[go: up one dir, main page]

JPH1019515A - 測定マ−クの測定方法 - Google Patents

測定マ−クの測定方法

Info

Publication number
JPH1019515A
JPH1019515A JP16871196A JP16871196A JPH1019515A JP H1019515 A JPH1019515 A JP H1019515A JP 16871196 A JP16871196 A JP 16871196A JP 16871196 A JP16871196 A JP 16871196A JP H1019515 A JPH1019515 A JP H1019515A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measuring
measurement
mark
path
measuring device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP16871196A
Other languages
English (en)
Inventor
Gerardo Law
ゲラルド ロ−
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SAECHSISCHES INST fur DIE DRU
Saechsisches Inst fur Die Druck Ind Des Vereins Polygraph Leipzig Ev GmbH
Original Assignee
SAECHSISCHES INST fur DIE DRU
Saechsisches Inst fur Die Druck Ind Des Vereins Polygraph Leipzig Ev GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SAECHSISCHES INST fur DIE DRU, Saechsisches Inst fur Die Druck Ind Des Vereins Polygraph Leipzig Ev GmbH filed Critical SAECHSISCHES INST fur DIE DRU
Priority to JP16871196A priority Critical patent/JPH1019515A/ja
Publication of JPH1019515A publication Critical patent/JPH1019515A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】測定マ−クの測定、特にパスマ−クの測定のた
めの方法を提供する。 【解決手段】90°移動して置かれたパスマ−クの測定
が測定装置の90°自動的な回転によって次々に行われ
る。測定装置において技術的に生み出される好ましい測
定位置は従って夫々のパスマ−クに対して同様に与えら
れる。測定精度は同様に有利な測定条件を得ることによ
って高められる。この方法の有利な形態において、測定
装置は回転の間に同時に両方のパスマ−クの側面の間隔
だけ移動される。このことは機械的なガイド装置によっ
てもたらされる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】本発明は測定マ−クの特にパスマ−クの測
定のための方法に関する。
【0002】測定マ−クの測定のための測定方法は公知
であり、この場合には印刷全紙はX/Y座標の平板上に
置かれ、且つ測定装置の測定マ−クは予め与えられたX
/Y座標に対応してスタ−トされ測定される。
【0003】この測定方法における欠点は、特許申請P
4441697に記載されたように、特にパスマ−クの
ような異なった場所に置かれた測定マ−クにおける不正
確な測定でぁる。同じ形であるが印刷全紙の上に移動し
て取付けられたパスマ−クは測定装置の同じ位置で測定
される。この結果測定の不正確さを生じ最終的には最終
製品の品質に影響する。
【0004】従って本願発明の目的はより高い測定の正
確さに到達することのできる測定方法を得ることにあ
る。この課題は本請求項の特徴によって解決される。本
願発明による測定方法の有利な改良は従属項の特徴から
読み取ることができる。次に本測定方法は実施例に基い
てより詳細説明する。図1において印刷全紙はX/Y座
標の平板上に測定面2の配列をもって示されている。
【0005】図2に画かれているように、測定面2は色
々な測定マ−クを含む。特に夫々の測定面2には縦のパ
スマ−ク3と横のパスマ−ク4とが含まれる。これらは
その形状は同一であるが90°回転され且つわきへ移動
されて配置されている。この配列は範囲と側面の通過路
の誤差を把握するのに役立つ。
【0006】図3において、縦のパスマ−ク3と横のパ
スマ−ク4が拡大されて示されている。測定装置による
測定を行うことができるように、先ず縦のパスマ−ク3
が予め与えられたX/Y座標に対応してつき当られ、測
定が行われ、次にステップモ−タ−によって測定装置は
90°回転される。この回転の間に測定装置は同時に2
つのパスマ−ク3、4の側面の間隔だけ移動される。こ
れは機械的なガイド装置によって行われる。従って両方
のパスマ−ク3、4に対する測定装置の好ましい測定位
置は同様に確立される。測定精度は同じ有利な測定条件
を得ることによって高められる。
【図面の簡単な説明】
【図1】印刷全紙がX/Y座標の平板上に測定面2の配
列をもって示されている。
【図2】色々な測定マ−クを含む測定面が画かれてい
る。
【図3】縦のパスマ−クと横のパスマ−クが拡大されて
示されている。
【符号の説明】
1 印刷全紙 2 測定面 3 縦のパスマ−ク 4 横のパスマ−ク

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 測定マ−クの測定方法であって、この目
    的のためにX/Y座標の平板上に置かれた印刷全紙上の
    特にパスマ−クの測定のための方法において、(ィ)個
    々の測定面(2)は予め与えられた順序で測定装置によ
    って針路をとらされ、(ロ)測定面(2)の中のパスマ
    −ク(3,4)は分離して測定され、且つ(ハ) 90
    °移動して置かれたパスマ−ク(3,4)の測定は測定
    装置が90°自動的に回転することによって行われるこ
    とを特徴とする測定マ−クの測定方法。
  2. 【請求項2】 請求項1の測定マ−クの測定方法におい
    て、 測定装置によって先ず縦のパスマ−ク(3)が次々に近
    接されて測定され、そのあとで測定装置が90°回転さ
    れ、そのあとで凡ての横のパスマ−ク(4)の測定が行
    われることを特徴とする測定マ−クの測定方法。
  3. 【請求項3】 請求項1の測定マ−クの測定方法におい
    て、 測定装置による測定面(2)の夫々の測定において、先
    ず縦のパスマ−ク(3)が測定され、その後で測定装置
    の90°回転が行われ、且つその後で更新された位置に
    よて横のパスマ−ク(4)の測定が行われることを特徴
    とする測定マ−クの測定方法
  4. 【請求項4】 請求項1の測定マ−クの測定方法におい
    て、 測定装置による測定面(2)の夫々の測定において、先
    ず縦のパスマ−ク(3)が測定され、その後で測定装置
    の90°回転が行われ且つ回転と同時にガイド装置によ
    って測定装置を横のパスマ−ク(4)に置くことが行わ
    れることを特徴とする測定マ−クの測定方法。
  5. 【請求項5】 請求項1、2、3及び4の測定マ−クの
    測定方法において、測定装置全体の90°回転が行われ
    ることを特徴とする測定マ−クの測定方法。
  6. 【請求項6】 請求項1、2、3及び4の測定マ−クの
    測定方法において、カメラ(光学的及びCCDマトリッ
    クス)の90°回転が行われることを特徴とする測定マ
    −クの測定方法。
  7. 【請求項7】 1枚の図面がこれに添付されている。
JP16871196A 1996-06-10 1996-06-10 測定マ−クの測定方法 Pending JPH1019515A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16871196A JPH1019515A (ja) 1996-06-10 1996-06-10 測定マ−クの測定方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16871196A JPH1019515A (ja) 1996-06-10 1996-06-10 測定マ−クの測定方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH1019515A true JPH1019515A (ja) 1998-01-23

Family

ID=15873040

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP16871196A Pending JPH1019515A (ja) 1996-06-10 1996-06-10 測定マ−クの測定方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH1019515A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7919570B2 (en) 2004-08-13 2011-04-05 Nippon Soda Co., Ltd. Multibranched polymer and method for producing the same

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7919570B2 (en) 2004-08-13 2011-04-05 Nippon Soda Co., Ltd. Multibranched polymer and method for producing the same
US8710165B2 (en) 2004-08-13 2014-04-29 Nippon Soda Co., Ltd. Multibranched polymer and method for producing the same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI416065B (zh) 原木的三維形狀測量裝置及方法
US20090059297A1 (en) Calibration method for image rendering device and image rendering device
JPH03257354A (ja) はんだ印刷検査装置
US9399339B2 (en) Method and apparatus for mounting a printing plate
US6199024B1 (en) Calibration process for shape measurement
JP5270138B2 (ja) 校正用治具及び校正方法
CN113725108B (zh) 大板扇出型封装芯片的漂移定位测量方法及装置
JPH05332731A (ja) 形状計測装置
JPS63128713A (ja) 走査型露光装置のデイスト−シヨン補正方法
JPH07190741A (ja) 測定誤差補正法
US5107132A (en) Apparatus for the verification of corrected surfaces or in the process of correction
JPH1019515A (ja) 測定マ−クの測定方法
JP4515814B2 (ja) 装着精度測定方法
JPH1038531A (ja) パイプ形状自動計測装置及び計測方法
JP2001293847A (ja) 印刷物の色調測定方法及び装置
JP2008505328A (ja) 複数の距離センサを有する測定装置、この測定装置のための校正手段および表面の形状を決定するための方法
JP3614529B2 (ja) 計測装置の演算パラメータ計測方法、および計測装置
CN116652369A (zh) 激光加工控制方法、系统及装置
CA2505170A1 (en) Method for calibrating a write head for producing a printing plate
CN116858857A (zh) 一种双龙门工件尖端测量装置及坐标标定方法
JP3876516B2 (ja) 光学式伸び計用校正装置
CN116592757A (zh) 一种测量系统的二维精度补偿方法
CN114295056A (zh) 一种激光加工设备的视觉定位系统快速校正方法及应用
JPH0854234A (ja) 三次元座標位置計測方法
JP2560462B2 (ja) 膜厚測定装置