JPS61116417A - 3値出力回路 - Google Patents
3値出力回路Info
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- JPS61116417A JPS61116417A JP59237068A JP23706884A JPS61116417A JP S61116417 A JPS61116417 A JP S61116417A JP 59237068 A JP59237068 A JP 59237068A JP 23706884 A JP23706884 A JP 23706884A JP S61116417 A JPS61116417 A JP S61116417A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/02—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
- H03K19/08—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
- H03K19/082—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using bipolar transistors
- H03K19/0823—Multistate logic
- H03K19/0826—Multistate logic one of the states being the high impedance or floating state
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/02—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
- H03K19/08—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
- H03K19/094—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors
- H03K19/0944—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET
- H03K19/09448—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET in combination with bipolar transistors [BIMOS]
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、3値出力回路に関し、特にハイレベル出力、
ローレベル出力およびハイインピーダンス状態出力の3
値をとり、高速動作、低消費電力および低占有面積を可
能とするトランジスタ集積回路に関するものである。
ローレベル出力およびハイインピーダンス状態出力の3
値をとり、高速動作、低消費電力および低占有面積を可
能とするトランジスタ集積回路に関するものである。
従来、3値出力回路としては、第10図に示すような回
路が用いられている。
路が用いられている。
第10図において、xl、x2はCMOSインバータ、
X3は2人力NAND回路、X4は2人力NOR回路、
Mlは出力段のPチャネルMOSトランジスタ、M2は
これと直列接続される出力段のNチャネルMO8トラン
ジスタである。通常動作では、制御信号φはノ1イレベ
ルで、入力1に如上られたデータDINが伝搬する。D
INがノ・イレベルのとき、2人力NAND回路X3,
2人力NOR回路X4の出力がいずれもノ・イレベルと
なり、出力段トランジスタM1はオン、M2はオンとな
って出力OUTはローレベルになる。一方、データDI
Nがローレベルのときには、2人力NAND回路X3,
2人力NOR,回路X4の出力は、いずれもローレベル
となり、出力段トランジスタM1はオン、M2はオフと
なるので、出力OUTはハイレベルとなる。
X3は2人力NAND回路、X4は2人力NOR回路、
Mlは出力段のPチャネルMOSトランジスタ、M2は
これと直列接続される出力段のNチャネルMO8トラン
ジスタである。通常動作では、制御信号φはノ1イレベ
ルで、入力1に如上られたデータDINが伝搬する。D
INがノ・イレベルのとき、2人力NAND回路X3,
2人力NOR回路X4の出力がいずれもノ・イレベルと
なり、出力段トランジスタM1はオン、M2はオンとな
って出力OUTはローレベルになる。一方、データDI
Nがローレベルのときには、2人力NAND回路X3,
2人力NOR,回路X4の出力は、いずれもローレベル
となり、出力段トランジスタM1はオン、M2はオフと
なるので、出力OUTはハイレベルとなる。
また、制御信号φをローレベルにすると、2人力NAN
D回路X3の出力はハイレベルに固定され、2人力NO
R回路X4の出力はローレベルに固定されるので、出力
段トランジスタMl、M2はともにオフとなり、出力O
UTはハイインピーダンス(H2)状態になる。
D回路X3の出力はハイレベルに固定され、2人力NO
R回路X4の出力はローレベルに固定されるので、出力
段トランジスタMl、M2はともにオフとなり、出力O
UTはハイインピーダンス(H2)状態になる。
しかし、第10図の回路構成では、1回路当りインバー
タ、NAND回路、NOR,回路および出力段トランジ
スタを必要とするため、素子数が多くなるという欠点が
あり、しかも占有面積が増大して高密度化を妨げる欠点
もある。すなわち、出力回路、バス系等の出力端に、重
い負荷容量が加わる部分を高速に駆動するためには、出
力トランジスタの相互コンダクタンスgmを大きくする
必要がある。このためには、トランジスタのチャネル幅
を広くするとともに、この出力トランジスタを駆動する
前段のNAND回路、NOR回路についても、9mを大
きくするため、トランジスタのチャネル幅を広くしなげ
ればならず、トランジスタの寸法は大きくなってしまう
。この結果として、レイアウト占有面積が増大し、高密
度化の妨げとなってしまう。
タ、NAND回路、NOR,回路および出力段トランジ
スタを必要とするため、素子数が多くなるという欠点が
あり、しかも占有面積が増大して高密度化を妨げる欠点
もある。すなわち、出力回路、バス系等の出力端に、重
い負荷容量が加わる部分を高速に駆動するためには、出
力トランジスタの相互コンダクタンスgmを大きくする
必要がある。このためには、トランジスタのチャネル幅
を広くするとともに、この出力トランジスタを駆動する
前段のNAND回路、NOR回路についても、9mを大
きくするため、トランジスタのチャネル幅を広くしなげ
ればならず、トランジスタの寸法は大きくなってしまう
。この結果として、レイアウト占有面積が増大し、高密
度化の妨げとなってしまう。
第10図に比べて、回路の素子数を低減させた回路とし
ては、第11図に示す構成の回路がある。
ては、第11図に示す構成の回路がある。
第11図では、PチャネルMO8トランジスタM3、M
4とNチャネルMOSトランジスタM5゜M6を直列接
続させて、トランジスタM4とM5の共通ゲートに入力
データDIN1 トランジスタM3とM6の各ゲートに
それぞれ制御信号φとφを印加し、トランジスタM4の
ソース側とM5のドレイン側から出力OUTを取り出し
ている。匍J御信号φが・・イレベルのとき、出力OU
Tには入力データ DIHの反転データが出力される。
4とNチャネルMOSトランジスタM5゜M6を直列接
続させて、トランジスタM4とM5の共通ゲートに入力
データDIN1 トランジスタM3とM6の各ゲートに
それぞれ制御信号φとφを印加し、トランジスタM4の
ソース側とM5のドレイン側から出力OUTを取り出し
ている。匍J御信号φが・・イレベルのとき、出力OU
Tには入力データ DIHの反転データが出力される。
−力、制御信号φがローレベルのとき、トランジスタM
3、M6がともにオフになるので、出力OUTは人力デ
ータD。Nにかかわらずハイインピーダンス(I(Z)
状態となる。
3、M6がともにオフになるので、出力OUTは人力デ
ータD。Nにかかわらずハイインピーダンス(I(Z)
状態となる。
第11図の回路構成は、トランジスタが4個のみで素子
数は少ないが、この場合にも、出力端に重い負荷が付加
されると、高速に駆動させるためには、トランジスタM
3〜M6のすべてのトランジスタのサイズを大きくしな
げればならない欠点がある。
数は少ないが、この場合にも、出力端に重い負荷が付加
されると、高速に駆動させるためには、トランジスタM
3〜M6のすべてのトランジスタのサイズを大きくしな
げればならない欠点がある。
本発明の目的は、このような従来の欠点を改善し、バス
系、ドライバ系等の出力端に配線容量の重い負荷がかか
る場合でも、低消費電力で高負荷駆動能力の集積回路を
高密度化できるような3値出力回路を提供することにあ
る。
系、ドライバ系等の出力端に配線容量の重い負荷がかか
る場合でも、低消費電力で高負荷駆動能力の集積回路を
高密度化できるような3値出力回路を提供することにあ
る。
上記目的を達成するため、本発明の3値出力回路は、直
列接続されたデータ入力用と制御入力用の2つのPMO
’Sトランジスタの一端を第1のnpnバイポーラ・ト
ランジスタのベースに、他端を該トランジスタのコレク
タに、それぞれ接続し、また直列接続された上記データ
入力用と制御入力用の2つのNMOSトランジスタの一
端を第2のnpnバイポーラ・トランジスタのベースに
、他端を該トランジスタのコレクタに、あるいはnpダ
イオードを介して該コレクタに、それぞれ接続し、さら
に上記第1のバイポーラ・トランジスタのエミッタと第
2のバイポーラ・トランジスタのコレクタとを接続して
出力端子とすることに特徴がある。
列接続されたデータ入力用と制御入力用の2つのPMO
’Sトランジスタの一端を第1のnpnバイポーラ・ト
ランジスタのベースに、他端を該トランジスタのコレク
タに、それぞれ接続し、また直列接続された上記データ
入力用と制御入力用の2つのNMOSトランジスタの一
端を第2のnpnバイポーラ・トランジスタのベースに
、他端を該トランジスタのコレクタに、あるいはnpダ
イオードを介して該コレクタに、それぞれ接続し、さら
に上記第1のバイポーラ・トランジスタのエミッタと第
2のバイポーラ・トランジスタのコレクタとを接続して
出力端子とすることに特徴がある。
以下、本発明の実施例を、図面により説明する。
第1図は、本発明の第1の実施例を示す3値出力回路の
構成図である。
構成図である。
第1図において、MPI、MP2はPチャネルMO81
,ランジスタ、MNI、MN2.MN3゜MNlはNチ
ャネルMOSトランジスタ、Ql。
,ランジスタ、MNI、MN2.MN3゜MNlはNチ
ャネルMOSトランジスタ、Ql。
Q2は口pnバイポーラ・トランジスタである。なお、
lは信号入力端子、2は制御信号φλ入力端子3は反転
制御信号■入力端子、10は信号出力端子(OUT )
である。
lは信号入力端子、2は制御信号φλ入力端子3は反転
制御信号■入力端子、10は信号出力端子(OUT )
である。
第1図に示すように、この実施例では、直列接続された
データ入力用および制御入力用の2個のPMOSトラン
ジスタIVIP2.MNIの一端に、mlのnPnバイ
ポーラ・トランジスタQ1のベースを、他端にコレクタ
をそれぞれ接続し、また直列接続されたデータ入力用お
よび制御入力用の2個のNMOSトランジスタMN3.
MNlの一端に、第2のnPnバイポーラ・トランジス
タQ2のベースを、他端にコレクタをそれぞれ接続する
とともに、第1のnpnバイポーラ・トランジスタQl
のエミッタと第2のnpnバイポーラ・トランジスタQ
2のコレクタとを接続して、出力端子としている。
データ入力用および制御入力用の2個のPMOSトラン
ジスタIVIP2.MNIの一端に、mlのnPnバイ
ポーラ・トランジスタQ1のベースを、他端にコレクタ
をそれぞれ接続し、また直列接続されたデータ入力用お
よび制御入力用の2個のNMOSトランジスタMN3.
MNlの一端に、第2のnPnバイポーラ・トランジス
タQ2のベースを、他端にコレクタをそれぞれ接続する
とともに、第1のnpnバイポーラ・トランジスタQl
のエミッタと第2のnpnバイポーラ・トランジスタQ
2のコレクタとを接続して、出力端子としている。
いま、制御信号φがノ1イレベルのとき、NMOSトラ
トランジスタとPMOSトランジスタMPlとが常にオ
ン状態にあるので、入力信号DINの反転出力が出力端
子10に与えられる。MOSトランジスタMNlおよび
MNlは、バイポーラ・トランジスタQl、Q2のベー
ス蓄積キャリアの放電用MOSトランジスタであり、電
源VDDから同時にトランジスタQlとQ2に貫通電流
が流れることを防止している。トランジスタQ1は、M
OSトランジスタMPl、MP2のドレイン電流を増幅
するトランジスタで、エミッタ・フォロア形式となって
、負荷の充電時の駆動能力を大きくする。また、トラン
ジスタQ2は、MOSトランジスタMN2.MN3のド
レイン電流を増幅するトランジスタであり、これは負荷
の放電時の駆動能力を大きくする。
トランジスタとPMOSトランジスタMPlとが常にオ
ン状態にあるので、入力信号DINの反転出力が出力端
子10に与えられる。MOSトランジスタMNlおよび
MNlは、バイポーラ・トランジスタQl、Q2のベー
ス蓄積キャリアの放電用MOSトランジスタであり、電
源VDDから同時にトランジスタQlとQ2に貫通電流
が流れることを防止している。トランジスタQ1は、M
OSトランジスタMPl、MP2のドレイン電流を増幅
するトランジスタで、エミッタ・フォロア形式となって
、負荷の充電時の駆動能力を大きくする。また、トラン
ジスタQ2は、MOSトランジスタMN2.MN3のド
レイン電流を増幅するトランジスタであり、これは負荷
の放電時の駆動能力を大きくする。
いマ、入力データDIN がハイレベルからローレベル
に移る場合を考える。DINがハイレベルのときは、ト
ランジスタMHI、MN2がともにオン、MP2がオフ
となるので、トランジスタQ1、Q2の各ベース5,6
の電位はほぼ接地電位にあり、出力OUTはローレベル
となる。次に、入力データ DI’Nがハイレベルから
ローレベルに移ると、トランジスタMP2がオン、MH
I、MN2がともにオフとなるので、MPI、MP2を
介するt流はトランジスタQ1のベース5の電位を上昇
させる。これにより、トランジスタQ1のベース・エミ
ッタ間電圧が順バイアスされるため、ベース電流が流れ
てトランジスタQ1がオンとなり、コレクタ電流ととも
に出力の負荷CJ、を充電して出力OUTをハイレベル
に上昇させる。この駆動能力は、MOSトランジスタの
g□の(1+11 f e )倍であるため、大幅な改
善が期待される。また、出力OUTがハイレベルに上昇
する際に、I−ランジスタQ2のベース6の電位が容量
カップリングにより上昇するが、トランジスタMN4が
常にオン状態にあり、ベース蓄積キャリアはMNlを介
して放電されるので、トランジスタQ2はほぼオフ状態
のままである。したがって、貫通電流は抑制される。
に移る場合を考える。DINがハイレベルのときは、ト
ランジスタMHI、MN2がともにオン、MP2がオフ
となるので、トランジスタQ1、Q2の各ベース5,6
の電位はほぼ接地電位にあり、出力OUTはローレベル
となる。次に、入力データ DI’Nがハイレベルから
ローレベルに移ると、トランジスタMP2がオン、MH
I、MN2がともにオフとなるので、MPI、MP2を
介するt流はトランジスタQ1のベース5の電位を上昇
させる。これにより、トランジスタQ1のベース・エミ
ッタ間電圧が順バイアスされるため、ベース電流が流れ
てトランジスタQ1がオンとなり、コレクタ電流ととも
に出力の負荷CJ、を充電して出力OUTをハイレベル
に上昇させる。この駆動能力は、MOSトランジスタの
g□の(1+11 f e )倍であるため、大幅な改
善が期待される。また、出力OUTがハイレベルに上昇
する際に、I−ランジスタQ2のベース6の電位が容量
カップリングにより上昇するが、トランジスタMN4が
常にオン状態にあり、ベース蓄積キャリアはMNlを介
して放電されるので、トランジスタQ2はほぼオフ状態
のままである。したがって、貫通電流は抑制される。
次に、入力データ DINがローレベルからハイレベル
に移るときには、トランジスタMP2がオフ、MNlが
オン、MN3がオンとなるので、トランジスタQ1のベ
ース5の電位がローレベルとなり、これによりQlがオ
フし、Q2がオンして、出力OUTがハイレベルカラロ
ーレベルニナル。
に移るときには、トランジスタMP2がオフ、MNlが
オン、MN3がオンとなるので、トランジスタQ1のベ
ース5の電位がローレベルとなり、これによりQlがオ
フし、Q2がオンして、出力OUTがハイレベルカラロ
ーレベルニナル。
このとキ、トランジスタQ2のベース電流は、トランジ
スタMN2.MN3のドレイン電流を介して流れるので
、出力負荷の放電時にはMOS)うンジスタの、9mの
(1+11fe)倍の駆動能力となる。
スタMN2.MN3のドレイン電流を介して流れるので
、出力負荷の放電時にはMOS)うンジスタの、9mの
(1+11fe)倍の駆動能力となる。
第1図の回路を高速動作させるためには、バイポーラ・
トランジスタQl、Q2のfTを大きくするとともに、
コレクタ接合容量、エミッメ接合容量、および基板間容
量を低く抑える必要がある。
トランジスタQl、Q2のfTを大きくするとともに、
コレクタ接合容量、エミッメ接合容量、および基板間容
量を低く抑える必要がある。
第2図、第3図および第4図は、それぞれ本発明の他の
実施例を示す3値出力回路の構成図である。
実施例を示す3値出力回路の構成図である。
いずれも、PMOSトランジスタMPI、MP2の接続
位置あるいはNMOSトランジスタMN2゜MN3の接
続位置を変更したものであるが、回路動作は第1図とほ
ぼ同じである。すなわち、第2図では、トランジスタM
PlがMB2とMNlの間に接続され、第4図では、ト
ランジスタMN2がMN3とMN4の間に接続され、第
3図では、これら両方の接続位置替えを行っている。
位置あるいはNMOSトランジスタMN2゜MN3の接
続位置を変更したものであるが、回路動作は第1図とほ
ぼ同じである。すなわち、第2図では、トランジスタM
PlがMB2とMNlの間に接続され、第4図では、ト
ランジスタMN2がMN3とMN4の間に接続され、第
3図では、これら両方の接続位置替えを行っている。
第5図は、本発明のさらに他の実施例を示す3値出力回
路の構成図である。
路の構成図である。
第5図では、直列接続された2個のPMOSトランジス
タMPI、MP2の一端に、第1のnpnバイポーラ・
トランジスタQ1のベースを、他端にコレクタを接続し
、さらに直列接続された2個のNMO3トランジスタM
N2.MN3の一端に、第2のnpnバイポーラ・トラ
ンジスタQ2のベースを、他端とコレクタとの間にnp
ダイオードDlを接続し、さらに第1のトランジスタQ
1のエミッタと第2のトランジスタQ2のコレクタトラ
接続して、これを出力端子とする。
タMPI、MP2の一端に、第1のnpnバイポーラ・
トランジスタQ1のベースを、他端にコレクタを接続し
、さらに直列接続された2個のNMO3トランジスタM
N2.MN3の一端に、第2のnpnバイポーラ・トラ
ンジスタQ2のベースを、他端とコレクタとの間にnp
ダイオードDlを接続し、さらに第1のトランジスタQ
1のエミッタと第2のトランジスタQ2のコレクタトラ
接続して、これを出力端子とする。
トランジスタMN3は、トランジスタQ1およびQ2の
ベース蓄積キャリアの放電用MOSトランジスタで、電
源VDDからトランジスタQl。
ベース蓄積キャリアの放電用MOSトランジスタで、電
源VDDからトランジスタQl。
Q2に同時に貫通電流が流れることを防止する。
また、ダイオードD1は、トランジスタMP’2がオン
する際に、MB2のコレクタ電流がすべてトランジスタ
Q1のベース電流となるようにするものである。トラン
ジスタQ1は、トランジスタMPI、MP2のドレイン
電流を増幅するもので、負荷の充電時の駆動能力を大き
くする。
する際に、MB2のコレクタ電流がすべてトランジスタ
Q1のベース電流となるようにするものである。トラン
ジスタQ1は、トランジスタMPI、MP2のドレイン
電流を増幅するもので、負荷の充電時の駆動能力を大き
くする。
この場合にも、入力データDINがハイレベルからロー
レベルに移る場合を考える。DINがノーイレベルのと
きには、トランジスタMNlがオン、MB2がオフとな
るので、トランジスタQl、 Q2のベース5,6の電
位はほぼ接地電位であり、出力OUTがローレベルとな
る。次に、データDINがハイレベルからローレベルニ
移ルト、トランジスタMP2がオン、MNlがオフとな
るので、電源VDDからトランジスタMPI、MP2を
介して流れる電流は、ベース5の電位を上昇させ、トラ
ンジスタQ1のベース・エミッタ間電圧を順・くイアス
にして、Qlをオンさせる。Q10ベース電流は、コレ
クタ電流とともに出力の負荷容t CLを充電させ、出
力OUTをノ・イレベルに上昇させる。
レベルに移る場合を考える。DINがノーイレベルのと
きには、トランジスタMNlがオン、MB2がオフとな
るので、トランジスタQl、 Q2のベース5,6の電
位はほぼ接地電位であり、出力OUTがローレベルとな
る。次に、データDINがハイレベルからローレベルニ
移ルト、トランジスタMP2がオン、MNlがオフとな
るので、電源VDDからトランジスタMPI、MP2を
介して流れる電流は、ベース5の電位を上昇させ、トラ
ンジスタQ1のベース・エミッタ間電圧を順・くイアス
にして、Qlをオンさせる。Q10ベース電流は、コレ
クタ電流とともに出力の負荷容t CLを充電させ、出
力OUTをノ・イレベルに上昇させる。
このように、トランジスタMP’l、MP2の次段にQ
lを付加することにより、通常のMOSトランジスタの
みの9□に比べて、見かげ上のgmが(1+hfe)倍
になるので、大幅な電流駆動能力の改善が期待できる。
lを付加することにより、通常のMOSトランジスタの
みの9□に比べて、見かげ上のgmが(1+hfe)倍
になるので、大幅な電流駆動能力の改善が期待できる。
また、出力OUTがノ・イレベルに上昇する際に、トラ
ンジスタQ2のべ一ス6の電位が容量カップリングによ
り上昇するが、トランジスタMN3が常にオン状態のた
め、ベース蓄積キャリアはトランジスタMN3を介して
放電され、したがってトランジスタQ2はほぼオフ状態
のままである。これにより、貫通電流は完全に防止され
る。
ンジスタQ2のべ一ス6の電位が容量カップリングによ
り上昇するが、トランジスタMN3が常にオン状態のた
め、ベース蓄積キャリアはトランジスタMN3を介して
放電され、したがってトランジスタQ2はほぼオフ状態
のままである。これにより、貫通電流は完全に防止され
る。
次に、入力データDINがローレベルからノ・イレベル
に移るとき、トランジスタMP2がオフ、MNlがオン
となるので、先ずトランジスタQ1のベース5の電位が
低下しQlがオフとなり、出力負荷CLの蓄積チャージ
の一部は、ダイオードDI、トランジスタMNI、’M
N2を介してトランジスタQ2のベース電位となるので
、Q2がオンして出力OUTがハイレベルからローレベ
ルになる。このとき、トランジスタQ2のベース電流は
、トランジスタMNl、MN2のドレイン電流を介して
流れるので、出力負荷の放電時にはMOSトランジスタ
のgmの(l十hfe)倍の駆動能力となる。この回路
を高速動作させるためには、第1図の場合と同じように
、バイポーラ・トランジスタQl、Q2のfTを大きく
するとともに、コレクタ接合容量、エミッタ接合容量、
基板間容量を低く抑えることが必須条件となる。
に移るとき、トランジスタMP2がオフ、MNlがオン
となるので、先ずトランジスタQ1のベース5の電位が
低下しQlがオフとなり、出力負荷CLの蓄積チャージ
の一部は、ダイオードDI、トランジスタMNI、’M
N2を介してトランジスタQ2のベース電位となるので
、Q2がオンして出力OUTがハイレベルからローレベ
ルになる。このとき、トランジスタQ2のベース電流は
、トランジスタMNl、MN2のドレイン電流を介して
流れるので、出力負荷の放電時にはMOSトランジスタ
のgmの(l十hfe)倍の駆動能力となる。この回路
を高速動作させるためには、第1図の場合と同じように
、バイポーラ・トランジスタQl、Q2のfTを大きく
するとともに、コレクタ接合容量、エミッタ接合容量、
基板間容量を低く抑えることが必須条件となる。
第6図、第7図および第8図は、いずれも第5図の回路
の変形例を示す図である。
の変形例を示す図である。
これらは、第5図に比較して、PMOSトランジスタM
PI、MP2の接続位置あるいはNMOSトランジスタ
MN22MN3の接続位置が変更されているが、回路動
作は第5図と全”く同じである。
PI、MP2の接続位置あるいはNMOSトランジスタ
MN22MN3の接続位置が変更されているが、回路動
作は第5図と全”く同じである。
第9図は、本発明の実験例を示すものであり、1負荷容
量CLに対する遅延時間特性のシミュレーション結果を
、従来と比較して示す。
量CLに対する遅延時間特性のシミュレーション結果を
、従来と比較して示す。
第9図において、Aは第10図に示す回路の特性、Bは
第11図に示す回路の特性、Cは第1図から第8図まで
に示した本発明の回路の特性を記したものである。
第11図に示す回路の特性、Cは第1図から第8図まで
に示した本発明の回路の特性を記したものである。
ここでは、トランジスタQl、Q2のfTを、3GH2
としている。
としている。
第9図からも明らかなように、0M08回路を用いた従
来の回路の特性A、 Bに比べて、本発明の回路の特
性Cは、負荷容量の変化により遅延時間の変化が少ない
。すなわち、本発明では、従来のものに比べて、軽い負
荷に対しては有効ではないが、重い負荷のかかる箇所に
対しては十分な高速性を発揮する。
来の回路の特性A、 Bに比べて、本発明の回路の特
性Cは、負荷容量の変化により遅延時間の変化が少ない
。すなわち、本発明では、従来のものに比べて、軽い負
荷に対しては有効ではないが、重い負荷のかかる箇所に
対しては十分な高速性を発揮する。
なお、本発明の適用分野としては、マトリックス構成さ
れたm入力n出力のディジタル空間スイッチLSI等の
スイッチ要素が考えられる。
れたm入力n出力のディジタル空間スイッチLSI等の
スイッチ要素が考えられる。
以上説明したように、本発明による、3値出力回路を、
バス系、ドライバ系等の出力端で、配線容量等の重い負
荷がかかる場所に適用することにより、0MO8の低消
費電力性とバイポーラの高速性とを兼ね備えた回路を実
現することができ、かつ集積回路の高密度化が可能とな
る。
バス系、ドライバ系等の出力端で、配線容量等の重い負
荷がかかる場所に適用することにより、0MO8の低消
費電力性とバイポーラの高速性とを兼ね備えた回路を実
現することができ、かつ集積回路の高密度化が可能とな
る。
第1図は本発明の一実施例を示す3値出力回路の構成図
、第2図から第8図まではそれぞれ本発明の他の実施例
を示す3値出力回路の構成図、第9図は本発明の負荷容
量に対するゲート遅延特性図、第10図、第11図はい
ずれも従来のCMO83値出力回路の構成図である。 MPI、MP2 : PMOSトランジスタ、MNl〜
MN4 : NMO8トランジスタ、Ql、Q2:np
nバイポーラ・トランジスタ、CL:出力負荷容量、
DIN :入力データ信号、OU T’:出力データ信
号、φ:制御信号、DI:Pnダイオード。 第9図 負荷容量CLCpF〕 第 10 図 第11図
、第2図から第8図まではそれぞれ本発明の他の実施例
を示す3値出力回路の構成図、第9図は本発明の負荷容
量に対するゲート遅延特性図、第10図、第11図はい
ずれも従来のCMO83値出力回路の構成図である。 MPI、MP2 : PMOSトランジスタ、MNl〜
MN4 : NMO8トランジスタ、Ql、Q2:np
nバイポーラ・トランジスタ、CL:出力負荷容量、
DIN :入力データ信号、OU T’:出力データ信
号、φ:制御信号、DI:Pnダイオード。 第9図 負荷容量CLCpF〕 第 10 図 第11図
Claims (3)
- (1)直列接続されたデータ入力用と制御入力用の2つ
のPMOSトランジスタの一端を第1のnpnバイポー
ラ・トランジスタのベースに、他端を該トランジスタの
コレクタに、それぞれ接続し、また直列接続された上記
データ入力用と制御入力用の2つのNMOSトランジス
タの一端を第2のnpnバイポーラ・トランジスタのベ
ースに、他端を該トランジスタのコレクタに、あるいは
npダイオードを介して該コレクタに、それぞれ接続し
、さらに上記第1のバイポーラ・トランジスタのエミッ
タと第2のバイポーラ・トランジスタのコレクタとを接
続して出力端子とすることを特徴とする3値出力回路。 - (2)上記2つのPMOSトランジスタの一端は、第1
のnpnバイポーラ・トランジスタとともに、ソース接
地されたNMOSトランジスタのトレーンにそれぞれ接
続され、また2つのNMOSトランジスタの一端は、エ
ミッタ接地された第2のnpnトランジスタのベースと
ともに、ソース接地されたNMOSトランジスタのドレ
インにそれぞれ接続されていることを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載の3値出力回路。 - (3)上記2つのNMOSトランジスタの一端は、エミ
ッタ接地された第2のnpnバイポーラ・トランジスタ
のベースおよびソース接地されたNMOSトランジスタ
のドレインに接続され、他端はpnダイオードのn端お
よび第1のnpnバイポーラ・トランジスタのベースに
それぞれ接続されていることを特徴とする特許請求の範
囲第1項記載の3値出力回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59237068A JPS61116417A (ja) | 1984-11-10 | 1984-11-10 | 3値出力回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59237068A JPS61116417A (ja) | 1984-11-10 | 1984-11-10 | 3値出力回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61116417A true JPS61116417A (ja) | 1986-06-03 |
Family
ID=17009939
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59237068A Pending JPS61116417A (ja) | 1984-11-10 | 1984-11-10 | 3値出力回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61116417A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6453611A (en) * | 1987-08-25 | 1989-03-01 | Mitsubishi Electric Corp | Driver circuit |
JPH02260916A (ja) * | 1989-03-31 | 1990-10-23 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路 |
-
1984
- 1984-11-10 JP JP59237068A patent/JPS61116417A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6453611A (en) * | 1987-08-25 | 1989-03-01 | Mitsubishi Electric Corp | Driver circuit |
JPH02260916A (ja) * | 1989-03-31 | 1990-10-23 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路 |
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