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JPS6050345B2 - Method and device for removing resin burrs from semiconductor devices - Google Patents

Method and device for removing resin burrs from semiconductor devices

Info

Publication number
JPS6050345B2
JPS6050345B2 JP4808580A JP4808580A JPS6050345B2 JP S6050345 B2 JPS6050345 B2 JP S6050345B2 JP 4808580 A JP4808580 A JP 4808580A JP 4808580 A JP4808580 A JP 4808580A JP S6050345 B2 JPS6050345 B2 JP S6050345B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor device
resin burrs
pressing body
external lead
abrasive grain
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP4808580A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS56144567A (en
Inventor
照雄 草苅
一男 沼尻
順二 中田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority to JP4808580A priority Critical patent/JPS6050345B2/en
Publication of JPS56144567A publication Critical patent/JPS56144567A/en
Publication of JPS6050345B2 publication Critical patent/JPS6050345B2/en
Expired legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/48Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the groups H01L21/18 - H01L21/326 or H10D48/04 - H10D48/07
    • H01L21/4814Conductive parts
    • H01L21/4821Flat leads, e.g. lead frames with or without insulating supports
    • H01L21/4835Cleaning, e.g. removing of solder

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、半導体装置のリードフレームに付着した樹
脂バリの除去方法および該方法を利用した装置に関する
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a method for removing resin burrs attached to a lead frame of a semiconductor device and an apparatus using the method.

半導体装置の製造工程の一つに熱硬化性樹脂を用いて
成形する工程がある。
One of the manufacturing processes for semiconductor devices is a molding process using thermosetting resin.

この成形時に樹脂が充填被覆される位置から外部リード
に流れることが多くこれが成形後樹脂バリとなる。この
バリが外部リード部上に流れて存在すると、この外部リ
ード部の半田性を著しく損うばかりかこの部分におい
て電気的接触が良くなかつたり、腐食、酸化の原因とな
り半導体装置の信頼性を損う原因とも なつていた。
従来、かかる樹脂バリに対抗する手段として次の2つの
方法があつた。
During this molding, the resin often flows from the position where it is filled and coated to the external lead, resulting in resin burrs after molding. If this burr flows onto the external lead, it will not only significantly impair the solderability of the external lead, but also cause poor electrical contact, corrosion, and oxidation, which will reduce the reliability of the semiconductor device. It has also become a cause of damage.
Conventionally, there have been two methods for combating such resin burrs.

第1の方法はリードフレームあるいは金型に工夫を施し
て樹脂バリを出さないようにすることである。この方法
によると長期使用による金型の劣化あるいは金型の大型
化に伴う機械加工精度の限界、またはリードフレームの
厚さのばらつき等に対して根本的なバリ発生防止策とは
ならない欠点があつた。第2の方法は砥石、刃物、ドラ
イ、ウエツトホーニング、ブラシ、振動、プレス、コー
ティング、超音波、圧力等により付着した樹脂バリを除
去することであ る。しかしながら、ドライ、ウエツト
ホーニング、ブラシ等は樹脂充填被覆の側壁を傷めたり
、半田性を著しく損う等の欠点があつた。また回転砥石
による方法は回転砥石の磨耗量の差異に対すフる調整が
困難で樹脂バリが除去されない部分や、外部リードを削
り過ぎたりする欠点があつた。更にその他の方法につい
ては、完全に樹脂バリを除去することは困難であつた。
本発明は上記欠点を解消すべくなされたもので、樹脂
バリが付着した半導体装置の外部リード部を砥粒片と押
圧体とて挾持し、前記外部リード部および砥粒片に相対
運動を与えて樹脂バリを除去する第1の発明と、前記第
1の発明を利用した第2の発明を提供することを目的と
する。
The first method is to modify the lead frame or mold to prevent resin burrs from forming. This method has the disadvantage that it does not fundamentally prevent burr generation due to mold deterioration due to long-term use, limitations in machining accuracy due to enlargement of the mold, or variations in lead frame thickness. Ta. The second method is to remove attached resin burrs using a grindstone, cutter, dry honing, wet honing, brushing, vibration, pressing, coating, ultrasonic waves, pressure, etc. However, dry honing, wet honing, brushing, etc. have disadvantages such as damaging the side walls of the resin-filled coating and significantly impairing solderability. In addition, the method using a rotary grindstone has the drawback that it is difficult to adjust for differences in the amount of wear of the rotary grindstone, and resin burrs may not be removed in some areas or external leads may be excessively removed. Furthermore, with other methods, it was difficult to completely remove resin burrs.
The present invention has been made in order to eliminate the above-mentioned drawbacks, and the present invention has been made to sandwich the external lead portion of a semiconductor device having resin burrs attached thereto between an abrasive grain piece and a pressing body, and to impart relative motion to the external lead portion and the abrasive grain piece. It is an object of the present invention to provide a first invention in which resin burrs are removed using a method of removing resin burrs, and a second invention that utilizes the first invention.

以下図面を参照して、本発明の実施例を詳細に説明する
Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

第1の発明を実施するにあたつては次のような装置を用
いる。
In carrying out the first invention, the following apparatus is used.

すなわち第1図に概略図を示すように多数並列したフラ
ット砥石1の上面には、砥粒片2が固着されている。こ
のフラット砥石1の上部には、砥粒片2と相対するよう
に押圧体3がガイド37に固定されている。このガイド
3″にはバネ等の弾性部材8が、ガイド3″に設けられ
た案内孔(図示せず)に挿入されている。上記フラット
砥石1は固定されており、押圧体3は上下動および水平
動がてき、更に弾性部材の弾発力を調整することにより
加圧力が調整できるようになつている。而して、樹脂バ
リが付着した半導体装置4のリードフレーム5の外部リ
ード6より樹脂バリ7を除去するにあたつては、押圧体
3を上昇させて外部リード部を砥石1上に載置し、押圧
体3を下降させて、加圧力を調整して外部リード部6を
押圧体および砥石間に挟持する。
That is, as shown schematically in FIG. 1, abrasive grain pieces 2 are fixed to the upper surfaces of a large number of flat grindstones 1 arranged in parallel. A pressing body 3 is fixed to a guide 37 on the upper part of the flat grindstone 1 so as to face the abrasive grain pieces 2. An elastic member 8 such as a spring is inserted into a guide hole (not shown) provided in the guide 3''. The flat grindstone 1 is fixed, the pressing body 3 can move vertically and horizontally, and the pressing force can be adjusted by adjusting the elastic force of the elastic member. In order to remove the resin burr 7 from the outer lead 6 of the lead frame 5 of the semiconductor device 4 to which the resin burr has adhered, the pressing body 3 is raised and the outer lead portion is placed on the grindstone 1. Then, the pressing body 3 is lowered and the pressing force is adjusted to sandwich the external lead portion 6 between the pressing body and the grindstone.

次に押圧体に水平往復運動を与えると、リードフレーム
5は押圧体と一体になつて水平動し、砥石1の上面に固
着した砥粒片2の先端が刃先となつて外部リード部に付
着した樹脂バリを切削作用の原理で削り落とす。
Next, when the pressing body is given horizontal reciprocating motion, the lead frame 5 moves horizontally together with the pressing body, and the tips of the abrasive grain pieces 2 fixed to the upper surface of the grinding wheel 1 become cutting edges and adhere to the external lead part. The plastic burr that has been removed is removed using the principle of cutting action.

このとき外部リード6の表.面を削成しても半導体装置
には何ら影響はない。上記の説明ては、砥石1を固定と
したが、外部リード部、押圧体および砥粒片に相対運動
を与えれば樹脂バリを除去することができる。従つて、
例えば砥石1を水平動させてリードフレーム5お;よび
押圧体3を固定してもよく、押圧体3に代えて砥粒片を
固定した砥石を用いリードフレームを固定して対向した
両砥石を水平動させてもよく、逆に両砥石を固定したリ
ードフレームを水平動させてもよい。また、砥石および
押圧体の運動方Z向、運動速度および形状等は、上記実
施例に限定されるものではない。次に上記第1の発明の
利用した第2の発明の実施例を第2図と参照して詳述す
る。
At this time, the front of external lead 6. Even if the surface is removed, there is no effect on the semiconductor device. In the above description, the grindstone 1 is fixed, but resin burrs can be removed by giving relative movement to the external lead part, the pressing body, and the abrasive grain pieces. Therefore,
For example, the lead frame 5 and the pressing body 3 may be fixed by moving the grinding wheel 1 horizontally, or a grinding wheel to which abrasive grain pieces are fixed may be used instead of the pressing body 3, and the lead frame is fixed and both grinding wheels facing each other are fixed. It may be moved horizontally, or conversely, the lead frame to which both grindstones are fixed may be moved horizontally. Furthermore, the Z direction, speed of movement, shape, etc. of the grindstone and the pressing body are not limited to those in the above embodiments. Next, an embodiment of the second invention utilizing the first invention will be described in detail with reference to FIG.

なお、第2図において第1図と対応する部分は同一符号
を使用した。第2図に示す如く、押圧体3は、ブロック
11に固定されておりこの長さはリードフレーム5の幅
に相当している。
In FIG. 2, the same reference numerals are used for parts corresponding to those in FIG. 1. As shown in FIG. 2, the pressing body 3 is fixed to the block 11, and its length corresponds to the width of the lead frame 5.

このブロック11はガイド12の溝15の中で上下に滑
動できるようになつており、最下位置はガイド12の突
起部12″により制限されている。ガイド12の上部に
は、螺子で調整できるアジャスタ14が取り付けられた
平フ板13が設けられており、平板13とブロック11
との間にバネ8を挿入してアジャスタ14を回転するこ
とによりバネ8の弾発力を調整できるようにしてある。
ガイド12の両端には、軸16,16″が固定されてお
り、この軸16,16″の両門端部はベアリングホルダ
18に固定されたスライドベアリング17に嵌合されて
いる。更にガイド12は、ベアリングホルダ18に横架
された平板19に取付けられた第1の駆動部を構成する
エアシリンダ20のシャフト2『に固定された逆L字状
連結板21と平板13部分で連結されている。また、ブ
ロック11にはクランク状連結板22が固定されており
、この連結板22と、平板19に取付けられた第1の駆
動部を構成するエアシリンダ23のシャフト23″とが
遊挿されており、シャフト23″が上昇してもすきまd
だけブロック11の上昇が遅れる。上記エアシリンダ2
0,23によつて構成される第1の駆動部のエアシリン
ダ20,23を交互に動作させることにより垂直面内の
ボックス送りの運動をさせることができ、更に第1の駆
動部と同等の水平駆動機構を別に設ければ、上記ボック
ス送り運動に対して垂直な水平運動をさせることができ
る。
This block 11 can slide up and down in the groove 15 of the guide 12, and the lowest position is limited by the protrusion 12'' of the guide 12.The upper part of the guide 12 has a screw that can be adjusted. A flat plate 13 to which an adjuster 14 is attached is provided, and the flat plate 13 and the block 11
By inserting a spring 8 between them and rotating an adjuster 14, the elastic force of the spring 8 can be adjusted.
Shafts 16, 16'' are fixed to both ends of the guide 12, and both gate ends of the shafts 16, 16'' are fitted into slide bearings 17 fixed to a bearing holder 18. Further, the guide 12 is formed by an inverted L-shaped connecting plate 21 and a flat plate 13 fixed to the shaft 2' of the air cylinder 20, which constitutes the first drive unit, which is attached to a flat plate 19 horizontally suspended on the bearing holder 18. connected. Further, a crank-shaped connecting plate 22 is fixed to the block 11, and a shaft 23'' of an air cylinder 23 that constitutes a first drive unit attached to the flat plate 19 is loosely inserted into the connecting plate 22. Even if the shaft 23'' rises, the clearance d
The rise of block 11 is delayed accordingly. Air cylinder 2 above
By alternately operating the air cylinders 20 and 23 of the first drive unit constituted by 0 and 23, box feeding movement in the vertical plane can be performed. If a horizontal drive mechanism is provided separately, horizontal movement perpendicular to the box feeding movement can be achieved.

次に載置体および第2の駆動部について説明すると、載
置体25上には上面に砥粒片2を固着した砥石1が載置
されている。
Next, the mounting body and the second drive section will be described. On the mounting body 25, a grindstone 1 having abrasive grain pieces 2 fixed to its upper surface is mounted.

この載置体25の両端には平板27″を介してリニアベ
アリング28の軸27が係止されている。そして、この
リニアベアリング28は、ブラケット29で固定されて
いる。また、載置体25の下面にはラック30が固定さ
れ、その下側にラック30と歯合するピニオン31が設
けられている。このピニオン31はベルト32を介して
モータ33の軸に固定された小歯車34と連結されてい
る。更に、載置体25の中央寄り下側には、シャフト1
『を有するエアシリンダ10が設置されており、このシ
ャフト1『は、エアシリンダのシャフト穴に相当する水
平方向の遊びを設けてある。
A shaft 27 of a linear bearing 28 is locked to both ends of the mounting body 25 via a flat plate 27''.The linear bearing 28 is fixed with a bracket 29. A rack 30 is fixed to the lower surface of the rack 30, and a pinion 31 that meshes with the rack 30 is provided below the rack 30.This pinion 31 is connected via a belt 32 to a small gear 34 fixed to the shaft of a motor 33. Furthermore, the shaft 1 is located on the lower side of the mounting body 25 near the center.
An air cylinder 10 having a shaft 1 is provided with a horizontal play corresponding to the shaft hole of the air cylinder.

この結果モータ33とエアシリンダ10を交互に動作さ
せれば、載置体に対しボックス送りの運動をさせること
ができる。次に、以上のように構成された装置の動作に
ついて説明すれば、前工程のロータ(図示せず)により
半導体装置が載置体25に供給される。
As a result, by alternately operating the motor 33 and the air cylinder 10, it is possible to cause the mounting body to move in a box-feeding motion. Next, the operation of the apparatus configured as described above will be described. A semiconductor device is supplied to the mounting body 25 by a rotor (not shown) in the previous process.

供給された後、供給終了信号により、エアシリンダ23
が動作してブロック11を上昇させる。このエアシリン
ダ23の動作と同時にエアシリンダ10が動作し、載置
体25を上昇させ、上昇終了で信号を発しモータ33を
動作させて載置体25を水平移動し、所定位置で停止さ
せ、エアシリンダ10で載置体25を下降させ、途中で
砥粒片2上に半導体装置の外部リード部を緩嵌させる。
次にエアシリンダ23を動作させ、ブロック11を下降
させて外部リード部6を圧接する。続いてエアシリンダ
20を動作させ、ブロック11に水平運動を与えて、外
部リード部の下面に付着した樹脂バリを除去する。この
とき、ブロック11と半導体装置26は一体となつて運
動をするが、この運動を確実にするため爪等を用いたガ
イドによりリードフレーム5を押えるようにしてもよい
。次に上記水平運動が終了したならば、エアシリンダ2
3を動作させてブロック11を上昇させ、モータ33を
動作させて半導体装置を前記と同様の構成の装置に移送
し、外部リード部の他面の樹脂バリを除去する。
After being supplied, the air cylinder 23 is
operates to raise the block 11. Simultaneously with this operation of the air cylinder 23, the air cylinder 10 operates to raise the mounting body 25, and when the lifting is completed, a signal is issued, the motor 33 is operated, the mounting body 25 is horizontally moved, and stopped at a predetermined position. The mounting body 25 is lowered by the air cylinder 10, and the external lead portion of the semiconductor device is loosely fitted onto the abrasive grain piece 2 on the way.
Next, the air cylinder 23 is operated to lower the block 11 and press the external lead portion 6 into contact. Subsequently, the air cylinder 20 is operated to give horizontal movement to the block 11 to remove resin burrs attached to the lower surface of the external lead portion. At this time, the block 11 and the semiconductor device 26 move together, but in order to ensure this movement, the lead frame 5 may be held down by a guide using a claw or the like. Next, when the above horizontal movement is completed, air cylinder 2
3 is operated to raise the block 11, the motor 33 is operated to transfer the semiconductor device to a device having the same structure as described above, and the resin burr on the other surface of the external lead portion is removed.

このようにして外部リード部に付着した樹脂バリは完全
に除去される。なお、樹脂バリを除去するにあたつて、
半導体装置を固定しておき、フ七ツク11に砥石1と同
様に砥粒片を固着し、ブロックおよび載置体に同時に水
平運動を与えれは、外部リード部表面の樹脂バリは同時
に除去することができる。
In this way, the resin burr attached to the external lead portion is completely removed. In addition, when removing resin burrs,
If the semiconductor device is fixed, a piece of abrasive grain is fixed to the block 11 in the same way as the grindstone 1, and the block and mounting body are given horizontal movement at the same time, the resin burrs on the surface of the external lead part should be removed at the same time. I can do it.

第1および第2の発明において、樹脂バリが除去された
半導体装置は、次に設明するクリーニング装置および静
電気除去装置を通過させる。
In the first and second inventions, the semiconductor device from which the resin burrs have been removed is passed through a cleaning device and a static electricity removal device, which will be provided next.

まずクリーニング装置は、第3図に示す如く、外部リー
ド部の両面に対向する位置に、一端がラジアルベアリン
グ(図示せず)と嵌合し、他端がラジアルベアリング及
び歯車(図示せず)と嵌合した軸36に固定された回転
ブラシ35が設けられている。軸36間距離は、回転ブ
ラシの歯合距離に等しく、モータの回転を2軸のうちい
ずれか1つに与えることによりブラシは回転し、外部リ
ード部に付着したバリ粉塵をクリーニングする。次に静
電気除去装置は、リードフレームをアースする構成のも
のや、空気を吹き付けて静電気を除去する例えば米国サ
イエンティフィック●エンタープライズ社製静電気除去
装置を使用することがてきる。なお、前記第2の発明は
、上記実施例に限定されるべきものではなく、例えばエ
アーシリンダの代わりにモータを使用してもよく、水平
運動するものが砥石、半導体装置のいずれかであつても
よく、また両者であつてもよい。
First, as shown in FIG. 3, the cleaning device has one end fitted with a radial bearing (not shown) and the other end fitted with a radial bearing and a gear (not shown) at positions facing both sides of the external lead part. A rotating brush 35 fixed to a fitted shaft 36 is provided. The distance between the shafts 36 is equal to the toothing distance of the rotating brush, and by applying rotation of the motor to either one of the two shafts, the brush rotates and cleans the burr dust attached to the external lead portion. Next, the static electricity eliminator can be one configured to ground the lead frame, or a static electricity eliminator manufactured by Scientific Enterprises, Inc., USA, which removes static electricity by blowing air. It should be noted that the second invention is not limited to the above embodiment, and for example, a motor may be used instead of the air cylinder, and the horizontally moving object may be either a grindstone or a semiconductor device. It may be both, or it may be both.

また砥石と半導体装置の相対運動は、往復運動てある必
要はなく、2つの砥石間に半導体装置を通過させるよう
にしてもよい。以上説明したように本発明によれば、樹
脂充填被覆の根本より樹脂バリを除去することができる
ため、半田性が著しく向上し、半田工数の削減によるコ
ストダウンの効果が得られる。
Further, the relative motion between the grindstone and the semiconductor device does not need to be a reciprocating motion, and the semiconductor device may be passed between the two grindstones. As explained above, according to the present invention, since resin burrs can be removed from the base of the resin-filled coating, solderability is significantly improved, and costs can be reduced by reducing the number of soldering steps.

また、電気的接触不良、腐食、酸化が無くなるため、半
導体装置の信頼性が向上する。更に他の装置に比較して
調整の少ない構造の簡単な安価な装置を提供でノきる。
Furthermore, since poor electrical contact, corrosion, and oxidation are eliminated, the reliability of the semiconductor device is improved. Furthermore, compared to other devices, it is possible to provide a simple and inexpensive device that requires less adjustment.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、第1の発明を説明するための概路線図、第2
図は、第2の発明の実施例を示す断面図、第3図は、ク
リーニング装置の概路線図であ7る。 1・・・・・・砥石、2・・・・・砥粒片、3・・・・
・・押圧体、6・・外部リード部、7・・・・・・樹脂
バリ、10,20,23・ ・・エアーシリンダ、11
・・・・・・ブロック、25・・・・・・載置体、26
・・・・・・半導体装置。
FIG. 1 is a schematic route map for explaining the first invention;
The figure is a sectional view showing an embodiment of the second invention, and FIG. 3 is a schematic diagram of the cleaning device. 1...Whetstone, 2...Abrasive grain piece, 3...
... Pressing body, 6 ... External lead part, 7 ... Resin burr, 10, 20, 23 ... Air cylinder, 11
...Block, 25 ... Placement body, 26
・・・・・・Semiconductor device.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 樹脂バリが付着した半導体装置の外部リード部から
樹脂バリを除去するにあたつて、樹脂バリが付着した半
導体装置の外部リード部を砥粒片および押圧体で挾持し
、前記外部リード部、押圧体および砥粒片に相対運動を
与えて樹脂バリを除去することを特徴とする半導体装置
の樹脂バリ除去方法。 2 接触圧を調整できる押圧体と、この押圧体に水平動
および垂直動を与える第1の駆動部と、前記押圧体に相
対して設置した砥粒片を設けた載置体と、この載置体に
水平動および垂直動を与える第2の駆動部とから成るこ
とを特徴とする半導体装置のリードフレームに付着した
樹脂バリの除去装置。
[Claims] 1. When removing resin burrs from the external lead portion of a semiconductor device to which the resin burr has adhered, the external lead portion of the semiconductor device to which the resin burr has adhered is held between abrasive grain pieces and a pressing body. A method for removing resin burrs from a semiconductor device, characterized in that resin burrs are removed by applying relative motion to the external lead portion, the pressing body, and the abrasive grain pieces. 2. A pressing body that can adjust the contact pressure, a first drive unit that gives horizontal and vertical movement to this pressing body, a mounting body provided with abrasive grain pieces installed opposite to the pressing body, and this mounting body. 1. A device for removing resin burrs attached to a lead frame of a semiconductor device, comprising: a second drive section for imparting horizontal and vertical motion to a mounting body.
JP4808580A 1980-04-14 1980-04-14 Method and device for removing resin burrs from semiconductor devices Expired JPS6050345B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4808580A JPS6050345B2 (en) 1980-04-14 1980-04-14 Method and device for removing resin burrs from semiconductor devices

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JP4808580A JPS6050345B2 (en) 1980-04-14 1980-04-14 Method and device for removing resin burrs from semiconductor devices

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JPS56144567A JPS56144567A (en) 1981-11-10
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JPS6311743Y2 (en) * 1980-09-29 1988-04-05
JPS58122446U (en) * 1982-02-12 1983-08-20 宮本 賢治 Equipment for removing burrs and deposits in the terminal manufacturing process of LSI, IC, etc.
JPS58190034A (en) * 1982-04-30 1983-11-05 Michio Osada Removal of semiconductor flash and roller for removing the same

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