JPS593413B2 - 光ファイバの製造方法 - Google Patents
光ファイバの製造方法Info
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- JPS593413B2 JPS593413B2 JP17245480A JP17245480A JPS593413B2 JP S593413 B2 JPS593413 B2 JP S593413B2 JP 17245480 A JP17245480 A JP 17245480A JP 17245480 A JP17245480 A JP 17245480A JP S593413 B2 JPS593413 B2 JP S593413B2
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- Japan
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- optical fiber
- screening test
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- bare optical
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Landscapes
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- Manufacture, Treatment Of Glass Fibers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、通信用の光ファイバを製造するための方法
に関する。
に関する。
光ファイバはガラスラリフォームを加熱線引きして光フ
ァイバ裸線を作り、これに被覆を施こし光ファイバ素線
となし、更にこれをケーブル化し５ て布設する等実用
に供される。
ァイバ裸線を作り、これに被覆を施こし光ファイバ素線
となし、更にこれをケーブル化し５ て布設する等実用
に供される。
ところで、光ファイバのケーブル化、布設及び布設後の
使用の各段階において、光ファイバの強度の最低値を保
証する必要がある。そのため従来より、光７アイバの素
線あるいは裸線の製造工程と連続的にあるいは１０非連
続的に、光ファイバ素線あるいは裸線に一定時間一定荷
重を負荷するか、またはこれを小さな径に曲げることに
より光ファイバの表面に引張応力を発生させ、その強度
が設定値以下の低強度部分を予め切断除去するスクリー
ニングテストが行１５なわれている。しかしながらこの
スクリーニングテストは一種の疲労試験であり、スクリ
ーニングテストを行なうことによつて却つて光ファイバ
表面の疵が成長するおそれがある。本発明は上記に鑑み
、光ファイバ表面の疵の成り０ 長を防ぐようにしてス
クリーニングテストを行なうようにした光ファイバの製
造方法を提供することを目的とする。
使用の各段階において、光ファイバの強度の最低値を保
証する必要がある。そのため従来より、光７アイバの素
線あるいは裸線の製造工程と連続的にあるいは１０非連
続的に、光ファイバ素線あるいは裸線に一定時間一定荷
重を負荷するか、またはこれを小さな径に曲げることに
より光ファイバの表面に引張応力を発生させ、その強度
が設定値以下の低強度部分を予め切断除去するスクリー
ニングテストが行１５なわれている。しかしながらこの
スクリーニングテストは一種の疲労試験であり、スクリ
ーニングテストを行なうことによつて却つて光ファイバ
表面の疵が成長するおそれがある。本発明は上記に鑑み
、光ファイバ表面の疵の成り０ 長を防ぐようにしてス
クリーニングテストを行なうようにした光ファイバの製
造方法を提供することを目的とする。
以下、本発明の一実施例について図面を参照しながら説
明する。
明する。
第１図において、プリフオームク５２が送り出し装置Ｉ
ＶＣより送り出され、電気炉３で加熱される。１１は送
り出し装置１の制御装置であり、１２は送り出し量を測
定する測定器である。
ＶＣより送り出され、電気炉３で加熱される。１１は送
り出し装置１の制御装置であり、１２は送り出し量を測
定する測定器である。
３１は濃度調節装置であり、３２は記録計である。
加熱されたプリフオーム２はキヤプスタン３０ ローラ
６１Ｖｃより線引きされて光ファイバ裸線４となる。こ
の光ファイバ裸線４の寸法は外径測定装置５により測定
される。その直後に塗布装置９１及び樹脂硬化用ヒータ
９２により、この光ファイバ裸線４上にプラスチックが
塗布焼成され、３５光ファイバ素線１０となる。これら
塗布装置９１及びヒータ９２Ｖｃよりコーティング装置
９が構成される。６２はキヤプスタンローラ６１の匍脚
装置であり、外径測定装置５によりフイードバツクされ
ている。
６１Ｖｃより線引きされて光ファイバ裸線４となる。こ
の光ファイバ裸線４の寸法は外径測定装置５により測定
される。その直後に塗布装置９１及び樹脂硬化用ヒータ
９２により、この光ファイバ裸線４上にプラスチックが
塗布焼成され、３５光ファイバ素線１０となる。これら
塗布装置９１及びヒータ９２Ｖｃよりコーティング装置
９が構成される。６２はキヤプスタンローラ６１の匍脚
装置であり、外径測定装置５によりフイードバツクされ
ている。
６３は回転ムラ計、６４はメータである。
これらキヤプスタンローラ６１、制御装置６２、回転ム
ラ計６３、メータ６４から引取り装置６が構成される。
この光フアイバ素線１０は巻き取リリール７２に一旦巻
き取られた後、連続工程でトルクリール７３Ｋ巻き取ら
れる。トルクリール７３はトルクモータ７４によつて一
定トルクで回転させられており、光フアイバ素線１０に
一定の引張応力を発生させる。これらリール７２，７３
は例えばアクリル板で覆われてなる無水室７１中に置か
れており、このスクリーニングテストが無水雰囲気中で
行なわれるようにしている。この実施例では無水室７１
に乾燥Ａｒを流し込んだ。無水室７１、リール７２，７
３、モータ７４によりスクリーニングテスト装置７が構
成される。このスクリーニングテストが終了した光フア
イバ素線１０をまモータ８２Ｋよつて回転させられてい
る巻き取りリール８１に巻き取られる。この巻き取りリ
ール８１とモータ８２とで巻き取り装置８を構成する。
この第１図では、スクリーニングテストを終えて巻き取
りリール８１に巻き取らｈた光フアイバ素線が更に被覆
を施こされて光フアイバ心線となり、更πケーブル化さ
れるようになつているが、これらの工程については省略
する。次に上記の方法の効果を確認する実験を行なつた
ので、これについて述べる。まず、上記のようにして線
引きして作つた光フアイバ素線の表面に予め欠陥を与，
え、約１６００１ｎ程の低強度光フアイバ素線を用意し
た。そしてこの光フアイバ素線に従来と同様のスクリー
ニングテストを施こした場合と、本発明による上記のス
クリーニングテストを施こした場合とを比較した。まず
、上記の約１６００ｍの光フアイバ素線を、温度２３℃
、８０（ＬＲ．Ｈ．（相対湿度）の雰囲気中で従来方法
により７００７の引張応力を与えて行なつたところ、第
２図に示すように第１回目のテストで中央部分（一端か
ら７５７ｍの箇所）が破断し、合計１０回のテストを行
なつたところ、破断数は合計８回であつた。そしてこの
第１回目で破断して２分割された一方（７５０ｍの方）
を用いて、本発明方法によるテストを行なつた。具体的
には第１図で説明したように、スクリーニングテスト装
置をアクリル板で覆い、中に乾燥Ａｒを流し込み、温度
２３℃、１０％Ｒ．Ｈ．（相対湿度）の乾燥雰囲気中で
７００Ｖの引張応力を加えてテストを繰り返した。その
結果、第３図に示すように１０回の繰り返しテストで２
箇所の破断が生じただけであつた。従つてこの実験の結
果、本発明の方法によるスクリーニングテストによれば
、光フアイバの強度劣化が確実に減少することが判明し
た。以上、実施例について説明したように、本発明によ
れば、強度劣化を起こすことなく光フアイバ素線または
光フアイバ裸線のスクリーニングテストを行なうことが
可能となる。なお、上記の実施例では無水雰囲気を作る
ために乾燥ガスを送り込んでいるが、真空状態にしても
よいし、あるいは液体Ｎ２温度以下の可能な限りの低温
に保つことも効果的である。
ラ計６３、メータ６４から引取り装置６が構成される。
この光フアイバ素線１０は巻き取リリール７２に一旦巻
き取られた後、連続工程でトルクリール７３Ｋ巻き取ら
れる。トルクリール７３はトルクモータ７４によつて一
定トルクで回転させられており、光フアイバ素線１０に
一定の引張応力を発生させる。これらリール７２，７３
は例えばアクリル板で覆われてなる無水室７１中に置か
れており、このスクリーニングテストが無水雰囲気中で
行なわれるようにしている。この実施例では無水室７１
に乾燥Ａｒを流し込んだ。無水室７１、リール７２，７
３、モータ７４によりスクリーニングテスト装置７が構
成される。このスクリーニングテストが終了した光フア
イバ素線１０をまモータ８２Ｋよつて回転させられてい
る巻き取りリール８１に巻き取られる。この巻き取りリ
ール８１とモータ８２とで巻き取り装置８を構成する。
この第１図では、スクリーニングテストを終えて巻き取
りリール８１に巻き取らｈた光フアイバ素線が更に被覆
を施こされて光フアイバ心線となり、更πケーブル化さ
れるようになつているが、これらの工程については省略
する。次に上記の方法の効果を確認する実験を行なつた
ので、これについて述べる。まず、上記のようにして線
引きして作つた光フアイバ素線の表面に予め欠陥を与，
え、約１６００１ｎ程の低強度光フアイバ素線を用意し
た。そしてこの光フアイバ素線に従来と同様のスクリー
ニングテストを施こした場合と、本発明による上記のス
クリーニングテストを施こした場合とを比較した。まず
、上記の約１６００ｍの光フアイバ素線を、温度２３℃
、８０（ＬＲ．Ｈ．（相対湿度）の雰囲気中で従来方法
により７００７の引張応力を与えて行なつたところ、第
２図に示すように第１回目のテストで中央部分（一端か
ら７５７ｍの箇所）が破断し、合計１０回のテストを行
なつたところ、破断数は合計８回であつた。そしてこの
第１回目で破断して２分割された一方（７５０ｍの方）
を用いて、本発明方法によるテストを行なつた。具体的
には第１図で説明したように、スクリーニングテスト装
置をアクリル板で覆い、中に乾燥Ａｒを流し込み、温度
２３℃、１０％Ｒ．Ｈ．（相対湿度）の乾燥雰囲気中で
７００Ｖの引張応力を加えてテストを繰り返した。その
結果、第３図に示すように１０回の繰り返しテストで２
箇所の破断が生じただけであつた。従つてこの実験の結
果、本発明の方法によるスクリーニングテストによれば
、光フアイバの強度劣化が確実に減少することが判明し
た。以上、実施例について説明したように、本発明によ
れば、強度劣化を起こすことなく光フアイバ素線または
光フアイバ裸線のスクリーニングテストを行なうことが
可能となる。なお、上記の実施例では無水雰囲気を作る
ために乾燥ガスを送り込んでいるが、真空状態にしても
よいし、あるいは液体Ｎ２温度以下の可能な限りの低温
に保つことも効果的である。
第１図は本発明の一実施例の方法を示すプロツク図、第
２図及び第３図は実験後の光フアイバ素線の破断状況を
示す略図である。 １・・・・・・送り出し装置、２・・・・・・ガラスプ
リフオーム、３・・・・・・加熱装置、４・・・・・・
光フアイバ裸線、５・・・・・・外径測定装置、６・・
・・・・引取り装置、７・・・・・・スクリーニングテ
スト装置、８・・・・・・巻き取り装置、９・・・・・
・コーテイング装置、１０・・・・・・光フアイバ素線
。
２図及び第３図は実験後の光フアイバ素線の破断状況を
示す略図である。 １・・・・・・送り出し装置、２・・・・・・ガラスプ
リフオーム、３・・・・・・加熱装置、４・・・・・・
光フアイバ裸線、５・・・・・・外径測定装置、６・・
・・・・引取り装置、７・・・・・・スクリーニングテ
スト装置、８・・・・・・巻き取り装置、９・・・・・
・コーテイング装置、１０・・・・・・光フアイバ素線
。
Claims (1)
- １ ガラスラリフォームを加熱線引きして光ファイバ裸
線を作る工程と、この光ファイバ裸線に被覆を施こして
光ファイバ素線を得る工程と、前記光ファイバ素線また
は光ファイバ裸線の光ファイバの表面に引張応力を発生
させてスクリーニングテストを行なう工程とからなる光
ファイバの製造方法において、無水雰囲気中で前記のス
クリーニングテストを行なうようにしたことを特徴とす
る光ファイバの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17245480A JPS593413B2 (ja) | 1980-12-06 | 1980-12-06 | 光ファイバの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17245480A JPS593413B2 (ja) | 1980-12-06 | 1980-12-06 | 光ファイバの製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5795845A JPS5795845A (en) | 1982-06-14 |
| JPS593413B2 true JPS593413B2 (ja) | 1984-01-24 |
Family
ID=15942281
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17245480A Expired JPS593413B2 (ja) | 1980-12-06 | 1980-12-06 | 光ファイバの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS593413B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59124302A (ja) * | 1982-12-30 | 1984-07-18 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 光フアイバのスクリ−ニング方法 |
-
1980
- 1980-12-06 JP JP17245480A patent/JPS593413B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5795845A (en) | 1982-06-14 |
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