JPS5823885B2 - 固気混相流体のサンプリング装置 - Google Patents
固気混相流体のサンプリング装置Info
- Publication number
- JPS5823885B2 JPS5823885B2 JP8994280A JP8994280A JPS5823885B2 JP S5823885 B2 JPS5823885 B2 JP S5823885B2 JP 8994280 A JP8994280 A JP 8994280A JP 8994280 A JP8994280 A JP 8994280A JP S5823885 B2 JPS5823885 B2 JP S5823885B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- solid
- gas
- phase fluid
- sampling
- gas mixed
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/02—Devices for withdrawing samples
- G01N1/22—Devices for withdrawing samples in the gaseous state
- G01N1/2247—Sampling from a flowing stream of gas
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/02—Devices for withdrawing samples
- G01N1/22—Devices for withdrawing samples in the gaseous state
- G01N1/2247—Sampling from a flowing stream of gas
- G01N2001/2264—Sampling from a flowing stream of gas with dilution
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/02—Devices for withdrawing samples
- G01N1/22—Devices for withdrawing samples in the gaseous state
- G01N1/2247—Sampling from a flowing stream of gas
- G01N2001/227—Sampling from a flowing stream of gas separating gas from solid, e.g. filter
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/28—Preparing specimens for investigation including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
- G01N1/38—Diluting, dispersing or mixing samples
- G01N2001/381—Diluting, dispersing or mixing samples by membrane diffusion; Permeation tubes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/28—Preparing specimens for investigation including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
- G01N1/38—Diluting, dispersing or mixing samples
- G01N2001/383—Diluting, dispersing or mixing samples collecting and diluting in a flow of liquid
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はボイラ、焼却炉、窯業設備等の固気混相流体を
取シ扱うプラントの固気混相流体中の固体粒子計測をす
るためのサンプリング装置に関するものである。
取シ扱うプラントの固気混相流体中の固体粒子計測をす
るためのサンプリング装置に関するものである。
上記のような固気混相流体中の固体粒子の計測は環境保
持、研究改善、装置性能把握及び連続状態監視等の観点
から正確な濃度及び粒径分布の実体把握を行なう必要が
ある。
持、研究改善、装置性能把握及び連続状態監視等の観点
から正確な濃度及び粒径分布の実体把握を行なう必要が
ある。
高精度の濃度及び粒径分布の計測を期するには固体粒子
の状態を変化させることなく、固気混相流体本流から計
測器まで固気混相流体を取入れることが、サンプリング
の重要な操作の一つとなるが、粒子の特性としてブラウ
ン運動及び拡散による粒子間の凝集及び導入配管内壁へ
の沈着の現象が生じ、これが計測精度に大きく影響する
。
の状態を変化させることなく、固気混相流体本流から計
測器まで固気混相流体を取入れることが、サンプリング
の重要な操作の一つとなるが、粒子の特性としてブラウ
ン運動及び拡散による粒子間の凝集及び導入配管内壁へ
の沈着の現象が生じ、これが計測精度に大きく影響する
。
特に、セメントプラントの濃度は１００１００Ｏ’ｔま
た石炭焚きボイラ排ガスでは１０ ｇ／ｍ’であり、こ
のような高濃度下においては上記粒子の凝集及び沈着現
象の影響は顕著となる。
た石炭焚きボイラ排ガスでは１０ ｇ／ｍ’であり、こ
のような高濃度下においては上記粒子の凝集及び沈着現
象の影響は顕著となる。
また、固気混相流体中の固体粒子を自動的及び連続的に
計測する計測器としては、（１）通常前記のような高濃
度下では測定困難である。
計測する計測器としては、（１）通常前記のような高濃
度下では測定困難である。
（１１）また計測可能なサンプリングガス温度が大気温
度に近似していることが多いのでサンプリングガス温度
を低下させる必要がある。
度に近似していることが多いのでサンプリングガス温度
を低下させる必要がある。
（ｉｉｉ）サンプリングガス中に水分、三酸化硫黄（Ｓ
Ｏａ）ガスが含有されているときはガス温度だけを低下
すると固体粒子が凝集し、粒径分布及びその濃度に変化
が生ずる等の問題がある。
Ｏａ）ガスが含有されているときはガス温度だけを低下
すると固体粒子が凝集し、粒径分布及びその濃度に変化
が生ずる等の問題がある。
そこで、従来は、第１図に示すように、固体混相流体本
流０１中を流れる固気混相流体を配管０２を介して稀釈
容器０３に導入臥稀釈容器０３では配管０４を経て送り
込まれる清浄な稀釈ガスにより稀釈し、これを計測器０
６の性能に応じた固体粒子数濃度に調整後、配管０５を
経て計測器０６に導入し、計測器０６にて計測完了後は
これを吸引ポンプ０７によシ系外へ排出する。
流０１中を流れる固気混相流体を配管０２を介して稀釈
容器０３に導入臥稀釈容器０３では配管０４を経て送り
込まれる清浄な稀釈ガスにより稀釈し、これを計測器０
６の性能に応じた固体粒子数濃度に調整後、配管０５を
経て計測器０６に導入し、計測器０６にて計測完了後は
これを吸引ポンプ０７によシ系外へ排出する。
しかしながら、このような手段には下記のような欠点が
ある。
ある。
すなわち、（１）固体粒子数濃度が高い場合、配管０２
内において、粒子間の凝集及び配管０２内壁への沈着に
より固体粒子数濃度及び粒径分布に変化が生ずる。
内において、粒子間の凝集及び配管０２内壁への沈着に
より固体粒子数濃度及び粒径分布に変化が生ずる。
（２）稀釈容器０３では、配管０２に比べ断面積が増加
するので流速が低下し、これに伴い乱流度が低下するた
め、配管０２を経て導入される固気混相流体と配管０４
を経て導入される稀釈ガスの混合が十分性なわれず、計
測器０６に送られる稀釈後の固気混相流体の濃度（稀釈
倍率を乗じた値）及び粒径分布に変化が生ずる。
するので流速が低下し、これに伴い乱流度が低下するた
め、配管０２を経て導入される固気混相流体と配管０４
を経て導入される稀釈ガスの混合が十分性なわれず、計
測器０６に送られる稀釈後の固気混相流体の濃度（稀釈
倍率を乗じた値）及び粒径分布に変化が生ずる。
（３）上記（２）項の影響軽減のため稀釈容器０３内で
の固気混相流体の滞留時間を長くして混合を行なう場合
、稀釈容器０３の容量が増大する。
の固気混相流体の滞留時間を長くして混合を行なう場合
、稀釈容器０３の容量が増大する。
また稀釈容器０３でのブラウン運動による粒子間の凝集
が生じ、固体粒子数濃度及び粒径分布に変化が生ずる。
が生じ、固体粒子数濃度及び粒径分布に変化が生ずる。
本発明はこのような事情に鑑みて提案されたもので、凝
集、沈着を防止して固体粒子数濃度５粒径分布等の状態
を変化することなく粒子計測器に固気混相流体を導入す
る固気混相流体のサンプリング装置を提供することを目
的とし、長手方向に分布する複数の細孔を周壁に穿設し
てなり→端より固気混相流体を吸入しこれを他端に連通
ずる計測器に送給する固気混相流体サンプリング内管と
、上記固気混相流体サンプリング内管に同軸的に外挿さ
れ上記固気混相流体サンプリング内管との間の環状空間
に稀釈ガスを導入し これを上記細孔を経て上記固気混
相流体サンプリング内管中に送入する稀釈ガス外管との
２重管よシなることを特徴とする。
集、沈着を防止して固体粒子数濃度５粒径分布等の状態
を変化することなく粒子計測器に固気混相流体を導入す
る固気混相流体のサンプリング装置を提供することを目
的とし、長手方向に分布する複数の細孔を周壁に穿設し
てなり→端より固気混相流体を吸入しこれを他端に連通
ずる計測器に送給する固気混相流体サンプリング内管と
、上記固気混相流体サンプリング内管に同軸的に外挿さ
れ上記固気混相流体サンプリング内管との間の環状空間
に稀釈ガスを導入し これを上記細孔を経て上記固気混
相流体サンプリング内管中に送入する稀釈ガス外管との
２重管よシなることを特徴とする。
本発明の実施例を図面について説明すると、第２図はそ
の原理を示す説明図、第３図は本装置の第１実施例を示
す部分縦断面図、第４図は第３図のＩＶ−ＩＶに沿った
横断面図、第５図は第２実施例を示す部分縦断面図、第
６図は第５図の■−■に沿った横断面図、第７図はサン
プリング管の長さ方向に沿った固体粒子数濃度分布を示
す線図、第８図は、固体粒子数の分布濃度と減少率との
関係を示す線図、第９図はサンプリング管の長さと減少
率との関係を示す線図である。
の原理を示す説明図、第３図は本装置の第１実施例を示
す部分縦断面図、第４図は第３図のＩＶ−ＩＶに沿った
横断面図、第５図は第２実施例を示す部分縦断面図、第
６図は第５図の■−■に沿った横断面図、第７図はサン
プリング管の長さ方向に沿った固体粒子数濃度分布を示
す線図、第８図は、固体粒子数の分布濃度と減少率との
関係を示す線図、第９図はサンプリング管の長さと減少
率との関係を示す線図である。
まず、第２〜４図において、８はプラントダクト８′中
を流れる固気混相流体本流、９はプラントダクト８′中
に位置する開口端より固気混相流体９′を吸込むサンプ
リング管、９′はサンプリング管９の下流より分岐し稀
釈後の固気混相流体の一部を排出する排出管、１０は稀
釈ガス管１０′より流入する稀釈ガスをサンプリング管
９中に導入する複数の稀釈ガス細流路、１１はサンプリ
ング管９を経て流入する稀釈固気混相流体中の固体粒子
を計測する計測器、１２は計測器１１に固気混相流体を
導入するための吸引ポンプ、１３は稀釈ガス管１０′に
送入される稀釈ガスの圧力を調整する圧力調整器、１６
はサンプリング内管１５の周壁全面に長手方向に亘って
適宜間隔ｐで分布穿設された半径方向の複数の細孔、１
７はサンプリング内管１５と後記する外管１８との間の
環状□空間、１８はサンプリング内管１５に同軸的に外
挿された外管で、サンプリング内管１５と協働して２重
管を構成し、その両端はサンプリング内管１５の外周に
環状壁で封鎖されている。
を流れる固気混相流体本流、９はプラントダクト８′中
に位置する開口端より固気混相流体９′を吸込むサンプ
リング管、９′はサンプリング管９の下流より分岐し稀
釈後の固気混相流体の一部を排出する排出管、１０は稀
釈ガス管１０′より流入する稀釈ガスをサンプリング管
９中に導入する複数の稀釈ガス細流路、１１はサンプリ
ング管９を経て流入する稀釈固気混相流体中の固体粒子
を計測する計測器、１２は計測器１１に固気混相流体を
導入するための吸引ポンプ、１３は稀釈ガス管１０′に
送入される稀釈ガスの圧力を調整する圧力調整器、１６
はサンプリング内管１５の周壁全面に長手方向に亘って
適宜間隔ｐで分布穿設された半径方向の複数の細孔、１
７はサンプリング内管１５と後記する外管１８との間の
環状□空間、１８はサンプリング内管１５に同軸的に外
挿された外管で、サンプリング内管１５と協働して２重
管を構成し、その両端はサンプリング内管１５の外周に
環状壁で封鎖されている。
このような装置において、まず本発明の詳細な説明する
と、第２図に示すように、稀釈ガス管１０′を経て、流
入する稀釈ガスをサンプリング管９の長手方向に分布す
る多数の稀釈ガス細流路１０を通ってサンプリング管９
に流入することにより左端よりサンプリング管９中に流
入する固気混相流体９′を、固体粒子の凝集及び沈着を
生ずることなく、所定の稀釈倍率（固気混相流体流量／
稀釈ガス流量）に稀釈しようとするのである。
と、第２図に示すように、稀釈ガス管１０′を経て、流
入する稀釈ガスをサンプリング管９の長手方向に分布す
る多数の稀釈ガス細流路１０を通ってサンプリング管９
に流入することにより左端よりサンプリング管９中に流
入する固気混相流体９′を、固体粒子の凝集及び沈着を
生ずることなく、所定の稀釈倍率（固気混相流体流量／
稀釈ガス流量）に稀釈しようとするのである。
そのために、本発明では、サンプリング管９及び稀釈ガ
ス管１０′を第３〜４図に示すように、す・ンゾリング
内管１５及び外管１８の２重管構造として形成し、細孔
１６をして稀釈ガス細流路１００作用を行なわしめるよ
うにしたものである。
ス管１０′を第３〜４図に示すように、す・ンゾリング
内管１５及び外管１８の２重管構造として形成し、細孔
１６をして稀釈ガス細流路１００作用を行なわしめるよ
うにしたものである。
細孔１６の大きさ、形状２個数は稀釈倍率、混相流体中
の固体粒子数濃度等により異なるが、−・般には直径ｄ
＝ ０．６〜２．０ｍ＋＋＋の円孔で、その軸方向間
隔ｐは後記する稀釈ゾーンと保持ゾーンで若干具なるが
、ｐ−５〜２０ｒｒｒｒＩＬで、同一円周上に６〜１０
個程度等間隔で分布する。
の固体粒子数濃度等により異なるが、−・般には直径ｄ
＝ ０．６〜２．０ｍ＋＋＋の円孔で、その軸方向間
隔ｐは後記する稀釈ゾーンと保持ゾーンで若干具なるが
、ｐ−５〜２０ｒｒｒｒＩＬで、同一円周上に６〜１０
個程度等間隔で分布する。
しかし、細孔１６は、第５〜６図に示す第２実施例のよ
うに、サンプリング内管１５中を流れる混相流体の流れ
方向の成分をもって稀釈ガスが流入するようにサンプリ
ング内管に対し傾斜して穿設してもよく、また、第６図
に示すように、円周方向に傾斜して穿設することによシ
稀釈ガスに節回流を与えるとともに固気混相流体とサン
プリング内管内周との間に稀釈ガスの薄膜を形成するよ
うにすることもできる。
うに、サンプリング内管１５中を流れる混相流体の流れ
方向の成分をもって稀釈ガスが流入するようにサンプリ
ング内管に対し傾斜して穿設してもよく、また、第６図
に示すように、円周方向に傾斜して穿設することによシ
稀釈ガスに節回流を与えるとともに固気混相流体とサン
プリング内管内周との間に稀釈ガスの薄膜を形成するよ
うにすることもできる。
細孔１６の面積は、第７図に示す固体粒子数濃度とサン
プリング管の長さ方向の関係となるよううに、稀釈ガス
流量を決める。
プリング管の長さ方向の関係となるよううに、稀釈ガス
流量を決める。
つまり、サンプリング内管上流すなわち、固体粒子数濃
度の高い部分（以下稀釈ゾーンという）では、稀釈ガス
の流量を多くするために細孔１６の面積を大きく賦急速
に固体粒子数濃度を低下させ、ブラウン運動拡散による
粒子間の凝集及びサンプリング内管内壁への付着を防止
する。
度の高い部分（以下稀釈ゾーンという）では、稀釈ガス
の流量を多くするために細孔１６の面積を大きく賦急速
に固体粒子数濃度を低下させ、ブラウン運動拡散による
粒子間の凝集及びサンプリング内管内壁への付着を防止
する。
ブラウン運動、拡散による粒子間の凝集が無視できる程
度に固体粒子数濃度が低下した部分（以下保持ゾーンと
いう）では、主にサンプリング内管内壁への沈着を防止
する目的でサンプリング内管内壁に稀釈ガスの薄膜が形
成される程度の稀釈ガス流量となるような細孔１６の面
積とする。
度に固体粒子数濃度が低下した部分（以下保持ゾーンと
いう）では、主にサンプリング内管内壁への沈着を防止
する目的でサンプリング内管内壁に稀釈ガスの薄膜が形
成される程度の稀釈ガス流量となるような細孔１６の面
積とする。
従って細孔１６の面積は上記理由により固気混相流体の
上流よシ下流に沿って順次小さくする。
上流よシ下流に沿って順次小さくする。
稀釈ガスの圧力は固気混相流体９′の圧力より若干大（
数１００ ＭＡ ｑ程度）となるように圧力調整器１３
で調整し、細孔１６から固気混相流体９′中に噴出され
る稀釈ガスの噴出流速が数ｍ／ｓ程度となるようにする
。
数１００ ＭＡ ｑ程度）となるように圧力調整器１３
で調整し、細孔１６から固気混相流体９′中に噴出され
る稀釈ガスの噴出流速が数ｍ／ｓ程度となるようにする
。
稀釈倍率は細孔１６の個数又は稀釈ゾーンの長さを変化
させることにより制御することができる。
させることにより制御することができる。
ブラウン運動、拡散による粒子間の凝集及び管内壁への
沈着についてはフィック（Ｆ ｉ ｄｃ ）の法則によ
シ理論的解として求めることができる。
沈着についてはフィック（Ｆ ｉ ｄｃ ）の法則によ
シ理論的解として求めることができる。
例えば、粒子間の凝集は（１）式より、配管内壁への沈
着は（２）式よりそれぞれ計算できる。
着は（２）式よりそれぞれ計算できる。
たソし、
ｎｏ：最初の状態における粒子数濃度（個／ｃｒｒｌ′
）ｎ：を秒後の 〃、 （個Ｚｃｒｌ）
ｋ：定数 （ｃｎｆＡ固Ｂｅｃ ）
Ｌ：経過時間 （ＳｅＣ）ｎ
−η ・・・・・・・・・・・・（２）−−＝
ｅ ｎ。
）ｎ：を秒後の 〃、 （個Ｚｃｒｌ）
ｋ：定数 （ｃｎｆＡ固Ｂｅｃ ）
Ｌ：経過時間 （ＳｅＣ）ｎ
−η ・・・・・・・・・・・・（２）−−＝
ｅ ｎ。
たソし、
ｎｏ：最初の状態における粒子数濃度（個／−）ｎ：を
秒後の （個／ｃＩＴｌ′）〃 η：定数 （−）（１）及
び（２）式により、ブラウン運動、拡散による影響が太
きいと考えられる粒子（粒径０．１μ）についての減少
率の計算結果を第８図及び第９図に示す。
秒後の （個／ｃＩＴｌ′）〃 η：定数 （−）（１）及
び（２）式により、ブラウン運動、拡散による影響が太
きいと考えられる粒子（粒径０．１μ）についての減少
率の計算結果を第８図及び第９図に示す。
たソし、計算にあたっては従来の計測の諸条件を考慮し
、 ０ 固気混相流体本流から稀釈容器の間の配管内径を８
ｍ＋＋ｚ Ｏ固気混相流体本流から稀釈容器の間の配管長さを５７
Ｈ、１０ｙｌ 。
、 ０ 固気混相流体本流から稀釈容器の間の配管内径を８
ｍ＋＋ｚ Ｏ固気混相流体本流から稀釈容器の間の配管長さを５７
Ｈ、１０ｙｌ 。
０ 固気混相流体流量１ｉ／ｍ１ｎ（２０℃）とじ島第
８図により粒子間の凝集は、例えば、固体粒子数濃度が
１０７個／ｃｎｉ’ （１０ｍｇ／ｍ” ）のとき減少
率ｎ／ｎｏは配管長さが５ｍ、１０ｍでそれぞれ９１％
、８４％（換言すれば固体粒子数濃度が９チ及び１６％
減少）となり、これに伴い、粒径分布にも変化が生ずる
。
８図により粒子間の凝集は、例えば、固体粒子数濃度が
１０７個／ｃｎｉ’ （１０ｍｇ／ｍ” ）のとき減少
率ｎ／ｎｏは配管長さが５ｍ、１０ｍでそれぞれ９１％
、８４％（換言すれば固体粒子数濃度が９チ及び１６％
減少）となり、これに伴い、粒径分布にも変化が生ずる
。
また、第９図により配管内壁への沈着は、配管長さが５
ｍ及び１０ｍで減少率ｎ／ｎ□はそれぞれ９７％及び９
５．５％（換言すれば固体粒子数濃度が３％及び４．５
％減少）となシ、これに伴い粒径分布にも変化が生ずる
。
ｍ及び１０ｍで減少率ｎ／ｎ□はそれぞれ９７％及び９
５．５％（換言すれば固体粒子数濃度が３％及び４．５
％減少）となシ、これに伴い粒径分布にも変化が生ずる
。
因みに、このような現象は第１図中の配管０２．稀釈容
器０３及び配管０５内でも生起している。
器０３及び配管０５内でも生起している。
最後に、第１図に示した従来の計測及び第２〜６図に示
した、本装置を用いた計測によシ試験用燃焼炉排ガス中
のばいじんの粒子数濃度を計測した結果を示す。
した、本装置を用いた計測によシ試験用燃焼炉排ガス中
のばいじんの粒子数濃度を計測した結果を示す。
第１図において、サンプリングガス量を５１／ｍｉｎ、
配管０５の内径を４閣、長さを１０ｍ。
配管０５の内径を４閣、長さを１０ｍ。
稀釈ガス量を１０００ ｌ／ｍ ｉｎ（稀釈倍率２００
倍）。
倍）。
吸引ポンプの容量を１／／ｍｉｎとし、また、第２図に
おいて、サンプリングガス量を５７’／ｍｉｎシサンプ
リング内管１５の内管を８叫、外管の内径を２０ｒＩｒ
！ｒＬ、稀釈ガス圧力（正）を５００ｒｒａｒＬＡｑ。
おいて、サンプリングガス量を５７’／ｍｉｎシサンプ
リング内管１５の内管を８叫、外管の内径を２０ｒＩｒ
！ｒＬ、稀釈ガス圧力（正）を５００ｒｒａｒＬＡｑ。
細孔の直径ｄを稀釈ゾーンで１．５ ｒｒｍ 、その軸
方向間隔ｐを１０ｗｒＬ２円周方向に８個、保持ゾーン
ではｄ＝０．７ｍｔ ｐ＝２０ｍｍ、円周方向に６個と
獣合計、稀釈ガス量を１０００ ／ ／ｍｉｎ＋吸引ポ
ンプ容量を１１３７ｍ１ｎとして、それぞれ両者による
固体粒子数濃度を計測した結果第１図の従来手段では８
．２ Ｘ １０６（個ＡＴ！ ） ９本装置では９．８
Ｘ１０６（個／ｃＩＴ１′）を得た。
方向間隔ｐを１０ｗｒＬ２円周方向に８個、保持ゾーン
ではｄ＝０．７ｍｔ ｐ＝２０ｍｍ、円周方向に６個と
獣合計、稀釈ガス量を１０００ ／ ／ｍｉｎ＋吸引ポ
ンプ容量を１１３７ｍ１ｎとして、それぞれ両者による
固体粒子数濃度を計測した結果第１図の従来手段では８
．２ Ｘ １０６（個ＡＴ！ ） ９本装置では９．８
Ｘ１０６（個／ｃＩＴ１′）を得た。
両者の計測結果の差（９，８Ｘ １０６−８．２ Ｘｌ
０６＝１６Ｘ１０６個／ｃｎｉ’）は、粒子間の凝集又
は導入配管内壁への付着によるものであシ、このように
して、本装置による効果が実計測によって実証された。
０６＝１６Ｘ１０６個／ｃｎｉ’）は、粒子間の凝集又
は導入配管内壁への付着によるものであシ、このように
して、本装置による効果が実計測によって実証された。
以上は本発明サンプリング装置をサンプリング内管１５
に適用した例について説明したが、本発明は内管寸法を
拡大して稀釈容器０３に適用することも可能である。
に適用した例について説明したが、本発明は内管寸法を
拡大して稀釈容器０３に適用することも可能である。
稀釈容器内で固気混相流体と稀釈ガスを混合する場合に
は、混合に必要な所定の滞留時間を維持できる稀釈容器
０３の内容積としまたその構造、稀釈ガスを噴出する細
孔の位置、大きさ、数及び稀釈ガス流量等の操作条件に
ついては第３〜６図に基づいて例示説明したサンプリン
グ内管１５と同様に決定する。
は、混合に必要な所定の滞留時間を維持できる稀釈容器
０３の内容積としまたその構造、稀釈ガスを噴出する細
孔の位置、大きさ、数及び稀釈ガス流量等の操作条件に
ついては第３〜６図に基づいて例示説明したサンプリン
グ内管１５と同様に決定する。
要するに、本発明によれば、長手方向に分布する複数の
細孔を周壁に穿設してなり一端より固気混相流体を吸入
しこれを他端に連通ずる計測器に送給する固気混相流体
サンプリング内管と、上記固気混相流体サンプリング内
管に同軸的に外挿され上記固気混相流体サンプリング内
管との間の環状空間に稀釈ガスを導入し、これを上記細
孔を経て上記固気混相流体サンプリング内管中に送入す
る稀釈ガス外管との２重管よりなることによシ、計測精
度の高い、固気混相流体のサンプリング装置を得るから
、本発明は産業上極めて有益なものである。
細孔を周壁に穿設してなり一端より固気混相流体を吸入
しこれを他端に連通ずる計測器に送給する固気混相流体
サンプリング内管と、上記固気混相流体サンプリング内
管に同軸的に外挿され上記固気混相流体サンプリング内
管との間の環状空間に稀釈ガスを導入し、これを上記細
孔を経て上記固気混相流体サンプリング内管中に送入す
る稀釈ガス外管との２重管よりなることによシ、計測精
度の高い、固気混相流体のサンプリング装置を得るから
、本発明は産業上極めて有益なものである。
第１図は公知の固気混相流体のサンプリング要領を示す
説明図、第２図は本発明の原理を示す説明図、第３図は
本装置の第１実施例を示す部分縦断面図、第４図は第３
図のＩＶ−ＩＶに沿った横断面図、第５図は第２実施例
を示す部分縦断面図、第６図は第５図の■−■に沿った
横断面図、第７図はサンプリング管の長さ方向に沿った
固体粒子数濃度分布を示す線図、第８図は固体粒子数の
分布濃度と減少率との関係を示す線図、第９図はサンプ
リング管の長さと減少率との関係を示す線図である。 ８・・・・・・固気混相流体本流、８′・・・・・・プ
ラントダクト、９・・・・・・サンプリング管、９′・
・・・・・固気混相流体、９′・・・・・・排出管、１
０・・・・・・稀釈ガス細流路、１０′・・・・・・稀
釈ガス管、１１・・・・・・計測器、１２・・・吸引ポ
ンプ、１３・・・・・・圧力調整器、１５・・・・・・
サンプリング内管、１６・・・・・・細孔、１７・・・
・・・環状空間、１８・・・・・・外管。
説明図、第２図は本発明の原理を示す説明図、第３図は
本装置の第１実施例を示す部分縦断面図、第４図は第３
図のＩＶ−ＩＶに沿った横断面図、第５図は第２実施例
を示す部分縦断面図、第６図は第５図の■−■に沿った
横断面図、第７図はサンプリング管の長さ方向に沿った
固体粒子数濃度分布を示す線図、第８図は固体粒子数の
分布濃度と減少率との関係を示す線図、第９図はサンプ
リング管の長さと減少率との関係を示す線図である。 ８・・・・・・固気混相流体本流、８′・・・・・・プ
ラントダクト、９・・・・・・サンプリング管、９′・
・・・・・固気混相流体、９′・・・・・・排出管、１
０・・・・・・稀釈ガス細流路、１０′・・・・・・稀
釈ガス管、１１・・・・・・計測器、１２・・・吸引ポ
ンプ、１３・・・・・・圧力調整器、１５・・・・・・
サンプリング内管、１６・・・・・・細孔、１７・・・
・・・環状空間、１８・・・・・・外管。
Claims (1)
- １ 長手方向に分布する複数の細孔を周壁に穿設してな
り一端よシ固気混相流体を吸入しこれを他端に連通ずる
計測器に送給する固気混相流体サンプリング内管と、上
記固気混相流体サンプリング内管に同軸的に外挿され上
記固気混相流体サンプリング内管との間の環状空間に稀
釈ガスを導入し、これを上記細孔を経て上記固気混相流
体サンプリング内管中に送入する稀釈ガス外管との２重
管よりなることを特徴とする固気混相流体のサンプリン
グ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8994280A JPS5823885B2 (ja) | 1980-07-03 | 1980-07-03 | 固気混相流体のサンプリング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8994280A JPS5823885B2 (ja) | 1980-07-03 | 1980-07-03 | 固気混相流体のサンプリング装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5716333A JPS5716333A (en) | 1982-01-27 |
| JPS5823885B2 true JPS5823885B2 (ja) | 1983-05-18 |
Family
ID=13984749
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8994280A Expired JPS5823885B2 (ja) | 1980-07-03 | 1980-07-03 | 固気混相流体のサンプリング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5823885B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6115296U (ja) * | 1984-06-29 | 1986-01-29 | 株式会社タダノ | 継ぎ足しジブの起伏装置 |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5058440A (en) * | 1990-09-04 | 1991-10-22 | Caterpillar Inc. | Gas sampling device and dilution tunnel used therewith |
| US7044009B2 (en) | 2002-05-20 | 2006-05-16 | Caterpillar Inc. | Dilution tunnel |
| CN100567939C (zh) | 2003-10-30 | 2009-12-09 | Avl北美公司 | 颗粒沉积的避免以及探头的定位 |
| KR100726207B1 (ko) * | 2005-02-24 | 2007-06-11 | 한국기계연구원 | 벽면 공기 유입식 컴팩트 미니 터널 희석장치 |
| FI119450B (fi) * | 2006-01-13 | 2008-11-14 | Valtion Teknillinen | Laimentava näytteenotin ja menetelmä kaasumaisen näytteen keräämiseksi ja laimentamiseksi |
| JP5640078B2 (ja) * | 2010-03-31 | 2014-12-10 | 日本たばこ産業株式会社 | エアロゾル粒子サンプリング装置 |
| CN105181222B (zh) * | 2015-10-12 | 2016-12-14 | 东北石油大学 | 一种多方式测定二氧化碳最小混相压力的装置 |
| CN105258840B (zh) * | 2015-11-12 | 2016-11-09 | 东北石油大学 | 一种测定注采井间二氧化碳最佳混相压力及混相区域的方法 |
-
1980
- 1980-07-03 JP JP8994280A patent/JPS5823885B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6115296U (ja) * | 1984-06-29 | 1986-01-29 | 株式会社タダノ | 継ぎ足しジブの起伏装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5716333A (en) | 1982-01-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN101180527B (zh) | 大范围连续稀释器 | |
| JPS5823885B2 (ja) | 固気混相流体のサンプリング装置 | |
| EP1291638A3 (en) | Method and apparatus for measuring concentrations of components of fluid | |
| US4736618A (en) | Sensor probe | |
| KR20190075061A (ko) | 수동 에어로졸 희석기 메커니즘 | |
| US4060001A (en) | Sampling probe and method of use | |
| JP2000028499A (ja) | 排気ガス中の混合物質捕集装置 | |
| CN205538547U (zh) | 一种发动机排气部分流颗粒物测量装置 | |
| CN110243658A (zh) | 一种合流式气溶胶稀释器的校准方法 | |
| CN109781495A (zh) | 一种烟气稀释采样控制系统及方法 | |
| CN1330958C (zh) | 固定源排放气体的颗粒物采集监测装置 | |
| CN107036853A (zh) | 排气稀释装置和使用其的排气测量系统 | |
| JPH07104233B2 (ja) | ガスサンプリング装置 | |
| KR20160116672A (ko) | 가스 희석장치 | |
| JPS6047535B2 (ja) | 粉粒体の流量測定方法 | |
| JP3054514B2 (ja) | 排気ガスの混合物質捕集方法 | |
| JP2004205253A (ja) | 排ガス希釈装置 | |
| FR2939890A3 (fr) | Dispositif d'echantillonnage d'un gaz ou d'un aerosol, notamment d'un gaz de combustion automobile | |
| CN107525708A (zh) | 一种可工作于负压环境下的样品气稀释系统 | |
| US5038608A (en) | Method for measuring the flow rate of exhaust gas | |
| JP2580749B2 (ja) | 排気ガス導入装置の排気ガス分析方法 | |
| JP2002519663A (ja) | 混合システム | |
| JPS6210685B2 (ja) | ||
| JP2001249064A (ja) | 排ガス希釈装置 | |
| JPS59206741A (ja) | 固気混相流体の希釈方法および装置 |