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JPH11191582A - カセット搬送システム - Google Patents

カセット搬送システム

Info

Publication number
JPH11191582A
JPH11191582A JP35939297A JP35939297A JPH11191582A JP H11191582 A JPH11191582 A JP H11191582A JP 35939297 A JP35939297 A JP 35939297A JP 35939297 A JP35939297 A JP 35939297A JP H11191582 A JPH11191582 A JP H11191582A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cassette
semiconductor manufacturing
area
transport system
track
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP35939297A
Other languages
English (en)
Inventor
Koji Ezaki
浩治 江崎
Shigemasa Taruki
繁正 樽木
Sumiichi Yoneda
純市 米田
Tetsuya Sakamoto
哲也 坂本
Seiji Ishibashi
誠治 石橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP35939297A priority Critical patent/JPH11191582A/ja
Publication of JPH11191582A publication Critical patent/JPH11191582A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Warehouses Or Storage Devices (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ケミカルヒューム/ミストおよび異物による
歩留まり低下を防止し、クリーンルームの空調稼働費を
削減可能なカセット搬送システムを提供する。 【解決手段】 半導体製造装置12が設置された作業エ
リア99(クラス1000〜10000)の床下部のほ
ぼ全面に、規則性を持って配置された複数のループ状レ
ールおよび直線レールよりなる軌道21が敷設された高
清浄度(クラス1〜10)のカセット搬送エリア16を
設けることにより、高清浄度空間を従来のクリーンルー
ムに比べて大幅に縮小でき、クリーンルーム空調稼働費
の大幅な削減が可能となる。さらに、カセット搬送エリ
ア16は、半導体製造装置12および作業者13等と分
離されているため、搬送中のウエハへのケミカルヒュー
ム/ミストおよび異物による汚染が防止でき、歩留まり
が向上する。また、目的地まで複数の走行ルートを選択
できるため、装置間を速やかにカセット移動可能であ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体製造ライン
において、ウエハを収納するカセットを半導体製造装置
間で移動させるカセット搬送システムに関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】半導体の製造は、ウエハ上にミクロン単
位の微細加工を施すため、ウエハ上への異物、例えば塵
埃粒子、ケミカルヒュームおよびミスト等の付着が直接
に製品の歩留まり低下の要因となる。このため、半導体
製造ラインは、従来より、異物が低レベルに厳しく管理
された、清浄度の高い環境であるクリーンルーム内に設
けられている。図15は、従来の一般的なクリーンルー
ムの空調設備を示す図である。図において、1は外気を
取り入れ温湿度を制御する外調機、2は動力供給設備や
環境保全設備等が配置されたユーティリティゾーン、3
は消音器、4はドライコイル、5は循環ファン、6は天
井フィルター7が設置された天井チャンバー、8は清浄
度レベルの異なるエリアを区分けする仕切り壁、9は半
導体製造装置のローダ/アンローダ部およびカセット搬
送装置等が配置された作業エリア、10は装置メンテナ
ンスを行うメンテナンスエリア、11は作業エリア9の
床一面に設けられ、ユーティリティゾーン2にエアーを
通過させるグレーティング、12は検査装置等を含む半
導体製造装置、13は無塵衣を着用した作業者、18は
ウエハを収納するカセット、19はカセット18搬送用
の台車、35は台車19の走行ルートである軌道を示し
ている。なお図中、矢印はエアーの流れを示している。
【0003】従来のクリーンルームは、外調機1により
外気を取り入れ、温湿度を制御すると共に塵埃粒子を所
定の清浄度に管理したエアーを、ユーティリティゾーン
2へ供給する。その後、エアーは消音器3、ドライコイ
ル4、循環ファン5を経由してさらに温湿度を制御さ
れ、天井チャンバー6に導入される。続いて、エアーは
天井チャンバー6内に設置された天井フィルター7、例
えばHEPA、ULPAにて塵埃粒子を除去され、仕切
壁8で区分けされた作業エリア9とメンテナンスエリア
10にそれぞれ規定の清浄度レベルのエアー、例えば、
作業エリア9はクラス1〜10、メンテナンスエリア1
0はクラス1000〜10000程度のエアーが供給さ
れる。作業エリア9およびメンテナンスエリア10に導
入されたエアーは、床面のグレーティング11を通過し
て循環ファン5により再び天井チャンバー6へ循環され
る。また、クリーンルームは、外気からの異物侵入を防
止するために外気よりも陽圧状態としている。
【0004】このクリーンルーム内に設置される検査装
置等を含む半導体製造装置12は、数百台に及ぶ種類が
あり、メンテナンスや薬液交換が頻繁に行われている。
このメンテナンス時に発生するケミカルヒューム/ミス
トおよび異物の拡散を防止するため、従来より作業エリ
ア9とメンテナンスエリア10を仕切壁8または隔離幕
等で隔離し、作業エリア9をメンテナンスエリア10よ
りも高い清浄度レベルにしていた。また、ウエハを収納
したカセット18の搬送は、従来、作業エリア9内に設
けられた軌道35、例えば半導体製造装置12上の空間
に設けられた一本のループ状レールに、リニア誘導モー
タを駆動源とする台車19を走行させ、各製造工程間の
カセット移動を行っていた。その際、台車19の停止位
置からカセットを一時保管するストッカー9aに移載し
て一旦保管し、このストッカー9aに保管されていたカ
セット18を各半導体製造装置12まで、主に作業者1
3によって搬送していた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】このように、従来のク
リーンルームにおいては、直接にウエハを扱う作業エリ
ア9を高い清浄度レベルに保つために、半導体製造装置
12のメンテナンスは作業エリア9よりも清浄度レベル
の低いメンテナンスエリア10で行うようにしていた。
しかしながら、すべての半導体製造装置12に対してメ
ンテナンスエリア10でメンテナンスを行うことは装置
の配置上困難であり、実際には作業エリア9内でメンテ
ナンスを行うことがあった。その場合、メンテナンス時
に発生するケミカルヒューム/ミストおよび異物の拡散
により、作業エリア9の清浄度レベルが低下するという
問題があった。近年、LSIの微細化、高集積化に伴い
歩留まり低下要因は粒子汚染から化学(ケミカル)汚染
が問題となってきている。化学汚染には例えば、酸、ア
ルカリガス、揮発性ボロン、リン、有機ガス等があり、
これらの発生源としては例えば作業者13、部材、内装
材、外部からの侵入とさまざまである。酸性ガス特にH
Fは、フィルタろ材からのボロンの揮発を促進してお
り、アルカリガスはレジストの解像障害になっている。
ボロン、リンはLSI製品の動作不良の原因となってお
り、有機ガスは絶縁膜の耐圧低下やレンズの曇り等の障
害を発生させており、いずれも重要な課題であった。
【0006】また、従来の作業エリア9はその容積が非
常に大きく、これを高清浄度レベルに保つためには多大
な動力を必要としていた。従来の半導体製造工場で使用
する電気の約40%はクリーンルームの空調稼働に要す
るものであり、空調費の削減が望まれていた。また、従
来のカセット搬送方法では、作業エリア9内に設けられ
た一本のループ状の軌道35を台車19が走行するた
め、走行コースに選択の余地がなく、台車19すなわち
カセット18の流れが停滞することがあった。また、カ
セット18には製品となるウエハが収納されているた
め、発塵源である作業者13が直接カセット18を搬送
することは好ましくなかった。
【0007】本発明は、上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、半導体製造ラインにおいて、ケ
ミカルヒューム/ミストおよび異物による歩留まり低下
を防止すると共に、クリーンルームの空調稼働費を削減
し、さらに、ウエハを収納するカセットが、半導体製造
装置間で停滞することなく、速やかに移動することが可
能なカセット搬送システムを提供することを目的とす
る。
【0008】
【課題を解決するための手段】この発明に係わるカセッ
ト搬送システムは、複数の半導体製造装置が設置された
作業エリア、作業エリアの床下部に設けられ、半導体製
造装置の設置位置に対応して軌道が設けられると共に、
作業エリアよりも高清浄度に保たれたカセット搬送エリ
ア、ウエハを収納するカセットを載置して上記軌道上を
走行し、カセットを各半導体製造装置間で移動させる台
車およびその駆動手段、カセット搬送エリアと各半導体
製造装置のローダ/アンローダ部を接続し、カセット搬
送エリアと同等の高清浄度に保たれたカセット昇降エリ
ア、半導体製造装置のローダ/アンローダ部にそれぞれ
設けられたカセットハンドリングロボット、カセット昇
降エリアに設けられ、カセットハンドリングロボットと
上記台車との間でカセットの受け渡しを行うカセット昇
降手段を備えたものである。また、カセット搬送エリア
の高さは、カセットを載置した台車の走行が可能な程
度、例えば約1mとするものである。さらに、カセット
搬送エリア、カセット昇降エリアおよび半導体製造装置
のローダ/アンローダ部は、ケミカルフリーエアーまた
は高純度ドライエアーで満たされているものである。
【0009】また、規則性を持って複数の半導体製造装
置相互間に配置された複数のループ状レールおよび直線
レールを有する軌道と、ウエハを収納するカセットを載
置して軌道上を走行し、カセットを各半導体製造装置間
で移動させる台車およびその駆動手段と、台車に載置さ
れたカセットの移動先である次工程の半導体製造装置を
選定し、半導体製造装置までの台車の走行ルートを決定
する制御手段を備えたものである。また、ループ状レー
ルは、格子状に配置された直線レールに内接して設けら
れ、ループ状レールと直線レールは、互いに接する部分
を共有しているものである。さらに、ループ状レールお
よび直線レールは、共有部分からそれぞれの単独部分へ
分離する箇所において、左右および直進のいずれか一方
向に走行方向を切り換える仕切り板を有するものであ
る。
【0010】また、軌道は、レール上の台車の有無を検
出するセンサを備えているものである。また、制御手段
は、台車に載置されたカセットの移動先である次工程の
半導体製造装置までの最短走行ルートを検索すると共
に、最短走行ルート上の他の台車の有無をセンサにより
検出し、最短走行ルート上に他の台車が検出された場合
には、他の走行ルートを検索すると共に他の走行ルート
上の他の台車の有無を検出し、他の台車が検出されなか
ったとき、他の走行ルートを台車の走行ルートとするも
のである。さらに、制御手段は、台車に載置されたカセ
ットの移動先である次工程の半導体製造装置までの最短
走行ルートまたは他の走行ルートについて、走行時の他
の台車との干渉の有無を予測し、他の台車が検出され
ず、且つ走行時に他の台車との干渉が無いと判断したル
ートを台車の走行ルートとするものである。また、軌道
は、半導体製造装置が設置された作業エリアの床下部の
ほぼ全面に設けられたカセット搬送エリアに敷設されて
おり、カセット搬送エリアは作業エリアよりも高清浄度
に保たれているものである。
【0011】
【発明の実施の形態】実施の形態1.以下に、本発明の
実施の形態を図について説明する。図1は、本発明の実
施の形態1であるカセット搬送システムを採用したクリ
ーンルームの空調設備を示す図である。図において、1
は外気を取り入れ温湿度を制御する外調機、2a、2b
は動力供給設備や環境保全設備等が配置されたユーティ
リティゾーン、3は消音器、4はドライコイル、5は循
環ファン、6は天井フィルター7が設置された天井チャ
ンバー、12は検査装置等を含む半導体製造装置、13
は無塵衣を着用した作業者、14は外調機1からエアー
を供給され、ケミカルフリーエアーをユーティリティゾ
ーン2bに供給するケミカルフリーエアー生成装置、9
9は半導体製造装置12が配置され、作業およびメンテ
ナンスが行われる作業エリア、16は、作業エリア99
の床15下部のほぼ全面に設けられた高清浄度のカセッ
ト搬送エリア、17は塵埃粒子を除去するフィルタ、1
8はウエハを収納するカセット、19はカセット18搬
送用の台車、20はカセット搬送エリア16と同レベル
の高清浄度に保たれた半導体製造装置12のローダ/ア
ンローダ部である。このローダ/アンローダ部20とカ
セット搬送エリア16は、カセット昇降エリア(図示せ
ず)によって接続されており、このカセット昇降エリア
には、半導体製造装置12のローダ/アンローダ部20
に設けられたカセットハンドリングロボットと台車19
の間でカセット18の受け渡しを行うカセット昇降手段
が備えられている。なお、図中、矢印はエアーの流れを
示している。
【0012】本実施の形態におけるクリーンルームは、
外調機1により外気を取り入れ、温湿度を制御すると共
に塵埃粒子を第一の清浄度に管理したエアーを、ユーテ
ィリティゾーン2aへ供給する。その後、エアーは消音
器3、ドライコイル4、循環ファン5を経由してさらに
温湿度を制御され、天井チャンバー6に導入される。続
いて、エアーは天井チャンバー6内に設置された天井フ
ィルター7、例えばHEPA、ULPAにて塵埃粒子を
除去され、第2の清浄度、例えばクラス1000〜10
000のエアーが作業エリア99に供給される。この
時、作業エリア99は、クリーンルーム外部に対して陽
圧状態とする。一方、外調機1からケミカルフリーエア
ー生成装置14を経由してユーティリティゾーン2bに
供給された第三の清浄度のケミカルフリーエアーは、消
音器3、ドライコイル4、循環ファン5を経由してさら
に温湿度を制御され、フィルター17、例えばHEP
A、ULPAにて塵埃粒子を除去され、第4の清浄度、
例えばクラス1〜10の高清浄度に管理され、カセット
搬送エリア16に供給される。この時、第4の清浄度の
エアーは、カセット搬送エリア16がクリーンルーム外
部に対して陽圧状態になるように供給される。半導体製
造装置12のローダ/アンローダ部20とカセット搬送
エリア16は、カセット昇降手段が設けられたカセット
昇降エリアによって接続されており、ローダ/アンロー
ダ部20とカセット昇降エリアも、カセット搬送エリア
16と同様にケミカルフリーエアーである第4の清浄度
のエアーで満たされている。
【0013】次に、カセット搬送エリア16と半導体製
造装置12のローダ/アンローダ部20を接続している
カセット昇降エリアについて説明する。図2(a)、
(b)は、半導体製造装置12のローダ/アンローダ部
20へのカセット18の取り込み方法を説明する側面図
および上面図である。図において、21はカセット搬送
用の台車19が走行する軌道、22は台車の駆動を行う
リニア誘導モータ駆動源、23はカセット昇降エリア、
24は台車19と一時待機用カセット台25の間でカセ
ット18の受け渡しを行うカセットハンドリング部、2
6はカセットハンドリング部24の昇降を行う送りネ
ジ、27は半導体製造装置のローダ/アンローダ部20
に設けられたカセットハンドリングロボットを示してい
る。なお、図中、同一、相当部分には同一符号を付し、
説明を省略する。
【0014】以下に、台車19により搬送されたカセッ
ト18をローダ/アンローダ部20へ取り込む動作につ
いて説明する。カセット18を載置した台車19は、リ
ニア誘導モータ駆動源22によりカセット搬送エリア1
6に敷設された軌道21上を走行し、カセット18の移
動先である次工程の半導体製造装置の移載ポイントAに
停止する。次に、Y、Z軸およびシータ軸駆動が可能な
カセットハンドリング部24により台車19に載置され
たカセット18を取り上げ、カセット18の姿勢を90
度回転させながら、一時待機用カセット台25(移載ポ
イントB)に移載する。次に、半導体製造装置のローダ
/アンローダ部20に設けられたX、Z軸およびシータ
軸駆動が可能なカセットハンドリングロボット27によ
り、一時待機用カセット台25に載置されたカセット1
8を、ローダ/アンローダ部20の規定の位置、例えば
移載ポイントCにセットする。
【0015】次に、カセット18の払い出し動作につい
て説明する。処理終了後、カセットハンドリングロボッ
ト27により、ローダ/アンローダ部20の移載ポイン
トCまたはDにセットされたカセット18を、一時待機
用カセット台25(移載ポイントB)に移載する。その
後、カセットハンドリング部24によりカセット18を
取り上げ、カセット姿勢を90度回転させながら台車1
9の移載ポイントAにセットする。以上のようなカセッ
ト昇降手段を備えることによって、カセット搬送エリア
16内の台車19と半導体製造装置のローダ/アンロー
ダ部20の間でカセット18の受け渡しが行われる。
【0016】図3(a)、(b)は、本実施の形態にお
けるカセット保管方法を示す側面図および上面図であ
る。図において、28はカセットを一時保管するための
カセット保管庫、29はカセット保管庫28内に設けら
れたカセットハンドリングロボット、30はカセット保
管棚である。なお、図中、同一、相当部分には同一符号
を付し、説明を省略する。カセット保管庫28とカセッ
ト搬送エリア16は、カセット昇降エリア23によって
接続されており、このカセット昇降エリア23には、カ
セット保管庫28内に設けられたカセットハンドリング
ロボット29と台車19の間でカセット18の受け渡し
を行うカセット昇降手段が備えられている。また、カセ
ット保管庫28およびカセット昇降エリア23は、カセ
ット搬送エリア16と同様に高清浄度のケミカルフリー
エアーで満たされている。
【0017】以下に、本実施の形態におけるカセット搬
送エリア16内の台車19とカセット保管庫28の間の
カセット18の受け渡し方法を説明する。まず、台車1
9により搬送されたカセット18をカセット保管庫28
へ取り込む動作について説明する。カセット18を載置
した台車19は、リニア誘導モータ駆動源22によりカ
セット搬送エリア16に敷設された軌道21上を走行
し、カセット18の一時保管場所であるカセット保管庫
28の移載ポイントAに停止する。次に、Y、Z軸駆動
が可能なカセットハンドリング部24により台車19に
載置されたカセット18を取り上げ、一時待機用カセッ
ト台25(移載ポイントB)に移載する。次に、カセッ
ト保管庫28内に設けられた、X、Z軸およびシータ軸
駆動が可能なカセットハンドリングロボット29によ
り、一時待機用カセット台25に載置されたカセット1
8を、カセット保管棚30の指定された位置に載置す
る。次に、カセット18の払い出し動作について説明す
る。カセット保管棚30上の指定されたカセット18
を、カセットハンドリングロボット29により、一時待
機用カセット台25(移載ポイントB)に移載する。そ
の後、カセットハンドリング部24によりカセット18
を取り上げ、台車19の移載ポイントAにセットする。
【0018】本実施の形態によれば、カセット搬送エリ
ア16の高さは、カセット18を載置した台車19の走
行が可能な程度、例えば約1mで十分であるため、クラ
ス1〜10程度の高清浄度空間を従来のクリーンルーム
に比べて大幅に縮小することができ、さらにカセット搬
送エリア16を作業エリア99と分離することにより、
作業エリア99の清浄度をクラス1000〜10000
程度に低く抑えることができるため、クリーンルーム空
調稼働費の大幅な削減が可能となる。さらに、カセット
搬送エリア16は、半導体製造装置12および作業者1
3等と完全に分離されているため、カセット搬送中のウ
エハはケミカルヒューム/ミストおよび異物による影響
を受けることがなく、製造歩留まりが向上する。
【0019】実施の形態2.図4は、本発明の実施の形
態2であるカセット搬送システムを採用したクリーンル
ームの空調設備を示す図である。図において、11はカ
セット搬送エリア16の床一面に設けられ、ユーティリ
ティゾーン2bにエアーを通過させるグレーティングで
ある。なお、図中、同一、相当部分には同一符号を付
し、説明を省略する。本実施の形態では、カセット搬送
エリア16の床部をグレーティング11とし、このグレ
ーティング11上にカセット18搬送用の台車19の軌
道を設けた。従来より、一般にクラス1〜10程度の高
清浄度レベルのクリーンルームでは、天井一面に天井フ
ィルター7を設けると共に床一面にグレーティング11
を設け、天井フィルター7から供給される高清浄なエア
ーがほぼ垂直にグレーティング11を通過する全面ダウ
ンフロー方式が採用されている。本実施の形態では、こ
の全面ダウンフロー方式を採用することにより、カセッ
ト搬送エリア16で何らかのトラブルにより塵埃が発生
した場合でも、非常に効率よく短時間に清浄度を回復す
ることが可能である。
【0020】本実施の形態におけるクリーンルームは、
外調機1からケミカルフリーエアー生成装置14を経由
してユーティリティゾーン2bに供給された前述の第三
の清浄度のケミカルフリーエアーは、消音器3、ドライ
コイル4、循環ファン5を経由してさらに温湿度を制御
され、カセット搬送エリア16の天井部に設けられた天
井フィルター17、例えばHEPA、ULPAにて塵埃
粒子を除去され、第4の清浄度、例えばクラス1〜10
の高清浄度に管理され、カセット搬送エリア16に供給
される。そして、この第4の清浄度のエアーは、カセッ
ト搬送エリア16の床に設けられたグレーティング11
を通過してユーティリティゾーン2bへ戻り、循環ファ
ン5により再びカセット搬送エリア16へ循環される。
なお、本実施の形態においても、半導体製造装置12の
ローダ/アンローダ部20とカセット搬送エリア16
は、カセット昇降手段が設けられたカセット昇降エリア
によって接続されている。半導体製造装置12のローダ
/アンローダ部20へのカセット18の取り込み方法
は、上記実施の形態1と同様であるので説明を省略す
る。
【0021】上記実施の形態1および2では、第4の清
浄度のエアーを生成するためにケミカルフリーエアー生
成装置14を用いたが、高純度ドライエアー生成装置を
用いてもよい。その場合、カセット搬送エリア16、カ
セット昇降エリア23および半導体製造装置12のロー
ダ/アンローダ部20は、高純度ドライエアーで満たさ
れる。さらに、上記実施の形態1および2では、カセッ
ト搬送エリア16を作業エリア99の床15下部のほぼ
全面に設けたが、作業エリア99の天井部のほぼ全面に
設けてもよく、同様の効果が得られる。
【0022】実施の形態3.上記実施の形態1および2
では、作業エリア99の床15下部のほぼ全面に設けら
れた高清浄度のカセット搬送エリア16について説明し
た。本実施の形態では、このカセット搬送エリア16に
おいて、ウエハを収納するカセット18を検査装置を含
む半導体製造装置12間で移動させる台車19が走行す
る軌道21について詳細に説明する。図5は、本実施の
形態におけるカセット搬送システムの概要を示す斜視
図、図6は、本実施の形態におけるカセット搬送システ
ムの軌道を示す平面図である。図において、21は複数
のループ状レールおよび直線レールを組み合わせてなる
軌道、31は半導体製造装置12の設置ポイントであ
り、上記実施の形態1で述べたカセット昇降エリア23
が設けられ、台車19が停止する位置である。なお、図
中、同一、相当部分には同一符号を付し説明を省略す
る。本実施の形態による軌道21は、規則性を持って配
置された複数のループ状レールおよび直線レールを組み
合わせてなるものであり、ループ状レールは、格子状に
配置された直線レールに内接して設けられ、ループ状レ
ールと直線レールは、互いに接する部分を共有している
(図6)。
【0023】図7は、本実施の形態における軌道の切換
ポイントの構造を示す平面図、図8は軌道の切換ポイン
トの切換方法を示す側面図である。図において、32、
32a〜32eは、台車19の走行方向を切り換える仕
切り板、33は空圧により仕切り板32a〜32eの上
げ下げを行うシリンダー、34はローラを示している。
本実施の形態における軌道21は、その切換ポイント、
すなわちループ状レールと直線レールの共有部分からそ
れぞれの単独部分へ分離する箇所において、左右および
直進のいずれか一方向に走行方向を切り換える5つの仕
切り板32a〜32eを有する。これらの仕切り板32
a〜32eは個々に分離されており、シリンダー33に
より上下方向に移動可能である。なお、図8(a)は仕
切り板32が上げられた状態、図8(b)は仕切り板3
2が下げられた状態を示している。台車19の走行を切
り換える際には、仕切り板32a〜32eの組み合わせ
と、軌道21上に配置された台車19の駆動源であるリ
ニア誘導モータの切り換えを行う。
【0024】以下に、仕切り板32a〜32eの組み合
わせと台車19の走行方向を図について説明する。図9
〜図11は、それぞれ直進、右および左方向を選択した
場合の仕切り板32a〜32eの構成を示す平面図であ
る。直進選択の場合、図9に示すように、仕切り板32
a、32bおよび32e を軌道21下部に下げ、仕切り
板32c、32dにより直進の軌道21を構成する。ま
た、右方向選択の場合には、図10に示すように、仕切
り板32b、32dを軌道21下部に下げ、仕切り板3
2a、32eにより右ターンの軌道21を構成する。さ
らに、左方向選択の場合には、図11に示すように、仕
切り板32a、32cを軌道21下部に下げ、仕切り板
32b、32eにより左ターンの軌道21を構成する。
以上のような仕切り板32a〜32eを用いた切換ポイ
ントにより、台車19の走行ルートが決定される。
【0025】図12は、本実施の形態におけるカセット
搬送システムによる台車19の走行ルート例を示す図で
あり、図において、a、b、cは軌道21の切換ポイン
ト、31a、31b、31cはそれぞれ半導体製造装置
A、B、Cの設置ポイントである。図12において、台
車19が装置設置ポイント31aに移動する場合、ルー
トA、すなわち切換ポイントa、cをそれぞれ左ター
ン、左ターンで通過して目的地へ到達する。同様に、台
車19が装置設置ポイント31bに移動する場合、ルー
トB、すなわち切換ポイントa、cをそれぞれ左ター
ン、右ターンで通過して目的地へ到達する。また、台車
19が装置設置ポイント31cに移動する場合、ルート
C、すなわち切換ポイントaを直進で通過して目的地へ
到達する。
【0026】次に、台車19の走行を制御する制御手段
について説明する。図13は、本実施の形態におけるカ
セット搬送システムの台車走行制御ブロック概略図であ
る。軌道21は、レール上の台車19の有無を検出する
センサ(図示せず)を備えており、制御手段は、台車1
9に載置されたカセット18の移動先である次工程の半
導体製造装置12を選定し、その半導体製造装置12ま
での台車19の最適走行ルートを決定する。その際、前
条件として、処理完了後のカセット18を台車19にセ
ット完了していること、次工程の半導体製造装置12の
選定が完了していることを確認する。その後、台車19
に載置されたカセット18の移動先である次工程の半導
体製造装置12までの最短走行ルート(第1候補)を検
索すると共に、最短走行ルート上の他の台車19の有無
をセンサにより検出し、最短走行ルート上に他の台車1
9が検出された場合には、第2、第3、第n候補・・・ の
走行ルートを漸次検索すると共にそれらのルート上の他
の台車19の有無を検出し、他の台車19が検出されな
かったルートを台車19の走行ルート候補とする。さら
に、制御手段は、最短走行ルートまたは第2、第3、第
n候補・・・ の走行ルートについて、走行時における他の
台車19との干渉の有無を予測し、他の台車19が検出
されず、且つ走行時の他の台車19との干渉が無いと判
断したルートを走行ルートとして決定する。図14は、
ループ状レール上の台車19の有無を検出する区間割の
例を示す図である。本例では、ループ状レールをイ、
ロ、ハ、ニの4区間に分割し、それぞれの区間内の台車
19の有無および位置をセンサにより検出する。
【0027】なお、本実施の形態では、複数のループ状
レールを全て同じ大きさとしたが、大小様々なループ状
レールを組み合わせてもよい。また、カセット搬送エリ
ア16は高清浄度であるため、ループ状レールのループ
内をカセット18の一時保管場所として有効に利用して
もよい。その際には、ループ状レール内に例えば数本の
直線レールを設け、カセット18は台車19に載置した
状態で待機させておくことができる。
【0028】
【発明の効果】以上のように、本発明におけるカセット
搬送システムによれば、検査装置等を含む半導体製造装
置が設置された作業エリアの床下部のほぼ全面に、この
作業エリアよりも高清浄度に保たれたカセット搬送エリ
アを設け、作業エリアとカセット搬送エリアを分離した
ので、カセット搬送中のウエハへのケミカルヒューム/
ミストおよび異物による汚染が防止でき、製造歩留まり
が向上する効果がある。
【0029】また、カセット搬送エリアの高さは、カセ
ットを載置した台車の走行が可能な程度、例えば約1m
で良いため、高清浄度空間を従来に比べて大幅に縮小す
ることができ、さらに作業エリアの清浄度レベルを低く
抑えることができるため、クリーンルームの空調稼働費
を削減することが可能となる。
【0030】また、本発明におけるカセット搬送システ
ムによれば、規則性を持って配置された複数のループ状
レールおよび直線レールを組み合わせてなる軌道におい
て、ループ状レールおよび直線レールは、共有部分から
それぞれの単独部分へ分離する箇所において、左右また
は直進方向へ走行方向を自在に切り換えることができる
ので、次工程の半導体製造装置への走行ルートを複数選
択することが可能であり、カセットが停滞することな
く、速やかに移動することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施の形態1であるカセット搬送シ
ステムを採用したクリーンルームの空調設備を示す図で
ある。
【図2】 本発明の実施の形態1における半導体製造装
置のローダ/アンローダ部へのカセットの取り込み方法
を説明する側面図および上面図である。
【図3】 本発明の実施の形態1におけるカセット保管
方法を示す側面図および上面図である。
【図4】 本発明の実施の形態2であるカセット搬送シ
ステムを採用したクリーンルームの空調設備を示す図で
ある。
【図5】 本発明の実施の形態3におけるカセット搬送
システムの概要を示す斜視図である。
【図6】 本発明の実施の形態3におけるカセット搬送
システムの軌道を示す平面図である。
【図7】 本発明の実施の形態3における軌道の切換ポ
イントの構造を示す平面図である。
【図8】 本発明の実施の形態3における軌道の切換ポ
イントの切換方法を示す側面図である。
【図9】 本発明の実施の形態3による軌道において直
進方向を選択した場合の仕切り板の構成を示す平面図で
ある。
【図10】 本発明の実施の形態3による軌道において
右方向を選択した場合の仕切り板の構成を示す平面図で
ある。
【図11】 本発明の実施の形態3による軌道において
左方向を選択した場合の仕切り板の構成を示す平面図で
ある。
【図12】 本発明の実施の形態3におけるカセット搬
送システムの台車走行ルート例を示す図である。
【図13】 本発明の実施の形態3におけるカセット搬
送システムの台車走行制御ブロック概略図である。
【図14】 本発明の実施の形態3におけるループ状レ
ール上の台車の有無を検出する区間割の例を示す図であ
る。
【図15】 従来の一般的なクリーンルームの空調設備
を示す図である。
【符号の説明】
1 外調機、2、2a、2b ユーティリティゾーン、
3 消音器、4 ドライコイル、5 循環ファン、6
天井チャンバー、7 天井フィルター、8 仕切り壁、
9、99 作業エリア、10 メンテナンスエリア、1
1グレーティング、12 半導体製造装置、13 作業
者、14 ケミカルフリーエアー生成装置、15 床、
16 カセット搬送エリア、17 フィルタ、18 カ
セット、19 台車、20 ローダ/アンローダ部、2
1、35 軌道、22 リニア誘導モータ駆動源、23
カセット昇降エリア、24 カセットハンドリング
部、25 一時待機用カセット台、26 送りネジ、2
7、29 カセットハンドリングロボット、28 カセ
ット保管庫、30 カセット保管棚、31、31a、3
1b、31c 装置設置ポイント、32、32a、32
b、32c、32d、32e 仕切り板、33 シリン
ダー、34 ローラ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 坂本 哲也 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 (72)発明者 石橋 誠治 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の半導体製造装置が設置された作業
    エリア、 上記作業エリアの床下部に設けられ、上記半導体製造装
    置の設置位置に対応して軌道が設けられると共に、上記
    作業エリアよりも高清浄度に保たれたカセット搬送エリ
    ア、 ウエハを収納するカセットを載置して上記軌道上を走行
    し、上記カセットを上記各半導体製造装置間で移動させ
    る台車およびその駆動手段、 上記カセット搬送エリアと上記各半導体製造装置のロー
    ダ/アンローダ部を接続し、上記カセット搬送エリアと
    同等の高清浄度に保たれたカセット昇降エリア、 上記半導体製造装置のローダ/アンローダ部にそれぞれ
    設けられたカセットハンドリングロボット、 上記カセット昇降エリアに設けられ、上記カセットハン
    ドリングロボットと上記台車との間で上記カセットの受
    け渡しを行うカセット昇降手段を備えたことを特徴とす
    るカセット搬送システム。
  2. 【請求項2】 カセット搬送エリアの高さは、カセット
    を載置した台車の走行が可能な程度、例えば約1mであ
    ることを特徴とする請求項1記載のカセット搬送システ
    ム。
  3. 【請求項3】 カセット搬送エリア、カセット昇降エリ
    アおよび半導体製造装置のローダ/アンローダ部は、ケ
    ミカルフリーエアーまたは高純度ドライエアーで満たさ
    れていることを特徴とする請求項1または請求項2に記
    載のカセット搬送システム。
  4. 【請求項4】 規則性を持って複数の半導体製造装置相
    互間に配置された複数のループ状レールおよび直線レー
    ルを有する軌道、 ウエハを収納するカセットを載置して上記軌道上を走行
    し、上記カセットを上記各半導体製造装置間で移動させ
    る台車およびその駆動手段、 上記台車に載置された上記カセットの移動先である次工
    程の上記半導体製造装置を選定し、上記半導体製造装置
    までの上記台車の走行ルートを決定する制御手段を備え
    たことを特徴とするカセット搬送システム。
  5. 【請求項5】 ループ状レールは、格子状に配置された
    直線レールに内接して設けられ、上記ループ状レールと
    上記直線レールは、互いに接する部分を共有しているこ
    とを特徴とする請求項4記載のカセット搬送システム。
  6. 【請求項6】 ループ状レールおよび直線レールは、共
    有部分からそれぞれの単独部分へ分離する箇所におい
    て、左右および直進のいずれか一方向に走行方向を切り
    換える仕切り板を有することを特徴とする請求項5記載
    のカセット搬送システム。
  7. 【請求項7】 軌道は、レール上の台車の有無を検出す
    るセンサを備えていることを特徴とする請求項4〜請求
    項6のいずれか一項に記載のカセット搬送システム。
  8. 【請求項8】 制御手段は、台車に載置されたカセット
    の移動先である次工程の半導体製造装置までの最短走行
    ルートを検索すると共に、上記最短走行ルート上の他の
    台車の有無をセンサにより検出し、上記最短走行ルート
    上に他の台車が検出された場合には、他の走行ルートを
    検索すると共に上記他の走行ルート上の他の台車の有無
    を検出し、他の台車が検出されなかったとき、上記他の
    走行ルートを台車の走行ルートとすることを特徴とする
    請求項7記載のカセット搬送システム。
  9. 【請求項9】 制御手段は、台車に載置されたカセット
    の移動先である次工程の半導体製造装置までの最短走行
    ルートまたは他の走行ルートについて、走行時の他の台
    車との干渉の有無を予測し、他の台車が検出されず、且
    つ走行時に他の台車との干渉が無いと判断したルートを
    上記台車の走行ルートとすることを特徴とする請求項8
    記載のカセット搬送システム。
  10. 【請求項10】 軌道は、半導体製造装置が設置された
    作業エリアの床下部のほぼ全面に設けられたカセット搬
    送エリアに敷設されており、上記カセット搬送エリアは
    上記作業エリアよりも高清浄度に保たれていることを特
    徴とする請求項4〜請求項9のいずれか一項に記載のカ
    セット搬送システム。
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