JPS6041770B2 - エラ−・チェック修正システム - Google Patents
エラ−・チェック修正システムInfo
- Publication number
- JPS6041770B2 JPS6041770B2 JP52064968A JP6496877A JPS6041770B2 JP S6041770 B2 JPS6041770 B2 JP S6041770B2 JP 52064968 A JP52064968 A JP 52064968A JP 6496877 A JP6496877 A JP 6496877A JP S6041770 B2 JPS6041770 B2 JP S6041770B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- error
- bits
- generating
- output
- bit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000012937 correction Methods 0.000 title claims description 29
- 208000011580 syndromic disease Diseases 0.000 claims description 61
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 54
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 22
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 14
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000010420 art technique Methods 0.000 description 1
- 239000000872 buffer Substances 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000000977 initiatory effect Effects 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 230000008520 organization Effects 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 238000009877 rendering Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/08—Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
- G06F11/10—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
- G06F11/1008—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices
- G06F11/1012—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices using codes or arrangements adapted for a specific type of error
- G06F11/1028—Adjacent errors, e.g. error in n-bit (n>1) wide storage units, i.e. package error
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Error Detection And Correction (AREA)
- Detection And Correction Of Errors (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明はエラー・チェック及び修正装置に関し、特に
単一エラーの修正、ダブル・エラーの検知及びグループ
・エラーの検知を可能にするモヂユール方式データ処理
システムに関する。
単一エラーの修正、ダブル・エラーの検知及びグループ
・エラーの検知を可能にするモヂユール方式データ処理
システムに関する。
データ処理システムでは2点間においてデータを転送す
る必要がある。
る必要がある。
その際、データが送信される通信チャンネルに雑音が発
生してデータの情報内容がゆがめられることが屡々問題
となる。送信されるデータ・ワードの正確性をチェック
するためには、一般的にある程度の冗長性を必要とする
各種エラー検知・修正装置及び各種の方式が開発されて
いる。これらの先行技術においては、一般的に、データ
●ワードにチェック●ビットを付加してコード・ワード
を形成し、このコード・ワード全体を送信してそのデー
タ部分を利用するようにしている。このチェック●ビッ
トは一般的にある所定のアルゴリズムに従つて作成され
、受信されたコード化ワードはある所定のアルゴリズム
に従つて処理され、データが正しく送信されたかどうか
を確認する。ハミング●コード(1IammingC0
de)(りチャート◆ハミング(RichardHam
ming)ほかに再発行された米国特許第23,601
号)及びシアオ(HsjaO)の最小奇数重みコラム
コード(Minjmum−0dd−Weigllt−C
OIumnCOde)エム・ワイ・シアオ(M−Y−H
siaO)に与えられた米国特許3,623,155号
)のような各種シングル◆エラー修正●ダブル●エラー
検知(SEC一DED)コードが開発されている。
生してデータの情報内容がゆがめられることが屡々問題
となる。送信されるデータ・ワードの正確性をチェック
するためには、一般的にある程度の冗長性を必要とする
各種エラー検知・修正装置及び各種の方式が開発されて
いる。これらの先行技術においては、一般的に、データ
●ワードにチェック●ビットを付加してコード・ワード
を形成し、このコード・ワード全体を送信してそのデー
タ部分を利用するようにしている。このチェック●ビッ
トは一般的にある所定のアルゴリズムに従つて作成され
、受信されたコード化ワードはある所定のアルゴリズム
に従つて処理され、データが正しく送信されたかどうか
を確認する。ハミング●コード(1IammingC0
de)(りチャート◆ハミング(RichardHam
ming)ほかに再発行された米国特許第23,601
号)及びシアオ(HsjaO)の最小奇数重みコラム
コード(Minjmum−0dd−Weigllt−C
OIumnCOde)エム・ワイ・シアオ(M−Y−H
siaO)に与えられた米国特許3,623,155号
)のような各種シングル◆エラー修正●ダブル●エラー
検知(SEC一DED)コードが開発されている。
これらSEC−DEDコードでは、コード・ワード内で
エラーがランダムに独立して発生するものとするから、
同一コード・ワード内の各ビットの失敗の確率は互いに
他のビットと等しく独立である。ランダムSEC−DE
Dコードの使用に対する好ましい環境はコード・ワード
の各ビットが個別的であり、同質的な通信チャンネルを
用いるということである。個別的及び同質的な通信チャ
ンネルの例はカードごとのビット配列又はパッケージご
とのビット配列を有する記憶システムである。パッケー
ジの点からみると、通信チャンネルをビット部分ごとに
分割することは非能率である。
エラーがランダムに独立して発生するものとするから、
同一コード・ワード内の各ビットの失敗の確率は互いに
他のビットと等しく独立である。ランダムSEC−DE
Dコードの使用に対する好ましい環境はコード・ワード
の各ビットが個別的であり、同質的な通信チャンネルを
用いるということである。個別的及び同質的な通信チャ
ンネルの例はカードごとのビット配列又はパッケージご
とのビット配列を有する記憶システムである。パッケー
ジの点からみると、通信チャンネルをビット部分ごとに
分割することは非能率である。
従つて、通信チャンネルをモジユラ・グループごとに分
割する必要があり、複数のビットがグループを形成し、
複数のグループがコード・ワードを形成するようにする
。モヂユラ・チャンネルの例としてはカードごとに、又
はパッケージごとに多重ビットで組織されたメモリーが
ある。モジユラ・メモリー●システムを介して送信され
るコード●ワードについて、モジユルの不調はグループ
内の多くのビットに影響を及ぼすことになる。
割する必要があり、複数のビットがグループを形成し、
複数のグループがコード・ワードを形成するようにする
。モヂユラ・チャンネルの例としてはカードごとに、又
はパッケージごとに多重ビットで組織されたメモリーが
ある。モジユラ・メモリー●システムを介して送信され
るコード●ワードについて、モジユルの不調はグループ
内の多くのビットに影響を及ぼすことになる。
送信される原始情報及びグループの失敗の態様に従い、
エラーは単一ビットの失敗、2ビットの失敗又は同一グ
ループ内における複数ビットの失敗として受信機に反影
する。この発明はグループ内に配置されているデータ・
ビット及びチェック・ビットなどから成るビットを有す
るコード・ワードに対する単一エラーの修正及び2重エ
ラーの検知に加え、メモリー及びロジック●パッケージ
の終局的故障をチェックするグループ・エラーの検知方
式を提供する。
エラーは単一ビットの失敗、2ビットの失敗又は同一グ
ループ内における複数ビットの失敗として受信機に反影
する。この発明はグループ内に配置されているデータ・
ビット及びチェック・ビットなどから成るビットを有す
るコード・ワードに対する単一エラーの修正及び2重エ
ラーの検知に加え、メモリー及びロジック●パッケージ
の終局的故障をチェックするグループ・エラーの検知方
式を提供する。
コード◆ワードはモジユラ通信チャンネルを介して並列
に送信されるべくグループ内に配置された複数のデータ
・ビットと複数のチェック・ビットで構成される。好ま
しい実施例においては、コード・ワードは32のデータ
・ビット及び8チェック・ビットから成る40ビットを
有し、モジユラ通信チャンネルは各モジュールが4ビッ
ト構成の10モジュールから成るコンピュータ●メモリ
ーである。送信機において、データ・レジスタはデータ
・ビットを提供し、チェック・ビット発生器が下記表1
で述べるようにhサブマトリクスに分割されているHマ
トリクスに従つてチェック・ビットを提供する。
に送信されるべくグループ内に配置された複数のデータ
・ビットと複数のチェック・ビットで構成される。好ま
しい実施例においては、コード・ワードは32のデータ
・ビット及び8チェック・ビットから成る40ビットを
有し、モジユラ通信チャンネルは各モジュールが4ビッ
ト構成の10モジュールから成るコンピュータ●メモリ
ーである。送信機において、データ・レジスタはデータ
・ビットを提供し、チェック・ビット発生器が下記表1
で述べるようにhサブマトリクスに分割されているHマ
トリクスに従つてチェック・ビットを提供する。
hサブマトリクスの構成は単一エラー修正及び2重エラ
ー検知に加え、グループ・エラー検知のために必要な規
則に従つて組立てられる。受信機においては、シンドロ
ーム・ビット発生器が表1のHマトリクスに従つて受信
したコードワードからシンドローム・ビットを発生させ
る。
ー検知に加え、グループ・エラー検知のために必要な規
則に従つて組立てられる。受信機においては、シンドロ
ーム・ビット発生器が表1のHマトリクスに従つて受信
したコードワードからシンドローム・ビットを発生させ
る。
”シンドローム・ビットはエラーを検知したときに第1
のエラー・フラグ信号を発生するエラー検知回路に供給
される。そこでランダム2重エラー検知(DED)又は
グループ・エラー検知(GED)があつた場合には第2
のエラー・フラグ信号が発生される。シンドローム●ビ
ットは更にエラー位置回路へ供給され、エラー検知回路
も又エラー位置回路へ接続されて単一エラーが検知され
た場合は単一エラー修正(SEC)を実行する。
のエラー・フラグ信号を発生するエラー検知回路に供給
される。そこでランダム2重エラー検知(DED)又は
グループ・エラー検知(GED)があつた場合には第2
のエラー・フラグ信号が発生される。シンドローム●ビ
ットは更にエラー位置回路へ供給され、エラー検知回路
も又エラー位置回路へ接続されて単一エラーが検知され
た場合は単一エラー修正(SEC)を実行する。
データ・ビットは通常受信したデータの使用を可能にす
るデータ・レジスタに供給される。
るデータ・レジスタに供給される。
エラー位置回路も又データ・レジスタに接続される。エ
ラーが検知されない場合はデータ・レジスタは受信した
データの使用可能状態に維持される。単一エラーが検知
されるとエラー検知回路はエラー位置回路を可能化し、
単一エラーが検知されたデータ・レジスタの不正ビット
の位置にあるバイナリ・ビットのバイナリ極性を反転し
て単一エラー修正(SEC)作用を実行する。エラー検
知回路がコード・ワードのどの位置にあるビットでも2
ビットのランダム・エラーを検知するか、又はエラー検
知回路が同一データ・グループ内に複数のエラーを検知
した場合は、エラー検知回路は2重エラー検知(DED
)又はグループ・エラー検知(GED)があつたことを
使用者に信号するために第2のフラグを発生させる。
ラーが検知されない場合はデータ・レジスタは受信した
データの使用可能状態に維持される。単一エラーが検知
されるとエラー検知回路はエラー位置回路を可能化し、
単一エラーが検知されたデータ・レジスタの不正ビット
の位置にあるバイナリ・ビットのバイナリ極性を反転し
て単一エラー修正(SEC)作用を実行する。エラー検
知回路がコード・ワードのどの位置にあるビットでも2
ビットのランダム・エラーを検知するか、又はエラー検
知回路が同一データ・グループ内に複数のエラーを検知
した場合は、エラー検知回路は2重エラー検知(DED
)又はグループ・エラー検知(GED)があつたことを
使用者に信号するために第2のフラグを発生させる。
それによつて、使用者はレジスタ内のすべてのデータを
無視することができるようになる。この発明の方法及び
装置は表1に示すこの発明のHマトリクスを満足するよ
うなチェック・ビットがコード●ワード内に含まれてい
る限りにおいて、いかなるモジユラ・グループ・サイズ
のモジユラ通信チャンネルを介して送信されるいかなる
データ・ワード・サイズを有するコードに対しても適用
可能である。
無視することができるようになる。この発明の方法及び
装置は表1に示すこの発明のHマトリクスを満足するよ
うなチェック・ビットがコード●ワード内に含まれてい
る限りにおいて、いかなるモジユラ・グループ・サイズ
のモジユラ通信チャンネルを介して送信されるいかなる
データ・ワード・サイズを有するコードに対しても適用
可能である。
勿論、ここで述べるメモリーの各モジユルが4ビットを
並列に処理するモジユラ・メモリー◆チャンネルを介し
て送信される32データ●ビット及び8チェック●ビッ
トから成る40ビット●コード●ワードはここで説明す
る目的のために選ばれたものであつて他の構成でもよい
。この40ビットSEC−DED−GEDコードは、特
に記憶バッファとしてカット・バス・ドライバ及びカッ
ト受信機を使用し、記憶装置として1K×4RAM又は
訊×4RAMを使用する32ビット・ワード●コンピュ
ータ・メイン・メモリー、又は各カード4ビット組織の
32ビット・ワード●コンピュータ●メイン●メモリー
に適切である。従つて、この発明の目的は、モジユラ●
メモリ一・チェックを介して送信されるデータに対する
エラー・チェック及び修正装置を提供することである。
並列に処理するモジユラ・メモリー◆チャンネルを介し
て送信される32データ●ビット及び8チェック●ビッ
トから成る40ビット●コード●ワードはここで説明す
る目的のために選ばれたものであつて他の構成でもよい
。この40ビットSEC−DED−GEDコードは、特
に記憶バッファとしてカット・バス・ドライバ及びカッ
ト受信機を使用し、記憶装置として1K×4RAM又は
訊×4RAMを使用する32ビット・ワード●コンピュ
ータ・メイン・メモリー、又は各カード4ビット組織の
32ビット・ワード●コンピュータ●メイン●メモリー
に適切である。従つて、この発明の目的は、モジユラ●
メモリ一・チェックを介して送信されるデータに対する
エラー・チェック及び修正装置を提供することである。
これを達成するために、モジュールの1つに誤りがあつ
たモジユラ・メモリーから受信したコード・ワードに表
われたエラーの種類を確認することが必要となる。例え
ば、受信機へ送信されるデータ・ビット(BO,Bl,
B2,B3)が論理状態「0」に固定されてしまつたた
めに、表1のHマトリクスに表わされているモジユラ・
メモリーのグループG。にエラーが発生し、他のモジユ
ラ・グループはすべて適当に作用しているものと仮定し
た場合、表2は送信機におけるグループG。の各種入力
の組合せに対する受信したコード・ワードのエラーの数
を表わす。表2から、送信される原始情報及びモジュー
ルの欠陥態様に従い、エラーなし、単一ビット・エラー
、又は同一グループ内における複数のビット・エラーの
いずれかがコード●ワードトに理われるということが明
らかである。
たモジユラ・メモリーから受信したコード・ワードに表
われたエラーの種類を確認することが必要となる。例え
ば、受信機へ送信されるデータ・ビット(BO,Bl,
B2,B3)が論理状態「0」に固定されてしまつたた
めに、表1のHマトリクスに表わされているモジユラ・
メモリーのグループG。にエラーが発生し、他のモジユ
ラ・グループはすべて適当に作用しているものと仮定し
た場合、表2は送信機におけるグループG。の各種入力
の組合せに対する受信したコード・ワードのエラーの数
を表わす。表2から、送信される原始情報及びモジュー
ルの欠陥態様に従い、エラーなし、単一ビット・エラー
、又は同一グループ内における複数のビット・エラーの
いずれかがコード●ワードトに理われるということが明
らかである。
この発明は使用可能な情報と使用不可能な情報とを区別
することができるエラー・チェック装置を提供するもの
であり、この発明の他の目的は単一エラー修正、ランダ
ム2重エラー検知、及びグループエラー検知(SED−
DED−GED)コードを構成することてある。このコ
ードの構成は表1のHマトリクスを使用して提供される
。表1をみると、Hマトリクスはモジユラ・メモリーの
グループの範囲に従つて、hサブマトリクスの下位区分
に分割される。
することができるエラー・チェック装置を提供するもの
であり、この発明の他の目的は単一エラー修正、ランダ
ム2重エラー検知、及びグループエラー検知(SED−
DED−GED)コードを構成することてある。このコ
ードの構成は表1のHマトリクスを使用して提供される
。表1をみると、Hマトリクスはモジユラ・メモリーの
グループの範囲に従つて、hサブマトリクスの下位区分
に分割される。
ここで、hサブマトリクスのXの記入の割当が重要であ
る。グループ・エラー検知については、次のような規則
が必要である。1Hマトリクスの各列は個別的である。
る。グループ・エラー検知については、次のような規則
が必要である。1Hマトリクスの各列は個別的である。
2データ・ビット・グループ(GO−G7)に該当する
各hマトリクスは各列当り3ビットのみが記入される。
各hマトリクスは各列当り3ビットのみが記入される。
3チェック・ビット・グループ(G8〜G9)に相当す
るhサブマトリクスのみは各列当り1ビットの記入を有
する。4データ・ビット・グループ(GO−G7)に該
当する各hサブマトリクスにおいて、最初の4つの行に
他の1つの共通行の記入があり、後段の4つの行に他の
1つの共通行の記入がある。
るhサブマトリクスのみは各列当り1ビットの記入を有
する。4データ・ビット・グループ(GO−G7)に該
当する各hサブマトリクスにおいて、最初の4つの行に
他の1つの共通行の記入があり、後段の4つの行に他の
1つの共通行の記入がある。
上記の規則を満足するHマトリクスを持つコードは全体
的に4の最少間隔を有し、従つて、単一エラー修正・ラ
ンダム2重エラー及びグループ・エラーの検知が可能と
なる。受信データの診断の結果、重複しないシンドロー
ムのサブセットが使用不能データから使用可能データを
分離するために作成される。受信機側においては、診断
は次のアルゴリズムに従つておこなわれる。1すべての
シンドローム・ビットがフオールスの場合はエラーがな
い。
的に4の最少間隔を有し、従つて、単一エラー修正・ラ
ンダム2重エラー及びグループ・エラーの検知が可能と
なる。受信データの診断の結果、重複しないシンドロー
ムのサブセットが使用不能データから使用可能データを
分離するために作成される。受信機側においては、診断
は次のアルゴリズムに従つておこなわれる。1すべての
シンドローム・ビットがフオールスの場合はエラーがな
い。
21つのシンドローム●ビットがトルーの場合はチェッ
ク●ビット●グループに単一の修正可能エラーが存在す
る。
ク●ビット●グループに単一の修正可能エラーが存在す
る。
3偶数のシンドローム●ビットがトルーの場合は修正不
能エラーが存在する。
能エラーが存在する。
修正不能エラーは2つの(2重)ランダム・エラーが、
1グループ内の2つの(2重)エラーか又は1グループ
内の4重(4ビット))エラーかのいずれかである。4
3個のシンドローム・ビットがトルーでありそのすべて
がSO9Sl9S29S3又はS49S59S69S7
のいずれかに存在する場合はチェック・ビット・グルー
プに修正不能3重エラーが存在する。
1グループ内の2つの(2重)エラーか又は1グループ
内の4重(4ビット))エラーかのいずれかである。4
3個のシンドローム・ビットがトルーでありそのすべて
がSO9Sl9S29S3又はS49S59S69S7
のいずれかに存在する場合はチェック・ビット・グルー
プに修正不能3重エラーが存在する。
53個のシンドローム◆ビットがトルーであり、そのす
べて力SO9Sl9S2?S3又はS49S59S6,
S7のいずれかに存在するものではない場合は、データ
・ビット・グループに単一の修正可能エラーが存在する
。
べて力SO9Sl9S2?S3又はS49S59S6,
S7のいずれかに存在するものではない場合は、データ
・ビット・グループに単一の修正可能エラーが存在する
。
65個のシンドローム●ビットがトルーの場合は、デー
タ・ビット・グループに修正不能3重エラーが存在する
。
タ・ビット・グループに修正不能3重エラーが存在する
。
チェック・ビット(CO−C7)はこれらデータ・ビッ
トの奇数パリテイによつて決定される。
トの奇数パリテイによつて決定される。
それは排他的オア回路で作られ、Hマトリクスの各該当
する行に[X」が記入される。例えば、チェック・ビッ
トC。はデータ・ビットB。,Bl,B2,B399B
49式9八9B79B129?69式09B24の奇数
パリテイである(奇数パリテイはバイナリ和ビットであ
る)。8チェック・ビット(CO−C7)は表3に表わ
さられている論理等式に従つて作られ、そこで1の印は
排他的オアを意味する。
する行に[X」が記入される。例えば、チェック・ビッ
トC。はデータ・ビットB。,Bl,B2,B399B
49式9八9B79B129?69式09B24の奇数
パリテイである(奇数パリテイはバイナリ和ビットであ
る)。8チェック・ビット(CO−C7)は表3に表わ
さられている論理等式に従つて作られ、そこで1の印は
排他的オアを意味する。
表3C0=BO(+)Bllb2lb3lb4
lb5l\1b71b121b164b201b24C
1=BOlb4lb8lb9lblO(3)Blllb
l24bl3lbl44bl5lb2llb28C2=
Bll\4b161b1,1b181b194b201
b2,1b2241),31Y)251b29C3=■
1b54玩1b131b,41b251b264b27
1b281b294h01h1C4=B4lb5lb6
lb78blOlbl44屋1b204b211b22
1b234b26C5=B3l\4b114b154b
164b174b181b191■84■94b301
■1C6=現1\1b21b31八1飄1b101bi
11b181b1,21■710C7=司4b121b
134b144b151b191b31b244b25
1b264b1274屏前述したように、送信中コード
・ワードにエラーが導入される。
lb5l\1b71b121b164b201b24C
1=BOlb4lb8lb9lblO(3)Blllb
l24bl3lbl44bl5lb2llb28C2=
Bll\4b161b1,1b181b194b201
b2,1b2241),31Y)251b29C3=■
1b54玩1b131b,41b251b264b27
1b281b294h01h1C4=B4lb5lb6
lb78blOlbl44屋1b204b211b22
1b234b26C5=B3l\4b114b154b
164b174b181b191■84■94b301
■1C6=現1\1b21b31八1飄1b101bi
11b181b1,21■710C7=司4b121b
134b144b151b191b31b244b25
1b264b1274屏前述したように、送信中コード
・ワードにエラーが導入される。
シンドローム・ビット(SO〜S7)は同様な方法で表
1に表わしたHマトリクスに従い、受信したコード・ワ
ードから受信機のシンドローム・ビット発生器で作成さ
れる。シンドローム●ビット(SO−S7)はデータ●
ビットとHマトリクスの各該当する行に「×」の記入が
有るチェック●ビットとの奇数パリテイによつて決定さ
れる。受信したコード・ワードからシンドローム・ビッ
トを作成する論理等式は表4に示されており、1の印は
排他的オアを意味する。 表4 S0=BOlbllb2lδ8b41b51賜1b71
b121b161■041).41C0S1=BOlb
4lb8lb9lblOlbll4bl2lbl3lb
l4lbl5l■14■81C1S2=Bll玩4b1
64b171b181b194b201屏1b2。
1に表わしたHマトリクスに従い、受信したコード・ワ
ードから受信機のシンドローム・ビット発生器で作成さ
れる。シンドローム●ビット(SO−S7)はデータ●
ビットとHマトリクスの各該当する行に「×」の記入が
有るチェック●ビットとの奇数パリテイによつて決定さ
れる。受信したコード・ワードからシンドローム・ビッ
トを作成する論理等式は表4に示されており、1の印は
排他的オアを意味する。 表4 S0=BOlbllb2lδ8b41b51賜1b71
b121b161■041).41C0S1=BOlb
4lb8lb9lblOlbll4bl2lbl3lb
l4lbl5l■14■81C1S2=Bll玩4b1
64b171b181b194b201屏1b2。
1Y)231Y)2511)291C2
S3=■1b54b91b134bゃ1Y)251Y)
264b271b281■941)301■11C3S
4=B44b5lb6lb7lblOl貼1貼1■01
bぇ1■24■31b261C4S5=B3l賜1b1
11b154b161b171b184b191b28
1Y)291b30(+)■14C5S6=BO(f)
Bllb2lb3lb84hlblOlkgllbl3
l■21■74■01C6S7=B7lbl2lbl3
lbl4lbl54bl94■31b244b251b
,61b2,1bJ11c,従つて、この発明の目的は
単一ビット・エラーの修正及び2重ランダムエラーの検
知に加え、コード・ワードのグループの欠陥によつて生
じる修正不能エラーのすべて(同一グループ内の2ビッ
ト以上の多重エラー)を検知するためのエラー・チェッ
ク及び修正装置を提供することである。
264b271b281■941)301■11C3S
4=B44b5lb6lb7lblOl貼1貼1■01
bぇ1■24■31b261C4S5=B3l賜1b1
11b154b161b171b184b191b28
1Y)291b30(+)■14C5S6=BO(f)
Bllb2lb3lb84hlblOlkgllbl3
l■21■74■01C6S7=B7lbl2lbl3
lbl4lbl54bl94■31b244b251b
,61b2,1bJ11c,従つて、この発明の目的は
単一ビット・エラーの修正及び2重ランダムエラーの検
知に加え、コード・ワードのグループの欠陥によつて生
じる修正不能エラーのすべて(同一グループ内の2ビッ
ト以上の多重エラー)を検知するためのエラー・チェッ
ク及び修正装置を提供することである。
この発明の他の目的は回路の遅延及びハードウェアの実
行の見地から最適な設計を有する単一エラー修正・2重
エラー及び多重グループ・エラー検知のためのエラー・
チェック修正装置を提供す5ることである。次にこの発
明の実施例を添付図面とともに詳細に説明する。第1図
はモジユラ通信チャンネルを介して送信されるコード●
ワードについて、単一エラー修9正、2重エラー検知及
びグループ・エラー検知を実行するためのエラー・チェ
ック修正システムのブロック線図である。
行の見地から最適な設計を有する単一エラー修正・2重
エラー及び多重グループ・エラー検知のためのエラー・
チェック修正装置を提供す5ることである。次にこの発
明の実施例を添付図面とともに詳細に説明する。第1図
はモジユラ通信チャンネルを介して送信されるコード●
ワードについて、単一エラー修9正、2重エラー検知及
びグループ・エラー検知を実行するためのエラー・チェ
ック修正システムのブロック線図である。
ビットの群で構成されたコード・ワードを作成するため
の装置はこの実施例においてはデータ・レジスタ10と
チェック・ビット発生器12とを使用する。
の装置はこの実施例においてはデータ・レジスタ10と
チェック・ビット発生器12とを使用する。
この実施例のデータ・レジスタ10は表1に表わされて
いるように32データ・ビット(BO〜B3l)の使用
に供される。チェック・ビット発生器12は前記表3に
示したアルゴリズムに従い、表1のHマトリクスから派
生された8チェック●ビットを用意する。データ●ビッ
トとチェック・ビットとはコード・ワードを構成するた
めに合成され、この実施例では表1に示されているよう
に各グループ4ビットに分割される。モジユラ◆メモリ
ー・チャンネル装置はビットのグループとしてコード・
ワードを送信するために用意され、この実施例ではモジ
ユラ・メモリー・チャンネル11として表わされている
。
いるように32データ・ビット(BO〜B3l)の使用
に供される。チェック・ビット発生器12は前記表3に
示したアルゴリズムに従い、表1のHマトリクスから派
生された8チェック●ビットを用意する。データ●ビッ
トとチェック・ビットとはコード・ワードを構成するた
めに合成され、この実施例では表1に示されているよう
に各グループ4ビットに分割される。モジユラ◆メモリ
ー・チャンネル装置はビットのグループとしてコード・
ワードを送信するために用意され、この実施例ではモジ
ユラ・メモリー・チャンネル11として表わされている
。
ビットの送信中にコード・ワードの情報内容がゆがめら
れ、そのため、コード・ワードのエラー・チェック及び
修正が必要となる。コード・ワードの受信装置はエラー
・チェック及び修正作用を行なう装置を含めて提供され
、この実施例においては、シンドローム●ビット発生器
13、エラー検知回路1牡及びエラー位置回路5を含ん
で構成される。
れ、そのため、コード・ワードのエラー・チェック及び
修正が必要となる。コード・ワードの受信装置はエラー
・チェック及び修正作用を行なう装置を含めて提供され
、この実施例においては、シンドローム●ビット発生器
13、エラー検知回路1牡及びエラー位置回路5を含ん
で構成される。
更に、コード・ワード受信装置は受信データを登録する
ためのデータ・レジスタ17を有する。この実施例によ
る32データ●ビット及び8チエーツク・ビットから成
る受信したデータ・ワードはシンドローム・ビット発生
器13とデータ・レジスタ17とに供給される。
ためのデータ・レジスタ17を有する。この実施例によ
る32データ●ビット及び8チエーツク・ビットから成
る受信したデータ・ワードはシンドローム・ビット発生
器13とデータ・レジスタ17とに供給される。
シンドローム・ビット発生器13は前述の表4に表わさ
れているアルゴリズムによる複数のシン.ドローム・ビ
ットを発生するが、それは表1に表わされているHマト
リクスから派生される。
れているアルゴリズムによる複数のシン.ドローム・ビ
ットを発生するが、それは表1に表わされているHマト
リクスから派生される。
シンドローム●ビット発生器はSEC,.DED及びG
EDの機能を実行するためにエラー検知回路14及びエ
ラー位置回路15で使用されるシンドローム・ビットを
発生する。エラー検知回路14は単一エラーか、ランダ
ム2重エラーか、又は同一コード・ワード内の1グルー
プにある複数のビット●エラーのいずれかの検知を表示
するエラー・フラグ18を含むエラー・信号を発生する
ための装置を含んで構成される。
EDの機能を実行するためにエラー検知回路14及びエ
ラー位置回路15で使用されるシンドローム・ビットを
発生する。エラー検知回路14は単一エラーか、ランダ
ム2重エラーか、又は同一コード・ワード内の1グルー
プにある複数のビット●エラーのいずれかの検知を表示
するエラー・フラグ18を含むエラー・信号を発生する
ための装置を含んで構成される。
エラー位置回路15はシンドローム・ビット発生器に接
続され、シンドローム・ビットを受信する。エラー位置
回路15は、更にエラー検知回路装置14の出力に接続
され、エラー検知回路14のエラー●フラグ出力18か
らエラー・フラグ信号を受信する。エラー位置回路15
はデータ・レジスタ17に接続され、コード・ワードの
単一エラーを修正するように動作する。エラー検知回路
14がランダム2重エラー、又は1グループ内の複数の
エラーを示すエラー・フラグ信号を発生すると、全コー
ド・ワードは無視されてデータ・レジスク17から除去
され、他のコード・ワードが)データ・レジスタ17の
中に挿入される。第2図はチェック・ビット発生器12
の詳細を表わす。この実施例では、8個のチェック・ビ
ットが表1のように各4ビット・グループごとに分割さ
れる。32個のデータ・ビット(BO〜B3l)は・排
他的オア・ゲート20〜27に供給され、表1のHマト
リクスを基礎として表3のアルゴリズムに従い、チェッ
ク・ビットCO−C7を作成する。
続され、シンドローム・ビットを受信する。エラー位置
回路15は、更にエラー検知回路装置14の出力に接続
され、エラー検知回路14のエラー●フラグ出力18か
らエラー・フラグ信号を受信する。エラー位置回路15
はデータ・レジスタ17に接続され、コード・ワードの
単一エラーを修正するように動作する。エラー検知回路
14がランダム2重エラー、又は1グループ内の複数の
エラーを示すエラー・フラグ信号を発生すると、全コー
ド・ワードは無視されてデータ・レジスク17から除去
され、他のコード・ワードが)データ・レジスタ17の
中に挿入される。第2図はチェック・ビット発生器12
の詳細を表わす。この実施例では、8個のチェック・ビ
ットが表1のように各4ビット・グループごとに分割さ
れる。32個のデータ・ビット(BO〜B3l)は・排
他的オア・ゲート20〜27に供給され、表1のHマト
リクスを基礎として表3のアルゴリズムに従い、チェッ
ク・ビットCO−C7を作成する。
排他的オア・ゲートは奇数パリテイを作成する(チェッ
ク●ビットは入力ビットのバイナリ和ディジットである
)。例えば、チェック・ビットC1はデータ・ビットB
O,B4,B8,B9,BlO,Bll,Bl2,Bl
3,Bl4,Bl5,B2l,B28の奇数パリテイで
ある。第3図はシンドローム・ビット発生器13の詳細
を表わしたブロック線図である。
ク●ビットは入力ビットのバイナリ和ディジットである
)。例えば、チェック・ビットC1はデータ・ビットB
O,B4,B8,B9,BlO,Bll,Bl2,Bl
3,Bl4,Bl5,B2l,B28の奇数パリテイで
ある。第3図はシンドローム・ビット発生器13の詳細
を表わしたブロック線図である。
この実施例においては、32データ・ビットと8チェッ
ク●ビットとはモジユラ・メモリー・チャンネル11を
介して送信され、第3図のようにシンドローム・ビット
発生器13の40入力に供給される。シンドローム・ビ
ット発生器は排他的オア・ゲート30〜37を含み、表
1のHマトリクスを基礎として表4のアルゴリズムに従
い、シンドローム●ビットSO〜S7を作成する。排他
的オア・ゲート30〜37は表1のHマトリクスの該当
する行及び列の「X」の記入に従つて、チェック●ビッ
トと入力データ・ビットとの寄数パリテイを作成する。
例えば、シンドローム・ビットS1はデータ●ビットB
O,B4,B8,B9,BlO,Bll,Bl2,Bl
3,Bl4,Bl5,B2l,B2&s及びC1の奇数
パリテイである。工ラー検知回路14はシンドローム◆
ビット発生器13の出力に接続されている第1の回路装
置を有し、シンドローム・ビットの情報内容がコード・
ワードの送信中にエラーを検知したことを表示した場合
に、エラー信号を発生する。
ク●ビットとはモジユラ・メモリー・チャンネル11を
介して送信され、第3図のようにシンドローム・ビット
発生器13の40入力に供給される。シンドローム・ビ
ット発生器は排他的オア・ゲート30〜37を含み、表
1のHマトリクスを基礎として表4のアルゴリズムに従
い、シンドローム●ビットSO〜S7を作成する。排他
的オア・ゲート30〜37は表1のHマトリクスの該当
する行及び列の「X」の記入に従つて、チェック●ビッ
トと入力データ・ビットとの寄数パリテイを作成する。
例えば、シンドローム・ビットS1はデータ●ビットB
O,B4,B8,B9,BlO,Bll,Bl2,Bl
3,Bl4,Bl5,B2l,B2&s及びC1の奇数
パリテイである。工ラー検知回路14はシンドローム◆
ビット発生器13の出力に接続されている第1の回路装
置を有し、シンドローム・ビットの情報内容がコード・
ワードの送信中にエラーを検知したことを表示した場合
に、エラー信号を発生する。
この実施例においては、その回路装置は、第4図のよう
に、シンドローム・ビットSO−S7の供給を受けるオ
ア・ゲートとして表わされている。修正可能エラー又は
修正不能エラーのいずれかが導入されると、ノン・ゼロ
・シンドローム・ビットが生成され、それがオア回路4
0で検知されて出力端子18aにエラー信号を出力する
。エラー検知回路14には、更にシンドローム●ビット
発生装置13に接続されている第2の回路装置を有し、
シンドローム・ビットの情報内容がランダム2重エラー
又はコード・ワードの1グループ内の偶数エラーが検知
されたことを表示している場合はエラー信号を発生する
。
に、シンドローム・ビットSO−S7の供給を受けるオ
ア・ゲートとして表わされている。修正可能エラー又は
修正不能エラーのいずれかが導入されると、ノン・ゼロ
・シンドローム・ビットが生成され、それがオア回路4
0で検知されて出力端子18aにエラー信号を出力する
。エラー検知回路14には、更にシンドローム●ビット
発生装置13に接続されている第2の回路装置を有し、
シンドローム・ビットの情報内容がランダム2重エラー
又はコード・ワードの1グループ内の偶数エラーが検知
されたことを表示している場合はエラー信号を発生する
。
第2の回路装置は、この実施例では、入力SO−S7を
有する排他的オア・ゲート41として表わされている。
排他的オア・ゲート41の出力はインバータ42の入力
に接続され、次いでアンド・ゲート43の入力へ接続さ
れる。アンド・ゲート43の第2の入力はオア・ゲート
40の出力へ接続される。第2の回路装置は排他的オア
・ゲート41、インバータ42、アンド・ゲート43を
含み、オア・ゲート40と協動してランダム2重エラー
、グループ内の2重エラー、グループ内の4重エラー等
の修正不能エラーをチェックする。これら修正不能エラ
ーはすべてシンドローム●ビットSO〜S7のパターン
内における偶数のトルー●シンドローム・ビットで表示
されるものである。この型のエラーはアンド・ゲート4
3の出力に表われ、そこからオア・ゲート48の入力を
介して出力端子18bに供給され、受信装置で受信した
データが使用不能であることを指示するためにエラー信
号を発生する。シンドローム・ビット発生器13の出力
に接続されている第3の回路装置はシンドローム・ビッ
トの情報内容がコード・ワードの同一グループ内に複数
エラーを検知したことを表示した場合に信号を発生する
。
有する排他的オア・ゲート41として表わされている。
排他的オア・ゲート41の出力はインバータ42の入力
に接続され、次いでアンド・ゲート43の入力へ接続さ
れる。アンド・ゲート43の第2の入力はオア・ゲート
40の出力へ接続される。第2の回路装置は排他的オア
・ゲート41、インバータ42、アンド・ゲート43を
含み、オア・ゲート40と協動してランダム2重エラー
、グループ内の2重エラー、グループ内の4重エラー等
の修正不能エラーをチェックする。これら修正不能エラ
ーはすべてシンドローム●ビットSO〜S7のパターン
内における偶数のトルー●シンドローム・ビットで表示
されるものである。この型のエラーはアンド・ゲート4
3の出力に表われ、そこからオア・ゲート48の入力を
介して出力端子18bに供給され、受信装置で受信した
データが使用不能であることを指示するためにエラー信
号を発生する。シンドローム・ビット発生器13の出力
に接続されている第3の回路装置はシンドローム・ビッ
トの情報内容がコード・ワードの同一グループ内に複数
エラーを検知したことを表示した場合に信号を発生する
。
このの実施例では第3の回路装置は3重エラーの検知を
行なう。しかし、この発明においては、第3の回路装置
は当業者がそれを使用して各グループに希望するビット
数を有するコード●ワードの同一グループ内のビットに
1より多い奇数エラーが発生したような場合にそれを検
知しうるように使用することができるということを知る
べきである。この実施例では、第3の回路装置はオア・
ゲート45の入力に接続されている出力を有するアンド
・ゲート44a,44b,44c,44dとオア・ゲー
ト47の入力に接続されている出力を有するアンド・ゲ
ート46a,46b,46c,46dとを包含し、オア
・ゲート47の出力はオア・ゲート48の入力に供給さ
れる。第3の回路装置に含まれるアンド・ゲート44a
〜44d及びオア・ゲート45は最初の4シンドローム
位置(SO,Sl,S2,S3)の中に位置付けされて
いる3ビットのトルー・シンドローム・ビットを含む3
ビット又は5ビットのシンドローム・ビットを有するこ
とによつて表わされる1グループ内のデータ・ビット又
は1グループ内のチェック・ビットの3重エラーを検知
する。
行なう。しかし、この発明においては、第3の回路装置
は当業者がそれを使用して各グループに希望するビット
数を有するコード●ワードの同一グループ内のビットに
1より多い奇数エラーが発生したような場合にそれを検
知しうるように使用することができるということを知る
べきである。この実施例では、第3の回路装置はオア・
ゲート45の入力に接続されている出力を有するアンド
・ゲート44a,44b,44c,44dとオア・ゲー
ト47の入力に接続されている出力を有するアンド・ゲ
ート46a,46b,46c,46dとを包含し、オア
・ゲート47の出力はオア・ゲート48の入力に供給さ
れる。第3の回路装置に含まれるアンド・ゲート44a
〜44d及びオア・ゲート45は最初の4シンドローム
位置(SO,Sl,S2,S3)の中に位置付けされて
いる3ビットのトルー・シンドローム・ビットを含む3
ビット又は5ビットのシンドローム・ビットを有するこ
とによつて表わされる1グループ内のデータ・ビット又
は1グループ内のチェック・ビットの3重エラーを検知
する。
同様にして、アンド・ゲート46a〜46bとオア・ゲ
ート47との組合せは最後の4シンドローム位置(S4
,S5,S6,S7)に位置付けされている3ビットの
トルー◆シンドローム●ビットから成る3ビット又は5
ビットのシンドローム●ビットを有することによつて表
わされるすべてのデータ・ビット●グループ又はチェッ
ク●ビット●グループの3重エラーを検知する。すべて
の1グループ内の3重エラーはこの発明では修正不能で
あり、アンド・ゲート43の出力同様オア・ゲート45
及びオア・ゲート47の出力はオア・ゲート48を介し
て出力端子】8bに送信され、受信装置で受信したデー
タが使用不能であるということが表示さjれる。そし、
エラー検知がエラー信号(フラグ)出力端子18aから
の出力信号によつてのみ検知され、エラー(フラグ)出
力端子18bではエラーが検知されない場合、そのエラ
ーは修正可能単一エラーであることを表示する。その場
合はインiバータ49が制御信号を発生し、第5図で詳
細に表わすようにエラー位置回路15を可能化する。エ
ラー位置回路15は32のデータ・ビットの各1つに該
当する複数のアンド・ゲート50(BO〜B3l)と、
チェック・ビットCO−C7の各1つ月こ該当する第2
の複数のアンド・ゲート52とを有する。1対のアンド
・ゲート51はその入力に負性シンドローム・ビットが
接続される。
ート47との組合せは最後の4シンドローム位置(S4
,S5,S6,S7)に位置付けされている3ビットの
トルー◆シンドローム●ビットから成る3ビット又は5
ビットのシンドローム●ビットを有することによつて表
わされるすべてのデータ・ビット●グループ又はチェッ
ク●ビット●グループの3重エラーを検知する。すべて
の1グループ内の3重エラーはこの発明では修正不能で
あり、アンド・ゲート43の出力同様オア・ゲート45
及びオア・ゲート47の出力はオア・ゲート48を介し
て出力端子】8bに送信され、受信装置で受信したデー
タが使用不能であるということが表示さjれる。そし、
エラー検知がエラー信号(フラグ)出力端子18aから
の出力信号によつてのみ検知され、エラー(フラグ)出
力端子18bではエラーが検知されない場合、そのエラ
ーは修正可能単一エラーであることを表示する。その場
合はインiバータ49が制御信号を発生し、第5図で詳
細に表わすようにエラー位置回路15を可能化する。エ
ラー位置回路15は32のデータ・ビットの各1つに該
当する複数のアンド・ゲート50(BO〜B3l)と、
チェック・ビットCO−C7の各1つ月こ該当する第2
の複数のアンド・ゲート52とを有する。1対のアンド
・ゲート51はその入力に負性シンドローム・ビットが
接続される。
出力端子18Cはアンド・ゲート50,52の各入力に
接続され、修正不能ランダム2重エラーか又はコード●
ワードのグループ内に2ビット以上の多重ビットのエラ
ーが検知された場合に、アンド・ゲート50,52を不
能化し、コード・ワードのデータを使用不能にする。
接続され、修正不能ランダム2重エラーか又はコード●
ワードのグループ内に2ビット以上の多重ビットのエラ
ーが検知された場合に、アンド・ゲート50,52を不
能化し、コード・ワードのデータを使用不能にする。
エラー信号が端子18aの出力にのみ現われ、端子18
bの信号に表われない場合には、前述したようにそれは
単一エラーであることを表示する。
bの信号に表われない場合には、前述したようにそれは
単一エラーであることを表示する。
その場合、インバータ49は出力信号を発生し、エラー
位置回路のアンド・ゲート50,52を可能化する。ビ
ットの欠陥はHマトリクスの特定の列と一致してシンド
ローム・ビットを生じさせるはすであるから単一エラー
の修正が可能となる。データ・ビットに単一エラーが発
生すると3シンドローム・ビットはトルーとなる。例え
ば、ビットBOの欠陥はSOSlS2S3S4S5S6
S7=11000010のシンドローム・パターンで表
わされる。第5図のエラー位置回路をみると、複数のア
ンド・ゲート50の最初のアンド・ゲートはこのシンド
ローム・ビット、すなわちSO=S1=S6=1に合致
する。これがデータ・レジスタに修正信,号を発生し、
エラーと認められたデータ・ビットBOの極性を反転す
る。同様にして、チェック●ビットCO〜C7の1つに
単一エラーが発生した場合は1つのシンドローム・ビッ
トのみがトルーとなる。
位置回路のアンド・ゲート50,52を可能化する。ビ
ットの欠陥はHマトリクスの特定の列と一致してシンド
ローム・ビットを生じさせるはすであるから単一エラー
の修正が可能となる。データ・ビットに単一エラーが発
生すると3シンドローム・ビットはトルーとなる。例え
ば、ビットBOの欠陥はSOSlS2S3S4S5S6
S7=11000010のシンドローム・パターンで表
わされる。第5図のエラー位置回路をみると、複数のア
ンド・ゲート50の最初のアンド・ゲートはこのシンド
ローム・ビット、すなわちSO=S1=S6=1に合致
する。これがデータ・レジスタに修正信,号を発生し、
エラーと認められたデータ・ビットBOの極性を反転す
る。同様にして、チェック●ビットCO〜C7の1つに
単一エラーが発生した場合は1つのシンドローム・ビッ
トのみがトルーとなる。
複数のアンド・ゲート51,52は不正なチェック・ビ
ットを確認し、データ・レジスタ17へ修正信号を送り
、エラーのチェック・ビットの極性を反転させる機能を
有する。エラー位置回路15の出力は、それによつてデ
ータ・レジスタ17にあるコード・ワ.ードの単一エラ
ーを修正する。この発明のシンドローム●パターンに従
い、エラーが検知されない場合は受信したデータの使用
を許し、単一エラーが検知された場合はエラー位置回路
15を可能化してデータ・レジスタに単一エラーの修正
を行なわせる。
ットを確認し、データ・レジスタ17へ修正信号を送り
、エラーのチェック・ビットの極性を反転させる機能を
有する。エラー位置回路15の出力は、それによつてデ
ータ・レジスタ17にあるコード・ワ.ードの単一エラ
ーを修正する。この発明のシンドローム●パターンに従
い、エラーが検知されない場合は受信したデータの使用
を許し、単一エラーが検知された場合はエラー位置回路
15を可能化してデータ・レジスタに単一エラーの修正
を行なわせる。
この発明は、更にエラー・フラグ出力端子18bにエラ
ー・フラグ信号を供給し、ランダム2重エラー又は同一
グループ内のビットに2重ビット以上の多重エラーが検
知された場合にそのコード・ワードを含む受信コード・
ワードの使用を禁止する。以上述べたところから明らか
なように、この発明は以上述べた実施例のみに限定する
ものではなく各種変更可能であり、初期の効果を得るこ
とが可能である。
ー・フラグ信号を供給し、ランダム2重エラー又は同一
グループ内のビットに2重ビット以上の多重エラーが検
知された場合にそのコード・ワードを含む受信コード・
ワードの使用を禁止する。以上述べたところから明らか
なように、この発明は以上述べた実施例のみに限定する
ものではなく各種変更可能であり、初期の効果を得るこ
とが可能である。
第1図はこの発明によるシステムのブロック線図、第2
図はチェック・ビット発生器のブロック線図、第3図は
シンドローム・ビット発生器のブロック線図、第4図は
エラー検知回路のブロック線図、第5図はエラー位置回
路のブロック線図である。 10・・・・・・データ・レジスタ、11・・・・・・
モジユラ●メモリー・チャンネル、12・・・・・・チ
ェック・ビット発生器、13・・・・・ウンドローム◆
ビット発生器、14・・・・・・エラー検知回路、15
・・・・・・エラー位置回路、17・・・・・・データ
・レジスタ、20〜27,30〜37,41・・・・・
・排他的オア・ゲート、40,45,47,48・・・
・・・オア・ゲート、42,49・・・・インバータ、
43,44a〜44d,46a〜46d,500〜50
31,51a,51b,52a〜52h・・・・・・ア
ンド・ゲート。
図はチェック・ビット発生器のブロック線図、第3図は
シンドローム・ビット発生器のブロック線図、第4図は
エラー検知回路のブロック線図、第5図はエラー位置回
路のブロック線図である。 10・・・・・・データ・レジスタ、11・・・・・・
モジユラ●メモリー・チャンネル、12・・・・・・チ
ェック・ビット発生器、13・・・・・ウンドローム◆
ビット発生器、14・・・・・・エラー検知回路、15
・・・・・・エラー位置回路、17・・・・・・データ
・レジスタ、20〜27,30〜37,41・・・・・
・排他的オア・ゲート、40,45,47,48・・・
・・・オア・ゲート、42,49・・・・インバータ、
43,44a〜44d,46a〜46d,500〜50
31,51a,51b,52a〜52h・・・・・・ア
ンド・ゲート。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 ビットのグループからなるコード・ワードを発生す
る発生装置と、前記コード・ワード発生装置に接続され
、前記ビットのグループで前記コード・ワードを送信す
るモジユラ・メモリー・チャンネル装置と、前記コード
・ワード内で検知された単一エラーの修正を行うための
装置を含む前記コード・ワードの受信装置と、前記コー
ド・ワード内における2つのランダム・エラー及び前記
コード・ワードのいずれか1グループ内における2ビッ
ト以上の多重エラーを検知するエラー検知装置とからな
り、モジユラ通信チャンネルを使用して送信する前記コ
ード・ワードのグループ内における2ビット以上の多重
エラーの検知、2つのランダム・エラーの検知及び単一
エラーの修正を行うようにしたエラー・チェック修正シ
ステム。 2 単一エラーの修正、2つのランダム・エラー及びグ
ループ内多重エラーの検知を行うシステムであつて、コ
ード・ワードを受信して複数のシンドローム・ビットを
発生する発生手段と、前記発生手段の出力に接続され前
記シンドローム・ビットの情報内容が前記コード・ワー
ドの送信におけるエラーの検知を表示した場合に第1の
エラー信号を発生する第1の回路手段と、前記発生手段
の出力に接続され前記シンドローム・ビットの情報内容
が前記コード・ワードにおける2つのランダム・エラー
の検知又は前記コード・ワードの複数の情報グループの
1つにおける2より多い偶数のエラーの検知を表示した
場合に第2のエラー信号を発生する第2の回路手段と、
前記発生手段の出力に接続され前記シンドローム・ビッ
トの情報内容が前記複数の情報グループの1つにおける
1より多い奇数のエラーの検知を表示した場合に第3の
エラー信号を発生する第3の回路手段と、前記発生手段
と前記第1、第2及び第3の回路手段との電気通信にお
いて前記コード・ワードの単一エラーの検知に応答して
エラー修正を行うエラー位置決め回路手段とを含み、前
記単一エラーの修正、2つのランダム・エラーの検知、
及び複数の情報グループ及びチェック・ビットを有する
コード・ワードの1グループ内の2ビット以上の多重エ
ラーの検知を行うようにしたエラー・チェック修正シス
テム。 3 前記第1の回路手段は前記発生手段の出力に接続さ
れ前記第1のエラー信号を発生するオア・ゲート手段を
含む特許請求の範囲第2項記載のシステム。 4 前記第2の回路手段は前記発生手段の出力に接続さ
れ前記第2のエラー信号を発生する排他的オア・ゲート
手段を含む特許請求の範囲第2項記載のシステム。 5 前記第3の回路手段はアンド・ゲート手段及びオア
・ゲート手段を含み、前記アンド・ゲート手段は前記発
生手段に接続された入力と前記オア・ゲート手段に接続
された出力とを持ち、前記オア・ゲート手段は第1及び
第2の出力を持ち、該第1の出力は前記第3のエラー信
号を供給給し、該第2の出力は前記エラー位置決め回路
手段に接続され前記第3のエラー信号に応答して前記エ
ラー位置決め回路手段を作動不能にする特許請求の範囲
第2項記載のシステム。 6 前記第2の回路手段は前記発生手段の出力に接続さ
れ前記第2のエラー信号を発生する排他的オア・ゲート
手段を含み、前記第3の回路手段はアンド・ゲート手段
及びオア・ゲート手段を含み、前記アンド・ゲート手段
及び前記排他的オア・ゲート手段は前記オア・ゲート手
段の入力に接続された出力を持ち、前記オア・ゲート手
段は第1及び第2の出力を持ち、該第1の出力は前記シ
ンドローム・ビットの情報内容が前記2つのランダム・
エラーの検知又は前記複数のグループの1つにおける2
ビット以上の多重エラーの検知を示した場合にエラー信
号を供給し、該第2の出力は前記エラー位置決め回路手
段に接続され前記2つのランダム・エラー又は前記多重
エラーが検知された場合に前記エラー位置決め回路手段
を作動不能にする特許請求の範囲第2項記載のシステム
。 7 前記第3の回路手段及び前記エラー位置決め回路手
段と電気通信するオア・ゲート手段を含み、該オア・ゲ
ート手段は第1及び第2の出力を持ち、該第1の出力は
前記第3のエラー信号を供給し、該第2の出力は前記第
3のエラー信号に応答して前記エラー位置決め回路手段
を作動不能にする特許請求の範囲第2項記載ののシステ
ム。 8 前記第2の回路手段は前記発生手段の出力に接続さ
れ前記第2のエラー信号を発生する排他的オア・ゲート
手段を含む、前記第2の回路手段の出力と前記第3の回
路手段の出力に接続されたオア・ゲート手段は第1及び
第2の出力を持ち、該第1の出力は前記シンドローム・
ビットの情報内容が前記2つのランダム・エラーの検知
又は前記複数のグループの1つにおける2ビット以上の
多重エラーの検知を示した場合第1の表示を発生し、該
第2の出力は反転され前記エラー信号位置決め回路手段
に接続され前記エラーの表示に応答して前記エラー位置
決め回路手段を作動不能にする特許請求の範囲第2項記
載のシステム。 9 情報ビット流を受信したチェック・ビットを供給し
てHマトリクスに従い複数のビット・グループのコード
・ワードを形成する第1の発生手段と、前記第1の発生
手段と電気的に通信し前記Hマトリクスに従い前記コー
ド・ワードを処理してシンドローム・ビットを供給する
第2の発生手段と、前記シンドローム・ビットに応答し
、前記第1の発生手段と電気的に通信し、単一エラーを
修正し、複数ビット・グループの1つに発生した2ビッ
ト以上の多重エラーの検知及び2つのランダム・エラー
の検知を表示するロジック手段とを含み、前記Hマトリ
クスは前記複数ビット・グループの境界に対応して分割
され、単一エラーの検知の場合は前記コード・ワードを
修正しうるようにパターン化され、前記コード・ワード
における2つのランダム・エラーの検知及び前記複数ビ
ット・グループの1つに発生した2ビット以上の多重エ
ラーの検知をなしうるようにパターン化されたビット構
造を持つことを特徴とするエラー・チェック修正システ
ム。 10 前記第1の発生手段は複数の排他的オア・ゲート
を含み、前記Hマトリクスに従い情報ビットの所定の組
合せの奇数パリテイ・バイナリ加算に基づきチェック・
ビットを供給するようにした特許請求の範囲第9項記載
のシステム。 11 前記第2の発生手段は複数の排他的オア・ゲート
を含み、前記Hマトリクスに従い情報ビット及びチェッ
ク・ビットの所定の組合せの奇数パリテイ・バイナリ加
算に基づきシンドローム・ビットを供給するようにした
特許請求の範囲第8項記載のシステム。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US05/695,494 US4077028A (en) | 1976-06-14 | 1976-06-14 | Error checking and correcting device |
US695494 | 1991-05-02 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5325330A JPS5325330A (en) | 1978-03-09 |
JPS6041770B2 true JPS6041770B2 (ja) | 1985-09-18 |
Family
ID=24793230
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP52064968A Expired JPS6041770B2 (ja) | 1976-06-14 | 1977-06-03 | エラ−・チェック修正システム |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4077028A (ja) |
JP (1) | JPS6041770B2 (ja) |
CA (1) | CA1074919A (ja) |
DE (1) | DE2724409C2 (ja) |
FR (1) | FR2375658A1 (ja) |
GB (1) | GB1576627A (ja) |
Families Citing this family (44)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS53142105A (en) * | 1977-05-18 | 1978-12-11 | Sony Corp | Code transmission system |
JPS5848939B2 (ja) * | 1977-12-23 | 1983-11-01 | 富士通株式会社 | エラ−訂正処理装置 |
US4163147A (en) * | 1978-01-20 | 1979-07-31 | Sperry Rand Corporation | Double bit error correction using double bit complementing |
US4191970A (en) * | 1978-05-15 | 1980-03-04 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Interframe coder for video signals |
US4236247A (en) * | 1979-01-15 | 1980-11-25 | Organisation Europeene De Recherches Spatiales | Apparatus for correcting multiple errors in data words read from a memory |
US4277844A (en) * | 1979-07-26 | 1981-07-07 | Storage Technology Corporation | Method of detecting and correcting errors in digital data storage systems |
US4355391A (en) * | 1980-03-31 | 1982-10-19 | Texas Instruments Incorporated | Apparatus and method of error detection and/or correction in a data set |
US4335459A (en) * | 1980-05-20 | 1982-06-15 | Miller Richard L | Single chip random access memory with increased yield and reliability |
US4345328A (en) * | 1980-06-30 | 1982-08-17 | Sperry Corporation | ECC Check bit generation using through checking parity bits |
US4384353A (en) * | 1981-02-19 | 1983-05-17 | Fairchild Camera And Instrument Corp. | Method and means for internal error check in a digital memory |
US4417339A (en) * | 1981-06-22 | 1983-11-22 | Burroughs Corporation | Fault tolerant error correction circuit |
NL8104342A (nl) * | 1981-09-21 | 1983-04-18 | Philips Nv | Rekenmachinesysteem, gebaseerd op een symboolkorrigerende kode met twee werkmodes. |
JPS5878241A (ja) * | 1981-11-04 | 1983-05-11 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 符号化デ−タの誤り検出訂正方式 |
DE3177013D1 (en) * | 1981-12-30 | 1989-04-20 | Ibm | Two bit per symbol sec/ded code |
US4464753A (en) * | 1981-12-30 | 1984-08-07 | International Business Machines Corporation | Two bit symbol SEC/DED code |
US4531213A (en) * | 1982-03-03 | 1985-07-23 | Sperry Corporation | Memory through checking system with comparison of data word parity before and after ECC processing |
FR2528613B1 (fr) * | 1982-06-09 | 1991-09-20 | Hitachi Ltd | Memoire a semi-conducteurs |
US4509172A (en) * | 1982-09-28 | 1985-04-02 | International Business Machines Corporation | Double error correction - triple error detection code |
NL8403147A (nl) * | 1984-10-16 | 1986-05-16 | Philips Nv | Dataverwerkingssysteem dat is opgebouwd uit drie dataverwerkingsmodules. |
JPH0760394B2 (ja) * | 1986-12-18 | 1995-06-28 | 株式会社日立製作所 | 誤り訂正・検出方式 |
JPH0821238B2 (ja) * | 1987-11-12 | 1996-03-04 | 三菱電機株式会社 | 半導体記憶装置 |
US4918695A (en) * | 1988-08-30 | 1990-04-17 | Unisys Corporation | Failure detection for partial write operations for memories |
US5014273A (en) * | 1989-01-27 | 1991-05-07 | Digital Equipment Corporation | Bad data algorithm |
US5291498A (en) * | 1991-01-29 | 1994-03-01 | Convex Computer Corporation | Error detecting method and apparatus for computer memory having multi-bit output memory circuits |
DE4300025C1 (de) * | 1993-01-02 | 1994-01-27 | Macrotek Ges Fuer Integrierte | Verfahren und Einrichtung zur fehlercodierenden Datenübertragung |
US5592404A (en) * | 1993-11-04 | 1997-01-07 | Cirrus Logic, Inc. | Versatile error correction system |
US5481566A (en) * | 1993-12-29 | 1996-01-02 | At&T Corp. | Method and apparatus to increase efficiency of systematic codes |
US5754563A (en) * | 1995-09-11 | 1998-05-19 | Ecc Technologies, Inc. | Byte-parallel system for implementing reed-solomon error-correcting codes |
SG76501A1 (en) * | 1996-02-28 | 2000-11-21 | Sun Microsystems Inc | Error detection and correction method and apparatus for computer memory |
US6308295B1 (en) | 1996-10-08 | 2001-10-23 | Arizona Board Of Regents | Parallel spectral reed-solomon encoder and decoder |
US6119248A (en) * | 1998-01-26 | 2000-09-12 | Dell Usa L.P. | Operating system notification of correctable error in computer information |
US6134684A (en) * | 1998-02-25 | 2000-10-17 | International Business Machines Corporation | Method and system for error detection in test units utilizing pseudo-random data |
US6738942B1 (en) | 2000-06-02 | 2004-05-18 | Vitesse Semiconductor Corporation | Product code based forward error correction system |
US6694476B1 (en) | 2000-06-02 | 2004-02-17 | Vitesse Semiconductor Corporation | Reed-solomon encoder and decoder |
JP2006179131A (ja) * | 2004-12-22 | 2006-07-06 | Fujitsu Ltd | メモリシステム及び半導体記憶装置 |
US7653862B2 (en) * | 2005-06-15 | 2010-01-26 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Error detection and correction for encoded data |
US20070050668A1 (en) * | 2005-09-01 | 2007-03-01 | Micron Technology, Inc. | Test mode to force generation of all possible correction codes in an ECC memory |
US7702988B2 (en) * | 2005-10-24 | 2010-04-20 | Platform Computing Corporation | Systems and methods for message encoding and decoding |
US7751486B2 (en) * | 2006-05-19 | 2010-07-06 | Platform Computing Corporation | Systems and methods for transmitting data |
US7949931B2 (en) * | 2007-01-02 | 2011-05-24 | International Business Machines Corporation | Systems and methods for error detection in a memory system |
CN101442319B (zh) * | 2008-11-25 | 2011-04-06 | 西安电子科技大学 | 基于双对角准循环移位ldpc码校验矩阵的编码器 |
US8255773B2 (en) * | 2009-06-29 | 2012-08-28 | Sandisk Technologies Inc. | System and method of tracking error data within a storage device |
JP5581969B2 (ja) * | 2010-10-27 | 2014-09-03 | ソニー株式会社 | 復号装置および方法、並びにプログラム |
US11443827B2 (en) * | 2021-01-13 | 2022-09-13 | Winbond Electronics Corp. | Memory device and method for error detection |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3562709A (en) * | 1968-09-12 | 1971-02-09 | Rca Corp | Correction of block errors in transmission of data |
US3697948A (en) * | 1970-12-18 | 1972-10-10 | Ibm | Apparatus for correcting two groups of multiple errors |
US3745525A (en) * | 1971-12-15 | 1973-07-10 | Ibm | Error correcting system |
US3745526A (en) * | 1971-12-20 | 1973-07-10 | Ibm | Shift register error correcting system |
US3893071A (en) * | 1974-08-19 | 1975-07-01 | Ibm | Multi level error correction system for high density memory |
-
1976
- 1976-06-14 US US05/695,494 patent/US4077028A/en not_active Expired - Lifetime
-
1977
- 1977-04-25 CA CA276,907A patent/CA1074919A/en not_active Expired
- 1977-05-25 GB GB22039/77A patent/GB1576627A/en not_active Expired
- 1977-05-28 DE DE2724409A patent/DE2724409C2/de not_active Expired
- 1977-06-03 JP JP52064968A patent/JPS6041770B2/ja not_active Expired
- 1977-06-14 FR FR7718162A patent/FR2375658A1/fr active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2724409C2 (de) | 1986-07-03 |
JPS5325330A (en) | 1978-03-09 |
CA1074919A (en) | 1980-04-01 |
FR2375658A1 (fr) | 1978-07-21 |
DE2724409A1 (de) | 1977-12-22 |
GB1576627A (en) | 1980-10-08 |
US4077028A (en) | 1978-02-28 |
FR2375658B1 (ja) | 1982-10-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS6041770B2 (ja) | エラ−・チェック修正システム | |
US6799287B1 (en) | Method and apparatus for verifying error correcting codes | |
US6453440B1 (en) | System and method for detecting double-bit errors and for correcting errors due to component failures | |
CA1265253A (en) | Self-checking error-correcting encoder/decoder | |
US7149947B1 (en) | Method of and system for validating an error correction code and parity information associated with a data word | |
EP0031183B1 (en) | Multi-processor computer system | |
US6044483A (en) | Error propagation operating mode for error correcting code retrofit apparatus | |
US6301680B1 (en) | Technique for correcting single-bit errors and detecting paired double-bit errors | |
US5768294A (en) | Memory implemented error detection and correction code capable of detecting errors in fetching data from a wrong address | |
EP0176218B1 (en) | Error correcting system | |
US5774481A (en) | Reduced gate error detection and correction circuit | |
JPS63197124A (ja) | 誤り検査システム | |
JPH06324951A (ja) | 誤り検査/訂正機能を有するコンピュータ・システム | |
US5751745A (en) | Memory implemented error detection and correction code with address parity bits | |
US3688265A (en) | Error-free decoding for failure-tolerant memories | |
KR850004675A (ko) | 오차교정 및 검출 시스템 | |
US10824507B2 (en) | Semiconductor memory device, controller, and memory system | |
US5761221A (en) | Memory implemented error detection and correction code using memory modules | |
US3622984A (en) | Error correcting system and method | |
US3766521A (en) | Multiple b-adjacent group error correction and detection codes and self-checking translators therefor | |
US6463563B1 (en) | Single symbol correction double symbol detection code employing a modular H-matrix | |
Subhasri et al. | VLSI design of parity check code with hamming code for error detection and correction | |
EP0310220B1 (en) | An apparatus useful for correction of single bit errors and detection of double bit errors in the transmission of data | |
US12212338B1 (en) | Syndrome decoder circuit | |
RU2297032C2 (ru) | Самокорректирующееся запоминающее устройство |