JPS61206293A - 回路板の製造方法 - Google Patents
回路板の製造方法Info
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- JPS61206293A JPS61206293A JP60047262A JP4726285A JPS61206293A JP S61206293 A JPS61206293 A JP S61206293A JP 60047262 A JP60047262 A JP 60047262A JP 4726285 A JP4726285 A JP 4726285A JP S61206293 A JPS61206293 A JP S61206293A
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- photosensitive resin
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Classifications
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/40—Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
- H05K3/42—Plated through-holes or plated via connections
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/02—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding
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- H05K3/061—Etching masks
- H05K3/064—Photoresists
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/16—Coating processes; Apparatus therefor
- G03F7/164—Coating processes; Apparatus therefor using electric, electrostatic or magnetic means; powder coating
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
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- H05K2203/1333—Deposition techniques, e.g. coating
- H05K2203/135—Electrophoretic deposition of insulating material
-
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- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
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- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
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- Y10T29/49165—Manufacturing circuit on or in base by forming conductive walled aperture in base
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- Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は、スルーホールを有する回路板の製造方法に関
する。更に詳しくは、高密度配線パターンのスルーホー
ル回路板の製造工程を簡略化に16と同時に、信頼性、
経済性に優れた製造方法を提供するものである。
する。更に詳しくは、高密度配線パターンのスルーホー
ル回路板の製造工程を簡略化に16と同時に、信頼性、
経済性に優れた製造方法を提供するものである。
従来技術
従来、スルーホールを有する回路板の製造方法としては
、各種のものがあるが、高密度配線パターンが可能で信
頼性に優れ、製造工程が簡略等の要求を満足すべき方法
は見出されていない。たとえば、スクリーン印刷法でエ
ツチングレジストパターンの形成及びスルーホールの穴
埋めをする方法は、線中Q、:l’am以下の配線パタ
ーンの形成ができず、しかもスルーホール部の肩切れ等
のレジスト被覆信頼性に欠けるという欠点がある。また
感光性フィルムを用いる方法では、回路基板の導電性被
膜の凹凸に対する追従性に欠け、酸素による硬化の不均
一性、スルーホールの信頼性、配線パターンの信頼性に
欠ける等の欠点があり、更にベースフィルムを介して回
路パターンを焼付けるため高密度化に限界がある。また
エツチングレジストとして半田メッキ等の金属メッキ膜
を利用する方法は、これらのレジストが高価で不安定で
あるという欠点を有する。
、各種のものがあるが、高密度配線パターンが可能で信
頼性に優れ、製造工程が簡略等の要求を満足すべき方法
は見出されていない。たとえば、スクリーン印刷法でエ
ツチングレジストパターンの形成及びスルーホールの穴
埋めをする方法は、線中Q、:l’am以下の配線パタ
ーンの形成ができず、しかもスルーホール部の肩切れ等
のレジスト被覆信頼性に欠けるという欠点がある。また
感光性フィルムを用いる方法では、回路基板の導電性被
膜の凹凸に対する追従性に欠け、酸素による硬化の不均
一性、スルーホールの信頼性、配線パターンの信頼性に
欠ける等の欠点があり、更にベースフィルムを介して回
路パターンを焼付けるため高密度化に限界がある。また
エツチングレジストとして半田メッキ等の金属メッキ膜
を利用する方法は、これらのレジストが高価で不安定で
あるという欠点を有する。
発明が解決しようとする問題点
本発明者らは、従来のスルーホールを有する回路板の製
造方法のこれら欠点を改善すべく鋭意検討を加えた結果
、高密度配線パターンが可能で、製造方法が容易で、信
頼性、経済性に優れた方法を見出し、本発明を完成した
。
造方法のこれら欠点を改善すべく鋭意検討を加えた結果
、高密度配線パターンが可能で、製造方法が容易で、信
頼性、経済性に優れた方法を見出し、本発明を完成した
。
問題点を解決するための手段
すなわち、本発明はスルーホールを有し、かつスルーホ
ール部を含む全表面に導電性の被膜を有する回路基板の
上にポジ型感光性樹脂組成物被膜を電着法によって形成
し、該ポジ型感光性樹脂組成物被膜上に回路パターンを
有するポジ型マスクを介して露光したのち、露光部の感
光性樹脂組成物被膜を溶出除去して、エツチングレジス
トパターンを回路基板上に形成せしめ、次いで、露出し
た導電性被膜をエツチング除去し、更に回路パターン上
のポジ型感光性樹脂組成物被膜を除去することを特徴と
するスルーホールを有する回路板の製造方法である。
ール部を含む全表面に導電性の被膜を有する回路基板の
上にポジ型感光性樹脂組成物被膜を電着法によって形成
し、該ポジ型感光性樹脂組成物被膜上に回路パターンを
有するポジ型マスクを介して露光したのち、露光部の感
光性樹脂組成物被膜を溶出除去して、エツチングレジス
トパターンを回路基板上に形成せしめ、次いで、露出し
た導電性被膜をエツチング除去し、更に回路パターン上
のポジ型感光性樹脂組成物被膜を除去することを特徴と
するスルーホールを有する回路板の製造方法である。
本発明において、使用せられるスルーホールを有し、か
つスルーホール部を含む全表面に導電性の被膜を有する
回路基板としては、スルーホールを有する絶縁基板の全
部表面が導電性の被膜で被覆された構造のものであれば
、その製造方法を問わずすべて包含せられる。このよう
な構造を有する回路基板は、たとえばスルーホールを有
する絶縁基板の全表面に無電解メッキ用メッキ活性化物
質を付着させたのち無電解銅メッキを行ない、次いで電
解銅メッキをするか、又は両面銅張積層板の所定位置に
穴あけを行ない、次いで穴内に無電解メッキ用メッキ活
性化物質を付着させたのち、穴内を含めた表裏全面に、
無電解銅メッキ、電解銅メッキの順でメッキすることに
よって得られる。
つスルーホール部を含む全表面に導電性の被膜を有する
回路基板としては、スルーホールを有する絶縁基板の全
部表面が導電性の被膜で被覆された構造のものであれば
、その製造方法を問わずすべて包含せられる。このよう
な構造を有する回路基板は、たとえばスルーホールを有
する絶縁基板の全表面に無電解メッキ用メッキ活性化物
質を付着させたのち無電解銅メッキを行ない、次いで電
解銅メッキをするか、又は両面銅張積層板の所定位置に
穴あけを行ない、次いで穴内に無電解メッキ用メッキ活
性化物質を付着させたのち、穴内を含めた表裏全面に、
無電解銅メッキ、電解銅メッキの順でメッキすることに
よって得られる。
本発明におけるポジ型感光性樹脂組成物は電着法によっ
て導電性被膜上に連続膜を形成でき、かつ被膜の露光部
分が現像液で溶出しうるアニオン性又はカチオン性のポ
ジ型感光性樹脂組成物をいう。たとえばアニオン性のポ
ジ型感光性樹脂組成物電肴液はα、β−エチレン性不性
用飽和カルボン酸酸基、又はアミノ基を有する重合性単
量体を共重合したのち、該重合体の水酸基、又はアミノ
基にキノンジアジド系化合物をエステル化反応で付加し
たのち、α、β−エチレン性不性用飽和カルボン酸ルボ
キシル基をアルカリで中和上、水中に分散することによ
って得られる。又、カチオン性のポジ型感光性樹脂組成
物は、アミン基を有する重合性単量体と水酸基を有する
重合性単量体を共重合したのち、該共重合体の水酸基お
よび/またはアミノ基に部分的にキノンジアジド系化合
物をエステル化反応で付加したのち、共重合体中の残留
アミノ基を酸で中和し、水中に分散することによって得
られる。アニオン性のポジ型感光性樹脂組成物の合成に
用いるα、β−エチレン性不性用飽和カルボン酸ては、
マレイン酸、フマール酸(メタ)アクリル酸などがあげ
られ、水FFtW、又はアミノ基を有する重合性単量体
としては、2−とドロキシエチル(メタ)アクリレート
、γ−ヒドロキシスチレン、γ−アミノスチレン、γ−
ヒドロキ(メタ)アクリルアニリドなど、エステル化に
使用するキノンジアジド系化合物としては、O−ナフト
キノンジアジドスルホニルクロライドやO−ペンゾキノ
ンジアジドスルホニルク0ライドなどがあげられるのが
特に限定するものではない。力、チオン性のポジ型感光
性樹脂組成物の合成に用いるアミノ基を有する重合性単
量体としては、ジメチルアミノエチル(メチ)アクリレ
ート、ジエチルアミノエチル(メタ)アクリレート、ジ
エチルアミンプロピル〈メタ)アクリルアミド、γ−ア
ミノスチレンなどがあげられ、水酸基を有する重合性単
量体としてはγ−ヒドロキシスチレンなどがエステル化
に使用するキノンジアジド系化合物としては、O−ナフ
トキノンジアジドスルホニルクロライドやO−ベンゾキ
ノンジアジドスルホニルクロライドなどがあげられるが
、特に限定するものではない。
て導電性被膜上に連続膜を形成でき、かつ被膜の露光部
分が現像液で溶出しうるアニオン性又はカチオン性のポ
ジ型感光性樹脂組成物をいう。たとえばアニオン性のポ
ジ型感光性樹脂組成物電肴液はα、β−エチレン性不性
用飽和カルボン酸酸基、又はアミノ基を有する重合性単
量体を共重合したのち、該重合体の水酸基、又はアミノ
基にキノンジアジド系化合物をエステル化反応で付加し
たのち、α、β−エチレン性不性用飽和カルボン酸ルボ
キシル基をアルカリで中和上、水中に分散することによ
って得られる。又、カチオン性のポジ型感光性樹脂組成
物は、アミン基を有する重合性単量体と水酸基を有する
重合性単量体を共重合したのち、該共重合体の水酸基お
よび/またはアミノ基に部分的にキノンジアジド系化合
物をエステル化反応で付加したのち、共重合体中の残留
アミノ基を酸で中和し、水中に分散することによって得
られる。アニオン性のポジ型感光性樹脂組成物の合成に
用いるα、β−エチレン性不性用飽和カルボン酸ては、
マレイン酸、フマール酸(メタ)アクリル酸などがあげ
られ、水FFtW、又はアミノ基を有する重合性単量体
としては、2−とドロキシエチル(メタ)アクリレート
、γ−ヒドロキシスチレン、γ−アミノスチレン、γ−
ヒドロキ(メタ)アクリルアニリドなど、エステル化に
使用するキノンジアジド系化合物としては、O−ナフト
キノンジアジドスルホニルクロライドやO−ペンゾキノ
ンジアジドスルホニルク0ライドなどがあげられるのが
特に限定するものではない。力、チオン性のポジ型感光
性樹脂組成物の合成に用いるアミノ基を有する重合性単
量体としては、ジメチルアミノエチル(メチ)アクリレ
ート、ジエチルアミノエチル(メタ)アクリレート、ジ
エチルアミンプロピル〈メタ)アクリルアミド、γ−ア
ミノスチレンなどがあげられ、水酸基を有する重合性単
量体としてはγ−ヒドロキシスチレンなどがエステル化
に使用するキノンジアジド系化合物としては、O−ナフ
トキノンジアジドスルホニルクロライドやO−ベンゾキ
ノンジアジドスルホニルクロライドなどがあげられるが
、特に限定するものではない。
アニオン性ポジ型感光性樹脂組成物に於て、α。
β−エチレン性不飽和カルボン酸と水酸基、又はアミノ
基を有する重合性単作体との共重合比は共重合成分及び
共重合体の分子量によって調整する必要があり、アルカ
リ中和後の水分散性と現像時の溶出性及び解像度を加味
して選択する。通常、モル比で1/9〜9/1の範囲が
好ましい。共重合比がα、β−エチレン性不性用飽和カ
ルボン酸9モル対水酸基はアミノ基を有する重合性単量
体1モルよりもカルボン酸モル比が多い場合には露光部
と非露光部のカルボキシル基のモル比が接近しすぎて、
現象時に非露光部まで溶出され解像度が低下するという
問題点が生じる場合がある。逆にα、β、β−エチレン
飽和カルボン酸1モル対水酸基、又はアミノ基を有する
重合性単量体9モルよりもカルボン酸のモル比が少い場
合には、アルカリ中和後の水分散性、電着性に問題が生
じる場合がある。該共重合体の重量平均分子量は、共重
合する各単量体の成分と共重合比によって異り、アルカ
リ中和後の水分散性、電着被膜の粘着性、現像時の溶出
性、解像度、導電性被膜エツチング時のレジスト膜の耐
酸性を加味してi、ooo〜200.000の範囲を選
択することが好ましい。
基を有する重合性単作体との共重合比は共重合成分及び
共重合体の分子量によって調整する必要があり、アルカ
リ中和後の水分散性と現像時の溶出性及び解像度を加味
して選択する。通常、モル比で1/9〜9/1の範囲が
好ましい。共重合比がα、β−エチレン性不性用飽和カ
ルボン酸9モル対水酸基はアミノ基を有する重合性単量
体1モルよりもカルボン酸モル比が多い場合には露光部
と非露光部のカルボキシル基のモル比が接近しすぎて、
現象時に非露光部まで溶出され解像度が低下するという
問題点が生じる場合がある。逆にα、β、β−エチレン
飽和カルボン酸1モル対水酸基、又はアミノ基を有する
重合性単量体9モルよりもカルボン酸のモル比が少い場
合には、アルカリ中和後の水分散性、電着性に問題が生
じる場合がある。該共重合体の重量平均分子量は、共重
合する各単量体の成分と共重合比によって異り、アルカ
リ中和後の水分散性、電着被膜の粘着性、現像時の溶出
性、解像度、導電性被膜エツチング時のレジスト膜の耐
酸性を加味してi、ooo〜200.000の範囲を選
択することが好ましい。
カチオン性のポジ型感光性樹脂組成物に於て、アミン基
を有する重合性単作体と水酸基を有する重合性単作体と
の共重合比は共重合成分、及び共重合体の分子量によっ
て調整する必要があり、特に導電性被膜のエツチング時
のレジスト膜の耐酸性を加味して選択する。通常モル比
で1/9〜9/1の範囲が好ましい。アミノ基を有する
重合性単量体のモル比がこの範囲を越えた場合、導電性
被膜のエツチング時にレジスト膜の膨張、溶解などの問
題を生じる場合がある。この範囲より少い場合には、酸
中和後の水分散性、電着性に問題が生じる場合がある。
を有する重合性単作体と水酸基を有する重合性単作体と
の共重合比は共重合成分、及び共重合体の分子量によっ
て調整する必要があり、特に導電性被膜のエツチング時
のレジスト膜の耐酸性を加味して選択する。通常モル比
で1/9〜9/1の範囲が好ましい。アミノ基を有する
重合性単量体のモル比がこの範囲を越えた場合、導電性
被膜のエツチング時にレジスト膜の膨張、溶解などの問
題を生じる場合がある。この範囲より少い場合には、酸
中和後の水分散性、電着性に問題が生じる場合がある。
該共重合体の分子量は、共重合する各単量体の成分と共
重合比によって異り、酸中和後の水分散性、電着被膜の
粘着性、現像時の溶出性、解像度、導電性被膜のエツチ
ング時のレジスト膜の耐酸性を加味して1,000〜2
00゜000の範囲を選択することが好ましい。
重合比によって異り、酸中和後の水分散性、電着被膜の
粘着性、現像時の溶出性、解像度、導電性被膜のエツチ
ング時のレジスト膜の耐酸性を加味して1,000〜2
00゜000の範囲を選択することが好ましい。
上記、アニオン性又はカチオン性のポジ型感光性樹脂組
成物水分散液の電気泳動塗装法は一般的な方法で良い。
成物水分散液の電気泳動塗装法は一般的な方法で良い。
たとえば、アニオン性のポジ型感光性樹脂組成物の水分
散液からなる電気泳動浴中にスルーホールを含む全表面
に導電性の被膜を有づる前記回路基板を浸漬し、回路基
板に正の電極を金属性の浴壁に負の電極を接続して直流
電流を流すことによってアニオン性のポジ型感光性樹脂
組成物が回路基板上に析出し、乾燥すれば連続被膜が形
成される。カチオン性のポジ型感光性樹脂組成物水分散
液の場合は、正・負電極の接続をアニオン性の場合と逆
にすれば良い。かくして得られた電着膜に回路パターン
を有するポジ型フォトマスクを介して紫外線を露光すれ
ば、アニオン性、カチオン性共にマスクの露光部は、キ
ノンジアジド基が光分解し、ケテン化合物を経て、イン
デンカルボン酸に変化する。従ってこれをアルカリ水溶
液で現像すると露光部は塩を形成して溶出する。
散液からなる電気泳動浴中にスルーホールを含む全表面
に導電性の被膜を有づる前記回路基板を浸漬し、回路基
板に正の電極を金属性の浴壁に負の電極を接続して直流
電流を流すことによってアニオン性のポジ型感光性樹脂
組成物が回路基板上に析出し、乾燥すれば連続被膜が形
成される。カチオン性のポジ型感光性樹脂組成物水分散
液の場合は、正・負電極の接続をアニオン性の場合と逆
にすれば良い。かくして得られた電着膜に回路パターン
を有するポジ型フォトマスクを介して紫外線を露光すれ
ば、アニオン性、カチオン性共にマスクの露光部は、キ
ノンジアジド基が光分解し、ケテン化合物を経て、イン
デンカルボン酸に変化する。従ってこれをアルカリ水溶
液で現像すると露光部は塩を形成して溶出する。
マスクの非露光部はアニオン性の場合は変化しないが、
カチオン性の場合は、未分解のキノンジアジド基がアル
カリ性現像液の介在で、カチオン性共重合体分゛子間で
アゾカップリング反応を生じ耐酸、耐アルカリ性が著し
く向上する。次いでエツチングレジストパターンが形成
された回路基板を塩化第二鉄や塩化第二銅などのエツチ
ング液で処理し、露出した導電性被膜をエツチング除去
したのち導電性回路パターン被膜上に残留した電着膜を
適当な溶剤によって除去する。
カチオン性の場合は、未分解のキノンジアジド基がアル
カリ性現像液の介在で、カチオン性共重合体分゛子間で
アゾカップリング反応を生じ耐酸、耐アルカリ性が著し
く向上する。次いでエツチングレジストパターンが形成
された回路基板を塩化第二鉄や塩化第二銅などのエツチ
ング液で処理し、露出した導電性被膜をエツチング除去
したのち導電性回路パターン被膜上に残留した電着膜を
適当な溶剤によって除去する。
本発明によるスルーホールを有する回路板の製造方法は
従来のスクリーン印刷による方法や感光性フィルムによ
る方法に比べて、はるかに信頼性が良く密度の高い配線
パターンの形成を可能にし、製造工程が簡略化できるも
のである。
従来のスクリーン印刷による方法や感光性フィルムによ
る方法に比べて、はるかに信頼性が良く密度の高い配線
パターンの形成を可能にし、製造工程が簡略化できるも
のである。
以下に本発明の方法による実施例を図面によって説明す
る。
る。
実施例1
第1図に示される様なスルーホール2を有し、かつスル
ーホール2を含む全表面が導電性被膜3で被膜された絶
縁基板1からなる回路基板が用いられた。次にメタクリ
ル酸とパラヒドロキシスチレンをモル比1対2で重量平
均分子115,000に共重合したのち、0−ナフトキ
ノン−(1゜2)−ジアジド−(2)−スルフォニルク
ロライド(5)を、パラヒドロキシスチレンの水11に
の100%をエステル化するに足る量反応させ、得られ
たエステル化生成物を純水、エタノールアミン及びブチ
ルセロソルブからなる50℃の水溶液中に入れ攪拌を行
ない、中和分散してアニオン性のポジ型感光性樹脂組成
物の電着液を得た。次いで室温で電着液中に前記回路基
板全体を浸漬し、回路基板に正電極を、電着液の金属容
器に負電極を接続し、300Vの直流電流を1分間印荷
して約20μのアニオン性のポジ型感光性樹脂組成物を
回路基板の導電性波I!!3上に析出させたのち、水洗
し、120℃のオーブンで5分間乾燥させポジ型感光性
樹脂組成物被膜4を形成させたく第2図)。次にポジ型
感光性樹脂組成物被膜4上に回路パターンを有するポジ
型フォトマスク5を密着させ、両面より高圧水銀ランプ
で露光した(第3図)。次いで温度20℃以下、1)H
9に調整した炭酸ナトリウム水溶液中で露光部のポジ型
感光性樹脂組成物被膜を溶出させた(第4図)。次いで
露出した導電性被膜3を塩化第二鉄溶液でエツチング除
去した(第5図)。最後に55℃に調整したプチセルブ
ソルブ20%を含む1)Hllの炭酸ナトリュウム水溶
液中で回路パターン上のポジ型感光性樹脂組成物被膜4
を除去し、目的とするスルーホールを有する回路板を得
た(第6図)。
ーホール2を含む全表面が導電性被膜3で被膜された絶
縁基板1からなる回路基板が用いられた。次にメタクリ
ル酸とパラヒドロキシスチレンをモル比1対2で重量平
均分子115,000に共重合したのち、0−ナフトキ
ノン−(1゜2)−ジアジド−(2)−スルフォニルク
ロライド(5)を、パラヒドロキシスチレンの水11に
の100%をエステル化するに足る量反応させ、得られ
たエステル化生成物を純水、エタノールアミン及びブチ
ルセロソルブからなる50℃の水溶液中に入れ攪拌を行
ない、中和分散してアニオン性のポジ型感光性樹脂組成
物の電着液を得た。次いで室温で電着液中に前記回路基
板全体を浸漬し、回路基板に正電極を、電着液の金属容
器に負電極を接続し、300Vの直流電流を1分間印荷
して約20μのアニオン性のポジ型感光性樹脂組成物を
回路基板の導電性波I!!3上に析出させたのち、水洗
し、120℃のオーブンで5分間乾燥させポジ型感光性
樹脂組成物被膜4を形成させたく第2図)。次にポジ型
感光性樹脂組成物被膜4上に回路パターンを有するポジ
型フォトマスク5を密着させ、両面より高圧水銀ランプ
で露光した(第3図)。次いで温度20℃以下、1)H
9に調整した炭酸ナトリウム水溶液中で露光部のポジ型
感光性樹脂組成物被膜を溶出させた(第4図)。次いで
露出した導電性被膜3を塩化第二鉄溶液でエツチング除
去した(第5図)。最後に55℃に調整したプチセルブ
ソルブ20%を含む1)Hllの炭酸ナトリュウム水溶
液中で回路パターン上のポジ型感光性樹脂組成物被膜4
を除去し、目的とするスルーホールを有する回路板を得
た(第6図)。
実施例2
実施例1に於ける電着液を、NNジエチルアミンエチル
メタクリレートとパラヒドロキシスチレンをモル比3対
7で重量平均分子120.000に共重合したのち、0
−ナフトキノン−(1,2)−ジアジド−(2)−スル
フォニルクロライド(5)をバラヒドロキスチレンの水
酸基の60%をエステル化するに足る憬を反応させ、エ
ステル化生成物を純水、酢酸及びブチルセロソルブから
なる50℃の水溶液中に入れ攪拌を行ない、中和分散し
てカチオン性のポジ型感光性樹脂組成物に替え、第1図
に示した回路基板全体を浸漬し、回路基板に負電極を、
金属容器に正電極を接続し、300Vの直流電流を2分
間印荷して、約25μのカチオン性のポジ型感光性樹脂
組成物を回路基板のw4電性被II!3上に析出させた
のち、水洗し120℃のオーブンで5分間乾燥し、ポジ
型感光性樹脂組成物被膜4を形成させた(第2図)。次
にポジ型感光性樹脂組成物被膜4上に回路パターンを有
するポジフィル5を密着させ、両面より高圧水銀ランプ
で露光する(第3図)。次いで、温度40℃、pH9に
調整した炭酸ナトリウム水溶液中で露光部のポジ型感光
性樹脂被膜を溶出させ現像した(第4回)。
メタクリレートとパラヒドロキシスチレンをモル比3対
7で重量平均分子120.000に共重合したのち、0
−ナフトキノン−(1,2)−ジアジド−(2)−スル
フォニルクロライド(5)をバラヒドロキスチレンの水
酸基の60%をエステル化するに足る憬を反応させ、エ
ステル化生成物を純水、酢酸及びブチルセロソルブから
なる50℃の水溶液中に入れ攪拌を行ない、中和分散し
てカチオン性のポジ型感光性樹脂組成物に替え、第1図
に示した回路基板全体を浸漬し、回路基板に負電極を、
金属容器に正電極を接続し、300Vの直流電流を2分
間印荷して、約25μのカチオン性のポジ型感光性樹脂
組成物を回路基板のw4電性被II!3上に析出させた
のち、水洗し120℃のオーブンで5分間乾燥し、ポジ
型感光性樹脂組成物被膜4を形成させた(第2図)。次
にポジ型感光性樹脂組成物被膜4上に回路パターンを有
するポジフィル5を密着させ、両面より高圧水銀ランプ
で露光する(第3図)。次いで、温度40℃、pH9に
調整した炭酸ナトリウム水溶液中で露光部のポジ型感光
性樹脂被膜を溶出させ現像した(第4回)。
次いで露出した導電性被膜3を塩化第二銅水溶液で除去
した(第5図)。最後に50℃に調整したブチルセロソ
ルブ25%を含むpH4に調整した酢酸水溶液で回路パ
ターン上のポジ型感光性樹脂組成物被膜4をi潤させ除
去し、目的とするスルーホールを有する回路板を得た(
第6図)。
した(第5図)。最後に50℃に調整したブチルセロソ
ルブ25%を含むpH4に調整した酢酸水溶液で回路パ
ターン上のポジ型感光性樹脂組成物被膜4をi潤させ除
去し、目的とするスルーホールを有する回路板を得た(
第6図)。
第1図から第5図は本発明の回路板製造法を説明するた
めの各工程毎の中間製品の断面図で、第6図は本発明方
法で得られる回路板の断面図である。 特許出願代理人
めの各工程毎の中間製品の断面図で、第6図は本発明方
法で得られる回路板の断面図である。 特許出願代理人
Claims (4)
- (1)スルーホールを有し、かつスルーホール部を含め
た全表面に導電性の被膜を有する回路用基板にポジ型感
光性樹脂組成物被膜を電着法によって形成し、該ポジ型
感光性樹脂組成物被膜上に回路パターンを有するポジ型
マスクを介して露光したのち、露光部の感光性樹脂組成
物被膜を除去して、エッチングレジストパターンを回路
用基板上に形成せしめ、次いで露光部の露出した導電性
被膜をエッチング除去し、更に回路パターン上のポジ型
感光性樹脂組成物被膜を除去することを特徴とするスル
ーホールを有する回路板の製造方法。 - (2)ポジ型感光性樹脂組成物にキノンジアジド系化合
物を含むことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
方法。 - (3)アニオン性のポジ型感光性樹脂組成物を電着する
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の方法。 - (4)カチオン性のポジ型感光性樹脂組成物を電着する
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の方法。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60047262A JPS61206293A (ja) | 1985-03-08 | 1985-03-08 | 回路板の製造方法 |
KR1019860001591A KR920007122B1 (ko) | 1985-03-08 | 1986-03-06 | 회로판의 제조방법 |
EP86301659A EP0194824B1 (en) | 1985-03-08 | 1986-03-07 | A method for preparing a printed circuit board |
DE198686301659T DE194824T1 (de) | 1985-03-08 | 1986-03-07 | Herstellungsverfahren von traegern fuer gedruckte schaltungen. |
DE8686301659T DE3681808D1 (de) | 1985-03-08 | 1986-03-07 | Herstellungsverfahren von traegern fuer gedruckte schaltungen. |
US06/837,767 US4673458A (en) | 1985-03-08 | 1986-03-10 | Method for preparing a printed circuit board |
US07/271,710 USRE33108E (en) | 1985-03-08 | 1988-11-16 | Method for preparing a printed circuit board |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60047262A JPS61206293A (ja) | 1985-03-08 | 1985-03-08 | 回路板の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61206293A true JPS61206293A (ja) | 1986-09-12 |
JPH0562835B2 JPH0562835B2 (ja) | 1993-09-09 |
Family
ID=12770373
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60047262A Granted JPS61206293A (ja) | 1985-03-08 | 1985-03-08 | 回路板の製造方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US4673458A (ja) |
EP (1) | EP0194824B1 (ja) |
JP (1) | JPS61206293A (ja) |
KR (1) | KR920007122B1 (ja) |
DE (2) | DE194824T1 (ja) |
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