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JPS58111063A - 電子写真用光導電部材 - Google Patents

電子写真用光導電部材

Info

Publication number
JPS58111063A
JPS58111063A JP56215487A JP21548781A JPS58111063A JP S58111063 A JPS58111063 A JP S58111063A JP 56215487 A JP56215487 A JP 56215487A JP 21548781 A JP21548781 A JP 21548781A JP S58111063 A JPS58111063 A JP S58111063A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
atoms
layer region
gas
amorphous
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP56215487A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0219945B2 (ja
Inventor
Kyosuke Ogawa
小川 恭介
Shigeru Shirai
茂 白井
Junichiro Kanbe
純一郎 神辺
Keishi Saito
恵志 斉藤
Yoichi Osato
陽一 大里
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP56215487A priority Critical patent/JPS58111063A/ja
Priority to US06/440,639 priority patent/US4423133A/en
Priority to GB08232723A priority patent/GB2115568B/en
Priority to DE19823242611 priority patent/DE3242611A1/de
Publication of JPS58111063A publication Critical patent/JPS58111063A/ja
Publication of JPH0219945B2 publication Critical patent/JPH0219945B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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  • Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、光(ζこでは広義の光で、紫外光線、可視先
細、赤外九& j X & $ T IIM等を示す)
の様な電WB妓に感受性のある光導電部電子写真用像形
成部材やNa耽数取装置おける光導電層を形成する光導
電材料としては、高感度で、SN比〔光電流(Ip) 
/暗電流(Id)]・が^く、照射する電磁波のスペク
トル特性にマツチングし九赦収スペクトル4I性を有す
ること、光応答性が速く、所望の暗抵抗おいては、残像
を所定時間内に容易Km履することができる仁と等の%
性が要求される。
殊に、事i!1111Aとしてオフィスで使用される電
子写真鋏蝋内に組込まれる電子写真用像形成部材の場合
には、上記の使用時における無公害性紘重要な点である
この様な点に立脚して最近注目されている光フ 導電材料にアモル本アスシリコン(以[a−siと減記
す)があり、飼えば、独国公Ml絽2746967号公
報、同@ 2855718号公報には電子写真用像形成
部材として、独国公開第2933411号公−には光電
変換読取装置への応用が記載されている。
自生ら、従来のa−8iで構成された光導電層を有する
光導電部材は、暗抵抗値、光感度、光応答性等の電気的
、光学的、光導電的特性、及び蒙用橡境特性の点、更に
は経時的安定性及び耐久性の点において、各々、個々に
は特性の向上が計られているが、総合的な特性向上を計
る上で史に改良される余地が存するのが実情である。
ガえば、電子写真用像形成部材に適用しえ場合に、^光
感度化、高暗抵抗化を同時に針ろうとすると従来におい
てはその使用時において鏑留電位が残る場合が度々−欄
され、こOSの党導電部材紘長時間繰返し使用し続ける
と、繰返し使用による疲労の蓄積が起って、!!4vI
I!が生ずる所關ゴースト机象を発する徐になる等の不
都合な点が少6くなかった。
又、a−8ilU料で光導電層を構成する場合には、そ
の電気的、光−導電的特性の改良を計る丸めに、水素原
子或いは弗素原子や塩素原子勢のハロゲン原子、及び電
気伝導型の制御の九めに硼素原子中燐原子等が或いはそ
の他0@性改真の丸めに他の原子が、各々構成原子とし
て光導電層中に含有されるが、これ等の構成原子の含有
の仕方如何によって線、形成した層の電気的或いは光導
電的特性や耐圧性に間亀が生ずる場合があった。 □ 即ち、ガえば、形成し先光導電層中に光照射によって発
生したフォトキャリアの駄層中での寿命が充分でないこ
と、或いは暗部において、支持体側よシの電荷の注入の
阻止が充分でないこと等が生ずる場合があった。
従りて、&−81材料そのものの特性改良が計られる一
方で光導電部材を設計する際に、上配し九様な問題の騙
てが解決される様に工夫される必豊かある。
本発明は上記の諸点に−み成されたもので、A−8iに
就て電子写真用像形成部材や固体撮像装置、Wit、に
#L装置岬に使用される光導一部材としての適用性とそ
の応用性という観点から総括的に鋭意−究検討i続は九
結釆、シリコン原子を母体とし、水素原子0又はハロゲ
ン原子■のいずれか一方を少なくとも含有するアモルフ
ァス材料、所麿水素化アモルファスシリコン、ノ10ゲ
ン化アモルファスシリコン或いは/Sログン含有水嵩化
7モル7μシリコン〔以後これ等の飴称的表妃として[
a −84(H,X) Jを使用する〕から構成される
光導電層を有する光導電部材の層m臘を以後に説明され
る様に特定化する−に設計されて作成され丸太導電部材
は集用上着しく優れた特性を示すばか)でなく、従来の
光導電部材と較べてみてもあらゆる点において凌駕して
いること、殊に電子写真用の光導電1s#とじて著しく
優れた特性を有していることを見出した点に基づいてい
る。
本発明は電気的、光学的、光導電的特性が使用環境に殆
んど影曽を受けず常時安定し、耐光疲労に着しく長け、
繰返し使用に際しても劣化現象な起さず耐久性に優れ、
残留電位が全く又紘殆んど観測されない光導電部材を提
供することを主える目的とする。
本発明の他q)目的は、電子、写真用像形成部材として
適用させた場合、静電像形成のための帯電処理の際の電
荷保持能が充分あシ、通常の電子写真法が極めて有効に
適用され得る優れえ電子写1真特性を有する光導電部材
を提供することである。
本発明の更に他の目的は、濃度が高く、ハーフトーンが
鮮明5、に出て且つ解像度の高い、高品質画像を得る、
ことが容易外できる電子写真用O光導電部材を提供する
ことである。
本発明の更にもう1つの目的は、高光感度性。
高8N比特性及び^耐圧性を有する光導電部材を提供す
ることでもある。
本発明の光導電部材は、光導電部材用の支持体と、シリ
コン原子を母体とし、構成原子として水IA原子0又は
ハロゲン原子菌のいずれか一方を少なくとも含有する非
晶質材料[a −8i(H,X))で構成された、光導
電性を有する非晶質層とを有する光導電部材において、
前記非晶質層が、層厚方向に連続的で実質的に均一な分
布状態で構成原子としての酸素原子を含有する第一0層
領域と、層厚方向に連続的で且つ前記支持体軸の方に多
く分布する分布状態で、構成原子としての周期律表第臘
族に属する原子を含有する第二の層領域とを有し、前記
第1の層領域社、前記非晶質層の表面下に内在している
ことを%黴とする。
上記した橡な層構成を取る様にして設計された本発明の
光導電部材は、前記し九諸問題の総てを解決し得、極め
て唆れた電気的、光学的。
光導電的特性、耐圧性及び使用il−l−性を示す。
殊に、電子写真用像形成部材として適用させた場合には
、画像形成への残留電位の影響が全くなく、その電気的
特性が安にしており高感度で、^SN比を有するもので
お・て、耐光疲労。
繰返し使用特性に長け、一度が高く、ハーフトーンが鮮
明に出て、且つ解像度の高い、高品質の画像を安定して
繰返し得ることができる。
以下、図面に従−て本発明の光導電部材に就て詳細に説
明する。
第1図は、本発明の第1の実jk繍様例の光導電部材の
層構成を説明する為に模式的に示し九模式的構成図であ
る。
第1図に示す光導電部材100は、光導電部材用として
の支持体10゛1の上に、&−8t (H,X)から成
る光導電性を有する非晶質層102とを有し、該非晶質
層102は、構成原子として゛酸素原子を含有する第1
の層領域103と層厚方向に連続的で且つ前記支持体1
01の方に多く分布する分布状態で構成原子として第凹
族原子を含有する第20層領域104とを有する様に構
成され九層構造を有する。第1図に示す岡においては、
第2の層領域104は非晶質層の全領域を占め第1の1
層領域が第2の領域の一部を構成する層構造を有し、第
10層領域は非晶質層102の表面下に内在している。
非晶質層102の上部層領域105には、耐多湿性、耐
コロナイオン性に影響を与える要因と思われている酸素
原子は含まれておらず、酸素原子は第1の層領域103
のみに含有されている。
第1の層領域103は酸素原子の含有によって重点的に
高暗抵抗化と密着りの向上が計られ、第2の層領域10
4の上部層領域105には、酸素原子を含有させずに高
感度化が重点的に計られている。第1の層領域103に
含有される酸素原子は層厚方向に連続的で実質的に均一
な分布状態で、且つ支持体101と非晶質層102との
界面#114に平行な面内に於いては、実質的に均一な
分布状−で前記第1の層領域103中に含有される。
本発明において、非晶質層102を榊成し、嬉(アルミ
ニウム) 、 Ga (ガリウム) 、 I’n (イ
ンジウム)−、TL(タリウム)咎であり、殊に好れる
第門族原子の分布状態は、層厚方向においては、前記の
様な分布状態を取り、支持体の表面と平行な面内では実
質的に均一な分布状態とされる。
第1の層領域103と上部層領域105との層厚は、本
発明の目的を効果的に達成させる為の重要な因子の1つ
であるので形成される晃−電部材に所望の特性が充分与
えられる様に、光導電部材の設計の際に充分なる注意が
払われる必畳がある。
本発明において、第1の層領域103の層厚は、通常の
場合、3〜100μ、゛好ましくは5〜50μ。
最適には7〜30μとされるのが望ましい。
又、上部層領域1050層厚は、通常の場合、0.02
〜10μ、好ましくは0.03〜5μ、最適には0.0
5〜2μとされるのが]!Iましい5本発明の光導電部
材において紘、第1図に示す様に、上部層領域105に
も構成原子として第膳族原子が含有され、非晶質層10
2 O全体が第20層領域104とされる他に、上部層
領域105には、第■族原子を含有させずに@10層領
域〔層領域(0)〕と第2の層領域〔層領域(2)〕と
を同一層領域とすることも出来る。
ζO様を上部層領域105に第厘族原子を含有させない
実施態様例の光導電部材においては、殊に、多湿雰囲気
中での繰返し使用により一層の顕著な効果を示し、誼雰
囲気中での長期間の使用に充分なる耐久性を示す。
又、第1の層領域内に420層領域を形成する場合も^
好な実施態様例の1つとして挙げることが出来る。
第10層領域〔層領域(0)〕中に含有される酸素原子
の蓋は、形成される光導電部材にlI!求される特性に
応じて所望に従って適宜決められるが、通常の場合、0
.001〜30 atomic K 、好ましくは、0
.002〜20 atomic X 、 M適にはo、
ooa 〜l Q atomic Xとされるのが望ま
しいものである。
第2図乃至第10図には、本発明における光4電部材の
非晶質層を構成する層領域、(至)中に含有される縞門
族原子の層厚方向の分布状110典製的岡が示される。
112図乃至第1θ図の岡に於いて、酸素原子の含有さ
れる層領域(0)は、層領域(2)と同一層領域であつ
ても、層領域(至)を内包しても、威い紘、層領域(2
)の一部の層領域を共有しても良いものである。従って
、以後の説明に於iては、酸素原子の含有されている層
領域(0)については、殊に説明を要しない限シ言及し
ない。
第2図乃至菖10図におiて、横軸は第厘族原子の含有
量Cを縦軸は、光導電性を示す非晶質層を構成し、Ji
iI族原子の含有される層領域(至)の層厚を示し、t
nは支持体制の界面の位置を、を丁は支持体側とは反対
側の界面の位置を示す。
坤ち、菖履族の含有される層領域(至)はtB側よ)t
TlllK向うて層形成がなされる。
本発明においては、第厘族原子の含有される層領域(至
)は、光導電部材を構成するh −8i (H−X)か
ら成シ、光導電性を示す非晶質層の全層領域を占めても
良いし、又、その一部を占めても良い。
本発明において、前記層領域(財)が非晶質層の一部O
層領域を占める場合には、第1図の列で示せば支持体1
01110面mを含んで非晶質層lO2の下部、層領域
に設けられる0が好ましいものである。
第2WJには、非晶質層中に含有される第厘族原子O層
厚方向の分布状態の第1の典ffi筒が示される。
第2図に示される鍔では、第厘族原子の含有される層領
域(至)が形成される表面と該層領域(ト)の表面とが
接する界面位置tBよJet、の位置までは、第厘族原
子の含有1に*cがC2なる一定の値を堆シ乍ら第門族
原子が形成される層領域@に1よ 含有され、位置t1よ抄紘濃度C14AII#面位置t
!Kj41るまで徐々に連続的に減少されている。界面
位置tTにおいては第■族原子の含有−ticはC1と
される。
第3図に示される例にお゛いては、含有される第■族原
子の含有磯度Cは位置1.よシ位置tテに到るまで濃度
C4から徐々に連続的に減少して位置tTにおいて擾度
Csとなる様な分布状態を形成している。
第4図の場合には、位置tBよ〉位置Lm tではt!
/X1!I族原子の含有濃度Cは濃度C0と一定値とさ
れ、位置t、と位置tテとの間において、徐々に連続的
に減少され、位置tTにおいて、含有鎖・度Cは実質的
に零とされている。
第5図の場合には、第膳族原子は位置tBよ)位ttT
に到るまで、含有員度C1よ〉連続的に徐々に減少され
、位11tTにおいて実質的に零とされている。
第6図に示す飼においては、第履族の含有濃fcは、位
II tm J: 位II ta all K k n
 ”Cハ、amC9と一定値であ〉、位置tテにお−て
はC1・ とされる。位置t、と位置tTとの間でれ、
含有濃度Cは一次関数的に位置t、よ)位置tyK到る
まで減少されている。
117図に示される例においては、位置tBよ多位置t
atではsncm〇一定値を堆シ、位置−よ〉位置1T
壕では浸度C** X II濃jl[ctsまで一次関
数的に減少する分布状態とされている。
第111iIK示す飼においては、位置1.よ)位置t
TK到るまで、嬉璽族原子の含有濃度Cは濃度C1,よ
勤零K11lる様に一次関数的に減少している。
第9図においては、位I!tIIよ多位置t、に到る★
では第■族原子の含有量fCは、濃度C1B よシ湊度
C1゜壕で一次関数的に減少され、位置t、と位置tテ
との間においては、濃度C1−の一定値とされ先筒が示
されている。  □ 第10図に示される例においては、第■族原子の含有濃
度Cは位置tmにおいて濃度Csyであ択位置−に到る
壕ではこの渦度C1,よ)初めはゆつ(夛と減少され、
−の位置付近においては、急激に減少されて位置t6で
は濃度e1M  とされる。
れて位fit tyでni1度C111となシ、位置t
1と位置t・との間では、極めてゆっくりと徐々に減少
されて位置t、において、濃度C1゜に到る。位置1畠
と位置tTの間においては、濃度C3゜よシ実質的に零
に&る様に図に示す如き形状の曲線に従−て減少さ゛れ
ている。
以上、第2図乃至第10図によ如、層領域(2)中に含
有される第■族原子の層厚方向の分布状態の典mガの幾
つかを説明した様に、本発明においては、支持体@にお
いて、第■族原子O會有濃度Cの高い部分を有し、界面
tT@においては、前記含有一度Cは支持体@に@べて
可成ル低くされ九部分を有する1sII族原子の分布状
態が形成された層領域(2)が非晶質層に設けられてい
る。
本発明におiて、非晶質層を構成する菖厘族体儒の方に
第厘族原子が比較的高濃度で含有されてiる局在領域ム
を有する。
局在領域ムは、第2図乃至第10図に示す記号を用いて
説明すれば、界面位置1.よシ5#以内に設けられる。
本発明においては、上記局在領域Aは、界面位置1.よ
シ5μ厚までの全層領域り丁とされる場合もあるし、又
、層領域り丁の一部とされる場合もある。
局在領域Aを層領域L!の一部とするか又は全部とする
かは、形成される非晶質層に要求される特性に従って適
宜状められる。
局在領域ムはその中に含有される第墓族原子の層厚方向
の分布状態として第■族原子の含有量分布値(濃度分布
値)の蛾大Cmaxがシリコン原子に対して通常は5 
Q atomic ppm)1以上、好適には@ □ 
atomic ppm以上、最適にはZoo atom
icppm以上とされる様な分布状態とな)得る様に層
形成されるOが望まし一部 即ち、本発明においては、第曹族原子の含有される層領
域は、支持体稠からの層厚で5μ以内(tmかも5#厚
の層領域)K含有量分布の最大値Cmaxが存在する様
に形成される。
本発明において、第纏族原子の含崩される前記の層領域
中に含有される第門族隷子の含有量としては、本発明の
目的が効果的に達成される様に所望に従って適宜状めら
れるが、前記の非晶質層を構成するシリコン原子の量に
対して、通常は1〜3 X 10’ atomic p
pm 、  好ましくは2〜500 atwnic p
pm 、最適には3〜200 atonsieppmと
されるのが望ましいものである。
本発明において使用される支持体としては、導電性でも
電気絶縁性であって4嵐い0導電性支持体としては、例
えば、Ni0r 、ステンレス。
Aj、Or、Mo、人u、Nb、Ta、V、Ti 、P
i 、Pd等の金属又はこれ勢の合金が挙けられる・ 電気e練性支持体としては、ポリエステル。
ポリエチレン、ポリカーボネート、セルローズド等の合
成11J11のフィルム又はシート、ガラス。
セラミック、I#等が通常使用される・これ等の電気絶
縁性支持体は、好適には少なくともその一方の表面を導
電鳥埋され、該導電処理された表面側に他の層が設けら
れるのが望ましい0例えば、ガラスであれば、その表面
に、Ni0r 。
Aj、Or、Mo、ムu、 Ir 、Nb、Ta、 V
、’I’i J’t 、Pd、 IalO,,8n01
 。
I′lυ(Ill、Q、 + 5tabs ) ’Iか
ら成る薄膜を設けることによって導電性が付与され、或
いはポリエステルフィルム等の合成w型フィルムであれ
は、Ni0r 、Aj、Ag、Pb 、Zn、Ni 、
Au、Or 、Mo 、 Ir 、Nb 、Ta 、V
、Ti 。
P@等の金属の*績を真空g盾、電子と−ム蒸着。
スパッタリング等でその表面に設け、又は前記金属で七
の表面をラミネート処理して、その表面に導電性が付与
される。支持体の形状としては、円筒状ベルト状、板状
等任意の形状とし得、所望によって、その形状は決定さ
れるか、例えに、第1図の光導電部材ioo 1i−電
子与真用像成部材として使用するのであれは遅絖^速複
写の場合には、無端ベルト状又は円筒状とするのが望ま
しい◎支持体の厚さは、所望通りの光導電部材が形成さ
れる様に適宜決定されるが、光導電部材として町・適性
が要求される礒倉−には、支持体としての機能が充分発
揮される範囲内であれは可能な限り薄くされる9而乍ら
、この様亀場合支持体の製造上及び取扱い上、機械的強
度等の点から、通常は、10声以上とされる・本発明に
おいて、a−8j ()i、X)で構成される非晶質層
を形成するには例えはグロー放電法、スパッタリング法
、或いはイオンブレーティング法等の放電塊象を利用す
る真空#L横積法よりて成される。例えに1グロー放電
法によって、a−8i (H,X)で構成される非蟲質
層を形成するKti、基本的にはシリコン原子(81)
t−供給し得る8i供給用の原料ガスと共に、水素原子
04入用の又ti/及びハロゲン原子CX)導入用の原
料ガスt、内部が減圧にし得る堆積室内に4畠−84(
H,X)からなる層を形−威させれば嵐い。
又、スパッタリング法で形成する場合には、例えばムら
He Ilpの不活性ガス又はこれ勢のガスをペースと
した混合ガスのl!H気中で8iで構成され九ターゲッ
トをスパッタリングする際、木本原子()I)又は/及
びハロゲン原子(X)導入用のガスをスパッタリング用
の堆積室に導入しておれば良い・ 本発明において、必要に応じて非晶質層中に含有される
ハロゲン原子(X)としては、具体的にFi7y嵩、塩
素、臭素、ヨウ素が挙けられ、殊にフッ本、塩sr好適
なものとして挙けることが出来る。
の又社ガス化し祷る水木化姓素(シラン−)か有効に9
に川されるものとして◆けられ、殊に、層作成作業の扱
い易さ、Si惧給効率の良さ尋の点でSiH4,ail
H,が好ましいものとして挙けられる。
本発明において使用されるハロゲン腺子導入用の原料ガ
スとして有効なのは、多くのハロゲン化合物が挙けられ
、例えばハロゲンガス、ハロゲン化物、ハロゲン間化合
物、ハロゲンで置換されたシラン篩導体等のガス状−の
又はガス化し得るハロゲン化合物が好1しく挙、けられ
る・又、更には、シリコン原子とハロゲン原子とを構成
豊嵩とするガス伏線の又はガス化し祷る、ハロゲン原子
を會む硅素化合物も有効な4のとして本発明においては
挙けることが出来る・本発明において好適に使用し憎る
ハロゲン些合物としては、具体的には、フッ素、塩本、
臭合物を挙けることが出来る。
ハロゲン原子を含む硅素化合物、所鎮、ノ・ロゲン庫子
で置換されたシラン綽導体としてり。
具体的には例えti′8iF、 、 8i、F、 、 
5ift4.5ii3r4等のハロゲン化姓lj&が好
lしいものとして挙けることが出来る0 この橡なノ・ロゲン腺子tttr硅嵩化合物を採用して
グロー放電法によって不発明の%黴的な光導電部材を形
成する場合には、81を供給し得る原料ガスとしての水
嵩化−素ガスを使用しなくとも、 ffr定の支持体上
にノ・ログン鳳子を含むa−8ムから成る非晶質層形成
する事が出来るOグロ法電法に従って、ノ10グン腺子
を含む非^ 晶實層を形成する場合、基本的には、Si供給用の原料
ガスである・・ロゲン化一本ガスとAr 、H,。
He等のガス等を所定の混合比とガス流量になる嫌にし
て非晶質層を形成するJii横憲に導入し、グロー放電
を生起してこれ等のガスのプラズマ雰囲気を形成するこ
とによって、I9r足の支持体上に非晶質層を形成し得
る4のであるか、水嵩原子の導入を計る為にこれ等のガ
スに史に水嵩原子を含む硅素化合物のガスも所定量混合
して層形成しても良い◇ 又、各ガスは率独植の魯でなく轡定の混合比で複数楢混
合して使用しても差支えないものである。
反応スパッタリング法或いはイオンブレーティング法に
依ってa−8i (H,X)から成る非晶質層を形成す
るには、例えにスパッタリング法の場合にFisiから
成るターゲットを使用して、これを所定のガスプラズマ
II囲気中でスパッタリングし、イオンブレーティング
法の場合に社、多結晶シリコン又は単結晶シリコン化合
物−として蒸着メートに収容し、このシリコン蒸発−を
抵抗加熱法、或いはエレク、トロンビー五法(nB法)
等によって加熱蒸発させ飛mx発物を所定のガスグ2ズ
マ雰囲気中を通過させる事で行う事が出来る。
この際、スパッタリング法、イオンブレーティング法の
何れの場合にも形成される層中にハロゲン原子を導入す
るには、繭重のハロゲン化−&物xFiWJJ記のハロ
ゲン原子を含む硅素化合物のガスを4i槓室中に導入し
て該ガスのプラズマ雰囲気を形成してやれば艮iもので
ある9又、水lA原子を導入する場合には、水素原子導
入用の原料ガス、例えば、H3、或いは前記し九シラン
鎮等のガスをスパッタリング用の堆積室中に導入して該
ガスのプラズマ雰囲気を形成してやれば良い・ 本発明においては、ハロゲン原子導入用の原料ガスとし
て上記されたハロゲン化合物或いはハロゲンを含む硅素
化合物が有効なものとして使用されるものであるが、そ
の他に、 i(F 、 )M)41゜)1Br 、 i
(I勢の7% Cllノン水嵩、8iH,Pg 、 8
iH111。
81klHor、 l 81 HOIB t 8 kH
l BFg 、 81 圃r、等のへClゲン置換水嵩
化姓嵩、等々のガス伏線の或いはガス化し得る、水素原
子を構*II嵩の1つとするハロゲン化物も有効な非晶
質層形成用の出発物質として挙げる事が出来る。
これ勢の水素原子を含むハロゲン化物は、非晶質層形成
の際に層中にハロゲン原子の導入と同時に電気的或いは
光電的特性の劃−に極めて有効な水:A原子も尋人され
るので、本発明においては好適なハロゲン原子導入用の
原料として使用される。
水素原子を非晶質層中に構造的に尋人するには、上記の
他にH3、或いは8iH4,8輸H0,8輸H1゜8i
、H,。等の水素化硅素のガスを81を供給する為のシ
リコン化合物と堆゛積室中に共存させて放電を生起させ
る事でも行う◆が出来る◎ 例えは、反応スパッタリング法の場合には、8iターゲ
ツ)1−使用し、ハロゲン原子導入用のガス及びH,ガ
スを必費に応じて)Ie、Ar等の不活性ガスも含めて
准積室内に尋人してプラズマ喜囲気全形成し、゛前記8
iターゲットをスパッタリングする事によって、基板上
にa−8i ()I、X)から成る非晶質層か形成され
る。
史には、不純物のドーピングも兼ねてB、H1等のガス
を導入してやることも出来る・本発明において、形成さ
れる光導電部材の非晶質層中に含有される水素原子(f
()の童又は/SΩゲン腺子(X)の童又は水素原子と
ハロゲン原子の量の和は通常の場合1〜40 atom
tc%、好適には5〜30 atomic%とされるの
が望ましい・非−質層中に含有される水素原子()l)
又は/ジ′ 及ハロゲン原子(X)の倉を制御するには、例え八 は支持体温度又は/及び水嵩原子()l)、或いはハロ
ゲン原子(X) を含有させる為に使用される出発物質
の堆積装置系内へ導入する量、放電々力等を制御してや
れば良い◎ 非晶質層に、第扉族原子を含有する層領域(1)及び@
素原子を含有する層領域(0)を設けるには、グロー放
電法や反応スパッタリング法等による非晶質層の形成の
−に、第■族原子導入用の出発物質及び綬嵩原子導入用
の出発物質を夫々前記した非晶質層形成用の出発物質と
共に使用して、形成される層中にその量を制御し乍ら含
有してやる事によって成される・ 非晶質層を構成する、鍍lA原子の含有量れる層領域(
0)及び縞菖族原子の含有される層領域(1)を夫々形
成するにグロー放電法を用いる場合各層領域形成用の原
料ガスとなる出発物質としては、M起した非晶質層形成
用の出発物質の用の出発物質が加えられる。その様な酸
素原子導入用の出発物質又は第1族腺子導入用の出発物
質としては、少なくとも酸**子或いは第謳族原子を構
成原子とするガス状の物質又はガス化し得る物’[をガ
ス化したものの中の大概の4のが使用され得る・ 例えば層領域(0)を形成するのであれはシリコン原子
(8i )を構成原子とする原料ガスと、II索原子(
0)奮@fit鳳子とする原料ガスと、必豊に応じて水
嵩原子(i−1)又は及びハロゲン原子(X)を構成原
子とする原料ガスとtPgr望の混合比で混合して使用
するか、又は、シリコン原子(di)をIII成鳳子と
する原料ガスと、酸素原子(0)及び水IA鳳子(i(
)を構成原子とする原料ガスとを、これも又所望の混合
比で混合するか、或いは、シリコン原子(81)を構成
原子とする鳳科ガスと、シリコン原子(84) 、酸素
原子0及び水嵩原子(H)の3つを構成原子とする原料
ガスとを混合して使用することが出来る。
又、別には、シリコン原子(8i )と水素原子(1−
1)とを構成原子とするJI科ガスに酸素原子(0)を
#IIitwi、子とする原料ガスを混合して使用して
具体的に扛、例えば酸素(Ot) 、オゾン(OJ 、
 −鐵化輩嵩(Nd) 、二酸化窒素(Not) 、−
二酸化窒素(NIO) 、三二酸化窒素(NIO8) 
、四三酸化窒素(Nmoa)を三二酸化窒素(NtO*
 ) 、二酸化窒素(NO,)、シリコン原子(84)
と酸素原子(0)と水嵩原子(i()とを構成原子とす
る、例えに1ジシロキサン)i18i08iH,、)リ
シロキサンH18i081tll 08 iH@等の低
級シロキサン等を挙けるととが出来る・ 層領域(1) tグロー放電にを用いて形成する場合に
第1#c原子導入用の出発物質として5本発明において
有効に使用されるのは、−嵩慮子導入用としては、Bt
)1m 、 BtHta 、 Hsi(* 、 Bs)
l□。
B@H1@ = H@H1t 、 B@H14等の水嵩
化−嵩、i3に’、 、 1304. 。
BBr、等のハロゲン化砿3Ic等が挙けられる。この
他、At01. 、 Ga0j3 、 Ga(Okk、
 )s 、 In0j3 、 Tl0I@等も挙けるこ
とが出来る。
第鳳族原子を含有する層領域(厘)に導入される第■族
原子の含有量は、堆積基中に流入される第■族原子導入
用の出発物質のガス流量、ガス流量比、放電パワー、支
持体i!直、堆積室内の圧力等を制−することによって
任意にIIIA鉤され得る。
スパッタリング法によって、酸素原子を含有する層領域
(0)を形成するには、単結晶又は多結晶の8iウェー
ハー又1j8i0.ウェーハー、又は8iと8i0.が
混合されて含有されているウェーハーをターゲットとし
て、これ等管種々のガスII!囲気中でスパッターリン
グすることによって行えば良い0 例えば、81ウエーハーをターゲットとして使用すれば
、嫁素鳳子と必要に応じて水素鳳子又ti/及び−・ロ
ゲン腺子を導入する為の原料ガスを、必要に応じて稀釈
ガスで稀釈して、スノくツタ−用の堆積室中に導入し、
これ等のガスのガスプラズマを形成して前記Siウエー
ノ・−をスノくVターリングすれは嵐い0 又、別には、81とSingとは別々のターゲットとし
て、又は8iと8’i0@ O混合し九一枚のターゲッ
トを使用することによって、スlりvター用のガスとし
ての稀釈ガスの専門気宇で又は少なくとも水素原子()
I)又は/及び・・ロゲン原子(X)を構成原子として
含有するガス雰囲気中でスパッターリングすることによ
りて成されるO酸素原子導入用の原料ガスとしては、先
述したグロー放電の例で示し九鳳@フスの中の酸素原子
導入用の原料ガスが、スノ(ツタ−リングの場合にも有
効なガスとして使用され得る・本発明において、非晶質
層をグロー款電法で形成する際に使用される椰釈ガス或
いはスパッタリング法で形成される際に使用されるスパ
Vへ ターリング用のガスとしては、所麟棒ガス、例えiJ’
 He 、 Ne 、 Ar等が好適なものとして挙け
る仁とが出来る〇 次にグロー放電分解法に工って作成される光導電部材の
製造方法について説明する。
第11図にグロー放電分S法による光導電部材の表造装
mt示す0 図中の1102 、1103 、1104のガスボンベ
には、本発明の夫々の層領域を形成するための原料ガス
が密封されており、その1例としてたとえd1102は
、Heで稀釈され九81搗(純度99.9991G。
以下5it−1,/Heと略す。)ボンベ、11030
 k4eで権Y サtL 九HzH* lj ス(#i
1m! 99.999% 、以下Bml(s、4にと略
す◎)、1104はHeで稀釈された8i1H@ガス(
#4!度99.99−、以下8tHH@/i(6と略す
・)ボンベ。
1105 FiNOガス(純度99.999%)、11
06はj(cで鞠釈され死別F4ガス(純度99.99
9−、以下出F、、/)ieと略す・)ボンベでめる・ これらのガスを反応室11otKgjせるにはガ△ スポンベ1102〜1105のパルプ、 1122〜1
125 、リークパルプ1135が閉じられていること
tagし、又、流入パルプ1112〜1115、流出パ
ルプ1117〜1120、補助パルプ1132が開かれ
ていることを確認して先づメインパルプ1114’ii
iいて反応室1101 、ガス配管内を排気する。次に
真空計1136oliみが約5 X 10−’ tor
rにな−)九時点で補助パルプ1132、流出パルプ1
117〜1120 を閉じる。
基体シリンダー1137上に第110に示す様な非晶質
層を構成する第1の層領域を形成する場合oxsthげ
ると、ガスボンベ1102よJ)8i)14/Heガス
、ガスボンベ1103よりB、!(、/Heガスを、ガ
スボンベ1105よfi NOガスを夫々パルプ112
2゜1123.1125を開いて出口圧ゲージ1127
.1128゜1130の圧を夫41穆/3I冨KW!4
整し、流入パルプ1112、1113.1115を夫々
徐々に開けて、マスフロコントローラ1107.110
8.1110内に夫々流入させる。引き続いて流出パル
プ1117.111&、1120. m助パルプ113
2t″徐々に開いて夫々のガスを反応室1101に流入
させるOこのときの8 i 成/ Heガス流量とB、
H,/Heガス流量、NOガス流量との比が所望の値に
なるように流出パルプ1117.1118゜ヌ 1120を調整し、諷、反応室内の圧力か盾望O値にな
るように真空針1136の就みを見ながらメインバルブ
1134の開口を調整するOそして基体シリンダー11
37の温度が加熱ヒーター1138によや50〜400
℃oiit=Vce定8レ−cイb コトtliilさ
れた後、電源1140 t−所望の電力に設定して反応
室1101内にグロー放電を生起させ、同時にあらかじ
め設計された変化率曲線に従って塩4/Heガスの流量
を手動あるいは外部駆動モータ等の方法によってパルプ
1118を漸次菫化させる操作を行なって形成される層
中に含有されるB4C子の含有纜度をIIgl岬するO 第1の層領域中に)−ロゲン鳳子會含有させる場合には
上記のガスに九とえば8iF4/Heを、更に付加して
反応室内に送り込むO 上部層領域105 k形成するにU嬉lの層領域103
の形成の際に使用し九誠嵩原子含有ガス(例え#1NO
)t−除iて層形成を行う@夫々の層を形成する際に必
要なガス以外の流出バルブは全て閉じることはに5まで
もなく、又、夫々の層を形成する際、前層の形成に使用
したガスが反応室1101内、流出バルブ1117〜1
120から反応室1101内に至る配管内に残留するこ
とを避けるために、流出バルブ1117〜1120を閉
じ補助パルプ1132を開いてメインバルブ41134
 t−全開して系内を一旦嵩真空に排気する操作を必I
IK応じて行う。
又、層形成を行っている間は層形成の均一化を計るため
基体シリンダー1137 IIiモータ1139により
一定速度で1転させる。
実施例1 第11図に示した製造装置を用い一案の層中への含有量
をパラメータとして、Nシリンダ上に層形成を行ってい
りた・このときの共通の作製条件は@1宍に、非晶質層
中に於けるBの層厚方向に於けるam分布は第12図乃
至第14−に夫々示した通りである。
第2表に層厚方向の各位置に於ける一嵩(B)の含有量
と、得られたサンプル(Aill−ム13)の奸価結釆
を示す◎表中左−の数字は試料贅号を示す。
作製した電子写真用像形成S材は、帯電−讃露光−極像
一転写までの一連の鬼子写真プロセスt−経て転写献上
に一謙化さIした画像の〔龍〕〔解−力〕〔階鉤再埃性
〕等の優劣をもって綜第2表 表中の値は各4−素の含有量(atomic I)$1
11)を示す。
O;優秀 0;良好 Δ:実用上充分使用可能 実施例2 第15図乃至第17図に示す様に非晶質層中に於けるB
の含有量に変化を与え丸板外は実施例1と同様の作l1
114Ie件のもとて非晶質層をAt様な結果を得九〇 実施例3 第18図乃至第20図に示す様に、非晶質層中に於ける
Bot有量に変化を与え丸板外は実施例1と同様の作製
条件のもとで非晶質層をAtす様な結果t44た拳 実施例4 第21図乃至第23図に示す様に、非晶質層中に於ける
Bの富有量に変化を与え丸板外は実施例1と同様の作製
条件のもとて非晶質層tAjす嫌な結果を4J4た・ 実施例5 第24図乃至第26−に示す様に、非晶質層中に於ける
Bの含有量に変化を与えた以外は実施例1と同様の作製
条件のもとで非晶質層【Atす様な結果を得た。
実施例6 例5に示し友サンプル(411−ム53)と−等のBの
含有分布状態を有する電子写真用II形第 会 表・ なお第@表で例えはサンプルA 711は第2表におけ
るサンプルAllと同等のBC)含有分布状Mを有する
試料を意味している。
実施例7 実施例!乃至実施例5における試料のうちサンプル41
3.A21.ム23.ム33.ム52と同様のBの含有
分布状態を有する層構成の電子写真用像形成部材を、5
tH4/l(eガスにざらKSjF、/Heガスを加え
丸板外は各サンプルと夫々)゛ 同様の条件に着いて作表し次。この時、SiH4ハ tj スKNf b BiF41jX(D混合比(Si
F4/5jH4+5jF4)を30マol−とじ、その
他の作製牽件並びに操作手験は実IjA例1と同様にし
た。この様にして祷られた電子写真用像形成部材を一連
の電子写真プロセスのもとで転写紙上に画像形成し実施
例1と同様にして奸価したところいずれも高績度で高解
像力を有し、階調再現性の面でも優れていることがわか
り九・
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の光導電部材の好適な′!iI施mi
s例の1つの層構成1*#4する為の模式的層構成図、
92図乃至s10図及び第12wA乃至第26図は夫々
非晶質層t−構成する第鳳族原子を含有する層執城中の
第1族腺子の分布状mを1明する為の説明図、第11図
は、本発明で使用され九装置の模式的説明図である・ 手  続  補  正  書(自効 1.事件の表示 昭和56年特許願第215487号 2、発明の名称 光導電部材 3、補正をする者 事件との関係     特許出願人 住所 東京都大田区下丸子3−30−2名称 (100
)キャノン株式会社 代表者 賀  来  龍 三 部 4、代理人 居所 〒146東京都大田区下丸子3−30〜25、補
正の対象 明細書の「発明の詳細な説明」の欄 6、補正の内容 明細書第18頁第10行の[通常は一一一一好ましくは
」を「通常は、0.01〜5 X 10’ atomi
cppm、好ましくは1〜3 X 104104ato
 ppm、より好ましくは」と補正する。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)  光導電部材用の支持体と、シリコン原子を母
    体とし、構成原子として水素原子又はハロゲン原子のい
    ずれか一方を少なくとも含有する非晶質材料で構成され
    た、光導電性を有す分有状態で構成原子として酸素原子
    を含有するMlO層領域と、層厚方向に連続的で且つ前
    記支持体側の方に多く分布する分布状態で、構成原子と
    して周期律表第■族に属する原子を含有する第2の層領
    域とを有し、前記第10層領域は、前記非晶質層の*i
    ii下に内在していることを特徴とする光導電部材。
  2. (2)第1の層領域と第2の層領域とが少なくともその
    一部を共有している特許請求の範囲第11iに記載の光
    導電部材。
  3. (3)縞10層領域が非晶質層の全層領域を実質的に占
    めている特許請求の範[1111項に記載の光導電部材
JP56215487A 1981-11-17 1981-12-24 電子写真用光導電部材 Granted JPS58111063A (ja)

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