JPS5823704B2 - 電離性放射線ビ−ムの位置、強度、一様性および指向性の監視装置 - Google Patents
電離性放射線ビ−ムの位置、強度、一様性および指向性の監視装置Info
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- JPS5823704B2 JPS5823704B2 JP1186076A JP1186076A JPS5823704B2 JP S5823704 B2 JPS5823704 B2 JP S5823704B2 JP 1186076 A JP1186076 A JP 1186076A JP 1186076 A JP1186076 A JP 1186076A JP S5823704 B2 JPS5823704 B2 JP S5823704B2
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- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/29—Measurement performed on radiation beams, e.g. position or section of the beam; Measurement of spatial distribution of radiation
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- H—ELECTRICITY
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- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
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Description
【発明の詳細な説明】
この発明は原特許出願(特許第983925号)の明細
書に記載された形式の電離性放射線ビームの位置、強度
、一様性および指向性の監視装置の改良に関し、そして
一層特に装置の電離室内に設けられたイオン収集電極に
関するものである。
書に記載された形式の電離性放射線ビームの位置、強度
、一様性および指向性の監視装置の改良に関し、そして
一層特に装置の電離室内に設けられたイオン収集電極に
関するものである。
この発明によれば、電離性放射線ビームの位置、強度、
一様性および指向性の監視装置は、それぞれ第1.第2
円形電極を備えた少なくとも第1゜第2電離室を有し、
上記第2円形電極の面積S2が上記第1円形電極の面積
S1より小さく、上記面積S1が電離性放射線ビームの
横断面積にほぼ等しく、上記第1.第2円形電極が捕集
する電気信号を処理する回路と組合さへ さらに上記回
路にこよって制御されかつ電離性放射線ビームを発生す
る放射線源を制御する安全装置を有する。
一様性および指向性の監視装置は、それぞれ第1.第2
円形電極を備えた少なくとも第1゜第2電離室を有し、
上記第2円形電極の面積S2が上記第1円形電極の面積
S1より小さく、上記面積S1が電離性放射線ビームの
横断面積にほぼ等しく、上記第1.第2円形電極が捕集
する電気信号を処理する回路と組合さへ さらに上記回
路にこよって制御されかつ電離性放射線ビームを発生す
る放射線源を制御する安全装置を有する。
この発明をさらに良く理解し、またこの発明がどのよう
に実施され得るかを示すため以下添付図面について説明
する。
に実施され得るかを示すため以下添付図面について説明
する。
第1図にはこの発明による監視装置に使用される二つの
電離室の番1の実施例を示す。
電離室の番1の実施例を示す。
これらの電離室1,2はそれぞれ例えば第2図に概略的
に示すように商標名”MYLAR”で知られたポリエチ
レンテレフタレートのシートを支持したフレームCで構
成した二つの円形電極E。
に示すように商標名”MYLAR”で知られたポリエチ
レンテレフタレートのシートを支持したフレームCで構
成した二つの円形電極E。
12EO2を備えており、上記シートの上には真空蒸着
によって電離性ビームを透過する金属薄膜が沈着される
。
によって電離性ビームを透過する金属薄膜が沈着される
。
電極E。
1の直径d1は電離性ビームの直径にほぼ等しく、また
電極E。
電極E。
2の直径d2は電極E。1の直径d1より小さい。
各電極の面積S。1 t 802は、801>802
の関係にある。
動作において、電極E。
1 t EO2をそれぞれ交差する電離フラックスφ1
.φ2は電極E。
.φ2は電極E。
1 t EO2によって捕集される電流■。
1 t IO2に比例する。フラックスが一様であると
すると、次の関係が成立つ 上方および下方の金属化した透明壁(図示してない)を
備えたこれらの電極室内に配置した電極はこれらの壁に
対して負のバイアスであるほぼ同一のバイアスによって
適当にバイアスのかけられることが注意されるべきであ
る。
すると、次の関係が成立つ 上方および下方の金属化した透明壁(図示してない)を
備えたこれらの電極室内に配置した電極はこれらの壁に
対して負のバイアスであるほぼ同一のバイアスによって
適当にバイアスのかけられることが注意されるべきであ
る。
第3図において、グラフaは一様で適当に中心決めされ
た放射線ビームに対する電極E。
た放射線ビームに対する電極E。
1の直径軸XXに沿った電流■。
1および従ってフラックスφo1の変動を示し、またグ
ラフbは、放射線ビームが一様でない時(考察している
例では電離性ビームは周囲部においてより中心部におい
て密である)上記電極E。
ラフbは、放射線ビームが一様でない時(考察している
例では電離性ビームは周囲部においてより中心部におい
て密である)上記電極E。
1によって捕集される電流■。1の変動を示す。
従って電流■。1 t IO2はもはや電極EOI t
EO2の面積sot t 802に比例し、また式(
2)二つの比較器CPo1.CPo2から成る回路(第
4図)によって、電極E。
EO2の面積sot t 802に比例し、また式(
2)二つの比較器CPo1.CPo2から成る回路(第
4図)によって、電極E。
1 j EO2によって捕集される電流■。
1 j IO2に対応した電圧■。1 j VO2を比
較し、それで安全装置SSは、 の時トリガーされる。
較し、それで安全装置SSは、 の時トリガーされる。
■閾値は与えられた値の閾値電圧でさり、照射装置の動
作パラメータまたは特性に関係する。
作パラメータまたは特性に関係する。
放射線ビームの強度、一様性および指向性を制御できる
電離室1,2は、例えば探針を備えたまたはビームの中
心決めを監視できる周知型の分割電極から成る別の電離
室(第1図に示されてない)と組合され得る。
電離室1,2は、例えば探針を備えたまたはビームの中
心決めを監視できる周知型の分割電極から成る別の電離
室(第1図に示されてない)と組合され得る。
第2の実施例では、この発明による装置は第5図に概略
的に示した二つの円形分割電極E、、E2をそれぞれ備
えた二つの電離室を有する。
的に示した二つの円形分割電極E、、E2をそれぞれ備
えた二つの電離室を有する。
二つの絶縁条片3,4(金属化体を備えてない’MYL
AR”から成る)は電極E1を二つの要素e11 t
e12にまた電極E2を二つの他の要素e2□、e22
に直径的に分割しこれらの絶縁条片3,4は互いに90
°の角度を成して配置される。
AR”から成る)は電極E1を二つの要素e11 t
e12にまた電極E2を二つの他の要素e2□、e22
に直径的に分割しこれらの絶縁条片3,4は互いに90
°の角度を成して配置される。
電極E1の面積S1は電離性ビームの断面積にほぼ等し
く、また電極E2の面積S2は電極E1の面積S1より
小さい。
く、また電極E2の面積S2は電極E1の面積S1より
小さい。
動作において、電極E1.電極E2の要素e12゜12
tti22を通す。
tti22を通す。
電極E1.E2をそれぞれ横切3電離性放射線フラック
スφ1.φ2はそれぞれ電極E1.E2に流れる電流1
1= i11+i12. l2=i21+i22に比例
する。
スφ1.φ2はそれぞれ電極E1.E2に流れる電流1
1= i11+i12. l2=i21+i22に比例
する。
フラックスが一様であるとすると、次の関係式が成立つ
。
。
動作において、dl、d2を電極E1.E2のそれぞれ
の直径とするとき、 のような電極E0の絶縁条片3の軸線に従う偏心率△d
をもつ一様でない放射線ビームの最も都合の悪い場合を
考えると、捕集される電流11.■2の比較により次の
関係が得られる。
の直径とするとき、 のような電極E0の絶縁条片3の軸線に従う偏心率△d
をもつ一様でない放射線ビームの最も都合の悪い場合を
考えると、捕集される電流11.■2の比較により次の
関係が得られる。
従って不等式(6) 、 (8)は放射線ビームを止め
る警報または安全装置を作動させることになる。
る警報または安全装置を作動させることになる。
偏心的である一様なビームの場合には、次の関係が得ら
れる。
れる。
不等類11)は安全装置によって放射線ビームの放出を
止めさせる。
止めさせる。
しかしながら、中心決めした一様なビームは監視回路の
出力に司9) 、 (10) 、 (11)と同じ関係
を形成することが指摘されるべきである。
出力に司9) 、 (10) 、 (11)と同じ関係
を形成することが指摘されるべきである。
前述の場合のように不等式(11)は安全装置の動作を
もたらし、そしてその結果放射線ビームの放出を止めさ
せる。
もたらし、そしてその結果放射線ビームの放出を止めさ
せる。
従ってここで述べた実施例においては、装置の動作の信
頼性は保証されるが、しかし、放射線ビームにおいて現
われる欠陥の表示は行なわれない。
頼性は保証されるが、しかし、放射線ビームにおいて現
われる欠陥の表示は行なわれない。
二つの他の好ましい実施例(第6,7図)においては、
ビームに現われる欠陥は表示される。
ビームに現われる欠陥は表示される。
第6図にはこの発明による装置に用いた二つの電極E3
.E4を概略的に示す。
.E4を概略的に示す。
電極E3は四〇の要素e31 t e32 j e33
t e34から成り、また電極E4は単一要素e4か
ら成っている。
t e34から成り、また電極E4は単一要素e4か
ら成っている。
動作において、電流■3=i3□+t32+t33十i
3+を測定することによって、フラックスφすなわち電
流I3に比例する放射線量を監視することができ、この
フラックスφはまた電流 を供給する第2の電離室で監視される。
3+を測定することによって、フラックスφすなわち電
流I3に比例する放射線量を監視することができ、この
フラックスφはまた電流 を供給する第2の電離室で監視される。
ざら−t、の場合、ビームの中心決めが得られ、
の場合、ビームの一様性が満足される。
上式仙)においてkは課せられた安全規準を考慮して1
に近い係数である。
に近い係数である。
放射線ビームが走査ビームである場合には、ビームの中
心決めの監視は、例えば四つの要素e3、。
心決めの監視は、例えば四つの要素e3、。
e33 t e34を備えた電極E3を備えた電離室に
、特開昭51−16981号公報に記載された種類の中
心決め装置を組合わせることによって達成することがで
き、上記中心決め装置にはまた各々二つの要素を備えた
El j E2のような二つの電極が組合され得る。
、特開昭51−16981号公報に記載された種類の中
心決め装置を組合わせることによって達成することがで
き、上記中心決め装置にはまた各々二つの要素を備えた
El j E2のような二つの電極が組合され得る。
別の実施例ではこの発明による監視装置は第7図に示す
ようにそれぞれ電極E5゜E6.E7を備えた三つの電
離室5,6,7を備え°Cいる。
ようにそれぞれ電極E5゜E6.E7を備えた三つの電
離室5,6,7を備え°Cいる。
電極E3.E6は実質上放射線ビームと同じ直径をもち
、各電極はそれぞれ二つの要素e5、。
、各電極はそれぞれ二つの要素e5、。
e5□、eQ□、e62から成っている。
比較的小さな直径の電極E7はただ一つの要素e7から
成っている。
成っている。
電極E5の要素e51 j e52 を電極E6の要素
e6、。
e6、。
e62および電極E7の要素e7はそれぞれ電流i5□
。
。
i52 j :i61 t 162 :i7を捕集する
。
。
一様でないビームの場合(この非一様性は例えば修正フ
ィルタがないことかまたはビーム走査作用におけるある
欠陥に起因する)/Iこは次の関係が得られる。
ィルタがないことかまたはビーム走査作用におけるある
欠陥に起因する)/Iこは次の関係が得られる。
これらの不等式は安全装置をトリガーして、放射線源の
動作を中断させるかまたは電離性ビームを制御させる。
動作を中断させるかまたは電離性ビームを制御させる。
第8図には電極E5.E6.E7で捕集した信号を処理
する回路の一実施を示す。
する回路の一実施を示す。
増幅器A、、A5□は電流”51 t i52に比例し
た電圧を発生する。
た電圧を発生する。
演算増幅器AS5は電流の和i5□+is2に比例した
電圧VS5を発生する。
電圧VS5を発生する。
可変抵抗R5□代上記電流の和が電離室5で測定した線
量を所与スケールで表わすように測定値を算定できるよ
うにする。
量を所与スケールで表わすように測定値を算定できるよ
うにする。
演算増幅器AD5は電流の差151 !52に比例し
た電圧■D5を発生する。
た電圧■D5を発生する。
可変抵抗R5□は電極E5の二つの要素6517652
間に存在し得るどのような僅かな非対称も保証できるよ
うにする。
間に存在し得るどのような僅かな非対称も保証できるよ
うにする。
同様な要素は電極E6に属する処理回路に対応符号で示
されている。
されている。
増幅器A。7は、電極E7で捕集された電流17および
従って線量に比例した電圧■7を発生する。
従って線量に比例した電圧■7を発生する。
電圧VS5.■S6.■7はそれぞれ第9図に示すよう
に比較器C”1 、(:p、、 t C”3 +C”4
)CP、、CP6から成る誤差検出回路に供給される
。
に比較器C”1 、(:p、、 t C”3 +C”4
)CP、、CP6から成る誤差検出回路に供給される
。
抵抗R1〜R7は製造における機械的不正確さを考慮し
て比較器に加えられる信号の値を調整できるようにする
。
て比較器に加えられる信号の値を調整できるようにする
。
電極E、の面積は電圧E7の面積より大きいので、電圧
VS5は北斗すなわち電極E7.E5の面積S7゜S5
の比において電圧■S7より大きい。
VS5は北斗すなわち電極E7.E5の面積S7゜S5
の比において電圧■S7より大きい。
抵抗R1゜R2,R3は、電圧V7が下記の二重不等式
を満足するような抵抗値をもつ。
を満足するような抵抗値をもつ。
この二重不等式が満足されなければ、比較器 。
CPlまたはCP2(不平衡に関係する)は安全装置S
5をトリガーする正の出力電圧または信号Kを発生する
。
5をトリガーする正の出力電圧または信号Kを発生する
。
比較器CP3.CP4は、線量が所与値■を越えた際に
安全装置SSをトリガーする。
安全装置SSをトリガーする。
一方比較器CP5.CP6は電圧■S5.■S6間にお
よび従って電極E5.E6で測定した線量間に任意の不
一致が存在する場合に安全装置をトリガーする。
よび従って電極E5.E6で測定した線量間に任意の不
一致が存在する場合に安全装置をトリガーする。
第10図に示す別の実施例においては、電極E5.E6
.E7の要素で捕集した電流は増倍器Mおよび計算機C
Lと組合さったアナログ・デジタル変換器CAによって
構成した装置に供給されこの装置は上記条件のチェック
を行ないそして安全装置SSを制御し、これらの条件が
満されない場合に放射線ビーム源を止めさせる。
.E7の要素で捕集した電流は増倍器Mおよび計算機C
Lと組合さったアナログ・デジタル変換器CAによって
構成した装置に供給されこの装置は上記条件のチェック
を行ないそして安全装置SSを制御し、これらの条件が
満されない場合に放射線ビーム源を止めさせる。
追加の関係
この発明は原発明〔特許第983925号(特公昭54
−16872号)〕すなわち〔イオン収集電極を備えた
少なくとも一つの電離室を有し、上記電極が導電性でし
かも互いに電気的に絶縁された多数の要素を備え、上記
要素が電離性放射線ビームの中心および周囲領域に相応
したイオン流を同時に測定できるように互いに関連して
配置され、上記要素が捕集した電気信号を処理する処理
回路と結合され、また上記処理回路が上記ビームを監視
する安全装置と結合されることを特徴とする予定の寸法
のターゲットを照射するようにされた電離性放射線ビー
ムの中心決め、強度、一様性および指向性を制御する監
視装置において、電離室にそれぞれ第1.第2円形電極
を設は上記第2電極の面積S2を上記第1円形電極の面
積S1より小さく、上記面積Sを電離性放射線ビームの
横断面積にほぼ等しくし、上記第1.第2円形電極を捕
集する電気信号を処理する回路を組合せ、さらに上記回
路によって制御されかつ電離性放射線ビームを発生する
放射線源を制御する安全装置で設けた点を特徴とする発
明であって原発明と同一の目的を達成する点で原発明の
追加の発明である。
−16872号)〕すなわち〔イオン収集電極を備えた
少なくとも一つの電離室を有し、上記電極が導電性でし
かも互いに電気的に絶縁された多数の要素を備え、上記
要素が電離性放射線ビームの中心および周囲領域に相応
したイオン流を同時に測定できるように互いに関連して
配置され、上記要素が捕集した電気信号を処理する処理
回路と結合され、また上記処理回路が上記ビームを監視
する安全装置と結合されることを特徴とする予定の寸法
のターゲットを照射するようにされた電離性放射線ビー
ムの中心決め、強度、一様性および指向性を制御する監
視装置において、電離室にそれぞれ第1.第2円形電極
を設は上記第2電極の面積S2を上記第1円形電極の面
積S1より小さく、上記面積Sを電離性放射線ビームの
横断面積にほぼ等しくし、上記第1.第2円形電極を捕
集する電気信号を処理する回路を組合せ、さらに上記回
路によって制御されかつ電離性放射線ビームを発生する
放射線源を制御する安全装置で設けた点を特徴とする発
明であって原発明と同一の目的を達成する点で原発明の
追加の発明である。
第1図はこの発明による二つの電離室を有する監視装置
を示し、第2図はこの発明による上記二つの電離室に使
用した形式の二つの電極を概略的に示し、第3図は上記
電極の直径軸に沿った放射線の強度の分布の二つの実施
例を示し、第4図はこれらの電極と組合さった比較器回
路を概略的に示し、第5.6.7図はこの発明による装
置の別の三つの実施例を概略的に示し、第8.9 、1
0図はそれぞれ電離性放射線ビームの位置、強度、一様
性および指向性を監視できるようにする処理回路および
二つの比較器回路の線図である。 図中、1,2は電離室、EOI j E02円形電極C
Po1.CPo2は比較器、El、R2は円形分割電極
、3,4は絶縁条片、ell t e12 s e21
t e2□は要素、R3,R4は電極、e31.e3
2.e33゜e34 t e4は要素1 R5,R6,
R7は電極n e51゜e52 、e61 t e6
2 t e7は要素、A51 t A52は増幅器、R
51t R5□は可変抵抗、Ar1は演算増幅器、Ao
7は増幅器、CP1〜CP6は比較器、R1〜R71d
抵抗、SSは安全装置である。
を示し、第2図はこの発明による上記二つの電離室に使
用した形式の二つの電極を概略的に示し、第3図は上記
電極の直径軸に沿った放射線の強度の分布の二つの実施
例を示し、第4図はこれらの電極と組合さった比較器回
路を概略的に示し、第5.6.7図はこの発明による装
置の別の三つの実施例を概略的に示し、第8.9 、1
0図はそれぞれ電離性放射線ビームの位置、強度、一様
性および指向性を監視できるようにする処理回路および
二つの比較器回路の線図である。 図中、1,2は電離室、EOI j E02円形電極C
Po1.CPo2は比較器、El、R2は円形分割電極
、3,4は絶縁条片、ell t e12 s e21
t e2□は要素、R3,R4は電極、e31.e3
2.e33゜e34 t e4は要素1 R5,R6,
R7は電極n e51゜e52 、e61 t e6
2 t e7は要素、A51 t A52は増幅器、R
51t R5□は可変抵抗、Ar1は演算増幅器、Ao
7は増幅器、CP1〜CP6は比較器、R1〜R71d
抵抗、SSは安全装置である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 それぞれ一つの電極を備えた少なくとも二つの電離
室を有し、上記二つの電離室のうちの一方の電極の面積
が他方の電離室の電極の面積より少さく、上記他方の電
離室の電極の面積が電離性放射線ビームの横断面積にほ
ぼ等しく、上記他方の電離室の電極が少なくとも互いに
電気的に絶縁された多数の導電性要素を備え、上記二つ
の電極がそれぞれこれらの電極によって供給された電気
信号を処理する処理回路と組合され、上記処理回路が安
全装置を制御し、そして上記安全装置が上記電離性放射
線ビームの放射線源を制御することを特徴とする電離性
放射線ビームの位置、強度、一様性および指向性の監視
装置。 2 各電極が電気絶縁性の直径上の条片で互いに分離し
た二つの半円形要素から成り、一方の電極の電気絶縁性
の条片が他方の電極の電気絶縁性の条片に対して直角に
配置されることを特徴とする特許請求の範囲第1項に記
載の電離性放射線ビームの位置、強度、一様性および指
向性の監視装置。 3 一方の電極がほぼ4分円形の四つの要素に分割され
、また他方の電極が単一要素で構成されることを特徴と
する特許請求の範囲第1項に記載の電離性放射線ビーム
の位置、強度、一様性および指向性の監視装置。 4 ヨつの電離室を有し、これらの電離室の二つがそれ
ぞれ放射線ビームの横断面積とほぼ同じ大きさの電極を
備え、上記電極がそれぞれ電気絶縁性の直径上の条片で
互い0こ分離した二つの半円形要素を備え、上記電気絶
縁性の条片が互いに直角に配置され、上記電極室の残り
の−が単一要素で構成した電極を備え、この残りの一つ
の電極室の大きさが上記二つの電極室の電極の大きさよ
り小さいことを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載
の電離性放射線ビームの位置、強度、一様性および指向
性の監視装置。 5 各電極が電極の要素によって供給された信号を処理
する処理回路と組合され、上記処理回路カー各電極に関
して要素によって供給された信号の和および差を予定の
閾値上比較できるようにする比較器回路および測定信号
が上記閾値と異なる値をもつ時放射線源を制御できるよ
うにする安全装置を備えていることを特徴とする特許請
求の範囲第1項に記載の電離性放射線ビームの位置、強
度、一様性および指向性の監視装置。 6 二つの電離室の電極がそれぞた処理装置と組合され
、上記処理装置が、各電極に関して上記電極の要素によ
って供給された信号の和および差を予定の閾値と比較で
きるようにする比較器回路と、残りの一つの電離室の電
極によって供給された信号を二つの両方の電離室の要素
によって供給された信号の和と同時に比較できるように
する別の比較器と、測定値が閾値と異なる値をもつ時放
射線源を制御できるようにする安全装置とを備えている
ことを特徴とする特許請求の範囲第4項に記載の電極性
放射線ビームの位置、強度、一様性および指向性の監視
装置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR7503798A FR2300414A2 (fr) | 1975-02-07 | 1975-02-07 | Dispositif pour le controle de la p |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS51102800A JPS51102800A (ja) | 1976-09-10 |
JPS5823704B2 true JPS5823704B2 (ja) | 1983-05-17 |
Family
ID=9150889
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1186076A Expired JPS5823704B2 (ja) | 1975-02-07 | 1976-02-07 | 電離性放射線ビ−ムの位置、強度、一様性および指向性の監視装置 |
Country Status (7)
Country | Link |
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DE (1) | DE2604672C2 (ja) |
FR (1) | FR2300414A2 (ja) |
GB (1) | GB1558601A (ja) |
NL (1) | NL7601175A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0610001U (ja) * | 1992-07-14 | 1994-02-08 | 正雄 宮前 | 台 車 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US4347547A (en) * | 1980-05-22 | 1982-08-31 | Siemens Medical Laboratories, Inc. | Energy interlock system for a linear accelerator |
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Family Cites Families (2)
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-
1975
- 1975-02-07 FR FR7503798A patent/FR2300414A2/fr active Granted
-
1976
- 1976-02-04 GB GB445776A patent/GB1558601A/en not_active Expired
- 1976-02-05 NL NL7601175A patent/NL7601175A/xx not_active Application Discontinuation
- 1976-02-06 CH CH149276A patent/CH588086A5/xx not_active IP Right Cessation
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- 1976-02-06 CA CA245,763A patent/CA1067624A/en not_active Expired
- 1976-02-07 JP JP1186076A patent/JPS5823704B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH0610001U (ja) * | 1992-07-14 | 1994-02-08 | 正雄 宮前 | 台 車 |
Also Published As
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JPS51102800A (ja) | 1976-09-10 |
GB1558601A (en) | 1980-01-09 |
CA1067624A (en) | 1979-12-04 |
CH588086A5 (ja) | 1977-05-31 |
DE2604672A1 (de) | 1976-08-19 |
FR2300414A2 (fr) | 1976-09-03 |
DE2604672C2 (de) | 1984-09-27 |
FR2300414B2 (ja) | 1978-12-01 |
NL7601175A (nl) | 1976-08-10 |
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