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JPS6117146A - レ−ザマ−キング用マスク - Google Patents

レ−ザマ−キング用マスク

Info

Publication number
JPS6117146A
JPS6117146A JP59137822A JP13782284A JPS6117146A JP S6117146 A JPS6117146 A JP S6117146A JP 59137822 A JP59137822 A JP 59137822A JP 13782284 A JP13782284 A JP 13782284A JP S6117146 A JPS6117146 A JP S6117146A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
marked
mask
mask body
length
face
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP59137822A
Other languages
English (en)
Inventor
Noboru Morita
昇 森田
Yukitaka Nagano
長野 幸隆
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP59137822A priority Critical patent/JPS6117146A/ja
Publication of JPS6117146A publication Critical patent/JPS6117146A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/20Exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/24Curved surfaces

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Thermal Transfer Or Thermal Recording In General (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 この発明は文字や記号等をスリット状に配列し、このス
リン(・を透過するレーザビームによってマーキングす
るレーザマーキング用マスクに関する。
〔発明の技術的背景とその問題点〕
たとえば第2図に示すように電池などの円筒状物品の外
周面に社名、ロフト番号などをマーキングする場合、従
来のスタンプマーキングに代わってレーザビームによる
マーキング方法が知られている。このレーザマーキング
法は、第3図に示すようになっている。すなわち、1は
TEAGO2レーザ発振器で、このレーザ発振器1から
発振されたレーザビーム2はマスク3に照射される。こ
のマスク3には文字や記号等がスリット状に穿設され、
前記レーザビーム2はこのスリット4を透過し、この透
過レーザビーム2は結像光学系である集光レンズ5を介
して電池などの円筒状物品の外周面からなる被マーキン
グ面6に照射される。
したがって、被マーキング面6には前記マスク3に形成
されたスリット4からなる文字や記号がマーキングされ
る。ところで、この場合、マスク3と集光レンズ5、集
光レンズ5と被マーキング面6との距離をそれぞれaS
bとすると、縮小率nはn=b/aとなる。したがって
、被マーキング面6が電池などのように円筒状をなして
いると、集光レンズ5を通過後のレーザビーム2に各部
によって光路差が生じる。このため、像のぼけや縮小率
nの変化が起り、適正なマーキングができないという欠
点がある。
〔発明の目的〕
この発明は、前記事情に着目してなされたもので、その
目的とするところは、被マーキング面が電池などのよう
に円筒状をなしていても、像のぼけや縮小率の変化がな
(均一にマーキングができるレーザマーキング用マスク
を提供しようとするものである。
〔発明の概要〕
この発明は、前記目的を達成するために、レーザビーム
を透過させるマスクを曲面形状の被マーキング面に合せ
て曲成し、マスクと集光レンズ、集光レンズと被マーキ
ング面との距離の比率をそれぞれ一致させたことにある
〔発明の実施例〕 以下、この発明の一実施例を図面にもとすいて説明する
第1図中11はレーザマーキング用のマスク本体である
。このマスク本体11は薄肉の金属板によって形成され
、この板面にはスリット12・・・によって文字、記号
等が配列されている。このマスク本体11は被マーキン
グ面6の曲面形状に対応して円弧状に曲成されている。
そして、マスク本体11と集光レンズ5、集光レンズ5
と被マーキング面との距離の比率を一致させている。す
なわち、マスク本体11と集光レンズ5との間をa(a
l)、集光レンズ5と被マーキング面6との間をb(b
l)とすると、 b / a = b 1/ a 1=一定とする。
ただし1/a+1/b=1/f(fはレンズ焦点距離)
となる関係を満足する形状である。
しかして、このように構成されたマスク本体11を用い
てマーキングを行なうと、レーザビームはスリット12
を透過して被マーキング面6に照射される。このとき、
マスク本体11が被マーキング面6の曲面形状に合せて
円弧上に形成されているため、はぼ均一に被マーキング
面6に照射されるとともに縮小率にバラツキがなくマー
クのむら、かすれ、ぼけ等を生じることなく均一にマー
キングされる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、この発明によれば、レーザビーム
を透過させるマスクを曲面形状の被マーキング面に合せ
て曲成し、マスクと結像光学系、結像光学系と被マーキ
ング面との距離の比率をそれぞれ一致させたから、被マ
ーキング面が曲面形状であっても、均一なマーキングが
できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す説明図、第2歯は被
マーキング面を示す斜視図、第3図は従来のレーザマー
キング法を示す構成図である。 5・・・集光レンズ(結像光学系)、6・・・被マーキ
ング面、11・・・マスク本体、12・・・スリット。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. マスク本体に文字や記号等をスリット状に配列し、マス
    ク本体に照射されたレーザビームを前記スリットから透
    過したのち結像光学系によって曲面形状の被マーキング
    面に結像し、マーキングするレーザマーキング用マスク
    において、前記マスク本体を曲面形状の被マーキング面
    に合せて曲成し、マスク本体と前記結像光学系との間と
    、結像光学系と被マーキング面との間の距離の比率を一
    致させたことを特徴とするレーザマーキング用マスク。
JP59137822A 1984-07-03 1984-07-03 レ−ザマ−キング用マスク Pending JPS6117146A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59137822A JPS6117146A (ja) 1984-07-03 1984-07-03 レ−ザマ−キング用マスク

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59137822A JPS6117146A (ja) 1984-07-03 1984-07-03 レ−ザマ−キング用マスク

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6117146A true JPS6117146A (ja) 1986-01-25

Family

ID=15207655

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59137822A Pending JPS6117146A (ja) 1984-07-03 1984-07-03 レ−ザマ−キング用マスク

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6117146A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS649382A (en) * 1987-06-30 1989-01-12 Victor Company Of Japan Magnetic sensor
US6838701B2 (en) 2000-02-16 2005-01-04 Nichia Corporation Nitride semiconductor laser device

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS649382A (en) * 1987-06-30 1989-01-12 Victor Company Of Japan Magnetic sensor
US6838701B2 (en) 2000-02-16 2005-01-04 Nichia Corporation Nitride semiconductor laser device
US7167497B2 (en) * 2000-02-16 2007-01-23 Nichia Corporation Nitride semiconductor laser device

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