JPH11122532A - 固体撮像素子およびその駆動方法 - Google Patents
固体撮像素子およびその駆動方法Info
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- JPH11122532A JPH11122532A JP9261208A JP26120897A JPH11122532A JP H11122532 A JPH11122532 A JP H11122532A JP 9261208 A JP9261208 A JP 9261208A JP 26120897 A JP26120897 A JP 26120897A JP H11122532 A JPH11122532 A JP H11122532A
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Abstract
定パターンノイズのみならず、垂直に相関を持つ縦筋状
の固定パターンノイズをも抑圧できることが望まれてい
る。 【解決手段】 フォトダイオード11、FD読み出しM
OSトランジスタ12、FDアンプMOSトランジスタ
13、FDリセットMOSトランジスタ14および垂直
選択MOSトランジスタ15からなる単位画素16が行
列状に配置されてなる増幅型固体撮像素子において、水
平走査回路24から出力される水平リセットパルスφH
Rm をFDリセットMOSトランジスタ14のゲート電
極に印加して1画素信号を出力するごとに各画素16の
FDをリセットする。
Description
びその駆動方法に関し、特に増幅機能を持つ単位画素が
行列状に配置されてなるMOS型イメージセンサなどの
増幅型固体撮像素子およびその駆動方法に関する。
て、図12に示す構成のものが知られている。すなわ
ち、図12において、フォトダイオード101、FD(F
loatingDiffusion)読み出しMOSトランジスタ10
2、FDアンプMOSトランジスタ103、FDリセッ
トMOSトランジスタ104および垂直選択MOSトラ
ンジスタ105によって単位画素106が構成され、F
D読み出しMOSトランジスタ102のゲート電極が垂
直読み出し線107に、FDリセットMOSトランジス
タ104のゲート電極が垂直リセット線108に、垂直
選択MOSトランジスタ105のゲート電極が垂直選択
線109に、垂直選択MOSトランジスタ105のソー
ス電極が垂直信号線110にそれぞれ接続されている。
線111の間には、水平選択MOSトランジスタ112
が接続されている。そして、行選択をする垂直走査回路
113から出力される3種類の垂直走査パルスφV
Sn ,φVTn ,φVRにより各行ごとに画素の動作が
制御され、列選択をする水平走査回路114から出力さ
れる水平走査パルスφHm により制御される水平選択M
OSトランジスタ112を介して画素信号が水平信号線
111に出力される。その際、光電変換によってフォト
ダイオード101に蓄積された信号電荷が、FDアンプ
MOSトランジスタ103によって信号電流に変換され
て撮像素子の出力信号として導出される。
成の従来の増幅型固体撮像素子では、各画素を構成する
能動素子、主にFDアンプMOSトランジスタ103の
特性の画素ごとのバラツキ、特にMOSトランジスタの
Vth(閾値)バラツキがそのまま撮像素子の出力信号
に乗ってきてしまう。この特性のバラツキは、画素ごと
に固定の値を持つため、画面上に固定パターンノイズ
(FPN;Fixed Patern Noise) として現れる。この固
定パターンノイズを抑圧するためには、デバイスの外部
にフレームメモリやラインメモリを用いたノイズ除去回
路を設けて画素の特性のバラツキに起因するノイズ成分
を除去する必要があり、したがってカメラシステムとし
ては、ノイズ除去回路を外付けとする分だけ規模が大き
くなってしまう。
スの内部で抑圧できるようにした増幅型固体撮像素子と
して、図13に示す構成のものが考えられる。この増幅
型固体撮像素子においては、単位画素106の構成は図
12と同じであるが、各画素106の特性のバラツキに
起因する固定パターンノイズを抑圧するための水平出力
回路115を設け、この水平出力回路115で画素10
6の読み出し前後(リセット前後)の信号の差分をとる
処理を行うようにしている点が違う。
ンドとの間には、FDアンプMOSトランジスタ103
のソースフォロワ動作の負荷として働く負荷MOSトラ
ンジスタ116が接続されている。また、垂直信号線1
10には、一対の信号スイッチMOSトランジスタ11
7,117′の各一方の主電極が接続されている。この
一対の信号スイッチMOSトランジスタ117,11
7′の各他方の主電極とグランドとの間には、一対の信
号保持キャパシタ118,118′がそれぞれ接続され
ている。
スタ117,117′の各他方の主電極と一対の水平信
号線111,111′との間には、一対の水平選択MO
Sトランジスタ112,112′がそれぞれ接続されて
いる。一対の水平信号線111,111′には、差動ア
ンプ119の非反転(+)入力端および反転(−)入力
端がそれぞれ接続されている。
は、画素リセット前とリセット後のそれぞれの信号が、
信号スイッチMOSトランジスタ117,117′を介
して信号保持キャパシタ118,118′に保持され、
水平選択MOSトランジスタ112,112′および水
平信号線111,111′を介して差動アンプ119に
供給される。そして、差動アンプ119において、画素
リセット前とリセット後のそれぞれの信号の差分がとら
れることにより、単位画素ごとの特性のバラツキに起因
する固定パターンノイズが除去される。
素子では、単位画素ごとの特性のバラツキに起因する固
定パターンノイズについては抑圧することはできるもの
の、画素リセット前とリセット後のそれぞれの信号が別
々の信号経路を通って差動アンプ119に至ることか
ら、一対の信号スイッチMOSトランジスタ117,1
17′や一対の水平選択MOSトランジスタ112,1
12′の特性のバラツキが、垂直に相関を持つ縦筋状の
固定パターンノイズとして画面上に現れることになる。
したがって、この構成の場合にも、縦筋状の固定パター
ンノイズを抑圧するための補正回路がデバイスの外部に
必要となる。
であり、その目的とするところは、単位画素ごとの特性
のバラツキに起因する固定パターンノイズのみならず、
縦筋状の固定パターンノイズをもデバイス内部で抑圧可
能な増幅型固体撮像素子およびその駆動方法を提供する
ことにある。
子は、行列状に配置された単位画素が、光電変換素子
と、この光電変換素子から転送される信号電荷を蓄積す
る蓄積部を有し、当該蓄積部の信号電荷を電気信号に変
換する増幅素子と、この増幅素子からの画素信号を選択
的に垂直信号線に出力する選択スイッチとを具備し、単
位画素の各々において画素信号を出力するごとに各増幅
素子の蓄積部をリセットするリセット回路を備えた構成
となっている。
撮像素子において、単位画素の各々で画素信号を出力す
るごとに各増幅素子の蓄積部をリセットし、単位画素の
各々からリセット前の信号とリセット後の信号とを導出
しかつ共通の伝送路を経由して伝送し、しかる後リセッ
ト前の信号とリセット後の信号のそれぞれの差分をとる
ようにする。
において、画素信号を出力するごとに各増幅素子の蓄積
部をリセットすることで、各単位画素からはリセット前
とリセット後の信号が1画素ごとに順次出力される。こ
のとき、画素の特性のバラツキに起因する固定パターン
ノイズが、各画素の増幅素子からオフセット成分として
発生することから、リセット前とリセット後の信号の差
分をとることで、ノイズ成分をキャンセルできる。ま
た、リセット前とリセット後の信号を垂直信号線から水
平信号線へ同一の信号経路を経由して出力することで、
垂直に相関を持つ縦筋状のノイズ成分も原理的に発生し
ない。
て図面を参照しつつ詳細に説明する。
図である。図1において、単位画素16は、光電変換素
子であるフォトダイオード11、FD読み出しMOSト
ランジスタ12、増幅素子であるFDアンプMOSトラ
ンジスタ13、FDリセットMOSトランジスタ14お
よび選択素子である垂直選択MOSトランジスタ15に
よって構成され、行列状に2次元配置されている。な
お、図面上においては、簡略化のため、n行‐m列目の
単位画素16のみを示している。
MOSトランジスタ12のゲート電極が垂直読み出し線
17に、FDリセットMOSトランジスタ14のゲート
電極が水平リセット線18に、垂直選択MOSトランジ
スタ15のゲート電極が垂直選択線19に、垂直選択M
OSトランジスタ15のソース電極が垂直信号線20に
それぞれ接続されている。また、垂直信号線20の一端
と水平信号線21との間には、水平選択MOSトランジ
スタ22が接続されている。
よび列選択のための水平走査回路24が設けられてい
る。そして、垂直走査回路23から出力される垂直読み
出し走査パルスφVTn が垂直読み出し線17に、垂直
選択走査パルスφVSn が垂直選択線19にそれぞれ印
加される。水平走査回路24から出力される水平リセッ
トパルスφHRm が水平リセット線18に、水平選択走
査パルスφHSm が水平選択MOSトランジスタ22の
ゲート電極にそれぞれ印加される。すなわち、水平走査
回路24が、水平リセットパルスφHRm を発生するリ
セット回路を兼ねることにより、回路構成の簡略化を図
っている。
ット前とリセット後のそれぞれの信号の差分をとる差分
回路として、例えば回路構成が簡単な相関二重サンプリ
ング回路(以下、CDS(Correlated Double Sampling)
回路と称する)25が設けられている。このCDS回路
25の具体的な回路構成およびその回路動作について
は、後で詳細に説明する。CDS回路25の出力端は、
本撮像素子の出力端子26に接続されている。
型固体撮像素子の動作について、図2のタイミングチャ
ートを用いて説明する。
11に蓄積された信号電荷(電子)は、垂直走査回路2
3から垂直読み出し走査パルスφVTn (φVT1 ,
…,φVTn ,φVTn+1 ,…,φVTN )が出力さ
れ、各画素行ごとにFD読み出しMOSトランジスタ1
2が順に導通することにより、FD(MOSトランジス
タ12のドレイン電極=フォトダイオード11と反対側
の主電極)に転送される。フォトダイオード11からF
Dへの信号電荷の転送は水平ブランキング(H‐BL
K)期間中に行われる。
の電位が変化する。このFDの信号電圧は、FDにゲー
ト電極が接続されたFDアンプMOSトランジスタ13
によって信号電流に変換される。そして、水平映像期間
に入ると、垂直走査回路23から垂直選択走査パルスφ
VSn (φVS1 ,…,φVSn ,φVSn+1 ,…,φ
VSN )が出力され、垂直選択MOSトランジスタ15
が導通状態になることにより、信号電流が垂直信号線2
0に現れる。
から水平選択走査パルスφHSm (φHS1 ,…,φH
Sm ,φHSm+1 ,…,φHSM )が出力され、水平選
択MOSトランジスタ22が導通状態になることによ
り、垂直信号線20に現れた信号電流は、水平選択MO
Sトランジスタ22を通して水平信号線21に流れ、こ
の水平信号線21を経てCDS回路25に供給される。
一画素に対して、水平走査回路24から水平リセットパ
ルスφHRm (φHR1 ,…,φHRm ,φHRm+1 ,
…,φHRM )が出力され、FDリセットMOSトラン
ジスタ14が導通状態になることにより、FDがリセッ
トされる。この水平リセットパルスφHRm は、図2の
タイミングチャートから明らかなように、水平選択走査
パルスφHSm の発生期間のほぼ中間で発生される。
の消滅後、即ちリセット後のFDの信号電荷がFDアン
プMOSトランジスタ13によって信号電流に変換さ
れ、その信号電流が垂直選択MOSトランジスタ15か
ら垂直信号線20および水平選択MOSトランジスタ2
2を通して水平信号線21に流れ、この水平信号線21
を経てCDS回路25に供給される。
出力→FDリセット→信号出力という一連の動作を、水
平走査回路24から水平リセットパルスφHRm および
水平選択走査パルスφHSm を出力することにより、同
一画素行について順次行う。また、垂直走査回路23か
ら垂直読み出し走査パルスφVTn および垂直選択走査
パルスφVSn を出力し、選択する画素行を変えて同じ
動作を行うことで、1画面分の信号電流が画素単位で出
力される。
平選択走査パルスφHSm が立ち上がってm列目の画素
が選択されている状態で、FDのリセット前とリセット
後の画素の信号電流が水平信号線21に出力されること
になる。すなわち、信号電荷が蓄積された状態の画素の
信号電流と、信号電荷がリセットされた状態の画素の信
号電流とが続けて出力されてCDS回路25に供給され
る。そして、このCDS回路25において、リセット前
とリセット後の画素信号を使って相関二重サンプリング
を行うことにより、主にFDアンプMOSトランジスタ
13の特性のバラツキ成分を除去することができる。
成の一例を示す。このCDS回路25は、入力端子31
に入力端が接続された電流電圧変換回路32と、この電
流電圧変換回路32の出力端に一端が接続されたクラン
プキャパシタ33と、このクランプキャパシタ33の他
端に一方の主電極が接続されたクランプMOSトランジ
スタ34と、クランプキャパシタ33の他端に一方の主
電極が接続されたサンプルホールドMOSトランジスタ
35と、このサンプルホールドMOSトランジスタ35
の他方の主電極とグランドとの間に接続されたサンプル
ホールドキャパシタ36と、サンプルホールドMOSト
ランジスタ35の他方の主電極と出力端子38との間に
接続されたバッファアンプ37とから構成されている。
換回路32は、入力端子31を介して供給される信号電
流を反転(−)入力とし、所定のバイアス電圧Vbを非
反転(+)入力とする差動アンプ39と、この差動アン
プ39の反転入力端と出力端間に接続された帰還抵抗4
0とからなり、信号電流を信号電圧に変換する。クラン
プMOSトランジスタ34の他方の主電極にはクランプ
電圧Vclが、そのゲート電極にはクランプパルスφC
Lがそれぞれ印加される。また、サンプルホールドMO
Sトランジスタ35のゲート電極には、サンプルホール
ドパルスφSHが印加される。
作について、図4のタイミングチャートを用いて説明す
る。
と、画素がリセットされる前の信号電流Isigが入力
端子31に入力され、電流電圧変換回路32によって逆
の極性で信号電圧Vsigに変換される。この画素リセ
ット前の信号電圧Vsigが出力されている期間に合わ
せてクランプパルスφCLが立つ。すると、クランプM
OSトランジスタ34が導通状態となり、クランプキャ
パシタ33をクランプ電圧Vclにクランプする。
ち上がることで、画素がリセットされる。そして、この
画素リセット後の信号電圧Vsigに合わせてサンプル
ホールドパルスφSHが立ち、サンプルホールドMOS
トランジスタ35が導通状態となることで、サンプルホ
ールドキャパシタ36にサンプルホールドされ、相関二
重サンプリングが行われる。このように、リセット前と
リセット後の画素信号を使って相関二重サンプリングを
行うことにより、主にFDアンプMOSトランジスタ1
3の特性のバラツキ成分を除去することができる。
ットを、1画素の信号が出力されるごとに行うようにす
るとともに、リセット前とリセット後の画素信号を使っ
て相関二重サンプリングを行うようにしたことにより、
画素の特性のバラツキに起因する固定パターンノイズお
よび垂直信号線20に接続されたスイッチ素子(水平選
択MOSトランジスタ22)の特性のバラツキに起因す
る縦筋状の固定パターンノイズを抑圧できる。
る固定パターンノイズについては、画素16のFDアン
プMOSトランジスタ13からオフセット成分として発
生するが、原理的に、画素リセット前とリセット後の信
号を相関二重サンプリングすることによって除去でき
る。また、垂直信号線20に接続されたスイッチ素子の
特性のバラツキに起因する縦筋状の固定パターンノイズ
については、画素リセット前とリセット後の信号が同一
の信号経路を通る構成となっており、別々のスイッチ素
子(水平選択MOSトランジスタなど)を通ることがな
いため、これも原理的に発生することがない。
図である。図5において、単位画素58は、光電変換素
子であるフォトダイオード51、読み出しゲート部5
2、N + 層からなるFD53、FDアンプMOSトラン
ジスタ54、FDリセットゲート部55、垂直選択MO
Sトランジスタ56および読み出し制御MOSトランジ
スタ57から構成され、行列状に2次元配置されてい
る。なお、図面上においては、簡略化のため、n行‐m
列目の単位画素58のみを示している。
ード51は、基板表面側がP+ 層によって覆われた埋め
込み型となっている。読み出しゲート部52は、フォト
ダイオード51とFD53の間のチャネルの上方に位置
し、フォトダイオード51で光電変換された信号電荷を
FD53に読み出す動作を行う。FD53は、フォトダ
イオード51から読み出された信号電荷を信号電圧に変
換する。FDアンプMOSトランジスタ54は、FD5
3で変換された信号電圧を信号電流に変換して出力す
る。
ト電極が1列前の水平読み出し線59m-1 に、垂直選択
MOSトランジスタ56のゲート電極が垂直選択線60
に、そのソース電極が垂直信号線61にそれぞれ接続さ
れ、読み出し制御MOSトランジスタ57のゲート電極
が垂直読み出し線62に、そのドレイン電極が水平読み
出し線59m にそれぞれ接続されている。また、垂直信
号線61の一端と水平信号線63との間には、水平選択
MOSトランジスタ64が接続されている。
よび列選択のための水平走査回路66が設けられてい
る。そして、垂直走査回路65から出力される垂直読み
出し走査パルスφVTn が垂直読み出し線62に、垂直
選択走査パルスφVSn が垂直選択線60にそれぞれ印
加され、水平走査回路66から出力される水平読み出し
走査パルスφHRm が水平読み出し線59m に、水平選
択走査パルスφHSm が水平選択MOSトランジスタ6
4のゲート電極にそれぞれ印加される。
兼ねており、この水平走査回路66から出力される水平
読み出し走査パルスφHRm は、水平読み出し線59m
に与えられるとともに、次の列の水平読み出し線59
m+1 にリセットパルスとして与えられる。このとき、水
平読み出し線59m+1 は、水平リセット線として機能す
ることになる。
構造の一例としては、図の上下方向に延在する垂直信号
線61と水平読み出し線59を第1層目の配線、図の左
右方向に延在する垂直選択線60と垂直読み出し線62
を第2層目の配線、画素58および画素間の遮光層を兼
ねる電源線を第3層目の配線によってそれぞれ形成する
3層配線構造とする。他の例としては、図の左右方向に
延在する垂直選択線60と垂直読み出し線62を第1層
目の配線、図の上下方向に延在する垂直信号線61と水
平読み出し線59を第2層目の配線、画素58および画
素間の遮光層を兼ねる電源線を第3層目の配線によって
それぞれ形成する3層配線構造とする。
ット後とリセット前のそれぞれの信号の差分をとる差分
回路として、例えば回路構成が簡単なCDS回路67が
設けられている。このCDS回路67としては、例え
ば、先の実施形態で用いた図3に示す回路構成のものが
用いられる。CDS回路67の出力端は、本撮像素子の
出力端子68に接続されている。
型固体撮像素子の動作について、図6のタイミングチャ
ートを用いて説明する。
ダイオード51で光電変換され、そこに信号電荷として
蓄積される。ここで、フォトダイオード51からFD5
3に信号電荷を読み出す前に(1画素前の信号が出力さ
れている間に)、水平走査回路66から1列前の水平読
み出し走査パルスφHRm-1 が出力され、水平読み出し
線59m-1 を介してFDリセットゲート部55のゲート
電極に印加されることで、FD53が前もってVDDレ
ベルにリセットされる。
目の水平選択走査パルスφHSm が出力されることで、
n行‐m列目の画素の信号出力期間となる。このとき、
垂直選択走査パルスφVSn が“H”レベルの状態にあ
り、垂直選択MOSトランジスタ56がオン状態にある
ことから、この信号出力期間中の前半では、FD53が
リセットされた状態の信号がFDアンプMOSトランジ
スタ54および垂直選択MOSトランジスタ56を介し
て垂直信号線61に出力される。
平走査回路66から水平読み出し走査パルスφHRm が
出力され、水平読み出し線59m を介して読み出し制御
MOSトランジスタ57のドレイン電極に印加されるこ
とで、そのゲート電極には垂直読み出し走査パルスφV
Tn が印加されていることから、当該MOSトランジス
タ57がオン状態となり、フォトダイオード51からF
D53へ信号電荷が読み出され、さらにFDアンプMO
Sトランジスタ54および垂直選択MOSトランジスタ
56を介して垂直信号線61に出力される。
列目の画素の信号出力期間中に、FD53は画素の信号
電荷を読み出す前と後の2つの電位状態をとることにな
る。そして、それらの電位状態をFDアンプMOSトラ
ンジスタ54により増幅して得られる信号電流が、垂直
信号線61から水平選択MOSトランジスタ64および
水平信号線63を介してCDS回路67へ、画素の信号
電荷を読み出す前と後の2つの電位状態に相当するノイ
ズ成分と信号成分として順次供給される。
において、垂直走査回路65から出力される垂直読み出
し走査パルスφVTn および垂直選択走査パルスφVS
n がそれぞれ立ち上がることによってn行目の画素行が
選択される。この1H期間における水平ブランキング期
間を除く水平映像期間では、n行目の画素行を水平に走
査するために、水平走査回路66から出力される水平選
択走査パルスφHSmおよび水平読み出し走査パルスφ
HRm がそれぞれ立ち上がることによって信号電流が順
次出力される。
半がFDリセット直後の信号(ノイズ成分)レベルで、
その後半が画素信号電荷をFD53に読み出した信号
(信号成分)レベルになる。このような動作を実現する
ために、水平選択走査パルスφHSm および水平読み出
し走査パルスφHRm は違うタイミングで出力されるよ
うになっている。すなわち、水平選択走査パルスφHS
m については1画素の期間全体で“H”レベルになり、
水平読み出し走査パルスφHRm については1画素の期
間の後半、即ち信号成分が出力される期間にのみ“H”
レベルになるタイミング関係となっている。
している画素のFD53は予めその一つ前の画素から信
号成分が出力されている期間(水平読み出し走査パルス
φHRm-1 が“H”レベルの期間)においてリセットさ
れ、その画素の信号出力期間に入ると先ず、FD53が
リセットされた状態の信号、即ちノイズ成分が出力され
る。
み出し走査パルスφVRn がゲート電極に印加されるこ
とによってオン状態にある読み出し制御MOSトランジ
スタ57を通して、水平読み出し走査パルスφHRm が
読み出しゲート部52のゲート電極に与えられることに
より、埋め込みフォトダイオード51からFD53に信
号電荷が読み出され、この信号電荷の読み出しによって
変動するFD53の電位がFDアンプMOSトランジス
タ54で信号電流に変換され、画素の信号、即ち信号成
分として出力される。
例として、図3に示す回路構成のCDS回路67を通す
ことにより、各画素のFDアンプMOSトランジスタ5
4の持つバラツキ、特にVthバラツキに起因する固定
パターンノイズを抑圧した映像信号を得ることができ
る。
67における回路動作について、図7のタイミングチャ
ートを用いて説明する。
ル状態にあるその期間の前半に、ノイズ成分の信号電流
Isigが入力端子31に入力され、電流電圧変換回路
32によって極性の反転した信号電圧Vsigに変換さ
れる。このノイズ成分の信号電圧Vsigが出力されて
いる期間に合わせてクランプパルスφCLが立つ。する
と、クランプMOSトランジスタ34が導通状態とな
り、クランプキャパシタ33とサンプルホールドMOS
トランジスタ35の接続点の電位をクランプ電圧Vcl
に初期化する。
“H”レベル状態にあるその期間の後半、即ち水平読み
出し走査パルスφHRm が“H”レベル状態にある期間
に、信号成分の信号電流Isigが入力端子31に入力
されると、電流電圧変換回路32からそれに相当する信
号電圧Vsigがクランプキャパシタ33の入力端側に
与えられる。これにより、クランプキャパシタ33の出
力端側の電位が、そのノイズ成分と信号成分の差分に相
当する電圧だけクランプ電圧Vclを基準に変化する。
立ち上がり、これに応答してサンプルホールドMOSト
ランジスタ35が導通状態になることで、クランプ電圧
Vclを基準に変化する電圧がサンプルホールドキャパ
シタ36に保持される。これにより、画素58のFDア
ンプMOSトランジスタ54の持つ特性のバラツキ成
分、主にVthバラツキを除去することができる。
は、フォトダイオード51として、埋め込みフォトダイ
オードを用いたことにより、暗電流による固定パターン
ノイズを効果的に抑えることができる。すなわち、半導
体表面の準位から熱励起によって暗電流の支配的な発生
要因となる電子が発生するが、フォトダイオード51の
表面のP+ 層に存在する自由な電荷は正孔だけで、電子
は枯渇状態にあるため、表面準位は正孔で満たされ、表
面準位からの電子の発生が著しく減少する。したがっ
て、暗電流むらや暗電流によるショットノイズを大幅に
軽減できる。
への信号電荷の読み出しを画素信号期間に行い、信号電
荷の読み出し前後の信号(ノイズ成分と信号成分)を順
次出力し、その出力信号を相関二重サンプリングするこ
とにより、各画素のFDアンプMOSトランジスタ54
のVthバラツキによる固定パターンノイズを抑圧でき
る。しかも、信号電荷の読み出し前後の信号が同一の信
号経路を通る構成となっており、別々のスイッチ素子
(水平選択MOSトランジスタ)を通ることがないた
め、垂直信号線61に接続されたスイッチ素子の特性の
バラツキに起因する縦筋状の固定パターンノイズについ
ても抑圧できる。
ミング例について説明する。図8は他の駆動タイミング
例を示すタイミングチャートであり、図9はその駆動タ
イミング例におけるCDS回路67の回路動作に係るタ
イミングチャートである。この駆動タイミング例では、
水平読み出し走査パルスφHRm が“L”レベルに遷移
した後に信号成分を読み出すようにした点を特徴として
いる。
読み出し走査パルスφHRm-1 が出力され、水平読み出
し線59m-1 を介してFDリセットゲート部55のゲー
ト電極に印加されることで、FD53がVDDレベルに
リセットされる。そのすぐ後に、水平走査回路66から
m列目の水平選択走査パルスφHSm が出力されること
で、n行‐m列目の画素の信号出力期間となる。このと
き、リセットされたFD53のレベルに応じてFDアン
プMOSトランジスタ54で増幅されたノイズ成分が、
垂直選択MOSトランジスタ56を介して垂直信号線6
1へ、さらに水平選択MOSトランジスタ64を通して
水平信号線63へ出力される。
路66から水平読み出し走査パルスφHRm が出力さ
れ、水平読み出し線59m を介して読み出し制御MOS
トランジスタ57のドレイン電極に印加されることで、
当該MOSトランジスタ57がオン状態となる。そし
て、この読み出し制御MOSトランジスタ57を通して
水平読み出し走査パルスφHRm が印加されることで、
読み出しゲート部52がオン状態となるため、フォトダ
イオード51に蓄積されていた信号電荷が読み出しゲー
ト部52によってFD53へ読み出される。
が消滅(“L”レベルへ遷移)し、読み出し制御MOS
トランジスタ57を通して読み出しゲート部52がオフ
状態となった後、FD53へ読み出された信号電荷に応
じてFDアンプMOSトランジスタ54で増幅された信
号成分が、垂直選択MOSトランジスタ56を介して垂
直信号線61へ、さらに水平選択MOSトランジスタ6
4を通して水平信号線63へ出力される。
す前と後の2つの電位状態に相当するノイズ成分と信号
成分が水平信号線63へ出力され、さらにCDS回路6
7へ順次供給されて相関二重サンプリングが行われるこ
とで、各画素のFDアンプMOSトランジスタ54の持
つバラツキ、特にVthバラツキに起因する固定パター
ンノイズが抑圧される。
分の読み出し時と信号成分の読み出し時で読み出しゲー
ト部52に印加されている電位が共に“L”レベル、即
ち同電位になるように、水平読み出し走査パルスφHR
m が“L”レベルに遷移してから信号成分を読み出すよ
うな駆動タイミングとしているので、読み出しゲート部
52を構成するMOSトランジスタに起因する固定パタ
ーンノイズをも確実に抑圧できる。
は、垂直選択走査パルスφVSn および垂直読み出し走
査パルスφVTn のタイミングに工夫を凝らすことによ
って電子シャッタ動作も実現できる。図10は、電子シ
ャッタ動作を行うときの垂直選択走査パルスφVSn お
よび垂直読み出し走査パルスφVTn のタイミングチャ
ートである。
出し走査パルスφVTn のタイミングが通常動作のとき
と違う。すなわち、n行目の画素行が読み出されるタイ
ミングの前に、シャッタスピードに相当する時間だけ前
もって、垂直選択走査パルスφVSn はそのままに、垂
直読み出し走査パルスφVTn だけ立たせ、フォトダイ
オード51からFD53への信号電荷の読み出しのみを
行う。
いるとしたら、n行目の画素のFDアンプMOSトラン
ジスタ54によって増幅された信号電流は、垂直選択走
査パルスφVSn が立たないので、n行目の画素信号が
k行の画素信号に混ざって出力されることはない。その
結果、フォトダイオード51に蓄積された信号電荷はこ
の時点で読み出され(リセットされ)、ここから信号電
荷の蓄積が再度開始され、n行目の画素行が読み出され
るときになって、シャッタスピードの時間分だけ蓄積し
た信号電荷に対応した信号電流が出力される。
トダイオード51をリセットするために予めFD53に
読み出された不要な信号電荷は、水平読み出し走査パル
スφHRm によってFD53が水平走査ごとにリセット
され、電源VDDに接続されたリセットドレイン(N+
層)に吸収される。
ダイオード51に過剰な光が入射して光電変換した信号
電荷(電子)が隣接する画素などに漏れ混むなどのブル
ーミングという現象を抑止するオーバーフロー(アンチ
ブルーミング)動作を行える様子を示した図である。同
図では、フォトダイオード51からFDリセットゲート
部55にかけてのポテンシャルダイアグラムを、蓄積状
態(A)、読み出し状態(B)、FDリセット状態
(C)、オーバーフロー状態(D)の4状態について示
している。
出しゲート部52のポテンシャルφROGが、0V(フ
ォトダイオード51の素子分離領域の電位)よりも高く
設定されていることにより、強い入射光によって過剰に
発生した信号電荷が、FD読み出しゲート部52を通し
てFD53にオーバーフローする(オーバーフロー動
作)。このときに、オーバーフローした信号電荷は、水
平走査ごとおよび画素信号がFD53に読み出される直
前に行われるFDリセット動作によりリセットされ、映
像信号に悪影響を与えないようにすることができる。
53までも溢れてしまうような強い光が入射するような
場合は、蓄積状態(A)におけるFDリセットゲート部
55のポテンシャルφRGを、蓄積状態(A)における
FD読み出しゲート部52のポテンシャルφROGより
も高く設定しておくことにより、FD53で溢れた信号
電荷がフォトダイオード51に逆流することなく、FD
リセットゲート部55を通してリセットドレインに吸収
され、映像信号に悪影響を与えないようにすることがで
きる。
査パルスφVSn および垂直読み出し走査パルスφVT
n の2系統に分け、そのタイミング関係を適当に設定す
ることにより、電子シャッタ動作を行うことも可能とな
る。しかも、読み出しゲート部52に対して読み出し動
作の他に、画素信号のオーバーフロー動作をも持たせる
構造としたことで、画素サイズを小さくすることができ
る。
素を構成する増幅素子として、FDアンプ(フローティ
ング・ディフュージョン・アンプ)を用いた構成の増幅
型固体撮像素子に適用した場合について説明したが、本
発明は、これに限定されるものではなく、例えばFGア
ンプ(フローティング・ゲート・アンプ)を増幅素子と
して用いた構成の増幅型固体撮像素子にも同様に適用可
能である。
増幅機能を持つ単位画素が行列状に配置されてなる固体
撮像素子において、単位画素の各々で画素信号を出力す
るごとに各増幅素子の蓄積部をリセットするようにした
ことにより、各単位画素からはリセット前とリセット後
の信号が1画素ごとに順次出力されるので、リセット前
とリセット後の信号の差分をとることによって固定パタ
ーンノイズを抑圧でき、しかもリセット前とリセット後
の信号を垂直信号線から水平信号線へ同一の信号経路を
経由して出力することができるため、縦筋状の固定パタ
ーンノイズの発生も抑えることができる。
ャートである。
ためのタイミングチャートである。
ャートである。
ためのタイミングチャートである。
すタイミングチャートである。
けるCDS回路の動作説明のためのタイミングチャート
である。
ミングチャートである。
ャル図である。
ランジスタ、13,54…FDアンプMOSトランジス
タ、14…FDリセットMOSトランジスタ、15,5
6…垂直選択MOSトランジスタ、16,58…単位画
素、17,62…垂直読み出し線、18…水平リセット
線、19,60…垂直選択線、20,61…垂直信号
線、21,63…水平信号線、22,64…水平選択M
OSトランジスタ、23,65…垂直走査回路、24,
66…水平走査回路、25,67…CDS(相関二重サ
ンプリング)回路、51…埋め込みフォトダイオード、
52…読み出しゲート部、53…FD(フローティング
ディフュージョン)、55…FDリセットゲート部、5
9…水平読み出し線(水平リセット線)
Claims (14)
- 【請求項1】 行列状に配置された単位画素が、光電変
換素子と、前記光電変換素子から転送される信号電荷を
蓄積する蓄積部を有し、当該蓄積部の信号電荷を電気信
号に変換する増幅素子と、前記増幅素子からの画素信号
を選択的に垂直信号線に出力する選択スイッチとを具備
してなる固体撮像素子であって、 単位画素の各々において画素信号を出力するごとに各増
幅素子の蓄積部をリセットするリセット回路を備えたこ
とを特徴とする固体撮像素子。 - 【請求項2】 前記リセット回路は、単位画素の各々を
列選択するための水平走査回路であることを特徴とする
請求項1記載の固体撮像素子。 - 【請求項3】 前記リセット回路は、画素信号を読み出
す直前にリセット動作を行うことを特徴とする請求項1
記載の固体撮像素子。 - 【請求項4】 前記垂直信号線と水平信号線との間に、
前記垂直信号線に導出された前記リセット回路によるリ
セット前の信号とリセット後の信号とを共通に出力する
水平選択スイッチを備えたことを特徴とする請求項1記
載の固体撮像素子。 - 【請求項5】 前記水平選択スイッチによって前記水平
信号線に出力されたリセット前の信号とリセット後の信
号のそれぞれの差分をとる差分回路を備えたことを特徴
とする請求項4記載の固体撮像素子。 - 【請求項6】 前記差分回路は、相関二重サンプリング
回路であることを特徴とする請求項5記載の固体撮像素
子。 - 【請求項7】 前記光電変換素子は、埋め込みフォトダ
イオードからなることを特徴とする請求項1記載の固体
撮像素子。 - 【請求項8】 単位画素の各々を行選択するための垂直
走査回路を有し、 前記垂直走査回路は、垂直選択走査パルスおよび垂直読
み出し走査パルスの2種類の垂直走査パルスを別々の信
号線を介して単位画素に与えるとともに、2種類の垂直
走査パルスのタイミング関係を任意に設定可能であるこ
とを特徴とする請求項1記載の固体撮像素子。 - 【請求項9】 前記水平走査回路は、前記光電変換素子
から前記蓄積部へ信号電荷を読み出すための読み出し走
査パルスを順次出力し、1列前の読み出しタイミングで
の読み出し走査パルスによって各単位画素の蓄積部のリ
セット動作を行うことを特徴とする請求項2記載の固体
撮像素子。 - 【請求項10】 前記光電変換素子から前記蓄積部へ信
号電荷を読み出す読み出しゲート部は、前記光電変換素
子の過剰信号電荷のオーバーフロー動作を兼ねることを
特徴とする請求項1記載の固体撮像素子。 - 【請求項11】 前記光電変換素子が電子を信号電荷と
して蓄積する場合において、 前記読み出しゲート部のポテンシャルが、前記光電変換
素子の素子分離領域のポテンシャルよりも高い電位に設
定されていることを特徴とする請求項10記載の固体撮
像素子。 - 【請求項12】 前記光電変換素子が電子を信号電荷と
して蓄積する場合において、 前記蓄積部をリセットするリセットゲート部のポテンシ
ャルが、前記読み出しゲート部のポテンシャルよりも高
い電位に設定されていることを特徴とする請求項10記
載の固体撮像素子。 - 【請求項13】 行列状に配置された単位画素が、光電
変換素子と、前記光電変換素子から転送される信号電荷
を蓄積する蓄積部を有し、当該蓄積部の信号電荷を電気
信号に変換する増幅素子と、前記増幅素子からの画素信
号を選択的に垂直信号線に出力する選択スイッチとを具
備してなる固体撮像素子において、 単位画素の各々において画素信号を出力するごとに各増
幅素子の蓄積部をリセットし、 単位画素の各々からリセット前の信号とリセット後の信
号とを導出しかつ共通の伝送路を経由して伝送し、 しかる後リセット前の信号とリセット後の信号のそれぞ
れの差分をとることを特徴とする固体撮像素子の駆動方
法。 - 【請求項14】 単位画素の各々において各増幅素子の
蓄積部のリセット動作を画素信号を読み出す直前に行う
ことを特徴とする請求項13記載の固体撮像素子の駆動
方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26120897A JP3911788B2 (ja) | 1997-03-10 | 1997-09-26 | 固体撮像素子およびその駆動方法 |
US09/037,975 US6801253B1 (en) | 1997-03-10 | 1998-03-09 | Solid-state image sensor and method of driving same |
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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JP26120897A JP3911788B2 (ja) | 1997-03-10 | 1997-09-26 | 固体撮像素子およびその駆動方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11122532A true JPH11122532A (ja) | 1999-04-30 |
JP3911788B2 JP3911788B2 (ja) | 2007-05-09 |
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Family Applications (1)
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Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6801253B1 (ja) |
JP (1) | JP3911788B2 (ja) |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001268443A (ja) * | 2000-03-02 | 2001-09-28 | Hynix Semiconductor Inc | Cmosイメージセンサーのアクティブピクセル回路 |
WO2007132699A1 (ja) * | 2006-05-15 | 2007-11-22 | Sony Corporation | 撮像装置およびその駆動方法、表示装置、並びに、電子機器 |
JP2008048457A (ja) * | 2007-10-19 | 2008-02-28 | Sony Corp | 固体撮像装置 |
US7358995B2 (en) | 2002-05-30 | 2008-04-15 | Sony Corporation | Captured-image-signal processing method and apparatus and imaging apparatus |
US7402450B2 (en) | 2004-02-04 | 2008-07-22 | Sony Corporation | Solid-state image pickup device |
JP2009284392A (ja) * | 2008-05-26 | 2009-12-03 | Canon Inc | 撮像装置 |
US7636118B2 (en) | 1997-08-15 | 2009-12-22 | Sony Corporation | Solid state image sensor with fixed pattern noise reduction |
US7638826B2 (en) | 2004-09-01 | 2009-12-29 | Canon Kabushiki Kaisha | Imaging device and imaging system |
JP2010187022A (ja) * | 2010-05-17 | 2010-08-26 | Sony Corp | 固体撮像装置 |
US7812873B2 (en) | 2004-09-01 | 2010-10-12 | Canon Kabushiki Kaisha | Image pickup device and image pickup system |
US8445944B2 (en) | 2004-02-04 | 2013-05-21 | Sony Corporation | Solid-state image pickup device |
US8471313B2 (en) | 2008-11-07 | 2013-06-25 | Sony Corporation | Solid-state imaging device, method for manufacturing solid-state imaging device, and electronic apparatus |
US8710422B2 (en) | 2010-08-16 | 2014-04-29 | Nikon Corporation | Imaging device |
Families Citing this family (46)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4200545B2 (ja) * | 1998-06-08 | 2008-12-24 | ソニー株式会社 | 固体撮像素子およびその駆動方法、並びにカメラシステム |
US6061551A (en) | 1998-10-21 | 2000-05-09 | Parkervision, Inc. | Method and system for down-converting electromagnetic signals |
US7515896B1 (en) | 1998-10-21 | 2009-04-07 | Parkervision, Inc. | Method and system for down-converting an electromagnetic signal, and transforms for same, and aperture relationships |
US6542722B1 (en) | 1998-10-21 | 2003-04-01 | Parkervision, Inc. | Method and system for frequency up-conversion with variety of transmitter configurations |
US7039372B1 (en) | 1998-10-21 | 2006-05-02 | Parkervision, Inc. | Method and system for frequency up-conversion with modulation embodiments |
US6560301B1 (en) | 1998-10-21 | 2003-05-06 | Parkervision, Inc. | Integrated frequency translation and selectivity with a variety of filter embodiments |
US7236754B2 (en) | 1999-08-23 | 2007-06-26 | Parkervision, Inc. | Method and system for frequency up-conversion |
US7295826B1 (en) | 1998-10-21 | 2007-11-13 | Parkervision, Inc. | Integrated frequency translation and selectivity with gain control functionality, and applications thereof |
US6370371B1 (en) | 1998-10-21 | 2002-04-09 | Parkervision, Inc. | Applications of universal frequency translation |
US6813485B2 (en) | 1998-10-21 | 2004-11-02 | Parkervision, Inc. | Method and system for down-converting and up-converting an electromagnetic signal, and transforms for same |
US7321735B1 (en) * | 1998-10-21 | 2008-01-22 | Parkervision, Inc. | Optical down-converter using universal frequency translation technology |
US6853690B1 (en) | 1999-04-16 | 2005-02-08 | Parkervision, Inc. | Method, system and apparatus for balanced frequency up-conversion of a baseband signal and 4-phase receiver and transceiver embodiments |
US6879817B1 (en) | 1999-04-16 | 2005-04-12 | Parkervision, Inc. | DC offset, re-radiation, and I/Q solutions using universal frequency translation technology |
US6873836B1 (en) | 1999-03-03 | 2005-03-29 | Parkervision, Inc. | Universal platform module and methods and apparatuses relating thereto enabled by universal frequency translation technology |
US7110435B1 (en) | 1999-03-15 | 2006-09-19 | Parkervision, Inc. | Spread spectrum applications of universal frequency translation |
US7110444B1 (en) | 1999-08-04 | 2006-09-19 | Parkervision, Inc. | Wireless local area network (WLAN) using universal frequency translation technology including multi-phase embodiments and circuit implementations |
US7065162B1 (en) | 1999-04-16 | 2006-06-20 | Parkervision, Inc. | Method and system for down-converting an electromagnetic signal, and transforms for same |
US7693230B2 (en) | 1999-04-16 | 2010-04-06 | Parkervision, Inc. | Apparatus and method of differential IQ frequency up-conversion |
JP2001069408A (ja) * | 1999-08-30 | 2001-03-16 | Sony Corp | 固体撮像素子およびその駆動方法ならびにカメラシステム |
US8295406B1 (en) | 1999-08-04 | 2012-10-23 | Parkervision, Inc. | Universal platform module for a plurality of communication protocols |
US7054296B1 (en) | 1999-08-04 | 2006-05-30 | Parkervision, Inc. | Wireless local area network (WLAN) technology and applications including techniques of universal frequency translation |
US7072390B1 (en) | 1999-08-04 | 2006-07-04 | Parkervision, Inc. | Wireless local area network (WLAN) using universal frequency translation technology including multi-phase embodiments |
US7082171B1 (en) | 1999-11-24 | 2006-07-25 | Parkervision, Inc. | Phase shifting applications of universal frequency translation |
US7292835B2 (en) | 2000-01-28 | 2007-11-06 | Parkervision, Inc. | Wireless and wired cable modem applications of universal frequency translation technology |
US7010286B2 (en) | 2000-04-14 | 2006-03-07 | Parkervision, Inc. | Apparatus, system, and method for down-converting and up-converting electromagnetic signals |
US7554508B2 (en) | 2000-06-09 | 2009-06-30 | Parker Vision, Inc. | Phased array antenna applications on universal frequency translation |
JP2002112117A (ja) * | 2000-09-27 | 2002-04-12 | Sakai Yasue | 固体撮像装置およびシステム、相関二重サンプリング回路 |
US7454453B2 (en) | 2000-11-14 | 2008-11-18 | Parkervision, Inc. | Methods, systems, and computer program products for parallel correlation and applications thereof |
US7010559B2 (en) | 2000-11-14 | 2006-03-07 | Parkervision, Inc. | Method and apparatus for a parallel correlator and applications thereof |
US7072427B2 (en) | 2001-11-09 | 2006-07-04 | Parkervision, Inc. | Method and apparatus for reducing DC offsets in a communication system |
US7085335B2 (en) * | 2001-11-09 | 2006-08-01 | Parkervision, Inc. | Method and apparatus for reducing DC offsets in a communication system |
JP4166466B2 (ja) * | 2001-12-19 | 2008-10-15 | ソニー株式会社 | 無線通信システム及び無線通信方法、無線通信装置及びその制御方法、並びにコンピュータ・プログラム |
JP3870088B2 (ja) * | 2001-12-26 | 2007-01-17 | キヤノン株式会社 | 固体撮像装置及びシステム |
US6975848B2 (en) | 2002-06-04 | 2005-12-13 | Parkervision, Inc. | Method and apparatus for DC offset removal in a radio frequency communication channel |
US7321640B2 (en) | 2002-06-07 | 2008-01-22 | Parkervision, Inc. | Active polyphase inverter filter for quadrature signal generation |
US7460584B2 (en) | 2002-07-18 | 2008-12-02 | Parkervision, Inc. | Networking methods and systems |
US7379883B2 (en) | 2002-07-18 | 2008-05-27 | Parkervision, Inc. | Networking methods and systems |
WO2004079825A1 (ja) * | 2003-03-06 | 2004-09-16 | Sony Corporation | 固体撮像素子及びその製造方法、並びに固体撮像素子の駆動方法 |
DE602004021985D1 (de) * | 2003-03-25 | 2009-08-27 | Panasonic Corp | Bildaufnahmevorrichtung, die Detailverlust schattiger Bereiche vermeidet |
KR100959775B1 (ko) * | 2003-09-25 | 2010-05-27 | 삼성전자주식회사 | 스캔 드라이버와, 이를 갖는 평판표시장치 및 이의 구동방법 |
JP2006033631A (ja) * | 2004-07-20 | 2006-02-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 固体撮像装置及びサンプリング回路 |
KR100734288B1 (ko) * | 2005-11-17 | 2007-07-02 | 삼성전자주식회사 | Cis회로 및 cis회로의 초기전하 공급방법 |
TWI477865B (zh) * | 2009-12-28 | 2015-03-21 | Au Optronics Corp | 具有觸控功能之液晶顯示器及觸控面板 |
JP5935291B2 (ja) | 2011-11-01 | 2016-06-15 | ソニー株式会社 | 撮像装置および撮像表示システム |
JP5935293B2 (ja) * | 2011-11-02 | 2016-06-15 | ソニー株式会社 | 撮像装置および撮像表示システム |
JP7271131B2 (ja) * | 2018-10-24 | 2023-05-11 | キヤノン株式会社 | 撮像装置および撮像装置の制御方法 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4556910A (en) * | 1984-01-05 | 1985-12-03 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Image sensing device having on-chip fixed-pattern noise reducing circuit |
US4942474A (en) * | 1987-12-11 | 1990-07-17 | Hitachi, Ltd. | Solid-state imaging device having photo-electric conversion elements and other circuit elements arranged to provide improved photo-sensitivity |
JP3018546B2 (ja) * | 1991-03-18 | 2000-03-13 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置 |
US5471515A (en) * | 1994-01-28 | 1995-11-28 | California Institute Of Technology | Active pixel sensor with intra-pixel charge transfer |
JP3031606B2 (ja) * | 1995-08-02 | 2000-04-10 | キヤノン株式会社 | 固体撮像装置と画像撮像装置 |
JP3845449B2 (ja) * | 1995-08-11 | 2006-11-15 | 株式会社東芝 | Mos型固体撮像装置 |
JP4035194B2 (ja) * | 1996-03-13 | 2008-01-16 | キヤノン株式会社 | X線検出装置及びx線検出システム |
GB2317522B (en) * | 1996-09-12 | 2000-09-27 | Vsli Vision Limited | Low noise operation of an image sensor |
-
1997
- 1997-09-26 JP JP26120897A patent/JP3911788B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1998
- 1998-03-09 US US09/037,975 patent/US6801253B1/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (34)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7755690B2 (en) | 1997-08-15 | 2010-07-13 | Sony Corporation | Solid state image sensor with fixed pattern noise reduction |
US7636118B2 (en) | 1997-08-15 | 2009-12-22 | Sony Corporation | Solid state image sensor with fixed pattern noise reduction |
JP2001268443A (ja) * | 2000-03-02 | 2001-09-28 | Hynix Semiconductor Inc | Cmosイメージセンサーのアクティブピクセル回路 |
US7358995B2 (en) | 2002-05-30 | 2008-04-15 | Sony Corporation | Captured-image-signal processing method and apparatus and imaging apparatus |
US9799690B2 (en) | 2004-02-04 | 2017-10-24 | Sony Corporation | Solid-state image pickup device |
US9117720B2 (en) | 2004-02-04 | 2015-08-25 | Sony Corporation | Solid-state image pickup device |
US10026763B2 (en) | 2004-02-04 | 2018-07-17 | Sony Corporation | Solid-state image pickup device |
US10249659B2 (en) | 2004-02-04 | 2019-04-02 | Sony Corporation | Solid-state image pickup device |
US8785983B2 (en) | 2004-02-04 | 2014-07-22 | Sony Corporation | Solid-state image pickup device |
US10825849B2 (en) | 2004-02-04 | 2020-11-03 | Sony Corporation | Solid-state image pickup device |
US9508773B2 (en) | 2004-02-04 | 2016-11-29 | Sony Corporation | Solid-state image pickup device |
US7402450B2 (en) | 2004-02-04 | 2008-07-22 | Sony Corporation | Solid-state image pickup device |
US8088639B2 (en) | 2004-02-04 | 2012-01-03 | Sony Corporation | Solid-state image pickup device |
EP2432018A2 (en) | 2004-02-04 | 2012-03-21 | Sony Corporation | Method for operating a solid-state image pickup device |
EP2437299A1 (en) | 2004-02-04 | 2012-04-04 | Sony Corporation | Method for manufacturing a solid-state image pickup device |
EP2437300A1 (en) | 2004-02-04 | 2012-04-04 | Sony Corporation | Solid-state image pickup device |
US11476286B2 (en) | 2004-02-04 | 2022-10-18 | Sony Group Corporation | Solid-state image pickup device |
US8445944B2 (en) | 2004-02-04 | 2013-05-21 | Sony Corporation | Solid-state image pickup device |
US8416329B2 (en) | 2004-09-01 | 2013-04-09 | Canon Kabushiki Kaisha | Image pickup device and image pickup system |
US10685993B2 (en) | 2004-09-01 | 2020-06-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Imaging device and imaging system |
US8552481B2 (en) | 2004-09-01 | 2013-10-08 | Canon Kabushiki Kaisha | Imaging device and imaging system |
US11798961B2 (en) | 2004-09-01 | 2023-10-24 | Canon Kabushiki Kaisha | Imaging device and imaging system |
US7812873B2 (en) | 2004-09-01 | 2010-10-12 | Canon Kabushiki Kaisha | Image pickup device and image pickup system |
US9231022B2 (en) | 2004-09-01 | 2016-01-05 | Canon Kabushiki Kaisha | Imaging device and imaging system |
US9595559B2 (en) | 2004-09-01 | 2017-03-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Imaging device and imaging system |
US7638826B2 (en) | 2004-09-01 | 2009-12-29 | Canon Kabushiki Kaisha | Imaging device and imaging system |
US8471805B2 (en) | 2006-05-15 | 2013-06-25 | Japan Display West Inc. | Imaging device, driving method of the same, display device and electronic apparatus |
WO2007132699A1 (ja) * | 2006-05-15 | 2007-11-22 | Sony Corporation | 撮像装置およびその駆動方法、表示装置、並びに、電子機器 |
JP2007336521A (ja) * | 2006-05-15 | 2007-12-27 | Sony Corp | 撮像装置およびその駆動方法、表示装置、並びに、電子機器 |
JP2008048457A (ja) * | 2007-10-19 | 2008-02-28 | Sony Corp | 固体撮像装置 |
JP2009284392A (ja) * | 2008-05-26 | 2009-12-03 | Canon Inc | 撮像装置 |
US8471313B2 (en) | 2008-11-07 | 2013-06-25 | Sony Corporation | Solid-state imaging device, method for manufacturing solid-state imaging device, and electronic apparatus |
JP2010187022A (ja) * | 2010-05-17 | 2010-08-26 | Sony Corp | 固体撮像装置 |
US8710422B2 (en) | 2010-08-16 | 2014-04-29 | Nikon Corporation | Imaging device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3911788B2 (ja) | 2007-05-09 |
US6801253B1 (en) | 2004-10-05 |
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