JPH1137720A - 被写体の位置測定方法及び装置 - Google Patents
被写体の位置測定方法及び装置Info
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Abstract
の位置測定方法及び装置を提供する。 【解決手段】 光軸がずれた第1と第2のレンズ系L
1、L2で被写体の映像をCCD1、CCD2で撮像する。
この各レンズ系による被写体の撮像面での座標値が測定
され、この座標値と撮像系の光学的パラメータ(焦点距
離)、機械的パラメータ(ずれa等)に基づき光軸に直
交する面での被写体の座標位置x1、y1及び被写体まで
の距離z1が計測される。複数の位置で特定された被写
体を撮映すると、映像に相違(ずれ)が発生することに
着目して被写体の位置を計測するものであり、簡単な構
成で正確な被写体の位置計測が可能になる。
Description
方法及び装置、更に詳細には、光軸のずれた2つの撮像
系を用いて被写体の位置を3次元的に測定する方法及び
装置に関する。
での距離を測距する方法が知られている。また、格子模
様を被写体に投射することにより被写体の立体形状を測
定する方法が知られている。
で正確な位置測定が可能な被写体の位置測定方法及び装
置を提供することを課題とするもので、複数の位置で特
定された被写体を撮映すると、映像に相違(ずれ)が発
生することに着目して被写体の位置を計測するものであ
る。
題を解決するために、光軸がずれた第1と第2のレンズ
系で被写体の映像を撮像し、各レンズ系による被写体の
撮像面での座標値を測定し、前記座標値と撮像系の光学
的、機械的パラメータに基づき光軸に直交する面での被
写体の座標位置及び被写体までの距離を計測する構成を
採用した。
被写体の像を撮像する第1の撮像装置と、第1のレンズ
系の光軸とずれた光軸を有する第2のレンズ系による被
写体の像を撮像する第2の撮像装置と、第1と第2の撮
像装置の撮像面での被写体の座標値を計測する計測手段
と、前記座標値と第1と第2の撮像装置の光学的、機械
的パラメータから光軸に直交する面での被写体の座標位
置及び被写体までの距離を演算する演算手段とを有する
構成も採用している。
より被写体の撮像装置(CCD)上の映像を記録する。
撮像装置上の光軸との交点を原点とし、撮像装置上の被
写体の映像の座標値を実測により求める。この実測を可
能にするために、映像は可能な限りピントのあった映像
(被写界深度内の映像)にする。撮像系の光学的パラメ
ータ(レンズの焦点距離)、機械的パラメータ(レンズ
節点と撮像面間の距離、両レンズ系の位置差、回転半
径,2光軸交角等)、基準点(原点)の撮像装置上の座
標を予め求めておく。上記実測された映像の座標値及び
撮像系の光学的、機械的なパラメータに基づいて被写体
の3次元座標を計算式により求める。
映像により3次元座標をオフラインあるいはリアルタイ
ムで求められる。
の光軸を一定間隔隔てて平行に配置させることにより、
あるいは、レンズの光軸を共通の回転軸を中心に所定角
度回転させることにより、あるいは、レンズの光軸を所
定角度ずらしレンズをz方向にオフセットして配置させ
ることにそれぞれ互いにずらすことができる。
づいて本発明を詳細に説明する。
定原理を示す光学図が図示されている。各図において、
被写体Aは、光軸O1とO2上に距離aを隔てて配置され
た焦点距離f1、f2のレンズL1とL2によりCCD1、
CCD2に撮像される。レンズL1、L2は、被写体Aに
対して距離z1になるように配置され、またCCD1はレ
ンズL1から距離k1の位置に、またCCD2はレンズL2
から距離k2の位置に配置される。
の点をA1、A2、被写体の先端をA3とすると、被写体
A1A3とA2A3がレンズL1、レンズL2によりCCD
1、CCD2上に映し出される像C1C3、C2C3は、各レ
ンズの被写界深度内であれば、鮮明に投映されている
が、必ずしもレンズL1、L2による正確なピントの合っ
た映像ではない。そこで、レンズL1、L2による被写体
A1A3とA2A3の結像をB1B3、B2B3とし、各CCD
上の映像とのずれをΔk1、Δk2とする。また、CCD
1とCCD2上の像のx方向に沿った長さをi1、i2、正
確に結像された像との差をΔi1、Δi2とする。
写体側と像側において光線と光軸のなす角度が同じ大き
さになる)に置き換え、また第1の光軸O1に対して
は、被写体のx軸方向の長さをx1、被写体までの距離
をz1とすると、 x1/z1=i1/k1 (1) が成立し、またレンズL1の光学式より、 1/z1+1/(k1+Δk1)=1/f1 (2) が得られる。同様に、第2の光軸O2に対しては、 (x1−a)/z1=i2/k2 (3) 1/z1+1/(k2+Δk2)=1/f2 (4) が得られる。
k2となるようにレンズとCCDとの間隔を構成する
と、 z1=(a・k1)/(i1−i2) (5’) x1=(a・i1)/(i1−i2) (6’) 従って、各CCD1、CCD2上の映像の長さi1、i2及
びCCDとレンズ間の距離k1(=k2)並びにレンズ間
の距離aを知ることにより、被写体Aまでの距離z1と
その長さx1を求めることができる。
離x1であったが、直交するy軸の距離y1(A1A4)
は、図1(B)に図示したように、CCD1でのy軸方
向の映像面の長さをj1とすると、 y1/z1=j1/k1 (7) となるので、(5)式より y1=a・{(j1・k2)/(i1・k2−i2・k1)} (8) となる。
定点とを見込む開角θaに対し、撮像素子の撮像面上に
おける測定点と光軸との間隔を節点より見込む開角θb
が等しい場合である。これらが等しくない場合には、第
1と第2の各光軸系において測定される被測定点の座標
i1、i2、j1が第1光軸系にて上述に対応する開角θa
1、θb1、第2光軸系にて対応する開角θa2、θb2に関
する次式により修正される。
(5’)、(6’)、(7)、(8)におけるi1、i
2、j1をi'1、i'2、j'1に置き換えれば、これらの式
はθa=θbの場合と同様に正確に使用することができ
る。
しては、
に対応する。
理を用いて被写体の3次元位置を測定する全体構成の概
略が図示されている。xy平面内にある被写体10は、
発光ストロボ30で照明され、固定された2つのレンズ
系11、21により同じく固定された撮像装置(以下C
CDとする)12、22に撮像される。レンズ系11は
レンズL1を、またレンズ系21はレンズL2を有し、こ
れらのレンズ系とCCDの関係は、図1、図2に示した
ような関係、すなわちレンズL1とL2の焦点距離がf
1、f2で、レンズ系11、21の光軸がx軸方向にaだ
け離れており、CCD12、22には、被写体10のピ
ントのあった像(各レンズの被写界深度内の像)が投影
されているようになっている。
6、26により順次読み出され、対応するメモリ13、
23に格納される。このメモリ13、23の内容は、演
算及び制御装置14、24により輪郭処理、映像鮮明化
処理などの信号処理が行なわれる。これらの処理が行な
われた像は、対応する表示装置15、25に表示され
る。表示装置には手動マウス31が設けられており、測
定点の指示を行なう。この測定点の指示は、予め測定点
の条件を演算及び制御装置14、24に記憶させ、それ
に基づいて自動指示を行なうようにしてもよい。
装置14、24に戻され、演算及び制御装置34で指示
された測定点の座標値が演算される。演算及び制御装置
34は、更に設定装置32で設定され、メモリ33に格
納されている撮像系の光学的、機械的パラメータ、基準
点等の情報を元に上記式に基づいて被写体のAのx、y
軸方向の位置x1、y1、y2並びに被写体までの距離z1
を演算する。
次元測定について説明する。
メータ(焦点距離f1、f2)、機械的パラメータ(光軸
間の距離a、レンズとCCD間の距離k1、k2)とCC
Dでの映像の座標値を求めるときの基準点の設定を行な
い、これをメモリ33に記憶させる。基準点は、例え
ば、CCDと光軸との交点とし、その座標値を求めてお
く。
CCD12、22により撮像する。CCD12、22上
の映像は、それぞれ被写界深度内にあり、鮮明な像とな
っている。それぞれ読出装置16、26により画素毎に
R.G.B輝度値およびアドレス値をメモリ13、23
に記憶する。演算及び制御装置14、24では、それぞ
れ第1と第2のレンズ系11、21によりCCD12、
22で撮像された映像の信号処理が行なわれる。この処
理では、測定点周辺または映像全面にわたって映像鮮明
化処理が行なわれる。これは、CCD12、22には一
応被写界深度内の映像が結像されているが、CCDの映
像面において正確な座標値の計測を可能にするためであ
る。従って、映像が不鮮明と判断される場合には、演算
及び制御装置14、24において、輪郭強調処理を行な
うようにする。
は、図4に図示したように表示装置15、25に表示さ
れる。図4(A)、(B)は光軸を座標原点P0にした
もので、設定装置32により設定することができ、これ
を原点とした被写体の映像10’(CCD結像面の映像
に対応する)がそれぞれ表示装置15、25に表示され
ていることがわかる。
行なう。例えば測定点がP1であるとする。この情報か
ら、演算及び制御装置14、24を介してP1に対応す
る座標値(i1、j1)、(i2、j2)(j1=j2)がメ
モリ13、23から取得され、演算及び制御装置34に
送られる。
並びにメモリ33から取得される光学的、機械的パラメ
ータから上記式に基づいて被写体の3次元の位置情報
(x1、y1、z1)を計算する。この計算結果は表示装
置15あるいは25に表示される。
図4(A)、(B)に示したように、光軸との交点P0
でなくても、z方向の2点間の距離を求めるのであれば
(f1=f2、k1=k2として)、図4(C)、(D)の
ようにP0から(e、f)方向にずれた任意の点P0’を
原点とすることもできる。
原点から測定点までの長さ(i1、i2、j1)(j2=j
1)の内、いずれか著しく小さな値がある場合は、その
光学系のみ、レンズ倍率をあげるか又はCCD画素密度
を上げることにより計算精度を上げることができる。そ
の場合には、設定倍率などを設定装置32を介してメモ
リ33に格納し、座標値の演算のときに用いるようにす
る。
各CCD12、22には焦点深度内で鮮明な画像が得ら
れており、その画像の座標値計測が可能になっているこ
とが前提となっている。その場合、レンズ系11、21
及びCCD12、22は位置が固定されているので、こ
の前提がくずれる場合がある。従って、図5、図6に示
したように、レンズ系あるいはCCDを移動可能な状態
にし、常にCCDには鮮明な像が得られるようにする。
を可動にし、また図5(B)の例では、レンズ系11、
21並びにCCD12、22を可動にする。このとき、
その移動量を設定装置32に入力し、予め設定されてい
るパラメータ(k1、k2等)を自動的に修正するように
する。これらの構成により、遠、中、近のいずれかの被
写体に、あるいは遠、中、近の被写体に順次合焦させて
静止した被写体の位置測定を行なうことが可能になる。
Dとも固定であるが、第1の撮像系のCCDがそれぞれ
遠距離、中距離、近距離の被写体に合焦する位置に配置
された3つのCCD12a、12b、12cからなり、
同様に、第2の撮像系のCCDがそれぞれ遠距離、中距
離、近距離の被写体に合焦する位置に配置された3つの
CCD22a、22b、22cから構成されている。各
CCD12a〜22cはそれぞれ独立しており、反射、
透過プリズムを介して、映像が入射されるか、あるいは
レゾセンスプリズム(商品名)に固着されて映像が入射
される。レゾセンスプリズムは、複数のプリズムと3個
のCCDより成り、撮像レンズを通過した映像光線を3
分割してその各々を3個のCCDへ導くもので、その
際、3個のCCDの受ける映像は、すべて可能な限り大
きくかつ同じ被写体範囲となるようにプリズム角度と3
個のCCDの位置が調節されている。図5(C)の実施
形態の場合には、いずれか鮮明に撮像されているCCD
の映像を選択するか、又は遠距離、中距離、近距離にピ
ントを合わせた映像を合成して全距離にわたって鮮明に
なった映像を用いることにより測定が行なわれ、動的な
被写体にも対応することができる。
構成を変形させたもので、レンズ系11、21を可動
に、またCCDを可動または固定にしたもので、更に広
い範囲の被写体の3次元計測が可能になる。また、図6
(B)の構成は、予めレンズ系11、21、CCD1
2、22を固定しておき、その全体を可動にしたもの
で、被写体焦点深度が極めて短い(顕微鏡写真等)の場
合を含めて同様に広い範囲の被写体の計測に利用するこ
とができる。このように、レンズ系11、21とCCD
12、22とを固定した場合は、レンズ系とCCDとを
一体として、対象の表面の凹凸に合わせて移動し、レン
ズ―被写体距離が一定の撮映に最適な状態の下で鮮明な
映像が得られるようになるので、顕微鏡写真等に適する
ものである。
系11とCCD12の組みと、レンズ系11’と遠、
中、近の被写体に合焦するように配置されたCCD12
a〜12cの組みを選択できるようにしたもので、経済
的に高分解能を得ることができ、同様に広い被写体の計
測に適用することができる。即ち、図6(C)に示すよ
うに、レンズ―1CCD、およびレンズ―3CCDの2
系統、第2光軸にレンズ―1CCDの1系統が備えられ
ている場合、第1光軸系において計測する長さi1に対
しては、高分解能でかつ縦横寸法の大きな大面積のCC
Dを用いて測り、一方第2光軸系において計測する長さ
はi2=0となるように被写体と光学系を設定すれば、
第2の系統は大面積のCCDを用いる必要がなくなる。
即ち、i2=0ならば、i1のみを高分解能で計測すれば
よいので、経済的に高分解能で計測を行なうことができ
る。
れは、互いに平行なずれであったが、この例に限定され
ず、図7(A)、(B)に示すように、光軸O1とO2が
回転中心Sを中心に半径Qで角度θずれるようにしても
よい。この場合のx1、z1は、次のような式になる。
らレンズがwオフセットしている場合でもよい。この場
合のx1、z1は、
ータθ、w、Q等は設定装置32により設定し、これを
メモリ33に格納しておく。
で充分照明されている場合は、不要であり、また発光ス
トロボを多色逐次発光ストロボとして、図9に示すよう
に、ストロボを色フィルタを介して点灯し、被写体10
を逐次多色に照明するようにしてもよい。図9(A)
は、被写体10が、順次赤、黄、緑、青、白の順で照明
される状態を、また(B)は、赤、黄、緑、青、白のフ
ィルタ40a〜40eを円板40に同心円状に設けて円
板40を回転させることにより、同様な効果を与えるこ
とができることが示されている。このように多色(5
色)のストロボライトを一定時間間隔で発光することに
より1フレームの撮像時間の1/5の時間分解能を得る
ことができる。即ち、N色のストロボライトにより、1
/Nの時間分解能が得られる。
は撮像素子(CCD)の間隔に依存している。従って、
測長の分解能を上げるためには、高分解能の撮像素子を
用いる他に、撮像素子を小刻みに移動させることも考え
られる。即ち、撮像素子を上下、左右に1画素間隔の整
数分の1(1/M)だけ移動し、撮像を繰返し、1画素
間隔分移動する間に得た幾組みかの映像の内、測長目標
点が映像上で認識できない時から、認識できるように転
換したときの画素位置を検知すれば、目標点の座標値を
より正確に求めることができる。
がずれた撮像系で被写体の映像を撮像し、各映像の座標
値を測定して、この座標値と撮像系の光学的、機械的パ
ラメータに基づき被写体の座標位置を計測するようにし
ているので、簡単な構成で正確な被写体の位置計測が可
能になる。
る。
る。
明する説明図である。
明する説明図である。
である。
Claims (2)
- 【請求項1】 光軸がずれた第1と第2のレンズ系で被
写体の映像を撮像し、 各レンズ系による被写体の撮像面での座標値を測定し、 前記座標値と撮像系の光学的、機械的パラメータに基づ
き光軸に直交する面での被写体の座標位置及び被写体ま
での距離を計測することを特徴とする被写体の位置測定
方法。 - 【請求項2】 第1のレンズ系による被写体の像を撮像
する第1の撮像装置と、 第1のレンズ系の光軸とずれた光軸を有する第2のレン
ズ系による被写体の像を撮像する第2の撮像装置と、 第1と第2の撮像装置の撮像面での被写体の座標値を計
測する計測手段と、 前記座標値と第1と第2の撮像装置の光学的、機械的パ
ラメータから光軸に直交する面での被写体の座標位置及
び被写体までの距離を演算する演算手段と、 を有することを特徴とする被写体の位置測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19034697A JPH1137720A (ja) | 1997-07-16 | 1997-07-16 | 被写体の位置測定方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19034697A JPH1137720A (ja) | 1997-07-16 | 1997-07-16 | 被写体の位置測定方法及び装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1137720A true JPH1137720A (ja) | 1999-02-12 |
Family
ID=16256675
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19034697A Pending JPH1137720A (ja) | 1997-07-16 | 1997-07-16 | 被写体の位置測定方法及び装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH1137720A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005250159A (ja) * | 2004-03-04 | 2005-09-15 | Nec Viewtechnology Ltd | 距離傾斜角度測定装置を有するプロジェクタ |
US7508513B2 (en) | 2005-04-28 | 2009-03-24 | Nhk Spring Co., Ltd. | Measuring apparatus and measuring method |
CN110132225A (zh) * | 2019-05-10 | 2019-08-16 | 西安电子科技大学 | 单目斜置非共轴透镜测距装置 |
-
1997
- 1997-07-16 JP JP19034697A patent/JPH1137720A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005250159A (ja) * | 2004-03-04 | 2005-09-15 | Nec Viewtechnology Ltd | 距離傾斜角度測定装置を有するプロジェクタ |
JP4535749B2 (ja) * | 2004-03-04 | 2010-09-01 | Necディスプレイソリューションズ株式会社 | 距離傾斜角度測定装置を有するプロジェクタ |
US7508513B2 (en) | 2005-04-28 | 2009-03-24 | Nhk Spring Co., Ltd. | Measuring apparatus and measuring method |
CN110132225A (zh) * | 2019-05-10 | 2019-08-16 | 西安电子科技大学 | 单目斜置非共轴透镜测距装置 |
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