸ−Ｙ表示の色
度図、第７図はこの実施例におけるＧ−Ｒの減Ｑビデオ
信号の鎗を示す模式図、第８画はこの発明による検査方
法の部品検出原理を説明するために用いたＹ−Ｚ表示の
色度図、第９図は従来の自動検査装置の一例を示すブロ
ック図、第１０図（Ａ）、（Ｂ）は各々この自動検査装
置の動作を説明するために用いた’４Ｑプリント基板、
被検査プリン］へ基板の一例を示す平面図、第１０図（
Ｃ）はこの自動検査装置の表示例を示す模式図、第１１
図（△）〜（Ｃ）は各々この自動検査装置の各部の波形
を示す模式図である。 １６・・・搬像部、１７・・・処理部、２５−１・・・
基準耳板（Ｍ準プリント基板＞、２５−２・・・被検査
基板（被検査プリント基板）、２７・・・素基板、２８
−１〜２８−ｎ・・・部品。 特許出願人 立石電機株式会社 代理人 弁理士 岩倉哲二（他１名） 第１０図 第１１図 （Ｃ） Ｓ３ 手続補正書 昭和６１年３月５日 特許庁長官 宇賀道部 殿 イー、Ａ・
、２５、 一一′ １、事件の表示 昭和６１年特許願第２３２９２号 ２、発明の名称 部品実装基板の検査方法 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 代表者 立 石 孝 雄 ４、代理人 ５゜補正命令の日付 自発補正 ６、補正の対客 明細書のＩ−発明の詳細な説明
」の欄７、補正の内容 別紙の通り （１）明細書の第２６頁第１４行冒頭から同頁第１７行
末尾までを削除して、そこに次の文を加入する。 「また素基板２７の色を緑色や赤色にしたり、部品２８
−１〜２８−ｎの色を緑色や赤色にしたりすることがで
き、これらの場合には、Ｇ−Ｂの減算ビデオ信号に代え
て、Ｒ−Ｇ、Ｇ−Ｒの減算ビデオ信号やＲ／Ｇ、Ｇ／Ｒ
の除ｎビデオ信号等が用いられる。 また上述した実施例においては、カラーＴＶカメラ２９
によって基準プリン（一基板２５−１、被検査プリント
基板２５−２のカラー画像信号を（ｒＪているが、この
カラーＴＶカメラ２９の動作原理から明らかなように、
これら基準プリント基板２５−１、被検査プリント基板
２５−２からの光学画像を、８色フィルタと、０色フィ
ルタと、８色フィルタとによって順次、選択的にフィル
タして七ツクＩＩＴＶカメラにＪ：つて囮Ｑｖることに
より、前記基準プリントｌｊ板２５−１．被検査プリン
ト基板２５−２のカラー画像信号を時分割的に得るよう
にしても良い。」 手続ネ市正書 昭和６２年４月３０日
施例を適用した自動検査装置の一溝成例を示すブロック
図、第２図はこの実施例で用いられるｐ３１％ｕプリン
ト基板の一例を示す平面図、第３図（Δ）はこの実施例
のティーチング動作例を示すフローチャー１・、第３図
（Ｂ）はこの実施例の検査動作例を示すフローチャート
、第４図はこの実施例で用いられるウィンドの一例を示
す模式図、第５図は従来の部品検出原理を説明づるため
に用いたマンセル色相環の模式図、第６図ｔまこの発明
による検査方法を説明するために用いたＸ−Ｙ表示の色
度図、第７図はこの実施例におけるＧ−Ｒの減Ｑビデオ
信号の鎗を示す模式図、第８画はこの発明による検査方
法の部品検出原理を説明するために用いたＹ−Ｚ表示の
色度図、第９図は従来の自動検査装置の一例を示すブロ
ック図、第１０図（Ａ）、（Ｂ）は各々この自動検査装
置の動作を説明するために用いた’４Ｑプリント基板、
被検査プリン］へ基板の一例を示す平面図、第１０図（
Ｃ）はこの自動検査装置の表示例を示す模式図、第１１
図（△）〜（Ｃ）は各々この自動検査装置の各部の波形
を示す模式図である。 １６・・・搬像部、１７・・・処理部、２５−１・・・
基準耳板（Ｍ準プリント基板＞、２５−２・・・被検査
基板（被検査プリント基板）、２７・・・素基板、２８
−１〜２８−ｎ・・・部品。 特許出願人 立石電機株式会社 代理人 弁理士 岩倉哲二（他１名） 第１０図 第１１図 （Ｃ） Ｓ３ 手続補正書 昭和６１年３月５日 特許庁長官 宇賀道部 殿 イー、Ａ・
、２５、 一一′ １、事件の表示 昭和６１年特許願第２３２９２号 ２、発明の名称 部品実装基板の検査方法 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 代表者 立 石 孝 雄 ４、代理人 ５゜補正命令の日付 自発補正 ６、補正の対客 明細書のＩ−発明の詳細な説明
」の欄７、補正の内容 別紙の通り （１）明細書の第２６頁第１４行冒頭から同頁第１７行
末尾までを削除して、そこに次の文を加入する。 「また素基板２７の色を緑色や赤色にしたり、部品２８
−１〜２８−ｎの色を緑色や赤色にしたりすることがで
き、これらの場合には、Ｇ−Ｂの減算ビデオ信号に代え
て、Ｒ−Ｇ、Ｇ−Ｒの減算ビデオ信号やＲ／Ｇ、Ｇ／Ｒ
の除ｎビデオ信号等が用いられる。 また上述した実施例においては、カラーＴＶカメラ２９
によって基準プリン（一基板２５−１、被検査プリント
基板２５−２のカラー画像信号を（ｒＪているが、この
カラーＴＶカメラ２９の動作原理から明らかなように、
これら基準プリント基板２５−１、被検査プリント基板
２５−２からの光学画像を、８色フィルタと、０色フィ
ルタと、８色フィルタとによって順次、選択的にフィル
タして七ツクＩＩＴＶカメラにＪ：つて囮Ｑｖることに
より、前記基準プリントｌｊ板２５−１．被検査プリン
ト基板２５−２のカラー画像信号を時分割的に得るよう
にしても良い。」 手続ネ市正書 昭和６２年４月３０日
Claims (1)
- 部品が実装された基板を撮像して得られる画像を処理
して前記基板上の部品を検査する部品実装基板の検査方
法であつて、撮像動作によつて得られた複数色のカラー
画像間に比較演算を施し、部品の部分と、部品以外の部
分とを区別して前記基板上の部品を検査することを特徴
とする部品実装基板の検査方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61023292A JPS62180250A (ja) | 1986-02-05 | 1986-02-05 | 部品実装基板の検査方法 |
| AT87101522T ATE67618T1 (de) | 1986-02-05 | 1987-02-05 | Verfahren zur untersuchung von leiterplatten mittels arithmetischen vergleichs von mehreren bildern in verschiedenen farben. |
| EP87101522A EP0231941B1 (en) | 1986-02-05 | 1987-02-05 | Method for inspection of printed circuit board assembly by arithmetic comparison of several pictures in different colours |
| DE8787101522T DE3773005D1 (de) | 1986-02-05 | 1987-02-05 | Verfahren zur untersuchung von leiterplatten mittels arithmetischen vergleichs von mehreren bildern in verschiedenen farben. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61023292A JPS62180250A (ja) | 1986-02-05 | 1986-02-05 | 部品実装基板の検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62180250A true JPS62180250A (ja) | 1987-08-07 |
Family
ID=12106530
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61023292A Pending JPS62180250A (ja) | 1986-02-05 | 1986-02-05 | 部品実装基板の検査方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0231941B1 (ja) |
| JP (1) | JPS62180250A (ja) |
| AT (1) | ATE67618T1 (ja) |
| DE (1) | DE3773005D1 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01206244A (ja) * | 1988-02-12 | 1989-08-18 | Omron Tateisi Electron Co | 基板の検査方法およびその装置 |
| JP2010010532A (ja) * | 2008-06-30 | 2010-01-14 | Panasonic Corp | 基板検査方法 |
| JP2012039096A (ja) * | 2010-07-13 | 2012-02-23 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | 部品有無判定装置及び部品有無判定方法 |
Families Citing this family (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0236738A3 (en) * | 1986-02-05 | 1988-12-21 | OMRON Corporation | Input method for reference printed circuit board assembly data to an image processing printed circuit board assembly automatic inspection apparatus |
| US5093797A (en) * | 1987-01-13 | 1992-03-03 | Omron Tateisi Electronics Co. | Apparatus for inspecting packaged electronic device |
| US5245671A (en) * | 1988-05-09 | 1993-09-14 | Omron Corporation | Apparatus for inspecting printed circuit boards and the like, and method of operating same |
| EP0370527B1 (en) * | 1988-11-24 | 1994-02-02 | Omron Tateisi Electronics Co. | Method of and apparatus for inspecting substrate |
| US5039868A (en) * | 1988-11-24 | 1991-08-13 | Omron Corporation | Method of and apparatus for inspecting printed circuit boards and the like |
| DE69331433T2 (de) * | 1992-10-22 | 2002-10-02 | Advanced Interconnection Technology, Inc. | Einrichtung zur automatischen optischen Prüfung von Leiterplatten mit darin verlegten Drähten |
| CA2446259A1 (en) * | 2001-05-02 | 2002-11-07 | Teradyne, Inc. | Inspection system using dynamically obtained values and related techniques |
| US7062080B2 (en) | 2001-11-26 | 2006-06-13 | Omron Corporation | Method of inspecting curved surface and device for inspecting printed circuit board |
| DE60202831T2 (de) * | 2001-11-26 | 2006-01-12 | Omron Corp. | Methode zur Prüfung einer gekrümmten Oberfläche und Vorrichtung zur Prüfung einer Leiterplatte |
| KR100557526B1 (ko) * | 2003-05-19 | 2006-03-03 | 삼성전기주식회사 | Ｒｇｂ 컬러를 이용한 인쇄회로기판의 표면 상태 분석시스템 및 방법 |
| EP1763843A1 (en) * | 2004-07-05 | 2007-03-21 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method of generating image of component |
| WO2009120951A2 (en) * | 2008-03-28 | 2009-10-01 | Nordson Corporation | Automated conformal coating inspection system and methods of use |
| US8077307B2 (en) | 2008-04-09 | 2011-12-13 | Orbotech Ltd. | Illumination system for optical inspection |
| DE102013104679A1 (de) * | 2013-05-07 | 2014-11-13 | Witrins S.R.O. | Verfahren und Vorrichtung zur optischen Analyse eines PCBs |
| CN118858326A (zh) * | 2024-07-08 | 2024-10-29 | 深圳市宏联电路有限公司 | 一种多层线路板检测系统 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6014748A (ja) * | 1983-07-07 | 1985-01-25 | ウシオ電機株式会社 | ハロゲン電球 |
| JPS60123978A (ja) * | 1983-12-08 | 1985-07-02 | Kubota Ltd | 色信号分離装置 |
| JPS60169985A (ja) * | 1984-02-15 | 1985-09-03 | Hitachi Ltd | 色彩抽出装置 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3976383A (en) * | 1975-02-28 | 1976-08-24 | The Bendix Corporation | Visual method of locating faults in printed circuit boards |
| US4330712A (en) * | 1979-02-01 | 1982-05-18 | Hajime Industries Ltd. | Inspection apparatus for defects on patterns |
| JPS5750645A (en) * | 1980-09-12 | 1982-03-25 | Hitachi Ltd | Method for inspecting pattern of printed wiring board |
| JPS58179343A (ja) * | 1982-04-14 | 1983-10-20 | Nec Corp | 図形検査方法 |
| JPS59206705A (ja) * | 1983-05-11 | 1984-11-22 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | パタ−ン検査方法 |
| DE3422395A1 (de) * | 1983-06-16 | 1985-01-17 | Hitachi, Ltd., Tokio/Tokyo | Verfahren und vorrichtung zum ermitteln von verdrahtungsmustern |
-
1986
- 1986-02-05 JP JP61023292A patent/JPS62180250A/ja active Pending
-
1987
- 1987-02-05 AT AT87101522T patent/ATE67618T1/de not_active IP Right Cessation
- 1987-02-05 DE DE8787101522T patent/DE3773005D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1987-02-05 EP EP87101522A patent/EP0231941B1/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6014748A (ja) * | 1983-07-07 | 1985-01-25 | ウシオ電機株式会社 | ハロゲン電球 |
| JPS60123978A (ja) * | 1983-12-08 | 1985-07-02 | Kubota Ltd | 色信号分離装置 |
| JPS60169985A (ja) * | 1984-02-15 | 1985-09-03 | Hitachi Ltd | 色彩抽出装置 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01206244A (ja) * | 1988-02-12 | 1989-08-18 | Omron Tateisi Electron Co | 基板の検査方法およびその装置 |
| JP2010010532A (ja) * | 2008-06-30 | 2010-01-14 | Panasonic Corp | 基板検査方法 |
| JP2012039096A (ja) * | 2010-07-13 | 2012-02-23 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | 部品有無判定装置及び部品有無判定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3773005D1 (de) | 1991-10-24 |
| EP0231941B1 (en) | 1991-09-18 |
| EP0231941A2 (en) | 1987-08-12 |
| EP0231941A3 (en) | 1988-03-02 |
| ATE67618T1 (de) | 1991-10-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS62180250A (ja) | 部品実装基板の検査方法 | |
| CN104819984B (zh) | 印刷电路板外观的检查装置及检查方法 | |
| JP2008032491A (ja) | 検査装置、検査方法、検査プログラムおよびコンピュータ読み取り可能な記録媒体 | |
| US20020196972A1 (en) | Color correction for color devices based on illuminant sensing | |
| JP3065071B1 (ja) | 印刷検査装置 | |
| JPS62194444A (ja) | 部品実装基板検査装置 | |
| JPS62190450A (ja) | 部品実装基板検査装置 | |
| JPS63225153A (ja) | 基板検査方法 | |
| JPS62188947A (ja) | 部品実装基板検査装置 | |
| JP3363103B2 (ja) | 外観検査装置 | |
| JPS62190449A (ja) | 部品実装基板検査装置 | |
| JPS62207938A (ja) | 部品実装基板の検査方法 | |
| JPH09153139A (ja) | 映像信号処理装置 | |
| JP2790557B2 (ja) | 検査データ教示方法およびこの方法を用いた実装基板検査装置 | |
| JPH0526815A (ja) | 実装部品検査用データの教示方法 | |
| JPS62188946A (ja) | 部品実装基板検査装置 | |
| JP2696878B2 (ja) | 基板の検査方法およびその装置 | |
| JPH06258243A (ja) | 実装部品検査装置 | |
| JP2578288Y2 (ja) | マーク検査装置 | |
| JPH06160035A (ja) | 基板検査装置 | |
| JP3035574B2 (ja) | 実装部品検査装置の教示方法 | |
| JPH07120420B2 (ja) | 実装基板検査装置 | |
| JPH0820229B2 (ja) | 実装基板検査装置 | |
| JPH01206245A (ja) | 基板の検査方法 | |
| JPH01206243A (ja) | 基板の検査方法 |