JPH10253599A - 超音波探傷方法および装置 - Google Patents
超音波探傷方法および装置Info
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- JPH10253599A JPH10253599A JP9051913A JP5191397A JPH10253599A JP H10253599 A JPH10253599 A JP H10253599A JP 9051913 A JP9051913 A JP 9051913A JP 5191397 A JP5191397 A JP 5191397A JP H10253599 A JPH10253599 A JP H10253599A
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- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 53
- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 57
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
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- G01N29/07—Analysing solids by measuring propagation velocity or propagation time of acoustic waves
-
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- G01N2291/02—Indexing codes associated with the analysed material
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-
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Abstract
(57)【要約】
【課題】複雑な構造物の溶接部検査において、欠陥の位
置を正確に検出することのできる超音波探傷方法および
装置を提供する。 【解決手段】被検査体２７上で超音波探触子１を走査
し、被検査体内に超音波を送信すると共に反射体２０か
ら反射された超音波を受信し、受信された反射波信号と
超音波探触子１の位置信号とから反射体の有無と位置を
検出する超音波探傷方法において、前記超音波を複数の
方向Ａ，Ｂにおいて送受信し、それぞれの方向で受信し
た反射信号と、それぞれの方向における前記超音波探触
子１の位置信号とから、それぞれの方向における反射体
の位置を演算すると共に、それぞれの方向毎に被検査体
上に反射体を表示する反射体表示画像を演算して作成
し、それぞれの方向毎に作成された前記反射体表示画像
の論理積を演算して所望の反射体表示画像を得ることを
特徴とする。
置を正確に検出することのできる超音波探傷方法および
装置を提供する。 【解決手段】被検査体２７上で超音波探触子１を走査
し、被検査体内に超音波を送信すると共に反射体２０か
ら反射された超音波を受信し、受信された反射波信号と
超音波探触子１の位置信号とから反射体の有無と位置を
検出する超音波探傷方法において、前記超音波を複数の
方向Ａ，Ｂにおいて送受信し、それぞれの方向で受信し
た反射信号と、それぞれの方向における前記超音波探触
子１の位置信号とから、それぞれの方向における反射体
の位置を演算すると共に、それぞれの方向毎に被検査体
上に反射体を表示する反射体表示画像を演算して作成
し、それぞれの方向毎に作成された前記反射体表示画像
の論理積を演算して所望の反射体表示画像を得ることを
特徴とする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、超音波探傷方法お
よび装置に係わり、特に、被検査体中を伝搬する反射信
号の伝搬時間から反射体の位置を算出する超音波探傷方
法および装置に関する。
よび装置に係わり、特に、被検査体中を伝搬する反射信
号の伝搬時間から反射体の位置を算出する超音波探傷方
法および装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の溶接部の超音波探傷方法の一例
を、図６〜図８を用いて説明する。図６は原子力圧力容
器下部のＣＲＤスタブチューブと圧力容器下鏡との溶接
部における欠陥検査を説明するための図、図７（ａ）は
超音波探触子の位置ｘ０における送信波および欠陥反射
波の表示画面を示す図、図７（ｂ）は超音波探触子の位
置ｘ１における送信波および欠陥反射波の表示画面を示
す図、図８は検査の結果得られた欠陥像およびゴースト
像の表示画面を示す図である。
を、図６〜図８を用いて説明する。図６は原子力圧力容
器下部のＣＲＤスタブチューブと圧力容器下鏡との溶接
部における欠陥検査を説明するための図、図７（ａ）は
超音波探触子の位置ｘ０における送信波および欠陥反射
波の表示画面を示す図、図７（ｂ）は超音波探触子の位
置ｘ１における送信波および欠陥反射波の表示画面を示
す図、図８は検査の結果得られた欠陥像およびゴースト
像の表示画面を示す図である。
【０００３】図６において、１は超音波探触子、２０は
ＣＲＤスタブチューブ、２１は圧力容器下鏡、２２は溶
接部、２３は欠陥、２４は超音波探触子１の走査位置ｘ
０における超音波ビームの伝搬経路、２５は超音波探触
子１の走査位置ｘ１における超音波ビームの伝搬経路、
２６はＣＲＤスタブチューブの内面部、２７はＣＲＤス
タブチューブの外面部、Ｘ，Ｙは座標軸、ｘ０，ｘ１は
それぞれ超音波探触子１の走査位置、ｘｄ，ｙｄは欠陥
の座標位置、θは超音波探触子１からＣＲＤスタブチュ
ーブ２０内面に送受信される超音波ビームの屈折角であ
る。
ＣＲＤスタブチューブ、２１は圧力容器下鏡、２２は溶
接部、２３は欠陥、２４は超音波探触子１の走査位置ｘ
０における超音波ビームの伝搬経路、２５は超音波探触
子１の走査位置ｘ１における超音波ビームの伝搬経路、
２６はＣＲＤスタブチューブの内面部、２７はＣＲＤス
タブチューブの外面部、Ｘ，Ｙは座標軸、ｘ０，ｘ１は
それぞれ超音波探触子１の走査位置、ｘｄ，ｙｄは欠陥
の座標位置、θは超音波探触子１からＣＲＤスタブチュ
ーブ２０内面に送受信される超音波ビームの屈折角であ
る。
【０００４】図７および図８において、３０は欠陥反射
波が伝搬する時間帯をゲートする時間ゲート、３１は超
音波探触子１から送信された送信波、３２ａは超音波探
触子１の走査位置ｘ０において受信した欠陥反射波、３
２ｂは超音波探触子１の走査位置ｘ１において受信した
疑似反射波、３３ａは欠陥反射波３２ａに対応する欠陥
像、３３ｂは疑似反射波３２ｂに対応するゴースト像、
ｔｄは超音波探触子１において送受信に要した超音波ビ
ームの伝搬時間である。
波が伝搬する時間帯をゲートする時間ゲート、３１は超
音波探触子１から送信された送信波、３２ａは超音波探
触子１の走査位置ｘ０において受信した欠陥反射波、３
２ｂは超音波探触子１の走査位置ｘ１において受信した
疑似反射波、３３ａは欠陥反射波３２ａに対応する欠陥
像、３３ｂは疑似反射波３２ｂに対応するゴースト像、
ｔｄは超音波探触子１において送受信に要した超音波ビ
ームの伝搬時間である。
【０００５】この超音波探傷方法によれば、超音波探触
子１から屈折角θの超音波ビームを送受信すると、走査
位置ｘ０では伝搬経路２４を通って、欠陥２３から欠陥
反射波を受信する。
子１から屈折角θの超音波ビームを送受信すると、走査
位置ｘ０では伝搬経路２４を通って、欠陥２３から欠陥
反射波を受信する。
【０００６】その結果、図７（ａ）に示すように、送信
波３１に対して、走査位置ｘ０において、欠陥反射波３
２ａが検出される。
波３１に対して、走査位置ｘ０において、欠陥反射波３
２ａが検出される。
【０００７】ここで、超音波ビームの被検査体内での音
速をｖ、超音波探触子１の走査位置をｘ，ｙとすると、
欠陥の座標位置ｘｄ，ｙｄは下式で表せる。
速をｖ、超音波探触子１の走査位置をｘ，ｙとすると、
欠陥の座標位置ｘｄ，ｙｄは下式で表せる。
【０００８】 ｘｄ＝ｘ＋ｖ・（ｔｄ／２）・ｃｏｓθ ｙｄ＝ｙ＋ｖ・（ｔｄ／２）・ｓｉｎθ ・・・（１） この式に示すように、超音波探触子１の座標位置ｘ，
ｙ、音速ｖ、伝搬時間ｔｄ、屈折角θが検出できると、
欠陥の座標位置ｘｄ，ｙｄを求めることができる。
ｙ、音速ｖ、伝搬時間ｔｄ、屈折角θが検出できると、
欠陥の座標位置ｘｄ，ｙｄを求めることができる。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記従来の
超音波探傷方法では、図６に示すように、走査位置ｘ０
以外の走査位置ｘ１おいても、溶接境界部からの反射等
により、伝搬経路２５を通って、欠陥２３以外からの疑
似反射波が受信される。その結果、図７（ｂ）に示すよ
うに、送信波３１に対して、走査位置ｘ１において、疑
似反射波３２ｂが検出されてしまう。そのため、走査位
置ｘ０および走査位置ｘ１における各検査結果を演算処
理して被検査体を断面表示すると、図８に示すように、
溶接部２２には、欠陥反射波３２ａ対応する欠陥像３３
ａと疑似反射波３２ｂに対応するゴースト像３３ｂが映
像として表示されることになる。
超音波探傷方法では、図６に示すように、走査位置ｘ０
以外の走査位置ｘ１おいても、溶接境界部からの反射等
により、伝搬経路２５を通って、欠陥２３以外からの疑
似反射波が受信される。その結果、図７（ｂ）に示すよ
うに、送信波３１に対して、走査位置ｘ１において、疑
似反射波３２ｂが検出されてしまう。そのため、走査位
置ｘ０および走査位置ｘ１における各検査結果を演算処
理して被検査体を断面表示すると、図８に示すように、
溶接部２２には、欠陥反射波３２ａ対応する欠陥像３３
ａと疑似反射波３２ｂに対応するゴースト像３３ｂが映
像として表示されることになる。
【００１０】このように、従来の超音波探傷方法では、
複雑な構造物の溶接部を検査する場合、被検査体の形状
に起因する疑似反射波を検出してしまい、そのため、真
の欠陥の位置を正確に検出することができないという問
題があった。
複雑な構造物の溶接部を検査する場合、被検査体の形状
に起因する疑似反射波を検出してしまい、そのため、真
の欠陥の位置を正確に検出することができないという問
題があった。
【００１１】そのため、本発明は、上記の問題点に鑑み
て、複雑な構造物の溶接部検査において、欠陥の位置を
正確に検出することのできる超音波探傷方法および装置
の提供を目的とするものである。
て、複雑な構造物の溶接部検査において、欠陥の位置を
正確に検出することのできる超音波探傷方法および装置
の提供を目的とするものである。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の目的を
達成するために、次のような手段を採用した。
達成するために、次のような手段を採用した。
【００１３】被検査体上で超音波探触子を走査し、被検
査体内に超音波を送信すると共に反射体から反射された
超音波を受信し、受信された反射波信号と超音波探触子
の位置信号とから反射体の有無と位置を検出する超音波
探傷方法において、前記超音波を複数の方向において送
受信し、それぞれの方向で受信した反射信号と、それぞ
れの方向における前記超音波探触子の位置信号とから、
それぞれの方向における反射体の位置を演算すると共
に、それぞれの方向毎に被検査体上に反射体を表示する
反射体表示画像を演算して作成し、それぞれの方向毎に
作成された前記反射体表示画像の論理積を演算して所望
の反射体表示画像を得る、ことを特徴とする。
査体内に超音波を送信すると共に反射体から反射された
超音波を受信し、受信された反射波信号と超音波探触子
の位置信号とから反射体の有無と位置を検出する超音波
探傷方法において、前記超音波を複数の方向において送
受信し、それぞれの方向で受信した反射信号と、それぞ
れの方向における前記超音波探触子の位置信号とから、
それぞれの方向における反射体の位置を演算すると共
に、それぞれの方向毎に被検査体上に反射体を表示する
反射体表示画像を演算して作成し、それぞれの方向毎に
作成された前記反射体表示画像の論理積を演算して所望
の反射体表示画像を得る、ことを特徴とする。
【００１４】また、被検査体上を走査し、該被検査体内
に超音波を送信すると共に反射体から反射された超音波
を受信する超音波探触手段と、該超音波探触手段を走査
させると共に、前記超音波探触手段の位置信号を出力す
る走査制御手段と、前記超音波探触手段から得られた探
傷データおよび前記走査制御手段から得られた位置デー
タに基づいて、反射体の有無と位置を検出する演算処理
手段と、を備えた超音波探傷装置において、前記超音波
探触手段は、前記超音波を複数の方向において送受信
し、前記演算処理手段は、それぞれの方向で得られた前
記探傷データと、それぞれの方向において得られた前記
位置データとに基づいて、それぞれの方向における前記
反射体の有無と位置を演算すると共に、それぞれの方向
毎に被検査体上に反射体を表示する反射体表示画像を演
算して作成し、さらに、前記それぞれの方向毎に作成さ
れた前記反射体表示画像の論理積を演算し、該演算され
た反射体表示画像を表示する、ことを特徴とする。
に超音波を送信すると共に反射体から反射された超音波
を受信する超音波探触手段と、該超音波探触手段を走査
させると共に、前記超音波探触手段の位置信号を出力す
る走査制御手段と、前記超音波探触手段から得られた探
傷データおよび前記走査制御手段から得られた位置デー
タに基づいて、反射体の有無と位置を検出する演算処理
手段と、を備えた超音波探傷装置において、前記超音波
探触手段は、前記超音波を複数の方向において送受信
し、前記演算処理手段は、それぞれの方向で得られた前
記探傷データと、それぞれの方向において得られた前記
位置データとに基づいて、それぞれの方向における前記
反射体の有無と位置を演算すると共に、それぞれの方向
毎に被検査体上に反射体を表示する反射体表示画像を演
算して作成し、さらに、前記それぞれの方向毎に作成さ
れた前記反射体表示画像の論理積を演算し、該演算され
た反射体表示画像を表示する、ことを特徴とする。
【００１５】また、前記超音波探触手段は、前記超音波
を複数の方向において送受信する複数個の送受信部と、
前記複数の各方向において送受信するために前記複数個
の送受信部を切り替える切り替え部を、設けたことを特
徴とする。
を複数の方向において送受信する複数個の送受信部と、
前記複数の各方向において送受信するために前記複数個
の送受信部を切り替える切り替え部を、設けたことを特
徴とする。
【００１６】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の第１の実施形態
を図１〜図４を用いて説明する。図１は本実施形態に係
わる原子力圧力容器下部のＣＲＤスタブチューブと圧力
容器下鏡との溶接部における欠陥検査を説明するための
図、図２は検出されたデータを画像処理することによっ
て真の欠陥画像を得る過程を説明する図である。
を図１〜図４を用いて説明する。図１は本実施形態に係
わる原子力圧力容器下部のＣＲＤスタブチューブと圧力
容器下鏡との溶接部における欠陥検査を説明するための
図、図２は検出されたデータを画像処理することによっ
て真の欠陥画像を得る過程を説明する図である。
【００１７】なお、これらの図において、従来例の図６
〜図８に示す部分と同じ部分については同一符号を付し
て説明を省略する。
〜図８に示す部分と同じ部分については同一符号を付し
て説明を省略する。
【００１８】これらの図において、２８は超音波探触子
１の走査位置ｘB におけ超音波ビームの伝搬経路、３３
ｂ１，３３ｂ２はそれぞれゴースト像、ｘA，ｘBはそれ
ぞれ超音波探触子１の各走査位置、θA，θBはそれぞれ
は超音波探触子１の走査位置ｘAおよび走査位置ｘBにお
ける超音波探触子１からＣＲＤスタブチューブ２０内面
に送受信される超音波ビームの屈折角である。Ａ，Ｂは
それぞれ超音波探触子１のＣＲＤスタブチューブの内面
部上の走査方向を表す。
１の走査位置ｘB におけ超音波ビームの伝搬経路、３３
ｂ１，３３ｂ２はそれぞれゴースト像、ｘA，ｘBはそれ
ぞれ超音波探触子１の各走査位置、θA，θBはそれぞれ
は超音波探触子１の走査位置ｘAおよび走査位置ｘBにお
ける超音波探触子１からＣＲＤスタブチューブ２０内面
に送受信される超音波ビームの屈折角である。Ａ，Ｂは
それぞれ超音波探触子１のＣＲＤスタブチューブの内面
部上の走査方向を表す。
【００１９】本実施形態の超音波探傷方法も、複雑な構
造物の溶接部２２内の欠陥２３の検査法を示すものであ
り、はじめに、超音波探触子１をＡ方向に走査して超音
波探触子１と被検査体間で屈折角θA で超音波ビ−ムを
送受信し、被検査体内から従来技術で説明したと同様
に、欠陥反射波以外の疑似反射波を含む反射波を受信す
る。
造物の溶接部２２内の欠陥２３の検査法を示すものであ
り、はじめに、超音波探触子１をＡ方向に走査して超音
波探触子１と被検査体間で屈折角θA で超音波ビ−ムを
送受信し、被検査体内から従来技術で説明したと同様
に、欠陥反射波以外の疑似反射波を含む反射波を受信す
る。
【００２０】ここで走査位置ｘA では、伝搬経路２４に
より、欠陥２３から欠陥反射波が受信される。この欠陥
反射波の、音速ｖ、伝搬時間ｔｄ、走査位置ｘA、屈折
角θAから、式（１）と同様に、演算して欠陥位置ｘ
Aｄ，ｙAdが求められる。 ｘAｄ＝ｘA＋ｖ・（ｔｄ／２）・ｃｏｓθA ｙAｄ＝ｙA＋ｖ・（ｔｄ／２）・ｓｉｎθA 同様にして、疑似反射波の疑似欠陥位置ｘAｄ’，ｙ
Aｄ’も求められる。
より、欠陥２３から欠陥反射波が受信される。この欠陥
反射波の、音速ｖ、伝搬時間ｔｄ、走査位置ｘA、屈折
角θAから、式（１）と同様に、演算して欠陥位置ｘ
Aｄ，ｙAdが求められる。 ｘAｄ＝ｘA＋ｖ・（ｔｄ／２）・ｃｏｓθA ｙAｄ＝ｙA＋ｖ・（ｔｄ／２）・ｓｉｎθA 同様にして、疑似反射波の疑似欠陥位置ｘAｄ’，ｙ
Aｄ’も求められる。
【００２１】一方、Ｂ方向からも同様に超音波探触子１
を走査して、超音波探触子１と被検査体間で屈折角θB
で超音波ビ−ムを送受信し、欠陥反射波以外の疑似反射
波を含む反射波を受信する。
を走査して、超音波探触子１と被検査体間で屈折角θB
で超音波ビ−ムを送受信し、欠陥反射波以外の疑似反射
波を含む反射波を受信する。
【００２２】ここで走査位置ｘB では、伝搬経路２８に
より、欠陥２３から欠陥反射波が受信される。この欠陥
反射波の、音速ｖ、伝搬時間ｔｄ、走査位置ｘB、屈折
角θBとすると、下式を演算することにより欠陥位置ｘB
ｄ，ｙBｄを求めることができる。 ｘBｄ＝ｘBーｖ・（ｔｄ／２）・ｃｏｓθB ｙBｄ＝ｙB＋ｖ・（ｔｄ／２）・ｓｉｎθB 同様にして、疑似反射波の疑似欠陥位置ｘBｄ’，ｙ
Bｄ’も求められる。
より、欠陥２３から欠陥反射波が受信される。この欠陥
反射波の、音速ｖ、伝搬時間ｔｄ、走査位置ｘB、屈折
角θBとすると、下式を演算することにより欠陥位置ｘB
ｄ，ｙBｄを求めることができる。 ｘBｄ＝ｘBーｖ・（ｔｄ／２）・ｃｏｓθB ｙBｄ＝ｙB＋ｖ・（ｔｄ／２）・ｓｉｎθB 同様にして、疑似反射波の疑似欠陥位置ｘBｄ’，ｙ
Bｄ’も求められる。
【００２３】次に、以上のようにして求めた各欠陥位置
および各疑似欠陥位置を各走査方向毎に演算して欠陥像
および疑似欠陥像を求める。図２（ａ）には、Ａ方向か
ら超音波探触子１を走査した時に得られた欠陥像３３ａ
および欠陥以外の反射体からのゴースト像３３ｂ１が表
示される。一方、図２（ｂ）には、Ｂ方向から超音波探
触子１を走査した時に得られる欠陥像３３ａおよび欠陥
以外の反射体からのゴースト像３３ｂ２が表示される。
および各疑似欠陥位置を各走査方向毎に演算して欠陥像
および疑似欠陥像を求める。図２（ａ）には、Ａ方向か
ら超音波探触子１を走査した時に得られた欠陥像３３ａ
および欠陥以外の反射体からのゴースト像３３ｂ１が表
示される。一方、図２（ｂ）には、Ｂ方向から超音波探
触子１を走査した時に得られる欠陥像３３ａおよび欠陥
以外の反射体からのゴースト像３３ｂ２が表示される。
【００２４】次に得られたこれらの欠陥像および疑似欠
陥像の論理積演算を施すことにより真の欠陥像のみを得
る。即ち、図２（ａ）に示される欠陥像３３ａおよびゴ
ースト像３３ｂ１と、図２（ｂ）に示される欠陥像３３
ａおよびゴースト像３３ｂ２との画像の論理積演算を行
う。その結果、図２（ｃ）に示すように、欠陥像３３ａ
のみを表示することができる。
陥像の論理積演算を施すことにより真の欠陥像のみを得
る。即ち、図２（ａ）に示される欠陥像３３ａおよびゴ
ースト像３３ｂ１と、図２（ｂ）に示される欠陥像３３
ａおよびゴースト像３３ｂ２との画像の論理積演算を行
う。その結果、図２（ｃ）に示すように、欠陥像３３ａ
のみを表示することができる。
【００２５】次に本実施形態に係わる超音波探傷方法の
処理手順を図３に示すフローチャートを用いて説明す
る。
処理手順を図３に示すフローチャートを用いて説明す
る。
【００２６】まず、ステップ１００において、Ａ方向か
ら被検査体を斜角に超音波探傷し、時間ゲート内の反射
波の屈折角θA、伝搬時間ｔｄ、走査位置ｘA等の探傷デ
ータを記録する。
ら被検査体を斜角に超音波探傷し、時間ゲート内の反射
波の屈折角θA、伝搬時間ｔｄ、走査位置ｘA等の探傷デ
ータを記録する。
【００２７】次にステップ１０１において、Ａ方向とは
逆のＢ方向から被検査体を斜角超探傷し、時間ゲート内
の反射波の伝搬時間ｔｄと走査位置ｘB 等の探傷データ
を記録する。
逆のＢ方向から被検査体を斜角超探傷し、時間ゲート内
の反射波の伝搬時間ｔｄと走査位置ｘB 等の探傷データ
を記録する。
【００２８】次にステップ１０２において、Ａ方向から
得られた前記探傷データを用いて、図２（ａ）に示すよ
うな、断面像を映像化する。さらに、ステップ１０３に
おいて、Ｂ方向から得られた前記探傷データを用いて、
図２（ｂ）に示すような、断面像を映像化する。
得られた前記探傷データを用いて、図２（ａ）に示すよ
うな、断面像を映像化する。さらに、ステップ１０３に
おいて、Ｂ方向から得られた前記探傷データを用いて、
図２（ｂ）に示すような、断面像を映像化する。
【００２９】次にステップ１０４において、Ａ方向から
得られた断面像とＢ方向から得られた断面像の論理積を
演算し、図２（ｃ）に示すような、被検査体内の真の欠
陥像のみを抽出した断面像を得る。
得られた断面像とＢ方向から得られた断面像の論理積を
演算し、図２（ｃ）に示すような、被検査体内の真の欠
陥像のみを抽出した断面像を得る。
【００３０】次に、本実施形態に係わる超音波探傷装置
を図４を用いて説明する。
を図４を用いて説明する。
【００３１】図４は超音波探傷装置の全体構成を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【００３２】図において、２は超音波パルス信号を超音
波探触子１に送信する送信器、３は超音波探触子１から
反射信号を受信し増幅および検波処理を行う受信器、４
は受信信号のうち特定エコーのみを抽出するゲート回
路、５は図示されていない走査機構を走査して超音波探
触子１を走査すると共に、演算処理装置に対して走査位
置信号を送信する走査制御部、６はコンピュータ等から
なる演算処理装置、７Ａ，７Ｂはインターフェース、８
はデータバス、９は、入力した種々のデータ、演算の結
果得られた種々のデータ、または種々の処理プログラム
等を記憶するメモリ、１０は欠陥位置演算および画像処
理等の処理プログラムに従って演算処理を行う演算部、
１１は種々の断面像等の演算結果を表示する表示部であ
る。
波探触子１に送信する送信器、３は超音波探触子１から
反射信号を受信し増幅および検波処理を行う受信器、４
は受信信号のうち特定エコーのみを抽出するゲート回
路、５は図示されていない走査機構を走査して超音波探
触子１を走査すると共に、演算処理装置に対して走査位
置信号を送信する走査制御部、６はコンピュータ等から
なる演算処理装置、７Ａ，７Ｂはインターフェース、８
はデータバス、９は、入力した種々のデータ、演算の結
果得られた種々のデータ、または種々の処理プログラム
等を記憶するメモリ、１０は欠陥位置演算および画像処
理等の処理プログラムに従って演算処理を行う演算部、
１１は種々の断面像等の演算結果を表示する表示部であ
る。
【００３３】図示するように、この超音波探傷装置はＡ
方向およびＢ方向からの超音波探触子１の走査が可能で
あり、送信器２から送信された超音波パルス信号は超音
波探触子１から被検査体に超音波ビ−ムとして送信さ
れ、反射波は再び超音波探触子１で受信される。受信さ
れた受信信号は受信器３で増幅および検波処理を行い、
ゲート回路４で特定エコーの抽出処理を行って、インタ
ーフェース７Ａを介して演算処理装置６に入力される。
一方、走査制御部５は超音波探触子１を走査するための
走査信号を出力すると共に、超音波探触子１の位置信号
をインターフェース７Ｂを介して演算処理装置６に入力
する。演算処理装置６は入力された各種の探傷データ、
位置データは、演算部１０において、欠陥位置の算出、
各方向毎の断面画像の論理積演算を行い、表示部１１に
演算の結果得られた真の欠陥像のみを表示した断面像を
得る。
方向およびＢ方向からの超音波探触子１の走査が可能で
あり、送信器２から送信された超音波パルス信号は超音
波探触子１から被検査体に超音波ビ−ムとして送信さ
れ、反射波は再び超音波探触子１で受信される。受信さ
れた受信信号は受信器３で増幅および検波処理を行い、
ゲート回路４で特定エコーの抽出処理を行って、インタ
ーフェース７Ａを介して演算処理装置６に入力される。
一方、走査制御部５は超音波探触子１を走査するための
走査信号を出力すると共に、超音波探触子１の位置信号
をインターフェース７Ｂを介して演算処理装置６に入力
する。演算処理装置６は入力された各種の探傷データ、
位置データは、演算部１０において、欠陥位置の算出、
各方向毎の断面画像の論理積演算を行い、表示部１１に
演算の結果得られた真の欠陥像のみを表示した断面像を
得る。
【００３４】次に、第２の実施形態に係わる超音波探傷
装置を図５を用いて説明する。
装置を図５を用いて説明する。
【００３５】図５は本実施形態に係わる超音波探傷装置
の全体構成を示すブロック図である。
の全体構成を示すブロック図である。
【００３６】図において、１３は２つの振動子を備える
超音波探触子、１３ａ，１３ｂはそれぞれＡ方向に斜角
超音波ビ−ムを送受信する振動子およびＢ方向に斜角超
音波ビ−ムを送受信する振動子、１４は振動子１３ａ，
１３ｂを切り替える切替スイッチである。
超音波探触子、１３ａ，１３ｂはそれぞれＡ方向に斜角
超音波ビ−ムを送受信する振動子およびＢ方向に斜角超
音波ビ−ムを送受信する振動子、１４は振動子１３ａ，
１３ｂを切り替える切替スイッチである。
【００３７】なお、図４に示される第１の実施形態と同
一部分については同一符号を付して説明を省略する。
一部分については同一符号を付して説明を省略する。
【００３８】本実施形態において、超音波探触子１３は
送受信する超音波ビ−ムの方向が異なる複数の振動子１
３ａ，１３ｂを備えるもので、Ａ方向に超音波探傷する
場合は、切替スイッチ１４を振動子１３ａに切り替えて
Ａ方向から斜角探傷を実施する。一方、Ｂ方向に超音波
探傷する場合は、切替スイッチ１４を振動子１３ｂに切
り替えてＢ方向から斜角探傷を実施する。
送受信する超音波ビ−ムの方向が異なる複数の振動子１
３ａ，１３ｂを備えるもので、Ａ方向に超音波探傷する
場合は、切替スイッチ１４を振動子１３ａに切り替えて
Ａ方向から斜角探傷を実施する。一方、Ｂ方向に超音波
探傷する場合は、切替スイッチ１４を振動子１３ｂに切
り替えてＢ方向から斜角探傷を実施する。
【００３９】なお、本実施形態の動作は、図４に示した
第１の実施形態のものと実質的に相違しないので説明を
省略する。
第１の実施形態のものと実質的に相違しないので説明を
省略する。
【００４０】このように、本実施形態によれば、超音波
探傷３の１回の往復走査により両方向からの斜角探傷が
可能となるので、検査時間を大幅に短縮することができ
る。
探傷３の１回の往復走査により両方向からの斜角探傷が
可能となるので、検査時間を大幅に短縮することができ
る。
【００４１】
【発明の効果】以上のごとく、本発明によれば、超音波
探傷を複数の方向から行い、各方向毎に作成された反射
体表示画像の論理積演算を行うことにより、真の欠陥像
のみを表示した反射体表示画像を得ることができる。
探傷を複数の方向から行い、各方向毎に作成された反射
体表示画像の論理積演算を行うことにより、真の欠陥像
のみを表示した反射体表示画像を得ることができる。
【図１】第１の実施形態に係わるＣＲＤスタブチューブ
と圧力容器下鏡との溶接部における欠陥検査の説明図で
ある。
と圧力容器下鏡との溶接部における欠陥検査の説明図で
ある。
【図２】第１の実施形態に係わる検査データを画像処理
することによって真の欠陥画像を得るための説明図であ
る。
することによって真の欠陥画像を得るための説明図であ
る。
【図３】第１の実施形態に係わる超音波探傷方法の処理
手順を示すフローチャートである。
手順を示すフローチャートである。
【図４】第１の実施形態に係わる超音波探傷装置の全体
構成を示すブロック図である。
構成を示すブロック図である。
【図５】第２の実施形態に係わる超音波探傷装置の全体
構成を示すブロック図である。
構成を示すブロック図である。
【図６】従来技術に係わるＣＲＤスタブチューブと圧力
容器下鏡との溶接部における欠陥検査の説明図である。
容器下鏡との溶接部における欠陥検査の説明図である。
【図７】従来技術に係わる送信波および欠陥反射波の発
生状況を示す図である。
生状況を示す図である。
【図８】従来技術に係わる欠陥像およびゴースト像の表
示画面を示す図である。
示画面を示す図である。
１，１３ 超音波探触子 ５ 走査制御部 ６ 演算処理装置 １０ 演算部 １１ 表示部 １４ 切替スイッチ ２０ ＣＲＤスターブチューブ ２１ 圧力容器下鏡 ２２ 溶接部 ２３ 反射体 ２４，２８ 超音波ビーム伝搬経路 ３３ａ 欠陥像 ３３ｂ１，３３ｂ２ ゴースト欠陥像
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 阿波村 宣夫 広島県呉市宝町６番９号 バブコック日立 株式会社呉工場内
Claims (3)
- 【請求項１】 被検査体上で超音波探触子を走査し、被
検査体内に超音波を送信すると共に反射体から反射され
た超音波を受信し、受信された反射波信号と超音波探触
子の位置信号とから反射体の有無と位置を検出する超音
波探傷方法において、 前記超音波を複数の方向において送受信し、 それぞれの方向で受信した反射信号と、それぞれの方向
における前記超音波探触子の位置信号とから、それぞれ
の方向における反射体の位置を演算すると共に、それぞ
れの方向毎に被検査体上に反射体を表示する反射体表示
画像を演算し、 それぞれの方向毎に作成された前記反射体表示画像の論
理積演算を行い、 所望の反射体表示画像を得ることを特徴とする超音波探
傷方法。 - 【請求項２】 被検査体上を走査し、該被検査体内に超
音波を送信すると共に反射体から反射された超音波を受
信する超音波探触手段と、 該超音波探触手段を走査させると共に、前記超音波探触
手段の位置信号を出力する走査制御手段と、 前記超音波探触手段から得られた探傷データおよび前記
走査制御手段から得られた位置データに基づいて、反射
体の有無と位置を検出する演算処理手段と、 を備えた超音波探傷装置において、 前記超音波探触手段は、前記超音波を複数の方向におい
て送受信し、 前記演算処理手段は、 それぞれの方向で得られた前記探傷データと、それぞれ
の方向において得られた前記位置データとに基づいて、
それぞれの方向における前記反射体の有無と位置を演算
すると共に、それぞれの方向毎に被検査体上に反射体を
表示する反射体表示画像を演算し、さらに、前記それぞ
れの方向毎に作成された前記反射体表示画像の論理積演
算を行い、該演算された反射体表示画像を表示する、 ことを特徴とする超音波探傷装置。 - 【請求項３】 請求項２において、 前記超音波探触手段は、前記超音波を複数の方向におい
て送受信する複数個の送受信部と、前記複数の各方向に
おいて送受信するために前記複数個の送受信部を切り替
える切替部を、設けたことを特徴とする超音波探傷装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9051913A JPH10253599A (ja) | 1997-03-06 | 1997-03-06 | 超音波探傷方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9051913A JPH10253599A (ja) | 1997-03-06 | 1997-03-06 | 超音波探傷方法および装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10253599A true JPH10253599A (ja) | 1998-09-25 |
Family
ID=12900123
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9051913A Pending JPH10253599A (ja) | 1997-03-06 | 1997-03-06 | 超音波探傷方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10253599A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001305111A (ja) * | 2000-04-20 | 2001-10-31 | Tokimec Inc | 超音波レール探傷装置 |
| US9372176B2 (en) | 2013-03-13 | 2016-06-21 | Rolls-Royce Plc | Ultrasonic inspection method |
| CN111767756A (zh) * | 2019-03-29 | 2020-10-13 | 丽宝大数据股份有限公司 | 自动检测脸部瑕疵的方法 |
| CN118759049A (zh) * | 2024-09-05 | 2024-10-11 | 洛阳联江电力工程有限责任公司 | 一种电力设备探伤方法及装置 |
-
1997
- 1997-03-06 JP JP9051913A patent/JPH10253599A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001305111A (ja) * | 2000-04-20 | 2001-10-31 | Tokimec Inc | 超音波レール探傷装置 |
| US9372176B2 (en) | 2013-03-13 | 2016-06-21 | Rolls-Royce Plc | Ultrasonic inspection method |
| CN111767756A (zh) * | 2019-03-29 | 2020-10-13 | 丽宝大数据股份有限公司 | 自动检测脸部瑕疵的方法 |
| CN118759049A (zh) * | 2024-09-05 | 2024-10-11 | 洛阳联江电力工程有限责任公司 | 一种电力设备探伤方法及装置 |
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