JPS58156853A - 超音波探傷装置 - Google Patents
超音波探傷装置Info
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- JPS58156853A JPS58156853A JP57039848A JP3984882A JPS58156853A JP S58156853 A JPS58156853 A JP S58156853A JP 57039848 A JP57039848 A JP 57039848A JP 3984882 A JP3984882 A JP 3984882A JP S58156853 A JPS58156853 A JP S58156853A
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- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/07—Analysing solids by measuring propagation velocity or propagation time of acoustic waves
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は開口合成法を用いた超音波探傷装置に関する。
超音波探傷法の原理は次の通りである。
被検体の表面に超音波探触子を配置し、この超音波探触
子よυ超音波を被検体の内部へ向けて発信すると、被検
体と気相との境界面で反射する。したがって被検体の底
面から反射波を生ずるほか、被検体の内部に空洞状の欠
陥部があるとその欠陥部からも反射波を生ずることにな
る。そこでその反射波を検出することにより、超音波発
信位置、発信時から反射波の受信時までの所要時間及び
反射波の撮幅の大きさ等によ）、欠陥部の位置及び大き
さを知ることができる。
子よυ超音波を被検体の内部へ向けて発信すると、被検
体と気相との境界面で反射する。したがって被検体の底
面から反射波を生ずるほか、被検体の内部に空洞状の欠
陥部があるとその欠陥部からも反射波を生ずることにな
る。そこでその反射波を検出することにより、超音波発
信位置、発信時から反射波の受信時までの所要時間及び
反射波の撮幅の大きさ等によ）、欠陥部の位置及び大き
さを知ることができる。
また解像度を高める一手段として開［］合成法を用いた
超音波探傷が従来より行なわれている。
超音波探傷が従来より行なわれている。
この原理を第１図によシ説明する。被検体１０表面に沿
って指向性の広い探触子２を走査させなから探触子２よ
り超音波を被検体１の内部へ向けて円錐状に拡がった角
度αなる範囲釦発信させる。今、超音波探触子２を矢印
Ｘ方向へ走査させるものとし、被検体１内のＡ点及びＢ
点に欠陥部があるとすると、超音波探触子２が被検体１
の表面に沿った各測定点ｘ１からｘｎの間にあるときは
超音波の発信範囲がＡ点を含むので、欠陥部からの反射
波が得られる。そこで、超音波探触子２は各測定点ＸＩ
、Ｘ２．・・・ｘｎにおいて第２図のようなタイミング
でＡ点からの反射波を受信することができる。例えばｎ
＝ ７とし、被検体１の表面に各測定点ＸＩ 、 Ｘ
２ 、・・・＋Ｘ７を等間隔に設定したとすると、超音
波発信時よｐＡ点からの反射波の受信時までの所要時間
Ｔ １ ａ＋ Ｔ ２ ａ＋・・・、Ｔ７８は超音波探
触子２が両端の測定点ｘ１及びｘ７１ｃあるとき最も長
く（所要時間Ｔ１１１＋Ｔ７ａ）’中央の測定点ｘ４に
あるとき最も短かくなる（所要時間Ｔ４１Ｌ）。一方、
Ｂ点からの反射波は測定点ＸＩからｘ４ ”ｆでの位置
で受信されるが、超音波発信時よ９８点からの反射波の
受信時までの所要時間’ｒ２ａ＋Ｔ１ｂ＋Ｔｓｂ 、Ｔ
ａｂ、Ｔ４ｂは超音波探触子２が最初の測定点Ｘ１にあ
るとき最も短かく（所要時間Ｔｌｂ）、測定点が１２．
ＸＢ、Ｘ４ と移動するに伴なって長くなる。そこでＡ
点からの反射波に応じた超音波探触子からの信号をそれ
ぞれの時間差分だけずらして各信号の出力時点を一致さ
せ、それらの信号を加算平均する。その結果、Ａ点から
の反射波に応じて得られる信号の出力は加算平均前と殆
んど変りはないが、Ｂ点からの反射波に応じて得られる
信号の出力は、Ｔｌ ｂ ｈ Ｔｌ ｂａＴ ３ ｂ＊
Ｔ ４１）間の時間差のずれがなくならないため加算
平均前の１／７ Ｋ減少する。このため相対的にはＡ点
からの反射波に応じて得られる信号の出力が強調され、
解像度が高められることになる。つまシ開ロ合成法では
ＸＩ ＸＢの口径を有する超音波探触子を用いてＡ点に
超音波を収束させた場合に匹敵する高解像度の出力全得
ることができるのである。また、開口合成法によれは探
傷距離に応じてＸｘ−Ｘｎｋ変化させることによ）、探
傷距離に左右されない一定の分解能を得ることができる
。
って指向性の広い探触子２を走査させなから探触子２よ
り超音波を被検体１の内部へ向けて円錐状に拡がった角
度αなる範囲釦発信させる。今、超音波探触子２を矢印
Ｘ方向へ走査させるものとし、被検体１内のＡ点及びＢ
点に欠陥部があるとすると、超音波探触子２が被検体１
の表面に沿った各測定点ｘ１からｘｎの間にあるときは
超音波の発信範囲がＡ点を含むので、欠陥部からの反射
波が得られる。そこで、超音波探触子２は各測定点ＸＩ
、Ｘ２．・・・ｘｎにおいて第２図のようなタイミング
でＡ点からの反射波を受信することができる。例えばｎ
＝ ７とし、被検体１の表面に各測定点ＸＩ 、 Ｘ
２ 、・・・＋Ｘ７を等間隔に設定したとすると、超音
波発信時よｐＡ点からの反射波の受信時までの所要時間
Ｔ １ ａ＋ Ｔ ２ ａ＋・・・、Ｔ７８は超音波探
触子２が両端の測定点ｘ１及びｘ７１ｃあるとき最も長
く（所要時間Ｔ１１１＋Ｔ７ａ）’中央の測定点ｘ４に
あるとき最も短かくなる（所要時間Ｔ４１Ｌ）。一方、
Ｂ点からの反射波は測定点ＸＩからｘ４ ”ｆでの位置
で受信されるが、超音波発信時よ９８点からの反射波の
受信時までの所要時間’ｒ２ａ＋Ｔ１ｂ＋Ｔｓｂ 、Ｔ
ａｂ、Ｔ４ｂは超音波探触子２が最初の測定点Ｘ１にあ
るとき最も短かく（所要時間Ｔｌｂ）、測定点が１２．
ＸＢ、Ｘ４ と移動するに伴なって長くなる。そこでＡ
点からの反射波に応じた超音波探触子からの信号をそれ
ぞれの時間差分だけずらして各信号の出力時点を一致さ
せ、それらの信号を加算平均する。その結果、Ａ点から
の反射波に応じて得られる信号の出力は加算平均前と殆
んど変りはないが、Ｂ点からの反射波に応じて得られる
信号の出力は、Ｔｌ ｂ ｈ Ｔｌ ｂａＴ ３ ｂ＊
Ｔ ４１）間の時間差のずれがなくならないため加算
平均前の１／７ Ｋ減少する。このため相対的にはＡ点
からの反射波に応じて得られる信号の出力が強調され、
解像度が高められることになる。つまシ開ロ合成法では
ＸＩ ＸＢの口径を有する超音波探触子を用いてＡ点に
超音波を収束させた場合に匹敵する高解像度の出力全得
ることができるのである。また、開口合成法によれは探
傷距離に応じてＸｘ−Ｘｎｋ変化させることによ）、探
傷距離に左右されない一定の分解能を得ることができる
。
開口合成法による従来の超音波探傷には次のような問題
があった。
があった。
超音波探触子から発信される超音波は第２図に示すよう
に複数の正弦波が合成された形で被検体の内部に照射さ
れる。そこで、例えば仮に超音波の彼達を４つとし、ま
た測定点を簡略のためＸＩ Ｉ Ｘ４ １ ”７の３
点としてＡ点に存在する欠陥部を探傷するシステムを図
示すると第３図のようになる。すなわちＸ１＋Ｘ４＋Ｘ
７の各点を中心に超音波の４つの彼達を示す同心円を描
くと、Ａ点ではもちろんのこと、Ａ点周５− 辺の多数の位置でも交差する。そして多数の円が交差す
るほど、反射波に応じた信号の加算出力は大きくなると
みることができるので、Ａ点 ゛を含む１１
ａｌｒ Ｘ４ ａ４− Ｉ Ｘ７ ＆１で囲まれた斜線
領域では多数の位置で出力が大となシ、画像表示すると
第４図（（転）のように正規像３の周シに不要像４が大
きく現われて、微小な欠陥部が斜線領域全体の大きさで
あるかの如くなり、欠陥部の画像表示が甚だ不鮮明とな
るのである。
に複数の正弦波が合成された形で被検体の内部に照射さ
れる。そこで、例えば仮に超音波の彼達を４つとし、ま
た測定点を簡略のためＸＩ Ｉ Ｘ４ １ ”７の３
点としてＡ点に存在する欠陥部を探傷するシステムを図
示すると第３図のようになる。すなわちＸ１＋Ｘ４＋Ｘ
７の各点を中心に超音波の４つの彼達を示す同心円を描
くと、Ａ点ではもちろんのこと、Ａ点周５− 辺の多数の位置でも交差する。そして多数の円が交差す
るほど、反射波に応じた信号の加算出力は大きくなると
みることができるので、Ａ点 ゛を含む１１
ａｌｒ Ｘ４ ａ４− Ｉ Ｘ７ ＆１で囲まれた斜線
領域では多数の位置で出力が大となシ、画像表示すると
第４図（（転）のように正規像３の周シに不要像４が大
きく現われて、微小な欠陥部が斜線領域全体の大きさで
あるかの如くなり、欠陥部の画像表示が甚だ不鮮明とな
るのである。
本発明は、被検体内部の欠陥部を高解像度で画像表示す
ることができ、かつ第４図ｃ刊のような不要像のない鮮
明な画像表示をすることかできる、開口合成法を用いた
超音波探傷装置を提供することを目的とする。
ることができ、かつ第４図ｃ刊のような不要像のない鮮
明な画像表示をすることかできる、開口合成法を用いた
超音波探傷装置を提供することを目的とする。
本発明に係る超音波探傷装置は、複数の測定点において
各測定点ごとに異なる周波数の超音波を被検体の表面か
らその内部へ向けて円錐状に拡がった範囲に発信すると
ともにその反射波６− を受信する超音波探触子と、前記各測定点における前記
超音波探触子からの信号を画像信号に変換する複数の開
口合成信号処理回路と、各開口合成信号処理回路からの
信号を記憶する複数のメモリと、前記各開口合成信号処
理回路にて作成された画像信号を前記各メモリよＱ入力
しそれらを加算する画像加算処理回路と、この画像加算
処理回路による加算結果を画像表示する画像表示器とを
具備してなるものである。
各測定点ごとに異なる周波数の超音波を被検体の表面か
らその内部へ向けて円錐状に拡がった範囲に発信すると
ともにその反射波６− を受信する超音波探触子と、前記各測定点における前記
超音波探触子からの信号を画像信号に変換する複数の開
口合成信号処理回路と、各開口合成信号処理回路からの
信号を記憶する複数のメモリと、前記各開口合成信号処
理回路にて作成された画像信号を前記各メモリよＱ入力
しそれらを加算する画像加算処理回路と、この画像加算
処理回路による加算結果を画像表示する画像表示器とを
具備してなるものである。
第５図は本発明の一実施例に係る超音波探傷装置の概略
構成を示すもので、図中１０１は超音波を被検体１０２
の内部に向けて円錐状に拡がった範囲に発信し、かつそ
の反射波を受信する周波数可変形の超音波探触子である
。この超音波探触子１０１は走査機構１０３に駆動され
て、前記被検体１０２０表面に沿って矢印Ｘ方向へ走査
する。また、図中１０４は超音波を発生して超音波探触
子１０１へ送出するとともに超音波探触子１０１からの
出力信号を入力する探傷器であり、コントローラ１０５
からの指令によって作動する。
構成を示すもので、図中１０１は超音波を被検体１０２
の内部に向けて円錐状に拡がった範囲に発信し、かつそ
の反射波を受信する周波数可変形の超音波探触子である
。この超音波探触子１０１は走査機構１０３に駆動され
て、前記被検体１０２０表面に沿って矢印Ｘ方向へ走査
する。また、図中１０４は超音波を発生して超音波探触
子１０１へ送出するとともに超音波探触子１０１からの
出力信号を入力する探傷器であり、コントローラ１０５
からの指令によって作動する。
また、図中１０６−１ ｒ１０６−２ ＋”’ｒ１０６
−ｎは、前記超音波の周波数の植類と同数（ｎ個）設け
られた開口合成信号処理回路であって、これらは前記探
傷器１０４を介して超音波探触子１０ノからの信号を入
力し、画像信号に変換して各開口合成信号処理回路１０
６−１．１０６−２・・・・・１０６１ごとに対応して
設けられたメモＩＪ Ｊ ０７−ｔ 、１ｏｖ−２゜・
・・、１０７−ｎに出力する。そして各メモＩＪ Ｋ記
憶された画像信号は画像加算処理回路１０８にて加算さ
れ、画像表示器１θ９にて画像表示される。なお前記走
査機構１０３及び前記各開口合成信号処理回路１０６−
１．１０６２ ＋・・・、１０６−ｎモ、前記コントロ
ーラ１０５に制御されて所定のタイミングで動作する。
−ｎは、前記超音波の周波数の植類と同数（ｎ個）設け
られた開口合成信号処理回路であって、これらは前記探
傷器１０４を介して超音波探触子１０ノからの信号を入
力し、画像信号に変換して各開口合成信号処理回路１０
６−１．１０６−２・・・・・１０６１ごとに対応して
設けられたメモＩＪ Ｊ ０７−ｔ 、１ｏｖ−２゜・
・・、１０７−ｎに出力する。そして各メモＩＪ Ｋ記
憶された画像信号は画像加算処理回路１０８にて加算さ
れ、画像表示器１θ９にて画像表示される。なお前記走
査機構１０３及び前記各開口合成信号処理回路１０６−
１．１０６２ ＋・・・、１０６−ｎモ、前記コントロ
ーラ１０５に制御されて所定のタイミングで動作する。
以下、この超音波探傷装置の作用を説明する。
前記超音波探触子１０１は走査機構１０３に駆動され、
被検体１θ２の表面に沿って等間隔に設定された複数の
測定点Ｘ１１ Ｘ２ｒ・・・１ＸＢ’に通つて走査され
る（第６図）。またコントローラ１０５では超音波探触
子１０１が各測定点ＸＩ。
被検体１θ２の表面に沿って等間隔に設定された複数の
測定点Ｘ１１ Ｘ２ｒ・・・１ＸＢ’に通つて走査され
る（第６図）。またコントローラ１０５では超音波探触
子１０１が各測定点ＸＩ。
Ｘ２．・・・、Ｘｎに位置する毎に探傷器１０４へ超音
波発生指令を出し、これに応じて探傷器１０４よ）各測
定点ごとに周波数の異なる超音波が発生する。第７図（
Ａ）は仮にｎ ＝ ７として各測定点ｘ１１ Ｘ２１
”’ ＊ ｘ７において周波数ｆｌ、ｆ２．・・・、ｆ
７の超音波が発信されることを示すものである。そして
その超音波は、第６図に示す如く探触子１０１よシ被検
体１０２の内部へ向けてαなる角度で円錐状に拡がった
範囲に照射される。ここで、例えば被検体１０２内のＡ
点に欠陥部が存在するときは探触子１０１が測定点Ｘ１
からｘｎまでのいずれの位置においてもその欠陥部へ超
音波を照射することができ、かつその欠陥部からの反射
波を受信することができる。ところで各測定点ＸＩ Ｉ
Ｘ２ ｊ・・・、ＩｎからＡ点までの距離は一定では
ないので、測定点が変ると超音波発信時から反射波の受
信時までの所要時間もＴ １ ｒＴ２ ｒ・・・、Ｔｎ
の如く変化する。第７図（刊はｎ ＝ ７９− とし、超音波発信時を一致させたときの各受信波と上記
所要時間との関係を示すものである。
波発生指令を出し、これに応じて探傷器１０４よ）各測
定点ごとに周波数の異なる超音波が発生する。第７図（
Ａ）は仮にｎ ＝ ７として各測定点ｘ１１ Ｘ２１
”’ ＊ ｘ７において周波数ｆｌ、ｆ２．・・・、ｆ
７の超音波が発信されることを示すものである。そして
その超音波は、第６図に示す如く探触子１０１よシ被検
体１０２の内部へ向けてαなる角度で円錐状に拡がった
範囲に照射される。ここで、例えば被検体１０２内のＡ
点に欠陥部が存在するときは探触子１０１が測定点Ｘ１
からｘｎまでのいずれの位置においてもその欠陥部へ超
音波を照射することができ、かつその欠陥部からの反射
波を受信することができる。ところで各測定点ＸＩ Ｉ
Ｘ２ ｊ・・・、ＩｎからＡ点までの距離は一定では
ないので、測定点が変ると超音波発信時から反射波の受
信時までの所要時間もＴ １ ｒＴ２ ｒ・・・、Ｔｎ
の如く変化する。第７図（刊はｎ ＝ ７９− とし、超音波発信時を一致させたときの各受信波と上記
所要時間との関係を示すものである。
以上の如く探触子１０１ ｔｄ、各測定点においてＡ点
からの反射波を受信し、その信号を探傷器１０４を介し
て各開口合成信号処理回路１０６ｓ＋１０６−２．・・
・、１０６−ｎへ送出する。そこで各開口合成信号処理
回路１０６−１−１０６−２ ＋”’１１０６−ｎはコ
ントローラ１０５からの指令を受けて探触子１０）から
の信号を画像信号に変換し、その信号を各メモリ１ （
１７−１＋ １０７−２ 、・・・＋ １０７ Ｈに出
力する。また画像加算処理回路１０ｇでは各開口合成信
号処理回路１０６−、、Ｊｌ）６−２ 。
からの反射波を受信し、その信号を探傷器１０４を介し
て各開口合成信号処理回路１０６ｓ＋１０６−２．・・
・、１０６−ｎへ送出する。そこで各開口合成信号処理
回路１０６−１−１０６−２ ＋”’１１０６−ｎはコ
ントローラ１０５からの指令を受けて探触子１０）から
の信号を画像信号に変換し、その信号を各メモリ１ （
１７−１＋ １０７−２ 、・・・＋ １０７ Ｈに出
力する。また画像加算処理回路１０ｇでは各開口合成信
号処理回路１０６−、、Ｊｌ）６−２ 。
・・・、１０６−ｎにて作成された画像信号をメモリ１
０７−１．１０７ ２ 、・・・＋ １０７− ｎを介
して入力し、それらを加算する。このとき各開口合成信
号処理回路１０６−１．１０６−２．−・’ ＋ １１
１＞ ６− ｎにて作成された画像信号は、各測定点Ｘ
Ｉ ＨＸ２ ｍ・・・１Ｘｆｉにおいて探触子１０１よ
シ発信された超音波に対応するものであるから、これら
の周期は相互に異なるものである。そこでこれらの画像
信号１０− の加算を第８図によ勺説明すると次の通シである。なお
第８図は測定点の数ｎを仮にｎ ＝ ７とし、また探触
子１０１より発信される超−１ｆ′＄の彼達を４つとし
、かつ簡略のため両端と中央の３つの測定点ＸＩ １
１４ ８１７のみ取出して、Ａ点とこのＡ点より反射す
る反射波との関係を示したものである。各測定点ＸＩ
、Ｘ４ 、Ｘ７を中心にそれぞれ４つの彼達に相当
する同心円を描くとＡ点ではすべての超音波の第１波に
相当する円が交差するが、各測定点Ｘ１，１４゜ｘ７に
おいて発信される超音波の周波数１１＋ｆ、、ｆ、は相
互に異なるため、Ａ点板外では円同志の交差が少なくな
っている。そして多数の円が交差するところほど、反射
波に応じた信号の加算出力は大きくなシ、逆に円同志の
交差が少ないところでは加算出力が小さくなるとみるこ
とができるので、画像加算処理回路１０８からの出力の
うち、Ａ点からの反射波に対応する出力がその周辺部よ
り極立って大きくなるのである。そこで、画像加算処理
回路１０８からの出力によシ、画像表示器１０９には第
４図（Ｂ）の如く不要像のない、Ａ点の正規像３のみが
鮮明に表示されることになる。
０７−１．１０７ ２ 、・・・＋ １０７− ｎを介
して入力し、それらを加算する。このとき各開口合成信
号処理回路１０６−１．１０６−２．−・’ ＋ １１
１＞ ６− ｎにて作成された画像信号は、各測定点Ｘ
Ｉ ＨＸ２ ｍ・・・１Ｘｆｉにおいて探触子１０１よ
シ発信された超音波に対応するものであるから、これら
の周期は相互に異なるものである。そこでこれらの画像
信号１０− の加算を第８図によ勺説明すると次の通シである。なお
第８図は測定点の数ｎを仮にｎ ＝ ７とし、また探触
子１０１より発信される超−１ｆ′＄の彼達を４つとし
、かつ簡略のため両端と中央の３つの測定点ＸＩ １
１４ ８１７のみ取出して、Ａ点とこのＡ点より反射す
る反射波との関係を示したものである。各測定点ＸＩ
、Ｘ４ 、Ｘ７を中心にそれぞれ４つの彼達に相当
する同心円を描くとＡ点ではすべての超音波の第１波に
相当する円が交差するが、各測定点Ｘ１，１４゜ｘ７に
おいて発信される超音波の周波数１１＋ｆ、、ｆ、は相
互に異なるため、Ａ点板外では円同志の交差が少なくな
っている。そして多数の円が交差するところほど、反射
波に応じた信号の加算出力は大きくなシ、逆に円同志の
交差が少ないところでは加算出力が小さくなるとみるこ
とができるので、画像加算処理回路１０８からの出力の
うち、Ａ点からの反射波に対応する出力がその周辺部よ
り極立って大きくなるのである。そこで、画像加算処理
回路１０８からの出力によシ、画像表示器１０９には第
４図（Ｂ）の如く不要像のない、Ａ点の正規像３のみが
鮮明に表示されることになる。
したがって、以上の如く構成された超音波探傷装置によ
れば、開口合成法により解像度の高い画像表示がなされ
るのみでなく、各測定点ととに周波数の異なる超音波全
発信するようにしたことによ勺被検体１０２内の欠陥部
の正規像３のみが鮮明に画像表示され、従来の問題点全
解消することができる。
れば、開口合成法により解像度の高い画像表示がなされ
るのみでなく、各測定点ととに周波数の異なる超音波全
発信するようにしたことによ勺被検体１０２内の欠陥部
の正規像３のみが鮮明に画像表示され、従来の問題点全
解消することができる。
なお本発明は前記実施例の構成のみに限定されるもので
はない。例えば前記実施例では周波数可変形の超音波探
触子１０１ｆ被検体１０２の表面に沿って走査させるも
のとしたが、周波数の異なる超音波を発信する複数の超
音波探触子を各測定点に配置するようにしてもよい。
はない。例えば前記実施例では周波数可変形の超音波探
触子１０１ｆ被検体１０２の表面に沿って走査させるも
のとしたが、周波数の異なる超音波を発信する複数の超
音波探触子を各測定点に配置するようにしてもよい。
以上実施例にもとづいて説明したように、本発明の超音
波探傷装置によれば、開口合成法を用いることによシ被
検体内部の欠陥部を高解像度で画ｔ＝Ｓ示することがで
きるとともに、各測定点ごとに超音波の周波数を変えた
ことにより、従来の開口合成法の問題点であった不要像
ｔなくすことができ、欠陥部の正規１家のみ全鮮明に画
像表示することができる。
波探傷装置によれば、開口合成法を用いることによシ被
検体内部の欠陥部を高解像度で画ｔ＝Ｓ示することがで
きるとともに、各測定点ごとに超音波の周波数を変えた
ことにより、従来の開口合成法の問題点であった不要像
ｔなくすことができ、欠陥部の正規１家のみ全鮮明に画
像表示することができる。
第１図及び第２図は背景技術全貌間するもので、第１図
は超音波探触子から被検体内部への超音波の発信状態を
示す図、第２図は各測定点において超音波探触子より発
信される超音波とその反射波との関係を示す図、第３図
及び第４図（Ａｌは背景技術の問題点ｆ、説明するもの
で、第３図は不要像の発生理由を説明する図、第４図（
Ｎは欠陥部のＩｔｈ像表示状態を示す図、第４図（（至
）ないし第８図は本発明の一実施例を示すもので、第４
図（８１は欠陥部の画像表示状態を示す図、第５図は超
音波探傷装置の概略構成図、第６図は超音波探触子から
被検体内部への超音波の発信状態を示す図、第７図は各
測定点において超音波探触子上り発信される超ｉ−波と
その反射波と＝１３− の関係を示す図、第８図は画像信号の加算を説明する図
である。 ３・・・正規像、４・・・不要像、１０１・・・超音波
探触子、１０２・・・被検体、１０３・・・走置機構、
１０６ １ 、Ｊ （１１６−２＋ ”・＋ １７７６
−ｎ’・・開口合成信号処理回路、１０ｒ １ ｒ
１０７−ｘ ＃・・・、１０７−ｎ・・・メモリ、１０
８・・・画像加算処理回路、１０９・・・画像表示器、
Ｘ ｌ ＋ Ｘ ２＋・・・＋Ｘ１・・・測定点、Ａ
・・・欠陥部が存在する点、ｆｌｈｆ＠＊・・・ｈ ｆ
ｎ・・・各超音波の周波数。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦１４− 第１図 ＸｌＸ２・・・Ｘ。 ？８ＷＪ昭５８−１５６８５３（５） 第２図 Ｘ １Ｘ ４ Ｘ ７ 第４図 （Ａ） （Ｂ） 第５図 笛７ Ｍ 第６図 ＸｌＸ２・・・ ｘｏ ホｌ凶
は超音波探触子から被検体内部への超音波の発信状態を
示す図、第２図は各測定点において超音波探触子より発
信される超音波とその反射波との関係を示す図、第３図
及び第４図（Ａｌは背景技術の問題点ｆ、説明するもの
で、第３図は不要像の発生理由を説明する図、第４図（
Ｎは欠陥部のＩｔｈ像表示状態を示す図、第４図（（至
）ないし第８図は本発明の一実施例を示すもので、第４
図（８１は欠陥部の画像表示状態を示す図、第５図は超
音波探傷装置の概略構成図、第６図は超音波探触子から
被検体内部への超音波の発信状態を示す図、第７図は各
測定点において超音波探触子上り発信される超ｉ−波と
その反射波と＝１３− の関係を示す図、第８図は画像信号の加算を説明する図
である。 ３・・・正規像、４・・・不要像、１０１・・・超音波
探触子、１０２・・・被検体、１０３・・・走置機構、
１０６ １ 、Ｊ （１１６−２＋ ”・＋ １７７６
−ｎ’・・開口合成信号処理回路、１０ｒ １ ｒ
１０７−ｘ ＃・・・、１０７−ｎ・・・メモリ、１０
８・・・画像加算処理回路、１０９・・・画像表示器、
Ｘ ｌ ＋ Ｘ ２＋・・・＋Ｘ１・・・測定点、Ａ
・・・欠陥部が存在する点、ｆｌｈｆ＠＊・・・ｈ ｆ
ｎ・・・各超音波の周波数。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦１４− 第１図 ＸｌＸ２・・・Ｘ。 ？８ＷＪ昭５８−１５６８５３（５） 第２図 Ｘ １Ｘ ４ Ｘ ７ 第４図 （Ａ） （Ｂ） 第５図 笛７ Ｍ 第６図 ＸｌＸ２・・・ ｘｏ ホｌ凶
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （１１複数の測定点において各測定点ごとに異なる周波
数の超音波を被検体の表面からその内部へ向けて円錐状
に拡がった範囲に発信するとともにその反射波を受信す
る超音波探触子と、前記各測定点における前記超音波探
触子からの信号を画像信号に変換する複数の開口合成信
号処理回路と、各開口合成信号処理回路からの信号を記
憶する複数のメモリと、前記各開口合成信号処理回路に
て作成された画像信号を前記各メモリより入力しそれら
を加算する画像加算処理回路と、この画像加算処理回路
による加算結果を画像表示する画像表示器とを具備した
ことを特徴とする超音波探傷装置。 （２）前記超音波探触子を周波数可変形とし、被検体の
表面に沿わせ前記各測定点を通って走査させるようにし
たことを特徴とする特許請求の範囲第（１）項記載の超
音波探傷装置。 （３）複数の超音波探触子を前記各測定点に配置して各
超音波探触子よシ相互に周波数の異なる超音波を発信す
るよう圧したことを特徴とする特許請求の範囲第（１）
項記載の超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57039848A JPS58156853A (ja) | 1982-03-13 | 1982-03-13 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57039848A JPS58156853A (ja) | 1982-03-13 | 1982-03-13 | 超音波探傷装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58156853A true JPS58156853A (ja) | 1983-09-17 |
Family
ID=12564376
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57039848A Pending JPS58156853A (ja) | 1982-03-13 | 1982-03-13 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58156853A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6126855A (ja) * | 1984-07-16 | 1986-02-06 | Kobe Steel Ltd | 遠心鋳造管の超音波探傷法 |
| JP2014018470A (ja) * | 2012-07-19 | 2014-02-03 | Hitachi Power Solutions Co Ltd | 測定周波数可変超音波映像装置 |
| JP2014194379A (ja) * | 2013-03-29 | 2014-10-09 | Fuji Heavy Ind Ltd | 損傷長測定システム及び損傷長測定方法 |
| CN106137247A (zh) * | 2016-06-28 | 2016-11-23 | 朗昇科技（苏州）有限公司 | 一种超声成像设备 |
-
1982
- 1982-03-13 JP JP57039848A patent/JPS58156853A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6126855A (ja) * | 1984-07-16 | 1986-02-06 | Kobe Steel Ltd | 遠心鋳造管の超音波探傷法 |
| JP2014018470A (ja) * | 2012-07-19 | 2014-02-03 | Hitachi Power Solutions Co Ltd | 測定周波数可変超音波映像装置 |
| US9326752B2 (en) | 2012-07-19 | 2016-05-03 | Hitachi Power Solutions Co., Ltd. | Measurement frequency variable ultrasonic imaging device |
| JP2014194379A (ja) * | 2013-03-29 | 2014-10-09 | Fuji Heavy Ind Ltd | 損傷長測定システム及び損傷長測定方法 |
| CN106137247A (zh) * | 2016-06-28 | 2016-11-23 | 朗昇科技（苏州）有限公司 | 一种超声成像设备 |
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