JPH1091538A - バックアップ用バッテリーの寿命検出方法および装置 - Google Patents
バックアップ用バッテリーの寿命検出方法および装置Info
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- JPH1091538A JPH1091538A JP8242261A JP24226196A JPH1091538A JP H1091538 A JPH1091538 A JP H1091538A JP 8242261 A JP8242261 A JP 8242261A JP 24226196 A JP24226196 A JP 24226196A JP H1091538 A JPH1091538 A JP H1091538A
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- battery
- backup battery
- life
- backup
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- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
- Y02E60/10—Energy storage using batteries
Landscapes
- Stand-By Power Supply Arrangements (AREA)
- Secondary Cells (AREA)
- Tests Of Electric Status Of Batteries (AREA)
- Power Sources (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 バックアップ用バッテリーの寿命を予め検出
して、リモートメンテナンスを必要とする遠方の制御装
置に対しても、データ格納用メモリーＲＡＭの破壊を事
前に防止し、システムの円滑な運転を可能としたバック
アップ用バッテリーの寿命検出方法および装置を提供す
ること。 【解決手段】 本発明は、異常時に於けるバックアップ
用バッテリー4 の寿命を予め検出するための疑似負荷発
生回路5 と、この疑似負荷発生回路5 に疑似負荷を設定
するための中央処理装置ＣＰＵ2 と、このＣＰＵ2 には
前記設定疑似負荷値が設定されていて、更に疑似負荷発
生回路5 による電圧変動値にもとずき、バックアップ用
バッテリー4 の寿命を処理する機能を有し、又データブ
ロック毎にチェック用データを格納するチェックデータ
エリアを１ケ所ないし複数ケ所設けたデータ格納用メモ
リーＲＡＭとを有するバックアップ用バッテリーの寿命
検出方法。
して、リモートメンテナンスを必要とする遠方の制御装
置に対しても、データ格納用メモリーＲＡＭの破壊を事
前に防止し、システムの円滑な運転を可能としたバック
アップ用バッテリーの寿命検出方法および装置を提供す
ること。 【解決手段】 本発明は、異常時に於けるバックアップ
用バッテリー4 の寿命を予め検出するための疑似負荷発
生回路5 と、この疑似負荷発生回路5 に疑似負荷を設定
するための中央処理装置ＣＰＵ2 と、このＣＰＵ2 には
前記設定疑似負荷値が設定されていて、更に疑似負荷発
生回路5 による電圧変動値にもとずき、バックアップ用
バッテリー4 の寿命を処理する機能を有し、又データブ
ロック毎にチェック用データを格納するチェックデータ
エリアを１ケ所ないし複数ケ所設けたデータ格納用メモ
リーＲＡＭとを有するバックアップ用バッテリーの寿命
検出方法。
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、停電の様な異常が
発生した場合、ＲＡＭをバックアップするバックアップ
用バッテリーの寿命検出方法に関する。
発生した場合、ＲＡＭをバックアップするバックアップ
用バッテリーの寿命検出方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、マイクロプロセッサー（以下Ｍ
ＰＵと呼ぶ）を使用した装置、例えば電力プラント等の
プロセス制御装置では、制御に必要なデーターを格納す
るＲＡＭを持っており、従って、このＲＡＭの内容が破
壊されると、以後の制御が不可能となる為、それを防止
する目的で、停電の様な予測できない異常状態になって
も、このＲＡＭの内容が破壊されないように、バックア
ップ用バッテリーが用いられている。
ＰＵと呼ぶ）を使用した装置、例えば電力プラント等の
プロセス制御装置では、制御に必要なデーターを格納す
るＲＡＭを持っており、従って、このＲＡＭの内容が破
壊されると、以後の制御が不可能となる為、それを防止
する目的で、停電の様な予測できない異常状態になって
も、このＲＡＭの内容が破壊されないように、バックア
ップ用バッテリーが用いられている。
【０００３】この従来技術を図9 について具体的に説明
すると、従来は、図9 に示す様に、データー格納用ＲＡ
Ｍ10に対しては、システム電源の電圧Ｖ1 がダイオード
11を介して供給されると共に、バックアップ用バッテリ
ー12からの電圧Ｖ2 が供給される様になっている。
すると、従来は、図9 に示す様に、データー格納用ＲＡ
Ｍ10に対しては、システム電源の電圧Ｖ1 がダイオード
11を介して供給されると共に、バックアップ用バッテリ
ー12からの電圧Ｖ2 が供給される様になっている。
【０００４】そして、ＲＡＭ10には各種データーに対応
するデーターブロックがあり、このデーターブロックか
らデーターを順次読み出してデーターチェックを行う様
にプログラム設定されている。
するデーターブロックがあり、このデーターブロックか
らデーターを順次読み出してデーターチェックを行う様
にプログラム設定されている。
【０００５】即ち、システム電源のオン時、ＲＡＭ10の
任意のデーターブロックに格納されているデーターとチ
ェックデーター格納エリアに格納されているチェックデ
ータとを比較する事によって、ＲＡＭ10のデーターに異
常が発生したか否かを、先ずチェックし、ＲＡＭ10に異
常が発生している場合には、更にそのＲＡＭ10に所定の
データーを書き込むと共に読み出して、その書き込んだ
データーと読み出したデーターとを比較する事によって
ＲＡＭ10自体の異常か、バックアップ用バッテリー12の
異常かをチェックしていた。
任意のデーターブロックに格納されているデーターとチ
ェックデーター格納エリアに格納されているチェックデ
ータとを比較する事によって、ＲＡＭ10のデーターに異
常が発生したか否かを、先ずチェックし、ＲＡＭ10に異
常が発生している場合には、更にそのＲＡＭ10に所定の
データーを書き込むと共に読み出して、その書き込んだ
データーと読み出したデーターとを比較する事によって
ＲＡＭ10自体の異常か、バックアップ用バッテリー12の
異常かをチェックしていた。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この従
来技術では、異常の有無を検出するだけで、異常（寿
命）の予測が出来ない為、リモートメンテナンスを必要
とする遠方の装置、例えば配水池、取水池及びポンプ場
等、山間部や交通の不便な場所に設置されている被制御
所がある遠方監視制御装置の場合、例え『バッテリー異
常がある』と検出された事態に直面しても迅速に対応で
きない場合が殆んどであった。
来技術では、異常の有無を検出するだけで、異常（寿
命）の予測が出来ない為、リモートメンテナンスを必要
とする遠方の装置、例えば配水池、取水池及びポンプ場
等、山間部や交通の不便な場所に設置されている被制御
所がある遠方監視制御装置の場合、例え『バッテリー異
常がある』と検出された事態に直面しても迅速に対応で
きない場合が殆んどであった。
【０００７】従って、本発明の目的は、遠隔地にある装
置のバックアップ用バッテリーに異常が発生しても、Ｒ
ＡＭ内容の破壊を事前に防止することにある。
置のバックアップ用バッテリーに異常が発生しても、Ｒ
ＡＭ内容の破壊を事前に防止することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は、その目的達成
の為に、電源投入時にバッテリーが異常であるかを検出
する手段と、バッテリー異常を、事前に予測する手段を
提供する。
の為に、電源投入時にバッテリーが異常であるかを検出
する手段と、バッテリー異常を、事前に予測する手段を
提供する。
【０００９】即ち、本発明によれば、異常時に、バック
アップ用バッテリーで、データー格納用メモリーＲＡＭ
をバックアップするシステムに於いて、前記データ格納
メモリーにチェックデータを書き込んだ後、前記バック
アップ用バッテリーに任意に不可設定が可能な疑似負荷
発生回路を接続して前記データを読みだし、この値があ
らかじめ書き込まれたデータかどうかを判断することに
より、寿命判断を行うことを特徴とするバックアップ用
バッテリーの寿命検出方法が得られる。
アップ用バッテリーで、データー格納用メモリーＲＡＭ
をバックアップするシステムに於いて、前記データ格納
メモリーにチェックデータを書き込んだ後、前記バック
アップ用バッテリーに任意に不可設定が可能な疑似負荷
発生回路を接続して前記データを読みだし、この値があ
らかじめ書き込まれたデータかどうかを判断することに
より、寿命判断を行うことを特徴とするバックアップ用
バッテリーの寿命検出方法が得られる。
【００１０】また、本発明によれば、前記疑似負荷発生
回路の負荷設定を変えて複数の条件で前記チェックデー
タの読みだしを行うことにより、寿命判断を行うことを
特徴とするバックアップ用バッテリーの寿命検出方法が
得られる。
回路の負荷設定を変えて複数の条件で前記チェックデー
タの読みだしを行うことにより、寿命判断を行うことを
特徴とするバックアップ用バッテリーの寿命検出方法が
得られる。
【００１１】さらに、本発明によれば、異常時に、バッ
クアップ用バッテリーで、データ格納用メモリーＲＡＭ
をバックアップするシステムに於いて、このバックアッ
プ用バッテリーの寿命を検出する為の疑似負荷発生回路
を設けたことを特徴とするバックアップ用バッテリーの
寿命検出装置が得られる。
クアップ用バッテリーで、データ格納用メモリーＲＡＭ
をバックアップするシステムに於いて、このバックアッ
プ用バッテリーの寿命を検出する為の疑似負荷発生回路
を設けたことを特徴とするバックアップ用バッテリーの
寿命検出装置が得られる。
【００１２】さらに、本発明によれば、前記疑似負荷発
生回路への負荷設定を中央処理装置ＣＰＵから、任意に
指示することを特徴とする請求項３に記載のバックアッ
プ用バッテリーの寿命検出装置データーブロック毎に、
チェックデーターエリアを複数ケ所設けたエリア構成の
データー格納用メモリーＲＡＭを有する事を特徴とする
前記バックアップ用バッテリーの寿命検出方法が得られ
る。
生回路への負荷設定を中央処理装置ＣＰＵから、任意に
指示することを特徴とする請求項３に記載のバックアッ
プ用バッテリーの寿命検出装置データーブロック毎に、
チェックデーターエリアを複数ケ所設けたエリア構成の
データー格納用メモリーＲＡＭを有する事を特徴とする
前記バックアップ用バッテリーの寿命検出方法が得られ
る。
【００１３】さらに、本発明によれば、異常時にデータ
格納用メモリーＲＡＭをバックアップするバックアップ
用バッテリーを複数個設けた事を特徴とする請求項３記
載のバックアップ用バッテリーの寿命検出装置が得られ
る。
格納用メモリーＲＡＭをバックアップするバックアップ
用バッテリーを複数個設けた事を特徴とする請求項３記
載のバックアップ用バッテリーの寿命検出装置が得られ
る。
【００１４】さらに、本発明によれば、データーブロッ
ク毎に、チェックデータエリアを複数ケ所設けたエリア
構成のデーター格納用メモリーＲＡＭを有することを特
徴とする前記バックアップ用バッテリーの寿命検出装置
が得られる。
ク毎に、チェックデータエリアを複数ケ所設けたエリア
構成のデーター格納用メモリーＲＡＭを有することを特
徴とする前記バックアップ用バッテリーの寿命検出装置
が得られる。
【００１５】さらに、本発明によれば、異常時、バック
アップ用バッテリーでバックアップされるデータ格納用
メモリーＲＡＭを有し、又、バックアップ用バッテリー
の性能評価の為に、このバッテリーの負荷を中央処理装
置ＣＰＵから、任意に設定される疑似負荷発生回路を有
するシステムに於いて、電源投入時および定常運転時
に、前記疑似負荷発生回路の負荷に応じてバッテリー電
圧を検出することによりバッテリーの寿命を判断するこ
とを特徴とするバックアップ用バッテリーの寿命検出方
法が得られる。
アップ用バッテリーでバックアップされるデータ格納用
メモリーＲＡＭを有し、又、バックアップ用バッテリー
の性能評価の為に、このバッテリーの負荷を中央処理装
置ＣＰＵから、任意に設定される疑似負荷発生回路を有
するシステムに於いて、電源投入時および定常運転時
に、前記疑似負荷発生回路の負荷に応じてバッテリー電
圧を検出することによりバッテリーの寿命を判断するこ
とを特徴とするバックアップ用バッテリーの寿命検出方
法が得られる。
【００１６】さらに、本発明によれば、異常時、バック
アップ用バッテリーでバックアップされるデータ格納用
メモリーＲＡＭを有し、又、バックアップ用バッテリー
の性能評価の為に、このバッテリーの負荷を中央処理装
置ＣＰＵから、任意に設定される疑似負荷発生回路を有
するシステムに於いて、電源投入時および定常運転時
に、前記疑似負荷発生回路の負荷に応じてバッテリー電
圧を検出するバッテリー電圧低下検出回路を有すること
を特徴とするバックアップ用バッテリーの寿命検出装置
が得られる。
アップ用バッテリーでバックアップされるデータ格納用
メモリーＲＡＭを有し、又、バックアップ用バッテリー
の性能評価の為に、このバッテリーの負荷を中央処理装
置ＣＰＵから、任意に設定される疑似負荷発生回路を有
するシステムに於いて、電源投入時および定常運転時
に、前記疑似負荷発生回路の負荷に応じてバッテリー電
圧を検出するバッテリー電圧低下検出回路を有すること
を特徴とするバックアップ用バッテリーの寿命検出装置
が得られる。
【００１７】
【発明の実施の形態】以下、本発明による一実施形態を
図に基づいて説明するが、先ず図1 について説明する。
図に基づいて説明するが、先ず図1 について説明する。
【００１８】図１は、本発明によるシステムの原理を示
すブロック図で、データ格納用ＲＡＭ１とＣＰＵ（中央
処理装置）2 とがデータバス3 を介して接続されてい
る。このＣＰＵ2 はＲＡＭ1 に対して、データの書き込
み、読み出し制御を行うもので、特に本発明に於ては、
後記バックアップ用バッテリーの性能評価の為に、バッ
テリーの負荷を任意に設定できる機能を持っていて、何
種類かの疑似負荷（後記図3 ）に対応するデータが予め
記憶されている。
すブロック図で、データ格納用ＲＡＭ１とＣＰＵ（中央
処理装置）2 とがデータバス3 を介して接続されてい
る。このＣＰＵ2 はＲＡＭ1 に対して、データの書き込
み、読み出し制御を行うもので、特に本発明に於ては、
後記バックアップ用バッテリーの性能評価の為に、バッ
テリーの負荷を任意に設定できる機能を持っていて、何
種類かの疑似負荷（後記図3 ）に対応するデータが予め
記憶されている。
【００１９】データ格納用ＲＡＭ1 に対しては、システ
ム電源の電圧Ｖ1 がスイッチＳ1 のオン時にダイオード
Ｄ1 を介して供給されると共に、バックアップ用バッテ
リー4 からの電圧Ｖ2 がスイッチＳ2 のオン時に、疑似
負荷発生回路（後記）及びダイオードＤ2 を介してＲＡ
Ｍ1 に供給される様に構成されている。
ム電源の電圧Ｖ1 がスイッチＳ1 のオン時にダイオード
Ｄ1 を介して供給されると共に、バックアップ用バッテ
リー4 からの電圧Ｖ2 がスイッチＳ2 のオン時に、疑似
負荷発生回路（後記）及びダイオードＤ2 を介してＲＡ
Ｍ1 に供給される様に構成されている。
【００２０】即ち、スイッチＳ2 は停電時にオン、復電
時にオフする事で、停電時に限り、バッテリー4 からの
電圧Ｖ2 がＲＡＭ1 に供給される様になっている。
時にオフする事で、停電時に限り、バッテリー4 からの
電圧Ｖ2 がＲＡＭ1 に供給される様になっている。
【００２１】尚、このバックアップ用電圧Ｖ2 は一般に
システム電源の電圧Ｖ1 より小さく、単にＲＡＭ1 の内
容を保持し得るに十分な値でありさえすればよい。
システム電源の電圧Ｖ1 より小さく、単にＲＡＭ1 の内
容を保持し得るに十分な値でありさえすればよい。
【００２２】5 は前記疑似負荷発生回路で、抵抗値を変
える事によって、バッテリー4 の電圧変動を発生させる
回路で、この疑似負荷発生回路5 に設定される疑似負荷
はＣＰＵ2 から指定される。
える事によって、バッテリー4 の電圧変動を発生させる
回路で、この疑似負荷発生回路5 に設定される疑似負荷
はＣＰＵ2 から指定される。
【００２３】尚、停電時はＣＰＵ2 からの負荷設定の指
示に関係なく、疑似負荷は無しとするシステム構成とな
っている。
示に関係なく、疑似負荷は無しとするシステム構成とな
っている。
【００２４】又、この疑似負荷の設定は、定常負荷に対
して、例えば、約1.0 倍、1.1 倍、1.2 倍、1.5 倍及び
2 倍等と、１〜複数の倍率を予め固定化したものを、疑
似負荷として、ＣＰＵから選択する方法、或いは例え
ば、1 倍〜2 倍と任意に可変できる方法等がとられてい
る。
して、例えば、約1.0 倍、1.1 倍、1.2 倍、1.5 倍及び
2 倍等と、１〜複数の倍率を予め固定化したものを、疑
似負荷として、ＣＰＵから選択する方法、或いは例え
ば、1 倍〜2 倍と任意に可変できる方法等がとられてい
る。
【００２５】この様な構成のシステムに於て、今、装置
がオンラインで定常に動作している状態である場合、ス
イッチＳ2 はオフ状態で、スイッチＳ1 がオン状態とな
っていて、システム電源の電圧Ｖ1 がダイオードＤ1 を
介して、ＲＡＭ1 及びＣＰＵ2 からなるシステムに供給
されている。この定常状態では、予め決められた期間、
例えば、一週間、或いは一ケ月単位の期間で、バッテリ
ー4 の寿命をチェックする。
がオンラインで定常に動作している状態である場合、ス
イッチＳ2 はオフ状態で、スイッチＳ1 がオン状態とな
っていて、システム電源の電圧Ｖ1 がダイオードＤ1 を
介して、ＲＡＭ1 及びＣＰＵ2 からなるシステムに供給
されている。この定常状態では、予め決められた期間、
例えば、一週間、或いは一ケ月単位の期間で、バッテリ
ー4 の寿命をチェックする。
【００２６】それには、ＣＰＵ2 から予め設定されてい
る負荷データを疑似負荷発生回路5に発生させ、その疑
似負荷による電圧変動値に対して、バッテリー4 の使用
時間がＣＰＵ2 で演算され、併せてそのバッテリー4 の
寿命の時間も算出し、その算出結果が図示していない表
示装置で視覚的、或いは音声で警告される。
る負荷データを疑似負荷発生回路5に発生させ、その疑
似負荷による電圧変動値に対して、バッテリー4 の使用
時間がＣＰＵ2 で演算され、併せてそのバッテリー4 の
寿命の時間も算出し、その算出結果が図示していない表
示装置で視覚的、或いは音声で警告される。
【００２７】もし、疑似負荷に対する電圧変動値が1.2V
以下（後記ＲＡＭ1 の内容を破壊する限界電圧値）とな
り、ＣＰＵ2 での算出結果が『既にバッテリーは寿命に
なっている』場合にはＲＡＭ1 の内容が破壊されている
か否かのチェックを行う。即ち、ＲＡＭ1 にデータを書
込み、読出して、その読出したデータが書込んだデータ
と一致していれば、ＲＡＭ1 の内容は破壊されること無
く、正しく保存されていたと判断され、逆に一致しなけ
れば、ＲＡＭ1 の内容は破壊されたと判断し、正しいデ
ータをＲＡＭ1 に書込んだ後、定常動作に移行させる。
以下（後記ＲＡＭ1 の内容を破壊する限界電圧値）とな
り、ＣＰＵ2 での算出結果が『既にバッテリーは寿命に
なっている』場合にはＲＡＭ1 の内容が破壊されている
か否かのチェックを行う。即ち、ＲＡＭ1 にデータを書
込み、読出して、その読出したデータが書込んだデータ
と一致していれば、ＲＡＭ1 の内容は破壊されること無
く、正しく保存されていたと判断され、逆に一致しなけ
れば、ＲＡＭ1 の内容は破壊されたと判断し、正しいデ
ータをＲＡＭ1 に書込んだ後、定常動作に移行させる。
【００２８】一方、停電のような異常事態が発生した場
合には、当然スイッチＳ2 がオンされて、バックアップ
用電圧Ｖ2 が疑似発生回路5 及びダイオードＤ2 を介し
て供給され、ＲＡＭ1 の内容は破壊されずに保持され
る。
合には、当然スイッチＳ2 がオンされて、バックアップ
用電圧Ｖ2 が疑似発生回路5 及びダイオードＤ2 を介し
て供給され、ＲＡＭ1 の内容は破壊されずに保持され
る。
【００２９】そして、異常事態が排除され、システム電
源が復帰されると、この復帰時点で、前記の定常動作の
場合と同様に、ＣＰＵ2 からの指示による疑似負荷を疑
似負荷発生回路5 に発生させ, この疑似負荷による電圧
変動値に対して、更に前記と同じ様にＲＡＭ1 に格納さ
れているデータに異常がないかどうかをチェックする。
次に、上記した図１に於けるバッテリー異常及びＲＡ
Ｍ異常のチェック処理手順を図2 に基ずいて説明する。
源が復帰されると、この復帰時点で、前記の定常動作の
場合と同様に、ＣＰＵ2 からの指示による疑似負荷を疑
似負荷発生回路5 に発生させ, この疑似負荷による電圧
変動値に対して、更に前記と同じ様にＲＡＭ1 に格納さ
れているデータに異常がないかどうかをチェックする。
次に、上記した図１に於けるバッテリー異常及びＲＡ
Ｍ異常のチェック処理手順を図2 に基ずいて説明する。
【００３０】図2 は、疑似負荷発生回路5(図1)の負荷の
程度におおじ、チェックデータエリアへ書き込み、読み
出した内容が、予め決めた値と一致するか否かをチェッ
クするフローチャートである。
程度におおじ、チェックデータエリアへ書き込み、読み
出した内容が、予め決めた値と一致するか否かをチェッ
クするフローチャートである。
【００３１】図2 において、電源投入時、即ち、スイッ
チＳ2(図1)がオフ状態、スイッチＳ3(図1)がオン状態
で、システム電源の電圧Ｖ1 がダイオードＤ1 を介し
て、ＲＡＭ1 に供給されている時、ＲＡＭ1 のチェック
データエリアには、予め決めた値を書き込む( ステップ
S1) 。この書き込むチェックデータは、例えば、バッテ
リー試験の為の負荷抵抗である。
チＳ2(図1)がオフ状態、スイッチＳ3(図1)がオン状態
で、システム電源の電圧Ｖ1 がダイオードＤ1 を介し
て、ＲＡＭ1 に供給されている時、ＲＡＭ1 のチェック
データエリアには、予め決めた値を書き込む( ステップ
S1) 。この書き込むチェックデータは、例えば、バッテ
リー試験の為の負荷抵抗である。
【００３２】次に、バッテリー4(図1)を評価する為、疑
似負荷発生回路5(図1)に、或る値の負荷がＣＰＵ2 から
設定される( ステップS2) 。この時は、当然スイッチＳ
2 はオン状態、スイッチＳ3 はオフ状態にしておく。
似負荷発生回路5(図1)に、或る値の負荷がＣＰＵ2 から
設定される( ステップS2) 。この時は、当然スイッチＳ
2 はオン状態、スイッチＳ3 はオフ状態にしておく。
【００３３】次に、ＲＡＭ1 のチェックデータエリアに
格納されていたデータを読み出し、この読み出されたデ
ータが予め決めた値であるか、ＣＰＵ2 がチェックする
( ステップS3) 。
格納されていたデータを読み出し、この読み出されたデ
ータが予め決めた値であるか、ＣＰＵ2 がチェックする
( ステップS3) 。
【００３４】このチェック結果が一致していれば、ＲＡ
Ｍ1 は、ＣＰＵ2 から設定された負荷に対して正常と判
断し、一致していない場合は、ＣＰＵ2 からの設定負荷
に対して、ＲＡＭ1 が異常であると判断する。
Ｍ1 は、ＣＰＵ2 から設定された負荷に対して正常と判
断し、一致していない場合は、ＣＰＵ2 からの設定負荷
に対して、ＲＡＭ1 が異常であると判断する。
【００３５】ここで、バッテリー4 の評価試験を終了さ
せるか( ステップS5) 、或いは順次異なる負荷値をＣＰ
Ｕ2 から疑似負荷発生回路5 に設定して、ＲＡＭ1 とバ
ッテリー4 との評価を繰り返すかを決める（ステップS
4) 。
せるか( ステップS5) 、或いは順次異なる負荷値をＣＰ
Ｕ2 から疑似負荷発生回路5 に設定して、ＲＡＭ1 とバ
ッテリー4 との評価を繰り返すかを決める（ステップS
4) 。
【００３６】一応終了させると判定したら、スイッチＳ
3 をオン状態、スイッチＳ2 をオフ状態にして、定常運
転に戻す( ステップS7) 。
3 をオン状態、スイッチＳ2 をオフ状態にして、定常運
転に戻す( ステップS7) 。
【００３７】そして、ＣＰＵ2 から疑似負荷発生回路(
図1)への疑似負荷設定の指示を終了させ( ステップS5)
、再び、ＲＡＭ1 のチェックデータエリアへ予め決め
た値を書き込むサイクル( ステップS6) に入り、終了す
る。
図1)への疑似負荷設定の指示を終了させ( ステップS5)
、再び、ＲＡＭ1 のチェックデータエリアへ予め決め
た値を書き込むサイクル( ステップS6) に入り、終了す
る。
【００３８】ここで、図3 に基ずいて、疑似負荷発生回
路5 に設定される疑似負荷の説明をする。
路5 に設定される疑似負荷の説明をする。
【００３９】図3 は、バックアップ用バッテリーとし
て、東芝製ボタン電池ＭＲ9 を使用した装置を想定し、
５通りの疑似負荷(30 オーム、60オーム、125 オーム、
300 オーム、6.5 キロオーム) に対するバッテリー電圧
ｖと持続時間ｈとの関係を示したグラフである。
て、東芝製ボタン電池ＭＲ9 を使用した装置を想定し、
５通りの疑似負荷(30 オーム、60オーム、125 オーム、
300 オーム、6.5 キロオーム) に対するバッテリー電圧
ｖと持続時間ｈとの関係を示したグラフである。
【００４０】同図において、負荷抵抗300 オームの装置
で、既に６時間使用した時点での状況を想定して、以下
の説明をする。
で、既に６時間使用した時点での状況を想定して、以下
の説明をする。
【００４１】前記ボタン電池ＭＲ9 の公称電圧は1.35v
であるが、今、このボタン電池ＭＲ9 を使用する装置の
電圧を1.2v以上と仮定する。この仮定に従えば、1.25v
以上(1.25vも含む) の電池電圧がＲＡＭ1(図1)に供給さ
れれば、ＲＡＭ1 の内容は破壊されない。
であるが、今、このボタン電池ＭＲ9 を使用する装置の
電圧を1.2v以上と仮定する。この仮定に従えば、1.25v
以上(1.25vも含む) の電池電圧がＲＡＭ1(図1)に供給さ
れれば、ＲＡＭ1 の内容は破壊されない。
【００４２】逆に、1.25v 以下の電池電圧がＲＡＭ1 に
供給されれば、ＲＡＭ1 の内容は破壊されてしまう。
供給されれば、ＲＡＭ1 の内容は破壊されてしまう。
【００４３】前記した想定に基ずいて、負荷抵抗 300オ
ーム、接続時間６時間との交差点は1.25v に相当してい
る。従って、現在は、まだ装置電圧1.2v以上を保持して
いるので、ＲＡＭ1 の内容は破壊されない。
ーム、接続時間６時間との交差点は1.25v に相当してい
る。従って、現在は、まだ装置電圧1.2v以上を保持して
いるので、ＲＡＭ1 の内容は破壊されない。
【００４４】しかし、負荷抵抗 300オームに対するボタ
ン電池の寿命、即ち、電圧が 1.2V以下になるには、約
８４時間（＝約90時間ー6 時間）後である事がＣＰＵ2
で算出され、その算出結果が視覚手段或いは音声手段で
警告される。
ン電池の寿命、即ち、電圧が 1.2V以下になるには、約
８４時間（＝約90時間ー6 時間）後である事がＣＰＵ2
で算出され、その算出結果が視覚手段或いは音声手段で
警告される。
【００４５】次に、図3 の特性を本発明によるバッテリ
ー評価試験に適用すると、今、負荷抵抗を125 オームと
して、この負荷抵抗125 オームと接続時間６時間(H) と
の交差点の電圧をみると、それは約1.16v である。又負
荷抵抗30オームと接続時間６時間（H)との交差点の電圧
は約 1.04vである。
ー評価試験に適用すると、今、負荷抵抗を125 オームと
して、この負荷抵抗125 オームと接続時間６時間(H) と
の交差点の電圧をみると、それは約1.16v である。又負
荷抵抗30オームと接続時間６時間（H)との交差点の電圧
は約 1.04vである。
【００４６】従って、この場合は負荷抵抗 60 オーム、
30オーム両者とも、接続時間６時間での電池の使用電圧
である 1.2v 以下である為、ＲＡＭ1 の内容は破壊され
てしまう。ここで、ＣＰＵは負荷抵抗 60 オーム、接続
時間６時間に相当する電池の使用時間が1.16v に下がる
までの寿命期間をＲＡＭ1 に格納されているデーターを
基に算出し、その算出結果、例えば、中央監視所（図示
していない）に、視覚に訴える手段、即ち表示装置に表
示する等して知らせる。
30オーム両者とも、接続時間６時間での電池の使用電圧
である 1.2v 以下である為、ＲＡＭ1 の内容は破壊され
てしまう。ここで、ＣＰＵは負荷抵抗 60 オーム、接続
時間６時間に相当する電池の使用時間が1.16v に下がる
までの寿命期間をＲＡＭ1 に格納されているデーターを
基に算出し、その算出結果、例えば、中央監視所（図示
していない）に、視覚に訴える手段、即ち表示装置に表
示する等して知らせる。
【００４７】次に、本発明による他の一実施形態を図4
に基ずいて説明する。
に基ずいて説明する。
【００４８】図4 は本発明による一実施形態を示したシ
ステムのブロック図で、図1 と同一構成部は同一符号を
記し、説明は省略する。
ステムのブロック図で、図1 と同一構成部は同一符号を
記し、説明は省略する。
【００４９】図4 の実施形態と図1 のそれとの相違点
は、図1 の実施形態がバッテリー異常の検出をＲＡＭ1
の内容で確認しているのに対して、図4 の実施形態は疑
似負荷発生回路5 の負荷に応じたバッテリー電圧を、バ
ッテリー電圧低下検出回路6 で検出した信号をＣＰＵ2
で知る点である。
は、図1 の実施形態がバッテリー異常の検出をＲＡＭ1
の内容で確認しているのに対して、図4 の実施形態は疑
似負荷発生回路5 の負荷に応じたバッテリー電圧を、バ
ッテリー電圧低下検出回路6 で検出した信号をＣＰＵ2
で知る点である。
【００５０】即ち、ＣＰＵ2 から設定される疑似負荷に
応じてバッテリー電圧がどの程度低下しているか否かを
ＣＰＵ2 が判定し、低下しているレベルによりバッテリ
ー4の寿命があとどの位であるかを知る。
応じてバッテリー電圧がどの程度低下しているか否かを
ＣＰＵ2 が判定し、低下しているレベルによりバッテリ
ー4の寿命があとどの位であるかを知る。
【００５１】尚、バッテリー4 の寿命チェックは定常状
態でも当然可能である。
態でも当然可能である。
【００５２】次に、本発明による他の一実施形態を図5
に基ずいて説明する。
に基ずいて説明する。
【００５３】図5 は、本発明による一実施形態を示すシ
ステムのブロック図で、図1 と同一部分は同一符号を記
し、説明は省略する。
ステムのブロック図で、図1 と同一部分は同一符号を記
し、説明は省略する。
【００５４】尚、図5 の実施形態が図1 のそれと異なる
点は、バッテリー異常診断用メモリーを別に設けたとこ
ろにある。
点は、バッテリー異常診断用メモリーを別に設けたとこ
ろにある。
【００５５】同図において、７はデータ格納用メモリー
（ＲＡＭ）で、例えば、システムを動作させる為の運転
情報パラメータが記憶されていて、バックアップ用バッ
テリー4 の寿命を知る為のチェックデータが格納されて
いる格納番地が１ケ所、又は複数ケ所、配列されてい
る。
（ＲＡＭ）で、例えば、システムを動作させる為の運転
情報パラメータが記憶されていて、バックアップ用バッ
テリー4 の寿命を知る為のチェックデータが格納されて
いる格納番地が１ケ所、又は複数ケ所、配列されてい
る。
【００５６】8 及び9 はカレントメモリーＲＡＭで、こ
のうちカレントメモリーＲＡＭ9 は、定常運転状態であ
る場合に、バッテリー4 の異常を診断するに必要なチェ
ックデーターを含めた諸種データーを格納するメモリー
である。
のうちカレントメモリーＲＡＭ9 は、定常運転状態であ
る場合に、バッテリー4 の異常を診断するに必要なチェ
ックデーターを含めた諸種データーを格納するメモリー
である。
【００５７】そして、システム電源の電圧Ｖ1 はＲＡＭ
7 に対してはダイオードＤ3 の電圧Ｖ1 はＲＡＭ7 に対
してはダイオードＤ3 を介して、又ＲＡＭ8 は直接に、
更にＲＡＭ9 はスイッチ3 及びダイオードＤ5 を介し
て、それぞれ供給されるように接続されている。
7 に対してはダイオードＤ3 の電圧Ｖ1 はＲＡＭ7 に対
してはダイオードＤ3 を介して、又ＲＡＭ8 は直接に、
更にＲＡＭ9 はスイッチ3 及びダイオードＤ5 を介し
て、それぞれ供給されるように接続されている。
【００５８】又、システム電源の停電時には、ＲＡＭ7
に対してはスイッチＳ1 及びダイオードＤ4 を介して、
又ＲＡＭ9 に対しては、スイッチＳ2 、疑似負荷発生回
路5及びダイオードＤ6 を介して、バッテリー4 の電圧
Ｖ2 がそれぞれに供給される様に接続されている。
に対してはスイッチＳ1 及びダイオードＤ4 を介して、
又ＲＡＭ9 に対しては、スイッチＳ2 、疑似負荷発生回
路5及びダイオードＤ6 を介して、バッテリー4 の電圧
Ｖ2 がそれぞれに供給される様に接続されている。
【００５９】次に以上の様な構成に於けるバッテリー電
圧Ｖ2 及びＲＡＭの異常をチェックする作用を説明す
る。
圧Ｖ2 及びＲＡＭの異常をチェックする作用を説明す
る。
【００６０】先ず、第１のチェック、即ち電源投入時に
限って行うバッテリー4 の異常とＲＡＭ7 及び9 の異常
をチェックする作用を説明する。
限って行うバッテリー4 の異常とＲＡＭ7 及び9 の異常
をチェックする作用を説明する。
【００６１】電源投入時は、電源投入までの間にバック
アップ作用が正しく維持され続けていたか、或いは維持
されていなかった場合、ＲＡＭの内容が破壊されていな
いかをチェックする。
アップ作用が正しく維持され続けていたか、或いは維持
されていなかった場合、ＲＡＭの内容が破壊されていな
いかをチェックする。
【００６２】スイッチＳ1 及びＳ2 はオン状態、Ｓ3 は
オフ状態にして、ＣＰＵ2 から疑似負荷を疑似負荷発生
回路5 に順次設定し、この疑似負荷による電圧変動がシ
ステムの定常電圧値以下になる負荷値から、電池の寿命
を推測する。この点図1 の場合と同じなので、詳細は省
略する。
オフ状態にして、ＣＰＵ2 から疑似負荷を疑似負荷発生
回路5 に順次設定し、この疑似負荷による電圧変動がシ
ステムの定常電圧値以下になる負荷値から、電池の寿命
を推測する。この点図1 の場合と同じなので、詳細は省
略する。
【００６３】更に、本発明による第３の実施形態を図6
に基ずいて説明する。
に基ずいて説明する。
【００６４】図6 は、本発明による一実施形態を示した
装置のブロック図で、図1 と同一構成部は同一符号を記
し、説明は省略する。
装置のブロック図で、図1 と同一構成部は同一符号を記
し、説明は省略する。
【００６５】図6 は、２ケのバックアップ用バッテリー
4a、4bを有していて、バックアップ用バッテリー１ケよ
りもバッテリーの寿命を長くする事が出来る実施形態
で、バッテリー電圧Ｖ2a及びＶ2bはスイッチS4a 及びS4
b を介して、それぞれＲＡＭ1に供給される構成になっ
ている。
4a、4bを有していて、バックアップ用バッテリー１ケよ
りもバッテリーの寿命を長くする事が出来る実施形態
で、バッテリー電圧Ｖ2a及びＶ2bはスイッチS4a 及びS4
b を介して、それぞれＲＡＭ1に供給される構成になっ
ている。
【００６６】そして、定常運転時には、ＣＰＵ2 からの
指令で、スイッチS4a 及びS4b を任意に切り替えて、バ
ッテリー電圧Ｖ2a及びＶ2bの性能判断を行い、その結果
を通知するものである。
指令で、スイッチS4a 及びS4b を任意に切り替えて、バ
ッテリー電圧Ｖ2a及びＶ2bの性能判断を行い、その結果
を通知するものである。
【００６７】即ち、電源投入時は、スイッチS4a 及びS4
b は両方ともオン状態であり、定常運転時はＣＰＵ2 か
らの指示で、スイッチS4a 及びS4b それぞれを独立して
任意に切替え可能とする。
b は両方ともオン状態であり、定常運転時はＣＰＵ2 か
らの指示で、スイッチS4a 及びS4b それぞれを独立して
任意に切替え可能とする。
【００６８】一方、電源オフ時は、ＣＰＵ2 からの指示
内容に関係なく、スイッチS4a 及びS4b の両方がオン状
態になる構成になっている。
内容に関係なく、スイッチS4a 及びS4b の両方がオン状
態になる構成になっている。
【００６９】従って、電源投入時や電源オフ時は、スイ
ッチS4a 及びS4b のいずれもオンしている為、バッテリ
ー4a又はS4b いずれかより、そのバッテリー電圧V2a 又
はV2b のいずれかがＲＡＭ1 に供給される。
ッチS4a 及びS4b のいずれもオンしている為、バッテリ
ー4a又はS4b いずれかより、そのバッテリー電圧V2a 又
はV2b のいずれかがＲＡＭ1 に供給される。
【００７０】即ち、バッテリー１個からではなく、２個
のバッテリーのいずれかより、バックアップ用バッテリ
ー電圧を供給する事が出来る為、それだけ信頼性の高い
実施形態といえる。
のバッテリーのいずれかより、バックアップ用バッテリ
ー電圧を供給する事が出来る為、それだけ信頼性の高い
実施形態といえる。
【００７１】又、定常時も、スイッチS4a 又はS4b を任
意に切替えて、それぞれのバッテリー電圧V2a 及びV2b
のチェックを別々に行い、バッテリー単位での寿命予測
ができ、その結果、当然バッテリー交換も寿命のなくな
ったものから順次行うから、システムとしての信頼性は
高まる。
意に切替えて、それぞれのバッテリー電圧V2a 及びV2b
のチェックを別々に行い、バッテリー単位での寿命予測
ができ、その結果、当然バッテリー交換も寿命のなくな
ったものから順次行うから、システムとしての信頼性は
高まる。
【００７２】尚、ここで、ＲＡＭ1 のエリア構成を図7
及び図8 に基づいて説明する。
及び図8 に基づいて説明する。
【００７３】図7 と図8 は、ＲＡＭ1 のデータ格納状態
を示した内部構成図で、先ず図7 から説明する。
を示した内部構成図で、先ず図7 から説明する。
【００７４】図7 は１データーブロック毎に、チェック
データエリアを１ケ所設けてある実施形態で、データブ
ロック単位で、１ランクのデータチェックしか出来ない
例である。
データエリアを１ケ所設けてある実施形態で、データブ
ロック単位で、１ランクのデータチェックしか出来ない
例である。
【００７５】図8 はＲＡＭ構成の他の一実施形態で、デ
ーターブロック毎、それぞれに設けたチェックデータエ
リアの数が異なる場合を示している。
ーターブロック毎、それぞれに設けたチェックデータエ
リアの数が異なる場合を示している。
【００７６】チェックが多いデーターブロック、例えば
ＲＡＭn の空間では３通りのパターンチェックが可能
で、それだけチェック精度が向上するわけである。
ＲＡＭn の空間では３通りのパターンチェックが可能
で、それだけチェック精度が向上するわけである。
【００７７】即ち、ＲＡＭにバラツキがある為、何通り
かのパターンでチェックする事により、ＲＡＭのバラツ
キによるチェック誤差を防止するエリア構成となってい
る。
かのパターンでチェックする事により、ＲＡＭのバラツ
キによるチェック誤差を防止するエリア構成となってい
る。
【００７８】
【発明の効果】上記した本発明によれば、疑似負荷発生
回路5 を設ける事によって、この回路に設定される負荷
に基ずく電圧変動を検出する事により、バックアップ用
バッテリー4 の寿命をリアルタイムで予め知る事がで
き、従って遠隔地にある遠方監視制御装置の場合でもリ
モートメンテナンスが可能となり、突然の異常事態が発
生しても、ＲＡＭ内容の破壊による装置の誤動作を完全
に防止する事が出来る。
回路5 を設ける事によって、この回路に設定される負荷
に基ずく電圧変動を検出する事により、バックアップ用
バッテリー4 の寿命をリアルタイムで予め知る事がで
き、従って遠隔地にある遠方監視制御装置の場合でもリ
モートメンテナンスが可能となり、突然の異常事態が発
生しても、ＲＡＭ内容の破壊による装置の誤動作を完全
に防止する事が出来る。
【００７９】又、上記した本発明によれば、バックアッ
プ用バッテリーを複数個を設けることによって、システ
ムの信頼性を、より高める事ができる。
プ用バッテリーを複数個を設けることによって、システ
ムの信頼性を、より高める事ができる。
【００８０】又、本発明によれば、データブロック毎の
チェックデータエリアを複数ケ所設ける事により、ＲＡ
Ｍのバラツキによるチェック誤差を防止する事が出来、
それだけＲＡＭのチェック精度を向上させる事ができ
る。
チェックデータエリアを複数ケ所設ける事により、ＲＡ
Ｍのバラツキによるチェック誤差を防止する事が出来、
それだけＲＡＭのチェック精度を向上させる事ができ
る。
【図１】本発明の一実施形態を示すバックアップ用バッ
テリーの寿命検出装置のブロック図である。
テリーの寿命検出装置のブロック図である。
【図２】本発明によるバッテリー及びデータ格納用メモ
リーＲＡＭの異常検出のチェック手順を示したフローチ
ャートである。
リーＲＡＭの異常検出のチェック手順を示したフローチ
ャートである。
【図３】本発明による疑似負荷値に対する電圧変動と時
間との関係を示した線グラフである。
間との関係を示した線グラフである。
【図４】本発明による一実施形態を示したシステムのブ
ロック図である。
ロック図である。
【図５】本発明による他の一実施形態を示したシステム
のブロック図である。
のブロック図である。
【図６】本発明による他の一実施形態を示したシステム
のブロック図である。
のブロック図である。
【図７】本発明のシステムに用いられているデータ格納
用メモリーＲＡＭのエリア構成を示すブロック図であ
る。
用メモリーＲＡＭのエリア構成を示すブロック図であ
る。
【図８】本発明のシステムに用いられているデータ格納
用メモリーＲＡＭの他のエリア構成を示すブロック図で
ある。
用メモリーＲＡＭの他のエリア構成を示すブロック図で
ある。
【図９】従来のバックアップ用バッテリーの異常検出シ
ステムを示したブロック図である。
ステムを示したブロック図である。
１……………… データー格納用メモリー（ＲＡＭ） ２……………… 中央処理装置（ＣＰＵ） ３……………… データーバス ４……………… バックアップ用バッテリー ５……………… 疑似負荷発生回路 ６……………… バッテリー電圧低下検出回路 ７，８………… バッテリーバックアップ用メモリー
（ＲＡＭ） ８，９………… カレントメモリー（ＲＡＭ） １０…………… データ格納用メモリー（ＲＡＭ） １１…………… ダイオード １２…………… バックアップ用バッテリー V1……………… システム電源の電圧値 V2……………… バックアップ用バッテリーの電圧値 V2a,V2b ……… バックアップ用バッテリーの電圧値 S1〜S3………… スイッチ S4a 〜S4b …… スイツチ D1〜 D6 ……… ダイオード
（ＲＡＭ） ８，９………… カレントメモリー（ＲＡＭ） １０…………… データ格納用メモリー（ＲＡＭ） １１…………… ダイオード １２…………… バックアップ用バッテリー V1……………… システム電源の電圧値 V2……………… バックアップ用バッテリーの電圧値 V2a,V2b ……… バックアップ用バッテリーの電圧値 S1〜S3………… スイッチ S4a 〜S4b …… スイツチ D1〜 D6 ……… ダイオード
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 ＦＩ Ｈ０２Ｊ 9/00 Ｇ０６Ｆ 1/00 ３４１Ｘ
Claims (8)
- 【請求項１】 異常時に、バックアップ用バッテリー
で、データー格納用メモリーＲＡＭをバックアップする
システムに於いて、前記データ格納メモリーにチェック
データを書き込んだ後、前記バックアップ用バッテリー
に任意に不可設定が可能な疑似負荷発生回路を接続して
前記データを読みだし、この値があらかじめ書き込まれ
たデータかどうかを判断することにより、寿命判断を行
うことを特徴とするバックアップ用バッテリーの寿命検
出方法。 - 【請求項２】 前記疑似負荷発生回路の負荷設定を変え
て複数の条件で前記チェックデータの読みだしを行うこ
とにより、寿命判断を行うことを特徴とする請求項１記
載のバックアップ用バッテリーの寿命検出方法。 - 【請求項３】 異常時に、バックアップ用バッテリー
で、データ格納用メモリーＲＡＭをバックアップするシ
ステムに於いて、このバックアップ用バッテリーの寿命
を検出する為の疑似負荷発生回路を設けたことを特徴と
するバックアップ用バッテリーの寿命検出装置。 - 【請求項４】 前記疑似負荷発生回路への負荷設定を中
央処理装置ＣＰＵから、任意に指示することを特徴とす
る請求項３に記載のバックアップ用バッテリーの寿命検
出装置。 - 【請求項５】 異常時にデータ格納用メモリーＲＡＭを
バックアップするバックアップ用バッテリーを複数個設
けた事を特徴とする請求項３記載のバックアップ用バッ
テリーの寿命検出装置。 - 【請求項６】 データーブロック毎に、チェックデータ
エリアを複数ケ所設けたエリア構成のデーター格納用メ
モリーＲＡＭを有することを特徴とする請求項３に記載
のバックアップ用バッテリーの寿命検出装置。 - 【請求項７】 異常時、バックアップ用バッテリーでバ
ックアップされるデータ格納用メモリーＲＡＭを有し、
又、バックアップ用バッテリーの性能評価の為に、この
バッテリーの負荷を中央処理装置ＣＰＵから、任意に設
定される疑似負荷発生回路を有するシステムに於いて、
電源投入時および定常運転時に、前記疑似負荷発生回路
の負荷に応じてバッテリー電圧を検出することによりバ
ッテリーの寿命を判断することを特徴とするバックアッ
プ用バッテリーの寿命検出方法。 - 【請求項８】 異常時、バックアップ用バッテリーでバ
ックアップされるデータ格納用メモリーＲＡＭを有し、
又、バックアップ用バッテリーの性能評価の為に、この
バッテリーの負荷を中央処理装置ＣＰＵから、任意に設
定される疑似負荷発生回路を有するシステムに於いて、
電源投入時および定常運転時に、前記疑似負荷発生回路
の負荷に応じてバッテリー電圧を検出するバッテリー電
圧低下検出回路を有することを特徴とするバックアップ
用バッテリーの寿命検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8242261A JPH1091538A (ja) | 1996-09-12 | 1996-09-12 | バックアップ用バッテリーの寿命検出方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8242261A JPH1091538A (ja) | 1996-09-12 | 1996-09-12 | バックアップ用バッテリーの寿命検出方法および装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1091538A true JPH1091538A (ja) | 1998-04-10 |
Family
ID=17086641
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8242261A Pending JPH1091538A (ja) | 1996-09-12 | 1996-09-12 | バックアップ用バッテリーの寿命検出方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1091538A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1003290A2 (en) * | 1998-11-20 | 2000-05-24 | Sony Computer Entertainment Inc. | Electronic devices and low-voltage detection method |
| US6211681B1 (en) | 1999-05-24 | 2001-04-03 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Apparatus for diagnosing electric power source while power is supplied to load device from the power source |
| JP2009290949A (ja) * | 2008-05-28 | 2009-12-10 | Nec Fielding Ltd | 電源管理システム、無停電電源装置、電源管理方法、電源トレンド予測方法及び電源トレンド予測プログラム |
| US8204651B2 (en) | 2005-12-05 | 2012-06-19 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Power source control device for power steering |
| JP2013020489A (ja) * | 2011-07-12 | 2013-01-31 | Mitsubishi Electric Building Techno Service Co Ltd | バッテリ寿命チェック装置 |
| JP2014137643A (ja) * | 2013-01-15 | 2014-07-28 | Fujitsu Ltd | データ保持装置、およびデータ保持方法 |
| CN107884619A (zh) * | 2017-11-02 | 2018-04-06 | 广东欧珀移动通信有限公司 | 负载功耗测试系统及方法、移动终端 |
-
1996
- 1996-09-12 JP JP8242261A patent/JPH1091538A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1003290A2 (en) * | 1998-11-20 | 2000-05-24 | Sony Computer Entertainment Inc. | Electronic devices and low-voltage detection method |
| EP1003290A3 (en) * | 1998-11-20 | 2003-08-27 | Sony Computer Entertainment Inc. | Electronic devices and low-voltage detection method |
| US6211681B1 (en) | 1999-05-24 | 2001-04-03 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Apparatus for diagnosing electric power source while power is supplied to load device from the power source |
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| JP2009290949A (ja) * | 2008-05-28 | 2009-12-10 | Nec Fielding Ltd | 電源管理システム、無停電電源装置、電源管理方法、電源トレンド予測方法及び電源トレンド予測プログラム |
| JP4710059B2 (ja) * | 2008-05-28 | 2011-06-29 | Ｎｅｃフィールディング株式会社 | 電源管理システム、無停電電源装置、電源管理方法、電源トレンド予測方法及び電源トレンド予測プログラム |
| JP2013020489A (ja) * | 2011-07-12 | 2013-01-31 | Mitsubishi Electric Building Techno Service Co Ltd | バッテリ寿命チェック装置 |
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| CN107884619A (zh) * | 2017-11-02 | 2018-04-06 | 广东欧珀移动通信有限公司 | 负载功耗测试系统及方法、移动终端 |
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