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JPS5827871B2 - コンデンサの寿命検知装置 - Google Patents

コンデンサの寿命検知装置

Info

Publication number
JPS5827871B2
JPS5827871B2 JP53041660A JP4166078A JPS5827871B2 JP S5827871 B2 JPS5827871 B2 JP S5827871B2 JP 53041660 A JP53041660 A JP 53041660A JP 4166078 A JP4166078 A JP 4166078A JP S5827871 B2 JPS5827871 B2 JP S5827871B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
capacitor
charging
time interval
circuit
life
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP53041660A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS54133385A (en
Inventor
宏 越智
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP53041660A priority Critical patent/JPS5827871B2/ja
Publication of JPS54133385A publication Critical patent/JPS54133385A/ja
Publication of JPS5827871B2 publication Critical patent/JPS5827871B2/ja
Expired legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Protection Of Static Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はコンデンサの寿命検知装置に関し、特にコンデ
ンサの寿命をリーク電流の変化によって検知するように
したものである。
一般に電子機器等においては、種々のコンデンサを備え
ているが、このコンデンサが寿命末期に至りリーク電流
が増大すると誤動作や事故がしばしば発生する。
特に、大容量の電解コンデンサを備えた電源回路あるい
はコンデンサに充電した充電エネルギーを利用してキセ
ノンランプを閃光放電させてその発光エネルギーにより
記録体上に粉体トナーで形成された可視像を永久像とし
てフラッシュ定着するファクシミリ、プリンタ、複写機
等の充電回路にあっては、コンデンサが寿命末期に至り
リーク電流が増大することによりコンデンサ内部にガス
が発生し、このガスを外部に逃すために設けられた安全
弁が作動して大きな爆発音を発し、周囲に不安を与える
と共にガスの飛散により周辺回路に悪影響を与えるとい
う問題点を有している。
従って本発明の目的は、コンデンサの寿命劣下、特にリ
ーク電流の増大による電子機器あるいは周囲に対する悪
影響を未然に防止し得るようにしたコンデンサの寿命検
知装置を提供することにある。
このような目的を達成するために本発明による寿命検知
装置は、コンデンサの充電電圧が所定値に達したら充電
を停止し、所定値以下になったら再充電を行うことによ
り、充電電圧をほぼ一定値に保持するコンデンサ充電回
路と、前記コンデンサの充電停止から再充電開始までの
時間間隔を予め定められた時間間隔と比較し、前記充電
停止から再充電開始までの時間間隔が予め定められた時
間間隔より短いときリーク電流の増大によるコンデンサ
の寿命劣化を示すアラーム信号を出力する充放電時間間
隔監視回路とから構成したものである。
以下、図面を用いて本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明によるコンデンサの寿命検知装置の一実
施例を示す回路図であって、大別してコンデンサ充電回
路1と充放電時間間隔監視回路(以下、監視回路という
)2とから構成される。
コンデンサ充電回路1において、直流電源1aには制御
スイッチ1bを介して充電用のコンデンサ1c(寿命検
知の対象となるコンデンサ)が並列接続されている。
さらに、このコンデンサ1cには、充電電圧Vを分圧し
て接続点に分圧電圧vDを得る可変抵抗器1dおよび1
eの直列体が並列接続されている。
また、(1)電源と直流電源1aのアース間には抵抗1
fを介して所定の基準電圧Vzを発生するツェナーダイ
オード1gが接続され、このツェナーダイオード1gの
両端に得られる基準電圧Vzは比較器1hに入力される
そして、比較器1hの一方の入力にはコンデンサ1cの
充電電圧Vを可変抵抗器1d、1eによって分圧した分
圧電圧VDが入力され、この比較器1hにおいて基準電
圧VZと分圧電圧VDが比較される。
比較器1hはVl)≧Vzのとき充電停止を示す゛L″
レベルの比較信号、VDくVzのとき充電開始を示す”
■(”レベルの比較信号を制御スイッチ1bに出力する
制御スイッチ1bは、比較器1hから写えられる比較信
号cpが゛L″レベルのときオフとなりコンデンサ1C
に対する充電電流の供給を停止し、比較信号cpが゛1
■″レベルのときオンとなりコンデンサ1cに対する充
電電流の供給を開始する。
従って、このコンデンサ充電回路1は一種の定電圧回路
と考えることができる。
監視回路2において、2aは比較器1hから出力される
比較信号cpの立下りによってトリガされパルス幅τの
ワンショットパルスMを出力する単安定マルチバイブレ
ークであって、パルス幅τは寿命検知対象となるコンデ
ンサ1cのリーク電流が正常な範囲の値における充電停
止から再充電開始までに相当する時間幅に設定される。
2bは、単安定マルチバイブレーク2aが比較信号C0
の立下りによってトリガされた後、比較信号Cpがワン
ショットパルスMの出力期間中において″Hl+レベル
になったときその一致信号をコンデンサ1cの寿命劣化
を示すアラーム信号Aとして出力するアンドゲートであ
る。
以下、この実施例の動作を第2図波形図および第3図タ
イムチャートを用いて説明する。
まず、直流電源1aの電源投入スイッチ(図示せず)が
オンされると、初期状態においてコンデンサ1cの充電
電圧■はゼロであるため、VD〈Vzとなり比較器1h
から充電開始を示す”H1ルベルの比較信号cpが出力
され、これによって制御スイッチ1bがオンし、この制
御スイッチ1bを介してコンデンサ1cに充電電流が供
給され始め、コンデンサICの充電電圧Vは第2図波形
図に示すように時間経過に伴って徐々に」−昇する。
そして、t=t1において、充電電圧Vによる分圧電圧
vDがvD−vzとなると、比較器1hはコンデンサ1
dの充電電圧vが所定値に達したものと判断し、制御ス
イッチ1bに対して充電停止を示す゛L″レベルの比較
信号cpを出力する。
このため、制御スイッチ1bはオフとなり、コンデンサ
1cに対する充電電流の供給は停止される。
その後、コンデンサ1Cのリーク電流および可変抵抗器
id、leを介しての充電電荷の放電によりコンデンサ
1cの充電電圧Vは徐々に低下する。
そして、t−t2で充電電圧Vによる分圧電圧VDがV
D<V2となると、比較器1hから充電開始を示す’H
”レベルの比較信号Cpが出力され、これによってコン
デンサ1cには再び充電電流が供給される。
なお、充電電圧Vがどこまで降下したとき比較器1hが
充電開始を示す“I(” レベルの比較信号Cpを出力
するかは、比較器1hの比較判断のスレシホールドレベ
ルによって定まり、第2図波形図ではこのスレシホール
ドレベルをVsとして示している。
その後、を二t3において充電電圧■による分圧電圧V
DがvD=vZになると、コンデンサ1cに対する充電
は停止される。
従って、コンデンサ1cは、基準電圧Vzと比較器1h
により制御されたほぼ一定の充電電圧Vが所定値Vcと
して保持されるようになる。
そして可変抵抗器1d、1eの抵抗値を寿命検知対象と
なるコンデンサ1cの正常時の特性に対応して予め設定
しておけば、コンデンサ1cに対する充放電周期はこの
コンデンサ1cのリーク電流の変化に対応して変化する
ことになる。
すなわち、コンデンサ1cが寿命末期に至ってリーク電
流が増大すると、充放電周期は短くなる。
従って、コンデンサ1Cの充放電周期を正常時のそれと
比較することによってコンデンサ1cの寿命劣化を検知
することができる。
この場合、コンデンサ1cの充放電周期を示す信号は、
比較器1hから出力される比較信号cpに対応し、比較
信号Cpが”L++レベルになってから(充電停止にな
ってから)”H”レベルになるまで(再充電開始になる
まで)の時間間隔Tを監視することによって寿命劣化を
検知できる。
第3図aは比較器1hから出力される比較信号cpの波
形図であり、この比較信号Cpの゛L″レベル期間T1
.T2.T3はコンデンサ1Cのリーク電流の増大に伴
って短くなる。
そして、この比較信号Cpは監視回路2に入力され、そ
の立下りで単安定マルチバイブレーク2aがトリガされ
、この単安定マルチバイブレーク2aから所定パルス幅
τのワンショットパルスMが出力されル(第3図b)。
そして、比較信号cpの゛L″レベル期間T1がパルス
幅τよりも長ければ、アンドゲート2bは一方の入力が
″LITレベル、他方が″Huレベルとなるためにアン
ドが成立せず、アラーム信号Aは出力されない。
次に、比較信号cpの”LITレベル期間T2がパルス
幅τよりも短くなると、第3図Cに示すようにアンドゲ
ート2bはパルス幅T2−τのアラーム信号Aをコンデ
ンサ1cの寿命劣化を示す信号として出力する。
このアラーム信号Aは、電子機器等のアラーム表示器の
7駆動係号あるいはコンデンサ1cを充電していた直流
電源1aの電源オフ信号として用いられる。
このように、この実施例によれば簡単な構成でコンデン
サのリーク電流の増大による寿命劣化を検知でき、コン
デンサの爆発等による種々の悪影響あるいはリーク電流
の増大による電子機器の誤動作を未然に防止できる。
特に、この実施例では、コンデンサ1cの充電時間の監
視ではなく、放電時間の監視を行っているために微小な
リーク電流の増大も検知可能である。
その理由は、通常コンデンサ1cに対する充電電流の方
がリーク電流に比較して極めて大きく、このため充電時
間に現われる変化は極めて小さく、その微小変化を精度
良く検知することができないからである。
第4図は本発明によるさらに他の実施例を示す回路図で
あって、キセノンランプ等の閃光エネルギーを得るため
のコンデンサ充電回路に適用したものである。
なお、同図において第1図と同一部分は同一記号を用い
ている。
第4図において、第3図との相異点は監視回路2の単安
定マルチバイブレーク2aのリセット端子(R)にキセ
ノンランプ点灯信号Pを接続したことである。
なお、キセノンランプ(図示せず)はキセノンランプ点
灯スイッチ(図示せず)を介してコンデンサ1cに並列
接続され、コンデンサ1cの充電エネルギーがキセノン
ランプで閃光エネルギーとして発せられる。
このように構成されたコンデンサの寿命検知装置におい
て、コンデンサ1cのリーク電流の増大による寿命検知
動作は第1図の回路図と同様であるので省略し、キセノ
ンランプ点灯時のみの動作を第5図タイムチャートを用
いて説明する。
まず、コンデンサ1cに対する充電がt1時点で停止さ
れると、単安定マルチバイブレータ2aは比較信号cp
の立下りでトリガされる。
そして、この直後のt2時点でキセノンランプ点灯スイ
ッチがオンされると、コンデンサ1cの充電電荷はキセ
ノンランプによって瞬時に放電される。
すると、コンデンサ1cの充電電圧がゼロとなるため分
圧電圧VD<基準電圧Vzとなって比較器1hは再び充
電開始を示す゛H″レベルの比較信号Cpを43時点で
出力するが、t2時点で単安定マルチバイブレーク2a
はキセノンランプ点灯信号Pでリセットされる。
従って、キセノンランプ点灯時におけるコンデンサ1c
の充電停止から再充電開始までの時間間隔は正常な時間
間隔てより短くなるが、単安定マルチバイブレーク2a
がリセットされるためにアンドゲート2bのアンド条件
は成立することはなくなる。
従って、アンドゲート2bはコンデンサ1cのリーク電
流の増大による充放電時間間隔が所定時間間隔より短く
なったときのみアラーム信号を送出するようになる。
なお、監視回路2は第6図に示すように、比較信号Cp
の立下り微分信号を得る微分回路2cと、この微分回路
2cから出力される微分信号dCpにより計時を開始し
、所定時間に達したらタイマ信号を出力するタイマ2d
と、微分信号dCpによってセットし、タイマ信号とキ
セノンランプ点灯信号Pのオア回路2eによるオア信号
によってリセットするフリップフロップ2fとから構成
するようにしてもよい。
以上説明したように本発明によるコンデンサの寿命検知
装置は、コンデンサの充電停止から充電再開までの時間
間隔を監視することにより、リーク電流の増大によるコ
ンデンサの寿命劣化を検知するようにしたものである。
このため、コンデンサの爆発等による種々の悪影響ある
いはリーク電流の増大による電子機器等の誤動作を未然
に防止できる。
特に、微小なリーク電流の変化も検知可能であるなど極
めて優れた効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明によるコンデンサの寿命検知装置の一実
施例を示す回路図、第2図はコンデンサの充電電圧を示
す波形図、第3図は寿命検知動作を説明するためのタイ
ムチャート、第4図は本発明による他の実施例を示す回
路図、第5図は第4図に示した回路の動作を説明するた
めのタイムチャート、第6図は監視回路2の他の例を示
す回路図である。 1・・・・コンデンサ充電回路、1a・・・・・・直流
電源、1b・・・・・・制御スイッチ、1c・・・・・
・コンデンサ、1d。 1e・・・・・・可変抵抗器、1f・・・・・・抵抗、
1g・・・・・・ツェナーダイオード、1h・・・・・
・比較器、2・・・・・・充放電時間間隔監視回路(監
視回路)、2a・・・・・・単安定マルチバイブレータ
、2b・・・・・・アンドゲート、2c・・・・・・微
分回路、2d・・・・・・タイマ、2e・・・・・・オ
ア回路、2f・・・・・・フリップフロップ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 コンデンサの充電電圧が所定値に達したら充電を停
    止し、所定値以下になったら再充電を行うことにより充
    電電圧をほぼ一定値に保持するコンデンサ充電回路と、
    前記コンデンサの充電停止から再充電開始までの時間間
    隔を予め定められた時間間隔と比較し、前記充電停止か
    ら再充電開始までの時間間隔が予め定められた時間間隔
    より短いときコンデンサの寿命劣化を示すアラーム信号
    を出力する充放電時間間隔監視回路とを具備することを
    特徴とするコンデンサの寿命検知装置。
JP53041660A 1978-04-08 1978-04-08 コンデンサの寿命検知装置 Expired JPS5827871B2 (ja)

Priority Applications (1)

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JP53041660A JPS5827871B2 (ja) 1978-04-08 1978-04-08 コンデンサの寿命検知装置

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JPS54133385A JPS54133385A (en) 1979-10-17
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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DE3020620C2 (de) * 1980-05-30 1984-08-02 Hellige Gmbh, 7800 Freiburg Vorrichtung zur Messung und Anzeige des verbrauchten Anteils der theoretisch zu erwartenden Gesamtlebensdauer eines Kondensators
JP3324239B2 (ja) * 1993-12-01 2002-09-17 富士電機株式会社 インバータ装置
DE102005018339A1 (de) * 2005-04-20 2006-10-26 Siemens Ag Anordnung mit einem Kondensatormodul und Verfahren zu dessen Betrieb
JP6094215B2 (ja) * 2012-12-28 2017-03-15 岩崎電気株式会社 閃光放電ランプ点灯装置及び閃光照射装置

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JPS54133385A (en) 1979-10-17

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