JPH09130166A - Cmos差動増幅回路 - Google Patents
Cmos差動増幅回路Info
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- JPH09130166A JPH09130166A JP7279094A JP27909495A JPH09130166A JP H09130166 A JPH09130166 A JP H09130166A JP 7279094 A JP7279094 A JP 7279094A JP 27909495 A JP27909495 A JP 27909495A JP H09130166 A JPH09130166 A JP H09130166A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 入力信号のDC電圧によって、さらには入力
信号の電圧変化過渡期に利得および位相の周波数特性が
変化し、結果としてビデオバッファとしてのDG(微分
利得)特性やDP(微分位相)特性が悪くなる。 【解決手段】 差動入力段の一方の差動入力MOSトラ
ンジスタに流れる電流を1:K(K>1)の比で増幅す
る第1のカレントミラー回路と、他方の差動入力MOS
トランジスタに流れる電流を1:L(L>1,L≠K)
の比で増幅する第2のカレントミラー回路と、この第2
のカレントミラー回路で増幅された電流をさらに1:M
(M=K/L)の比で増幅するカスコード型の第3のカ
レントミラー回路を設けて、上記第1のカレントミラー
回路で増幅された電流を第3のカレントミラー回路に流
し、第1のカレントミラー回路で増幅された電流または
第3のカレントミラー回路で増幅された電流のうち少な
い方によって他方の電流が規制されるようにして出力電
圧を得るようにした。
信号の電圧変化過渡期に利得および位相の周波数特性が
変化し、結果としてビデオバッファとしてのDG(微分
利得)特性やDP(微分位相)特性が悪くなる。 【解決手段】 差動入力段の一方の差動入力MOSトラ
ンジスタに流れる電流を1:K(K>1)の比で増幅す
る第1のカレントミラー回路と、他方の差動入力MOS
トランジスタに流れる電流を1:L(L>1,L≠K)
の比で増幅する第2のカレントミラー回路と、この第2
のカレントミラー回路で増幅された電流をさらに1:M
(M=K/L)の比で増幅するカスコード型の第3のカ
レントミラー回路を設けて、上記第1のカレントミラー
回路で増幅された電流を第3のカレントミラー回路に流
し、第1のカレントミラー回路で増幅された電流または
第3のカレントミラー回路で増幅された電流のうち少な
い方によって他方の電流が規制されるようにして出力電
圧を得るようにした。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、信号増幅技術特に
CMOS差動増幅回路に関し、例えば映像信号処理用L
SIにおける映像信号への文字加算機能や映像信号の多
重加算(ピクチャーインピクチャー)機能、映像信号の
A/D変換機能等に必要なビデオバッファ回路に利用し
て有効な技術に関する。
CMOS差動増幅回路に関し、例えば映像信号処理用L
SIにおける映像信号への文字加算機能や映像信号の多
重加算(ピクチャーインピクチャー)機能、映像信号の
A/D変換機能等に必要なビデオバッファ回路に利用し
て有効な技術に関する。
【0002】
【従来の技術】本発明者等は、映像信号処理に使用され
る増幅回路として、図4に示すようなCMOS差動増幅
回路について検討した。
る増幅回路として、図4に示すようなCMOS差動増幅
回路について検討した。
【0003】図4に示されているCMOS差動増幅回路
は、ソース共通接続された一対の差動入力MOSトラン
ジスタMN1,MN2よりなる差動入力段11と、その
ドレインに各々接続された負荷MOSトランジスタMP
1,MP2よりなる能動負荷回路12と、ゲートに定電
圧V1が印加されたMOSトランジスタMN3よりなる
定電流源13と、上記差動入力段11の出力電位をゲー
トに受けるMOSトランジスタMN4と定電流用MOS
トランジスタMN5とからなるレベルシフト段14と、
電源電圧Vccと接地点との間に直列接続されたMOS
トランジスタMP3,MN6からなるプッシュプル型出
力段15と、上記差動入力段11の出力ノードn1と出
力端子OUTとの間に直列接続された抵抗R1と容量C
1からなる位相補償回路Zfとによって構成されてい
る。
は、ソース共通接続された一対の差動入力MOSトラン
ジスタMN1,MN2よりなる差動入力段11と、その
ドレインに各々接続された負荷MOSトランジスタMP
1,MP2よりなる能動負荷回路12と、ゲートに定電
圧V1が印加されたMOSトランジスタMN3よりなる
定電流源13と、上記差動入力段11の出力電位をゲー
トに受けるMOSトランジスタMN4と定電流用MOS
トランジスタMN5とからなるレベルシフト段14と、
電源電圧Vccと接地点との間に直列接続されたMOS
トランジスタMP3,MN6からなるプッシュプル型出
力段15と、上記差動入力段11の出力ノードn1と出
力端子OUTとの間に直列接続された抵抗R1と容量C
1からなる位相補償回路Zfとによって構成されてい
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明者等は、上記C
MOS差動増幅回路を映像信号処理に適用した場合には
以下のような問題点があることを見い出した。
MOS差動増幅回路を映像信号処理に適用した場合には
以下のような問題点があることを見い出した。
【0005】即ち、映像信号の振幅(ピーク・トゥ・ピ
ーク)は標準で2Vと大きく、また周波数帯域も10M
Hzと広い。図4のCMOS差動増幅回路では、レベル
シフト回路14を用いることにより出力VoutのDC
電圧によるノードn1の電圧VMの変化を低減し、結果
として出力VoutのDC電圧が変化しても静的な利得
および位相の周波数特性の変化を少なくすることができ
る。
ーク)は標準で2Vと大きく、また周波数帯域も10M
Hzと広い。図4のCMOS差動増幅回路では、レベル
シフト回路14を用いることにより出力VoutのDC
電圧によるノードn1の電圧VMの変化を低減し、結果
として出力VoutのDC電圧が変化しても静的な利得
および位相の周波数特性の変化を少なくすることができ
る。
【0006】しかしながら、ビデオバッファとして使用
する場合には、出力端子を入力端子V(−)に接続して
ボルテージフォロワを構成しかつ大振幅の信号を扱うた
め、その過渡期に入力端子V(+)とV(−)との間に
入力電位差が発生し、負帰還回路Zfを介して負帰還さ
れるノードn1のインピーダンスが大幅に変化する。そ
のため、入力信号のDC電圧によって、さらには入力信
号の電圧変化過渡期には利得および位相の周波数特性が
変化し、結果としてビデオバッファとしてのDG(微分
利得)特性やDP(微分位相)特性が悪くなるという問
題点があることが明らかになった。
する場合には、出力端子を入力端子V(−)に接続して
ボルテージフォロワを構成しかつ大振幅の信号を扱うた
め、その過渡期に入力端子V(+)とV(−)との間に
入力電位差が発生し、負帰還回路Zfを介して負帰還さ
れるノードn1のインピーダンスが大幅に変化する。そ
のため、入力信号のDC電圧によって、さらには入力信
号の電圧変化過渡期には利得および位相の周波数特性が
変化し、結果としてビデオバッファとしてのDG(微分
利得)特性やDP(微分位相)特性が悪くなるという問
題点があることが明らかになった。
【0007】さらに、映像信号処理用LSIには、アナ
ログ回路のみならずディジタル回路も共存しており、同
一チップ上のプラス電源(Vcc)もしくはマイナス電
源(GND)に半導体基板を介してディジタル回路から
のノイズがのることがある。図4に示されている差動増
幅回路にあっては、出力段15にソース接地型のMOS
トランジスタを使用しているため、電源ライン(Vcc
ライン,GNDライン)を通してディジタル回路部から
のノイズ(リップル)が入ってくるという問題点があ
る。
ログ回路のみならずディジタル回路も共存しており、同
一チップ上のプラス電源(Vcc)もしくはマイナス電
源(GND)に半導体基板を介してディジタル回路から
のノイズがのることがある。図4に示されている差動増
幅回路にあっては、出力段15にソース接地型のMOS
トランジスタを使用しているため、電源ライン(Vcc
ライン,GNDライン)を通してディジタル回路部から
のノイズ(リップル)が入ってくるという問題点があ
る。
【0008】この発明の目的は、入力信号のDC電圧の
変化に対する利得および位相の周波数特性の変化が少な
く、ビデオバッファとしてのDG(微分利得)特性やD
P(微分位相)特性が良好で、しかも電源ラインを通し
て入ってくるディジタル回路からのノイズに強いCMO
S差動増幅回路を提供することにある。
変化に対する利得および位相の周波数特性の変化が少な
く、ビデオバッファとしてのDG(微分利得)特性やD
P(微分位相)特性が良好で、しかも電源ラインを通し
て入ってくるディジタル回路からのノイズに強いCMO
S差動増幅回路を提供することにある。
【0009】この発明の前記ならびにそのほかの目的と
新規な特徴については、本明細書の記述および添附図面
から明らかになるであろう。
新規な特徴については、本明細書の記述および添附図面
から明らかになるであろう。
【0010】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を説明すれば、下記のと
おりである。
発明のうち代表的なものの概要を説明すれば、下記のと
おりである。
【0011】すなわち、差動入力段の一方の差動入力M
OSトランジスタに流れる電流を1:K(K>1)の比
で増幅する第1のカレントミラー回路と、他方の差動入
力MOSトランジスタに流れる電流を1:L(L>1,
L≠K)の比で増幅する第2のカレントミラー回路と、
この第2のカレントミラー回路で増幅された電流をさら
に1:M(M=K/L)の比で増幅するカスコード型の
第3のカレントミラー回路を設けて、上記第1のカレン
トミラー回路で増幅された電流を第3のカレントミラー
回路の出力電流と加算合成し、第1のカレントミラー回
路で増幅された電流または第3のカレントミラー回路で
増幅された電流のうち少ない方によって他方の電流が規
制されるようにして出力電圧を得るようにしたものであ
る。
OSトランジスタに流れる電流を1:K(K>1)の比
で増幅する第1のカレントミラー回路と、他方の差動入
力MOSトランジスタに流れる電流を1:L(L>1,
L≠K)の比で増幅する第2のカレントミラー回路と、
この第2のカレントミラー回路で増幅された電流をさら
に1:M(M=K/L)の比で増幅するカスコード型の
第3のカレントミラー回路を設けて、上記第1のカレン
トミラー回路で増幅された電流を第3のカレントミラー
回路の出力電流と加算合成し、第1のカレントミラー回
路で増幅された電流または第3のカレントミラー回路で
増幅された電流のうち少ない方によって他方の電流が規
制されるようにして出力電圧を得るようにしたものであ
る。
【0012】上記構成によれば、第3のカレントミラー
回路をカスコード型としているため、入力信号のDC電
位の変化に対して電流利得の変化が少なく、また正負の
入力信号に差が生ずる過渡期にも電流利得の変化が少な
い。その結果、ボルテージフォロワを構成して、映像信
号処理用LSIにおける映像信号への文字加算機能や映
像信号の多重加算機能、映像信号のA/D変換機能に必
要なビデオバッファ回路として利用した場合に、利得お
よび位相の周波数特性の変化が少なく、良好なDG(微
分利得)特性およびDP(微分位相)特性が得られる。
しかも、カレントミラー回路は電源電圧のリップル除去
率が良好なため、電源ラインを通して入ってくるディジ
タル回路からのノイズに強いCMOS差動増幅回路を実
現することができる。
回路をカスコード型としているため、入力信号のDC電
位の変化に対して電流利得の変化が少なく、また正負の
入力信号に差が生ずる過渡期にも電流利得の変化が少な
い。その結果、ボルテージフォロワを構成して、映像信
号処理用LSIにおける映像信号への文字加算機能や映
像信号の多重加算機能、映像信号のA/D変換機能に必
要なビデオバッファ回路として利用した場合に、利得お
よび位相の周波数特性の変化が少なく、良好なDG(微
分利得)特性およびDP(微分位相)特性が得られる。
しかも、カレントミラー回路は電源電圧のリップル除去
率が良好なため、電源ラインを通して入ってくるディジ
タル回路からのノイズに強いCMOS差動増幅回路を実
現することができる。
【0013】なお、位相補償は、出力端子と第3のカレ
ントミラー回路の電流入力ノードとの間に容量を接続す
ることにより行なう。この場合、第3のカレントミラー
回路、の入力ノードのインピーダンスが変化が小さく、
位相補償用容量による負帰還特性の変化も少ない。
ントミラー回路の電流入力ノードとの間に容量を接続す
ることにより行なう。この場合、第3のカレントミラー
回路、の入力ノードのインピーダンスが変化が小さく、
位相補償用容量による負帰還特性の変化も少ない。
【0014】また、上記差動入力段を、それぞれ独立し
た電流源で動作する各々1:aとa:1の寸法比のMO
Sトランジスタで構成された2組の差動入力段に置き換
えるようにしても良い。このように構成すると、差動入
力段の出力電流は定電流源に流れる出力電流は定電流源
に流れる電流の1/(a+1)となり、2組の差動入力
段は正負の入力信号に差がある場合、互いに逆相の交流
電流を出力するため出力回路の動作がAB級増幅動作と
なり、消費電流を減らすことができる。
た電流源で動作する各々1:aとa:1の寸法比のMO
Sトランジスタで構成された2組の差動入力段に置き換
えるようにしても良い。このように構成すると、差動入
力段の出力電流は定電流源に流れる出力電流は定電流源
に流れる電流の1/(a+1)となり、2組の差動入力
段は正負の入力信号に差がある場合、互いに逆相の交流
電流を出力するため出力回路の動作がAB級増幅動作と
なり、消費電流を減らすことができる。
【0015】さらに、上記差動入力段を、それぞれ独立
した電流源で動作するPチャネルMOSトランジスタ対
とNチャネルMOSトランジスタ対で構成された2組の
差動入力段に置き換えるようにしても良い。これにより
線形動作する許容入力電圧範囲を広げることができる。
した電流源で動作するPチャネルMOSトランジスタ対
とNチャネルMOSトランジスタ対で構成された2組の
差動入力段に置き換えるようにしても良い。これにより
線形動作する許容入力電圧範囲を広げることができる。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施例を図
面に基づいて説明する。
面に基づいて説明する。
【0017】図1は本発明に係るCMOS差動増幅回路
の第1の実施例を示す。
の第1の実施例を示す。
【0018】この実施例のCMOS差動増幅回路は、ソ
ース共通接続された一対の差動入力MOSトランジスタ
MN9とMN10とからなる差動入力段22と、その共
通ソースと接地点との間に直列接続された定電流用MO
SトランジスタMN7とMN8からなる電流源21と、
上記差動入力MOSトランジスタMN9,MN10のド
レインと電源電圧Vcc(例えば5V)との間に接続さ
れた第1および第2のカレントミラー回路23と、該第
1および第2のカレントミラー回路23の出力側に接続
されたカスコード型の第3のカレントミラー回路24
と、位相補償回路Zfとによって構成されている。
ース共通接続された一対の差動入力MOSトランジスタ
MN9とMN10とからなる差動入力段22と、その共
通ソースと接地点との間に直列接続された定電流用MO
SトランジスタMN7とMN8からなる電流源21と、
上記差動入力MOSトランジスタMN9,MN10のド
レインと電源電圧Vcc(例えば5V)との間に接続さ
れた第1および第2のカレントミラー回路23と、該第
1および第2のカレントミラー回路23の出力側に接続
されたカスコード型の第3のカレントミラー回路24
と、位相補償回路Zfとによって構成されている。
【0019】上記第1のカレントミラー回路は、上記差
動入力段11の一方の負荷MOSトランジスタMP4と
これとゲートが共通に接続されたMOSトランジスタM
P7とからなり、MP4のW/L(ゲート幅/ゲート
長)値とMP7のW/L値との比が1:K(K>1)に
設定されることにより差動入力MOSトランジスタMN
9に流れる電流をK倍に増幅する。第2のカレントミラ
ー回路は、上記差動入力段11の他方の負荷MOSトラ
ンジスタMP5とこれとゲートが共通に接続されたMO
SトランジスタMP6とからなり、W/L値が1:L
(L>1,L≠K)に設定されることにより差動入力M
OSトランジスタMN10に流れる電流をL倍に増幅す
る。
動入力段11の一方の負荷MOSトランジスタMP4と
これとゲートが共通に接続されたMOSトランジスタM
P7とからなり、MP4のW/L(ゲート幅/ゲート
長)値とMP7のW/L値との比が1:K(K>1)に
設定されることにより差動入力MOSトランジスタMN
9に流れる電流をK倍に増幅する。第2のカレントミラ
ー回路は、上記差動入力段11の他方の負荷MOSトラ
ンジスタMP5とこれとゲートが共通に接続されたMO
SトランジスタMP6とからなり、W/L値が1:L
(L>1,L≠K)に設定されることにより差動入力M
OSトランジスタMN10に流れる電流をL倍に増幅す
る。
【0020】上記第3のカレントミラー回路24は、第
2のカレントミラー回路(23)を構成するPチャネル
MOSトランジスタMP6のドレインと接地点との間に
直列に接続されたNチャネルMOSトランジスタMN1
1,MN12と、第1のカレントミラー回路(23)を
構成するPチャネルMOSトランジスタMP7のドレイ
ンと接地点との間に直列に接続されたNチャネルMOS
トランジスタMN13,MN14とからなり、MOSト
ランジスタMN11とMN13とがゲートを共通に、ま
たMN12とMN14がゲートを共通に接続されている
とともに、MN11とMN13、またMN12とMN1
4のW/L値がそれぞれ1:M(M=K/L)の比に形
成されることにより第2のカレントミラー回路で増幅さ
れた電流をさらにM倍に増幅するように構成されてい
る。
2のカレントミラー回路(23)を構成するPチャネル
MOSトランジスタMP6のドレインと接地点との間に
直列に接続されたNチャネルMOSトランジスタMN1
1,MN12と、第1のカレントミラー回路(23)を
構成するPチャネルMOSトランジスタMP7のドレイ
ンと接地点との間に直列に接続されたNチャネルMOS
トランジスタMN13,MN14とからなり、MOSト
ランジスタMN11とMN13とがゲートを共通に、ま
たMN12とMN14がゲートを共通に接続されている
とともに、MN11とMN13、またMN12とMN1
4のW/L値がそれぞれ1:M(M=K/L)の比に形
成されることにより第2のカレントミラー回路で増幅さ
れた電流をさらにM倍に増幅するように構成されてい
る。
【0021】この実施例では、上記第1のカレントミラ
ー回路を構成するPチャネルMOSトランジスタMP7
のドレインと第3のカレントミラー回路24を構成する
NチャネルMOSトランジスタMN13のドレインとの
接続ノードn2に出力端子OUTが接続されている。
ー回路を構成するPチャネルMOSトランジスタMP7
のドレインと第3のカレントミラー回路24を構成する
NチャネルMOSトランジスタMN13のドレインとの
接続ノードn2に出力端子OUTが接続されている。
【0022】また、上記位相補償回路Zfは、第1およ
び第2のカレントミラー回路23を構成するMOSトラ
ンジスタMP6,MP7と第3のカレントミラー回路2
4を構成するMOSトランジスタMN11,MN13と
の接続ノードn2,n3間に接続された容量C2によっ
て構成されており、この容量C2は負帰還素子として作
用する。上記容量C2としてはMOSトランジスタのゲ
ート容量を利用することが可能である。ただし、MOS
トランジスタのゲート容量を使用する場合には、容量値
が電圧依存性を有するので、使用するプロセス技術によ
っては、電圧依存性のない例えば層間絶縁膜を誘電体と
し上部電極と下部電極にポリシリコン層もしくは金属層
を用いた容量を使用するのが妥当である。
び第2のカレントミラー回路23を構成するMOSトラ
ンジスタMP6,MP7と第3のカレントミラー回路2
4を構成するMOSトランジスタMN11,MN13と
の接続ノードn2,n3間に接続された容量C2によっ
て構成されており、この容量C2は負帰還素子として作
用する。上記容量C2としてはMOSトランジスタのゲ
ート容量を利用することが可能である。ただし、MOS
トランジスタのゲート容量を使用する場合には、容量値
が電圧依存性を有するので、使用するプロセス技術によ
っては、電圧依存性のない例えば層間絶縁膜を誘電体と
し上部電極と下部電極にポリシリコン層もしくは金属層
を用いた容量を使用するのが妥当である。
【0023】この実施例のCMOS差動増幅回路は、一
対の入力信号V(+),V(−)が入力されると、差動
入力段22のMOSトランジスタMN9とMN10には
入力信号V(+),V(−)に応じた電流I1,I2を
出力する。これらの電流I1,I2は第1および第2の
カレントミラー回路23によってそれぞれK倍とL倍に
それぞれ増幅される。さらに、第2のカレントミラー回
路の出力側の電流I4は、カスコード型の第3のカレン
トミラー回路24によってM倍に増幅される。このとき
MはM=K/Lに設定されているため、MOSトランジ
スタMN13に流れる電流I5は、L・M・I2=L
(K/L)I2=K・I2で示されるように、差動入力
段22のMOSトランジスタMN10に流れる電流I2
のL倍となる。
対の入力信号V(+),V(−)が入力されると、差動
入力段22のMOSトランジスタMN9とMN10には
入力信号V(+),V(−)に応じた電流I1,I2を
出力する。これらの電流I1,I2は第1および第2の
カレントミラー回路23によってそれぞれK倍とL倍に
それぞれ増幅される。さらに、第2のカレントミラー回
路の出力側の電流I4は、カスコード型の第3のカレン
トミラー回路24によってM倍に増幅される。このとき
MはM=K/Lに設定されているため、MOSトランジ
スタMN13に流れる電流I5は、L・M・I2=L
(K/L)I2=K・I2で示されるように、差動入力
段22のMOSトランジスタMN10に流れる電流I2
のL倍となる。
【0024】この実施例では、一対の入力信号V
(+),V(−)が同一レベルの場合、第1のカレント
ミラー回路で増幅されてMOSトランジスタMP7に流
れる電流I3と第3のカレントミラー回路24で増幅さ
れMOSトランジスタMN13に流れる電流I5とは、
同一の大きさとなり、出力端子OUTには入力信号と同
一レベルの電圧が出力される(この実施例では、一対の
入力信号V(+),V(−)がVcc/2=2.5Vの
場合、出力電圧が2.5Vとなる)。
(+),V(−)が同一レベルの場合、第1のカレント
ミラー回路で増幅されてMOSトランジスタMP7に流
れる電流I3と第3のカレントミラー回路24で増幅さ
れMOSトランジスタMN13に流れる電流I5とは、
同一の大きさとなり、出力端子OUTには入力信号と同
一レベルの電圧が出力される(この実施例では、一対の
入力信号V(+),V(−)がVcc/2=2.5Vの
場合、出力電圧が2.5Vとなる)。
【0025】この状態で、入力信号V(+)の電位が上
昇すると、MOSトランジスタMN9に流れる電流I1
が増加し、MN10に流れる電流I2が減少する。これ
によって、第1のカレントミラー回路の出力側のMOS
トランジスタMP7はそのドレイン電流を増加させよう
とゲート電圧が上昇してオン抵抗が下がり、第3のカレ
ントミラー回路24のMOSトランジスタMN13はそ
のドレイン電流を減少させようとゲート電圧が降下して
オン抵抗が高くなる。その結果、出力電圧Voutが上
昇する。
昇すると、MOSトランジスタMN9に流れる電流I1
が増加し、MN10に流れる電流I2が減少する。これ
によって、第1のカレントミラー回路の出力側のMOS
トランジスタMP7はそのドレイン電流を増加させよう
とゲート電圧が上昇してオン抵抗が下がり、第3のカレ
ントミラー回路24のMOSトランジスタMN13はそ
のドレイン電流を減少させようとゲート電圧が降下して
オン抵抗が高くなる。その結果、出力電圧Voutが上
昇する。
【0026】一方、上記平衡状態から入力信号V(+)
の電位が降下するとMOSトランジスタMN9に流れる
電流I1が減少し、MN10に流れる電流I2が増加す
る。これによって、第1のカレントミラー回路の出力側
のMOSトランジスタMP7はそのドレイン電流を減少
させようとゲート電圧が降下してオン抵抗が増加し、第
3のカレントミラー回路24のMOSトランジスタMN
13はそのドレイン電流を増加させようとゲート電圧が
上昇してオン抵抗が低くなる。その結果、出力電圧Vo
utが下がる。
の電位が降下するとMOSトランジスタMN9に流れる
電流I1が減少し、MN10に流れる電流I2が増加す
る。これによって、第1のカレントミラー回路の出力側
のMOSトランジスタMP7はそのドレイン電流を減少
させようとゲート電圧が降下してオン抵抗が増加し、第
3のカレントミラー回路24のMOSトランジスタMN
13はそのドレイン電流を増加させようとゲート電圧が
上昇してオン抵抗が低くなる。その結果、出力電圧Vo
utが下がる。
【0027】また、この実施例の差動増幅回路は、第1
カレントミラー回路と第3のカレントミラー回路の出力
側の電流がマッチングしない場合にも、ノードn3のイ
ンピーダンスの変化も小さく、そのため位相補償回路に
よる負帰還特性の変化も少ないという利点がある。
カレントミラー回路と第3のカレントミラー回路の出力
側の電流がマッチングしない場合にも、ノードn3のイ
ンピーダンスの変化も小さく、そのため位相補償回路に
よる負帰還特性の変化も少ないという利点がある。
【0028】さらに、この実施例のCMOS差動増幅回
路においては、差動入力段21の定電流源として、ゲー
トが定電圧V3,V4によってバイアスされた直列接続
のMOSトランジスタMN7とMN8とから構成されて
いるため、トランジスタMN7がMN8のドレイン電流
が入力信号のDC電圧変動の影響を受けないように動作
するため、入力電圧の影響が少ない電流で差動入力段を
バイアスすることができる。MOSトランジスタMN7
のゲートに印加されるバイアス電圧V3,V4として
は、例えばV3が1.2Vのような定電圧、またV4が
2.8Vのような定電圧が選択される。
路においては、差動入力段21の定電流源として、ゲー
トが定電圧V3,V4によってバイアスされた直列接続
のMOSトランジスタMN7とMN8とから構成されて
いるため、トランジスタMN7がMN8のドレイン電流
が入力信号のDC電圧変動の影響を受けないように動作
するため、入力電圧の影響が少ない電流で差動入力段を
バイアスすることができる。MOSトランジスタMN7
のゲートに印加されるバイアス電圧V3,V4として
は、例えばV3が1.2Vのような定電圧、またV4が
2.8Vのような定電圧が選択される。
【0029】なお、上記K,L,Mの値としては、例え
ば「6」,「2.5」,「2.4」のような値が考えら
れる。また、上記実施例のCMOS差動増幅回路を公知
の半導体製造技術によって形成する場合、使用するプロ
セス技術が1μプロセスであれば上記サイズ比K,L,
Mはそのまま電流比になるのでなんら問題はないが、異
なる精度の加工技術を使用する場合には、K,L,Mの
うちKについてはサイズ比がそのまま電流比にならない
ので、Kの値についてはこれを若干補正してその値を決
定する等の工夫が必要であることがシミュレーションに
よって明らかになった。例えば0.8μプロセスのよう
な加工技術を使用する場合、MOSトランジスタMP4
とMP7の電流比をKするにはサイズ比は電流比Kの値
よりも若干大きい値とするのが妥当である。
ば「6」,「2.5」,「2.4」のような値が考えら
れる。また、上記実施例のCMOS差動増幅回路を公知
の半導体製造技術によって形成する場合、使用するプロ
セス技術が1μプロセスであれば上記サイズ比K,L,
Mはそのまま電流比になるのでなんら問題はないが、異
なる精度の加工技術を使用する場合には、K,L,Mの
うちKについてはサイズ比がそのまま電流比にならない
ので、Kの値についてはこれを若干補正してその値を決
定する等の工夫が必要であることがシミュレーションに
よって明らかになった。例えば0.8μプロセスのよう
な加工技術を使用する場合、MOSトランジスタMP4
とMP7の電流比をKするにはサイズ比は電流比Kの値
よりも若干大きい値とするのが妥当である。
【0030】図2および図3に本発明に係るCMOS差
動増幅回路の第2および第3の実施例を示す。このうち
図2には、低消費電流化を図ったCMOS差動増幅回路
の例を、また図3には入力電圧の許容範囲を拡大したC
MOS差動増幅回路の例を示す。
動増幅回路の第2および第3の実施例を示す。このうち
図2には、低消費電流化を図ったCMOS差動増幅回路
の例を、また図3には入力電圧の許容範囲を拡大したC
MOS差動増幅回路の例を示す。
【0031】図2のCMOS差動増幅回路は、定電圧V
5,V6でバイアスされたカスコード型定電流源31,
32を各々独立に有する2組の差動入力段33,34を
持ち、差動入力段33を構成する差動MOSトランジス
タMN19とMN20はW/L値の比がa:1とされ、
差動入力段34を構成する差動MOSトランジスタMN
22とMN21はW/L値の比が1:aとされ、MN1
9とMN22のゲートに正の入力信号V(+)が、また
MN20とMN21のゲートに負の入力信号V(−)が
入力されるように構成されている。
5,V6でバイアスされたカスコード型定電流源31,
32を各々独立に有する2組の差動入力段33,34を
持ち、差動入力段33を構成する差動MOSトランジス
タMN19とMN20はW/L値の比がa:1とされ、
差動入力段34を構成する差動MOSトランジスタMN
22とMN21はW/L値の比が1:aとされ、MN1
9とMN22のゲートに正の入力信号V(+)が、また
MN20とMN21のゲートに負の入力信号V(−)が
入力されるように構成されている。
【0032】差動入力段34を構成する差動MOSトラ
ンジスタMN22のドレインに接続された負荷MOSト
ランジスタMP9とこれとゲートが共通に接続されたM
OSトランジスタMP11とによって、また差動入力段
33を構成する差動MOSトランジスタMN20のドレ
インに接続された負荷MOSトランジスタMP8とこれ
とゲートが共通に接続されたMOSトランジスタMP1
0とによって、第1および第2のカレントミラー回路3
5が構成されている。さらに、上記MOSトランジスタ
MP10,MP11のドレイン側にMOSトランジスタ
MN11,MN13;MN12,MN14からなる第3
のカレントミラー回路24が接続されている。
ンジスタMN22のドレインに接続された負荷MOSト
ランジスタMP9とこれとゲートが共通に接続されたM
OSトランジスタMP11とによって、また差動入力段
33を構成する差動MOSトランジスタMN20のドレ
インに接続された負荷MOSトランジスタMP8とこれ
とゲートが共通に接続されたMOSトランジスタMP1
0とによって、第1および第2のカレントミラー回路3
5が構成されている。さらに、上記MOSトランジスタ
MP10,MP11のドレイン側にMOSトランジスタ
MN11,MN13;MN12,MN14からなる第3
のカレントミラー回路24が接続されている。
【0033】上記第1のカレントミラー回路は、MOS
トランジスタMP9とMP11のW/L(ゲート幅/ゲ
ート長)の比が1:K(K>1)に設定されることによ
り電流をK倍に増幅する。第2のカレントミラー回路
は、MOSトランジスタMP8とMP10のW/Lが
1:L(L>1,L≠K)に設定されることにより電流
をL倍に増幅する。さらに、上記第3のカレントミラー
回路24は、第1の実施例と同様に、MOSトランジス
タMN11とMN13、またMN12とMN14がそれ
ぞれ1:M(M=K/L)の寸法比に形成されることに
より電流をM倍に増幅するように構成されている。
トランジスタMP9とMP11のW/L(ゲート幅/ゲ
ート長)の比が1:K(K>1)に設定されることによ
り電流をK倍に増幅する。第2のカレントミラー回路
は、MOSトランジスタMP8とMP10のW/Lが
1:L(L>1,L≠K)に設定されることにより電流
をL倍に増幅する。さらに、上記第3のカレントミラー
回路24は、第1の実施例と同様に、MOSトランジス
タMN11とMN13、またMN12とMN14がそれ
ぞれ1:M(M=K/L)の寸法比に形成されることに
より電流をM倍に増幅するように構成されている。
【0034】この実施例のCMOS差動増幅回路は、差
動入力段33を構成する差動MOSトランジスタMN1
9とMN20はW/L値の比がa:1とされ、差動入力
段34を構成する差動MOSトランジスタMN22とM
N21はW/L値の比が1:aとされることによって、
第1および第2のカレントミラー回路35の入力側のM
OSトランジスタMP8とMP9に流れる電流を、第1
の実施例における第1および第2のカレントミラー回路
23の入力側のMOSトランジスタMP4とMP5に流
れる電流が各々定電流源21を流れる電流の1/2であ
るのに対し、定電流源31と32を流れる電流の1/
(a+1)とすることができる。これによって、カレン
トミラー回路の出力側に流れる電流も第1の実施例に比
べて少なくすることができ、回路全体の消費電流を減ら
すことができる。つまり、第2の実施例のCMOS差動
増幅回路はAB級増幅動作する。なお、上記aの値とし
ては、「5」から「10」程度が妥当である。
動入力段33を構成する差動MOSトランジスタMN1
9とMN20はW/L値の比がa:1とされ、差動入力
段34を構成する差動MOSトランジスタMN22とM
N21はW/L値の比が1:aとされることによって、
第1および第2のカレントミラー回路35の入力側のM
OSトランジスタMP8とMP9に流れる電流を、第1
の実施例における第1および第2のカレントミラー回路
23の入力側のMOSトランジスタMP4とMP5に流
れる電流が各々定電流源21を流れる電流の1/2であ
るのに対し、定電流源31と32を流れる電流の1/
(a+1)とすることができる。これによって、カレン
トミラー回路の出力側に流れる電流も第1の実施例に比
べて少なくすることができ、回路全体の消費電流を減ら
すことができる。つまり、第2の実施例のCMOS差動
増幅回路はAB級増幅動作する。なお、上記aの値とし
ては、「5」から「10」程度が妥当である。
【0035】図3のCMOS差動増幅回路は、定電圧V
7,V8でバイアスされたカスコード型定電流源41
と、NチャネルMOSFETからなる差動MOSトラン
ジスタMN25,MN26よりなる差動入力段43と、
定電圧V9,V10でバイアスされたカスコード型定電
流源42と、PチャネルMOSFETからなる差動MO
SトランジスタMP14,MP15よりなる差動入力段
44とを備えている。そして、上記MOSトランジスタ
MN25とMP14のゲートに正の入力信号V(+)
が、またMN26とMP15のゲートに負の入力信号V
(−)が入力されるように構成されている。
7,V8でバイアスされたカスコード型定電流源41
と、NチャネルMOSFETからなる差動MOSトラン
ジスタMN25,MN26よりなる差動入力段43と、
定電圧V9,V10でバイアスされたカスコード型定電
流源42と、PチャネルMOSFETからなる差動MO
SトランジスタMP14,MP15よりなる差動入力段
44とを備えている。そして、上記MOSトランジスタ
MN25とMP14のゲートに正の入力信号V(+)
が、またMN26とMP15のゲートに負の入力信号V
(−)が入力されるように構成されている。
【0036】また、上記2組の差動入力段のうち43に
は、第1の実施例と同様に構成された第1〜第3のカレ
ントミラー回路45,46,24が接続されている。さ
らに、この実施例では、差動入力段44の負荷MOSト
ランジスタMN27とMN28にはこれらと1:1のサ
イズ比とされたMOSトランジスタMN30,MN29
からなる第4のカレントミラー回路47が設けられ、こ
れらのMOSトランジスタMN29,MN30のドレイ
ンは差動入力段43側の負荷MOSトランジスタMP1
6,MP17のドレイン(ゲート)に接続されている。
従って、負荷MOSトランジスタMP16には差動MO
SトランジスタMN25とMP15に流れる電流を加算
した電流が流れ、負荷MOSトランジスタMP17には
差動MOSトランジスタMN26とMP14に流れる電
流を加算した電流が流れるようにされる。
は、第1の実施例と同様に構成された第1〜第3のカレ
ントミラー回路45,46,24が接続されている。さ
らに、この実施例では、差動入力段44の負荷MOSト
ランジスタMN27とMN28にはこれらと1:1のサ
イズ比とされたMOSトランジスタMN30,MN29
からなる第4のカレントミラー回路47が設けられ、こ
れらのMOSトランジスタMN29,MN30のドレイ
ンは差動入力段43側の負荷MOSトランジスタMP1
6,MP17のドレイン(ゲート)に接続されている。
従って、負荷MOSトランジスタMP16には差動MO
SトランジスタMN25とMP15に流れる電流を加算
した電流が流れ、負荷MOSトランジスタMP17には
差動MOSトランジスタMN26とMP14に流れる電
流を加算した電流が流れるようにされる。
【0037】これによって、入力信号V(+)とV
(−)が比較的小さくなってMOSトランジスタMN2
5とMN26に流れる電流がかなり少なくなった場合
に、P−MOS差動入力段44側の出力電流がカレント
ミラー回路47によってMOSトランジスタMN30と
MN29に転写されるため、N−MOS差動入力段43
側の負荷MOSトランジスタMP16,MP17に一定
の電流が流れ、線形動作する許容入力電圧範囲が広くな
る。
(−)が比較的小さくなってMOSトランジスタMN2
5とMN26に流れる電流がかなり少なくなった場合
に、P−MOS差動入力段44側の出力電流がカレント
ミラー回路47によってMOSトランジスタMN30と
MN29に転写されるため、N−MOS差動入力段43
側の負荷MOSトランジスタMP16,MP17に一定
の電流が流れ、線形動作する許容入力電圧範囲が広くな
る。
【0038】以上説明したように、上記実施例はいずれ
も、差動入力段の一方の差動入力MOSトランジスタに
流れる電流を1:K(K>1)の比で増幅する第1のカ
レントミラー回路と、他方の差動入力MOSトランジス
タに流れる電流を1:L(L>1,L≠K)の比で増幅
する第2のカレントミラー回路と、この第2のカレント
ミラー回路で増幅された電流をさらに1:M(M=K/
L)の比で増幅するカスコード型の第3のカレントミラ
ー回路を設けて、上記第1のカレントミラー回路で増幅
された電流を第3のカレントミラー回路の出力電流と加
算合成し、第1のカレントミラー回路で増幅された電流
または第3のカレントミラー回路で増幅された電流のう
ち少ない方によって他方の電流が規制されるようにして
出力電圧を得るように構成されているので、第3のカレ
ントミラー回路をカスコード型としているため、入力信
号のDC電位の変化に対して電流利得の変化が少なく、
また正負の入力信号に差が生ずる過渡期にも電流利得の
変化が少ない。また、位相補償は、出力端子と第3のカ
レントミラー回路の電流入力ノードとの間に容量を接続
することにより行なっているので、第3のカレントミラ
ー回路の入力ノードのインピーダンスが変化が小さく、
位相補償用容量による負帰還特性の変化も少ない。その
結果、ボルテージフォロワを構成して、映像信号処理用
LSIにおける映像信号への文字加算機能や映像信号の
多重加算機能、映像信号のA/D変換機能に必要なビデ
オバッファ回路として利用した場合に、利得および位相
の周波数特性の変化が少なく、良好なDG(微分利得)
特性およびDP(微分位相)特性が得られる。しかも、
カレントミラー回路は電源電圧のリップル除去率が良好
なため、電源ラインを通して入ってくるディジタル回路
からのノイズに強いCMOS差動増幅回路を実現するこ
とができるという効果がある。
も、差動入力段の一方の差動入力MOSトランジスタに
流れる電流を1:K(K>1)の比で増幅する第1のカ
レントミラー回路と、他方の差動入力MOSトランジス
タに流れる電流を1:L(L>1,L≠K)の比で増幅
する第2のカレントミラー回路と、この第2のカレント
ミラー回路で増幅された電流をさらに1:M(M=K/
L)の比で増幅するカスコード型の第3のカレントミラ
ー回路を設けて、上記第1のカレントミラー回路で増幅
された電流を第3のカレントミラー回路の出力電流と加
算合成し、第1のカレントミラー回路で増幅された電流
または第3のカレントミラー回路で増幅された電流のう
ち少ない方によって他方の電流が規制されるようにして
出力電圧を得るように構成されているので、第3のカレ
ントミラー回路をカスコード型としているため、入力信
号のDC電位の変化に対して電流利得の変化が少なく、
また正負の入力信号に差が生ずる過渡期にも電流利得の
変化が少ない。また、位相補償は、出力端子と第3のカ
レントミラー回路の電流入力ノードとの間に容量を接続
することにより行なっているので、第3のカレントミラ
ー回路の入力ノードのインピーダンスが変化が小さく、
位相補償用容量による負帰還特性の変化も少ない。その
結果、ボルテージフォロワを構成して、映像信号処理用
LSIにおける映像信号への文字加算機能や映像信号の
多重加算機能、映像信号のA/D変換機能に必要なビデ
オバッファ回路として利用した場合に、利得および位相
の周波数特性の変化が少なく、良好なDG(微分利得)
特性およびDP(微分位相)特性が得られる。しかも、
カレントミラー回路は電源電圧のリップル除去率が良好
なため、電源ラインを通して入ってくるディジタル回路
からのノイズに強いCMOS差動増幅回路を実現するこ
とができるという効果がある。
【0039】さらに、各カレントミラー回路による電流
増幅比を1以上(K>1,L>1,M>1)としている
ため、ボルテージフォロワとして動作する場合のDCオ
フセットは、カレントミラー回路を構成するMOSトラ
ンジスタ(MP4とMP7,MP5とMP6,MN11
とMN13およびMN12とMN14)のばらつきによ
るオフセットが、差動入力段からはそれぞれ1/K,1
/L,1/M・L,1/M・Lにしか見えないため、実
質的に入力段を構成する差動MOSトランジスタ対(M
N9,MN10)のばらつきによるオフセットのみとな
り、差動MOSトランジスタ対のオフセットに負荷MO
Sトランジスタ対のオフセットを加算したものがDCオ
フセットとなる図4の差動増幅回路に比べて小さくなる
という効果がある。
増幅比を1以上(K>1,L>1,M>1)としている
ため、ボルテージフォロワとして動作する場合のDCオ
フセットは、カレントミラー回路を構成するMOSトラ
ンジスタ(MP4とMP7,MP5とMP6,MN11
とMN13およびMN12とMN14)のばらつきによ
るオフセットが、差動入力段からはそれぞれ1/K,1
/L,1/M・L,1/M・Lにしか見えないため、実
質的に入力段を構成する差動MOSトランジスタ対(M
N9,MN10)のばらつきによるオフセットのみとな
り、差動MOSトランジスタ対のオフセットに負荷MO
Sトランジスタ対のオフセットを加算したものがDCオ
フセットとなる図4の差動増幅回路に比べて小さくなる
という効果がある。
【0040】また、第2の実施例のように、上記差動入
力段を、それぞれ独立した電流源で動作する各々1:a
とa:1の寸法比のMOSトランジスタで構成された2
組の差動入力段に置き換えるようにすると、差動入力段
の出力電流は定電流源に流れる出力電流は定電流源に流
れる電流の1/(a+1)となり、2組の差動入力段は
正負の入力信号に差がある場合には、互いに逆相の交流
電流を出力するため出力回路の動作がAB級増幅動作と
なり、消費電流を減らすことができるという効果があ
る。
力段を、それぞれ独立した電流源で動作する各々1:a
とa:1の寸法比のMOSトランジスタで構成された2
組の差動入力段に置き換えるようにすると、差動入力段
の出力電流は定電流源に流れる出力電流は定電流源に流
れる電流の1/(a+1)となり、2組の差動入力段は
正負の入力信号に差がある場合には、互いに逆相の交流
電流を出力するため出力回路の動作がAB級増幅動作と
なり、消費電流を減らすことができるという効果があ
る。
【0041】さらに、第3の実施例のように、上記差動
入力段を、それぞれ独立した電流源で動作するPチャネ
ルMOSトランジスタ対とNチャネルMOSトランジス
タ対で構成された2組の差動入力段に置き換えることに
より、線形動作する許容入力電圧範囲を広げることがで
きるという効果がある。
入力段を、それぞれ独立した電流源で動作するPチャネ
ルMOSトランジスタ対とNチャネルMOSトランジス
タ対で構成された2組の差動入力段に置き換えることに
より、線形動作する許容入力電圧範囲を広げることがで
きるという効果がある。
【0042】以上本発明者によってなされた発明を実施
例に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々変更可能であることはいうまでもない。例えば図1
および図3の実施例では、位相補償回路Zfを容量C2
のみで構成しているが、図2の実施例のように容量C2
と直列に抵抗R2を接続するようにしてもよい。また、
逆に図2の実施例における容量C2と抵抗R2とからな
る位相補償回路Zfを、容量C2のみからなる位相補償
回路としてもよい。
例に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々変更可能であることはいうまでもない。例えば図1
および図3の実施例では、位相補償回路Zfを容量C2
のみで構成しているが、図2の実施例のように容量C2
と直列に抵抗R2を接続するようにしてもよい。また、
逆に図2の実施例における容量C2と抵抗R2とからな
る位相補償回路Zfを、容量C2のみからなる位相補償
回路としてもよい。
【0043】以上の説明では主として本発明者によって
なされた発明をその背景となった利用分野である映像信
号処理用LSIにおけるビデオバッファ回路を例にとっ
て説明したが、この発明はそれに限定されるものでな
く、ボルテージフォロワとして使用する差動増幅回路一
般に利用することができる。
なされた発明をその背景となった利用分野である映像信
号処理用LSIにおけるビデオバッファ回路を例にとっ
て説明したが、この発明はそれに限定されるものでな
く、ボルテージフォロワとして使用する差動増幅回路一
般に利用することができる。
【0044】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば下記
のとおりである。
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば下記
のとおりである。
【0045】すなわち、入力信号のDC電圧の変化に対
する利得および位相の周波数特性の変化が少なく、ビデ
オバッファとしてのDG(微分利得)特性やDP(微分
位相)特性が良好で、しかも電源ラインを通して入って
くるディジタル回路からのノイズに強くかつDCオフセ
ットの小さなCMOS差動増幅回路を実現することがで
きる。
する利得および位相の周波数特性の変化が少なく、ビデ
オバッファとしてのDG(微分利得)特性やDP(微分
位相)特性が良好で、しかも電源ラインを通して入って
くるディジタル回路からのノイズに強くかつDCオフセ
ットの小さなCMOS差動増幅回路を実現することがで
きる。
【図1】本発明に係るCMOS差動増幅回路の第1の実
施例を示す回路図。
施例を示す回路図。
【図2】本発明に係るCMOS差動増幅回路の第2の実
施例を示す回路図。
施例を示す回路図。
【図3】本発明に係るCMOS差動増幅回路の第3の実
施例を示す回路図。
施例を示す回路図。
【図4】本発明に先立って検討したCMOS差動増幅回
路の一例を示す回路図。
路の一例を示す回路図。
【符号の説明】 21,31,32,41,42 電流源 22,33,34,43,44 差動入力段 23,35,45,46 カレントミラー回路 24 第3のカレントミラー回路(カスコード型カレン
トミラー回路)
トミラー回路)
フロントページの続き (72)発明者 仲内 篤彦 東京都小平市上水本町5丁目22番1号 株 式会社日立マイコンシステム内 (72)発明者 菅沼 政典 東京都小平市上水本町5丁目22番1号 株 式会社日立マイコンシステム内
Claims (6)
- 【請求項1】 ソース共通接続された一対の差動MOS
トランジスタからなる差動入力段と、上記差動MOSト
ランジスタの共通ソースに接続された電流源と、上記差
動入力段の一方の差動MOSトランジスタに流れる電流
を1:K(K>1)の比で増幅するMOSトランジスタ
で構成された第1のカレントミラー回路と、他方の差動
入力MOSトランジスタに流れる電流を1:L(L>
1,L≠K)の比で増幅するMOSトランジスタで構成
された第2のカレントミラー回路と、この第2のカレン
トミラー回路で増幅された電流をさらに1:M(M=K
/L)の比で増幅するMOSトランジスタで構成された
カスコード型の第3のカレントミラー回路を設けて、上
記第1のカレントミラー回路で増幅された電流を第3の
カレントミラー回路の出力電流と加算合成し、第1のカ
レントミラー回路で増幅された電流または第3のカレン
トミラー回路で増幅された電流のうち少ない方によって
他方の電流が規制されるようにして出力電圧を得るよう
にしたことを特徴とするCMOS差動増幅回路。 - 【請求項2】 上記電流源は、直列接続された複数のM
OSトランジスタからなることを特徴とする請求項1に
記載のCMOS差動増幅回路。 - 【請求項3】 出力端子と上記第3のカレントミラー回
路の入力端子との間に、容量もしくは直列形態の容量お
よび抵抗で構成された位相補償回路が接続されてなるこ
とを特徴とする請求項1または2に記載のCMOS差動
増幅回路。 - 【請求項4】 ソース共通接続されそのW/L値の比が
a:1である一対の差動MOSトランジスタからなる第
1の差動入力段と、当該第1の差動入力段の差動MOS
トランジスタの共通ソースに接続された第1の電流源
と、ソース共通接続されそのW/L値の比がa:1であ
りかつ第1の差動入力段と同一の入力信号が入力される
ようにされた一対の差動MOSトランジスタからなる第
2の差動入力段と、当該第2の差動入力段の差動MOS
トランジスタの共通ソースに接続された第2の電流源と
を備え、上記第1の差動入力段に上記第1のカレントミ
ラー回路が、また上記第2の差動入力段に上記第2のカ
レントミラー回路が、それぞれ接続されてなることを特
徴とする請求項1、2または3に記載のCMOS差動増
幅回路。 - 【請求項5】 ソース共通接続された一対の第1導電型
のMOSトランジスタからなる第1の差動入力段と、当
該第1の差動入力段の差動MOSトランジスタの共通ソ
ースに接続された第1の電流源と、ソース共通接続され
上記第1の差動入力段と同一の入力信号が入力されるよ
うにされた上記第1導電型と異なるキャリアで動作する
一対の第2導電型のMOSトランジスタからなる第2の
差動入力段と、当該第2の差動入力段の差動MOSトラ
ンジスタの共通ソースに接続された第2の電流源と、上
記第2の差動入力段の2つの出力ノードに接続され1:
1の比で電流を流す第4と第5のカレントミラー回路と
を備え、該第4と第5ののカレントミラー回路の出力側
電流が上記第1の差動入力段の2つの出力電流と同一極
性の動作を行なう上記第1および第2のカレントミラー
回路の入力側から流されるように接続がなされているこ
とを特徴とする請求項1、2、3または4に記載のCM
OS差動増幅回路。 - 【請求項6】 上記出力端子が反転入力端子側に直結さ
れ、非反転入力端子には映像信号が入力されてなる請求
項1、2、3、4または5に記載のCMOS差動増幅回
路を備えてなることを特徴とする映像信号処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7279094A JPH09130166A (ja) | 1995-10-26 | 1995-10-26 | Cmos差動増幅回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7279094A JPH09130166A (ja) | 1995-10-26 | 1995-10-26 | Cmos差動増幅回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09130166A true JPH09130166A (ja) | 1997-05-16 |
Family
ID=17606339
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7279094A Withdrawn JPH09130166A (ja) | 1995-10-26 | 1995-10-26 | Cmos差動増幅回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH09130166A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002232239A (ja) * | 2001-02-01 | 2002-08-16 | Akita Kaihatsu Center Ard:Kk | 演算増幅器 |
JP2007251984A (ja) * | 2000-12-22 | 2007-09-27 | Atheros Communications Inc | 送信機中で使用される装置 |
JP2011151637A (ja) * | 2010-01-22 | 2011-08-04 | New Japan Radio Co Ltd | エラーアンプの位相補償回路 |
JP2012194733A (ja) * | 2011-03-16 | 2012-10-11 | Fujitsu Semiconductor Ltd | カレントミラー回路及びそれを有する増幅回路 |
JP2016531535A (ja) * | 2013-09-24 | 2016-10-06 | ローベルト ボッシュ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 電気系統を保護するためのインタロック回路 |
-
1995
- 1995-10-26 JP JP7279094A patent/JPH09130166A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007251984A (ja) * | 2000-12-22 | 2007-09-27 | Atheros Communications Inc | 送信機中で使用される装置 |
JP2002232239A (ja) * | 2001-02-01 | 2002-08-16 | Akita Kaihatsu Center Ard:Kk | 演算増幅器 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20030107 |