JPS6199945A

JPS6199945A - 光学的情報処理装置

Info

Publication number: JPS6199945A
Application number: JP59219969A
Authority: JP
Inventors: Hideo Ando; 秀夫安東; Akihiko Doi; 土肥　昭彦
Original assignee: Toshiba Corp; Toshiba Automation Equipment Engineering Ltd
Current assignee: Toshiba Corp; Toshiba Intelligent Technology Co Ltd
Priority date: 1984-10-19
Filing date: 1984-10-19
Publication date: 1986-05-19
Also published as: JPS6199944A

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔発明の技術分野〕本発明は、集束光を用い情報記憶媒体から少な°（とも
情報を読取るとをが可能な装置であり、例えば、ＤＡＤ
用のＣＤ（コンＡクトディスク）中ビデオディスクのよ
うな再生専用の情報記憶媒体や、画像ファイル・静止画
ファイル・ＣＯＭ（コンビエラターアウトプットメモリ
ー）等に用いられ、集束光によ）記録肩に対し穴を開け
る等の状態変化を起こさせて情報の記録を行ない、また
、そこから再生することができる情報記憶媒体、さらに
消去可能な情報記憶媒体に対し、少なくとも再生または
記録を行なうときに用いられる光学ヘッド、その光学ヘ
ッドを搭載した光学的情報再生装置、もしくは光学的情
報記録・再生装置等の光学的情報処理装置に関する。

〔発明の技術的背景とその問題点〕

上記種の装置においては、情報記憶媒体から情報を読取
ったシ、あるいは情報記憶媒体に新たに情報を書き加え
るとき、常に集束光の集光点が情報記憶媒体の記録層も
しくは光反射層の位置と一致していなければならない。

そのため、その装置内には自動焦点ぼけ検出機能および
その補正機能を有している。

ところで、光学ヘッド自体で検出する焦点ぼけ検出方式
として合焦点時情報記憶媒体の記録層もしくは光反射層
に対する結像位置あるいはその近傍に光検出器を置き、
焦点がぼけるととＫよシスポットの中央が光検出器上で
移動する方法が何種類か存在している。この方法の場合
、合焦点時の光検出器上のスポットサイズが非常に小さ
いので、わずかな光軸ずれが生じても光検出器上でスポ
ットが移動してしまい、あたかも焦点がぼけたものと誤
検出してしまう。そのため、これらの方法を焦点ぼけ検
出に用いた光学ヘッドは外部環境の変化（温度変化、湿
度変化、機械的な振動や衝撃等）にょ）光軸がずれ焦点
がぼけ易い欠点を有する。特に、温度変化に対しては敏
感に影響を受は易い。

〔発明の目的〕

本発明は上記事情にもとづいてなされたもので、その目
的とするところは、温度変化に対して光軸がずれ難く、
安定して焦点ぼけ検出を行なうことができるようにした
光学的情報処理装置を提供することにある。

〔発明の概要〕

本発明は、上記目的を達成するために、光学ヘッドと支
持台との接触部分を至る断熱膨張率の違いＫよシ生ずる
熱歪量の差に対しスライド可能としたことを特徴とする
ものである。

〔発明の実施例〕

以下、本発明の一実施例を第１図〜第６図を参照しなが
ら説明する。第２図は本発明に係る　゛光学的情報処理
装置としての情報記録再生装置を概略的に示すもので、
この図中１は光ディスク（情報記憶媒体）である。この
光ディスク１は、一対の円板状透明グレート２．３を内
外スペーサ４，５を介して貼シ合せて形成され、その透
明グレート２，３のそれぞれの内面上には情報記録層と
しての光反射層６，７が蒸着によって形成されている。

この光反射層６，１のそれぞれには、ヘリカルにトップ
中ングガイド８（第３図参照）が形成され、このトラッ
キングガイド８上にピットの形で情報が記録される。

また、光ディスク１の中心には孔が穿けられ、ターンテ
ーブル９上に光ディスク１が載置された際に、このター
ンテーブル９のセンタースピンドル１０が光ディスク１
の孔に挿入され、ターンテーブル９と光ディスク１の回
転中心が一致される。ターンテーブル９のセンタースピ
ンドル１０には、さらにチャック装置１１が装着され、
このチャック装置１１によって光ディスク１がターンテ
ーブル９上に固定される。ターンテーブル９は、回転可
能に支持台（図示しない）によって支持され、駆動モー
タ１２によって一定速度で回転される。

また、１３は後述するスウィングアームＪ１７Ｊによっ
て光デイスク１０半径方向に移動可能に設けられた光学
ヘッドでアシ、この光学ヘッド１３内にはレーザービー
ムＬを発生する半導体レーデ−（光源）１５が設けられ
ている。そして、情報を光ディスク１に書き込むに際し
ては、書き込むべき情報に応じてその光強度が変調され
たレーデ−ビームＬが半導体レーデ−１５から発生され
、情報を光ディスク１から読み出す際には、一定の光強
度を有するレーザービームＬが半導体レーデ−１５から
発生される。半導体レーデ−１５から発生された発散性
のレーデ−ビームＬは、コリメーターレンズ１６により
て平行光束に変換され、偏向ビームスプリッタ１１に向
けられる。偏向ビームスプリッタ１１を通過した平行レ
ーザービームＬは、１７４波長板１８および後述するミ
２−１ｏ２を順次通過して対物レンズ１９に入射され、
この対物レンズ１９によって光ディスク１の光反射層７
に向けて集束される。対物レンズ１９は、ディスコイル
２０によりてその光軸方向に移動可能に支持され、対物
レンズ１９が所定位置に位置されると、この対物レンズ
１９から発せられた集束性レーデ−ビームＬのビームウ
ェストが光反射層７０表面上に投射され、最小ビームス
イツトが光反射層１０表面上に形成される。この状態に
おいて、対物レンズ１９は合焦点状態に保たれ、情報の
書き込みおよび読み出しが可能となる。そして、情報を
書き込む際には、光強度変調すれたレーデ−ビームＩ、
によりて光反射［７上のトラッキングガイド８にビット
だ形成され、情報を読み出す際には、一定の光強度を有
するレーデ−ビームＬが、トラッキングガイド８に形成
された♂ラドによりて光強度変調されて反射される。

光ディスク１の光反射層１から反射された発散性のレー
デ−ビームＬ　ａ　、合焦点時には対物レンズＪｊＫよ
りて平行光束に変換され、再びミラー１０２およびＶ４
波長板１８を順次通過して偏向ビームスグリツタ１７に
戻される。レーデ−げ−ムＬが１／４波長板１８を往復
することによってレーザービームＬは、偏向ビームスプ
リッタ１７を通過した際に比べて偏波面が９０度回転し
、この９０度だけ偏波面が回転したレーデ−ビームしは
、偏向ビームスグリツタ１１を通過せず、この偏向ビー
ムスプリッタ１ｒで反射されることとなる。偏向ビーム
スプリッタ１２で反射したレーザービームＬｄハーフミ
？−２１によりて２系統に分けられ、その一方は、凸レ
ンズ２２によって第１の光検出器２３に照射される。こ
の第１の光検出器２３で検出畜れた第１の信号は、光デ
ィスク１に記録された情報を含み、信号処理装置ｊ４１
ｃ送られてデシタルデータに変換される。ハーフミラ−
２１によりて分けられた他方のレーデ−ビームＬは、遮
光板（光抜出部材）２５によりて光軸Ｓノから離間した
領域を通過する成分のみが取　パ・出され、投射レンズ
２６を通過した抜落２の光検出器２７に入射される。第
２の光検出器２７で検出された信号はｓ　７　を−カス
信号発生器２８で処理され、この７を一カス信号が？イ
スコイル駆動回路２９に与えられる。ゲイスコイル駆動
回路２９は、フす−カス信号に応じて？イスコイル２０
を駆動し、対物レンズ１９を合焦点状態に維持する。

次に１第２図に示した合焦点を検出するための光学系は
、単純化して示すと、第３図のようになル、合焦点検出
に関するレーザービームＬの軌跡は、第４図（ハ）、（
ロ）、Ｃつに示すように描かれる。対物レンズ１９が合
焦点状態にある際には、光反射層ｉ上にビームウェスト
が投射され、最小ビームスポット、すなわちビームウェ
ストス４ツト３０が光反射層２上に形成される。通常、
半導体レーザー１５かも対物レンズ１９に入射されるレ
ーデ−ビームＬは平行光束であるから、ビームウェスト
は対物レンズ１９の焦点上に形成される。しかしながら
１．対物レンズ１９に半導体レーザー１５から入射され
るレーザービームＬがわずかに発散域あるいは収束して
いる場合には、ビームウェスト紘対物レンズ１９の焦点
近傍に形成される。ここで、光検出器２７の受光面は合
焦点状態においてそのビームウェストスポット３０の結
像面に配置されている（なお、結像面近傍に配置しても
よい。）。

したがりて、合焦点時には、ビームウェストス４ツト３
０の像が光検出器２７の＊光面の中心に形成される。

すなわち、第４図（ハ）に示すように、ビームウェスト
ス４ツト３０が光反射層２上に形成され、この光反射層
１で反射されたレーデ−ビームＬは対物レンズ１９によ
りて平行光束に変換されて遮光板２５に向けられる。遮
光板２５によりて光軸３１から離間した領域を通る光成
分のみｔ”　取出され、投射レンズ２６によって収束さ
れ、光検出器２６上で最小に絞られ、ビームウェスト化
がその上炉形成される。次に、対物レンズ１９が光反射
層１に向けて近接すると、ビームウェストは、第４図（
ロ）に示すように、レーザービームＬが光反射ＨＡ　Ｆ
で反射されて生ずる。すなわち、ビームウェストは対物
レンズ１９と光反射層７との間に生ずる。このような非
合焦点時においては、ビームウェストは、通常、対物レ
ンズ１９の焦点距離内に生ずることから、ビームウェス
トが光点として機能すると仮定すれば明らかなように光
反射層７で反射され、対物レンズ１９から射出されるレ
ーザービームＬは対物レンズ１９によりて発散性のレー
ザービームＬに変換される。遮光板２５を通過したレー
ザービームＬ成分も同様に発散性であることから、この
レーデ−ビームＬ成分が投射レンズ２６によって集束さ
れても光検出器２７の受光面上で最小に絞られず、光検
出器２２よりも遠い点に向かって集束されることとなる
。したがって、光検出器２７の受光面の中心から図中上
方に向かってレーザービームＬ成分は投射すれ、その受
光面上にはビームスポット像よ）も大きなパターンが形
成される。さらに、第４図＆ｅに示すように、対物レン
ズ１９が光反射層７から離間された場合には、レーデ−
ビームＬは、ビームウェストを形成した後、光反射層７
で反射される。このような非合焦点時には、対物レンズ
１θの焦点距離外でありて対物レンズ１９と光反射層１
との間に形成されることから、対物レン）ｅ１９から遮
光板２５に向かう反射レーデ−ビームＬは集束性を有す
ることとなる。したがって、遮光板２５を通過したレー
ザービームＬ成分は投射レン黛２６によりてさらに収束
され、収束点を形成し左後、光検出器２７の受光面上に
投射される。その結果、光検出器２１の受光面上にはピ
ームクニストスデクト３０の像よシも大きなパターンが
中心から図中下方に形成嘔れる。

次に、上記光学ヘッド１３の各部品の支持構造を第５図
にもとづいて説明すると、コリメーターレンズ１６およ
び凸レンズ２２はそれぞれコリメーターレンズ支持部材
３２、凸レンズ支持部材３３内に収納され固定されてい
る。また、′半導体レーデー１５、第１の光検出器２３
、および第２の光検出器２７はそれぞれ半導体レーザー
支持部材３４、第１の光検出器支持部材３５、第２の光
検出器支持部材３６内に入っている。

また、半導体レーデ−ＩＳとコリメーターレンズ１６は
１つにまとま〕、レーデ−・；リメート系固定部材３７
の中で一体化されている。また対物レンズ１９はディス
コイル２０およびミラー１０２とともに対物レンズ駆動
系フレーム３８の中に入ってｈる。ここで、ミラー１０
２はレーザービームＬの進行方向を直角に曲げる、すな
わち、図中紙面に沿う方向から垂直な方向へ、またその
逆に変換するものである。さらに、第１の光検出器支持
部材３５は第１の光検出器固定部材３９によって固定さ
れている。また、投射レンズ２６は投射レンズ固定支持
部材４゜によって固定支持されている。すなわち、投射
レンズ固定支持部材４０は投射レンズ支持部材４１と投
射レンズ固定部材４２とからなシ、投射レンズ２６は投
射レンズ支持部材４１内に収容され固定され、この投射
レンズ支持部材４ノは第２の光検出器支持部材３６とと
もに投射レンズ固定部材４２によって固定されている。

また、４３はベース部材であシ、これは中空な箱形状を
呈しておシ、略均−な厚みを有する底板部４４と、この
底板部４４上に略垂直に立設された側壁４５とから構成
されている。そして、上記レーザーコリメート系固定部
材３７、対物レンズ駆動系フレ一台３８、第１の光検出
器固定部材３９、および投射レンズ固定支持部材４００
投射レンズ固定部材４２はこのペース部材４３の側壁４
５の側面に直接接合されねじ止めあるいは接着により固
定されている。また、遮光板２５および凸レンズ支持部
材３３はペース部材４３の底板部４０に直接接合され固
定されている。さらに、偏向ビームスポット像１７およ
びハーフ！リズム２１はペース部材４３の底板部４４に
直接接着され固定されている。さらに、ｌ／４波長板１
８は１７４波長板支持部材４６を介してベース部材４１
０側壁４５に固定されている。

このような支持構造において、ペース部材４３と、投射
レンズ固定支持部材４０の上記ぺ−ス部材４３に直接接
合している投射レンズ固定部材４２とは略等しい熱膨張
率を有する構成となっている。すなわち、例えば、これ
ら両者は同一の部材で構成されている。

また、ベース部材４３と、偏向ビームスプリッタ１７と
は熱膨張率の略等しい材質で構成されている。そして、
ペース部材は、少なくとも一部が鉄を含む金属、または
、鋳鉄もしくはステンレスを含む材質であって、熱膨張
率として線膨張率が１℃当シ（９±９）ＸＩＯ″″６の
範囲内に存在している材質で構成されている。この場合
、線膨張率がＩＣＣクシ９±７　）　Ｘ　１０−’の範
囲内に存在している材質で構成した方ｆｉｆ好ましい。

として回転するスウィングアーム（支持台）１０１の先
端上に支持されている。すなわち、第゛１図に示すよう
に、光学へラド１３は、ベース部材４３にばか穴１０４
・−があけられ、このばか穴１０４・・・にカラー１０
５・・・を介して固定用ねじ１０６・・・を挿通しスウ
ィングアーム１０１に締め付けることにより、スウィン
グアーム１０１に対する接触部分が至る断熱膨張率の違
いによシ生ずる熱歪量の差に対しスライド可能となりて
いる。なお、カラー１０５の材質としては弾性力が強く
、摩擦が少ないものであシ、たとえばテフロン等が好ま
しい。

以上の構成によれば、ベース部材４３と偏向ビームスグ
リツタＪ１とを熱膨張率の略等しい材質で構成したため
、温度変化が生じてもペース部材４３に対し偏向ビーム
スプリッタ１７がずれその光軸３１がずれるという現象
が生じ難い、したがって、温度変化に対して光軸ずれｔ
；起こることなく安定に焦点ぼけ補正を行ない続けるこ
とができる。

すなわち、ペース部材４３としてアルミニラ　。

部材を用い、情報記録再生装置としての温度特性を調べ
たところ、高温・低温での焦点ずれ〃；生シた。これは
、偏向ビームス７”　リッタ１７の′材料であるガラス
の熱に対する線膨張率が１℃当クシ８〜ｌ０ＸＩＯであ
るのに対してアルミニウム材のそれが１℃当Ｊ２３Ｘ１
０　　であることから、１℃当ｊ６１５　Ｘ　１０−’
の熱歪みが生じ、この熱歪みによシ偏向ビームスシリツ
タ１７が傾き、合焦点瞳光検出器上の光スー゛ットの位
置がずれたためである。そこで、種々の実験によシ、線
膨張率の違いによる熱歪みが１℃当、！＞９ｘｌｏ　　
以内であれば装置として機能上支障がないことを確認し
た。このため、ベース部材４３に線膨張率が１℃当クシ
１８　Ｘ　１０”’であるアンバー材を用いたところ、
温度特性として良好な結果が得られた。すなわち、偏向
ビームスグリツタ１７が固定されているベース部材４３
の材質が熱膨張率として線膨張率が１℃当シ（９±９　
）　Ｘ　１０”’の範囲内に存在すれば良いことを種々
の実験によシ確認した。、さらに、装置としての温度特
性をよ多安定にするにはペース部材４３の材質が線膨張
率がＩＣＣクシ９±７　）　Ｘ　１０−’の１ｉｌｕ内
に存在するようなものを選択すれば良いことも同様に判
明した。

この範囲内に入るペース部材４３の材質として熱に対す
る線膨張率が１℃当クシ１０〜１６Ｘ１０−’ステンレ
ス鋼や、１℃当り１１〜１５Ｘ１０−’の鋳鉄、１℃当
クシ８〜ＩＱＸＩＯのガラス、１’Ｃ当り１４〜１５　
Ｘ　１０−’の金、１℃当９７〜１１　Ｘ　１０−６の
クロム、１℃当夛４．５〜７Ｘ　１０−６のタングステ
ン、１℃当夛６．６　Ｘ　１０−’のタンタル、１℃当
クシ１２．８〜１８Ｘ１０　のニッケル、１℃当クシ８
．９〜１０．２　Ｘ　１０　　の白金、１℃当）１５〜
１７Ｘ１０　　のコンスタンタン、１℃当クシ１１〜１
４Ｘ１０　のステライト、１℃当クシ１１　Ｘ　１０−
６の炭素鋼、１℃当夛１３　Ｘ　１０”’以下のニッケ
ル鋼等が存在している。また、線膨張率が１℃当シ（９
±７）ｘｌＯ−６の範囲かられずかにはずれるが、線膨
張率が１℃当クシ１６〜２０　Ｘ　１０””の銅や１℃
当クシ１８〜１９　Ｘ　１０”の黄銅を用いても装置と
して一応機能上支障ないことを確認した。なお、これら
の材質の中で、安価で、加工性に優れ、入手容易なもの
として、特に、線膨張率がＩＣ当１７１０〜１２Ｘ１０
″″４の範囲に入る一部〜のステンレス鋼中鯛鉄、およ
びデンスパ＝（鋳鉄の一部で商品名）が最適である。こ
れらはいずれも鉄を含む金属であシ、取扱いが容易であ
る。

これらの材料をペース部材４７に用いて温度試験を行な
り光ところ、−６０℃〜＋６０℃の範囲でほんど光軸ず
れを生じることなく安定に動作・した。

また、ペース部材４３と投射レンズ固定部材４２とを熱
膨張率の略等しい材質で構成したため、温度変化が生じ
てもベース部材４１１ｆＣ対し投射レンズ２６がずれそ
の光軸３１がずれるという現象が生じ難い。したがりて
、さらに温度変化に対して光軸ずれが起こることなく安
定に焦点ぼけ補正を・行ない続けることができる。

すなわち、ペース部材４３の材質として一種のステンレ
ス鋼もしくはデンスパーを用い、投射レンズ固定部材４
２の材質としてアンバー材を用いたところ、温度変化を
与えるとペース部材４Ｊの側Ｉ！４５と投射レンズ固定
部材４２との間の接合部分で熱膨張率の違いによシ歪み
が生じ投射レンズ２６がずれ、光軸ずれを起こした１次
に、投射Ｖンズ固定部材４２をペース部材４３Ｊ！−同
一の部材にし九ところ、温度変化による光軸ずれは観察
されなかった。以上よシ、ペース部材４Ｊと投射レンズ
固定部材４２とはともに略等しい熱膨張率を有する部材
を用いる必要があることがわか一５九、ζＯ場合、両者
が同一の材質からできていることが望ましい。

さらに、スクィンダアー五１０１社高速アクセスをする
ために極力軽重量とする必要があシ、このため、比重の
小さいアル電材等で作られておシ、これに対し、光学ヘ
ラＰＪＪのペース部材４３は上述したように線膨張率が
ＩＣ当たシ９　Ｘ　１０”’　Ｋ近い材質で作られるこ
とから、温度変化によシスフィングーアーム１６７とペ
ース　　パ部材４Ｊ１！：の間で熱膨張率の違いによる
熱歪量の差が生じるととくなるが、ペース部材４３とス
ウィングアーム１０１との接触部分が至る断熱膨張率の
違いによル生ずる熱歪量の差に対しスライド可能となっ
ているため、ペース部材４３とスウィングアーム１０１
とは独立的に熱歪を生じることＫなる。し九がって、さ
らに一層温度変化に対して光学ヘッドＩＪ内の光軸ずれ
が起こることなく安定に焦点ぼけ補正を行ない続妙るこ
とができる。この場合、温度変化に対して光学ヘッド１
３０ペース部材４Ｊはスウィングアーム１０１に対して
ずれるととになるが、固定用ねじ１０６−で確実に固定
しであるので、通常の状態で外力によ）容易に光学ヘッ
ド１３０ペース部材４３がスウィングアーム１０１から
ずれることはない。

なお、上記実施例では、光学ヘッド１３をスウィングア
ーム１０１に支持してアクセスさせる構造のものについ
て本発明を適用したが、たとえば第７図に示すように、
スライドペース１０６上を磁気の力によ）移動するスラ
イ〆１０７に光学へラドＪ３を支持してアクセスさせる
構造のものに適用してもよいことは勿論である。

壇た、光学ヘッド１３０ペース部材４３とスウィングア
ーム１０１との間には、ｐＪＥ８図に示すよりに、よ〕
ナベシを良くするため、！イ２−ヤツフロンシ一ト等で
できたすべ〕用敷板１０８を介在させてもよい。

また、投射レンズ量定支持部材４０を投射レンズ支持部
材４１と投射レンズ固定部材４２とから構成し、投射レ
ンズ固定部材４２をペース部材４１０側壁４５の側面に
直接接合し固定する構成としたが、本発明はこれに限定
されることはなく、投射レンズ固定部材４２を用いない
で、凸レンズ２２のように、投射レンズ支持部材４１を
直接ペース部材４３に接合固定する構造としてもよく、
この場合、ペース部材４３と投射レンズ支持部材４１と
を熱膨張率が略等しい構成とすればよい。

また、投射レンズ２６の単体をペース部材４Ｓの側壁４
５に直接接着固定してもよい。

また、上記実施例では、同一のペース部材４３に、レー
デ−・コリメート系固定部材３１や対物レンズ駆動系フ
レーム３８％偏向ビームスグリツタ１２等を固定したが
、偏向ビームスグリツタ１７等をｆｓｌのベース部材に
直接接着固定し、レーデ−・コリメート系固定部材３１
等を第２のベース部材に接合固定し、これら第１と第２
のベース部材を連結した構造としてもよい。

また、半導体レーデ−１５と第１および第２の光検出器
２３．２１との間で光学的なアイル−シ１ン作用を行な
わせようとする場合、上記実施例では、ゾリズムとして
偏向ビームスグリツタ１１を用いたので、これにともな
って１７４波長板１８が必要となったが、ハーフプリズ
ムを用いれば１７４波長板１８は不要となる。

さらに、合焦点時を検出する光学系としては、上記実施
例のものの他に、第９図〜第１２図に示すものかあシ、
本発明はこのような光学系にも適用でき、また、とれら
以外に、光ディスク１の光反射層ＩＫ対する結像位置あ
るいはその近傍に光検出器２７を配置し、焦点が埋けた
ときスイットの中央が光検出器２７上で移動するように
して焦点ぼけ検出を行なうあらゆる光学系に対して適用
することができる。なお、第９ＬＩＫ示す光学系におい
ては、レーデ−ビームＬが対物レンズ１９の光軸ＪＪＫ
対して斜め方向から入射されて光反射層１１に照射され
ている。

この場合においても、対物レンズ１９から投射、レンズ
、２６に破線で示すように集束性のレーデ−ビームＬが
照射され、光反射層１ｒが近付くと、対物レンダ１９か
ら投射レンズ２６に一点鎖線で示すように発散性のレー
デ−ビームＬが照射されることとなる。したがって、投
射レンズ２６から光検出器２１に向うレーザービームＬ
は焦点ぼけの程度に応じて偏向させ、光検出器２１の受
光面上ではスイットパターンの大きさが変化するととも
にその投射位置が偏位されることとなる。第１θ図に示
す光学系において　−゛は、投射レンズ２６と光検出器
２７との間にパイプリズム４７が設けられている。した
がって、レーザービームＬは、合焦点時には実線で示す
軌跡を描き、非合焦点時にはパイプリズム４２によって
偏向される。第１１図に示す光学系に訃いては、対物レ
ンズ１９および投射レンズ２６で定まるビームウェスト
の結像点にミ２−４８が設けられ、その＜２−４ｓ上の
像を光検出器２１上ＫＭ像するレンズ４９がミラー４８
と光検出器２１との間に設けられている。そして、合焦
点時にｕ＜９−４８上に向りてレーデ−ビームＬが実線
で示すように集束されるのに対し、非合焦点時には破線
または一点鎖線で示す集束性または発散性のレーザービ
ームＬが投射レンズ２６によって集束されることＫなシ
、結果としてレーザービームＬがミ２−４８によりて偏
向されることになる。さらに、第１２図に示す光学系に
おいては、光軸３Ｊから離間した領域を通シ光軸３Ｊに
平行にレーザービームＬが対物レンズ１９に照射されて
いる。この場合においても、対物レンズ１９と光反射層
１１との間の距離に依存して投射レンズ２６から光検出
器２１に向うレーザービームＬｄ偏向されることになる
。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明によれば、集束性を用い情報
記憶媒体から少なくとも情報を読取る丸めの光学ヘッド
と、この光学ヘッドを支持する支持台とを具備し、上記
光学ヘッドは、上記支持台に対する接触部分を至る断熱
膨張率の違いによシ生ずる熱歪量の差に対しスライド可
°能としたから、温度変化に対して光軸がずれ難く、安
定して焦点埋は検出を行なうことができる°等優れた効
果を奏する。

【図面の簡単な説明】

第１図〜第６図は本発明の一実施例を示すもので、第１
図は光学ヘッドの支持構造を示す図、＃ｆ２図は情報記
録再生装置を概略的に示すブロック図、第３図は焦点ぼ
け検出用光学系を示す斜視図、第４図（イ）、←）　、
　？つは同光学系の合焦点時および非合焦点時における
レーザービームの軌跡を示す説明図、第５図は光学ヘッ
ドを構成する各部品の支持構造を示す断面図、陣６図は
光学ヘッドをアクセスさせるための構造を示す斜視図、
第７図は光学ヘッドをアクセスさせるための構造の他の
実施例を示す側面図、第８図は他の光学ヘッドの支持構
造を示す図、第９図〜第１２図は他の焦点ぼけ検出用光
学系を示す図である。１・・・情報記憶媒体（光ディスク）、１３・・・光学
ヘッド、１０１・・・支持台（スウィングアーム）、１
０５・・・カラー、１０６・・・固定用ねじ、１０８・
−すベシ用敷板。出願人代理人　　弁理士　鈴　江　武　彦′Ｍ３図第４図Ｎ５図第６図第７図第８図第９図第１０図

Claims

【特許請求の範囲】

（１）集束性を用い情報記憶媒体から少なくとも情報を
読取るための光学ヘッドと、この光学ヘッドを支持する
支持台とを具備し、上記光学ヘッドは、上記支持台に対
する接触部分を至る所熱膨張率の違いにより生ずる熱歪
量の差に対しスライド可能としたことを特徴とする光学
的情報処理装置。
（２）光学ヘッドは、支持台に対する接触部分の隙間が
広がらないように外側から押えた構成としたことを特徴
とする特許請求の範囲第１項記載の光学的情報処理装置
。
（３）支持台は、光学ヘッドをアクセスさせるためのス
ライダの一部で構成したことを特徴とする特許請求の範
囲第１項記載の光学的情報処理装置。
（４）支持台は、光学ヘッドをアクセスさせるためのス
ウィングアームの一部で構成したことを特徴とする特許
請求の範囲第１項記載の光学的情報処理装置。