JPS5818175A - 多点切タンク形しや断器の等価試験法 - Google Patents
多点切タンク形しや断器の等価試験法Info
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/327—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
- G01R31/333—Testing of the switching capacity of high-voltage circuit-breakers ; Testing of breaking capacity or related variables, e.g. post arc current or transient recovery voltage
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- G01R31/3336—Synthetic testing, i.e. with separate current and voltage generators simulating distance fault conditions
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はしゃ断部を、金属タンク内に収納し、且つタン
クから絶縁して支持した多点切タンク形しゃ断器のしゃ
断性能を検証する等価試験法１：関するものである。
クから絶縁して支持した多点切タンク形しゃ断器のしゃ
断性能を検証する等価試験法１：関するものである。
近年の系統の高電圧、大容量化の傾向社ますます大きく
麦り１１００ ＩＮの送電まで考えられている。
麦り１１００ ＩＮの送電まで考えられている。
これにともないしゃ断器のしゃ断容量も飛隋的に伸びて
おり、このしゃ断性能を検証すること社試験設備の容量
不足から全しゃ断点に対して行なうことが内勤になりつ
つある。この観点から、従来は、直列に接続された多数
のしゃ断部ユニットのうち、ｌエニットのみを性能検証
し、電圧分担率１；見合った定数としゃ断点数を乗じる
ことご二より等価的Ｃ：全しゃ断点の性能検証な′行な
ったとするユニット試験法が行なわれてきた。
おり、このしゃ断性能を検証すること社試験設備の容量
不足から全しゃ断点に対して行なうことが内勤になりつ
つある。この観点から、従来は、直列に接続された多数
のしゃ断部ユニットのうち、ｌエニットのみを性能検証
し、電圧分担率１；見合った定数としゃ断点数を乗じる
ことご二より等価的Ｃ：全しゃ断点の性能検証な′行な
ったとするユニット試験法が行なわれてきた。
しかしこのようなユニット試験法轄、シゃ断部ｇ−発生
したアークによる高温の熱ガスが、大地としゃ断部間の
絶縁をおびやかすことがない碍子形しゃ断器のようなも
のにおいそは、はぼ完全ぎ二有効とみなせるが、しゃ断
部を金属タンク内Ｃ二絶縁支持した多点切タンク形しゃ
断器では、本来全しゃ断点数にみあった再起電圧が印加
されなくてはならない。直列しゃ断部の最も端となる端
部とタンク間Ｉ：、アークＣ二接して絶縁の低下した熱
ガスが噴き出されてくるため、１ユニツトの接触子間の
性能を検証するたりの再起電圧を印加するだけでＦｉ、
接触子間の性能は検証できても前記端部とタンク間の
しゃ断直後の絶縁まで検証されたことにはならないとい
う欠点を有していた。
したアークによる高温の熱ガスが、大地としゃ断部間の
絶縁をおびやかすことがない碍子形しゃ断器のようなも
のにおいそは、はぼ完全ぎ二有効とみなせるが、しゃ断
部を金属タンク内Ｃ二絶縁支持した多点切タンク形しゃ
断器では、本来全しゃ断点数にみあった再起電圧が印加
されなくてはならない。直列しゃ断部の最も端となる端
部とタンク間Ｉ：、アークＣ二接して絶縁の低下した熱
ガスが噴き出されてくるため、１ユニツトの接触子間の
性能を検証するたりの再起電圧を印加するだけでＦｉ、
接触子間の性能は検証できても前記端部とタンク間の
しゃ断直後の絶縁まで検証されたことにはならないとい
う欠点を有していた。
その欠点を解決する一手段として通常行なわれる大電流
源と第１の高電圧源を用いたいわゆる合成試験法をしゃ
断器の接触子間の性能検証艦−用い、これとは別に第２
の高電圧源の電圧を、大地から絶縁したタンクに前記第
１の高電圧源と逆極性に印加するようにして、しゃ断部
の端部とタンク間には第１の高電圧源と第２の高電圧源
の電圧が重畳した形としてしゃ断性能の検証を行なう方
法が原理的感二知られてはいるが、この方法Ｉ：よれば
電源を３つ準備する必要があるうえその試験時砿；おい
ては各電源の同期Ｃ二関する問題など複雑な動作が必要
であるという欠点を有してい７・。
源と第１の高電圧源を用いたいわゆる合成試験法をしゃ
断器の接触子間の性能検証艦−用い、これとは別に第２
の高電圧源の電圧を、大地から絶縁したタンクに前記第
１の高電圧源と逆極性に印加するようにして、しゃ断部
の端部とタンク間には第１の高電圧源と第２の高電圧源
の電圧が重畳した形としてしゃ断性能の検証を行なう方
法が原理的感二知られてはいるが、この方法Ｉ：よれば
電源を３つ準備する必要があるうえその試験時砿；おい
ては各電源の同期Ｃ二関する問題など複雑な動作が必要
であるという欠点を有してい７・。
本発明は、上記点口鑑みてなされたもので、その目的は
、２つの電源でしゃ断直後におけるしや断部端とタンク
間の絶縁性能の検証を行なうようＩニジた多点切タンク
形しゃ断器の等価試駿法を提供する仁とにある。
、２つの電源でしゃ断直後におけるしや断部端とタンク
間の絶縁性能の検証を行なうようＩニジた多点切タンク
形しゃ断器の等価試駿法を提供する仁とにある。
第１図は本発明の原理を使用した一実施例を示す。多点
切タンク形しゃ断器６の金属タン・り７を絶縁物９によ
り接地電位から絶縁し、直列接続されたしゃ断ａ、ニツ
）１０．１１．１２．１３からなるしゃ断部の片側をブ
ッシング８内の引出導体おを経由して接地する。またし
ゃ断部の他側をブッシング８内の引出導体２４を介して
導出し、第１の電源１９として発電機１．バックアップ
しゃ断器２．投入器３．電流調整用リアクトル４を経て
接続される費圧樹５の２次側Ｃ二接続する。これにより
、実質的Ｃ：短終発電機１よりしゃ断すべき電流、およ
びしゃ断部のニニット接触子関に印加する電圧の供給を
行なう。接地電位から絶縁されたタンク７ Ｃは、第２
の電源釦が接続され、あらかじめ充電されたコンデンサ
１４の電荷を、ギャップ１５を放電することＩ：より、
タンクに高電圧を印加する０この回路構成ｚ二おいては
、試験法は基本的Ｉ：２種類１：分けられる。第１の方
法は、しゃ断部Ｃ：は第１の電源１９から、しゃ断すべ
き短絡電流を供給するのみでなく、シゃ断ｗニットのし
ゃ断能力を検証すべき再起電圧を印加するものである。
切タンク形しゃ断器６の金属タン・り７を絶縁物９によ
り接地電位から絶縁し、直列接続されたしゃ断ａ、ニツ
）１０．１１．１２．１３からなるしゃ断部の片側をブ
ッシング８内の引出導体おを経由して接地する。またし
ゃ断部の他側をブッシング８内の引出導体２４を介して
導出し、第１の電源１９として発電機１．バックアップ
しゃ断器２．投入器３．電流調整用リアクトル４を経て
接続される費圧樹５の２次側Ｃ二接続する。これにより
、実質的Ｃ：短終発電機１よりしゃ断すべき電流、およ
びしゃ断部のニニット接触子関に印加する電圧の供給を
行なう。接地電位から絶縁されたタンク７ Ｃは、第２
の電源釦が接続され、あらかじめ充電されたコンデンサ
１４の電荷を、ギャップ１５を放電することＩ：より、
タンクに高電圧を印加する０この回路構成ｚ二おいては
、試験法は基本的Ｉ：２種類１：分けられる。第１の方
法は、しゃ断部Ｃ：は第１の電源１９から、しゃ断すべ
き短絡電流を供給するのみでなく、シゃ断ｗニットのし
ゃ断能力を検証すべき再起電圧を印加するものである。
仁の方法はさらにアークを発生させるしゃ断ユニットの
位置６二よって、第２の１１１ｔ源加の発生電圧の大き
さ、極性が、さらに２つ区二分けられ、それを第１の■
、第１の■の方法として分けることにする。
位置６二よって、第２の１１１ｔ源加の発生電圧の大き
さ、極性が、さらに２つ区二分けられ、それを第１の■
、第１の■の方法として分けることにする。
第１の■の方法の動作原理を第２図５−示した電流、電
圧波形をもと６−説明する。尚ｔｌ以後は時間を拡大し
である。しゃ断器６はしゃ断ユニット１３だけ開極して
実質的−一アークを発生させ、他のしゃ断エニツ）１０
．１１．１２は投入するか或いＦｉ短絡するなどの手段
により、し中断ユニットのしゃ断性能は接地してない引
出導体ス側のもので行なうよう１二する。しゃ新盤ａ
ｉｔ ｍ大電流源１９の電流位相Ｃ二同期して開極を行
ない検証すべき電流零点ｔ１をむかえさせる。この時大
電流＄１９側本らは、抵抗２１．コンデンサ２２Ｃ−発
生する電圧を、しゃ断器ニッ） 、１３のしゃ断性能を
検証するべき再起電圧ｔｌとして、しゃ断器６４−供給
する。また高電圧源２０は、あらかじめ充電されたコン
デンサ１４の電荷をギャップ１５を通して↓ｌの電流零
点ｔｌにて放電させ、リアクトル１６．抵抗１７．コン
デンサ１８に減衰振動電流を流し、その時抵抗１７．：
Ｆンデンサ１８に発生する電圧ｔｓをタンク７Ｃ；印加
する。この電圧ｒ３は、本来完全なしゃ断器として全し
ゃ断ユニツ） １０〜１３Ｉ：対し印加されるべき全再
起電圧から電圧ｖ１の値を差し引いた値とし、しかも、
接地電位感二対して電圧９１と逆極性の電圧とする。
圧波形をもと６−説明する。尚ｔｌ以後は時間を拡大し
である。しゃ断器６はしゃ断ユニット１３だけ開極して
実質的−一アークを発生させ、他のしゃ断エニツ）１０
．１１．１２は投入するか或いＦｉ短絡するなどの手段
により、し中断ユニットのしゃ断性能は接地してない引
出導体ス側のもので行なうよう１二する。しゃ新盤ａ
ｉｔ ｍ大電流源１９の電流位相Ｃ二同期して開極を行
ない検証すべき電流零点ｔ１をむかえさせる。この時大
電流＄１９側本らは、抵抗２１．コンデンサ２２Ｃ−発
生する電圧を、しゃ断器ニッ） 、１３のしゃ断性能を
検証するべき再起電圧ｔｌとして、しゃ断器６４−供給
する。また高電圧源２０は、あらかじめ充電されたコン
デンサ１４の電荷をギャップ１５を通して↓ｌの電流零
点ｔｌにて放電させ、リアクトル１６．抵抗１７．コン
デンサ１８に減衰振動電流を流し、その時抵抗１７．：
Ｆンデンサ１８に発生する電圧ｔｓをタンク７Ｃ；印加
する。この電圧ｒ３は、本来完全なしゃ断器として全し
ゃ断ユニツ） １０〜１３Ｉ：対し印加されるべき全再
起電圧から電圧ｖ１の値を差し引いた値とし、しかも、
接地電位感二対して電圧９１と逆極性の電圧とする。
、 このような方法の試験を行なうことにより、しゃ断
工号ツ） １３の引出導体別側の端部とタンク７との空
間５にはｓ’ｌ−’！ｌすなわち絶対値的に社？ｌとガ
の和の電圧ＩＰ３が印加され、この値は全し″ や断ユ
ニット響：本来供給されるべき電圧として合成されるこ
とになるため、し中断エニグ゛トのし中断性能と、しゃ
断部端とタンク７間の絶縁性能検証を同時ａ二行なうこ
とができる。また第２の電源の発生電圧は全しゃ断点ミ
ニ印加すべき貴起電圧より低くすることができるため、
その建設置：Ｈする費用を低減することができる。
工号ツ） １３の引出導体別側の端部とタンク７との空
間５にはｓ’ｌ−’！ｌすなわち絶対値的に社？ｌとガ
の和の電圧ＩＰ３が印加され、この値は全し″ や断ユ
ニット響：本来供給されるべき電圧として合成されるこ
とになるため、し中断エニグ゛トのし中断性能と、しゃ
断部端とタンク７間の絶縁性能検証を同時ａ二行なうこ
とができる。また第２の電源の発生電圧は全しゃ断点ミ
ニ印加すべき貴起電圧より低くすることができるため、
その建設置：Ｈする費用を低減することができる。
次−二第１００の方法の動作原理を第３図６−示した電
流、電圧波形をもと１：説明する０第１の■の方法と異
なる点は、接地した引出導体田側のしゃ断エニツ） １
０を開極してアークを発生させ、他のし中断ユニット１
１〜１３を実質的ｉ；短絡すること、及び第２の電源の
発生電圧を、接地電位１：対して第１の電源と同極性と
し、かつ全しゃ断点Ｉ：本来印加すべき全再起電圧とは
ぼ同じ電圧をタンク７に印加することである。
流、電圧波形をもと１：説明する０第１の■の方法と異
なる点は、接地した引出導体田側のしゃ断エニツ） １
０を開極してアークを発生させ、他のし中断ユニット１
１〜１３を実質的ｉ；短絡すること、及び第２の電源の
発生電圧を、接地電位１：対して第１の電源と同極性と
し、かつ全しゃ断点Ｉ：本来印加すべき全再起電圧とは
ぼ同じ電圧をタンク７に印加することである。
この方法Ｃ二より接地した引出導体２３ＩＩＩＩのしゃ
断ユニット１０の端部とタンク７との空間墓の絶縁検証
を行なうことができる０また第２の電源２０＆−より空
間２６Ｉ：絶縁破壊が起きても、しゃ断部端は接地され
ているため、第２の電源加の発生電圧が館１の電源１９
１：入りこんでその試験装置を電□気的Ｃ；破壊するこ
ともない０またしゃ断ユニット１１．１２１３は、実質
釣書＝短絡されており、引出導体２４側まで含めて同電
位でありタンク７に対して、電圧ｇＰｌから？−を引い
た。すなわち絶対値的１；？Ｓの約この電圧ｔｓを持つ
■二すぎなく、これらの周囲Ｉ：はアークを経由した熱
ガスも吹き出さないので、タンク７との間で絶縁破壊が
起きることがない０すなわち第１の■の方法と同様１ニ
ジゃ断ユニットの性能検証と、しゃ断部端とタンク間の
絶縁性能検証を同時１２行なうことができるものである
０これＩ：対し第２の方法は、第１の電源１９からはし
ゃ断ユニットの性能検証を行なうべき高電圧を供給せず
、実質的にしゃ断すべき短絡電流のみを供給し、第２の
電源２０から本来全しゃ断点に印加すべき全再起電圧ｉ
：はぼ等しい電圧をタンク７に印加するものである０こ
の方法は、しゃ断ユニットの性能検証は目的とせず、し
ゃ断部端とタンク７間の電流しゃ断電後６二おける絶縁
性能の検証のみを目的としたものである。
断ユニット１０の端部とタンク７との空間墓の絶縁検証
を行なうことができる０また第２の電源２０＆−より空
間２６Ｉ：絶縁破壊が起きても、しゃ断部端は接地され
ているため、第２の電源加の発生電圧が館１の電源１９
１：入りこんでその試験装置を電□気的Ｃ；破壊するこ
ともない０またしゃ断ユニット１１．１２１３は、実質
釣書＝短絡されており、引出導体２４側まで含めて同電
位でありタンク７に対して、電圧ｇＰｌから？−を引い
た。すなわち絶対値的１；？Ｓの約この電圧ｔｓを持つ
■二すぎなく、これらの周囲Ｉ：はアークを経由した熱
ガスも吹き出さないので、タンク７との間で絶縁破壊が
起きることがない０すなわち第１の■の方法と同様１ニ
ジゃ断ユニットの性能検証と、しゃ断部端とタンク間の
絶縁性能検証を同時１２行なうことができるものである
０これＩ：対し第２の方法は、第１の電源１９からはし
ゃ断ユニットの性能検証を行なうべき高電圧を供給せず
、実質的にしゃ断すべき短絡電流のみを供給し、第２の
電源２０から本来全しゃ断点に印加すべき全再起電圧ｉ
：はぼ等しい電圧をタンク７に印加するものである０こ
の方法は、しゃ断ユニットの性能検証は目的とせず、し
ゃ断部端とタンク７間の電流しゃ断電後６二おける絶縁
性能の検証のみを目的としたものである。
この場合、アークを発生させるしゃ断ユニットが引出導
体冴側の時は、第４図Ｉ；示すよう盲：、第２の電源加
の発生電圧を、低いとはいえ発生する第１の電源１９の
再起電圧１−１と逆極性−二することが望ましい。
体冴側の時は、第４図Ｉ；示すよう盲：、第２の電源加
の発生電圧を、低いとはいえ発生する第１の電源１９の
再起電圧１−１と逆極性−二することが望ましい。
またアークを発生させるしゃ断ユニットが引出導体ｎ側
の時は、第２の電源釦の発生電圧を、第１の電源１９の
再起電圧？１と同極性６−することが望ましい。
の時は、第２の電源釦の発生電圧を、第１の電源１９の
再起電圧？１と同極性６−することが望ましい。
このような第２の方法によれば、第１の電源１９礁二必
要な電力は、第１の方法と比べて、非常にわずかなもの
とすることができるためよりｉ＆！済的な。
要な電力は、第１の方法と比べて、非常にわずかなもの
とすることができるためよりｉ＆！済的な。
しゃ断部端とタンク間のしゃ断器の絶縁性能検証を行な
うことができる。この場合、し中断３−ニットの性能検
証の問題が残るがこれはタンク７を接地した通常のユニ
ット試験で充分な検証を行なうことができるため、第２
の方法と会わせれば、結果的−；、全しゃ断点に対して
しゃ断試験を行なった場合と弊価な結果が得られる。
うことができる。この場合、し中断３−ニットの性能検
証の問題が残るがこれはタンク７を接地した通常のユニ
ット試験で充分な検証を行なうことができるため、第２
の方法と会わせれば、結果的−；、全しゃ断点に対して
しゃ断試験を行なった場合と弊価な結果が得られる。
第５図’Ｃ他の実施例を示す。第１図と異なる点は、第
２６電源２０１：第１の電源１９の発電ｍｌと異なる発
電機２７１−接続された変圧器あを設けたこと１−ある
。この場合変圧器あの発生電圧のピークが、はぼ第１の
電源１９からしゃ断器６＃二供給される電流↓ｘｆ）ｋ
Ｖぼ零点口同期して到来するようＣ：調整する０ この回路構成における試験法蝶、第１図の説明１′−用
いた第１．ｊｌ！２の方法Ｉ：含まれる全てのものがそ
のまま適用可能である。なお仁の場合、第２の電源釦が
交流電源のため、第１図の回路のように直流電圧となら
ない点が異なっている。
２６電源２０１：第１の電源１９の発電ｍｌと異なる発
電機２７１−接続された変圧器あを設けたこと１−ある
。この場合変圧器あの発生電圧のピークが、はぼ第１の
電源１９からしゃ断器６＃二供給される電流↓ｘｆ）ｋ
Ｖぼ零点口同期して到来するようＣ：調整する０ この回路構成における試験法蝶、第１図の説明１′−用
いた第１．ｊｌ！２の方法Ｉ：含まれる全てのものがそ
のまま適用可能である。なお仁の場合、第２の電源釦が
交流電源のため、第１図の回路のように直流電圧となら
ない点が異なっている。
Ｍ６図Ｃ；本発明の史に他の実施例を示す。第５図と異
なる点は、第２の電源釦に短絡発電機１を含んだ第１の
電源１９と並列Ｃ：接続した変圧参加を設けた仁とと、
ギャップ１５がないことである。この回路構成によれは
、しゃ断器６に短絡電流が流れている間は第２の電源釦
に実質的Ｉ：電圧が発生せず、電流しゃ断器こ自動的に
電圧が発生して、し中断部端とタンク間の絶縁性能の検
証を行なうことができる。しゃ断３−ニットの開極法や
、電圧の大きさ表どけ第１図の第１．第２の方法Ｉ：記
載された内容と同じにすることが可能である。
なる点は、第２の電源釦に短絡発電機１を含んだ第１の
電源１９と並列Ｃ：接続した変圧参加を設けた仁とと、
ギャップ１５がないことである。この回路構成によれは
、しゃ断器６に短絡電流が流れている間は第２の電源釦
に実質的Ｉ：電圧が発生せず、電流しゃ断器こ自動的に
電圧が発生して、し中断部端とタンク間の絶縁性能の検
証を行なうことができる。しゃ断３−ニットの開極法や
、電圧の大きさ表どけ第１図の第１．第２の方法Ｉ：記
載された内容と同じにすることが可能である。
なお上述の説明では、一つのしゃ断エエットに′１−り
を発生させる方法について説明したが、第１電源１９の
試験能力やし中断器の操作方式に応じて複数のしゃ断エ
ニット８ニアークをつけるよう６二してもよい０ また全しゃ断ユニット１ニアークを発生させてもよい。
を発生させる方法について説明したが、第１電源１９の
試験能力やし中断器の操作方式に応じて複数のしゃ断エ
ニット８ニアークをつけるよう６二してもよい０ また全しゃ断ユニット１ニアークを発生させてもよい。
この時、しゃ断ユニットの性能検証を行カう場合＋：ｉ
ｊ 、検証しない、し中断二二ツ）ｉ二検証するしゃ断
λニットより大きな並列コンデンサーをつけることが考
えられる０ また接地されてない引出導体あ側のしゃ断ユニットなｌ
ｌＮ他させてアークを発生さ゛せる場合区二社、空間６
が絶縁破壊して、第２の電源釦から第１の・電１［１９
へ高電圧が入ること（二よる第１の電源１９の電気的な
破壊を防ぐため、引出導体２４＠Ｉ’−過電圧保賎用の
保護装置を設けてもよい。
ｊ 、検証しない、し中断二二ツ）ｉ二検証するしゃ断
λニットより大きな並列コンデンサーをつけることが考
えられる０ また接地されてない引出導体あ側のしゃ断ユニットなｌ
ｌＮ他させてアークを発生さ゛せる場合区二社、空間６
が絶縁破壊して、第２の電源釦から第１の・電１［１９
へ高電圧が入ること（二よる第１の電源１９の電気的な
破壊を防ぐため、引出導体２４＠Ｉ’−過電圧保賎用の
保護装置を設けてもよい。
以上述べたように本発明の構成および動作を行なうこと
１；より、少なくとも電流しゃ断時）：おけるしゃ断部
端とタンクとの絶縁性能検証を行なうことができ試験設
備の建設ｃｌｌｌする費用を低減させた経済的に優れた
多点切タンク形しゃ断器の岬価試験法を提供する仁とが
できる０
１；より、少なくとも電流しゃ断時）：おけるしゃ断部
端とタンクとの絶縁性能検証を行なうことができ試験設
備の建設ｃｌｌｌする費用を低減させた経済的に優れた
多点切タンク形しゃ断器の岬価試験法を提供する仁とが
できる０
嬉１図は本発明の一実施例を示した回路図、第２図、第
３図及び第４図は、第１図の回路構成じで行なう動作例
を示した電流、電圧波形の図、第５図、第６図は夫々本
発明の他の実施例を示した回路図である。
３図及び第４図は、第１図の回路構成じで行なう動作例
を示した電流、電圧波形の図、第５図、第６図は夫々本
発明の他の実施例を示した回路図である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （１） 金属製タンクを接地電位から絶縁し、かつ前
記タンク内Ｃ二絶縁支持されるとともロ直列砿：接続さ
れた複数個のしゃ断ユニットの片側の引出導体を接地し
た多点切夕／り形しゃ断器の、前記し中断ユニットに社
、第１の電源からのみし中断すべき電流又は電流、電圧
を供給するととも舊；第２の電源から電圧を前記タンク
、と接地電位との関葛＝印加する仁と６：、より、全し
ゃ断ａ、＝ット？二本来印加すべき゛再起電圧にはぼ郷
しい電圧を、し中断ユニットの端部とタンク間Ｃ二印加
することを４１做とする多点切タンク形しゃ断器の等価
試験法。 （粉 第１の電源は実質的５−検証すべきし中断電流の
みを供給し、しゃ断ユニットには検証すべき、高電圧の
再起電圧の印加を行なわないことを特徴とする特許請求
範囲第１項記載の多点切タンク形しゃ断器の等価試験法
。 （ＩＩ） 直列接続された複数個のしゃ断ｓ−＝ット
のうち、少なくとも接地しない引出導体側のしゃ断部ユ
ニット６二アークを発生させるととも（：、電流しゃ断
電後１：、第１の電源から前記アークを発生したし中断
ユニットＣ二印加される電圧と逆極性でかつ全しゃ断器
ニット５二印加すべき再起電圧から前記第１の電源の電
圧を差し引いｆｃ％圧にほぼ等しい電圧を第２の電源か
らタンクに印加することを特徴とする特許請求範り第１
項記載の多点切タンク形しゃ新盤の等価試験法。 （４）直列接続された複数個のしゃ新島エツトのうち、
少なくとも接地した引出導体側のしゃ断ユニットＣニア
ークを発生させるととも６二、電流しゃ断直後口第１の
電源から前記アークを発生したしゃ断器ニットに印加さ
れる電圧と同極性でかつ全し中断エニットー二本来印加
すべき再起電圧叫はぼ等しい電圧を＃！２の電源からタ
ンクに印加することを特徴とする特許請求範囲第１項１
記載の多点切タンク形し中断器の等価試験法〇（６）
第１の電源に短絡発電機が含まれていることを特徴
とする特許請求範囲第３項及び第４項記載の多点切タン
ク形しゃ断器の尋価試験法。 （６）第２の電源Ｉ：はあらかじめ充電されたコンデン
サとトリガーギャップを備えたことを特徴とする特許請
求範囲第５項記載の多点切タンク形しゃ断器の等価試験
法。 （７）第２の電源Ｉ：は第１の電源と並列Ｃ−接続され
た変圧器を備えた＊ＷｆＭ求範囲第５項記載の多点切タ
ンク形しゃ断器の勢価試験法。 （８）第２の電源には第１の電源と別な発電機と接続さ
れた変圧器を備えた特許請求範囲第５項記載の多点切タ
ンク形しゃ断器の等価試験法。 （９）第２の電源ｉニドリガーギャップな債えた特許請
求範囲第８項記載の多点切タンク形し中断器の岬価試験
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56115262A JPS5818175A (ja) | 1981-07-24 | 1981-07-24 | 多点切タンク形しや断器の等価試験法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56115262A JPS5818175A (ja) | 1981-07-24 | 1981-07-24 | 多点切タンク形しや断器の等価試験法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5818175A true JPS5818175A (ja) | 1983-02-02 |
Family
ID=14658311
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56115262A Pending JPS5818175A (ja) | 1981-07-24 | 1981-07-24 | 多点切タンク形しや断器の等価試験法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5818175A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6013271A (ja) * | 1983-07-04 | 1985-01-23 | Toshiba Corp | タンク形しや断器の合成しや断試験法 |
| JPS61137437U (ja) * | 1985-02-18 | 1986-08-26 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5326969A (en) * | 1976-08-25 | 1978-03-13 | Siemens Ag | Combined testing circuit unit |
-
1981
- 1981-07-24 JP JP56115262A patent/JPS5818175A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5326969A (en) * | 1976-08-25 | 1978-03-13 | Siemens Ag | Combined testing circuit unit |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPH0469350B2 (ja) * | 1983-07-04 | 1992-11-05 | Tokyo Shibaura Electric Co | |
| JPS61137437U (ja) * | 1985-02-18 | 1986-08-26 | ||
| JPH0144245Y2 (ja) * | 1985-02-18 | 1989-12-21 |
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