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JPH11233392A - Substrate processing equipment - Google Patents

Substrate processing equipment

Info

Publication number
JPH11233392A
JPH11233392A JP2621498A JP2621498A JPH11233392A JP H11233392 A JPH11233392 A JP H11233392A JP 2621498 A JP2621498 A JP 2621498A JP 2621498 A JP2621498 A JP 2621498A JP H11233392 A JPH11233392 A JP H11233392A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
unit
substrate
filter
substrate processing
processing apparatus
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2621498A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3506600B2 (en
Inventor
Mikio Masuichi
幹雄 増市
Masaki Iwami
優樹 岩見
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP2621498A priority Critical patent/JP3506600B2/en
Publication of JPH11233392A publication Critical patent/JPH11233392A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3506600B2 publication Critical patent/JP3506600B2/en
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Expired - Fee Related legal-status Critical Current

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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a substrate processing equipment the maintenance operation of a substrate processing part which has a filter at the upper part is easy. SOLUTION: A rotating type coating unit and a rotating type development unit are arranged at the periphery of the transfer region C of substrate processing equipment. At the upper part of the processing space of the rotating type coating unit and the rotating type development unit, an air control unit composed of a fan unit, and a filter unit is arranged. The filter unit is provided with a sliding mechanism 3 for shifting the filter horizontally. A sliding mechanism 36 is provided with a fixed rail 37 and a movable frame 40, which freely shifts in the horizontal direction along the fixed rail 37, and shifts the filter in the horizontal direction by mounting it on a movable frame 40. The filter can be shifted to the transfer region C by horizontally moving the movable frame 40 of the sliding mechanism 36.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、基板に所定の処理
を行う基板処理部を備えた基板処理装置に関する。
[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a substrate processing apparatus provided with a substrate processing section for performing a predetermined processing on a substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体ウエハ、液晶表示装置用ガラス基
板、フォトマスク用ガラス基板、光ディスク用ガラス基
板などの基板に所定の処理を行なうために、基板処理装
置が用いられている。例えば、半導体デバイスの製造プ
ロセスでは、生産効率を高めるために一連の処理の各々
をユニット化し、複数の処理ユニットを統合した基板処
理装置が用いられている。
2. Description of the Related Art A substrate processing apparatus is used to perform predetermined processing on substrates such as semiconductor wafers, glass substrates for liquid crystal display devices, glass substrates for photomasks, and glass substrates for optical disks. For example, in a semiconductor device manufacturing process, a substrate processing apparatus in which each of a series of processes is unitized and a plurality of processing units are integrated is used in order to increase production efficiency.

【0003】図11は、従来の基板処理装置の構成を示
す斜視図である。図11の基板処理装置は、処理領域
E,Fおよび搬送領域Gを有する。
FIG. 11 is a perspective view showing a configuration of a conventional substrate processing apparatus. The substrate processing apparatus of FIG. 11 has processing areas E and F and a transport area G.

【0004】処理領域Eには、基板に処理液の塗布処理
を行なう回転式塗布ユニット(スピンコータ)52aお
よび基板に現像処理を行なう回転式現像ユニット(スピ
ンデベロッパ)52bが並設されている。また、処理領
域Fには、基板に加熱処理を行なう加熱ユニット(ホッ
トプレート)HPおよび基板に冷却処理を行なう冷却ユ
ニット(クーリングプレート)CPが複数段に配置され
ている。搬送領域Gには、基板を搬送する搬送ユニット
55が設けられている。
In the processing area E, a rotary coating unit (spin coater) 52a for applying a processing liquid to a substrate and a rotary developing unit (spin developer) 52b for performing a developing process on the substrate are arranged in parallel. In the processing region F, a plurality of heating units (hot plates) HP for performing a heating process on the substrate and a plurality of cooling units (cooling plates) CP for performing a cooling process on the substrate are arranged. In the transfer area G, a transfer unit 55 that transfers the substrate is provided.

【0005】これらの処理領域E,Fおよび搬送領域G
の一端部側には、基板Wを収納するとともに基板Wの搬
入および搬出を行なう搬入搬出装置(インデクサ)51
が配置されている。搬入搬出装置51は、基板Wを収納
する複数のカセット53および基板Wの搬入および搬出
を行なう移載ロボット54を備える。搬入搬出装置51
の移載ロボット54は、矢印U方向に移動し、カセット
53から基板Wを取り出して搬送ユニット55に渡し、
一連の処理が施された基板Wを搬送ユニット55から受
け取ってカセット53に戻す。
The processing areas E and F and the transport area G
A loading and unloading device (indexer) 51 for storing the substrate W and loading and unloading the substrate W is provided at one end of the device.
Is arranged. The loading / unloading device 51 includes a plurality of cassettes 53 for storing the substrates W and a transfer robot 54 for loading and unloading the substrates W. Loading / unloading device 51
The transfer robot 54 moves in the direction of the arrow U, takes out the substrate W from the cassette 53 and passes it to the transport unit 55,
The substrate W subjected to the series of processes is received from the transport unit 55 and returned to the cassette 53.

【0006】搬送ユニット55は、搬送領域G内で基板
Wを矢印S方向に搬送するとともに、上記の各処理ユニ
ットに対して基板Wの搬入および搬出を行ない、かつ移
載ロボット54との間で基板Wの受渡しを行なう。
The transport unit 55 transports the substrate W in the transport area G in the direction of the arrow S, carries the substrate W in and out of each of the processing units, and transfers the substrate W to and from the transfer robot 54. Delivery of the substrate W is performed.

【0007】近年では、基板を大量にかつ効率的に処理
するために、多数の処理ユニットが1台の基板処理装置
に搭載されている。また、生産性の向上のために基板が
大径化しており、これに伴って各処理ユニットの寸法も
大きくなる。それにより、多数の処理ユニットを統合し
た基板処理装置が大型化し、そのフットプリント(設置
面積)が大きくなる傾向がある。それゆえ、フットプリ
ントの増大を抑制してクリーンルーム内のスペースを有
効に使用することができる基板処理装置が望まれてい
る。
In recent years, a large number of processing units are mounted on a single substrate processing apparatus in order to efficiently process a large amount of substrates. Further, the diameter of the substrate is increased in order to improve productivity, and accordingly, the size of each processing unit is also increased. As a result, the size of a substrate processing apparatus in which a large number of processing units are integrated tends to increase, and the footprint (installation area) tends to increase. Therefore, there is a demand for a substrate processing apparatus capable of effectively using a space in a clean room while suppressing an increase in a footprint.

【0008】そこで、各処理ユニットを上下方向に積層
することによってフットプリントの低減を図った基板処
理装置が提案されている。例えば、特開平8−4601
0号公報に開示された基板処理装置では、回転式塗布ユ
ニットと回転式現像ユニットとが上下に積層され、また
加熱ユニットおよび冷却ユニットが多段に積層されてい
る。
[0008] Therefore, there has been proposed a substrate processing apparatus in which footprints are reduced by stacking processing units in the vertical direction. For example, JP-A-8-4601
In the substrate processing apparatus disclosed in Japanese Patent Publication No. 0, a rotary coating unit and a rotary developing unit are vertically stacked, and a heating unit and a cooling unit are stacked in multiple stages.

【0009】積層された複数の処理ユニットの上方に
は、清浄な空気流を下降させる空気調整ユニットが設け
られている。これにより、基板の搬送領域等が清浄な雰
囲気に保たれている。また、上下に積層された回転式現
像ユニットと回転式塗布ユニットとの間にはフィルタが
設けられている。これにより、回転式塗布ユニットの内
部には、フィルタを通過した清浄な空気が供給され、回
転式塗布ユニットの処理空間が清浄な雰囲気に保たれ
る。
An air adjusting unit for lowering a clean air flow is provided above the plurality of stacked processing units. As a result, the substrate transfer area and the like are kept in a clean atmosphere. Further, a filter is provided between the rotary developing unit and the rotary coating unit which are vertically stacked. Thus, clean air that has passed through the filter is supplied into the rotary coating unit, and the processing space of the rotary coating unit is maintained in a clean atmosphere.

【0010】このような基板処理装置において、例えば
回転式塗布ユニットの保守作業を行なう場合には、回転
式塗布ユニットの上部に配置されたフィルタを取り外
し、作業空間を確保して作業を行なう。取り外されたフ
ィルタは、通常、基板処理装置の周囲に受台を用意し、
その台上に載置される。
In such a substrate processing apparatus, for example, when maintenance work is performed on the rotary coating unit, the filter disposed above the rotary coating unit is removed, and a work space is secured to perform the work. The removed filter is usually prepared with a pedestal around the substrate processing equipment,
It is placed on the table.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、フィル
タは非常に繊細な構造を有し、フィルタの側面のみ把持
可能に構成されている。フィルタの上下表面が損傷する
と、パーティクル等の除去性能が低下する。このため
に、フィルタの取り外しおよび取り付け作業には細心の
注意が必要となり、保守作業が煩雑化し、作業時間が長
くなる。
However, the filter has a very delicate structure, and is configured so that only the side surface of the filter can be gripped. If the upper and lower surfaces of the filter are damaged, the performance of removing particles and the like is reduced. For this reason, great care is required in the removal and installation of the filter, which makes the maintenance work complicated and increases the work time.

【0012】また、基板処理装置の周囲の雰囲気は、基
板処理装置の内部に比べて清浄度が低く、アンモニアや
微小なパーティクルが存在する。そこで、基板処理装置
の周囲にフィルタを載置すると、保守作業中にフィルタ
表面にアンモニアやパーティクル等が付着してフィルタ
の除去性能が低下する。さらに、保守作業の終了によ
り、パーティクル等が付着したフィルタが基板処理装置
の内部に再び取り付けられると、付着したパーティクル
等によって基板処理装置の処理雰囲気が汚染され、基板
処理に不良が生じるおそれがある。
In addition, the atmosphere around the substrate processing apparatus has a lower degree of cleanliness than the inside of the substrate processing apparatus, and contains ammonia and fine particles. Therefore, when a filter is placed around the substrate processing apparatus, ammonia, particles, and the like adhere to the filter surface during maintenance work, and the filter removal performance is reduced. Further, when the filter to which particles or the like have adhered is attached again inside the substrate processing apparatus due to the end of the maintenance work, the processing atmosphere of the substrate processing apparatus may be contaminated by the adhered particles or the like, and a defect may occur in the substrate processing. .

【0013】本発明の目的は、上方にフィルタが配置さ
れた基板処理部の保守作業が容易な基板処理装置を提供
することである。
An object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus in which a maintenance operation of a substrate processing section having a filter disposed above is easy.

【0014】本発明の他の目的は、保守作業中にフィル
タが周囲の雰囲気中のパーティクル等により汚染される
ことのない基板処理装置を提供することである。
Another object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus in which a filter is not contaminated by particles in the surrounding atmosphere during maintenance work.

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段および発明の効果】第1の
発明に係る基板処理装置は、処理空間を有し、処理空間
内で基板に所定の処理を行なう基板処理部と、基板処理
部の処理空間の上方に設けられたフィルタと、フィルタ
を処理空間の上方位置と処理空間の外方の所定位置とに
移動自在に支持する支持手段とを備えたものである。
Means for Solving the Problems and Effects of the Invention A substrate processing apparatus according to a first invention has a processing space, and performs a predetermined processing on a substrate in the processing space; The apparatus includes a filter provided above the processing space, and support means for movably supporting the filter at a position above the processing space and at a predetermined position outside the processing space.

【0016】第1の発明に係る基板処理装置において
は、基板処理部の処理空間の上方にフィルタが設けられ
ており、フィルタを通過した清浄な空気が処理空間内に
供給されることにより、基板処理部の処理空間が清浄な
状態に保持される。フィルタは支持手段により処理空間
の上方位置と処理空間の外方の所定位置とに移動自在に
支持されている。このため、保守時にフィルタを処理空
間の外方に移動させることにより、処理空間の上方に大
きな空間を確保することができ、基板処理部の保守作業
のための作業空間が拡大する。これにより、基板処理部
の保守作業が容易となる。また、フィルタは処理空間の
外方において支持手段により支持されている。このた
め、基板処理装置からフィルタを取り外す必要がなくな
り、基板処理部の保守作業が簡素化される。さらに、基
板処理装置の周囲に取り外したフィルタを載置するスペ
ースを設ける必要がなくなり、基板処理装置の周囲の省
スペース化を図ることができる。加えて、基板処理装置
の周囲にフィルタを載置している間にフィルタが損傷さ
れることが防止される。
In the substrate processing apparatus according to the first invention, a filter is provided above the processing space of the substrate processing section, and clean air passing through the filter is supplied into the processing space, so that the substrate is processed. The processing space of the processing unit is kept in a clean state. The filter is movably supported by a support means at a position above the processing space and at a predetermined position outside the processing space. For this reason, by moving the filter out of the processing space during maintenance, a large space can be secured above the processing space, and the working space for maintenance of the substrate processing unit is expanded. This facilitates maintenance work of the substrate processing unit. Further, the filter is supported by a support means outside the processing space. Therefore, there is no need to remove the filter from the substrate processing apparatus, and the maintenance work of the substrate processing unit is simplified. Further, it is not necessary to provide a space for mounting the removed filter around the substrate processing apparatus, and the space around the substrate processing apparatus can be reduced. In addition, the filter is prevented from being damaged while the filter is placed around the substrate processing apparatus.

【0017】第2の発明に係る基板処理装置は、第1の
発明に係る基板処理装置の構成において、基板処理部に
隣接する隣接領域に清浄な空気流を供給する空気供給部
をさらに備え、所定位置が、隣接領域内に設けられるも
のである。
A substrate processing apparatus according to a second aspect of the present invention, in the configuration of the substrate processing apparatus according to the first aspect, further includes an air supply unit for supplying a clean air flow to an area adjacent to the substrate processing unit. The predetermined position is provided in the adjacent area.

【0018】この場合、基板処理部の保守時には、空気
調整部により清浄な空気流が供給される隣接領域にフィ
ルタが移動される。このため、フィルタは清浄な雰囲気
中に支持されることにより、パーティクル等による汚染
から防止され、パーティクル等の除去性能の低下が防止
されるとともに、保守終了時に基板処理部内にパーティ
クル等を持ち込み、基板処理部の雰囲気を汚染させるこ
とを防止することができる。
In this case, at the time of maintenance of the substrate processing section, the filter is moved to an adjacent area where a clean air flow is supplied by the air adjusting section. For this reason, the filter is supported in a clean atmosphere, thereby preventing the filter from being contaminated by particles and the like, preventing a decrease in the performance of removing the particles and the like, and also bringing the particles and the like into the substrate processing unit at the end of maintenance and causing the substrate to be removed. Contamination of the atmosphere in the processing section can be prevented.

【0019】第3の発明に係る基板処理装置は、第1の
発明に係る基板処理装置の構成において、基板処理部に
隣接する搬送領域に配設され、基板処理部に基板を搬送
する搬送手段と、搬送領域に清浄な空気流を供給する空
気調整部とをさらに備え、所定位置が搬送領域に設けら
れるものである。
A substrate processing apparatus according to a third aspect of the present invention, in the configuration of the substrate processing apparatus according to the first aspect of the present invention, includes a transport unit disposed in a transport area adjacent to the substrate processing unit and transporting the substrate to the substrate processing unit. And an air adjusting unit for supplying a clean air flow to the transport area, wherein a predetermined position is provided in the transport area.

【0020】この場合、基板処理部の保守時には、フィ
ルタが搬送領域に移動される。搬送領域には空気調整部
から清浄な空気流が供給されている。このため、フィル
タは清浄な雰囲気中に保持され、パーティクル等により
汚染されることが防止される。それにより、パーティク
ル等の除去性能の低下が防止されるとともに、基板処理
部へのパーティクル等の持ち込みが防止される。
In this case, during maintenance of the substrate processing section, the filter is moved to the transport area. A clean air flow is supplied to the transfer area from the air adjustment unit. For this reason, the filter is kept in a clean atmosphere, and is prevented from being contaminated by particles and the like. This prevents a decrease in the performance of removing particles and the like, and also prevents the particles and the like from being brought into the substrate processing unit.

【0021】第4の発明に係る基板処理装置は、第1の
発明に係る基板処理装置の構成において、基板処理部に
基板を搬送する搬送手段と、基板を収納する基板収納容
器が載置される載置部と、基板処理部に隣接する搬入搬
出領域に配設され、搬送手段と載置部との間で基板の搬
入搬出を行なう搬入搬出手段と、搬入搬出領域に清浄な
空気流を供給する空気調整部とをさらに備え、所定位置
が搬入搬出領域内に設けられるものである。
A substrate processing apparatus according to a fourth aspect of the present invention is the substrate processing apparatus according to the first aspect of the present invention, wherein the transport means for transporting the substrate to the substrate processing section and the substrate storage container for storing the substrate are mounted. A loading section, a loading / unloading section disposed in a loading / unloading area adjacent to the substrate processing section, and loading / unloading means for loading / unloading the substrate between the transporting means and the loading section; and a clean air flow to the loading / unloading area. A supply air adjusting unit, and a predetermined position is provided in the carry-in / carry-out area.

【0022】この場合、基板処理部の保守時には、フィ
ルタが搬入搬出領域に移動され、支持される。搬入搬出
領域には空気調整部により清浄な空気流が供給されてい
る。そのため、フィルタは清浄な雰囲気中に保持され
る。それにより、パーティクル等の付着によるフィルタ
の除去性能の低下が防止されるとともに、基板処理部へ
のパーティクル等の持ち込みが防止される。
In this case, during maintenance of the substrate processing section, the filter is moved to the carry-in / carry-out area and is supported. A clean air flow is supplied to the carry-in / out area by the air adjusting unit. Therefore, the filter is kept in a clean atmosphere. This prevents the filter removal performance from being reduced due to the attachment of particles and the like, and also prevents the particles and the like from being brought into the substrate processing unit.

【0023】第5の発明に係る基板処理装置は、第1の
発明に係る基板処理装置の構成において、基板処理部に
基板を搬送する搬送手段と、基板処理部に隣接する受け
渡し領域に配設され、搬送手段と外部装置との間で基板
の受け渡しを行なう受け渡し手段と、受け渡し領域に清
浄な空気流を供給する空気調整部とをさらに備え、所定
位置が、受け渡し領域内に設けられるものである。
According to a fifth aspect of the present invention, in the substrate processing apparatus according to the first aspect of the present invention, the substrate processing apparatus further includes a transfer unit configured to transfer the substrate to the substrate processing unit and a transfer area adjacent to the substrate processing unit. A transfer means for transferring the substrate between the transfer means and the external device; and an air adjusting unit for supplying a clean air flow to the transfer area, wherein the predetermined position is provided in the transfer area. is there.

【0024】この場合、基板処理部の保守時には、フィ
ルタが受け渡し領域に移動され支持される。受け渡し領
域には空気調整部により清浄な空気流が供給されてい
る。このため、フィルタは清浄な雰囲気中に保持され
る。これにより、粉塵等が付着することによりフィルタ
のパーティクル等の除去性能が低下することが防止され
るとともに、基板処理部にパーティクル等を持ち込むこ
とが防止される。
In this case, at the time of maintenance of the substrate processing section, the filter is moved to the transfer area and supported. A clean air flow is supplied to the transfer area by the air adjustment unit. For this reason, the filter is kept in a clean atmosphere. This prevents the removal performance of particles and the like of the filter from being reduced due to the attachment of dust and the like, and also prevents the particles and the like from being brought into the substrate processing unit.

【0025】第6の発明に係る基板処理装置は、第3の
発明に係る基板処理装置の構成において、搬送手段が、
基板を保持して少なくとも上下方向に移動し、基板処理
部との間で基板の受け渡しを行なう基板保持部を有し、
基板処理部の保守時に、基板保持部がフィルタと干渉し
ないように基板保持部の動作を制御する制御手段をさら
に備えたものである。
A substrate processing apparatus according to a sixth aspect of the present invention is the substrate processing apparatus according to the third aspect of the present invention, wherein:
A substrate holding unit that holds the substrate and moves at least in the vertical direction, and transfers the substrate to and from the substrate processing unit,
The apparatus further includes control means for controlling the operation of the substrate holding unit so that the substrate holding unit does not interfere with the filter during maintenance of the substrate processing unit.

【0026】この場合、基板処理部の保守時に、フィル
タが搬送領域に移動される。搬送領域には上下方向に移
動する基板保持部を有する搬送手段が配設されている。
そこで、制御手段は、搬送領域へ移動されるフィルタが
搬送手段の基板保持部と干渉しないように基板保持部の
動作を制御する。これにより、基板処理部の保守時に、
フィルタと基板保持部とが干渉する事故を防止すること
ができる。
In this case, during maintenance of the substrate processing section, the filter is moved to the transport area. In the transfer area, a transfer unit having a substrate holding unit that moves in the vertical direction is provided.
Therefore, the control unit controls the operation of the substrate holding unit so that the filter moved to the transfer area does not interfere with the substrate holding unit of the transfer unit. As a result, during maintenance of the substrate processing unit,
An accident in which the filter and the substrate holder interfere with each other can be prevented.

【0027】第7の発明に係る基板処理装置は、第6の
発明に係る基板処理装置の構成において、フィルタの移
動を検出する検出手段をさらに備え、制御手段が、検出
手段によりフィルタの移動が検出された際に、基板保持
部がフィルタと干渉しない位置に基板保持部を退避させ
るものである。
A substrate processing apparatus according to a seventh aspect of the present invention is the substrate processing apparatus according to the sixth aspect, further comprising a detecting means for detecting a movement of the filter, wherein the control means controls the movement of the filter by the detecting means. When the detection is detected, the substrate holding unit is retracted to a position where the substrate holding unit does not interfere with the filter.

【0028】この場合、フィルタは作業者の手動により
搬送領域へ移動される。検出手段はこのフィルタの移動
を検出する。そして、フィルタの移動が検出されると、
制御手段は基板保持部をフィルタと干渉しない位置に退
避させる。これにより、作業者が基板保持部の位置を確
認せずにフィルタを移動させた場合であっても、フィル
タが基板保持部に干渉する事故を防止することができ
る。
In this case, the filter is moved to the transport area manually by the operator. The detecting means detects the movement of the filter. When the movement of the filter is detected,
The control unit retracts the substrate holding unit to a position where it does not interfere with the filter. Accordingly, even when the operator moves the filter without confirming the position of the substrate holding unit, it is possible to prevent the filter from interfering with the substrate holding unit.

【0029】第8の発明に係る基板処理装置は、第3の
発明に係る基板処理装置の構成において、搬送手段が、
基板を保持して少なくとも上下方向に移動し、基板処理
部との間で基板の受け渡しを行なう基板保持部を有し、
基板処理部の保守のための指令を入力する入力手段と、
フィルタの保守指令が入力された場合に、基板保持部が
フィルタと干渉しないように基板保持部の動作を制御す
る制御手段とをさらに備えたものである。
The substrate processing apparatus according to an eighth aspect of the present invention is the substrate processing apparatus according to the third aspect, wherein the transporting means comprises:
A substrate holding unit that holds the substrate and moves at least in the vertical direction, and transfers the substrate to and from the substrate processing unit,
Input means for inputting a command for maintenance of the substrate processing unit,
The apparatus further includes control means for controlling the operation of the substrate holding unit so that the substrate holding unit does not interfere with the filter when a filter maintenance command is input.

【0030】この場合、基板処理部の保守時に、保守指
令を入力手段から入力すると、制御手段が入力された保
守指令に基づいて、基板保持部がフィルタと干渉しない
ように基板保持部の動作を制御する。これにより、作業
者がフィルタを移動させる前に基板保持部がフィルタと
干渉しないように動作され、フィルタが基板保持部に干
渉する事故を未然に防止することができる。
In this case, when a maintenance command is input from the input unit during maintenance of the substrate processing unit, the control unit controls the operation of the substrate holding unit based on the input maintenance command so that the substrate holding unit does not interfere with the filter. Control. Thereby, before the operator moves the filter, the substrate holding unit is operated so as not to interfere with the filter, and it is possible to prevent an accident that the filter interferes with the substrate holding unit.

【0031】第9の発明に係る基板処理装置は、第3の
発明に係る基板処理装置の構成において、搬送手段が、
基板を保持して少なくとも上下方向に移動し、基板処理
部との間で基板の受け渡しを行なう基板保持部を有し、
基板保持部が所定位置にある場合に、フィルタの移動を
禁止する禁止手段をさらに備えたものである。
A substrate processing apparatus according to a ninth aspect of the present invention is the substrate processing apparatus according to the third aspect of the present invention, wherein
A substrate holding unit that holds the substrate and moves at least in the vertical direction, and transfers the substrate to and from the substrate processing unit,
When the substrate holding unit is at a predetermined position, the apparatus further comprises a prohibition unit for prohibiting the movement of the filter.

【0032】この場合、禁止手段は、基板保持部がフィ
ルタと干渉する位置にある場合に、フィルタの移動を禁
止する。これにより、フィルタが基板保持部に干渉する
事故を未然に防止することができる。
In this case, the prohibiting means prohibits the movement of the filter when the substrate holding unit is at a position where it interferes with the filter. Thus, it is possible to prevent an accident that the filter interferes with the substrate holding unit.

【0033】第10の発明に係る基板処理装置は、第1
〜第9のいずれかの発明に係る基板処理装置の構成にお
いて、支持手段が、基板処理部の処理空間の上方に固定
され、水平方向に延びる案内部材と、フィルタを支持
し、案内部材に沿って移動自在な移動部材とを含むもの
である。
A substrate processing apparatus according to a tenth aspect of the present invention comprises:
In the configuration of the substrate processing apparatus according to any one of the ninth to ninth aspects, the support means is fixed above the processing space of the substrate processing unit, supports the guide member extending in the horizontal direction, and the filter, and And a movable member that is movable.

【0034】この場合、作業者が移動部材を処理空間の
外方の所定位置に向けて押すと、移動部材がフィルタを
支持した状態で案内部材に沿って移動する。また、作業
者が移動部材を基板処理部の処理空間の上方位置に向け
て引き戻すと、移動部材はフィルタを支持した状態で案
内部材に沿って基板処理部の処理空間の上方位置に移動
する。これにより、簡便な操作によってフィルタを処理
空間の上方位置と処理空間の外方の所定位置とに移動さ
せることができ、基板処理部の保守作業を短時間でかつ
容易に行なうことができる。
In this case, when the operator pushes the moving member toward a predetermined position outside the processing space, the moving member moves along the guide member while supporting the filter. When the operator pulls the moving member back toward the position above the processing space of the substrate processing unit, the moving member moves along the guide member to a position above the processing space of the substrate processing unit while supporting the filter. Thus, the filter can be moved to a position above the processing space and a predetermined position outside the processing space by a simple operation, and maintenance work of the substrate processing unit can be performed easily in a short time.

【0035】第11の発明に係る基板処理装置は、第1
0の発明に係る基板処理装置の構成において、基板処理
部が処理空間を取り囲む筐体をさらに備え、フィルタは
筐体の天板下面に着脱自在に取り付けられており、移動
部材が、天板から取り外されたフィルタを移動可能に支
持するものである。
The substrate processing apparatus according to the eleventh aspect of the present invention has a first
In the configuration of the substrate processing apparatus according to the first aspect, the substrate processing unit further includes a housing surrounding the processing space, the filter is detachably attached to a lower surface of a top plate of the housing, and the moving member is mounted on the top plate. The removed filter is movably supported.

【0036】この場合、作業者は、基板処理部の筐体の
天板下面からフィルタを取り外すと、フィルタが移動部
材に支持される。そして、作業者は移動部材を移動させ
ることによりフィルタを基板処理部の処理空間の上方位
置と処理空間の外方の所定位置とに移動させることがで
きる。これにより、簡便な操作でフィルタを移動させる
ことができる。
In this case, when the operator removes the filter from the lower surface of the top plate of the casing of the substrate processing section, the filter is supported by the moving member. Then, the operator can move the filter to a position above the processing space of the substrate processing unit and a predetermined position outside the processing space by moving the moving member. Thus, the filter can be moved by a simple operation.

【0037】[0037]

【発明の実施の形態】図1は本発明の一実施例における
基板処理装置の斜視図、図2は図1の基板処理装置の正
面断面図、図3は図2におけるH−H線断面図、図4は
図2におけるI−I線断面図である。
FIG. 1 is a perspective view of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a front sectional view of the substrate processing apparatus of FIG. 1, and FIG. 3 is a sectional view taken along line HH in FIG. FIG. 4 is a sectional view taken along line II in FIG.

【0038】図1〜図4において、基板処理装置は、処
理領域A、搬入搬出領域Bおよび受け渡し領域Dを有す
る。搬入搬出領域Bは処理領域Aの一端部側に配置さ
れ、受け渡し領域Dは処理領域Aの他端部側に配置され
ている。また、処理領域Aには搬送領域Cが配置されて
いる。なお、以下では、処理領域A、搬入搬出領域Bお
よび受け渡し領域Dの整列方向をY軸方向とし、Y軸方
向に直交する方向をX軸方向とし、垂直方向をZ軸方向
とする。
1 to 4, the substrate processing apparatus has a processing area A, a carry-in / out area B, and a transfer area D. The carry-in / carry-out area B is arranged at one end of the processing area A, and the transfer area D is arranged at the other end of the processing area A. Further, a transport area C is disposed in the processing area A. Hereinafter, the alignment direction of the processing area A, the loading / unloading area B, and the delivery area D is referred to as a Y-axis direction, a direction orthogonal to the Y-axis direction is referred to as an X-axis direction, and a vertical direction is referred to as a Z-axis direction.

【0039】処理領域Aは、下から上へ順に配置された
第1の階層A1、第2の階層A2、第3の階層A3およ
び第4の階層A4を含む。第1の階層A1には、化学系
ユニット1が配置されている。化学系ユニット1は、各
種処理液(薬液)、廃液、ポンプおよび排気系を収納す
る。
The processing area A includes a first hierarchical level A1, a second hierarchical level A2, a third hierarchical level A3, and a fourth hierarchical level A4 arranged in order from bottom to top. The chemical unit 1 is arranged on the first level A1. The chemical unit 1 stores various processing liquids (chemical liquids), waste liquids, pumps, and exhaust systems.

【0040】第2の階層A2には、複数の回転処理系ユ
ニットが配置され、本実施例では、基板に処理液の回転
塗布処理を行なう回転式塗布ユニット(スピンコータ)
2aおよび基板に現像処理を行なう回転式現像ユニット
(スピンデベロッパ)2bがそれぞれ2台配置されてい
る。
In the second level A2, a plurality of rotation processing units are arranged. In this embodiment, a rotation type coating unit (spin coater) for performing a rotation coating process of a processing liquid on a substrate.
2a and two rotary developing units (spin developers) 2b for performing a developing process on the substrate are arranged.

【0041】第3の階層A3には、ULPA(Ultra Lo
w Penetration Air)フィルタ、化学吸着フィルタ等のフ
ィルタを含むフィルタユニット32およびファンユニッ
ト31からなる空気調整ユニット3が配置されている。
なお、この空気調整ユニット3の構造については後で詳
述する。
In the third hierarchy A3, ULPA (Ultra Lo
w An air conditioning unit 3 including a filter unit 32 including a filter such as a Penetration Air) filter and a chemical adsorption filter and a fan unit 31 are arranged.
The structure of the air adjustment unit 3 will be described later in detail.

【0042】第4の階層A4には、複数の熱処理系ユニ
ットが配置され、本実施例では、基板に冷却処理を行な
う複数の冷却ユニット(クーリングプレート)CPおよ
び基板に加熱処理を行なう複数の加熱ユニット(ホット
プレート)HPが複数段に配置されている。
In the fourth level A4, a plurality of heat treatment units are arranged. In this embodiment, a plurality of cooling units (cooling plates) CP for performing a cooling process on the substrate and a plurality of heating units for performing a heating process on the substrate are provided. The units (hot plates) HP are arranged in a plurality of stages.

【0043】第2〜第4の階層A2〜A4において多段
に積層された処理ユニット群は、搬送領域Cの周りを取
り囲むように配置されている。搬送領域Cの中央には下
部搬送ユニット4および上部搬送ユニット5が配置され
ている。下部搬送ユニット4は、基板Wを保持して水平
方向に進退移動可能な2本のアーム14aおよびアーム
14aを進退移動させる移動部14bからなる基板保持
部14を備える。基板保持部14は昇降機構および回動
機構に接続されており、搬送領域C内で昇降移動しかつ
垂直軸の周りで回動する。
The processing unit groups stacked in multiple stages in the second to fourth layers A2 to A4 are arranged so as to surround the transfer area C. In the center of the transfer area C, a lower transfer unit 4 and an upper transfer unit 5 are arranged. The lower transfer unit 4 includes a substrate holding unit 14 that includes two arms 14a that hold the substrate W and can move forward and backward in a horizontal direction and a moving unit 14b that moves the arm 14a forward and backward. The substrate holding unit 14 is connected to an elevating mechanism and a rotating mechanism, moves up and down in the transport area C, and rotates around a vertical axis.

【0044】上部搬送ユニット5は、基板Wを保持して
水平方向に進退移動可能な2本のアーム15aおよび2
本のアーム15aを進退移動させる移動部15bからな
る基板保持部15を備える。基板保持部15は昇降機構
および旋回機構に接続されており、搬送領域C内で昇降
および旋回移動する。
The upper transfer unit 5 is provided with two arms 15a and 2
The substrate holding unit 15 includes a moving unit 15b that moves the arm 15a forward and backward. The substrate holding unit 15 is connected to an elevating mechanism and a turning mechanism, and moves up and down and turns in the transport area C.

【0045】搬入搬出領域Bは、下から上へ順に配置さ
れた第1の階層B1、第2の階層B2および第3の階層
B3を含む。搬入搬出領域Bの第1の階層B1には、基
板を収納するとともに基板の搬入および搬出を行なう搬
入搬出装置(インデクサ)6が配置されている。搬入搬
出装置6は、基板Wを収納する複数のカセット9および
基板の搬入、搬出を行なう移載ロボット10を備える。
移載ロボット10は、カセット9から基板Wを取り出し
て搬送領域Cの下部搬送ユニット4に渡し、一連の処理
が施された基板Wを下部搬送ユニット4から受け取って
カセット9に戻す。
The loading / unloading area B includes a first story B1, a second story B2, and a third story B3 arranged in order from bottom to top. In the first level B1 of the loading / unloading area B, a loading / unloading device (indexer) 6 for storing the substrates and loading / unloading the substrates is arranged. The loading / unloading device 6 includes a plurality of cassettes 9 for storing the substrates W and a transfer robot 10 for loading and unloading the substrates.
The transfer robot 10 takes out the substrate W from the cassette 9 and transfers it to the lower transfer unit 4 in the transfer area C, receives the substrate W subjected to the series of processing from the lower transfer unit 4, and returns the substrate W to the cassette 9.

【0046】第2の階層B2には、フィルタおよびファ
ンからなる空気調整ユニット7が配置されている。ま
た、第3の階層B3には、電気的制御ユニット8が配置
されている。
An air conditioning unit 7 including a filter and a fan is arranged on the second level B2. In the third level B3, an electric control unit 8 is arranged.

【0047】受け渡し領域Dは、基板の受け渡しを行な
う受け渡し手段(図示せず)を備え、外部の装置との間
で基板の受け渡しを行なう。
The transfer area D includes transfer means (not shown) for transferring the substrate, and transfers the substrate to and from an external device.

【0048】搬送領域Cの上部には、フィルタおよびフ
ァンからなる空気調整ユニット12が配置されている。
空気調整ユニット12は、搬送領域Cの上方から下方へ
向かう清浄な空気流(ダウンフロー)を供給する。これ
により、搬送領域Cは清浄な雰囲気に保持されている。
An air adjusting unit 12 composed of a filter and a fan is arranged above the transport area C.
The air adjustment unit 12 supplies a clean airflow (downflow) from above to below the transport area C. As a result, the transport area C is kept in a clean atmosphere.

【0049】また、搬入搬出領域Bでは、空気調整ユニ
ット7により移載ロボット10の移動領域周辺に清浄な
空気流が供給されている。これにより、移載ロボット1
0の移動領域周辺も清浄な雰囲気に保持される。
In the loading / unloading area B, a clean air flow is supplied by the air adjusting unit 7 around the moving area of the transfer robot 10. Thereby, the transfer robot 1
The area around the 0 movement area is also kept in a clean atmosphere.

【0050】さらに、受け渡し領域Dの上部には、フィ
ルタおよびファンからなる空気調整ユニット(図示せ
ず)が配置されている。これにより、受け渡し領域Dの
内部が清浄な雰囲気に保持される。
Further, an air adjusting unit (not shown) including a filter and a fan is arranged above the transfer area D. Thereby, the inside of the transfer area D is maintained in a clean atmosphere.

【0051】基板処理装置は、各処理ユニット、搬入搬
出装置6、下部搬送ユニット4および上部搬送ユニット
5等の動作を制御する制御部49(図6参照)を備えて
いる。制御部49には、基板処理の各種データや指令を
入力するための入力部が接続されている。
The substrate processing apparatus includes a control unit 49 (see FIG. 6) for controlling the operation of each processing unit, loading / unloading device 6, lower transport unit 4, upper transport unit 5, and the like. An input unit for inputting various data and commands for substrate processing is connected to the control unit 49.

【0052】次に、処理領域Aの空気調整ユニット3に
ついて説明する。以下では、回転式塗布ユニット2aに
設けられた空気調整ユニット3を例に説明する。図5は
空気調整ユニットの正面断面図である。また、図6はフ
ィルタユニットの主要部の斜視図である。空気調整ユニ
ット3は、上方側に配置されるファンユニット31と、
下方側に配置されるフィルタユニット32とから構成さ
れる。
Next, the air adjusting unit 3 in the processing area A will be described. Hereinafter, the air adjusting unit 3 provided in the rotary coating unit 2a will be described as an example. FIG. 5 is a front sectional view of the air adjustment unit. FIG. 6 is a perspective view of a main part of the filter unit. The air adjustment unit 3 includes a fan unit 31 disposed on an upper side,
And a filter unit 32 arranged on the lower side.

【0053】ファンユニット31は空気を下降させるフ
ァン31aを備える。ファン31aにより供給される空
気流はファンユニット31の底板31bの開口部31c
を通りフィルタユニット32側に導かれる。
The fan unit 31 has a fan 31a for lowering the air. The air flow supplied by the fan 31a is applied to the opening 31c of the bottom plate 31b of the fan unit 31.
And is led to the filter unit 32 side.

【0054】フィルタユニット32はフィルタ33およ
びスライド機構36から構成される。フィルタ33はU
LPAフィルタあるいは化学吸着フィルタ等からなる。
ここで、回転式塗布ユニット2aはフレーム21,2
2、外板(図示せず)および天板20等からなる筐体を
有しており、フィルタ33は、取り付けボルト35によ
り回転式塗布ユニット2aの天板20の下面に取り付け
られている。
The filter unit 32 comprises a filter 33 and a slide mechanism 36. Filter 33 is U
It consists of an LPA filter or a chemical adsorption filter.
Here, the rotary coating unit 2a includes the frames 21 and
2. It has a housing composed of an outer plate (not shown), a top plate 20 and the like, and the filter 33 is attached to the lower surface of the top plate 20 of the rotary coating unit 2a by mounting bolts 35.

【0055】フィルタ33の上面および下面はフィルタ
の素材面が露出しており、側部外周面は金属材料で囲ま
れている。フィルタ33の両側面には断面L字型のフレ
ーム34が固定されている。
The upper and lower surfaces of the filter 33 have exposed material surfaces of the filter, and the outer peripheral surface of the side is surrounded by a metal material. Frames 34 having an L-shaped cross section are fixed to both side surfaces of the filter 33.

【0056】天板20にはファンユニット31から下降
する空気を通過させる開口が形成されており、フィルタ
33は天板20の開口を通り下降した空気を透過させて
下方の回転式塗布ユニット2aの処理空間16に導く。
The top plate 20 is formed with an opening through which air descending from the fan unit 31 passes, and the filter 33 transmits the air descending through the opening of the top plate 20 to allow the lower rotary coating unit 2a to pass therethrough. It leads to the processing space 16.

【0057】スライド機構36は天板20から取り外さ
れたフィルタ33を水平方向に移動させるものであり、
固定レール37および可動フレーム40を有する。一対
の固定レール37は断面S字型の板状部材からなり、回
転式塗布ユニット2aのフレーム22に取り付けられて
いる。固定レール37の下部の水平面37aは可動フレ
ーム40の移動を案内する案内面となる。
The slide mechanism 36 moves the filter 33 removed from the top plate 20 in the horizontal direction.
It has a fixed rail 37 and a movable frame 40. The pair of fixed rails 37 are made of a plate-shaped member having an S-shaped cross section, and are attached to the frame 22 of the rotary coating unit 2a. The horizontal surface 37 a below the fixed rail 37 serves as a guide surface for guiding the movement of the movable frame 40.

【0058】可動フレーム40は一対の可動レール41
および一対の可動レール41の一方端部を連結する連結
フレーム42からなる門型形状に形成されている。各可
動レール41は断面L字型の板状部材からなり、その垂
直壁面に上ガイド溝43および下ガイド溝44が形成さ
れている。また、可動レール41の水平面41aがフィ
ルタ33の側面に形成されたフレーム34を支持する支
持面となる。
The movable frame 40 includes a pair of movable rails 41.
And a connecting frame 42 connecting one end of a pair of movable rails 41. Each movable rail 41 is made of a plate-like member having an L-shaped cross section, and has an upper guide groove 43 and a lower guide groove 44 formed on its vertical wall surface. The horizontal surface 41 a of the movable rail 41 serves as a support surface for supporting the frame 34 formed on the side surface of the filter 33.

【0059】可動フレーム40は、固定レール37の案
内面37a上に摺動自在に載置される。この状態で、固
定レール37のガイド溝38と可動レール41の下ガイ
ド溝44の位置が一致し、各ガイド溝38,44を貫通
して連結ボルト46が挿入されている。連結ボルト46
のねじ部にはナットがねじ込まれ、この連結ボルト46
およびナットにより固定レール37と可動レール41が
連結される。ボルト46およびナットを緩めることによ
り、可動レール41が固定レール37に沿って摺動可能
となり、ボルト46およびナットを締結することによ
り、可動レール41が固定レール37に固定される。
The movable frame 40 is slidably mounted on the guide surface 37a of the fixed rail 37. In this state, the positions of the guide groove 38 of the fixed rail 37 and the lower guide groove 44 of the movable rail 41 coincide with each other, and the connecting bolt 46 is inserted through each of the guide grooves 38 and 44. Connecting bolt 46
A nut is screwed into the threaded portion of the connecting bolt 46.
The fixed rail 37 and the movable rail 41 are connected by a nut and a nut. By loosening the bolt 46 and the nut, the movable rail 41 can slide along the fixed rail 37, and by fastening the bolt 46 and the nut, the movable rail 41 is fixed to the fixed rail 37.

【0060】また、可動レール41の上ガイド溝43に
は固定ボルト45が挿入されている。固定ボルト45は
上ガイド溝43を通り固定レール37に形成されたねじ
孔39にねじ込まれている。この固定ボルト45および
上ガイド溝43により可動フレーム40の水平方向の移
動量が規制される。すなわち、可動フレーム40上のフ
ィルタ33を搬送領域C側に押すと、上ガイド溝43の
一端部43aが固定ボルト45に当接した位置で可動フ
レーム40の移動が停止され、可動フレーム40を引き
戻すと、上ガイド溝43の他端部43bが固定ボルト4
5に当接した位置で可動フレーム40の移動が停止され
る。
A fixing bolt 45 is inserted into the upper guide groove 43 of the movable rail 41. The fixing bolt 45 passes through the upper guide groove 43 and is screwed into a screw hole 39 formed in the fixing rail 37. The amount of movement of the movable frame 40 in the horizontal direction is regulated by the fixing bolt 45 and the upper guide groove 43. That is, when the filter 33 on the movable frame 40 is pushed toward the transport area C, the movement of the movable frame 40 is stopped at a position where one end 43a of the upper guide groove 43 abuts on the fixing bolt 45, and the movable frame 40 is pulled back. And the other end 43b of the upper guide groove 43 is
The movement of the movable frame 40 is stopped at the position where the movable frame 40 abuts.

【0061】本実施例において、回転式塗布ユニット2
aおよび現像ユニット2bが本発明の基板処理部に相当
し、スライド機構36が支持手段に相当し、下部搬送ユ
ニット4が搬送手段に相当し、移載ロボット10が搬入
搬出手段に相当し、搬入搬出装置6の一部が載置部に相
当し、制御部49が制御手段に相当する。また、搬送領
域Cの空気調整ユニット12が本発明の搬送領域の空気
調整部に相当し、搬入搬出領域Bの空気調整ユニット7
が搬入搬出領域の空気調整部に相当し、受け渡し領域D
の空気調整ユニットが受け渡し領域の空気調整部に相当
する。
In this embodiment, the rotary coating unit 2
a and the developing unit 2b correspond to the substrate processing unit of the present invention, the slide mechanism 36 corresponds to the support means, the lower transfer unit 4 corresponds to the transfer means, the transfer robot 10 corresponds to the loading / unloading means, A part of the carry-out device 6 corresponds to a mounting unit, and the control unit 49 corresponds to a control unit. Further, the air adjustment unit 12 in the transfer area C corresponds to an air adjustment unit in the transfer area of the present invention, and the air adjustment unit 7 in the carry-in / out area B.
Corresponds to the air adjusting section in the carry-in / out area, and the transfer area D
The air adjustment unit corresponds to the air adjustment unit in the delivery area.

【0062】ここで、フィルタユニット32が設けられ
た回転式塗布ユニット2aの保守作業について説明す
る。図7は回転式塗布ユニットの保守作業時の基板処理
装置の断面図である。図7では、図3と同じ基板処理装
置の断面が示されている。以下、図5〜図7を参照して
回転式塗布ユニット2aの保守作業について説明する。
Here, the maintenance work of the rotary coating unit 2a provided with the filter unit 32 will be described. FIG. 7 is a cross-sectional view of the substrate processing apparatus during a maintenance operation of the rotary coating unit. FIG. 7 shows a cross section of the same substrate processing apparatus as in FIG. Hereinafter, the maintenance work of the rotary coating unit 2a will be described with reference to FIGS.

【0063】まず、回転式塗布ユニット2aの筐体側部
の外板(図示せず)を取り外す。これにより、図5に示
すようなフィルタユニット32の側面が露出する。次
に、フィルタ33の取り付けボルト35を取り外す。こ
れにより、フィルタ33は天板20から落下し、フィル
タ33のフレーム34が可動レール41の載置面41a
に支持される。
First, the outer plate (not shown) on the side of the housing of the rotary type coating unit 2a is removed. Thereby, the side surface of the filter unit 32 as shown in FIG. 5 is exposed. Next, the mounting bolt 35 of the filter 33 is removed. As a result, the filter 33 drops from the top plate 20 and the frame 34 of the filter 33 is placed on the mounting surface 41 a of the movable rail 41.
Supported by

【0064】さらに、固定ボルト45および連結ボルト
46を緩める。これにより、可動レール41が固定レー
ル37に対して移動可能となる。この状態で、可動フレ
ーム40上のフィルタ33の側面を搬送領域C側に押し
出す。フィルタ33を載置した可動フレーム40は水平
移動し、フィルタ33が搬送領域Cに移動する。これに
より、回転式塗布ユニット2aの上部の空間が拡大さ
れ、保守作業のためのスペースが広がり、回転式塗布ユ
ニット2aの保守作業が容易となる。
Further, the fixing bolt 45 and the connecting bolt 46 are loosened. Thus, the movable rail 41 can move with respect to the fixed rail 37. In this state, the side surface of the filter 33 on the movable frame 40 is pushed out to the transport area C side. The movable frame 40 on which the filter 33 is mounted moves horizontally, and the filter 33 moves to the transport area C. Thereby, the space above the rotary coating unit 2a is enlarged, the space for maintenance work is widened, and the maintenance work of the rotary coating unit 2a becomes easy.

【0065】回転式塗布ユニット2aの保守作業が終了
すると、フィルタ33を搬送領域Cから元の位置に引き
戻す。この時、可動フレーム40の前面の折曲部47に
指を掛けることにより、容易に可動フレーム40を引き
戻すことができる。
When the maintenance work of the rotary type coating unit 2a is completed, the filter 33 is returned from the transport area C to the original position. At this time, by putting a finger on the bent portion 47 on the front surface of the movable frame 40, the movable frame 40 can be easily pulled back.

【0066】その後、再び取り付けボルト35をフィル
タ33に貫通させて天板20に締め付ける。これによ
り、フィルタ33が天板20に固定される。その後、連
結ボルト46および固定ボルト45を締め込み、可動レ
ール41を固定レール37に固定する。これにより、フ
ィルタユニット32が元の状態に復帰する。
Thereafter, the mounting bolt 35 is again passed through the filter 33 and fastened to the top plate 20. Thereby, the filter 33 is fixed to the top plate 20. After that, the connecting bolt 46 and the fixing bolt 45 are tightened to fix the movable rail 41 to the fixed rail 37. Thereby, the filter unit 32 returns to the original state.

【0067】このように、回転式塗布ユニット2aの保
守作業時に、回転式塗布ユニット2aの上部に配設され
たフィルタ33が搬送領域Cに水平移動されるので、回
転式塗布ユニット2aの上方空間が広がり、保守時の作
業性が向上する。
As described above, during the maintenance work of the rotary coating unit 2a, the filter 33 disposed above the rotary coating unit 2a is horizontally moved to the transport area C, so that the space above the rotary coating unit 2a is maintained. And workability during maintenance is improved.

【0068】また、搬送領域Cの上部には空気調整ユニ
ット12が配置されており、空気調整ユニット12から
清浄な空気の下降流が供給され、搬送領域Cが清浄な状
態に保持されている。このため、搬送領域Cに押し出さ
れたフィルタ33はパーティクル等により汚染されるこ
とがない。
An air adjusting unit 12 is disposed above the transfer area C, and a downward flow of clean air is supplied from the air adjustment unit 12 to keep the transfer area C clean. For this reason, the filter 33 pushed out to the transport area C is not contaminated by particles or the like.

【0069】さらに、フィルタ33は作業者が触れにく
い位置に保持されるため、フィルタ33の表面が誤って
破損されることが防止される。さらに、従来のように基
板処理装置の周囲にフィルタ33の受台を設置する必要
が無くなり、これにより基板処理装置の周囲の省スペー
ス化を図ることができる。
Further, since the filter 33 is held at a position where it is difficult for an operator to touch, the surface of the filter 33 is prevented from being erroneously damaged. Further, it is not necessary to dispose a pedestal for the filter 33 around the substrate processing apparatus as in the related art, so that space saving around the substrate processing apparatus can be achieved.

【0070】上記実施例では、保守作業時に、フィルタ
33を搬送領域Cに移動させる例について説明したが、
本発明では、フィルタ33を基板処理装置の清浄な雰囲
気に移動させればよく、このためにさらに以下のような
例に適用することができる。
In the above embodiment, an example was described in which the filter 33 was moved to the transport area C during maintenance work.
In the present invention, the filter 33 may be moved to a clean atmosphere of the substrate processing apparatus. For this purpose, the present invention can be further applied to the following examples.

【0071】図8はフィルタの移動状態を示す基板処理
装置の平面図である。上記実施例のようにフィルタ33
はX軸方向に沿って搬送領域Cに水平移動させてもよ
く、またY軸方向に沿って搬送領域Cに水平移動させて
もよい。
FIG. 8 is a plan view of the substrate processing apparatus showing a moving state of the filter. Filter 33 as in the above embodiment
May be moved horizontally to the transfer area C along the X-axis direction, or may be moved horizontally to the transfer area C along the Y-axis direction.

【0072】また、図9はフィルタの他の移動状態を示
す基板処理装置の平面図である。図9に示すように、フ
ィルタ33を搬送領域C以外の領域、例えば搬入搬出領
域Bに水平移動させてもよく、また受け渡し領域Dに水
平移動させてもよい。この場合、搬入搬出領域Bの上部
には空気調整ユニット7(図1参照)が設けられてお
り、搬入搬出領域B内の雰囲気は清浄な状態に保たれて
いる。また、受け渡し領域Dの上部にも同様に空気調整
ユニット(図示せず)が設けられており、その雰囲気が
清浄な状態に保たれている。このため、保守作業時にフ
ィルタ33を水平移動させた場合、雰囲気中のパーティ
クル等などによりフィルタ33が汚染されることが防止
される。
FIG. 9 is a plan view of the substrate processing apparatus showing another movement state of the filter. As shown in FIG. 9, the filter 33 may be moved horizontally to a region other than the transport region C, for example, the carry-in / out region B, or may be moved horizontally to the transfer region D. In this case, the air adjusting unit 7 (see FIG. 1) is provided above the loading / unloading area B, and the atmosphere in the loading / unloading area B is kept clean. Further, an air adjustment unit (not shown) is similarly provided above the transfer area D, and the atmosphere is kept clean. Therefore, when the filter 33 is horizontally moved during the maintenance work, the filter 33 is prevented from being contaminated by particles and the like in the atmosphere.

【0073】さらに、図10はフィルタの他の移動状態
を示す基板処理装置の平面図である。図示の基板処理装
置では、基板処理領域Aの両側に、外部との間で基板の
受け渡しを行なうための受け渡し領域Eが配置されてい
る。受け渡し領域Eには外部装置との間で基板の受け渡
しを行うための受け渡し手段(図示せず)が設けられて
いる。受け渡し領域Eの上部には空気調整ユニット(図
示せず)が設けられ、その雰囲気が清浄な状態に保たれ
ていく。そこで、保守作業時に、フィルタ33を受け渡
し領域Eに引き出して保持することができる。なお、こ
の例の受け渡し領域Eが本発明の受け渡し領域に相当す
る。
FIG. 10 is a plan view of the substrate processing apparatus showing another moving state of the filter. In the illustrated substrate processing apparatus, transfer areas E for transferring a substrate to and from the outside are arranged on both sides of the substrate processing area A. The transfer area E is provided with transfer means (not shown) for transferring a substrate to and from an external device. An air conditioning unit (not shown) is provided above the transfer area E, and its atmosphere is kept clean. Therefore, the filter 33 can be pulled out and held in the delivery area E during maintenance work. Note that the delivery area E in this example corresponds to the delivery area of the present invention.

【0074】次に、フィルタユニット32の移動動作の
インタロック機構について説明する。例えば、図3に示
すように、保守作業時に、下部搬送ユニット4の基板保
持部が少なくともフィルタユニット32と同じ高さに上
昇していると、搬送領域Cに押し出されたフィルタ33
が基板保持部に干渉する。そこで、フィルタ33と下部
搬送ユニット4との干渉を回避させるためにインタロッ
ク機構が設けられている。
Next, an interlock mechanism for moving the filter unit 32 will be described. For example, as shown in FIG. 3, when the substrate holding portion of the lower transport unit 4 is raised to at least the same height as the filter unit 32 during the maintenance work, the filter 33 pushed out to the transport area C may be used.
Interferes with the substrate holding unit. Therefore, an interlock mechanism is provided to avoid interference between the filter 33 and the lower transport unit 4.

【0075】インタロック機構の第1の例では、フィル
タ33の移動を検知する検知手段を用いて、下部搬送ユ
ニット4とフィルタ33との干渉を回避する。
In the first example of the interlock mechanism, the interference between the lower transport unit 4 and the filter 33 is avoided by using a detecting means for detecting the movement of the filter 33.

【0076】検知手段としては、図6に示すようにスラ
イド機構36の固定レール37の搬送領域C側に透過型
センサ48を設けてもよい。この場合、フィルタ33が
可動フレーム40とともに搬送領域C側に押し出される
と、透過型センサ48がフィルタ33を検知し、検知信
号を制御部49に出力する。
As a detecting means, as shown in FIG. 6, a transmission type sensor 48 may be provided on the transport area C side of the fixed rail 37 of the slide mechanism 36. In this case, when the filter 33 is pushed out to the transport area C side together with the movable frame 40, the transmission sensor 48 detects the filter 33 and outputs a detection signal to the control unit 49.

【0077】また、フィルタユニット32にフィルタ3
3の移動を知らせるためのスイッチを設けてもよい。作
業者はフィルタ33を移動させる前に、このスイッチを
オンする。スイッチのオン信号は制御部49に出力され
る。
The filter unit 32 has the filter 3
A switch for notifying the movement of No. 3 may be provided. The operator turns on this switch before moving the filter 33. The switch ON signal is output to the control unit 49.

【0078】さらに、フィルタ33の取り付けボルト3
5が天板20から離脱したことを検出するセンサ、フィ
ルタ33が可動レール41の載置面41aに載置された
ことを検出するセンサ、あるいは固定ボルト45および
連結ボルト46が緩められたことを検出するセンサを設
けてもよい。これらのセンサの出力信号は制御部49に
出力される。さらに、下部搬送ユニット4にフィルタ3
3を検出するセンサを設けてもよい。
Further, the mounting bolt 3 of the filter 33
A sensor that detects that the filter 5 has been detached from the top plate 20, a sensor that detects that the filter 33 is mounted on the mounting surface 41a of the movable rail 41, or a sensor that detects that the fixing bolt 45 and the connecting bolt 46 have been loosened. A sensor for detecting may be provided. Output signals of these sensors are output to the control unit 49. Further, a filter 3 is attached to the lower transport unit 4.
3 may be provided.

【0079】フィルタ33の移動等を検出した信号を受
けると、制御部49は下部搬送ユニット4をフィルタ3
3と干渉しない位置まで下降させ、さらにファンユニッ
ト31を停止させる。また、警報を発生させてもよい。
Upon receiving a signal indicating that the filter 33 has moved or the like, the control unit 49 sets the lower transport unit 4 to the filter 3.
Then, the fan unit 31 is lowered to a position where it does not interfere with the fan unit 3 and the fan unit 31 is stopped. Further, an alarm may be generated.

【0080】さらに、搬送領域C側への可動フレーム4
0の移動を禁止するロック部材(図示せず)を設けても
よい。制御部49は、下部搬送ユニット4が、フィルタ
33を移動させると干渉するような位置にあることを検
出した信号を受けると、ロック部材を移動させて可動フ
レーム40の移動を阻止する。さらに、下部搬送ユニッ
ト4が所定の位置に退避すると、ロック部材を復帰させ
て可動フレーム40の移動を許容する位置に移動させ
る。
Further, the movable frame 4 to the transfer area C side
A lock member (not shown) for inhibiting the movement of zero may be provided. When receiving a signal indicating that the lower transport unit 4 is at a position where the lower transport unit 4 interferes with the movement of the filter 33, the controller 49 moves the lock member to prevent the movable frame 40 from moving. Further, when the lower transport unit 4 retreats to a predetermined position, the lock member is returned to a position where the movable frame 40 is allowed to move.

【0081】また、インタロック機構の第2の例では、
基板処理装置の入力部から保守作業の指令が入力される
と、フィルタ33の移動前に下部搬送ユニット4がフィ
ルタ33と干渉しない位置に退避される。
In the second example of the interlock mechanism,
When a maintenance work command is input from the input unit of the substrate processing apparatus, the lower transport unit 4 is retracted to a position where it does not interfere with the filter 33 before the filter 33 moves.

【0082】本実施例では、透過型センサ48等の上記
センサが本発明の検出手段の相当し、ロック部材が禁止
手段に相当する。
In this embodiment, the above sensors such as the transmission type sensor 48 correspond to the detecting means of the present invention, and the lock member corresponds to the inhibiting means.

【0083】なお、上部搬送ユニット5とフィルタ33
とが干渉しうる場合には、上記のインタロック構造を上
部搬送ユニット5に適用し、上部搬送ユニット5と下部
搬送ユニット4の双方がフィルタ33と干渉しうる場合
には、双方に対してインタロック構造を適用すればよ
い。
The upper transport unit 5 and the filter 33
If the upper transport unit 5 and the lower transport unit 4 can interfere with each other, the interlock structure described above is applied to the upper transport unit 5. A lock structure may be applied.

【0084】また、回転式塗布ユニット2aや回転式現
像ユニット2b等の処理ユニットが隣接して配置されて
いる場合には、一方の処理ユニットのフィルタ33を他
方の処理ユニットのフィルタ33の下方に移動させるよ
うに構成してもよい。
When processing units such as the rotary coating unit 2a and the rotary developing unit 2b are arranged adjacent to each other, the filter 33 of one processing unit is placed below the filter 33 of the other processing unit. You may comprise so that it may move.

【0085】さらに、上記実施例においては、搬送領域
Cの周囲を取り囲むように複数の処理ユニットが配置さ
れた基板処理装置を例に説明したが、本発明に係るフィ
ルタユニット32の構造は、所定方向に整列配置された
処理ユニットに沿って延びる直線状の搬送領域を有する
基板処理装置に対しても適用することができる。
Further, in the above embodiment, the substrate processing apparatus in which a plurality of processing units are arranged so as to surround the transfer area C has been described as an example, but the structure of the filter unit 32 according to the present invention is The present invention can also be applied to a substrate processing apparatus having a linear transfer area extending along processing units arranged in a direction.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施例における基板処理装置の斜視図
である。
FIG. 1 is a perspective view of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1の基板処理装置の正面断面図である。FIG. 2 is a front sectional view of the substrate processing apparatus of FIG. 1;

【図3】図2におけるH−H線断面図である。FIG. 3 is a sectional view taken along line HH in FIG. 2;

【図4】図2におけるI−I線断面図である。FIG. 4 is a sectional view taken along line II in FIG. 2;

【図5】空気調整ユニットの正面断面図である。FIG. 5 is a front sectional view of the air adjustment unit.

【図6】フィルタユニットの主要部の斜視図である。FIG. 6 is a perspective view of a main part of the filter unit.

【図7】フィルタの移動状態を示す基板処理装置の断面
図である。
FIG. 7 is a sectional view of the substrate processing apparatus showing a moving state of the filter.

【図8】フィルタの移動状態を示す基板処理装置の平面
図である。
FIG. 8 is a plan view of the substrate processing apparatus showing a moving state of the filter.

【図9】フィルタ材の他の移動状態を示す基板処理装置
の平面図である。
FIG. 9 is a plan view of the substrate processing apparatus showing another movement state of the filter material.

【図10】フィルタのさらに他の移動例を示す基板処理
装置の平面図である。
FIG. 10 is a plan view of a substrate processing apparatus showing still another example of moving a filter.

【図11】従来の基板処理装置の斜視図である。FIG. 11 is a perspective view of a conventional substrate processing apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2a 回転式塗布ユニット 2b 回転式現像ユニット 3 空気調整ユニット 4 下部搬送ユニット 5 上部搬送ユニット 6 搬入搬出装置 7 空気調整ユニット 31 ファンユニット 32 フィルタユニット 33 フィルタ 35 取り付けボルト 36 スライド機構 37 固定レール 38 ガイド溝 40 可動フレーム 41 可動レール 42 連結フレーム 43 上ガイド溝 44 下ガイド溝 45 固定ボルト 46 連結ボルト 48 透過型センサ 2a Rotary coating unit 2b Rotary developing unit 3 Air adjustment unit 4 Lower transfer unit 5 Upper transfer unit 6 Carry-in / out device 7 Air adjustment unit 31 Fan unit 32 Filter unit 33 Filter 35 Mounting bolt 36 Slide mechanism 37 Fixed rail 38 Guide groove Reference Signs List 40 movable frame 41 movable rail 42 connecting frame 43 upper guide groove 44 lower guide groove 45 fixing bolt 46 connecting bolt 48 transmission type sensor

Claims (11)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 処理空間を有し、前記処理空間内で基板
に所定の処理を行う基板処理部と、 前記基板処理部の前記処理空間の上方に設けられたフィ
ルタと、 前記フィルタを前記処理空間の上方位置と前記処理空間
の外方の所定位置とに移動自在に支持する支持手段とを
備えたこと特徴とする基板処理装置。
A substrate processing unit having a processing space and performing a predetermined processing on a substrate in the processing space; a filter provided above the processing space of the substrate processing unit; A substrate processing apparatus comprising: support means for movably supporting a position above a space and a predetermined position outside the processing space.
【請求項2】 前記基板処理部に隣接する隣接領域に清
浄な空気流を供給する空気調整部をさらに備え、 前記所定位置は、前記隣接領域内に設けられることを特
徴とする請求項1記載の基板処理装置。
2. The air conditioner according to claim 1, further comprising an air adjusting unit configured to supply a clean air flow to an adjacent area adjacent to the substrate processing unit, wherein the predetermined position is provided in the adjacent area. Substrate processing equipment.
【請求項3】 前記基板処理部に隣接する搬送領域に配
設され、前記基板処理部に基板を搬送する搬送手段と、 前記搬送領域に清浄な空気流を供給する空気調整部とを
さらに備え、 前記所定位置は、前記搬送領域に設けられることを特徴
とする請求項1記載の基板処理装置。
3. A transport unit provided in a transport area adjacent to the substrate processing unit, for transporting a substrate to the substrate processing unit, and an air adjusting unit for supplying a clean air flow to the transport area. 2. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the predetermined position is provided in the transfer area.
【請求項4】 前記基板処理部に基板を搬送する搬送手
段と、 基板を収納する基板収納容器が載置される載置部と、 前記基板処理部に隣接する搬入搬出領域に配設され、前
記搬送手段と前記載置部との間で基板の搬入搬出を行な
う搬入搬出手段と、 前記搬入搬出領域に清浄な空気流を供給する空気調整部
とをさらに備え、 前記所定位置は、前記搬入搬出領域内に設けられること
を特徴とする請求項1記載の基板処理装置。
A transfer unit configured to transfer a substrate to the substrate processing unit; a mounting unit on which a substrate storage container storing the substrate is mounted; and a loading / unloading area adjacent to the substrate processing unit; Loading / unloading means for loading / unloading the substrate between the transporting means and the mounting unit; and an air adjusting unit for supplying a clean air flow to the loading / unloading area; 2. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the substrate processing apparatus is provided in a carry-out area.
【請求項5】 前記基板処理部に基板を搬送する搬送手
段と、 前記基板処理部に隣接する受け渡し領域に配設され、前
記搬送手段と外部装置との間で基板の受け渡しを行なう
受け渡し手段と、 前記受け渡し領域に清浄な空気流を供給する空気調整部
とをさらに備え、 前記所定位置は、前記受け渡し領域内に設けられること
を特徴とする請求項1記載の基板処理装置。
5. A transfer unit for transferring a substrate to the substrate processing unit; and a transfer unit disposed in a transfer area adjacent to the substrate processing unit, for transferring a substrate between the transfer unit and an external device. The substrate processing apparatus according to claim 1, further comprising an air adjusting unit configured to supply a clean air flow to the delivery area, wherein the predetermined position is provided in the delivery area.
【請求項6】 前記搬送手段は、基板を保持して少なく
とも上下方向に移動し、前記基板処理部との間で前記基
板の受け渡しを行なう基板保持部を有し、 前記基板処理部の保守時に、前記基板保持部が前記フィ
ルタと干渉しないように前記基板保持部の動作を制御す
る制御手段をさらに備えたことを特徴とする請求項3記
載の基板処理装置。
6. The apparatus according to claim 1, wherein the transfer unit has a substrate holding unit that holds the substrate and moves at least in a vertical direction, and transfers the substrate to and from the substrate processing unit. 4. The substrate processing apparatus according to claim 3, further comprising control means for controlling an operation of the substrate holding unit so that the substrate holding unit does not interfere with the filter.
【請求項7】 前記フィルタの移動を検出する検出手段
をさらに備え、 前記制御手段は、前記検出手段により前記フィルタの移
動が検出された際に、前記基板保持部が前記フィルタと
干渉しない位置に前記基板保持部を退避させることを特
徴とする請求項6記載の基板処理装置。
7. The apparatus according to claim 1, further comprising: a detecting unit configured to detect a movement of the filter, wherein the control unit is configured to detect the movement of the filter by the detecting unit at a position where the substrate holding unit does not interfere with the filter. 7. The substrate processing apparatus according to claim 6, wherein the substrate holding unit is retracted.
【請求項8】 前記搬送手段は、基板を保持して少なく
とも上下方向に移動し、前記基板処理部との間で前記基
板の受け渡しを行なう基板保持部を有し、 前記基板処理部の保守のための指令を入力する入力手段
と、 前記フィルタの保守指令が入力された場合に、前記基板
保持部が前記フィルタと干渉しないように前記基板保持
部の動作を制御する制御手段とをさらに備えたことを特
徴とする請求項3記載の基板処理装置。
8. The apparatus according to claim 1, wherein the transfer unit includes a substrate holding unit that holds the substrate and moves at least in a vertical direction, and transfers the substrate to and from the substrate processing unit. Input means for inputting a command for the operation, and control means for controlling the operation of the substrate holding unit so that the substrate holding unit does not interfere with the filter when a maintenance command for the filter is input. 4. The substrate processing apparatus according to claim 3, wherein:
【請求項9】 前記搬送手段は、基板を保持して少なく
とも上下方向に移動し、前記基板処理部との間で前記基
板の受け渡しを行なう基板保持部を有し、 前記基板保持部が前記所定位置にある場合に、前記フィ
ルタの移動を禁止する禁止手段をさらに備えたことを特
徴とする請求項3記載の基板処理装置。
9. The transfer unit has a substrate holding unit that holds a substrate and moves at least in a vertical direction, and transfers the substrate to and from the substrate processing unit. 4. The substrate processing apparatus according to claim 3, further comprising a prohibition unit that prohibits the movement of the filter when the filter is at the position.
【請求項10】 前記支持手段は、 前記基板処理部の前記処理空間の上方に固定され、水平
方向に延びる案内部材と、 前記フィルタを支持し、前記案内部材に沿って移動自在
な移動部材とを含むことを特徴とする請求項1〜9のい
ずれかに記載の基板処理装置。
10. A supporting member fixed above the processing space of the substrate processing section and extending in a horizontal direction, a moving member supporting the filter and movable along the guiding member. The substrate processing apparatus according to claim 1, further comprising:
【請求項11】 前記基板処理部は前記処理空間を取り
囲む筐体をさらに備え、 前記フィルタは前記筐体の天板下面に着脱自在に取り付
けられており、 前記移動部材は、前記天板から取り外された前記フィル
タを移動可能に支持することを特徴とする請求項10記
載の基板処理装置。
11. The substrate processing unit further includes a housing surrounding the processing space, the filter is detachably attached to a lower surface of a top plate of the housing, and the moving member is detached from the top plate. The substrate processing apparatus according to claim 10, wherein the filter is movably supported.
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