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JPH1041229A - Substrate treatment equipment - Google Patents

Substrate treatment equipment

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Publication number
JPH1041229A
JPH1041229A JP9698197A JP9698197A JPH1041229A JP H1041229 A JPH1041229 A JP H1041229A JP 9698197 A JP9698197 A JP 9698197A JP 9698197 A JP9698197 A JP 9698197A JP H1041229 A JPH1041229 A JP H1041229A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
cassette
transport path
along
transport
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP9698197A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2911428B2 (en
Inventor
Masami Otani
正美 大谷
Yoshimitsu Fukutomi
義光 福冨
Takeo Okamoto
健男 岡本
Yoshiji Oka
義二 岡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP9698197A priority Critical patent/JP2911428B2/en
Publication of JPH1041229A publication Critical patent/JPH1041229A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2911428B2 publication Critical patent/JP2911428B2/en
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a substrate treatment equipment which can restrain generation of dust as little as possible when a substrate is carried in a cassette and carried out from it, and improve quality of substrate treatment. SOLUTION: A plurality of cassettes C storing substrates W on multistage are statically mounted on a cassette mounting stand 3. Substrate taking-out mechanism 4 which moves along cassette mounting stand 3 is elevated, thereby taking out a substrate W from the cassette C. The substrate W is subjected to centering, and then delivered to a substrate transfer mechanism 9. A second transfer route wherein the substrate transfer mechanism 9 moves in both directions stretches in the rectangular direction from the center of a first transfer route wherein the substrate taking-out mechanism 4 runs. The substrate transfer mechanism 9 moves on the second transfer route and carried the substrates W to each substrate treatment part. When the substrate W is carried in the cassette C and carried out from it, the cassette C does not move so that generation of dust due to vibration of the cassette C is restrained.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエハ等の
基板を多段に収納したカセットから基板を取り出し、こ
の基板をフォトレジストをコーティングするスピンナー
部や、熱処理部などの基板処理部へ搬送し、各基板処理
部で基板に所要の処理を施す基板処理装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for removing a substrate from a cassette in which substrates such as semiconductor wafers are stored in multiple stages, and transporting the substrate to a substrate processing section such as a spinner section for coating a photoresist or a heat treatment section. The present invention relates to a substrate processing apparatus that performs required processing on a substrate in each substrate processing unit.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、この種のフォトレジスト処理装置
に備えられた基板取り出し機構として、次のようなもの
がある。例えば、基板を収納したカセットを、カセット
内の基板収納溝のピッチと同じピッチで間欠的に昇降
し、所定位置に固定設置された光センサによってカセッ
ト内の各溝の基板の有無を検出していく。カセットに基
板を出し入れするための基板支持アームは、カセットに
対して前後動のみするように構成されている。カセット
から基板を取り出す場合には、カセットを昇降させて、
基板が有ることが検出された溝部分を基板支持アームの
進入経路の高さにセットする。続いて、基板支持アーム
がカセット内に進入して、カセットから基板を取り出
す。
2. Description of the Related Art Heretofore, as a substrate take-out mechanism provided in this type of photoresist processing apparatus, there is the following one. For example, the cassette storing the substrates is intermittently moved up and down at the same pitch as the pitch of the substrate storage grooves in the cassette, and the presence or absence of the substrate in each groove in the cassette is detected by an optical sensor fixedly installed at a predetermined position. Go. A substrate support arm for taking substrates in and out of the cassette is configured to only move back and forth with respect to the cassette. When removing substrates from the cassette, raise and lower the cassette,
The groove where the presence of the substrate is detected is set at the height of the approach path of the substrate support arm. Subsequently, the substrate support arm enters the cassette and takes out the substrate from the cassette.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構成を有する従来例の場合には、次のような問題が
ある。すなわち、従来装置によれば、カセットを昇降さ
せる際に、カセットが振動するためカセット内に付着し
ていた塵埃が離脱して基板に付着したり、あるいは基板
収納溝の内壁と基板端部とが擦れあって塵埃が発生する
といった不都合がある。そのため従来のフォトレジスト
処理装置によれば、カセットの振動に起因した塵埃の影
響で、基板が汚染されやすいという問題がある。
However, the prior art having such a structure has the following problems. That is, according to the conventional apparatus, when the cassette is moved up and down, the cassette vibrates, so that the dust adhering in the cassette separates and adheres to the substrate, or the inner wall of the substrate accommodating groove and the substrate end are separated. There is an inconvenience that dust is generated due to friction. Therefore, according to the conventional photoresist processing apparatus, there is a problem that the substrate is easily contaminated by the influence of dust caused by vibration of the cassette.

【0004】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであって、カセットからの基1の取り出しに際し
て、塵埃の発生を極力抑えて基板処理の品質を向上させ
ることができる基板処理装置を提供することを目的とし
ている。
The present invention has been made in view of such circumstances, and when removing the base 1 from a cassette, a substrate processing apparatus capable of minimizing generation of dust and improving the quality of substrate processing. It is intended to provide.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明の構成は次のとお
りである。すなわち、請求項1に記載の発明は、基板を
多段に収納する複数個のカセットを静止して載置するカ
セット載置部と、前記カセット載置部に沿った第1搬送
路を移動し、カセットが基板を上下多段に収納する高さ
を昇降する基板取り出し機構と、前記基板取り出し機構
がカセットから取り出した基板の中心位置合わせをする
位置合わせ機構と、前記第1搬送路の中央部から直角の
方向に延在する第2搬送路に沿って、基板を基板支持ア
ームに載置した状態で双方向に搬送する基板搬送機構
と、前記第2搬送路に沿って配置された複数の基板処理
部を備え、前記基板取り出し機構によってカセットから
取り出された基板を、前記位置合わせ機構によって位置
合わせするとともに、前記基板取り出し機構によって第
1搬送路に沿って搬送して、前記基板搬送機構に受け渡
し、この基板を前記基板搬送機構によって前記複数の基
板処理部へ搬送することを特徴とする。
The configuration of the present invention is as follows. That is, the invention according to claim 1 moves a cassette mounting portion on which a plurality of cassettes accommodating substrates in multiple stages are statically mounted and a first transport path along the cassette mounting portion, A substrate take-out mechanism for raising and lowering the height at which the cassette stores substrates in multiple stages, a positioning mechanism for performing center alignment of the substrate taken out of the cassette by the substrate take-out mechanism, and a right angle from the center of the first transport path. A substrate transport mechanism for transporting the substrate in a bidirectional manner while being mounted on the substrate support arm, along a second transport path extending in the direction of the arrow, and a plurality of substrate processing units disposed along the second transport path. A substrate taken out of the cassette by the substrate take-out mechanism is positioned by the positioning mechanism, and transported along the first transport path by the substrate take-out mechanism. Passing the substrate transfer mechanism, characterized by conveying to the plurality of substrate processing section of the substrate by the substrate transfer mechanism.

【0006】請求項2に記載の発明は、基板を多段に収
納する複数個のカセットを静止して載置するカセット載
置部と、前記カセット載置部に沿った第1搬送路を移動
し、カセットが基板を上下多段に収納する高さを昇降す
る基板取り出し機構と、投光素子と受光素子を、カセッ
トを挟んで水平方向に対して傾斜した角度で対向配置し
て、一体に昇降可能に取り付けた光センサと、前記光セ
ンサを昇降させる光センサ昇降機構と、前記基板取り出
し機構がカセットから取り出した基板の中心位置合わせ
をする位置合わせ機構と、前記第1搬送路の中央部から
直角の方向に延在する第2搬送路に沿って、基板を基板
支持アームに載置した状態で双方向に搬送する基板搬送
機構と、前記第2搬送路に沿って配置された複数の基板
処理部を備え、前記光センサで検出されたカセット内の
基板に対応する高さへ昇降した前記基板取り出し機構に
よってカセットから取り出された基板を、前記位置合わ
せ機構によって位置合わせするとともに、前記基板取り
出し機構によって第1搬送路に沿って搬送して、前記基
板搬送機構に受け渡し、この基板を前記基板搬送機構に
よって前記複数の基板処理部へ搬送することを特徴とす
る。
According to a second aspect of the present invention, a plurality of cassettes for accommodating substrates in multiple stages are mounted on a cassette mounting portion stationary and a first transport path is moved along the cassette mounting portion. , A cassette take-out mechanism that raises and lowers the height of the cassette in which the substrates are stored in multiple stages, and a light-emitting element and a light-receiving element that are opposed to each other at an angle that is inclined with respect to the horizontal direction across the cassette, and can be moved up and down together An optical sensor elevating mechanism for elevating and lowering the optical sensor; an alignment mechanism for aligning the center of the substrate extracted from the cassette by the substrate extracting mechanism; and a right angle from the center of the first transport path. A substrate transport mechanism for transporting the substrate in a bidirectional manner while being mounted on the substrate support arm, along a second transport path extending in the direction of the arrow, and a plurality of substrate processing units disposed along the second transport path. With a part, front A substrate taken out of the cassette by the substrate take-out mechanism which has been moved up and down to a height corresponding to a substrate in the cassette detected by the optical sensor is positioned by the positioning mechanism, and the first transport path is made by the substrate take-out mechanism. , And transferred to the substrate transfer mechanism, and the substrate is transferred to the plurality of substrate processing units by the substrate transfer mechanism.

【0007】請求項3に記載の発明は、基板にフォトレ
ジストをコーティングして熱処理する基板処理装置であ
って、基板を多段に収納する複数個のカセットを静止し
て載置するカセット載置部と、前記カセット載置部に沿
った第1搬送路を移動し、カセットが基板を上下多段に
収納する高さを昇降する基板取り出し機構と、前記基板
取り出し機構がカセットから取り出した基板の中心位置
合わせをする位置合わせ機構と、前記第1搬送路の中央
部から直角の方向に延在する第2搬送路に沿って、基板
を基板支持アームに載置した状態で双方向に搬送する基
板搬送機構と、前記第2搬送路に沿って配置され、スピ
ンナー部と熱処理部とを有する複数の基板処理部からな
るプロセスユニットを備え、前記基板取り出し機構によ
ってカセットから取り出された基板を、前記位置合わせ
機構によって位置合わせするとともに、前記基板取り出
し機構によって第1搬送路に沿って搬送して、前記基板
搬送機構に受け渡し、この基板を前記基板搬送機構によ
って前記プロセスユニットのスピンナー部と熱処理部へ
搬送することを特徴とする。
According to a third aspect of the present invention, there is provided a substrate processing apparatus for coating a substrate with a photoresist and heat-treating the substrate, wherein a plurality of cassettes accommodating the substrates are mounted in a stationary manner. A substrate take-out mechanism that moves along a first transport path along the cassette mounting portion and raises and lowers the height at which the cassette stores substrates in multiple stages, and a center position of the substrate taken out of the cassette by the substrate take-out mechanism A positioning mechanism for performing alignment, and a substrate transport that bidirectionally transports a substrate mounted on a substrate support arm along a second transport path extending in a direction perpendicular to the center of the first transport path. A mechanism, and a process unit including a plurality of substrate processing units disposed along the second transport path and having a spinner unit and a heat treatment unit. The ejected substrate is aligned by the alignment mechanism, transported along the first transport path by the substrate unloading mechanism, transferred to the substrate transport mechanism, and the substrate is processed by the substrate transport mechanism. The unit is transported to a spinner unit and a heat treatment unit.

【0008】請求項4に記載の発明は、基板にフォトレ
ジストをコーティングして熱処理する基板処理装置であ
って、基板を多段に収納する複数個のカセットを静止し
て載置するカセット載置部と、前記カセット載置部に沿
った第1搬送路を移動し、カセットが基板を上下多段に
収納する高さを昇降する基板取り出し機構と、投光素子
と受光素子を、カセットを挟んで水平方向に対して傾斜
した角度で対向配置して、一体に昇降可能に取り付けた
光センサと、前記光センサを昇降させる光センサ昇降機
構と、前記基板取り出し機構がカセットから取り出した
基板の中心位置合わせをする位置合わせ機構と、前記第
1搬送路の中央部から直角の方向に延在する第2搬送路
に沿って、基板を基板支持アームに載置した状態で双方
向に搬送する基板搬送機構と、前記第2搬送路に沿って
配置され、スピンナー部と熱処理部とを有する複数の基
板処理部からなるプロセスユニットを備え、前記光セン
サで検出されたカセット内の基板に対応する高さへ昇降
した前記基板取り出し機構によってカセットから取り出
された基板を、前記位置合わせ機構によって位置合わせ
するとともに、前記基板取り出し機構によって第1搬送
路に沿って搬送して、前記基板搬送機構に受け渡し、こ
の基板を前記基板搬送機構によって前記プロセスユニッ
トのスピンナー部と熱処理部へ搬送することを特徴とす
る。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a substrate processing apparatus for coating a substrate with a photoresist and heat-treating the substrate, wherein a plurality of cassettes accommodating the substrates in a plurality of stages are mounted stationary. And a substrate take-out mechanism that moves along the first transport path along the cassette mounting portion and raises and lowers the height at which the cassette stores substrates in multiple stages vertically, and horizontally sets the light projecting element and the light receiving element with the cassette interposed therebetween. An optical sensor mounted so as to be able to ascend and descend integrally, and an optical sensor elevating mechanism for elevating and lowering the optical sensor, and center alignment of the substrate taken out of the cassette by the substrate taking out mechanism. And a substrate for bi-directionally transporting a substrate mounted on a substrate support arm along a second transport path extending in a direction perpendicular to the center of the first transport path. And a process unit including a plurality of substrate processing units disposed along the second transport path and having a spinner unit and a heat treatment unit, and a height corresponding to the substrate in the cassette detected by the optical sensor. The substrate taken out of the cassette by the substrate take-out mechanism which has been moved up and down is positioned by the positioning mechanism, and is carried along the first carrying path by the substrate take-out mechanism, and delivered to the substrate carry mechanism. The substrate is transported to the spinner unit and the heat treatment unit of the process unit by the substrate transport mechanism.

【0009】請求項5に記載の発明は、請求項1ないし
4のいずれかに記載の基板処理装置において、前記第1
搬送路の中央を基板受け渡し位置として、前記基板取り
出し機構から前記基板搬送機構へ基板の受け渡しを行う
ことを特徴とする。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided the substrate processing apparatus according to any one of the first to fourth aspects, wherein the first
The substrate is transferred from the substrate take-out mechanism to the substrate transfer mechanism by setting the center of the transfer path as the substrate transfer position.

【0010】請求項6に記載の発明は、請求項1ないし
4のいずれかに記載の基板処理装置において、前記プロ
セスユニットは、前記基板搬送機構を間にして、前記複
数の基板処理部を前記第2搬送路に沿って2列に分割し
て配置することを特徴とする。
According to a sixth aspect of the present invention, in the substrate processing apparatus according to any one of the first to fourth aspects, the process unit connects the plurality of substrate processing units with the substrate transfer mechanism interposed therebetween. It is characterized by being arranged in two rows along the second transport path.

【0011】請求項7に記載の発明は、請求項1ないし
4のいずれかに記載の基板処理装置において、前記基板
取り出し機構は、カセットに向かって前後動する基板吸
着アームを備えることを特徴とする。
According to a seventh aspect of the present invention, in the substrate processing apparatus according to any one of the first to fourth aspects, the substrate unloading mechanism includes a substrate suction arm that moves back and forth toward the cassette. I do.

【0012】請求項8に記載の発明は、請求項1ないし
4のいずれかに記載の基板処理装置において、前記基板
は半導体ウエハであって、前記位置合わせ機構は、基板
の外径と略同一曲率になるように配置された複数の突起
を、基板の周辺に当接・離間して基板の中心位置合わせ
を行うことを特徴とする。
According to an eighth aspect of the present invention, in the substrate processing apparatus according to any one of the first to fourth aspects, the substrate is a semiconductor wafer, and the alignment mechanism has substantially the same outer diameter as the substrate. A plurality of protrusions arranged to have a curvature are brought into contact with and separated from the periphery of the substrate to perform center alignment of the substrate.

【0013】[0013]

【作用】請求項1に記載の発明の作用は次のとおりであ
る。基板取り出し機構が、カセット載置部に沿った第1
搬送路を移動して、所定のカセットに対向する位置に来
る。続いて、基板取り出し機構が昇降することにより、
カセット内から基板を取り出す。位置合わせ機構が、前
記取り出された基板の中心位置合わせを行う。基板取り
出し機構が第1搬送路を移動して、前記位置合わせされ
た基板を基板搬送機構に受け渡す。基板搬送機構は、こ
の基板を基板支持アームに載置した状態で、第1搬送路
の中央部から直角の方向に延在する第2搬送路に沿って
搬送し、第2搬送路に沿って配置された各基板処理部へ
基板を受け渡す。カセットから基板を取り出す際に、カ
セットが動かないので、カセットの振動に基づく塵埃の
発生が抑えられる。
The operation of the first aspect of the invention is as follows. The substrate unloading mechanism is configured to move the first substrate along the cassette mounting portion.
After moving along the transport path, it comes to a position facing a predetermined cassette. Subsequently, the substrate unloading mechanism moves up and down,
The substrate is taken out of the cassette. An alignment mechanism aligns the center of the taken-out substrate. The substrate unloading mechanism moves along the first transport path and delivers the aligned substrate to the substrate transport mechanism. The substrate transport mechanism transports the substrate along a second transport path extending in a direction perpendicular to the center of the first transport path with the substrate placed on the substrate support arm, and along the second transport path. The substrate is delivered to each disposed substrate processing unit. Since the cassette does not move when removing the substrate from the cassette, the generation of dust due to the vibration of the cassette is suppressed.

【0014】請求項2に記載の発明の作用は次のとおり
である。まず、光センサ昇降機構が光センサを昇降させ
ることにより、この光センサでカセット内の基板を検出
する。基板取り出し機構が第1搬送路を移動して前記カ
セットに対向する位置にまで来たのち、前記検出された
基板に対応する高さにまで基板取り出し機構が昇降し、
その基板をカセットから取り出す。取り出された基板を
位置合わせ機構が中心位置合わせするとともに、この基
板を基板搬送機構が第1搬送路に沿って搬送し、基板搬
送機構に受け渡す。基板搬送機構は、この基板を第2搬
送路に沿って搬送して、各基板処理部に受け渡す。カセ
ット内の基板検出およびカセットからの基板取り出しの
際にカセットが動かないので、カセットの振動に基づく
塵埃の発生が一層抑えられる。
The operation of the invention described in claim 2 is as follows. First, the optical sensor elevating mechanism raises and lowers the optical sensor, and the optical sensor detects a substrate in the cassette. After the substrate unloading mechanism moves along the first transport path and reaches a position facing the cassette, the substrate unloading mechanism moves up and down to a height corresponding to the detected substrate,
The substrate is taken out of the cassette. The taken-out substrate is center-aligned by the alignment mechanism, and the substrate transport mechanism transports the substrate along the first transport path and transfers the substrate to the substrate transport mechanism. The substrate transport mechanism transports the substrate along the second transport path and transfers the substrate to each substrate processing unit. Since the cassette does not move at the time of detecting the substrate in the cassette and removing the substrate from the cassette, the generation of dust due to the vibration of the cassette is further suppressed.

【0015】請求項3に記載の発明の作用は、請求項1
に記載の発明の作用と同様である。特に、本発明では、
基板取り出し機構によってカセットから取り出されて、
位置合わせされた基板を、基板搬送機構が、第2搬送路
に沿って配置されたスピンナー部と熱処理部とに搬送し
て受け渡す。
The operation of the third aspect of the present invention is the first aspect of the present invention.
This is the same as the operation of the invention described in (1). In particular, in the present invention,
It is taken out of the cassette by the board taking out mechanism,
The substrate transfer mechanism transfers and transfers the aligned substrate to a spinner unit and a heat treatment unit arranged along the second transfer path.

【0016】請求項4に記載の発明の作用は、請求項2
に記載の発明の作用と同様である。特に、本発明では、
基板取り出し機構によってカセットから取り出されて、
位置合わせされた基板を、基板搬送機構が、第2搬送路
に沿って配置されたスピンナー部と熱処理部とに搬送し
て受け渡す。
The operation of the invention described in claim 4 is the same as that of claim 2
This is the same as the operation of the invention described in (1). In particular, in the present invention,
It is taken out of the cassette by the board taking out mechanism,
The substrate transfer mechanism transfers and transfers the aligned substrate to a spinner unit and a heat treatment unit arranged along the second transfer path.

【0017】請求項5に記載の発明によれば、基板取り
出し機構によってカセットから取り出されて、位置合わ
せされた基板を、基板取り出し機構が第1搬送路の中央
位置にまで搬送して、この位置で基板搬送機構に受け渡
す。
According to the fifth aspect of the present invention, the substrate taken out of the cassette by the substrate take-out mechanism and aligned is transferred to the center position of the first transfer path by the substrate take-out mechanism. To transfer it to the substrate transport mechanism.

【0018】請求項6に記載の発明によれば、第2搬送
路に沿って2列に分割配置された複数の基板処理部に対
して、基板搬送機構が基板を搬送する。
According to the sixth aspect of the present invention, the substrate transport mechanism transports the substrate to the plurality of substrate processing units divided and arranged in two rows along the second transport path.

【0019】請求項7に記載の発明によれば、カセット
から取り出そうとする基板に対向する位置にまで基板取
り出し機構が昇降した後、基板吸着アームがカセットに
向かって前進して基板を吸着し、続いて後退することに
よりカセットから基板が取り出される。
According to the seventh aspect of the present invention, after the substrate removing mechanism moves up and down to a position facing the substrate to be removed from the cassette, the substrate suction arm advances toward the cassette to suction the substrate, Subsequently, the substrate is taken out of the cassette by retreating.

【0020】請求項8に記載の発明によれば、カセット
から取り出された基板の周辺に、複数の突起が当接・離
間することで、基板の中心位置合わせが行われる。
According to the eighth aspect of the present invention, the center of the substrate is aligned by a plurality of protrusions coming into contact with and separating from the periphery of the substrate taken out of the cassette.

【0021】[0021]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を図面に基
づいて詳細に説明する。本発明に係る基板処理装置の一
実施例である半導体製造装置を、図4および図5を参照
して説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. A semiconductor manufacturing apparatus as an embodiment of the substrate processing apparatus according to the present invention will be described with reference to FIGS.

【0022】図4に示した装置は、半導体ウエハ等の基
板にフォトレジスト等をコーティングして熱処理するた
めの装置であり、大きく分けて、カセットCから基板W
を取り出したり、カセットC内へ基板Wを搬入するため
の基板搬入・搬出ユニット1と、カセットCから取り出
された基板Wに所要の処理を施すプロセスユニット2と
から構成されている。
The apparatus shown in FIG. 4 is an apparatus for coating a substrate such as a semiconductor wafer or the like with a photoresist or the like and heat-treating the substrate.
1 and a substrate loading / unloading unit 1 for loading and unloading a substrate W into the cassette C, and a process unit 2 for performing required processing on the substrate W taken out of the cassette C.

【0023】図4、および図5の平面図に示すように、
基板搬入・搬出ユニット1のカセット設置台3の上に
は、基板Wを多段に収納する複数個のカセットCが設置
されており、このカセット設置台3の内部に基板検出装
置の要部が設けられている。基板搬入・搬出ユニット1
には、カセット設置台3に沿って水平移動する基板取り
出し機構4が設けられている。
As shown in the plan views of FIGS. 4 and 5,
A plurality of cassettes C for accommodating the substrates W in multiple stages are installed on the cassette mounting table 3 of the substrate loading / unloading unit 1, and a main portion of the substrate detection device is provided inside the cassette mounting table 3. Have been. Substrate loading / unloading unit 1
Is provided with a substrate unloading mechanism 4 that moves horizontally along the cassette installation table 3.

【0024】基板取り出し機構4は、昇降および前後動
(図5における上下方向)可能な基板吸着アーム5があ
り、この基板吸着アーム5によって各カセットC内の溝
に収納された基板Wを取り出したり、あるいはカセット
C内に処理済みの基板Wを収納したりするようになって
いる。
The substrate unloading mechanism 4 has a substrate suction arm 5 which can be moved up and down and moved back and forth (vertically in FIG. 5). The substrate suction arm 5 can be used to take out the substrate W stored in the groove in each cassette C. Alternatively, the processed substrates W are stored in the cassette C.

【0025】基板取り出し機構4には、基板吸着アーム
5によって取り出された基板Wを支持する昇降自在な3
本の支持ピン61 〜63 、および前記支持ピン61 〜6
3 に支持された基板Wの中心位置合わせを行う位置合わ
せ板71 ,72 などが備えられている。位置合わせ板7
1 ,72 の上には、基板Wの外径と略同一曲率になるよ
うに配列された複数本の突起8があり、位置合わせ板7
1 ,72 が水平往復動することにより、前記突起8が基
板Wの周辺に当接・離間して、基板Wの中心位置合わせ
を行うようになっている。
The substrate take-out mechanism 4 has a movable up and down 3 supporting the substrate W taken out by the substrate suction arm 5.
Of support pins 61 through 65 3, and the support pins 61 through 65
Positioning plates 7 1 , 7 2, etc., for centering the substrate W supported by 3 are provided. Positioning plate 7
There are a plurality of protrusions 8 arranged on the first and the second 72 so as to have substantially the same curvature as the outer diameter of the substrate W.
The horizontal reciprocation of the first and the second 72 causes the protrusions 8 to come into contact with and separate from the periphery of the substrate W, thereby performing the center position adjustment of the substrate W.

【0026】基板取り出し機構4によって、カセットC
から取り出されて、位置合わせされた基板Wは、基板取
り出し機構4によって基板受渡し位置(図4におけるP
位置)に移送された後、プロセスユニット2に備えられ
た基板搬送機構9に受け渡される。
The cassette C is moved by the substrate take-out mechanism 4.
The substrate W taken out of the substrate and aligned is moved by the substrate take-out mechanism 4 to a substrate delivery position (P in FIG. 4).
Is transferred to the substrate transfer mechanism 9 provided in the process unit 2.

【0027】基板搬送機構9は、Uの字状の基板支持ア
ーム10に基板Wを載置した状態で基板Wを搬送し、プロ
セスユニット2に備えられたスピンナー部111 ,11
2 や、熱処理部121 〜123 に基板Wを順にセッティング
していく。プロセスユニット2で処理された基板Wは、
前記基板受渡し位置Pにおいて、基板搬送機構9から基
板取り出し機構4へ受け渡された後、基板取り出し機構
4によってカセットC内に戻される。
The substrate transport mechanism 9 transports the substrate W while the substrate W is mounted on the U-shaped substrate support arm 10, and spinner units 11 1 , 11 provided in the process unit 2.
2 and, going sequentially setting the substrate W to the thermal processing unit 12 1 to 12 3. The substrate W processed in the process unit 2 is
At the substrate transfer position P, after being transferred from the substrate transfer mechanism 9 to the substrate removal mechanism 4, the substrate is returned to the cassette C by the substrate removal mechanism 4.

【0028】以上のような半導体製造装置に備えられた
基板検出装置の一例を、図1ないし図3を参照して説明
する。図1は基板検出装置の一部破断正面図、図2は図
1の02−02矢視断面図、図3は図2の03−03矢
視断面図である。
An example of the substrate detecting device provided in the semiconductor manufacturing apparatus as described above will be described with reference to FIGS. 1 is a partially cutaway front view of the substrate detection device, FIG. 2 is a sectional view taken along the line 02-02 of FIG. 1, and FIG. 3 is a sectional view taken along the line 03-03 of FIG.

【0029】カセット設置台3に載置された各カセット
Cには、昇降自在なコの字状のブラケット21が付設され
ており、このブラケット21の先端部にカセットC内に収
納された基板Wを検出するための投光素子22および受光
素子23からなる光センサ24が取り付けられている。な
お、投光素子22および受光素子23は、その光軸が水平方
向に対して若干傾斜した角度(例えば、2〜3度)で取
り付けられることによって、投光素子22からの照射光を
基板Wの厚み以下にまで絞り込まなくても、基板Wの有
無によって遮光・透光状態が得られるようになってい
る。
Each of the cassettes C mounted on the cassette mounting table 3 is provided with a U-shaped bracket 21 which can be moved up and down, and a substrate W stored in the cassette C is provided at the tip of the bracket 21. An optical sensor 24 including a light projecting element 22 and a light receiving element 23 for detecting the light is mounted. The light projecting element 22 and the light receiving element 23 are attached at an angle (for example, 2 to 3 degrees) at which the optical axis is slightly inclined with respect to the horizontal direction, so that the irradiation light from the light projecting element 22 is applied to the substrate W. Even if the substrate W is not narrowed down to the thickness or less, a light-shielding / light-transmitting state can be obtained depending on the presence or absence of the substrate W.

【0030】図2に示すように、カセット設置台3の下
方には、ブラケット21に一体に取り付けられた光センサ
24を昇降させるための光センサ昇降機構25がある。光セ
ンサ昇降機構25は、支持板20に垂直方向に並設支持され
たロッドレスシリンダ26とガイド棒27とを備え、これら
に摺動自在に嵌入された可動部材28をカセット設置台3
を貫通する縦部材29を介してブラケット21に連結した構
成になっている。ロッドレスシリンダ26の上下端からエ
アーを供給してロッドレスシリンダ26内の図示しない磁
石を上下動させると、これに伴って可動部材28が上下動
することにより、ブラケット21に取り付けられた光セン
サ24がカセットCに沿って昇降するようになっている。
なお、光センサ昇降機構25は、上述のようなロッドレス
シリンダ26に限らず、通常のエアーシリンダや、モータ
による螺子送り機構などで構成することも可能である。
As shown in FIG. 2, below the cassette mounting table 3, an optical sensor
There is an optical sensor raising / lowering mechanism 25 for raising / lowering the 24. The optical sensor elevating mechanism 25 includes a rodless cylinder 26 and a guide rod 27 which are supported side by side on the support plate 20 in the vertical direction, and a movable member 28 slidably fitted therein is attached to the cassette mounting table 3.
Is connected to the bracket 21 via a vertical member 29 penetrating through. When air is supplied from the upper and lower ends of the rodless cylinder 26 to move a magnet (not shown) in the rodless cylinder 26 up and down, the movable member 28 moves up and down, thereby causing the optical sensor attached to the bracket 21 to move. 24 moves up and down along the cassette C.
The optical sensor elevating mechanism 25 is not limited to the rodless cylinder 26 described above, but may be configured by a normal air cylinder, a screw feed mechanism using a motor, or the like.

【0031】可動部材28には、櫛歯状のピッチ部材30が
上下方向に連結されている。ピッチ部材30には、被検出
部位としてのスリット31が、カセットCの収納溝と同じ
ピッチで同数だけ形成されている。ピッチ部材30の各ス
リット31を検出するために、フォトインタラプタのよう
なタイミング検出センサ32が支持板20に取り付けられて
いる。上述したピッチ部材30およびタイミング検出セン
サ32は、タイミング発生手段に相当するとともに、高さ
検知手段に相当する。
A comb-shaped pitch member 30 is vertically connected to the movable member 28. The pitch member 30 is formed with the same number of slits 31 as detection sites at the same pitch as the storage grooves of the cassette C. In order to detect each slit 31 of the pitch member 30, a timing detection sensor 32 such as a photo interrupter is attached to the support plate 20. The pitch member 30 and the timing detection sensor 32 described above correspond to timing generation means and also to height detection means.

【0032】図6は、上述した基板検出装置の制御系の
構成の概略を示したブロック図である。基板検出用の光
センサ24、タイミング検出センサ32、および光センサ昇
降機構25は入出力インターフェイス33を介してCPU34
に接続されている。CPU34は、メモリ制御手段に相当
するもので、光センサ24およびタイミング検出センサ32
からの検出信号に基づき、記憶手段としてメモリ35に基
板有り無し情報を書き込んでいく。
FIG. 6 is a block diagram schematically showing a configuration of a control system of the above-described substrate detecting apparatus. The optical sensor 24 for detecting the substrate, the timing detection sensor 32, and the optical sensor elevating mechanism 25 are connected to the CPU 34 via the input / output interface 33.
It is connected to the. The CPU 34 corresponds to a memory control unit, and includes the optical sensor 24 and the timing detection sensor 32.
The presence / absence information of the substrate is written into the memory 35 as a storage means based on the detection signal from the CPU.

【0033】以下、図7に示したフローチャートを参照
して、本実施例装置の動作を説明する。 ステップS1:カセットC内の基板検出に先立って、C
PU34は内部カウンタの計数値Nを初期値に設定する。
ここでは、計数値Nを「0」にセットしている。
The operation of the present embodiment will be described below with reference to the flowchart shown in FIG. Step S1: Prior to the detection of the substrate in the cassette C, C
The PU 34 sets the count value N of the internal counter to an initial value.
Here, the count value N is set to “0”.

【0034】ステップS2:光センサ昇降機構25に光セ
ンサ24の上昇指令を出す。なお、ここでは、光センサ24
の初期位置がカセットCの下端に設定されている。光セ
ンサ24の上昇指令が出されると、光センサ昇降機構25の
ロッドレスシリンダ26が駆動され、光センサ24が取り付
けられたブラケット21が、カセットCの下端から上端に
向けて連続的に駆動されるとともに、ピッチ部材30がこ
れに伴って上昇する。
Step S2: A command for raising the optical sensor 24 is issued to the optical sensor lifting mechanism 25. Here, the optical sensor 24
Is set at the lower end of the cassette C. When a command to raise the optical sensor 24 is issued, the rodless cylinder 26 of the optical sensor lifting mechanism 25 is driven, and the bracket 21 to which the optical sensor 24 is attached is continuously driven from the lower end to the upper end of the cassette C. At the same time, the pitch member 30 rises accordingly.

【0035】ステップS3:CPU34は、光センサ24の
上昇指令を出した後、タイミング検出センサ32が透光状
態になったかどうか、すなわち、ピッチ部材30のスリッ
ト31を検出したかどうかを監視する。
Step S3: After issuing a command to raise the optical sensor 24, the CPU 34 monitors whether or not the timing detection sensor 32 has entered the light transmitting state, that is, whether or not the slit 31 of the pitch member 30 has been detected.

【0036】ステップS4:スリット31を検出すると、
計数値N(始動時には初期値「0」)に「1」を加算し
て、基板有り無し情報を書き込むためのメモリ35のアド
レスAを指定する。N=iのときに指定されるアドレス
i は、カセットCの下からi段目の基板収納溝に対応
している。
Step S4: When the slit 31 is detected,
By adding "1" to the count value N (initial value "0" at start-up), the address A of the memory 35 for writing the board presence / absence information is designated. The address A i specified when N = i corresponds to the substrate storage groove at the i-th stage from the bottom of the cassette C.

【0037】ステップS5,S6:次に、光センサ24か
らの検出信号を取り込み、現在の計数値N(=1)に対
応するメモリ35のアドレスA1 領域に、光センサ24の検
出信号から得られた基板有り無しの情報を書き込む。こ
こでは、基板有りの場合、「1」を、基板無しの場合、
「0」が書き込まれる。
[0037] Step S5, S6: Then, captures the detection signals from the light sensor 24, the address A 1 region of memory 35 corresponding to the current count value N (= 1), obtained from the detection signal of the optical sensor 24 The information on the presence / absence of the given substrate is written. Here, if there is a substrate, “1” is set, and if there is no substrate,
“0” is written.

【0038】ステップS7:次に、計数値Nが、カセッ
トCの段数に応じて定められた数値N0 になっているか
どうかを判断する。計数値NがN0 になっていれば、カ
セットC内の全ての溝について基板の有り無しを確認し
たことになるので、処理を終了する。計数NがN0 でな
い場合は、ステップS8に進む。
[0038] Step S7: Next, the count value N is, determines whether it is the numerical value N 0 defined in accordance with the number of the cassette C. If the count value N has become N 0 , it means that the presence or absence of the substrate has been confirmed for all the grooves in the cassette C, and the processing is terminated. If the count N is not N 0, the process proceeds to step S8.

【0039】ステップS8:ここでは、ステップS3で
検出されたスリット31を通過したかどうかを確認してい
る。すなわち、タイミング検出センサ32が遮光状態にな
っていれば、ステップS3で検出したスリット31を通過
したことになるので、ステップS3に戻って、次のスリ
ット31が検出されたかどうかを監視し、以下、同様の処
理を繰り返す。以上のようにして、カセットC内の全て
の溝について、基板有り無しの情報が、メモリ35の所定
のアドレス領域に書き込まれる。
Step S8: Here, it is confirmed whether the slit 31 detected in step S3 has passed. That is, if the timing detection sensor 32 is in the light-shielded state, it means that it has passed the slit 31 detected in step S3, so the flow returns to step S3 to monitor whether the next slit 31 is detected. And the same processing is repeated. As described above, for all the grooves in the cassette C, the information indicating the presence or absence of the substrate is written in the predetermined address area of the memory 35.

【0040】図4に示した半導体製造装置では、あるカ
セットCから基板Wが取り出されている間に、他のカセ
ットCについて、上述のような基板検出処理を行うこと
により、各カセットC内の基板有り無し情報を予め採取
している。そして、基板取り出し機構4によって、次の
カセットC内の基板を取り出すときには、メモリ35に記
憶された当該カセットCの基板有り無し情報を順に読み
出して、基板Wが入っているカセットC内の溝を特定
し、その溝の位置にまで基板吸着アーム5を連続的に昇
降させて、基板Wの取り出しを行う。
In the semiconductor manufacturing apparatus shown in FIG. 4, while the substrate W is being taken out from a certain cassette C, the other substrate C is subjected to the above-described substrate detection processing, whereby each cassette C Information on the presence or absence of the substrate is collected in advance. When the substrate in the next cassette C is to be taken out by the substrate take-out mechanism 4, the substrate presence / absence information of the cassette C stored in the memory 35 is sequentially read out, and the groove in the cassette C in which the substrate W is placed is read. Then, the substrate W is taken out by continuously moving the substrate suction arm 5 up and down to the position of the groove.

【0041】このように予め光センサ24を連続的に昇降
させて、カセットCの基板有り無し情報を採取し、その
採取した情報をもとに基板吸着アーム5を駆動するよう
にすれば、光センサを間欠送りしながらカセットC内の
各溝ごとに基板の有り無しを確認して基板を取り出すと
いう従来手法に比較して、基板の取り出しに要する時間
が短縮され、この種の半導体製造装置の処理速度の向上
を図ることができる。
As described above, if the optical sensor 24 is continuously raised and lowered in advance, the presence / absence information of the substrate of the cassette C is collected, and the substrate suction arm 5 is driven based on the collected information. Compared to the conventional method of checking the presence or absence of a substrate for each groove in the cassette C while intermittently feeding the sensor and taking out the substrate, the time required for taking out the substrate is shortened. The processing speed can be improved.

【0042】なお、本発明は次のように変形実施するこ
とも可能である。 (1) 実施例では半導体ウエハにフォトレジストを塗布す
る装置を例にとって説明したが、本発明は半導体ウエハ
に限らず、液晶表示器用の基板など、カセットに収容さ
れる種々の基板に対する処理に用いることができる。
The present invention can be modified as follows. (1) In the embodiment, an apparatus for applying a photoresist to a semiconductor wafer has been described as an example, but the present invention is not limited to a semiconductor wafer, and is used for processing various substrates contained in a cassette, such as a substrate for a liquid crystal display. be able to.

【0043】(2) 実施例では、光センサ24の昇降に伴っ
てピッチ部材30を動かし、固定設置されたタイミング検
出センサ32でピッチ部材30のスリット31を検出したが、
これはピッチ部材30を固定設置し、タイミング検出セン
サ32を移動させるものであってもよい。
(2) In the embodiment, the pitch member 30 is moved as the optical sensor 24 moves up and down, and the slit 31 of the pitch member 30 is detected by the timing detection sensor 32 fixed and installed.
In this case, the pitch member 30 may be fixedly installed and the timing detection sensor 32 may be moved.

【0044】(3) また、タイミング発生手段は、実施例
のようなスリット31が形成されたピッチ部材30に限定さ
れず、例えば、カセットCの溝に対応した突起をピッチ
部材に形成し、この突起を近接スイッチなどで検出する
ようにしてもよい。
(3) The timing generating means is not limited to the pitch member 30 in which the slit 31 is formed as in the embodiment. For example, a protrusion corresponding to the groove of the cassette C may be formed on the pitch member. The protrusion may be detected by a proximity switch or the like.

【0045】(4) さらに、カセットCが他の装置に移送
される際に、実施例装置のメモリ35に書き込まれた基板
有り無し情報を、前記カッセトCの移送に伴って、次の
装置に伝送して利用するようにしてもよい。
(4) Further, when the cassette C is transferred to another apparatus, the presence / absence information of the substrate written in the memory 35 of the embodiment apparatus is transferred to the next apparatus with the transfer of the cassette C. You may make it transmit and use.

【0046】(5) 本発明は、基板を収納したカセットを
昇降させることなく、カセット内の基板の有無を検出
し、これに基づいてカセットに対して基板の搬入・搬出
を行うことを特徴とするものであるから、カセット内の
基板の有無を検出する機構は、実施例のものに限定され
ない。例えば、パルスモータを使って、基板検出用の光
センサをカセットに沿って上下に間欠送りすることによ
って、カセットを動かさずにカセット内の基板の有無を
検出するようにしてもよい。
(5) The present invention is characterized in that the presence or absence of a substrate in the cassette is detected without moving the cassette containing the substrate up and down, and the substrate is loaded / unloaded to / from the cassette based on the detection. Therefore, the mechanism for detecting the presence / absence of a substrate in the cassette is not limited to that of the embodiment. For example, the presence or absence of a substrate in the cassette may be detected without moving the cassette by intermittently feeding the substrate detection optical sensor up and down along the cassette using a pulse motor.

【0047】[0047]

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば次のような効果を奏する。請求項1に記載の発
明によれば、カセットを静止させた状態でカセットから
基板を取り出して、複数の基板処理部へ搬送するように
しているので、カセットの振動に起因して基板に塵埃が
付着するという不具合がなく、基板処理の品質を向上さ
せることができる。
As is apparent from the above description, the present invention has the following effects. According to the first aspect of the present invention, the substrate is taken out of the cassette while the cassette is stationary and transported to a plurality of substrate processing units. There is no problem of adhesion, and the quality of substrate processing can be improved.

【0048】また、本発明によれば、カセット載置部に
置かれる複数個のカセットの配列と、第2搬送路に沿っ
て配置される複数の基板処理部の配列とが、直角になっ
ているので、複数個のカセットと複数の基板処理部とを
連ねて一列に配列する場合に比べて、基板処理装置をコ
ンパクトに構成することができる。
According to the present invention, the arrangement of the plurality of cassettes placed on the cassette mounting section and the arrangement of the plurality of substrate processing sections arranged along the second transport path are at right angles. Since the plurality of cassettes and the plurality of substrate processing units are arranged in a row in a row, the substrate processing apparatus can be made more compact.

【0049】さらに、本発明によれば、第1搬送路の中
央部から第2搬送路が直角に延在しているので、第1搬
送路に沿って並ぶ各カセットから取り出した基板を基板
取り出し機構が基板搬送機構に受け渡すまでに要する時
間について、カセット間で大きな偏りはない。これに対
して、第1搬送路の一端から第2搬送部が直角に延在し
ていると、第1搬送路の他端に在るカセットから取り出
した基板を基板取り出し機構が基板搬送機構に受け渡す
までに要する時間は、前記第1搬送部の一端の近くにあ
るカセットのそれよりも、想到長くなる。このような基
板受け渡しに要する時間のバラツキは、基板の円滑な搬
送にとって弊害になる。本発明によれば、このような基
板の受け渡しに要する時間のバラツキを極力小さくする
ことができる。
Further, according to the present invention, since the second transport path extends at a right angle from the center of the first transport path, the substrates taken out from the cassettes arranged along the first transport path are taken out of the substrate. There is no large deviation between cassettes in the time required for the mechanism to transfer it to the substrate transport mechanism. On the other hand, if the second transport section extends at a right angle from one end of the first transport path, the substrate removal mechanism sends the substrate removed from the cassette at the other end of the first transport path to the substrate transport mechanism. The time required for the transfer is longer than that of the cassette near one end of the first transport unit. Such a variation in the time required for the delivery of the substrate adversely affects the smooth transport of the substrate. According to the present invention, it is possible to minimize the variation in the time required for transferring such a substrate.

【0050】請求項2に記載の発明によれば、カセット
を静止させた状態でカセット内の基板を検出するので、
請求項1に記載の発明の効果に加えて、基板検出に伴う
塵埃の発生も抑制することができ、基板処理の品質を一
層向上させることができる。
According to the second aspect of the present invention, since the substrate in the cassette is detected while the cassette is stationary,
In addition to the effects of the first aspect of the present invention, the generation of dust associated with substrate detection can be suppressed, and the quality of substrate processing can be further improved.

【0051】請求項3に記載の発明によれば、請求項1
に記載の発明と同様の効果を得られる。特に、本発明に
よれば、基板へのフォトレジストのコーティング処理お
よび基板の熱処理の各品質を向上することができる。
According to the invention described in claim 3, according to claim 1
The same effect as the invention described in (1) can be obtained. In particular, according to the present invention, it is possible to improve the quality of each of the coating process of the photoresist on the substrate and the heat treatment of the substrate.

【0052】請求項4に記載の発明によれば、請求項2
に記載の発明と同様の効果を得られる。特に、本発明に
よれば、基板へのフォトレジストのコーティング処理お
よび基板の熱処理の各品質を向上することができる。
According to the invention described in claim 4, according to claim 2
The same effect as the invention described in (1) can be obtained. In particular, according to the present invention, it is possible to improve the quality of each of the coating process of the photoresist on the substrate and the heat treatment of the substrate.

【0053】請求項5に記載の発明によれば、第1搬送
路の中央を基板の受け渡し位置にしているので、請求項
1ないし4の各発明の効果に加えて、基板の受け渡しに
要する時間のバラツキを一層少なくすることができる。
According to the fifth aspect of the present invention, since the center of the first transport path is at the substrate transfer position, in addition to the effects of the first to fourth aspects, the time required for the substrate transfer is obtained. Can be further reduced.

【0054】請求項6に記載の発明によれば、複数の基
板処理部を第2搬送路に沿って2列に分割して配置して
いるので、請求項1ないし4の各発明の効果に加えて、
各基板処理部を効率よく配置でき、基板処理装置を一層
コンパクトに構成できる。
According to the sixth aspect of the present invention, the plurality of substrate processing units are divided and arranged in two rows along the second transport path. in addition,
Each substrate processing unit can be efficiently arranged, and the substrate processing apparatus can be configured more compactly.

【0055】請求項7に記載の発明によれば、請求項1
ないし4の各発明の効果に加えて、基板取り出し機構に
備えられた基板吸着アームによって、カセット内の基板
が容易に取り出すことができる。
According to the invention of claim 7, according to claim 1,
In addition to the effects of the inventions of (4) to (4), the substrate in the cassette can be easily removed by the substrate suction arm provided in the substrate removal mechanism.

【0056】請求項8に記載の発明によれば、請求項1
ないし4の各発明の効果に加えて、カセットから取り出
された基板の周辺に、複数の突起が当接・離間すること
で、基板の中心位置合わせが精度よく行うことができ
る。
According to the invention described in claim 8, according to claim 1
In addition to the effects of the fourth to fourth aspects, a plurality of protrusions come into contact with and separate from the periphery of the substrate taken out of the cassette, so that the center position of the substrate can be accurately adjusted.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】実施例装置における、カセット内の基板検出装
置を示した一部破断正面図である。
FIG. 1 is a partially cutaway front view showing a substrate detecting device in a cassette in an apparatus according to an embodiment.

【図2】図1の02−02矢視断面図である。FIG. 2 is a sectional view taken on line 02-02 of FIG. 1;

【図3】図2の03−03矢視断面図である。FIG. 3 is a sectional view taken along arrow 03-03 of FIG. 2;

【図4】本発明の実施例に係る基板処理装置の一例を示
した外観斜視図である。
FIG. 4 is an external perspective view showing an example of the substrate processing apparatus according to the embodiment of the present invention.

【図5】図4の装置の基板搬入・搬出ユニットの平面図
である。
5 is a plan view of a substrate loading / unloading unit of the apparatus of FIG.

【図6】実施例装置の制御系の概略構成を示したブロッ
ク図である。
FIG. 6 is a block diagram illustrating a schematic configuration of a control system of the embodiment device.

【図7】動作フローチャートである。FIG. 7 is an operation flowchart.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

C…カセット W…基板 1…基板搬入・搬出ユニット 2…プロセスユニット 3…カセット載置台 4…基板取り出し機構 5…基板吸着アーム(基板支持アーム) 9…基板搬送機構 111 ,112 …スピンナー部 121 〜123 …熱処理部 24…光センサ 22…投光素子 23…受光素子 25…光センサ昇降機構 30…ピッチ部材(タイミング発生手段) 32…タイミング検出センサ(タイミング発生手段) 34…CPU(メモリ制御手段) 35…メモリ(記憶手段)C ... cassette W ... substrate 1 ... substrate loading and unloading unit 2 ... process unit 3 ... cassette table 4 ... substrate takeout mechanism 5 ... substrate suction arm (substrate support arms) 9 ... substrate transport mechanism 11 1, 11 2 ... spinner portion 12 1 to 12 3 … Heat treatment unit 24… Optical sensor 22… Light emitting element 23… Light receiving element 25… Optical sensor elevating mechanism 30… Pitch member (timing generating means) 32… Timing detection sensor (timing generating means) 34… CPU ( Memory control means) 35 ... Memory (storage means)

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 岡本 健男 京都市伏見区羽束師古川町322番地 大日 本スクリーン製造株式会社洛西工場内 (72)発明者 岡 義二 京都市伏見区羽束師古川町322番地 大日 本スクリーン製造株式会社洛西工場内 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Takeo Okamoto 322 Hashizushi Furukawa-cho, Fushimi-ku, Kyoto Dainippon Screen Manufacturing Co., Ltd. Address Dainichi Screen Manufacturing Co., Ltd.

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板を多段に収納する複数個のカセット
を静止して載置するカセット載置部と、 前記カセット載置部に沿った第1搬送路を移動し、カセ
ットが基板を上下多段に収納する高さを昇降する基板取
り出し機構と、 前記基板取り出し機構がカセットから取り出した基板の
中心位置合わせをする位置合わせ機構と、 前記第1搬送路の中央部から直角の方向に延在する第2
搬送路に沿って、基板を基板支持アームに載置した状態
で双方向に搬送する基板搬送機構と、 前記第2搬送路に沿って配置された複数の基板処理部を
備え、 前記基板取り出し機構によってカセットから取り出され
た基板を、前記位置合わせ機構によって位置合わせする
とともに、前記基板取り出し機構によって第1搬送路に
沿って搬送して、前記基板搬送機構に受け渡し、この基
板を前記基板搬送機構によって前記複数の基板処理部へ
搬送することを特徴とする基板処理装置。
A cassette mounting section for stationaryly mounting a plurality of cassettes for accommodating substrates in multiple stages; and a first transport path along the cassette mounting section, wherein the cassette moves the substrates up and down in multiple stages. A substrate take-out mechanism that raises and lowers the height of the substrate to be stored in the cassette; a positioning mechanism that centers the substrates taken out of the cassette by the substrate take-out mechanism; and a direction perpendicular to the center of the first transport path. Second
A substrate transport mechanism that bidirectionally transports a substrate mounted on a substrate support arm along a transport path; and a plurality of substrate processing units disposed along the second transport path; The substrate taken out of the cassette is positioned by the positioning mechanism, and transported along the first transport path by the substrate removal mechanism, transferred to the substrate transport mechanism, and the substrate is transported by the substrate transport mechanism. A substrate processing apparatus, wherein the substrate is transported to the plurality of substrate processing units.
【請求項2】 基板を多段に収納する複数個のカセット
を静止して載置するカセット載置部と、 前記カセット載置部に沿った第1搬送路を移動し、カセ
ットが基板を上下多段に収納する高さを昇降する基板取
り出し機構と、 投光素子と受光素子を、カセットを挟んで水平方向に対
して傾斜した角度で対向配置して、一体に昇降可能に取
り付けた光センサと、 前記光センサを昇降させる光センサ昇降機構と、 前記基板取り出し機構がカセットから取り出した基板の
中心位置合わせをする位置合わせ機構と、 前記第1搬送路の中央部から直角の方向に延在する第2
搬送路に沿って、基板を基板支持アームに載置した状態
で双方向に搬送する基板搬送機構と、 前記第2搬送路に沿って配置された複数の基板処理部を
備え、 前記光センサで検出されたカセット内の基板に対応する
高さへ昇降した前記基板取り出し機構によってカセット
から取り出された基板を、前記位置合わせ機構によって
位置合わせするとともに、前記基板取り出し機構によっ
て第1搬送路に沿って搬送して、前記基板搬送機構に受
け渡し、この基板を前記基板搬送機構によって前記複数
の基板処理部へ搬送することを特徴とする基板処理装
置。
2. A cassette mounting section for stationaryly mounting a plurality of cassettes for accommodating substrates in multiple stages, and moving along a first transport path along the cassette mounting section, wherein the cassette vertically moves substrates in multiple stages. A substrate take-out mechanism that raises and lowers the storage height of the substrate, an optical sensor in which the light-emitting element and the light-receiving element are arranged to face each other at an angle inclined with respect to the horizontal direction across the cassette, and are integrally mounted so as to be vertically movable; An optical sensor elevating mechanism for elevating and lowering the optical sensor; an alignment mechanism for aligning the center of the substrate taken out of the cassette by the substrate take-out mechanism; and a second member extending in a direction perpendicular to the center of the first transport path. 2
Along the transport path, a substrate transport mechanism that transports the substrate in a bi-directional manner while being mounted on the substrate support arm, and a plurality of substrate processing units disposed along the second transport path, wherein the optical sensor The substrate taken out of the cassette by the substrate take-out mechanism which has been moved up and down to the height corresponding to the substrate in the detected cassette is positioned by the positioning mechanism, and is moved along the first transport path by the substrate take-out mechanism. A substrate processing apparatus, wherein the substrate is transferred to the substrate transfer mechanism, and the substrate is transferred to the plurality of substrate processing units by the substrate transfer mechanism.
【請求項3】 基板にフォトレジストをコーティングし
て熱処理する基板処理装置であって、 基板を多段に収納する複数個のカセットを静止して載置
するカセット載置部と、 前記カセット載置部に沿った第1搬送路を移動し、カセ
ットが基板を上下多段に収納する高さを昇降する基板取
り出し機構と、 前記基板取り出し機構がカセットから取り出した基板の
中心位置合わせをする位置合わせ機構と、 前記第1搬送路の中央部から直角の方向に延在する第2
搬送路に沿って、基板を基板支持アームに載置した状態
で双方向に搬送する基板搬送機構と、 前記第2搬送路に沿って配置され、スピンナー部と熱処
理部とを有する複数の基板処理部からなるプロセスユニ
ットを備え、 前記基板取り出し機構によってカセットから取り出され
た基板を、前記位置合わせ機構によって位置合わせする
とともに、前記基板取り出し機構によって第1搬送路に
沿って搬送して、前記基板搬送機構に受け渡し、この基
板を前記基板搬送機構によって前記プロセスユニットの
スピンナー部と熱処理部へ搬送することを特徴とする基
板処理装置。
3. A substrate processing apparatus for coating a substrate with a photoresist and heat-treating the substrate, comprising: a cassette mounting portion for stationaryly mounting a plurality of cassettes accommodating substrates in multiple stages; A substrate take-out mechanism that moves along a first transport path along the cassette and raises and lowers a height at which the cassette stores substrates in multiple stages, and a positioning mechanism that centers the substrates taken out of the cassette by the substrate take-out mechanism. A second extending from a central portion of the first transport path in a direction perpendicular to the first transport path;
A substrate transport mechanism that bidirectionally transports the substrate mounted on the substrate support arm along the transport path; and a plurality of substrate processing units that are disposed along the second transport path and that include a spinner unit and a heat treatment unit. A substrate unit taken out of the cassette by the substrate take-out mechanism, while the substrate taking-out mechanism aligns the substrate by the positioning mechanism, and carries the substrate along the first carrying path by the substrate take-out mechanism. A substrate processing apparatus, wherein the substrate is transferred to a mechanism, and the substrate is transported to a spinner section and a heat treatment section of the process unit by the substrate transport mechanism.
【請求項4】 基板にフォトレジストをコーティングし
て熱処理する基板処理装置であって、 基板を多段に収納する複数個のカセットを静止して載置
するカセット載置部と、 前記カセット載置部に沿った第1搬送路を移動し、カセ
ットが基板を上下多段に収納する高さを昇降する基板取
り出し機構と、 投光素子と受光素子を、カセットを挟んで水平方向に対
して傾斜した角度で対向配置して、一体に昇降可能に取
り付けた光センサと、 前記光センサを昇降させる光センサ昇降機構と、 前記基板取り出し機構がカセットから取り出した基板の
中心位置合わせをする位置合わせ機構と、 前記第1搬送路の中央部から直角の方向に延在する第2
搬送路に沿って、基板を基板支持アームに載置した状態
で双方向に搬送する基板搬送機構と、 前記第2搬送路に沿って配置され、スピンナー部と熱処
理部とを有する複数の基板処理部からなるプロセスユニ
ットを備え、 前記光センサで検出されたカセット内の基板に対応する
高さへ昇降した前記基板取り出し機構によってカセット
から取り出された基板を、前記位置合わせ機構によって
位置合わせするとともに、前記基板取り出し機構によっ
て第1搬送路に沿って搬送して、前記基板搬送機構に受
け渡し、この基板を前記基板搬送機構によって前記プロ
セスユニットのスピンナー部と熱処理部へ搬送すること
を特徴とする基板処理装置。
4. A substrate processing apparatus for coating a substrate with a photoresist and heat-treating the substrate, comprising: a cassette mounting portion for stationaryly mounting a plurality of cassettes accommodating substrates in multiple stages; A substrate taking-out mechanism that moves up and down the height of the cassette in which the substrates are stored in multiple stages by moving the first transport path along the axis; An optical sensor mounted so as to be capable of ascending and descending integrally, an optical sensor elevating mechanism for elevating and lowering the optical sensor, and a positioning mechanism for aligning the center of the substrate taken out from the cassette by the substrate taking out mechanism, A second extending in a direction perpendicular to the center of the first transport path;
A substrate transport mechanism that bidirectionally transports the substrate mounted on the substrate support arm along the transport path; and a plurality of substrate processing units that are disposed along the second transport path and that include a spinner unit and a heat treatment unit. A process unit comprising a unit, while aligning the substrate taken out of the cassette by the substrate take-out mechanism raised and lowered to a height corresponding to the substrate in the cassette detected by the optical sensor by the positioning mechanism, Substrate processing, wherein the substrate is transported along the first transport path by the substrate unloading mechanism and transferred to the substrate transport mechanism, and the substrate is transported to the spinner unit and the heat treatment unit of the process unit by the substrate transport mechanism. apparatus.
【請求項5】 請求項1ないし4のいずれかに記載の基
板処理装置において、前記第1搬送路の中央を基板受け
渡し位置として、前記基板取り出し機構から前記基板搬
送機構へ基板の受け渡しを行うことを特徴とする基板処
理装置。
5. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein a substrate is transferred from the substrate take-out mechanism to the substrate transfer mechanism with a center of the first transfer path being a substrate transfer position. A substrate processing apparatus characterized by the above-mentioned.
【請求項6】 請求項1ないし4のいずれかに記載の基
板処理装置において、前記プロセスユニットは、前記基
板搬送機構を間にして、前記複数の基板処理部を前記第
2搬送路に沿って2列に分割して配置することを特徴と
する基板処理装置。
6. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the processing unit moves the plurality of substrate processing units along the second transport path with the substrate transport mechanism interposed therebetween. A substrate processing apparatus, wherein the substrate processing apparatus is divided into two rows and arranged.
【請求項7】 請求項1ないし4のいずれかに記載の基
板処理装置において、前記基板取り出し機構は、カセッ
トに向かって前後動する基板吸着アームを備えることを
特徴とする基板処理装置。
7. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the substrate unloading mechanism includes a substrate suction arm that moves back and forth toward a cassette.
【請求項8】 請求項1ないし4のいずれかに記載の基
板処理装置において、前記基板は半導体ウエハであっ
て、前記位置合わせ機構は、基板の外径と略同一曲率に
なるように配置された複数の突起を、基板の周辺に当接
・離間して基板の中心位置合わせを行うことを特徴とす
る基板処理装置。
8. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein said substrate is a semiconductor wafer, and said positioning mechanism is arranged to have substantially the same curvature as an outer diameter of said substrate. A plurality of protrusions contacting and separating from the periphery of the substrate to perform center alignment of the substrate.
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