JPS58189530U - プリント配線基板 - Google Patents
プリント配線基板Info
- Publication number
- JPS58189530U JPS58189530U JP8649382U JP8649382U JPS58189530U JP S58189530 U JPS58189530 U JP S58189530U JP 8649382 U JP8649382 U JP 8649382U JP 8649382 U JP8649382 U JP 8649382U JP S58189530 U JPS58189530 U JP S58189530U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- wiring board
- printed wiring
- slit
- guard
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
第１図は半導体ウェーハ測定装置の正面図。第２図は本
考案のパーソナリティ・ボードの部分分解図。第３図は
本考案のパーソナリティ・ボードの部分平面図および断
面図。 ２０１：上部基板、２０５：下部基板、２０２：信号用
パターン、２０４ニスリツト、２０３゜２０６＝ガード
用パターン、２１２：突出部。
考案のパーソナリティ・ボードの部分分解図。第３図は
本考案のパーソナリティ・ボードの部分平面図および断
面図。 ２０１：上部基板、２０５：下部基板、２０２：信号用
パターン、２０４ニスリツト、２０３゜２０６＝ガード
用パターン、２１２：突出部。
Claims (1)
- スリットを有し絶縁体によって形成された第１の基板と
、前記第１の基板上に設けられた信号用パターンと、前
記第１の基板の表部、裏部および前記スリットの縁部に
連続して設けられた第１のガード用パターンと、絶縁体
によって形成された第２の基板上に設けられ前記第１の
ガード用パターンに接する第２のガード用パターンとか
ら成り、前記信号用パターンを前記第１の基板の縁部、
前記スリットおよび前記第１、第２のガード用パターン
によって囲ったことを特徴とするプリント配線基板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8649382U JPS58189530U (ja) | 1982-06-10 | 1982-06-10 | プリント配線基板 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8649382U JPS58189530U (ja) | 1982-06-10 | 1982-06-10 | プリント配線基板 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58189530U true JPS58189530U (ja) | 1983-12-16 |
| JPH0334907Y2 JPH0334907Y2 (ja) | 1991-07-24 |
Family
ID=30095289
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8649382U Granted JPS58189530U (ja) | 1982-06-10 | 1982-06-10 | プリント配線基板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58189530U (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6350034A (ja) * | 1986-08-20 | 1988-03-02 | Tokyo Electron Ltd | プロ−バ装置 |
| EP0305076A2 (en) * | 1987-08-18 | 1989-03-01 | Hewlett-Packard Company | Personality board |
| US7148714B2 (en) | 1997-06-10 | 2006-12-12 | Cascade Microtech, Inc. | POGO probe card for low current measurements |
| JP2015206763A (ja) * | 2014-04-23 | 2015-11-19 | バイオセンサー株式会社 | 測定装置および測定方法 |
-
1982
- 1982-06-10 JP JP8649382U patent/JPS58189530U/ja active Granted
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6350034A (ja) * | 1986-08-20 | 1988-03-02 | Tokyo Electron Ltd | プロ−バ装置 |
| EP0305076A2 (en) * | 1987-08-18 | 1989-03-01 | Hewlett-Packard Company | Personality board |
| EP0305076A3 (en) * | 1987-08-18 | 1989-03-15 | Hewlett-Packard Company | Personality board |
| US7148714B2 (en) | 1997-06-10 | 2006-12-12 | Cascade Microtech, Inc. | POGO probe card for low current measurements |
| JP2015206763A (ja) * | 2014-04-23 | 2015-11-19 | バイオセンサー株式会社 | 測定装置および測定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0334907Y2 (ja) | 1991-07-24 |
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