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JPH11118702A - 洗浄制御機能付き試料分析装置 - Google Patents

洗浄制御機能付き試料分析装置

Info

Publication number
JPH11118702A
JPH11118702A JP28373597A JP28373597A JPH11118702A JP H11118702 A JPH11118702 A JP H11118702A JP 28373597 A JP28373597 A JP 28373597A JP 28373597 A JP28373597 A JP 28373597A JP H11118702 A JPH11118702 A JP H11118702A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
light
liquid
nebulosity
turbidity
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP28373597A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshiyuki Tsuru
良行 都留
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sysmex Corp
Original Assignee
Sysmex Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sysmex Corp filed Critical Sysmex Corp
Priority to JP28373597A priority Critical patent/JPH11118702A/ja
Publication of JPH11118702A publication Critical patent/JPH11118702A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 分析装置の試料流路を試料の比濁に応じて効
率よく洗浄すること。 【解決手段】 試料の比濁を計測する比濁計測部と、試
料中の粒子の形態や数などを分析する粒子分析部と、比
濁計測部および粒子分析部に流路を介して試料を供給す
る試料供給部と、試料が流れる流路を洗浄する洗浄部
と、試料の比濁に応じて洗浄部の作動を制御する制御部
を備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、洗浄制御機能付
き試料分析装置に関する。とくに、この発明は、生体試
料である尿や血しょう中に含有される有形成分を分析す
る分析装置において、分析試料の流路の洗浄の程度を分
析試料の濁りの程度に応じて変化させるようにした分析
装置を提供するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の分析装置においては、試料に所定
の処理を行ない、試料の流れに光を照射して試料中の粒
子から得られる前方または側方の蛍光および散乱光を測
光するようにした光学式装置や、電気抵抗式の粒子計数
器において試料が通過するオリフィスに針状の部材を挿
入して各種サイズの粒子を計数するようにした装置など
が知られている(例えば、特開平4−337459号公
報および欧州特許出願公開公報第242971A2号参
照)。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】大量の粒子を含む試料
を測定すると、分析装置の流路が汚染され次の測定に影
響を与えてしまう。特に生体試料では、試料に菌が繁殖
したり、結晶が析出したりすることがあり、この場合は
その量も大量となるため、その菌や結晶が測定対象と大
きさが同じ程度であれば、とくに測定結果に悪影響を与
える。
【0004】従って、この場合を想定して、測定後毎回
綿密な洗浄を流路に対して行うことは測定結果のために
は好ましい。しかし、それには洗浄に時間を要し、洗浄
液に要するコストもアップするという問題があった。こ
の発明はこのような事情を考慮してなされたもので、試
料の比濁を検出し、その比濁に応じて洗浄条件を制御し
て、次の測定に影響を及ぼすことのないようにした試料
分析装置を提供するものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】この発明は、試料の比濁
を計測する比濁計測部と、試料中の粒子の形態や数など
を分析する粒子分析部と、比濁計測部および粒子分析部
に流路を介して試料を供給する試料供給部と、試料が流
れる流路を洗浄する洗浄部と、試料の比濁に応じて洗浄
部の作動を制御する制御部を備えた洗浄制御機能付き試
料分析装置を提供するものである。
【0006】
【発明の実施の形態】この発明の試料分析装置における
被検粒子(有形成分)は、尿に含まれる赤血球、白血
球、円柱(cast)、粘液糸(mucous)および上皮細胞
や、血しょうに含まれるフィブリン塊、乳びのカイロミ
クロンのような粒子である。
【0007】この発明における試料とは、生体試料であ
る尿や血しょうを含む液体試料をいうが、これは、例え
ば混濁尿や混濁血しょうを含む。なお、混濁尿は、膿
尿、血尿、塩類尿、乳び尿、脂肪尿、細菌尿などを含む
ものであり、混濁血しょうは乳び血しょう、溶血血しょ
う、ビリルビン血しょうなどを含むものである。
【0008】この発明の比濁計測部には、透光性容器に
試料を収容し、その試料に光を照射して散乱光および透
過光強度を検出し、その検出結果から比濁を算出する手
段を用いることが好ましい。
【0009】これは、試料は、比濁が大きいと透過光強
度が小さくなり、かつ散乱光強度が大きくなるという原
理を用いたものであり、この発明では、透過光強度又は
散乱光強度のいずれか一方により比濁を算出してもよ
い。但し、この場合、透過光強度は試料の色により影響
を受けやすく、散乱光強度は試料中の粒子の影響を受け
やすいので、この発明では散乱光強度を用いることが好
ましい。
【0010】また、前述のように、透過光や散乱光強度
を検出するために、光源および受光素子が透光性容器の
近傍に設置されるとき、この透光性容器は、試料に測定
のための処理が行われる前の位置に設置され、例えば、
試料吸引時に試料を撹拌するために収容する撹拌用チャ
ンバーを兼用してもよい。
【0011】試料が流れる流路つまり、洗浄部により洗
浄される流路は、少なくとも試料供給部から粒子分析部
に至る流路をいうが、粒子分析部にフローセルに試料を
流して試料中の粒子を光学的又は電気的に分析する粒子
分析装置を用いる場合には、そのフローセルを含む流路
であり、また、試料供給部から比濁計測部に至る流路を
含んでもよい。
【0012】流路に試料を流す手段としては、試料を採
取して流路に送り込み排出させる手段、つまり、陽圧お
よび陰圧源、シリンジ、バルブ、ダイヤフラムポンプな
どから構成できる。
【0013】また、流路を洗浄する洗浄部とは、試料が
通過する流路に、試料に代わって洗浄液を供給・排出す
る手段であり、陽圧および陰圧源、バルブ、各種ポンプ
などから構成できるが、その一部を試料供給部の構成要
素と兼用してもよい。なお、洗浄液には、例えば、東亞
医用電子株式会社製のセルシースやユリノクリーンを用
いることができる。
【0014】この発明における制御部は、検出される比
濁に応じて洗浄部の作動を制御するが、これは、(1)
比濁が所定値を越えるときのみに洗浄部を作動させる、
(2)比濁の値に応じて洗浄部の作動時間を変化させ
る、(3)比濁の値に応じて洗浄液の種類を変える、と
いうような制御を少なくとも1つ行うということであ
る。洗浄は、流路に試料を供給する前に、前回の分析作
業における試料の比濁に応じて行ってもよいし、分析作
業終了後に行って次回の分析作業に備えるようにしても
よい。
【0015】なお、制御部は、比濁が異常に高い場合に
は、それを報知したり、供給部の試料供給動作を停止さ
せる、つまり次の分析動作を停止させる機能をさらに備
えてもよい。これによって、比濁の異常に高い試料によ
って生じる流路の過度の汚染やつまりを防止することが
できる。また、洗浄部の作動を制御する制御部は、粒子
分析部の制御部と一体に構成する、例えばパーソナルコ
ンピュータで一体的に構成することができる。
【0016】
【実施例】以下、図面に示す実施例に基づいてこの発明
を詳述する。なお、これによってこの発明が限定される
ものではない。図1は、実施例の流体系と光学系を示す
説明図であり、31〜34はバルブ、35は洗浄液容
器、36は試料撹拌用の透光性のチャンバー、37はセ
ル36に光を照射する発光ダイオード、38はコンデン
サーレンズである。
【0017】39aは発光ダイオード37の光路上に設
けられ発光ダイオード37の光をチャンバー36を介し
て受光するホトダイオード、39bは発光ダイオード3
7の光路に直交する光路上に設けられチャンバー36内
の試料の散乱光を受光するホトダイオード、40は分析
される試料液の容器、41は廃液容器、42は容器40
の試料液のチャンバー36への吸引・吐出をくり返して
試料液を撹拌するダイヤフラムポンプである。
【0018】3は試料液容器40から試料液を吸引する
吸引ノズル、36aはチャンバー36へ試料液を吸引・
吐出するノズル、43はチャンバー36を容器40と4
1の間に移動させるマニプレータである。なお、ノズル
3と36aとは、それぞれ0.7mmと1.99mmの
内径を有し、ノズル3はノズル36aに並列に接合さ
れ、一体化されている。
【0019】さらに、1および2はバルブ、4はシリン
ジ、4aはシリンジ4を駆動するモータ、5はフローセ
ル、6は試料ノズル、7aは第1セル、7bは第2セ
ル、8はバルブ、9はシース液容器、10はシース液を
第1セル7aの供給する供給口、11は第1セル7aと
第2セル7bを接続するオリフィス、12は第1セル7
a内に設けられたステンレス製の電極、13は第2セル
7b内に設けられた白金製の電極、14は第2セル7b
に設けられた排液口、15は電極12を陰極とし電極1
3を陽極として電極12と電極13との間に接続された
直流定電流電源、16は電源15の出力電圧を増幅し信
号29として出力する増幅器である。
【0020】また、17はレーザ光源、18はコンデン
サーレンズ、19はビームストッパ、20はコレクター
レンズ、21はピンホール、25はホトダイオード、2
6は試料ノズル6から出力される試料液流、30はピン
ホール21を有する遮光板である。
【0021】図2は、実施例の制御系を示すブロック図
であり、50はパーソナルコンピュータからなる分析制
御部、51は分析制御部50へ分析条件や設定条件を入
力する入力部(ここではキーボードおよびマウス)、5
2は設定値や分析結果を出力する出力部(ここではCR
T)である。分析制御部50は、入力部51から入力さ
れる条件に従って、バルブ1,2,8,31〜34、マ
ニプレータ43およびモータ4aを駆動し、ホトダイオ
ード25,39a、39b、増幅器16からの出力を受
けて分析処理を行い分析結果を出力部52に出力するよ
うになっている。
【0022】このような構成において実行される比濁検
出工程、分析工程および洗浄工程について、さらに詳細
に説明する。まず、比濁検出工程では、マニプレータ4
3がチャンバー36を移動させてノズル36aとノズル
3とを容器40の試料液に挿入する。
【0023】次に、バルブ32が開かれて試料液がダイ
ヤフラムポンプ42によりチャンバー36に吸入され、
続けてバルブ31が開かれてダイヤフラムポンプ42に
よりチャンバー36から試料液が容器40へ吐出され
る。
【0024】この動作が複数回くり返されて容器40内
の試料液が撹拌される。この動作中に試料液がチャンバ
ー36に存在するときにホトダイオード39a、39b
はそれぞれ発光ダイオード37の光で照射された試料液
の透過光と散乱光とを受光し、それぞれの強度に対応す
る信号を出力する。分析制御部50は、検出された透過
光強度と散乱光強度に基づいて比濁Aを算出し、設定値
C1、C2、(C2>C1)と比較して、その比較結果
を格納する。
【0025】このようにして比濁検出工程が終了する
と、試料液の分析工程が次に説明するように開始され
る。但し、上記比濁検出工程において検出された比濁A
がC2よりも大きい場合には、分析制御部50は、比濁
が過大のため試料が流路に何らかの支障を与えるものと
判断して、その旨を出力部52に出力し、次の分析工程
を開始しない。
【0026】A<C2の場合には、まず、バルブ1,2
が所定時間開かれ、陰圧により吸引ノズル3から試料液
がバルブ1,2の間に満たされる。必要に応じて、測定
のための試料処理(希釈、染色、化学反応等)がここで
行われる。次に、モータ4aが駆動され、シリンジ4が
一定流量でバルブ1,2間の試料液を試料ノズル6へ押
し出すことにより、試料ノズル6から試料ノズル6から
試料液が第1セル7aに吐出される。
【0027】それと同時に弁8を開けることにより第1
セル7aにシース液が供給される。これによって試料液
はシース液に包まれ、さらにオリフィス11によって細
く絞られてシースフローを形成する。
【0028】このようにシースフローを形成することに
よって試料液に予め含まれた粒子を一個づつオリフィス
11を介して一列に整列して流すことができる。オリフ
ィス11を通過した試料液とシース液は第2セル7bに
設けた排液口14から排出される。
【0029】電極12,13間の電気抵抗は、シース液
の導電率(電気伝導度)、オリフィス11の穴寸法(断
面積)と穴長さ、試料液の導電率、試料液の流れの径に
よって決まる。
【0030】直流定電流源15から電極12,13間に
定電流を流すことにより、電極12,13間の電気抵抗
と電流値により決まる直流電圧が発生する。また、オリ
フィス11を粒子が通過すると、オリフィス11の両端
の電気抵抗が変化するので、電気抵抗が粒子の通過中だ
け電極12,13間に発生する電圧がパルス状に変化
し、その変化分の最大値(パルスの波高値)はオリフィ
ス11を通過する粒子の大きさに比例する。この変化分
が増幅器16で増幅され抵抗信号29(パルス状のアナ
ログ信号)として出力される。
【0031】一方、オリフィス11を流れる試料液流2
6へレーザ17から発振したレーザ光がコンデンサーレ
ンズ18で楕円形に絞られて照射される。その楕円形の
サイズは、試料の流れの方向には被験粒子径と同程度、
例えば10μm前後であり、試料の流れ方向と直交する
方向には被験粒子径より十分大きく、例えば100〜4
00μm程度である。
【0032】試料液中の粒子に当たらずそのままフロー
セル5を透過したレーザ光はビームストッパ19で遮光
される。レーザ光をうけた粒子から発せられる前方散乱
光はコレクターレンズ20により集光され、遮光板30
のピンホール21を通過する。散乱光はホトダイオード
25で受光されて散乱光信号28(パルス状のアナログ
信号)として出力される。
【0033】そこで分析制御部50は、次のようにして
シリンジ4の駆動時間Tの間に得られる抵抗信号29お
よび散乱光信号28を処理して、試料中の有形成分など
の弁別を行う。
【0034】例えば、尿中に含まれる上皮細胞,粘液
糸,および円柱は、それぞれ、図3に示すような、形態
を有するので、各体積の長さに対する比、つまり、(体
積)/(長さ)が 上皮細胞>円柱>粘液糸 という関係を有する。
【0035】一方、増幅器16が出力する信号29は、
粒子が細孔を通過する時、山状のパルス波形となるが、
そのパルス高さ(抵抗波高値)は、周知のように粒子の
体積にほぼ比例する。
【0036】また、1つの粒子の散乱光信号28の発生
期間(散乱光パルス幅)はその粒子の流れ方向の長さ情
報を反映する。従って、細孔を順次通過する各粒子につ
いて、信号29の最大値と散乱光信号28の発生期間と
の相関関係を求めると、図4のようになり、分析制御部
50はこの相関関係に基づいて粒子の種類を弁別する。
そして、その弁別結果は出力部52に出力される。
【0037】このようにして分析工程が終了すると、次
に説明するように洗浄工程が実行される。まず、マニプ
レータ43は、チャンバー36を移動させノズル36a
とノズル3とを廃液容器41に挿入する。次にバルブ
2、33、34が時間Tだけ開放される。それによっ
て、容器35の洗浄液は、(1)バルブ33−ダイヤフ
ラムポンプ42−チャンバー36−廃液容器40、
(2)バルブ34−吸引ノズル3−廃液容器40、
(3)バルブ34−バルブ2−試料ノズル6−セル5−
排液口14、の各流路に供給され、それぞれを時間Tだ
け洗浄する。
【0038】そして、分析制御部50は、比濁検出工程
において検出した比濁AがC1より小さい場合にはT=
6秒とし、C1以上の場合にはT=10秒として、比濁
に対応して洗浄時間を制御する。このようにして、洗浄
工程を終了し、次の試料液の分析に備える。
【0039】
【発明の効果】この発明によれば、尿分析装置の試料流
路が試料の比濁に対応して効率よく洗浄され、分析精度
が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施例の流体系および光学系を示す
構成説明図である。
【図2】この発明の実施例の制御系を示すブロック図で
ある。
【図3】尿に含まれる上皮細胞,粘液糸および円柱の側
面図である。
【図4】実施例における散乱光パルス幅と抵抗波高値と
の関係を示すグラフである。
【符号の説明】
1 バルブ 2 バルブ 3 吸引ノズル 4 シリンジ 4a モータ 5 フローセル 6 試料ノズル 7a 第1セル 7b 第2セル 8 バルブ 9 シース液容器 10 供給口 11 オリフィス(細孔) 12 電極 13 電極 14 排液口 15 直流定電流電源 16 増幅器 17 レーザ光源 18 コンデンサーレンズ 19 ビームストッパ 20 コレクターレンズ 21 ピンホール 25 ホトダイオード 26 試料液流 30 遮光板 31 バルブ 32 バルブ 33 バルブ 34 バルブ 35 洗浄液容器 36 チャンバー 36a ノズル 37 発光ダイオード 39 ホトダイオード 40 試料液容器 41 廃液容器 42 ダイヤフラムポンプ 43 マニプレータ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 試料の比濁を計測する比濁計測部と、試
    料中の粒子の形態や数などを分析する粒子分析部と、比
    濁計測部および粒子分析部に流路を介して試料を供給す
    る試料供給部と、試料が流れる流路を洗浄する洗浄部
    と、試料の比濁に応じて洗浄部の作動を制御する制御部
    を備えた洗浄制御機能付き試料分析装置。
  2. 【請求項2】 制御部が、検出される比濁に応じて試料
    供給部の試料供給動作を停止させる機能をさらに備えた
    請求項1記載の洗浄制御機能付き試料分析装置。
JP28373597A 1997-10-16 1997-10-16 洗浄制御機能付き試料分析装置 Pending JPH11118702A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28373597A JPH11118702A (ja) 1997-10-16 1997-10-16 洗浄制御機能付き試料分析装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28373597A JPH11118702A (ja) 1997-10-16 1997-10-16 洗浄制御機能付き試料分析装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11118702A true JPH11118702A (ja) 1999-04-30

Family

ID=17669434

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP28373597A Pending JPH11118702A (ja) 1997-10-16 1997-10-16 洗浄制御機能付き試料分析装置

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JP (1) JPH11118702A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008256540A (ja) * 2007-04-05 2008-10-23 Tosoh Corp カイロマイクロンの分析方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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