JPS61226676A - 放射線位置検出装置の散乱線補正方法 - Google Patents
放射線位置検出装置の散乱線補正方法Info
- Publication number
- JPS61226676A JPS61226676A JP60067646A JP6764685A JPS61226676A JP S61226676 A JPS61226676 A JP S61226676A JP 60067646 A JP60067646 A JP 60067646A JP 6764685 A JP6764685 A JP 6764685A JP S61226676 A JPS61226676 A JP S61226676A
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- data
- radiation
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
この発明は、シンチレーションカメラなどの放射線位置
検出装置の散乱線補正方法に関する。
検出装置の散乱線補正方法に関する。
従来の技術
シンチレーションカメラなどの放射線位置検出装置は、
ＲＩ（ラジオアイソトープ）の濤度分布像を撮影するも
のである。被検者にＲＩを含む薬剤を投与し、ＲＩが患
部などに集積したとき、この放射線位置検出装置をその
患部に向ける。すると、人体内のＲ１から放出された放
射線が放射線位置検出装置に入射する。この放射線位置
検出装置では放射線の位置が検出されるため、その位置
毎に放射線を計数すれば、ＲＩの集積度合つまり 。
ＲＩ（ラジオアイソトープ）の濤度分布像を撮影するも
のである。被検者にＲＩを含む薬剤を投与し、ＲＩが患
部などに集積したとき、この放射線位置検出装置をその
患部に向ける。すると、人体内のＲ１から放出された放
射線が放射線位置検出装置に入射する。この放射線位置
検出装置では放射線の位置が検出されるため、その位置
毎に放射線を計数すれば、ＲＩの集積度合つまり 。
濃度の分布像が得られ、患部の状態を診断するの役立つ
。
。
発明が解決しようとする問題点
ところで、この放射線位置検出装置では、放射線が直接
入射するばかりでなく、散乱線もまた入射する。そして
、この散乱線も直接入射した放射線と同じように計数さ
れてしまうので、得られたデータのなかには必ず散乱線
が含まれてしまうことになる。
入射するばかりでなく、散乱線もまた入射する。そして
、この散乱線も直接入射した放射線と同じように計数さ
れてしまうので、得られたデータのなかには必ず散乱線
が含まれてしまうことになる。
しかし従来の放射線位置検出装置ではこの散乱線の影響
の除去乃至補正は不可能であり、あるいは不正確で不十
分であった。モこで従来では、散乱線の影響でバックグ
ランドが多くてコントラストの悪い画像しか得られない
という問題がある。
の除去乃至補正は不可能であり、あるいは不正確で不十
分であった。モこで従来では、散乱線の影響でバックグ
ランドが多くてコントラストの悪い画像しか得られない
という問題がある。
この発明は、散乱線を含んだデータから散乱線の影響を
除去すべく補正することができ、散乱線の影響の非常に
少ない、コントラストの良い。
除去すべく補正することができ、散乱線の影響の非常に
少ない、コントラストの良い。
バックグランドの少ない、優れた画質の画像を得ること
のできる、放射線位置検出装置の散乱線補正方法を提供
することを目的とする。
のできる、放射線位置検出装置の散乱線補正方法を提供
することを目的とする。
問題点を解決するための手段
この発明による放射線位置検出装置の散乱線補正方法は
、放射線位置検出装置において基準線源を用いて散乱線
のない基準データを各位置毎に収集し、実際の被写体に
関して得られた各位置毎の測定データを、同一位置に関
し、該測定データのエネルギピークより高い部分と該基
準データのエネルギピークより高い部分のデータとの比
率により、補正することを特徴とする。
、放射線位置検出装置において基準線源を用いて散乱線
のない基準データを各位置毎に収集し、実際の被写体に
関して得られた各位置毎の測定データを、同一位置に関
し、該測定データのエネルギピークより高い部分と該基
準データのエネルギピークより高い部分のデータとの比
率により、補正することを特徴とする。
作 用
散乱線のエネルギは理論上エネルギピークより高いエネ
ルギとなることはない、つまり、エネルギスペクトルを
とった場合、エネルギピークより高い部分のデータは、
散乱体のあるなしで変化することなく同一とみなせる。
ルギとなることはない、つまり、エネルギスペクトルを
とった場合、エネルギピークより高い部分のデータは、
散乱体のあるなしで変化することなく同一とみなせる。
そこで、散乱体のない状態で基準データをあらかじめ収
集しておき。
集しておき。
実際に測定データが得られたとき、基準データと測定デ
ータのエネルギピークより高い部分のデータを比較して
その比率を求め、測定データにこの比率を掛ければ、散
乱線によって影響されている測定データよりその散乱線
の影響を除去するよう補正することができる。
ータのエネルギピークより高い部分のデータを比較して
その比率を求め、測定データにこの比率を掛ければ、散
乱線によって影響されている測定データよりその散乱線
の影響を除去するよう補正することができる。
実施例
この発明をシンチレーションカメラに適用した一実施例
について説明する。まず、第１図のように散乱体がない
状態で、シンチレーションカメラｌの検出面上の各位置
（ｘ、ｙで表す）に基準線源２を置く、すると、シンチ
レーションカメラｌから位置信号ｘ、Ｙとエネルギ信号
Ｚとが出力され、これらの信号はＡ／Ｄ変検器３でデジ
タル信号に変換されＣＰＵ４を経てメモリ５に取り込ま
れる。したがって、このメモリ５において、基準線源２
が置かれた位置での、エネルギ（エネルギ信号Ｚの波高
値）毎に放射線の計数がなされエネルギスペクトルが得
られる。そして基準線源２の位置を変えていくことによ
り、たとえば６４×６４または１２８Ｘ１２８の各位置
毎にこのエネルギスペクトルが得られる。
について説明する。まず、第１図のように散乱体がない
状態で、シンチレーションカメラｌの検出面上の各位置
（ｘ、ｙで表す）に基準線源２を置く、すると、シンチ
レーションカメラｌから位置信号ｘ、Ｙとエネルギ信号
Ｚとが出力され、これらの信号はＡ／Ｄ変検器３でデジ
タル信号に変換されＣＰＵ４を経てメモリ５に取り込ま
れる。したがって、このメモリ５において、基準線源２
が置かれた位置での、エネルギ（エネルギ信号Ｚの波高
値）毎に放射線の計数がなされエネルギスペクトルが得
られる。そして基準線源２の位置を変えていくことによ
り、たとえば６４×６４または１２８Ｘ１２８の各位置
毎にこのエネルギスペクトルが得られる。
基準線源２としてたとえば１４０ＫｅＶのγ線を放出す
る′ｒｃを用いれば、第２図のような１４０ＫｅＶでピ
ークを有するエネルギスペクトルＡが各位置毎に得られ
る。上記のような条件下でデータ採取すると散乱線の影
響は無視できる程少なく、このエネルギスペクトルＡは
１４０ＫｅＶのγ線に対するシンチレーションカメラ１
の検出系の特性を示すスペクトルであると言える。この
エネルギスペクトルＡを基準データとする。
る′ｒｃを用いれば、第２図のような１４０ＫｅＶでピ
ークを有するエネルギスペクトルＡが各位置毎に得られ
る。上記のような条件下でデータ採取すると散乱線の影
響は無視できる程少なく、このエネルギスペクトルＡは
１４０ＫｅＶのγ線に対するシンチレーションカメラ１
の検出系の特性を示すスペクトルであると言える。この
エネルギスペクトルＡを基準データとする。
つぎに、第３図のようにシンチレーションカメラｌの検
出面にコリメータ６を装着し、被検体７の実際の臨床デ
ータを採集する。この場合、被検体７に投与する核種は
同じｌＩｌ′ｒＣで、上記と同様に各位置毎にエネルギ
スペクトルを得る。実際の臨床では、被検体７の散乱体
により散乱線が発生し、この散乱線をも計数してしまう
ので、散乱線を多く含んだ第４図のようなエネルギスペ
クトルＢが得られる。
出面にコリメータ６を装着し、被検体７の実際の臨床デ
ータを採集する。この場合、被検体７に投与する核種は
同じｌＩｌ′ｒＣで、上記と同様に各位置毎にエネルギ
スペクトルを得る。実際の臨床では、被検体７の散乱体
により散乱線が発生し、この散乱線をも計数してしまう
ので、散乱線を多く含んだ第４図のようなエネルギスペ
クトルＢが得られる。
しかし、このエネルギスペクトルＢに散乱線の影響が含
まれていると言っても、それはピークよりも低い領域に
しか現われず、ピークよりも高い領域では無視できる程
に少ない筈である。なぜなら、元来１４０ＫｅＶのγ線
から発生した散乱線が１４ＱＫｅＶ以上になることは理
論的にはあり得ないことであり、単にエネルギ分解能の
関係で１４０ＫｅＶ以上となるものが多少ある程度であ
るからである。つまり第２図と第４図の斜線部の総計数
値は同一になる筈である。
まれていると言っても、それはピークよりも低い領域に
しか現われず、ピークよりも高い領域では無視できる程
に少ない筈である。なぜなら、元来１４０ＫｅＶのγ線
から発生した散乱線が１４ＱＫｅＶ以上になることは理
論的にはあり得ないことであり、単にエネルギ分解能の
関係で１４０ＫｅＶ以上となるものが多少ある程度であ
るからである。つまり第２図と第４図の斜線部の総計数
値は同一になる筈である。
そこで、このエネルギスペクトルＢのピークでの計数値
がエネルギスペクトルＡのピーク計数値と一致するよう
に、エネルギスペクトルＢの各エネルギでの計数値に係
数ｋを乗算して規格化し、第５図に示すようなエネルギ
スペクトルＢ゛を得て、測定エネルギウィンド内の基準
データにおける計数値ａと、規格化された測定データに
おける計数値ｂ°との比率をとり、これにより、ｂ ｃ
ｏｒ＝ ｂＸ （ａ／ ｂ ’）なる補正後のデータｌ
） ｃａｒを得ることができる。
がエネルギスペクトルＡのピーク計数値と一致するよう
に、エネルギスペクトルＢの各エネルギでの計数値に係
数ｋを乗算して規格化し、第５図に示すようなエネルギ
スペクトルＢ゛を得て、測定エネルギウィンド内の基準
データにおける計数値ａと、規格化された測定データに
おける計数値ｂ°との比率をとり、これにより、ｂ ｃ
ｏｒ＝ ｂＸ （ａ／ ｂ ’）なる補正後のデータｌ
） ｃａｒを得ることができる。
なお、上記のように規格化したのは、実際の計数値は各
測定における測定時間などの相違により異なるのでそれ
を合わせる必要があるからである。
測定における測定時間などの相違により異なるのでそれ
を合わせる必要があるからである。
こうして、Ｘ、Ｙの全ての位置について補正後のデータ
を得ることができる。
を得ることができる。
上記では１つのエネルギピークを持つ核種を用いた場合
について説明したが２ピーク、３ピークあるいはそれ以
上の多ピークの核種の場合でも同様である。簡単のため
に２４５ＫｅＶと１７１ＫｅＶとで２つのエネルギピー
クを有する Ｉｎの場合について説明すると、まず第１
図のようにして散乱線のない基準データを各位置毎に収
集して第６図に示すような基準のエネルギスペクトルを
得、つぎに第３図のようにして実際の臨床データを得て
第７図のようなエネルギスペクトルを得る。この２つの
エネルギスペクトルで、２４５ＫｅＶ以上の領域では散
乱線の影響は無視し得る程少ないと言えるので、２４５
ＫｅＶのピークでの計数値が基準値に一致するよう臨床
エネルギスペクトルに係数ｋを掛けて規格化し、第８図
のような規格化後の臨床エネルギスペクトルＢ′を得る
。そして、つぎのような演算によって、補正後の２４５
ＫｅＶについてのウィンド内データｂ。
について説明したが２ピーク、３ピークあるいはそれ以
上の多ピークの核種の場合でも同様である。簡単のため
に２４５ＫｅＶと１７１ＫｅＶとで２つのエネルギピー
クを有する Ｉｎの場合について説明すると、まず第１
図のようにして散乱線のない基準データを各位置毎に収
集して第６図に示すような基準のエネルギスペクトルを
得、つぎに第３図のようにして実際の臨床データを得て
第７図のようなエネルギスペクトルを得る。この２つの
エネルギスペクトルで、２４５ＫｅＶ以上の領域では散
乱線の影響は無視し得る程少ないと言えるので、２４５
ＫｅＶのピークでの計数値が基準値に一致するよう臨床
エネルギスペクトルに係数ｋを掛けて規格化し、第８図
のような規格化後の臨床エネルギスペクトルＢ′を得る
。そして、つぎのような演算によって、補正後の２４５
ＫｅＶについてのウィンド内データｂ。
ｃａｒと１７１ＫｅＶについてのウィンド内データｂ２
ｃａｒを得る。
ｃａｒを得る。
ｂｘ ｃｏｒ＝ｂｘＸ （ａｘ／ｂｘ ’）ｂ ２
ｃｏｒ＝ ｂ ２ Ｘ （ａｘ／ｂｉ ’）ａ、、ａ
、は基準データで、ａｌは２４５ＫｅＶのウィンド内計
数値、ａ２は１７１Ｋｅ■のウィンド内計数値、ｂｚ
、ｂ２は臨床データで、ｂ、は２４５ＫｅＶのウィンド
内計数値、ｂｗは１７１ＫｅＶのウィンド内計数値、ｂ
ｌｏ、ｂ２°はｂｔ、ｂｔを規格化した計数値である。
ｃｏｒ＝ ｂ ２ Ｘ （ａｘ／ｂｉ ’）ａ、、ａ
、は基準データで、ａｌは２４５ＫｅＶのウィンド内計
数値、ａ２は１７１Ｋｅ■のウィンド内計数値、ｂｚ
、ｂ２は臨床データで、ｂ、は２４５ＫｅＶのウィンド
内計数値、ｂｗは１７１ＫｅＶのウィンド内計数値、ｂ
ｌｏ、ｂ２°はｂｔ、ｂｔを規格化した計数値である。
なお、第６図の基準データのエネルギスペクトルにおい
て、１７１ＫｅＶのピークについては２４５ＫｅＶのγ
線がシンチレーションカメラ１の検出系内で散乱した影
響が点線のように若干含まれることが避けられない、し
たがって、これまでも除去するよう補正することはでき
ないが、検出系の外部での散乱の影響はこの基準のエネ
ルギスペクトルには含まれないため、この外部での散乱
の影響（これの方が非常に大きい）は補正でき、その結
果コントラストの良い優れた画質の画像が得られる。
て、１７１ＫｅＶのピークについては２４５ＫｅＶのγ
線がシンチレーションカメラ１の検出系内で散乱した影
響が点線のように若干含まれることが避けられない、し
たがって、これまでも除去するよう補正することはでき
ないが、検出系の外部での散乱の影響はこの基準のエネ
ルギスペクトルには含まれないため、この外部での散乱
の影響（これの方が非常に大きい）は補正でき、その結
果コントラストの良い優れた画質の画像が得られる。
この２４５ＫｅＶのγ線がシンチレーションカメラ１の
検出系内で散乱した影響が１７１ＫｅＶの基準データに
含まれるのを避けることは、２４５ＫｅＶ付近に単一の
エネルギビークを有する”’５ ｎ（エネルギビーク；
２５５ＫｅＶ）を基準線源２として使用したり、１７１
ＫｅＶ付近に単一のエネルギピークを有する基準線源２
を使用することにより可能である。
検出系内で散乱した影響が１７１ＫｅＶの基準データに
含まれるのを避けることは、２４５ＫｅＶ付近に単一の
エネルギビークを有する”’５ ｎ（エネルギビーク；
２５５ＫｅＶ）を基準線源２として使用したり、１７１
ＫｅＶ付近に単一のエネルギピークを有する基準線源２
を使用することにより可能である。
上記の補正操作はＣＰＵ４の制御下でソフトウェアで行
なってもよいし、スピードを要する場合はハードウェア
で行なってもよい。
なってもよいし、スピードを要する場合はハードウェア
で行なってもよい。
また、この発明は、リング型ＥＣＴ装置（放射線検出器
を被検体の周囲にリング型に配列して８１分布の断層像
をコンピュータで再構成する装置）などの全ての放射線
位置検出装置に適用できる。
を被検体の周囲にリング型に配列して８１分布の断層像
をコンピュータで再構成する装置）などの全ての放射線
位置検出装置に適用できる。
発明の効果
この発明によれば、散乱線を含んだデータから″散乱線
の影響を除去する補正ができる。そのため散乱線の影響
の非常に少ない、コントラストの良い、バックグランド
の少ない、優れた画質の画像を得ることができる。特に
シングルフォトン放出性核種を用いたＥＣＴ装置の場合
、この発明によって散乱線の影響を除去できるので、画
質の向上に非常に効果があり、定量性が飛躍的に向上す
る。
の影響を除去する補正ができる。そのため散乱線の影響
の非常に少ない、コントラストの良い、バックグランド
の少ない、優れた画質の画像を得ることができる。特に
シングルフォトン放出性核種を用いたＥＣＴ装置の場合
、この発明によって散乱線の影響を除去できるので、画
質の向上に非常に効果があり、定量性が飛躍的に向上す
る。
第１図はこの発明の一実施例において基準データを得る
構成を示すブロック図、第２図は基準データのエネルギ
スペクトルを示すグラフ、第３図は実際の臨床データを
得る構成を示すブロック図、第４図は臨床データのエネ
ルギスペクトルを示すグラフ、第５図は基準のエネルギ
スペクトルと規格化後の臨床エネルギスペクトルとを重
ね合わせたグラフ、第６図は他の実施例において得られ
た基準データのエネルギスペクトルを示すグラフ、第７
図は他の実施例における臨床データのエネルギスペクト
ルを示すグラ乙第８図は他の実施例における基準のエネ
ルギスペクトルと規格化後の臨床エネルギスペクトルと
を重ね合わせたグラフである。 ｌ・・・シンチレーションカメラ ２・・・基準線源３
・・・Ａ／Ｄ変換器 ４・・・ＣＰＵ５・・
・メモリ ６・・・コリメータ７・
・・被検体
構成を示すブロック図、第２図は基準データのエネルギ
スペクトルを示すグラフ、第３図は実際の臨床データを
得る構成を示すブロック図、第４図は臨床データのエネ
ルギスペクトルを示すグラフ、第５図は基準のエネルギ
スペクトルと規格化後の臨床エネルギスペクトルとを重
ね合わせたグラフ、第６図は他の実施例において得られ
た基準データのエネルギスペクトルを示すグラフ、第７
図は他の実施例における臨床データのエネルギスペクト
ルを示すグラ乙第８図は他の実施例における基準のエネ
ルギスペクトルと規格化後の臨床エネルギスペクトルと
を重ね合わせたグラフである。 ｌ・・・シンチレーションカメラ ２・・・基準線源３
・・・Ａ／Ｄ変換器 ４・・・ＣＰＵ５・・
・メモリ ６・・・コリメータ７・
・・被検体
Claims (1)
- （１）放射線位置検出装置において基準線源を用いて散
乱線のない基準データを各位置毎に収集し、実際の被写
体に関して得られた各位置毎の測定データを、同一位置
に関し、該測定データのエネルギピークより高い部分の
データと該基準データのエネルギピークより高い部分の
データとの比率により、補正することを特徴とする放射
線位置検出装置の散乱線補正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60067646A JPS61226676A (ja) | 1985-03-30 | 1985-03-30 | 放射線位置検出装置の散乱線補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60067646A JPS61226676A (ja) | 1985-03-30 | 1985-03-30 | 放射線位置検出装置の散乱線補正方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61226676A true JPS61226676A (ja) | 1986-10-08 |
| JPH0545149B2 JPH0545149B2 (ja) | 1993-07-08 |
Family
ID=13350987
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60067646A Granted JPS61226676A (ja) | 1985-03-30 | 1985-03-30 | 放射線位置検出装置の散乱線補正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61226676A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63172982A (ja) * | 1987-01-12 | 1988-07-16 | Toshiba Corp | 散乱線補正装置 |
| EP0505824A2 (en) * | 1991-03-27 | 1992-09-30 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Scintillation camera apparatus capable of quantitatively eliminating scattering signal components by setting multiple window and method for quantitatively eliminating scattering signal components |
| JP2014197015A (ja) * | 2008-12-01 | 2014-10-16 | 独立行政法人放射線医学総合研究所 | γ線を放出する陽電子崩壊核種の放射能絶対測定方法、放射線検出器集合体の検出効率決定方法、及び、放射線測定装置の校正方法 |
-
1985
- 1985-03-30 JP JP60067646A patent/JPS61226676A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63172982A (ja) * | 1987-01-12 | 1988-07-16 | Toshiba Corp | 散乱線補正装置 |
| EP0505824A2 (en) * | 1991-03-27 | 1992-09-30 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Scintillation camera apparatus capable of quantitatively eliminating scattering signal components by setting multiple window and method for quantitatively eliminating scattering signal components |
| JP2014197015A (ja) * | 2008-12-01 | 2014-10-16 | 独立行政法人放射線医学総合研究所 | γ線を放出する陽電子崩壊核種の放射能絶対測定方法、放射線検出器集合体の検出効率決定方法、及び、放射線測定装置の校正方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0545149B2 (ja) | 1993-07-08 |
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