JPS61245055A - 超音波探傷装置 - Google Patents
超音波探傷装置Info
- Publication number
- JPS61245055A JPS61245055A JP60086427A JP8642785A JPS61245055A JP S61245055 A JPS61245055 A JP S61245055A JP 60086427 A JP60086427 A JP 60086427A JP 8642785 A JP8642785 A JP 8642785A JP S61245055 A JPS61245055 A JP S61245055A
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- JP
- Japan
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- probe
- focusing
- defect
- ultrasonic
- focusing type
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- Pending
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は超音波探傷装置に係り、特に被検体の各種欠陥
を高精度、かつ、高速にて探傷するのに好適な超音波探
傷装置に関するものである。
を高精度、かつ、高速にて探傷するのに好適な超音波探
傷装置に関するものである。
従来の超音波探傷装置は、粗探傷あるいは精密探傷等の
目的に応じて非集束型探触子を用いるかあるいは集束型
探触子（アレイ振動子など）を用いて探傷するようにし
てあった。そのため、粗探傷の場合は、欠陥の大きさの
評価は高精度を望めないが短時間で探傷を行うことがで
きた。一方、精密探傷の場合は、高精度の探傷を望める
が、探傷に要する時間が多大となるという長所、短所を
持ち合わせており、高精度で、かつ、高速な探傷をした
いという要求に応じることができなかった。
目的に応じて非集束型探触子を用いるかあるいは集束型
探触子（アレイ振動子など）を用いて探傷するようにし
てあった。そのため、粗探傷の場合は、欠陥の大きさの
評価は高精度を望めないが短時間で探傷を行うことがで
きた。一方、精密探傷の場合は、高精度の探傷を望める
が、探傷に要する時間が多大となるという長所、短所を
持ち合わせており、高精度で、かつ、高速な探傷をした
いという要求に応じることができなかった。
なお、この種の装置に関連するものとして、例えば、特
開昭５９−５６１５９号公報、特開昭５９−６０３５４
号公報がある。
開昭５９−５６１５９号公報、特開昭５９−６０３５４
号公報がある。
本発明は上記に鑑みてなされたもので、その目的とする
ところは、被検体の各種欠陥を高精度、−）１つ、高速
で探傷することができる超音波エコー装置７番提供する
ことにある。
ところは、被検体の各種欠陥を高精度、−）１つ、高速
で探傷することができる超音波エコー装置７番提供する
ことにある。
本発明は、非集束型探触子と、集束型探触子と、上記非
集束型探触子によって検出された超音波エコーの伝播時
間から被検体に存在する欠陥の位置を演算する演算手段
と、前記欠陥位置に前記集束型探触子の焦点を合わせる
制御手段と、焦点を合わせた前記集束型探触子↓こよっ
て検出した超音波エコーを受信して、このエコー信号か
ら上記被検体の欠陥の大きさ、形状を検出する検出手段
とを具備する構成とした点にある。
集束型探触子によって検出された超音波エコーの伝播時
間から被検体に存在する欠陥の位置を演算する演算手段
と、前記欠陥位置に前記集束型探触子の焦点を合わせる
制御手段と、焦点を合わせた前記集束型探触子↓こよっ
て検出した超音波エコーを受信して、このエコー信号か
ら上記被検体の欠陥の大きさ、形状を検出する検出手段
とを具備する構成とした点にある。
（発明の実施例〕
以下本発明を第１図、第３ＦＭ、第６図に示した実施例
および第２図、第４図、第５図を用いて詳細に説明する
。
および第２図、第４図、第５図を用いて詳細に説明する
。
第１図は本発明の超音波探傷装置の一実施例を示す基本
構成図である。第１図において、被検体１の内部に存在
する欠陥２は、まず、非集束型探触子３の走査による粗
探傷によって検出される。
構成図である。第１図において、被検体１の内部に存在
する欠陥２は、まず、非集束型探触子３の走査による粗
探傷によって検出される。
この時点では、非集束型探触子３からのビームの傷する
ことができる。ここで、非集束型探触子用送受信器４に
よって発射した超音波ビームが欠陥２によって反射され
て、それが送受信器４によって受信されるまでの時間を
伝播時間測定回路５によって測定する。この伝播時間と
被検体１の超音波の音速とから被検体１の表面から欠陥
２までの距離をデータ処理装置６で演算する。また、デ
ータ処理装置６は、欠陥２までの距離と集束型探触子（
ここでは−次元アレイ振動子を用いてある）７の非集束
型探触子３に対する位置関係から、焦点の方向と位置を
演算し、集束型探触子７の各探動子に対する遅延時間（
τ１．τ２．・・・τ、）８を設定する。この状態で集
束型探触子用送受信器９から超音波を送信し、かつ、反
射超音波を集束型探触子７を介して受信する。この超音
波の送受信において、超音波の焦点位置が非集束型探触
子８による超音波ビーム幅をカバーするように遅延時間
８を刻々変えなから超音波の送受信を繰り返せば、欠陥
２の形状を正確に評価することができる。
ことができる。ここで、非集束型探触子用送受信器４に
よって発射した超音波ビームが欠陥２によって反射され
て、それが送受信器４によって受信されるまでの時間を
伝播時間測定回路５によって測定する。この伝播時間と
被検体１の超音波の音速とから被検体１の表面から欠陥
２までの距離をデータ処理装置６で演算する。また、デ
ータ処理装置６は、欠陥２までの距離と集束型探触子（
ここでは−次元アレイ振動子を用いてある）７の非集束
型探触子３に対する位置関係から、焦点の方向と位置を
演算し、集束型探触子７の各探動子に対する遅延時間（
τ１．τ２．・・・τ、）８を設定する。この状態で集
束型探触子用送受信器９から超音波を送信し、かつ、反
射超音波を集束型探触子７を介して受信する。この超音
波の送受信において、超音波の焦点位置が非集束型探触
子８による超音波ビーム幅をカバーするように遅延時間
８を刻々変えなから超音波の送受信を繰り返せば、欠陥
２の形状を正確に評価することができる。
したがって、非集束型探触子３としてビーム幅がある程
度広いものを用いることによって高速で粗な探傷を行う
ことができ、さらに欠陥が存在する場所は、集束型探触
子７によって高精度な欠陥評価を行うことができる。
度広いものを用いることによって高速で粗な探傷を行う
ことができ、さらに欠陥が存在する場所は、集束型探触
子７によって高精度な欠陥評価を行うことができる。
第２図は第１図における送信信号と反射波受信信号との
時間関係を示す図である。
時間関係を示す図である。
粗探傷によって得られる非集束型探触子３から欠陥２ま
での距離りは、超音波送信時点を起点とし、欠陥２から
反射された超音波が受信されるまでの伝播時間Ｔ（第２
図参照）と被検体１中の音速Ｃとから。
での距離りは、超音波送信時点を起点とし、欠陥２から
反射された超音波が受信されるまでの伝播時間Ｔ（第２
図参照）と被検体１中の音速Ｃとから。
により算出することができる。このときの遅延時間Ｔは
、例えば、第３ｗＲに示す実施例の構成の伝播時間測定
回路５によって測定可能である。第３図において、３は
非集束型探触子、４は非集束型探触子用送受信器、５は
伝播時間測定回路で、非集束型探触子用送受信器４から
超音波を非集束型探触子３に送信した時点で、カウンタ
回路５１によりクロックパルス発生回路５２からのパル
ス信号のカウントを開始し、欠陥２（第１図参照）から
反射された超音波信号は、非集束型探触子用送受信器４
を経てＡ Ｇ Ｃ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ Ｇａ１ｎ Ｃ
ｏｎｔｒｏｌ）回路５３で受信し、所定の振幅の信号に
増幅した後、反射波検出口ｌ！５４で所定の振幅ｖｔを
超えたときにカウンタ停止信号を反射波検出回路５４か
らカウンタ回路５工に送比し、カウンタ回路５１による
クロックパルスのカウントを停止させる。このような構
成の伝播時間測定回路５によって、超音波の伝播時間Ｔ
に比例した計数値を得ることができる。なお、クロック
パルス発生回路５２で発生するクロックパルスの周波数
は、非集束型探触子３から欠陥２までの距離の測定精度
によって決定する。
、例えば、第３ｗＲに示す実施例の構成の伝播時間測定
回路５によって測定可能である。第３図において、３は
非集束型探触子、４は非集束型探触子用送受信器、５は
伝播時間測定回路で、非集束型探触子用送受信器４から
超音波を非集束型探触子３に送信した時点で、カウンタ
回路５１によりクロックパルス発生回路５２からのパル
ス信号のカウントを開始し、欠陥２（第１図参照）から
反射された超音波信号は、非集束型探触子用送受信器４
を経てＡ Ｇ Ｃ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ Ｇａ１ｎ Ｃ
ｏｎｔｒｏｌ）回路５３で受信し、所定の振幅の信号に
増幅した後、反射波検出口ｌ！５４で所定の振幅ｖｔを
超えたときにカウンタ停止信号を反射波検出回路５４か
らカウンタ回路５工に送比し、カウンタ回路５１による
クロックパルスのカウントを停止させる。このような構
成の伝播時間測定回路５によって、超音波の伝播時間Ｔ
に比例した計数値を得ることができる。なお、クロック
パルス発生回路５２で発生するクロックパルスの周波数
は、非集束型探触子３から欠陥２までの距離の測定精度
によって決定する。
第４図は第３図における各部の入出力信号の代表的なも
ののタイムチャートで、（ａ）は非集束型探触子用送受
信器４からのカウント開始信号〜、４ａ、（ｂ）はＡＧ
Ｃ回路５３からの反射波の増幅信号５３ａ、（ａ）は反
射波検出回路５４からのカウンタ停止信号５４ａ、（ｄ
）はクロックパルス発生回路５２からのクロックパルス
信号５２ａである。カウンタ回路５１では、カウント開
始信号４ａのパルスが入力される時点ｔ１からクロック
パルス信号５２ａのパルスのカウントを開始し、カウン
ト停止信号５４ａのパルスが入力される時点ｔ２ まで
の間クロックパルスをカウントする。
ののタイムチャートで、（ａ）は非集束型探触子用送受
信器４からのカウント開始信号〜、４ａ、（ｂ）はＡＧ
Ｃ回路５３からの反射波の増幅信号５３ａ、（ａ）は反
射波検出回路５４からのカウンタ停止信号５４ａ、（ｄ
）はクロックパルス発生回路５２からのクロックパルス
信号５２ａである。カウンタ回路５１では、カウント開
始信号４ａのパルスが入力される時点ｔ１からクロック
パルス信号５２ａのパルスのカウントを開始し、カウン
ト停止信号５４ａのパルスが入力される時点ｔ２ まで
の間クロックパルスをカウントする。
（１）式によって非集束型探触子３から欠陥２までの距
離が求められれば、非集束型探触子３、集束型探触子７
と欠陥２との位置関係が第５図に示すような場合を想定
すれば、集束型探触子７に用いている各アレイ振動子の
遅れ時間τ、（ｉ＝１〜ｎ）は、次のように決定するこ
とができる。
離が求められれば、非集束型探触子３、集束型探触子７
と欠陥２との位置関係が第５図に示すような場合を想定
すれば、集束型探触子７に用いている各アレイ振動子の
遅れ時間τ、（ｉ＝１〜ｎ）は、次のように決定するこ
とができる。
ここで、アレイ振動子はｎ個、集束型探触子７の中心か
ら非集束型探触子３の中心までの距離をＤ、非集束型探
触子３の直径をｄ、焦点位置をＰ、、集束型探触子７の
中心から焦点位置Ｐ、までの水平距離をＸｏ、アレイ探
触子の位置を集束型探触子７の中心を零としてそれぞれ
ｘ１〜Ｘいアレイ探触子のピッチ間隔をＰとすると、ｉ
番目のアレイ振動子の位１！ｘｉ 、焦点位ＩＩＰ、の
位置ｘｌｌはそれぞれ次式のようになる。
ら非集束型探触子３の中心までの距離をＤ、非集束型探
触子３の直径をｄ、焦点位置をＰ、、集束型探触子７の
中心から焦点位置Ｐ、までの水平距離をＸｏ、アレイ探
触子の位置を集束型探触子７の中心を零としてそれぞれ
ｘ１〜Ｘいアレイ探触子のピッチ間隔をＰとすると、ｉ
番目のアレイ振動子の位１！ｘｉ 、焦点位ＩＩＰ、の
位置ｘｌｌはそれぞれ次式のようになる。
Ｘ、 ＝ Ｌ ｔａｎ θａ −（３
）ここに、θ。；集束型探触子７の中心から垂線と焦点
位ＭＰＦとを結ぶ線との なす角 Ｌ；集束型探触子７の中心から焦点 位Ｗｔ Ｐ Ｆ までの垂直距離 よって、ｉ番目のアレイ振動子から送信された超音波の
被検体１の中のビーム路程Ｑ１は、ｎｔ＝５７τＸ、）
”＋Ｌ” ・・・（４）で表わされる。したがっ
て、１番目のアレイ振動子のビーム路程を基準にすれば
、各アレイ振動子の路程差Δｇ、（ｉ＝１〜ｎ）および
遅延時間τ、は、被検体１中の音速をＣとすると、ハ、
＝！Σ；−５璽ア；・・・（５） で示される。
）ここに、θ。；集束型探触子７の中心から垂線と焦点
位ＭＰＦとを結ぶ線との なす角 Ｌ；集束型探触子７の中心から焦点 位Ｗｔ Ｐ Ｆ までの垂直距離 よって、ｉ番目のアレイ振動子から送信された超音波の
被検体１の中のビーム路程Ｑ１は、ｎｔ＝５７τＸ、）
”＋Ｌ” ・・・（４）で表わされる。したがっ
て、１番目のアレイ振動子のビーム路程を基準にすれば
、各アレイ振動子の路程差Δｇ、（ｉ＝１〜ｎ）および
遅延時間τ、は、被検体１中の音速をＣとすると、ハ、
＝！Σ；−５璽ア；・・・（５） で示される。
このように、欠陥２の焦点位置Ｐｖまでの垂直圧ＪＩＩ
Ｌと集束型探触子７の中心からの欠陥２の焦点位［Ｐ、
までの水平距離Ｘ。および被検体１中の音速Ｃとの関係
から、超音波ビームは（６）式によって決まる各アレイ
振動子に対する遅延時間τ、を設定すれば、焦点位１
ｐ ｖに焦点を結ばせることができる。
Ｌと集束型探触子７の中心からの欠陥２の焦点位［Ｐ、
までの水平距離Ｘ。および被検体１中の音速Ｃとの関係
から、超音波ビームは（６）式によって決まる各アレイ
振動子に対する遅延時間τ、を設定すれば、焦点位１
ｐ ｖに焦点を結ばせることができる。
そして、探傷方向を第５図に示すように右方向とすれば
、非集束型探触子３で最初に反射波が受信されるのは、
欠陥２の最左端にほぼ対応する。
、非集束型探触子３で最初に反射波が受信されるのは、
欠陥２の最左端にほぼ対応する。
よって、集束型探触子７による精密探傷範囲としては、
被検体１の深さＬで、超音波ビームの焦点Ｐ、としては
、 Ｘ、 ＜Ｘ＜Ｘ、＋ΔＸ＋７）範囲を探傷すれば、
欠陥２の大きさ、形状を精密に測定することができる。
被検体１の深さＬで、超音波ビームの焦点Ｐ、としては
、 Ｘ、 ＜Ｘ＜Ｘ、＋ΔＸ＋７）範囲を探傷すれば、
欠陥２の大きさ、形状を精密に測定することができる。
なお、ここでは、非集束型探触子３と集束型探触子７と
を間隔りだけ離して一体として走査し、非集束型探触子
３で欠陥２を検出した場所から移動しない状態で集束型
探触子７の一次元アレイ撮動子による超音波ビームを走
査する方式について述べたが、欠陥２の深さＬが小さい
場合には、集束型探触子７によるビーム入射角θ。が大
きくなり過ぎる場合が発生する。このような場合には、
集束型探触子７の中心を欠陥２の検出をした位置まで移
動した後、焦点距離Ｒが、Ｌ＜Ｒ＜Ｌ＋ΔＬの範囲で超
音波ビームを扇形に走査しなから探傷するようにした方
がよい、ただし、焦点距離変化範囲ΔＬはあらかじめ予
想される欠陥２の大きさから設定しておくようにする。
を間隔りだけ離して一体として走査し、非集束型探触子
３で欠陥２を検出した場所から移動しない状態で集束型
探触子７の一次元アレイ撮動子による超音波ビームを走
査する方式について述べたが、欠陥２の深さＬが小さい
場合には、集束型探触子７によるビーム入射角θ。が大
きくなり過ぎる場合が発生する。このような場合には、
集束型探触子７の中心を欠陥２の検出をした位置まで移
動した後、焦点距離Ｒが、Ｌ＜Ｒ＜Ｌ＋ΔＬの範囲で超
音波ビームを扇形に走査しなから探傷するようにした方
がよい、ただし、焦点距離変化範囲ΔＬはあらかじめ予
想される欠陥２の大きさから設定しておくようにする。
上記した本発明の実施例によれば、探傷領域が広範囲な
被検体１に対しても、高精度、かつ、高速で欠陥２の評
価が可能になるという利点がある。
被検体１に対しても、高精度、かつ、高速で欠陥２の評
価が可能になるという利点がある。
なお、上記した実施例では、集束型探触子７として一次
元アレイ振動子を用いたものについて説明したが、第６
図に示すように、焦点距離が固定された複数個の集束型
探触子７１〜７．を用い、アレイ振動子を用いた場合と
同様に、非集束型探触子３によって得られる欠陥２まで
の超音波の伝播時間から欠陥２までの距離を算出し、そ
のデータに基づいて欠陥２までの距離に合った焦点距離
を有する集束型探触子７．を探触子切替器１０によって
選択し、その選択された集束型探触子７１を位置決めし
なから欠陥２の大きさ、形などを高精度で探傷するよう
にしてもよい。
元アレイ振動子を用いたものについて説明したが、第６
図に示すように、焦点距離が固定された複数個の集束型
探触子７１〜７．を用い、アレイ振動子を用いた場合と
同様に、非集束型探触子３によって得られる欠陥２まで
の超音波の伝播時間から欠陥２までの距離を算出し、そ
のデータに基づいて欠陥２までの距離に合った焦点距離
を有する集束型探触子７．を探触子切替器１０によって
選択し、その選択された集束型探触子７１を位置決めし
なから欠陥２の大きさ、形などを高精度で探傷するよう
にしてもよい。
以上説明したように、本発明によれば、被検体の各種欠
陥を高精度、かつ、高速で探傷することができるという
効果がある。
陥を高精度、かつ、高速で探傷することができるという
効果がある。
第１図は本発明の超音波探傷装置の一実施例を示す基本
構成図、第２図は第１図における送信信号と反射波受信
信号との時間関係を示す図、第３図は第１図の伝播時間
測定回路の一実施例を示すブロック図、第４図は第３図
における各部の入出力信号の代表的なもののタイムチャ
ート、第５図は集束型探触子、非集束型探触子、欠陥お
よび超音波ビームの焦点位置の関係を示す図、第６図は
本発明の他の実施例を示す基本構成図である。 １・・・被検体、２・・・欠陥、３・・・非集束型探触
子、４・・・非集束型探触子用送受信器、５・・・伝播
時間測定回路、６・・・データ処理装置、７・・・集束
型探触子、８・・・遅延回路、９・・・集束型探触子用
送受信器。 １０・・・探触子切替器、５１・・・カウンタ回路、５
２・・・クロックパルス発生回路、５３・・・ＡＧＣ回
路。 第 ２ 口 ′＄３日 第＋ 口 ′ｙｆＪｓ 閉 第 ｉ
構成図、第２図は第１図における送信信号と反射波受信
信号との時間関係を示す図、第３図は第１図の伝播時間
測定回路の一実施例を示すブロック図、第４図は第３図
における各部の入出力信号の代表的なもののタイムチャ
ート、第５図は集束型探触子、非集束型探触子、欠陥お
よび超音波ビームの焦点位置の関係を示す図、第６図は
本発明の他の実施例を示す基本構成図である。 １・・・被検体、２・・・欠陥、３・・・非集束型探触
子、４・・・非集束型探触子用送受信器、５・・・伝播
時間測定回路、６・・・データ処理装置、７・・・集束
型探触子、８・・・遅延回路、９・・・集束型探触子用
送受信器。 １０・・・探触子切替器、５１・・・カウンタ回路、５
２・・・クロックパルス発生回路、５３・・・ＡＧＣ回
路。 第 ２ 口 ′＄３日 第＋ 口 ′ｙｆＪｓ 閉 第 ｉ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、金属材料に存在する各種欠陥を検出する超音波探傷
装置において、非集束型探触子と、集束型探触子と、前
記非集束型探触子によって検出された超音波エコーの伝
播時間から被検体に存在する欠陥の位置を演算する演算
手段と、前記欠陥位置に前記集束型探触子の焦点を合わ
せる制御手段と、焦点を合わせた前記集束型探触子によ
って検出した超音波エコーを受信して、該エコー信号か
ら前記被検体の欠陥の大きさ、形状を検出する検出手段
とを具備することを特徴とする超音波探傷装置。 ２、前記集束型探触子は、遅延時間を前記非集束型探触
子によって検出された超音波エコーの伝播時間によって
変更できる複数のアレイ振動子を用いてある特許請求の
範囲第１項記載の超音波探傷装置。 ３、前記集束型探触子は、焦点が異なる複数個の集束型
探触子からなり、前記制御手段は、前記非集型探触子に
よって検出された超音波エコーの伝播時間に応じて前記
集束型探触子を切り替える探触子切替手段を備えている
特許請求の範囲第１項記載の超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60086427A JPS61245055A (ja) | 1985-04-24 | 1985-04-24 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60086427A JPS61245055A (ja) | 1985-04-24 | 1985-04-24 | 超音波探傷装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61245055A true JPS61245055A (ja) | 1986-10-31 |
Family
ID=13886599
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60086427A Pending JPS61245055A (ja) | 1985-04-24 | 1985-04-24 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61245055A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63169555A (ja) * | 1987-01-06 | 1988-07-13 | Nippon Steel Corp | 複雑な内部欠陥を有する鋳鍛造品及び厚肉鋼の超音波探傷法 |
| JPS6469947A (en) * | 1987-09-11 | 1989-03-15 | Toshiba Corp | Ultrasonic wave flaw detector |
| JP2002214205A (ja) * | 2001-01-12 | 2002-07-31 | Kawasaki Heavy Ind Ltd | 超音波探傷装置 |
| JP2017003481A (ja) * | 2015-06-12 | 2017-01-05 | 富士重工業株式会社 | 超音波探傷システム、超音波探傷方法及び航空機構造体 |
| CN111855824A (zh) * | 2019-04-26 | 2020-10-30 | 通用电气公司 | 超声装置及其控制方法 |
-
1985
- 1985-04-24 JP JP60086427A patent/JPS61245055A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63169555A (ja) * | 1987-01-06 | 1988-07-13 | Nippon Steel Corp | 複雑な内部欠陥を有する鋳鍛造品及び厚肉鋼の超音波探傷法 |
| JPS6469947A (en) * | 1987-09-11 | 1989-03-15 | Toshiba Corp | Ultrasonic wave flaw detector |
| JP2002214205A (ja) * | 2001-01-12 | 2002-07-31 | Kawasaki Heavy Ind Ltd | 超音波探傷装置 |
| JP4633268B2 (ja) * | 2001-01-12 | 2011-02-16 | 川崎重工業株式会社 | 超音波探傷装置 |
| JP2017003481A (ja) * | 2015-06-12 | 2017-01-05 | 富士重工業株式会社 | 超音波探傷システム、超音波探傷方法及び航空機構造体 |
| US10180410B2 (en) | 2015-06-12 | 2019-01-15 | Subaru Corporation | Ultrasonic test system, ultrasonic test method and aircraft structural object |
| CN111855824A (zh) * | 2019-04-26 | 2020-10-30 | 通用电气公司 | 超声装置及其控制方法 |
| CN111855824B (zh) * | 2019-04-26 | 2023-10-27 | 通用电气公司 | 超声装置及其控制方法 |
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