JPS5814072A - ポジトロン横断断層装置の同時計数回路 - Google Patents
ポジトロン横断断層装置の同時計数回路Info
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- JPS5814072A JPS5814072A JP11219581A JP11219581A JPS5814072A JP S5814072 A JPS5814072 A JP S5814072A JP 11219581 A JP11219581 A JP 11219581A JP 11219581 A JP11219581 A JP 11219581A JP S5814072 A JPS5814072 A JP S5814072A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/29—Measurement performed on radiation beams, e.g. position or section of the beam; Measurement of spatial distribution of radiation
- G01T1/2914—Measurement of spatial distribution of radiation
- G01T1/2985—In depth localisation, e.g. using positron emitters; Tomographic imaging (longitudinal and transverse section imaging; apparatus for radiation diagnosis sequentially in different planes, steroscopic radiation diagnosis)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、ポジトロン横断断層装置、特に複数に投与さ
れたポジトロン放出核種の生体内分布を画像として描出
する装置である。第１図はポジトロン横断断層装置の構
成の概要図である。図で、１は検出用（シンチレータ）
、２は光電子増倍管、３は前置増巾器等の電子回路の収
納部、４は被検体、５は同時計数回路、６はデータ収集
回路、７はデータ処理装置、８は画像表示装置である。
れたポジトロン放出核種の生体内分布を画像として描出
する装置である。第１図はポジトロン横断断層装置の構
成の概要図である。図で、１は検出用（シンチレータ）
、２は光電子増倍管、３は前置増巾器等の電子回路の収
納部、４は被検体、５は同時計数回路、６はデータ収集
回路、７はデータ処理装置、８は画像表示装置である。
この装置では、被検体内のポジトロン放出核種から放出
されたポジトロン（陽電子）が、放出位置の近傍９で物
質中の電子と結合消滅する時発生するれを検出すれば、
ポジトロン放出核穐が検出器を結ぶ直線１０の上に存在
していたことがわかる。同時計数回路５は二つの消滅ガ
ンマ線の検出が同時に行われたことを確認するために用
いられる。
されたポジトロン（陽電子）が、放出位置の近傍９で物
質中の電子と結合消滅する時発生するれを検出すれば、
ポジトロン放出核穐が検出器を結ぶ直線１０の上に存在
していたことがわかる。同時計数回路５は二つの消滅ガ
ンマ線の検出が同時に行われたことを確認するために用
いられる。
第１図で、検出器１としては、Ｎａ工結晶のようなガン
マ線検出用のシンチレータを用いる。ポジトロンの消滅
によって発生した消滅ガンマ線は、検出器１によってシ
ンチレーション（光）に変換され、このシンチレーショ
ン光は光電子増倍管２知い時間間隔（例えば、１０ｎＳ
）で到着した二つの信号をＡＮＤ回路で検出し、この二
つの信号を発生した検出器の組合せを表わす情報（たと
えば、回路６にムシ、検出器対に対応するメモリに計数
値として記録される。データ収集終了後、データ処理装
置７により画像再構成を行い、その結果を画像表示装置
８に表示する。データ処理装置７、画像表示装置８は、
現在、臨床検査に広く用いられているＸ線横断断層装置
におけるものと同一のものである。
マ線検出用のシンチレータを用いる。ポジトロンの消滅
によって発生した消滅ガンマ線は、検出器１によってシ
ンチレーション（光）に変換され、このシンチレーショ
ン光は光電子増倍管２知い時間間隔（例えば、１０ｎＳ
）で到着した二つの信号をＡＮＤ回路で検出し、この二
つの信号を発生した検出器の組合せを表わす情報（たと
えば、回路６にムシ、検出器対に対応するメモリに計数
値として記録される。データ収集終了後、データ処理装
置７により画像再構成を行い、その結果を画像表示装置
８に表示する。データ処理装置７、画像表示装置８は、
現在、臨床検査に広く用いられているＸ線横断断層装置
におけるものと同一のものである。
現在までの段階では、ポジトロン横断断層装置としては
、断層面が一つである単層の装置が製作されてきたが、
最近になって複数の横断断層面のデータを同時に収集で
きる多断層の装置が提案され製作されるようになってき
ている。第２図は、この多断層ポジトロン横断断層装置
の検出部の例出器層を表わす。この構成例では、多層の
検出器検出器対による同時計数の検出結果も利用じ、゛
′隣接する検出器層間に位置する断層面についても画像
を再構成表示することが行なわれている。
、断層面が一つである単層の装置が製作されてきたが、
最近になって複数の横断断層面のデータを同時に収集で
きる多断層の装置が提案され製作されるようになってき
ている。第２図は、この多断層ポジトロン横断断層装置
の検出部の例出器層を表わす。この構成例では、多層の
検出器検出器対による同時計数の検出結果も利用じ、゛
′隣接する検出器層間に位置する断層面についても画像
を再構成表示することが行なわれている。
一般に、検出器層間の同時計数についても、検出器層内
の同時計数回路と同一の回路を用いることができる。た
とえば、第２図の被検体４内で発第３図は、以上の考え
方に基づいて同時計数回路構成の例である。１１ 、１
２ 、１３は第２図に示した第１．第２．第３の検出器
層を示し、２１〜２６は検出器を示す。各検出器内の記
号（ｉ −ｎ ）は検出器番号を示す。一つの検出器層
内の検出器の数は、だけ存在するものと考えているが、
図ではそのうちの一つだけを示し、他は省略している。
の同時計数回路と同一の回路を用いることができる。た
とえば、第２図の被検体４内で発第３図は、以上の考え
方に基づいて同時計数回路構成の例である。１１ 、１
２ 、１３は第２図に示した第１．第２．第３の検出器
層を示し、２１〜２６は検出器を示す。各検出器内の記
号（ｉ −ｎ ）は検出器番号を示す。一つの検出器層
内の検出器の数は、だけ存在するものと考えているが、
図ではそのうちの一つだけを示し、他は省略している。
同時計数回路３１ 、３３ 、３５は第１．第２．第３
の検出器層内の検出器対に対応し、同時計数回路３２
、３４は第数回路３２ 、３４は同時計数回路３１等と
同じ回路構成となっている。
の検出器層内の検出器対に対応し、同時計数回路３２
、３４は第数回路３２ 、３４は同時計数回路３１等と
同じ回路構成となっている。
この第３図に示した同時計数回路の構成例では、入力信
号の組合せをつくる基本的な考え方を示した。同時計数
回路は同時計数をとる検出器の組合せすべてに対し一つ
ずつ設けられているとする。
号の組合せをつくる基本的な考え方を示した。同時計数
回路は同時計数をとる検出器の組合せすべてに対し一つ
ずつ設けられているとする。
この時には、同時計数回路内のＡＮＤ回路の出力が生じ
た時、二つの入力信号が同時に発生したことを意味し、
データ収集回路へは、同時計数回路の識別信号（たとえ
ば、第３図に示すような検出′路技術で通常用いられて
いる方法でよく、説明は省略する。
た時、二つの入力信号が同時に発生したことを意味し、
データ収集回路へは、同時計数回路の識別信号（たとえ
ば、第３図に示すような検出′路技術で通常用いられて
いる方法でよく、説明は省略する。
さて、第３図の同時計数回路の構成例では、各検出器層
内および各検出器層間の同時計数回路が分離独立してい
るので、検出器層の増減に容易に対処することができ、
また回路の保全作業にも都合がよい。さらに、各同時計
数回路の入力における計数率は、各検出器の計数率に等
しく、従って比較的低い値に抑えられ、同時計数の数え
落しも少なく、良好な計数率特性が期待できる。しかし
、同時計数回路の設置数が多くなシ、特に設置一つにま
とめて取扱うことによシ、同時計数を検出する信号の組
合せを減らす方法がある。しかし、層化に伴う同時計数
回路の設置数の増大に対処するため、適正な数の同時計
数回路をもって構成し、かって複数個の検出器の出力の
論理和を作シ、これを同時計数回路の少なくとも一つの
入力信号とすることにより同時計数を検出する信号の組
合せ数を減少せしめるようにした点にある。以下、本発
明を図面によシ詳述する。
内および各検出器層間の同時計数回路が分離独立してい
るので、検出器層の増減に容易に対処することができ、
また回路の保全作業にも都合がよい。さらに、各同時計
数回路の入力における計数率は、各検出器の計数率に等
しく、従って比較的低い値に抑えられ、同時計数の数え
落しも少なく、良好な計数率特性が期待できる。しかし
、同時計数回路の設置数が多くなシ、特に設置一つにま
とめて取扱うことによシ、同時計数を検出する信号の組
合せを減らす方法がある。しかし、層化に伴う同時計数
回路の設置数の増大に対処するため、適正な数の同時計
数回路をもって構成し、かって複数個の検出器の出力の
論理和を作シ、これを同時計数回路の少なくとも一つの
入力信号とすることにより同時計数を検出する信号の組
合せ数を減少せしめるようにした点にある。以下、本発
明を図面によシ詳述する。
第４図は検出器層が３層の場合の本発明の同時計数回路
の構成図である。この実施例では、各検出器層の同一番
号の検出器（検出器が円環状に配列されている場合には
円周上の同一位置にある検出器）の出力をＯＲ回路で結
合して一括して取扱うようにした点に特徴を持つ。第４
図で、２０Ａ〜ＯＲ回路４０Ｂへの入力は、各層でのｊ
第１の検出器２０Ｂ 、 ２０Ｄ 、 ２０Ｆの出力で
ある。
の構成図である。この実施例では、各検出器層の同一番
号の検出器（検出器が円環状に配列されている場合には
円周上の同一位置にある検出器）の出力をＯＲ回路で結
合して一括して取扱うようにした点に特徴を持つ。第４
図で、２０Ａ〜ＯＲ回路４０Ｂへの入力は、各層でのｊ
第１の検出器２０Ｂ 、 ２０Ｄ 、 ２０Ｆの出力で
ある。
検出器の出力における計数率を等しいとしてｎとする時
、同時計数回路の入力は各々３ｎの計数率となり、同時
計数の数え落しは、第３図の事例（同時計数回路の入力
の計数率は共にｎとする）の９倍になる。従って、第４
図の実施例では、同は省略したが、各検出器層の出力信
号をＯＲ回路４０Ａ 、 ４０Ｂへ入力すると同時にエ
ンコーダにも入力し、同時計数回路の出力信号である検
出器組合せの識別信号に、検出器層あるいは検出密層組
合時計数回路を設置するものとしている。従って、）検
出器層３ｒ＠の場合には、検出器層間が２層存在するの
で同時計数回路の数は、第３図の構成に比べてＶ７にな
る。この第５図の構成上の特徴は、ゐみからなυ、他の
一つは隣接する２検出器層の検出器出力の論理和とする
ことである。
、同時計数回路の入力は各々３ｎの計数率となり、同時
計数の数え落しは、第３図の事例（同時計数回路の入力
の計数率は共にｎとする）の９倍になる。従って、第４
図の実施例では、同は省略したが、各検出器層の出力信
号をＯＲ回路４０Ａ 、 ４０Ｂへ入力すると同時にエ
ンコーダにも入力し、同時計数回路の出力信号である検
出器組合せの識別信号に、検出器層あるいは検出密層組
合時計数回路を設置するものとしている。従って、）検
出器層３ｒ＠の場合には、検出器層間が２層存在するの
で同時計数回路の数は、第３図の構成に比べてＶ７にな
る。この第５図の構成上の特徴は、ゐみからなυ、他の
一つは隣接する２検出器層の検出器出力の論理和とする
ことである。
具体的に述べよう。第１検出器層１１に属する検出器（
番号１）２０Ａの出力は、直接に同時計数回路３０Ａの
入力となっている。さらに、第１検出器層１１内の検出
器（番号ｊ）２０Ｂの出力と第２検出器層１２内の検出
器（番号ｊ）２０Ｇの出力とはＯＲ回路４０Ｃで論理和
をとった後に同時計数回路３０Ａに入力している。これ
によシ第１検出器層１１内については、検出器対ｔｊの
同時計数が検出でき、対の処理を同時計数回路３０Ｂが
行っている。同時計数回路３０Ｃはｋｌの検出器対の処
理を行う。
番号１）２０Ａの出力は、直接に同時計数回路３０Ａの
入力となっている。さらに、第１検出器層１１内の検出
器（番号ｊ）２０Ｂの出力と第２検出器層１２内の検出
器（番号ｊ）２０Ｇの出力とはＯＲ回路４０Ｃで論理和
をとった後に同時計数回路３０Ａに入力している。これ
によシ第１検出器層１１内については、検出器対ｔｊの
同時計数が検出でき、対の処理を同時計数回路３０Ｂが
行っている。同時計数回路３０Ｃはｋｌの検出器対の処
理を行う。
かかる構成による入力の計数率は、一つの検出器の出力
の計数率がｎの時、ｎと２ｎとなる。従って、第３図の
構成に比べ、同時計数の数え落しが２．５倍となる。こ
のように、検出器層間の同時計数回路を設けないにもか
かわらず、比較的良好な計数率特性が期待でき、第４図
の実施例に比してより広い適用性を持つ。なお、この実
施例では、層２の信号（検出器番号ｊの信号）を出力す
ればよい。
の計数率がｎの時、ｎと２ｎとなる。従って、第３図の
構成に比べ、同時計数の数え落しが２．５倍となる。こ
のように、検出器層間の同時計数回路を設けないにもか
かわらず、比較的良好な計数率特性が期待でき、第４図
の実施例に比してより広い適用性を持つ。なお、この実
施例では、層２の信号（検出器番号ｊの信号）を出力す
ればよい。
以上の説明では、検出器の出力を直接または複たな信号
として取扱う方法が一般に採用されている。このような
やり方に本発明を適用するには、
として取扱う方法が一般に採用されている。このような
やり方に本発明を適用するには、
第１図はポジトロン横断断層装置の全体構成の概要図、
第２図は検出器系の構成図、第８図は同時計数回路の従
来例図、第４図は本発明の同時計数回路の実施例図、第
５図は他の実施例である。 Ｈ、１２、１３−・・検出器層、３０．３ＯＡ、３０Ｂ
、３０Ｃ・・・同時計数回路、４０Ａ 、 ４０Ｂ 、
４０Ｃ、４０Ｄ・・・ＯＲ回路。 特許出願人 科学技術庁放射線医学総合研究所長無形Ｊ
Ｌ、に 第１図 ３ 第２図
第２図は検出器系の構成図、第８図は同時計数回路の従
来例図、第４図は本発明の同時計数回路の実施例図、第
５図は他の実施例である。 Ｈ、１２、１３−・・検出器層、３０．３ＯＡ、３０Ｂ
、３０Ｃ・・・同時計数回路、４０Ａ 、 ４０Ｂ 、
４０Ｃ、４０Ｄ・・・ＯＲ回路。 特許出願人 科学技術庁放射線医学総合研究所長無形Ｊ
Ｌ、に 第１図 ３ 第２図
Claims (1)
- １、複数の検出器層を有し、検出器層内および隣接する
検出器層間の検出器対によシ消滅ガンマ線の同時計数を
検出する同時計数回路において、２層以上の検出器層に
属する検出器あるいは検出器群の出力の論理和の信号を
少なくとも一つの入力信号とするポジトロン横断断層装
置の同時計数３、一つの検出器層に属する検出器あるい
は検出器群の出力の信号と、この検出器層とこの検出器
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11219581A JPS5814072A (ja) | 1981-07-20 | 1981-07-20 | ポジトロン横断断層装置の同時計数回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11219581A JPS5814072A (ja) | 1981-07-20 | 1981-07-20 | ポジトロン横断断層装置の同時計数回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5814072A true JPS5814072A (ja) | 1983-01-26 |
Family
ID=14580636
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11219581A Pending JPS5814072A (ja) | 1981-07-20 | 1981-07-20 | ポジトロン横断断層装置の同時計数回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5814072A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63238486A (ja) * | 1987-03-26 | 1988-10-04 | Shimadzu Corp | ポジトロンｃｔ装置 |
| US5245379A (en) * | 1988-05-12 | 1993-09-14 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Exposure value setting device for a camera |
| US6828564B2 (en) * | 2002-07-08 | 2004-12-07 | Photodetection Systems, Inc. | Distributed coincidence processor |
| JP2006098411A (ja) * | 2005-11-15 | 2006-04-13 | Hitachi Ltd | Ｐｅｔ装置及びｐｅｔ装置の制御方法 |
| WO2010086899A1 (ja) * | 2009-01-30 | 2010-08-05 | 株式会社島津製作所 | 放射線断層撮影装置 |
-
1981
- 1981-07-20 JP JP11219581A patent/JPS5814072A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63238486A (ja) * | 1987-03-26 | 1988-10-04 | Shimadzu Corp | ポジトロンｃｔ装置 |
| US5245379A (en) * | 1988-05-12 | 1993-09-14 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Exposure value setting device for a camera |
| US6828564B2 (en) * | 2002-07-08 | 2004-12-07 | Photodetection Systems, Inc. | Distributed coincidence processor |
| JP2006098411A (ja) * | 2005-11-15 | 2006-04-13 | Hitachi Ltd | Ｐｅｔ装置及びｐｅｔ装置の制御方法 |
| JP4604974B2 (ja) * | 2005-11-15 | 2011-01-05 | 株式会社日立製作所 | Ｐｅｔ装置 |
| WO2010086899A1 (ja) * | 2009-01-30 | 2010-08-05 | 株式会社島津製作所 | 放射線断層撮影装置 |
| JP4983984B2 (ja) * | 2009-01-30 | 2012-07-25 | 株式会社島津製作所 | 放射線断層撮影装置 |
| US8519341B2 (en) | 2009-01-30 | 2013-08-27 | Shimadzu Corporation | Radiation tomography apparatus |
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