JPH1139279A - マイクロコンピュータおよびマルチチップモジュール - Google Patents
マイクロコンピュータおよびマルチチップモジュールInfo
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Abstract
レイアウトの複雑化、不要輻射ノイズの発生、テストコ
ストの増加の課題があった。 【解決手段】 外部メモリアクセス用のバスを駆動する
出力トランジスタを専用に設け、このトランジスタのサ
イズを他の入出力ポート向けトランジスタのものよりも
小さくマイコンを構成し、このマイコンと外部メモリを
プリント基板を介して表裏接続してMCMモジュールと
してワンチップマイコン化した時と同様のピン配置とし
た。MCMモジュールのマイコンにセレクタ回路を搭載
しこれと接続した外部メモリのテストをできるようにし
た。
Description
置に関するものであり、特に、マイクロコンピュータお
よびこれを用いたマルチチップモジュールに関するもの
である。
い、基板に実装する際の配線の引き回しは困難になって
きている。また、大規模化した基板に信号を正確に伝え
るためにも駆動能力の大きいバスでの配線が必要となっ
てきている。そのため、不要輻射ノイズも多くなりこれ
を低減させる技術が必要となっている。また、近年の半
導体製造コストに占めるテストコストの割合も増大して
おり、テスト容易化設計のニーズが高まっている。以
下、従来例について述べる。
ピュータ(以下、単にマイコンともいう)を含む回路の
基板設計を示すブロック図であり、図において、1はプ
リント基板(以下、単に基板という)、2はROMを内
蔵したマイクロコンピュータ、3は外部メモリ、4,5
はそれぞれ第1および第2周辺回路、6,7はバスであ
る。外部メモリ3はマイクロコンピュータ2から各回路
素子間をつなぐバス6を介して接続され、周辺回路4,
5はマイクロコンピュータ2からバス6を介して各々接
続されるとともに周辺回路4,5同士もバス7を介して
互いに接続されている。
アクセスする場合、バス6を介してデータおよびアドレ
スを伝送する。次に、マイクロコンピュータ2が周辺回
路4,5を制御する場合もバス6を介して行う。また、
周辺回路4,5間でデータ等のやりとりをする場合はバ
ス7を介して行う。
を示すブロック図であり、図において、65は出力トラ
ンジスタ群でありバス6に接続されている。この出力ト
ランジスタ群65は、マイクロコンピュータ2が外部メ
モリ3をアクセスする場合、あるいは、周辺回路4,5
を制御する場合にアクティブになる。このとき、外部メ
モリ3が接続しているバス6は、周辺回路4,5もまた
接続するように構成されているので寄生容量が大きく、
このバス6を高速でドライブしなければならず、出力ト
ランジスタ群65を構成するトランジスタの駆動能力を
小さくすることができない。
部ROMをアクセスする時はノーマルポートとして、ま
たは外部メモリをアクセスする時はアドレスないしデー
タバスとして、動作するメモリ拡張モードにおいて、マ
イクロコンピュータ2が外部メモリ3をアクセスする場
合にはそのアドレスあるいはデータバスは高速に動作す
る。例えば、マイクロコンピュータ2が10MHzの基
本クロックで動作している場合、外部メモリ3を100
nsでアクセスすることになる。また、マイクロコンピ
ュータ2は内部ROMをアクセスし、外部メモリ3に接
続されている端子がノーマルポートとして、周辺回路
4,5にそのプログラムの内容により必要なときにアク
セスする。このときの動作速度は、外部メモリ3をアク
セスする速度より速くはならない。また、マイクロコン
ピュータ2と周辺回路の両方から第2周辺回路が制御さ
れる場合、バス7を介してこれらの回路素子間を結ぶた
めの信号も必要となる。
と観測点がなす角度を示す説明図であり、図において、
62は電流によって作られる閉路、63は電流閉路が作
る平面、64は電源である。「電子技術1996,Vo
l.38,No.5」によると、不要輻射ノイズによる
放射エネルギー量EM は、次の式(1)で与えられる。 EM =120√(μs /εs )π2 IS(ejKr /λ2 d)sinθ(V/m) ・・・(1) ここで、μs は比透磁率、εs は比誘電率、Iは電流
量、Sは電流によって作られるループによって占められ
る面積、Kr は伝播係数、λは波長、θは電流ループが
作る平面と観測点がなす角度である。
ような複数の回路素子が接続されているので、基板上で
配線を引き回す必要があり、これらの回路素子の負荷容
量がバス6配線に寄生し、さらにそのバス6を高速駆動
できるようにするために出力トランジスタ群65の駆動
能力を大きくする必要がある。しかしながら、駆動能力
の大きなトランジスタを用いた場合、外部素子のインピ
ーダンスが一定ならば配線を流れる電流量は増加してし
まう。
力波形の立ち上がりを比較するための時間と電圧との関
係を表すグラフ図である。一般に図17に示すように、
駆動能力の大きなトランジスタを使用した場合の出力波
形71のほうが、駆動能力の小さなトランジスタを使用
した場合の出力波形72より急峻な立ち上がりとなり、
波長λは小さくなる。したがって、式(1)より不要輻
射ノイズによる放射エネルギー量EM は増大してしま
う。
ファを用いてバス6の駆動能力を高めることは可能であ
るが部品点数が増えてしまうという問題がある。更に、
どちらを用いたとしても配線長が長くなり、寄生容量が
増大するため回路を高速化することは難しい。一般に、
配線遅延は容量と抵抗に比例するためである。加えて、
いずれの方法でも出力トランジスタ群65の駆動能力を
あげると電流量は増大するので消費電力も大きくなりさ
らに不要輻射も大きくなるという問題がある。
ロコンピュータを含む回路の従来の基板設計においては
基板上に配置すべき素子数の増加に伴い、これらの最適
な配置は困難になっている。そこで、基板設計時に基板
を多層にし信号線の交錯が可能な多層基板化、周辺素子
を基板裏面に配置する両面実装などが行われている。
2’および外部メモリ3’のピン端子の配置図であり、
(a)は外部メモリ3’のピン端子の配置図、(b)は
マイクロコンピュータ2’のピン端子の配置図である。
図において、30a〜30hはマイクロコンピュータ
2’がバス6を介して外部メモリ3’と接続している配
線ないしピン端子で、それぞれ同一配線番号が結線され
ている。この配置図では、マイクロコンピュータ2’と
外部メモリ3’とがバス6を介して接続しているピン端
子30a〜30hの順番が互いに一致しないため、基板
の配線を交差させる必要があるため最短で結線ができな
い。
おいては、一部特殊用途(クロックやアナログ電源等)
を除いてはチップ内の回路の電源は共通化されている。
図19は、マイクロコンピュータの電源接続を示す概略
図であり、図において、2eはマイクロコンピュータ、
33’,34’はそれぞれ電源線,GND線、39’,
40’は各々電源パッド,GNDパッド、37b,38
bはバス、37aは外部メモリへつながるバス37bを
駆動するための出力トランジスタ群、38aは周辺回路
へつながるバス38bを駆動するための出力トランジス
タ群である。
9’に接続している電源線33’は、出力トランジスタ
群37aに供給するととともに出力トランジスタ群38
aにも供給している。また、GNDパッド40’に接続
しているGND線34’もまた、出力トランジスタ群3
7aに供給するとともに出力トランジスタ群38aにも
供給している。ここで、メモリバス37bへつながる出
力トランジスタ群37aのトランジスタが高速でスイッ
チングを行った場合には、前述の式(1)の波長λが小
さくなる。したがって電源線33’が例えば100MH
zといった高周波数にて揺らされ、チップ内部において
輻射が発生し、他の出力ピンからこの輻射ノイズが他の
電源線を介して回り込み放射されてしまう。
下、MCMと略称する)技術によって、複数のベアチッ
プを包含した形でのアセンブリが可能になり製品の小型
軽量化を実現している。このMCM内に配線が多くアク
セス頻度の高いメモリとマイクロコンピュータの両方を
内包することにより、基板上の配線を減らすことは有効
である。しかしながら、MCMに実装する汎用メモリが
必要となり、セットメーカーにとってはコスト上昇につ
ながるので、ワンチップマイクロコンピュータが内蔵す
る安価なマスクROM版への置き換えが必要となる。
ジュール(MCM)の構成を示すブロック図であり、図
において、53’はMCMパッケージ、54’はマイク
ロコンピュータ、55は外部メモリ、101はノーマル
ポート、102はメモリバス、57はマイクロコンピュ
ータチップ54’のノーマルポート入出力信号線群、5
8はマイクロコンピュータチップ54’のメモリバス信
号線群である。このメモリバス信号線群58は外部メモ
リ55に接続されているが他に接続する必要がないため
MCMパッケージ53’の外部端子に接続していない。
ンピュータは以上のように構成されているので、バス6
での寄生容量が大きくこれが装置全体のアクセス速度の
向上の妨げになっており、また高速化を図ろうとすると
出力トランジスタ等の駆動能力との関係から電流量が増
え消費電力の増大につながるとともに不要輻射ノイズも
増大してしまうといった課題があった。
ように構成されているので、マイクロコンピュータ2か
らでるバス6の距離は長くなり電流によって作られるル
ープ面積Sが大きくなるので上述の式(1)より不要輻
射も増加し、基板の配線が引き回されるため寄生容量も
増加して遅延量も大きく高速で動作はできないといった
課題があった。
上のように構成されているので、高速スイッチング動作
している出力トランジスタ群37a,38a同士で輻射
ノイズが発生して電源,GND線33’,34’に回り
込むという課題があった。
M)は以上のように構成されているので、マルチチップ
モジュールに実装するマイクロコンピュータチップと汎
用メモリチップを単純にマルチチップモジュール基板上
で結線した場合、ワンチップマイクロコンピュータ化し
たときに比べ、ピン配置が異なったりノイズ特性や消費
電力特性が悪くなったりして、基板設計が煩雑になると
いう課題があった。
M)は以上のように構成されているので、マイクロコン
ピュータ54’と外部メモリ55のみ結線されているメ
モリバス配線群58はマルチチップモジュールパッケー
ジの外部端子として出てこないため、外部メモリ55の
製品検査および不良解析ができないという課題がある。
また、マイクロコンピュータ54’にこの機能を事前評
価できる回路を挿入するかあるいはプログラミングする
必要があり、その評価方法も固定されるため、自由度が
なかった。しかも、マルチチップモジュール53’を製
品検査するときのテストパターンも新規に作成する必要
があり開発時間がかかるという課題があった。
めになされたもので、高速動作、不要輻射低減、低消費
電力化を実現するワンチップマイコンのようなマイクロ
コンピュータを得ることを目的とする。また、この発明
は、上記に加えて高速で動作するバスの配線容量を最小
化したマイクロコンピュータを得ることを目的とする。
さらに、この発明は、電源線およびGND線における放
射ノイズを低減したマイクロコンピュータを得ることを
目的とする。さらに、この発明は、短納期で駆動能力を
変えることができるマイクロコンピュータを得ることを
目的とする。さらに、この発明は、短工期でマスクRO
M内蔵のワンチップマイクロコンピュータへの置き換え
ができるマルチチップモジュールを得ることを目的とす
る。さらに、この発明は、外部メモリの不良検査が可能
でテストパターンの開発が不要なマイクロコンピュータ
を得ることを目的とする。
るマイクロコンピュータは、外付けメモリをアクセスす
るのに必要な第1信号線を駆動する第1トランジスタお
よび第1端子を専用に設けるとともに、この第1トラン
ジスタのサイズを他の入出力ポートに使用している第2
トランジスタのサイズより小さくするものである。
ュータは、外付けメモリをアクセスするのに必要な第1
信号線を駆動する第1トランジスタが接続している第1
端子と前記外付けメモリ以外の外付け回路を駆動する第
2トランジスタが接続している第2端子を交互に配列す
るものである。
ュータは、マイクロコンピュータと外付けメモリとを基
板上で表裏配置したときに各々の端子間の基板上配線を
最短に設定しても互いにクロスしないように、外付けメ
モリをアクセスするために必要なマイクロコンピュータ
端子の配列をこれらと接続している外付けメモリ端子の
配列に合わせた外付けメモリのチップセットにするもの
である。
ュータは、外付けメモリをアクセスするための第1信号
線を駆動する第1トランジスタ用の第1電源線および第
1GND線と、他の外付け回路をアクセスするための第
2トランジスタ用の第2電源線および第2GND線とを
チップのパッドから分離するものである。
ュータは、第1電源線および第1GND線からなる第1
電源系と、第2電源線および第2GND線からなる第2
電源系とをウェーハプロセス工程中に使用する1枚以上
のマスクを指定することにより選択できるものである。
ュータは、レジスタの内容により第1および第2トラン
ジスタに供給する電源系を第1および第2電源系から選
択するセレクタ回路を有するものである。
ュータは、2つの電源系のうちのいずれか1つを選択す
るとともに選択された電源系より供給されるトランジス
タも選択できるものである。
ジュールは、マイクロコンピュータを応用したものであ
り、マルチチップモジュールのピン配置がこのマイクロ
コンピュータを内蔵メモリ化した時のピン配置とほぼ同
様であるものである。
ュータは、ノンアクティブ信号またはアクティブ信号の
制御信号を入力して入出力信号を選択・接続するセレク
タであって、その出力端子がノンアクティブ信号に応答
してマイクロコンピュータからの入出力信号のみを接続
し、あるいはアクティブ信号に応答してマイクロコンピ
ュータからの入出力信号を分離するとともに外付けメモ
リの入出力信号を接続するセレクタを有するものであ
る。
説明する。 実施の形態1.図1はこの実施の形態1によるマイクロ
コンピュータを含む回路の基板設計を示すブロック図で
あり、マイクロコンピュータに外部メモリのアクセス専
用の端子を具備させたことによりバス分離をおこなった
ものである。図において、1はプリント基板(以下、単
に基板という)、2aはROMを内蔵したマイクロコン
ピュータ、3は外部メモリ(外付けメモリ)、4,5は
第1および第2周辺回路(外付け回路)、13は第1信
号線としてのバス、14は第2端子としてのバス、7は
周辺回路4,5間を接続するためのバスである。外部メ
モリ3はマイクロコンピュータ2aからバス13を介し
て接続され、周辺回路4,5はマイクロコンピュータ2
aからバス14を介して各々接続されるとともに、互い
にバス7を介して接続されている。
を示すブロック図であり、図において、17,18はそ
れぞれ第1および第2トランジスタとしての出力トラン
ジスタ群、13,14はバスである。マイクロコンピュ
ータ2aが外部メモリ3をアクセスするとき、アクティ
ブとなる出力トランジスタ群17がバス13に接続され
ており、出力トランジスタ群18がバス14に接続され
ている。
2aと外部メモリ3のみを結線することで基板上配線を
引き回す必要がなく、周辺回路4,5がこれに関係して
接続されてないため寄生容量が小さくなり、したがって
出力トランジスタ群17の駆動能力を小さくすることが
できる。一方、出力トランジスタ群18は周辺回路4,
5に接続するためプリント基板上に配線が引きまわされ
ることが多く、寄生容量が大きくなるため駆動能力は大
きくする必要がある。例えば、出力トランジスタ群17
の出力インピーダンスは200オーム程度の高インピー
ダンスであるのに対して、出力トランジスタ群18の出
力インピーダンスは50オーム程度の低インピーダンス
に設定する必要がある。
ス14は互いに分離・独立しているので、外部メモリ3
をアクセスしているときは周辺回路4,5に向けたバス
14は駆動されない。同様に、周辺回路4,5をアクセ
スしているときはバス13は駆動されない。
2aと外部メモリ3間のデータバス、アドレスバスとし
て働き、プログラムのデータのやりとりに用いられるた
めにアクセス頻度が高い。しかし、この実施の形態1の
ような外付けメモリ専用のバス13を与えた構成にすれ
ば、外部メモリ3とマイクロコンピュータ2a間の基板
上の配線負荷容量を減少できるので、周辺回路4,5を
アクセスする出力トランジスタ群18に比べて出力トラ
ンジスタ群17のサイズ・駆動能力をあげなくても、基
板上の遅延量も少なく高速動作が可能である。
する出力トランジスタ群17の駆動能力を低く抑えるこ
とができるので回路全体を流れる電流量は少なくて済
み、低消費電力化を図ることができる。また、上記の式
(1)に基づいて発散される放射エネルギー強度は抑え
られ、不要輻射を抑制することができる。さらに、外部
メモリ3に比べるとアクセス頻度の低い周辺回路4,5
をつなぐバス14は変化する頻度が少ないため、時間的
に総合して考えた場合、発散されるエネルギー強度は抑
えられ、不要輻射を抑制することが可能である。加え
て、基板上にバッファを実装する必要がないので、部品
点数が増えることもない。
ば、外部メモリ3をアクセスするのに必要なバス13と
周辺回路4,5をアクセスするためのバス14を分離・
独立しするように構成にしたので、バス13の配線負荷
容量を減少でき、これによりバス13を駆動する出力ト
ランジスタ群17の負担が小さくなり、各々のトランジ
スタのサイズは小さくて済むのでこれを流れる電流量も
少なくて済み、したがって高速動作、不要輻射低減、お
よび低消費電力化を実現できるという効果が得られる。
ュータ2aの構成を示すブロック図であり、その内容は
前記実施の形態1で示したとおりである。バス13を駆
動するマイクロコンピュータ2aの第1出力端子には出
力トランジスタ群17が接続され、これら第1出力端子
は隣り合っている。一方、バス14を駆動するマイクロ
コンピュータ2aの第2出力端子には出力トランジスタ
群18が接続され、これら第2出力端子もまた隣り合う
ようになっている。
メモリ3を基板の表裏に実装した場合には、出力端子か
ら基板のスルーホールを通して裏面の外部メモリ3に結
線する必要がある。マイクロコンピュータ2aがファイ
ンピッチパッケージに封止されている場合はこのスルー
ホールが1列に並ばず、スルーホール間の余裕をとる必
要性があるためジグザグ配置になってしまう。このた
め、バス13を最短に設定できないという問題がある。
構成の改良例を示す部分説明図である。図において、1
3は外部メモリ3と接続するバス、14は周辺回路4,
5と接続するバス、T1〜T6は外部メモリ3と裏面コ
ンタクトをとるスルーホールである。
動する出力トランジスタ群17とバス14を駆動する出
力トランジスタ群18とが交互にマイクロコンピュータ
2aの出力端子からそれぞれのバス13,14に接続さ
れているので、バス13に結線する配線に対してスルー
ホールT1〜T6をジグザグにすることなく、T1〜T
3とT4〜T6のように1列に並べて裏面の外部メモリ
3に接続することができる。したがって、高速に変化す
る信号が通過するバス13の配線を最短にでき配線容量
をさらに減少することができる。
ば、高速で動作するバス13の配線を短くでき配線容量
をさらに減少させることができるので、実施の形態1の
効果に加えて、高速動作、不要輻射低減、および低消費
電力化が図ることができる効果が得られる。
によるプリント基板へのマイクロコンピュータを含む回
路素子の実装図である。図において、1はプリント基
板、2aはマイクロコンピュータ、3は外部メモリ、2
6は読み出し専用メモリすなわちROM、27,28は
第1および第2周辺回路(外付け回路)である。マイク
ロコンピュータ2aと外部メモリ3が基板をはさんで表
裏に実装した状態でピン配置が一致できるようにマイク
ロコンピュータを図5のようにピン配置する。
aの裏面に外部メモリ3を実装したときの説明図であ
り、図において、30a〜30hは信号線とつながるマ
イクロコンピュータ2aのピン端子(マイクロコンピュ
ータ端子)、30a’〜30h’も同様に信号線とつな
がる外部メモリ3のピン端子(外付けメモリ端子)であ
り、A−A線に対してマイクロコンピュータ2aと外部
メモリのピン端子の配置が軸対称になっている。これに
よれば、マイクロコンピュータ2aの裏面に外部メモリ
3を実装することができ、それを結ぶバス13の配線長
さを最短にできる。すなわち、マイクロコンピュータ2
aと外部メモリ3間のバス13の配線は一般に1対1で
互いに対応しているため、外部メモリ3のピン端子30
a’と接続すべきマイクロコンピュータ2のピン端子を
30aとし、ピン端子30b’に対しては30bという
風に、同じ数字が接続すべき信号線であるとする。図5
では、外部メモリ側の30a’〜30h’は順に左回り
に番号づける。このとき、マイクロコンピュータ側の3
0a〜30hは順に右回りに番号づけるようにチップ設
計時にピン設定を行う。例えば、チップとしてM5M2
8F102Jをとりあげると、右回りにA15〜A0、
D0〜D15の順になっている。したがって、マイクロ
コンピュータのピン配置は左回りにA15〜A0、D0
〜D15の順にしておくことになる。
ば、外部メモリ3とマイクロコンピュータ2aの接続す
べき信号線の各々が逆回りに対応するように構成したの
で、マイクロコンピュータ2aと外部メモリ3を背中合
わせにしたときには、ちょうど最短の距離で各信号線が
交錯することなしにそれぞれのピン端子間を接続するこ
とができる効果が得られる。また、交錯する信号線がな
くなるため、2層基板での設計が簡易にできる効果が得
られる。
モリ3間のバス13の電流によって作られるループ面積
が小さくなり、上記放射エネルギーを表す式(1)の面
積Sが小さくなることにより不要輻射の低減が図ること
ができ、しかもバス13が最短になることで寄生容量が
小さくなり高速動作ができるという効果が得られる。こ
れを上述の実施の形態1の構成に応用すれば更に大きな
効果が得られる。
ータチップの回路構成を示すブロック図であり、図にお
いて、2eはマイクロコンピュータ、33,35はそれ
ぞれ第1および第2電源線(それぞれVDD1とVDD
2レベル)、34,36はそれぞれ第1および第2GN
D線、39,41は第1および第2電源パッド(それぞ
れVDD1とVDD2レベル)、40,42は第1およ
び第2GNDパッドである。VDD2レベルにて第2電
源パッド41に接続している第2電源線35は高速で動
作する出力トランジスタ群38aのみに供給しており、
接地電位にて第2GNDパッド42に接続している第2
GND線36もまた出力トランジスタ群38aのみに供
給している。一方、VDD1レベルにて第1電源パッド
39に接続している第1電源線33は出力トランジスタ
群37aのみに供給しており、第1GNDパッド40に
接続している第1GND線34もまた出力トランジスタ
群37aのみに供給している。
ば、出力トランジスタ群37aと出力トランジスタ群3
8aに供給する電源線をそれぞれ第1および第2電源線
33,35、接地線をそれぞれ第1および第2GND線
34,36に独立・分離するように構成したので、外付
けメモリとアクセスするために高周波で動作している出
力トランジスタ群37aに供給する第1電源線33と第
1GND線34はその線上にノイズが発生したとして
も、第2電源線35、第2GND線36に回り込むこと
がなく、放射ノイズを抑えることができるという効果が
得られる。
ば、前記実施の形態4の2つの電源系を用いて、そのど
ちらに属する電源を使用するかの選択手段としてマスク
オプションを使用する。または、電源線の選択をすると
ともに出力トランジスタを選択できるマスクオプション
を使用することで、さらに大きな効果が得られる。例え
ば、アルミニウムからなる金属配線を2層使用する2層
アルミプロセスの場合、第1金属配線と第2金属配線の
コンタクトをとるスルーホール形成工程において、この
マスクオプションを適用することによりそのコンタクト
部分を取り替えてどちらの電源線を使うかを選択できる
ようにする。さらに、電源線の選択と同時に出力トラン
ジスタもまた選択できるようにする。
ば、スルーホール形成のためのマスクにマスクオプショ
ンを適用することにより2つの電源線の片方を選択でき
るように構成した。これにより、各々のトランジスタの
駆動能力に適した電源線の選択を通常工程の流れの中で
消化できるので、開発工期という制約無しに電源線選択
の最適化が実現できるという効果が得られる。加えて、
電源線の選択をするとともに出力トランジスタをも選択
できるマスクオプションを使用することで、顧客の要求
やセットに合わせて短納期で駆動能力を変えた製品を納
入することができるので、さらにその効果が大きくな
る。
ば、上述の実施の形態4と同様に、電源線を2系統用意
しているマイクロコンピュータチップにおいて、ソフト
ウェアでどちらの電源線を用いるかを可能にした。すな
わち、半導体集積回路の設計時に電源線を2系統回路の
うちのどちらかの電源線を内部レジスタの入力データに
より選択できるセレクタ回路を設ける。図7はセレクタ
回路の一例を示す回路図であり、(a)は電源線側のセ
レクタ回路図、(b)はGND線側のセレクタ回路図で
ある。図8は、セレクタ回路をマイクロコンピュータ2
eと接続したときのブロック構成図である。図におい
て、33,35は第1および第2電源線、34,36は
第1および第2GND線、I71,I72はインバータ
ゲート、SLはセレクト信号、81は電源線側のセレク
タ、82はGND線側のセレクタである。セレクト信号
SLは内部レジスタより出力される信号であり、内部レ
ジスタ値はユーザがソフトウェアにて設定可能である。
信号SLが“L”の時はセレクタ81,82ではそれぞ
れ第1電源線33と第1GND線34が内部電源として
選択され、一方セレクト信号が“H”の時は第2電源線
35と第2GND線36が内部電源として選択される。
ば、電源線のソフトウェアでの切り替えが可能なため、
ユーザが必要に応じてプログラム作成と同時進行で最適
な方のトランジスタを選択することができる。また、使
用するチップセットに応じて電源線の分離が図れるた
め、ノイズ源となり得る特定信号線のみ別電源とするこ
とがプログラム選択によってできるという効果が得られ
る。
の形態3,実施の形態4により構成されるマイクロコン
ピュータチップを用いることにより、マルチチップモジ
ュール(MCM)のチップ構成は、外部メモリ3とマイ
クロコンピュータ2a,2eを内包した形で行うことが
できる。これを図を用いて説明する。
モジュールの平面図であり、図10はこのマルチチップ
モジュールのB−B線に沿った断面図、図11はプリン
ト基板のチップ配置図であり、(a)は上面図、(b)
は下面図である。図において、1は基板、2はマイクロ
コンピュータ、3は外部メモリ、13,14はバス、4
3はモールド樹脂、44はリード線、45はマルチチッ
プモジュールである。ここで、外部メモリ3とマイクロ
コンピュータ2間のバス13は上記実施の形態1で示さ
れた方式により駆動能力を小さめに設定してある。ま
た、この方法を用いることで外部メモリ3とマイクロコ
ンピュータ2をつなぐバス13の配線はモールドの外部
に出力させないで行うことが可能である。また、外部に
は図1で分離したバス14を経由して出力することによ
りマスク版と同じピン配置にて行うことが可能となる。
ば、マイクロコンピュータ2と外部メモリ3を内包した
マルチチップモジュールは、シングルチップマイクロコ
ンピュータと同様に、チップ外部に出力する全ての端子
が使用可能になる。したがって、マルチチップモジュー
ルとマイクロコンピュータが同様のピン配置、機能を持
たせるためその置き換えは容易に行うことができるとい
う効果が得られる。なおかつ、MCMは既存チップの組
合せのため、例えば3週間程度の短工期で納入できる。
一方シングルチップマイコンの場合、3ヶ月程度かかる
場合がある。
を使うことにより不要輻射の低減や低消費電力化が図る
ことができる。その理由は上記実施の形態1で述べたと
おりである。また、通常マルチチップモジュールにおい
てはモールドする複数のチップの配置に制約がある。加
えてパッケージのサイズにも制限があるためあまり大き
な面積のものをそのままアセンブリすることはできな
い。マルチチップモジュールにおいても多層配線を用い
ることは可能であるが、多層にすることにより製造コス
トは高くなる。しかしながら、この実施の形態7によれ
ば、マイクロコンピュータ2と外部メモリ3は基板1の
裏面を利用して接続できるので基板1の有効活用が図
れ、また、構成も簡素化されるため、アセンブリコスト
も低減可能になるという効果が得られる。
ジュール(MCM)の構成を示すブロック図である。図
において、53はMCMパッケージ、54はマイクロコ
ンピュータ、55は外部メモリ、56はテストセレク
タ、101はノーマルポート、102はメモリバス、5
7aは入出力信号線群、57bはノーマルポート出力信
号線群、58aは外部メモリ信号線群、58bはメモリ
バス信号線群である。入出力信号線群57aはMCMパ
ッケージ53の外部端子を介してマイクロコンピュータ
54に接続しており、メモリバス信号線群58bは外部
メモリ55とマイクロコンピュータ54間のデータ/ア
ドレスバスを含み、テストセレクタ56はテスト信号が
ノンアクティブのときノーマルポート信号線群57bが
入出力信号線群57aに接続されるとともにメモリバス
信号線群58bが外部メモリ55に接続することを選択
するものである。
路図である。図において、TG1〜TG3はPMOSと
NMOSトランジスタからなる伝送ゲート、I73はイ
ンバータゲート、その他の構成は図12と同様であるか
ら同一部分には同一符号を付して重複説明を省略する。
て、テスト信号入力はノンアクティブすなわち“L”の
とき通常動作で、アクティブすなわち“H”のときテス
トモードとなる。すなわち“L”のときは、伝送ゲート
TG1およびTG2がオンとなり、入出力信号線群57
aとノーマルポート信号線群57bと、外部メモリ信号
線群58aとメモリバス信号線群58bとがそれぞれ接
続する。一方、テスト信号入力が“H”のときは伝送ゲ
ートTG3がオンとなり入出力信号線群57aと外部メ
モリ信号線群58aが接続し外部メモリ55をテストで
きる。
信号をアクティブすなわち“H”にすればマイクロコン
ピュータ54にのみ結線されている外部メモリ55の外
部メモリ信号線群58aをMCMパッケージの外部端子
を介して入出力信号線群57aに接続できるので、メモ
リチップだけのテストを行うことができるので、外部メ
モリ55およびマイクロコンピュータ54のテスト方式
をそのまま流用できる。
ば、不良解析時は外部メモリ55だけのテストを行うこ
とができるために、外部メモリ55とマイクロコンピュ
ータ54のテストを切り分けることが簡単に行える。切
り分けたあとは外部メモリ55とマイクロコンピュータ
54のテストをそのまま流用できるため、必要なパター
ンを直接入力し、自由度の高い不良解析が行うことがで
きる効果が得られる。さらに、製品のテスト時にも外部
メモリ55とマイクロコンピュータ54のそれぞれのテ
ストパターンをそのまま流用することが可能となるた
め、テストパターンの開発時間が短縮されるという効果
が得られる。
れば、外付けメモリをアクセスするのに必要な第1信号
線を駆動する第1トランジスタおよび第1端子を専用に
設けるとともに、この第1トランジスタのサイズを他の
入出力ポートに使用している第2トランジスタのサイズ
より小さくするように構成したので、外付けメモリとマ
イクロコンピュータとの間の第1信号線の配線負荷容量
を最小にすることができ、駆動能力をあげなくても基板
上の遅延量も少なく高速動作が実現できる効果がある。
加えて、アクセス頻度の高い外付けメモリと接続するバ
スを駆動する第1トランジスタの駆動能力を低く抑える
ことができるので回路全体を流れる電流量は少なくな
り、低消費電力化を図ることができる効果がある。しか
も、上述の式(1)により発散されるエネルギー強度は
抑えられ、不要輻射を抑えることができる効果がある。
さらに、他の外付け回路をつなぐ配線はアクセス頻度が
少なくなり、前記の発散されるエネルギー強度は抑えら
れ、不要輻射を抑制することができる効果がある。
リをアクセスするのに必要な第1信号線を駆動する第1
トランジスタが接続している第1端子と前記外付けメモ
リ以外の外付け回路を駆動する第2トランジスタが接続
している第2端子を交互に配列するように構成したの
で、高速で動作する第1信号線の配線容量を最小にでき
るので、高速動作、不要輻射低減、および低消費電力化
を実現できる効果がある。
ンピュータと外付けメモリとを基板上で表裏配置したと
きに各々の端子間の基板上配線を最短に設定しても互い
にクロスしないように、マイクロコンピュータ端子の配
列を外付けメモリ端子の配列に合わせた外付けメモリの
チップセットにするように構成したので、交錯する配線
がなくなるので2層基板での設計ができる効果がある。
しかも、マイクロコンピュータと外付けメモリ間の配線
を流れる電流によって作られるループ面積が小さくな
り、上述の式(1)のSが小さくなることで不要輻射の
低減を実現できる効果がある。しかも配線が最短になる
ことで寄生容量が小さくなり高速動作を実現できる効果
がある。
ジスタ用の第1電源線および第1GND線と、第2トラ
ンジスタ用の第2電源線および第2GND線とをチップ
のパッドから分離するように構成したので、外付けメモ
リをアクセスしている第1トランジスタのような高周波
で動作している第1電源線および第1GND線の配線上
にノイズが発生したとしても、第2電源線および第2G
ND線にそれが回り込むことがなく、放射ノイズを抑え
ることができる効果がある。
および第1GND線からなる第1電源系と、第2電源線
および第2GND線からなる第2電源系とをウェーハプ
ロセス工程中に使用する1枚以上のマスクを指定するこ
とにより選択できるように構成したので、スルーホール
形成工程等におけるマスクのマスクオプションで第1お
よび第2電源線の片方を選択可能にすることによって、
第1および第2トランジスタの駆動能力に適した電源線
の選択を開発工期に関係なく実現できる効果がある。
内容により第1および第2トランジスタに供給する電源
系を2つの電源系から選択するセレクタ回路を有するよ
うに構成したので、第1および第2電源線のソフトウェ
アによる切り替えが可能なため、ユーザが必要に応じて
プログラム作成と同時進行で最適な方のトランジスタを
選択できる効果がある。しかも、使用するチップセット
に応じて第1および第2電源線の分離ができるので、ノ
イズ源となり得る外付けメモリと接続する特定の第1信
号線のみ別電源とすることがプログラム選択により実現
できる効果がある。
系のうちのいずれか1つを選択するとともに選択された
電源系より供給されるトランジスタも選択できるように
構成したので、電源線の選択をするとともに第1および
第2トランジスタを選択できるマスクオプションを使用
することで、客先のセットに合わせて短納期で駆動能力
を変えた製品を納入できる効果がある。
プモジュールにおいて、このピン配置が上記マイクロコ
ンピュータをワンチップ化した時のピン配置とほぼ同様
であるように構成したので、シングルチップマイクロコ
ンピュータと同じように、チップ外部に出力する全ての
端子が使用可能となる。したがって、マルチチップモジ
ュールとマイクロコンピュータが同様のピン配置・機能
を有するためこれらの置き換えは容易に行える効果があ
る。しかも、請求項1、3、4のいずれかを使うことに
より、不要輻射の低減や低消費電力化を実現できる効果
がある。さらに、マイクロコンピュータと外付けメモリ
は裏面を使用した接続となるので基板の有効活用が図る
ことができ構成も簡素化されるため、アセンブリコスト
も低減できる効果がある。
有しておりその出力端子がノンアクティブ信号に応答し
てマイクロコンピュータからの入出力信号のみを接続
し、あるいはアクティブ信号に応答してマイクロコンピ
ュータからの入出力信号を分離するとともに外付けメモ
リの入出力信号を接続するように構成したので、不良解
析時は、外付けメモリとマイクロコンピュータを切り分
けて独自のテストを行うことができるので、必要なパタ
ーンを直接入力して自由度の高い不良解析を行うことが
できる効果がある。しかも、製品テストの時にも外付け
メモリとマイクロコンピュータのそれぞれのテストパタ
ーンをそのまま流用することができるので、テストパタ
ーンの開発時間が短縮される効果がある。
ピュータを含む回路の基板設計を示すブロック図であ
る。
ピュータの部分説明図である。
ピュータの部分説明図である。
ピュータの構成図である。
マイクロコンピュータの配置説明図である。
ピュータチップを示す回路構成図である。
路図であり、(a)は電源向け回路図であり、(b)は
GND向け回路図である。
ロック構成図である。
モジュールの平面図である。
プモジュールのB−B線に沿った断面図である。
プモジュールのプリント基板のチップ配置図であり、
(a)は上面図、(b)は下面図である。
プモジュールの構成を示すブロック図である。
クタを構成する回路図である。
置を示すブロック図である。
である。
を示す説明図である。
立ち上がりを比較するための時間と電圧との関係を表す
グラフ図である。
のピン端子の構成図であり、(a)は外部メモリのピン
端子の配置図、(b)はマイクロコンピュータのピン端
子の配置図である。
示す概略図である。
の構成を示すブロック図である。
イクロコンピュータ、3,55 外部メモリ(外付けメ
モリ)、4,27 第1周辺回路(外付け回路)、5,
28 第2周辺回路(外付け回路)、13 バス(第1
信号線)、14バス(第2端子)、30a〜30h ピ
ン端子(マイクロコンピュータ端子)、30a’〜30
h’ ピン端子(外付けメモリ端子)、33,35 第
1および第2電源線、45 マルチチップモジュール。
Claims (9)
- 【請求項1】 外付けメモリをアクセスできるマイクロ
コンピュータにおいて、外付けメモリをアクセスするの
に必要な第1信号線を駆動する第1トランジスタおよび
第1端子を専用に設けるとともに、この第1トランジス
タのサイズを他の入出力ポートに使用している第2トラ
ンジスタのサイズより小さくすることを特徴とするマイ
クロコンピュータ。 - 【請求項2】 外付けメモリをアクセスできるマイクロ
コンピュータにおいて、外付けメモリをアクセスするの
に必要な第1信号線を駆動する第1トランジスタが接続
している第1端子と上記外付けメモリ以外の外付け回路
を駆動する第2トランジスタが接続している第2端子を
交互に配列するマイクロコンピュータ。 - 【請求項3】 外付けメモリをアクセスできるマイクロ
コンピュータにおいて、上記マイクロコンピュータと上
記外付けメモリとを基板上で表裏配置したときに、上記
マイクロコンピュータおよび上記外付けメモリの各々の
端子間の基板上配線を最短に設定しても互いにクロスし
ないように、上記外付けメモリをアクセスするために必
要な上記マイクロコンピュータ端子の配列をこれらと接
続している上記外付けメモリ端子の配列に合わせた上記
外付けメモリのチップセットにすることを特徴とするマ
イクロコンピュータ。 - 【請求項4】 外付けメモリをアクセスするための第1
信号線を駆動する第1トランジスタ用の第1電源線およ
び第1GND線と、他の外付け回路をアクセスするため
の第2トランジスタ用の第2電源線および第2GND線
とをチップのパッドから分離することを特徴とするマイ
クロコンピュータ。 - 【請求項5】 第1電源線および第1GND線からなる
第1電源系と、第2電源線および第2GND線からなる
第2電源系とをウェーハプロセス工程中に使用する1枚
以上のマスクを指定することにより選択できることを特
徴とする請求項4記載のマイクロコンピュータ。 - 【請求項6】 レジスタの内容により第1および第2ト
ランジスタに供給する電源系を第1および第2電源系か
ら選択するセレクタ回路を更に備えた請求項4記載のマ
イクロコンピュータ。 - 【請求項7】 2つの電源系のうちのいずれか1つを選
択するとともに選択された電源系より供給されるトラン
ジスタも選択できることを特徴とする請求項5または請
求項6記載のマイクロコンピュータ。 - 【請求項8】 マイクロコンピュータと外付けメモリを
使ったマルチチップモジュールにおいて、このピン配置
が上記マイクロコンピュータを内蔵メモリ化した時のピ
ン配置とほぼ同様であることを特徴とするマルチチップ
モジュール。 - 【請求項9】 汎用メモリチップとマルチチップモジュ
ール化された外付けメモリとをアクセスできるマイクロ
コンピュータにおいて、ノンアクティブ信号またはアク
ティブ信号の制御信号を入力して入出力信号を選択・接
続するセレクタであって、その出力端子が上記ノンアク
ティブ信号に応答して上記マイクロコンピュータからの
入出力信号のみを接続し、あるいは上記アクティブ信号
に応答して上記マイクロコンピュータからの入出力信号
を分離するとともに上記外付けメモリの入出力信号を接
続するセレクタを有することを特徴とするマイクロコン
ピュータ。
Priority Applications (4)
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JP9191648A JPH1139279A (ja) | 1997-07-16 | 1997-07-16 | マイクロコンピュータおよびマルチチップモジュール |
TW086116870A TW451134B (en) | 1997-07-16 | 1997-11-11 | Microcomputer and chipset module |
US08/975,204 US5907507A (en) | 1997-07-16 | 1997-11-20 | Microcomputer and multi-chip module |
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KR (1) | KR100300895B1 (ja) |
TW (1) | TW451134B (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006277012A (ja) * | 2005-03-28 | 2006-10-12 | Denso Corp | 半導体集積回路 |
JP2008176699A (ja) * | 2007-01-22 | 2008-07-31 | Renesas Technology Corp | マルチプロセッサ装置 |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1139212A (ja) * | 1997-07-17 | 1999-02-12 | Mitsubishi Electric Corp | マイクロコンピュータ |
US6678167B1 (en) * | 2000-02-04 | 2004-01-13 | Agere Systems Inc | High performance multi-chip IC package |
US6362997B1 (en) * | 2000-10-16 | 2002-03-26 | Nvidia | Memory system for use on a circuit board in which the number of loads are minimized |
KR100695890B1 (ko) * | 2004-10-29 | 2007-03-19 | 삼성전자주식회사 | 멀티 칩 시스템 및 그것의 데이터 전송 방법 |
CN101192183B (zh) * | 2007-01-10 | 2010-09-01 | 中兴通讯股份有限公司 | 数字单板的测试工装实现方法和装置 |
CA2822593A1 (en) | 2010-12-22 | 2012-06-28 | Ge Energy Power Conversion Technology Limited | Mechanical arrangement of a multilevel power converter circuit |
JP2012208975A (ja) * | 2011-03-29 | 2012-10-25 | Renesas Electronics Corp | 半導体装置 |
JP2013069864A (ja) * | 2011-09-22 | 2013-04-18 | Canon Inc | 検出装置及び検出システム |
KR101637997B1 (ko) * | 2014-11-24 | 2016-07-11 | 현대오트론 주식회사 | 차량의 전자식 안정성 제어 장치용 반도체 칩 설계 방법 및 그 장치 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4577282A (en) * | 1982-02-22 | 1986-03-18 | Texas Instruments Incorporated | Microcomputer system for digital signal processing |
JPS61262871A (ja) * | 1985-05-16 | 1986-11-20 | Nec Corp | ワンボ−ドマイクロコンピユ−タ装置 |
JPH03198173A (ja) * | 1989-12-26 | 1991-08-29 | Mitsubishi Electric Corp | ワンチップマイクロコンピュータ |
-
1997
- 1997-07-16 JP JP9191648A patent/JPH1139279A/ja active Pending
- 1997-11-11 TW TW086116870A patent/TW451134B/zh not_active IP Right Cessation
- 1997-11-20 US US08/975,204 patent/US5907507A/en not_active Expired - Lifetime
- 1997-12-15 KR KR1019970068678A patent/KR100300895B1/ko not_active IP Right Cessation
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006277012A (ja) * | 2005-03-28 | 2006-10-12 | Denso Corp | 半導体集積回路 |
JP2008176699A (ja) * | 2007-01-22 | 2008-07-31 | Renesas Technology Corp | マルチプロセッサ装置 |
US8200878B2 (en) | 2007-01-22 | 2012-06-12 | Renesas Electronics Corporation | Multi-processor device with groups of processors consisting of respective separate external bus interfaces |
US8621127B2 (en) | 2007-01-22 | 2013-12-31 | Renesas Electronics Corporation | Multi-processor device with groups of processors and respective separate external bus interfaces |
US10372654B2 (en) | 2007-01-22 | 2019-08-06 | Renesas Electronics Corporation | Multi-processor device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR19990013265A (ko) | 1999-02-25 |
KR100300895B1 (ko) | 2001-09-03 |
TW451134B (en) | 2001-08-21 |
US5907507A (en) | 1999-05-25 |
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