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JPH1091665A - 論理回路シミュレータ連動型試験端子の生成方法 - Google Patents

論理回路シミュレータ連動型試験端子の生成方法

Info

Publication number
JPH1091665A
JPH1091665A JP8244511A JP24451196A JPH1091665A JP H1091665 A JPH1091665 A JP H1091665A JP 8244511 A JP8244511 A JP 8244511A JP 24451196 A JP24451196 A JP 24451196A JP H1091665 A JPH1091665 A JP H1091665A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test
data
input
component
test terminal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP8244511A
Other languages
English (en)
Inventor
Masashi Shigemori
正志 重森
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
Priority to JP8244511A priority Critical patent/JPH1091665A/ja
Publication of JPH1091665A publication Critical patent/JPH1091665A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

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  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 試験を行う必要のある配線に試験端子を設け
る処理の際に、試験端子の生成誤りを無くし、かつ試験
結果を論理シミュレータにフィードバックすることによ
り、別の配線との取り違え等の発生を防止し、試験工数
の削減を図ることができる論理回路シミュレータ連動型
試験端子の生成方法を提供する。 【解決手段】 プリント回路板の設計CADシステムに
おける論理回路シミュレータ連動型試験端子の生成方法
において、基板データ記憶部508に記憶されている基
板データを使用し、試験データ作成処理部509にて試
験を実施する。そこで、試験データ作成処理部509に
て、試験を実施した結果を論理シミュレータ実行部50
4へフィードバックし、試験結果を論理シミュレータと
比較する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プリント回路板の
設計CAD(Computer aided desi
gn)システムを利用して、プリント回路板上に生成す
る試験端子のデータを改良し、プリント回路板設計の論
理シミュレータと試験機のデータを有効活用することに
より、試験端子の生成誤りを防ぎ、試験の効率化を行う
論理回路シミュレータ連動型試験端子の生成方法に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】従来、このような分野の技術としては、
例えば、以下に示すようなものがあった。図8はプリン
ト回路板の設計CADシステムの構成を示すブロック
図、図9は従来の試験端子生成例を示す図である。
【0003】これらの図において、11はCAD装置
(本体部)であり、部品データ及びプリント回路板デー
タの設計作業を行う部品データ/プリント回路板データ
入出力装置12、回路設計作業を行う回路データ作成入
出力装置13、上記部品データ/プリント回路板データ
入出力装置12より入力された部品データ及びプリント
回路板データを記憶する記憶装置(B)14、上記回路
データ作成入出力装置13より入力された回路データと
記憶装置(B)14に記憶された部品データ及びプリン
ト回路板データにより、部品の搭載を決定する処理と、
各部品間を結ぶ配線パターンを決定する処理を行う中央
処理装置15、中央処理装置により処理されたデータを
記憶する記憶装置(A)16、記憶装置(B)14と記
憶装置(A)16と中央処理装置15とで構成されるコ
ンピュータ装置17、回路の論理シミュレータ18を有
している。
【0004】また、コンピュータ装置17と対話しなが
らプリント回路板設計作業を行う入出力装置21は、プ
リント回路板設計情報をキー入力するキーボード22、
プリント回路板設計情報を2次元で入力するマウス2
3、中央処理装置17で処理したデータを図面として表
示するグラフィックディスプレイ24を備えている。以
上のような構成からなるプリント回路板設計CADシス
テムにおいて、従来の試験端子の生成は以下のように行
っていた。
【0005】まず、回路データ作成作成入出力装置13
で回路データを作成し、回路の論理シミュレーションを
行う論理シミュレータ18にて論理シミュレーションを
実施し、プリント回路板として各機能の入出力となる配
線等必要と考えられる配線に関して対応した位置に試験
端子を発生させるよう、プリント回路板の回路設計者が
紙面にて記述し、プリント回路板の設計者がコンピュー
タ装置17と対話しながらプリント回路板の設計作業を
行う入出力装置21を使用し、その都度、図9に示すよ
うな試験端子を入力していた。
【0006】さらに、試験の際、試験端子1から出力さ
れる波形を観測し、図8の回路の論理シミュレーション
を行う論理シミュレータ18と照らし合せ、実動作が可
能かどうかの判断を行っていた。なお、図9において、
2,3は部品外形、4,5は部品端子を示している。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た従来のプリント回路板の設計CADシステムのデータ
の入力方法によれば、プリント回路板設計CADシステ
ムを使用し、試験端子を生成する処理を行うと、図10
に示すように、第2のIC8の5ピンに試験端子6が生
成され、第1のIC7の5ピンには試験端子が生成され
ない。なお、図10において、9,10は部品端子を示
している。
【0008】なお、第2のIC8の5ピンは、プリント
回路板の設計者が試験端子の生成を意図しない位置であ
り、第1のIC7の5ピンは、プリント回路板として各
機能の入出力となる配線等、試験が必要と考えられる配
線であるため、オペレータは常に図8に示す入出力装置
21により、試験端子の生成に常に気を付けていなけれ
ばならず、後の確認にて発見された場合には、試験端子
の再生成工数に多大な影響を及ぼしていた。
【0009】さらに、発見されない場合には、プリント
回路板の再設計による工数が著しく増大することにな
り、重大な影響を及ぼしていた。また、試験結果をプリ
ント回路板の設計者が、別の配線と取り違え等を起こし
てしまった場合等には、補正工数に多大な影響を及ぼし
ていた。本発明は、以上述べたように、プリント回路板
の設計CADシステムにおいて、試験を行う必要のある
配線に試験端子を設ける処理の際に、試験端子の生成誤
りを無くし、かつ試験結果を論理シミュレータにフィー
ドバックすることにより、別の配線との取り違え等の発
生を防止し、試験工数の削減を図ることができる論理回
路シミュレータ連動型試験端子の生成方法を提供するこ
とを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、プリント回路板の設計CADシステムに
おける論理回路シミュレータ連動型試験端子の生成方法
において、試験を行う必要のある配線に事前に準備され
た仮想部品化した試験端子を使用し、この試験端子の生
成処理を行わせ、試験結果を論理シミュレータにフィー
ドバックさせるようにしたものである。
【0011】上記のように構成したので、 (A)試験端子を仮想部品としてデータ化することによ
り、プリント回路板設計CADシステムで試験端子を生
成する処理を行った際に、回路データ作成入力装置にて
入力された試験端子を強制的に生成することが可能であ
り、オペレータによる入出力装置を用いた目視確認が不
要となることにより、プリント回路板の信頼性及びオペ
レータの作業性の向上を図ることができる。
【0012】(B)回路データ作成入力装置へ試験結果
をデータにてフィードバックすることにより、試験結果
と論理シミュレータとのデータの整合性を確認すること
が可能であり、実動作が可能かどうかの判断が容易に行
えるため、プリント回路板の試験信頼性及び試験の作業
性の向上を図ることができる。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図を
参照しながら詳細に説明する。図1は本発明の実施例を
示す仮想部品データとしての試験端子作成のブロック図
である。この図において、400は各種データを入力す
る入力装置であり、図形データを図面として表示するグ
ラフィックディスプレイ401、キー入力するキーボー
ド402、点及び線分データを入力するマウス403を
備えている。
【0014】また、404は部品の機能を表す回路素子
を入力する回路素子入力部、405は部品の外形寸法を
入力する部品外形入力部、406は部品ピン穴径及び穴
形状を入力する部品ピン穴径/穴形状入力部、407は
部品ピンの番号及びピン位置を入力する部品ピン番号/
ピン位置入力部である。更に、408は回路素子入力部
404で入力されたデータを処理する回路素子データ作
成処理部、409は部品外形入力部405と部品ピン穴
径/穴形状入力部406と部品ピン番号/ピン位置入力
部407で入力されたデータを処理する部品外形データ
作成処理部、410は回路素子データ作成処理部408
で処理されたデータを記憶する回路素子データ記憶部、
411は部品外形データ作成処理部409で処理された
データを記憶する部品外形データ記憶部である。
【0015】また、412は回路素子データ記憶部41
0と部品外形データ記憶部411に記憶したデータを基
に部品データを作成処理する部品データ作成処理部、4
13は部品データ作成処理部412で処理されたデータ
を記憶する部品データ記憶部であり、それぞれの入力部
404〜407は各種データを入力する入力装置400
によりそれぞれ入力される。
【0016】図2は本発明の実施例を示す試験端子を利
用したプリント回路板設計から試験までを示すブロック
図である。この図において、500は各種データを入力
する入力装置、501は図形データを図面として表示す
るグラフィクディスプレイ、502はキー入力するキー
ボード、503は点及び線分データを入力するマウスで
ある。
【0017】更に、504は論理的なシミュレーション
を行う論理シミュレータ実行部、505は回路データの
設計を行う回路データ入力部、506は回路データ入力
部505、プリント回路板設計の基板設計を行う基板デ
ータ入力部507で利用される部品データを記憶する部
品データ記憶部、508は基板データ入力部507で入
力されたデータを記憶する基板データ記憶部、509は
基板データ記憶部508にて記憶されたデータを基に試
験データの作成処理を行う試験データ作成処理部であ
り、回路データ入力部505、基板データ入力部507
は入力装置500によりそれぞれ入力される。
【0018】以上のような構成からなる本発明の実施例
について図3及び図4に示すフローチャートに基づいて
以下に説明する。また、図5〜図7は本発明の実施例に
よって処理される具体例の経過を示す図であり、本発明
の実施例の方法によって作成された結果を含めて説明す
る。まず、図5(a)に示す経過1は、図3に示す回路
素子を入力するステップS1、回路素子に端子名/ピン
番号を付与するステップS2に対応している。つまり、
ステップS1で回路素子70を、ステップS2で回路素
子の各々の端子に端子名71及びピン番号72を図1の
回路素子入力部404より入力する。
【0019】図5(b)に示す経過2は、図3に示す部
品ピンの位置を入力するステップS3、位置入力した部
品ピンに番号を付与するステップS4に対応している。
つまり、ステップS3で部品のピン位置73をマトリッ
クス形式により入力点を求め、ステップS4でピン位置
73にステップS2で入力したピン番号と対応するピン
番号を、図1に示す部品ピン番号/ピン位置入力部40
7より入力する。
【0020】図6に示す経過3、つまり、部品データと
しての試験端子の作成完了は、入力した部品ピンに部品
取り付け穴径、穴形状を入力するステップS5、部品外
形を入力するステップS6に対応している。つまり、ス
テップS5において、ステップS3で入力した部品ピン
の位置に試験端子として、図1に示す部品ピン穴径/穴
形状入力部406より入力し、ステップS6で部品外形
を、図1に示す部品外形入力部405で入力する。
【0021】そして、部品データ/プリント回路板デー
タ入出力装置を介して記憶装置に記憶される。図7
(a)に示す経過1は、図4に示す回路データを入力す
るステップS11に対応しており、このステップ11で
図2に示す部品データ記憶部506に記憶されている試
験端子を使用し、回路データを回路データ入力部505
より設計する。次に、論理シミュレーションを実施する
ステップS12により、図2に示す論理シミュレータ実
行部504にて論理シミュレーションを行い回路のチェ
ックを行う。
【0022】図7(b)に示す経過2は、図4に示すプ
リント回路板基板設計データを入力するステップS13
に対応しており、図2の部品データ記憶部506に記憶
されている試験端子91を使用し、基板データ入力部5
07より設計する。設計完了したデータは、プリント回
路基板設計データの記憶を行うステップS14で、図2
に示す基板データ記憶部508に記憶される。
【0023】試験機による試験の実施ステップS15
は、図2に示す基板データ記憶部508に記憶されてい
る基板データを使用し、試験データ作成処理部509に
て試験を実施する。ステップS16では、試験結果を論
理シミュレータと比較する。そして、図2に示す論理シ
ミュレータ実行部504へ、試験データ作成処理部50
9にて試験を実施した結果をフィードバックする。
【0024】なお、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、本発明の趣旨に基づいて種々の変形が可能
であり、これらを本発明の範囲から排除するものではな
い。
【0025】
【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明に
よれば、次のような効果を奏することができる。 (A)試験端子を仮想部品としてデータ化することによ
り、プリント回路板設計CADシステムで試験端子を生
成する処理を行った際に、回路データ作成入力装置にて
入力された試験端子を強制的に生成することが可能であ
り、オペレータによる入出力装置を用いた目視確認が不
要となることにより、プリント回路板の信頼性及びオペ
レータの作業性の向上を図ることができる。
【0026】(B)回路データ作成入力装置へ試験結果
をデータにてフィードバックすることにより、試験結果
と論理シミュレータとのデータの整合性を確認すること
が可能であり、実動作可能かどうかの判断が容易に行え
るため、プリント回路板の試験信頼性及び試験の作業性
の向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例を示す仮想部品データとしての
試験端子作成のブロック図である。
【図2】本発明の実施例を示す試験端子を利用したプリ
ント回路板設計から試験までを示すブロック図である。
【図3】本発明の実施例を示す部品データ作成フローチ
ャートである。
【図4】本発明の実施例を示すプリント回路板データ作
成フローチャートである。
【図5】本発明の実施例によって処理される具体例の経
過1及び経過2を示す図である。
【図6】本発明の実施例を示すプリント回路板データと
しての試験端子の作成完了(経過3)を示す図である。
【図7】本発明の実施例によって処理されるプリント回
路板データの具体例の経過1及び経過2を示す図であ
る。
【図8】プリント回路板の設計CADシステムの構成を
示すブロック図である。
【図9】従来の試験端子生成例を示す図である。
【図10】従来の試験端子生成の問題点を示す図であ
る。
【符号の説明】
70 回路素子 71 端子名 72 ピン番号 73 ピン位置 91 試験端子 400,500 入力装置 401,501 グラフィックディスプレイ 402,502 キーボード 403,503 マウス 404 回路素子入力部 405 部品外形入力部 406 部品ピン穴径/穴形状入力部 407 部品ピン番号/ピン位置入力部 408 回路素子データ作成処理部 409 部品外形データ作成処理部 410 回路素子データ記憶部 411 部品外形データ記憶部 412 部品データ作成処理部 413 部品データ記憶部 504 論理シミュレータ実行部 505 回路データ入力部 506 部品データ記憶部 507 基板データ入力部 508 基板データ記憶部 509 試験データ作成処理部

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 プリント回路板の設計CADシステムに
    おける論理回路シミュレータ連動型試験端子の生成方法
    において、 試験を行う必要のある配線に事前に準備された仮想部品
    化した試験端子を使用し、該試験端子の生成処理を行わ
    せ、試験結果を論理シミュレータにフィードバックさせ
    るようにしたことを特徴とする論理回路シミュレータ連
    動型試験端子の生成方法。
JP8244511A 1996-09-17 1996-09-17 論理回路シミュレータ連動型試験端子の生成方法 Withdrawn JPH1091665A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8244511A JPH1091665A (ja) 1996-09-17 1996-09-17 論理回路シミュレータ連動型試験端子の生成方法

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8244511A JPH1091665A (ja) 1996-09-17 1996-09-17 論理回路シミュレータ連動型試験端子の生成方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH1091665A true JPH1091665A (ja) 1998-04-10

Family

ID=17119775

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8244511A Withdrawn JPH1091665A (ja) 1996-09-17 1996-09-17 論理回路シミュレータ連動型試験端子の生成方法

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JP (1) JPH1091665A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013213787A (ja) * 2012-04-04 2013-10-17 Hioki Ee Corp 検査用データ作成装置および回路基板検査装置

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Effective date: 20031202