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JPS61224341A - 半導体集積回路装置 - Google Patents

半導体集積回路装置

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Publication number
JPS61224341A
JPS61224341A JP60063450A JP6345085A JPS61224341A JP S61224341 A JPS61224341 A JP S61224341A JP 60063450 A JP60063450 A JP 60063450A JP 6345085 A JP6345085 A JP 6345085A JP S61224341 A JPS61224341 A JP S61224341A
Authority
JP
Japan
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wiring
layer
layer wiring
track
area
Prior art date
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Granted
Application number
JP60063450A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0693480B2 (ja
Inventor
Hiroaki Nishi
西 宏晃
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Priority to US06/799,093 priority patent/US4746965A/en
Priority to EP85308584A priority patent/EP0199875B1/en
Priority to DE8585308584T priority patent/DE3581632D1/de
Priority to KR1019860000383A priority patent/KR910007900B1/ko
Publication of JPS61224341A publication Critical patent/JPS61224341A/ja
Publication of JPH0693480B2 publication Critical patent/JPH0693480B2/ja
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Expired - Lifetime legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/52Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames
    • H01L23/522Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames including external interconnections consisting of a multilayer structure of conductive and insulating layers inseparably formed on the semiconductor body
    • H01L23/528Layout of the interconnection structure
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
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  • Power Engineering (AREA)
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  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は多層配線を有する半導体集積回路装置の改良に
関する。
(発明の技術的背景とその問題点〕 LSIの高集積化に伴い、複雑な機能の論理回路を短期
間で実現する手法としてマスタースライス方式や標準セ
ル方式が用いられている。マスタースライス方式のLS
Iは、予め多数の素子を基板に作り込んでおき、素子間
の配線を設計することにより所望の論理回路を得るもの
で、一般に配m−域の面積、形状は決まっている。標準
セル方式のLSIは;標準セルと称する論理回路要素を
多数列状に配列し、このセル間の配線を行うもので、配
線領域の面積、形状は配線トラックの本数によって変化
する。これら二つの方式のLSIでは、大規模化が更に
進んだ場合素子領域相互間の配線本数が多くなり、配#
1Ifr4域の面積が増大して、チップの集積度を低下
させるという問題があった。
この様な問題を解決するために、マスタースライス方式
では3層金属配線を用い、標準セル方式では多結晶シリ
コン配線を含む3層配線を用いることが行われている。
しかしこの様な多層配線構造を利用した場合、例えば隣
接しない配線層間の接続を行うため辷余分な配線トラッ
クを必要とし、この結果配線領域の面積縮小が十分に図
られないとか、配線抵抗の増加により信号遅延時間が大
きくなるといった問題があった。
第4図は、第1層配線と第3層配線の重複配線を各々第
2層配線に接続させる従来の3層配線構造の例を示して
いる。第1層配線41は、これと直交する配線トラック
上の第2層配線42!と接続位置C1で接続されている
。この第1層配線41と重複する第3層配線43は、第
2層配線421とは別の配線トラック上にある第2層配
線422と接続位置C2で接続されている。このように
第1層配線と第3層配線の一部が重複し且つ第2層配線
と直交する方向に配設される3層構造では、図のように
異なる配線トラック上の第2層配線421と422を用
いることが必要であった。
これは配線トラックを原則通り適用した場合に当然に採
用しなければならない構造であり、このことが配線領域
の縮小を妨げる原因となっていたのである。
〔発明の目的〕
本発明は上記した点に鑑みなされたもので、多層配線相
互間の接続を行う場合に配線トラック数の増加を防止し
、且つ配線長の増加を防止してチップ面積の縮小を可能
とした半導体集積回路装置を提供することを目的とする
〔発明の概要〕
本発明は、半導体基板上に複数本のセルアレイが集積形
成され、各セルアレイ間を配線領域として第2層配線が
セルアレイと平行な方向に複数本配設され、第1層配線
及び第3層配線が第2M配線と直交する方向に互いに一
部重複して配設される半導体集積回路装置において、第
3層配線の一部または第2層配線の一部を本来の配線ト
ラックとは直交する方向に配設する。そしてこの本来の
配線トラックとは直交する例外的な配線上で第1層配線
と第2層配線間及び第2層配線と第3層配線間の接続を
行う。
〔発明の効果〕
本発明によれば、例えば第1層配線と重複する第3層配
線の一部を第2層配線のトラックに沿って折り曲げて配
設し、この折り曲げた配線上即ち一本の第2層配線トラ
ック上で第1層配線と第2層配線間及び第2層配線と第
3層配線間の接続を行うことができる。従って本発明に
よれば、余分な配線トラックを用意する必要がなく、ま
た配線長を短くすることができ、配線領域の面積の縮小
を図って大規模LSIのチップ面積縮小を図ることがで
きる。
〔発明の実施例〕
以下本発明の詳細な説明する。
第1図(a)(b)は一実施例の要部の配線構造を示す
もので、(a)は平面図、(b)はそのA−A−位置断
面図である。11は例えばSi基板であり、この上には
複数本のセルアレイ(図示せず)が形成されている。配
線領域には第1層配線12、第2層配線131.132
及び第3層配線14が形成されている。15は層間絶縁
膜である。第1層配線は例えば多結晶シリコン膜配線で
あり、第2層配線及び第3層配線はへβ等の金属配線で
ある。本来の配線トラックは、第2層配線についてはセ
ルアレイと平行する方向であり、第1層及び第3層配線
については第2層配線トラックと直交する方向である。
図では第1層配線12と第3層配線14が重複する部分
を示している。
この実施例では、第1層配線12を接続位置C!で第2
層配線131と接続し、第3層配線14を本来の配線ト
ラックと直交する方向、即ち第2層配線トラック方向に
沿って折り曲げて、この折り曲げた部分で第2層配線1
31と同じ配線トラック上にある接続位置C2で第2層
配線132と第3層配線14の接続を行っている。
第2図は上記のような配線構造を用いた場合の具体的な
論理LSIのレイアウト例を示す。
211.212.213は標準セルを配列形成したセル
アレイであり、22は機能ブロックである。
第2図では、セルアレイ211と212の間の配線領域
の配線パターン例を示している。即ち、点線で示す23
1,232は第1層配線、実線で示す241.242は
第2層配線であり、配線幅を持たせて示した2Fz 、
252が第3層配線である。第2層配線241及び24
2は同一配線トラック上にある。そして第1層配線23
1は第2層配設241に接続され、こ・の第11I配I
231と重なる第3層配線251は第2層配線トラック
方向に折り曲げて第2層配線242に接続されている。
こうして本実施例によれば、第3層配線の一部を配線領
域で本来の配線トラックと直交する方向に曲げることに
より、第2層配線トラックを一本節約することができる
。従って従来の第4図と比較して明らかなように、配線
領域の面積縮小が可能であり、LSIのチップ面積の縮
小を図ることができる。
第3図は別の実施例のレイアウトを示す。第1層配線と
第3層配線を直接接続することができない時は、これを
配線領域で第2層配線を介して接続することが必要にな
る。この場合第1層配線と第3層配線が重複する時には
、配線領域で二つの第2層配線トラックを利用して第1
層配線−第2層配線(1)−第3層配線(1)−第2層
配線(2)−第3層配線(2という迂回した接続を行っ
ていた。本発明ではこの様な場合に第3層配線または第
2層配線の一部を本来のトラックに直交する方向に折り
曲げることにより一本の第2層配線トラックのみで第1
層配線と第3層配線の接続を行うことができる。即ち、
第3図のセルアレイ311については、第1層配線32
1と第3層配線341が重複しているが、第3層配線3
41を配線領域で第2層配線331のトラックに沿って
折りまげて、第111配線321と第2層配線331間
及び第3層配線331と第3層配線341間を第2層配
線33を上で接続している。またセルアレイ312につ
いては、本来のトラックとは直交する方向に第2層配線
332を配設して、これを利用して第1層配線321と
第3層配線342の接続を行っている。
この実施例によれば、余分な配線トラック数を必要とし
ないだけでなく、配線長を従来より短くすることができ
る。
本発明は上記した実施例に限られるものではなく、その
趣旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することがで
きる。例えば4層以上の多層配線構造の場合に、隣接す
る3層について上記した実施例と同様の構造とすること
により、同様の効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)(b)は本発明の一実施例の配線構造を示
す平面図とそのA−A ’断面図、第2図は上記実施例
の配線構造を適用した具体的なLSIのレイアウト例を
示す図、第3図は他の実施例の配線構造を示す平面図、
第4図は従来の配線構造を示す平面図である。 11・・・3i基板、12・・・第1層配線、131.
132・・・第2層配線、14・・・第31配線、Cr
 、C2・・・接続位置、211.212・・・セルア
レイ、22・・・機能ブロック、23s 、232・・
・第1層配線、241.242・・・第2層配線、25
1.252・・・第3層配線、31t 、312・・・
セルアレイ、321.322・・・第1層配線、33r
 、332・・・第2層配線、34t 、342・・・
第3層配線。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦       1第1
図 (a) 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  半導体基板上に複数本のセルアレイが集積形成され、
    各セルアレイ間を配線領域として第2層配線がセルアレ
    イと平行な方向に複数本配設され、第1層配線及び第3
    層配線が第2層配線と直交する方向に互いに一部重複す
    るように配設される半導体集積回路装置において、前記
    第3層配線の一部を本来の第3層配線のトラックに直交
    する方向に配設するか、または第2層配線の一部を本来
    の第2層配線のトラックに直交する方向に配設し、これ
    ら本来の配線トラックと直交する配線上で第1層配線と
    第2層配線間及び第2層配線と第3層配線間の接続を行
    うようにしたことを特徴とする半導体集積回路装置。
JP60063450A 1985-03-29 1985-03-29 半導体集積回路装置 Expired - Lifetime JPH0693480B2 (ja)

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JP60063450A JPH0693480B2 (ja) 1985-03-29 1985-03-29 半導体集積回路装置
US06/799,093 US4746965A (en) 1985-03-29 1985-11-18 Integrated semiconductor circuit device
EP85308584A EP0199875B1 (en) 1985-03-29 1985-11-26 Integrated semiconductor circuit device with multilayer wiring
DE8585308584T DE3581632D1 (de) 1985-03-29 1985-11-26 Integrierte halbleiter-schaltungsvorrichtung mit mehrschichtverdrahtung.
KR1019860000383A KR910007900B1 (ko) 1985-03-29 1986-01-22 반도체 집적회로장치

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JPH0693480B2 JPH0693480B2 (ja) 1994-11-16

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EP (1) EP0199875B1 (ja)
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DE (1) DE3581632D1 (ja)

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