JPH11347938A - 研磨生成物の排出機構及び研磨装置 - Google Patents
研磨生成物の排出機構及び研磨装置Info
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- JPH11347938A JPH11347938A JP10159473A JP15947398A JPH11347938A JP H11347938 A JPH11347938 A JP H11347938A JP 10159473 A JP10159473 A JP 10159473A JP 15947398 A JP15947398 A JP 15947398A JP H11347938 A JPH11347938 A JP H11347938A
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- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
- Grinding-Machine Dressing And Accessory Apparatuses (AREA)
Abstract
る研磨生成物を効果的に排出できる研磨生成物の排出機
構及び研磨装置を提供する。 【解決手段】 砥石10の砥石面に被研磨物100の被
研磨面を押し付けて双方を相対運動させることによって
被研磨面を研磨する。砥石面上に研磨によって発生する
研磨生成物を捕捉する研磨生成物の捕捉治具30と、該
捕捉治具30によって捕捉された研磨生成物を外部に排
出せしめる流体噴射ノズル43とを設置する。
Description
ハードディスク、ガラス基板、液晶パネルなどの被研磨
物を研磨する際に生じる研磨生成物の排出機構及び研磨
装置に関するものである。
おいて用いられるCMP(化学機械研磨)装置は、ター
ンテーブル上に貼り付けた研磨クロス面上に、回転する
トップリングに装着された被研磨基板を当接すると共
に、研磨クロス上に研磨スラリを供給しながら、被研磨
基板の被研磨面を研磨(遊離砥粒研磨)するように構成
したものである。しかしながらこのCMP装置の場合、
被研磨面のパターンの種類や段差(凹凸)の状態によっ
ては十分に平坦化できないという問題等があった。
砥石に被研磨基板を押し付けて砥石面に砥液(溶液)を
供給しながら双方を相対運動させることで被研磨基板を
研磨する、固定砥粒研磨法が開発されている。
いて被研磨基板を研磨すると、研磨によって生じる研磨
くず(研磨生成物)が砥石面や被研磨基板の被研磨面上
に残存し、この研磨くずによって被研磨基板の被研磨面
にスクラッチ(キズ)が入りやすくなってしまうという
問題点があった。一方従来この研磨生成物の効果的な排
出手段はほとんどなかった。
ありその目的は、砥石によって被研磨基板を研磨した際
に生じる研磨生成物を効果的に排出できる研磨生成物の
排出機構及び研磨装置を提供することにある。
め本発明は、砥石面に被研磨物の被研磨面を押し付けて
双方を相対運動させることによって被研磨面を研磨した
際に生じる研磨生成物を排出する研磨生成物の排出機構
において、前記研磨生成物の排出機構を、砥石面上の研
磨生成物を捕捉する研磨生成物捕捉手段と、該研磨生成
物捕捉手段によって捕捉された研磨生成物を外部に排出
せしめる研磨生成物排出手段とを具備して構成した。ま
た本発明は、砥石面に被研磨物の被研磨面を押し付けて
双方を相対運動させることによって被研磨面を研磨した
際に生じる研磨生成物を排出する研磨生成物の排出機構
において、前記研磨生成物の排出機構を、砥石面上に液
体又は気体を吹き付けて該砥石面に入り込んだ研磨生成
物を除去する流体吹付手段を具備して構成した。また本
発明は、砥石面に被研磨物の被研磨面を押し付けて双方
を相対運動させることによって被研磨面を研磨した際に
生じる研磨生成物を排出する研磨生成物の排出機構にお
いて、前記研磨生成物の排出機構を、砥石面の目立てを
行なう目立て手段と、該目立て手段によって砥石面上に
取り出された研磨生成物を外部に排出する研磨生成物排
出手段とを具備して構成した。また本発明は、砥石面に
被研磨物の被研磨面を押し付けて双方を相対運動させる
ことによって被研磨面を研磨した際に生じる研磨生成物
を排出する研磨生成物の排出機構において、前記研磨生
成物の排出機構を、砥石面に研磨生成物排出用の溝から
なる研磨生成物排出手段を設けて構成した。また本発明
は、前記研磨生成物排出手段を、前記研磨生成物排出用
の溝の他に、該溝に沿って液体又は気体を噴射すること
で該溝内の研磨生成物を外部に排出する流体噴射手段を
具備して構成した。また本発明は、前記研磨生成物排出
手段を、前記研磨生成物排出用の溝の他に、該溝内から
前記被研磨物の被研磨面に向かって液体又は気体を噴射
することで被研磨面に付着した研磨生成物を除去する流
体噴射手段を具備して構成した。また本発明は、砥石
と、被研磨物と、前記砥石に被研磨物の被研磨面を押し
付けて双方を相対運動させることで該被研磨物を研磨す
る相対運動手段とを具備してなる研磨装置に、前記何れ
かの研磨生成物の排出機構を設けた。
基づいて詳細に説明する。
一実施形態を適用してなる研磨装置の要部概略側面図、
図1(b)と図1(c)はそれぞれ砥石10と捕捉治具
30等の配置関係を示す要部概略平面図と要部概略斜視
図である。
5に取り付けた円板形状の砥石10の上面(砥石面)
に、半導体ウエハ(被研磨物)100を保持したトップ
リング20や捕捉治具30や流体噴射ノズル43等を設
置して構成されている。以下各構成部品について説明す
る。
粒子径が2μm以下のCeO2又はSiO2又はAl2
O3又はZrO2又はMnO2又はMn2O3等からな
る砥粒を、ポリイミド樹脂又はフェノール樹脂又はウレ
タン又はPVA(ポリビニルアルコール)等からなる結
合剤によって固めて構成されている。また台座15は砥
石10と同じ外形形状を有し、回転盤17上に固定され
ている。
よって砥石10の上面以外の位置で半導体ウエハ100
を装着した上で砥石10上の図示する位置に移動するよ
うに動作する。
筒状のブラシやスポンジ(他の弾性体でも良い)等で構
成されており、その両端を軸支棒31,33によって軸
支し、一方の軸支棒33に取り付けたモータ35によっ
て回転駆動されるように構成されている。
定され、支持台37はアーム39に吊り下げられてい
る。そしてアーム39に設けたエアシリンダ41を駆動
することで支持台37が上下動自在となるように構成さ
れている。また支持台37の軸支棒31近傍には流体噴
射ノズル(研磨生成物排出手段)43が取り付けられて
いる。
に点線で示す位置においてその研磨が行なわれるが、捕
捉治具30は該研磨位置の下流側であって、且つ砥石1
0の中心から半径方向に向かって外周に至るように設置
されている。
上流側直前であって、噴射する流体(例えば水)が砥石
10の中心から捕捉治具30に沿って半径方向外方に噴
射されるように設置されている。
明する。まず回転駆動している砥石10の研磨位置にト
ップリング20に保持した半導体ウエハ100を回転駆
動しながら押し付け、同時に図示しない砥液供給機構か
ら砥液(溶液)を供給し、これによって半導体ウエハ1
00の被研磨面の研磨を行なう。このとき生じる研磨生
成物(研磨くず)は砥石10の表面に付着したままとな
る。
持台37を下降し、図1に示すように捕捉治具30を砥
石10表面に押し付け、同時にモータ35を駆動するこ
とでこの捕捉治具30を回転駆動する。
砥石10表面に付着した研磨生成物は、捕捉治具30の
所で捕捉される。そして流体噴射ノズル43から流体を
噴射すれば、捕捉されていた研磨生成物が砥石10の表
面から吹き飛ばされて排出できる。流体噴射ノズル43
からの流体の噴射は捕捉治具30を砥石10に押し付け
ている間中行なっても良いし、間歇的に行なっても良
い。そのノズル43からの噴射液体圧力は5kgf/c
m2以上が好ましい。
状に形成して回転駆動するように構成したが、これを回
転駆動させないで単に砥石10の砥石面に押圧するだけ
としても良い。その場合例えば図2に示す捕捉治具30
−2のように四角柱形状に形成しても良い。また図3に
示す捕捉治具30−3のように棒を円弧型に形成しても
良い。また図4に示すように捕捉治具30−4を水車型
に形成し、これを回転駆動するように構成しても良い。
何れの場合も捕捉した研磨生成物を砥石10の外部に排
出できる位置に液体噴射ノズル43−2,3,4を設置
する。
ず、どのような構造,作用のものでも良く、要は研磨中
の砥石面上の研磨生成物を捕捉することができる構造の
研磨生成物捕捉手段であれば良い。
定されず、どのような構造,作用のものでも良く、要は
前記研磨生成物捕捉手段によって捕捉された砥石面上の
研磨生成物を外部に排出せしめることができる構造の研
磨生成物排出手段であれば良い。
形態を示す図であり、同図(a)は要部概略側面図、同
図(b)は要部概略平面図、同図(c)はその変形例に
かかる要部概略平面図である。
座15と砥石10とを取り付けて回転駆動する点と、半
導体ウエハ100をトップリング(図示せず)によって
砥石10に当接して回転駆動する点は前記図1に示すも
のと同一なので、その詳細な説明は省略する。
においては、研磨中の砥石10の砥石面上に流体(液体
又は気体)を吹き付ける流体吹付手段50を設置してい
る。
ル支持盤51の下面中央に、一列に8個の流体噴射ノズ
ル53を取り付けて構成されている。流体噴射ノズル5
3からは例えば高圧水等を噴射する。その圧力はウォー
タージェット噴射程度、例えば20kgf/cm2以上
が好ましい。ノズル支持盤51は駆動軸57によって回
転駆動される。
手段50の下流側に、別途流体噴射ノズル(研磨生成物
排出手段)55を設置している。流体噴射ノズル55は
砥石10の中央から半径方向外側に向けて流体(例えば
水)を噴射するように設置されている。
半導体ウエハ100を点線で示す位置で砥石10に当接
して回転駆動し、同時に砥石10を矢印方向に回転駆動
することで半導体ウエハ100の被研磨面を研磨する。
そのとき同時にノズル支持盤51を矢印方向に回転しな
がら各流体噴射ノズル53から水などの流体を例えば高
圧で噴射して砥石10の面に吹き付ければ、半導体ウエ
ハ100の研磨で砥石10表面の微細な凹凸に入り込ん
でいた研磨生成物が浮き上がり、該流体と共に砥石10
の表面から排出される。
段50の下流側に別途流体噴射ノズル55を設置して砥
石10の半径方向外側に向けて流体を噴射するようにし
ているので、前記研磨生成物はさらに効率的に砥石10
表面から排除される。
噴射ノズル55の下流側に、前記第一発明で用いたと同
様の捕捉治具59を設置しておけばさらに効果的に研磨
生成物が排出できる。
や捕捉治具59は必ずしも必要なく、流体吹付手段50
のみを設置することでも研磨生成物の排出が行なえる。
限定されず、種々の変形が可能であり、要は研磨中の砥
石面上に液体又は気体を吹き付けて該砥石面に入り込ん
だ研磨生成物を除去する構造であればどのような構造の
ものであっても良い。
形態を示す図であり、同図(a)は要部概略側面図、同
図(b)は要部概略平面図、同図(c)はその変形例に
かかる要部概略平面図である。
台座15と砥石10とを取り付けて回転駆動する点と、
半導体ウエハ100をトップリング(図示せず)によっ
て砥石10に当接して回転駆動する点は前記図1に示す
ものと同一なので、その詳細な説明は省略する。
においては、研磨中の砥石10の砥石面上に砥石10の
目立て(ドレッシング)を行なう目立て手段60を設置
している。
61の下面に、円板形状の目立て板63を取り付けて構
成されている。目立て盤63は、例えば金属板表面に♯
400のダイヤモンドを電着したものを用いる。支持盤
61は駆動軸67によって回転駆動される。
段60の下流側に流体噴射ノズル(研磨生成物排出手
段)65を設置している。
半導体ウエハ100を点線で示す位置で砥石10に当接
・回転して半導体ウエハ100の被研磨面を研磨する際
に、同時に目立て手段60を矢印方向に回転することで
砥石10表面の目立てを行なう。
の研磨で砥石10表面の微細な凹凸内に入り込んでいた
研磨生成物が砥石10表面に取り出される。そしてその
下流に設置した流体噴射ノズル65から砥石10の半径
方向外側に向けて流体を噴射することで、前記研磨生成
物は該流体と共に効率的に砥石10表面から排除され
る。
噴射ノズル65の下流側に、前記図1の実施形態等で用
いたと同様の捕捉治具69を設置しておけばさらに効果
的に研磨生成物を排除できる。
定されず、砥石面の目立てを行なう目立て手段であれば
どのような構造のものであっても良い。また流体噴射ノ
ズル65や捕捉治具69の構造も要は、目立て手段によ
って砥石面上に取り出された研磨生成物を外部に排出す
る構造のものであればどのような構造のものであっても
良い。
形態に用いる砥石70を示す図であり、同図(a)は平
面図、同図(b)は側断面図(同図(a)のB−B断面
図)である。
70の砥石面に研磨生成物排出用の多数本の溝(研磨生
成物排出手段)71を平行に設けることで構成されてい
る。
に接着剤77によって該台座75と略同一寸法形状の円
板状の砥石70を貼り付け、その後該砥石70及び接着
剤77を平行にカットすることで溝71を形成して製造
される。このとき例えば砥石70の厚みを5mm、砥石7
0の外径をφ600mm、溝71の幅を2mm、溝71間ピ
ッチを20〜100mmとする。
0の砥石面に、被研磨物の被研磨面を押し付けて双方を
相対運動させるという通常の研磨方法を用いるだけで、
研磨生成物の排出が行なえる。
に保持された図示しない半導体ウエハを当接し、砥石7
0の砥石面に砥液(溶液)を供給しながら砥石70を回
転すると同時に半導体ウエハ100を回転して半導体ウ
エハ100を研磨すると、発生した研磨生成物は溝71
内に落ち込み、砥液とともに外部に排出される。
示すように格子状に形成しても良いし、図8(b)に示
すように菱形形状に形成しても良いし、図8(c)に示
すように放射状に形成しても良い等、種々の変形が可能
である。
る砥石80を示す図であり、同図(a)は平面図、同図
(b)は1つの溝81部分を拡大して示す動作説明図、
同図(c)は同図(b)と同一部分をそれと直交する方
向において切断した動作説明図である。
5の上に接着剤87を介して貼り付けた砥石80の砥石
面に研磨生成物排出用の多数本の溝81を平行に設ける
とともに、該溝81に沿ってその両側に流体(液体又は
気体)を噴射することで該溝81内の研磨生成物を外部
に排出する流体噴射ノズル(流体噴射手段)83を各溝
81内の中央に設置することで構成されている。
表面にトップリングに保持された図示しない半導体ウエ
ハを当接し、砥石80の砥石面に砥液(溶液)を供給し
ながら砥石80を回転すると同時に半導体ウエハを回転
して半導体ウエハを研磨する。その際に発生する研磨生
成物は溝81内に落ち込み、砥液とともに外部に排出さ
れる。しかもそのとき同時に流体噴射ノズル83から溝
81を切った方向両側に向けて水などの流体を噴射する
ので、さらに確実に溝81内に落ち込んだ研磨生成物の
排出ができる。
状、構造、設置位置等に種々の変形が可能であることは
言うまでもない。
態に用いる砥石90を示す図であり、同図(a)は平面
図、同図(b)は1つの溝91部分を拡大して示す動作
説明図、同図(c)は同図(b)と同一部分をそれと直
交する方向において切断した動作説明図である。
5の上に接着剤97によって貼り付けた砥石90の砥石
面に研磨生成物排出用の多数本の溝91を平行に設ける
とともに、砥石90上に載置される半導体ウエハ100
の被研磨面に向かって(即ち砥石90の砥石面から垂直
上方に向かって)流体(液体又は気体)を噴射する流体
噴射ノズル(流体噴射手段)93を該溝91内に設置し
て構成されている。各流体噴射ノズル93は半導体ウエ
ハ100を研磨する軌跡内にリング状に設置されてい
る。
砥石表面にトップリングに保持された半導体ウエハを当
接し、砥液(溶液)を供給しながら砥石90を回転する
と同時に半導体ウエハ100を回転して半導体ウエハ1
00を研磨する。その際発生する研磨生成物は溝91内
に落ち込み、砥液とともに外部に排出される。しかもそ
のとき同時に流体噴射ノズル93からこれに当接する半
導体ウエハ100の被研磨面に水などの流体を噴射する
ので、半導体ウエハ100の表面に付着していた研磨生
成物も洗い落すことができ、さらに効果的に研磨生成物
の排出ができる。
は間歇的で、その真上に半導体ウエハ100が位置した
ときのみ行なうようにする。
形状、構造、設置位置等に種々の変形が可能であること
は言うまでもない。
構は、図1などに示すテーブル型の研磨装置だけでな
く、いわゆるスクロール型の研磨装置にも適用できる。
研磨生成物の排出機構を用いた研磨装置とともに、前記
従来の技術の欄で説明した研磨クロスなどからなるCM
P装置を設置し、本発明にかかる砥石を用いた研磨装置
による研磨の前後の工程でCMP装置によって被研磨基
板を研磨するように構成しても良い。
によれば、砥石の砥石面や被研磨基板の被研磨面から研
磨生成物が効果的に除去・排出されるので、研磨中の被
研磨面のスクラッチ(キズ)の発生が効果的に抑制され
るという優れた効果を有する。
してなる研磨装置の要部概略側面図、図1(b)と図1
(c)はそれぞれ砥石10と捕捉治具30等の配置関係
を示す要部概略平面図と要部概略斜視図である。
図(a)は要部概略側面図、同図(b)は要部概略平面
図、同図(c)はその変形例にかかる要部概略平面図で
ある。
図(a)は要部概略側面図、同図(b)は要部概略平面
図、同図(c)はその変形例にかかる要部概略平面図で
ある。
示す図であり、同図(a)は平面図、同図(b)は側断
面図(同図(a)のB−B断面図)である。
四発明の他の実施形態を示す図である。
を示す図であり、同図(a)は平面図、同図(b)は溝
81部分を拡大して示す動作説明図、同図(c)は同図
(b)と同一部分をそれと直交する方向において切断し
た動作説明図である。
砥石90を示す図であり、同図(a)は平面図、同図
(b)は溝91部分を拡大して示す動作説明図、同図
(c)は同図(b)と同一部分をそれと直交する方向に
おいて切断した動作説明図である。
Claims (6)
- 【請求項1】 砥石面に被研磨物の被研磨面を押し付け
て双方を相対運動させることによって被研磨面を研磨し
た際に生じる研磨生成物を排出する研磨生成物の排出機
構において、 前記研磨生成物の排出機構は、砥石面上の研磨生成物を
捕捉する研磨生成物捕捉手段と、該研磨生成物捕捉手段
によって捕捉された研磨生成物を外部に排出せしめる研
磨生成物排出手段とを具備して構成されていることを特
徴とする研磨生成物の排出機構。 - 【請求項2】 砥石面に被研磨物の被研磨面を押し付け
て双方を相対運動させることによって被研磨面を研磨し
た際に生じる研磨生成物を排出する研磨生成物の排出機
構において、 前記研磨生成物の排出機構は、砥石面上に液体又は気体
を吹き付けて該砥石面に入り込んだ研磨生成物を除去す
る流体吹付手段を具備して構成されていることを特徴と
する研磨生成物の排出機構。 - 【請求項3】 砥石面に被研磨物の被研磨面を押し付け
て双方を相対運動させることによって被研磨面を研磨し
た際に生じる研磨生成物を排出する研磨生成物の排出機
構において、 前記研磨生成物の排出機構は、砥石面の目立てを行なう
目立て手段と、該目立て手段によって砥石面上に取り出
された研磨生成物を外部に排出する研磨生成物排出手段
とを具備して構成されていることを特徴とする研磨生成
物の排出機構。 - 【請求項4】 砥石面に被研磨物の被研磨面を押し付け
て双方を相対運動させることによって被研磨面を研磨し
た際に生じる研磨生成物を排出する研磨生成物の排出機
構において、 前記研磨生成物の排出機構は、砥石面に研磨生成物排出
用の溝からなる研磨生成物排出手段を設けて構成されて
いることを特徴とする研磨生成物の排出機構。 - 【請求項5】 前記研磨生成物排出手段は、前記研磨生
成物排出用の溝の他に、該溝に沿って液体又は気体を噴
射することで該溝内の研磨生成物を外部に排出する流体
噴射手段を具備して構成されていることを特徴とする請
求項4記載の研磨生成物の排出機構。 - 【請求項6】 砥石と、被研磨物と、前記砥石に被研磨
物の被研磨面を押し付けて双方を相対運動させることで
該被研磨物を研磨する相対運動手段とを具備してなる研
磨装置において、 被研磨面を研磨した際に生じる研磨生成物を排出する手
段として請求項1乃至5の内の何れか1項記載の研磨生
成物の排出機構を設けたことを特徴とする研磨装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10159473A JPH11347938A (ja) | 1998-06-08 | 1998-06-08 | 研磨生成物の排出機構及び研磨装置 |
TW88121347A TW421619B (en) | 1998-06-08 | 1999-12-07 | Discharging mechanism of product from polishing and polishing device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10159473A JPH11347938A (ja) | 1998-06-08 | 1998-06-08 | 研磨生成物の排出機構及び研磨装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11347938A true JPH11347938A (ja) | 1999-12-21 |
Family
ID=15694548
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10159473A Pending JPH11347938A (ja) | 1998-06-08 | 1998-06-08 | 研磨生成物の排出機構及び研磨装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11347938A (ja) |
TW (1) | TW421619B (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103100979A (zh) * | 2012-12-24 | 2013-05-15 | 吴江市神州双金属线缆有限公司 | 切削加工装置 |
US8777129B2 (en) | 2007-09-18 | 2014-07-15 | Flow International Corporation | Apparatus and process for formation of laterally directed fluid jets |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8057282B2 (en) * | 2008-12-23 | 2011-11-15 | Rohm And Haas Electronic Materials Cmp Holdings, Inc. | High-rate polishing method |
JP7218731B2 (ja) * | 2020-01-09 | 2023-02-07 | 信越半導体株式会社 | ラッピング装置の洗浄装置 |
-
1998
- 1998-06-08 JP JP10159473A patent/JPH11347938A/ja active Pending
-
1999
- 1999-12-07 TW TW88121347A patent/TW421619B/zh not_active IP Right Cessation
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW421619B (en) | 2001-02-11 |
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