JPS5897647A - 回路基板検査装置 - Google Patents
回路基板検査装置Info
- Publication number
- JPS5897647A JPS5897647A JP19560881A JP19560881A JPS5897647A JP S5897647 A JPS5897647 A JP S5897647A JP 19560881 A JP19560881 A JP 19560881A JP 19560881 A JP19560881 A JP 19560881A JP S5897647 A JPS5897647 A JP S5897647A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- circuit board
- circuit substrate
- light source
- holding device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
- B07C5/34—Sorting according to other particular properties
- B07C5/3416—Sorting according to other particular properties according to radiation transmissivity, e.g. for light, x-rays, particle radiation
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の技術分野
本発明は回路基板上のチップ部品の有無の良否を自動的
に判別する回路基板検査装置に関する。
に判別する回路基板検査装置に関する。
発明の技術的背景
近時、例えば抵抗やコンデンサ等のリード−のないチッ
プ部品を基本格子が設定され九回路基板上に接着する技
術が確立されている。これと同時に、例えは本出願人に
よる先願である特願昭５６−９９６２１ ｒ回路基板検
査装置」のように上記基本格子の特定の交点上に存在す
べきチップ部品の有無を自動的に検査する装置も開発さ
れている。
プ部品を基本格子が設定され九回路基板上に接着する技
術が確立されている。これと同時に、例えは本出願人に
よる先願である特願昭５６−９９６２１ ｒ回路基板検
査装置」のように上記基本格子の特定の交点上に存在す
べきチップ部品の有無を自動的に検査する装置も開発さ
れている。
背景技術の藺題点
上記先願技術においては、光源を固定した状態で、回路
基板又は受光部を動かしていた′。その結果、光源と受
光部との位置関係が変動し光源から投射された光の回路
基板上における強度分布が不拘＝となり、取付は不良部
位を看過したシ、正常部位を「不良」と誤認してしまう
弊害を有して′いるＯ 発明の目的 本２発明は、光源から投射される光の囲路基板上におけ
るむらをできるだけ少なくシ、極めて正確な回路基板検
査装置を提供するＫある。
基板又は受光部を動かしていた′。その結果、光源と受
光部との位置関係が変動し光源から投射された光の回路
基板上における強度分布が不拘＝となり、取付は不良部
位を看過したシ、正常部位を「不良」と誤認してしまう
弊害を有して′いるＯ 発明の目的 本２発明は、光源から投射される光の囲路基板上におけ
るむらをできるだけ少なくシ、極めて正確な回路基板検
査装置を提供するＫある。
発明の概要
光源と受光部とを支持体によシ一体的に支持しこの支持
体を回路基板に対して相対的移動自在としたものである
。
体を回路基板に対して相対的移動自在としたものである
。
発明の実施例
第１図に示すように、透光性の回路基板（１）は保持装
置ｅ）により、′一定位置に回定されている。この保持
装置（２）は回路基板（１）の４個の端縁部のみを密接
して支持するように設けられている。さらに、上記回路
基板（１）を挾むように基部（３）、上腕部（４）及び
下腕部（５）からなるコの字状の支持体（６）が基部（
３）に螺合された送りねじ（ηによプ第２図矢印（８）
方向に移動自在に設けられている。上記上腕部（４）及
び下腕部（５）は長手方向に直角な断面が矩形であって
、上腕部（４）及び下腕部（５）と回路基板（１）との
距離は、どの位置でも一定であるようＫなっている。さ
らに、上腕部（４）及び下腕部（５）は、回路基板（１
）上にあらかじめ設定されている基本格子を構成する緯
−又は経−のいずれか−方に平行になるようになってい
る。そうして、上腕部（４）には複数の光ファイバ（９
）・・・が上記基本格子の緯線又は経線のいずれか一方
に平行になるように一列に支持されている。
置ｅ）により、′一定位置に回定されている。この保持
装置（２）は回路基板（１）の４個の端縁部のみを密接
して支持するように設けられている。さらに、上記回路
基板（１）を挾むように基部（３）、上腕部（４）及び
下腕部（５）からなるコの字状の支持体（６）が基部（
３）に螺合された送りねじ（ηによプ第２図矢印（８）
方向に移動自在に設けられている。上記上腕部（４）及
び下腕部（５）は長手方向に直角な断面が矩形であって
、上腕部（４）及び下腕部（５）と回路基板（１）との
距離は、どの位置でも一定であるようＫなっている。さ
らに、上腕部（４）及び下腕部（５）は、回路基板（１
）上にあらかじめ設定されている基本格子を構成する緯
−又は経−のいずれか−方に平行になるようになってい
る。そうして、上腕部（４）には複数の光ファイバ（９
）・・・が上記基本格子の緯線又は経線のいずれか一方
に平行になるように一列に支持されている。
上記光ファイバ（９）・・・の一端面は、光ファイバ（
９）・・・が緯線に平行に配列されている場合は、経線
との交点に、経線に平行に配列されている場合は、緯線
との交点に対向するように格子間隔ととに配列されてい
る。光ファイバ（９）・・・Ｏ他端面は、それぞれ支持
体（６）からは離間して設けられたフォ））ツン′ジス
タやフォトダイオードなどの受光素子α骨−・・に対向
するように設けられている。上記光ファイバ（９）・・
・は、支持体（６）の進退に支障がない程度に十分な長
さを有している。上記章光素子Ｑｌ・・・は光ファイバ
（９）・・・により搬送されてき九光を光電変換するも
ので、光ファイバ（９）・・・とともに受光部ａυを構
成している。一方、下腕部（５）の回路基板（１）Ｋ対
向する面上には複数の光源ａｚ・・・が、これら光源ａ
４から回路基板（１）に投射された光量が少なくとも光
ファイバ（９）・・・が対向している回路基板（１）領
域にオイては均一になるように等間隔で固定され、かつ
図示せぬ電源に電気的に接続されている。第五図に示す
ように上記送りねじ（ηの一端部は継手０を介して直流
モータ（１４１の回転軸の一端部に接続されている。こ
の直流モータ（１４１の回転軸の他端部にはエンコーダ
ｆ１５１が接続されている。上記エンコーダ（＋５１の
出力側には、基本格子の格子間隔に和尚するパルス数ご
とに１個のパルスを出力する位置検出器ｕｂＩが電気的
に接続されている。この位置検出器ａｌ１９の出力側に
は、各受光素子（１（１・・・との電気的１絖を高速で
順次切換るためのマルチプレクサＱ７）が接続されてい
る。このマルチプレクサＱ７）の入力側に昧、増幅器Ｃ
１団・・・を介して受光素子ａ呻・・・が電気的に接続
されている。上記マルチプレクサ（Ｉηの出力側には、
明暗を識別するため゛の閾値が設定された２値化回路０
９が設けられ、マルチプレクサ（１７）と２値化回路０
は合わさって２値化信号発生部（至）を構成している。
９）・・・が緯線に平行に配列されている場合は、経線
との交点に、経線に平行に配列されている場合は、緯線
との交点に対向するように格子間隔ととに配列されてい
る。光ファイバ（９）・・・Ｏ他端面は、それぞれ支持
体（６）からは離間して設けられたフォ））ツン′ジス
タやフォトダイオードなどの受光素子α骨−・・に対向
するように設けられている。上記光ファイバ（９）・・
・は、支持体（６）の進退に支障がない程度に十分な長
さを有している。上記章光素子Ｑｌ・・・は光ファイバ
（９）・・・により搬送されてき九光を光電変換するも
ので、光ファイバ（９）・・・とともに受光部ａυを構
成している。一方、下腕部（５）の回路基板（１）Ｋ対
向する面上には複数の光源ａｚ・・・が、これら光源ａ
４から回路基板（１）に投射された光量が少なくとも光
ファイバ（９）・・・が対向している回路基板（１）領
域にオイては均一になるように等間隔で固定され、かつ
図示せぬ電源に電気的に接続されている。第五図に示す
ように上記送りねじ（ηの一端部は継手０を介して直流
モータ（１４１の回転軸の一端部に接続されている。こ
の直流モータ（１４１の回転軸の他端部にはエンコーダ
ｆ１５１が接続されている。上記エンコーダ（＋５１の
出力側には、基本格子の格子間隔に和尚するパルス数ご
とに１個のパルスを出力する位置検出器ｕｂＩが電気的
に接続されている。この位置検出器ａｌ１９の出力側に
は、各受光素子（１（１・・・との電気的１絖を高速で
順次切換るためのマルチプレクサＱ７）が接続されてい
る。このマルチプレクサＱ７）の入力側に昧、増幅器Ｃ
１団・・・を介して受光素子ａ呻・・・が電気的に接続
されている。上記マルチプレクサ（Ｉηの出力側には、
明暗を識別するため゛の閾値が設定された２値化回路０
９が設けられ、マルチプレクサ（１７）と２値化回路０
は合わさって２値化信号発生部（至）を構成している。
上記２値化回路α９の出力側は例えはマイタロコンビー
ータなどのような演算制御部（２１１に接続されている
。そうして、演算制御部Ｑυはドライバーを介して直流
モータａ４に電気的に接続されている。
ータなどのような演算制御部（２１１に接続されている
。そうして、演算制御部Ｑυはドライバーを介して直流
モータａ４に電気的に接続されている。
また、演算制御部Ｑυは検査結果を表示するための例え
ばＣＲＴ などのような表示部のに接続されている。
ばＣＲＴ などのような表示部のに接続されている。
つぎド、本実施例の回路基板検査装置の作動について説
明する。
明する。
まず、回路基板（１）を保持装置（２）に保持し、光源
ａΔ・・・から光を回路基板（１）に向って投射する。
ａΔ・・・から光を回路基板（１）に向って投射する。
また支持体（６）を回路基板（１）のあらかじめ設定さ
れ九検査開始位置直上に設定する。しかして、演算制御
部（２１＋から信号８Ａをドライバ＠に出力すると、ド
ライバのからは駆動電流８Ｂが直流モータα４に出力さ
れ、直流モータＩの回転とともに送りねじ（ηが回転し
、支持体（６）は基板（１）表面に沿って＃ｆ、２図矢
印（８）方向（第１図紙面垂直方向）に移動する。
れ九検査開始位置直上に設定する。しかして、演算制御
部（２１＋から信号８Ａをドライバ＠に出力すると、ド
ライバのからは駆動電流８Ｂが直流モータα４に出力さ
れ、直流モータＩの回転とともに送りねじ（ηが回転し
、支持体（６）は基板（１）表面に沿って＃ｆ、２図矢
印（８）方向（第１図紙面垂直方向）に移動する。
この支持体（６）の移動にともなって、光ファイバ（９
）・・・と光源Ｑ３・・・も一体的に移動する。上記直
流モータＩの回転に対応してエンコーダ（１５１からは
パルス信号ＳＣが位置検出器Ｏｅに出力される。この位
置検出器Ｕ〜にては、支持体（６）が格子間隔だけ移動
したときにエンコーダａ■から出力されるパルス数Ｐ。
）・・・と光源Ｑ３・・・も一体的に移動する。上記直
流モータＩの回転に対応してエンコーダ（１５１からは
パルス信号ＳＣが位置検出器Ｏｅに出力される。この位
置検出器Ｕ〜にては、支持体（６）が格子間隔だけ移動
したときにエンコーダａ■から出力されるパルス数Ｐ。
があらかじめ設定されて、パルス信号ＳＣのパルスＵｐ
がパルス数Ｐｏに到達したと含に、すなわち上腕部に支
持されている光ファイバ（９）・・・列が回路基板（］
）の基本格子の経線又は緯線□の直上位置にきたときに
逐次位置検出器（１６１から信号８Ｄがマルチプレクサ
ａ７）に出力される。一方、光源ａ４・・・から投射さ
れた光は回路基板（１）を透過して各光ファイバ（９）
・・・の一端面に到達する。このとき、チップ部品１２
４１・・・が装着されていると、それらの部分のみ光は
透過せ、ず、チップ部品Ｃ７４Ｊ・・・に対向している
光ファイバ（９）・・・には、光はチップ部品Ｃ２４）
・・・かない場合に比べてわずか℃か達しない。したが
って、光ファイバ（９）・・・の一端部に達する光量の
差によりチップ部品（２）・・・の有無を判別できる。
がパルス数Ｐｏに到達したと含に、すなわち上腕部に支
持されている光ファイバ（９）・・・列が回路基板（］
）の基本格子の経線又は緯線□の直上位置にきたときに
逐次位置検出器（１６１から信号８Ｄがマルチプレクサ
ａ７）に出力される。一方、光源ａ４・・・から投射さ
れた光は回路基板（１）を透過して各光ファイバ（９）
・・・の一端面に到達する。このとき、チップ部品１２
４１・・・が装着されていると、それらの部分のみ光は
透過せ、ず、チップ部品Ｃ７４Ｊ・・・に対向している
光ファイバ（９）・・・には、光はチップ部品Ｃ２４）
・・・かない場合に比べてわずか℃か達しない。したが
って、光ファイバ（９）・・・の一端部に達する光量の
差によりチップ部品（２）・・・の有無を判別できる。
前述したように、光源（１２・・・と光ファイバ（９）
・・・は一体的に移動し光源ａカ・・・と光ファイバ（
９）・・・との位置関係は変動しないのでチップ部品Ｑ
◆・・・有無判別位置における光源ａ″Ｊ・・・から投
射された光量は均一になり光量分布のむらによる判別精
度〜の悪影、譬は豐避されて“る・しかして、光ファイ
バ（９）・・・に違した光は、これら党ファイバ（９）
・・・中を他端面まで伝送され、伝送された光は受光素
子Ｑ（１・・・にて光量に対応した大きさの電圧を有す
る電気信号ＳＥＩ 、 ８Ｅ２・・・に変換される。
・・・は一体的に移動し光源ａカ・・・と光ファイバ（
９）・・・との位置関係は変動しないのでチップ部品Ｑ
◆・・・有無判別位置における光源ａ″Ｊ・・・から投
射された光量は均一になり光量分布のむらによる判別精
度〜の悪影、譬は豐避されて“る・しかして、光ファイ
バ（９）・・・に違した光は、これら党ファイバ（９）
・・・中を他端面まで伝送され、伝送された光は受光素
子Ｑ（１・・・にて光量に対応した大きさの電圧を有す
る電気信号ＳＥＩ 、 ８Ｅ２・・・に変換される。
これら電気信号ＳＥ１ 、 ＳＥ２・・・は増輪器住ト
・・にょプ増幅されマルチプレクサＱ７１に入力する。
・・にょプ増幅されマルチプレクサＱ７１に入力する。
このマルチプレクサ０ηからは位置検出（至）Ｑ６１か
らの信号８Ｄを入力すると同時に受光素子α・・・・か
らの信号８Ｅ１゜８Ｅ２・・・が順次２値化回路（ＩＩ
Ｋ出力される。信号８Ｂ１．８Ｅ２・・・を入力した２
値化回路０にてはあらかじめ設定された閾値Ｖｏよシ信
号８Ｂ１ 、８１２・・・の電圧が大（チップ部品「無
」の場合）であればレベル「１」、小（チップ部品「有
」の場合）であればレベル「０」の信号８Ｆが演算制御
部（２１Ｊに出力される。このような２値化変換は支持
体（６）の移動とともに基本格子の各経線又は各緯線ご
とに行う。演算制御部（２１＋にてはあらかじめチップ
部品（２）・・・の鋏臘が正常である場合の基本格子の
各交点位置におけるレベル「０」あるいはレベル「ｌ」
のいずれかの基準データが記憶されていて、２値化回路
ａ−カ・ら入力したデータとこれらデータと対応する上
記基準データとが逐一比較照合され、両者のデータが一
致している場合は「良」、不一致の場合は「不良」と判
別され、「不良」の場合は回路基板（１）の基本格子上
における装着不良位置が表示部（ハ）にて表示される。
らの信号８Ｄを入力すると同時に受光素子α・・・・か
らの信号８Ｅ１゜８Ｅ２・・・が順次２値化回路（ＩＩ
Ｋ出力される。信号８Ｂ１．８Ｅ２・・・を入力した２
値化回路０にてはあらかじめ設定された閾値Ｖｏよシ信
号８Ｂ１ 、８１２・・・の電圧が大（チップ部品「無
」の場合）であればレベル「１」、小（チップ部品「有
」の場合）であればレベル「０」の信号８Ｆが演算制御
部（２１Ｊに出力される。このような２値化変換は支持
体（６）の移動とともに基本格子の各経線又は各緯線ご
とに行う。演算制御部（２１＋にてはあらかじめチップ
部品（２）・・・の鋏臘が正常である場合の基本格子の
各交点位置におけるレベル「０」あるいはレベル「ｌ」
のいずれかの基準データが記憶されていて、２値化回路
ａ−カ・ら入力したデータとこれらデータと対応する上
記基準データとが逐一比較照合され、両者のデータが一
致している場合は「良」、不一致の場合は「不良」と判
別され、「不良」の場合は回路基板（１）の基本格子上
における装着不良位置が表示部（ハ）にて表示される。
なお、上記実施例においては光ファイバを利用して回路
基板の透過光を集光しているが、光ファイバを介するこ
となく直接受光素子にょシ集光するようにしてもよい。
基板の透過光を集光しているが、光ファイバを介するこ
となく直接受光素子にょシ集光するようにしてもよい。
この場合、光電変換にラインスキャンカメ？ 、 ＣＣ
Ｄ（Ｃｈａｒｇｅ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｄｅｖｉｃｅ）郷
の１次元イメージセンサを用いてもよい。さらに、支持
体（６）を固定し回路基板（１）を動かすようにしても
よい。さらに、２値化回路ａ９の代りにアナログ−ディ
ジタル変換器を設け、ディジタル信号を演算制御部Ｑυ
に出力し、演算制御部ｒ２１１にて２値化演算するよう
にしてもよい。さらにまた、支持体（６）の駆動には直
流モータａ４１を用いているが、パルスモータを用いて
、このパルスモータ駆動用のパルス信号を利用して支持
体（６）の回路基板（１）上における位置検出をするよ
うに・してもよい。さらに、上記実施例においては、回
路基板（１）からの透過光を利用してチップ部品の有無
を判別しているが、回路基板からの反射光を利用する場
合又は透過光及び反射光の両者を利用する場合にも本発
明を適用することができる。また、上記実施例において
は光源の数は複数であるが、回路基板のチップ部品有無
判別位置における光量の分布がほぼ均一であるならば光
源は１個でもよい。
Ｄ（Ｃｈａｒｇｅ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｄｅｖｉｃｅ）郷
の１次元イメージセンサを用いてもよい。さらに、支持
体（６）を固定し回路基板（１）を動かすようにしても
よい。さらに、２値化回路ａ９の代りにアナログ−ディ
ジタル変換器を設け、ディジタル信号を演算制御部Ｑυ
に出力し、演算制御部ｒ２１１にて２値化演算するよう
にしてもよい。さらにまた、支持体（６）の駆動には直
流モータａ４１を用いているが、パルスモータを用いて
、このパルスモータ駆動用のパルス信号を利用して支持
体（６）の回路基板（１）上における位置検出をするよ
うに・してもよい。さらに、上記実施例においては、回
路基板（１）からの透過光を利用してチップ部品の有無
を判別しているが、回路基板からの反射光を利用する場
合又は透過光及び反射光の両者を利用する場合にも本発
明を適用することができる。また、上記実施例において
は光源の数は複数であるが、回路基板のチップ部品有無
判別位置における光量の分布がほぼ均一であるならば光
源は１個でもよい。
発明の効果
本発明は回路基板に対して光を投射する光源及び受光部
を一体的に支持し、これら光源及び受光部を（２）路基
板に対して相対的に移動自在とし九ので、光源と受光部
との位置関係は移動中も変動せず回路基板のいずれのチ
ップ部品有無判別位置においても光源から投射された光
量は均一となシ正確な光の情報をサンプリングすること
ができるＯで、チップ部品判別の信頼性が向上する。
を一体的に支持し、これら光源及び受光部を（２）路基
板に対して相対的に移動自在とし九ので、光源と受光部
との位置関係は移動中も変動せず回路基板のいずれのチ
ップ部品有無判別位置においても光源から投射された光
量は均一となシ正確な光の情報をサンプリングすること
ができるＯで、チップ部品判別の信頼性が向上する。
第１図は本発明の回路基板検査装置の要部正面図、第２
図は第１図の回路基板検査装置の要部側向及び電気回路
系統を示す図である。 （１）・・・回路基板 （２）・・・保持装置ｏｎ
・・・受光部 ａり・・・光源Ｕ４１・・・直流
モータ（駆動機構） 囲・・・演算制御部 （２）・・・チップ部品代理人
弁理士 則 近 憲 佑 （ほか１名）
図は第１図の回路基板検査装置の要部側向及び電気回路
系統を示す図である。 （１）・・・回路基板 （２）・・・保持装置ｏｎ
・・・受光部 ａり・・・光源Ｕ４１・・・直流
モータ（駆動機構） 囲・・・演算制御部 （２）・・・チップ部品代理人
弁理士 則 近 憲 佑 （ほか１名）
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 下記構成を具備することｔ−特徴左する回路基板検査装
置。 ０）チップ部品が装着された回路基板を保持する保持装
置。 （ロ）上記保持装置に保持された回路基板に光を投射す
る光源 （ハ）上記保持装置に保持された回路基板に対向して設
けられ上記光源から投射された光の上記回路基板におけ
る透過光又は反射光を受光して電気信号に変換する一次
元状の受光部 に）上記光源及び上記受光部を一体的に支持する支持体 （ホ）上記支持体及び上記回路基板を相対的かつ進退自
在に駆動する駆動機構 （へ）上記受光部から出力された電気信号に基づいて上
記回路基板上における上記チップ部品の有無の良否を判
別する演算制御部
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19560881A JPS5897647A (ja) | 1981-12-07 | 1981-12-07 | 回路基板検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19560881A JPS5897647A (ja) | 1981-12-07 | 1981-12-07 | 回路基板検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5897647A true JPS5897647A (ja) | 1983-06-10 |
Family
ID=16343982
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19560881A Pending JPS5897647A (ja) | 1981-12-07 | 1981-12-07 | 回路基板検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5897647A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2608782A1 (fr) * | 1986-12-23 | 1988-06-24 | Ima Spa | Dispositif pour la detection de la presence de produits dans des logements correspondants et pour le controle des irregularites du contour de base desdits produits deja introduits dans leurs logements respectifs |
-
1981
- 1981-12-07 JP JP19560881A patent/JPS5897647A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2608782A1 (fr) * | 1986-12-23 | 1988-06-24 | Ima Spa | Dispositif pour la detection de la presence de produits dans des logements correspondants et pour le controle des irregularites du contour de base desdits produits deja introduits dans leurs logements respectifs |
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