JPH09211865A - ポジ型感光性組成物 - Google Patents
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Landscapes
- Materials For Photolithography (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 露光後から加熱処理までの経時による酸の拡
散及びレジスト表面部の酸の失活の防止が容易且つ適切
にでき、且つ溶解阻止化合物の溶解阻止効果が維持さ
れ、良好なプロファイルと高感度、高解像力を有するポ
ジ型感光性組成物を提供することができる。 【解決手段】 水不溶でアルカリ水溶液に可溶な樹脂、
活性光線または放射線の照射により酸を発生する化合
物、並びに塩基性窒素及び酸により分解し得る基を有
し、アルカリ現像液中での溶解度が酸の作用により増大
する、分子量3,000以下の低分子酸分解性溶解阻止
化合物を含有するポジ型感光性組成物。
散及びレジスト表面部の酸の失活の防止が容易且つ適切
にでき、且つ溶解阻止化合物の溶解阻止効果が維持さ
れ、良好なプロファイルと高感度、高解像力を有するポ
ジ型感光性組成物を提供することができる。 【解決手段】 水不溶でアルカリ水溶液に可溶な樹脂、
活性光線または放射線の照射により酸を発生する化合
物、並びに塩基性窒素及び酸により分解し得る基を有
し、アルカリ現像液中での溶解度が酸の作用により増大
する、分子量3,000以下の低分子酸分解性溶解阻止
化合物を含有するポジ型感光性組成物。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、平版印刷板やIC
等の半導体製造工程、液晶、サーマルヘッド等の回路基
板の製造、更にその他のフォトファブリケーション工程
に使用されるポジ型感光性組成物に関するものである。
等の半導体製造工程、液晶、サーマルヘッド等の回路基
板の製造、更にその他のフォトファブリケーション工程
に使用されるポジ型感光性組成物に関するものである。
【0002】
【従来の技術】ポジ型フォトレジスト組成物としては、
一般にアルカリ可溶性樹脂と感光物としてのナフトキノ
ンジアジド化合物とを含む組成物が用いられている。例
えば、「ノボラック型フェノール樹脂/ナフトキノンジ
アジド置換化合物」として米国特許第3,666,473号、米
国特許第4,115,128号及び米国特許第4,173,470号等に、
また最も典型的な組成物として「クレゾール−ホルムア
ルデヒドより成るノボラック樹脂/トリヒドロキシベン
ゾフェノン−1,2−ナフトキノンジアジドスルホン酸
エステル」の例がトンプソン「イントロダクション・ト
ゥー・マイクロリソグラフィー」(L.F.Thompson「Intr
oduction to Microlithography」)(ACS出版、N
o.2,19号、p112〜121)に記載されてい
る。このような基本的にノボラック樹脂とキノンジアジ
ド化合物から成るポジ型フォトレジストは、ノボラック
樹脂がプラズマエッチングに対して高い耐性を与え、ナ
フトキノンジアジド化合物は溶解阻止剤として作用す
る。そして、ナフトキノンジアジドは光照射を受けると
カルボン酸を生じることにより溶解阻止能を失い、ノボ
ラック樹脂のアルカリ溶解度を高めるという特性を持
つ。
一般にアルカリ可溶性樹脂と感光物としてのナフトキノ
ンジアジド化合物とを含む組成物が用いられている。例
えば、「ノボラック型フェノール樹脂/ナフトキノンジ
アジド置換化合物」として米国特許第3,666,473号、米
国特許第4,115,128号及び米国特許第4,173,470号等に、
また最も典型的な組成物として「クレゾール−ホルムア
ルデヒドより成るノボラック樹脂/トリヒドロキシベン
ゾフェノン−1,2−ナフトキノンジアジドスルホン酸
エステル」の例がトンプソン「イントロダクション・ト
ゥー・マイクロリソグラフィー」(L.F.Thompson「Intr
oduction to Microlithography」)(ACS出版、N
o.2,19号、p112〜121)に記載されてい
る。このような基本的にノボラック樹脂とキノンジアジ
ド化合物から成るポジ型フォトレジストは、ノボラック
樹脂がプラズマエッチングに対して高い耐性を与え、ナ
フトキノンジアジド化合物は溶解阻止剤として作用す
る。そして、ナフトキノンジアジドは光照射を受けると
カルボン酸を生じることにより溶解阻止能を失い、ノボ
ラック樹脂のアルカリ溶解度を高めるという特性を持
つ。
【0003】これまで、かかる観点からノボラック樹脂
とナフトキノンジアジド系感光物を含有する数多くのポ
ジ型フォトレジストが開発、実用化され、0.8μm〜
2μm程度までの線幅加工に於いては十分な成果をおさ
めてきた。しかし、集積回路はその集積度を益々高めて
おり、超LSIなどの半導体基板の製造に於いてはハー
フミクロン以下の線幅から成る超微細パターンの加工が
必要とされるようになってきた。この必要な解像力を達
成するためにフォトリソグラフィーに用いられる露光装
置の使用波長は益々短波化し、今では、遠紫外光やエキ
シマレーザー光(XeCl、KrF、ArFなど)が検
討されるまでになってきている。従来のノボラックとナ
フトキノンジアジド化合物から成るレジストを遠紫外光
やエキシマレーザー光を用いたリソグラフィーのパター
ン形成に用いると、ノボラック及びナフトキノンジアジ
ドの遠紫外領域に於ける吸収が強いために光がレジスト
底部まで到達しにくくなり、低感度でテーパーのついた
パターンしか得られない。
とナフトキノンジアジド系感光物を含有する数多くのポ
ジ型フォトレジストが開発、実用化され、0.8μm〜
2μm程度までの線幅加工に於いては十分な成果をおさ
めてきた。しかし、集積回路はその集積度を益々高めて
おり、超LSIなどの半導体基板の製造に於いてはハー
フミクロン以下の線幅から成る超微細パターンの加工が
必要とされるようになってきた。この必要な解像力を達
成するためにフォトリソグラフィーに用いられる露光装
置の使用波長は益々短波化し、今では、遠紫外光やエキ
シマレーザー光(XeCl、KrF、ArFなど)が検
討されるまでになってきている。従来のノボラックとナ
フトキノンジアジド化合物から成るレジストを遠紫外光
やエキシマレーザー光を用いたリソグラフィーのパター
ン形成に用いると、ノボラック及びナフトキノンジアジ
ドの遠紫外領域に於ける吸収が強いために光がレジスト
底部まで到達しにくくなり、低感度でテーパーのついた
パターンしか得られない。
【0004】このような問題を解決する手段の一つが、
米国特許第4,491,628号、欧州特許第249,139号等に記載
されている化学増幅系レジスト組成物である。化学増幅
系ポジ型レジスト組成物は、遠紫外光などの放射線の照
射により露光部に酸を生成させ、この酸を触媒とする反
応によって、活性放射線の照射部と非照射部の現像液に
対する溶解性を変化させパターンを基板上に形成させる
パターン形成材料である。
米国特許第4,491,628号、欧州特許第249,139号等に記載
されている化学増幅系レジスト組成物である。化学増幅
系ポジ型レジスト組成物は、遠紫外光などの放射線の照
射により露光部に酸を生成させ、この酸を触媒とする反
応によって、活性放射線の照射部と非照射部の現像液に
対する溶解性を変化させパターンを基板上に形成させる
パターン形成材料である。
【0005】このような例として、光分解により酸を発
生する化合物と、アセタールまたはO,N−アセタール
化合物との組合せ(特開昭48−89003号)、オル
トエステル又はアミドアセタール化合物との組合せ(特
開昭51−120714号)、主鎖にアセタール又はケ
タール基を有するポリマーとの組合せ(特開昭53−1
33429号)、エノールエーテル化合物との組合せ
(特開昭55−12995号)、N−アシルイミノ炭酸
化合物化合物との組合せ(特開昭55−126236
号)、主鎖にオルトエステル基を有するポリマーとの組
合せ(特開昭56−17345号)、第3級アルキルエ
ステル化合物との組合せ(特開昭60−3625号)、
シリルエステル化合物との組合せ(特開昭60−102
47号)、及びシリルエーテル化合物との組合せ(特開
昭60−37549号、特開昭60−121446号)
等を挙げることができる。これらは原理的に量子収率が
1を越えるため、高い感光性を示す。
生する化合物と、アセタールまたはO,N−アセタール
化合物との組合せ(特開昭48−89003号)、オル
トエステル又はアミドアセタール化合物との組合せ(特
開昭51−120714号)、主鎖にアセタール又はケ
タール基を有するポリマーとの組合せ(特開昭53−1
33429号)、エノールエーテル化合物との組合せ
(特開昭55−12995号)、N−アシルイミノ炭酸
化合物化合物との組合せ(特開昭55−126236
号)、主鎖にオルトエステル基を有するポリマーとの組
合せ(特開昭56−17345号)、第3級アルキルエ
ステル化合物との組合せ(特開昭60−3625号)、
シリルエステル化合物との組合せ(特開昭60−102
47号)、及びシリルエーテル化合物との組合せ(特開
昭60−37549号、特開昭60−121446号)
等を挙げることができる。これらは原理的に量子収率が
1を越えるため、高い感光性を示す。
【0006】同様に、室温経時下では安定であるが、酸
存在下加熱することにより分解し、アルカリ可溶化する
系として、例えば、特開昭59−45439号、特開昭
60−3625号、特開昭62−229242号、特開
昭63−27829号、特開昭63−36240号、特
開昭63−250642号、Polym.Eng.Sce.,23巻、101
2頁(1983);ACS.Sym.242巻、11頁(1984);Semicond
uctor World 1987年、11月号、91頁;Macromolecules,2
1巻、1475頁(1988);SPIE,920巻、42頁(1988)等に
記載されている露光により酸を発生する化合物と、第3
級又は2級炭素(例えばt-ブチル、2-シクロヘキセニ
ル)のエステル又は炭酸エステル化合物との組合せ系が
挙げられる。これらの系も高感度を有し、且つ、ナフト
キノンジアジド/ノボラツク樹脂系と比べて、Deep-UV
領域での吸収が小さいことから、前記の光源短波長化に
有効な系となり得る。
存在下加熱することにより分解し、アルカリ可溶化する
系として、例えば、特開昭59−45439号、特開昭
60−3625号、特開昭62−229242号、特開
昭63−27829号、特開昭63−36240号、特
開昭63−250642号、Polym.Eng.Sce.,23巻、101
2頁(1983);ACS.Sym.242巻、11頁(1984);Semicond
uctor World 1987年、11月号、91頁;Macromolecules,2
1巻、1475頁(1988);SPIE,920巻、42頁(1988)等に
記載されている露光により酸を発生する化合物と、第3
級又は2級炭素(例えばt-ブチル、2-シクロヘキセニ
ル)のエステル又は炭酸エステル化合物との組合せ系が
挙げられる。これらの系も高感度を有し、且つ、ナフト
キノンジアジド/ノボラツク樹脂系と比べて、Deep-UV
領域での吸収が小さいことから、前記の光源短波長化に
有効な系となり得る。
【0007】上記ポジ型化学増幅レジストは、アルカリ
可溶性樹脂、放射線等の露光によつて酸を発生する化合
物(光酸発生剤)、及び酸分解性基を有するアルカリ可
溶性樹脂に対する溶解阻止化合物から成る3成分系と、
酸との反応により分解しアルカリ可溶となる基を有する
樹脂と光酸発生剤からなる2成分系、あるいは酸との反
応により分解しアルカリ可溶となる基を有する樹脂と溶
解阻止化合物と光酸発生剤からなる2.5成分系に大別
できる。これら2成分系、2.5成分系あるいは3成分
系のポジ型化学増幅レジストにおいては、露光により光
酸発生剤からの酸を介在させて、熱処理後現像してレジ
ストパターンを得るものである。ここで、露光から熱処
理(PEB処理)までの放置時間が長くなるに従い、こ
の発生した酸が拡散したり、また雰囲気中の塩基性不純
物によりレジスト表面部の酸が失活してしまい、感度、
更に現像後のレジストパターンのプロファイルや線幅等
が変化してしまうという問題があった。
可溶性樹脂、放射線等の露光によつて酸を発生する化合
物(光酸発生剤)、及び酸分解性基を有するアルカリ可
溶性樹脂に対する溶解阻止化合物から成る3成分系と、
酸との反応により分解しアルカリ可溶となる基を有する
樹脂と光酸発生剤からなる2成分系、あるいは酸との反
応により分解しアルカリ可溶となる基を有する樹脂と溶
解阻止化合物と光酸発生剤からなる2.5成分系に大別
できる。これら2成分系、2.5成分系あるいは3成分
系のポジ型化学増幅レジストにおいては、露光により光
酸発生剤からの酸を介在させて、熱処理後現像してレジ
ストパターンを得るものである。ここで、露光から熱処
理(PEB処理)までの放置時間が長くなるに従い、こ
の発生した酸が拡散したり、また雰囲気中の塩基性不純
物によりレジスト表面部の酸が失活してしまい、感度、
更に現像後のレジストパターンのプロファイルや線幅等
が変化してしまうという問題があった。
【0008】これらを解決する手段として、化学増幅系
への低分子アミンの添加する技術が、特開昭63−14
9640号、特開平5−232706号、特開平5−2
49662号公報、特開平5−127369号公報、W
O−94/1805等に開示されている。上記これらの
技術では、上記低分子アミンがレジスト皮膜中で移動し
易く、レジスト液を塗布、乾燥、更に上記露光からPE
B処理等のプロセス中に低分子アミンが揮発、拡散して
しまうため、アミンを添加した効果が不充分になってし
まっていた。一方、特開平4−75062号公報には、
ベースポリマーに三級アミンを含ませることにより、露
光により発生した酸の拡散を防止し、レジストパターン
の寸法精度を向上させることができると報告している。
しかしながら、上記三級アミンの量は、酸の発生量に対
応して微妙に調節される必要があった。上記技術のよう
に、ベースポリマーに三級アミンを導入する場合、実際
上、酸の発生量に対応した該ポリマー中のアミン量の微
妙な調整は困難であった。更に、上記三級アミンを含む
ベースポリマーを用いた場合、ベースポリマー自体の効
果が不充分となり、現像時に非画像部が一部溶出した
り、画像部における現像残り(スカム)の原因となった
りすることがあった。
への低分子アミンの添加する技術が、特開昭63−14
9640号、特開平5−232706号、特開平5−2
49662号公報、特開平5−127369号公報、W
O−94/1805等に開示されている。上記これらの
技術では、上記低分子アミンがレジスト皮膜中で移動し
易く、レジスト液を塗布、乾燥、更に上記露光からPE
B処理等のプロセス中に低分子アミンが揮発、拡散して
しまうため、アミンを添加した効果が不充分になってし
まっていた。一方、特開平4−75062号公報には、
ベースポリマーに三級アミンを含ませることにより、露
光により発生した酸の拡散を防止し、レジストパターン
の寸法精度を向上させることができると報告している。
しかしながら、上記三級アミンの量は、酸の発生量に対
応して微妙に調節される必要があった。上記技術のよう
に、ベースポリマーに三級アミンを導入する場合、実際
上、酸の発生量に対応した該ポリマー中のアミン量の微
妙な調整は困難であった。更に、上記三級アミンを含む
ベースポリマーを用いた場合、ベースポリマー自体の効
果が不充分となり、現像時に非画像部が一部溶出した
り、画像部における現像残り(スカム)の原因となった
りすることがあった。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の目的
は、露光後から加熱処理までの経時による酸の拡散又は
失活の防止が容易且つ適切にでき、且つ溶解阻止効果や
現像性が改善され、良好なプロファイルと高解像力を有
するポジ型感光性組成物を提供することである。
は、露光後から加熱処理までの経時による酸の拡散又は
失活の防止が容易且つ適切にでき、且つ溶解阻止効果や
現像性が改善され、良好なプロファイルと高解像力を有
するポジ型感光性組成物を提供することである。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明者等は、上記諸特
性に留意し鋭意検討した結果、本発明の目的が、ポジ型
化学増幅系において、下記の塩基性窒素を含む溶解阻止
化合物を用いることで達成されることを見いだし、本発
明に到達した。即ち、本発明の目的は下記構成により達
成することが見出された。 (1) 水不溶でアルカリ水溶液に可溶な樹脂、活性光
線または放射線の照射により酸を発生する化合物、及び
塩基性窒素、及び酸により分解し得る基を有し、アルカ
リ現像液中での溶解度が酸の作用により増大する、分子
量3,000以下の低分子酸分解性溶解阻止化合物を含
有することを特徴とするポジ型感光性組成物。
性に留意し鋭意検討した結果、本発明の目的が、ポジ型
化学増幅系において、下記の塩基性窒素を含む溶解阻止
化合物を用いることで達成されることを見いだし、本発
明に到達した。即ち、本発明の目的は下記構成により達
成することが見出された。 (1) 水不溶でアルカリ水溶液に可溶な樹脂、活性光
線または放射線の照射により酸を発生する化合物、及び
塩基性窒素、及び酸により分解し得る基を有し、アルカ
リ現像液中での溶解度が酸の作用により増大する、分子
量3,000以下の低分子酸分解性溶解阻止化合物を含
有することを特徴とするポジ型感光性組成物。
【0011】(2) 酸の作用により分解し、アルカリ
現像液中での溶解性を増大させる基を有する樹脂、活性
光線または放射線の照射により酸を発生する化合物、及
び塩基性窒素、及び酸により分解し得る基を有し、アル
カリ現像液中での溶解度が酸の作用により増大する、分
子量3,000以下の低分子酸分解性溶解阻止化合物を
含有することを特徴とするポジ型感光性組成物。
現像液中での溶解性を増大させる基を有する樹脂、活性
光線または放射線の照射により酸を発生する化合物、及
び塩基性窒素、及び酸により分解し得る基を有し、アル
カリ現像液中での溶解度が酸の作用により増大する、分
子量3,000以下の低分子酸分解性溶解阻止化合物を
含有することを特徴とするポジ型感光性組成物。
【0012】(3) 水不溶でアルカリ水溶液に可溶な
樹脂、活性光線または放射線の照射により酸を発生する
化合物、酸により分解し得る基を有し、アルカリ現像液
中での溶解度が酸の作用により増大する、分子量3,0
00以下の低分子酸分解性溶解阻止化合物、及び塩基性
窒素、及び酸により分解し得る基を有し、アルカリ現像
液中での溶解度が酸の作用により増大する、分子量3,
000以下の低分子酸分解性溶解阻止化合物を含有する
ことを特徴とするポジ型感光性組成物。
樹脂、活性光線または放射線の照射により酸を発生する
化合物、酸により分解し得る基を有し、アルカリ現像液
中での溶解度が酸の作用により増大する、分子量3,0
00以下の低分子酸分解性溶解阻止化合物、及び塩基性
窒素、及び酸により分解し得る基を有し、アルカリ現像
液中での溶解度が酸の作用により増大する、分子量3,
000以下の低分子酸分解性溶解阻止化合物を含有する
ことを特徴とするポジ型感光性組成物。
【0013】(4) 酸の作用により分解し、アルカリ
現像液中での溶解性を増大させる基を有する樹脂、活性
光線または放射線の照射により酸を発生する化合物、酸
により分解し得る基を有し、アルカリ現像液中での溶解
度が酸の作用により増大する、分子量3,000以下の
低分子酸分解性溶解阻止化合物、及び塩基性窒素、及び
酸により分解し得る基を有し、アルカリ現像液中での溶
解度が酸の作用により増大する、分子量3,000以下
の低分子酸分解性溶解阻止化合物を含有することを特徴
とするポジ型感光性組成物。
現像液中での溶解性を増大させる基を有する樹脂、活性
光線または放射線の照射により酸を発生する化合物、酸
により分解し得る基を有し、アルカリ現像液中での溶解
度が酸の作用により増大する、分子量3,000以下の
低分子酸分解性溶解阻止化合物、及び塩基性窒素、及び
酸により分解し得る基を有し、アルカリ現像液中での溶
解度が酸の作用により増大する、分子量3,000以下
の低分子酸分解性溶解阻止化合物を含有することを特徴
とするポジ型感光性組成物。
【0014】上記のように、化学増幅型レジストにおい
て、塩基性窒素を含む低分子酸分解性溶解阻止化合物を
用いることにより、該化合物中の塩基性窒素の量を適宜
調節したり、あるいは該化合物のレジストへの添加量を
調節することで、レジスト中の塩基性窒素の量を微妙に
調節することが可能となり、露光時に発生する酸の発生
量に対応した塩基性窒素を添加することが容易且つ適切
に行うことができるようになる。また、塩基成分が溶解
阻止化合物のような単純な塩基性化合物よりも大きな構
造であるため、塩基成分の揮発などが抑えられ、より安
定な系が構築できる。しかも、塩基成分が溶解阻止化合
物と同様の構造を有することで相溶性の問題を気にする
必要がない。さらに、塩基成分が溶解阻止能を有してい
るため、単純な塩基成分を導入するよりも感度の低下が
抑えされ、より良好なレジストを与えることができるよ
うになる。それらにより、過剰の酸の拡散やレジスト表
面部での酸の失活を防止でき、良好なプロファイル及び
解像度を有するポジ型感光性組成物を得ることができ
る。
て、塩基性窒素を含む低分子酸分解性溶解阻止化合物を
用いることにより、該化合物中の塩基性窒素の量を適宜
調節したり、あるいは該化合物のレジストへの添加量を
調節することで、レジスト中の塩基性窒素の量を微妙に
調節することが可能となり、露光時に発生する酸の発生
量に対応した塩基性窒素を添加することが容易且つ適切
に行うことができるようになる。また、塩基成分が溶解
阻止化合物のような単純な塩基性化合物よりも大きな構
造であるため、塩基成分の揮発などが抑えられ、より安
定な系が構築できる。しかも、塩基成分が溶解阻止化合
物と同様の構造を有することで相溶性の問題を気にする
必要がない。さらに、塩基成分が溶解阻止能を有してい
るため、単純な塩基成分を導入するよりも感度の低下が
抑えされ、より良好なレジストを与えることができるよ
うになる。それらにより、過剰の酸の拡散やレジスト表
面部での酸の失活を防止でき、良好なプロファイル及び
解像度を有するポジ型感光性組成物を得ることができ
る。
【0015】更に、3成分系、2.5成分系あるいは2
成分系の主要成分であるベースポリマーに塩基性窒素を
導入せず、塩基性窒素と酸分解性基を有する低分子酸分
解性溶解阻止化合物を添加していることから、ベースポ
リマー(アルカリ可溶性樹脂)と溶解阻止剤との相互作
用が良好に行われるようになり、溶解阻止剤による、現
像時の非画像部の溶解阻止効果が維持され、非画像部の
溶出を防止できるようになる。また一方で、画像部での
現像残りが防止でき、良好なプロファイル及び高解像力
を有するポジ型感光性組成物を得ることができる。
成分系の主要成分であるベースポリマーに塩基性窒素を
導入せず、塩基性窒素と酸分解性基を有する低分子酸分
解性溶解阻止化合物を添加していることから、ベースポ
リマー(アルカリ可溶性樹脂)と溶解阻止剤との相互作
用が良好に行われるようになり、溶解阻止剤による、現
像時の非画像部の溶解阻止効果が維持され、非画像部の
溶出を防止できるようになる。また一方で、画像部での
現像残りが防止でき、良好なプロファイル及び高解像力
を有するポジ型感光性組成物を得ることができる。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明に使用する化合物に
ついて詳細に説明する。塩基性窒素を有し、且つ酸によ
り分解しうる基を有し、更にアルカリ現像液中での溶解
度が酸の作用により増大する、分子量3,000以下の
低分子酸分解性溶解阻止化合物(以下、塩基性窒素含有
溶解阻止化合物ともいう)について説明する。本発明に
用いられる塩基性窒素含有溶解阻止化合物としては、そ
の構造中に塩基性窒素を含む官能基(以下塩基性基と略
す)と酸で分解し得る基(以下酸分解性基と略す)を含
み、アルカリ現像液中での溶解度が酸の作用により増大
する、分子量3,000以下の化合物のことである。塩
基性窒素含有溶解阻止化合物中には、各々同じでも異な
ってもよい2つ以上の塩基性基及び酸分解性基が含まれ
てもよい。本発明の塩基性窒素含有溶解阻止化合物の分
子量は3,000以下であり、好ましくは500〜3,
000、更に好ましくは500〜2,500である。
ついて詳細に説明する。塩基性窒素を有し、且つ酸によ
り分解しうる基を有し、更にアルカリ現像液中での溶解
度が酸の作用により増大する、分子量3,000以下の
低分子酸分解性溶解阻止化合物(以下、塩基性窒素含有
溶解阻止化合物ともいう)について説明する。本発明に
用いられる塩基性窒素含有溶解阻止化合物としては、そ
の構造中に塩基性窒素を含む官能基(以下塩基性基と略
す)と酸で分解し得る基(以下酸分解性基と略す)を含
み、アルカリ現像液中での溶解度が酸の作用により増大
する、分子量3,000以下の化合物のことである。塩
基性窒素含有溶解阻止化合物中には、各々同じでも異な
ってもよい2つ以上の塩基性基及び酸分解性基が含まれ
てもよい。本発明の塩基性窒素含有溶解阻止化合物の分
子量は3,000以下であり、好ましくは500〜3,
000、更に好ましくは500〜2,500である。
【0017】本発明において、塩基性基としては、アミ
ノ基、N−アルキル置換アミノ基、N−アリール置換ア
ミノ基、N−アラルキル置換アミノ基、N,N−ジアル
キル置換アミノ基、N,N−アリール置換アミノ基、
N,N−ジアラルキル置換アミノ基、N−アルキル−N
−アリール置換アミノ基、N−アルキル−N−アラルキ
ル置換アミノ基である。ここで窒素原子に結合する上記
アルキル基としては、好ましくは炭素数1〜12個のア
ルキル基であり、更に好ましくはメチル、エチル、プロ
ピル、ブチルのような炭素数1〜4個のアルキル基であ
る。窒素原子に結合する上記アリール基としては、好ま
しくは炭素数6〜12個のアリール基であり、更に好ま
しくはフェニル、トリル、ナフチルのような炭素数6〜
10個のアリール基である。窒素原子に結合する上記ア
ラルキル基としては好ましくは炭素数7〜14個のアラ
ルキル基であり、更に好ましくはベンジル、4−メチル
ベンジルのような炭素数7〜10個のアラルキル基であ
る。またこれらのアルキル基、アリール基、アラルキル
基が、更にメトキシ、エトキシのようなアルコキシ基、
クロロ、ブロモのようなハロゲン原子、シアノ基、カル
ボキシル基、メトキシカルボニル、エトキシカルボニル
のようなアルコキシカルボニル基、ヒドロキシ基、テト
ラアルキルアンモニウム基、ニトロ基等の置換基を含有
していてもよい。
ノ基、N−アルキル置換アミノ基、N−アリール置換ア
ミノ基、N−アラルキル置換アミノ基、N,N−ジアル
キル置換アミノ基、N,N−アリール置換アミノ基、
N,N−ジアラルキル置換アミノ基、N−アルキル−N
−アリール置換アミノ基、N−アルキル−N−アラルキ
ル置換アミノ基である。ここで窒素原子に結合する上記
アルキル基としては、好ましくは炭素数1〜12個のア
ルキル基であり、更に好ましくはメチル、エチル、プロ
ピル、ブチルのような炭素数1〜4個のアルキル基であ
る。窒素原子に結合する上記アリール基としては、好ま
しくは炭素数6〜12個のアリール基であり、更に好ま
しくはフェニル、トリル、ナフチルのような炭素数6〜
10個のアリール基である。窒素原子に結合する上記ア
ラルキル基としては好ましくは炭素数7〜14個のアラ
ルキル基であり、更に好ましくはベンジル、4−メチル
ベンジルのような炭素数7〜10個のアラルキル基であ
る。またこれらのアルキル基、アリール基、アラルキル
基が、更にメトキシ、エトキシのようなアルコキシ基、
クロロ、ブロモのようなハロゲン原子、シアノ基、カル
ボキシル基、メトキシカルボニル、エトキシカルボニル
のようなアルコキシカルボニル基、ヒドロキシ基、テト
ラアルキルアンモニウム基、ニトロ基等の置換基を含有
していてもよい。
【0018】このような塩基性基の具体例としては、ア
ミノ基、N−メチルアミノ基、N−エチルアミノ基、N
−プロピルアミノ基、N−(2−メトキシエチル)アミ
ノ基、N−ブチルアミノ基、N−フェニルアミノ基、N
−ベンジルアミノ基、N−(4−メトキシフェニル)ア
ミノ基、N−(4−クロロフェニル)アミノ基、N,N
−ジメチルアミノ基、N,N−ジエチルアミノ基、N,
N−ジプロピルアミノ基、N,N−ジブチルアミノ基、
N,N−ジフェニルアミノ基、N,N−ジベンジルアミ
ノ基、N−メチル−N−フェニルアミノ基、N−メチル
−N−ベンジルアミノ基、N−エチル−N−フェニルア
ミノ基、N−エチル−N−ベンジルアミノ基、N−エチ
ル−N−(2−ヒドロキシエチル)アミノ基等である
が、これらに限定されるものではない。更にこの他の塩
基性基としては、ピペリジル基、ピペラジニル基、モル
ホリニル基、キヌクリジニル基、ピリジル基、ピラジニ
ル基、ピリミジニル基、キノリル基、イソキノリル基、
ナフチリジニル基、キノキサリニル基、キナゾリニル
基、プリニル基、アクリジニル基、フェノチアジニル基
のような含窒素6員環ヘテロ環基、及びピロリジニル
基、ピロリニル基、ピロリル基、イミダゾリジニル基、
イミダゾリニル基、イミダゾリル基、ピラゾリル基、イ
ンドリニル基、インドリル基、イソインドニリル基、イ
ソインドリル基、カルバゾリル基、オキサゾリル基、チ
アゾリル基のような含窒素5員環ヘテロ環基が含まれ
る。これらのヘテロ環基には、更に上記アルキル基、ア
リール基、アラルキル基、アルコキシ基、ハロゲン原
子、カルボキシル基、アルコキシカルボニル基、ヒドロ
キシ基、メルカプト基等の置換基が結合してもよい。
ミノ基、N−メチルアミノ基、N−エチルアミノ基、N
−プロピルアミノ基、N−(2−メトキシエチル)アミ
ノ基、N−ブチルアミノ基、N−フェニルアミノ基、N
−ベンジルアミノ基、N−(4−メトキシフェニル)ア
ミノ基、N−(4−クロロフェニル)アミノ基、N,N
−ジメチルアミノ基、N,N−ジエチルアミノ基、N,
N−ジプロピルアミノ基、N,N−ジブチルアミノ基、
N,N−ジフェニルアミノ基、N,N−ジベンジルアミ
ノ基、N−メチル−N−フェニルアミノ基、N−メチル
−N−ベンジルアミノ基、N−エチル−N−フェニルア
ミノ基、N−エチル−N−ベンジルアミノ基、N−エチ
ル−N−(2−ヒドロキシエチル)アミノ基等である
が、これらに限定されるものではない。更にこの他の塩
基性基としては、ピペリジル基、ピペラジニル基、モル
ホリニル基、キヌクリジニル基、ピリジル基、ピラジニ
ル基、ピリミジニル基、キノリル基、イソキノリル基、
ナフチリジニル基、キノキサリニル基、キナゾリニル
基、プリニル基、アクリジニル基、フェノチアジニル基
のような含窒素6員環ヘテロ環基、及びピロリジニル
基、ピロリニル基、ピロリル基、イミダゾリジニル基、
イミダゾリニル基、イミダゾリル基、ピラゾリル基、イ
ンドリニル基、インドリル基、イソインドニリル基、イ
ソインドリル基、カルバゾリル基、オキサゾリル基、チ
アゾリル基のような含窒素5員環ヘテロ環基が含まれ
る。これらのヘテロ環基には、更に上記アルキル基、ア
リール基、アラルキル基、アルコキシ基、ハロゲン原
子、カルボキシル基、アルコキシカルボニル基、ヒドロ
キシ基、メルカプト基等の置換基が結合してもよい。
【0019】本発明において、好ましい酸分解性基とし
ては、酸により分解し得る基、即ち−COO−A0 、−
O−B0基を含む基としては、−R0−COO−A0、又
は−Ar−O−B0で示される基が挙げられる。ここで
A0は、−C(R01)(R02)(R03)、−Si
(R01)(R02)(R0 3)もしくは−C(R04)
(R05)−O−R06基を示す。B0は、A0又は−CO−
O−A0基を示す。R01、R02、R03、R04及びR
05は、それぞれ同一でも相異していても良く、水素原
子、アルキル基、シクロアルキル基、アルケニル基もし
くはアリール基を示し、R06はアルキル基もしくはアリ
ール基を示す。但し、R01〜R03の内少なくとも2つは
水素原子以外の基であり、又、R01〜R03、及びR04〜
R06の内の2つの基が結合して環を形成してもよい。R
0は置換基を有していても良い2価以上の脂肪族もしく
は芳香族炭化水素基を示し、−Ar−は単環もしくは多
環の置換基を有していても良い2価以上の芳香族基を示
す。2価以上の脂肪族基としては、メチレン基、エチレ
ン基、プロピレン基、イソプロピレン基、ブチレン基、
イソブチレン基、t−ブチレン基などのような2価、メ
チン基やエチン基のような3価及び4価で炭素数1〜4
個のものが好ましく、これらはさらに置換基によって置
換されていてもよい。また、2価以上の芳香族基として
は、1,4−フェニレン、1,3−フェニレン、1,2
−フェニレンのような単環のもの、1,2−ナフチレ
ン、1,3−ナフチレン、1,4−ナフチレン、1,5
−ナフチレン、1,6−ナフチレン、1,7−ナフチレ
ン、1,8−ナフチレン、2,3−ナフチレン、2,4
−ナフチレン、2,5−ナフチレン、2,6−ナフチレ
ン、2,7−ナフチレン、2,8−ナフチレンなどのよ
うな2環のもの、アントラセンのような3環のものなど
が挙げられ、更に多くの環を縮環していても良く、置換
基を有していてもよい。
ては、酸により分解し得る基、即ち−COO−A0 、−
O−B0基を含む基としては、−R0−COO−A0、又
は−Ar−O−B0で示される基が挙げられる。ここで
A0は、−C(R01)(R02)(R03)、−Si
(R01)(R02)(R0 3)もしくは−C(R04)
(R05)−O−R06基を示す。B0は、A0又は−CO−
O−A0基を示す。R01、R02、R03、R04及びR
05は、それぞれ同一でも相異していても良く、水素原
子、アルキル基、シクロアルキル基、アルケニル基もし
くはアリール基を示し、R06はアルキル基もしくはアリ
ール基を示す。但し、R01〜R03の内少なくとも2つは
水素原子以外の基であり、又、R01〜R03、及びR04〜
R06の内の2つの基が結合して環を形成してもよい。R
0は置換基を有していても良い2価以上の脂肪族もしく
は芳香族炭化水素基を示し、−Ar−は単環もしくは多
環の置換基を有していても良い2価以上の芳香族基を示
す。2価以上の脂肪族基としては、メチレン基、エチレ
ン基、プロピレン基、イソプロピレン基、ブチレン基、
イソブチレン基、t−ブチレン基などのような2価、メ
チン基やエチン基のような3価及び4価で炭素数1〜4
個のものが好ましく、これらはさらに置換基によって置
換されていてもよい。また、2価以上の芳香族基として
は、1,4−フェニレン、1,3−フェニレン、1,2
−フェニレンのような単環のもの、1,2−ナフチレ
ン、1,3−ナフチレン、1,4−ナフチレン、1,5
−ナフチレン、1,6−ナフチレン、1,7−ナフチレ
ン、1,8−ナフチレン、2,3−ナフチレン、2,4
−ナフチレン、2,5−ナフチレン、2,6−ナフチレ
ン、2,7−ナフチレン、2,8−ナフチレンなどのよ
うな2環のもの、アントラセンのような3環のものなど
が挙げられ、更に多くの環を縮環していても良く、置換
基を有していてもよい。
【0020】ここで、アルキル基としてはメチル基、エ
チル基、プロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル
基、t−ブチル基の様な炭素数1〜4個のものが好まし
く、シクロアルキル基としてはシクロプロピル基、シク
ロブチル基、シクロヘキシル基、アダマンチル基の様な
炭素数3〜10個のものが好ましく、アルケニル基とし
てはビニル基、プロペニル基、アリル基、ブテニル基の
様な炭素数2〜4個のものが好ましく、アリール基とし
てはフエニル基、キシリル基、トルイル基、クメニル
基、ナフチル基、アントラセニル基の様な炭素数6〜1
4個のものが好ましい。また、置換基としては水酸基、
ハロゲン原子(フツ素、塩素、臭素、ヨウ素)、ニトロ
基、シアノ基、上記のアルキル基、メトキシ基・エトキ
シ基・ヒドロキシエトキシ基・プロポキシ基・ヒドロキ
シプロポキシ基・n−ブトキシ基・イソブトキシ基・s
ec−ブトキシ基・t−ブトキシ基等のアルコキシ基、
メトキシカルボニル基・エトキシカルボニル基等のアル
コキシカルボニル基、ベンジル基・フエネチル基・クミ
ル基等のアラルキル基、アラルキルオキシ基、ホルミル
基・アセチル基・ブチリル基・ベンゾイル基・シアナミ
ル基・バレリル基等のアシル基、ブチリルオキシ基等の
アシロキシ基、上記のアルケニル基、ビニルオキシ基・
プロペニルオキシ基・アリルオキシ基・ブテニルオキシ
基等のアルケニルオキシ基、上記のアリール基、フエノ
キシ基等のアリールオキシ基、ベンゾイルオキシ基等の
アリールオキシカルボニル基を挙げることができる。
チル基、プロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル
基、t−ブチル基の様な炭素数1〜4個のものが好まし
く、シクロアルキル基としてはシクロプロピル基、シク
ロブチル基、シクロヘキシル基、アダマンチル基の様な
炭素数3〜10個のものが好ましく、アルケニル基とし
てはビニル基、プロペニル基、アリル基、ブテニル基の
様な炭素数2〜4個のものが好ましく、アリール基とし
てはフエニル基、キシリル基、トルイル基、クメニル
基、ナフチル基、アントラセニル基の様な炭素数6〜1
4個のものが好ましい。また、置換基としては水酸基、
ハロゲン原子(フツ素、塩素、臭素、ヨウ素)、ニトロ
基、シアノ基、上記のアルキル基、メトキシ基・エトキ
シ基・ヒドロキシエトキシ基・プロポキシ基・ヒドロキ
シプロポキシ基・n−ブトキシ基・イソブトキシ基・s
ec−ブトキシ基・t−ブトキシ基等のアルコキシ基、
メトキシカルボニル基・エトキシカルボニル基等のアル
コキシカルボニル基、ベンジル基・フエネチル基・クミ
ル基等のアラルキル基、アラルキルオキシ基、ホルミル
基・アセチル基・ブチリル基・ベンゾイル基・シアナミ
ル基・バレリル基等のアシル基、ブチリルオキシ基等の
アシロキシ基、上記のアルケニル基、ビニルオキシ基・
プロペニルオキシ基・アリルオキシ基・ブテニルオキシ
基等のアルケニルオキシ基、上記のアリール基、フエノ
キシ基等のアリールオキシ基、ベンゾイルオキシ基等の
アリールオキシカルボニル基を挙げることができる。
【0021】酸分解性基としては、好ましくは、シリル
エーテル基、クミルエステル基、アセタール基、ケター
ル基、テトラヒドロピラニルエーテル基、エノールエー
テル基、エノールエステル基、第3級のアルキルエーテ
ル基、第3級のアルキルエステル基、第3級のアルキル
カーボネート基等である。更に好ましくは、第3級アル
キルエステル基、第3級アルキルカーボネート基、クミ
ルエステル基、テトラヒドロピラニルエーテル基、アセ
タール基である。
エーテル基、クミルエステル基、アセタール基、ケター
ル基、テトラヒドロピラニルエーテル基、エノールエー
テル基、エノールエステル基、第3級のアルキルエーテ
ル基、第3級のアルキルエステル基、第3級のアルキル
カーボネート基等である。更に好ましくは、第3級アル
キルエステル基、第3級アルキルカーボネート基、クミ
ルエステル基、テトラヒドロピラニルエーテル基、アセ
タール基である。
【0022】本発明に用いられる塩基性窒素含有溶解阻
止化合物における酸分解性基は、該酸分解性基間の距離
が最も離れた位置において、酸分解性基を除く結合原子
を少なくとも8個経由する化合物が好ましい。本発明に
おいて、より好ましくは塩基性窒素含有溶解阻止化合物
は、その構造中に酸で分解し得る基を少なくとも2個有
し、該酸分解性基間の距離が最も離れた位置において、
酸分解性基を除く結合原子を少なくとも10個、好まし
くは少なくとも11個、更に好ましくは少なくとも12
個経由する化合物、又は酸分解性基を少なくとも3個有
し、該酸分解性基間の距離が最も離れた位置において、
酸分解性基を除く結合原子を少なくとも9個、好ましく
は少なくとも10個、更に好ましくは少なくとも11個
経由する化合物である。又、上記結合原子の好ましい上
限は50個、更に好ましくは30個である。本発明にお
いて、塩基性窒素含有溶解阻止化合物が、酸分解性基を
3個以上、好ましくは4個以上有する場合、又酸分解性
基を2個有するものにおいても、該酸分解性基が互いに
ある一定の距離以上離れている場合、アルカリ可溶性樹
脂に対する溶解阻止性が著しく向上する。なお、本発明
における酸分解性基間の距離は、酸分解性基を除く、経
由結合原子数で示される。例えば、以下の化合物
(1)、(2)の場合、酸分解性基間の距離は、各々結
合原子4個であり、化合物(3)では結合原子12個で
ある。
止化合物における酸分解性基は、該酸分解性基間の距離
が最も離れた位置において、酸分解性基を除く結合原子
を少なくとも8個経由する化合物が好ましい。本発明に
おいて、より好ましくは塩基性窒素含有溶解阻止化合物
は、その構造中に酸で分解し得る基を少なくとも2個有
し、該酸分解性基間の距離が最も離れた位置において、
酸分解性基を除く結合原子を少なくとも10個、好まし
くは少なくとも11個、更に好ましくは少なくとも12
個経由する化合物、又は酸分解性基を少なくとも3個有
し、該酸分解性基間の距離が最も離れた位置において、
酸分解性基を除く結合原子を少なくとも9個、好ましく
は少なくとも10個、更に好ましくは少なくとも11個
経由する化合物である。又、上記結合原子の好ましい上
限は50個、更に好ましくは30個である。本発明にお
いて、塩基性窒素含有溶解阻止化合物が、酸分解性基を
3個以上、好ましくは4個以上有する場合、又酸分解性
基を2個有するものにおいても、該酸分解性基が互いに
ある一定の距離以上離れている場合、アルカリ可溶性樹
脂に対する溶解阻止性が著しく向上する。なお、本発明
における酸分解性基間の距離は、酸分解性基を除く、経
由結合原子数で示される。例えば、以下の化合物
(1)、(2)の場合、酸分解性基間の距離は、各々結
合原子4個であり、化合物(3)では結合原子12個で
ある。
【0023】
【化1】
【0024】本発明の塩基性窒素含有溶解阻止化合物
は、1つのベンゼン環上に複数個の酸分解性基を有して
いても良いが、好ましくは、1つのベンゼン環上に各々
1個の酸分解性基を有する骨格から構成される化合物で
ある。また、本発明の塩基性窒素含有溶解阻止化合物に
おいて、塩基性基は上記経由結合原子数及び置換位置に
限定はなく、いずれの場所にも結合できる。
は、1つのベンゼン環上に複数個の酸分解性基を有して
いても良いが、好ましくは、1つのベンゼン環上に各々
1個の酸分解性基を有する骨格から構成される化合物で
ある。また、本発明の塩基性窒素含有溶解阻止化合物に
おいて、塩基性基は上記経由結合原子数及び置換位置に
限定はなく、いずれの場所にも結合できる。
【0025】本発明の塩基性窒素含有溶解阻止化合物と
しては、下記で示されるようなポリヒドロキシ化合物
に、塩基性基と酸分解性基を導入したものが好ましい。
そのような、ポリヒドロキシ化合物としては、好ましく
は、特開平1−289946号、特開平1−28994
7号、特開平2−2560号、特開平3−128959
号、特開平3−158855号、特開平3−17935
3号、特開平3−191351号、特開平3−2002
51号、特開平3−200252号、特開平3−200
253号、特開平3−200254号、特開平3−20
0255号、特開平3−259149号、特開平3−2
79958号、特開平3−279959号、特開平4−
1650号、特開平4−1651号、特開平4−112
60号、特開平4−12356号、特開平4−1235
7号、特願平3−33229号、特願平3−23079
0号、特願平3−320438号、特願平4−2515
7号、特願平4−52732号、特願平4−10321
5号、特願平4−104542号、特願平4−1078
85号、特願平4−107889号、同4−15219
5号等の明細書に記載されたポリヒドロキシ化合物が挙
げられ、それらのポリヒドロキシ化合物のフエノール性
OH基の一部もしくは全部を上に示した基、−R0−C
OO−A0もしくはB0基で結合し、保護した化合物で、
更に塩基性基を導入したものが挙げられる。
しては、下記で示されるようなポリヒドロキシ化合物
に、塩基性基と酸分解性基を導入したものが好ましい。
そのような、ポリヒドロキシ化合物としては、好ましく
は、特開平1−289946号、特開平1−28994
7号、特開平2−2560号、特開平3−128959
号、特開平3−158855号、特開平3−17935
3号、特開平3−191351号、特開平3−2002
51号、特開平3−200252号、特開平3−200
253号、特開平3−200254号、特開平3−20
0255号、特開平3−259149号、特開平3−2
79958号、特開平3−279959号、特開平4−
1650号、特開平4−1651号、特開平4−112
60号、特開平4−12356号、特開平4−1235
7号、特願平3−33229号、特願平3−23079
0号、特願平3−320438号、特願平4−2515
7号、特願平4−52732号、特願平4−10321
5号、特願平4−104542号、特願平4−1078
85号、特願平4−107889号、同4−15219
5号等の明細書に記載されたポリヒドロキシ化合物が挙
げられ、それらのポリヒドロキシ化合物のフエノール性
OH基の一部もしくは全部を上に示した基、−R0−C
OO−A0もしくはB0基で結合し、保護した化合物で、
更に塩基性基を導入したものが挙げられる。
【0026】上記ポリヒドロキシ化合物として、更に好
ましくは、特開平1−289946号、特開平3−12
8959号、特開平3−158855号、特開平3−1
79353号、特開平3−200251号、特開平3−
200252号、特開平3−200255号、特開平3
−259149号、特開平3−279958号、特開平
4−1650号、特開平4−11260号、特開平4−
12356号、特開平4−12357号、特願平4−2
5157号、特願平4−103215号、特願平4−1
04542号、特願平4−107885号、特願平4−
107889号、同4−152195号の明細書に記載
されたポリヒドロキシ化合物を用いたものが挙げられ
る。
ましくは、特開平1−289946号、特開平3−12
8959号、特開平3−158855号、特開平3−1
79353号、特開平3−200251号、特開平3−
200252号、特開平3−200255号、特開平3
−259149号、特開平3−279958号、特開平
4−1650号、特開平4−11260号、特開平4−
12356号、特開平4−12357号、特願平4−2
5157号、特願平4−103215号、特願平4−1
04542号、特願平4−107885号、特願平4−
107889号、同4−152195号の明細書に記載
されたポリヒドロキシ化合物を用いたものが挙げられ
る。
【0027】より具体的には、本発明の塩基性窒素含有
溶解阻止化合物は、一般式[I]〜[XVI]で表され
る化合物及び下記好ましい化合物骨格(1)〜(63)
に、上記塩基性基の1つ以上を導入したものが挙げられ
る。
溶解阻止化合物は、一般式[I]〜[XVI]で表され
る化合物及び下記好ましい化合物骨格(1)〜(63)
に、上記塩基性基の1つ以上を導入したものが挙げられ
る。
【0028】
【化2】
【0029】
【化3】
【0030】
【化4】
【0031】
【化5】
【0032】ここで、R1,R2,R3,R4:同一でも異
なっていても良く、水素原子、−R0−COO−A0もし
くはB0基、 R1:−CO−,−COO−,−NHCONH−,−N
HCOO−,−O−,−S−,−SO−,−SO2 −,
−SO3 −,もしくは
なっていても良く、水素原子、−R0−COO−A0もし
くはB0基、 R1:−CO−,−COO−,−NHCONH−,−N
HCOO−,−O−,−S−,−SO−,−SO2 −,
−SO3 −,もしくは
【0033】
【化6】
【0034】ここで、G=2〜6 但し、G=2の時は
R4,R5のうち少なくとも一方はアルキル基、 R4,R5:同一でも異なっていても良く、水素原子,ア
ルキル基,アルコキシ基,−OH,−COOH,−C
N,ハロゲン原子,−R6−COOR7,もしくは−R8
−OH(R6,R8:アルキレン基、R7:水素原子,ア
ルキル基,アリール基,もしくはアラルキル基)、 R2,R3,R9〜R12,R15,R17〜R21,R25〜
R27,R30〜R32,R37〜R42,R46〜R49及びR51:
同一でも異なっても良く、水素原子,水酸基,アルキル
基,アルコキシ基,アシル基,アシロキシ基,アリール
基,アリールオキシ基,アラルキル基,アラルキルオキ
シ基,ハロゲン原子,ニトロ基,カルボキシル基,シア
ノ基,もしくは−N(R13)(R14)(R13,R14:H,アルキ
ル基,もしくはアリール基)、 R16:単結合,アルキレン基,もしくは
R4,R5のうち少なくとも一方はアルキル基、 R4,R5:同一でも異なっていても良く、水素原子,ア
ルキル基,アルコキシ基,−OH,−COOH,−C
N,ハロゲン原子,−R6−COOR7,もしくは−R8
−OH(R6,R8:アルキレン基、R7:水素原子,ア
ルキル基,アリール基,もしくはアラルキル基)、 R2,R3,R9〜R12,R15,R17〜R21,R25〜
R27,R30〜R32,R37〜R42,R46〜R49及びR51:
同一でも異なっても良く、水素原子,水酸基,アルキル
基,アルコキシ基,アシル基,アシロキシ基,アリール
基,アリールオキシ基,アラルキル基,アラルキルオキ
シ基,ハロゲン原子,ニトロ基,カルボキシル基,シア
ノ基,もしくは−N(R13)(R14)(R13,R14:H,アルキ
ル基,もしくはアリール基)、 R16:単結合,アルキレン基,もしくは
【0035】
【化7】
【0036】R22,R24:同一でも異なっても良く、単
結合,アルキレン基,−O−,−S−,−CO−,もし
くはカルボキシル基、 R23:水素原子,アルキル基,アルコキシ基,アシル
基,アシロキシ基,アリール基,ニトロ基,水酸基,シ
アノ基,もしくはカルボキシル基、但し、水酸基の水素
がt−ブトキシカルボニル基で置換されていてもよい、 R28,R29:同一でも異なっても良く、メチレン基,低
級アルキル置換メチレン基,ハロメチレン基,もしくは
ハロアルキル基、 但し本願において低級アルキル基とは炭素数1〜4のア
ルキル基を指す、 R33〜R36:同一でも異なっても良く、水素原子,もし
くはアルキル基、 R43〜R45:同一でも異なっても良く、水素原子,アル
キル基,アルコキシ基,アシル基,もしくはアシロキシ
基、 R50:水素原子,t−ブトキシカルボニル基,もしくは
結合,アルキレン基,−O−,−S−,−CO−,もし
くはカルボキシル基、 R23:水素原子,アルキル基,アルコキシ基,アシル
基,アシロキシ基,アリール基,ニトロ基,水酸基,シ
アノ基,もしくはカルボキシル基、但し、水酸基の水素
がt−ブトキシカルボニル基で置換されていてもよい、 R28,R29:同一でも異なっても良く、メチレン基,低
級アルキル置換メチレン基,ハロメチレン基,もしくは
ハロアルキル基、 但し本願において低級アルキル基とは炭素数1〜4のア
ルキル基を指す、 R33〜R36:同一でも異なっても良く、水素原子,もし
くはアルキル基、 R43〜R45:同一でも異なっても良く、水素原子,アル
キル基,アルコキシ基,アシル基,もしくはアシロキシ
基、 R50:水素原子,t−ブトキシカルボニル基,もしくは
【0037】
【化8】
【0038】R52,R53:同一でも異なっても良く、水
素原子,低級アルキル基,低級ハロアルキル基,もしく
はアリール基、 R54〜R57:同一でも異なっていても良く、水素原子,
水酸基,ハロゲン原子,ニトロ基,シアノ基,カルボニ
ル基,アルキル基,アルコキシ基,アルコキシカルボニ
ル基,アラルキル基,アラルキルオキシ基,アシル基,
アシロキシ基,アルケニル基,アルケニルオキシ基,ア
リール基,アリールオキシ基,もしくはアリールオキシ
カルボニル基、但し、各4個の同一記号の置換基は同一
の基でなくても良い、 Y:−CO−,もしくは−SO2−、 Z,B:単結合,もしくは−O−、 A:メチレン基,低級アルキル置換メチレン基,ハロメ
チレン基,もしくはハロアルキル基、 E:単結合,もしくはオキシメチレン基、 a〜z,a1〜y1:複数の時、()内の基は同一または異な
っていてもよい、 a〜q、s,t,v,g1〜i1,k1〜m1,o1,q1,s1,u1:0もしくは
1〜5の整数、 r,u,w,x,y,z,a1〜f1,p1,r1,t1,v1〜x1:0もしくは1〜
4の整数、 j1,n1,z1,a2,b2,c2,d2:0もしくは1〜3の整数、z1,a
2,c2,d2のうち少なくとも1つは1以上、 y1:3〜8の整数、 (a+b),(e+f+g),(k+l+m),(q+r+s),(w+x+y),(c1+d1),(g1+
h1+i1+j1),(o1+p1),(s1+t1)≧2、 (j1+n1)≦3、 (r+u),(w+z),(x+a1),(y+b1),(c1+e1),(d1+f1),(p1+r1),
(t1+v1),(x1+w1)≦4 、但し一般式[V]の場合は(w+z),(x+a1)≦5、 (a+c),(b+d),(e+h),(f+i),(g+j),(k+n),(l+o),(m+p),(q
+t),(s+v),(g1+k1),(h1+l1),(i1+m1),(o1+q1),(s1+u1)
≦5、 を表す。
素原子,低級アルキル基,低級ハロアルキル基,もしく
はアリール基、 R54〜R57:同一でも異なっていても良く、水素原子,
水酸基,ハロゲン原子,ニトロ基,シアノ基,カルボニ
ル基,アルキル基,アルコキシ基,アルコキシカルボニ
ル基,アラルキル基,アラルキルオキシ基,アシル基,
アシロキシ基,アルケニル基,アルケニルオキシ基,ア
リール基,アリールオキシ基,もしくはアリールオキシ
カルボニル基、但し、各4個の同一記号の置換基は同一
の基でなくても良い、 Y:−CO−,もしくは−SO2−、 Z,B:単結合,もしくは−O−、 A:メチレン基,低級アルキル置換メチレン基,ハロメ
チレン基,もしくはハロアルキル基、 E:単結合,もしくはオキシメチレン基、 a〜z,a1〜y1:複数の時、()内の基は同一または異な
っていてもよい、 a〜q、s,t,v,g1〜i1,k1〜m1,o1,q1,s1,u1:0もしくは
1〜5の整数、 r,u,w,x,y,z,a1〜f1,p1,r1,t1,v1〜x1:0もしくは1〜
4の整数、 j1,n1,z1,a2,b2,c2,d2:0もしくは1〜3の整数、z1,a
2,c2,d2のうち少なくとも1つは1以上、 y1:3〜8の整数、 (a+b),(e+f+g),(k+l+m),(q+r+s),(w+x+y),(c1+d1),(g1+
h1+i1+j1),(o1+p1),(s1+t1)≧2、 (j1+n1)≦3、 (r+u),(w+z),(x+a1),(y+b1),(c1+e1),(d1+f1),(p1+r1),
(t1+v1),(x1+w1)≦4 、但し一般式[V]の場合は(w+z),(x+a1)≦5、 (a+c),(b+d),(e+h),(f+i),(g+j),(k+n),(l+o),(m+p),(q
+t),(s+v),(g1+k1),(h1+l1),(i1+m1),(o1+q1),(s1+u1)
≦5、 を表す。
【0039】
【化9】
【0040】
【化10】
【0041】
【化11】
【0042】
【化12】
【0043】好ましい化合物骨格の具体例を以下に示
す。
す。
【0044】
【化13】
【0045】
【化14】
【0046】
【化15】
【0047】
【化16】
【0048】
【化17】
【0049】
【化18】
【0050】
【化19】
【0051】
【化20】
【0052】
【化21】
【0053】
【化22】
【0054】
【化23】
【0055】
【化24】
【0056】
【化25】
【0057】
【化26】
【0058】
【化27】
【0059】
【化28】
【0060】
【化29】
【0061】
【化30】
【0062】
【化31】
【0063】化合物(1)〜(63)中のRは、水素原
子、
子、
【0064】
【化32】
【0065】を表す。但し、少なくとも2個、もしくは
構造により3個は水素原子以外の基であり、各置換基R
は同一の基でなくても良い。また、化合物中のRの部分
に置換していてもよい。但し、Rすべてが塩基性基で置
換されることはない。上記、一般式〔I〕〜〔XVI〕
で表される化合物、及び化合物骨格(1)〜(63)に
おいて、塩基性基はこれらの化合物のいずれの置換位置
にも結合していてもよい。これらの塩基性窒素含有溶解
阻止化合物の具体例を以下に示すが、本発明がこれらに
限定されるものではない。
構造により3個は水素原子以外の基であり、各置換基R
は同一の基でなくても良い。また、化合物中のRの部分
に置換していてもよい。但し、Rすべてが塩基性基で置
換されることはない。上記、一般式〔I〕〜〔XVI〕
で表される化合物、及び化合物骨格(1)〜(63)に
おいて、塩基性基はこれらの化合物のいずれの置換位置
にも結合していてもよい。これらの塩基性窒素含有溶解
阻止化合物の具体例を以下に示すが、本発明がこれらに
限定されるものではない。
【0066】
【化33】
【0067】
【化34】
【0068】
【化35】
【0069】
【化36】
【0070】
【化37】
【0071】
【化38】
【0072】
【化39】
【0073】
【化40】
【0074】
【化41】
【0075】
【化42】
【0076】
【化43】
【0077】
【化44】
【0078】本発明に用いられる塩基性窒素含有溶解阻
止化合物の合成法としては、例えば、上記のようなフェ
ノール性化合物と2級アミン化合物及びアルデヒド類又
はケトン化合物と反応させて塩基性基を導入した化合物
を得て、ついでフェノール性水酸基を酸分解性保護基で
保護することにより得られる。上記フェノール性化合物
に塩基性基を導入する方法としては、特願平7−136
535号に記載のフェノール化合物に2級アミン化合物
を導入したアミノメチル化物の合成法と同様の方法が挙
げられる。また、塩基性基をフェノール性水酸基に置換
する場合、各種縮合方法を用いて合成することができ
る。なお、この他塩基性基を導入できる方法であれば、
この方法に限らない。上記塩基性窒素含有溶解阻止化合
物の感光性組成物中(塗布溶媒を除く)の添加量として
は、後述する酸発生化合物の量により適宜設定すること
ができ、好ましくは酸発生化合物と溶解阻止化合物中の
塩基性窒素の含有モル比が、1/2〜100/1に設定
し、より好ましくは1/2〜50/1、更に好ましくは
1/1〜20/1、特に好ましくは2/1〜10/1に
設定する。
止化合物の合成法としては、例えば、上記のようなフェ
ノール性化合物と2級アミン化合物及びアルデヒド類又
はケトン化合物と反応させて塩基性基を導入した化合物
を得て、ついでフェノール性水酸基を酸分解性保護基で
保護することにより得られる。上記フェノール性化合物
に塩基性基を導入する方法としては、特願平7−136
535号に記載のフェノール化合物に2級アミン化合物
を導入したアミノメチル化物の合成法と同様の方法が挙
げられる。また、塩基性基をフェノール性水酸基に置換
する場合、各種縮合方法を用いて合成することができ
る。なお、この他塩基性基を導入できる方法であれば、
この方法に限らない。上記塩基性窒素含有溶解阻止化合
物の感光性組成物中(塗布溶媒を除く)の添加量として
は、後述する酸発生化合物の量により適宜設定すること
ができ、好ましくは酸発生化合物と溶解阻止化合物中の
塩基性窒素の含有モル比が、1/2〜100/1に設定
し、より好ましくは1/2〜50/1、更に好ましくは
1/1〜20/1、特に好ましくは2/1〜10/1に
設定する。
【0079】水不溶でアルカリ水溶液に可溶な樹脂(以
下、アルカリ可溶性樹脂ともいう)本発明に用いられる
アルカリ可溶性樹脂としては、例えばノボラック樹脂、
水素化ノボラツク樹脂、アセトン−ピロガロール樹脂、
o−ポリヒドロキシスチレン、m−ポリヒドロキシスチ
レン、p−ポリヒドロキシスチレン、水素化ポリヒドロ
キシスチレン、ハロゲンもしくはアルキル置換ポリヒド
ロキシスチレン、ヒドロキシスチレン−N−置換マレイ
ミド共重合体、o/p−及びm/p−ヒドロキシスチレ
ン共重合体、ポリヒドロキシスチレンの水酸基に対する
一部O−アルキル化物(例えば、5〜30モル%のO−
メチル化物、O−(1−メトキシ)エチル化物、O−
(1−エトキシ)エチル化物、O−2−テトラヒドロピ
ラニル化物、O−(t−ブトキシカルボニル)メチル化
物等)もしくはO−アシル化物(例えば、5〜30モル
%のo−アセチル化物、O−(t−ブトキシ)カルボニ
ル化物等)、スチレン−無水マレイン酸共重合体、スチ
レン−ヒドロキシスチレン共重合体、α−メチルスチレ
ン−ヒドロキシスチレン共重合体、カルボキシル基含有
メタクリル系樹脂及びその誘導体を挙げることができる
が、これらに限定されるものではない。特に好ましいア
ルカリ可溶性樹脂はノボラック樹脂及びo−ポリヒドロ
キシスチレン、m−ポリヒドロキシスチレン、p−ポリ
ヒドロキシスチレン及びこれらの共重合体、アルキル置
換ポリヒドロキシスチレン、ポリヒドロキシスチレンの
一部O−アルキル化、もしくはO−アシル化物、スチレ
ン−ヒドロキシスチレン共重合体、α−メチルスチレン
−ヒドロキシスチレン共重合体である。該ノボラック樹
脂は所定のモノマーを主成分として、酸性触媒の存在
下、アルデヒド類と付加縮合させることにより得られ
る。
下、アルカリ可溶性樹脂ともいう)本発明に用いられる
アルカリ可溶性樹脂としては、例えばノボラック樹脂、
水素化ノボラツク樹脂、アセトン−ピロガロール樹脂、
o−ポリヒドロキシスチレン、m−ポリヒドロキシスチ
レン、p−ポリヒドロキシスチレン、水素化ポリヒドロ
キシスチレン、ハロゲンもしくはアルキル置換ポリヒド
ロキシスチレン、ヒドロキシスチレン−N−置換マレイ
ミド共重合体、o/p−及びm/p−ヒドロキシスチレ
ン共重合体、ポリヒドロキシスチレンの水酸基に対する
一部O−アルキル化物(例えば、5〜30モル%のO−
メチル化物、O−(1−メトキシ)エチル化物、O−
(1−エトキシ)エチル化物、O−2−テトラヒドロピ
ラニル化物、O−(t−ブトキシカルボニル)メチル化
物等)もしくはO−アシル化物(例えば、5〜30モル
%のo−アセチル化物、O−(t−ブトキシ)カルボニ
ル化物等)、スチレン−無水マレイン酸共重合体、スチ
レン−ヒドロキシスチレン共重合体、α−メチルスチレ
ン−ヒドロキシスチレン共重合体、カルボキシル基含有
メタクリル系樹脂及びその誘導体を挙げることができる
が、これらに限定されるものではない。特に好ましいア
ルカリ可溶性樹脂はノボラック樹脂及びo−ポリヒドロ
キシスチレン、m−ポリヒドロキシスチレン、p−ポリ
ヒドロキシスチレン及びこれらの共重合体、アルキル置
換ポリヒドロキシスチレン、ポリヒドロキシスチレンの
一部O−アルキル化、もしくはO−アシル化物、スチレ
ン−ヒドロキシスチレン共重合体、α−メチルスチレン
−ヒドロキシスチレン共重合体である。該ノボラック樹
脂は所定のモノマーを主成分として、酸性触媒の存在
下、アルデヒド類と付加縮合させることにより得られ
る。
【0080】所定のモノマーとしては、フェノール、m
−クレゾール、p−クレゾール、o−クレゾール等のク
レゾール類、2,5−キシレノール、3,5−キシレノ
ール、3,4−キシレノール、2,3−キシレノール等
のキシレノール類、m−エチルフェノール、p−エチル
フェノール、o−エチルフェノール、p−t−ブチルフ
ェノール、p−オクチルフエノール、2,3,5−トリ
メチルフェノール等のアルキルフェノール類、p−メト
キシフェノール、m−メトキシフェノール、3,5−ジ
メトキシフェノール、2−メトキシ−4−メチルフェノ
ール、m−エトキシフェノール、p−エトキシフェノー
ル、m−プロポキシフェノール、p−プロポキシフェノ
ール、m−ブトキシフェノール、p−ブトキシフェノー
ル等のアルコキシフェノール類、2−メチル−4−イソ
プロピルフェノール等のビスアルキルフェノール類、m
−クロロフェノール、p−クロロフェノール、o−クロ
ロフェノール、ジヒドロキシビフェニル、ビスフェノー
ルA、フェニルフェノール、レゾルシノール、ナフトー
ル等のヒドロキシ芳香化合物を単独もしくは2種類以上
混合して使用することができるが、これらに限定される
ものではない。
−クレゾール、p−クレゾール、o−クレゾール等のク
レゾール類、2,5−キシレノール、3,5−キシレノ
ール、3,4−キシレノール、2,3−キシレノール等
のキシレノール類、m−エチルフェノール、p−エチル
フェノール、o−エチルフェノール、p−t−ブチルフ
ェノール、p−オクチルフエノール、2,3,5−トリ
メチルフェノール等のアルキルフェノール類、p−メト
キシフェノール、m−メトキシフェノール、3,5−ジ
メトキシフェノール、2−メトキシ−4−メチルフェノ
ール、m−エトキシフェノール、p−エトキシフェノー
ル、m−プロポキシフェノール、p−プロポキシフェノ
ール、m−ブトキシフェノール、p−ブトキシフェノー
ル等のアルコキシフェノール類、2−メチル−4−イソ
プロピルフェノール等のビスアルキルフェノール類、m
−クロロフェノール、p−クロロフェノール、o−クロ
ロフェノール、ジヒドロキシビフェニル、ビスフェノー
ルA、フェニルフェノール、レゾルシノール、ナフトー
ル等のヒドロキシ芳香化合物を単独もしくは2種類以上
混合して使用することができるが、これらに限定される
ものではない。
【0081】アルデヒド類としては、例えばホルムアル
デヒド、パラホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、プ
ロピオンアルデヒド、ベンズアルデヒド、フェニルアセ
トアルデヒド、α−フェニルプロピルアルデヒド、β−
フェニルプロピルアルデヒド、o−ヒドロキシベンズア
ルデヒド、m−ヒドロキシベンズアルデヒド、p−ヒド
ロキシベンズアルデヒド、o−クロロベンズアルデヒ
ド、m−クロロベンズアルデヒド、p−クロロベンズア
ルデヒド、o−ニトロベンズアルデヒド、m−ニトロベ
ンズアルデヒド、p−ニトロベンズアルデヒド、o−メ
チルベンズアルデヒド、m−メチルベンズアルデヒド、
p−メチルベンズアルデヒド、p−エチルベンズアルデ
ヒド、p−n−ブチルベンズアルデヒド、フルフラー
ル、クロロアセトアルデヒド及びこれらのアセタール
体、例えばクロロアセトアルデヒドジエチルアセタール
等を使用することができるが、これらの中で、ホルムア
ルデヒドを使用するのが好ましい。これらのアルデヒド
類は、単独でもしくは2種類以上組み合わせて用いられ
る。酸性触媒としては塩酸、硫酸、ギ酸、酢酸、シュウ
酸等を使用することができる。
デヒド、パラホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、プ
ロピオンアルデヒド、ベンズアルデヒド、フェニルアセ
トアルデヒド、α−フェニルプロピルアルデヒド、β−
フェニルプロピルアルデヒド、o−ヒドロキシベンズア
ルデヒド、m−ヒドロキシベンズアルデヒド、p−ヒド
ロキシベンズアルデヒド、o−クロロベンズアルデヒ
ド、m−クロロベンズアルデヒド、p−クロロベンズア
ルデヒド、o−ニトロベンズアルデヒド、m−ニトロベ
ンズアルデヒド、p−ニトロベンズアルデヒド、o−メ
チルベンズアルデヒド、m−メチルベンズアルデヒド、
p−メチルベンズアルデヒド、p−エチルベンズアルデ
ヒド、p−n−ブチルベンズアルデヒド、フルフラー
ル、クロロアセトアルデヒド及びこれらのアセタール
体、例えばクロロアセトアルデヒドジエチルアセタール
等を使用することができるが、これらの中で、ホルムア
ルデヒドを使用するのが好ましい。これらのアルデヒド
類は、単独でもしくは2種類以上組み合わせて用いられ
る。酸性触媒としては塩酸、硫酸、ギ酸、酢酸、シュウ
酸等を使用することができる。
【0082】こうして得られたノボラック樹脂の重量平
均分子量は、1,000〜30,000の範囲であるこ
とが好ましい。1,000未満では未露光部の現像後の
膜減りが大きく、30,000を越えると現像速度が小
さくなってしまう。特に好適なのは2,000〜20,
000の範囲である。また、ノボラック樹脂以外の前記
ポリヒドロキシスチレン、及びその誘導体、共重合体の
重量平均分子量は、2000以上、好ましくは5000
〜200000、より好ましくは10000〜1000
00である。また、レジスト膜の耐熱性を向上させると
いう観点からは、25000以上が好ましい。ここで、
重量平均分子量はゲルパーミエーションクロマトグラフ
ィーのポリスチレン換算値をもって定義される。本発明
に於けるこれらのアルカリ可溶性樹脂は2種類以上混合
して使用しても良い。アルカリ可溶性樹脂の使用量は、
感光性組成物の全重量(溶媒を除く)を基準として、5
0〜97重量%、好ましくは60〜90重量%である。
均分子量は、1,000〜30,000の範囲であるこ
とが好ましい。1,000未満では未露光部の現像後の
膜減りが大きく、30,000を越えると現像速度が小
さくなってしまう。特に好適なのは2,000〜20,
000の範囲である。また、ノボラック樹脂以外の前記
ポリヒドロキシスチレン、及びその誘導体、共重合体の
重量平均分子量は、2000以上、好ましくは5000
〜200000、より好ましくは10000〜1000
00である。また、レジスト膜の耐熱性を向上させると
いう観点からは、25000以上が好ましい。ここで、
重量平均分子量はゲルパーミエーションクロマトグラフ
ィーのポリスチレン換算値をもって定義される。本発明
に於けるこれらのアルカリ可溶性樹脂は2種類以上混合
して使用しても良い。アルカリ可溶性樹脂の使用量は、
感光性組成物の全重量(溶媒を除く)を基準として、5
0〜97重量%、好ましくは60〜90重量%である。
【0083】活性光線又は放射線の照射により酸を発生
する化合物 本発明で使用される活性光線または放射線の照射により
分解して酸を発生する化合物としては、光カチオン重合
の光開始剤、光ラジカル重合の光開始剤、色素類の光消
色剤、光変色剤、あるいはマイクロレジスト等に使用さ
れている公知の光により酸を発生する化合物およびそれ
らの混合物を適宜に選択して使用することができる。
する化合物 本発明で使用される活性光線または放射線の照射により
分解して酸を発生する化合物としては、光カチオン重合
の光開始剤、光ラジカル重合の光開始剤、色素類の光消
色剤、光変色剤、あるいはマイクロレジスト等に使用さ
れている公知の光により酸を発生する化合物およびそれ
らの混合物を適宜に選択して使用することができる。
【0084】たとえば S.I.Schlesinger,Photogr.Sci.E
ng.,18,387(1974)、T.S.Bal etal,Polymer,21,423(198
0)等に記載のジアゾニウム塩、米国特許第4,069,055
号、同4,069,056号、同 Re 27,992号、特願平3-140,140
号等に記載のアンモニウム塩、D.C.Necker etal,Macrom
olecules,17,2468(1984)、C.S.Wen etal,Teh,Proc.Con
f.Rad.Curing ASIA,p478 Tokyo,Oct(1988)、米国特許第
4,069,055号、同4,069,056号等に記載のホスホニウム
塩、J.V.Crivello etal,Macromorecules,10(6),1307(19
77)、Chem.&Eng.News,Nov.28,p31(1988)、欧州特許第10
4,143号、米国特許第339,049 号、同第410,201号、特開
平2-150,848号、特開平2-296,514号等に記載のヨードニ
ウム塩、J.V.Crivello etal,Polymer J.17,73(1985)、
J.V.Crivello etal.J.Org.Chem.,43,3055(1978)、W.R.W
att etal,J.Polymer Sci.,Polymer Chem.Ed.,22,1789(1
984) 、J.V.Crivello etal,Polymer Bull.,14,279(198
5)、J.V.Crivello etal,Macromorecules,14(5),1141(19
81)、J.V.Crivello etal,J.PolymerSci.,Polymer Chem.
Ed.,17,2877(1979)、欧州特許第370,693 号、同3,902,1
14号、同233,567号、同297,443号、同297,442号、米国
特許第4,933,377号、同161,811号、同410,201号、同33
9,049号、同4,760,013号、同4,734,444号、同2,833,827
号、獨国特許第2,904,626号、同3,604,580号、同3,604,
581号等に記載のスルホニウム塩、J.V.Crivello etal,M
acromorecules,10(6),1307(1977)、J.V.Crivello etal,
J.PolymerSci.,Polymer Chem.Ed., 17,1047(1979) 等に
記載のセレノニウム塩、C.S.Wen etal,Teh,Proc.Conf.R
ad.Curing ASIA,p478 Tokyo,Oct(1988)等に記載のアル
ソニウム塩等のオニウム塩、米国特許第3,905,815号、
特公昭46-4605 号、特開昭48-36281号、特開昭55-32070
号、特開昭60-239736号、特開昭61-169835 号、特開昭6
1-169837号、特開昭62-58241号、特開昭62-212401号、
特開昭63-70243号、特開昭63-298339号等に記載の有機
ハロゲン化合物、K.Meier etal,J.Rad.Curing,13(4),26
(1986) 、T.P.Gill etal,Inorg.Chem.,19,3007(198
0)、D.Astruc,Acc.Chem.Res.,19(12),377(1896)、特開
平2-161445号等に記載の有機金属/有機ハロゲン化物、
S.Hayase etal,J.Polymer Sci.,25,753(1987)、E.Reich
manis etal,J.Pholymer Sci.,Polymer Chem.Ed.,23,1(1
985)、Q.Q.Zhu etal,J.Photochem.,36,85,39,317(1987)、
B.Amit etal,Tetrahedron Lett.,(24)2205(1973)、D.H.
R.Barton etal,J.Chem Soc.,3571(1965)、 P.M.Collins
etal,J.Chem.SoC.,Perkin I,1695(1975)、M.Rudinstein
etal,Tetrahedron Lett.,(17),1445(1975)、J.W.Walker
etalJ.Am.Chem.Soc.,110,7170(1988)、S.C.Busman etal,
J.Imaging Technol.,11(4),191(1985)、H.M.Houlihan et
al,Macormolecules,21,2001(1988)、P.M.Collins etal,
J.Chem.Soc.,Chem.Commun.,532(1972)、S.Hayase etal,M
acromolecules,18,1799(1985)、E.Reichmanis etal,J.El
ectrochem.Soc.,Solid State Sci.Technol.,130(6)、 F.
M.Houlihan etal,Macromolcules,21,2001(1988)、欧州特
許第0290,750号、同046,083号、同156,535号、同271,85
1号、同0,388,343号、 米国特許第3,901,710号、同4,18
1,531号、特開昭60-198538号、特開昭53-133022号等に
記載のo−ニトロベンジル型保護基を有する光酸発生
剤、M.TUNOOKAetal,Polymer Preprints Japan,35(8)、G.
Berner etal,J.Rad.Curing,13(4)、W.J.Mijs etal,Coati
ng Technol.,55(697),45(1983),Akzo、H.Adachi etal,P
olymer Preprints,Japan,37(3)、欧州特許第0199,672
号、同84515号、同199,672号、同044,115号、同0101,12
2号、米国特許第618,564号、同4,371,605号、同4,431,7
74号、特開昭64-18143 号、特開平2-245756号、特願平3
-140109号等に記載のイミノスルフォネ−ト等に代表さ
れる光分解してスルホン酸を発生する化合物、特開昭61
-166544号等に記載のジスルホン化合物を挙げることが
できる。
ng.,18,387(1974)、T.S.Bal etal,Polymer,21,423(198
0)等に記載のジアゾニウム塩、米国特許第4,069,055
号、同4,069,056号、同 Re 27,992号、特願平3-140,140
号等に記載のアンモニウム塩、D.C.Necker etal,Macrom
olecules,17,2468(1984)、C.S.Wen etal,Teh,Proc.Con
f.Rad.Curing ASIA,p478 Tokyo,Oct(1988)、米国特許第
4,069,055号、同4,069,056号等に記載のホスホニウム
塩、J.V.Crivello etal,Macromorecules,10(6),1307(19
77)、Chem.&Eng.News,Nov.28,p31(1988)、欧州特許第10
4,143号、米国特許第339,049 号、同第410,201号、特開
平2-150,848号、特開平2-296,514号等に記載のヨードニ
ウム塩、J.V.Crivello etal,Polymer J.17,73(1985)、
J.V.Crivello etal.J.Org.Chem.,43,3055(1978)、W.R.W
att etal,J.Polymer Sci.,Polymer Chem.Ed.,22,1789(1
984) 、J.V.Crivello etal,Polymer Bull.,14,279(198
5)、J.V.Crivello etal,Macromorecules,14(5),1141(19
81)、J.V.Crivello etal,J.PolymerSci.,Polymer Chem.
Ed.,17,2877(1979)、欧州特許第370,693 号、同3,902,1
14号、同233,567号、同297,443号、同297,442号、米国
特許第4,933,377号、同161,811号、同410,201号、同33
9,049号、同4,760,013号、同4,734,444号、同2,833,827
号、獨国特許第2,904,626号、同3,604,580号、同3,604,
581号等に記載のスルホニウム塩、J.V.Crivello etal,M
acromorecules,10(6),1307(1977)、J.V.Crivello etal,
J.PolymerSci.,Polymer Chem.Ed., 17,1047(1979) 等に
記載のセレノニウム塩、C.S.Wen etal,Teh,Proc.Conf.R
ad.Curing ASIA,p478 Tokyo,Oct(1988)等に記載のアル
ソニウム塩等のオニウム塩、米国特許第3,905,815号、
特公昭46-4605 号、特開昭48-36281号、特開昭55-32070
号、特開昭60-239736号、特開昭61-169835 号、特開昭6
1-169837号、特開昭62-58241号、特開昭62-212401号、
特開昭63-70243号、特開昭63-298339号等に記載の有機
ハロゲン化合物、K.Meier etal,J.Rad.Curing,13(4),26
(1986) 、T.P.Gill etal,Inorg.Chem.,19,3007(198
0)、D.Astruc,Acc.Chem.Res.,19(12),377(1896)、特開
平2-161445号等に記載の有機金属/有機ハロゲン化物、
S.Hayase etal,J.Polymer Sci.,25,753(1987)、E.Reich
manis etal,J.Pholymer Sci.,Polymer Chem.Ed.,23,1(1
985)、Q.Q.Zhu etal,J.Photochem.,36,85,39,317(1987)、
B.Amit etal,Tetrahedron Lett.,(24)2205(1973)、D.H.
R.Barton etal,J.Chem Soc.,3571(1965)、 P.M.Collins
etal,J.Chem.SoC.,Perkin I,1695(1975)、M.Rudinstein
etal,Tetrahedron Lett.,(17),1445(1975)、J.W.Walker
etalJ.Am.Chem.Soc.,110,7170(1988)、S.C.Busman etal,
J.Imaging Technol.,11(4),191(1985)、H.M.Houlihan et
al,Macormolecules,21,2001(1988)、P.M.Collins etal,
J.Chem.Soc.,Chem.Commun.,532(1972)、S.Hayase etal,M
acromolecules,18,1799(1985)、E.Reichmanis etal,J.El
ectrochem.Soc.,Solid State Sci.Technol.,130(6)、 F.
M.Houlihan etal,Macromolcules,21,2001(1988)、欧州特
許第0290,750号、同046,083号、同156,535号、同271,85
1号、同0,388,343号、 米国特許第3,901,710号、同4,18
1,531号、特開昭60-198538号、特開昭53-133022号等に
記載のo−ニトロベンジル型保護基を有する光酸発生
剤、M.TUNOOKAetal,Polymer Preprints Japan,35(8)、G.
Berner etal,J.Rad.Curing,13(4)、W.J.Mijs etal,Coati
ng Technol.,55(697),45(1983),Akzo、H.Adachi etal,P
olymer Preprints,Japan,37(3)、欧州特許第0199,672
号、同84515号、同199,672号、同044,115号、同0101,12
2号、米国特許第618,564号、同4,371,605号、同4,431,7
74号、特開昭64-18143 号、特開平2-245756号、特願平3
-140109号等に記載のイミノスルフォネ−ト等に代表さ
れる光分解してスルホン酸を発生する化合物、特開昭61
-166544号等に記載のジスルホン化合物を挙げることが
できる。
【0085】また、これらの光により酸を発生する基、
あるいは化合物をポリマーの主鎖または側鎖に導入した
化合物、たとえば、M.E.Woodhouse etal,J.Am.Chem.So
c.,104,5586(1982)、S.P.Pappas etal,J.Imaging Sc
i.,30(5),218(1986)、S.Kondoetal,Makromol.Chem.,Rap
id Commun.,9,625(1988)、Y.Yamadaetal,Makromol.Che
m.,152,153,163(1972) 、J.V.Crivello etal,J.Polymer
Sci.,Polymer Chem.Ed.,17,3845(1979)、米国特許第3,8
49,137号、獨国特許第3914407号、特開昭63-26653号、
特開昭55-164824号、特開昭62-69263号、特開昭63-1460
38 号、特開昭63-163452号、特開昭62-153853号、特開
昭63-146029号等に記載の化合物を用いることができ
る。
あるいは化合物をポリマーの主鎖または側鎖に導入した
化合物、たとえば、M.E.Woodhouse etal,J.Am.Chem.So
c.,104,5586(1982)、S.P.Pappas etal,J.Imaging Sc
i.,30(5),218(1986)、S.Kondoetal,Makromol.Chem.,Rap
id Commun.,9,625(1988)、Y.Yamadaetal,Makromol.Che
m.,152,153,163(1972) 、J.V.Crivello etal,J.Polymer
Sci.,Polymer Chem.Ed.,17,3845(1979)、米国特許第3,8
49,137号、獨国特許第3914407号、特開昭63-26653号、
特開昭55-164824号、特開昭62-69263号、特開昭63-1460
38 号、特開昭63-163452号、特開昭62-153853号、特開
昭63-146029号等に記載の化合物を用いることができ
る。
【0086】さらにV.N.R.Pillai,Synthesis,(1),1(198
0)、A.Abad etal,Tetrahedron Lett.,(47)4555(1971)、
D.H.R.Barton etal,J.Chem.Soc.,(C),329(1970)、米国
特許第3,779,778号、欧州特許第126,712号等に記載の光
により酸を発生する化合物も使用することができる。
0)、A.Abad etal,Tetrahedron Lett.,(47)4555(1971)、
D.H.R.Barton etal,J.Chem.Soc.,(C),329(1970)、米国
特許第3,779,778号、欧州特許第126,712号等に記載の光
により酸を発生する化合物も使用することができる。
【0087】上記活性光線または放射線の照射により分
解して酸を発生する化合物の中で、特に有効に用いられ
るものについて以下に説明する。 (1)トリハロメチル基が置換した下記一般式(PAG
1)で表されるオキサゾール誘導体または一般式(PA
G2)で表されるS−トリアジン誘導体。
解して酸を発生する化合物の中で、特に有効に用いられ
るものについて以下に説明する。 (1)トリハロメチル基が置換した下記一般式(PAG
1)で表されるオキサゾール誘導体または一般式(PA
G2)で表されるS−トリアジン誘導体。
【0088】
【化45】
【0089】式中、R1は置換もしくは未置換のアリー
ル基、アルケニル基、R2は置換もしくは未置換のアリ
ール基、アルケニル基、アルキル基、又は−CY3をし
めす。Y3 は塩素原子または臭素原子を示す。具体的に
は以下の化合物を挙げることができるがこれらに限定さ
れるものではない。
ル基、アルケニル基、R2は置換もしくは未置換のアリ
ール基、アルケニル基、アルキル基、又は−CY3をし
めす。Y3 は塩素原子または臭素原子を示す。具体的に
は以下の化合物を挙げることができるがこれらに限定さ
れるものではない。
【0090】
【化46】
【0091】
【化47】
【0092】
【化48】
【0093】(2)下記の一般式(PAG3)で表され
るヨードニウム塩、または一般式(PAG4)で表され
るスルホニウム塩。
るヨードニウム塩、または一般式(PAG4)で表され
るスルホニウム塩。
【0094】
【化49】
【0095】式中、Ar1、Ar2は各々独立に置換もし
くは未置換のアリール基を示す。ここで、好ましい置換
基としては、アルキル基、ハロアルキル基、シクロアル
キル基、アリール基、アルコキシ基、ニトロ基、カルボ
キシル基、アルコキシカルボニル基、ヒロドキシ基、メ
ルカプト基およびハロゲン原子が挙げられる。
くは未置換のアリール基を示す。ここで、好ましい置換
基としては、アルキル基、ハロアルキル基、シクロアル
キル基、アリール基、アルコキシ基、ニトロ基、カルボ
キシル基、アルコキシカルボニル基、ヒロドキシ基、メ
ルカプト基およびハロゲン原子が挙げられる。
【0096】R3,R4,R5は各々独立に、置換もしく
は未置換のアルキル基、アリール基を示す。好ましくは
炭素数6〜14のアリール基、炭素数1〜8のアルキル
基およびそれらの置換誘導体である。ここで、好ましい
置換基としては、アリール基に対しては炭素数1〜8の
アルコキシ基、炭素数1〜8のアルキル基、ニトロ基、
カルボキシル基、ヒドロキシ基およびハロゲン原子であ
り、アルキル基に対しては炭素数1〜8のアルコキシ
基、カルボキシル基、アルコシキカルボニル基である。
は未置換のアルキル基、アリール基を示す。好ましくは
炭素数6〜14のアリール基、炭素数1〜8のアルキル
基およびそれらの置換誘導体である。ここで、好ましい
置換基としては、アリール基に対しては炭素数1〜8の
アルコキシ基、炭素数1〜8のアルキル基、ニトロ基、
カルボキシル基、ヒドロキシ基およびハロゲン原子であ
り、アルキル基に対しては炭素数1〜8のアルコキシ
基、カルボキシル基、アルコシキカルボニル基である。
【0097】Z-は対アニオンを示し、例えばBF4 -、
AsF6 -、PF6 -、SbF6-、SiF6 2-、ClO4 -、
CF3SO3 -等のパーフルオロアルカンスルホン酸アニ
オン、ペンタフルオロベンゼンスルホン酸アニオン、ナ
フタレン−1−スルホン酸アニオン等の縮合多核芳香族
スルホン酸アニオン、アントラキノンスルホン酸アニオ
ン、スルホン酸基含有染料等を挙げることができるがこ
れらに限定されるものではない。
AsF6 -、PF6 -、SbF6-、SiF6 2-、ClO4 -、
CF3SO3 -等のパーフルオロアルカンスルホン酸アニ
オン、ペンタフルオロベンゼンスルホン酸アニオン、ナ
フタレン−1−スルホン酸アニオン等の縮合多核芳香族
スルホン酸アニオン、アントラキノンスルホン酸アニオ
ン、スルホン酸基含有染料等を挙げることができるがこ
れらに限定されるものではない。
【0098】またR3,R4,R5のうちの2つおよびA
r1、Ar2はそれぞれの単結合または置換基を介して結
合してもよい。
r1、Ar2はそれぞれの単結合または置換基を介して結
合してもよい。
【0099】具体例としては以下に示す化合物が挙げら
れるが、これらに限定されるものではない。
れるが、これらに限定されるものではない。
【0100】
【化50】
【0101】
【化51】
【0102】
【化52】
【0103】
【化53】
【0104】
【化54】
【0105】
【化55】
【0106】
【化56】
【0107】
【化57】
【0108】
【化58】
【0109】
【化59】
【0110】
【化60】
【0111】
【化61】
【0112】一般式 (PAG3)、(PAG4)で示
される上記オニウム塩は公知であり、たとえばJ.W.Knap
czyk etal,J.Am.Chem.Soc.,91,145(1969)、A.L.Maycok
etal, J.Org.Chem.,35,2532,(1970)、E.Goethas etal ,
Bull.Soc.Chem.Belg.,73,546,(1964) 、H.M.Leicester、
J.Ame.Chem.Soc.,51,3587(1929)、J.V.Crivello etal,
J.Polym.Chem.Ed.,18,2677(1980)、米国特許第2,807,64
8 号および同4,247,473号、特開昭53-101,331号等に記
載の方法により合成することができる。
される上記オニウム塩は公知であり、たとえばJ.W.Knap
czyk etal,J.Am.Chem.Soc.,91,145(1969)、A.L.Maycok
etal, J.Org.Chem.,35,2532,(1970)、E.Goethas etal ,
Bull.Soc.Chem.Belg.,73,546,(1964) 、H.M.Leicester、
J.Ame.Chem.Soc.,51,3587(1929)、J.V.Crivello etal,
J.Polym.Chem.Ed.,18,2677(1980)、米国特許第2,807,64
8 号および同4,247,473号、特開昭53-101,331号等に記
載の方法により合成することができる。
【0113】(3)下記一般式(PAG5)で表される
ジスルホン誘導体または一般式(PAG6)で表される
イミノスルホネート誘導体。
ジスルホン誘導体または一般式(PAG6)で表される
イミノスルホネート誘導体。
【0114】
【化62】
【0115】式中Ar3、Ar4は各々独立に置換もしく
は未置換のアリール基を示す。R6は置換もしくは未置
換のアルキル基、アリール基を示す。Aは置換もしくは
未置換のアルキレン基、アルケニレン基、アリーレン基
を示す。具体例としては以下に示す化合物が挙げられる
が、これらに限定されるものではない。
は未置換のアリール基を示す。R6は置換もしくは未置
換のアルキル基、アリール基を示す。Aは置換もしくは
未置換のアルキレン基、アルケニレン基、アリーレン基
を示す。具体例としては以下に示す化合物が挙げられる
が、これらに限定されるものではない。
【0116】
【化63】
【0117】
【化64】
【0118】
【化65】
【0119】
【化66】
【0120】
【化67】
【0121】これらの活性光線または放射線の照射によ
り分解して酸を発生する化合物の添加量は、感光性組成
物の全重量(塗布溶媒を除く)を基準として通常0.0
01〜40重量%の範囲で用いられ、好ましくは0.0
1〜20重量%、更に好ましくは0.1〜5重量%の範
囲で使用される。
り分解して酸を発生する化合物の添加量は、感光性組成
物の全重量(塗布溶媒を除く)を基準として通常0.0
01〜40重量%の範囲で用いられ、好ましくは0.0
1〜20重量%、更に好ましくは0.1〜5重量%の範
囲で使用される。
【0122】本発明において、上述の塩基性窒素含有溶
解阻止化合物とともに、下記に示すような酸分解性溶解
阻止化合物を用いることが好ましい。これにより、一層
ディスクリミネーションが向上し、解像力が向上する点
で好ましい。本発明に用いられる酸分解性溶解阻止化合
物としては、その構造中に酸で分解し得る基を少なくと
も2個有し、該酸分解性基間の距離が最も離れた位置に
おいて、酸分解性基を除く結合原子を少なくとも8個経
由する化合物である。本発明において、好ましくは酸分
解性溶解阻止化合物は、その構造中に酸で分解し得る基
を少なくとも2個有し、該酸分解性基間の距離が最も離
れた位置において、酸分解性基を除く結合原子を少なく
とも10個、好ましくは少なくとも11個、更に好まし
くは少なくとも12個経由する化合物、又は酸分解性基
を少なくとも3個有し、該酸分解性基間の距離が最も離
れた位置において、酸分解性基を除く結合原子を少なく
とも9個、好ましくは少なくとも10個、更に好ましく
は少なくとも11個経由する化合物である。又、上記結
合原子の好ましい上限は50個、更に好ましくは30個
である。本発明において、酸分解性溶解阻止化合物が、
酸分解性基を3個以上、好ましくは4個以上有する場
合、又酸分解性基を2個有するものにおいても、該酸分
解性基が互いにある一定の距離以上離れている場合、ア
ルカリ可溶性樹脂に対する溶解阻止性が著しく向上す
る。
解阻止化合物とともに、下記に示すような酸分解性溶解
阻止化合物を用いることが好ましい。これにより、一層
ディスクリミネーションが向上し、解像力が向上する点
で好ましい。本発明に用いられる酸分解性溶解阻止化合
物としては、その構造中に酸で分解し得る基を少なくと
も2個有し、該酸分解性基間の距離が最も離れた位置に
おいて、酸分解性基を除く結合原子を少なくとも8個経
由する化合物である。本発明において、好ましくは酸分
解性溶解阻止化合物は、その構造中に酸で分解し得る基
を少なくとも2個有し、該酸分解性基間の距離が最も離
れた位置において、酸分解性基を除く結合原子を少なく
とも10個、好ましくは少なくとも11個、更に好まし
くは少なくとも12個経由する化合物、又は酸分解性基
を少なくとも3個有し、該酸分解性基間の距離が最も離
れた位置において、酸分解性基を除く結合原子を少なく
とも9個、好ましくは少なくとも10個、更に好ましく
は少なくとも11個経由する化合物である。又、上記結
合原子の好ましい上限は50個、更に好ましくは30個
である。本発明において、酸分解性溶解阻止化合物が、
酸分解性基を3個以上、好ましくは4個以上有する場
合、又酸分解性基を2個有するものにおいても、該酸分
解性基が互いにある一定の距離以上離れている場合、ア
ルカリ可溶性樹脂に対する溶解阻止性が著しく向上す
る。
【0123】なお、本発明における酸分解性基間の距離
は、酸分解性基を除く、経由結合原子数で示される。酸
分解性基間の距離の具体的説明は前述したものと同じで
ある。また、本発明の酸分解性溶解阻止化合物は、1つ
のベンゼン環上に複数個の酸分解性基を有していても良
いが、好ましくは、1つのベンゼン環上に1個の酸分解
性基を有する骨格から構成される化合物である。更に、
本発明の酸分解性溶解阻止化合物の分子量は3,000
以下であり、好ましくは500〜3,000、更に好ま
しくは500〜2,500である。
は、酸分解性基を除く、経由結合原子数で示される。酸
分解性基間の距離の具体的説明は前述したものと同じで
ある。また、本発明の酸分解性溶解阻止化合物は、1つ
のベンゼン環上に複数個の酸分解性基を有していても良
いが、好ましくは、1つのベンゼン環上に1個の酸分解
性基を有する骨格から構成される化合物である。更に、
本発明の酸分解性溶解阻止化合物の分子量は3,000
以下であり、好ましくは500〜3,000、更に好ま
しくは500〜2,500である。
【0124】本発明の好ましい実施態様においては、酸
により分解し得る基、即ち−COO−A0 、−O−B0
基を含む基としては、−R0−COO−A0、又は−Ar
−O−B0で示される基が挙げられる。ここでA0は、−
C(R01)(R02)(R03)、−Si(R01)(R02)
(R0 3)もしくは−C(R04)(R05)−O−R06基を
示す。B0は、A0又は−CO−O−A0基を示す。ここ
で、R01、R02、R03、R04、R05、R0、Arは前記
と同義である。
により分解し得る基、即ち−COO−A0 、−O−B0
基を含む基としては、−R0−COO−A0、又は−Ar
−O−B0で示される基が挙げられる。ここでA0は、−
C(R01)(R02)(R03)、−Si(R01)(R02)
(R0 3)もしくは−C(R04)(R05)−O−R06基を
示す。B0は、A0又は−CO−O−A0基を示す。ここ
で、R01、R02、R03、R04、R05、R0、Arは前記
と同義である。
【0125】酸分解性基としては、好ましくはシリルエ
ーテル基、クミルエステル基、アセタール基、ケタール
基、テトラヒドロピラニルエーテル基、エノールエーテ
ル基、エノールエステル基、第3級のアルキルエーテル
基、第3級のアルキルエステル基、第3級のアルキルカ
ーボネート基等である。更に好ましくは、第3級アルキ
ルエステル基、第3級アルキルカーボネート基、クミル
エステル基、テトラヒドロピラニルエーテル基、アセタ
ール基である。
ーテル基、クミルエステル基、アセタール基、ケタール
基、テトラヒドロピラニルエーテル基、エノールエーテ
ル基、エノールエステル基、第3級のアルキルエーテル
基、第3級のアルキルエステル基、第3級のアルキルカ
ーボネート基等である。更に好ましくは、第3級アルキ
ルエステル基、第3級アルキルカーボネート基、クミル
エステル基、テトラヒドロピラニルエーテル基、アセタ
ール基である。
【0126】酸分解性溶解阻止化合物としては、好まし
くは、特開平1−289946号、特開平1−2899
47号、特開平2−2560号、特開平3−12895
9号、特開平3−158855号、特開平3−1793
53号、特開平3−191351号、特開平3−200
251号、特開平3−200252号、特開平3−20
0253号、特開平3−200254号、特開平3−2
00255号、特開平3−259149号、特開平3−
279958号、特開平3−279959号、特開平4
−1650号、特開平4−1651号、特開平4−11
260号、特開平4−12356号、特開平4−123
57号、特願平3−33229号、特願平3−2307
90号、特願平3−320438号、特願平4−251
57号、特願平4−52732号、特願平4−1032
15号、特願平4−104542号、特願平4−107
885号、特願平4−107889号、同4−1521
95号等の明細書に記載されたポリヒドロキシ化合物の
フエノール性OH基の一部もしくは全部を上に示した
基、−R0−COO−A0もしくはB0基で結合し、保護
した化合物が含まれる。
くは、特開平1−289946号、特開平1−2899
47号、特開平2−2560号、特開平3−12895
9号、特開平3−158855号、特開平3−1793
53号、特開平3−191351号、特開平3−200
251号、特開平3−200252号、特開平3−20
0253号、特開平3−200254号、特開平3−2
00255号、特開平3−259149号、特開平3−
279958号、特開平3−279959号、特開平4
−1650号、特開平4−1651号、特開平4−11
260号、特開平4−12356号、特開平4−123
57号、特願平3−33229号、特願平3−2307
90号、特願平3−320438号、特願平4−251
57号、特願平4−52732号、特願平4−1032
15号、特願平4−104542号、特願平4−107
885号、特願平4−107889号、同4−1521
95号等の明細書に記載されたポリヒドロキシ化合物の
フエノール性OH基の一部もしくは全部を上に示した
基、−R0−COO−A0もしくはB0基で結合し、保護
した化合物が含まれる。
【0127】更に好ましくは、特開平1−289946
号、特開平3−128959号、特開平3−15885
5号、特開平3−179353号、特開平3−2002
51号、特開平3−200252号、特開平3−200
255号、特開平3−259149号、特開平3−27
9958号、特開平4−1650号、特開平4−112
60号、特開平4−12356号、特開平4−1235
7号、特願平4−25157号、特願平4−10321
5号、特願平4−104542号、特願平4−1078
85号、特願平4−107889号、同4−15219
5号の明細書に記載されたポリヒドロキシ化合物を用い
たものが挙げられる。
号、特開平3−128959号、特開平3−15885
5号、特開平3−179353号、特開平3−2002
51号、特開平3−200252号、特開平3−200
255号、特開平3−259149号、特開平3−27
9958号、特開平4−1650号、特開平4−112
60号、特開平4−12356号、特開平4−1235
7号、特願平4−25157号、特願平4−10321
5号、特願平4−104542号、特願平4−1078
85号、特願平4−107889号、同4−15219
5号の明細書に記載されたポリヒドロキシ化合物を用い
たものが挙げられる。
【0128】本発明において、好ましい酸分解性溶解阻
止化合物としては、前述の一般式[I]〜[XVI]で
表される化合物、前述の好ましい化合物骨格(1)〜
(63)で、塩基性基を含まない化合物が挙げられる。
止化合物としては、前述の一般式[I]〜[XVI]で
表される化合物、前述の好ましい化合物骨格(1)〜
(63)で、塩基性基を含まない化合物が挙げられる。
【0129】本発明に用いられる酸分解性溶解阻止化合
物の添加量は、感光性組成物の全重量(溶媒を除く)を
基準として3〜50重量%であり、好ましくは5〜35
重量%の範囲である。
物の添加量は、感光性組成物の全重量(溶媒を除く)を
基準として3〜50重量%であり、好ましくは5〜35
重量%の範囲である。
【0130】本発明において、2成分系あるいは2.5
成分系の化学増幅型レジストにおいて用いられる活性光
線または放射線により酸を発生する化合物としては、上
記と同じものを用いることができる。また、2成分系あ
るいは2.5成分系の化学増幅型レジストにおいて用い
られる酸により分解し、アルカリ現像液中での溶解性を
増大させる基を有する樹脂としては、樹脂の主鎖または
側鎖、あるいは、主鎖及び側鎖の両方に、酸で分解し得
る基を有する樹脂である。この内、酸で分解し得る基を
側鎖に有する樹脂がより好ましい。酸で分解し得る基と
して好ましい基は、前記−COOA0、−O−B0基であ
り、更に好ましくは、−R0−COOA0、又は−Ar−
O−B0で示される基である。ここでA0は、−C
(R01)(R02)(R03)、−Si(R01)(R02)
(R0 3)もしくは−C(R04)(R05)−O−R06基を
示す。B0 は、A0 又は−CO−O−A0基を示す
(R0、R01〜R06、及びArは前記と同義)。
成分系の化学増幅型レジストにおいて用いられる活性光
線または放射線により酸を発生する化合物としては、上
記と同じものを用いることができる。また、2成分系あ
るいは2.5成分系の化学増幅型レジストにおいて用い
られる酸により分解し、アルカリ現像液中での溶解性を
増大させる基を有する樹脂としては、樹脂の主鎖または
側鎖、あるいは、主鎖及び側鎖の両方に、酸で分解し得
る基を有する樹脂である。この内、酸で分解し得る基を
側鎖に有する樹脂がより好ましい。酸で分解し得る基と
して好ましい基は、前記−COOA0、−O−B0基であ
り、更に好ましくは、−R0−COOA0、又は−Ar−
O−B0で示される基である。ここでA0は、−C
(R01)(R02)(R03)、−Si(R01)(R02)
(R0 3)もしくは−C(R04)(R05)−O−R06基を
示す。B0 は、A0 又は−CO−O−A0基を示す
(R0、R01〜R06、及びArは前記と同義)。
【0131】酸分解性基としては好ましくは、シリルエ
ーテル基、クミルエステル基、アセタール基、テトラヒ
ドロピラニルエーテル基、エノールエーテル基、エノー
ルエステル基、第3級のアルキルエーテル基、第3級の
アルキルエステル基、第3級のアルキルカーボネート基
等である。更に好ましくは、第3級アルキルエステル
基、第3級アルキルカーボネート基、クミルエステル
基、テトラヒドロピラニルエーテル基である。
ーテル基、クミルエステル基、アセタール基、テトラヒ
ドロピラニルエーテル基、エノールエーテル基、エノー
ルエステル基、第3級のアルキルエーテル基、第3級の
アルキルエステル基、第3級のアルキルカーボネート基
等である。更に好ましくは、第3級アルキルエステル
基、第3級アルキルカーボネート基、クミルエステル
基、テトラヒドロピラニルエーテル基である。
【0132】次に、これら酸で分解し得る基が側鎖とし
て結合する場合の母体樹脂としては、側鎖に−OHもし
くは−COOH、好ましくは−R0−COOHもしくは
−Ar−OH基を有するアルカリ可溶性樹脂である。例
えば、前記アルカリ可溶性樹脂を挙げることができる。
て結合する場合の母体樹脂としては、側鎖に−OHもし
くは−COOH、好ましくは−R0−COOHもしくは
−Ar−OH基を有するアルカリ可溶性樹脂である。例
えば、前記アルカリ可溶性樹脂を挙げることができる。
【0133】これらアルカリ可溶性樹脂のアルカリ溶解
速度は、0.261Nテトラメチルアンモニウムハイド
ロオキサイド(TMAH)で測定(23℃)して170
A/秒以上のものが好ましい。特に好ましくは330A
/秒以上のものである(Aはオングストローム)。ま
た、矩形プロファイルを達成する点から遠紫外光やエキ
シマレーザー光に対する透過率が高いアルカリ可溶性樹
脂が好ましい。好ましくは、1μm膜厚の248nmで
の透過率が20〜80%である。このような観点から、
特に好ましいアルカリ可溶性樹脂は、o−,m−,p−
ポリヒドロキシスチレン及びこれらの共重合体、水素化
ポリヒドロキシスチレン、ハロゲンもしくはアルキル置
換ポリヒドロキシスチレン、ポリヒドロキシスチレンの
一部、O−アルキル化もしくはO−アシル化物、スチレ
ン−ヒドロキシスチレン共重合体、α−メチルスチレン
−ヒドロキシスチレン共重合体及び水素化ノボラック樹
脂である。
速度は、0.261Nテトラメチルアンモニウムハイド
ロオキサイド(TMAH)で測定(23℃)して170
A/秒以上のものが好ましい。特に好ましくは330A
/秒以上のものである(Aはオングストローム)。ま
た、矩形プロファイルを達成する点から遠紫外光やエキ
シマレーザー光に対する透過率が高いアルカリ可溶性樹
脂が好ましい。好ましくは、1μm膜厚の248nmで
の透過率が20〜80%である。このような観点から、
特に好ましいアルカリ可溶性樹脂は、o−,m−,p−
ポリヒドロキシスチレン及びこれらの共重合体、水素化
ポリヒドロキシスチレン、ハロゲンもしくはアルキル置
換ポリヒドロキシスチレン、ポリヒドロキシスチレンの
一部、O−アルキル化もしくはO−アシル化物、スチレ
ン−ヒドロキシスチレン共重合体、α−メチルスチレン
−ヒドロキシスチレン共重合体及び水素化ノボラック樹
脂である。
【0134】本発明に用いられる酸で分解し得る基を有
する樹脂は、欧州特許254853号、特開平2−25
850号、同3−223860号、同4−251259
号等に開示されているように、アルカリ可溶性樹脂に酸
で分解し得る基の前駆体を反応させる、もしくは、酸で
分解し得る基の結合したアルカリ可溶性樹脂モノマーを
種々のモノマーと共重合して得ることができる。
する樹脂は、欧州特許254853号、特開平2−25
850号、同3−223860号、同4−251259
号等に開示されているように、アルカリ可溶性樹脂に酸
で分解し得る基の前駆体を反応させる、もしくは、酸で
分解し得る基の結合したアルカリ可溶性樹脂モノマーを
種々のモノマーと共重合して得ることができる。
【0135】本発明に使用される酸により分解し得る基
を有する樹脂の具体例を以下に示すが、本発明がこれら
に限定されるものではない。
を有する樹脂の具体例を以下に示すが、本発明がこれら
に限定されるものではない。
【0136】
【化68】
【0137】
【化69】
【0138】
【化70】
【0139】酸で分解し得る基の含有率は、樹脂中の酸
で分解し得る基の数(B)と酸で分解し得る基で保護さ
れていないアルカリ可溶性基の数(S)をもって、B/
(B+S)で表される。含有率は好ましくは0.01〜
0.5、より好ましくは0.05〜0.40、更に好ま
しくは0.05〜0.30である。B/(B+S)>
0.5ではPEB後の膜収縮、基板への密着不良やスカ
ムの原因となり好ましくない。一方、B/(B+S)<
0.01では、パターン側壁に顕著に定在波が残ること
があるので好ましくない。
で分解し得る基の数(B)と酸で分解し得る基で保護さ
れていないアルカリ可溶性基の数(S)をもって、B/
(B+S)で表される。含有率は好ましくは0.01〜
0.5、より好ましくは0.05〜0.40、更に好ま
しくは0.05〜0.30である。B/(B+S)>
0.5ではPEB後の膜収縮、基板への密着不良やスカ
ムの原因となり好ましくない。一方、B/(B+S)<
0.01では、パターン側壁に顕著に定在波が残ること
があるので好ましくない。
【0140】酸で分解し得る基を有する樹脂の重量平均
分子量(Mw)は、2,000〜200,000の範囲
であることが好ましい。2,000未満では未露光部の
現像により膜減りが大きく、200,000を越えると
アルカリ可溶性樹脂自体のアルカリに対する溶解速度が
遅くなり感度が低下してしまう。より好ましくは、5,
000〜100,000の範囲であり、更に好ましくは
8,000〜50,000の範囲である。ここで、重量
平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィ
ーのポリスチレン換算値をもって定義される。
分子量(Mw)は、2,000〜200,000の範囲
であることが好ましい。2,000未満では未露光部の
現像により膜減りが大きく、200,000を越えると
アルカリ可溶性樹脂自体のアルカリに対する溶解速度が
遅くなり感度が低下してしまう。より好ましくは、5,
000〜100,000の範囲であり、更に好ましくは
8,000〜50,000の範囲である。ここで、重量
平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィ
ーのポリスチレン換算値をもって定義される。
【0141】また、本発明における酸で分解し得る基を
有する樹脂は2種類以上混合して使用しても良い。本発
明におけるこれら樹脂の使用量は、感光性組成物の全重
量(溶媒を除く)を基準として40〜99重量%、好ま
しくは60〜95重量%である。更に、アルカリ溶解性
を調節するために、酸で分解し得る基を有さないアルカ
リ可溶性樹脂を混合しても良い。
有する樹脂は2種類以上混合して使用しても良い。本発
明におけるこれら樹脂の使用量は、感光性組成物の全重
量(溶媒を除く)を基準として40〜99重量%、好ま
しくは60〜95重量%である。更に、アルカリ溶解性
を調節するために、酸で分解し得る基を有さないアルカ
リ可溶性樹脂を混合しても良い。
【0142】本発明の感光性組成物には必要に応じて、
更に染料、顔料、可塑剤、界面活性剤、光増感剤及び現
像液に対する溶解性を促進させるフエノール性OH基を
2個以上有する化合物などを含有させることができる。
好適な染料としては油性染料及び塩基性染料がある。具
体的にはオイルイエロー#101、オイルイエロー#1
03、オイルピンク#312、オイルグリーンBG、オ
イルブルーBOS,オイルブルー#603、オイルブラ
ックBY、オイルブラックBS、オイルブラックT−5
05(以上オリエント化学工業株式会社製)、クリスタ
ルバイオレット(CI42555)、メチルバイオレッ
ト(CI42535)、ローダミンB(CI45170
B)、マラカイトグリーン(CI42000)、メチレ
ンブルー(CI52015)等を挙げることができる。
更に染料、顔料、可塑剤、界面活性剤、光増感剤及び現
像液に対する溶解性を促進させるフエノール性OH基を
2個以上有する化合物などを含有させることができる。
好適な染料としては油性染料及び塩基性染料がある。具
体的にはオイルイエロー#101、オイルイエロー#1
03、オイルピンク#312、オイルグリーンBG、オ
イルブルーBOS,オイルブルー#603、オイルブラ
ックBY、オイルブラックBS、オイルブラックT−5
05(以上オリエント化学工業株式会社製)、クリスタ
ルバイオレット(CI42555)、メチルバイオレッ
ト(CI42535)、ローダミンB(CI45170
B)、マラカイトグリーン(CI42000)、メチレ
ンブルー(CI52015)等を挙げることができる。
【0143】さらに、下記に挙げるような分光増感剤を
添加し、使用する光酸発生剤が吸収を持たない遠紫外よ
り長波長領域に増感させることで、本発明の感光性組成
物をiまたはg線に感度を持たせることができる。好適
な分光増感剤としては、具体的にはベンゾフェノン、
p,p’−テトラメチルジアミノベンゾフェノン、p,
p’−テトラエチルエチルアミノベンゾフェノン、2−
クロロチオキサントン、アントロン、9−エトキシアン
トラセン、アントラセン、ピレン、ペリレン、フェノチ
アジン、ベンジル、アクリジンオレンジ、ベンゾフラビ
ン、セトフラビン−T、9,10−ジフェニルアントラ
セン、9−フルオレノン、アセトフェノン、フェナント
レン、2−ニトロフルオレン、5−ニトロアセナフテ
ン、ベンゾキノン、2−クロロ−4−ニトロアニリン、
N−アセチル−p−ニトロアニリン、p−ニトロアニリ
ン、、N−アセチル−4−ニトロ−1−ナフチルアミ
ン、ピクラミド、アントラキノン、2−エチルアントラ
キノン、2−tert−ブチルアントラキノン1,2−ベン
ズアンスラキノン、3−メチル−1,3−ジアザ−1,
9−ベンズアンスロン、ジベンザルアセトン、1,2−
ナフトキノン、3,3’−カルボニル−ビス(5,7−
ジメトキシカルボニルクマリン)及びコロネン等である
がこれらに限定されるものではない。
添加し、使用する光酸発生剤が吸収を持たない遠紫外よ
り長波長領域に増感させることで、本発明の感光性組成
物をiまたはg線に感度を持たせることができる。好適
な分光増感剤としては、具体的にはベンゾフェノン、
p,p’−テトラメチルジアミノベンゾフェノン、p,
p’−テトラエチルエチルアミノベンゾフェノン、2−
クロロチオキサントン、アントロン、9−エトキシアン
トラセン、アントラセン、ピレン、ペリレン、フェノチ
アジン、ベンジル、アクリジンオレンジ、ベンゾフラビ
ン、セトフラビン−T、9,10−ジフェニルアントラ
セン、9−フルオレノン、アセトフェノン、フェナント
レン、2−ニトロフルオレン、5−ニトロアセナフテ
ン、ベンゾキノン、2−クロロ−4−ニトロアニリン、
N−アセチル−p−ニトロアニリン、p−ニトロアニリ
ン、、N−アセチル−4−ニトロ−1−ナフチルアミ
ン、ピクラミド、アントラキノン、2−エチルアントラ
キノン、2−tert−ブチルアントラキノン1,2−ベン
ズアンスラキノン、3−メチル−1,3−ジアザ−1,
9−ベンズアンスロン、ジベンザルアセトン、1,2−
ナフトキノン、3,3’−カルボニル−ビス(5,7−
ジメトキシカルボニルクマリン)及びコロネン等である
がこれらに限定されるものではない。
【0144】本発明の感光性組成物は、上記各成分を溶
解する溶媒に溶かして支持体上に塗布する。ここで使用
する溶媒としては、エチレンジクロライド、シクロヘキ
サノン、シクロペンタノン、2−ヘプタノン、γ−ブチ
ロラクトン、メチルエチルケトン、エチレングリコール
モノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエ
ーテル、2−メトキシエチルアセテート、エチレングリ
コールモノエチルエーテルアセテート、プロピレングリ
コールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノ
メチルエーテルアセテート、トルエン、酢酸エチル、乳
酸メチル、乳酸エチル、メトキシプロピオン酸メチル、
エトキシプロピオン酸エチル、ピルビン酸メチル、ピル
ビン酸エチル、ピルビン酸プロピル、N,N−ジメチル
ホルムアミド、ジメチルスルホキシド、N−メチルピロ
リドン、テトラヒドロフラン等が好ましく、これらの溶
媒を単独あるいは混合して使用する。
解する溶媒に溶かして支持体上に塗布する。ここで使用
する溶媒としては、エチレンジクロライド、シクロヘキ
サノン、シクロペンタノン、2−ヘプタノン、γ−ブチ
ロラクトン、メチルエチルケトン、エチレングリコール
モノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエ
ーテル、2−メトキシエチルアセテート、エチレングリ
コールモノエチルエーテルアセテート、プロピレングリ
コールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノ
メチルエーテルアセテート、トルエン、酢酸エチル、乳
酸メチル、乳酸エチル、メトキシプロピオン酸メチル、
エトキシプロピオン酸エチル、ピルビン酸メチル、ピル
ビン酸エチル、ピルビン酸プロピル、N,N−ジメチル
ホルムアミド、ジメチルスルホキシド、N−メチルピロ
リドン、テトラヒドロフラン等が好ましく、これらの溶
媒を単独あるいは混合して使用する。
【0145】上記溶媒に界面活性剤を加えることもでき
る。具体的には、ポリオキシエチレンラウリルエーテ
ル、ポリオキシエチレンステアリルエーテル、ポリオキ
シエチレンセチルエーテル、ポリオキシエチレンオレイ
ルエーテル等のポリオキシエチレンアルキルエーテル
類、ポリオキシエチレンオクチルフェノールエーテル、
ポリオキシエチレンノニルフェノールエーテル等のポリ
オキシエチレンアルキルアリルエーテル類、ポリオキシ
エチレン・ポリオキシプロピレンブロックコポリマー
類、ソルビタンモノラウレート、ソルビタンモノパルミ
テート、ソルビタンモノステアレート、ソルビタンモノ
オレエート、ソルビタントリオレエート、ソルビタント
リステアレート等のソルビタン脂肪酸エステル類、ポリ
オキシエチレンソルビタンモノラウレート、ポリオキシ
エチレンソルビタンモノパルミテ−ト、ポリオキシエチ
レンソルビタンモノステアレート、ポリオキシエチレン
ソルビタントリオレエート、ポリオキシエチレンソルビ
タントリステアレート等のポリオキシエチレンソルビタ
ン脂肪酸エステル類等のノニオン系界面活性剤、エフト
ップEF301,EF303,EF352(新秋田化成
(株)製)、メガファックF171,F173 (大日
本インキ(株)製)、フロラ−ドFC430,FC43
1(住友スリーエム(株)製)、アサヒガードAG71
0,サーフロンS−382,SC101,SC102,
SC103,SC104,SC105,SC106(旭
硝子(株)製)等のフッ素系界面活性剤、オルガノシロ
キサンポリマーKP341(信越化学工業(株)製)や
アクリル酸系もしくはメタクリル酸系(共)重合ポリフ
ローNo.75,No.95(共栄社油脂化学工業
(株)製)等を挙げることができる。これらの界面活性
剤の配合量は、本発明の組成物中の固形分100重量部
当たり、通常、2重量部以下、好ましくは1重量部以下
である。これらの界面活性剤は単独で添加してもよい
し、また、いくつかの組み合わせで添加することもでき
る。
る。具体的には、ポリオキシエチレンラウリルエーテ
ル、ポリオキシエチレンステアリルエーテル、ポリオキ
シエチレンセチルエーテル、ポリオキシエチレンオレイ
ルエーテル等のポリオキシエチレンアルキルエーテル
類、ポリオキシエチレンオクチルフェノールエーテル、
ポリオキシエチレンノニルフェノールエーテル等のポリ
オキシエチレンアルキルアリルエーテル類、ポリオキシ
エチレン・ポリオキシプロピレンブロックコポリマー
類、ソルビタンモノラウレート、ソルビタンモノパルミ
テート、ソルビタンモノステアレート、ソルビタンモノ
オレエート、ソルビタントリオレエート、ソルビタント
リステアレート等のソルビタン脂肪酸エステル類、ポリ
オキシエチレンソルビタンモノラウレート、ポリオキシ
エチレンソルビタンモノパルミテ−ト、ポリオキシエチ
レンソルビタンモノステアレート、ポリオキシエチレン
ソルビタントリオレエート、ポリオキシエチレンソルビ
タントリステアレート等のポリオキシエチレンソルビタ
ン脂肪酸エステル類等のノニオン系界面活性剤、エフト
ップEF301,EF303,EF352(新秋田化成
(株)製)、メガファックF171,F173 (大日
本インキ(株)製)、フロラ−ドFC430,FC43
1(住友スリーエム(株)製)、アサヒガードAG71
0,サーフロンS−382,SC101,SC102,
SC103,SC104,SC105,SC106(旭
硝子(株)製)等のフッ素系界面活性剤、オルガノシロ
キサンポリマーKP341(信越化学工業(株)製)や
アクリル酸系もしくはメタクリル酸系(共)重合ポリフ
ローNo.75,No.95(共栄社油脂化学工業
(株)製)等を挙げることができる。これらの界面活性
剤の配合量は、本発明の組成物中の固形分100重量部
当たり、通常、2重量部以下、好ましくは1重量部以下
である。これらの界面活性剤は単独で添加してもよい
し、また、いくつかの組み合わせで添加することもでき
る。
【0146】上記感光性組成物を精密集積回路素子の製
造に使用されるような基板(例:シリコン/二酸化シリ
コン被覆)上にスピナー、コーター等の適当な塗布方法
により塗布後、所定のマスクを通して露光し、ベークを
行い現像することにより良好なレジストパターンを得る
ことができる。
造に使用されるような基板(例:シリコン/二酸化シリ
コン被覆)上にスピナー、コーター等の適当な塗布方法
により塗布後、所定のマスクを通して露光し、ベークを
行い現像することにより良好なレジストパターンを得る
ことができる。
【0147】本発明の感光性組成物の現像液としては、
水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、炭酸ナトリウム、
ケイ酸ナトリウム、メタケイ酸ナトリウム、アンモニア
水等の無機アルカリ類、エチルアミン、n−プロピルア
ミン等の第一アミン類、ジエチルアミン、ジ−n−ブチ
ルアミン等の第二アミン類、トリエチルアミン、メチル
ジエチルアミン等の第三アミン類、ジメチルエタノール
アミン、トリエタノールアミン等のアルコールアミン
類、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、テトラエ
チルアンモニウムヒドロキシド等の第四級アンモニウム
塩、ピロール、ピヘリジン等の環状アミン類等のアルカ
リ性水溶液を使用することができる。更に、上記アルカ
リ性水溶液にアルコール類、界面活性剤を適当量添加し
て使用することもできる。
水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、炭酸ナトリウム、
ケイ酸ナトリウム、メタケイ酸ナトリウム、アンモニア
水等の無機アルカリ類、エチルアミン、n−プロピルア
ミン等の第一アミン類、ジエチルアミン、ジ−n−ブチ
ルアミン等の第二アミン類、トリエチルアミン、メチル
ジエチルアミン等の第三アミン類、ジメチルエタノール
アミン、トリエタノールアミン等のアルコールアミン
類、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、テトラエ
チルアンモニウムヒドロキシド等の第四級アンモニウム
塩、ピロール、ピヘリジン等の環状アミン類等のアルカ
リ性水溶液を使用することができる。更に、上記アルカ
リ性水溶液にアルコール類、界面活性剤を適当量添加し
て使用することもできる。
【0148】
【実施例】以下、本発明を実施例により更に詳細に説明
するが、本発明の内容がこれにより限定されるものでは
ない。
するが、本発明の内容がこれにより限定されるものでは
ない。
【0149】合成例1:窒素含有溶解阻止化合物(I−
1) 下記化合物(1)20g、50%ジメチルアミン水溶液
79g、37%ホルマリン水溶液69gをエタノール1
50mlに溶解し、5時間加熱還流した。反応液を水2
リットルに投入し、得られた粘稠物を水洗した後、下記
化合物(2)27.6gを得た。得られた化合物(2)
をDMAc(N,N−ジメチルアセトアミド)100m
lに溶解し、炭酸カリウム24.3g、ブロモ酢酸−t
−ブチル34.3gを添加し、120℃にて4時間加熱
攪拌した。反応液を水3リットルにゆっくり投入し、得
られた粉体を減圧濾過にて目的物(I−1)を41gで
得た。構造はNMR、HPLCにて確認した。
1) 下記化合物(1)20g、50%ジメチルアミン水溶液
79g、37%ホルマリン水溶液69gをエタノール1
50mlに溶解し、5時間加熱還流した。反応液を水2
リットルに投入し、得られた粘稠物を水洗した後、下記
化合物(2)27.6gを得た。得られた化合物(2)
をDMAc(N,N−ジメチルアセトアミド)100m
lに溶解し、炭酸カリウム24.3g、ブロモ酢酸−t
−ブチル34.3gを添加し、120℃にて4時間加熱
攪拌した。反応液を水3リットルにゆっくり投入し、得
られた粉体を減圧濾過にて目的物(I−1)を41gで
得た。構造はNMR、HPLCにて確認した。
【0150】
【化71】
【0151】合成例2:窒素含有溶解阻止化合物(I−
5) 下記化合物(4)15g及び50%ジメチルアミン水溶
液26gをエタノール50mlに溶解した。この溶液に
37%ホルマリン水溶液23gを30分かけて滴下し、
5時間加熱還流した。反応液を水1リットルに投入し、
得られた結晶を水洗した後乾燥し、下記化合物(5)を
16.1gで得た。得られた化合物(5)をDMAc1
00mlに溶解し、炭酸カリウム12.1g、ブロモ酢
酸−t−ブチル17.1gを添加し、120℃にて4時
間加熱攪拌した。反応液を水2リットルにゆっくり投入
し、得られた粉体を減圧濾過にて目的物(I−5)を2
2gで得た。構造はNMR、HPLCにて確認し、生成
物は3置換体、2置換体および1置換体との混合物であ
った。
5) 下記化合物(4)15g及び50%ジメチルアミン水溶
液26gをエタノール50mlに溶解した。この溶液に
37%ホルマリン水溶液23gを30分かけて滴下し、
5時間加熱還流した。反応液を水1リットルに投入し、
得られた結晶を水洗した後乾燥し、下記化合物(5)を
16.1gで得た。得られた化合物(5)をDMAc1
00mlに溶解し、炭酸カリウム12.1g、ブロモ酢
酸−t−ブチル17.1gを添加し、120℃にて4時
間加熱攪拌した。反応液を水2リットルにゆっくり投入
し、得られた粉体を減圧濾過にて目的物(I−5)を2
2gで得た。構造はNMR、HPLCにて確認し、生成
物は3置換体、2置換体および1置換体との混合物であ
った。
【0152】
【化72】
【0153】〔溶解阻止剤化合物の合成例−1〕α,
α',α''−トリス(4−ヒドロキシフエニル)−1,3,
5−トリイソプロピルベンゼン20g をテトラヒドロフラ
ン400mlに溶解した。この溶液に窒素雰囲気下でtert
-ブトキシカリウム14g を加え、室温にて10分間攪拌
後、ジ−tert−ブチルジカーボネート29.2g を加え
た。室温下、3時間反応させ、反応液を氷水に注ぎ、生
成物を酢酸エチルで抽出した。酢酸エチル層を更に水洗
浄し、乾燥させた後溶媒を留去した。得られた結晶性の
固体を再結晶後(ジエチルエーテル)、乾燥させ、化合
物例(31:Rは全てt−BOC基)25.6g を得た。
α',α''−トリス(4−ヒドロキシフエニル)−1,3,
5−トリイソプロピルベンゼン20g をテトラヒドロフラ
ン400mlに溶解した。この溶液に窒素雰囲気下でtert
-ブトキシカリウム14g を加え、室温にて10分間攪拌
後、ジ−tert−ブチルジカーボネート29.2g を加え
た。室温下、3時間反応させ、反応液を氷水に注ぎ、生
成物を酢酸エチルで抽出した。酢酸エチル層を更に水洗
浄し、乾燥させた後溶媒を留去した。得られた結晶性の
固体を再結晶後(ジエチルエーテル)、乾燥させ、化合
物例(31:Rは全てt−BOC基)25.6g を得た。
【0154】〔溶解阻止剤化合物の合成例−2〕α,
α',α''−トリス(4−ヒドロキシフエニル)−1,3,
5−トリイソプロピルベンゼン20g をジエチルエーテル
400ml に溶解した。この溶液に窒素雰囲気下で3,4−
ジヒドロ−2H−ピラン31.6g、触媒量 の塩酸を
加え、リフラツクス下24時間反応させた。反応終了
後、少量の水酸化ナトリウムを加え濾過した。濾液の溶
媒を留去し、得られた生成物をカラムクロマトグラフイ
ーで精製し、乾燥させ、化合物例(31:Rは総てTH
P基)を得た。
α',α''−トリス(4−ヒドロキシフエニル)−1,3,
5−トリイソプロピルベンゼン20g をジエチルエーテル
400ml に溶解した。この溶液に窒素雰囲気下で3,4−
ジヒドロ−2H−ピラン31.6g、触媒量 の塩酸を
加え、リフラツクス下24時間反応させた。反応終了
後、少量の水酸化ナトリウムを加え濾過した。濾液の溶
媒を留去し、得られた生成物をカラムクロマトグラフイ
ーで精製し、乾燥させ、化合物例(31:Rは総てTH
P基)を得た。
【0155】〔溶解阻止剤化合物の合成例−3〕α,
α',α"−トリス(4−ヒドロキシフエニル)−1,3,
5−トリイソプロピルベンゼン19.2g(0.040
モル)のN,N−ジメチルアセトアミド120ml溶液
に、炭酸カリウム21.2g(0.15モル)、更にブ
ロモ酢酸t−ブチル27.1g(0.14モル)を添加
し、120℃にて7時間撹拌した。その後反応混合物を
水1.5lに投入し、酢酸エチルにて抽出した。硫酸マ
グネシウムにて乾燥後、抽出液を濃縮し、カラムクロマ
トグラフイー(担体:シリカゲル,展開溶媒:酢酸エチ
ル/n−ヘキサン=3/7(体積比))にて精製した結
果淡黄色粘稠固体30gを得た。NMRにより、これが
化合物例(31:Rは総て−CH2COOC4H9 t基)で
あることを確認した。
α',α"−トリス(4−ヒドロキシフエニル)−1,3,
5−トリイソプロピルベンゼン19.2g(0.040
モル)のN,N−ジメチルアセトアミド120ml溶液
に、炭酸カリウム21.2g(0.15モル)、更にブ
ロモ酢酸t−ブチル27.1g(0.14モル)を添加
し、120℃にて7時間撹拌した。その後反応混合物を
水1.5lに投入し、酢酸エチルにて抽出した。硫酸マ
グネシウムにて乾燥後、抽出液を濃縮し、カラムクロマ
トグラフイー(担体:シリカゲル,展開溶媒:酢酸エチ
ル/n−ヘキサン=3/7(体積比))にて精製した結
果淡黄色粘稠固体30gを得た。NMRにより、これが
化合物例(31:Rは総て−CH2COOC4H9 t基)で
あることを確認した。
【0156】〔溶解阻止剤化合物の合成例−4〕1−
[α−メチル−α−(4'−ヒドロキシフェニル)エチ
ル]−4−[α',α'−ビス(4"−ヒドロキシフェニ
ル)エチル]ベンゼン42.4g(0.10モル)を
N,N−ジメチルアセトアミド300mlに溶解し、こ
れに炭酸カリウム49.5g(0.35モル)、及びブ
ロモ酢酸クミルエステル84.8g(0.33モル)を
添加した。その後、120℃にて7時間撹拌した。反応
混合物をイオン交換水2lに投入し、酢酸にて中和した
後、酢酸エチルにて抽出した。酢酸エチル抽出液を濃縮
し、合成例[3]と同様に精製し、化合物例(18:R
は総て−CH2COOC(CH3)2C6H5基)70gを
得た。
[α−メチル−α−(4'−ヒドロキシフェニル)エチ
ル]−4−[α',α'−ビス(4"−ヒドロキシフェニ
ル)エチル]ベンゼン42.4g(0.10モル)を
N,N−ジメチルアセトアミド300mlに溶解し、こ
れに炭酸カリウム49.5g(0.35モル)、及びブ
ロモ酢酸クミルエステル84.8g(0.33モル)を
添加した。その後、120℃にて7時間撹拌した。反応
混合物をイオン交換水2lに投入し、酢酸にて中和した
後、酢酸エチルにて抽出した。酢酸エチル抽出液を濃縮
し、合成例[3]と同様に精製し、化合物例(18:R
は総て−CH2COOC(CH3)2C6H5基)70gを
得た。
【0157】〔溶解阻止剤化合物の合成例−5〕α,α,
α',α',α",α"−ヘキサキス(4−ヒドロキシフエニ
ル)−1,3,5−トリエチルベンゼン14.3g(0.
020モル)のN,N−ジメチルアセトアミド120m
l溶液に、炭酸カリウム21.2g(0.15モル)、
更にブロモ酢酸t−ブチル27.1g(0.14モル)
を添加し、120℃にて7時間撹拌した。その後、反応
混合物を水1.5lに投入し、酢酸エチルにて抽出し
た。硫酸マグネシウムにて乾燥後、抽出液を濃縮し、カ
ラムクロマトグラフイー(担体:シリカゲル、展開溶
媒:酢酸エチル/n−ヘキサン=2/8(体積比))にて
精製した結果、淡黄色粉体24gを得た。NMRによ
り、これが化合物例(62:Rは総て−CH2−COO
−C4H9 t基)であることを確認した。
α',α',α",α"−ヘキサキス(4−ヒドロキシフエニ
ル)−1,3,5−トリエチルベンゼン14.3g(0.
020モル)のN,N−ジメチルアセトアミド120m
l溶液に、炭酸カリウム21.2g(0.15モル)、
更にブロモ酢酸t−ブチル27.1g(0.14モル)
を添加し、120℃にて7時間撹拌した。その後、反応
混合物を水1.5lに投入し、酢酸エチルにて抽出し
た。硫酸マグネシウムにて乾燥後、抽出液を濃縮し、カ
ラムクロマトグラフイー(担体:シリカゲル、展開溶
媒:酢酸エチル/n−ヘキサン=2/8(体積比))にて
精製した結果、淡黄色粉体24gを得た。NMRによ
り、これが化合物例(62:Rは総て−CH2−COO
−C4H9 t基)であることを確認した。
【0158】〔溶解阻止剤化合物の合成例−6〕α,
α',α"−トリス(4−ヒドロキシフエニル)−1,3,
5−トリイソプロピルベンゼン20g(0.042モ
ル)をテトラヒドロフラン(THF)400mlに溶解
した。この溶液に窒素雰囲気下でt−ブトキシカリウム
9.3g(0.083モル)を加え、室温にて10分間
撹拌後、ジ−t−ブチルジカーボネート19.5g
(0.087モル)を加えた。室温下、3時間反応さ
せ、反応液を氷水に注ぎ、生成物を酢酸エチルで抽出し
た。酢酸エチル抽出液を濃縮し、カラムクロマトグラフ
イー(担体:シリカゲル、展開溶媒:酢酸エチル/n−
ヘキサン=1/5(体積比))にて分別精製した結果、化
合物例(31:2個のRはt−BOC基、1個のRは水
素原子)7gを得た。
α',α"−トリス(4−ヒドロキシフエニル)−1,3,
5−トリイソプロピルベンゼン20g(0.042モ
ル)をテトラヒドロフラン(THF)400mlに溶解
した。この溶液に窒素雰囲気下でt−ブトキシカリウム
9.3g(0.083モル)を加え、室温にて10分間
撹拌後、ジ−t−ブチルジカーボネート19.5g
(0.087モル)を加えた。室温下、3時間反応さ
せ、反応液を氷水に注ぎ、生成物を酢酸エチルで抽出し
た。酢酸エチル抽出液を濃縮し、カラムクロマトグラフ
イー(担体:シリカゲル、展開溶媒:酢酸エチル/n−
ヘキサン=1/5(体積比))にて分別精製した結果、化
合物例(31:2個のRはt−BOC基、1個のRは水
素原子)7gを得た。
【0159】〔溶解阻止剤化合物の合成例−7〕α,
α',α"−トリス(4−ヒドロキシフエニル)−1,3,
5−トリイソプロピルベンゼン48.1g(0.10モ
ル)をジメチルアセトアミド300mlに溶解し、これ
に炭酸カリウム22.1g(0.16モル)、及びブロ
モ酢酸t−ブチル42.9g(0.22モル)を添加し
た。その後、120℃にて5時間撹拌した。反応混合物
をイオン交換水2lに投入し、酢酸にて中和した後、酢
酸エチルで抽出した。酢酸エチル抽出液を濃縮し、カラ
ムクロマトグラフイー(担体:シリカゲル、展開溶媒:
酢酸エチル/n−ヘキサン=1/5(体積比))にて分別
精製した結果、化合物例(31:2個のRは−CH2−
COO−C4H9 t基、1個のRは水素原子)10gを得
た。
α',α"−トリス(4−ヒドロキシフエニル)−1,3,
5−トリイソプロピルベンゼン48.1g(0.10モ
ル)をジメチルアセトアミド300mlに溶解し、これ
に炭酸カリウム22.1g(0.16モル)、及びブロ
モ酢酸t−ブチル42.9g(0.22モル)を添加し
た。その後、120℃にて5時間撹拌した。反応混合物
をイオン交換水2lに投入し、酢酸にて中和した後、酢
酸エチルで抽出した。酢酸エチル抽出液を濃縮し、カラ
ムクロマトグラフイー(担体:シリカゲル、展開溶媒:
酢酸エチル/n−ヘキサン=1/5(体積比))にて分別
精製した結果、化合物例(31:2個のRは−CH2−
COO−C4H9 t基、1個のRは水素原子)10gを得
た。
【0160】〔ノボラック樹脂の合成例〕 m−クレゾール 40g、 p−クレゾール 60g、 37%ホルマリン水溶液 49g及び シュウ酸 0.13g を3つ口フラスコに仕込み、攪拌しながら100℃まで
昇温し15時間反応させた。その後温度を200℃まで
上げ、徐々に5mmHgまで減圧して、水、未反応のモ
ノマー、ホルムアルデヒド、シュウ酸等を除去した。次
いで溶融したアルカリ可溶ノボラック樹脂(NOV.
3)を室温に戻して回収した。得られたノボラック樹脂
(NOV.3)は重量平均分子量7100(ポリスチレ
ン換算)であった。
昇温し15時間反応させた。その後温度を200℃まで
上げ、徐々に5mmHgまで減圧して、水、未反応のモ
ノマー、ホルムアルデヒド、シュウ酸等を除去した。次
いで溶融したアルカリ可溶ノボラック樹脂(NOV.
3)を室温に戻して回収した。得られたノボラック樹脂
(NOV.3)は重量平均分子量7100(ポリスチレ
ン換算)であった。
【0161】同様にして、モノマー組成を変えた以下の
ノボラック樹脂を合成した。 NOV.1 m−クレゾール/p−クレゾール=60/40, Mw=12,000 NOV.2 m−クレゾール/p−クレゾール=50/50, Mw=8,700 NOV.4 m−クレゾール/p−クレゾール/3,5−キシレノール =25/50/28, Mw=5,200 NOV.5 m−クレゾール/2,3,5−トリメチルフェノール =55/57, Mw=5,800
ノボラック樹脂を合成した。 NOV.1 m−クレゾール/p−クレゾール=60/40, Mw=12,000 NOV.2 m−クレゾール/p−クレゾール=50/50, Mw=8,700 NOV.4 m−クレゾール/p−クレゾール/3,5−キシレノール =25/50/28, Mw=5,200 NOV.5 m−クレゾール/2,3,5−トリメチルフェノール =55/57, Mw=5,800
【0162】上記で得られたノボラック樹脂(NOV.
3)20gをメタノール60gに完全に溶解した後、こ
れに水30gを攪拌しながら徐々に加えて樹脂分を沈澱
させた。上層をデカンテーションにより除去して沈澱し
た樹脂分を回収し、40℃に加熱して減圧下で24時間
乾燥させてアルカリ可溶性ノボラック樹脂(NOV.
6)を得た。重量平均分子量は8000(ポリスチレン
換算)であった。
3)20gをメタノール60gに完全に溶解した後、こ
れに水30gを攪拌しながら徐々に加えて樹脂分を沈澱
させた。上層をデカンテーションにより除去して沈澱し
た樹脂分を回収し、40℃に加熱して減圧下で24時間
乾燥させてアルカリ可溶性ノボラック樹脂(NOV.
6)を得た。重量平均分子量は8000(ポリスチレン
換算)であった。
【0163】 m−クレゾール 85g、 p−クレゾール 15g、 37%ホルマリン水溶液 53g を3つ口フラスコに仕込み、110℃の油浴で加熱しな
がら良く攪拌し、酢酸亜鉛二水和物を2.4g加えて5
時間加熱攪拌を行った。次いで、同じクレゾール混合物
100gとホルマリン水溶液47gを続けて同じフラス
コに仕込み更に加熱攪拌を1時間継続した後、温度を8
0℃に下げシュウ酸0.2gを添加した。再び、油浴の
温度を110℃に保ち、還流状態で15時間反応させ
た。その後内容物を1%の塩酸を含む水にあけエチルセ
ルソルブアセテートで反応生成物を抽出した。次いでこ
れを真空蒸留器に移し、温度を200℃に上げ脱水し、
更に2〜3mmHgの減圧下で2時間蒸留を行って残留
モノマーを除いた。フラスコから溶融ポリマーを回収
し、目的のノボラック樹脂(NOV.7,Mw=7,5
00)を得た。
がら良く攪拌し、酢酸亜鉛二水和物を2.4g加えて5
時間加熱攪拌を行った。次いで、同じクレゾール混合物
100gとホルマリン水溶液47gを続けて同じフラス
コに仕込み更に加熱攪拌を1時間継続した後、温度を8
0℃に下げシュウ酸0.2gを添加した。再び、油浴の
温度を110℃に保ち、還流状態で15時間反応させ
た。その後内容物を1%の塩酸を含む水にあけエチルセ
ルソルブアセテートで反応生成物を抽出した。次いでこ
れを真空蒸留器に移し、温度を200℃に上げ脱水し、
更に2〜3mmHgの減圧下で2時間蒸留を行って残留
モノマーを除いた。フラスコから溶融ポリマーを回収
し、目的のノボラック樹脂(NOV.7,Mw=7,5
00)を得た。
【0164】実施例1〜22、及び比較例1〜5 上記合成例で示した本発明の化合物を用いレジストを調
製した。そのときの処方を表1に示す。
製した。そのときの処方を表1に示す。
【0165】
【表1】
【0166】表1において使用した略号は下記の内容を
表す。 <ポリマー>( )内はモル比 NOV.1-7 ノボラック樹脂 PHS/St p-ヒドロキシスチレン/スチレン共重合体(85/15) (重量平均分子量25,000) PHS/TBOCS p-ヒドロキシスチレン/t-ブトキシカルボニルオキシスチレン共 重合体(70/30) (重量平均分子量21,000) PHS/TBOMS p-ヒドロキシスチレン/t-ブトキシカルボニルメチルオキシスチ レン共重合体(80/20)(重量平均分子量35,000) PHS/VP p-ヒドロキシスチレン/4-ビニルピリジン共重合体(97/3) (重量平均分子量18,000) PHS/AcST p-ヒドロキシスチレン/p−アセトキシスチレン(80/20) (重量平均分子量12,000) PHS/OHS p-ヒドロキシスチレン/o−ヒドロキシスチレン(80/20) (重量平均分子量32,000)
表す。 <ポリマー>( )内はモル比 NOV.1-7 ノボラック樹脂 PHS/St p-ヒドロキシスチレン/スチレン共重合体(85/15) (重量平均分子量25,000) PHS/TBOCS p-ヒドロキシスチレン/t-ブトキシカルボニルオキシスチレン共 重合体(70/30) (重量平均分子量21,000) PHS/TBOMS p-ヒドロキシスチレン/t-ブトキシカルボニルメチルオキシスチ レン共重合体(80/20)(重量平均分子量35,000) PHS/VP p-ヒドロキシスチレン/4-ビニルピリジン共重合体(97/3) (重量平均分子量18,000) PHS/AcST p-ヒドロキシスチレン/p−アセトキシスチレン(80/20) (重量平均分子量12,000) PHS/OHS p-ヒドロキシスチレン/o−ヒドロキシスチレン(80/20) (重量平均分子量32,000)
【0167】 <溶解阻止剤> BTBPP 2,2−ビス(t-ブトキシカルボニルオキシフェニル)プロパン
【0168】<溶解阻止剤中酸分解性基>
【0169】
【化73】
【0170】 <比較用アミン化合物> Im イミダゾール ANA アントラニル酸 BAPM ビス(4−アミノフェニルメタン) 4VPy/VP 4-ビニルピリジン/ビニルフェノール共重合体(70/30) (重量平均分子量20,000) [感光性組成物の調製と評価]表1に示す各素材をプロ
ピレングリコールモノメチルエーテルアセテート9.5
gに溶解し、0.2μmのフィルターで濾過してレジス
ト溶液を作成した。このレジスト溶液を、スピンコータ
ーを利用して、シリコンウエハー上に塗布し、120℃
60秒間真空吸着型のホットプレートで乾燥して、膜厚
1.0μmのレジスト膜を得た。このレジスト膜に、2
48nmKrFエキシマレーザーステツパー(NA=
0.45)を用いて露光を行った。露光直後、及び露光
1時間後にそれぞれ100℃の真空吸着型ホットプレー
トで60秒間加熱を行い、ただちに2.38%テトラメ
チルアンモニウムハイドロオキサイド(TMAH)水溶
液で60秒間浸漬し、30秒間水でリンスして乾燥し
た。このようにして得られたシリコンウエハー上のパタ
ーンの露光直後及び露光1時間後に加熱処理した場合の
プロファイル、感度、解像力を各々下記のように評価
し、比較した。その結果を表2に示す。
ピレングリコールモノメチルエーテルアセテート9.5
gに溶解し、0.2μmのフィルターで濾過してレジス
ト溶液を作成した。このレジスト溶液を、スピンコータ
ーを利用して、シリコンウエハー上に塗布し、120℃
60秒間真空吸着型のホットプレートで乾燥して、膜厚
1.0μmのレジスト膜を得た。このレジスト膜に、2
48nmKrFエキシマレーザーステツパー(NA=
0.45)を用いて露光を行った。露光直後、及び露光
1時間後にそれぞれ100℃の真空吸着型ホットプレー
トで60秒間加熱を行い、ただちに2.38%テトラメ
チルアンモニウムハイドロオキサイド(TMAH)水溶
液で60秒間浸漬し、30秒間水でリンスして乾燥し
た。このようにして得られたシリコンウエハー上のパタ
ーンの露光直後及び露光1時間後に加熱処理した場合の
プロファイル、感度、解像力を各々下記のように評価
し、比較した。その結果を表2に示す。
【0171】〔プロファイル〕このようにして得られた
シリコンウエハー上のパターンを走査型電子顕微鏡で観
察し、レジストのプロファイルを評価した。 〔感度〕感度は0.50μmのマスクパターンを再現す
る露光量をもって定義した。 〔解像力〕解像力は0.50μmのマスクパターンを再
現する露光量における限界解像力を表す。
シリコンウエハー上のパターンを走査型電子顕微鏡で観
察し、レジストのプロファイルを評価した。 〔感度〕感度は0.50μmのマスクパターンを再現す
る露光量をもって定義した。 〔解像力〕解像力は0.50μmのマスクパターンを再
現する露光量における限界解像力を表す。
【0172】
【表2】
【0173】表2の結果から本発明のレジストは、露光
後から加熱処理までの経時による酸の拡散及びレジスト
表面部の酸の失活の防止が可能であり、且つ溶解阻止化
合物の溶解阻止効果が維持され、良好なプロファイルと
高感度、高解像力を有するポジ型感光性組成物であるこ
とがわかる。一方、比較例1 〜5は、表2が示すよう
に、経時による解像力、プロファイルが、本発明に比べ
て不良であることが判る。
後から加熱処理までの経時による酸の拡散及びレジスト
表面部の酸の失活の防止が可能であり、且つ溶解阻止化
合物の溶解阻止効果が維持され、良好なプロファイルと
高感度、高解像力を有するポジ型感光性組成物であるこ
とがわかる。一方、比較例1 〜5は、表2が示すよう
に、経時による解像力、プロファイルが、本発明に比べ
て不良であることが判る。
【0174】
【発明の効果】本発明の化学増幅型のポジ型感光性組成
物により、露光後から加熱処理までの経時による酸の拡
散及びレジスト表面部の酸の失活の防止が容易且つ適切
にでき、且つ溶解阻止化合物の溶解阻止効果が維持さ
れ、良好なプロファイルと高感度、高解像力を有するポ
ジ型感光性組成物を提供することができる。
物により、露光後から加熱処理までの経時による酸の拡
散及びレジスト表面部の酸の失活の防止が容易且つ適切
にでき、且つ溶解阻止化合物の溶解阻止効果が維持さ
れ、良好なプロファイルと高感度、高解像力を有するポ
ジ型感光性組成物を提供することができる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 上西 一也 静岡県榛原郡吉田町川尻4000番地 富士写 真フイルム株式会社内
Claims (4)
- 【請求項1】 水不溶でアルカリ水溶液に可溶な樹脂、
活性光線または放射線の照射により酸を発生する化合
物、 及び塩基性窒素、及び酸により分解し得る基を有し、ア
ルカリ現像液中での溶解度が酸の作用により増大する、
分子量3,000以下の低分子酸分解性溶解阻止化合物
を含有することを特徴とするポジ型感光性組成物。 - 【請求項2】 酸の作用により分解し、アルカリ現像液
中での溶解性を増大させる基を有する樹脂、活性光線ま
たは放射線の照射により酸を発生する化合物、 及び塩基性窒素、及び酸により分解し得る基を有し、ア
ルカリ現像液中での溶解度が酸の作用により増大する、
分子量3,000以下の低分子酸分解性溶解阻止化合物
を含有することを特徴とするポジ型感光性組成物。 - 【請求項3】 水不溶でアルカリ水溶液に可溶な樹脂、
活性光線または放射線の照射により酸を発生する化合
物、酸により分解し得る基を有し、アルカリ現像液中で
の溶解度が酸の作用により増大する、分子量3,000
以下の低分子酸分解性溶解阻止化合物、 及び塩基性窒素、及び酸により分解し得る基を有し、ア
ルカリ現像液中での溶解度が酸の作用により増大する、
分子量3,000以下の低分子酸分解性溶解阻止化合物
を含有することを特徴とするポジ型感光性組成物。 - 【請求項4】 酸の作用により分解し、アルカリ現像液
中での溶解性を増大させる基を有する樹脂、活性光線ま
たは放射線の照射により酸を発生する化合物、酸により
分解し得る基を有し、アルカリ現像液中での溶解度が酸
の作用により増大する、分子量3,000以下の低分子
酸分解性溶解阻止化合物、 及び塩基性窒素、及び酸により分解し得る基を有し、ア
ルカリ現像液中での溶解度が酸の作用により増大する、
分子量3,000以下の低分子酸分解性溶解阻止化合物
を含有することを特徴とするポジ型感光性組成物。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8019002A JPH09211865A (ja) | 1996-02-05 | 1996-02-05 | ポジ型感光性組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8019002A JPH09211865A (ja) | 1996-02-05 | 1996-02-05 | ポジ型感光性組成物 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09211865A true JPH09211865A (ja) | 1997-08-15 |
Family
ID=11987335
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8019002A Pending JPH09211865A (ja) | 1996-02-05 | 1996-02-05 | ポジ型感光性組成物 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH09211865A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6426173B1 (en) | 1999-01-22 | 2002-07-30 | Kodak Polychrome Graphics Llc | Preparation method for printing plate |
US7211366B2 (en) | 2003-02-21 | 2007-05-01 | Az Electronic Materials Usa Corp. | Photoresist composition for deep ultraviolet lithography |
EP2299325A1 (en) * | 2004-10-29 | 2011-03-23 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Resist composition, resist pattern forming method and compound |
US7981588B2 (en) | 2005-02-02 | 2011-07-19 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Negative resist composition and method of forming resist pattern |
US8206887B2 (en) | 2005-05-17 | 2012-06-26 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Positive resist composition and resist pattern forming method |
US8389197B2 (en) | 2005-07-05 | 2013-03-05 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Compound, positive resist composition and resist pattern forming method |
-
1996
- 1996-02-05 JP JP8019002A patent/JPH09211865A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6426173B1 (en) | 1999-01-22 | 2002-07-30 | Kodak Polychrome Graphics Llc | Preparation method for printing plate |
US7211366B2 (en) | 2003-02-21 | 2007-05-01 | Az Electronic Materials Usa Corp. | Photoresist composition for deep ultraviolet lithography |
EP2299325A1 (en) * | 2004-10-29 | 2011-03-23 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Resist composition, resist pattern forming method and compound |
US7981588B2 (en) | 2005-02-02 | 2011-07-19 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Negative resist composition and method of forming resist pattern |
US8206887B2 (en) | 2005-05-17 | 2012-06-26 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Positive resist composition and resist pattern forming method |
US8389197B2 (en) | 2005-07-05 | 2013-03-05 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Compound, positive resist composition and resist pattern forming method |
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