JPH088267B2 - Die bonding equipment - Google Patents
Die bonding equipmentInfo
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- JPH088267B2 JPH088267B2 JP61130855A JP13085586A JPH088267B2 JP H088267 B2 JPH088267 B2 JP H088267B2 JP 61130855 A JP61130855 A JP 61130855A JP 13085586 A JP13085586 A JP 13085586A JP H088267 B2 JPH088267 B2 JP H088267B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ダイボンディング装置に関するもので、特
に位置決め精度を向上させ、かつ半導体チップからのダ
ストの発生を少なくしたダイボンディング装置に関する
ものである。Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to a die bonding apparatus, and more particularly to a die bonding apparatus with improved positioning accuracy and reduced generation of dust from a semiconductor chip. .
本発明は、半導体チップを保持固定する手段を有する
ダイボンディング装置において、上記の保持固定する手
段は上記半導体チップの一組に対向する側面に接触して
これを挟持する1対のチャック爪と、他の一組の対向す
る側面に接触してこれを挟持する1対のチャック爪とを
備え、各チャック爪は半導体チップの角部以外の部分に
接触して該半導体チップを挟持する構成に形成すること
により、位置決めの精度を向上させることができ、また
半導体チップからのダストの発生を少なくすることがで
きるなどの効果を呈させたものである。The present invention provides a die bonding apparatus having a means for holding and fixing a semiconductor chip, wherein the means for holding and fixing has a pair of chuck claws which come into contact with and sandwich the side surface of the semiconductor chip facing the set. A pair of chuck claws that come into contact with and sandwich the other pair of opposite side faces, each chuck claw being in contact with a portion other than a corner of the semiconductor chip to sandwich the semiconductor chip By doing so, it is possible to improve the positioning accuracy and reduce the generation of dust from the semiconductor chip.
以下、従来のダイボンディング装置における半導体チ
ップの保持固定手段を第7図を参照して説明する。第7
図において、1は角錐コレットであって、この角錐コレ
ット1は下端面に4つの錐面10を設けて角錐台形状の空
間11を形成し、この空間11と連通する空気路12を軸方向
に設けてなるもので、この空気路12をコンプレッサなど
の真空発生装置(図示せず)に接続する。2はダイシン
グ工程でダイシングされ、位置決めステージ(図示せ
ず)上に搬送された半導体チップである。Hereinafter, the semiconductor chip holding and fixing means in the conventional die bonding apparatus will be described with reference to FIG. Seventh
In the figure, reference numeral 1 is a pyramid collet, and this pyramid collet 1 has four pyramidal surfaces 10 at the lower end surface to form a truncated pyramidal space 11, and an air passage 12 communicating with this space 11 is axially arranged. The air passage 12 is provided, and is connected to a vacuum generating device (not shown) such as a compressor. Reference numeral 2 is a semiconductor chip that has been diced in the dicing process and has been carried onto a positioning stage (not shown).
次に、上述の角錐コレット1の操作について説明す
る。まず、角錐コレット1を半導体チップ2上に乗せ、
角錐コレット1の4錐面10と半導体チップ2の4つの稜
(上面と4側面とのなす4稜)とを接触させる。次に、
真空発生装置を駆動させて角錐コレット1の4錐面10と
半導体チップ2の上面に囲まれた空間内を真空にし、半
導体チップ2の位置決めを行うと共に、半導体チップ2
を保持固定する。この半導体チップ2を保持固定した角
錐コレット1をダイボンド位置に移送させ、ダイボンド
位置で半導体チップ2をダイボンドする。Next, the operation of the pyramid collet 1 described above will be described. First, place the pyramid collet 1 on the semiconductor chip 2,
The four-sided pyramid surface 10 of the pyramid collet 1 and four edges (four edges formed by the upper surface and the four side surfaces) of the semiconductor chip 2 are brought into contact with each other. next,
By driving the vacuum generator, the space surrounded by the four-sided pyramid surface 10 of the pyramid collet 1 and the upper surface of the semiconductor chip 2 is evacuated, the semiconductor chip 2 is positioned, and the semiconductor chip 2 is positioned.
Hold and fix. The pyramidal collet 1 holding and fixing the semiconductor chip 2 is transferred to the die bond position, and the semiconductor chip 2 is die bonded at the die bond position.
ところが、上述の角錐コレット1は、4錐面10に半導
体チップ2の4稜を接触させて半導体チップ2を保持固
定するものであるから、角錐コレット1の4錐面10と半
導体チップ2の4稜との接触は線接触である。このため
に、角錐コレット1と半導体チップ2との相対位置が偏
っていたりする場合など、第7図中二点鎖線で示すよう
に、半導体チップ2を傾いた状態で保持固定する場合が
あり、位置決め精度が例えば±50μm〜10μm程度とな
って、精度が上がらないという問題がある。しかも、半
導体チップ2は角錐コレット1の空間11の中に入って角
錐コレット1により隠れてしまうので、ダイボンド位置
で半導体チップ2の位置決め状態をパターン認識するこ
とができないと言う問題がある。However, since the above-described pyramid collet 1 holds and fixes the semiconductor chip 2 by bringing the four edges of the semiconductor chip 2 into contact with the four pyramid surface 10, the four pyramid surface 10 of the pyramid collet 1 and the four corners of the semiconductor chip 2 The contact with the ridge is a line contact. Therefore, when the relative positions of the pyramid collet 1 and the semiconductor chip 2 are deviated, the semiconductor chip 2 may be held and fixed in an inclined state as shown by the chain double-dashed line in FIG. The positioning accuracy is, for example, about ± 50 μm to 10 μm, and there is a problem that the accuracy cannot be improved. Moreover, since the semiconductor chip 2 enters the space 11 of the pyramid collet 1 and is hidden by the pyramid collet 1, there is a problem in that the positioning state of the semiconductor chip 2 cannot be pattern-recognized at the die bond position.
また、半導体チップ2は、第5図の拡大図に示すよう
に、ダイシング工程において、上面20と4側面21との上
側の稜部22が荒れ、下面23と4側面21との下側の稜部に
割れ部24や残部25が発生している(図は極端に示してあ
る)。このために、角錐コレット1の4錐面10と半導体
チップ2の4稜22とを接触させると、チッピングなどに
よりダストが多く発生する。しかも、上述の角錐コレッ
ト1のバキューム作用により、上述のダストが吸収され
て半導体チップ2の上面に多く付着するなどの問題があ
る。Further, as shown in the enlarged view of FIG. 5, the semiconductor chip 2 has a roughened upper edge 22 between the upper surface 20 and the four side surfaces 21 and a lower edge 23 between the lower surface 23 and the four side surfaces 21 in the dicing process. There are cracks 24 and remaining parts 25 in the area (the figure is shown extremely). Therefore, when the four-sided pyramid surface 10 of the pyramid collet 1 and the four edges 22 of the semiconductor chip 2 are brought into contact with each other, a large amount of dust is generated due to chipping or the like. In addition, there is a problem that the above-mentioned dust is absorbed by the vacuum action of the pyramid collet 1 and a large amount adheres to the upper surface of the semiconductor chip 2.
本発明の目的は、位置決め精度を向上させることがで
き、かつ半導体チップからのダストの発生を少なくする
ことができるダイボンディング装置を提供することにあ
る。An object of the present invention is to provide a die bonding apparatus capable of improving positioning accuracy and reducing the generation of dust from a semiconductor chip.
本発明は、半導体チップを保持固定する手段を有する
ダイボンディング装置において、上記の保持固定する手
段は上記半導体チップの一組の対向する側面に接触して
これを挟持する1対のチャック爪と、他の一組の対向す
る側面に接触してこれを挟持する1対のチャック爪とを
備え、各チャック爪は半導体チップの角部以外の部分に
接触して該半導体チップを挟持する構成に形成されたこ
とを特徴とする。According to the present invention, in a die bonding apparatus having a means for holding and fixing a semiconductor chip, the holding and fixing means includes a pair of chuck claws that come into contact with and sandwich the pair of side surfaces of the semiconductor chip. A pair of chuck claws that come into contact with and sandwich the other pair of opposite side faces, each chuck claw being in contact with a portion other than a corner of the semiconductor chip to sandwich the semiconductor chip It is characterized by being done.
本発明によれば、半導体チップの一組の対向する側
面、及び他の一組の対向する側面を面接触で保持固定す
ることにより、半導体チップを確実に保持固定すること
ができる。しかも、半導体チップを側面から保持固定す
ることにより、半導体チップが保持固定手段に隠れず、
ダイボンド位置で半導体チップの位置決め状態をパター
ン認識することができる。また、半導体チップの側面を
保持固定することにより、特に、半導体チップの一組の
対向する側面に接触してこれを挟持する1対のチャック
爪と、他の一組の対向する側面に接触してこれを挟持す
る1対のチャック爪とを備え、各チャック爪は半導体チ
ップの角部以外の部分に接触して該半導体チップを挟持
する構成に形成されたことにより、半導体チップのダイ
シング工程で荒れた稜部や割れ部、残部を避けて支持す
ることが可能となり、ダスト発生の問題を避けながら、
しかも確実に半導体チップを保持固定することができ
る。According to the present invention, the semiconductor chip can be reliably held and fixed by holding and fixing the pair of opposite side surfaces of the semiconductor chip and the other pair of opposite side surfaces by surface contact. Moreover, by holding and fixing the semiconductor chip from the side surface, the semiconductor chip is not hidden by the holding and fixing means,
The pattern of the positioning state of the semiconductor chip can be recognized at the die bond position. Further, by holding and fixing the side surfaces of the semiconductor chip, in particular, a pair of chuck claws that come into contact with and sandwich the pair of opposite side surfaces of the semiconductor chip and another pair of opposite side surfaces come into contact with each other. And a pair of chuck claws for sandwiching the semiconductor chip, and each chuck claw is configured to come into contact with a portion other than a corner portion of the semiconductor chip to sandwich the semiconductor chip. It is possible to support by avoiding rough ridges, cracks and remaining parts, avoiding the problem of dust generation,
Moreover, the semiconductor chip can be securely held and fixed.
以下、本発明のダイボンディング装置の一実施例を第
1図乃至第4図を参照して説明する。An embodiment of the die bonding apparatus of the present invention will be described below with reference to FIGS. 1 to 4.
第1図は斜視図、第2図はダイボンド状態の側面図で
ある。図において、3は位置決めステージであって、こ
の位置決めステージ3においてダイシングされた半導体
チップ2が搬送されて位置決めが行われる。4は半導体
チップ2の一組の対向する側面を保持固定するX方向の
保持固定手段であって、このX方向の保持固定手段4は
基体40と、その基体40にX方向に往復移動可能に装着し
た可動位置決め部材41と、基体40に固定した固定位置決
め部材42と、基体40に搭載した駆動装置としてのパルス
モータ43と、そのパルスモータ43との可動位置決め部材
41との間に介装した動力伝達手段44とからなる。可動位
置決め部材41はL字形状を存し、基端を基体40の上面の
ガイドレール400にX方向に往復移動可能に係合し、そ
の先端にチャック爪410をX方向に突設する。固定位置
決め部材42は同じくL字形状をなし、基端を基体40の上
面に固定し、その先端にチャック爪420を位置決めステ
ージ3を挟んで可動位置決め部材41のチャック爪410と
対向させて突設する。動力伝達手段44は基体40と可動位
置決め部材41との間に介装して可動位置決め部材41の常
時チャック爪410の突設方向に付勢させる引張ばね440
と、パルスモータ43の回転軸に取り付けたピニオン441
と、そのピニオン441と噛合するラック442と、そのラッ
ク442に固定され可動位置決め部材41に当接するカム443
とからなる。パルスモータ43は制御装置(図示せず)を
介してフォトセンサなどの検出器(図示せず)に連係さ
れ、検出器からの検出信号により制御装置が作動して、
パルス数制御により、正転,逆転,停止など制御され
る。このX方向の保持固定手段4は、図面では省略した
が、搬送装置により位置決めステージ3とダイボンドを
行うステージ(図示せず)との間を搬送される。FIG. 1 is a perspective view, and FIG. 2 is a side view in a die-bonded state. In the figure, reference numeral 3 is a positioning stage, and the semiconductor chip 2 diced on the positioning stage 3 is conveyed and positioned. Reference numeral 4 denotes X-direction holding and fixing means for holding and fixing a pair of opposed side surfaces of the semiconductor chip 2. The X-direction holding and fixing means 4 is capable of reciprocating in the X direction with the base 40. The movable positioning member 41 mounted, the fixed positioning member 42 fixed to the base 40, the pulse motor 43 as a drive device mounted on the base 40, and the movable positioning member of the pulse motor 43.
41 and a power transmission means 44 interposed therebetween. The movable positioning member 41 has an L-shape, and has a base end engaged with a guide rail 400 on the upper surface of the base body 40 so as to be capable of reciprocating in the X direction, and a chuck claw 410 protruding from the distal end in the X direction. The fixed positioning member 42 also has an L-shape, the base end of which is fixed to the upper surface of the base body 40, and the chuck claw 420 is provided on the tip of the fixed positioning member 42 so as to face the chuck claw 410 of the movable positioning member 41 with the positioning stage 3 interposed therebetween. To do. The power transmission means 44 is interposed between the base body 40 and the movable positioning member 41 to constantly urge the movable positioning member 41 in the protruding direction of the chuck claw 410.
And a pinion 441 attached to the rotary shaft of the pulse motor 43.
And a rack 442 that meshes with the pinion 441, and a cam 443 that is fixed to the rack 442 and abuts on the movable positioning member 41.
Consists of The pulse motor 43 is linked to a detector (not shown) such as a photosensor via a control device (not shown), and the control device is operated by a detection signal from the detector,
Forward, reverse, stop, etc. are controlled by controlling the number of pulses. Although not shown in the drawing, the X-direction holding and fixing means 4 is conveyed between the positioning stage 3 and a stage (not shown) for die bonding by a conveying device.
5は半導体チップ2の他の組の対向する側面を保持固
定するY方向(X方向と直交する方向)の保持固定手段
であって、このY方向の保持固定手段5は可動位置決め
部材51を位置決めステージ3もしくはダイボンディング
装置のフレーム等にY方向に往復移動可能に装着し、そ
の可動位置決め部材51の先端にチャック爪510をY方向
に突設する。一方、位置決めステージ3もしくはダイボ
ンディング装置のフレーム等に固定位置決め部材52を固
定し、その固定位置決め部材52の先端にチャック爪520
を位置決めステージ3を挟んで可動位置決め部材51のチ
ャック爪510と対向させて突設する。可動位置決め部材5
1と位置決めステージ3との間に引張ばね53を介装し、
可動位置決め部材51を常時チャック爪510の突設方向に
付勢させる。位置決めステージ3にシリンダ54を搭載
し、そのシリンダ54のピストンロッド540を位置決めス
テージ3を貫通させて可動位置決め部材51に固定する。
このシリンダ54を制御装置(図示せず)を介してフォト
センサなどの検出器(図示せず)に連係する。この結
果、シリンダ54は検出器からの検出信号により、制御装
置が作動して前進,後退,停止など制御される。Reference numeral 5 is a holding and fixing means in the Y direction (direction orthogonal to the X direction) for holding and fixing the opposite side surfaces of the other set of the semiconductor chip 2, and the holding and fixing means 5 in the Y direction positions the movable positioning member 51. The stage 3 or a frame of a die bonding apparatus is mounted so as to be capable of reciprocating in the Y direction, and a chuck claw 510 is provided at the tip of the movable positioning member 51 so as to project in the Y direction. On the other hand, the fixed positioning member 52 is fixed to the positioning stage 3 or the frame of the die bonding apparatus, and the chuck claw 520 is attached to the tip of the fixed positioning member 52.
Is provided so as to face the chuck claws 510 of the movable positioning member 51 with the positioning stage 3 interposed therebetween. Movable positioning member 5
The tension spring 53 is interposed between the 1 and the positioning stage 3,
The movable positioning member 51 is constantly urged in the protruding direction of the chuck claw 510. A cylinder 54 is mounted on the positioning stage 3, and a piston rod 540 of the cylinder 54 is fixed to the movable positioning member 51 by penetrating the positioning stage 3.
The cylinder 54 is linked to a detector (not shown) such as a photo sensor via a controller (not shown). As a result, the cylinder 54 is controlled by the control device by the detection signal from the detector, such as forward, backward, and stop.
上述のX方向の保持固定手段4のチャック爪410,420
およびY方向の保持固定手段5のチャック爪510,520
は、幅が半導体チップ2の各側面の長さより若干小さ
く、かつ厚さが半導体チップ2の厚さより薄く、しかも
半導体チップ2の側面の内平滑な平面の中央付近と対向
するように構成されている。Chuck claws 410, 420 of the X-direction holding and fixing means 4 described above.
And chuck claws 510 and 520 of the holding and fixing means 5 in the Y direction
Has a width slightly smaller than the length of each side surface of the semiconductor chip 2, a thickness smaller than the thickness of the semiconductor chip 2, and is configured to face the vicinity of the center of a smooth flat surface of the side surface of the semiconductor chip 2. There is.
また、上述のX方向の保持固定手段4およびY方向の
保持固定手段5のチャック力および位置決め位置は、制
御装置の調整により変更可能である。Further, the chucking force and the positioning position of the X-direction holding and fixing means 4 and the Y-direction holding and fixing means 5 can be changed by adjusting the control device.
図中、6は半導体チップ2がダイボンドされる部材、
7はダイボンド時にパターン認識を行う顕微鏡である。
なお、上述のX方向の保持固定手段4又はダイボンドさ
れる部材6は、図面では省略したが、補正用XYθステー
ジ上に搭載されている。In the figure, 6 is a member to which the semiconductor chip 2 is die-bonded,
Reference numeral 7 is a microscope for pattern recognition during die bonding.
Although not shown in the drawing, the holding and fixing means 4 in the X direction or the member 6 to be die-bonded are mounted on the correcting XYθ stage.
この実施例における本発明のダイボンディング装置
は、以上の如き構成よりなり、以下その操作について説
明する。The die bonding apparatus of the present invention in this embodiment has the above-mentioned configuration, and its operation will be described below.
まず、位置決めステージ3上にダイシングされた半導
体チップ2が搬送されると、シリンダ54が作動して可動
位置決め部材51がY方向に移動し、この可動位置決め部
材51および固定位置決め部材52により、半導体チップ2
のY方向の位置決めが完了する。続いて、パルスモータ
43が駆動して可動位置決め部材41がX方向に移動し、半
導体チップ2のX方向の位置決めが完了する。このと
き、X方向の保持固定手段4のチャック爪410,420およ
びY方向の保持固定手段5のチャック爪510,520は、半
導体チップ2の4側面に面接触して半導体チップ2を保
持固定するので、線接触で半導体チップ2を保持固定す
る角錐コレットと比較して、確実に半導体チップ2を保
持固定することができる。従って、±20μm以下の位置
決め精度が得られる。しかも4つのチャック爪410,420,
510,520は、第6図に示すように、半導体チップ2のダ
イシング工程で荒れた稜部22や割れ部24、残部25を避け
て、側面の内平滑な平面の中央付近に接触するので、半
導体チップ2の稜部22に接触する角錐コレットと比較し
てダストの発生が少ない。さらに、チャック爪410,420,
510,520で半導体チップ2を保持固定するので、バキュ
ーム作用で半導体チップ2を保持固定する角錐コレット
のように、ダストが吸引されて半導体チップ2上に多く
付着するような虞れはない。First, when the semiconductor chip 2 diced on the positioning stage 3 is conveyed, the cylinder 54 operates to move the movable positioning member 51 in the Y direction, and the movable positioning member 51 and the fixed positioning member 52 cause the semiconductor chip to move. Two
The positioning in the Y direction is completed. Then, the pulse motor
43 is driven to move the movable positioning member 41 in the X direction, and the positioning of the semiconductor chip 2 in the X direction is completed. At this time, since the chuck claws 410 and 420 of the X-direction holding and fixing means 4 and the chuck claws 510 and 520 of the Y-direction holding and fixing means 5 are in surface contact with the four side surfaces of the semiconductor chip 2 to hold and fix the semiconductor chip 2, line contact. Thus, the semiconductor chip 2 can be securely held and fixed as compared with the pyramid collet that holds and fixes the semiconductor chip 2. Therefore, a positioning accuracy of ± 20 μm or less can be obtained. Moreover, four chuck claws 410, 420,
As shown in FIG. 6, the 510 and 520 contact the vicinity of the center of a smooth flat surface on the side surface of the semiconductor chip 2 while avoiding the ridges 22, the cracks 24, and the remaining portions 25 that are roughened in the dicing process of the semiconductor chip 2. Compared to the pyramid collet that contacts the ridge 22 of No. 2, less dust is generated. In addition, chuck claws 410, 420,
Since the semiconductor chip 2 is held and fixed by 510 and 520, unlike the pyramid collet that holds and fixes the semiconductor chip 2 by the vacuum action, there is no fear that dust will be attracted and adhere to the semiconductor chip 2 in large amounts.
上述のようにしてX方向及びY方向の位置決めが完了
すると、Y方向の保持固定手段5の保持固定が解除さ
れ、X方向の保持固定手段4が半導体チップ2を保持固
定したままの状態で、X方向の保持固定手段4と共に半
導体チップ2が位置決めステージ3からダイボンドステ
ージに搬送される。このダイボンドステージにおいて、
半導体チップ2が部材6にダイボンドされる。このと
き、X方向の保持固定手段4のチャック爪410,420は半
導体チップ2の側面から保持固定するので、半導体チッ
プ2はX方向の保持固定手段4の下に入って隠れるよう
なことがない。このために、ダイボンド時に顕微鏡7な
どで半導体チップ2の位置決め状態をパターン認識する
ことができる。従って、パターン認識を行って補正用XY
θテーブルを可動させることにより、さらに位置決め精
度を±5μm以下と向上させることができる。When the positioning in the X direction and the Y direction is completed as described above, the holding and fixing means 5 in the Y direction is released, and the holding and fixing means 4 in the X direction holds and fixes the semiconductor chip 2, The semiconductor chip 2 is conveyed from the positioning stage 3 to the die bond stage together with the holding and fixing means 4 in the X direction. In this die bond stage,
The semiconductor chip 2 is die-bonded to the member 6. At this time, since the chuck claws 410 and 420 of the holding and fixing means 4 in the X direction are held and fixed from the side surface of the semiconductor chip 2, the semiconductor chip 2 is not hidden under the holding and fixing means 4 in the X direction. Therefore, the pattern of the positioning state of the semiconductor chip 2 can be recognized by the microscope 7 or the like during die bonding. Therefore, the pattern is recognized and the correction XY
By moving the θ table, the positioning accuracy can be further improved to ± 5 μm or less.
第3図はチャック爪の変形側を示した一部平面図、第
4図は第3図におけるIV矢視図である。FIG. 3 is a partial plan view showing the deformed side of the chuck claw, and FIG. 4 is a view on arrow IV in FIG.
この例のチャック爪411,421,511,521は、先端に小突
起412,422,512,522を突設し、半導体チップ2との接触
面を小さくしたので、ダストの発生をさらに抑制するこ
とができる。The chuck claws 411, 421, 511, 521 of this example have small projections 412, 422, 512, 522 projecting from their tips and the contact surface with the semiconductor chip 2 is made small, so that the generation of dust can be further suppressed.
以上から明らかなように、本発明のダイボンディング
装置は、保持固定手段を半導体チップの一組の対向する
側面及び他の一組の対向する側面に接触するチャック爪
から構成したものであるから、下記の作用効果を達成す
ることができる。As is clear from the above, the die-bonding device of the present invention is configured so that the holding and fixing means is composed of chuck claws that come into contact with one set of opposite side surfaces of the semiconductor chip and another set of opposite side surfaces. The following operational effects can be achieved.
(1)2対のチャック爪が半導体チップの二組の対向す
る側面と各々面接触で接触するので、半導体チップを確
実に保持固定することができる。従って、位置決め精度
を向上させることができる。(1) Since the two pairs of chuck claws are in surface contact with the two opposing side surfaces of the semiconductor chip, the semiconductor chip can be securely held and fixed. Therefore, the positioning accuracy can be improved.
(2)半導体チップを側面から保持固定するので、半導
体チップが保持固定手段に隠れず、ダイボンド位置で半
導体チップの位置決め状態をパターン認識することがで
きる。従って、さらに位置決め精度を向上させることが
できる。(2) Since the semiconductor chip is held and fixed from the side surface, the semiconductor chip is not hidden by the holding and fixing means, and the positioning state of the semiconductor chip can be pattern-recognized at the die bond position. Therefore, the positioning accuracy can be further improved.
(3)チャック爪は半導体の側面を保持固定し、しかも
角部以外で接触するので、半導体チップのダイシング工
程で荒れた稜部や割れ部、残部を避けて半導体チップを
保持固定することができる。従って、ダストの発生が少
ない。しかも、ダストの半導体チップ上面への付着も少
ない。(3) Since the chuck claw holds and fixes the side surface of the semiconductor and is in contact with other than the corners, the semiconductor chip can be held and fixed while avoiding rough edges, cracks, and remaining portions in the dicing process of the semiconductor chip. . Therefore, less dust is generated. Moreover, dust is less likely to adhere to the upper surface of the semiconductor chip.
第1図は本発明のダイボンディング装置の一実施例を示
した斜視図、第2図はダイボンド状態を示した側面図、
第3図はチャック爪の変形例を示した平面図、第4図は
第3図におけるIV矢視図、第5図は半導体チップの拡大
側面図、第6図は半導体チップを本発明のダイボンディ
ング装置のチャック爪と従来の角錐コレットとにより保
持固定された状態の説明図、第7図は従来例の角錐コレ
ットを示した断面図である。 2……半導体チップ、3……位置決めステージ、4……
X方向の保持固定手段、5……Y方向の保持固定手段、
410,420,510,520……チャック爪、6……ダイボンドさ
れる部材、7……顕微鏡。FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of the die bonding apparatus of the present invention, and FIG. 2 is a side view showing a die bonding state,
FIG. 3 is a plan view showing a modified example of the chuck claw, FIG. 4 is a view taken in the direction of arrow IV in FIG. 3, FIG. 5 is an enlarged side view of a semiconductor chip, and FIG. FIG. 7 is an explanatory view of a state in which the chuck claw of the bonding apparatus and a conventional pyramid collet are held and fixed, and FIG. 7 is a sectional view showing a pyramid collet of a conventional example. 2 ... Semiconductor chip, 3 ... Positioning stage, 4 ...
X-direction holding and fixing means, 5 ... Y-direction holding and fixing means,
410, 420, 510, 520 ... Chuck claw, 6 ... Die-bonded member, 7 ... Microscope.
Claims (1)
ダイボンディング装置において、 上記の保持固定する手段は上記半導体チップの一組の対
向する側面に接触してこれを挟持する1対のチャック爪
と、他の一組の対向する側面に接触してこれを挟持する
1対のチャック爪とを備え、各チャック爪は半導体チッ
プの角部以外の部分に接触して該半導体チップを挟持す
る構成に形成されたことを特徴とするダイボンディング
装置。1. A die bonding apparatus having means for holding and fixing a semiconductor chip, wherein the means for holding and fixing comprises a pair of chuck claws for contacting and sandwiching a pair of opposed side surfaces of the semiconductor chip. A pair of chuck claws that come into contact with and sandwich the other pair of side faces, each chuck claw contacting a portion other than a corner of the semiconductor chip to sandwich the semiconductor chip. A die bonding device characterized by being formed.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61130855A JPH088267B2 (en) | 1986-06-05 | 1986-06-05 | Die bonding equipment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61130855A JPH088267B2 (en) | 1986-06-05 | 1986-06-05 | Die bonding equipment |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62286237A JPS62286237A (en) | 1987-12-12 |
JPH088267B2 true JPH088267B2 (en) | 1996-01-29 |
Family
ID=15044269
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61130855A Expired - Fee Related JPH088267B2 (en) | 1986-06-05 | 1986-06-05 | Die bonding equipment |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH088267B2 (en) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2911039B2 (en) * | 1989-03-01 | 1999-06-23 | コニカ株式会社 | Thermal transfer recording medium |
JP6052862B2 (en) * | 2012-09-26 | 2016-12-27 | Necエンジニアリング株式会社 | Semiconductor mounting apparatus and bare chip transfer unit |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60163747U (en) * | 1985-03-26 | 1985-10-30 | セイコーエプソン株式会社 | IC chip pick-up device |
-
1986
- 1986-06-05 JP JP61130855A patent/JPH088267B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS62286237A (en) | 1987-12-12 |
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Legal Events
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |