JPH10508373A - 接触アイランド及び導体路を有する印刷回路基板の検査装置における正しい位置を検査するシステム及び方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 接触アイランド（９５ａ）及び導体路を有した印刷回路基板（２）の、接触アイランド（９５ａ）に接触する接触子（９５ｂ）を有した検査装置における正しい位置についての検査、あるいは、印刷回路基板（２）の正しい位置からの印刷回路基板（２）に平行な方向に沿った偏差の測定を、印刷回路基板（２）が正しい位置にあるとき、接触アイランド（９５ａ）とそれに対応する接触子（９５ｂ）とが互いに中心を一致させることが原則とされるもとで行うシステムであって、少なくとも１個の接触アイランド（９５ａ）及びそれに対応する接触子（９５ｂ）が、印刷回路基板（２）が正しい位置にあるときにおいても、接触アイランド（９５ａ）及び接触子（９５ｂ）のうちの一方に対する他方の設定された片寄りを伴っていて、接触アイランド（９５ａ）と接触子（９５ｂ）との間の接触領域が接触アイランド（９５ａ）の周縁部分に向かって変位することになるものとされる。

Description

【発明の詳細な説明】 接触アイランド及び導体路を有する印刷回路基板の 検査装置における正しい位置を検査するシステム及び方法 この発明は、請求の範囲１又は請求の範囲３５のプリアンブル部分に記載され たシステム及び方法に関する。 技術の発展に伴い、印刷回路基板はその大きさが郵便切手の大きさ以下にまで 小型化されてきているが、それにより、印刷回路基板の検査に際しては、針状の 検査ピンを、望ましくは１００μｍの範囲内の目標に当接させなければならない という問題が生じている。 しかしながら、検査アダプタや印刷回路基板のための固定手段が、印刷回路基 板における検査ポイントパターンに対し、特定の再現可能な調整機能を常に有し ているという保証はない。わずかな偏差であっても、検査ピンパターンもしくは 検査ピン先端パターンを、検査ポイントパターンに正確に一致させることができ なくなるという結果をもたらす虞がある。このような偏差が生じるのは、必要と される公差，位置固定の不正確さ、さらには、検査ポイントパターンと固定手段 とが別個に製造されることに起因する。 序文において記載した方法の一例については、ドイツ特許出願公開第 43 02 5 09 A1 号に記載されている。この方法にあっては、適正な位置に配されるとき、 全ての接触アイランドが対応する接点子に中心を合致せしめられるように配列さ れることになる検査装置が採用されるもとで、印刷回路基板と対応する検査ピン との 相対位置が相異なる二方向に変化し、それにより、斯かる二方向の夫々において 、検査ピンと検査ポイントとの間の導電状態の測定が繰り返され、良好な導電状 態を呈する一つの位置と良好でない導電状態を呈する二つの位置が検出される。 このようにして得られる情報に基づき、検査ピンが、二方向における一方もしく は二方向の夫々において、検査ポイントとの導電状態が最良となるように置かれ る位置として、検査ピンについての所望の接続位置が設定される。その後、検査 ピンが、所望の接続位置をとるべく、印刷回路基板に対して移動せしめられる。 斯かる従来知られた方法の場合、僅かであれば“良好な”状態とされ、また、 大であれば“良好でない”状態とされることになる、印刷回路基板又はそれにお ける検査ポイントと検査ピンとの間の位置偏差（印刷回路基板の位置偏差）の有 無を判定すべく、多くの移動ステップ及び多くの測定が実施されなければならず 、さらに、検査ピンの所望の接続位置への補正移動が行われ、その所望の接続位 置において、さらなる印刷回路基板に対する検査が行わなければならない。従っ て、上述の従来知られた方法は、複雑であり、錯綜していて、比較的長い時間を 要することになる。斯かる方法を実施するための装置については、この出願の明 細書では言及しない。 この出願の出願人による先のドイツ特許出願第 P 44 17 811.5号には、検査ア ダプタにおける検査ピンに対する印刷回路基板又はそれにおける検査ポイントも しくは接触アイランドの位置に関して、印刷回路基板を検査する方法が記載され ている。この方法の場合、印刷回路基板の位置の検査が特定のワークステーショ ンで行われる。斯かる検査にあっては、印刷回路基板が光学的に測 定され、印刷回路基板の検査ポイントを検査する検査装置における正しい位置か らの印刷回路基板の位置偏差が、調整装置によって調整される。 検査装置は、印刷回路基板が光学的測定の後に供給される特定のワークステー ションと一体化されている。それによって、印刷回路基板の正しい位置への調整 は、検査ピンの検査用端部が調整装置によって変位せしめられるようにして実行 される。この既に知られた方法は、利点が得られるものではあるが、次の二つの 理由から、更なる改良が必要とされている。 第１の理由は、印刷回路基板についての光学的測定が行われることにより、装 置に要される費用及び実施に際して要される費用が比較的大とされることである 。また、第２の理由は、光学的測定の後に、印刷回路基板を検査装置へと搬送し て検査装置に位置決めするに際し、位置偏差が不可避的に生じて、測定ステーシ ョンにおいて得られた測定データが、検査装置における印刷回路基板の位置に正 確に合致するものでなくなり、それによって、更なる位置偏差がまねかれてしま う虞があることである。 これに関連して、刊行物:IBM TECHNICAL DISCLOSURE BULLETINには、印刷回路 基板上に検査装置を案内する際に補正可能とされる、センサの位置偏差を自動的 に検出する手法について概略的に記載されている。斯かる手法の場合、検査ポイ ントは接触アイランドによって包囲されており、センサの位置の適正位置からの 偏差は接触アイランドとの電気的接触によって示される。 この発明の目的は、検査装置に対する印刷回路基板又はそれにおける接触ポイ ントの位置の検査もしくは測定を、より簡単に行えることになる、序文において 記載した類のシステム及び方法を 提供することにある。 この目的は、請求の範囲１又は請求の範囲３５における特徴部分に記載された 事柄によって達成される。 この発明に係るシステム及びこの発明に係る方法によれば、印刷回路基板の位 置の検査は、印刷回路基板における接触アイランドの寸法の半分より小なるもの とされる、接触アイランドに対するそれに当接する接触子の設定された片寄り（ 接触アイランドに対する接触子のオフセット）が設けられたもとで行われる。こ の発明に基づく接触アイランドに対する接触子の設定された片寄りが設けられた もとで位置の検査が行われる際には、接触アイランドに対する接触子の設定され た片寄りがあることにより、ドイツ特許出願公開第 43 02 509 A1 号に記載され た方法による場合の如くに、接触アイランドに対する接触子の設定された片寄り が無い場合に比して、良好でない導電性接触状態あるいは非接触状態が生じ易く 、印刷回路基板の位置偏差の状態が、実質的に、ピン状の接触子が接触アイラン ドのエッジ領域に当接しているにすぎない状態に限られることになる。 このように、この発明に基づく接触アイランドに対する接触子の設定された片 寄りが設けられることにより、ドイツ特許出願公開第 43 02 509 A1 号に記載さ れた方法において行われる如くの、接触アイランドに対する接触子の移動を要す ることなく、接触アイランドに接触子が当接しなくなる程度に大なる位置偏差を 生じさせることができるのである。即ち、接触アイランドに対する接触子の片寄 りが設定されるもとにより、接触アイランドに対して接触子を片寄らせる移動を 必要とすることなく、位置偏差の基準を設定できるのであり、それによって、こ の発明に係る方法は著 しく簡略化される。位置偏差の検出のためには、電子的評価装置、例えば、電子 回路が備えられる。 この発明の範囲を外れることなく、ドイツ特許出願公開第 4302 509 A1 号に 記載された方法において行われる如くの、接触アイランドに対して接触子を片寄 らせる移動を、一回もしくは複数回行って、位置偏差を測定することも可能であ るが、この発明にあっては、斯かる接触アイランドに対して接触子を片寄らせる 移動を行うことなく、一回の測定だけでも、所望の目標を達成することができる ことに価値がある。ここで言う所望の目標とは、検査装置に対する印刷回路基板 の位置について、その位置偏差が“良好な”状態にあるか“良好でない”状態に あるかを判定することである。 この発明に従って、位置偏差が“良好な”状態にあるとの判定がなされた場合 には、印刷回路基板における接触アイランドに関連した他の電気的検査を、例え ば、位置偏差が“良好な”状態にあるとの判定がなされた当該接触アイランドに おいて直接行うことができる。一方、位置偏差が“良好でない”状態にあるとの 判定がなされた場合には、印刷回路基板を検査装置から排除できることになる。 しかしながら、好ましくは、この発明のさらに他の特徴に従って、後述される補 正移動によって印刷回路基板の位置補正もしくは接触子の位置補正が行われるよ うにされる。 この発明によって達成される事柄、即ち、印刷回路基板における接触ポイント もしくは接触アイランドに当接する少なくとも一つの接触子に対して印刷回路基 板を正確に位置決めすることは、印刷回路基板上に種々の電子部品を取付装置に よって取り付ける場合にも適用され得ることである。即ち、この発明に係るシス テ ム及び方法は、印刷回路基板の検査装置のみならず、印刷回路基板に対する部品 取付けを行う取付装置にも有効に利用できるのである。 印刷回路基板の小型化が図られる程、それにおける接触アイランド及びそれら の間の間隔も一層小とされ、従って、印刷回路基板上に、例えば、ＩＣ先端（集 積回路部品）等部品が不正確に取り付けられると、不所望な箇所への誤接触や短 絡事故が生じることになる虞がある。このような欠陥を除去すべく、印刷回路基 板が正しい位置にあるか否か光学的検査装置あるいは光学的測定装置を用いて視 覚的に検査することができる部品取付装置が既に提案されている。斯かる部品取 付装置にあっては、印刷回路基板の位置の修正が必要とされる場合、手動設定調 整装置が用いられて印刷回路基板とそれに取り付けられる取付部品とが相対的に 変位せしめられることにより、印刷回路基板の位置が手動修正される。しかしな がら、このような方策がとられる場合には、部品取付けがなされた印刷回路基板 の製造コストが嵩むとともに製造に要される時間が増大することになり、さらに は、部品取付けがなされた印刷回路基板の製造に携わるオペレータに格別の注意 力が要求されることになる。 そこで、この発明は、請求の範囲４６におけるプリアンブル部に記載された如 くの部品取付装置を、それに対する印刷回路基板もしくはそれにおける接触アイ ランドの位置についての検査を、極めて簡単に行うことができるものとして提供 することも目的とする。この目的は、請求の範囲４６における特徴部分に記載さ れた事柄により達成される。斯かる部品取付装置によって得られる利点も、既に 述べられたこの発明に基づく利点と同様である。 印刷回路基板に関する特定の製造方法，移送方法及び位置決め方法をとること により、印刷回路基板の位置偏差が常時一定の方向に生じるように設定すること ができる。このような一定の方向に沿った位置偏差についての検査が行われるに あたっては、一つの接触アイランド及び接触子の対について、この発明で言う接 触アイランドに対する接触子の片寄りが検出されることで足り、それによって印 刷回路基板の位置偏差が明瞭に検出される。 それに対して、印刷回路基板の位置偏差がいくつかの異なる方向に沿って行わ れるときには、複数の接触アイランド及び接触子の対が必要とされる。斯かる際 には、この発明で言う接触アイランド及び接触子の対が３個、仮想三角形におけ る各頂角に位置するものとされる配置、あるいは、この発明で言う接触アイラン ド及び接触子の対が４個、各接触アイランド及び接触子の対における接触アイラ ンドに対する接触子の片寄りが異なった方向に沿うものとされて互いに交差し、 好ましくは直角に交差することになる、平行四辺形，長方形もしくは正方形にお ける各頂角に位置するものとされる配置がとられることが望ましい。 このようにして、この発明によれば、印刷回路基板の回転を伴わない変位によ る位置偏差及び回転変位による位置偏差の両方が、容易に検出され得ることにな る。 また、この発明は、印刷回路基板の位置偏差が生じている方向についての容易 かつ正確な測定を可能にする。その際における基準は、予め設けられる接触アイ ランドに対する接触子の設定された片寄りであり、この接触アイランドに対する 接触子の設定された片寄りの方向は、検査装置における評価手段に記憶され、従 って、簡単に検出できるのみならず、信号として直接に取り扱える ものとされる。 さらに、この発明は、印刷回路基板における接触アイランドに対する接触子の 接触が良好でない状態、あるいは、接触アイランドに接触子が接触しない状態が 生じたとき、印刷回路基板の位置偏差が、それに続く他の検査段階において、接 触アイランドに対する接触子の接触が十分な信頼性をもって適切になされるよう に、あるいは、その後接触アイランドに対する電子部品の取付けがなされる際に は、適正な部品取付けが行われるように、調整装置によって修正されることにな る設定もしくは調整を、容易にしかも十分な信頼性をもって行うことを可能とす る。 それに加えて、請求の範囲３３及び３４に係るこの発明は、この発明に係る特 徴を有した検査装置及び印刷回路基板にも関連している。 この出願における請求の範囲の従属項は、印刷回路基板の位置偏差の測定及び 印刷回路基板における接触アイランドに対する検査をさらに改善し、安定した信 頼性の高い機能を提供し、さらに、コンパクトな構成を提供する特徴を含み、そ れによって、印刷回路基板の位置偏差の測定及び印刷回路基板における接触アイ ランドの検査が、不所望に中断されることなく確実に行われ得るようにされる。 この発明及びこの発明によってもたらされる更なる作用効果及び利点は、以下 に、好ましい実施例及び図面が参照されて詳細に述べられる。 第１図は、印刷回路基板の調整及び検査を行う装置を示す概略正面図である。 第２図は、第１図に示される装置に設けられて、印刷回路基板の調整及び検査 に用いられる装置を示す、第１図における断面II-IIに対応する側面図である。 第３図は、検査に供される印刷回路基板の一例を示す平面図である。 第４図は、この発明に係る装置における調整手段の一例を示す平面図である。 第５図は、この発明に係る装置における調整手段の他の例を示す平面図である 。 第６図は、調整手段のさらに他の例を示す平面図である。 第７図は、第６図における部分断面VII-VIIを示す断面図である。 第８図は、第７図においてＸにより示される部分についての拡大図である。 第９図は、調整手段のさらに別の例を示す平面図である。 第１０図は、検査されるべき印刷回路基板と対応する検査アダプタとの間の位 置偏差を測定する測定システムもしくは測定装置の一例の説明に供される詳細図 である。 第１１図は、第１０図に対応する、測定システムもしくは測定装置の他の例の 説明に供される詳細図である。 第１２図は、第１０図に対応する、測定システムもしくは測定装置のさらに他 の例の説明に供される詳細図である。 第１３図は、第１２図に対応する、測定システムもしくは測定装置の他の例の 説明に供される詳細図である。 第１４図は、第１２図に対応する、測定システムもしくは測定装置のさらに他 の例の説明に供される詳細図である。 第１５図は、検査に供される印刷回路基板の他の例を示す平面図である。 第１６図は、印刷回路基板の正しい位置の検査もしくは印刷回路基板の正しい 位置からの偏差の測定を行う、この発明に係るシステムが適用された、印刷回路 基板に電子部品を取り付ける取付装置の一例を示す断面図である。 第１７図は、取付装置の他の例を示す断面図である。 電子印刷回路基板２の検査を行う装置１の主要部は、印刷回路基板２に対する 検査装置３と、基板分離装置４と、印刷回路基板２に対する測定装置５と、基板 分離装置４から印刷回路基板２を検査装置３に供給する供給装置６と、印刷回路 基板２を検査装置３から送り出す送出し装置７ａ及び７ｂと、送出し装置７ａ及 び７ｂと一体化された特徴付け装置８と、分類された“良品”の印刷回路基板２ 及び“不良品”の印刷回路基板２を夫々受け入れる基板積上装置１１及び１２を 備えた基板分類装置９とを含んで構成されている。 下方装置部分１４及び上方装置部分１５を有した検査設備１３に配置された検 査装置３の主要部は、上下に分かれて配された２個の検査アダプタ１６及び１７ を含んでいる。検査アダプタ１６及び１７は、取付装置１６ａ及び１７ａによっ て、下方装置部分１４及び上方装置部分１５に夫々取り付けられており、互いに 鏡像体的に配されている。さらに、検査装置３の主要部は、検査に供される印刷 回路基板２を検査アダプタ１６と検査アダプタ１７との間において水平に配置す る位置決め装置１９と、印刷回路基板２と検査アダプタ１６及び１７との間にお ける基準位置の調整 を行う調整装置２１ａ及び２１ｂを含んで構成されている（第２図）。 この発明の範囲を外れることなく、検査装置３は、水平位置以外の位置、例え ば、垂直位置に置かれた印刷回路基板２に対する検査を行うものとしても設定可 能とされる。また、検査装置３は、両面に検査ポイント２２ａ及び２２ｂが設け られた印刷回路基板２に対する検査を行うものとされているが、印刷回路基板２ における片面だけの検査を行うものとしての設定も可能とされる。ここで述べら れている検査ポイント２２ａ及び２２ｂは、当該技術分野の言語で、接触アイラ ンド、あるいは、接触パッドとも呼ばれる。 印刷回路基板２の検査装置３への供給，検査装置３からの送出し及び検査装置 ３における位置決め、さらには、印刷回路基板２についての測定をより容易にす るため、検査アダプタ１６及び１７が、印刷回路基板２から横方向に離隔せしめ られ、あるいは、相互離隔し得るものとされて、印刷回路基板２が、検査アダプ タ１６と検査アダプタ１７との間に挿入される状態、あるいは、検査アダプタ１ ６と検査アダプタ１７との間から排除される状態がとられる。そのため、検査設 備１３における下方装置部分１４及び上方装置部分１５のうちの一方もしくは両 者が、変位可能に取り付けられている。 第２図に示される構成にあっては、上方装置部分１５が変位可能に取り付けら れており、その作動側あるいは前方側端部２３とは反対側の部分において回動可 能に取り付けられている。即ち、上方装置部分１５は、その後方側端部において 水平方向に伸びる連結軸２４によって軸支され、駆動装置２６、例えば、ピスト ン 及びシリンダ駆動装置により駆動されて、連結軸２４を回動中心とする軸旋回を 行い、第２図に示される作動位置と上方に変位した解放位置（図示せず）との間 を移動できるものとされるとともに、作動位置及び解放位置の夫々において静止 できるものとされる。 そして、相互に関連する検査装置部分３ａ及び３ｂ、及び、独立した測定装置 ５ａ及び５ｂが、夫々、検査設備１３における下方装置部分１４及び上方装置部 分１５に取り付けられている。上方検査装置部分３ｂは、上述のようにして、上 下方向に移動できるように配置されている。下方検査装置部分３ａも、以下に述 べられる如くにして、垂直方向の位置調整ができるものとされる。そのため、テ ーブル状とされたキャリア２７が、ストローク装置２８、例えば、空気もしくは 油圧ピストン／シリンダ装置によって垂直方向の位置調整が行われるものとして 備えられている。 下方装置部分１４、従って、キャリア２７、及び、上方装置部分１５は、夫々 、下側に設けられた配置面３１及び上側に設けられた配置面３２を有している。 これらの配置面３１及び３２の各々は、平面あるいはテーブル面とされ、第２図 にあっては、配置面３１に検査アダプタ１６が取付装置ｌ６ａによって、堅固に ではあるが着脱可能に固定され、また、配置面３２に検査アダプタ１７が取付装 置１７ａによって、堅固にではあるが着脱可能に固定されている。 検査装置部分３ａ及び３ｂには、検査ピン３３を有した検査アダプタ１６及び １７が各々付属している。検査アダプタ１６及び１７の夫々に備えられた検査ピ ン３３は、透孔（案内孔）３４を通じて検査アダプタ１６及び１７を貫通してい る。さらに、検査 ピン３３は、印刷回路基板２から離れた方の端部に球状ヘッド部３５が設けられ ており、その長さが検査アダプタ１６及び１７の夫々の厚みより多少大なるもの とされている。 また、検査装置部分３ａ及び３ｂには、検査ピン３３の球状ヘッド部３５に接 触するための椀形帽状とされた接触接点３８及び３９を有した検査モジュール３ ６及び３７が、夫々設けられている。上方の検査モジュール３７は、軸旋回可能 とされた上方装置部分１５内に配され、また、下方の検査モジュール３６は、下 方装置部分１４内であって、キャリア２７上もしくはキャリア２７中に配されて いる。検査モジュール３６及び３７は、信号線及び制御線（図示せず）を通じて 、電子制御装置３６ａ及び３７ａに夫々接続されており、これら電子制御装置３ ６ａ及び３７ａは、印刷回路基板２についての検査を可能にし、また、印刷回路 基板２の欠陥に関する表示を行うインジケータ素子を具備するであろう総合制御 装置である検査装置３内に統合されている。 このようなもとで、印刷回路基板２についての検査が行われる際には、従前と 同様に、検査ピン３３を通じる電流が流される。 印刷回路基板２の両面の夫々についての検査が行われるときには、印刷回路基 板２の一方の面に対して、検査装置部分３ａ及び測定装置５ａが設けられるとと もに、印刷回路基板２の他方の面に対して、検査装置部分３ｂ及び測定装置５ｂ が設けられる。 検査装置部分３ａと検査装置部分３ｂ，検査モジュール３６と検査モジュール ３７、及び、測定装置５ａと測定装置５ｂとの夫々は、実質的に同一のものであ って、検査装置部分３ａ，検査モジュール３６及び測定装置５ａと検査装置部分 ３ｂ，検査モジュール３７及び測定装置５ｂとは、鏡像体的に相互対向配置され る。 しかしながら、検査装置部分３ａ，検査モジュール３６及び測定装置５ａと検査 装置部分３ｂ，検査モジュール３７及び測定装置５ｂとは、印刷回路基板２に接 触する特定の方法に関しては、相互に異なることになり、それについては後述さ れる。 印刷回路基板２についての検査中にあっては、各検査ピン３３は、その円錐形 の先端部を印刷回路基板２における検査ポイント２２ａ及び２２ｂに当接させる 状態におかれる。検査ポイント２２ａ及び２２ｂの各々は、少なくとも部分的に は、格子配置から外れた配置状態（“オフグリッド”）におかれ、それに対して 、検査モジュール３６及び３７が夫々有する接触接点３８及び３９の各々は、格 子配置状態（“イングリッド”）におかれているので、少なくとも検査ピン３３ のうちの一部のもの及びそれらが貫通する透孔（案内孔）３４は、垂直方向に対 して斜めに伸びるように変位せしめられることが要求される。 検査装置３における位置決め装置１９によって印刷回路基板２を位置決めすべ く、印刷回路基板２の検査装置３に対する位置を規制する位置決め手段が備えら れている。斯かる位置決め手段は、印刷回路基板２の下方装置部分１４もしくは キャリア２７の上面上に配された下側の検査アダプタ１６に対する位置を規制す るものとされる。そのため、具体的には、各々が円形断面を有するものとされた ２本の位置決めピン４１が、所定の相互間距離をおいて立設され、それに対して 、印刷回路基板２がそれに設けられた２個の係合孔４２を２本の位置決めピン４ １に夫々係合させる状態をもって配される。位置決めピン４１は、下側の検査ア ダプタ１６に固定されて配置されていて、略印刷回路基板２の厚みに対応する長 さだけ検査アダプタ１６から上方に突出している。そし て、印刷回路基板２が検査アダプタ１６上に配されるとき、印刷回路基板２に設 けられた係合孔４２が位置決めピン４１に容易に係合できるようにすべく、位置 決めピン４１の自由端は円錐状に尖った形状、もしくは、丸みが付けられた形状 とされている。 印刷回路基板２における検査ポイント２２ａ及び２２ｂは、各々が小であって 均一な寸法を有し、また、相互間距離が極めて小とされるので、検査ピン先端パ ターン４０ａ及び４０ｂとそれらに夫々対応する検査ポイントパターン４３ａ及 び４３ｂ（パッドパターン）とは、厳格な正確さをもって一致せしめられること が必要とされ、そうでない場合には、誤接触を生じてしまう危険性がある。 しかしながら、種々の原因により、検査装置３において、検査ピン先端パター ン４０ａ及び４０ｂとそれらに夫々対応する検査ポイントパターン４３ａ及び４ ３ｂとの間の相違、即ち、位置偏差が生じることになる。例えば、斯かる相違、 即ち、位置偏差は、印刷回路基板２の製造公差や印刷回路基板２の取付けの正確 さに起因しても生じることがある。 印刷回路基板２が係合孔４２により位置決めされるにあたって生じる上述の位 置偏差については、印刷回路基板２の片面もしくは両面における検査ポイントパ ターン４３ａ及び４３ｂの一方もしくは双方に対して、係合孔４２が所望の位置 でなく所望の位置からずれた位置に設けられることも原因となる。 このような不都合に対処すべく、この発明にあっては、検査ピン先端パターン ４０ａ及び４０ｂとそれらに夫々対応する検査ポイントパターン４３ａ及び４３ ｂとを所望の位置関係におくことができることになる、少なくとも一つの調整装 置が備えられる。 斯かる調整装置による位置調整は、印刷回路基板２の両面に検査ポイントパタ ーン４３ａ及び４３ｂが設けられたもとにおいて、印刷回路基板２と検査ピン先 端パターン４０ａ及び４０ｂ、もしくは、検査ピン先端パターン４０ａ及び４０ ｂ及び検査アダプタ１６及び１７のうちの一方もしくは両方との間の相対変位及 び位置決めが行われることによってなされる。具体的には、検査アダプタ１６及 び１７の一方もしくは双方，検査ピン先端パターン４０ａ及び４０ｂの一方もし くは双方、及び／又は、検査ポイントパターン４３ａ及び４３ｂの一方もしくは 双方についての位置調整によって行われ、斯かる位置調整は、調整装置２１ａ及 び２１ｂの一方もしくは双方を手動により、あるいは、電動機構により自動的に 動作させることによって、機械的に実行される。 検査ポイントパターン４３ａ及び４３ｂに対する検査ピン先端パターン４０ａ 及び４０ｂについての調整装置２１ａ及び２１ｂによる位置調整により、各検査 ピン３３の先端は、検査ポイントパターン４３ａ及び４３ｂに一致する位置に変 位せしめられるとともに、変位せしめられた位置に固定される。このような位置 調整は、印刷回路基板２の片面に対して、あるいは、印刷回路基板２の両面の夫 々に対して独立に行われる。その際、生じる虞のある誤差を補償するには、調整 対象である各検査ピン３３の先端あるいは検査ポイントパターン４３ａ及び４３ ｂを、回転を伴わない変位及び／又は回転変位が可能なものとなすことが必要と される。そのため、各検査ピン３３の先端が適合する透孔を通じて貫通する調整 板４４及び４５が設けられており、斯かる調整板４４及び４５は、回転を伴わな い変位及び回転変位による位置調整が行われて、調整された位置に固定される。 調整板４４及び４５の 位置調整は、検査ピン先端パターン４０ａ及び４０ｂの実際の位置と検査ポイン トパターン４３ａ及び４３ｂの位置との間の差に応じて行われ、それによって、 検査ピン先端パターン４０ａ及び４０ｂが、検査ポイントパターン４３ａ及び４ ３ｂに実質的に一致することになる適正な位置におかれることになる。 調整装置２１ａ及び２１ｂの制御は、制御装置３６ａ及び３７ａに統合され、 測定装置５ａ及び５ｂに連結された電気回路、及び、第２図にのみ示されている 制御線Ｓ１及びＳ２により、測定装置５ａ及び５ｂによって検出された位置偏差 に応じて行われる。制御線Ｓ１及びＳ２は、調整装置２１ａ及び２１ｂに連結さ れた調整モータに接続されている。 調整装置２１ａ及び２１ｂの夫々は、３個の変位装置４６ａ，４６ｂ及び４６ ｃを有しており、それらによって、調整板４４及び４５が回転を伴わない変位及 び回転変位による調整、即ち、調整板４４及び４５の夫々を含む面内におけるあ らゆる方向における調整が行われて、調整された位置に固定される。 第４図に示される構成においては、変位装置４６ａ，４６ｂ及び４６ｃの夫々 が、長さ調整可能な伸縮ロッド４７が用いられて構成されている。伸縮ロッド４ ７は、その一端部が検査装置３における検査アダプタ１６もしくは１７に、また 、その他端部が検査装置３における変位可能な調整板４４もしくは４５に、夫々 、調整板４４もしくは４５に対して直交する方向に伸びる結合軸を有した連結部 ４８ａ，４８ｂ，４８ｃ，４８ｄ及び４８ｅを介して軸旋回可能に取り付けられ ていて、伸長状態と収縮状態とを選択的にとる。伸縮ロッド４７ｃの他端は、伸 縮ロッド４７ｂの他端と共通の連結部（二重連結部）を介して調整板４４もしく は４ ５に取り付けられてもよい。伸縮ロッド４７ａ，４７ｂ及び４７ｃの夫々は、伸 縮が停止される各変位位置において、その長さが固定される状態におかれ、それ によって、変位可能な調整板４４もしくは４５が各変位位置に維持される。 第５図に示される構成にあっては、伸縮ロッドに代えて、関節連結部５２ａ， ５２ｂ及び５２ｃを夫々有した３つの関節ロッド５１ａ，５１ｂ及び５１ｃが用 いられて構成されている。３つの関節ロッド５１ａ，５１ｂ及び５１ｃにおける 関節腕部５１ｄ，５１ｅ及び５１ｆの一端部に夫々設けられた連結部４８ａ，４ ８ｂ及び４８ｃは、検査装置３における検査アダプタ１６もしくは１７に固定さ れた旋回駆動部５３ａ，５３ｂ及び５３ｃに夫々連結されている。旋回駆動部５ ３ａ，５３ｂ及び５３ｃは、各々が円によって強調されて示されており、夫々、 関節ロッド５１ａ，５１ｂ及び５１ｃにおける関節腕部５１ｄ，５１ｅ及び５１ ｆを軸旋回させる。斯かる機構が用いられる場合にあっても、変位可能な調整板 ４４もしくは４５が各変位位置に維持される。 第４図及び第５図に示される構成にあっては、調整板４４もしくは４５が変位 可能な部分とされているが、検査アダプタ１６もしくは１７、あるいは、印刷回 路基板２が、変位可能な部分とされてもよい。 第６図及び第７図示される構成にあっては、変位装置４６ａ，４６ｂ及び４６ ｃの夫々が、調整プレート４４及び４５の夫々及び検査アダプタ１６及び１７の 夫々に設けられた、互いに交差して伸びて上下方向に重ねられて配置される２つ の案内溝５４及び５５によって構成されている。案内溝５４及び５５内において は、共通のスライド部材５６が、変位駆動手段である、スライド部材 ５６上に設けられた下側付属部５６ａを貫通する螺子軸部材５０により駆動され て、２つの案内溝５４及び５５のうちの一方、具体的には、検査アダプタ１６も しくは１７に設けられた案内溝５４の長手方向に沿って移動できるものとされて いる。変位駆動手段である螺子軸部材５０は、螺子軸頭部５７が回転せしめられ ることにより手動で、あるいは、モータ５８によって機械的に、作動せしめられ る。 案内溝５４及び５５の長さは、所望の回転を伴わない変位及び回転変位が調整 範囲に入ることになるものでなければならない。そのため、案内溝５５内におい てスライド部材５６が回転可能とされることが必要とされる。案内溝５５内にお いてスライド部材５６が回転可能とされる状態は、スライド部材５６における案 内溝５５に係合する部分を丸ピン状に形成することにより確実に得られる。案内 溝５４内では、スライド部材５６は、スライディング面上を移動する矩形板上部 材とされていて、直線状の低摩耗軸受部が設けられる。斯かる状態は、円形断面 を有してその直径が案内溝５５の幅より小とされるピン５９が、矩形スライド部 ５６ｂに回転可能に取り付けられ、案内溝５５に係合するとともにピン５９を受 ける取付孔６１に係合するものとされるもとにより実現される。螺子軸部材５０ は、検査装置３における検査アダプタ１６上において２個の支持部により軸方向 に支持されているので、必要な軸方向の変位力を作用させることができる。 案内溝５４と案内溝５５との間の角度Ｗは、調整板４４及び４５が、移動でき なくなる状態をまねくことなく、横方向に変位することができるものとなる値、 例えば、約１０°に選定される。 変位装置４６ａと変位装置４６ｂとは、螺子軸部材５０の向き が逆になっていることのみ相違し、従って、変位装置４６ａ及び変位装置４６ｂ が手動によって変位せしめられる際には、夫々の螺子軸部材５０が相互対向する 方向から駆動される。 変位装置４６ａ，４６ｂ及び４６ｃは、各々が互いに離隔せしめられて、調整 板４４及び４５のエッジ部分に三角形を成すようにして配置されるのが好ましい 。 変位装置４６ｃは、その作動方向（矢印参照）が他の２個の変位装置４６ａ及 び４６ｂの夫々の作動方向（矢印参照）に対して直交することになる状態のもと に配置され、それにより、変位装置４６ｃにおける螺子軸部材５０は、変位装置 ４６ａ及び４６ｂの夫々の螺子軸部材５０が伸びる方向に直交する方向に伸びて いる。 手動変位及び調整のためには、読取り目盛、例えば、マイクロメータ螺子目盛 を変位装置４６ａ，４６ｂ及び４６ｃに取り付けると、微調整に際して都合がよ い。 第７図に示される部分断面から分かるように、上側の調整板４５に対する変位 装置４６ａ，４６ｂ及び４６ｃの夫々は、水平方向に配された印刷回路基板２を 挾んで鏡像体的に配置されている。第７図にあっては、簡略化のため、変位装置 ４６ａ，４６ｂ及び４６ｃのうちの変位装置４６ａのみがに示されているが、他 の２個の変位装置４６ｂ及び４６ｃも変位装置４６ａと同様に配置される。 印刷回路基板２と上側の調整板４５との間に間隔が設けられている第２図に示 される状態とは異なって、第７図にあっては、上側の調整板４５は検査されるべ き印刷回路基板２上に載置されている。そして、第７図には、印刷回路基板２に ついての検査のた めの変位手段が、以下に述べられる如くに含まれている。 第７図において、位置決めピン４１が、下側の検査アダプタ１６に、透孔４１ ａを貫通する状態で固定されている。位置決めピン４１の上部円筒状端部は断面 が先細にされており、上部位置決め部分４１ｂの断面の径より幾分大なる径を有 した透孔６５を通じて下部の調整板４４を貫通する。その際、調整板４４は、“ 遊び”の範囲で選択的な変位及び調整が可能とされる。上側の検査アダプタ１７ 及び上側の調整板４５には、透孔６６が設けられており、円錐状とされた先端部 もしくは丸められた先端部を有した上部位置決め部分４１ｂが、“遊び”の範囲 での横方向の移動を伴って、透孔６６内に挿入される。それにより、下側の調整 板４４の変位及び調整とは関係なく、上側の調整板４５についての選択的変位及 び調整も可能とされる。 これらの検査アダプタ１６及び１７は、間隔形成枠状もしくは帯状部材６７の 如くの間隔形成部材が周縁部分に配されて固定され、所定の間隔をおいて平行に 配された複数、例えば、３〜５枚の案内板を有した、所謂、多板アダプタとして 形成されている。第７図に示される複数の案内板にあっては、調整板４４及び４ ５に最も近接して配されたものが符号６８をもって示され、中間に配されたもの が符号６９をもって示されており、さらに、最も外側のものが符号７１をもって 示されている。これらの案内板は、互いに異なる複数の間隔をおいて配置され得 るものである。第７図及び第８図から理解できるように、各検査ピン３３は、印 刷回路基板２に対向する円錐状とされた先端部側に向けて先細りとされた円筒状 部分３３ａ及び３３ｂを有して形成されている。 より具体的には、各検査ピン３３を形成する円筒状部分３３ａ 及び３３ｂは、円筒状部分３３ａの直径が円筒状部分３３ｂの直径より大であり 、大なる直径を有した円筒状部分３３ａが、透孔３４を通じて案内板６９及び７ １を貫通し、また、小なる直径を有した円筒状部分３３ｂが、小径の透孔３４を 通じて案内板６８を貫通するものとされている。透孔３４は、検査アダプタ１６ 及び１７の組付けもしくは取付けがなされる前に、案内板６８，６９及び７１の 夫々に、それに対して直交する方向に形成された筒状孔である。検査ピン３３が 斜めに延びる場合には、それに対応する透孔３４は、相応に大なる直径を有した ものとされ、それにより、検査ピン３３は、調整移動のためのわずかな“遊び” をもって、透孔３４の内壁面部により案内される。 調整板４４及び４５における案内孔７２も、透孔３４と同様に形成される。即 ち、調整板４４及び４５の夫々に、それに対して直交する方向に形成された筒状 孔とされて、斜めに延びる検査ピン３３に関わる案内孔７２は、相応に大なる直 径を有するものとされる。そして、検査ピン３３が、案内孔７２を斜めに貫通し 、案内孔７２の下側エッジ部及び上側エッジ部における案内を受ける状態におか れる。案内孔７２内における検査ピン３３の位置決めを良好にするためには、案 内孔７２の直径と検査ピン３３における円筒状部分３３ｂの直径との差をできく だけ小となすのが有利である。従って、案内孔７２の長さを、有効案内領域ａま で減少させることが望ましい。第７図に示される如くの厚みを有する調整板４４ 及び４５にあっては、有効案内領域ａは、調整板４４及び４５の内側に拡大孔部 ７２ａが設けられることによって、印刷回路基板２の近傍に配されるように形成 される。拡大孔部７２ａは、その直径が大とされて、上側エッジ部７２ｂが検査 ピン３ ３の外表面に触れ、移動を可能とする僅かな遊びをもって検査ピン３３を案内す るものとされるときには、検査ピン３３の位置決めに関与し得ることになる。第 ８図における左側の部分に示される如く、調整板４４もしくは４５に対して略直 角に延びる検査ピン３３が貫通する案内孔７２においても、それに対応する拡大 孔部７２ｃが設けられる。 検査ピン３３は細く、従って、弾性的に屈曲可能とされるので、少なくとも案 内板６８における透孔３４にあっては、検査ピン３３を移動させるための半径方 向の遊びは必要とされない。さらに、少なくとも調整板４４もしくは４５に近接 した案内板６８における案内孔３４を、検査ピン３３における検査端が調整板４ ４もしくは４５によって調整されるに足る程度の“遊び”を伴う寸法となすこと が望ましい。 検査ピン３３の長さ１は、調整板４４もしくは４５の厚みｃと検査アダプタ１ ６もしくは１７における対応する寸法ｂとの和より多少大とされる。その結果、 検査ピン３３の先端部が印刷回路基板２あるいは印刷回路基板２における検査ポ イント２２ａもしくは２２ｂに当接しているとき、球状ヘッド部３５は検査アダ プタ１６もしくは１７から離隔した位置に置かれる。 第９図に示される調整装置２１ａもしくは２１ｂの具体例にあっては、特定の 構成及び機能を有した調整板４４もしくは４５が備えられている。斯かる調整板 ４４もしくは４５においては、変位装置４６ａ，４６ｂ及び４６ｃが、それらの 変位方向７８，７９及び８１を横切るように配されて移動可能とされ、柔軟性を 有してしなやかなものとされた、調整板４４もしくは４５の可動部分７５，７６ 及び７７に夫々係合している。変位方向７８，７９ 及び８１を横切る方向における調整板４４もしくは４５の駆動は行われず、それ によって、調整板４４もしくは４５の可動部分７５，７６及び７７に不所望な曲 げモーメントがもたらされず、また、変位方向７８，７９及び８１における変位 移動が実質的に変化しないものとされる。 これは、変位方向７８，７９及び８１を横切るように配された可動部分７５， ７６及び７７が、振り子を形成するように調整板４４もしくは４５に連結されて 、移動可能とされることにより達成されている。これらの可動部分７５，７６及 び７７は、曲げやすく、各々がジョイント部８２ａ，８２ｂ及び８２ｃによって 調整板４４もしくは４５に接続された、細長い伸縮ロッドによって形成されても よい。第９図に示される構成にあっては、可動部分７５，７６及び７７は、各々 が金属もしくはプラスチックの板状部材８５から打ち抜かれた舌片状部材として 形成されている。 斯かる３個の舌片状部材は、各々の一端が夫々比較的狭い連結部８６ａ，８６ ｂ及び８６ｃによって板状部材８５に連結されている。３個の舌片状部材を夫々 包囲するＣ字形の自由空間８５ａ，８５ｂ及び８５ｃが形成されていることによ り、各舌片状部材は、その長手方向に横切るように曲げ変形、あるいは、反り変 形を行えるものとされている。変位装置４６ａ，４６ｂ及び４６ｃは、夫々、３ 個の舌片状部材に、ジョイント部８２ａ，８２ｂ及び８２ｃから離隔したそれら の端部において、係合している。変位装置４６ａ，４６ｂ及び４６ｃの夫々は、 螺子軸部材によって形成されており、その螺子軸部材の一端が舌片状部材に連結 され、わずかに軸旋回できるものとされる。変位装置４６ａ，４６ｂ及び４６ｃ の各々は、板状部材８５に直交して延び、検査装置部分３ ｂ，検査設備１３及び／又は検査アダプタ１６もしくは１７に回転可能に取り付 けられた駆動軸８７を有した偏心駆動装置を備えている。駆動軸８７は、舌片状 部材に設けられた相応の寸法を有した透孔８９内の偏心駆動ピン８８に係合して いる。駆動軸８７が、例えば、螺子軸部材９１を含むウォーム駆動装置によって 回転せしめられることにより、偏心駆動ピン８８が駆動軸８７の中心軸の周りを 回転し、それによって、板状部材８５が、変位方向７８に沿って変位するととも に、変位方向７８における移動に実質的影響を及ぼすことなく、舌片状部材を持 ち上げる屈曲移動を行う。螺子軸部材９１は、螺子軸頭部５７が回転せしめられ ることにより手動で、あるいは、モータ５８によって機械的に、作動せしめられ る。特に、手動で作動せしめられる場合、螺子軸部材９１は、調整板４４もしく は４５を形成する板状部材８５が、所定の横方向の移動及び任意の点を中心にし た回転移動により変位せしめられて調整される、検査アダプタ１６もしくは１７ の周縁部分にまで伸びる。 ３個の変位方向のうちの２個である変位方向７８及び７９が互いに平行となる ようにされるとともに、３個の変位方向のうちの残りの１個である変位方向７７ が変位方向７８及び７９を横切るように、取り分け、変位方向７８及び７９に直 交するようにされることが望ましい。板状部材８５が正方形もしくは矩形をなす 場合、調整板４４もしくは４５を形成する板状部材８５の周縁部分、あるいは、 検査アダプタ１６もしくは１７の周縁部分に、変位装置４６ａ，４６ｂ及び４６ ｃを伴った舌片状部材を配置し、第６図に示される具体例に関して述べられた如 くにして、位置調整を行うのが得策である。 印刷回路基板２の両面に対して夫々配置される測定装置５ａ及び５ｂは、原則 として、同様にあるいは鏡像体的に形成され、同様に機能するものとされる。従 って、それらの配置，構成及び機能を理解し、それらを実現するにあたっては、 以下の測定装置５ｂのみについての説明で充分と考えられる。測定装置５ａ及び ５ｂの夫々は、印刷回路基板２上に設けられる接触要素９５ａと検査アダプタ１ ７に設けられる接触要素９５ｂとから成る接触要素対９５（第１０図）を取り扱 う。接触要素９５ａは、接触ポイントもしくは検査ポイント２２ａもしくは２２ ｂとしての寸法を有した接触アイランドを形成する印刷回路基板２上における正 方形もしくは円形の接触面であり、接触要素９５ｂは、実質的に接触要素９５ａ である接触面以下の接触面を有したピンの形態をとる接触子である（以下、接触 要素９５ａを接触アイランド９５ａとしてあらわし、接点要素９５ｂを接触子９ ５ｂとしてあらわす）。 接触アイランド９５ａと接触子９５ｂとは、接触アイランド９５ａの中心点Ｍ ａに対して接触子９５ｂの中心点Ｍｂが矢印により示される方向９６に片寄るよ うに設定され、従って、矢印により示される方向９６における接触アイランド９ ５ａに対する接触子９５ｂに設定された片寄り（オフセット）があるようにされ る。そして、それに対応して、検査ポイントパターン４３ａもしくは４３ｂに対 する検査ピン先端パターン４０ａもしくは４０ｂのオフセットがあることになる 。これらのことは、この発明において重要な意味を持つ。このような矢印により 示される方向９６における接触アイランド９５ａに対する接触子９５ｂのオフセ ットの程度（オフセット量）ｄは、例えば、０．１〜０．５ｍｍとされる接触ア イランド９５ａの寸法ｅの１／４程度に相当する比較的 小なるものとされ、具体的一例にあっては、０．０２５〜０．１２５ｍｍ程度と される。実験結果によれば、接触アイランド９５ａに対する接触子９５ｂのオフ セット量ｄは、０．１ｍｍとされるのが望ましい。 ピンの形態をとる接触子９５ｂは、各検査ピン３３の先端部によって形成され 、従って、検査ピン３３の先端部が印刷回路基板２に当接するとき、接触子９５ ｂが接触アイランド９５ａに当接する状態が得られる。 接触アイランド９５ａに対する接触子９５ｂのオフセットの方向９６は、検査 ポイントパターン４３ａもしくは４３ｂと検査ピン先端パターン４０ａもしくは ４０ｂとの間の位置偏差が生じる方向とされる。斯かる方向は、印刷回路基板２ の製造過程において予め決められる。 上述の接触アイランド９５ａに対する接触子９５ｂのオフセットが設けられる ことにより、検査ポイントパターン４３ａもしくは４３ｂと検査ピン先端パター ン４０ａもしくは４０ｂとの間に存在する位置偏差が、印刷回路基板２の検査を 行うことができる範囲内にあるか否かの判定もしくはそのための測定、あるいは 、検査ポイントパターン４３ａもしくは４３ｂと検査ピン先端パターン４０ａも しくは４０ｂとの間に存在する位置偏差の程度が、検査ポイントパターン４３ａ もしくは４３ｂ及び検査ピン先端パターン４０ａもしくは４０ｂについて、両者 を概ね一致することになる所定の位置をとらせる調整を行うべきものか否かの判 定もしくはそのための測定を、簡単かつ迅速に行うことができることになる。 検査ポイントパターン４３ａもしくは４３ｂと検査ピン先端パ ターン４０ａもしくは４０ｂとの間に存在する位置偏差が、印刷回路基板２の検 査を行うことができる範囲内にあるか否かの判定もしくはそのための測定がなさ れる場合、即ち、検査ポイントパターン４３ａもしくは４３ｂと検査ピン先端パ ターン４０ａもしくは４０ｂとの間に存在する位置偏差が比較的小である場合に あっては、調整を行う前の接触動作過程において、接触子９５ｂが接触アイラン ド９５ａに当接する。その際には、検査ピン３３に接続された電気回路によって 検査ピン３３を通じる電流が流され、制御装置３６ａもしくは３７ａが、検査ポ イントパターン４３ａもしくは４３ｂと検査ピン先端パターン４０ａもしくは４ ０ｂとの間に存在する位置偏差が“良好な”状態にあり、印刷回路基板２の検査 を行うことができることをあらわす信号を自動的に発生する状態が選択的に得ら れる。また、検査ポイントパターン４３ａもしくは４３ｂと検査ピン先端パター ン４０ａもしくは４０ｂとの間に存在する位置偏差の程度が、検査ポイントパタ ーン４３ａもしくは４３ｂ及び検査ピン先端パターン４０ａもしくは４０ｂにつ いて、両者を概ね一致することになる所定の位置をとらせる調整を行うべきもの か否かの判定もしくはそのための測定がなされる場合、即ち、検査ポイントパタ ーン４３ａもしくは４３ｂと検査ピン先端パターン４０ａもしくは４０ｂとの間 に存在する位置偏差が比較的大であって、例えば、接触子９５ｂが接触アイラン ド９５ａに当接しない（従って、検査ピン３３を通じる電流が遮断される）場合 にあっては、制御装置３６ａもしくは３７ａは、検査ポイントパターン４３ａも しくは４３ｂ及び検査ピン先端パターン４０ａもしくは４０ｂについて、両者を できるだけ正確に一致させるための位置をとらせる位置調整を行うべきである ことをあらわす信号を発生する。斯かる位置調整は、手動により、あるいは、自 動的に行われる。 このような位置調整により接触アイランド９５ａに対する接触子９５ｂの片寄 りが低減されることになるが、その位置調整による接触アイランド９５ａと接触 子９５ｂとの間の相対移動９７の方向は、接触アイランド９５ａに対する接触子 ９５ｂのオフセットの方向９６とは反対の方向とされる。接触アイランド９５ａ に対する接触子９５ｂのオフセットの方向９６は予め知られているので、接触ア イランド９５ａに対する接触子９５ｂの片寄りを低減させる、調整による接触ア イランド９５ａと接触子９５ｂとの間の相対移動９７は、その方向と量との両者 についての検出及び測定を行うことができるものとなる。位置調整による接触ア イランド９５ａと接触子９５ｂとの間の相対移動９７の量は、接触アイランド９ ５ａに対する接触子９５ｂのオフセット量ｄに対応するもの、あるいは、接触ア イランド９５ａの中心点Ｍａと接触子９５ｂの中心点Ｍｂとを一致させるべく、 接触アイランド９５ａに対する接触子９５ｂのオフセット量ｄより幾分大なるも のとされ、例えば、接触アイランド９５ａの寸法ｅの半分（ｅ／２）に相当する ようにされる。 検査ポイントパターン４３ａもしくは４３ｂと検査ピン先端パターン４０ａも しくは４０ｂとの間の位置偏差が、接触アイランド９５ａに対する接触子９５ｂ のオフセットの方向９６に平行な方向もしくは一致する方向に生じる場合には、 接触アイランド９５ａと接触子９５ｂとから成る１個の接触要素対９５が得られ る構成（第１０図）で足り、それによって、検査ポイントパターン４３ａもしく は４３ｂと検査ピン先端パターン４０ａもしくは４ ０ｂとの間の位置偏差が生じているか否かの判定、及び、検査ポイントパターン ４３ａもしくは４３ｂ及び検査ピン先端パターン４０ａもしくは４０ｂについて の位置調整を行うべきか否かの判定が、１個の接触要素対９５における接触アイ ランド９５ａに対する１個の接触子９５ｂの当接状態に応じて行われ得るものと される。 第１１図に示される構成にあっては、上述の接触要素対９５に対応する、接触 アイランド９５ａと接触子９５ｂとから成る１個の接触要素対９５．１に加えて 、接触アイランド９５ａと接触子９５ｂとから成る他の接触要素対９５．２が設 けられている。接触要素対９５．２は、接触要素対９５．１から、接触アイラン ド９５ａに対する接触子９５ｂのオフセットの方向９６．１に平行な線Ｇ１に沿 って、間隔ｆをおいた位置に配される。そして、接触要素対９５．２における接 触アイランド９５ａに対する接触子９５ｂのオフセットは、接触要素対９５．１ における接触アイランド９５ａに対する接触子９５ｂのオフセットに対して、オ フセット量ｄは同じとされるが、逆向きに設けられる。このような構成がとられ るもとにあっては、検査ポイントパターン４３ａもしくは４３ｂと検査ピン先端 パターン４０ａもしくは４０ｂとの間の位置偏差が、接触要素対９５．１におけ る接触アイランド９５ａに対する接触子９５ｂのオフセットの方向９６．１とは 逆向きに生じる場合においても、その位置偏差の量が許容範囲内にあるのか許容 範囲外にあるのか（“良好な”状態にあるのか“良好でない”状態にあるのか） の判定、さらには、検査ポイントパターン４３ａもしくは４３ｂ及び検査ピン先 端パターン４０ａもしくは４０ｂについての位置調整に関する判定が可能とされ る。 制御装置３６ａもしくは３７ａは、電子評価回路ＣａもしくはＣｂにより、接 触要素対９５．１における接触アイランド９５ａに対する接触子９５ｂの当接状 況もしくは接触要素対９５．２における接触アイランド９５ａに対する接触子９ ５ｂの当接状況に基づいて、検査ポイントパターン４３ａもしくは４３ｂと検査 ピン先端パターン４０ａもしくは４０ｂとの間の、接触要素対９５．１における 接触アイランド９５ａに対する接触子９５ｂのオフセットの方向９６．１もしく は接触要素対９５．２における接触アイランド９５ａに対する接触子９５ｂのオ フセットの方向９６．２に沿った位置偏差が、許容範囲内にあるのか許容範囲外 にあるのか（“良好な”状態にあるのか“良好でない”状態にあるのか）を認識 することができ、また、許容範囲内にあるとき（“良好な”状態にあるとき）に は、その旨をあらわす信号を発生して、それを調整装置２１ａもしくは２１ｂに 向けて送出し、それによって、適切な調整移動による位置変位及び位置調整が行 われるようになすことができる。このことは、制御装置３６ａもしくは３７ａが 、接触要素対９５．１における接触アイランド９５ａに対する接触子９５ｂの当 接状況、及び、接触要素対９５．２における接触アイランド９５ａに対する接触 子９５ｂの当接状況に基づいて、オフセットの方向９６．１及び９６．２を認識 することにより行われる。その際における認識機能及び制御機能は、制御装置に おける電気回路の中に組み込まれている。また、上述の位置偏差に関する判定は 、接触要素対９５．１及び９５．２の夫々における接触アイランド９５ａに対す る接触子９５ｂの当接が１回実行されるだけで行われ得ることになる。 第１２図に示される構成にあっては、４個の接触要素対９５． １，９５．２，９５．３及び９５．４が、矩形における四隅部分となる位置に設 けられている。接触要素対９５．１における接触アイランドに対する接触子９５ ｂのオフセットの方向９６．１と接触要素対９５．２における接触アイランドに 対する接触子９５ｂのオフセットの方向９６．２とが、互いに反対向きとされ、 また、接触要素対９５．３における接触アイランドに対する接触子９５ｂのオフ セットの方向９６．３と接触要素対９５．４における接触アイランドに対する接 触子９５ｂのオフセットの方向９６．４とが、互いに反対向きとされており、さ らに、接触要素対９５．１におけるオフセットの方向９６．１及び接触要素対９ ５．２におけるオフセットの方向９６．２は、接触要素対９５．３におけるオフ セットの方向９６．３及び接触要素対９５．４におけるオフセットの方向９６． ４と直交している。そして、接触要素対９５．１〜９５．４におけるオフセット の方向９６．１〜９６．４は、いずれもが印刷回路基板２の外方に向かう状態、 従って、互いに反対向きとなっている二つが互いに背を向け合う状態とされてい る。 斯かる構成のもとにあっては、接触要素対９５．１〜９５．４の夫々における 接触アイランドに対する接触子９５ｂの当接が１回実行されるだけで、検査ポイ ントパターン４３ａもしくは４３ｂと検査ピン先端パターン４０ａもしくは４０ ｂとの間の位置偏差が許容範囲内にあるのか許容範囲外にあるのか（“良好な” 状態にあるのか“良好でない”状態にあるのか）の判定、及び、許容範囲外にあ るとき、検査ポイントパターン４３ａもしくは４３ｂ及び検査ピン先端パターン ４０ａもしくは４０ｂについての位置調整による修正が行われるべきことについ ての判定が可能とさ れる。制御装置３６ａもしくは３７ａは、接触要素対９５．１〜９５．４のうち の１個乃至は３個における接触アイランドに対する接触子９５ｂの当接状況に基 づいて、検査ポイントパターン４３ａもしくは４３ｂと検査ピン先端パターン４ ０ａもしくは４０ｂとの間の、接触要素対９５．１〜９５．４の夫々における接 触アイランド９５ａに対する接触子９５ｂのオフセットの方向９６．１〜９６． ４に沿った位置偏差が、許容範囲内にあるのか許容範囲外にあるのか（“良好な ”状態にあるのか“良好でない”状態にあるのか）を認識することができ、また 、許容範囲内にあるとき（“良好な”状態にあるとき）には、その旨をあらわす 信号を発生して、それを調整装置２１ａもしくは２１ｂに向けて送出し、それに よって、印刷回路基板２についての変位及び位置調整が、一方向もしくは二方向 において行われるようになすことができる。このことは、制御装置３６ａもしく は３７ａが、接触要素対９５．１〜９５．４の夫々における接触アイランド９５ ａに対する接触子９５ｂの当接状況に基づいて、オフセットの方向９６．１〜９ ６．４を認識することにより行われる。その際における認識機能及び制御機能は 、制御装置における電気回路の中に組み込まれている。 この発明の範囲内において、２個以上の接触要素対が設けられるとき、各接触 要素対におけるオフセットの方向は、第１１図及び第１２図に示される場合の如 く、互いに反対向きとなっている二つが互いに背を向け合う状態とされるのみな らず、例えば、第１３図に示される場合の如く、互いに反対向きとなっている二 つが互いに向き合う状態とされてもよい。即ち、相互対向する２個の接触要素対 が設けられるとき、各接触要素対におけるオフセッ ト量ｄをとるオフセットが、互いに離隔し合う状態におかれるだけでなく、互い に向き合う状態におかれてもよいのである。 検査ポイントパターン４３ａもしくは４３ｂと検査ピン先端パターン４０ａも しくは４０ｂとの間の位置偏差は、上述の如くに回転を伴わない位置偏差とされ るだけでなく、検査ポイントパターン４３ａもしくは４３ｂが、検査ピン先端パ ターン４０ａもしくは４０ｂに対して、印刷回路基板２内あるいは印刷回路基板 ２外におかれた仮想点を回転中心として回転するとき生じる回転位置偏差とされ る場合もある。このような回転位置偏差を測定し、さらには、必要に応じて調整 して修正できるようにするためには、第１４図に示される如く、４個の接触要素 対９５．１〜９５．４に加えて、さらに、２個の接触要素対９５．５及び９５． ６が備えられる。接触要素対９５．５における接触アイランドに対する接触子９ ５ｂのオフセットの方向９６．５及び接触要素対９５．６における接触アイラン ドに対する接触子９５ｂのオフセットの方向９６．６は、各々が接触要素対９５ ．５における接触アイランドの中心点Ｍａと接触要素対９５．６における接触ア イランドの中心点Ｍａとをそれらの間の仮想中点Ｍｒを通って結ぶ直線Ｇ２に、 望ましくは直交して、交差する方向とされ、かつ、互いに反対向きをとるものと される。 第１４図に示される構成のもとでは、仮想中点Ｍｒは、接触要素対９５．１に おける接触アイランドの中心点Ｍａと接触要素対９５．２における接触アイラン ドの中心点Ｍａとの間の中点、さらには、接触要素対９５．３における接触アイ ランドの中心点Ｍａと接触要素対９５．４における接触アイランドの中心点Ｍａ との間の中点ともなっており、検査ポイントパターン４３ａもしく は４３ｂと検査ピン先端パターン４０ａもしくは４０ｂとの間の回転位置偏差は 、仮想中点Ｍｒを回転中心として生じる。第１４図においては、直線Ｇ２が、接 触要素対９５．１における接触アイランドの中心点Ｍａと接触要素対９５．３に おける接触アイランドの中心点との間の中間点、及び、接触要素対９５．２にお ける接触アイランドの中心点Ｍａと接触要素対９５．４における接触アイランド の中心点との間の中間点を通るものとされているが、必ずしもそのようにされる 必要はない。接触要素対９５．５におけるオフセット方向９６．５と接触要素対 ９５．６におけるオフセット方向９６．６とが互いに逆向きにされていることは 重要である。接触要素対９５．５におけるオフセット方向９６．５と接触要素対 ９５．６におけるオフセット方向９６．６とが互いに逆向きにされたもとにあっ ては、検査ポイントパターン４３ａもしくは４３ｂと検査ピン先端パターン４０ ａもしくは４０ｂとの間の回転位置偏差が生じているとき、接触要素対９５．５ 及び９５．６のいずれにおいても接触子９５ｂが接触アイランドに当接する状態 もしくは当接しない状態がとられ、それにより、制御装置３６ａもしくは３７ａ が、回転位置偏差が許容範囲内にあるか範囲外にあるか（“良好な”状態にある か“良好でない”状態にあるか）を認識し、さらに、範囲外にある（“良好でな い”状態にある）場合においては、回転位置偏差の調整及び補正が、上述の如く に、即ち、接触要素対９５．５におけるオフセット方向９６．５及び接触要素対 ９５．６におけるオフセット方向９６．６に対して夫々逆となる矢印であらわさ れる方向９７．５及び９７．６における、例えば、仮想中点Ｍｒを中心とした回 転をもって行われるべきことを認識する。 上述の場合よりさらに多くの接触要素対が設けられる場合には、検査ポイント パターン４３ａもしくは４３ｂと検査ピン先端パターン４０ａもしくは４０ｂと の間の回転を伴わない位置偏差及び回転位置偏差についての判定及び／又は調整 はより正確に行われる。接触要素対間の距離をできるだけ大として、それらを、 印刷回路基板２もしくは検査ポイントパターン４３ａもしくは４３ｂの周縁部分 内に配することも望まれるところとなる。接触要素対の数及び位置は、各接触要 素対におけるオフセットの方向が互いに相違することになり、好ましくは、互い に逆向きで交差することになるように設定されるのが良い。制御装置３６ａもし くは３７ａが、各接触要素対におけるオフセットの方向を認識し、それに関連す る接触子９５ｂを識別することは重要である。各接触要素対におけるオフセット の方向は、制御装置３６ａもしくは３７ａによりコンピュータプログラムに基づ いて認識され、それに基づいて、各接触要素対におけるオフセットを伴った接触 子９５ｂの中心点Ｍｂが、補助プログラムによって求められる。そして、検査ピ ン３３の検査ポイント２２ａもしくは２２ｂに対する当接を確実なものとして最 良の検査結果を得べく、検査ポイントパターン４３ａもしくは４３ｂと検査ピン 先端パターン４０ａもしくは４０ｂとの間の位置偏差を補正するための移動調整 が、複数の部分移動もしくは合成移動として設定される方向が、統計的処理によ って導出される。 上述の具体例においては、ピン状に形成された接触子９５ｂが、接触アイラン ド９５ａに対して、オフセット量ｄをもってオフセットされている。しかしなが ら、この発明にあっては、印刷回路基板２についての検査を行うこの発明に係る 装置の種々の構成上 の特徴を考慮して、ピン状に形成された接触子９５ｂを接触アイランド９５ａに 対してフセット量ｄをもってオフセットするのではなく、印刷回路基板２に、好 ましくは接触パッドが用いられて、形成される接触アイランド９５ａを接触子９ ５ｂに対してオフセットするようになすこともできる。接触子９５ｂが接触アイ ランド９５ａに対してオフセットされるもとでは、従来知られている印刷回路基 板２を使用することができるが、それに伴って、検査アダプタ１６もしくは１７ が、オフセット量ｄをもってのオフセットあるいは変位が可能な少なくとも一つ の接触子９５ｂを備えて構成されることが要される。それに対して、接触アイラ ンド９５ａが接触子９５ｂに対してオフセットされるもとでは、従来知られた検 査アダプタを使用することができるが、それに伴って、印刷回路基板２における 検査ポイント２２ａもしくは２２ｂが、オフセット量ｄをもってのオフセットが 可能なものとされることが要され、その結果、印刷回路基板２が特別な構成を有 するものとされることになる。 前述の構成の場合、ピン状とされる接触子９５ｂは、従来知られている各種の 検査ピン３３によって形成することができるものとされ、そにより、ピン状とさ れる接触子９５ｂを形成すべく格別な接触ピンを製造し、それらを貯蓄すること は必要とされない。このことは、接触子９５ｂあるいは接触子９５ｂを形成する 検査ピン３３がオフセットされる場合と印刷回路基板２における接触アイランド ９５ａあるいは接触アイランド９５ａを形成する接触パッドがオフセットされる 場合のいずれにも当てはまる。 前述の構成にあっては、複数のピン状の接触子９５ｂもしくは複数のピン状の 接触子９５ｂを形成する複数の検査ピン３３が夫 々に対応する接触アイランド９５ａに対してオフセットされる。斯かるオフセッ トは、複数のピン状の接触子９５ｂもしく複数のピン状の接触子９５ｂを夫々形 成する複数の検査ピン３３が、全体的に横方向に片寄らされることによって行わ れる。この手法によるオフセットの設定は、複数の接触アイランド９５ａが部分 的に格子配置状態（イングリッド）にあって垂直に配される検査ピン３３（第８ 図参照）、及び、複数の接触アイランド９５ａが部分的に格子配置から外れた配 置状態（オフグリッド）にあって斜めに配される検査ピン３３（第８図参照）の いずれにも適用できる。その際、オフセット量ｄは少量であるので、多板アダプ タに含まれる複数の案内板のうちの印刷回路基板２に隣接するものに設けられた 透孔についてのみ、そのエッジ部によって検査ピン３３に対する横方向の位置規 制を行って検査ピン３３をオセット位置に保持するものとなすべくオフセットさ せ、それによって、垂直にもしくは斜めに配される検査ピン３３にオフセット量ｄ を生じさせるようにされる。１個もしくは２個の調整装置２１ａもしくは２１ ｂを有した検査装置の具体例にあっては、調整板４４もしくは４５に設けられた 案内孔７２がオフセット量ｄをもってオフセットされ、隣接案内板６８に設けら れた透孔３４がそれに対応してオフセットされている。 上述の各構成にあっては、印刷回路基板２が、検査ポイントパターン４３ａも しくは４３ｂと検査ピン先端パターン４０ａもしくは４０ｂとの間の位置偏差が “良好な”状態とされる位置におかれるとき、各接触要素対において接触子９５ ｂが接触アイランド９５ａに当接する。それによって、接触アイランド９５ａに 対して接触子９５ｂがオフセットされるとともに、他の検査ピン３ ３もそれに対応する検査ポイントもしくは接触パッドの寸法に応じて決定される オフセット量をもってオフセットされる。検査ポイントもしくは接触パッドが円 形もしくは矩形あるいは他の面積形状をとるものである場合、オフセット量は寸 法ｅの半分よりも小とされる。 一方、検査ポイントパターン４３ａもしくは４３ｂと検査ピン先端パターン４ ０ａもしくは４０ｂとの間の位置偏差が大とされて、少なくとも１個の接触要素 対において接触子９５ｂが接触アイランド９５ａに当接しない状態が生じたとき には、いずれの接触子９５ｂが接触アイランド９５ａに当接していないのかが認 識されるべきことが示されるとともに、印刷回路基板２が、前述の如くに、接触 子９５ｂが接触アイランド９５ａに当接しない状態が生じた接触要素対における オフセットの方向とは逆向きに移動せしめられる調整がなされて位置偏差が補正 され、印刷回路基板２における接続ポイントについてその後の検査が行われる際 には、検査ポイントパターン４３ａもしくは４３ｂと検査ピン先端パターン４０ ａもしくは４０ｂとが実質的に一致せしめられるようにされるべきことが示され る。 検査ポイントパターン４３ａもしくは４３ｂと検査ピン先端パターン４０ａも しくは４０ｂとの間に位置偏差があり、また、２個以上の接触要素対が設けられ ているもとで、例えば、第１２図に示される接触要素対９５．１及び９５．３と される２個の接触要素対において、接触子９５ｂが接触アイランド９５ａに当接 しない状態がとられると、接触要素対９５．１及び９５．３におけるオフセット の方向９６．１及び９６．３とは逆向きとなる相対移動９７．１及び９７．３に よる位置調整が順次もしくは同時に 行われて、検査ポイントパターン４３ａもしくは４３ｂと検査ピン先端パターン ４０ａもしくは４０ｂとの間に位置偏差についての調整及び補正が行われる。 この発明に係る構成において、オフセット量ｄが、検査ピン３３あるいは検査 ポイント２２ａもしくは２２ｂが格子配置状態に置かれているか格子配置から外 れた配置状態に置かれているかには関わりなく設定され、検査ピン３３あるいは 検査ポイント２２ａもしくは２２ｂが、格子配置状態，格子配置から外れた配置 状態、さらには、その他の配置状態のいずれに置かれているもとにあっても適用 されるものであることは、重要な意味を持っている。 第３図は、印刷回路基板２における複数の接触要素対についての、回転を伴わ ない位置偏差及び回転位置偏差に関する判定，調整及び補正に都合の良い配置を 示す。斯かる配置にあっては、接触要素対が検査ピン３３及び検査ポイント２２ ａもしくは２２ｂあるいは接触パッドによって形成され、各々が４個の接触要素 対から成る２個のグループが、検査ポイントパターンが設けられた印刷回路基板 ２の周縁部分に配されている。検査ポイント２２ａもしくは２２ｂあるいは接触 パッドは、矩形を成している。２個のグループの夫々を形成する４個の接触要素 対におけるオフセットの方向９６．１，９６．２，９６．３及び９６．４は、第 １２図又は第１３図の場合とは異なり、第１２図又は第１３図の場合に比して約 ４５°だけ回転せしめられていて、印刷回路基板２の対角線に略平行になってい る。 第１５図に示される印刷回路基板２の例にあっては、検査ピン３３及び検査ポ イント２２ａもしくは２２ｂあるいは接触パッドによって形成される接触要素対 の２個のグループが、第１５図に 示される印刷回路基板２の場合と同様に備えられているが、各グループは３個の 接触要素対から成っている。これらの２個のグループは、印刷回路基板２の中心 に関して鏡像体的に配置されており、各グループは、第１２図及び第１３図に示 される接触要素対９５．１，９５．３及び９５．４を含んでいる。この第１５図 に示される配置も、回転を伴わない位置偏差及び回転位置偏差に関する判定，調 整及び補正に都合の良い配置である。 以下に、検査装置３の機能について述べる。 検査に供される印刷回路基板２は、検査設備１３における下方装置部分１４及 び上方装置部分１５に関わる所定の位置に置かれる。この検査設備１３における 所定位置においては、印刷回路基板２を置き、位置決めピン４１に対して押しつ けることができる空間が、調整板４４と調整板４５との間に形成される。上方装 置部分１５は、予め多少持ち上げられているときには、下方に軸旋回せしめられ て作業位置に置かれる。上方装置部分１５が作業位置に置かれたもとにあっては 、複数の検査ピン３３が上側の検査アダプタ１７に、それらの球状ヘッド部３５ を検査アダプタ１７上に載せた状態をもって、配列支持されており、各検査ピン ３３における尖った検査端部が、上側の調整板４５からその下方側に僅かに突出 する。その後、キャリア２７が、印刷回路基板２を調整板４５の下面に対向させ るように上昇させる。上昇せしめられる印刷回路基板２は、上側の検査ピン３３ を第８図に示される位置まで押し上げ、各検査ピン３３の球状ヘッド部３５を、 弾性的に伸縮可能とされた上側の検査モジュール３７における接触接点３９に押 し付ける。キャリア２７の上方への移動に伴って、下側の検査アダプタ１６にお ける複数の検査ピン３３の夫々が、下側 の検査モジュール３６における接触接点３８に押し付けられ、各検査ピン３３の 検査端部が下側の調整板４４からその上方側に僅かに突出する。このような準備 がなされると、検査ポイントパターン４３ａもしくは４３ｂと検査ピン先端パタ ーン４０ａもしくは４０ｂとの相対位置が“良好な”状態にあるか否かの判定、 あるいは、検査ポイントパターン４３ａもしくは４３ｂと検査ピン先端パターン ４０ａもしくは４０ｂとの間の位置偏差が、検査ポイントパターン４３ａもしく は４３ｂと検査ピン先端パターン４０ａもしくは４０ｂとの相対位置を、“良好 な”状態とするために調整する必要がある程大であるか否かの判定が行われ得る 状態とされる。 検査ポイントパターン４３ａもしくは４３ｂと検査ピン先端パターン４０ａも しくは４０ｂとの相対位置についての判定が行われるにあたっては、接触要素対 における接触子を形成する検査ピン３３を通じる電流が流され、各接触要素対に おける接触アイランドに対する接触子の当接状態が測定される。その結果、検査 ポイントパターン４３ａもしくは４３ｂと検査ピン先端パターン４０ａもしくは ４０ｂとの相対位置が“良好な”状態にあるときには、直ちに印刷回路基板２に ついての検査が開始され、検査ピン３３を通じる電流が流される。検査ポイント パターン４３ａもしくは４３ｂと検査ピン先端パターン４０ａもしくは４０ｂと の相対位置が“良好でない”状態にあるときには、先ず、検査ポイントパターン ４３ａもしくは４３ｂと検査ピン先端パターン４０ａもしくは４０ｂとの相対位 置に、“良好な”状態となすための調整が加えられ、それに続いて、印刷回路基 板２についての検査が行われる。その後、下方装置部分１４及び上方装置部分１ ５が相 互に離隔せしめられて、印刷回路基板２が位置決め装置１９から取り外されて、 特徴付け装置８さらには分類装置９へと送られていく。 この発明にあっては、評価回路Ｃａ及びＣｂが、接触子９５ｂが接触アイラン ド９５ａに当接する状態（導電接触状態があまり良くない状態）にあるとき測定 された電流値が、接触アイランド９５ａ及び接触子９５ｂにおいて接触アイラン ド９５ａに対する接触子９５ｂの設定されたオフセット量ｄが維持されている基 準状態（導電接触状態が良好な状態）のもとで測定された電流値から、所定の値 だけ低下している場合、検査ポイントパターン４３ａもしくは４３ｂと検査ピン 先端パターン４０ａもしくは４０ｂとの相対位置が“良好でない”状態にあると 判定し、そうでない場合には、検査ポイントパターン４３ａもしくは４３ｂと検 査ピン先端パターン４０ａもしくは４０ｂとの相対位置が“良好な”状態にある と判定するように、構成される。 第１６図は、部品取付け装置１０１の主要部の一例を示す。この第１６図に示 される部品取付け装置１０１の主要部は、板状のベース部１０２と、ベース部１ ０２上に配置された印刷回路基板２に対する位置決め装置１０３と、印刷回路基 板２における部品が取り付けられるべき面に対向して配置され、取付けキャリア １０５と取付けキャリア１０５から印刷回路基板２に直交して伸びる取付けピン １０７の形態をとる取付け部とを有した部品取付けシステム１０４と、取付けピ ン１０７を有した取付けキャリア１０５が駆動装置（図示せず）によって所望の 接触アイランド（接触パッド）へと選択的に移動せしめられ、各移動先に固定さ れることになる、取付けキャリア１０５に対する案内システム１０６ と、検査ポイント、即ち、接触アイランド２２ａを有した印刷回路基板２が、案 内システム１０６及び取付けピン１０７の各取付けポイントに関連した整列位置 に置かれているか否か、あるいは、斯かる適正な位置から所定以上の位置ずれを 生じているか否かを検査もしくは判定する測定装置１０８と、接触アイランド２ ２ａが、整列位置もしくは印刷回路基板２の位置ずれが案内システム１０６によ って定められた取付けピン１０７の取付け位置に対して損害を与えない位置に置 かれることになるように、印刷回路基板２の位置ずれを補正する調整装置１０９ とを含んでいる。 測定装置１０８は、１個の接触要素対９５、好ましくは、前述の具体例の如く に複数の接触要素対９５．１〜９５．６を有している。それにより、印刷回路基 板２に設けられる接触部は、特定の接触アイランド２２ａ、即ち、部品取付けシ ステム１０４に属するものとされる接触アイランド２２ａによって形成され得る ことになるが、ここでは、そのようにされることは要されない。オフセット量ｄ 及びオフセットの方向９６．１〜９６．６を伴う接触要素対、及び、印刷回路基 板２上の接触アイランド２２ａの配置については、前述された第３図及び第１５ 図に示される通りであるので、反復説明は省略される。ピン状の接触子９５ｂは 、案内システム１０６を含む案内部１１１において、特に、案内部１１１に設け られた係合孔１１２内において保持され、それにより、印刷回路基板２に向かっ てそれに直交して突出し、その先端部が印刷回路基板２から僅かに離れた位置に 置かれる。そして、複数の接触子９５ｂにあっては、各々が３個の接触子９５ｂ から成る２個のグループもしくは各々が４個の接触子９５ｂから成る２個のグル ープが形成されており、それらに対して、複数の接触アイ ランド９５ａが、第３図及び第１５図に示される各々が３個の接触アイランド９ ５ａから成る複数のグループもしくは各々が４個の接触アイランド９５ａから複 数の成るグループを形成する配置態様のもとに、オフセット量ｄをもってオフセ ットした状態で対向している。 さらに、部品取付け装置１０１は、複数の接触要素対９５の夫々における接触 アイランド９５ａと接触子９５ｂとを一旦相互接触状態にし、その後相互接触状 態から解除する接触状態制御装置１１３を有している。接触子９５ｂは、印刷回 路基板２に対して直交するように調整され、斯かる調整のための移動は、案内部 １１４において、駆動モータ１１５を含む駆動装置によって行われる。 調整装置１０９は、第２図〜第６図及び第９図に示される具体例において用い られている如くの調整装置を含んでいる。それについては、前述されているので 、重複説明は省略される。調整装置１０９が、複数の接触子９５ｂについての水 平方向における回転を伴わない移動及び／又は回転移動を生じさせることができ て、接触アイランド９５ａと取付けピン１０７の部品取付けポイントとの間にお ける、極めて正確な部品取付けが可能とされる所望の位置をもたらすことができ ることは重要な意味を持っている。 取付けピン１０７は、駆動装置（図示せず）によって、その長手方向に、即ち 、印刷回路基板２を横切る方向において調整可能とされており、各調整位置にお いて、第１６図において概略的に示される如くの少なくとも１個の電子部品１１ ７を印刷回路基板２上の取付け位置に置くことができるように調整される。 その上に置かれた印刷回路基板２を伴ったベース部１０２は、 水平配置されている。部品取付け装置１０１にあっては、印刷回路基板２の両面 に電子部品１１７を取り付けることができるように、水平に配された印刷回路基 板２に関して鏡像体的に構成されるのが、合理的であって有利である。 部品取付け装置１０１には、印刷回路基板２の側方となる位置に、電子部品１ １７がストックされるマガジン１１８が設けられている。マガジン１１８上にス トックされた電子部品１１７の高さ位置は、部品が取り付けられる印刷回路基板 ２の面の高度位置に略一致するものとされる。案内システム１０６は、取付けキ ャリア１０５がその移動中にマガジン１１８における相異なる複数のピックアッ プ位置に到達できることになる寸法を有している。 案内システム１０６を含んだ案内部１１１は、ベース部１０２上において印刷 回路基板２とマガジン１１８とを覆うように支持された橋絡キャリア１１９に取 り付けられている。接触子９５ｂは、調整装置１０９によって、適正な位置から の位置偏差の補正がなされるべく調整される。斯かる調整は、調整装置１０９に 案内部１１１が設けられ、変位装置４６ａ，４６ｂ及び４６ｃが、案内部１１１ に作用し、案内部１１１を接触子９５ｂと共に調整することにより行われる。案 内部１１４は、ベース部１０２における両端部に取り付けられた２本の垂直案内 ロッド１１４ａによって形成され、斯かる垂直案内ロッド１１４ａは、橋絡キャ リア１１９を貫通して、ベース部１０２に設けられた案内孔１１４ｂに挿入され ている。 位置決め装置１０３は、ベース部１０２における２個の取付けあご部１２１及 び１２２によって形成されており、これらの取付けあご部１２１及び１２２の夫 々は、印刷回路基板２を支持する 支持面１２３と印刷回路基板２の周端縁部を保持するあご面１２４とを有してい る。取付けあご部１２２は、印刷回路基板２に対して平行に設けられた案内部１ ２５内において前後に変位できるように取り付けられている。そして、取付けあ ご部１２２は、調整装置１２６、例えば、駆動モータ１２７を含むスピンドル駆 動装置により、印刷回路基板２を取付けあご部１２１とで挾み付ける状態と印刷 回路基板２に対する挾付けを緩める状態とを選択的にとるものとされる。 さらに、部品取付け装置１０１には、電子評価回路Ｃａ１を有した電子制御装 置１２８が設けられている。電子制御装置１２８は、電子制御線を介して、接触 子９５ｂと、調整装置１０９における駆動モータと、接触状態制御装置１１３と に接続され、さらに、可能であれば、調整装置１２６における駆動モータ１２７ 及び印刷回路基板２にも接続される。 以下、部品取付け装置１０１の機能について述べる。 位置決め装置１０３に印刷回路基板２をおいて位置決めした後、印刷回路基板 ２が、許容位置偏差の範囲内、即ち、“良好な”状態とされる位置範囲に置かれ ているのか、それとも、許容位置偏差の範囲外、即ち、“良好でない”状態とさ れる位置範囲に置かれているのについての検査及び判定が行われる。そのため、 接触状態制御装置１１３が作動せしめられて、案内部１１１及び複数の接触子９ ５ｂを伴った橋絡キャリア１１９が、案内部１１４における駆動モータ１１５に よって下降せしめられ、それによって、接触子９５ｂが接触アイランド９５ａに 当接する。そして、電子評価回路Ｃａ１により、接触要素対９５における接触ア イランド９５ａと接触子９５ｂとの接触部分を流れる電流の値が測定され、 印刷回路基板２が適正な範囲、即ち、“良好な”状態とされる位置範囲に置かれ ているのか否かが判定される。印刷回路基板２が適正な範囲、即ち、“良好な” 状態とされる位置範囲に置かれている場合には、接触子９５ｂを伴った橋絡キャ リア１１９が上昇せしめられた後、必要に応じて部品の取り付けが行われる。一 方、印刷回路基板２が適正な範囲、即ち、“良好な”状態とされる位置範囲に置 かれていない場合には、接触子９５ｂを伴った橋絡キャリア１１９が上昇せしめ られた後、印刷回路基板２と接触子９５ｂとの間の相対位置の補正が、接触子９ ５ｂの調整が調整装置１０９によって前述の如くになされることにより行われる 。その後、印刷回路基板２に対する電子部品１１７の取り付けは従来知られてい るようにして行われる。 第１７図は、部品取付け装置１０１の主要部の他の例を示す。この第１７図に 示される例にあっては、調整装置１０９が位置決め装置１０３に設けられている 、あるいは、位置決め装置１０３と一体化されているという点、及び、接触状態 制御装置１１３がベース部１０２と橋絡キャリア１１９との間で機能するのでは なく、橋絡キャリア１１９と案内部１１１との間で機能する点において、第１６ 図に示される例との相違があり、他については第１６図に示される例と同様であ る。橋絡キャリア１１９は、ベース部１０２の直立した支持部上に固定配置され ている。また、この例における接触状態制御装置１１３によれば、複数の接触子 ９５ｂの降下が、案内孔及びその中に配された案内ロッドさらには伸縮ロッドが 用いられて正確に行われる。そして、変位装置４６ａ，４６ｂ及び４６ｃが、印 刷回路基板２を支持する調整板１１６に係合している。 斯かるもとで、印刷回路基板２の位置に関する検査及び判定のための処理ステ ップ、及び、必要に応じた印刷回路基板２の調整、即ち、印刷回路基板２の直接 的な調整が、前述の手順に対応して行われる。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 ＥＰ(ＡＴ，ＢＥ，ＣＨ，ＤＥ， ＤＫ，ＥＳ，ＦＲ，ＧＢ，ＧＲ，ＩＥ，ＩＴ，ＬＵ，Ｍ Ｃ，ＮＬ，ＰＴ，ＳＥ)，ＪＰ，ＫＲ，ＳＧ，ＵＳ (72)発明者 カッセバウム トルシュテン ドイツ連邦共和国 デー−31515 ヴァン シュトルフ オストプロイセンストラッセ 17

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １．接触アイランド（２２ａ，２２ｂ，９５ａ）及び導体路を有した印刷回路基 板（２）の、上記接触アイランド（２２ａ，２２ｂ，９５ａ）に接触する接触子 （９５ｂ）を有した検査装置（３）における正しい位置についての検査、あるい は、上記印刷回路基板（２）の上記正しい位置からの上記印刷回路基板（２）に 平行な方向に沿った偏差の測定を、上記印刷回路基板（２）が上記正しい位置に あるとき、上記接触アイランド（２２ａ，２２ｂ，９５ａ）とそれに対応する上 記接触子（９５ｂ）とが互いに中心を一致させることが原則とされるもとで行い 、他の接触アイランド及びそれに対応する接触子の対とは異なる、少なくとも１ 個の接触アイランド（９５ａ）及びそれに対応する接触子（９５ｂ）が、上記印 刷回路基板（２）が上記正しい位置にあるときにおいても、上記接触アイランド （９５ａ）及び上記接触子（９５ｂ）のうちの一方に対する他方の設定された片 寄りを伴っていて、上記接触アイランド（９５ａ）と上記接触子（９５ｂ）との 間の接触領域が上記接触アイランド（９５ａ）の周縁部分に向かって変位するこ とになるものとされることを特徴とするシステム。 ２．接触アイランド（９５ａ）及び接触子（９５ｂ）のうちの一方に対する他方 の設定された片寄りの方向が、印刷回路基板（２）の正しい位置からの偏差が測 定されるべき方向に対応することを特徴とする請求の範囲１記載のシステム。 ３．印刷回路基板（２）における接触アイランド（２２ａ，２２ｂ，９５ａ）が 格子配置状態もしくは格子配置から外れた配置状態にあるもとで、印刷回路基板 （２）の位置についての検査に用いられる接触アイランド（９５ａ）が上記格子 配置状態もしくは格子配置から外れた配置状態にあり、該接触アイランド（９５ ａ）に対応する接触子（９５ｂ）が上記接触アイランド（９５ａ）に対する設定 された片寄りを伴うこと、もしくは、上記接触子（９５ｂ）が格子配置状態もし くは格子配置から外れた配置状態にあり、該接触子（９５ｂ）に対応する接触ア イランド（９５ａ）が上記接触子（９５ｂ）に対する設定された片寄りを伴うこ とを特徴とする請求の範囲１又は２記載のシステム。 ４．一方に対する他方の設定された片寄りを伴う接触アイランド（９５ａ）及び それに対応する接触子（９５ｂ）の対（９５．３もしくは９５．４）が追加され 、複数の接触アイランド（９５ａ）及び接触子（９５ｂ）の対の夫々における一 方に対する他方の設定された片寄りの方向（９６．１，９６．３又は９６．４） が、望ましくは略直交して互いに交差するものとされることを特徴とする請求の 範囲１，２又は３記載のシステム。 ５．複数の接触アイランド（９５ａ）及び接触子（９５ｂ）の対（９５．１，９ ５．３又は９５．４）に加えて、複数の一方に対する他方の設定された片寄りを 伴う接触アイランド（９５ａ）及びそれに対応する接触子（９５ｂ）の対（９５ ．２，９５．４又は９５．３）が追加され、全部の接触アイランド（９５ ａ）及び接触子（９５ｂ）の対（９５．１，９５．２，９５．３，９５．４）の 夫々における一方に対する他方の設定された片寄りの方向（９６．１，９６．２ ，９６．３，９６．４）が、互いに逆向き、及び／又は、望ましくは略直交して 互いに交差するものとされることを特徴とする請求の範囲１，２，３又は４記載 のシステム。 ６．複数の一方に対する他方の設定された片寄りを伴う接触アイランド（９５ａ ）及びそれに対応する接触子（９５ｂ）の対（９５．５，９５．６）がさらに追 加され、接触アイランド（９５ａ）及び接触子（９５ｂ）の対（９５．５）にお ける一方に対する他方の設定された片寄りの方向（９６．５）と接触アイランド （９５ａ）及び接触子（９５ｂ）の対（９５．６）における一方に対する他方の 設定された片寄りの方向（９６．６）とが、互いに逆向きで、かつ、その上に接 触アイランド（９５ａ）及び接触子（９５ｂ）の対（９５．１，９５．２，９５ ．３，９５．４）が分布する仮想円の円周方向に沿うものとされることを特徴と する請求の範囲１〜５のいずれかに記載のシステム。 ７．接触アイランド（９５ａ）及び接触子（９５ｂ）のうちの一方に対する他方 の設定された片寄りの量（ｄ）が略０．０５〜０．３ｍｍとされて、好ましくは 約０．１ｍｍとされることを特徴とする請求の範囲１〜６のいずれかに記載のシ ステム。 ８．接触子（９５ｂ）が尖った接触端部を有した検査ピンにより 形成されることを特徴とする請求の範囲１〜７のいずれかに記載のシステム。 ９．印刷回路基板（２）における接触アイランド（２２ａ，２２ｂ，９５ａ）を 正しい電流の流れに対して検査する検査装置部分（３ａ，３ｂ）に組み込まれた ことを特徴とする請求の範囲１〜８のいずれかに記載のシステム。 10．接触子（９５ｂ）が、ピン状に形成されて、印刷回路基板（２）における接 触アイランド（２２ａ，２２ｂ，９５ａ）を検査する検査アダプタ（１６，１７ ）に配置されることを特徴とする請求の範囲１〜９のいずれかに記載のシステム 。 11．接触子（９５ｂ）が検査装置部分（３ａ，３ｂ）に設けられた検査ピン（３ ３）によって構成され、及び／又は、接触アイランド（９５ａ）が印刷回路基板 （２）における従前の接触アイランドによって構成されることを特徴とする請求 の範囲９又は１０記載のシステム。 12．接触子（９５ｂ）もしくは検査ピン（３３），検査アダプタ（１６，１７） 及び／又は印刷回路基板（２）を、上記接触子（９５ｂ）を横切る方向において 調整し、調整された位置に固定する調整装置（２１ａ，２１ｂ）が備えられるこ とを特徴とする請求の範囲１０記載のシステム。 13．調整装置（２１ａ，２１ｂ）が、一つの平面内に三つの自由 度、即ち、二つの回転を伴わない移動の自由度と一つの回転移動の自由度を有す ることを特徴とする請求の範囲１２記載のシステム。 14．調整装置（２１ａ，２１ｂ）が、互いに間隔を置いて変位せしめられる部分 に係合し、軸旋回できるように移動可能に上記変位せしめられる部分に接続され た３個の変位装置（４６ａ，４６ｂ，４６ｃ）を備えることを特徴とする請求の 範囲１２又は１３記載のシステム。 15．２個の変位装置（４６ａ，４６ｂ）の変位方向（７８，７９）が互いに略平 行であるか、もしくは、相互に僅かに傾斜する状態にあるとともに、変位装置（ ４６ｃ）の変位方向（８１）が、上記２個の変位装置（４６ａ，４６ｂ）の変位 方向（７８，７９）を横切る状態にあることを特徴とする請求の範囲１４記載の システム。 16．変位装置（４６ａ，４６ｂ，４６ｃ）が、各々の両端が変位面に軸旋回可能 に連結された可変長の伸縮ロッド（４７ａ，４７ｂ，４７ｃ）を夫々有すること を特徴とする請求の範囲１４又は１５記載のシステム。 17．変位装置（４６ａ，４６ｂ，４６ｃ）が、夫々、両端が連結部（４８ａ，４ ８ｂ，４８ｃ，４８ｄ，４８ｅ，４８ｆ）を介して軸旋回可能に変位面に取り付 けられた関節ロッド（５１ａ，５１ｂ，５１ｃ）を有し、上記連結部（４８ａ， ４８ｂ，４８ ｃ，４８ｄ，４８ｅ，４８ｆ）のうちの一部のもの（４８ａ，４８ｂ，４８ｃ） が夫々旋回駆動部（５３ａ，５３ｂ，５３ｃ）に接続されることを特徴とする請 求の範囲１４，１５又は１６記載のシステム。 18．変位装置（４６ａ，４６ｂ，４６ｃ）の夫々が、調整装置（２１ａ，２１ｂ ）の一部に設けられ、鋭角（Ｗ）をもって互いに交差する２個の案内溝（５４， ５５）内を変位できるスライド部材（５６）を有することを特徴とする請求の範 囲１４〜１７のいずれかに記載のシステム。 19．変位装置（４６ａ，４６ｂ，４６ｃ）が、各々がその一端部において変位面 内において軸旋回すべく変位せしめられる部分に接続され、該一端部から離隔し た部分において駆動軸（８７）に連結された可動部分（７５，７６，７７）を夫 々有することを特徴とする請求の範囲１４〜１８のいずれかに記載のシステム。 20．変位面が板状部材８５によって形成され、可動部分（７５，７６，７７）が 、夫々、Ｃ字形の自由空間（８５ａ，８５ｂ，８５ｃ）をもって上記板状部材８ ５から打ち抜かれて形成されるとともに、屈曲可能な連結部（８６ａ，８６ｂ， ８６ｃ）によって上記板状部材（８５）に連結されていることを特徴とする請求 の範囲１９記載のシステム。 21．印刷回路基板（２）の両面に対して、検査アダプタ（１６， １７）もしくは検査ピン（３３）を調整する調整装置（２１ａ，２１ｂ）が、印 刷回路基板（２）の両面の夫々における検査ポイント（２２ａ，２２ｂ）を互い に独立して検査できるように備えられていることを特徴とする請求の範囲１０記 載のシステム。 22．検査ピン（３３）を調整する調整装置（２１ａ，２１ｂ）が、変位装置（４ ６ａ，４６ｂ，４６ｃ）に接続された調整板（４４，４５）によって形成され、 該調整板（４４，４５）を貫通する上記検査ピン（３３）が案内孔（７２）にま で伸びることを特徴とする請求の範囲２１記載のシステム。 23．調整板（４４，４５）が検査アダプタ（１６，１７）の一部を構成すること を特徴とする請求の範囲２２記載のシステム。 24．調整板（４４，４５）が、検査アダプタ（１６，１７）における印刷回路基 板（２）側の端部に配置されることを特徴とする請求の範囲２２又は２３記載の システム。 25．調整板（４４，４５）が、検査アダプタ（１６，１７）における印刷回路基 板（２）に対向する面に配置されることを特徴とする請求の範囲２２，２３又は ２４記載のシステム。 26．少なくとも印刷回路基板(２)についての検査中において、調整板（４４，４ ５）が、検査アダプタ（１６，１７）と上記印刷回路基板（２）との間に配置さ れることを特徴とする請求の 範囲２５記載のシステム。 27．接触アイランド（９５ａ）及び接触子（９５ｂ）のうちの一方に対する他方 の設定された片寄りが、少なくとも１つの接触子（９５ｂ）もしくは検査ピン（ ３３）が貫通する１個もしくは複数個の斜めに伸びる透孔（３４）によって形成 されることを特徴とする請求の範囲１〜２６のいずれかに記載のシステム。 28．接触アイランド（９５ａ）及び接触子（９５ｂ）のうちの一方に対する他方 の設定された片寄りが、調整装置（２１ａ，２１ｂ）もしくは調整板（４４，４ ５）に設けられた片寄った案内孔（７２）によって形成されることを特徴とする 請求の範囲１〜２７のいずれかに記載のシステム。 29．２個の検査アダプタ（１６，１７）のうちの少なくとも１個が、印刷回路基 板（２）に対して垂直に移動できることを特徴とする請求の範囲１０記載のシス テム。 30．検査アダプタ（１６又は１７）が、多板アダプタとして構成されることを特 徴とする請求の範囲１０記載のシステム。 31．検査アダプタ（１６，１７）における印刷回路基板（２）側の端部、もしく は、上記検査アダプタ（１６，１７）における印刷回路基板（２）に対向する案 内板（６８）を貫通する検査ピン（３３）が、僅かな移動のための遊びを伴って 、上記検査アダプタ（１６，１７）に設けられた案内孔（３４）内に配さ れることを特徴とする請求の範囲１０，２９又は３０記載のシステム。 32．調整板（４４，４５）に設けられる案内孔（７２）の有効長が上記調整板（ ４４，４５）の厚みより小となるように拡大孔部（７２ａ）によって減少せしめ られることを特徴とする請求の範囲２２〜２６及び２８のいずれかに記載のシス テム。 33．複数の透孔（３４）及び格子配置状態もしくは格子配置から外れた配置状態 におかれて垂直もしくは斜めに伸びる複数の検査ピン（３３）を有した、請求の 範囲１〜３２のいずれかに記載のシステムに検査アダプタ（１６，１７）として 用いられ、少なくとも１個の検査ピン（３３）の接触端部が、格子配置状態もし くは格子配置から外れた配置状態におかれたもとで、接触アイランド（９５ａ） に対して所定の片寄り量（ｄ）をもって片寄るものとされることを特徴とする検 査アダプタ。 34．片面もしくは両面の夫々に格子配置状態もしくは格子配置から外れた配置状 態におかれた複数の接触アイランド（９５ａ）が設けられ、該複数の接触アイラ ンド（９５ａ）のうちの少なくとも一つが、対応する接触子（９５ｂ）に対して の設定された片寄りを伴うことを特徴とする印刷回路基板。 35．接触アイランド（２２ａ，２２ｂ，９５ａ）及び導体路を有した印刷回路基 板（２）の、上記接触アイランド（２２ａ，２２ｂ，９５ａ）に接触する接触子 （９５ｂ）を有した検査装置 （３）における正しい位置についての検査、あるいは、上記印刷回路基板（２） の上記正しい位置からの上記印刷回路基板（２）に平行な方向に沿った位置偏差 の測定を、上記印刷回路基板（２）の位置偏差が生じているか否かを上記接触ア イランド（２２ａ，２２ｂ，９５ａ）に上記接触子（９５ｂ）が接触する際に流 れる電流を測定することによって判定するようにして行うにあたり、 上記接触子（９５ｂ）を少なくとも１個の接触アイランド（９５ａ）に、上 記印刷回路基板（２）が上記正しい位置にあるときにおいても、上記接触アイラ ンド（９５ａ）及び上記接触子（９５ｂ）のうちの１方に対する他方の設定され た片寄りを伴うことになる状態として当接させ、その際、上記少なくとも１個の 接触アイランド（９５ａ）と上記接触子（９５ｂ）との導通接触状態が良好であ るとき、上記印刷回路基板（２）もしくは上記接触アイランド（２２ａ，２２ｂ ，９５ａ）の位置が“良好な”状態にあると判定するとともに、上記少なくとも １個の接触アイランド（９５ａ）と上記接触子（９５ｂ）との導通接触状態が良 好でない、あるいは、上記少なくとも１個の接触アイランド（９５ａ）と上記接 触子（９５ｂ）とが導通接触状態にないとき、上記印刷回路基板（２）もしくは 上記接触アイランド（２２ａ，２２ｂ，９５ａ）の位置が“良好でない”状態に あると判定することを特徴とする方法。 36．少なくとも１個の接触アイランド（９５ａ）とは別の第２の接触アイランド （９５ａ）に、上記少なくとも１個の接触アイランド（９５ａ）に当接する接触 子（９５ｂ）とは別の第２の 接触子（９５ｂ）を、印刷回路基板（２）が正しい位置にあるときにおいても、 上記第２の接触アイランド（９５ａ）及び上記第２の接触子（９５ｂ）のうちの １方に対する他方の設定された片寄りを、上記少なくとも１個の接触アイランド （９５ａ）及びそれに当接する上記接触子（９５ｂ）のうちの１方に対する他方 の設定された片寄りとは逆の方向に伴うことになる状態として当接させ、その際 、上記第２の接触アイランド（９５ａ）と上記第２の接触子（９５ｂ）との対（ ９５．２）における導通接触状態が良好であるとき、上記印刷回路基板（２）の 位置が“良好な”状態にあると判定するとともに、上記第２の接触アイランド（ ９５ａ）と上記第２の接触子（９５ｂ）との対（９５．２）における導通接触状 態が良好でない、あるいは、上記第２の接触アイランド（９５ａ）と上記第２の 接触子（９５ｂ）との対（９５．２）が導通接触状態にないとき、上記印刷回路 基板（２）の位置が“良好でない”状態にあると判定することを特徴とする請求 の範囲３５記載の方法。 37．少なくとも１個の接触アイランド（９５ａ）及び第２の接触アイランド（９ ５ａ）とは別の第３の接触アイランド（９５ａ）に、上記少なくとも１個の接触 アイランド（９５ａ）に当接する接触子（９５ｂ）及び第２の接触子（９５ｂ） とは別の第３の接触子（９５ｂ）を、印刷回路基板（２）が正しい位置にあると きにおいても、上記第３の接触アイランド（９５ａ）及び上記第３の接触子（９ ５ｂ）のうちの１方に対する他方の設定された片寄りを、上記少なくとも１個の 接触アイランド（９５ａ）及びそれに当接する上記接触子（９５ｂ）のうちの１ 方 に対する他方の設定された片寄りの方向及び／又は上記第２の接触アイランド（ ９５ａ）及び上記第２の接触子（９５ｂ）のうちの１方に対する他方の設定され た片寄りの方向を横切る方向に伴うことになる状態として当接させ、その際、上 記第３の接触アイランド（９５ａ）と上記第３の接触子（９５ｂ）との対（９５ ．３又は９５．４）における導通接触状態が良好であるとき、上記印刷回路基板 （２）もしくは接触アイランド（２２ａ，２２ｂ，９５ａ）の位置が“良好な” 状態にあると判定するとともに、上記第３の接触アイランド（９５ａ）と上記第 ３の接触子（９５ｂ）との対（９５．３又は９５．４）における導通接触状態が 良好でない、あるいは、上記第３の接触アイランド（９５ａ）と上記第３の接触 子（９５ｂ）との対（９５．３又は９５．４）が導通接触状態にないとき、上記 印刷回路基板（２）もしくは上記接触アイランド（２２ａ，２２ｂ，９５ａ）の 位置が“良好でない”状態にあると判定することを特徴とする請求の範囲３５又 は３６記載の方法。 38．少なくとも１個の接触アイランド（９５ａ），第２の接触アイランド（９５ ａ）及び第３の接触アイランド（９５ａ）とは別の第４の接触アイランド（９５ ａ）に、上記少なくとも１個の接触アイランド（９５ａ）に当接する接触子（９ ５ｂ），第２の接触子（９５ｂ）及び第３の接触子（９５ｂ）とは別の第４の接 触子（９５ｂ）を、印刷回路基板（２）が正しい位置にあるときにおいても、上 記第４の接触アイランド（９５ａ）及び上記第４の接触子（９５ｂ）のうちの１ 方に対する他方の設定された片寄りを、上記第３の接触アイランド（９５ａ）及 び 上記第３の接触子（９５ｂ）のうちの１方に対する他方の設定された片寄りとは 逆の方向に伴うことになる状態として当接させ、その際、上記第４の接触アイラ ンド（９５ａ）と上記第４の接触子（９５ｂ）との対（９５．４又は９５．３） における導通接触状態が良好であるとき、上記印刷回路基板（２）の位置が“良 好な”状態にあると判定するとともに、上記第４の接触アイランド（９５ａ）と 上記第４の接触子（９５ｂ）との対（９５．４又は９５．３）における導通接触 状態が良好でない、あるいは、上記第４の接触アイランド（９５ａ）と上記第４ の接触子（９５ｂ）との対（９５．４又は９５．３）が導通接触状態にないとき 、上記印刷回路基板（２）の位置が“良好でない”状態にあると判定することを 特徴とする請求の範囲３７記載の方法。 39．少なくとも１個の接触アイランド（９５ａ）及び第２〜第４の接触アイラン ド（９５ａ）とは別の第５及び第６の接触アイランド（９５ａ）に、上記少なく とも１個の接触アイランド（９５ａ）に当接する接触子（９５ｂ）及び第２〜第 ４の接触子（９５ｂ）とは別の第５及び第６の接触子（９５ｂ）を、夫々、印刷 回路基板（２）が正しい位置にあるときにおいても、上記第５の接触アイランド （９５ａ）及び上記第５の接触子（９５ｂ）のうちの１方に対する他方の設定さ れた片寄り、及び、上記第６の接触アイランド（９５ａ）及び上記第６の接触子 （９５ｂ）のうちの１方に対する他方の設定された片寄りを、互いに逆向きで、 かつ、その上に接触アイランド（９５ａ）及び接触子（９５ｂ）の対（９５．１ ，９５．２，９５．３，９５． ４）が分布する仮想円の円周方向に沿うものとして伴うことになる状態として当 接させ、その際、上記第５の接触アイランド（９５ａ）と上記第５の接触子（９ ５ｂ）との対及び上記第６の接触アイランド（９５ａ）と上記第６の接触子（９ ５ｂ）との対（９５．５，９５．６）における導通接触状態が良好であるとき、 上記印刷回路基板（２）の位置が“良好な”状態にあると判定するとともに、上 記第５の接触アイランド（９５ａ）と上記第５の接触子（９５ｂ）との対及び上 記第６の接触アイランド（９５ａ）と上記第６の接触子（９５ｂ）との対（９５ ．５，９５．６）における導通接触状態が良好でない、あるいは、上記第５の接 触アイランド（９５ａ）と上記第５の接触子（９５ｂ）との対及び上記第６の接 触アイランド（９５ａ）と上記第６の接触子（９５ｂ）との対（９５．５，９５ ．６）が導通接触状態にないとき、上記印刷回路基板（２）の位置が“良好でな い”状態にあると判定することを特徴とする請求の範囲３５〜３８のいずれかに 記載の方法。 40．複数の接触アイランド（２２ａ，２２ｂ，９５ａ）の夫々にに複数の接触子 （９５ｂ）のうちの対応するものが接触するとき流れる電流を測定することによ って行われる印刷回路基板（２）の位置偏差が生じているか否かの判定が、上記 複数の接触アイランド（２２ａ，２２ｂ，９５ａ）に上記複数の接触子（９５ｂ ）を夫々接触させる１回の動作において実行することを特徴とする請求の範囲３ ５〜３９のいずれかに記載の方法。 41．印刷回路基板（２）の位置偏差が生じているか否かの判定も 印刷回路基板（２）における接触アイランド（２２ａ，２２ｂ，９５ａ）ついて の他の検査も行う検査装置部分（３ａ，３ｂ）において行うことを特徴とする請 求の範囲４０記載の方法。 42．印刷回路基板（２）もしくは接触アイランド（２２ａ，２２ｂ，９５ａ）の 位置が“良好な”状態にあると判定した後に、印刷回路基板（２）における接触 アイランド（２２ａ，２２ｂ，９５ａ）ついての他の検査を手動によりもしくは 自動的に行うことを特徴とする請求の範囲３５〜４１のいずれかに記載の方法。 43．印刷回路基板（２）もしくは接触アイランド（２２ａ，２２ｂ，９５ａ）の 位置が“良好でない”状態にあると判定した後に、上記印刷回路基板（２），検 査装置部分（３ａ，３ｂ）及び／又は接触子（９５ｂ）の調整を手動によりもし くは自動的に行い、該印刷回路基板（２），検査装置部分（３ａ，３ｂ）及び／ 又は接触子（９５ｂ）を、上記接触アイランド（２２ａ，２２ｂ，９５ａ）と上 記接触子（９５ｂ）との接触状態が改善される位置、及び／又は、さらに別の検 査に供される検査ピン（３３）及び上記接触アイランド（２２ａ，２２ｂ，９５ ａ）が、良好な接触が保証される所望の範囲内において相互対向する、もしくは 、適正な位置に置いて互いに中心を一致させて配置されることになる位置をとら せることを特徴とする請求の範囲３５〜４２のいずれかに記載の方法。 44．印刷回路基板（２）もしくは接触アイランド（２２ａ，２２ ｂ，９５ａ）の位置の検査に供される接触アイランド（９５ａ）及び接触子（９ ５ｂ）を形成すべく、上記印刷回路基板（２）についての検査を行う検査ピン（ ３３）及び上記印刷回路基板（２）の接触アイランド（２２ａ，２２ｂ，９５ａ ）を用いることを特徴とする請求の範囲３５〜４３のいずれかに記載の方法。 45．印刷回路基板（２）が両面の夫々に接触アイランド（２２ａ，２２ｂ，９５ ａ）が設けられている場合、該印刷回路基板（２）の両面に対して、実質的に同 時に位置についての検査及び上記接触アイランド（２２ａ，２２ｂ，９５ａ）に ついての他の検査を行うことを特徴とする請求の範囲３５〜４４のいずれかに記 載の方法。 46．接触アイランド（２２ａ，２２ｂ，９５ａ）及び導体路を有した印刷回路基 板（２）に対する位置決め装置（１０３）と取付け部（１０７）を有して上記印 刷回路基板（２）に対向して配された取付けキャリア（１０５）とを備え、上記 取付けキャリア（１０５）が、案内システム（１０６）内において、選択された 接触アイランドへと移動できるとともに各移動先に固定され得るものとされ、そ れによって、電子部品（１１７）がマガジン（１１８）から取り出されるととも に所定の接触アイランド（９５ａ）の位置に配置され、また、上記取付け部（１ ０７）と各部品取付け位置における上記接触アイランド（９５ａ）とが、上記印 刷回路基板（２）における適正な位置において対向せしめられ、さらに、上記印 刷回路基板（２）が正しい位 置に置かれているか否かを検査もしくは判定する測定装置（１０８）を有するも とにあって、 上記測定装置（１０８）が、上記印刷回路基板（２）に対向して配され、該 印刷回路基板（２）における上記接触アイランド（９５ａ）に当接する接触子（ ９５ｂ）を含んで形成されていて、上記接触アイランド（９５ａ）とそれに当接 する上記接触子（９５ｂ）とが、上記印刷回路基板（２）が正しい位置にあると きにおいても、上記接触アイランド（９５ａ）及び上記接触子（９５ｂ）のうち の一方に対する他方の設定された片寄りを伴って、上記接触アイランド（９５ａ ）と上記接触子（９５ｂ）との間の接触領域が上記接触アイランド（９５ａ）の 周縁部分に向かって変位することになるものとされ、また、評価回路（Ｃａ１） が備えられていて、印刷回路基板（２）が上記正しい位置に置かれているか否か についての検査もしくは判定中において、接触アイランドと接触子との対（９５ ａ，９５ｂ）における接続状態が、“良好な”状態，“良好でない”状態及び非 接触状態のいずれにあるのかを評価すべく、上記接触アイランドと接触子との対 （９５ａ，９５ｂ）に電気的に接続されていること特徴とする部品取付け装置。 47．請求の範囲２〜３４のいずれかに記載されたシステムを備えることを特徴と する請求の範囲４６記載の部品取付け装置。