JPH11243245A - レーザ加工装置 - Google Patents
レーザ加工装置Info
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- JPH11243245A JPH11243245A JP10059012A JP5901298A JPH11243245A JP H11243245 A JPH11243245 A JP H11243245A JP 10059012 A JP10059012 A JP 10059012A JP 5901298 A JP5901298 A JP 5901298A JP H11243245 A JPH11243245 A JP H11243245A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/02—Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
- B23K26/06—Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing
-
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- B23K26/064—Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing by means of optical elements, e.g. lenses, mirrors or prisms
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Abstract
(57)【要約】
[課題] レーザ出力波形制御用の基準波形を簡単なユ
ーザ操作で多種多様な波形パターンに設定できるように
する。 [解決手段] ディスプレイに表示される『スケジュー
ル』画面において、ユーザは、キー入力によって所望の
設定値入力や装置への動作指示を行う。特に、波形制御
用の基準波形を設定入力するために、レーザ出力基準値
「PEAK」および波形要素「↑SLOPE」、「FL
ASH1」、「FLASH2」、「FLASH3」、
「↓SLOPE」の各項目に所望の数値データを設定入
力する。装置内では、設定入力された波形形要素項目の
設定値に基づいて波形制御用の基準波形および表示用の
基準波形クラフを求める。波形制御用の基準波形は、レ
ーザ出力波形制御部において波形制御の基準値に用いら
れる。表示用の基準波形クラフは、所定のキーに応動し
て画面の所定領域に映し出される。
ーザ操作で多種多様な波形パターンに設定できるように
する。 [解決手段] ディスプレイに表示される『スケジュー
ル』画面において、ユーザは、キー入力によって所望の
設定値入力や装置への動作指示を行う。特に、波形制御
用の基準波形を設定入力するために、レーザ出力基準値
「PEAK」および波形要素「↑SLOPE」、「FL
ASH1」、「FLASH2」、「FLASH3」、
「↓SLOPE」の各項目に所望の数値データを設定入
力する。装置内では、設定入力された波形形要素項目の
設定値に基づいて波形制御用の基準波形および表示用の
基準波形クラフを求める。波形制御用の基準波形は、レ
ーザ出力波形制御部において波形制御の基準値に用いら
れる。表示用の基準波形クラフは、所定のキーに応動し
て画面の所定領域に映し出される。
Description
【0010】
【発明の属する技術分野】本発明は、波形制御方式のレ
ーザ加工装置に関する。
ーザ加工装置に関する。
【0020】
【従来の技術】従来より、被加工物にパルスレーザ光を
照射して溶接、切断等のレーザ加工を行うレーザ加工装
置では、多種多用な加工要求に対応できるように、パル
スレーザ光のレーザ出力またはこれに対応する所定の電
気的パラメータの波形を可変制御する技術が用いられて
いる。
照射して溶接、切断等のレーザ加工を行うレーザ加工装
置では、多種多用な加工要求に対応できるように、パル
スレーザ光のレーザ出力またはこれに対応する所定の電
気的パラメータの波形を可変制御する技術が用いられて
いる。
【0030】かかる波形制御方式によれば、波形制御用
の所望の基準波形が予めレーザ加工装置に設定入力され
る。レーザ加工装置では、レーザ電源部からの電力の供
給を受けてレーザ発振部がレーザ光を発振出力し、レー
ザ発振部より発振出力されるレーザ光のレーザ出力また
はレーザ電源部内の所定の電気的パラメータの時間的変
化つまり波形が該基準波形に倣うようにレーザ制御部が
オープンルーブ制御方式または閉ループ(フィードバッ
ク)制御方式でレーザ電源部を制御するようになってい
る。
の所望の基準波形が予めレーザ加工装置に設定入力され
る。レーザ加工装置では、レーザ電源部からの電力の供
給を受けてレーザ発振部がレーザ光を発振出力し、レー
ザ発振部より発振出力されるレーザ光のレーザ出力また
はレーザ電源部内の所定の電気的パラメータの時間的変
化つまり波形が該基準波形に倣うようにレーザ制御部が
オープンルーブ制御方式または閉ループ(フィードバッ
ク)制御方式でレーザ電源部を制御するようになってい
る。
【0040】図21〜図23につき、従来のこの種レー
ザ加工装置における基準波形の代表的な設定方法を説明
する。
ザ加工装置における基準波形の代表的な設定方法を説明
する。
【0050】従来の装置では、図21に示すような設定
モード画面において、1個のパルスレーザ光についての
基準波形を定義するための波形要素項目として、複数個
たとえば3個のフラッシュ区間「FLASH1」,「F
LASH2」,「FLASH3」および2個の冷却区間
「COOL1」,「COOL2」が用意されている。
モード画面において、1個のパルスレーザ光についての
基準波形を定義するための波形要素項目として、複数個
たとえば3個のフラッシュ区間「FLASH1」,「F
LASH2」,「FLASH3」および2個の冷却区間
「COOL1」,「COOL2」が用意されている。
【0060】各フラッシュ区間「FLASH」について
は、所定の範囲(たとえば0〜20ms)内で所望の時
間が設定入力されるとともに、レーザ出力値が二種類の
モード[A,B]のうちの1つとして選ばれる。ここ
で、レーザ出力値モード[A,B]はレーザ出力に対応
するレーザ電源部内の設定電圧として表され、同じ設定
モード画面中の別の設定項目で所望の電圧値に設定され
る。図示の例ではA=300V,B=500Vに設定さ
れている。また、各冷却区間「COOL」については所
定の範囲(たとえば0〜20ms)内で時間のみが設定
入力される。
は、所定の範囲(たとえば0〜20ms)内で所望の時
間が設定入力されるとともに、レーザ出力値が二種類の
モード[A,B]のうちの1つとして選ばれる。ここ
で、レーザ出力値モード[A,B]はレーザ出力に対応
するレーザ電源部内の設定電圧として表され、同じ設定
モード画面中の別の設定項目で所望の電圧値に設定され
る。図示の例ではA=300V,B=500Vに設定さ
れている。また、各冷却区間「COOL」については所
定の範囲(たとえば0〜20ms)内で時間のみが設定
入力される。
【0070】図22に、図21の設定値に対応する基準
波形の波形パターンを示す。また、図23に他の基準波
形パターン例を幾つか示す。通常のアプリケーションで
は、図23の各例のように、冷却区間「COOL」を挿
入せずに複数個のフラッシュ区間「FLASH」を連続
させて、単一のパルス波形とすることが多い。
波形の波形パターンを示す。また、図23に他の基準波
形パターン例を幾つか示す。通常のアプリケーションで
は、図23の各例のように、冷却区間「COOL」を挿
入せずに複数個のフラッシュ区間「FLASH」を連続
させて、単一のパルス波形とすることが多い。
【0080】なお、図22では、図解の容易化のため、
設定モード画面中で設定入力可能な項目を点線で囲んで
いる。基準波形の設定と直接関係しない項目については
説明を省略する。
設定モード画面中で設定入力可能な項目を点線で囲んで
いる。基準波形の設定と直接関係しない項目については
説明を省略する。
【0090】
【発明が解決しようとする課題】上記したように、従来
のレーザ加工装置では、ユーザ(作業者)が予め複数種
類のレーザ出力値モード[A,B]について所望の値を
設定し、各フラッシュ区間にいずれかのレーザ出力値モ
ードを割り当てることで、レーザ出力波形制御用の基準
波形を設定するようにしている。
のレーザ加工装置では、ユーザ(作業者)が予め複数種
類のレーザ出力値モード[A,B]について所望の値を
設定し、各フラッシュ区間にいずれかのレーザ出力値モ
ードを割り当てることで、レーザ出力波形制御用の基準
波形を設定するようにしている。
【0100】かかる設定方式では、レーザ出力値モード
の種類が少ないと、たとえば上記のような二種類[A,
B]程度では、設定可能な基準波形パターンの種類も制
限され、多種多用な被加工物に対応するのが難しい。
の種類が少ないと、たとえば上記のような二種類[A,
B]程度では、設定可能な基準波形パターンの種類も制
限され、多種多用な被加工物に対応するのが難しい。
【0110】この問題に対処するためにレーザ出力値モ
ードの種類を増やすと、今度は設定入力操作が煩雑化
し、ユーザ側の負担が大きくなるという不都合がある。
ードの種類を増やすと、今度は設定入力操作が煩雑化
し、ユーザ側の負担が大きくなるという不都合がある。
【0120】特に、同じ材質の被加工物に対しては同一
または相似の基準波形パターンが選ばれることが多い
が、材質が同じでも被加工物の板厚が変われば、レーザ
出力値を変える必要がある。たとえば、板厚が増せば、
レーザ出力値を大きくしなければならない。
または相似の基準波形パターンが選ばれることが多い
が、材質が同じでも被加工物の板厚が変われば、レーザ
出力値を変える必要がある。たとえば、板厚が増せば、
レーザ出力値を大きくしなければならない。
【0130】この点に関して、上記のような従来のレー
ザ加工装置では、同一波形パターンで基準波形のレーザ
出力値を全体的にたとえば15%増大させるには、各レ
ーザ出力値モード[A,B]について15%増大させた
値(新設定値)をユーザ自身が計算で求め、求めた新設
定値を設定モード画面(図21)で入力しなければなら
ず、レーザ出力値モード1個分の変更でも面倒な作業と
なっている。
ザ加工装置では、同一波形パターンで基準波形のレーザ
出力値を全体的にたとえば15%増大させるには、各レ
ーザ出力値モード[A,B]について15%増大させた
値(新設定値)をユーザ自身が計算で求め、求めた新設
定値を設定モード画面(図21)で入力しなければなら
ず、レーザ出力値モード1個分の変更でも面倒な作業と
なっている。
【0140】しかるに、上記のように基準波形パターン
の自由度を大きくするためにレーザ出力値モードの数を
増やしたならば、このユーザ操作上の不便さが一層増大
するという不都合が出る。
の自由度を大きくするためにレーザ出力値モードの数を
増やしたならば、このユーザ操作上の不便さが一層増大
するという不都合が出る。
【0150】そのうえ、従来のレーザ加工装置では、設
定された基準波形の波形パターンが画面には表示されな
いため、波形要素項目の設定値からユーザが自分の脳裏
に観念的な波形図をイメージするか、さもなければ用紙
上に波形図を作図してみるほかなく、この点も基準波形
の設定ないし変更に手間取る原因となっていた。
定された基準波形の波形パターンが画面には表示されな
いため、波形要素項目の設定値からユーザが自分の脳裏
に観念的な波形図をイメージするか、さもなければ用紙
上に波形図を作図してみるほかなく、この点も基準波形
の設定ないし変更に手間取る原因となっていた。
【0160】さらに、基準波形の立ち上がりおよび立ち
下がりが垂直にしか設定されず、傾斜をもつことができ
ないため、レーザ加工における加熱速度または冷却速度
を思い通りに調整することができないという不便もあっ
た。
下がりが垂直にしか設定されず、傾斜をもつことができ
ないため、レーザ加工における加熱速度または冷却速度
を思い通りに調整することができないという不便もあっ
た。
【0170】本発明は、かかる従来技術の問題点に鑑み
てなされたもので、レーザ出力またはこれに対応する電
気的パラメータの波形制御のための基準波形を簡単なユ
ーザ操作で多種多様な波形パターンに設定できるように
したレーザ加工装置を提供することを目的とする。
てなされたもので、レーザ出力またはこれに対応する電
気的パラメータの波形制御のための基準波形を簡単なユ
ーザ操作で多種多様な波形パターンに設定できるように
したレーザ加工装置を提供することを目的とする。
【0180】また、本発明は、いったん設定した波形制
御用の基準波形を容易かつ自在に変更できるようにした
レーザ加工装置を提供することを目的とする。
御用の基準波形を容易かつ自在に変更できるようにした
レーザ加工装置を提供することを目的とする。
【0190】さらに、本発明は、レーザ出力波形の立ち
上がり/立ち下がりを任意の波形に設定可能とし、レー
ザ加工における加熱速度または冷却速度を思い通りに調
整できるようにしたレーザ加工装置を提供することを目
的とする。
上がり/立ち下がりを任意の波形に設定可能とし、レー
ザ加工における加熱速度または冷却速度を思い通りに調
整できるようにしたレーザ加工装置を提供することを目
的とする。
【0200】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明のうち請求項1に記載のレーザ加工装置
は、前記パルスレーザ光を発振出力するためのレーザ発
振手段と、前記レーザ発振手段にレーザ発振用の電力を
供給するためのレーザ電源手段と、前記パルスレーザ光
のレーザ出力またはこれに対応する前記レーザ電源手段
内の電気的パラメータについて基準値を設定するための
基準値設定手段と、前記パルスレーザ光のレーザ出力ま
たは前記電気的パラメータに対する波形制御に用いられ
る基準波形を構成するための複数の波形部分のレーザ出
力値または電気的パラメータ値を前記基準値に対する比
率の値で設定するための波形部分設定手段と、前記基準
値設定手段により設定された基準値と、前記波形部分設
定手段により設定された各波形部分の基準値に対する比
率とに基づいて前記基準波形を表す波形データを生成す
る基準波形生成手段と、前記パルスレーザ光のレーザ出
力または前記電気的パラメータが前記基準波形生成手段
より与えられる前記基準波形に倣うように前記レーザ電
源手段を制御する波形制御手段とを具備する構成とし
た。
めに、本発明のうち請求項1に記載のレーザ加工装置
は、前記パルスレーザ光を発振出力するためのレーザ発
振手段と、前記レーザ発振手段にレーザ発振用の電力を
供給するためのレーザ電源手段と、前記パルスレーザ光
のレーザ出力またはこれに対応する前記レーザ電源手段
内の電気的パラメータについて基準値を設定するための
基準値設定手段と、前記パルスレーザ光のレーザ出力ま
たは前記電気的パラメータに対する波形制御に用いられ
る基準波形を構成するための複数の波形部分のレーザ出
力値または電気的パラメータ値を前記基準値に対する比
率の値で設定するための波形部分設定手段と、前記基準
値設定手段により設定された基準値と、前記波形部分設
定手段により設定された各波形部分の基準値に対する比
率とに基づいて前記基準波形を表す波形データを生成す
る基準波形生成手段と、前記パルスレーザ光のレーザ出
力または前記電気的パラメータが前記基準波形生成手段
より与えられる前記基準波形に倣うように前記レーザ電
源手段を制御する波形制御手段とを具備する構成とし
た。
【0210】また、請求項2に記載のレーザ加工装置
は、上記請求項1の構成において、前記波形部分設定手
段が、前記基準波形のパルス幅を各々任意の時間を有す
る複数個の区間に分割して設定するためのパルス区間設
定手段と、各々の前記区間毎のレーザ出力値または電気
的パラメータ値を前記基準値に対する比率の値で設定す
るための比率設定手段とを含む構成とした。
は、上記請求項1の構成において、前記波形部分設定手
段が、前記基準波形のパルス幅を各々任意の時間を有す
る複数個の区間に分割して設定するためのパルス区間設
定手段と、各々の前記区間毎のレーザ出力値または電気
的パラメータ値を前記基準値に対する比率の値で設定す
るための比率設定手段とを含む構成とした。
【0220】また、請求項3に記載のレーザ加工装置
は、上記請求項2の構成において、前記基準波形生成手
段が、前記複数個の区間の中の最初の区間の時間と、第
2の区間の時間およびレーザ出力比率または電気的パラ
メータと、前記基準値とから前記基準波形のアップスロ
ープ波形部を求めるアップスロープ生成手段を含む構成
とした。
は、上記請求項2の構成において、前記基準波形生成手
段が、前記複数個の区間の中の最初の区間の時間と、第
2の区間の時間およびレーザ出力比率または電気的パラ
メータと、前記基準値とから前記基準波形のアップスロ
ープ波形部を求めるアップスロープ生成手段を含む構成
とした。
【0230】また、請求項4に記載のレーザ加工装置
は、上記請求項2の構成において、前記基準波形生成手
段が、前記複数個の区間の中の最後から1つ手前の区間
の時間およびレーザ出力比率または電気的パラメータ
と、前記基準値と、最後の区間の時間とから前記基準波
形のダウンスロープ波形部を求めるダウンスロープ生成
手段を含む構成とした。
は、上記請求項2の構成において、前記基準波形生成手
段が、前記複数個の区間の中の最後から1つ手前の区間
の時間およびレーザ出力比率または電気的パラメータ
と、前記基準値と、最後の区間の時間とから前記基準波
形のダウンスロープ波形部を求めるダウンスロープ生成
手段を含む構成とした。
【0240】請求項5に記載のレーザ加工装置は、上記
請求項2の構成において、前記基準値、前記区間の時間
およびレーザ出力比率または電気的パラメータ比率の各
設定値を表示するための設定値表示手段を具備する構成
とした。
請求項2の構成において、前記基準値、前記区間の時間
およびレーザ出力比率または電気的パラメータ比率の各
設定値を表示するための設定値表示手段を具備する構成
とした。
【0250】請求項6に記載のレーザ加工装置は、上記
請求項2の構成において、前記基準波形の波形パターン
を表す基準波形グラフを表示する基準波形グラフ表示手
段をさらに具備する構成とした。
請求項2の構成において、前記基準波形の波形パターン
を表す基準波形グラフを表示する基準波形グラフ表示手
段をさらに具備する構成とした。
【0260】請求項7に記載のレーザ加工装置は、上記
請求項6の構成において、前記基準波形グラフ表示手段
が、前記パルス区間設定手段により設定された複数個の
区間のそれぞれの時間と、前記比率設定手段により設定
された各区間毎のレーザ出力比率または電気的パラメー
タ比率とに基づいて前記基準波形グラフを求める構成と
した。
請求項6の構成において、前記基準波形グラフ表示手段
が、前記パルス区間設定手段により設定された複数個の
区間のそれぞれの時間と、前記比率設定手段により設定
された各区間毎のレーザ出力比率または電気的パラメー
タ比率とに基づいて前記基準波形グラフを求める構成と
した。
【0270】また、請求項8に記載のレーザ加工装置
は、上記請求項1の構成において、前記波形部分設定手
段が、前記基準波形の波形上の複数個の通過ポイントの
時間を設定するための通過点時間設定手段と、各々の前
記通過ポイント毎のレーザ出力または電気的パラメータ
の値を前記基準値に対する比率の値で設定するための比
率設定手段とを含む構成とした。
は、上記請求項1の構成において、前記波形部分設定手
段が、前記基準波形の波形上の複数個の通過ポイントの
時間を設定するための通過点時間設定手段と、各々の前
記通過ポイント毎のレーザ出力または電気的パラメータ
の値を前記基準値に対する比率の値で設定するための比
率設定手段とを含む構成とした。
【0280】請求項9に記載のレーザ加工装置は、上記
請求項8の構成において、前記基準波形生成手段が、前
記複数個の通過ポイントの中の最初のポイントの時間お
よびレーザ出力比率または電気的パラメータ比率と、前
記基準値とから前記基準波形のアップスロープ波形部を
求めるアップスロープ生成手段を含む構成とした。
請求項8の構成において、前記基準波形生成手段が、前
記複数個の通過ポイントの中の最初のポイントの時間お
よびレーザ出力比率または電気的パラメータ比率と、前
記基準値とから前記基準波形のアップスロープ波形部を
求めるアップスロープ生成手段を含む構成とした。
【0290】請求項10に記載のレーザ加工装置は、上
記請求項8の構成において、前記基準波形生成手段が、
前記複数個の通過ポイントの中の最後から1つ手前のポ
イントの時間およびレーザ出力比率または電気的パラメ
ータ比率と、最後のポイントの時間と、前記基準値とか
ら前記基準波形のダウンスロープ波形部を求めるダウン
スロープ生成手段を含む構成とした。
記請求項8の構成において、前記基準波形生成手段が、
前記複数個の通過ポイントの中の最後から1つ手前のポ
イントの時間およびレーザ出力比率または電気的パラメ
ータ比率と、最後のポイントの時間と、前記基準値とか
ら前記基準波形のダウンスロープ波形部を求めるダウン
スロープ生成手段を含む構成とした。
【0300】請求項11に記載のレーザ加工装置は、上
記請求項8の構成において、前記レーザ出力基準値、前
記通過ポイントの時間およびレーザ出力比率または電気
的パラメータ比率の各設定値を表示するための設定値表
示手段をさらに具備する構成とした。
記請求項8の構成において、前記レーザ出力基準値、前
記通過ポイントの時間およびレーザ出力比率または電気
的パラメータ比率の各設定値を表示するための設定値表
示手段をさらに具備する構成とした。
【0310】請求項12に記載のレーザ加工装置は、上
記請求項8の構成において、前記基準波形の波形パター
ンを表す基準波形グラフを表示する基準波形グラフ表示
手段をさらに具備する構成とした。
記請求項8の構成において、前記基準波形の波形パター
ンを表す基準波形グラフを表示する基準波形グラフ表示
手段をさらに具備する構成とした。
【0320】請求項13に記載のレーザ加工装置は、上
記請求項12の構成において、前記基準波形グラフ表示
手段が、前記通過点時間設定手段により設定された複数
個の通過ポイントのそれぞれの時間と、前記比率設定手
段により設定された各ポイント毎のレーザ出力比率また
は電気的パラメータ比率とに基づいて前記基準波形グラ
フを求める構成とした。
記請求項12の構成において、前記基準波形グラフ表示
手段が、前記通過点時間設定手段により設定された複数
個の通過ポイントのそれぞれの時間と、前記比率設定手
段により設定された各ポイント毎のレーザ出力比率また
は電気的パラメータ比率とに基づいて前記基準波形グラ
フを求める構成とした。
【0330】
【発明の実施の形態】以下、図1〜図20を参照して本
発明の実施例を説明する。
発明の実施例を説明する。
【0340】図1および図3に、本発明の一実施例によ
るレーザ加工装置の外観の構成を示す。図1は装置全体
の斜視図、図2は装置操作パネルの部分拡大平面図であ
る。
るレーザ加工装置の外観の構成を示す。図1は装置全体
の斜視図、図2は装置操作パネルの部分拡大平面図であ
る。
【0350】図1において、このレーザ加工装置は、上
部ユニット10と下部ユニット12を一体結合してな
る。上部ユニット10の内部には、レーザ発振部、制御
部、マルチポジション加工用のレーザ分岐部等が収納さ
れている。上部ユニット10の前面には、各種設定値、
測定値等を設定入力/表示出力するためのディスプレイ
および各種キースイッチ類を含む操作パネル14や電源
供給状態、高電圧供給状態、充電完了状態等を点灯表示
するためのLED群15等が設けられている。上部ユニ
ット10の上面には、マルチポジション加工用の複数本
の光ファイバ(図示せず)をそれぞれ通すための孔(開
口)16や光ファイバ取付作業用の開閉蓋18等が設け
られている。
部ユニット10と下部ユニット12を一体結合してな
る。上部ユニット10の内部には、レーザ発振部、制御
部、マルチポジション加工用のレーザ分岐部等が収納さ
れている。上部ユニット10の前面には、各種設定値、
測定値等を設定入力/表示出力するためのディスプレイ
および各種キースイッチ類を含む操作パネル14や電源
供給状態、高電圧供給状態、充電完了状態等を点灯表示
するためのLED群15等が設けられている。上部ユニ
ット10の上面には、マルチポジション加工用の複数本
の光ファイバ(図示せず)をそれぞれ通すための孔(開
口)16や光ファイバ取付作業用の開閉蓋18等が設け
られている。
【0360】下部ユニット12の内部には、電源部の電
力部、外部接続端子、ブレーカ、および冷却部のタン
ク、ポンプ、熱交換器、イオン交換樹脂、フィルタ、外
部配管接続端子等が収容されている。下部ユニット12
の前面パネル20は扉になっている。
力部、外部接続端子、ブレーカ、および冷却部のタン
ク、ポンプ、熱交換器、イオン交換樹脂、フィルタ、外
部配管接続端子等が収容されている。下部ユニット12
の前面パネル20は扉になっている。
【0370】図2において、操作パネル14の中央部に
フラットパネル型ディスプレイたとえば液晶表示ディス
プレイ22が配置され、その下に種々の機能キー24〜
38が配置されている。この実施例では、カーソル・キ
ー24(24a〜24d)、(+)キー26、(−)キ
ー28、書き込みキー30、メニュー・キー32、スタ
ート・ボタン34、リセット・ボタン36およびストッ
プ・ボタン38が設けられている。
フラットパネル型ディスプレイたとえば液晶表示ディス
プレイ22が配置され、その下に種々の機能キー24〜
38が配置されている。この実施例では、カーソル・キ
ー24(24a〜24d)、(+)キー26、(−)キ
ー28、書き込みキー30、メニュー・キー32、スタ
ート・ボタン34、リセット・ボタン36およびストッ
プ・ボタン38が設けられている。
【0380】カーソル・キー24(24a〜24d)
は、画面上でカーソルを上下左右方向に移動させるため
のキーであり、各キー24a〜24dを押すとそのキー
の示す矢印方向にカーソルが移動するようになってい
る。
は、画面上でカーソルを上下左右方向に移動させるため
のキーであり、各キー24a〜24dを押すとそのキー
の示す矢印方向にカーソルが移動するようになってい
る。
【0390】(+)キー26および(−)キー28はデ
ータ入力キーであり、後述するように、数値項目に対す
る数値(十進数)の入力、「ON/OFF」項目に対す
る「ON」または「OFF」の選択、「FIX/FRE
E」項目に対する「FIX」または「FREE」の選択
等で用いられる。
ータ入力キーであり、後述するように、数値項目に対す
る数値(十進数)の入力、「ON/OFF」項目に対す
る「ON」または「OFF」の選択、「FIX/FRE
E」項目に対する「FIX」または「FREE」の選択
等で用いられる。
【0400】書き込みキー30は、カーソル位置の表示
データを確定された設定データとして取り込むためのキ
ーである。メニュー・キー32は、装置の画面モードを
選択するためのキーである。
データを確定された設定データとして取り込むためのキ
ーである。メニュー・キー32は、装置の画面モードを
選択するためのキーである。
【0410】スタート・ボタン34は、本装置に起動を
かけてパルスレーザ光を出射(発射)させるためのキー
である。リセット・ボタン36は、トラブル発生時にデ
ィスプレイ22に表示される『トラブル』画面(図示せ
ず)を解除するために使われる。ストップ・ボタン38
は非常時に操作されるボタンであり、このボタンが押さ
れると、高電圧が切られ、冷却部も停止するようになっ
ている。
かけてパルスレーザ光を出射(発射)させるためのキー
である。リセット・ボタン36は、トラブル発生時にデ
ィスプレイ22に表示される『トラブル』画面(図示せ
ず)を解除するために使われる。ストップ・ボタン38
は非常時に操作されるボタンであり、このボタンが押さ
れると、高電圧が切られ、冷却部も停止するようになっ
ている。
【0420】図3は、このレーザ加工装置の構成を示す
ブロック図である。本実施例のレーザ加工装置は、レー
ザ発振部40、レーザ電源部42、レーザ冷却部44、
制御部46および入出力インタフェース部48から構成
されている。
ブロック図である。本実施例のレーザ加工装置は、レー
ザ発振部40、レーザ電源部42、レーザ冷却部44、
制御部46および入出力インタフェース部48から構成
されている。
【0430】レーザ発振部40は、チャンバ50内に配
置された励起用光源たとえば励起ランプ52およびレー
ザ媒体たとえばYAGロッド54と、チャンバ50の外
でYAGロッド54の光軸上に配置された一対の光共振
器ミラー56,58とを有している。
置された励起用光源たとえば励起ランプ52およびレー
ザ媒体たとえばYAGロッド54と、チャンバ50の外
でYAGロッド54の光軸上に配置された一対の光共振
器ミラー56,58とを有している。
【0440】励起ランプ52が点灯すると、その光エネ
ルギーでYAGロッド54が励起され、YAGロッド5
4の両端面より光軸上に出た光が光共振器ミラー56,
58の間で反射を繰り返して増幅されたのちパルスレー
ザ光LBとして出力ミラー56を抜け出る。出力ミラー
56より抜け出たパルスレーザ光LBは、レーザ分岐部
(図示せず)へ送られ、そこで複数の分岐パルスレーザ
光に分割される。そして各々の分岐パルスレーザ光が各
光ファイバ(図示せず)を介して加工場所の各出射ユニ
ット(図示せず)へ送られ、各出射ユニットより被加工
物に向けて照射されるようになっている。
ルギーでYAGロッド54が励起され、YAGロッド5
4の両端面より光軸上に出た光が光共振器ミラー56,
58の間で反射を繰り返して増幅されたのちパルスレー
ザ光LBとして出力ミラー56を抜け出る。出力ミラー
56より抜け出たパルスレーザ光LBは、レーザ分岐部
(図示せず)へ送られ、そこで複数の分岐パルスレーザ
光に分割される。そして各々の分岐パルスレーザ光が各
光ファイバ(図示せず)を介して加工場所の各出射ユニ
ット(図示せず)へ送られ、各出射ユニットより被加工
物に向けて照射されるようになっている。
【0450】レーザ電源部42は、レーザ発振部40に
供給すべきレーザ発振用の電力を蓄積するコンデンサ6
0と、商用交流たとえば三相交流電源電圧(U,V,
W)を直流に変換してコンデンサ60を所定の直流電圧
に充電するための充電回路62と、コンデンサ60とレ
ーザ発振部40の励起ランプ52との間に接続されたス
イッチング素子たとえばトランジスタ64と、このトラ
ンジスタ64を高周波数(たとえば10kHz)でスイ
ッチング駆動する駆動回路66とを含んでいる。
供給すべきレーザ発振用の電力を蓄積するコンデンサ6
0と、商用交流たとえば三相交流電源電圧(U,V,
W)を直流に変換してコンデンサ60を所定の直流電圧
に充電するための充電回路62と、コンデンサ60とレ
ーザ発振部40の励起ランプ52との間に接続されたス
イッチング素子たとえばトランジスタ64と、このトラ
ンジスタ64を高周波数(たとえば10kHz)でスイ
ッチング駆動する駆動回路66とを含んでいる。
【0460】レーザ冷却部44は、レーザ発振部40の
励起ランプ52およびYAGロッド54より発生される
熱をレーザ発振部40の外へ放熱するためのもので、レ
ーザ発振部40に所定温度に温調された冷却媒体たとえ
ば冷却水cwを供給するように構成されている。
励起ランプ52およびYAGロッド54より発生される
熱をレーザ発振部40の外へ放熱するためのもので、レ
ーザ発振部40に所定温度に温調された冷却媒体たとえ
ば冷却水cwを供給するように構成されている。
【0470】制御部46は、装置全体ないし各部の動作
を制御するためのCPU(マイクロプロセッサ)70
と、このCPU70に所定の処理を行わせるための各種
プログラムおよび各種設定値または演算データを保持す
るためのメモリ72と、パルスレーザ光LBのレーザ出
力またはこれに対応するレーザ電源部42内の電気的パ
ラメータを計測するための各種計測手段74〜82等を
含んでいる。
を制御するためのCPU(マイクロプロセッサ)70
と、このCPU70に所定の処理を行わせるための各種
プログラムおよび各種設定値または演算データを保持す
るためのメモリ72と、パルスレーザ光LBのレーザ出
力またはこれに対応するレーザ電源部42内の電気的パ
ラメータを計測するための各種計測手段74〜82等を
含んでいる。
【0480】これら計測手段のうち、レーザ出力測定部
74は、光共振器ミラー58の後方に漏れるレーザ光L
B’を受光するフォトセンサと、このフォトセンサより
出力される電気信号に基づいてパルスレーザ光LBのレ
ーザ出力を求める測定回路とを有しており、求めたレー
ザ出力測定値SL をCPU70に与える。
74は、光共振器ミラー58の後方に漏れるレーザ光L
B’を受光するフォトセンサと、このフォトセンサより
出力される電気信号に基づいてパルスレーザ光LBのレ
ーザ出力を求める測定回路とを有しており、求めたレー
ザ出力測定値SL をCPU70に与える。
【0490】電圧測定回路76は、電圧センス線78を
介して励起ランプ52の両端子に電気的に接続されてお
り、電源部42より励起ランプ52に印加される電圧
(ランプ電圧)をたとえば実効値で測定し、求めたラン
プ電圧測定値SV をCPU70に与える。また、電流測
定回路80は、電源部42のランプ電流供給回路に取付
されている電流センサたとえばホールCT82より電流
検出信号を受け取って、励起ランプ52に供給される電
流(ランプ電流)Iを実効値で測定し、求めたランプ電
流測定値SI をCPU70に与える。
介して励起ランプ52の両端子に電気的に接続されてお
り、電源部42より励起ランプ52に印加される電圧
(ランプ電圧)をたとえば実効値で測定し、求めたラン
プ電圧測定値SV をCPU70に与える。また、電流測
定回路80は、電源部42のランプ電流供給回路に取付
されている電流センサたとえばホールCT82より電流
検出信号を受け取って、励起ランプ52に供給される電
流(ランプ電流)Iを実効値で測定し、求めたランプ電
流測定値SI をCPU70に与える。
【0500】CPU70は、電源部42に対しては、コ
ンデンサ60を設定電圧に充電させるための充電制御信
号CFを充電回路62に与えるとともに、波形制御用の
スイッチング制御信号SWを駆動回路66に与える。
ンデンサ60を設定電圧に充電させるための充電制御信
号CFを充電回路62に与えるとともに、波形制御用の
スイッチング制御信号SWを駆動回路66に与える。
【0510】本実施例の波形制御において、CPU70
は、レーザ出力測定部74からのレーザ出力測定値SL
、電圧測定回路76からのランプ電圧測定値SV また
は電流測定回路80からのランプ電流測定値SI 、ある
いはランプ電圧測定値SV およびランプ電流測定値SI
から求めたランプ電力測定値SP (SV ・SI )を予め
設定されている波形制御用の基準波形と比較して比較誤
差を求め、この比較誤差を零にするように、たとえばパ
ルス幅制御信号からなるスイッチング制御信号SWを生
成する。
は、レーザ出力測定部74からのレーザ出力測定値SL
、電圧測定回路76からのランプ電圧測定値SV また
は電流測定回路80からのランプ電流測定値SI 、ある
いはランプ電圧測定値SV およびランプ電流測定値SI
から求めたランプ電力測定値SP (SV ・SI )を予め
設定されている波形制御用の基準波形と比較して比較誤
差を求め、この比較誤差を零にするように、たとえばパ
ルス幅制御信号からなるスイッチング制御信号SWを生
成する。
【0520】このようなフィードバック制御方式によ
り、レーザ発振部40より発振出力されるパルスレーザ
光LBのレーザ出力またはこれに対応するレーザ電源部
42内の電気的パラメータ(ランプ電流、ランプ電力、
ランプ電圧)が各波形制御用の基準波形に倣うように制
御される。
り、レーザ発振部40より発振出力されるパルスレーザ
光LBのレーザ出力またはこれに対応するレーザ電源部
42内の電気的パラメータ(ランプ電流、ランプ電力、
ランプ電圧)が各波形制御用の基準波形に倣うように制
御される。
【0530】入出力/インタフェース部48は、入力部
84、表示部86および通信インタフェース回路(I/
F)88等を含んでいる。入力部84は操作パネル14
のキー・スイッチ群から構成され、表示部86は装置前
面部のLED群やディスプレイ22で構成されている。
I/F88は、外部の装置またはユニットとのデータ通
信に用いられる。
84、表示部86および通信インタフェース回路(I/
F)88等を含んでいる。入力部84は操作パネル14
のキー・スイッチ群から構成され、表示部86は装置前
面部のLED群やディスプレイ22で構成されている。
I/F88は、外部の装置またはユニットとのデータ通
信に用いられる。
【0540】なお、操作パネル14を装置本体から分離
可能なユニット(プログラムユニット)として構成する
ことも可能である。その場合、このプログラムユニット
はCPU70、メモリ72、入力部84および表示部8
6を具備し、通信ケーブルを介して装置本体側と電気的
に接続されることになる。
可能なユニット(プログラムユニット)として構成する
ことも可能である。その場合、このプログラムユニット
はCPU70、メモリ72、入力部84および表示部8
6を具備し、通信ケーブルを介して装置本体側と電気的
に接続されることになる。
【0550】図4に、本実施例においてCPU70およ
びメモリ72によって構築される機能的手段の構成をブ
ロック図として示す。図示のように、入力バッファ部9
0、制御信号生成部92、演算部94、データ管理部9
6、測定値記憶部98、設定値記憶部100、画像フォ
ーマット記憶部102および表示出力部104がCPU
70およびメモリ72によって構成される。
びメモリ72によって構築される機能的手段の構成をブ
ロック図として示す。図示のように、入力バッファ部9
0、制御信号生成部92、演算部94、データ管理部9
6、測定値記憶部98、設定値記憶部100、画像フォ
ーマット記憶部102および表示出力部104がCPU
70およびメモリ72によって構成される。
【0560】入力バッファ部90は、CPU70に入力
されるデータ、たとえば入力部84からの設定データ、
通信インタフェース回路88からの外部データ、冷却部
44または計測回路74,76,80からの測定値デー
タ等を取り込んで一時的に保持する。
されるデータ、たとえば入力部84からの設定データ、
通信インタフェース回路88からの外部データ、冷却部
44または計測回路74,76,80からの測定値デー
タ等を取り込んで一時的に保持する。
【0570】演算部94はCPU70に求められる一切
の演算処理を実行する。制御信号生成部92は、CPU
70から外部に対する一切の制御信号を発生する。デー
タ管理部96は、CPU70およびメモリ72内のデー
タの保存、移動の一切を管理する。
の演算処理を実行する。制御信号生成部92は、CPU
70から外部に対する一切の制御信号を発生する。デー
タ管理部96は、CPU70およびメモリ72内のデー
タの保存、移動の一切を管理する。
【0580】測定値記憶部98はCPU70に入力され
た測定値データを保持し、設定値記憶部100はCPU
70に入力された設定値データあるいはCPU70内で
演算により求められる設定値データを保持する。
た測定値データを保持し、設定値記憶部100はCPU
70に入力された設定値データあるいはCPU70内で
演算により求められる設定値データを保持する。
【0590】画像フォーマット記憶部102には、ディ
スプレイ22で表示される種々の画面の中で表示内容が
固定されている定型部分の画像を表す画像データが蓄積
されている。表示出力部104は、画像フォーマット記
憶部102より与えられる定型画像にデータ管理部96
からの設定値等の変数の画像を重ね合わせて合成画面を
組み立て、この合成画面の画像データを表示部86に出
力する。
スプレイ22で表示される種々の画面の中で表示内容が
固定されている定型部分の画像を表す画像データが蓄積
されている。表示出力部104は、画像フォーマット記
憶部102より与えられる定型画像にデータ管理部96
からの設定値等の変数の画像を重ね合わせて合成画面を
組み立て、この合成画面の画像データを表示部86に出
力する。
【0600】以下、図5〜図20につき本実施例のレー
ザ加工装置において波形制御用の基準波形を設定するた
めの機能を説明する。
ザ加工装置において波形制御用の基準波形を設定するた
めの機能を説明する。
【0610】図5に、本実施例においてディスプレイ2
2で表示される主要な画面とそれら画面相互の切り換わ
りの関係を示す。
2で表示される主要な画面とそれら画面相互の切り換わ
りの関係を示す。
【0620】本実施例では、ユーザに各種設定項目につ
いて所望の設定値を入力させるための『スケジュール』
画面、装置内の主要なステータス情報を表示する『ス
テータス』画面、および直前に発射されたパルスレー
ザ光LBについてのレーザ出力測定値を表示する『パワ
ーモニタ』画面の3つが主要な画面であり、その中で
も『スケジュール』画面が特に重要な画面である。
いて所望の設定値を入力させるための『スケジュール』
画面、装置内の主要なステータス情報を表示する『ス
テータス』画面、および直前に発射されたパルスレー
ザ光LBについてのレーザ出力測定値を表示する『パワ
ーモニタ』画面の3つが主要な画面であり、その中で
も『スケジュール』画面が特に重要な画面である。
【0630】これら3つの画面,,は、メニュー
・キー32の操作により相互間で切換可能である。すな
わち、『スケジュール』画面が表示されている時にメ
ニュー・キー32が押されると『ステータス』画面に
切り換わり、『ステータス』画面が表示されている時
にメニュー・キー32が押されると『パワーモニタ』画
面に切り換わり、『パワーモニタ』画面が表示され
ている時にメニュー・キー32が押されると『スケジュ
ール』画面に切り換わるようになっている。
・キー32の操作により相互間で切換可能である。すな
わち、『スケジュール』画面が表示されている時にメ
ニュー・キー32が押されると『ステータス』画面に
切り換わり、『ステータス』画面が表示されている時
にメニュー・キー32が押されると『パワーモニタ』画
面に切り換わり、『パワーモニタ』画面が表示され
ている時にメニュー・キー32が押されると『スケジュ
ール』画面に切り換わるようになっている。
【0640】また、『スケジュール』画面でスタート
・ボタン34が押されると、パルスレーザ光LBが発射
され、その直後に『パワーモニタ』画面に切り換わる
ようになっている。
・ボタン34が押されると、パルスレーザ光LBが発射
され、その直後に『パワーモニタ』画面に切り換わる
ようになっている。
【0650】図6および図7に『スケジュール』画面の
表示内容例を示す。本実施例の『スケジュール』画面に
は、「FIX」モード(図6)と「FREE」モード
(図7)の2つの設定画面モードがある。
表示内容例を示す。本実施例の『スケジュール』画面に
は、「FIX」モード(図6)と「FREE」モード
(図7)の2つの設定画面モードがある。
【0660】後述するようなキー入力操作により画面最
上段の行の画面モード選択項目「FORM」において
「FIX」を指示すると図6に示すような「FIXモー
ド」の画面が表示され、「FREE」を選択すると図7
に示すような「FREEモード」の画面が表示されるよ
うになっている。「スケジュール」画面に関する本装置
の機能および作用については後で詳細に説明する。
上段の行の画面モード選択項目「FORM」において
「FIX」を指示すると図6に示すような「FIXモー
ド」の画面が表示され、「FREE」を選択すると図7
に示すような「FREEモード」の画面が表示されるよ
うになっている。「スケジュール」画面に関する本装置
の機能および作用については後で詳細に説明する。
【0670】図8に、『ステータス』画面の表示内容例
を示す。『ステータス』画面では、マルチポジション加
工用の複数個たとえば6個の分岐パルスレーザ光(BEAM
-1〜BEAM-6)に対するシャッタのON/OFF状態、レ
ーザ出力波形制御で現在選択されているフィードバック
・パラメータ(レーザ出力(LASER POWER)/ランプ電力
(LAMP POWER)/ランプ電流(LAMP CURRENT))その他の主
要なステータス情報が表示される。
を示す。『ステータス』画面では、マルチポジション加
工用の複数個たとえば6個の分岐パルスレーザ光(BEAM
-1〜BEAM-6)に対するシャッタのON/OFF状態、レ
ーザ出力波形制御で現在選択されているフィードバック
・パラメータ(レーザ出力(LASER POWER)/ランプ電力
(LAMP POWER)/ランプ電流(LAMP CURRENT))その他の主
要なステータス情報が表示される。
【0680】図9に、『パワーモニタ』画面の表示内容
例を示す。『パワーモニタ』画面では、直前に発射され
たパルスレーザ光LBのエネルギー(J)、平均出力
(W)の測定値等が表示される。
例を示す。『パワーモニタ』画面では、直前に発射され
たパルスレーザ光LBのエネルギー(J)、平均出力
(W)の測定値等が表示される。
【0690】普通は、一回のスタート・ボタン34の押
し下げ操作に応動して、予めスケジュールモードで設定
された個数のパルスレーザ光LBが一定のサイクルで繰
り返し発射される。『パワーモニタ』画面で表示される
エネルギー測定値「ENERGY」はその中の代表的な
1個のパルスたとえば最後のパルスについての測定値で
あり、平均出力測定値「AVERAGE」はパルス1個
当たりのエネルギー測定値「ENERGY」にサイクル
数つまり単位時間当たりのパルス繰り返し数(REPE
AT)を乗算した値である。
し下げ操作に応動して、予めスケジュールモードで設定
された個数のパルスレーザ光LBが一定のサイクルで繰
り返し発射される。『パワーモニタ』画面で表示される
エネルギー測定値「ENERGY」はその中の代表的な
1個のパルスたとえば最後のパルスについての測定値で
あり、平均出力測定値「AVERAGE」はパルス1個
当たりのエネルギー測定値「ENERGY」にサイクル
数つまり単位時間当たりのパルス繰り返し数(REPE
AT)を乗算した値である。
【0700】『パワーモニタ』画面では、画面最上段の
行の波形選択項目「MW」で「ON」を指示すると、図
9に示すように、画面の右半分の領域に今回発射された
パルスレーザ光LBのレーザ出力波形を表す波形図が表
示される。この波形図は、レーザ出力測定部74からの
レーザ出力測定値SL を基にCPU70において演算部
94により所要のデータ処理を行って得られるものであ
り、測定値記憶部98に蓄積される。
行の波形選択項目「MW」で「ON」を指示すると、図
9に示すように、画面の右半分の領域に今回発射された
パルスレーザ光LBのレーザ出力波形を表す波形図が表
示される。この波形図は、レーザ出力測定部74からの
レーザ出力測定値SL を基にCPU70において演算部
94により所要のデータ処理を行って得られるものであ
り、測定値記憶部98に蓄積される。
【0710】なお、該波形選択項目「MW」で「OF
F」を指示すると、図示しないが、画面右半分の領域に
は『スケジュール』画面で設定されている基準波形の波
形図が表示されるようになっている。
F」を指示すると、図示しないが、画面右半分の領域に
は『スケジュール』画面で設定されている基準波形の波
形図が表示されるようになっている。
【0720】以下、図6、図7および図10〜図20に
つき『スケジュール』画面に関する本装置の機能および
作用について説明する。
つき『スケジュール』画面に関する本装置の機能および
作用について説明する。
【0730】図10は、『スケジュール』画面のモード
におけるCPU70のメインの処理手順を示す。図1
1、図12および図13には、メイン処理の中の(+)
キー入力表示処理、(−)キー入力表示処理およびキー
入力実行処理(「FIX」モード)の手順をそれぞれ示
す。また、図14に本実施例の「FIX」モードにおけ
る設定値データの記憶配置例を模式的に示し、図15に
「FIX」モードにおける基準波形の波形フォーマット
例を示す。図16に、「FIX」モードの画面に表示さ
れる基準波形の波形図とレーザ出力基準値との関係を示
す。図17に、本実施例における基準波形設定時の波形
図表示機能を示す。図18に、「FIX」モードで設定
可能な基準波形の波形パターン例を示す。図19に本実
施例の「FREE」モードにおける設定値データの記憶
配置例を模式的に示し、図20に「FREE」モードに
おける基準波形の波形フォーマット例を示す。
におけるCPU70のメインの処理手順を示す。図1
1、図12および図13には、メイン処理の中の(+)
キー入力表示処理、(−)キー入力表示処理およびキー
入力実行処理(「FIX」モード)の手順をそれぞれ示
す。また、図14に本実施例の「FIX」モードにおけ
る設定値データの記憶配置例を模式的に示し、図15に
「FIX」モードにおける基準波形の波形フォーマット
例を示す。図16に、「FIX」モードの画面に表示さ
れる基準波形の波形図とレーザ出力基準値との関係を示
す。図17に、本実施例における基準波形設定時の波形
図表示機能を示す。図18に、「FIX」モードで設定
可能な基準波形の波形パターン例を示す。図19に本実
施例の「FREE」モードにおける設定値データの記憶
配置例を模式的に示し、図20に「FREE」モードに
おける基準波形の波形フォーマット例を示す。
【0740】上記したように、『パワーモニタ』画面で
メニュー・キー32が押されると、図10に示すような
スケジュールモードに入る。
メニュー・キー32が押されると、図10に示すような
スケジュールモードに入る。
【0750】スケジュールモードに入ると、先ず、前回
のスケジュールモードの終了直前に表示されていた『ス
ケジュール』画面をディスプレイ22に表示する(ステ
ップB1 )。したがって、図6に示すような「FIX」
モードの『スケジュール』画面か、または図7に示すよ
うな「FREE」モードの『スケジュール』画面が表示
される。
のスケジュールモードの終了直前に表示されていた『ス
ケジュール』画面をディスプレイ22に表示する(ステ
ップB1 )。したがって、図6に示すような「FIX」
モードの『スケジュール』画面か、または図7に示すよ
うな「FREE」モードの『スケジュール』画面が表示
される。
【0760】この表示された『スケジュール』画面にお
いて、ユーザは、操作パネル14上のキー・ボタン群2
4〜38からのキー入力により、所望の設定値入力や装
置への動作指示を行うことができる(ステップB2 )。
いて、ユーザは、操作パネル14上のキー・ボタン群2
4〜38からのキー入力により、所望の設定値入力や装
置への動作指示を行うことができる(ステップB2 )。
【0770】なお、図6および図7では、図解の容易化
のため、設定モード画面中で設定入力可能な項目を点線
で囲んでいる。実際の画面では、これらの点線は表示さ
れない。また、図6〜図9において、中抜き文字または
太字で表示される数値は、各種測定値であり、キー入力
で設定したり変更できるものではない。
のため、設定モード画面中で設定入力可能な項目を点線
で囲んでいる。実際の画面では、これらの点線は表示さ
れない。また、図6〜図9において、中抜き文字または
太字で表示される数値は、各種測定値であり、キー入力
で設定したり変更できるものではない。
【0780】たとえば、「FREE」モードの『スケジ
ュール』画面(図7)を「FIX」モードの『スケジュ
ール』画面(図6)に切り換えたい場合は、カーソルを
画面第1行の画面モード選択項目「FORM」のデータ
入力位置に移動させ、(+)キー26を押せばよい。
ュール』画面(図7)を「FIX」モードの『スケジュ
ール』画面(図6)に切り換えたい場合は、カーソルを
画面第1行の画面モード選択項目「FORM」のデータ
入力位置に移動させ、(+)キー26を押せばよい。
【0790】そうすると、装置側では、(+)キー入力
表示処理が実行される(ステップB3 )。この処理(図
11)では、カーソル位置が「FIX/FREE」位置
にあることを判断し、カーソル位置の表示を「FRE
E」から「FIX」に変える(ステップC2 )。また、
カーソル位置が「FIX」になっていることを表すデー
タも一時的に保持しておく。
表示処理が実行される(ステップB3 )。この処理(図
11)では、カーソル位置が「FIX/FREE」位置
にあることを判断し、カーソル位置の表示を「FRE
E」から「FIX」に変える(ステップC2 )。また、
カーソル位置が「FIX」になっていることを表すデー
タも一時的に保持しておく。
【0800】次に、ユーザが書き込みキー30を押す
と、装置側はキー入力実行処理を実行し(ステップB5
)、ディスプレイ画面を「FREE」モードの『スケ
ジュール』画面(図7)から「FIX」モードの『スケ
ジュール』画面(図6)に切り換える(図13のステッ
プE3 とは逆の切換処理)。そして、図14に示すよう
に設定値記憶部100内の所定のエリアに設けられてい
る所定の記憶番地A2 に現在の設定画面モードが「FI
X」モードであることを示すデータまたはフラグを格納
する(図14)。
と、装置側はキー入力実行処理を実行し(ステップB5
)、ディスプレイ画面を「FREE」モードの『スケ
ジュール』画面(図7)から「FIX」モードの『スケ
ジュール』画面(図6)に切り換える(図13のステッ
プE3 とは逆の切換処理)。そして、図14に示すよう
に設定値記憶部100内の所定のエリアに設けられてい
る所定の記憶番地A2 に現在の設定画面モードが「FI
X」モードであることを示すデータまたはフラグを格納
する(図14)。
【0810】また、ユーザは、1画面分の一群の設定値
を管理するためのラベルまたはスケジュールNo.を
「03」に設定したい場合は、カーソル・キー24を画
面第1行のスケジュールNo.設定項目「SCH.#」
のデータ入力位置に移動させ、(+)キー26または
(−)キー28を操作してスケジュールNo.を所望の
値「03」に合わせればよい。
を管理するためのラベルまたはスケジュールNo.を
「03」に設定したい場合は、カーソル・キー24を画
面第1行のスケジュールNo.設定項目「SCH.#」
のデータ入力位置に移動させ、(+)キー26または
(−)キー28を操作してスケジュールNo.を所望の
値「03」に合わせればよい。
【0820】装置側では、(+)キー26が押される度
に(+)キー入力表示処理を実行し(ステップB3 )、
(−)キー28が押される度に(−)キー入力表示処理
を実行する(ステップB4 )。カーソル位置が数値入力
位置にあるので、これらのキー入力表示処理では、カー
ソル位置の数値を1つディクリメントまたはインクリメ
ントして更新し、その更新後の数値を画面に表示すると
ともに、その数値のデータを適当な記憶領域またはレジ
スタに保持しておく(ステップC5 ,D5 )。
に(+)キー入力表示処理を実行し(ステップB3 )、
(−)キー28が押される度に(−)キー入力表示処理
を実行する(ステップB4 )。カーソル位置が数値入力
位置にあるので、これらのキー入力表示処理では、カー
ソル位置の数値を1つディクリメントまたはインクリメ
ントして更新し、その更新後の数値を画面に表示すると
ともに、その数値のデータを適当な記憶領域またはレジ
スタに保持しておく(ステップC5 ,D5 )。
【0830】ユーザは、上記のようにスケジュールN
o.の表示が「03」になったところで、書き込みキー
30を押せばよい。このキー入力に応動して、CPU7
0はキー入力実行処理(ステップB5 )を実行する。こ
の場合は、スケジュールNo.を「03」と確定し(ス
テップE7 )、設定値記憶部100内の所定の記憶番地
A1 に設定値「03」のデータを格納する(図14)。
o.の表示が「03」になったところで、書き込みキー
30を押せばよい。このキー入力に応動して、CPU7
0はキー入力実行処理(ステップB5 )を実行する。こ
の場合は、スケジュールNo.を「03」と確定し(ス
テップE7 )、設定値記憶部100内の所定の記憶番地
A1 に設定値「03」のデータを格納する(図14)。
【0840】「FIX」モードでは、波形制御用の基準
波形を設定入力するために、レーザ出力基準値「PEA
K」および波形要素「↑SLOPE」、「FLASH
1」、「FLASH2」、「FLASH3」、「↓SL
OPE」の各項目に所望の数値データを設定入力するよ
うになっている。
波形を設定入力するために、レーザ出力基準値「PEA
K」および波形要素「↑SLOPE」、「FLASH
1」、「FLASH2」、「FLASH3」、「↓SL
OPE」の各項目に所望の数値データを設定入力するよ
うになっている。
【0850】これらの項目のうち、レーザ出力基準値
「PEAK」には、任意のレーザ出力値をkW単位で設
定入力できる。もっとも、普通は、当該スケジュールN
o.で発射させるべきパルスレーザ光LBに与えたいレ
ーザ出力の最大値付近で比率計算の基準に適した値(た
とえば10,20,50,100,1000等)が選ば
れてよい。
「PEAK」には、任意のレーザ出力値をkW単位で設
定入力できる。もっとも、普通は、当該スケジュールN
o.で発射させるべきパルスレーザ光LBに与えたいレ
ーザ出力の最大値付近で比率計算の基準に適した値(た
とえば10,20,50,100,1000等)が選ば
れてよい。
【0860】また、立ち上げ区間「↑SLOPE」およ
び立ち下げ区間「↓SLOPE」については時間のみが
設定入力される。フラッシュ区間「FLASH1」、
「FLASH2」、「FLASH3」については、各区
間の時間とともに、区間毎のレーザ出力値がレーザ出力
基準値「PEAK」に対する比率の値として設定入力さ
れる。
び立ち下げ区間「↓SLOPE」については時間のみが
設定入力される。フラッシュ区間「FLASH1」、
「FLASH2」、「FLASH3」については、各区
間の時間とともに、区間毎のレーザ出力値がレーザ出力
基準値「PEAK」に対する比率の値として設定入力さ
れる。
【0870】各区間の時間およびレーザ出力比率は任意
の値に設定可能であるが、実際のアプリケーションに鑑
みて設定可能な範囲に一定の制限を設けてよい。たとえ
ば、波形全体の時間(パルス幅)は0.05(ms)〜
30.0(ms)、各比率は0(%)〜200(%)と
してよい。
の値に設定可能であるが、実際のアプリケーションに鑑
みて設定可能な範囲に一定の制限を設けてよい。たとえ
ば、波形全体の時間(パルス幅)は0.05(ms)〜
30.0(ms)、各比率は0(%)〜200(%)と
してよい。
【0880】基準波形設定用の各項目には数値が入力さ
れる。ユーザは、カーソルを各項目のデータ入力位置に
移動させ、(+)キー26または(−)キー28を操作
して所望の数値に合わせ、書き込みキー30を押せばよ
い。それらのキー操作に応動して、CPU70は、上記
したようなスケジュールNo.設定項目「SCH.#」
に対するのと同様の数値入力表示および設定処理を実行
し、入力した各設定値のデータを設定値記憶部100内
の所定の記憶番地に格納する(図14)。
れる。ユーザは、カーソルを各項目のデータ入力位置に
移動させ、(+)キー26または(−)キー28を操作
して所望の数値に合わせ、書き込みキー30を押せばよ
い。それらのキー操作に応動して、CPU70は、上記
したようなスケジュールNo.設定項目「SCH.#」
に対するのと同様の数値入力表示および設定処理を実行
し、入力した各設定値のデータを設定値記憶部100内
の所定の記憶番地に格納する(図14)。
【0890】図6に示す設定例では、レーザ出力基準値
「PEAK」を10.0(kW)とし、フラッシュ区間
「FLASH1」、「FLASH2」、「FLASH
3」のレーザ出力比率をそれぞれ100.0(%)、2
5.0(%)、50.0(%)に設定している。つま
り、kW換算値では、フラッシュ区間「FLASH
1」、「FLASH2」、「FLASH3」のレーザ出
力値(kw)をそれぞれ10.0(kW)、2.5(k
W)、5.0(kW)に設定したことになる。
「PEAK」を10.0(kW)とし、フラッシュ区間
「FLASH1」、「FLASH2」、「FLASH
3」のレーザ出力比率をそれぞれ100.0(%)、2
5.0(%)、50.0(%)に設定している。つま
り、kW換算値では、フラッシュ区間「FLASH
1」、「FLASH2」、「FLASH3」のレーザ出
力値(kw)をそれぞれ10.0(kW)、2.5(k
W)、5.0(kW)に設定したことになる。
【0900】CPU70は、上記のような波形要素項目
の数値設定処理(ステップE7 )の中で、波形制御用の
基準波形および表示用の基準波形グラフを作成する。
の数値設定処理(ステップE7 )の中で、波形制御用の
基準波形および表示用の基準波形グラフを作成する。
【0910】図15に示すように、「FIX」モードに
おける基準波形は、立ち上げ区間「↑SLOPE」に対
応したアップスロープ波形部Ls と、第1のフラッシュ
区間「FLASH1」、第2のフラッシュ区間「FLA
SH2」および第3のフラッシュ区間「FLASH3」
にそれぞれ対応した第1、第2および第3のフラット波
形部L1 、L2 ,L3 と、立ち下げ区間「↓SLOP
E」に対応したダウンスロープ波形部Le とから構成さ
れる。
おける基準波形は、立ち上げ区間「↑SLOPE」に対
応したアップスロープ波形部Ls と、第1のフラッシュ
区間「FLASH1」、第2のフラッシュ区間「FLA
SH2」および第3のフラッシュ区間「FLASH3」
にそれぞれ対応した第1、第2および第3のフラット波
形部L1 、L2 ,L3 と、立ち下げ区間「↓SLOP
E」に対応したダウンスロープ波形部Le とから構成さ
れる。
【0920】先ず、表示用の基準波形グラフについて
は、立ち上げ区間「↑SLOPE」の時間ts と第1の
フラッシュ区間「FLASH1」の時間t1 およびレー
ザ出力比率r1 とから、アップスロープ波形部Ls およ
び第1のフラット波形部L1 が同時に求められる。その
後で、後続の波形部が前の波形部に接続する形で、第2
のフラッシュ区間「FLASH2」の時間t2 およびレ
ーザ出力比率r2 から第2のフラット波形部L2 が求め
られ、第3のフラッシュ区間「FLASH3」の時間t
3 およびレーザ出力比率r3 から第3のフラット波形部
L3 が求められ、立ち下げ区間「↓SLOPE」の時間
te からダウンスロープ波形部Le が求められる。
は、立ち上げ区間「↑SLOPE」の時間ts と第1の
フラッシュ区間「FLASH1」の時間t1 およびレー
ザ出力比率r1 とから、アップスロープ波形部Ls およ
び第1のフラット波形部L1 が同時に求められる。その
後で、後続の波形部が前の波形部に接続する形で、第2
のフラッシュ区間「FLASH2」の時間t2 およびレ
ーザ出力比率r2 から第2のフラット波形部L2 が求め
られ、第3のフラッシュ区間「FLASH3」の時間t
3 およびレーザ出力比率r3 から第3のフラット波形部
L3 が求められ、立ち下げ区間「↓SLOPE」の時間
te からダウンスロープ波形部Le が求められる。
【0930】このようにして求められた基準波形グラフ
のデータは、設定値記憶部100の所定の記憶領域に蓄
積される。
のデータは、設定値記憶部100の所定の記憶領域に蓄
積される。
【0940】また、波形制御用の本来の基準波形は、上
記のようにして生成した基準波形グラフの各部のレーザ
出力比率(r)にレーザ出力基準値「PEAK」を乗算
する(換算)ことによって求められる。
記のようにして生成した基準波形グラフの各部のレーザ
出力比率(r)にレーザ出力基準値「PEAK」を乗算
する(換算)ことによって求められる。
【0950】波形制御用の基準波形を表す基準波形デー
タも設定値記憶部100の所定の記憶領域に蓄積され
る。そして、パルスレーザ光LBを発射する時、CPU
70は制御信号生成部92ないし演算部94の機能にお
いて該波形制御用の基準波形データをフィードバック式
波形制御の基準値に用いる。
タも設定値記憶部100の所定の記憶領域に蓄積され
る。そして、パルスレーザ光LBを発射する時、CPU
70は制御信号生成部92ないし演算部94の機能にお
いて該波形制御用の基準波形データをフィードバック式
波形制御の基準値に用いる。
【0960】「FIX」モードでは、図6に示すよう
に、設定入力されている基準波形の波形パターンを基準
波形グラフの形態で画面上に映し出すことができる。基
準波形グラフを見たい場合、ユーザはカーソルを画面第
2行のグラフON/OFF選択項目「ω」のデータ入力
位置に移動させ、(+)キー26を押せばよい。
に、設定入力されている基準波形の波形パターンを基準
波形グラフの形態で画面上に映し出すことができる。基
準波形グラフを見たい場合、ユーザはカーソルを画面第
2行のグラフON/OFF選択項目「ω」のデータ入力
位置に移動させ、(+)キー26を押せばよい。
【0970】このキー操作に応動して、CPU70は
(+)キー入力表示処理を実行し(ステップB3 )、カ
ーソル位置の表示を「ON」にする(ステップC4 )。
次に、ユーザが書き込みキー30を押すと、CPU70
は(+)キー入力表示処理を実行して(ステップB5
)、オン設定を行うとともに基準波形グラフを画面内
の所定の領域(画面右半分の領域)に表示する(ステッ
プE6 、図16の「グラフOFF」画面)。
(+)キー入力表示処理を実行し(ステップB3 )、カ
ーソル位置の表示を「ON」にする(ステップC4 )。
次に、ユーザが書き込みキー30を押すと、CPU70
は(+)キー入力表示処理を実行して(ステップB5
)、オン設定を行うとともに基準波形グラフを画面内
の所定の領域(画面右半分の領域)に表示する(ステッ
プE6 、図16の「グラフOFF」画面)。
【0980】上記のように、「↑SLOPE」から始ま
って「FLASH1」、「FLASH2」、…の順に各
波形要素項目の設定値が入力されるにしたがって、基準
波形の波形部Ls ,L1 ,L2 ,…が逐次求められる。
そして、画面上には、基準波形グラフを作成途上の段階
から表示できる。
って「FLASH1」、「FLASH2」、…の順に各
波形要素項目の設定値が入力されるにしたがって、基準
波形の波形部Ls ,L1 ,L2 ,…が逐次求められる。
そして、画面上には、基準波形グラフを作成途上の段階
から表示できる。
【0990】したがって、ユーザは、各波形要素項目に
設定値を順に入力するにつれて基準波形が次第に出来上
がっていく様子を画面の波形図グラフで確認しながら、
自分の目的とする波形パターンを短時間で簡単に作成す
ることができる。また、いったん出来上がった基準波形
の各波形部Lを変更するのも容易かつ自在に行える。
設定値を順に入力するにつれて基準波形が次第に出来上
がっていく様子を画面の波形図グラフで確認しながら、
自分の目的とする波形パターンを短時間で簡単に作成す
ることができる。また、いったん出来上がった基準波形
の各波形部Lを変更するのも容易かつ自在に行える。
【1000】各波形部Lを変更する場合、ユーザはカー
ソルを該当波形要素項目のデータ位置に移動させること
になる。このとき、CPU70は、画像フォーマット記
憶部102および表示出力部104の機能によって、カ
ーソルの位置する該当波形要素項目に対応する基準波形
グラフの波形部Lをたとえば図17の(A)に示すよう
な点線表示(あるいは特定色の表示)等で識別表示する
ことができる。
ソルを該当波形要素項目のデータ位置に移動させること
になる。このとき、CPU70は、画像フォーマット記
憶部102および表示出力部104の機能によって、カ
ーソルの位置する該当波形要素項目に対応する基準波形
グラフの波形部Lをたとえば図17の(A)に示すよう
な点線表示(あるいは特定色の表示)等で識別表示する
ことができる。
【1010】基準波形グラフを画面から消したい場合
は、カーソルをグラフON/OFF選択項目のデータ入
力位置に合わせて、(−)キー26を押し(「OFF」
が表示される)、次いで書き込みキー30を押せばよ
い。
は、カーソルをグラフON/OFF選択項目のデータ入
力位置に合わせて、(−)キー26を押し(「OFF」
が表示される)、次いで書き込みキー30を押せばよ
い。
【1020】基準波形グラフが表示されないとき、画面
右半分の領域には、代わりに単位時間当たりの繰り返し
回数(サイクル)「REPEAT」、1回のスタート操
作で発射されるパルスレーザ光LBの総数「SHO
T」、良否判定のための1パルス当たりのレーザエネル
ギー監視値(上下限値)「HIGH」、「LOW」の各
設定項目欄が映し出される(図6の「グラフOFF」画
面)。
右半分の領域には、代わりに単位時間当たりの繰り返し
回数(サイクル)「REPEAT」、1回のスタート操
作で発射されるパルスレーザ光LBの総数「SHO
T」、良否判定のための1パルス当たりのレーザエネル
ギー監視値(上下限値)「HIGH」、「LOW」の各
設定項目欄が映し出される(図6の「グラフOFF」画
面)。
【1030】これら発射条件および監視条件の各項目に
ついても、カーソル・キー24、(+)キー26、
(−)キー28、書き込みキー30等を用いて所望の設
定値(数値)を入力することができる。
ついても、カーソル・キー24、(+)キー26、
(−)キー28、書き込みキー30等を用いて所望の設
定値(数値)を入力することができる。
【1040】また、画面の最下行には、高電圧「H
V」、メイン(光共振器)シャッタ「MAIN SHU
TTER」およびガイド光「POSITION」の各部
ON/OFF選択項目が常時表示される。これらの選択
項目についても、上記したグラフON/OFF選択項目
「ω」に対するのと同様のキー操作で、オン/オフ設定
を行うことができる。
V」、メイン(光共振器)シャッタ「MAIN SHU
TTER」およびガイド光「POSITION」の各部
ON/OFF選択項目が常時表示される。これらの選択
項目についても、上記したグラフON/OFF選択項目
「ω」に対するのと同様のキー操作で、オン/オフ設定
を行うことができる。
【1050】上記したように、本実施例の「FIX」モ
ードで設定される基準波形は、アップスロープ波形部L
s と、複数個たとえば3個のフラット波形部L1 、L2
,L3 と、ダウンスロープ波形部Le とから構成され
る。
ードで設定される基準波形は、アップスロープ波形部L
s と、複数個たとえば3個のフラット波形部L1 、L2
,L3 と、ダウンスロープ波形部Le とから構成され
る。
【1060】このうち、立ち上げ時の波形つまりアップ
スロープ波形部Ls は、立ち上げ区間「↑SLOPE」
の時間ts と第1のフラッシュ区間「FLASH1」の
レーザ出力比率r1 の各設定値を適宜な値に選ぶこと
で、所望の傾斜度および立ち上げ時間に調整することが
できる。
スロープ波形部Ls は、立ち上げ区間「↑SLOPE」
の時間ts と第1のフラッシュ区間「FLASH1」の
レーザ出力比率r1 の各設定値を適宜な値に選ぶこと
で、所望の傾斜度および立ち上げ時間に調整することが
できる。
【1070】また、立ち上げ後の波形(L1 、L2 ,L
3 )は、各フラッシュ区間「FLASH1」,「FLA
SH2」,「FLASH3」の時間(t1 ,t2 ,t3
)およびレーザ出力比率(r1 ,r2 ,r3 )の各設
定値を適宜な値に選ぶことで、種々の波形を選択するこ
とができる。
3 )は、各フラッシュ区間「FLASH1」,「FLA
SH2」,「FLASH3」の時間(t1 ,t2 ,t3
)およびレーザ出力比率(r1 ,r2 ,r3 )の各設
定値を適宜な値に選ぶことで、種々の波形を選択するこ
とができる。
【1080】また、立ち下げ時の波形つまりダウンスロ
ープ波形部Le は、最後のフラッシュ区間「FLASH
3」のレーザ出力比率r3 および立ち下げ区間「↓SL
OPE」の時間te の各設定値を適宜な値に選ぶこと
で、所望の傾斜度および立ち下げ時間に調整することが
できる。
ープ波形部Le は、最後のフラッシュ区間「FLASH
3」のレーザ出力比率r3 および立ち下げ区間「↓SL
OPE」の時間te の各設定値を適宜な値に選ぶこと
で、所望の傾斜度および立ち下げ時間に調整することが
できる。
【1090】図18に、本実施例の「FIX」モードで
設定可能な基準波形の他の波形パターン例を示す。
設定可能な基準波形の他の波形パターン例を示す。
【1100】なお、図18の(f)のパターン例は、5
つのフラッシュ区間「FLASH」を用いて作成され
る。このように、フラッシュ区間「FLASH」の数を
増やしても、各区間のレーザ出力値はレーザ出力基準値
「PEAK」に対する比率として設定される。しかも、
基準波形グラフが画面に表示される。したがって、ユー
ザにおいては、各区間の波形部を他の区間の波形部と比
較するのも、あるいは基準波形全体における重みを勘案
するのも簡単であり、画面上で所望の波形パターンを有
する基準波形を作成することができる。
つのフラッシュ区間「FLASH」を用いて作成され
る。このように、フラッシュ区間「FLASH」の数を
増やしても、各区間のレーザ出力値はレーザ出力基準値
「PEAK」に対する比率として設定される。しかも、
基準波形グラフが画面に表示される。したがって、ユー
ザにおいては、各区間の波形部を他の区間の波形部と比
較するのも、あるいは基準波形全体における重みを勘案
するのも簡単であり、画面上で所望の波形パターンを有
する基準波形を作成することができる。
【1110】なお、「FIX」モードでも、フラッシュ
区間「FLASH」の数を増やしたときには、後述する
「FREE」モードと同様の画面スクロール機能を使え
るようになっている。
区間「FLASH」の数を増やしたときには、後述する
「FREE」モードと同様の画面スクロール機能を使え
るようになっている。
【1120】また、基準波形の各部のレーザ出力は、各
区間の波形部のレーザ出力比率rとレーザ出力基準値
「PEAK」との積として直ちに求められる。被加工物
の板厚が変わったために、パルスレーザ光LBの波形全
体のレーザ出力を変えたい場合は、レーザ出力基準値
「PEAK」の設定値だけを変更すればよく、基準波形
の各部についてレーザ出力値を一々修正する必要はな
い。
区間の波形部のレーザ出力比率rとレーザ出力基準値
「PEAK」との積として直ちに求められる。被加工物
の板厚が変わったために、パルスレーザ光LBの波形全
体のレーザ出力を変えたい場合は、レーザ出力基準値
「PEAK」の設定値だけを変更すればよく、基準波形
の各部についてレーザ出力値を一々修正する必要はな
い。
【1130】この場合、『スケジュール』画面では、図
16に示すように、レーザ出力基準値「PEAK」の設
定値が変わるだけであり、画面に表示される基準波形グ
ラフの波形パターンは変わらない。つまり、波形制御用
の基準波形においては各部のレーザ出力値が変化する
が、グラフ表示用の基準波形は各部の(%)値が同じで
あるため波形は変化しない。
16に示すように、レーザ出力基準値「PEAK」の設
定値が変わるだけであり、画面に表示される基準波形グ
ラフの波形パターンは変わらない。つまり、波形制御用
の基準波形においては各部のレーザ出力値が変化する
が、グラフ表示用の基準波形は各部の(%)値が同じで
あるため波形は変化しない。
【1140】さらに、上記したように、各フラッシュ区
間のレーザ出力比率rの値を書き換えることで、各部の
レーザ出力を局所的に変更するのも自在に行える。
間のレーザ出力比率rの値を書き換えることで、各部の
レーザ出力を局所的に変更するのも自在に行える。
【1150】次に、本実施例における「FREE」モー
ドについて説明する。
ドについて説明する。
【1160】「FREE」モードでは、波形制御用の基
準波形を設定入力するために、図7に示すように、レー
ザ出力基準値「PEAK」の設定に加えて複数個の波形
通過ポイント「POINT1」、「POINT2」、
「POINT3」、「POINT4」、…の各項目につ
いて時間tおよびレーザ出力比率rを設定するようにな
っている。
準波形を設定入力するために、図7に示すように、レー
ザ出力基準値「PEAK」の設定に加えて複数個の波形
通過ポイント「POINT1」、「POINT2」、
「POINT3」、「POINT4」、…の各項目につ
いて時間tおよびレーザ出力比率rを設定するようにな
っている。
【1170】設定可能な波形通過ポイント「POIN
T」の個数は、相当の数たとえば20個ほど用意され
る。画面には一度に5個までしか表示されないが、画面
スクロール方式で全部の波形通過点を映し出すことがで
きるようになっている。下方向にスクロールさせたいと
きはカーソルを「▼」の位置に合わせて下方向移動のカ
ーソル・キー24cを押せばよく、上方向にスクロール
させたいときはカーソルを「▲」の位置に合わせて上方
向移動のカーソル・キー24aを押せばよい。装置側
は、カーソル移動処理(ステップB6 )において画面ス
クロールを実行する。
T」の個数は、相当の数たとえば20個ほど用意され
る。画面には一度に5個までしか表示されないが、画面
スクロール方式で全部の波形通過点を映し出すことがで
きるようになっている。下方向にスクロールさせたいと
きはカーソルを「▼」の位置に合わせて下方向移動のカ
ーソル・キー24cを押せばよく、上方向にスクロール
させたいときはカーソルを「▲」の位置に合わせて上方
向移動のカーソル・キー24aを押せばよい。装置側
は、カーソル移動処理(ステップB6 )において画面ス
クロールを実行する。
【1180】「FREE」モードにおいても、基準波形
設定用の項目には数値を入力する。ユーザは、カーソル
を各項目のデータ入力位置に移動させ、(+)キー26
または(−)キー28を操作して所望の数値に合わせ、
書き込みキー30を押せばよい。それらのキー操作に応
動して、CPU70は、上記したような「FIX」モー
ドのときと同様の数値入力表示および設定処理を実行
し、入力した各設定値のデータを設定値記憶部100内
の所定の記憶番地に格納する(図19)。
設定用の項目には数値を入力する。ユーザは、カーソル
を各項目のデータ入力位置に移動させ、(+)キー26
または(−)キー28を操作して所望の数値に合わせ、
書き込みキー30を押せばよい。それらのキー操作に応
動して、CPU70は、上記したような「FIX」モー
ドのときと同様の数値入力表示および設定処理を実行
し、入力した各設定値のデータを設定値記憶部100内
の所定の記憶番地に格納する(図19)。
【1190】図7の設定例では、レーザ出力基準値「P
EAK」を10.0(kW)とし、5個の波形通過ポイ
ント「POINT1」、「POINT2」、「POIN
T3」、「POINT4」、「POINT5」の時間お
よびレーザ出力比率[t,r)をそれぞれ[5(m
s),90(%)]、[7(ms),70(%)]、
[12(ms),88(%)]、[15(ms),68
(%)]、[18(ms),0(%)]に設定してい
る。通常、基準波形の終端をなす最後のポイントのレー
ザ出力比率rには0(%)を与える。
EAK」を10.0(kW)とし、5個の波形通過ポイ
ント「POINT1」、「POINT2」、「POIN
T3」、「POINT4」、「POINT5」の時間お
よびレーザ出力比率[t,r)をそれぞれ[5(m
s),90(%)]、[7(ms),70(%)]、
[12(ms),88(%)]、[15(ms),68
(%)]、[18(ms),0(%)]に設定してい
る。通常、基準波形の終端をなす最後のポイントのレー
ザ出力比率rには0(%)を与える。
【1200】図20に示すように、「FREE」モード
における基準波形は、時間をX軸、%値をY軸とする座
標上で、設定入力された複数個の波形通過ポイント「P
OINT1」、「POINT2」、…の各点を結ぶ折れ
線グラフとして定義される。
における基準波形は、時間をX軸、%値をY軸とする座
標上で、設定入力された複数個の波形通過ポイント「P
OINT1」、「POINT2」、…の各点を結ぶ折れ
線グラフとして定義される。
【1210】この基準波形の立ち上げ部つまりアップス
ロープ波形部は、最初のポイント「POINT1」の時
間およびレーザ出力比率(t1 ,r1 )によって決ま
る。また、ダウンスロープ波形部は、最後から1つ手前
のポイント(図7の例では「POINT4」)の時間お
よびレーザ出力比率(t1 ,r1 )と最後のポイント
(「POINT5」)の時間(t5 )とで規定される。
アップスロープ波形部とダウンスロープ波形部との間の
中間部の波形は、全ポイント「POINT1」、「PO
INT2」、…の座標点(t,r)の組み合わせで自由
に選べる。使用するポイントの個数を増やすことで、曲
線に近い精細な波形パターンも作成できる。
ロープ波形部は、最初のポイント「POINT1」の時
間およびレーザ出力比率(t1 ,r1 )によって決ま
る。また、ダウンスロープ波形部は、最後から1つ手前
のポイント(図7の例では「POINT4」)の時間お
よびレーザ出力比率(t1 ,r1 )と最後のポイント
(「POINT5」)の時間(t5 )とで規定される。
アップスロープ波形部とダウンスロープ波形部との間の
中間部の波形は、全ポイント「POINT1」、「PO
INT2」、…の座標点(t,r)の組み合わせで自由
に選べる。使用するポイントの個数を増やすことで、曲
線に近い精細な波形パターンも作成できる。
【1220】「FREE」モードでも、先ず%値表示の
基準波形グラフを求め、次いでこの基準波形グラフの各
ポイントのレーザ出力比率rにレーザ出力基準値「PE
AK」を乗算して波形制御用の基準波形を求めてよい。
基準波形グラフを求め、次いでこの基準波形グラフの各
ポイントのレーザ出力比率rにレーザ出力基準値「PE
AK」を乗算して波形制御用の基準波形を求めてよい。
【1230】こうして求められた基準波形グラフおよび
波形制御用の基準波形のデータも、設定値記憶部100
の所定の記憶領域にそれぞれ蓄積される。「FREE」
モードでも、グラフON/OFF選択項目「ω」に「O
N」を指示することで、設定入力されている基準波形の
波形パターンを基準波形グラフの形で画面上で見ること
ことができる(図7)。
波形制御用の基準波形のデータも、設定値記憶部100
の所定の記憶領域にそれぞれ蓄積される。「FREE」
モードでも、グラフON/OFF選択項目「ω」に「O
N」を指示することで、設定入力されている基準波形の
波形パターンを基準波形グラフの形で画面上で見ること
ことができる(図7)。
【1240】また、いったん設定した基準波形の一部を
変更したい場合は、カーソルを該当ポイント「POIN
T」のデータ位置に合わせればよい。このとき、カーソ
ルの位置するポイント「POINT」に対応する基準波
形グラフのポイントをたとえば図17の(B)に示する
ように点滅表示(あるいは特定色の表示)等で識別表示
させてよい。
変更したい場合は、カーソルを該当ポイント「POIN
T」のデータ位置に合わせればよい。このとき、カーソ
ルの位置するポイント「POINT」に対応する基準波
形グラフのポイントをたとえば図17の(B)に示する
ように点滅表示(あるいは特定色の表示)等で識別表示
させてよい。
【1250】以上好適な実施例を説明したが、本発明は
上記した実施例に限定されるわけではなく、その技術的
思想の範囲内で種々の変形・変更が可能である。たとえ
ば、設定値入力手段としてマウスやタブレット等を用い
ることも可能である。
上記した実施例に限定されるわけではなく、その技術的
思想の範囲内で種々の変形・変更が可能である。たとえ
ば、設定値入力手段としてマウスやタブレット等を用い
ることも可能である。
【1260】また、波形制御用の基準波形を設定するた
めに、上記実施例では、パルスレーザ光のレーザ出力に
ついてレーザ出力基準値「PEAK」や波形部分または
要素のデータ(t,r)を設定入力した。しかし、パル
スレーザ光のレーザ出力に対応するレーザ電源部42内
の電気的パラメータたとえばランプ電流、ランプ電圧ま
たはランプ電力について上記実施例と同様の仕方で所望
の基準値および波形要素データを設定入力することも可
能である。その場合、『スケジュール』画面では、設定
入力される電気的パラメータの種類に応じて基準値「P
EAK」の単位(A,V,W)が切換表示されてよい。
めに、上記実施例では、パルスレーザ光のレーザ出力に
ついてレーザ出力基準値「PEAK」や波形部分または
要素のデータ(t,r)を設定入力した。しかし、パル
スレーザ光のレーザ出力に対応するレーザ電源部42内
の電気的パラメータたとえばランプ電流、ランプ電圧ま
たはランプ電力について上記実施例と同様の仕方で所望
の基準値および波形要素データを設定入力することも可
能である。その場合、『スケジュール』画面では、設定
入力される電気的パラメータの種類に応じて基準値「P
EAK」の単位(A,V,W)が切換表示されてよい。
【1270】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のレーザ加
工装置によれば、パルスレーザ光またはこれに対応する
電気的パラメータについて適当な基準値を設定入力する
とともに、レーザ出力波形または電気的パラメータ波形
を構成するための複数の波形部分におけるレーザ出力値
または電気的パラメータ値を該基準値に対する比率で設
定入力するようにし、それら基準値および波形部のレー
ザ出力比率または電気的パラメータ比率に基づいて波形
制御用の基準波形を求めるようにした。さらに、設定さ
れた基準波形の波形パターンを波形グラフの形態で画面
に表示するようにした。これにより、波形制御用の基準
波形を簡単なユーザ操作で多種多様な波形パターンに設
定することができるとともに、いったん設定した波形制
御用の基準波形を容易かつ自在に変更できる。また、レ
ーザ出力波形または電気的パラメータ波形の立ち上がり
/立ち下がり部を任意の波形に設定できるため、レーザ
加工における加熱速度または冷却速度を思い通りに調整
することができる。
工装置によれば、パルスレーザ光またはこれに対応する
電気的パラメータについて適当な基準値を設定入力する
とともに、レーザ出力波形または電気的パラメータ波形
を構成するための複数の波形部分におけるレーザ出力値
または電気的パラメータ値を該基準値に対する比率で設
定入力するようにし、それら基準値および波形部のレー
ザ出力比率または電気的パラメータ比率に基づいて波形
制御用の基準波形を求めるようにした。さらに、設定さ
れた基準波形の波形パターンを波形グラフの形態で画面
に表示するようにした。これにより、波形制御用の基準
波形を簡単なユーザ操作で多種多様な波形パターンに設
定することができるとともに、いったん設定した波形制
御用の基準波形を容易かつ自在に変更できる。また、レ
ーザ出力波形または電気的パラメータ波形の立ち上がり
/立ち下がり部を任意の波形に設定できるため、レーザ
加工における加熱速度または冷却速度を思い通りに調整
することができる。
【図1】本発明の一実施例によるレーザ加工装置の外観
を示す斜視図である。
を示す斜視図である。
【図2】実施例におけるレーザ加工装置の操作パネル部
の外観を拡大して示す部分拡大平面図である。
の外観を拡大して示す部分拡大平面図である。
【図3】実施例におけるレーザ加工装置の構成を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図4】実施例におけるレーザ加工装置のCPUおよび
メモリによって構築される機能手段の構成を示すブロッ
ク図である。
メモリによって構築される機能手段の構成を示すブロッ
ク図である。
【図5】実施例の装置で表示される主な画面とそれら相
互の切り替わりの関係を示す図である。
互の切り替わりの関係を示す図である。
【図6】実施例における「FIX」モードの『スケジュ
ール』画面の表示例を示す図である。
ール』画面の表示例を示す図である。
【図7】実施例における「FREE」モードの『スケジ
ュール』画面の表示例を示す図である。
ュール』画面の表示例を示す図である。
【図8】実施例における『ステータス』画面の表示例を
示す図である。
示す図である。
【図9】実施例における『パワーモニタ』画面の表示例
を示す図である。
を示す図である。
【図10】実施例のスケジュールモードにおけるCPU
のメインの処理手順を示す図である。
のメインの処理手順を示す図である。
【図11】実施例のスケジュールモードにおける(+)
キー入力表示処理の手順を示す図である。
キー入力表示処理の手順を示す図である。
【図12】実施例のスケジュールモードにおける(−)
キー入力表示処理の手順を示す図である。
キー入力表示処理の手順を示す図である。
【図13】実施例のスケジュールモード(「FIX」モ
ード)におけるキー入力実行処理の手順を示す図であ
る。
ード)におけるキー入力実行処理の手順を示す図であ
る。
【図14】実施例の「FIX」モードにおける設定値デ
ータの記憶配置例を模式的に示す図である。
ータの記憶配置例を模式的に示す図である。
【図15】実施例の「FIX」モードにおける基準波形
の波形フォーマット例を示す図である。
の波形フォーマット例を示す図である。
【図16】実施例の「FIX」モードの『スケジュー
ル』画面に表示される基準波形の波形図とレーザ出力基
準値との関係を示す図である。
ル』画面に表示される基準波形の波形図とレーザ出力基
準値との関係を示す図である。
【図17】実施例における基準波形設定時の波形図表示
機能を示す図である。
機能を示す図である。
【図18】実施例の「FIX」モードで設定可能な基準
波形の波形パターン例を示す図である。
波形の波形パターン例を示す図である。
【図19】実施例の「FREE」モードにおける設定値
データの記憶配置例を模式的に示す図である。
データの記憶配置例を模式的に示す図である。
【図20】実施例の「FREE」モードにおける基準波
形の波形フォーマット例を示す図である。
形の波形フォーマット例を示す図である。
【図21】従来のレーザ加工装置における設定モード画
面の一例を示す図である。
面の一例を示す図である。
【図22】従来のレーザ加工装置における波形制御用の
基準波形の波形フォーマットを示す図である。
基準波形の波形フォーマットを示す図である。
【図23】従来のレーザ加工装置において設定可能な基
準波形の波形パターン例を示す図である。
準波形の波形パターン例を示す図である。
14 操作パネル 22 液晶表示ディスプレイ 24 カーソル・キー 26 (+)キー 28 (−)キー 30 書き込みキー 32 メニュー・キー 40 レーザ発振部 42 レーザ電源部 44 レーザ冷却部 46 制御部 48 入出力インタフェース部 74 レーザ出力測定部 76 電圧測定回路 80 電流測定回路 82 電流センサ 92 制御信号生成部 94 演算部 96 データ管理部 98 測定値記憶部 100 設定値記憶部 102 画像フォーマット記憶部 104 表示出力部
Claims (13)
- 【請求項1】 パルスレーザ光を発振出力するためのレ
ーザ発振手段と、 前記レーザ発振手段にレーザ発振用の電力を供給するた
めのレーザ電源手段と前記パルスレーザ光のレーザ出力
またはこれに対応する前記レーザ電源手段内の電気的パ
ラメータについて基準値を設定するための基準値設定手
段と、 前記パルスレーザ光のレーザ出力または前記電気的パラ
メータに対する波形制御に用いられる基準波形を構成す
るための複数の波形部分のレーザ出力値または電気的パ
ラメータ値を前記基準値に対する比率の値で設定するた
めの波形部分設定手段と、 前記基準値設定手段により設定された基準値と、前記波
形部分設定手段により設定された各波形部分の基準値に
対する比率とに基づいて前記基準波形を表す波形データ
を生成する基準波形生成手段と、 前記パルスレーザ光のレーザ出力または前記電気的パラ
メータが前記基準波形生成手段より与えられる前記基準
波形に倣うように前記レーザ電源手段を制御する波形制
御手段とを具備するレーザ加工装置。 - 【請求項2】 前記波形部分設定手段が、前記基準波形
のパルス幅を各々任意の時間を有する複数個の区間に分
割して設定するためのパルス区間設定手段と、各々の前
記区間毎のレーザ出力値または電気的パラメータ値を前
記レーザ出力基準値に対する比率の値で設定するための
比率設定手段とを含むことを特徴とする請求項1に記載
のレーザ加工装置。 - 【請求項3】 前記基準波形生成手段が、前記複数個の
区間の中の最初の区間の時間と、第2の区間の時間およ
びレーザ出力比率または電気的パラメータ比率と、前記
基準値とから前記基準波形のアップスロープ波形部を求
めるアップスロープ生成手段を含むことを特徴とする請
求項2に記載のレーザ加工装置。 - 【請求項4】 前記基準波形生成手段が、前記複数個の
区間の中の最後から1つ手前の区間の時間およびレーザ
出力比率または電気的パラメータ比率と、前記基準値
と、最後の区間の時間とから前記基準波形のダウンスロ
ープ波形部を求めるダウンスロープ生成手段を含むこと
を特徴とする請求項2に記載のレーザ加工装置。 - 【請求項5】 前記基準値、前記区間の時間およびレー
ザ出力比率または電気的パラメータ比率の各設定値を表
示するための設定値表示手段をさらに具備することを特
徴とする請求項2に記載のレーザ加工装置。 - 【請求項6】 前記基準波形の波形パターンを表す基準
波形グラフを表示する基準波形グラフ表示手段をさらに
具備することを特徴とする請求項2に記載のレーザ加工
装置。 - 【請求項7】 前記基準波形グラフ表示手段が、前記パ
ルス区間設定手段により設定された複数個の区間のそれ
ぞれの時間と、前記比率設定手段により設定された各区
間毎のレーザ出力比率または電気的パラメータ比率とに
基づいて前記基準波形グラフを求めることを特徴とする
請求項6に記載のレーザ加工装置。 - 【請求項8】 前記波形部分設定手段が、前記基準波形
の波形上の複数個の通過ポイントの時間を設定するため
の通過点時間設定手段と、各々の前記通過ポイント毎の
レーザ出力値または電気的パラメータ値を前記基準値に
対する比率の値で設定するための比率設定手段とを含む
ことを特徴とする請求項1に記載のレーザ加工装置。 - 【請求項9】 前記基準波形生成手段が、前記複数個の
通過ポイントの中の最初のポイントの時間およびレーザ
出力比率または電気的パラメータ比率と、前記基準値と
から前記基準波形のアップスロープ波形部を求めるアッ
プスロープ生成手段を含むことを特徴とする請求項8に
記載のレーザ加工装置。 - 【請求項10】 前記基準波形生成手段が、前記複数個
の通過ポイントの中の最後から1つ手前のポイントの時
間およびレーザ出力比率または電気的パラメータ比率
と、最後のポイントの時間と、前記基準値とから前記基
準波形のダウンスロープ波形部を求めるダウンスロープ
生成手段を含むことを特徴とする請求項8に記載のレー
ザ加工装置。 - 【請求項11】 前記基準値、前記通過ポイントの時間
およびレーザ出力比率または電気的パラメータ比率の各
設定値を表示するための設定値表示手段をさらに具備す
ることを特徴とする請求項8に記載のレーザ加工装置。 - 【請求項12】 前記基準波形の波形パターンを表す基
準波形グラフを表示する基準波形グラフ表示手段をさら
に具備することを特徴とする請求項8に記載のレーザ加
工装置。 - 【請求項13】 前記基準波形グラフ表示手段が、前記
通過点時間設定手段により設定された複数個の通過ポイ
ントのそれぞれの時間と、前記比率設定手段により設定
された各ポイント毎のレーザ出力比率または電気的パラ
メータ比率とに基づいて前記基準波形グラフを求めるこ
とを特徴とする請求項12に記載のレーザ加工装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10059012A JPH11243245A (ja) | 1998-02-24 | 1998-02-24 | レーザ加工装置 |
EP99301090A EP0937534A3 (en) | 1998-02-24 | 1999-02-15 | Laser processing apparatus |
US09/252,771 US6385218B1 (en) | 1998-02-24 | 1999-02-19 | Laser processing apparatus |
KR1019990005895A KR19990072840A (ko) | 1998-02-24 | 1999-02-23 | 레이저가공장치 |
CN99102376A CN1236690A (zh) | 1998-02-24 | 1999-02-24 | 激光加工装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10059012A JPH11243245A (ja) | 1998-02-24 | 1998-02-24 | レーザ加工装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11243245A true JPH11243245A (ja) | 1999-09-07 |
Family
ID=13100964
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10059012A Pending JPH11243245A (ja) | 1998-02-24 | 1998-02-24 | レーザ加工装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6385218B1 (ja) |
EP (1) | EP0937534A3 (ja) |
JP (1) | JPH11243245A (ja) |
KR (1) | KR19990072840A (ja) |
CN (1) | CN1236690A (ja) |
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WO2024247060A1 (ja) * | 2023-05-29 | 2024-12-05 | ファナック株式会社 | 表示装置およびコンピュータ読み取り可能な記憶媒体 |
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CN107959223A (zh) * | 2017-12-13 | 2018-04-24 | 深圳市创鑫激光股份有限公司 | 一种激光控制方法、激光设备及存储介质 |
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1998
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