JPS59152673A - 光電変換装置作製方法 - Google Patents
光電変換装置作製方法Info
- Publication number
- JPS59152673A JPS59152673A JP58026851A JP2685183A JPS59152673A JP S59152673 A JPS59152673 A JP S59152673A JP 58026851 A JP58026851 A JP 58026851A JP 2685183 A JP2685183 A JP 2685183A JP S59152673 A JPS59152673 A JP S59152673A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- ctf
- forming
- semiconductor
- electrode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 title claims description 20
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 11
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 50
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 38
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 34
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 23
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 15
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 claims description 15
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 claims description 12
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 11
- 239000005345 chemically strengthened glass Substances 0.000 claims description 9
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims description 9
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 9
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000011591 potassium Substances 0.000 claims description 8
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 claims description 8
- ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N Potassium Chemical compound [K] ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims description 7
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 6
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 5
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 5
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 4
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 claims description 4
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 claims description 3
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 150000002472 indium compounds Chemical group 0.000 claims description 2
- 229910021332 silicide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- FVBUAEGBCNSCDD-UHFFFAOYSA-N silicide(4-) Chemical group [Si-4] FVBUAEGBCNSCDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 claims 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 24
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 17
- 239000002585 base Substances 0.000 description 13
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 9
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 8
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 7
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 6
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 description 6
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 5
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 5
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- YCIMNLLNPGFGHC-UHFFFAOYSA-N catechol Chemical compound OC1=CC=CC=C1O YCIMNLLNPGFGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000005566 electron beam evaporation Methods 0.000 description 4
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 4
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000001340 alkali metals Chemical class 0.000 description 3
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 3
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 3
- 230000001443 photoexcitation Effects 0.000 description 3
- 229910000077 silane Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 3
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 3
- PIICEJLVQHRZGT-UHFFFAOYSA-N Ethylenediamine Chemical compound NCCN PIICEJLVQHRZGT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001354 calcination Methods 0.000 description 2
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 238000004031 devitrification Methods 0.000 description 2
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 2
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 2
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 2
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 2
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 2
- 241000251468 Actinopterygii Species 0.000 description 1
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910021617 Indium monochloride Inorganic materials 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L Sodium Carbonate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-]C([O-])=O CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 1
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003426 chemical strengthening reaction Methods 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000005357 flat glass Substances 0.000 description 1
- BHEPBYXIRTUNPN-UHFFFAOYSA-N hydridophosphorus(.) (triplet) Chemical compound [PH] BHEPBYXIRTUNPN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005470 impregnation Methods 0.000 description 1
- RHZWSUVWRRXEJF-UHFFFAOYSA-N indium tin Chemical compound [In].[Sn] RHZWSUVWRRXEJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- APHGZSBLRQFRCA-UHFFFAOYSA-M indium(1+);chloride Chemical compound [In]Cl APHGZSBLRQFRCA-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- PSCMQHVBLHHWTO-UHFFFAOYSA-K indium(iii) chloride Chemical compound Cl[In](Cl)Cl PSCMQHVBLHHWTO-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 1
- 238000004518 low pressure chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 229910021424 microcrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000075 oxide glass Substances 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 150000003109 potassium Chemical class 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 1
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 1
- 230000002787 reinforcement Effects 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 239000010802 sludge Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 229910001134 stannide Inorganic materials 0.000 description 1
- -1 tin oxide compound Chemical class 0.000 description 1
- HPGGPRDJHPYFRM-UHFFFAOYSA-J tin(iv) chloride Chemical compound Cl[Sn](Cl)(Cl)Cl HPGGPRDJHPYFRM-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F77/00—Constructional details of devices covered by this subclass
- H10F77/70—Surface textures, e.g. pyramid structures
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Landscapes
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、透光性基板上の仮焼成された絶縁物または導
電物の塗付層を形成し、これに鋸状表面を有する母材を
圧着(密着)さゼて70腫たはその近傍の角度の鋸状の
表面を有せしめた後、焼成を、させてブロッキング層を
形成セしめること、さらにこのブロッキング層上に透光
性導電膜よりなる第一の電極と、該電極」二にPINま
たはPN接合を少なくともひとつ有する、光照射により
光起電力を発生する非単結晶半導体と、該半導体上に第
二の電極(裏面電極)を形成させることにより光電変換
装置(以下PVCという)を作製する方法に関する。
電物の塗付層を形成し、これに鋸状表面を有する母材を
圧着(密着)さゼて70腫たはその近傍の角度の鋸状の
表面を有せしめた後、焼成を、させてブロッキング層を
形成セしめること、さらにこのブロッキング層上に透光
性導電膜よりなる第一の電極と、該電極」二にPINま
たはPN接合を少なくともひとつ有する、光照射により
光起電力を発生する非単結晶半導体と、該半導体上に第
二の電極(裏面電極)を形成させることにより光電変換
装置(以下PVCという)を作製する方法に関する。
本発明はこの透光性絶縁基板の主面に鋸状の凹凸表面を
有せしめることにより、その表面積を太き(し、光に対
しては長光路となり、キャリア特にホールに対しては実
質的に短光路とならしめることにより、光照射光面側の
光電変換効率を向上させることを目的としている。
有せしめることにより、その表面積を太き(し、光に対
しては長光路となり、キャリア特にホールに対しては実
質的に短光路とならしめることにより、光照射光面側の
光電変換効率を向上させることを目的としている。
本発明はかがる鋸状の凹凸を有セしめるため、特にその
鋸状の角度を70°またはその近傍<+2s’、=@以
内)を有し、基板と透光性導電膜である第一の電極の反
射防止膜との界面に入射光が少なくとも2回照射される
ことにより、その界面での反射損失を少なくすることを
特徴としている。
鋸状の角度を70°またはその近傍<+2s’、=@以
内)を有し、基板と透光性導電膜である第一の電極の反
射防止膜との界面に入射光が少なくとも2回照射される
ことにより、その界面での反射損失を少なくすることを
特徴としている。
本発明はかかる凸部/凹部はm略1となり、かつそのピ
ッチは0.1〜IV(高低差は0.05〜?)であるよ
うにブロッキング屓にスタンプ方法により変形させるこ
とにより多量生産を行うことを目的としている。 。
ッチは0.1〜IV(高低差は0.05〜?)であるよ
うにブロッキング屓にスタンプ方法により変形させるこ
とにより多量生産を行うことを目的としている。 。
このようにすることにより、入射光側表面での照射光を
複反射せしめることにより、透光性基板上の第一の電極
を構成する透光性導電膜(以下CTFという)と半導体
との界面での反射を少なくし、加えて基板とCTFとの
界面での反射総量を少なくすることができる。その結果
入射光の反射量をこれまでの20〜30%より6〜8%
にまで下げることができるようになり、そのため光電変
換装置としての変換効率を10〜15%も向上させるこ
とができた。
複反射せしめることにより、透光性基板上の第一の電極
を構成する透光性導電膜(以下CTFという)と半導体
との界面での反射を少なくし、加えて基板とCTFとの
界面での反射総量を少なくすることができる。その結果
入射光の反射量をこれまでの20〜30%より6〜8%
にまで下げることができるようになり、そのため光電変
換装置としての変換効率を10〜15%も向上させるこ
とができた。
本発明は透光性基板を単なるソーダガラスまたは白板ガ
ラスとすることも可能であるが、さらに加えてその機械
強度が3〜5倍も大きい化学強化ガラスを用いることに
より、厚さ0.65〜2.2mmと薄い基板を用いたこ
とを特徴としている。
ラスとすることも可能であるが、さらに加えてその機械
強度が3〜5倍も大きい化学強化ガラスを用いることに
より、厚さ0.65〜2.2mmと薄い基板を用いたこ
とを特徴としている。
一般に化学強化に用いられるガラスは、□表面より20
〜3シの深さに含浸させたカリューム等のアルカリ金属
が、光電変換装置の完成後CTF内に逆拡散してCTF
の電気伝導度を下げ、ひいては信頼性を低下させてしま
う。
〜3シの深さに含浸させたカリューム等のアルカリ金属
が、光電変換装置の完成後CTF内に逆拡散してCTF
の電気伝導度を下げ、ひいては信頼性を低下させてしま
う。
本発明はこの欠点を防ぐため、この化学強化ガラスと第
1の電極のCTFとの間にカリュームに対しブロッキン
グ(マスク)効果を有する酸化珪素またはリンガラスま
たはンれらの混合物よりなる絶縁被膜、またはこれら絶
縁物層上に酸化インジューム、酸化スズまたはこれらの
混合惣を平均膜厚0.1〜5/AAの厚さの塗付層とし
て設け、さらにこ−の絶縁物または導電物に鋸状の凹凸
を有せしめてブロッキング層としたことを特徴と、して
いる。
1の電極のCTFとの間にカリュームに対しブロッキン
グ(マスク)効果を有する酸化珪素またはリンガラスま
たはンれらの混合物よりなる絶縁被膜、またはこれら絶
縁物層上に酸化インジューム、酸化スズまたはこれらの
混合惣を平均膜厚0.1〜5/AAの厚さの塗付層とし
て設け、さらにこ−の絶縁物または導電物に鋸状の凹凸
を有せしめてブロッキング層としたことを特徴と、して
いる。
さらに本発明は半導体中に入射した光の短波長での量子
効率を向上させることを特徴としている。
効率を向上させることを特徴としている。
即ち、500nm以下の短波長に対する光路を長くし、
かつこの光励起で発生した電子・ボール対のうちの一方
特に好ましくはホールのドリフトする拡散長を短くする
ことにより、キャリアのライフタイムより十分短い時間
にCTFを到達せしめることにより、その量子効率を4
00nmにて従来の60%、500nmにて80%であ
ったものを、400nmにて85%、500r+mにて
95%にまで高めることができた。
かつこの光励起で発生した電子・ボール対のうちの一方
特に好ましくはホールのドリフトする拡散長を短くする
ことにより、キャリアのライフタイムより十分短い時間
にCTFを到達せしめることにより、その量子効率を4
00nmにて従来の60%、500nmにて80%であ
ったものを、400nmにて85%、500r+mにて
95%にまで高めることができた。
これらの効果が複合化して従来の構造では八M1(10
0mW /c♂)の照射下で7%までしか得られなかっ
たものを、−気に10.2〜11.5%にまで高めるこ
とができた。
0mW /c♂)の照射下で7%までしか得られなかっ
たものを、−気に10.2〜11.5%にまで高めるこ
とができた。
本発明は(100)面またはその近傍の面(一般に(1
1n )面を有しfi>3例えばn=5においては(1
15)であるをもって近傍とする)好ましくは(100
)面を有する珪素単結晶の表面をA、PW(エチレンジ
アミン、ピロカテコール、水の混合液)によりエツチン
グをすることによりV型溝(■型溝の角度は70.5と
なる)を有する、即ち70″′またはその近傍の角度の
鋸状表面を有する母材(ここでは単結晶珪素)を作り、
この透光性基板状の絶縁物または絶縁物上の導電物また
は導電物よりなる塗付層を鋸状に変形するための「型」
として用い、この絶縁物を透光性基板を焼成により一体
化して作ることにより、基体自体が鋸状の表面を有する
とともに、その凹凸はすべてが概略同一形状の鋸状を有
せしめた透光性基板(基体)を形成したものである。
1n )面を有しfi>3例えばn=5においては(1
15)であるをもって近傍とする)好ましくは(100
)面を有する珪素単結晶の表面をA、PW(エチレンジ
アミン、ピロカテコール、水の混合液)によりエツチン
グをすることによりV型溝(■型溝の角度は70.5と
なる)を有する、即ち70″′またはその近傍の角度の
鋸状表面を有する母材(ここでは単結晶珪素)を作り、
この透光性基板状の絶縁物または絶縁物上の導電物また
は導電物よりなる塗付層を鋸状に変形するための「型」
として用い、この絶縁物を透光性基板を焼成により一体
化して作ることにより、基体自体が鋸状の表面を有する
とともに、その凹凸はすべてが概略同一形状の鋸状を有
せしめた透光性基板(基体)を形成したものである。
さらに本発明はかかる鋸状の主面上にその後工程を電子
ビーム蒸着法、スプレー法、プラズマ気相法(PCVD
法という)または減圧気相法([、PCV D法という
)を用いて、この第1の電極を構成するCTFを形成し
、さらにこのCTF上に非単結晶半導体膜を形成させて
いることを特徴としている。
ビーム蒸着法、スプレー法、プラズマ気相法(PCVD
法という)または減圧気相法([、PCV D法という
)を用いて、この第1の電極を構成するCTFを形成し
、さらにこのCTF上に非単結晶半導体膜を形成させて
いることを特徴としている。
従来PvCは第一図にその縦断面図を示すが、平坦な表
面を有するガラス基板(1)上にCTF(4)をITO
lSnO,等を、電子ビーム蒸着法またはスプレー法で
、1層または2屓に形成することが知られている。ごの
CTFをスプレー法で形成する場合ITO(酸化インシ
ュ〜ム酸化スズ化合物)を15oO〜200OAの平均
厚さに形成し、さらにこの上面に酸化スズを200〜5
00λの厚さに形成する。するとこのCTFの表面は0
.3〜0.2の平均粒径を有する凹(14) 、凸(1
3) (但しその高低差はその粒径の高々1/10程
度の200〜500′Aシか生じさせることができない
)を構成させることができる。このため半導体部t3p
型半導体例えば5ixC+<(0< x <1)(6)
I型半導体(7)N型半導体(8)よりなるl”IN接
合を有する非単結晶半導体(5)を積層して設け、さら
に第二の電極を形成する時、入射光(10)を半導体中
で(2I)のごとくに若干面げることが可能である。
面を有するガラス基板(1)上にCTF(4)をITO
lSnO,等を、電子ビーム蒸着法またはスプレー法で
、1層または2屓に形成することが知られている。ごの
CTFをスプレー法で形成する場合ITO(酸化インシ
ュ〜ム酸化スズ化合物)を15oO〜200OAの平均
厚さに形成し、さらにこの上面に酸化スズを200〜5
00λの厚さに形成する。するとこのCTFの表面は0
.3〜0.2の平均粒径を有する凹(14) 、凸(1
3) (但しその高低差はその粒径の高々1/10程
度の200〜500′Aシか生じさせることができない
)を構成させることができる。このため半導体部t3p
型半導体例えば5ixC+<(0< x <1)(6)
I型半導体(7)N型半導体(8)よりなるl”IN接
合を有する非単結晶半導体(5)を積層して設け、さら
に第二の電極を形成する時、入射光(10)を半導体中
で(2I)のごとくに若干面げることが可能である。
しかしかかる従来例においては、平坦な表面を有する透
光性基板(3)上に単にスプレー法によるディボジッシ
ョンのクラスタでできた凹凸表面のなめらかな鱗状(電
子顕微鏡でみると魚の鱗のごとき形状を有するため鱗状
という)の曲面を有するのみであり、まったく不十分な
ものであった。
光性基板(3)上に単にスプレー法によるディボジッシ
ョンのクラスタでできた凹凸表面のなめらかな鱗状(電
子顕微鏡でみると魚の鱗のごとき形状を有するため鱗状
という)の曲面を有するのみであり、まったく不十分な
ものであった。
このためさらにこの形状を積極的に用いることが求めら
れている。さらにかかる従来方法においては、基板(3
) 、CTF (4)界面での反射(20)に対してま
ったく有効でないことが判明した。
れている。さらにかかる従来方法においては、基板(3
) 、CTF (4)界面での反射(20)に対してま
ったく有効でないことが判明した。
かかる従来方法ではその光電変換効率(以下単に効率と
いう)は7%(7〜7.9%)までであり最高7.93
%までしか得られなかった。
いう)は7%(7〜7.9%)までであり最高7.93
%までしか得られなかった。
本発明は゛かかる長波長光を乱反射さ−Vることにより
、600nm以上の長波長光の量子効率を高めるのみで
なく、短波長光を有効社用い、加えて基板−CTF界面
、CTF−半導体界面での屈折率の差による反射を複反
剤せしめることによりさらに短波長光による光路長/キ
ャリアの拡散長を従来の値lより1.5〜7にまで高め
たことを特徴としている。
、600nm以上の長波長光の量子効率を高めるのみで
なく、短波長光を有効社用い、加えて基板−CTF界面
、CTF−半導体界面での屈折率の差による反射を複反
剤せしめることによりさらに短波長光による光路長/キ
ャリアの拡散長を従来の値lより1.5〜7にまで高め
たことを特徴としている。
特に300.〜500nmの短波長光は半導体中で20
00Åまで90%以上が光吸収されて光電変換するが、
このうちのキャリアであるボールは平坦面電極(4)に
まで到達することができない。ナなわら光路長(オプテ
ィカルレングスOL) /キャリアの拡散長(ディフュ
ージョンレングスDL)即ちO/D1においては、光励
起されて発生したキャリアはその光が侵入したと同じ長
さを電極まで拡散しなくてはならない。
00Åまで90%以上が光吸収されて光電変換するが、
このうちのキャリアであるボールは平坦面電極(4)に
まで到達することができない。ナなわら光路長(オプテ
ィカルレングスOL) /キャリアの拡散長(ディフュ
ージョンレングスDL)即ちO/D1においては、光励
起されて発生したキャリアはその光が侵入したと同じ長
さを電極まで拡散しなくてはならない。
しかし本発明においては、このO,/D=1.5〜5一
般には2〜3とすることができるため、結果としての3
00〜500r+mにおける量子効率を向上させること
が可能となった。
般には2〜3とすることができるため、結果としての3
00〜500r+mにおける量子効率を向上させること
が可能となった。
第二図は本発明のPvcのたて断面図を示している。図
面において透光性基板(2)はここではガラスを用いた
。
面において透光性基板(2)はここではガラスを用いた
。
即らガラス板(2)は0.65〜2.2闘の厚さを有し
、さらにその表面近傍の20〜3シの深さにカリューム
の如きアルカリ金属元素が添加された化学強化ガラスを
用いた。
、さらにその表面近傍の20〜3シの深さにカリューム
の如きアルカリ金属元素が添加された化学強化ガラスを
用いた。
かかるガラス基板の厚さは、従来から知られる3 、
3mm厚さのガラスと同様の機械強度を有し、かつ軽量
であるという特徴を有する。
3mm厚さのガラスと同様の機械強度を有し、かつ軽量
であるという特徴を有する。
しかし強化に用いられるカリュームがCTFに逆拡散す
ると、このカリュームによりCTFの電気伝導度が下が
ってしまうことが判明した。
ると、このカリュームによりCTFの電気伝導度が下が
ってしまうことが判明した。
このため凹凸の鋸状を有するブロッキング層は効率の向
上に加えて、このアルカリ金属のブロッキング効果によ
る信頼性の向上をさゼ・さるという特徴をも有ゼしめた
。
上に加えて、このアルカリ金属のブロッキング効果によ
る信頼性の向上をさゼ・さるという特徴をも有ゼしめた
。
即ち化学強化されたガラス(2)上に酸化珪素リンガラ
ス、またはこれらの混合物を主成分とする透光性絶縁物
、透光性導電膜または透光性絶縁物上の透光性導電膜よ
りなるブロッキング層(3)を設けて基板とした。
ス、またはこれらの混合物を主成分とする透光性絶縁物
、透光性導電膜または透光性絶縁物上の透光性導電膜よ
りなるブロッキング層(3)を設けて基板とした。
さらにこの基板の主面は′凸部(13)、凹部(14)
の鋸状を有する絶縁物(13)からなり、その角度は7
0’また・はその近傍(+25.−15以内、55〜9
5′)を有している。さらに凸部の先端部または凹部の
底部は曲面(断面は円形状、曲率半径200i〜グ)の
表面を有している。またこ1のピッチ(凸部と隣の凹部
との距離)は0.1〜107(高低差は0.05〜2)
好ましくはピッチ高低差は0.3〜0.8.u (0,
3〜0、?)または2〜5/14(1,5〜り)を有し
ている。
の鋸状を有する絶縁物(13)からなり、その角度は7
0’また・はその近傍(+25.−15以内、55〜9
5′)を有している。さらに凸部の先端部または凹部の
底部は曲面(断面は円形状、曲率半径200i〜グ)の
表面を有している。またこ1のピッチ(凸部と隣の凹部
との距離)は0.1〜107(高低差は0.05〜2)
好ましくはピッチ高低差は0.3〜0.8.u (0,
3〜0、?)または2〜5/14(1,5〜り)を有し
ている。
さらにこの鋸状の表面にそって第一の電極を構成し、反
射防止膜も兼用したCTF(4)を 1500〜200
0^の厚さとし、そのCTFの表面は酸化スズを主成分
としている。
射防止膜も兼用したCTF(4)を 1500〜200
0^の厚さとし、そのCTFの表面は酸化スズを主成分
としている。
さらにこのCTFに密接してPCVD法またはLl’C
V D゛法で得られたP型非単結晶半導体例えば約10
0只の厚さの5iXc、−L(0< x < 1例えば
x=0.8) (6)を有し、この上面をホウ素が1
y10〜1メ10c7添加された夏型半導体(7)例え
ばグロー放電法により作られた珪素またはセミアモルフ
ァス構造の珪素半導体を平均厚さ0.4〜0.7を有せ
しめた。
V D゛法で得られたP型非単結晶半導体例えば約10
0只の厚さの5iXc、−L(0< x < 1例えば
x=0.8) (6)を有し、この上面をホウ素が1
y10〜1メ10c7添加された夏型半導体(7)例え
ばグロー放電法により作られた珪素またはセミアモルフ
ァス構造の珪素半導体を平均厚さ0.4〜0.7を有せ
しめた。
この夏型半導体中にはホウ素を1メ10’2’IO’c
m’を加し、さらに酸素の混入ば5’IO’cm’以下
好ましくは5〆10′−ゝ以下であることが、その特性
向上のため待に重要であった。
m’を加し、さらに酸素の混入ば5’IO’cm’以下
好ましくは5〆10′−ゝ以下であることが、その特性
向上のため待に重要であった。
かくすると結晶構造はアモルファスよりセミアモルファ
ス半導体を有することができた。
ス半導体を有することができた。
さらに100〜200′Aの平均厚さのN型の多結晶ま
たは微結晶の珪素半導体(8)よりなるひとつのPIN
接合を有する非単結晶半導体(5)が設けられている。
たは微結晶の珪素半導体(8)よりなるひとつのPIN
接合を有する非単結晶半導体(5)が設けられている。
この半導体は酸素濃度540cmゝ以下好ましくは5y
10cm’以下を有せしめている。
10cm’以下を有せしめている。
さらにこの上面に第二の電極(9)をI’CVD法、L
PCV D法又は電子ビーム蒸着法により第二のCTF
(11)例えばITOヲ900〜1300人の−V均順
厚々rましくは1050スの平均膜厚に形成し、その上
面の反射用電極(12)はアルミニュームまたは銀を主
成分として設けられている。
PCV D法又は電子ビーム蒸着法により第二のCTF
(11)例えばITOヲ900〜1300人の−V均順
厚々rましくは1050スの平均膜厚に形成し、その上
面の反射用電極(12)はアルミニュームまたは銀を主
成分として設けられている。
かかる構造において得られた本発明の特性例を第一図の
従来構造と比較すると以下のごとくである。
従来構造と比較すると以下のごとくである。
従来例 本発明
開放電圧(V、) 0.81 0.9
2短絡電流(mA/cQ) ’ 13.9.
18.9曲線因子(%) ’ 58.3
68.0齋換効率(%)、 6.56
40.6上記効率は面積1.05cm (3,5m
mx3cm )において、AMI (100mW /
cm)の照射光を照射した場合の特性である。このこと
より本発明においては、従来よりも80%もその効率を
向上させることができるという大きな特徴を有していた
。
2短絡電流(mA/cQ) ’ 13.9.
18.9曲線因子(%) ’ 58.3
68.0齋換効率(%)、 6.56
40.6上記効率は面積1.05cm (3,5m
mx3cm )において、AMI (100mW /
cm)の照射光を照射した場合の特性である。このこと
より本発明においては、従来よりも80%もその効率を
向上させることができるという大きな特徴を有していた
。
第三図は本発明の効果を示す原理図である。
図面においてガラス基板の主面が化学強化ガラス(1)
」二に鋸状の凸部(13)、四部(14)を有するブロ
ッキングM(3)よりなる基板(1)である。
」二に鋸状の凸部(13)、四部(14)を有するブロ
ッキングM(3)よりなる基板(1)である。
その基板(1)の上面にCTF(4)、、2層(6)I
Jt(7’) 、N層(8)よりなるPIN接合を少な
くともひとつ有する半導体(5)、裏面電極(9)を有
する。
Jt(7’) 、N層(8)よりなるPIN接合を少な
くともひとつ有する半導体(5)、裏面電極(9)を有
する。
図面において、入射光(10)はブロッキング層(3)
=CTF(4)界面にて第一の反射(20)をするが、
再び他のブロッキングN (3)−CTF(4)界面に
致り、第二の反射(23)をする。この二回の照射によ
り、半導体中に(21)、 (21’)の入射がおき、
半導体中に95%以上の光を入射さ(てしまうことがで
きた。 さらに基板裏面(35)が^R処理(日本板ガ
ラス社製)がなされたガラスであるため、反射は大気−
ガラス界面(この全面に静処理がなされている)を一般
の5%より1%にまで実質的にすることができ、効果的
であった。
=CTF(4)界面にて第一の反射(20)をするが、
再び他のブロッキングN (3)−CTF(4)界面に
致り、第二の反射(23)をする。この二回の照射によ
り、半導体中に(21)、 (21’)の入射がおき、
半導体中に95%以上の光を入射さ(てしまうことがで
きた。 さらに基板裏面(35)が^R処理(日本板ガ
ラス社製)がなされたガラスであるため、反射は大気−
ガラス界面(この全面に静処理がなされている)を一般
の5%より1%にまで実質的にすることができ、効果的
であった。
この基板をその凹凸の鋸状(鋸の山伏)の角度をすべて
同じとし、その角度(30)を約70’とするため、入
射光はすべて二回入射することにより、従来例のごとく
制御された凹凸を有さない−・部のみの入射光が乱反射
する−のに比べて、きわめて照射光の利用効率が高いと
いう大きな特徴を有する。
同じとし、その角度(30)を約70’とするため、入
射光はすべて二回入射することにより、従来例のごとく
制御された凹凸を有さない−・部のみの入射光が乱反射
する−のに比べて、きわめて照射光の利用効率が高いと
いう大きな特徴を有する。
さらに本発明構造は、この鋸状の形状がすべての場所で
同じであるよう制御されているため、上下の電極間が製
品のバラツキによりショートして歩留りを低下さセるこ
とがないという他の特徴を有する。またCTF(4)に
入った光はCTF−半導体界面で反射(22’) して
も結局より高6い屈折率の半導体中(21)にはいりこ
んでしまう。
同じであるよう制御されているため、上下の電極間が製
品のバラツキによりショートして歩留りを低下さセるこ
とがないという他の特徴を有する。またCTF(4)に
入った光はCTF−半導体界面で反射(22’) して
も結局より高6い屈折率の半導体中(21)にはいりこ
んでしまう。
また半導体中では光励起によって発生した電子(16)
、ホール(17)対のうち、電子は凹部(14)の中央
部(15)を通って(最も安定なエネルギーレベル)ド
リフト距離、第二の電極(9)に致る。
、ホール(17)対のうち、電子は凹部(14)の中央
部(15)を通って(最も安定なエネルギーレベル)ド
リフト距離、第二の電極(9)に致る。
電子(16)は拡散長がホール(17)に比べて100
0倍もあるため、1層(6)が平均0.3〜0.87M
例えば0.57<あっても、そのドリフト距離は問題な
い。
0倍もあるため、1層(6)が平均0.3〜0.87M
例えば0.57<あっても、そのドリフト距離は問題な
い。
さらにこの電子は裏面(9)の凹部(14)に致るため
、そのドリフト距離を実効的にさらに短くすることがで
きた。
、そのドリフト距離を実効的にさらに短くすることがで
きた。
他方電子の1 /1000程度しかないホールはそのド
リフト距離が(27)ときわめて短いため、結果として
再結合中心に捕獲され、消滅することがまぬがれる。こ
のためOL/DL>1特に2〜IOとする本発明はきわ
めて重要なものであることがわかった。
リフト距離が(27)ときわめて短いため、結果として
再結合中心に捕獲され、消滅することがまぬがれる。こ
のためOL/DL>1特に2〜IOとする本発明はきわ
めて重要なものであることがわかった。
すなわちこの基板の主面が鋸状を有することは、ホール
にとっても電子にとっても、そのドリフト長をともに短
くすることができ、さらにその半導体(7)と電極(4
)との接触面積を大きくすることにより電極−半導体界
面での接触抵抗を少なくすることができるという他の特
徴をも有する。
にとっても電子にとっても、そのドリフト長をともに短
くすることができ、さらにその半導体(7)と電極(4
)との接触面積を大きくすることにより電極−半導体界
面での接触抵抗を少なくすることができるという他の特
徴をも有する。
さらにこの基板での凹凸の鋸状表面が、プラズマCVD
またはLPCV Dで作られる半導体(4)の表面(半
導体(7)−電極(8)界面)をも合わせて同様の凹凸
を誘発し、この凹凸面が500八〜ン一その光路を乱反
射により長くすることができる。
またはLPCV Dで作られる半導体(4)の表面(半
導体(7)−電極(8)界面)をも合わせて同様の凹凸
を誘発し、この凹凸面が500八〜ン一その光路を乱反
射により長くすることができる。
このため裏面電極での凹凸は、結果的にさらにすぐれた
効率の向」二を促すことができる。特に600nm以上
の長波長光をより長時間(長光路)半導体中にとじこめ
ておくことができ、長波長領域での量子効率の向上を促
すことができた。
効率の向」二を促すことができる。特に600nm以上
の長波長光をより長時間(長光路)半導体中にとじこめ
ておくことができ、長波長領域での量子効率の向上を促
すことができた。
また基板(1)の鋸状(鋸の歯状)の角度(33)は母
材を(100)を有する珪素基板の角度選択エッチを行
うため、約70°と一定であり、またそのピッチ(33
) 、高低差(34)を基板のすべてにおいてほぼ一様
とすることができる。このため一部の凸部が極端に大き
く、そこでの上下電極間のショー トによる歩留り低下
がないという他の特徴を有する。
材を(100)を有する珪素基板の角度選択エッチを行
うため、約70°と一定であり、またそのピッチ(33
) 、高低差(34)を基板のすべてにおいてほぼ一様
とすることができる。このため一部の凸部が極端に大き
く、そこでの上下電極間のショー トによる歩留り低下
がないという他の特徴を有する。
この長波長光に関しては、第二図に示すごとく裏面電極
が表面と同様に凹凸裏面を有し、さらにCTFと反射用
電極とすることにより長波長光の乱反射を促し、その反
射効率を高めることができるという特徴を有する。
が表面と同様に凹凸裏面を有し、さらにCTFと反射用
電極とすることにより長波長光の乱反射を促し、その反
射効率を高めることができるという特徴を有する。
第4図は本発明のpvcを作るための製造工程を示した
ものである。
ものである。
実施例1
図面に従って本発明の実施例としての製造工程を示す。
母材(40)は(100)面を有する珪素単結晶をもち
いた。さらにこの上面を十分清浄とU2、自然酸化物を
除去した。さらにこの−り面に選択的に酸化珪素をドツ
ト状または網目状に形成さゼた。
いた。さらにこの上面を十分清浄とU2、自然酸化物を
除去した。さらにこの−り面に選択的に酸化珪素をドツ
ト状または網目状に形成さゼた。
ドツト状に形感させるには、塗付法に用いられるガラス
(M化珪素ガラス)溶液を有機溶材例えばア゛ルコール
にて希釈して、スプレー法にて飛散塗付し、各ドツトが
その大きさを100λ〜0.ン例えば50〇への半球粒
とし、この粒間隔(ピッチ0.1〜0、シ例えば約20
0OAとして形成した。さらにこれを500〜600’
Cの空気中で焼成して酸化珪素粒とした。
(M化珪素ガラス)溶液を有機溶材例えばア゛ルコール
にて希釈して、スプレー法にて飛散塗付し、各ドツトが
その大きさを100λ〜0.ン例えば50〇への半球粒
とし、この粒間隔(ピッチ0.1〜0、シ例えば約20
0OAとして形成した。さらにこれを500〜600’
Cの空気中で焼成して酸化珪素粒とした。
この後この焼成を経ても粒のない部分の10〜50大の
厚さの酸化珪素膜を1/10弗酸(弗酸を10倍の水で
希釈したもの)にて除去していわゆる島状、クラスタ状
に酸化珪素膜を形成させて出発材料とした。
厚さの酸化珪素膜を1/10弗酸(弗酸を10倍の水で
希釈したもの)にて除去していわゆる島状、クラスタ状
に酸化珪素膜を形成させて出発材料とした。
か<′シて選択的に酸化珪素のマスクが形成された珪素
母料をAPWにて異方性エソヂングを行なった。
母料をAPWにて異方性エソヂングを行なった。
即ち、例えばエチレンジアミン17cc、ピロカテコー
ル3gr 、水8ccの溶液中、約IQOC土5’Cに
て10分〜1時間加熱し、窒素中でバブルすることによ
り、第4図(A)における母材(1)は(100)面(
35)に対し、(111) 、(36)を有し、その
角度(30)は70.5を得ることができた。 (10
0)の方位が少しずれると、この角度は70.5’、l
:、りもずれ70°近傍の角度を有する。
ル3gr 、水8ccの溶液中、約IQOC土5’Cに
て10分〜1時間加熱し、窒素中でバブルすることによ
り、第4図(A)における母材(1)は(100)面(
35)に対し、(111) 、(36)を有し、その
角度(30)は70.5を得ることができた。 (10
0)の方位が少しずれると、この角度は70.5’、l
:、りもずれ70°近傍の角度を有する。
さらにこのAPWを水洗した後、マスクの酸化珪素を弗
酸液にて除去した。この後必要に応じてマスク部の平坦
部を除去するため、0.1〜2分AI’W藩中にて再び
エツチングをしてもよい。
酸液にて除去した。この後必要に応じてマスク部の平坦
部を除去するため、0.1〜2分AI’W藩中にて再び
エツチングをしてもよい。
次ぎに第一図においては、0.65〜2.2mmの厚さ
のガラス板例えば1ノIIIINの厚さのガラス板(2
)状に、アルコール等の有機溶剤にとかした珪素化塗付
して塗付層(3)を形成した。
のガラス板例えば1ノIIIINの厚さのガラス板(2
)状に、アルコール等の有機溶剤にとかした珪素化塗付
して塗付層(3)を形成した。
ここでは東京応化社製の溶剤(OCD 5i−1100
0酸化珪素用)を用いた。
0酸化珪素用)を用いた。
屈折率をガラスより大きくせんとする場合は、酸化珪素
中に酸化チタンを混入させた。
中に酸化チタンを混入させた。
実際には溶液を塗付した後、スピナーにて10回/分の
速さで回転して塗付して、塗41層を形成した。
速さで回転して塗付して、塗41層を形成した。
かくして絶縁物(3)を形成した。
さらにこの後、空気中にてso−、,3orfc例えば
15(1’cにてベータを10〜30分行い、アルコー
ル等の溶剤を気化して除去した。 − この後、−第4図(A)に示すごとく、母材(40)゛
を上方に配設し、スタンプのように圧力をかけてガラス
板(2)上に圧着(密着)して、その表面を鋸状表面に
変形さ川゛た。
15(1’cにてベータを10〜30分行い、アルコー
ル等の溶剤を気化して除去した。 − この後、−第4図(A)に示すごとく、母材(40)゛
を上方に配設し、スタンプのように圧力をかけてガラス
板(2)上に圧着(密着)して、その表面を鋸状表面に
変形さ川゛た。
すると絶縁物(3′)は仮焼成がなされたのみであるた
め、この圧力で変形し、母材の形状のように変形して鋸
状の凹凸表面を有する。
め、この圧力で変形し、母材の形状のように変形して鋸
状の凹凸表面を有する。
か(して第4図を得た。
この後この表面の絶縁物(3′)をガラス化するため、
400〜8006C例えば600°Cの温度に加熱酸化
して、基板と一体化せしめた。
400〜8006C例えば600°Cの温度に加熱酸化
して、基板と一体化せしめた。
するとこの絶縁物のガラス化の際、体積が15〜〜30
%減少するため、凸部は母材よりも小さくなりその先端
は若干丸みを帯びてくる。
%減少するため、凸部は母材よりも小さくなりその先端
は若干丸みを帯びてくる。
この鋸状の表面をさらに鋭くするには母材の角度を7
’0 、5’ではなく65r〜55’、!:すればよい
。
’0 、5’ではなく65r〜55’、!:すればよい
。
かくして透光性基体(1)の−主面はブロッキング層(
3)により鋸状の凹(14)凸(13)表面を有し、か
つその角度を70.5またはその近傍(12t、−10
0以内)にすることができた。
3)により鋸状の凹(14)凸(13)表面を有し、か
つその角度を70.5またはその近傍(12t、−10
0以内)にすることができた。
加えてCTF内へのすトリューム、力°リュームのガラ
ス基板よりの含浸(逆拡散)を防ぐことができ、その結
果CTFの透過率の減少、シーI−抵抗の増加を防ぐこ
とができた 第4図(B)は透光性基板(1)であってかつその主面
が70゛またはその近傍の角度を有するものである。ま
たこの凹(14)凸(13)の表面上にはLPCV D
法またはPCvD法により第一の電極を構成するCTF
を形成させた。
ス基板よりの含浸(逆拡散)を防ぐことができ、その結
果CTFの透過率の減少、シーI−抵抗の増加を防ぐこ
とができた 第4図(B)は透光性基板(1)であってかつその主面
が70゛またはその近傍の角度を有するものである。ま
たこの凹(14)凸(13)の表面上にはLPCV D
法またはPCvD法により第一の電極を構成するCTF
を形成させた。
すなわちLPCV D法においては、300〜55σC
の温度にてInCl、と5nC−または 5bC1,と
をインジュームスズ、またはアンチモンの反応性気体と
してもちいた。例えば酸化スズを作るには、5nC11
と酸化物気体である空気とを混合し、0.1〜10to
rr例えば1 torrに保持された反応炉中に基板を
配置した。
の温度にてInCl、と5nC−または 5bC1,と
をインジュームスズ、またはアンチモンの反応性気体と
してもちいた。例えば酸化スズを作るには、5nC11
と酸化物気体である空気とを混合し、0.1〜10to
rr例えば1 torrに保持された反応炉中に基板を
配置した。
この基板を300〜6ocfc例えば450℃に加熱し
て前記した反応性気体を流した。かくすると減圧下であ
るため、反応性気体の平均自由行程は大きくなり、鋸状
表面の斜部分にも均一番こ酸化スズ膜を1000〜30
00人の厚さに作ることができた。ITO(酸化スズが
5%添加された酸化インジューム)においては、反応性
気体として塩化インジュームを塩化スズと20=1とし
同時に加えてもよい。
て前記した反応性気体を流した。かくすると減圧下であ
るため、反応性気体の平均自由行程は大きくなり、鋸状
表面の斜部分にも均一番こ酸化スズ膜を1000〜30
00人の厚さに作ることができた。ITO(酸化スズが
5%添加された酸化インジューム)においては、反応性
気体として塩化インジュームを塩化スズと20=1とし
同時に加えてもよい。
pcvo法を行う場合には、0.01〜2 torrと
し、LI”cvp法と同じ出発材料を室温〜1601C
にて高周波例えば13.56MHzにて加えた。
し、LI”cvp法と同じ出発材料を室温〜1601C
にて高周波例えば13.56MHzにて加えた。
かくして鋸状表面に均一な膜厚にて作ることがテキタ。
コ(7)CTFはコノ後400〜600”C例えば50
(1’cにて空気中での焼成(30分〜3時間)をする
ことはその電気伝導度を高めるために有効であった。
(1’cにて空気中での焼成(30分〜3時間)をする
ことはその電気伝導度を高めるために有効であった。
この500℃での°CTF(4)の焼成の際、基板ガラ
ス(2)のカリュームをCTF中に逆拡散させないため
、このブロッキングM(3)はきわめて大きな効果を有
していた。
ス(2)のカリュームをCTF中に逆拡散させないため
、このブロッキングM(3)はきわめて大きな効果を有
していた。
即ちこの実施例ではシーI−抵抗値20〜25立A透過
率95%を400〜600nmの領域にて有せしめるこ
とができた。しかしこのブロッキング屓のない単なる化
学強化ガラス上にCTFを前記した方法で形成すると、
カリュームの逆拡散により、シート抵抗が70〜150
−’=’El+ とロットバラツキが大きくなり、か
つその抵抗率も高くなってしまった。加えて失透現象が
表面での反射に加えて起き、透過率は70%しか達成で
きなかった。
率95%を400〜600nmの領域にて有せしめるこ
とができた。しかしこのブロッキング屓のない単なる化
学強化ガラス上にCTFを前記した方法で形成すると、
カリュームの逆拡散により、シート抵抗が70〜150
−’=’El+ とロットバラツキが大きくなり、か
つその抵抗率も高くなってしまった。加えて失透現象が
表面での反射に加えて起き、透過率は70%しか達成で
きなかった。
か(して加熱ベータ工程において、ガラスよりアルカリ
金属の逆拡散をブロッキングN(3)が防ぐことができ
、失透、シート抵抗の増加を防ぐことができ、本発明は
PvCとしての変換効率向上に大きく寄与することがで
きた。
金属の逆拡散をブロッキングN(3)が防ぐことができ
、失透、シート抵抗の増加を防ぐことができ、本発明は
PvCとしての変換効率向上に大きく寄与することがで
きた。
なおCTFの形成にはCF2Orを含有した5nCI、
を酸化物気体とともに400〜600’C例えば500
6Cで1〜3torrで1000〜250OAの厚さに
形成してもよい。
を酸化物気体とともに400〜600’C例えば500
6Cで1〜3torrで1000〜250OAの厚さに
形成してもよい。
さらにその後第4図(C)に示すごとく、プラズマ気相
法により、シランとメタンを主成分としてP型の5tX
c+−、(0< x <1 )を約100人の厚さに形
成した。さらにBJI、を0.5〜IPPM添加してシ
ランまたはIIF人のシランの反応により公知のプラズ
マ気相法で平均映厚0.4〜O,F37=例えば平均0
令の厚さに形成した。この時非単結晶半導体(7)の裏
面は凹凸の鋸状の曲面を有し、その高低差は0.1〜0
゜2戸近くになっていた。さらにN型半導体を円5/5
iH9−1%、Si H,/ H,> 10として、プ
ラズマ気相法で100〜20〇への平均厚さに微結晶化
して作った。
法により、シランとメタンを主成分としてP型の5tX
c+−、(0< x <1 )を約100人の厚さに形
成した。さらにBJI、を0.5〜IPPM添加してシ
ランまたはIIF人のシランの反応により公知のプラズ
マ気相法で平均映厚0.4〜O,F37=例えば平均0
令の厚さに形成した。この時非単結晶半導体(7)の裏
面は凹凸の鋸状の曲面を有し、その高低差は0.1〜0
゜2戸近くになっていた。さらにN型半導体を円5/5
iH9−1%、Si H,/ H,> 10として、プ
ラズマ気相法で100〜20〇への平均厚さに微結晶化
して作った。
この後第二のCTF(9)をITOを公知の電子ビーム
蒸着法または第一〇CTFと同様のpcvoまたはLP
CV D法テ900〜1300Å例えば1050人の平
均厚さに形成させた。さらにこのCTFJ二に反射用の
アルミニュームを主成分とする電極(19)を真空蒸着
法またはTMA(+−リメチルアルミニューム)を用い
てLPCV D法により形成さセた。
蒸着法または第一〇CTFと同様のpcvoまたはLP
CV D法テ900〜1300Å例えば1050人の平
均厚さに形成させた。さらにこのCTFJ二に反射用の
アルミニュームを主成分とする電極(19)を真空蒸着
法またはTMA(+−リメチルアルミニューム)を用い
てLPCV D法により形成さセた。
かくのごとくして、第4図(’C)の構造をえた。
この第4図(C)で得られた特性を略記すると開放電圧
0.92V、短絡電流18.9mA/c♂、曲線因子6
1.0%、変換効率10.6%であった。
0.92V、短絡電流18.9mA/c♂、曲線因子6
1.0%、変換効率10.6%であった。
実施例2
この実施例は実施例1と同様の工程で第4図に従って示
した。
した。
しかし母材(40)の製造方法は以下のごとくつにした
。
。
また他の構造として、網目状またはスダレ状に鋸状主面
を形成させるには、以下のごとくとした。
を形成させるには、以下のごとくとした。
ずなわら網の幅0.3〜57、矩形鋸歯またはクシ状の
鋸歯の開穴(ピッチ)は0.3〜?とじ、この網目(ク
シ口)は<110>方向に配向さセた。ずなわち(10
0)面の珪素基板の表面を清浄にした後、1100’C
の酸素中で熱酸化して、500〜1000人の厚さの酸
化珪素膜を形成した。この後この上面にフォトレジスト
を塗付し、フ第1・エツチング法にて網目状またはクシ
状(スダレ状ともいう)のパターンを形成した。さらに
このレジスI・膜をマスクとして、残部の酸化珪素膜を
1/lO弗酸にて除去した。かくして網またはクシが<
110 >に配向して、酸化珪素膜を形成した。
鋸歯の開穴(ピッチ)は0.3〜?とじ、この網目(ク
シ口)は<110>方向に配向さセた。ずなわち(10
0)面の珪素基板の表面を清浄にした後、1100’C
の酸素中で熱酸化して、500〜1000人の厚さの酸
化珪素膜を形成した。この後この上面にフォトレジスト
を塗付し、フ第1・エツチング法にて網目状またはクシ
状(スダレ状ともいう)のパターンを形成した。さらに
このレジスI・膜をマスクとして、残部の酸化珪素膜を
1/lO弗酸にて除去した。かくして網またはクシが<
110 >に配向して、酸化珪素膜を形成した。
かくして(100)基板の結晶方法を利用して、矩形鋸
歯またはクシ状の鋸歯構造の型を作ることができた。
歯またはクシ状の鋸歯構造の型を作ることができた。
他は実施例1と同様に行った。
この方法においては、フメトエ・ノチング工程を必要と
する欠点を有するが、他方鋸歯の高低差が実施例よりも
さらに少なく、はとんどなし1゜そのため−L下電極間
がショー 1・する等の製造歩留りの低下が全く見られ
ず、85%以上を電卓用の複合集積構造で有せしめるこ
とができた。
する欠点を有するが、他方鋸歯の高低差が実施例よりも
さらに少なく、はとんどなし1゜そのため−L下電極間
がショー 1・する等の製造歩留りの低下が全く見られ
ず、85%以上を電卓用の複合集積構造で有せしめるこ
とができた。
実施例3
この実施例は塗付層を導電性層としたものである。
即ち1.1mmの厚さの化学強化ガラス上に第1の塗付
層である珪素化物塗付溶液を東京応化社製の溶剤(OC
D 5i−41000>にて0.y4の厚さに形成した
。
層である珪素化物塗付溶液を東京応化社製の溶剤(OC
D 5i−41000>にて0.y4の厚さに形成した
。
さらにこの塗付層のアルコール成分を加熱酸化による仮
焼成をして除去した後、第2の塗付層を同様にインジュ
ーム化物、スズ化物またはITO用のその混合物03通
する溶液を、東京応化社製(インジュームフィルムまた
はCG、−3)を用いて形成した。この導電性塗付層を
形成し、同様にプリベークを200’C130分大気中
にて行った。
焼成をして除去した後、第2の塗付層を同様にインジュ
ーム化物、スズ化物またはITO用のその混合物03通
する溶液を、東京応化社製(インジュームフィルムまた
はCG、−3)を用いて形成した。この導電性塗付層を
形成し、同様にプリベークを200’C130分大気中
にて行った。
かくして第4図(A)の構造をうろことができた。
この後の工程は実施例1と同様である。
本実施例においては、第1のCTFの一部をこの鋸歯上
の領域に構成するため、このCTFとしての電気伝導度
を実施例1が40〜50n10 であったものを20
〜3しへろ に下げることができ、光電変換装置として
のFF (曲線因子)を14%向上させることができた
。
の領域に構成するため、このCTFとしての電気伝導度
を実施例1が40〜50n10 であったものを20
〜3しへろ に下げることができ、光電変換装置として
のFF (曲線因子)を14%向上させることができた
。
その結果、光電変換装置としての特性は、開放電圧0.
91 V、短絡電流17.4m八へcm″、曲線因子1
0%効率11.1%を得ることができた。
91 V、短絡電流17.4m八へcm″、曲線因子1
0%効率11.1%を得ることができた。
以上のごとく、本発明によりガラス基板内のすI・リュ
ーム等に対しては、第1の塗付膜によりブロッキングを
しているため、CTFのシート抵抗の低下は450〜5
506C1大気中のベーク(CTFO高透過率化、高伝
導度化に有効)は特性に対し全く観察されなかった。
ーム等に対しては、第1の塗付膜によりブロッキングを
しているため、CTFのシート抵抗の低下は450〜5
506C1大気中のベーク(CTFO高透過率化、高伝
導度化に有効)は特性に対し全く観察されなかった。
以上の説明で明らかなごとく、本発明は透光性基板上に
鋸状の凹凸を作るため、凹凸表面を有する母材をスタン
プのごとくにしてガラス基板表面の塗付層に転写せしめ
、この塗付層を焼成して基板と一体化させる工程により
、入射光面側の基体(基板およびブロッキング層)それ
自体に凹凸表面を有せしめることができた。
鋸状の凹凸を作るため、凹凸表面を有する母材をスタン
プのごとくにしてガラス基板表面の塗付層に転写せしめ
、この塗付層を焼成して基板と一体化させる工程により
、入射光面側の基体(基板およびブロッキング層)それ
自体に凹凸表面を有せしめることができた。
なお本発明において、母材は(100)面ををする珪素
の鋸状板を用いた。
の鋸状板を用いた。
しかしステンレスの板または筒状ロールにダイヤモンド
針にて「けがさ」を与え、くし型、矩形または三角形に
706またはその近傍の角度例えば60”に0.4〜1
.姥例えば0.トビソチで作り、母材とすることはきわ
めて有効である。
針にて「けがさ」を与え、くし型、矩形または三角形に
706またはその近傍の角度例えば60”に0.4〜1
.姥例えば0.トビソチで作り、母材とすることはきわ
めて有効である。
本発明においてP■Nをひとつ有する半導体では“なく
、r”1NPIN・・・・ PIN接合を有するクンデ
ム構造としても有効である。
、r”1NPIN・・・・ PIN接合を有するクンデ
ム構造としても有効である。
また半導体はプラズマ気相法による珪素を主成分とする
非単結晶半導体とした。しかし5ixGel((0<x
< 1)、5ixSnl、((0<x< 1)、Si、
N4J3<Xく4)としてもよい。
非単結晶半導体とした。しかし5ixGel((0<x
< 1)、5ixSnl、((0<x< 1)、Si、
N4J3<Xく4)としてもよい。
以上の説明より明らかなように、本発明は透光性基板と
して0.65〜2.3mmの厚さのガラス板をもらいた
。しかしごの基板として0.1〜107Mの厚さの可曲
性のガラス又は石英を用いても有効である。
して0.65〜2.3mmの厚さのガラス板をもらいた
。しかしごの基板として0.1〜107Mの厚さの可曲
性のガラス又は石英を用いても有効である。
さらにこの基板として透光性のポリイミド、ボ1、す□
゛??ミド有機In脂とし、この有機樹脂上にブロッキ
ング層を本発明方法により形成してもよい。
゛??ミド有機In脂とし、この有機樹脂上にブロッキ
ング層を本発明方法により形成してもよい。
第1図は従来の光電変換装′置の縦Itli面図を示す
。 第2図は本発明の光電変換装置の縦断面図を示す。 第3図は本発明の光電変換装置の原理を示ず縦w1面図
をしめず。 第4図は本発明の光電変換装置の作製方法を示′」゛。 特許出願人 鼠2 (’3 ]] □□−ヨL □−づ 0 r3 ′lt/ 一5ノ −9 どI! B m−5′ □グ ーーー( −9 5 一ε (〔λ 14 も4Cコ
。 第2図は本発明の光電変換装置の縦断面図を示す。 第3図は本発明の光電変換装置の原理を示ず縦w1面図
をしめず。 第4図は本発明の光電変換装置の作製方法を示′」゛。 特許出願人 鼠2 (’3 ]] □□−ヨL □−づ 0 r3 ′lt/ 一5ノ −9 どI! B m−5′ □グ ーーー( −9 5 一ε (〔λ 14 も4Cコ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ■、透光性基板上に、有機物溶媒に溶解または混合した
珪素化物またはその混合物を主成分とする絶縁物または
インジューム化物、スズ化物またはその混合物を主成分
とする導電物を塗付層と2した後、50〜300’Cに
加熱酸化して前記有機物溶媒を気化して、前記酸化珪素
またはその混合物を主成分とする絶縁物、または酸化イ
ンジューム、酸化スズまたはその混合物を主成分とする
導電物の塗付層を前記基板上に形成せしめる工程と、7
0またはその近傍の角度の鋸状表面を有する母材を前記
塗付層゛に圧着または密着せしめて、前記塗付層の表面
を鋸状に変形せしめる工程と、前記基板および前記変形
した塗付層を400〜800tに加熱焼成することによ
り、前記塗付層を透光性を有し70’またはその近傍の
角度を有する鋸状表面を有するフロンキング層として前
記基板上に一体化せ°しめる工程と、前記透光性絶縁物
表面上に透光性導電膜の第1の電極を形成する工程と、
該導電膜上に光照射により光起電力を発生させる非単結
晶半導体を形成する工程と、該半導体上に第2の電極を
形成する工程とを有することを特徴とする光電変換装置
作製方法。 2、特許請求の範囲第1項において、透光性基板として
表面および裏面にカリュームが添加された化学強化ガラ
スが用いられたことを特徴とする光電変換装置作製方法
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58026851A JPS59152673A (ja) | 1983-02-19 | 1983-02-19 | 光電変換装置作製方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58026851A JPS59152673A (ja) | 1983-02-19 | 1983-02-19 | 光電変換装置作製方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59152673A true JPS59152673A (ja) | 1984-08-31 |
Family
ID=12204774
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58026851A Pending JPS59152673A (ja) | 1983-02-19 | 1983-02-19 | 光電変換装置作製方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59152673A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6245079A (ja) * | 1985-08-22 | 1987-02-27 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | 太陽電池用基板およびその製法 |
EP0260152A2 (en) * | 1986-09-12 | 1988-03-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Organic conductive medium |
JP2010526430A (ja) * | 2007-05-04 | 2010-07-29 | サン−ゴバン グラス フランス | 改良型電極層を備えた透明基材 |
JP2011003639A (ja) * | 2009-06-17 | 2011-01-06 | Kaneka Corp | 結晶シリコン系太陽電池とその製造方法 |
-
1983
- 1983-02-19 JP JP58026851A patent/JPS59152673A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6245079A (ja) * | 1985-08-22 | 1987-02-27 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | 太陽電池用基板およびその製法 |
JPH0566753B2 (ja) * | 1985-08-22 | 1993-09-22 | Kanegafuchi Chemical Ind | |
EP0260152A2 (en) * | 1986-09-12 | 1988-03-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Organic conductive medium |
JP2010526430A (ja) * | 2007-05-04 | 2010-07-29 | サン−ゴバン グラス フランス | 改良型電極層を備えた透明基材 |
JP2011003639A (ja) * | 2009-06-17 | 2011-01-06 | Kaneka Corp | 結晶シリコン系太陽電池とその製造方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4497974A (en) | Realization of a thin film solar cell with a detached reflector | |
JPS59127879A (ja) | 光電変換装置およびその作製方法 | |
JPH02503615A (ja) | 太陽電池用基板 | |
KR20030081662A (ko) | 이중층 반사방지막이 형성된 태양전지 | |
JPH02177569A (ja) | 太陽電池の製造方法 | |
JPS59152672A (ja) | 光電変換装置 | |
JP2989373B2 (ja) | 光電変換装置の製造方法 | |
CN116963567A (zh) | 一种在微纳尺度上光刻构建图案制备新型结构钙钛矿太阳电池的方法及产品 | |
JP3238003B2 (ja) | 太陽電池素子の製造方法 | |
WO2020156239A1 (zh) | 光电二极管及其制备方法、电子设备 | |
JPS61288473A (ja) | 光起電力装置 | |
JPS59152673A (ja) | 光電変換装置作製方法 | |
KR101023144B1 (ko) | 전사법을 이용한 태양전지 및 그 제조방법 | |
JPH05129640A (ja) | 太陽電池およびその製造方法 | |
JP3301663B2 (ja) | 太陽電池の製造方法 | |
JPH03125481A (ja) | 光起電力装置 | |
JPS6269408A (ja) | 透明導電膜の粗面化方法 | |
CN102257631A (zh) | 薄膜型太阳能电池及其制造方法 | |
JPH05198830A (ja) | 光電変換装置作製方法 | |
JP4570255B2 (ja) | 光電変換装置 | |
JPH0578195B2 (ja) | ||
JP2835415B2 (ja) | 光電変換素子 | |
JPS62137873A (ja) | 光電変換装置の製造方法 | |
JPS59125669A (ja) | 太陽電池 | |
JP2005108909A (ja) | 光起電力装置 |