JPH11251622A - 光結合半導体装置 - Google Patents
光結合半導体装置Info
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- JPH11251622A JPH11251622A JP6472698A JP6472698A JPH11251622A JP H11251622 A JPH11251622 A JP H11251622A JP 6472698 A JP6472698 A JP 6472698A JP 6472698 A JP6472698 A JP 6472698A JP H11251622 A JPH11251622 A JP H11251622A
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- light emitting
- emitting element
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 多数の光結合素子を1パッケージ内に形成
し、多チャンネル化した光結合半導体装置を提供する。 【解決手段】 ディスクリートの発光素子11と、主面
に電極が形成されたプレーナ型の受光素子1とを具備
し、発光素子11の発光面と受光素子1の受光面とを対
向配置してなる光結合素子を1つのパッケージ内に複数
個内蔵した光結合半導体装置において、受光素子1の主
面の裏面に凹部を形成し、該凹部内に発光素子11を収
納し、受光素子1の受光面を凹部底面とする。
し、多チャンネル化した光結合半導体装置を提供する。 【解決手段】 ディスクリートの発光素子11と、主面
に電極が形成されたプレーナ型の受光素子1とを具備
し、発光素子11の発光面と受光素子1の受光面とを対
向配置してなる光結合素子を1つのパッケージ内に複数
個内蔵した光結合半導体装置において、受光素子1の主
面の裏面に凹部を形成し、該凹部内に発光素子11を収
納し、受光素子1の受光面を凹部底面とする。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は対向する発光素子と
受光素子で構成する光結合素子が搭載された半導体装置
に関し、特に、小パッケージ化または多ピン化に適した
光結合半導体装置に関する。
受光素子で構成する光結合素子が搭載された半導体装置
に関し、特に、小パッケージ化または多ピン化に適した
光結合半導体装置に関する。
【0002】
【従来技術】光結合素子は、入出力間が電気的に絶縁さ
れており、アイソレータとして最適の素子である。例え
ば、装置間の情報伝達に用いられる回路内に光結合素子
を使用すると、その入出力端子の接地についての配慮は
全く不要で、回路構成が非常に簡単になる。
れており、アイソレータとして最適の素子である。例え
ば、装置間の情報伝達に用いられる回路内に光結合素子
を使用すると、その入出力端子の接地についての配慮は
全く不要で、回路構成が非常に簡単になる。
【0003】一般的に、ホトカプラに代表されるような
光結合半導体装置は、発光素子と受光素子の2チップを
それぞれの発光面と受光面を対向配置して光結合素子を
構成し、これを一つのパッケージに納めて形成してい
る。それぞれの素子を別々のリードフレーム上に組み立
て、向かい合わせてモールドするというような複雑な組
立を要する方式も取られるが、特開昭58−20058
3等に見られるように、受光素子内にホトダイオードと
共に他回路もモノリシックに形成し、その上に発光素子
を搭載するといったマルチチップ方式の光結合半導体装
置も提供されており、低工数化、多機能化を実現してい
る。
光結合半導体装置は、発光素子と受光素子の2チップを
それぞれの発光面と受光面を対向配置して光結合素子を
構成し、これを一つのパッケージに納めて形成してい
る。それぞれの素子を別々のリードフレーム上に組み立
て、向かい合わせてモールドするというような複雑な組
立を要する方式も取られるが、特開昭58−20058
3等に見られるように、受光素子内にホトダイオードと
共に他回路もモノリシックに形成し、その上に発光素子
を搭載するといったマルチチップ方式の光結合半導体装
置も提供されており、低工数化、多機能化を実現してい
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、これら
の方式では、発光素子から照射される光が四方に拡散す
るため、光結合素子は1パッケージに例えば3個という
ように、数個しか構成できない。なぜなら、多数の光結
合素子を形成すると、各素子間の距離が狭まり、その内
の1つの受光素子がこれとは対にならない発光素子の照
射光を受光してしまうからである。
の方式では、発光素子から照射される光が四方に拡散す
るため、光結合素子は1パッケージに例えば3個という
ように、数個しか構成できない。なぜなら、多数の光結
合素子を形成すると、各素子間の距離が狭まり、その内
の1つの受光素子がこれとは対にならない発光素子の照
射光を受光してしまうからである。
【0005】ここで、例えばホトカプラでAND回路を
構成するとき、図4のような回路構成となるが、このA
ND回路3つを要するTTLを構成するとき、従来では
少なくとも2つのホトカプラが必要となる。即ち、実装
基板上には少なくとも2つのホトカプラが実装されるこ
ととなる。
構成するとき、図4のような回路構成となるが、このA
ND回路3つを要するTTLを構成するとき、従来では
少なくとも2つのホトカプラが必要となる。即ち、実装
基板上には少なくとも2つのホトカプラが実装されるこ
ととなる。
【0006】今後、複数の高周波回路と低周波回路、換
言すればGaAsICとSiIC相互の信号授受は、マ
ルチメディアの発展とともに増加する可能性を秘めてお
り、1つのパッケージに多数の光結合素子を搭載した半
導体装置を提供することには大きな利点がある。
言すればGaAsICとSiIC相互の信号授受は、マ
ルチメディアの発展とともに増加する可能性を秘めてお
り、1つのパッケージに多数の光結合素子を搭載した半
導体装置を提供することには大きな利点がある。
【0007】従って本発明の目的は、多数の光結合素子
を1パッケージ内に形成し、多チャンネル化した光結合
半導体装置を提供することにある。
を1パッケージ内に形成し、多チャンネル化した光結合
半導体装置を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の光結合半導体装置は、ディスクリートの発
光素子と、主面に電極が形成されたプレーナ型の受光素
子とを具備し、前記発光素子の発光面と前記受光素子の
受光面とを対向配置してなる光結合素子を1つのパッケ
ージ内に複数個内蔵した光結合半導体装置において、前
記受光素子主面の裏面に凹部が形成され、該凹部内に前
記発光素子が収納され、前記受光素子の前記受光面を前
記凹部底面としたことを特徴とする。
め、本発明の光結合半導体装置は、ディスクリートの発
光素子と、主面に電極が形成されたプレーナ型の受光素
子とを具備し、前記発光素子の発光面と前記受光素子の
受光面とを対向配置してなる光結合素子を1つのパッケ
ージ内に複数個内蔵した光結合半導体装置において、前
記受光素子主面の裏面に凹部が形成され、該凹部内に前
記発光素子が収納され、前記受光素子の前記受光面を前
記凹部底面としたことを特徴とする。
【0009】また、前記発光素子はアセンブリ基板に前
記発光面の裏面を対向させて実装し、前記受光素子は前
記アセンブリ基板に該受光素子主面の裏面を対向させて
実装し、前記凹部と前記アセンブリ基板で前記発光素子
を囲む構成としてもよい。
記発光面の裏面を対向させて実装し、前記受光素子は前
記アセンブリ基板に該受光素子主面の裏面を対向させて
実装し、前記凹部と前記アセンブリ基板で前記発光素子
を囲む構成としてもよい。
【0010】また、前記受光素子をアセンブリ基板に前
記主面を対向させて実装し、前記主面の裏面から前記凹
部底面の一部に延在する金属膜を形成し、前記発光素子
の前記発光面の一部及び該発光面の裏面全面に電極を形
成し、前記発光素子の前記発光面に形成された電極を前
記受光素子の前記金属膜に接続し、該金属膜及び前記発
光素子の前記発光面の裏面の電極をそれぞれアセンブリ
基板上に形成した電極へワイヤにて電気的に接続する構
成としてもよい。
記主面を対向させて実装し、前記主面の裏面から前記凹
部底面の一部に延在する金属膜を形成し、前記発光素子
の前記発光面の一部及び該発光面の裏面全面に電極を形
成し、前記発光素子の前記発光面に形成された電極を前
記受光素子の前記金属膜に接続し、該金属膜及び前記発
光素子の前記発光面の裏面の電極をそれぞれアセンブリ
基板上に形成した電極へワイヤにて電気的に接続する構
成としてもよい。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に沿って説明する。なお、複数の図面にわたって同一ま
たは相当するものには同一の符号を付し、説明の重複を
避けた。
に沿って説明する。なお、複数の図面にわたって同一ま
たは相当するものには同一の符号を付し、説明の重複を
避けた。
【0012】図1は、本発明に係る光結合半導体装置の
主要部を示した図である。本図において1は受光素子、
2はP型Si基板、3はN型エピタキシャル層、4はP
型拡散層、5はN型拡散層、6は絶縁膜、7はP側電
極、8はN側電極、9は受光素子1内にホトダイオード
と共にモノリシックに形成されたIC(集積回路)の活
性領域、10はアセンブリ基板、11は発光素子、15
及び16は発光素子11の2つの電極をアセンブリ基板
10上の電極に繋げるワイヤーを示す。
主要部を示した図である。本図において1は受光素子、
2はP型Si基板、3はN型エピタキシャル層、4はP
型拡散層、5はN型拡散層、6は絶縁膜、7はP側電
極、8はN側電極、9は受光素子1内にホトダイオード
と共にモノリシックに形成されたIC(集積回路)の活
性領域、10はアセンブリ基板、11は発光素子、15
及び16は発光素子11の2つの電極をアセンブリ基板
10上の電極に繋げるワイヤーを示す。
【0013】図示の受光素子1の形成には、以下に略記
する通常の半導体装置の製造方法が用いられる。まずP
型Si基板2を用意し、その主面にCVD法にてN型エ
ピタキシャル層3を数μm〜数十μm積層する。更にそ
の上に熱酸化にて絶縁膜6を1μm程度積層し、次にそ
の絶縁膜の一部を開口してP型不純物をP型Si基板1
に到達するまで拡散してP型拡散層4を形成する。これ
はICのアイソレーションを形成する工程において同時
に形成することができる。
する通常の半導体装置の製造方法が用いられる。まずP
型Si基板2を用意し、その主面にCVD法にてN型エ
ピタキシャル層3を数μm〜数十μm積層する。更にそ
の上に熱酸化にて絶縁膜6を1μm程度積層し、次にそ
の絶縁膜の一部を開口してP型不純物をP型Si基板1
に到達するまで拡散してP型拡散層4を形成する。これ
はICのアイソレーションを形成する工程において同時
に形成することができる。
【0014】一方、ホトダイオードが形成される部分の
一部の絶縁膜6を開口し、N型不純物を拡散し、N型拡
散層5を形成する。次に電極を形成するために、先程形
成したP型拡散層4、N型拡散層5の上部の絶縁膜6を
開口し、スパッター装置等を使用しAl−SiやAl−
Si−Cu等の金属材料を積層し、不必要な部分をエッ
チングにより除去し、P側電極7及びN側電極8を形成
する。これらは、ICの能動領域や回路配線を作り込む
工程において同時に形成することができる。
一部の絶縁膜6を開口し、N型不純物を拡散し、N型拡
散層5を形成する。次に電極を形成するために、先程形
成したP型拡散層4、N型拡散層5の上部の絶縁膜6を
開口し、スパッター装置等を使用しAl−SiやAl−
Si−Cu等の金属材料を積層し、不必要な部分をエッ
チングにより除去し、P側電極7及びN側電極8を形成
する。これらは、ICの能動領域や回路配線を作り込む
工程において同時に形成することができる。
【0015】続いて、ホトダイオードの裏側のP型Si
をエッチングし、凹部を形成する。この凹部形成はドラ
イエッチングでなくとも、Si基板が100面を主面と
する面方位を持つのであれば、例えばHF:HNO3:
CH3COOH:H3PO4:KOHの混合液をエッチャ
ントとするウエットエッチングを施すことによって、結
晶軸により方向性を持った異方性エッチングが可能とな
る。この際、凹部の側壁は(100)面と約54.7°
の角度を成す(111)面とする。凹部の大きさは、そ
こに収納する発光素子の大きさによって適宜選択する
が、受光素子の機能上問題の無いようにするには、凹部
底面下にP型Si基板が少なくとも100μm程度残る
ようにしておく。なお、この凹部底面が受光素子1の受
光面となる。
をエッチングし、凹部を形成する。この凹部形成はドラ
イエッチングでなくとも、Si基板が100面を主面と
する面方位を持つのであれば、例えばHF:HNO3:
CH3COOH:H3PO4:KOHの混合液をエッチャ
ントとするウエットエッチングを施すことによって、結
晶軸により方向性を持った異方性エッチングが可能とな
る。この際、凹部の側壁は(100)面と約54.7°
の角度を成す(111)面とする。凹部の大きさは、そ
こに収納する発光素子の大きさによって適宜選択する
が、受光素子の機能上問題の無いようにするには、凹部
底面下にP型Si基板が少なくとも100μm程度残る
ようにしておく。なお、この凹部底面が受光素子1の受
光面となる。
【0016】以上から、本発明に係る受光素子1が完成
するが、これらの工程とは別工程で発光素子11も形成
しておく。但し、本発明で使用する発光素子は一般的な
ものであり、特にその製造工程は説明するまでもない。
図の例はディスクリートに形成され、カソード電極とア
ノード電極を同一主面上に有するプレーナ型の発光ダイ
オードである。この発光素子11はアセンブリ基板10
上に予め形成された金属配線パターンに合わせて位置決
めされ、発光面を上にして実装され、ワイヤボンドがな
される。なお、アセンブリ基板10としては、ガラスエ
ポキシやセラミック等の基板に銅箔や金箔をパターニン
グしたものが採用できる。
するが、これらの工程とは別工程で発光素子11も形成
しておく。但し、本発明で使用する発光素子は一般的な
ものであり、特にその製造工程は説明するまでもない。
図の例はディスクリートに形成され、カソード電極とア
ノード電極を同一主面上に有するプレーナ型の発光ダイ
オードである。この発光素子11はアセンブリ基板10
上に予め形成された金属配線パターンに合わせて位置決
めされ、発光面を上にして実装され、ワイヤボンドがな
される。なお、アセンブリ基板10としては、ガラスエ
ポキシやセラミック等の基板に銅箔や金箔をパターニン
グしたものが採用できる。
【0017】発光素子11のアセンブリ基板10上への
実装・配線が終了後、上述の受光素子1をアセンブリ基
板10上に主面の裏面を対向させて実装する。この際、
受光素子1の凹部内に発光素子11が収納されるよう
に、発光素子11に受光素子1を覆い被せる形で組み立
てる。これにより、受光素子1の凹部底面の受光面と発
光素子11の発光面が対向配置される。
実装・配線が終了後、上述の受光素子1をアセンブリ基
板10上に主面の裏面を対向させて実装する。この際、
受光素子1の凹部内に発光素子11が収納されるよう
に、発光素子11に受光素子1を覆い被せる形で組み立
てる。これにより、受光素子1の凹部底面の受光面と発
光素子11の発光面が対向配置される。
【0018】続いて、図示しないが、同様な方法で同一
のアセンブリ基板10上に光結合素子(発光素子と受光
素子の対)を複数個形成する。これら光結合素子の個数
はパッケージの大きさの範囲内において可能な限り形成
できる。例えば前述したようなTTLにAND回路3つ
を要する場合に、アセンブリ基板10上にこの光結合素
子を6個隣接させて形成すれば、光結合半導体装置は1
つで済むことになる。
のアセンブリ基板10上に光結合素子(発光素子と受光
素子の対)を複数個形成する。これら光結合素子の個数
はパッケージの大きさの範囲内において可能な限り形成
できる。例えば前述したようなTTLにAND回路3つ
を要する場合に、アセンブリ基板10上にこの光結合素
子を6個隣接させて形成すれば、光結合半導体装置は1
つで済むことになる。
【0019】次に、受光素子1主面の電極とアセンブリ
基板上の電極とをワイヤによって接続する(図示せ
ず)。
基板上の電極とをワイヤによって接続する(図示せ
ず)。
【0020】最後に、アセンブリ基板10の端部に外部
との信号授受や電源供給のための金属リードを被着し、
トランスファモールドを行い、光結合半導体装置を得
る。
との信号授受や電源供給のための金属リードを被着し、
トランスファモールドを行い、光結合半導体装置を得
る。
【0021】このように発光素子が受光素子凹部とアセ
ンブリ基板で囲われるため、外部からの光の入射及び外
部への光の漏洩が妨げられる。即ち、発光素子と受光素
子の間隔を狭めたことや発光素子の照射光が凹部壁面で
反射されることによって、従来よりも発光素子の出力を
低くできるようになったので、これと相俟って、発光素
子の照射光が受光素子を透過しないようにすることがで
きた。従って、複数の光結合素子を近接させて設けても
互いに干渉することが無いので、限られたパッケージス
ペースの中で従来よりも光結合素子を多く形成でき、光
結合半導体装置を多チャンネル化することができる。
ンブリ基板で囲われるため、外部からの光の入射及び外
部への光の漏洩が妨げられる。即ち、発光素子と受光素
子の間隔を狭めたことや発光素子の照射光が凹部壁面で
反射されることによって、従来よりも発光素子の出力を
低くできるようになったので、これと相俟って、発光素
子の照射光が受光素子を透過しないようにすることがで
きた。従って、複数の光結合素子を近接させて設けても
互いに干渉することが無いので、限られたパッケージス
ペースの中で従来よりも光結合素子を多く形成でき、光
結合半導体装置を多チャンネル化することができる。
【0022】図2は本発明に係る光結合半導体装置の他
の実施の形態の主要部を示した図である。本図におい
て、12は受光素子1の主面の裏面に被着した金属膜、
13は発光素子の一方の電極を示す。
の実施の形態の主要部を示した図である。本図におい
て、12は受光素子1の主面の裏面に被着した金属膜、
13は発光素子の一方の電極を示す。
【0023】このように、発光素子の一方の電極13が
発光素子側面に形成されている場合、電極13と受光素
子1の金属膜12を同電位としてアセンブリ基板10上
に印刷された所定の電極に接続させる構成とすれば、図
示のようにワイヤ1本分のスペースを省略することがで
き、凹部を小さくできる。その分、受光素子も小さくす
ることが可能なので、より光結合素子の実装密度を高め
られ、多チャンネル化を図ることができる。
発光素子側面に形成されている場合、電極13と受光素
子1の金属膜12を同電位としてアセンブリ基板10上
に印刷された所定の電極に接続させる構成とすれば、図
示のようにワイヤ1本分のスペースを省略することがで
き、凹部を小さくできる。その分、受光素子も小さくす
ることが可能なので、より光結合素子の実装密度を高め
られ、多チャンネル化を図ることができる。
【0024】図3は更に他の実施の形態の主要部を示し
た図である。本図において、14は発光素子11の金属
電極を示す。
た図である。本図において、14は発光素子11の金属
電極を示す。
【0025】本図に示すように、受光素子1はアセンブ
リ基板10にその電極の形成された主面を対向させてい
わゆるフェイスダウンボンディングされ、主面の裏面に
は凹部底面の一部にまで延在する金属膜12がスパッタ
ー法やメッキ法によって形成されている。受光素子1の
上部に開口した凹部内にバンプを形成した発光素子11
がマウントされており、この発光素子11の一方の電極
がワイヤ15によって、他方の電極が金属膜12を介し
てワイヤ16によってそれぞれアセンブリ基板10上の
図示しない電極に接続されている。本実施の形態で特に
注目すべきは、ワイヤボンドの第二ボンドが凹部外で行
われる点にある。
リ基板10にその電極の形成された主面を対向させてい
わゆるフェイスダウンボンディングされ、主面の裏面に
は凹部底面の一部にまで延在する金属膜12がスパッタ
ー法やメッキ法によって形成されている。受光素子1の
上部に開口した凹部内にバンプを形成した発光素子11
がマウントされており、この発光素子11の一方の電極
がワイヤ15によって、他方の電極が金属膜12を介し
てワイヤ16によってそれぞれアセンブリ基板10上の
図示しない電極に接続されている。本実施の形態で特に
注目すべきは、ワイヤボンドの第二ボンドが凹部外で行
われる点にある。
【0026】このような構成なので、凹部内でワイヤ部
分が費やすスペースが無くなるため、凹部の開口の大き
さをほぼ発光素子の大きさに抑えることが可能である。
しかもワイヤは1つの光結合素子につき2本のみで足り
るので、より省スペースを実現することができ、多チャ
ンネル化することができる。因みに、図示の通り発光素
子の上部に遮蔽物は無いが、発光素子11の上になる面
一面に金属電極14が形成されており、しかも側面は凹
部によって遮蔽されているので、漏洩する光は上方にわ
ずかだけとなり、隣接する光結合素子には影響しない。
分が費やすスペースが無くなるため、凹部の開口の大き
さをほぼ発光素子の大きさに抑えることが可能である。
しかもワイヤは1つの光結合素子につき2本のみで足り
るので、より省スペースを実現することができ、多チャ
ンネル化することができる。因みに、図示の通り発光素
子の上部に遮蔽物は無いが、発光素子11の上になる面
一面に金属電極14が形成されており、しかも側面は凹
部によって遮蔽されているので、漏洩する光は上方にわ
ずかだけとなり、隣接する光結合素子には影響しない。
【0027】また、発光素子11が上方から視認可能な
ため、実装の位置合わせ精度が出しやすい。
ため、実装の位置合わせ精度が出しやすい。
【0028】以上、実施の形態について説明したが、本
発明はこれに限らず種々の変更が可能である。例えば、
上記実施の形態では単に発光素子を凹部内に収納する構
成としたが、凹部内に光透過性の透明樹脂を充填し、そ
こへ発光素子を浸漬させてキュアする構成としてもよ
い。
発明はこれに限らず種々の変更が可能である。例えば、
上記実施の形態では単に発光素子を凹部内に収納する構
成としたが、凹部内に光透過性の透明樹脂を充填し、そ
こへ発光素子を浸漬させてキュアする構成としてもよ
い。
【0029】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は多数の光
結合素子を同一面上に隣接して実装するものなので、光
結合半導体装置の多チャンネル化に貢献する。
結合素子を同一面上に隣接して実装するものなので、光
結合半導体装置の多チャンネル化に貢献する。
【0030】また、発光素子を受光素子の凹部とアセン
ブリ基板で囲む構成とすることで、発光素子の照射光漏
洩をさせず、光結合素子同士のアイソレーションを高め
るため、光結合素子の実装密度を向上でき、多チャンネ
ル化に貢献する。特に、隣接する光結合素子同士の位置
関係がフレキシブルになる可能性の高い場合、例えばフ
レキシブル基板上へ実装する場合等に有効である。
ブリ基板で囲む構成とすることで、発光素子の照射光漏
洩をさせず、光結合素子同士のアイソレーションを高め
るため、光結合素子の実装密度を向上でき、多チャンネ
ル化に貢献する。特に、隣接する光結合素子同士の位置
関係がフレキシブルになる可能性の高い場合、例えばフ
レキシブル基板上へ実装する場合等に有効である。
【0031】さらに、アセンブリ基板にフェイスダウン
にて受光素子を実装し、その凹部内に発光素子を収納す
ると共にその一方の電極と受光素子の金属膜とを接続
し、発光素子の裏面全面に形成した金属電極と受光素子
の金属膜をそれぞれアセンブリ基板上に形成した電極へ
ワイヤボンドする構成とすることで、光結合素子のより
高密度な実装を可能にし、更に多チャンネル化した光結
合半導体装置を提供することができる。
にて受光素子を実装し、その凹部内に発光素子を収納す
ると共にその一方の電極と受光素子の金属膜とを接続
し、発光素子の裏面全面に形成した金属電極と受光素子
の金属膜をそれぞれアセンブリ基板上に形成した電極へ
ワイヤボンドする構成とすることで、光結合素子のより
高密度な実装を可能にし、更に多チャンネル化した光結
合半導体装置を提供することができる。
【図1】本発明の実施の形態を示す図である。
【図2】本発明の他の実施の形態を示す図である。
【図3】本発明の更に他の実施の形態を示す図である。
【図4】光結合素子を使用したAND回路を示す図であ
る。
る。
1:受光素子 2:P型Si基板 3:N型エピタキシャル層 4:P型拡散層 5:N型拡散層 6:絶縁膜 7:P側電極 8:N側電極 9:IC活性領域 10:アセンブリ基板 11:発光素子 12:金属膜 13、14:電極 15、16:ワイヤ
Claims (3)
- 【請求項1】 ディスクリートの発光素子と、主面に電
極が形成されたプレーナ型の受光素子とを具備し、前記
発光素子の発光面と前記受光素子の受光面とを対向配置
してなる光結合素子を1つのパッケージ内に複数個内蔵
した光結合半導体装置において、前記受光素子主面の裏
面に凹部が形成され、該凹部内に前記発光素子が収納さ
れ、前記受光素子の前記受光面を前記凹部底面としたこ
とを特徴とする光結合半導体装置。 - 【請求項2】 前記発光素子はアセンブリ基板に前記発
光面の裏面を対向させて実装され、前記受光素子は前記
アセンブリ基板に該受光素子主面の裏面を対向させて実
装され、前記発光素子は前記凹部と前記アセンブリ基板
で囲まれることを特徴とする請求項1に記載の光結合半
導体装置。 - 【請求項3】 前記受光素子はアセンブリ基板に前記主
面を対向させて実装され、前記主面の裏面から前記凹部
底面の一部に延在する金属膜が形成されていることと、
前記発光素子は前記発光面の一部及び該発光面の裏面全
面に電極が形成されていることと、前記発光素子の前記
発光面に形成された電極が前記受光素子の前記金属膜に
接続され、該金属膜及び前記発光素子の前記発光面の裏
面の電極がそれぞれアセンブリ基板上に形成した電極へ
ワイヤにて電気的に接続されていることとを特徴とする
請求項1に記載の光結合半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6472698A JPH11251622A (ja) | 1998-02-26 | 1998-02-26 | 光結合半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6472698A JPH11251622A (ja) | 1998-02-26 | 1998-02-26 | 光結合半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11251622A true JPH11251622A (ja) | 1999-09-17 |
Family
ID=13266454
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6472698A Pending JPH11251622A (ja) | 1998-02-26 | 1998-02-26 | 光結合半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11251622A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10749067B2 (en) * | 2016-06-30 | 2020-08-18 | Stmicroelectronics Pte Ltd | Optical sensor package including a cavity formed in an image sensor die |
-
1998
- 1998-02-26 JP JP6472698A patent/JPH11251622A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10749067B2 (en) * | 2016-06-30 | 2020-08-18 | Stmicroelectronics Pte Ltd | Optical sensor package including a cavity formed in an image sensor die |
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