[go: up one dir, main page]

JPS5937451A - 対象物の透明度のコントラストにより対象物を検査する方法及び装置 - Google Patents

対象物の透明度のコントラストにより対象物を検査する方法及び装置

Info

Publication number
JPS5937451A
JPS5937451A JP58094759A JP9475983A JPS5937451A JP S5937451 A JPS5937451 A JP S5937451A JP 58094759 A JP58094759 A JP 58094759A JP 9475983 A JP9475983 A JP 9475983A JP S5937451 A JPS5937451 A JP S5937451A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
container
axis
window
level
camera
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP58094759A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0132458B2 (ja
Inventor
アラン・リクロ
ジヤン・ルイ・ブル−アン
ヤニツク・パンソン
ジヤン・ポ−ル・ダルノ−
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
I2S SA
Original Assignee
I2S SA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by I2S SA filed Critical I2S SA
Publication of JPS5937451A publication Critical patent/JPS5937451A/ja
Publication of JPH0132458B2 publication Critical patent/JPH0132458B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/90Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
    • G01N21/9036Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents using arrays of emitters or receivers
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S209/00Classifying, separating, and assorting solids
    • Y10S209/939Video scanning

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、容器の内側オたは側壁内の偶発的欠陥または
異物を検出するための、とくに透明゛または半透明の容
器、とくにびんのコントラストによる透明度の検査に関
するものである。さらに本発明は、たとえばびん詰め流
れ作業のコンベヤ内を循環する、空で欠陥または側壁に
付着または内側に残存する異物を生じ易いびんの類のう
ち、異常のあるものを自動的に除去するための検食に関
するものである。
透明または半透明の容器の一部分の、コントラストによ
る透明度検査装置は公知であるが、いずれの方法も実際
にコントラストによって透明度を分析できる容器の全体
と同時に検査し、検査する部分のいずれかの区域におい
て容器の拒否の原因となるあらゆる欠陥、異物またはコ
ントラストの異常を充分正確に容易に識別することがで
きない。
本発明は、透明または半透明の容器とくにびんのコント
ラストによる透明度の検査方法を目的とする。この方法
は、(イ)検査する容器の全体またはおよそ全体を容器
の軸を横断して照明し、(ロ)同時に照準軸が容器の軸
に対しおよそ垂直であり、上記照準軸が容器の軸上の一
点に集まり互いに数十度の角度を形成している2台の検
知カメラによって容器を逆光に置き、(ハ)容器の型に
適した電子窓の助けによって、窓の外に位置するカメラ
の7トリクス感光装置の構成点から出る信号を消去し、
(→所定の数のすぐ周囲の(immediatemen
t envlronnants )構成点を考慮しなが
ら窓の各構成点を連続的に分析し、((ホ)上記のよう
にすぐ周囲によって(environnementim
mediat)均衡を保たれた各構成点の電気レベルを
容器の型によって所定の基準レベルと比較(3) し、(へ)2台のカメラの少なくとも1台において検出
された構成点の暴動外の数がFJr定の数を上回るとき
に、検査した容器の拒否を開始することからなることを
特徴とする。本発明は同時に、上記の方法を実施するた
めの装置に関するものである。この装置は、(イ)容器
を横断して容器を側面から照明するように、検査する容
器を1つずつ照明源の前を通達させるための移動手段、
(ロ)容器の軌道に関し、照明源の側と反対の側に配置
され、照準軸が検査場所にある容器の軸上で交わり、か
つ容器の軸におよそ垂直であシ、互いに数十度の角度を
なしている2台の検知カメラ、C→検査用電子窟を発生
させ、この窓の内側の照度レベルの有意義な変化のみを
分析するようにカメラから生ずる映像信号に上記窓を重
ね合わせるための手段、に)2台のカメラのマトリクス
感光装装置の各本°a成点の電気的レベルを上記検査窓
の内側で、すぐ周囲の構成点のレベルと比較して、連続
的に分析するための装置、(ホ)このようにして均衡を
保たれた各構成点のレベ(4) ルを調節可能な所定の基準レベルと比較するための手段
、(へ)基準外と見なされる構成点の数の計算手段、(
ト)欠陥があると見なされる容器の拒否または印付けの
ための適尚なシステムを開始するための、数測定手段と
接続した手段からなることを特徴とする。
次に本発明を実施例を示す添付図面によって詳細に説明
する。
第1図はびん詰め流れ作業において一般に利用されてい
る公知の型の星形回転板を示す。上記装置は、段階的に
、または他の条件において、コンベヤ内に挿入された容
器を1つずつ検査、充填、口金付け、ラベル付は等の場
所に呈示する。部分的に図示された装置において、公知
の方法で処理されるびん3の頚部を受けるための刻み2
が回転板1の周囲に規則的に配置されている。回転板1
は縦軸4を有し、図示されない連光な駆動手段によって
連続回転する。回転板1と平行に、第1回転板1と連動
する第2星形回転板5が設けられ、第2回転板5は同様
にびん乙の円筒形の下端部を受けるための刻みを周囲に
有する。びん6は第1回転板の下面に設けられた各刻み
2と結合したピンチ6によって上記刻みの中に位置を保
たれる。ピンチ6はびんの上方の縁のふくらみのすぐ下
で頚部を締めつけられる。びんは上述のように第1回転
板1上で連続的に吊上げられている。これらの装置とそ
の制御手段は公知のものであるから詳記しない。びん6
の下方部の側面は第2回転板5と直角に置かれ、びんを
自由に通過させる円弧形の固定した板7によって保護さ
れている。
びん3はびんの縦軸8で回転しながら、びん3の軌道の
片側に固定して設けられた照明箱9、上記軌道の他の片
側に同時に固定して設けられた2台の検知カメラ10か
らなる検査場所へ順に運ばれる。照明箱9はびんの胴部
と頚部とを照明するように配置される。照明箱9は規則
的に光を拡散させるフィルターを有し、フィルターの面
はびん3の軸8に平行であり、各カメラが逆光で検査場
所にあるびん3を見ることができるように設けられてい
る。2台のカメラ10の照進軸11は水平であシ、びん
の軸8上で交わり、軸11間に形成される角度αは数十
度である(たとえば70℃から100℃)。びん3が検
査場所にあることを示す装置は公知のものである。すな
わち、第1回転板1の上側の面上に各刻み2と直角をな
して固定され、検査場所と直角に固定された光源と光電
池14とからなる光電検出器と、その光線束を遮断する
ことができる不透明な指針12とからなっている。上記
検出器は第2図に示されていない。
第3図と第4図はカメラ10によって送られたビデオ信
号の電子処理系を示する。上記の図は便宜上1台のカメ
ラでの処理を示すが、実際には2台のカメラの信号は、
図示したものと同一の2つのシステムによって並行して
同時に処理される。各カメラ10から生じた信号22は
、直列に接続された3つのシフトレジスタ15.16.
17に送られる。各レジスタ15.16.17には3つ
のレジスタ点RPが1列に接続され、上記の各点(7) が数値信号(1または0)を伝達するような方法で、調
節可能なしきい値を受けたアナログ信号とを比較する。
レジスタ点RPの数の出口はすべて加算器18(第4図
)に接続され、加算器18の出口はコンパレータ19の
入口の1つに接続されている。コンパレータ19のもう
7つの入口はプログラム値を受ける。コンパレータは出
口で信号を発生するか、またはしないかである。
すなわち、信号を発生しないときは欠陥または異物(透
明度)が存在しないことを示し、信号を発生するときは
、その信号が調節可能な所定の値を越すことを示し、検
査し終ったびん3の拒否または印付けの装置を開始する
システム21に伝達される。
上述の装置の詳細な作動は次のとおシである。
びん3は第1回転板1によって順に検査場所に運ばれ、
そこで停止することなく光電装置(12,13,14)
によって同時に開始される2台のカメラ10の前に位置
する。上記の検知カメラ10においては、検査時間は本
発明による装置が1時間(8) に60000本までのびんが通過するような進行速度を
許容できるように、約3から10町 である。
約90°の角度で配置された2台のカメラ1oの視野は
、透明度の分析のためにびん3のすべての面、またはい
かなる死角もなしに少なくともびんの大部分をカバーす
ることができる。
検知カメラ10は一定の数(たとえば208)の構成点
からなるマトリクス感光装置を有する〇すなわち、映像
はカメラのスクリーン上に形成され、直列のシフトレジ
スタのスクリーンに1悌される。各カメラのレベルに光
の流量に比例した電荷が与えられ、検査の間にすべての
カメラによって蓄積された負荷は記憶装置内に直列にな
った連続した変位によって移動される。列ごとの、次に
点ごとの変位によって、すべての感光スクリーンを走査
するような方法で記憶の読みが実施される。読まれた各
点ごとに負荷量は比例した電圧レベルに変えられる。
第3図において、カメラから伝達されるのは上記のアナ
ログ信号である。すなわち、カメラは光学システム、検
知器(マトリクス感光装置)、検査すなわち読みの制御
用電子装置および検知器の出口の信号をテレビジョン信
号の規格に従って調節し定型化するビデオ電子装置を有
する。
各カメラ10から出る信号22はシフトレジスタ15.
16.17に伝達される。レジスタはカメラ10のレジ
スタと同数の(たとえば208)点を有する。各レジス
タ15から17の最後の3つの情報はレジスタ点1’L
Pに記憶される。このように各カメラから生じたビデオ
信号はライン全体で記憶され、レジスタ15から17の
出口で、連続した点の強さのレベルを与えられた列上に
配置される。
レジスタ点において記憶された情報は検査しているびん
の型の透明度に応じた調節可能な適正なしきい値との比
較によって数値化される。各レジスタ点PRはびんの映
像の白点(透明)または黒点(不透明)に対応して0ま
たは1の信号を送る。レジスタ点は次に9個のカメラ上
に分布する範囲、すなわち、すべての映像を漸進的に走
査する範囲を考慮しながら、ビンの映像の3X3=9個
の点の範囲に関する二元の情報を供給する。直接数回ん
でいるたとえば8個のカメラと各カメラのレベルとの均
衡は、びんの型、材料、検査する異物や欠陥の形や性質
に応じた処理の算式に従って実施される。上記の均衡は
、たとえば容器の透明度の平均レベル、検査点の映像に
おける位置、および上記の検査点に関する周囲の各点の
位置とに応じてプログラムによって実施される。所要の
目的と無関係なあらゆる障害を除去するためにカメラ1
0に接続された処理単位内の回路は、公知の方法で負荷
され、検査するびんの型、形体によって定められた検査
用窓を発生する。この窓は、各カメラ10の検知器上に
形成されたびんの映像範囲にある単独のカメラから生じ
る信号を考慮しないようになっている。もちろん、検査
されるびんの型が変わるときには、窓の型を別のものに
するための手段が設けられている。
レジスタ点几Pのすべての二元出口は加算器18に接続
されている(第4図)。各カメラ10が(11) 直接に検査した範囲の平均値は加算器18からコンパレ
ータ19に送られ1、そこでプログラム値と比較され、
O(検査しているカメラに対応するびんの構成範囲が所
定の基剤によって透明とされる)または1(検査されて
いる範囲が不透明と見なされる)からなる二元信号がコ
ンパレータから伝達される。二元信号の1は計器20で
数えられ、計算が調節可能なしきい値に達するときには
、検査し終ったびんを除くための公知のシステムや印付
けする装置などの装置21への信号が伝達される。ただ
し、重要でない、わずかな欠陥に気づかないために、も
し10次に0が伝達されると、計器はOに戻る。従って
、計器20は次の1の信号のみを数えることができる。
各カメラ10は第3図と第4図に示されたものと同じ処
理回路を有し、検査されるびんは、もし2台のカメラの
うち1台または2台が異物オたは欠陥を見たときびんは
除かれるか、または印付けされる。
上述の処理のプログラムと同様に、変化でき(12) る比較のしきい値は、たとえば磨耗の線や跡、貼札の一
部、びんの側壁に付着したりびんの中に入っている異物
、液体の残留物、しみなどに基くあらゆる種類のコント
ラストの異常を、非常に変化しやすく検査する各容器の
型に容易に適応できる「欠陥」の基単に従って考慮に入
れたり、従って欠陥と見なした沙、反対に考慮に入れな
かったシすることができる。
各対象の走査を容易にするために、スクリーンによる負
荷を移動する変換器を用いた検査と読みを制御する電子
装置が設けられている。その際、電子装置によって次の
ことが行なわれる。
検査する対象が通過する正確な場所において変換器の映
像範囲の統合を開始することによって、走、査用窓を利
用して分析する対象が常に同じ撮影の位置にあるような
映像を作ることができる。
良いコントラストを保ちながら、映像のぼけを減少する
ような速度でカメラの前を対象が通過するように、各映
像の持続を制御する。
呈示と走査サイクルの時間から独立した速度で、上記の
ようにして得られた映像と対象を再読できるような方法
で、記憶装置において映像を保護する。
変換器におけるカメラの同時統合によって、公知の走査
用カメラにおいてよく知られた現象である、映像のひず
み現象をなくすることができる。
本発明は透明または半透明のすべての容器に適用できる
が、また同時に、起こり得る欠陥、異物その他の透明の
コントラストの変化の原因の探知を目的とする一般的方
法として、透明度検査が可能なすべての透明または半透
明の物体にも適用できる。
本発明の範囲において、たとえば、15から17のよう
なレジスタの数や、また各レジスタに接続されたRPの
ようなレジスタ点の数を増減することもできる。このよ
うな変更が、印付される「欠陥」の型によって必侠とさ
れるかも知れない。
本発明は、もちろん上記の実施例に限定されるものでは
なく、照明箱9の性質、形状、配置、びん3またはその
他の検査する物体の軌道に関する照明箱9とカメラ10
との相互の位置関係、カメラによって伝達される信号を
処理する電子技術的手段などに関する変更が可能である
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による装置の実施例における、びんの胴
部のコントラストによる透明度の分析を示す図、第2図
は第1図の装置の上面の説明図、第3図はカメラからの
ビデオ信号の処理系統の説明図、第4図は上記ビデオ信
号の処理の最終段階の説明図である。 1・・・第1回転板、2・・・刻み、3・・・びん、4
・・・軸、5・・・第2回転板、6・・・ピンチ、7・
・・固定した板、8・・・軸、9・・・照明箱、10・
・・カメラ、11・・・照辿軸、12・・・指針、13
・・・光源、14・・・光電池、15・・・レジスタ、
16・・・レジスタ、17・・・レジスタ、18・・・
加算器、19;・・コンパ゛レータ、20・・・計器、
21・・・装置、22・・・信号、α・・・角度、RP
・・・レジスタ。 手続補正書(方式) 昭和58年8月31日 昭和58年 特許 願第94759号 2、発明の名称 容器の自動検査法および装置3、 補
正をする者 事件との関係 特許出願人 代表者プラン・リクロ 4゛ 代  理  人  電話 353−55215、
補正命令。日付  昭和58年8月10日(同年8月3
0日発送)(1)  別紙のとおり浄書した明細書を提
出する。 ただし、発明の名称「容器の自動検査方法および装置」
を「容器の自動検査法および装置」に補正した。上記以
外の記載は出願時のものと同じである。 (2)  別紙のとおり法人証明書同訳文を提出する。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)検査される容器の全体またはおよそ全体を容器の
    軸(8)に対し横から照明し、同時に2台の検知カメラ
    (10)を用いて容器(3)を逆光に配置し、その際、
    カメラの照遣軸(11)は容器の軸(8)に対しおよそ
    垂直に軸(8)上で交わり、互いに数十度の角度(α)
    をなし、容器の型に適した電子窓によって、窓の外に位
    置する、カメラ(10)のマトリクス感光装置の構成点
    から出る信号を消去し、所定の数の直接の周囲の構成点
    を考慮しながら窓の各構成点を連続的に分析し、直接の
    周囲によって均衡を保たれた各構成点の冗気レベルを容
    器の型によって所定の基剤レベルと比較し、2台のカメ
    ラの少なくとも1台において検出された構成点の基剤外
    の数が所定の数を上回るときに検査した容器の拒否を開
    始することからなることを特徴とする、透明または半透
    明の容器のコントラストによる透明度の検査方法。
  2. (2)  (()検査される容器(3)を容器の軸(8
    )に対し横から側面を照明するように、容器(3)を1
    つずつ照明源(9)の前を通過させる移動手段(1) 
    、(ロ)容器(3)の軌道に関し照明源(9)の反対側
    に配置され、照糸軸が検査場所にある容器(3)の軸(
    8)上で交わシ、かつ軸(8)におよそ垂直に互いに数
    十度の角度(α)をなしている2台の検知カメラ(10
    )、(ハ)検査用電子窓を発生させ、検査窓の内部の照
    度レベルの有意義な変化のみを分析するように窓を制御
    し、カメラ(10)から出た映像の信号に重ね合わせる
    ための手段、に)すぐ周囲の構成点のレベルを考慮して
    、上記検査窓の内側で2台のカメラのマトリクス感光装
    置の各構成点の電気的レベルと比較して連続的に分析す
    る手段(15,16,17、RP)、(ホ)このように
    して均衡を保たれた各構成点レベルを調節可能な所定の
    基剤レベルと比較するための手段(18、19)、(へ
    )基準外と見なされた構成点の数の計算手段(20)、
    (ト)欠陥があると見なされた容器に適した拒否または
    印付けするシステム(21)を始動するための計算手段
    と接続された手段を有することを特徴とする特許請求の
    範囲第1項記載の方法を実施するための装置。
JP58094759A 1982-05-27 1983-05-27 対象物の透明度のコントラストにより対象物を検査する方法及び装置 Granted JPS5937451A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP82450008.6 1982-05-27
EP82450008A EP0095541B1 (fr) 1982-05-27 1982-05-27 Procédé et dispositif d'inspection automatique par contraste de transparence, notamment de récipients

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63325749A Division JPH01199139A (ja) 1982-05-27 1988-12-23 対象物の透明度のコントラストにより対象物を検査する方法に用いる回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5937451A true JPS5937451A (ja) 1984-02-29
JPH0132458B2 JPH0132458B2 (ja) 1989-06-30

Family

ID=8190001

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58094759A Granted JPS5937451A (ja) 1982-05-27 1983-05-27 対象物の透明度のコントラストにより対象物を検査する方法及び装置
JP63325749A Pending JPH01199139A (ja) 1982-05-27 1988-12-23 対象物の透明度のコントラストにより対象物を検査する方法に用いる回路

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63325749A Pending JPH01199139A (ja) 1982-05-27 1988-12-23 対象物の透明度のコントラストにより対象物を検査する方法に用いる回路

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4736851A (ja)
EP (1) EP0095541B1 (ja)
JP (2) JPS5937451A (ja)
AT (1) ATE36194T1 (ja)
CA (1) CA1205885A (ja)
DE (1) DE3278861D1 (ja)

Cited By (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62127616A (ja) * 1985-11-29 1987-06-09 Toppan Printing Co Ltd 透明容器曲面部輪郭像検出方法およびその装置
JPS6381202A (ja) * 1986-09-24 1988-04-12 Mazda Motor Corp プライマ塗布不良検出方法
JPS6448605U (ja) * 1987-09-21 1989-03-27
JPH11271239A (ja) * 1998-01-22 1999-10-05 Emhart Glass Sa ガラス容器本体のひびの検出器
JP2005337882A (ja) * 2004-05-27 2005-12-08 Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial System Corp 容器検査装置
US8923693B2 (en) 2010-07-30 2014-12-30 Apple Inc. Electronic device having selectively strengthened cover glass
US9615448B2 (en) 2008-06-27 2017-04-04 Apple Inc. Method for fabricating thin sheets of glass
US9725359B2 (en) 2011-03-16 2017-08-08 Apple Inc. Electronic device having selectively strengthened glass
US9756739B2 (en) 2012-01-25 2017-09-05 Apple Inc. Glass device housing
US9778685B2 (en) 2011-05-04 2017-10-03 Apple Inc. Housing for portable electronic device with reduced border region
US9886062B2 (en) 2014-02-28 2018-02-06 Apple Inc. Exposed glass article with enhanced stiffness for portable electronic device housing
US9946302B2 (en) 2012-09-19 2018-04-17 Apple Inc. Exposed glass article with inner recessed area for portable electronic device housing
US9944554B2 (en) 2011-09-15 2018-04-17 Apple Inc. Perforated mother sheet for partial edge chemical strengthening and method therefor
US10018891B2 (en) 2012-01-10 2018-07-10 Apple Inc. Integrated camera window
US10021798B2 (en) 2010-09-17 2018-07-10 Apple Inc. Glass enclosure
US10133156B2 (en) 2012-01-10 2018-11-20 Apple Inc. Fused opaque and clear glass for camera or display window
US10144669B2 (en) 2011-11-21 2018-12-04 Apple Inc. Self-optimizing chemical strengthening bath for glass
US10185113B2 (en) 2009-03-02 2019-01-22 Apple Inc. Techniques for strengthening glass covers for portable electronic devices
US10189743B2 (en) 2010-08-18 2019-01-29 Apple Inc. Enhanced strengthening of glass
US10320959B2 (en) 2011-09-29 2019-06-11 Apple Inc. Multi-layer transparent structures for electronic device housings
US10401904B2 (en) 2011-05-04 2019-09-03 Apple Inc. Housing for portable electronic device with reduced border region

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2589301B1 (fr) * 1985-10-28 1988-08-19 I2S Nouveaux dispositifs d'obturation electronique
EP0348524B1 (en) * 1987-12-16 1995-06-21 Dai Nippon Insatsu Kabushiki Kaisha Device for inspecting thickness of synthetic resin container and inspection system therefor
US5139406A (en) * 1987-12-16 1992-08-18 Dai Nippon Insatsu Kabushiki Kaisha Apparatus and system for inspecting wall thickness of synthetic resin containers
US5259716A (en) * 1987-12-16 1993-11-09 Dai Nippon Insatsu Kabushiki Kaisha Container conveyor for conveying a container to an inspecting station
US5091963A (en) * 1988-05-02 1992-02-25 The Standard Oil Company Method and apparatus for inspecting surfaces for contrast variations
US4887475A (en) * 1988-05-20 1989-12-19 Gill & Duffus Products, Inc. Apparatus and method for marking bulk loaded containers to indicate the presence of metallic contaminants
JPH0743326B2 (ja) * 1991-01-29 1995-05-15 東洋ガラス株式会社 物体端部の欠陥検査方法及びその装置
US5414778A (en) * 1993-11-24 1995-05-09 Schwartz; Nira Dynamic fluid level and bubble inspection for quality and process control
US6252980B1 (en) * 1993-11-24 2001-06-26 Nira Schwartz Additional dynamic fluid level and bubble inspection for quality and process control
EP0833126B1 (en) * 1995-06-14 2003-04-09 Kirin Beer Kabushiki Kaisha Apparatus and methods for inspecting coating film
EP0979153A4 (en) * 1996-06-04 2002-10-30 Inex Inc Doing Business As Ine SYSTEM AND METHOD FOR DETECTING CONSTRAINTS IN A MOLDED CONTAINER
EP0941775B1 (de) * 1998-03-02 2005-10-26 Focke & Co. (GmbH & Co. KG) Verfahren und Vorrichtung zum optischen Prüfen von Packungen
US5969810A (en) * 1998-05-14 1999-10-19 Owens-Brockway Glass Container Inc. Optical inspection of transparent containers using two cameras and a single light source
DE19953738C1 (de) * 1999-11-09 2001-06-07 Krones Ag Inspektionsvorrichtung zur Seitenwandkontrolle von Gefäßen
KR20030046616A (ko) * 2001-12-06 2003-06-18 삼성전자주식회사 레이져 광 산란을 이용한 고순도 글래스 튜브의 미세 기포분석 장치
US7595870B2 (en) * 2004-11-10 2009-09-29 Owens-Brockway Glass Container Inc. Optical inspection of container walls
DE102008034744A1 (de) * 2008-07-24 2010-01-28 Khs Ag Geblockte Inspektion
DE102014102449A1 (de) 2014-02-25 2015-08-27 Khs Gmbh Inspektionsvorrichtung
CN107063106A (zh) * 2017-03-29 2017-08-18 嘉善永金金属制品有限公司 一种物料检测装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4951995A (ja) * 1972-09-16 1974-05-20
JPS5229788A (en) * 1975-09-02 1977-03-05 Owens Illinois Inc Bubble detector for glass container

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3358552A (en) * 1963-10-23 1967-12-19 Paul J Schneider Bottle recognition apparatus
US3549890A (en) * 1969-01-16 1970-12-22 Emhart Corp Article inspection apparatus
US3963348A (en) * 1972-07-14 1976-06-15 Yamamura Glass Kabushiki Kaisha Device for detecting strain and foreign matters in glass container by a non-storage type pickup tube
US3932042A (en) * 1974-05-20 1976-01-13 Barry-Wehmiller Company Container inspection apparatus and method of inspection
FR2301006A1 (fr) * 1975-02-17 1976-09-10 Inex Inc Appareil optique d'inspection automatique d'objets transparents ou translucides
FR2380551A1 (fr) * 1977-02-10 1978-09-08 Barry Wehmiller Co Procede et appareil d'analyse electronique d'images
GB1600400A (en) * 1977-10-13 1981-10-14 Ti Fords Ltd Bottle inspection apparatus
JPS5847064B2 (ja) * 1978-07-08 1983-10-20 工業技術院長 文字読取方式
JPS5546172A (en) * 1978-09-29 1980-03-31 Kirin Brewery Co Ltd Detector for foreign material
JPS5594147A (en) * 1979-01-12 1980-07-17 Kobe Steel Ltd Method of discriminating surface flaw of high temperature material to be detected
FR2454236A1 (fr) * 1979-04-11 1980-11-07 Seita Procede et dispositif de traitement de signaux video
US4414685A (en) * 1979-09-10 1983-11-08 Sternberg Stanley R Method and apparatus for pattern recognition and detection
DE3035077A1 (de) * 1980-09-17 1982-04-22 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Verfahren und anordnung zur pruefung transparenter behaelter auf verunreinigungen oder beschaedigungen
US4378495A (en) * 1980-11-07 1983-03-29 Owens-Illinois, Inc. Method and apparatus for setup of inspection devices for glass bottles
US4492476A (en) * 1981-02-20 1985-01-08 Kirin Beer Kabushiki Kaisha Defect detecting method and apparatus
JPS5821146A (ja) * 1981-07-30 1983-02-07 Kirin Brewery Co Ltd 欠陥検査方法および装置
US4488648A (en) * 1982-05-06 1984-12-18 Powers Manufacturing, Inc. Flaw detector
US4454541A (en) * 1982-06-14 1984-06-12 Rca Corporation Charge coupled device based blemish detection system and method

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4951995A (ja) * 1972-09-16 1974-05-20
JPS5229788A (en) * 1975-09-02 1977-03-05 Owens Illinois Inc Bubble detector for glass container

Cited By (43)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62127616A (ja) * 1985-11-29 1987-06-09 Toppan Printing Co Ltd 透明容器曲面部輪郭像検出方法およびその装置
JPS6381202A (ja) * 1986-09-24 1988-04-12 Mazda Motor Corp プライマ塗布不良検出方法
JPS6448605U (ja) * 1987-09-21 1989-03-27
JPH11271239A (ja) * 1998-01-22 1999-10-05 Emhart Glass Sa ガラス容器本体のひびの検出器
JP2005337882A (ja) * 2004-05-27 2005-12-08 Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial System Corp 容器検査装置
US9615448B2 (en) 2008-06-27 2017-04-04 Apple Inc. Method for fabricating thin sheets of glass
US10185113B2 (en) 2009-03-02 2019-01-22 Apple Inc. Techniques for strengthening glass covers for portable electronic devices
US8923693B2 (en) 2010-07-30 2014-12-30 Apple Inc. Electronic device having selectively strengthened cover glass
US10189743B2 (en) 2010-08-18 2019-01-29 Apple Inc. Enhanced strengthening of glass
US12219720B2 (en) 2010-09-17 2025-02-04 Apple Inc. Glass enclosure
US11785729B2 (en) 2010-09-17 2023-10-10 Apple Inc. Glass enclosure
US10021798B2 (en) 2010-09-17 2018-07-10 Apple Inc. Glass enclosure
US10765020B2 (en) 2010-09-17 2020-09-01 Apple Inc. Glass enclosure
US10398043B2 (en) 2010-09-17 2019-08-27 Apple Inc. Glass enclosure
US11518708B2 (en) 2011-03-16 2022-12-06 Apple Inc. Electronic device having selectively strengthened glass
US12043571B2 (en) 2011-03-16 2024-07-23 Apple Inc. Electronic device having selectively strengthened glass
US10676393B2 (en) 2011-03-16 2020-06-09 Apple Inc. Electronic device having selectively strengthened glass
US9725359B2 (en) 2011-03-16 2017-08-08 Apple Inc. Electronic device having selectively strengthened glass
US10656674B2 (en) 2011-05-04 2020-05-19 Apple Inc. Housing for portable electronic device with reduced border region
US10983557B2 (en) 2011-05-04 2021-04-20 Apple Inc. Housing for portable electronic device with reduced border region
US9778685B2 (en) 2011-05-04 2017-10-03 Apple Inc. Housing for portable electronic device with reduced border region
US11681326B2 (en) 2011-05-04 2023-06-20 Apple Inc. Housing for portable electronic device with reduced border region
US10401904B2 (en) 2011-05-04 2019-09-03 Apple Inc. Housing for portable electronic device with reduced border region
US12079032B2 (en) 2011-05-04 2024-09-03 Apple Inc. Housing for portable electronic device with reduced border region
US9944554B2 (en) 2011-09-15 2018-04-17 Apple Inc. Perforated mother sheet for partial edge chemical strengthening and method therefor
US10320959B2 (en) 2011-09-29 2019-06-11 Apple Inc. Multi-layer transparent structures for electronic device housings
US11368566B2 (en) 2011-09-29 2022-06-21 Apple Inc. Multi-layer transparent structures for electronic device housings
US10574800B2 (en) 2011-09-29 2020-02-25 Apple Inc. Multi-layer transparent structures for electronic device housings
US10144669B2 (en) 2011-11-21 2018-12-04 Apple Inc. Self-optimizing chemical strengthening bath for glass
US10018891B2 (en) 2012-01-10 2018-07-10 Apple Inc. Integrated camera window
US10551722B2 (en) 2012-01-10 2020-02-04 Apple Inc. Fused opaque and clear glass for camera or display window
US10133156B2 (en) 2012-01-10 2018-11-20 Apple Inc. Fused opaque and clear glass for camera or display window
US11612975B2 (en) 2012-01-25 2023-03-28 Apple Inc. Glass device housings
US11260489B2 (en) 2012-01-25 2022-03-01 Apple Inc. Glass device housings
US10512176B2 (en) 2012-01-25 2019-12-17 Apple Inc. Glass device housings
US10278294B2 (en) 2012-01-25 2019-04-30 Apple Inc. Glass device housings
US10842031B2 (en) 2012-01-25 2020-11-17 Apple Inc. Glass device housings
US12083649B2 (en) 2012-01-25 2024-09-10 Apple Inc. Glass device housings
US9756739B2 (en) 2012-01-25 2017-09-05 Apple Inc. Glass device housing
US9946302B2 (en) 2012-09-19 2018-04-17 Apple Inc. Exposed glass article with inner recessed area for portable electronic device housing
US10496135B2 (en) 2014-02-28 2019-12-03 Apple Inc. Exposed glass article with enhanced stiffness for portable electronic device housing
US10579101B2 (en) 2014-02-28 2020-03-03 Apple Inc. Exposed glass article with enhanced stiffness for portable electronic device housing
US9886062B2 (en) 2014-02-28 2018-02-06 Apple Inc. Exposed glass article with enhanced stiffness for portable electronic device housing

Also Published As

Publication number Publication date
ATE36194T1 (de) 1988-08-15
US4736851A (en) 1988-04-12
DE3278861D1 (en) 1988-09-08
EP0095541B1 (fr) 1988-08-03
EP0095541A1 (fr) 1983-12-07
CA1205885A (fr) 1986-06-10
JPH0132458B2 (ja) 1989-06-30
JPH01199139A (ja) 1989-08-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS5937451A (ja) 対象物の透明度のコントラストにより対象物を検査する方法及び装置
EP0483966B1 (en) Method of and apparatus for inspecting a transparent or translucent article such as a bottle
JP3193377B2 (ja) 液体充填の容器を検査する方法と装置
US4584469A (en) Optical detection of radial reflective defects
US7821629B2 (en) Device and method for detecting contamination in a container
JP2002513463A (ja) 成形容器内の応力検出システムおよび方法
JP3205511B2 (ja) シール検査装置
JPWO2004036197A1 (ja) ガラス壜の検査装置
WO2004036198A1 (ja) ガラス壜の検査装置における基準画像の作成方法及び装置
EP3341712B1 (en) Object multi-perspective inspection apparatus and method therefor
CN211179500U (zh) 多光源光学检测系统
WO2012120662A1 (ja) ガラスびん検査装置及びテレセントリックレンズユニット
KR20220090513A (ko) 자동화된 육안 검사 장비에 대한 딥 러닝의 대상 적용
JP5294427B2 (ja) ガラスびん検査装置
WO1996041299A1 (en) Inspection system for exterior article surfaces
JPH0634573A (ja) 瓶検査装置
JP3155106B2 (ja) ボトルシールの外観検査方法及び装置
JPH04118546A (ja) 瓶検査装置
JPH04216445A (ja) 瓶検査装置
JPH06118026A (ja) 容器内面検査方法
JP4177204B2 (ja) 容器充填液体の異物検査装置
JPH043820B2 (ja)
JPH0432340B2 (ja)
JPS62106348A (ja) 透明又は半透明球体の検査装置
Wolf Laser scanning techniques for automatic inspection of heat-sealed film packages