JPS62117157A - 光学的記録媒体 - Google Patents
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- JPS62117157A JPS62117157A JP25677485A JP25677485A JPS62117157A JP S62117157 A JPS62117157 A JP S62117157A JP 25677485 A JP25677485 A JP 25677485A JP 25677485 A JP25677485 A JP 25677485A JP S62117157 A JPS62117157 A JP S62117157A
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- C08G—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
- C08G73/00—Macromolecular compounds obtained by reactions forming a linkage containing nitrogen with or without oxygen or carbon in the main chain of the macromolecule, not provided for in groups C08G12/00 - C08G71/00
- C08G73/06—Polycondensates having nitrogen-containing heterocyclic rings in the main chain of the macromolecule
- C08G73/10—Polyimides; Polyester-imides; Polyamide-imides; Polyamide acids or similar polyimide precursors
- C08G73/1067—Wholly aromatic polyimides, i.e. having both tetracarboxylic and diamino moieties aromatically bound
- C08G73/1071—Wholly aromatic polyimides containing oxygen in the form of ether bonds in the main chain
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
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- C08G73/1057—Polyimides containing other atoms than carbon, hydrogen, nitrogen or oxygen in the main chain
- C08G73/1064—Polyimides containing other atoms than carbon, hydrogen, nitrogen or oxygen in the main chain containing sulfur
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/24—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、光ビームにより記録会再生を行うことが可能
な光学的記録媒体に関するものである。
な光学的記録媒体に関するものである。
従来より、光ディスクに用いられる光学的記録媒体とし
ては、希土類−遷移金属の合金薄膜非晶質から結晶質へ
の相転移を利用したカルコゲン化合物等の還元性酸化物
薄膜、ヒートモード記録媒体、サーモプラスチック記録
媒体等が知られている0例えば、希土類−遷移金属の合
金薄膜で形成される光学的記録層としてはMnB1゜M
nCuB1.などの多結晶薄膜、GdCo 。
ては、希土類−遷移金属の合金薄膜非晶質から結晶質へ
の相転移を利用したカルコゲン化合物等の還元性酸化物
薄膜、ヒートモード記録媒体、サーモプラスチック記録
媒体等が知られている0例えば、希土類−遷移金属の合
金薄膜で形成される光学的記録層としてはMnB1゜M
nCuB1.などの多結晶薄膜、GdCo 。
GdFe 、TbFe 、DyFe 、GdTbFe
。
。
TbDyFe 、などの非晶質薄膜、GdIGなどの単
結晶薄膜などが知られている。
結晶薄膜などが知られている。
これらの薄膜のうち、大面積の薄膜を室温近傍の温度で
製作する際の成膜性、信号を小さな光熱エネルギーで書
き込むための書き込み効率および書き込まれた信号をS
/N比よく読み出すための読み出し効率等を勘案して、
最近では前記非結品質薄膜が光熱磁気記録媒体として優
れていると考えられている。GdTbFeはカー回転角
も大きく、150″C前後のキューリ一点を持つので光
熱磁気記録媒体として適している。更に発明者等はカー
回転角を向上させる目的で研究した結果、GdTbFe
Coがカー回転角が充分に大きく、S/N比の良い読み
出しが可能な光学的記録層であることを見い出した。
製作する際の成膜性、信号を小さな光熱エネルギーで書
き込むための書き込み効率および書き込まれた信号をS
/N比よく読み出すための読み出し効率等を勘案して、
最近では前記非結品質薄膜が光熱磁気記録媒体として優
れていると考えられている。GdTbFeはカー回転角
も大きく、150″C前後のキューリ一点を持つので光
熱磁気記録媒体として適している。更に発明者等はカー
回転角を向上させる目的で研究した結果、GdTbFe
Coがカー回転角が充分に大きく、S/N比の良い読み
出しが可能な光学的記録層であることを見い出した。
しかしながら、一般に前記GdTbFe等の光学的記録
層をはじめとする磁気記録媒体に用いられる非晶質磁性
体は、耐食性が悪いという欠点を持っている。すなわち
、大気、水蒸気に触れると酸化されて透明化するに至る
。またこの問題点は、光学的記録層のみならず、前記し
た光学的記録媒体の共通の課題である。
層をはじめとする磁気記録媒体に用いられる非晶質磁性
体は、耐食性が悪いという欠点を持っている。すなわち
、大気、水蒸気に触れると酸化されて透明化するに至る
。またこの問題点は、光学的記録層のみならず、前記し
た光学的記録媒体の共通の課題である。
このような欠点を除くために、従来から、記録層の上に
、例えば透明物質の保護カバー、例えば5i02.Si
Oの保護層を設けたり、さらに不活性ガスによって記録
層を封じ込めたエアーサンドイッチ構造や貼り合わせ構
造のディスク状記録媒体が提案されているが、実用上充
分な耐食性が得られなかった。
、例えば透明物質の保護カバー、例えば5i02.Si
Oの保護層を設けたり、さらに不活性ガスによって記録
層を封じ込めたエアーサンドイッチ構造や貼り合わせ構
造のディスク状記録媒体が提案されているが、実用上充
分な耐食性が得られなかった。
本発明は上記問題点に鑑み成されたち、のであり、その
目的は、記録媒体としての特性を損うことなく、耐食性
を向上せしめた光学的記録媒体を提供することにある。
目的は、記録媒体としての特性を損うことなく、耐食性
を向上せしめた光学的記録媒体を提供することにある。
本発明の上記目的は、基板上に光学的記録層を有して成
る光学的記録媒体において、該光学的記録層の片側又は
両側にマグネシウム、ハフニウムの内の少くとも1つの
物質の窒化物からなる膜を形成した光学的記録媒体によ
って達成される。
る光学的記録媒体において、該光学的記録層の片側又は
両側にマグネシウム、ハフニウムの内の少くとも1つの
物質の窒化物からなる膜を形成した光学的記録媒体によ
って達成される。
すなわち、本発明は光学的記録層の酸化を防止する効果
が、5i02.SiOより大きい、窒化マグネシウム、
窒化ハフニウムを使用した光学的記録媒体を提供する。
が、5i02.SiOより大きい、窒化マグネシウム、
窒化ハフニウムを使用した光学的記録媒体を提供する。
前記の如き窒化物膜はいずれも反応性スパッタによって
形成される。基板にガラスを用いる場合は、光学的案内
溝形成の目的で前記の醸化物膜とガラス板の間に、紫外
線硬化型樹脂(2P)層などを設ける。
形成される。基板にガラスを用いる場合は、光学的案内
溝形成の目的で前記の醸化物膜とガラス板の間に、紫外
線硬化型樹脂(2P)層などを設ける。
本発明において、光学的記録層に引き続いて窒化物膜を
形成する場合には、記録層を蒸着、スパッタリングなど
の方法で形成した後、真空を破ることなく連続して窒化
物膜を形成するのが望ましい、また基板上に窒化物膜を
形成し、その上に光学的記録層を形成して更に窒化物膜
を形成する場合にも真空を破らずに同一槽内で連続的に
成膜したほうがよい。
形成する場合には、記録層を蒸着、スパッタリングなど
の方法で形成した後、真空を破ることなく連続して窒化
物膜を形成するのが望ましい、また基板上に窒化物膜を
形成し、その上に光学的記録層を形成して更に窒化物膜
を形成する場合にも真空を破らずに同一槽内で連続的に
成膜したほうがよい。
以下、実施例を挙げて本発明を更に具体的説明するが。
実施例1
RFスパッタ装置において、1インチ角の白板ガラスを
基板とし、100 amφの鉄コバルト合金(Fe7
C03)板の上に5+ui角のガドリニウムテルビウム
合金(Gd5Tb s)の小片を均一にならべたものを
複合ターゲットとしてスパッタリングを行ない、 Gd
TbFeCo 4元系非晶質磁性膜からなる厚さ100
0Aの光学的記録層を形成した。引き続いて真空槽内を
4 X 104Pa程度排気した後、窒素ガス(N2)
を4 X 10’ Paまで導入して、第2のターゲッ
トとして窒化マグネシウムを用い、スパッタリングによ
って前記記録層上に厚さ2000Aの窒化マグネシウム
膜を成膜した。
基板とし、100 amφの鉄コバルト合金(Fe7
C03)板の上に5+ui角のガドリニウムテルビウム
合金(Gd5Tb s)の小片を均一にならべたものを
複合ターゲットとしてスパッタリングを行ない、 Gd
TbFeCo 4元系非晶質磁性膜からなる厚さ100
0Aの光学的記録層を形成した。引き続いて真空槽内を
4 X 104Pa程度排気した後、窒素ガス(N2)
を4 X 10’ Paまで導入して、第2のターゲッ
トとして窒化マグネシウムを用い、スパッタリングによ
って前記記録層上に厚さ2000Aの窒化マグネシウム
膜を成膜した。
実施例2
RFスパッタ装置において、真空槽中を4×10’Pa
程度排気後、窒素(N2)ガスを4 X 10−’ P
a程度まで導入した。そして、1インチ角のガラス板上
に紫外線硬化型樹脂(2P)エポキシアクリレート 層
(10〜100 Q)を形成したものを基板として第1
のターゲットとして窒化マグネシウムを用い、スパッタ
リングにより基板上に厚さ200人の窒化マグネシウム
膜を形成した。その上に引き続いて実施例1のものと同
じFe、 Gd、 Tb。
程度排気後、窒素(N2)ガスを4 X 10−’ P
a程度まで導入した。そして、1インチ角のガラス板上
に紫外線硬化型樹脂(2P)エポキシアクリレート 層
(10〜100 Q)を形成したものを基板として第1
のターゲットとして窒化マグネシウムを用い、スパッタ
リングにより基板上に厚さ200人の窒化マグネシウム
膜を形成した。その上に引き続いて実施例1のものと同
じFe、 Gd、 Tb。
Goの複合ターゲットを第2のターゲットとして、スパ
ッタリングにより厚さ100OAの記録層を形成した。
ッタリングにより厚さ100OAの記録層を形成した。
更に槽内を4 X 10” Pa程度排気後、N2ガス
を4 X 10’ Pa導入して、第1のターゲットを
用いて前記記録層上に厚さ2000Aの窒化マグネシウ
ム膜を形成した。
を4 X 10’ Pa導入して、第1のターゲットを
用いて前記記録層上に厚さ2000Aの窒化マグネシウ
ム膜を形成した。
実施例3
RFスパッタ装置において、真空槽中を4×10″4P
a程度排気後、窒素(N2)ガスを4 X to’ P
a程度まで導入した。そして1インチ角のポリメチルメ
タアクリレート(PMMA)を基板として第1のターゲ
ットとして窒化マグネシウムを用いスパッタリングによ
り基板上に厚さ20OAの窒化マグネシウム膜を形成し
た。その上に引き続いて実施例1のものと同じGd、
Tb、 Fe、 Coの複合ターゲットを第2のターゲ
ットとして、スパッタリングにより厚さ100OAの記
録層を形成した。更に槽内を4X 1(1″4Pa程度
排気後、N2ガスを4 X 10−’ Pa導入して、
第1のターゲットを用いて前記記録層上に厚さ200O
Aの窒化マグネシウム膜を形成した。
a程度排気後、窒素(N2)ガスを4 X to’ P
a程度まで導入した。そして1インチ角のポリメチルメ
タアクリレート(PMMA)を基板として第1のターゲ
ットとして窒化マグネシウムを用いスパッタリングによ
り基板上に厚さ20OAの窒化マグネシウム膜を形成し
た。その上に引き続いて実施例1のものと同じGd、
Tb、 Fe、 Coの複合ターゲットを第2のターゲ
ットとして、スパッタリングにより厚さ100OAの記
録層を形成した。更に槽内を4X 1(1″4Pa程度
排気後、N2ガスを4 X 10−’ Pa導入して、
第1のターゲットを用いて前記記録層上に厚さ200O
Aの窒化マグネシウム膜を形成した。
実施例4
RFスパッタ装置において、真空槽中を4×10″”P
a程度排気後、窒素(N2)ガスを4 X 10’ P
a程度まで導入した。そして1インチ角のポリカーボネ
イト(PC)を基板として第1のターゲットとして窒化
マグネシウムを用いスパッタリングにより基板上に厚さ
200人の窒化マグネシウム膜を形成した。その上に引
き続いて実施例1のものと同じGd、 Tb、 Fe、
Goの複合ターゲットを第2のターゲットとして、ス
パッタリングにより厚さ1000Aの記録層を形成した
。更に槽内を4X104Pa程度排気後、NZガスを4
X 10’ Pa導入して、第1のターゲットを用い
て前記記録層上に厚さ2000人の窒化マグネシウム膜
を形成した。
a程度排気後、窒素(N2)ガスを4 X 10’ P
a程度まで導入した。そして1インチ角のポリカーボネ
イト(PC)を基板として第1のターゲットとして窒化
マグネシウムを用いスパッタリングにより基板上に厚さ
200人の窒化マグネシウム膜を形成した。その上に引
き続いて実施例1のものと同じGd、 Tb、 Fe、
Goの複合ターゲットを第2のターゲットとして、ス
パッタリングにより厚さ1000Aの記録層を形成した
。更に槽内を4X104Pa程度排気後、NZガスを4
X 10’ Pa導入して、第1のターゲットを用い
て前記記録層上に厚さ2000人の窒化マグネシウム膜
を形成した。
実施例5
RFスパッタ装置において、1インチ角の白板ガラスを
基板とし、実施例1のものと同じGd。
基板とし、実施例1のものと同じGd。
Tb、 Fe、 Goの複合ターゲットを用いてスパッ
タリングにより厚さ200への記録層を形成した。続い
て真空槽内を4×10″Pa程度排気した後、窒素(N
2)ガスを4 X 10’ Paまで導入して、第2の
ターゲットとして窒化マグネシウムを用い、スパッタリ
ングによって前記記録層上に厚さ100OAノ窒化マグ
ネシウム膜を成膜した。さらに真空槽内を2 X 10
4Pa程度排気後、電子ビーム蒸発源によりアルミニウ
ム(A1)を蒸発させ、窒化マグネシウム膜上に反射膜
として厚さ500AのAI膜を形成し、最後にこの上に
スパッタリングによって厚さ2000Aの窒化マグネシ
ウム膜を成膜した。
タリングにより厚さ200への記録層を形成した。続い
て真空槽内を4×10″Pa程度排気した後、窒素(N
2)ガスを4 X 10’ Paまで導入して、第2の
ターゲットとして窒化マグネシウムを用い、スパッタリ
ングによって前記記録層上に厚さ100OAノ窒化マグ
ネシウム膜を成膜した。さらに真空槽内を2 X 10
4Pa程度排気後、電子ビーム蒸発源によりアルミニウ
ム(A1)を蒸発させ、窒化マグネシウム膜上に反射膜
として厚さ500AのAI膜を形成し、最後にこの上に
スパッタリングによって厚さ2000Aの窒化マグネシ
ウム膜を成膜した。
実施例6
RFスパッタ装置において、真空槽中を4XlO″4P
a程度排気後、窒素(N2)ガスを4 X 10’ P
aまで導入して、ガラス板上に紫外線硬化型樹脂(2P
)エポキシアクリレート層(10〜100鱗)を形成し
たものを基板として第1のターゲットとして窒化マグネ
シウムを用い、スパッタリングにより基板上に厚さ20
0人の窒化マグネシウム膜を形成した。その上に引き続
いて実施例1のものと同じGd、 Tb、 Fe、 G
oの複合ターゲットを第2のターゲットとしてスパッタ
リングにより厚さ200への記録層を形成した。更に槽
内を4×10→Pa程度排気後、窒素(N2)ガスを4
X 10’ Pa導入して、第1のターゲットを用い
て前記記録層上に厚さ100OAの窒化マグネシウム膜
を形成した。続いて真空槽内を2×10″Pa程度排気
後、電子ビーム蒸発源によりアルミニウム(A1)を蒸
発させ、窒化マグネシウム膜上に反射膜として厚さ50
0AのAI膜を形成し、最後にこめ上にスパッタリング
によって厚さ200OAの窒化マグネシウム膜を成膜し
た。
a程度排気後、窒素(N2)ガスを4 X 10’ P
aまで導入して、ガラス板上に紫外線硬化型樹脂(2P
)エポキシアクリレート層(10〜100鱗)を形成し
たものを基板として第1のターゲットとして窒化マグネ
シウムを用い、スパッタリングにより基板上に厚さ20
0人の窒化マグネシウム膜を形成した。その上に引き続
いて実施例1のものと同じGd、 Tb、 Fe、 G
oの複合ターゲットを第2のターゲットとしてスパッタ
リングにより厚さ200への記録層を形成した。更に槽
内を4×10→Pa程度排気後、窒素(N2)ガスを4
X 10’ Pa導入して、第1のターゲットを用い
て前記記録層上に厚さ100OAの窒化マグネシウム膜
を形成した。続いて真空槽内を2×10″Pa程度排気
後、電子ビーム蒸発源によりアルミニウム(A1)を蒸
発させ、窒化マグネシウム膜上に反射膜として厚さ50
0AのAI膜を形成し、最後にこめ上にスパッタリング
によって厚さ200OAの窒化マグネシウム膜を成膜し
た。
実施例7
RFスパッタ装置において、真空槽中を4×10′4P
a程度排気後、窒素(N2)ガスを4 X 10’ P
aまで導入して、ポリメチルメタアクリレート(PMM
A)を基板として、第1のターゲットとじて窒化マグネ
シウムを用い、スパッタリングにより基板上に厚さ20
0への窒化マグネシウム膜を形成した。その上に引き続
いて、実施例1のものと同じGd、 Tb、 Fe、
Goの複合ターゲットを第2のターゲットとして、スパ
ッタリングにより厚さ200人の記録層を形成した。更
に槽内を4×10→Pa程度排気後、窒素(N2)ガス
を4 X 10’ Pa導入して、第1のターゲットを
用いて前記記録層上に厚さ1000Aの窒化マグネシウ
ム膜を形成した。続いて真空槽内を2 X 1(1′4
Pa程度排出後、電子ビーム蒸発源によりアルミニウム
(AI)を蒸発させ、窒化マグネシウム膜上に反射膜と
して厚さ500AのAI膜を形成し、最後にこの上にス
パッタリングによって厚さ200OAの窒化マグネシウ
ム膜を成膜した。
a程度排気後、窒素(N2)ガスを4 X 10’ P
aまで導入して、ポリメチルメタアクリレート(PMM
A)を基板として、第1のターゲットとじて窒化マグネ
シウムを用い、スパッタリングにより基板上に厚さ20
0への窒化マグネシウム膜を形成した。その上に引き続
いて、実施例1のものと同じGd、 Tb、 Fe、
Goの複合ターゲットを第2のターゲットとして、スパ
ッタリングにより厚さ200人の記録層を形成した。更
に槽内を4×10→Pa程度排気後、窒素(N2)ガス
を4 X 10’ Pa導入して、第1のターゲットを
用いて前記記録層上に厚さ1000Aの窒化マグネシウ
ム膜を形成した。続いて真空槽内を2 X 1(1′4
Pa程度排出後、電子ビーム蒸発源によりアルミニウム
(AI)を蒸発させ、窒化マグネシウム膜上に反射膜と
して厚さ500AのAI膜を形成し、最後にこの上にス
パッタリングによって厚さ200OAの窒化マグネシウ
ム膜を成膜した。
実施例8
RFスパッタ装置において、真空槽中を4×10″Pa
程度排気後、窒素(N2)ガスを4 X 10−’ P
aまで導入して、ポリカーボネイト(PC)を基板とし
て第1のターゲットとして窒化マグネシウムを用い、ス
パッタリングにより基板上に厚さ200人の窒化マグネ
シウム膜を形成した。その上に引き続いて、実施例1の
ものと同じGdTbFe(:oの複合ターゲットを第2
のターゲットとして、スパッタリングにより厚さ200
人の記録層を形成した。更に槽内を4 X 10” P
a導入して、第1のターゲットを用いて前記記録層上に
厚さ100OAの窒化マグネシウム膜を形成した。続い
て真空槽内を2X104Pa程度排出後、電子ビーム蒸
発源によりアルミニウム(AI)を蒸発させ、窒化マグ
ネシウム膜上に反射膜として厚さ500AのAI膜を形
成し、最後にこの上のスパッタリングによって厚さ20
0OAの窒化マグネシウム膜を成膜した。
程度排気後、窒素(N2)ガスを4 X 10−’ P
aまで導入して、ポリカーボネイト(PC)を基板とし
て第1のターゲットとして窒化マグネシウムを用い、ス
パッタリングにより基板上に厚さ200人の窒化マグネ
シウム膜を形成した。その上に引き続いて、実施例1の
ものと同じGdTbFe(:oの複合ターゲットを第2
のターゲットとして、スパッタリングにより厚さ200
人の記録層を形成した。更に槽内を4 X 10” P
a導入して、第1のターゲットを用いて前記記録層上に
厚さ100OAの窒化マグネシウム膜を形成した。続い
て真空槽内を2X104Pa程度排出後、電子ビーム蒸
発源によりアルミニウム(AI)を蒸発させ、窒化マグ
ネシウム膜上に反射膜として厚さ500AのAI膜を形
成し、最後にこの上のスパッタリングによって厚さ20
0OAの窒化マグネシウム膜を成膜した。
実施例9〜16
実施例1〜9の窒化マグネシウムに代えて各々、窒化ハ
フニウムから成る保護膜を設けた光学的記録媒体を作成
した0表1にそれらの構成をまとめて示す、記録層とし
てはGdTbFeCoの4元系非晶質磁性膜を用いた。
フニウムから成る保護膜を設けた光学的記録媒体を作成
した0表1にそれらの構成をまとめて示す、記録層とし
てはGdTbFeCoの4元系非晶質磁性膜を用いた。
窒化膜は全てスパッタリングにより形成した。
比較例1
2000A厚の窒化マグネシウム層の代わりに300O
AのSi0層を設けた以外は、実施例1と同様にして光
学的記録媒体を作成した。
AのSi0層を設けた以外は、実施例1と同様にして光
学的記録媒体を作成した。
比較例2
200OAの窒化マグネシウム層を設けなかった以外は
実施例1と同様にして光学的記録媒体を作成した。
実施例1と同様にして光学的記録媒体を作成した。
比較例3
窒化マグネシウムの代わりにSiOを使用した以外は実
施例5と同様にして光学記録媒体を作成した。
施例5と同様にして光学記録媒体を作成した。
比較例4
最外殻の保護膜が無く、他の保護膜がSiO膜である以
外は実施例5と同様にして光学記録媒体を作成した。
外は実施例5と同様にして光学記録媒体を作成した。
#腐食性試験
前述の実施例1〜16、比較例1〜4に従って作成した
光学的記録媒体を70℃、85%RHの恒温恒湿槽に入
れて、耐腐食性試験を行った。そのうち実施例1と5及
び比較例1〜4の結果を第1図及び第2図に示す、第1
図、第2図において、横軸は試験時間〔単位は時間(H
)〕を示し、縦軸は保磁力Hcの変化を保磁力の初期値
Heoに対する比で示した。ここで保磁力の低下が激し
い程、腐食が進行したことを示す、なお実施例2〜4゜
9〜12の結果は実施例1とほぼ同様、又実施例6〜8
,13〜16の結果は実施例5とほぼ同様であった。第
1図及び第2図かられかるように、窒化マグネシウム、
窒化ハフニウムを保護層として用いると光学的記録媒体
の耐腐食性を向上させることができる。
光学的記録媒体を70℃、85%RHの恒温恒湿槽に入
れて、耐腐食性試験を行った。そのうち実施例1と5及
び比較例1〜4の結果を第1図及び第2図に示す、第1
図、第2図において、横軸は試験時間〔単位は時間(H
)〕を示し、縦軸は保磁力Hcの変化を保磁力の初期値
Heoに対する比で示した。ここで保磁力の低下が激し
い程、腐食が進行したことを示す、なお実施例2〜4゜
9〜12の結果は実施例1とほぼ同様、又実施例6〜8
,13〜16の結果は実施例5とほぼ同様であった。第
1図及び第2図かられかるように、窒化マグネシウム、
窒化ハフニウムを保護層として用いると光学的記録媒体
の耐腐食性を向上させることができる。
本発明により耐腐食性の優れた光学的記録媒体が得られ
た。
た。
第1図及び第2図は1夫々本発明に基づく光学的記録媒
体の耐腐蝕性試験の結果を示す図である。 1;実施例1の保磁力曲線 2:比較例1の保磁力曲線 3:比較例2の保磁力曲線 4:実施例5の保磁力曲線 5:比較例3の保磁力曲線 6:比較例4の保磁力曲線 特許出願人 キャノン株式会社 代 理 人 若 林 忠第1図 試験時開 番人シ兜時16) 手続補正書(実船 昭和61年2月21日
体の耐腐蝕性試験の結果を示す図である。 1;実施例1の保磁力曲線 2:比較例1の保磁力曲線 3:比較例2の保磁力曲線 4:実施例5の保磁力曲線 5:比較例3の保磁力曲線 6:比較例4の保磁力曲線 特許出願人 キャノン株式会社 代 理 人 若 林 忠第1図 試験時開 番人シ兜時16) 手続補正書(実船 昭和61年2月21日
Claims (1)
- 2、基板上に光学的記録層を有して成る光学的記録媒体
において、前記光学的記録層の片側又は両側にマグネシ
ウム、ハフニウムの内の少くとも1つの物質の窒化物か
らなる膜を形成したことを特徴とする光学的記録媒体。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25677485A JPS62117157A (ja) | 1985-11-18 | 1985-11-18 | 光学的記録媒体 |
FR8611401A FR2590066B1 (fr) | 1985-08-07 | 1986-08-06 | Element de memoire a bulles magnetiques |
US06/897,368 US4772505A (en) | 1985-08-07 | 1986-08-18 | Magnetic bubble memory element |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25677485A JPS62117157A (ja) | 1985-11-18 | 1985-11-18 | 光学的記録媒体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62117157A true JPS62117157A (ja) | 1987-05-28 |
Family
ID=17297257
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25677485A Pending JPS62117157A (ja) | 1985-08-07 | 1985-11-18 | 光学的記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62117157A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20120270035A1 (en) * | 2011-04-22 | 2012-10-25 | Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. | Process for surface treating magnesium alloy and article made with same |
-
1985
- 1985-11-18 JP JP25677485A patent/JPS62117157A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20120270035A1 (en) * | 2011-04-22 | 2012-10-25 | Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. | Process for surface treating magnesium alloy and article made with same |
US8790497B2 (en) * | 2011-04-22 | 2014-07-29 | Hong Fu Jin Precision Industry (Shenzhen) Co., Ltd. | Process for surface treating magnesium alloy and article made with same |
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