JPS6019101A - ビ−ムスプリツタ - Google Patents
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- JPS6019101A JPS6019101A JP58127151A JP12715183A JPS6019101A JP S6019101 A JPS6019101 A JP S6019101A JP 58127151 A JP58127151 A JP 58127151A JP 12715183 A JP12715183 A JP 12715183A JP S6019101 A JPS6019101 A JP S6019101A
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/10—Beam splitting or combining systems
- G02B27/106—Beam splitting or combining systems for splitting or combining a plurality of identical beams or images, e.g. image replication
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/10—Beam splitting or combining systems
- G02B27/14—Beam splitting or combining systems operating by reflection only
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- G—PHYSICS
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- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/10—Beam splitting or combining systems
- G02B27/14—Beam splitting or combining systems operating by reflection only
- G02B27/144—Beam splitting or combining systems operating by reflection only using partially transparent surfaces without spectral selectivity
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
- Optical Filters (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、光を分割゛ジるビームスシリツタ(5゛関し
、特に、1木の入射光を分割し、2本以上の平行な光ビ
ームを出射させるビームスプリッタに関 ′する。
、特に、1木の入射光を分割し、2本以上の平行な光ビ
ームを出射させるビームスプリッタに関 ′する。
従来、この秒のビームスブリックどしては、(1)第1
図に示すようなビームスプリッタかあった(特開昭49
−119643号)。づ4丁わら、平面鏡1と半透明鏡
2を適当な間隔で配置し、入射光3を出射光41〜43
の3木に分割したビームスプリッタ、さらに、(2)第
2図に示ずようなビームスプリッタがあった(米国特許
第4,125.8(i4号)。
図に示すようなビームスプリッタかあった(特開昭49
−119643号)。づ4丁わら、平面鏡1と半透明鏡
2を適当な間隔で配置し、入射光3を出射光41〜43
の3木に分割したビームスプリッタ、さらに、(2)第
2図に示ずようなビームスプリッタがあった(米国特許
第4,125.8(i4号)。
すなわち、互いに平行な一対の側面51.!i2をfj
リ−る透光性基材6の一方の側面51に反則膜を被覆し
。
リ−る透光性基材6の一方の側面51に反則膜を被覆し
。
他方の側面52に、2本以上に分割された出射光の強度
が互いに等しくなるように、出射光数に智し7い故の出
射領域X1−・×6に分けて、それぞれ膜特性の相異る
半透過膜を被覆し、入射光3を出射光71〜7Gの6本
に分割したビームスプリッタ、等が知られていた。
が互いに等しくなるように、出射光数に智し7い故の出
射領域X1−・×6に分けて、それぞれ膜特性の相異る
半透過膜を被覆し、入射光3を出射光71〜7Gの6本
に分割したビームスプリッタ、等が知られていた。
しかしながら、(1)のビームスプリッタは、装貿が大
型になり、製造原価が高価になるばかりでなく、分割さ
れた出射光の形状及び相互の平行度の各精瓜を上げるこ
とが困難であるなどの欠点があ一部だ。また(2)のビ
ームスプリッタは、膜特性の相異る半透過膜を−、の出
射光に対して、−の出射f14 域に被覆4ることから
、出射光が各出射領域の隣接する膜の境界を横切らない
ように、各領域に被覆される半透過膜の位置合わせ精度
を、充分に高くしなければならない欠点があった。次に
、−出射領域に一山射光しか存在しないため、各出射光
の出射光量を所望の値以上に保たせるべく、各出射領域
に被覆された半透過膜の膜構成を、所望する出射光の数
の全゛Cについて考慮しなければならない欠点があった
。さらに、前記欠点のために、製造工程が煩雑になり、
製造歩留が悪化する欠点もあった。
型になり、製造原価が高価になるばかりでなく、分割さ
れた出射光の形状及び相互の平行度の各精瓜を上げるこ
とが困難であるなどの欠点があ一部だ。また(2)のビ
ームスプリッタは、膜特性の相異る半透過膜を−、の出
射光に対して、−の出射f14 域に被覆4ることから
、出射光が各出射領域の隣接する膜の境界を横切らない
ように、各領域に被覆される半透過膜の位置合わせ精度
を、充分に高くしなければならない欠点があった。次に
、−出射領域に一山射光しか存在しないため、各出射光
の出射光量を所望の値以上に保たせるべく、各出射領域
に被覆された半透過膜の膜構成を、所望する出射光の数
の全゛Cについて考慮しなければならない欠点があった
。さらに、前記欠点のために、製造工程が煩雑になり、
製造歩留が悪化する欠点もあった。
本発明は、前記欠点を除去するためになされIこもので
、詳しくはガラス基体等の透光性基体の対向する一対の
側面の一方の側面を、出射光の数より少ない数の領域に
分割し、その8領域に所望りる出射光量を得る半透過膜
を被覆し、2番目以後の半透過膜より出射する最先の出
射光の出射光mが、直前の半透過膜より出射する最後の
出射光の出射光量以上であることにより、所望する出自
・1光量を容易に保持すること、また各領域に被111
゜る半透過膜の位置合わせを容易にし、製造工程を簡略
化し、さらに製造歩留を向」二さUることヲ目的とする
。
、詳しくはガラス基体等の透光性基体の対向する一対の
側面の一方の側面を、出射光の数より少ない数の領域に
分割し、その8領域に所望りる出射光量を得る半透過膜
を被覆し、2番目以後の半透過膜より出射する最先の出
射光の出射光mが、直前の半透過膜より出射する最後の
出射光の出射光量以上であることにより、所望する出自
・1光量を容易に保持すること、また各領域に被111
゜る半透過膜の位置合わせを容易にし、製造工程を簡略
化し、さらに製造歩留を向」二さUることヲ目的とする
。
以下、本発明の実施例を図に基づき訂細に説明する。な
お、図中の同一符号は、同−又は相当部分を示す。
お、図中の同一符号は、同−又は相当部分を示す。
(実施例1) 第3図に基づき説明りる。同図(a )
は、本実施例の斜視図、同図<11)(よ、同図(a
)の入射光、内部反射光及び出射光と半透過膜との関係
を示す概略図、及び同図(C)は、半透過IIシ)の拡
大断面図である。8は、長さ12m5゜幅3m61、厚
さ3111mのガラス基体B597 ((株)保谷1i
1’1子、商品名)、91及び92は、前記ガラス基体
8の対向づる一対の側面、10は、前記側面91の入射
光3の入射位置に被覆した誘電体物質である弗化マグネ
シウム(MgF2 )と酸化ジルコニウム(ZrO2)
の2mからなる反射防止膜、11は、前記側面91側の
各反射点A1−八〇の位置に被覆しIこ二酸化チタン(
TiO2)と二酸化ケイ素(Si02)とを交互に21
重積層した全反射膜、121−、、124は前記側面9
2に被覆した誘電体物質よりな(多層の半透過膜ひあり
、各半透過膜の膜構成は異っている。すなわら、半透過
膜121は出射点81〜B3を有し、前記側面92上の
所望の領域に、TiO2層14、Si02層15、Ti
O2層14、MQ F2層16及び1−i02層15を
各々光学的膜厚λ/4(λは入射光の波長。以下同様。
は、本実施例の斜視図、同図<11)(よ、同図(a
)の入射光、内部反射光及び出射光と半透過膜との関係
を示す概略図、及び同図(C)は、半透過IIシ)の拡
大断面図である。8は、長さ12m5゜幅3m61、厚
さ3111mのガラス基体B597 ((株)保谷1i
1’1子、商品名)、91及び92は、前記ガラス基体
8の対向づる一対の側面、10は、前記側面91の入射
光3の入射位置に被覆した誘電体物質である弗化マグネ
シウム(MgF2 )と酸化ジルコニウム(ZrO2)
の2mからなる反射防止膜、11は、前記側面91側の
各反射点A1−八〇の位置に被覆しIこ二酸化チタン(
TiO2)と二酸化ケイ素(Si02)とを交互に21
重積層した全反射膜、121−、、124は前記側面9
2に被覆した誘電体物質よりな(多層の半透過膜ひあり
、各半透過膜の膜構成は異っている。すなわら、半透過
膜121は出射点81〜B3を有し、前記側面92上の
所望の領域に、TiO2層14、Si02層15、Ti
O2層14、MQ F2層16及び1−i02層15を
各々光学的膜厚λ/4(λは入射光の波長。以下同様。
〉で順次積層したものであり、半透過@ 122は出射
点B4及びB5を右し、前記側面92の前記半透過膜1
21の長さ対向で接し、前記側面上の所望の領域に、T
iO2層14、MQ F2層16及びT102層14を
各々光学的膜厚λ/4で順次T6層したものであり、半
透過膜123は出射点B6を有し、前記半透過膜122
に長さ方向で接し、前記側面92上の所望の領域に、T
+02層14、Si02層15及びT’i02層14を
各々光学的膜厚λ/4で積層したちのCあり、半透過膜
124は出射点B7をイコし、前記半透過膜123に長
さ方向で接し、前記側面92上の所望の領域に、Zl″
02層(光学的1tli厚は(3/40)・λ)及びM
Q F2層(光学的膜厚(13/40)・λ)を順次積
層したものである。前記半透過膜121−、 124の
製法としては、通常使用されている真空蒸着法等が利用
でき、各半透過膜の膜厚は実質的に均一に形成する。
点B4及びB5を右し、前記側面92の前記半透過膜1
21の長さ対向で接し、前記側面上の所望の領域に、T
iO2層14、MQ F2層16及びT102層14を
各々光学的膜厚λ/4で順次T6層したものであり、半
透過膜123は出射点B6を有し、前記半透過膜122
に長さ方向で接し、前記側面92上の所望の領域に、T
+02層14、Si02層15及びT’i02層14を
各々光学的膜厚λ/4で積層したちのCあり、半透過膜
124は出射点B7をイコし、前記半透過膜123に長
さ方向で接し、前記側面92上の所望の領域に、Zl″
02層(光学的1tli厚は(3/40)・λ)及びM
Q F2層(光学的膜厚(13/40)・λ)を順次積
層したものである。前記半透過膜121−、 124の
製法としては、通常使用されている真空蒸着法等が利用
でき、各半透過膜の膜厚は実質的に均一に形成する。
次に、本実施例の動作を説明力る。先ず、入射光3は、
反射防止膜10を被覆した入射位置より入射し、ガラス
基体8を通過し、半透過膜121中の出射点B1より一
部は出射光131として出射し、残部は反射し、反射点
A1に達し、その反射点Δ1によって全反射し、出射点
B2に達し、一部は出射光132として出則し、残部は
反射する。さらに、反射点A2=八〇、出射点133〜
136によって、全反則、一部出射・残部反射を交互に
繰り返して最後に出射点B7により、出射点B7に達し
た光量を全て出射し、入射光3を7本の出射光に分割づ
る。このとき、半透過膜122中の出射点B4よりの出
射光134の出射光mを、半透過膜121中の出射点B
3よりの出射光133の出射光量以上になし、同ね;に
、半透過膜123中の出射点B6より出用する出!J4
光13Gの出射光量は、直前の出射光135の出射光f
f1以−しにする。出射光137の出射光用も同様であ
る。各出射光131〜137の出射光mを表1に示づ。
反射防止膜10を被覆した入射位置より入射し、ガラス
基体8を通過し、半透過膜121中の出射点B1より一
部は出射光131として出射し、残部は反射し、反射点
A1に達し、その反射点Δ1によって全反射し、出射点
B2に達し、一部は出射光132として出則し、残部は
反射する。さらに、反射点A2=八〇、出射点133〜
136によって、全反則、一部出射・残部反射を交互に
繰り返して最後に出射点B7により、出射点B7に達し
た光量を全て出射し、入射光3を7本の出射光に分割づ
る。このとき、半透過膜122中の出射点B4よりの出
射光134の出射光mを、半透過膜121中の出射点B
3よりの出射光133の出射光量以上になし、同ね;に
、半透過膜123中の出射点B6より出用する出!J4
光13Gの出射光量は、直前の出射光135の出射光f
f1以−しにする。出射光137の出射光用も同様であ
る。各出射光131〜137の出射光mを表1に示づ。
表1
曲記表1のように、7本の出射光の出射光量(,10,
1211〜0.1821に分布するが、2番目以後の半
透過膜122,123,124の最先の出射光の出射光
量が、その出射光の直前の出射光の出射光m以上にして
いるため、7本の出射光のうち′C″最小の出射光量は
0.1211に制御することがでさ、出射光量の理想値
0.1431 < =(1/ 7)・I)の84%を保
持することができる。また、半透過膜の位置精度に回数
が多いとそれだiノ、半透過膜を被覆する所定の領域の
位置がずれる可能性が高くなる。しかし、本実施例でば
、4種類の半透過膜を用いているので、位置合わせ精1
廊は10.411以内におさまる。
1211〜0.1821に分布するが、2番目以後の半
透過膜122,123,124の最先の出射光の出射光
量が、その出射光の直前の出射光の出射光m以上にして
いるため、7本の出射光のうち′C″最小の出射光量は
0.1211に制御することがでさ、出射光量の理想値
0.1431 < =(1/ 7)・I)の84%を保
持することができる。また、半透過膜の位置精度に回数
が多いとそれだiノ、半透過膜を被覆する所定の領域の
位置がずれる可能性が高くなる。しかし、本実施例でば
、4種類の半透過膜を用いているので、位置合わせ精1
廊は10.411以内におさまる。
一方、従来の一半透過膜一出射光のビームスプリッタの
構)告で、本実施例と同様に7本の出射光に分割すると
ぎには、位置合わせ精度は±0.7w+a+となってし
まい、本実施例の方がより高い位置合わせ粕麿を右する
。ぞれゆえ、出射光は各半透過膜の境界を横切る可能性
は極めて低くなり、出射光の形状が損われることがない
。
構)告で、本実施例と同様に7本の出射光に分割すると
ぎには、位置合わせ精度は±0.7w+a+となってし
まい、本実施例の方がより高い位置合わせ粕麿を右する
。ぞれゆえ、出射光は各半透過膜の境界を横切る可能性
は極めて低くなり、出射光の形状が損われることがない
。
(実施例2) 第4図に基づき説明する。同図(a)は
、本実施例の入射光、内部及制光及び出射光と半透過膜
との関係を示す概略図及び同図(b)は、半透過膜の拡
大断面図である。ガラス基体8、側面91及び92、反
、射防止膜10及び全反射膜11は、前記実施例1と同
様である。また、後記する半透過膜181〜184の側
面92上への被覆の方法も前記実施例1と同様である。
、本実施例の入射光、内部及制光及び出射光と半透過膜
との関係を示す概略図及び同図(b)は、半透過膜の拡
大断面図である。ガラス基体8、側面91及び92、反
、射防止膜10及び全反射膜11は、前記実施例1と同
様である。また、後記する半透過膜181〜184の側
面92上への被覆の方法も前記実施例1と同様である。
181=−184は、側面92上に被覆した誘電体物質
よりなる多層の半透過膜であり、各半透過膜の膜構成は
異っている1゜すなわち、半透過膜181は出射点C1
及びC2を有し、側面92上にλ/4の−ri02層1
4、A7・′4SiO2層15の順に交互に積層して7
層にしたしのであり、半透過膜182は出射点C3〜C
5をイjし、 側面〇2上に、λ/4のTiO2層14
.3j02層15の順に交互に積層して6層にし、さら
に(8/40)・λのTiO2層14を積層したもので
あり、半透過膜183は出射点C6〜C8を有し、側面
1)2上にλ/4のT!02層14、Si02層15の
順に交互に積層して5層にし、 さらに(3、、/ 4
Q)・λのSiO2層15を積層したものであり、
半透過膜184は出射点C9及びCIOを有し、側面9
2土に、λ/4のTiO2層、λ/4の8102層及び
λ/4のTiO2層を順次積層したものである。本実施
例による各出射点の出射光量を表2に示り1゜表2 本実施例の各出射光量も、前記実施例1と同様に、2番
1]以後の゛ト透過膜182,183,184の最先の
出射光の出身・1光間が直前の出射光の出射光量以上に
にす、出射光量の理想値0.11の74%を保持するこ
とがぐさ゛る。
よりなる多層の半透過膜であり、各半透過膜の膜構成は
異っている1゜すなわち、半透過膜181は出射点C1
及びC2を有し、側面92上にλ/4の−ri02層1
4、A7・′4SiO2層15の順に交互に積層して7
層にしたしのであり、半透過膜182は出射点C3〜C
5をイjし、 側面〇2上に、λ/4のTiO2層14
.3j02層15の順に交互に積層して6層にし、さら
に(8/40)・λのTiO2層14を積層したもので
あり、半透過膜183は出射点C6〜C8を有し、側面
1)2上にλ/4のT!02層14、Si02層15の
順に交互に積層して5層にし、 さらに(3、、/ 4
Q)・λのSiO2層15を積層したものであり、
半透過膜184は出射点C9及びCIOを有し、側面9
2土に、λ/4のTiO2層、λ/4の8102層及び
λ/4のTiO2層を順次積層したものである。本実施
例による各出射点の出射光量を表2に示り1゜表2 本実施例の各出射光量も、前記実施例1と同様に、2番
1]以後の゛ト透過膜182,183,184の最先の
出射光の出身・1光間が直前の出射光の出射光量以上に
にす、出射光量の理想値0.11の74%を保持するこ
とがぐさ゛る。
(実施例3) 第5図に基づき説明づる。同図(a )
は、本実施例の入射光、内部反則光及び出射光と半透過
膜との関係を示!l概略図及び同図(b)は、半透過膜
の拡大断面図である。ガラス基体8は、側面91及び9
2、反射防止膜10及び全反射膜11は、前記実施例1
と同様である。また、後記づ−る半透過HtA201〜
203の側面92十への被覆の方法も前記実施例1と同
様である。201〜203は、側面92上に被覆した誘
電体物質−二りなる多層の21!透過膜であり、各半透
過膜の膜構成は異っている。
は、本実施例の入射光、内部反則光及び出射光と半透過
膜との関係を示!l概略図及び同図(b)は、半透過膜
の拡大断面図である。ガラス基体8は、側面91及び9
2、反射防止膜10及び全反射膜11は、前記実施例1
と同様である。また、後記づ−る半透過HtA201〜
203の側面92十への被覆の方法も前記実施例1と同
様である。201〜203は、側面92上に被覆した誘
電体物質−二りなる多層の21!透過膜であり、各半透
過膜の膜構成は異っている。
すなわち、半透過膜201は出射点D1へ・D3を右し
、側面92上にTiO2層14.8102層15、Ti
O2層14、Mg F2層16及び−1−i02層14
をλ/4で順次積層したものであり、半透過HH202
は出射点D4及びD5を右し、 側面92十に]102
1W14、St 02 層15及ヒTi 02 JH1
4’、iλ2/4で順次積層したものであり、半透過膜
203は出射点D6を有し、 側面92上に(3/40
)・λの71・02層11、(13/40)・λのMu
F2層16を順次積′層したものである。
、側面92上にTiO2層14.8102層15、Ti
O2層14、Mg F2層16及び−1−i02層14
をλ/4で順次積層したものであり、半透過HH202
は出射点D4及びD5を右し、 側面92十に]102
1W14、St 02 層15及ヒTi 02 JH1
4’、iλ2/4で順次積層したものであり、半透過膜
203は出射点D6を有し、 側面92上に(3/40
)・λの71・02層11、(13/40)・λのMu
F2層16を順次積′層したものである。
本実施例の名田射光211〜216の出射光量を表3に
示づ。
示づ。
表3
本実施trlIの出射光量は、理想値0.167の77
%を保持4ることができる。
%を保持4ることができる。
(実施例4) 前記実施例1〜3は、入射光3が側面9
1から入射し、もう一方の側面92に出射する実施例を
示したが、同一側面(例えば、側面91゜)においで、
大剣及び出射がなされる実施例を第6図に基づき説明す
る。ガラス基体8、側面91及び92、反射防止膜10
は、前記実施例1′と同様であり。
1から入射し、もう一方の側面92に出射する実施例を
示したが、同一側面(例えば、側面91゜)においで、
大剣及び出射がなされる実施例を第6図に基づき説明す
る。ガラス基体8、側面91及び92、反射防止膜10
は、前記実施例1′と同様であり。
半透過膜121へ・124、全反射Il!!11のW
II成も、前記実施例1と同様である。また、出射光の
故し7木であり、前記実施例1と異る部分は、半透過膜
121〜124が、側面91に被覆され℃いること、j
≧反躬膜10が、もう一方の側面92に被煎され(いる
ことである。各出射光の出射光量も前記実施例1ど同様
である。
II成も、前記実施例1と同様である。また、出射光の
故し7木であり、前記実施例1と異る部分は、半透過膜
121〜124が、側面91に被覆され℃いること、j
≧反躬膜10が、もう一方の側面92に被煎され(いる
ことである。各出射光の出射光量も前記実施例1ど同様
である。
以上、前記実施例1〜71においCは、入射光mのほぼ
全光量を、出射させたが、所望の出射光の数以上の出射
光を除去づるtcめには、所望の出射光の出射点を有す
る半透過膜の次の半透過膜の領域に光吸収膜を塗布づれ
ばよい。にた、側面1〕1及び92を有する基体として
ガラス基体を挙げIζが、光透過性の高い透明プラスチ
ック等の透光性も1休でもよい。誘電体物質としては、
S! 02 、 ’l’i02 、M Q F 2 、
Z r O2の他に、弗化ヒリウlイ酸化アルミニウム
、酸化イツトリウム、酸化タンタル、酸化ハフニウム、
酸化セリウム等(・もよく、また、半透過膜の膜(1へ
成し、所望する出射光量が寄られる構成(・あればよい
。さらに、各半透過膜は互いに接し、(いたが、何らピ
れに限定されることなく、出射点を満足するにうに各半
透過膜が被覆されていればよい。
全光量を、出射させたが、所望の出射光の数以上の出射
光を除去づるtcめには、所望の出射光の出射点を有す
る半透過膜の次の半透過膜の領域に光吸収膜を塗布づれ
ばよい。にた、側面1〕1及び92を有する基体として
ガラス基体を挙げIζが、光透過性の高い透明プラスチ
ック等の透光性も1休でもよい。誘電体物質としては、
S! 02 、 ’l’i02 、M Q F 2 、
Z r O2の他に、弗化ヒリウlイ酸化アルミニウム
、酸化イツトリウム、酸化タンタル、酸化ハフニウム、
酸化セリウム等(・もよく、また、半透過膜の膜(1へ
成し、所望する出射光量が寄られる構成(・あればよい
。さらに、各半透過膜は互いに接し、(いたが、何らピ
れに限定されることなく、出射点を満足するにうに各半
透過膜が被覆されていればよい。
、以l−1本発明によれば、所望する出射光量が保持で
き、半透過膜の半透過膜を被覆する領域に対Jる位置合
4つせ精度を高める必要もなく、製造工程ら筒略化でさ
、製造歩留も向上し、製造原価も低減し、さらに出射光
の品質も向上する。
き、半透過膜の半透過膜を被覆する領域に対Jる位置合
4つせ精度を高める必要もなく、製造工程ら筒略化でさ
、製造歩留も向上し、製造原価も低減し、さらに出射光
の品質も向上する。
第1図及び第2図は、従来のビームスプリッタ、@3図
〜第6図(:1、本発明の一実施例であり、第3図(a
)及び第6図(a )が斜視図、第3図(’Ll)、
第4図(a)、第5図(a )及び第6図(11)が、
入用光、内部反射光及び出射光と半透過膜との関係を示
す概略図、第3図(C)、第4図(b)及び第5F81
(b)が、半透過膜の拡大断面図である。 8・・・ガラス基体、91.92・・・ 対の側面、1
0・・・反則防止膜、11・・・仝反q・j欣、121
・124.181〜184,201〜203・・・21
′透過膜、14・−−T+o2m、15・・・8102
層、1G・・・MgF2層、17・・・ZrQ2層 第2間 第2図 手 続 補 正 書 (自発) 1.事件の表示 昭和58年特許願第127151号2
、発明の名称 ビームスプリッタ 3、補正をザる者 事件との関係 特許出願人 住所 東京都新宿区西新宿1丁目13番12号〒160
置 03(348)1221ボ ヤ ガラス 名称 株式会社 保 谷 硝 子 (1) 明細内の1発明の詳細な説明」の欄(2) 図
面の1第5図(b)」 5、補正の内容 (1) 明細間第5頁16行目に[Ti(h層Hijと
あるを「TiO2層14」と訂正する。 (2) 明細書箱6頁9行目〜10行目に[2r02層
(光学的膜厚は(3/40)・λ)及び)1(] F2
層(光学的膜厚(13/ 40)・λ)」とあるを「Z
r02層17(光学的膜)謎は(3/40)−λ) 及
ヒH(l F2 In IG(光学的膜かは(13/4
0)・λ)」と補正覆る。 (3) 図面の「第5図(b)」を別紙の通り補正する
。 以上
〜第6図(:1、本発明の一実施例であり、第3図(a
)及び第6図(a )が斜視図、第3図(’Ll)、
第4図(a)、第5図(a )及び第6図(11)が、
入用光、内部反射光及び出射光と半透過膜との関係を示
す概略図、第3図(C)、第4図(b)及び第5F81
(b)が、半透過膜の拡大断面図である。 8・・・ガラス基体、91.92・・・ 対の側面、1
0・・・反則防止膜、11・・・仝反q・j欣、121
・124.181〜184,201〜203・・・21
′透過膜、14・−−T+o2m、15・・・8102
層、1G・・・MgF2層、17・・・ZrQ2層 第2間 第2図 手 続 補 正 書 (自発) 1.事件の表示 昭和58年特許願第127151号2
、発明の名称 ビームスプリッタ 3、補正をザる者 事件との関係 特許出願人 住所 東京都新宿区西新宿1丁目13番12号〒160
置 03(348)1221ボ ヤ ガラス 名称 株式会社 保 谷 硝 子 (1) 明細内の1発明の詳細な説明」の欄(2) 図
面の1第5図(b)」 5、補正の内容 (1) 明細間第5頁16行目に[Ti(h層Hijと
あるを「TiO2層14」と訂正する。 (2) 明細書箱6頁9行目〜10行目に[2r02層
(光学的膜厚は(3/40)・λ)及び)1(] F2
層(光学的膜厚(13/ 40)・λ)」とあるを「Z
r02層17(光学的膜)謎は(3/40)−λ) 及
ヒH(l F2 In IG(光学的膜かは(13/4
0)・λ)」と補正覆る。 (3) 図面の「第5図(b)」を別紙の通り補正する
。 以上
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1) 入射光が、Hいに平行な一対の側面を有する透
光性基材の一方の前記側面の入射点に入射し、他方の前
記側面と一方の前記側面(前記入射点の区域を除く)と
にそれぞれ反射膜又は複数の半透過膜のうちいずれか一
方を被覆して内部反射を繰り返し、前記半透過膜から2
本以上の平行な出用光に分割されるビームスプリッタに
おいて、前記半透過膜が、出射光数よりも少ない数の領
域に被覆され、各々の半透過膜が、実質的に均1な膜厚
を有する誘電体物質の多層膜よりなり、・前記半透過膜
の少なくとし1つから2本以上の出射光を出射すること
を特徴とするビームスプリッタ。 (2、特許請求の範囲第1項において、前記半透過膜の
全てから2本以上の出射光が出射されることを特徴とり
−るビームスプリッタ。 (3) 特許請求の範囲第1項又は第2項において、2
番目以後の半透過膜より出射りる最先の出射光の出射光
量が直前の半透過膜より出647する最後の出射光の出
射光量以上であることを特徴とりるビームスプリッタ。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58127151A JPS6019101A (ja) | 1983-07-13 | 1983-07-13 | ビ−ムスプリツタ |
GB08417893A GB2145838B (en) | 1983-07-13 | 1984-07-13 | Beam splitter |
US07/069,659 US4765715A (en) | 1983-07-13 | 1987-07-06 | Beam splitter having a partial semitransparent layer assigned to a plurality of outgoing light beams |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58127151A JPS6019101A (ja) | 1983-07-13 | 1983-07-13 | ビ−ムスプリツタ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6019101A true JPS6019101A (ja) | 1985-01-31 |
Family
ID=14952880
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58127151A Pending JPS6019101A (ja) | 1983-07-13 | 1983-07-13 | ビ−ムスプリツタ |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4765715A (ja) |
JP (1) | JPS6019101A (ja) |
GB (1) | GB2145838B (ja) |
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