JPH08214177A - 光電変換装置 - Google Patents
光電変換装置Info
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- JPH08214177A JPH08214177A JP7015341A JP1534195A JPH08214177A JP H08214177 A JPH08214177 A JP H08214177A JP 7015341 A JP7015341 A JP 7015341A JP 1534195 A JP1534195 A JP 1534195A JP H08214177 A JPH08214177 A JP H08214177A
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Landscapes
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 リセット時間が1H期間以上を要するセンサ
においても、動画撮影を行えることを可能とする。 【構成】 光電変換素子を二次元的に配列した動画撮影
用光電変換装置において、各々の水平駆動線を2H期間
以上駆動させる駆動手段を備えたことを特徴とする。ま
た、2H期間以上駆動させる駆動手段が、1H毎に駆動
パルスを発生させる走査回路と、そのパルスを任意の期
間ラッチするラッチ回路であることを特徴とする。さら
に、2H期間以上駆動させる前記駆動手段が2H毎に駆
動パルスを発生させる走査回路を2つ有することを特徴
とする。
においても、動画撮影を行えることを可能とする。 【構成】 光電変換素子を二次元的に配列した動画撮影
用光電変換装置において、各々の水平駆動線を2H期間
以上駆動させる駆動手段を備えたことを特徴とする。ま
た、2H期間以上駆動させる駆動手段が、1H毎に駆動
パルスを発生させる走査回路と、そのパルスを任意の期
間ラッチするラッチ回路であることを特徴とする。さら
に、2H期間以上駆動させる前記駆動手段が2H毎に駆
動パルスを発生させる走査回路を2つ有することを特徴
とする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光電変換画素を二次元
に配列し、水平列の画素毎に読み出し動作、リセット動
作を行う光電変換装置に関し、特に増幅型光電変換装置
に関する。
に配列し、水平列の画素毎に読み出し動作、リセット動
作を行う光電変換装置に関し、特に増幅型光電変換装置
に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、光電変換画素を一次元に配列して
ラインセンサを構成し、二次元に配列してエリアセンサ
を構成して、それぞれ各光電変換画素から画像信号を得
ている。ここで、二次元に配列した光電変換画素の画像
読み出しの一例として、3値レベル駆動型の光電変換素
子を例にして説明する。この種の光電変換素子について
は、特開昭63−186466号公報、特願昭62−1
7150号公報に詳細に開示されている。
ラインセンサを構成し、二次元に配列してエリアセンサ
を構成して、それぞれ各光電変換画素から画像信号を得
ている。ここで、二次元に配列した光電変換画素の画像
読み出しの一例として、3値レベル駆動型の光電変換素
子を例にして説明する。この種の光電変換素子について
は、特開昭63−186466号公報、特願昭62−1
7150号公報に詳細に開示されている。
【0003】まず、上記光電変換素子について、図8の
光電変換素子の概略的断面図を参照しつつ説明する。図
において、n型シリコン基板1上に複数の光電変換素子
S1〜S3… が形成されており、エピタキシャル技術等
で形成される不純物濃度の低いn- 領域2上には、pタ
イプの不純物をドーピングすることでp領域3が形成さ
れ、p領域3には不純物拡散技術またはイオン注入技術
等によってn+ 領域4が形成されている。p領域3およ
びn+ 領域4は、各々バイポーラトランジスタのベース
およびエミッタである。
光電変換素子の概略的断面図を参照しつつ説明する。図
において、n型シリコン基板1上に複数の光電変換素子
S1〜S3… が形成されており、エピタキシャル技術等
で形成される不純物濃度の低いn- 領域2上には、pタ
イプの不純物をドーピングすることでp領域3が形成さ
れ、p領域3には不純物拡散技術またはイオン注入技術
等によってn+ 領域4が形成されている。p領域3およ
びn+ 領域4は、各々バイポーラトランジスタのベース
およびエミッタである。
【0004】このように各領域で形成されたn- 領域2
上には、また酸化膜5が形成され、酸化膜5上に各pベ
ース領域3およびそれぞれ隣接するpベース領域3間に
またがって所定の面積を有するキャパシタ電極6が形成
されている。このpベース領域3上のキャパシタ電極6
は、pベース領域3と対向してベース電位を制御するた
めのキャパシタCoxを構成し、隣接するベース間のキャ
パシタ電極6は、その隣接するpベース領域3を各々ソ
ース・ドレイン領域とするpMOSトランジスタTrの
ゲート電極となっている。したがって、キャパシタ電極
6とpMOSトランジスタTrのゲート電極とが接続さ
れた構成となっている。
上には、また酸化膜5が形成され、酸化膜5上に各pベ
ース領域3およびそれぞれ隣接するpベース領域3間に
またがって所定の面積を有するキャパシタ電極6が形成
されている。このpベース領域3上のキャパシタ電極6
は、pベース領域3と対向してベース電位を制御するた
めのキャパシタCoxを構成し、隣接するベース間のキャ
パシタ電極6は、その隣接するpベース領域3を各々ソ
ース・ドレイン領域とするpMOSトランジスタTrの
ゲート電極となっている。したがって、キャパシタ電極
6とpMOSトランジスタTrのゲート電極とが接続さ
れた構成となっている。
【0005】pMOSトランジスタTrはpチャネル型
かつノーマリオフ型であり、キャパシタ電極6の電位が
接地電位または正電位であればオフ状態である。したが
って、隣接素子間のpベース領域は電気的に分離された
状態となり、素子分離領域を形成する必要がないのでそ
れだけ素子の微細化に有利となる。
かつノーマリオフ型であり、キャパシタ電極6の電位が
接地電位または正電位であればオフ状態である。したが
って、隣接素子間のpベース領域は電気的に分離された
状態となり、素子分離領域を形成する必要がないのでそ
れだけ素子の微細化に有利となる。
【0006】逆に、キャパシタ電極6がしきい値電位V
thを超える負電位であると、pMOSトランジスタTr
はオン状態となり、各素子のpベース領域3が相互に導
通した状態となる。
thを超える負電位であると、pMOSトランジスタTr
はオン状態となり、各素子のpベース領域3が相互に導
通した状態となる。
【0007】その他に、n+ エミッタ領域4に接続され
たエミッタ電極7、保護膜8、基板1の裏面に不純物濃
度の高いn+ 領域9、およびバイポーラトランジスタの
コレクタに電位を与えるためのコレクタ電極10がそれ
ぞれ形成されている。
たエミッタ電極7、保護膜8、基板1の裏面に不純物濃
度の高いn+ 領域9、およびバイポーラトランジスタの
コレクタに電位を与えるためのコレクタ電極10がそれ
ぞれ形成されている。
【0008】図9は、上記図8の光電変換素子の等価回
路図で、図中の破線で囲まれた部分が1個の光電変換素
子S1 〜S3…の等価回路である。図9において、各光
電変換素子S1 〜S3… のキャパシタ電極6は端子20
に共通接続され、端子20には3値パルスφdが入力さ
れる。
路図で、図中の破線で囲まれた部分が1個の光電変換素
子S1 〜S3…の等価回路である。図9において、各光
電変換素子S1 〜S3… のキャパシタ電極6は端子20
に共通接続され、端子20には3値パルスφdが入力さ
れる。
【0009】また、各光電変換素子S1 〜S3…Snのp
MOSトランジスタTrは直列接続された状態であり、
末端素子S1 およびSn のpベース領域3には、更に一
定距離をおいて各々pベース領域(図示せず)が形成さ
れ、素子Sn の側にはpチャネル型かつノーマリオフ型
pのMOSトランジスタQx が形成されている。
MOSトランジスタTrは直列接続された状態であり、
末端素子S1 およびSn のpベース領域3には、更に一
定距離をおいて各々pベース領域(図示せず)が形成さ
れ、素子Sn の側にはpチャネル型かつノーマリオフ型
pのMOSトランジスタQx が形成されている。
【0010】pMOSトランジスタQx のゲート電極に
はキャパシタ電極6と同様の3値パルスφdが入力さ
れ、その図示されていないpベース領域であるソース又
はドレインは一定電位Vc に固定されている。また、素
子S1 のpMOSトランジスタTrの図示されていない
pベース領域であるソース又はドレインも一定電位Vc
に固定されている。
はキャパシタ電極6と同様の3値パルスφdが入力さ
れ、その図示されていないpベース領域であるソース又
はドレインは一定電位Vc に固定されている。また、素
子S1 のpMOSトランジスタTrの図示されていない
pベース領域であるソース又はドレインも一定電位Vc
に固定されている。
【0011】したがって、すべてのpMOSトランジス
タTrおよびQx がオン状態になることで、各素子のp
ベース領域3の電位を一定電位Vc に設定することがで
きる。また、オフ状態であれば、各光電変換素子は電気
的に分離された状態となる。
タTrおよびQx がオン状態になることで、各素子のp
ベース領域3の電位を一定電位Vc に設定することがで
きる。また、オフ状態であれば、各光電変換素子は電気
的に分離された状態となる。
【0012】各素子のn+ エミッタ領域4に接続された
エミッタ電極7はリセット用トランジスタQb1 〜Q3
…Qbn を介して接地され、トランジスタQb1 〜Qb
n のゲート電極は共通接続され、リセットパルスφrが
入力される。なお、バイポーラトランジスタのコレクタ
電極10には正電圧Vccが印加されている。
エミッタ電極7はリセット用トランジスタQb1 〜Q3
…Qbn を介して接地され、トランジスタQb1 〜Qb
n のゲート電極は共通接続され、リセットパルスφrが
入力される。なお、バイポーラトランジスタのコレクタ
電極10には正電圧Vccが印加されている。
【0013】図10は、このような光電変換素子を用い
た従来の固体撮像装置の概略的回路図である。図10の
この装置は、図9に示す光電変換素子S1〜S3…Sn を
m水平ライン重ねた構成を有するm×nエリアセンサで
ある。ただし、各ラインは図8に示す構造を有するが、
ライン間は通常の素子分離領域を形成して電気的に分離
している。
た従来の固体撮像装置の概略的回路図である。図10の
この装置は、図9に示す光電変換素子S1〜S3…Sn を
m水平ライン重ねた構成を有するm×nエリアセンサで
ある。ただし、各ラインは図8に示す構造を有するが、
ライン間は通常の素子分離領域を形成して電気的に分離
している。
【0014】各ラインにおける素子のキャパシタ電極6
は各水平ラインHL1 〜HLn にそれぞれ共通接続さ
れ、それぞれn型MOSトランジスタのスイッチSW1
〜SWn を介して端子20に接続されている。また端子
20には3値レベル駆動用の3値パルスφdが入力され
る。
は各水平ラインHL1 〜HLn にそれぞれ共通接続さ
れ、それぞれn型MOSトランジスタのスイッチSW1
〜SWn を介して端子20に接続されている。また端子
20には3値レベル駆動用の3値パルスφdが入力され
る。
【0015】スイッチSW1 〜SWn は、nMOSトラ
ンジスタで構成されるアナログスイッチであり、そのゲ
ート端子には垂直走査回路21の出力端子が接続され、
その出力パルスφv1 〜φvm によって制御される。
ンジスタで構成されるアナログスイッチであり、そのゲ
ート端子には垂直走査回路21の出力端子が接続され、
その出力パルスφv1 〜φvm によって制御される。
【0016】各素子のエミッタ電極7は列ごとに各垂直
ラインVL1 〜VLn に接続されている。垂直ラインV
L1 〜VLn はリセット用トランジスタQb1 〜Qbn
を介して接地され、トランジスタQb1 〜Qbn のゲー
ト電極にはリセットパルスφrが入力される。
ラインVL1 〜VLn に接続されている。垂直ラインV
L1 〜VLn はリセット用トランジスタQb1 〜Qbn
を介して接地され、トランジスタQb1 〜Qbn のゲー
ト電極にはリセットパルスφrが入力される。
【0017】また、各垂直ラインVL1 〜VLn は、n
MOSトランジスタQa1 〜Qanを介して各々蓄積用
キャパシタC1 〜Cn に接続され、更にキャパシタC1
〜Cn はnMOSトランジスタQ1 〜Qn を介して出力
ライン22に接続されている。
MOSトランジスタQa1 〜Qanを介して各々蓄積用
キャパシタC1 〜Cn に接続され、更にキャパシタC1
〜Cn はnMOSトランジスタQ1 〜Qn を介して出力
ライン22に接続されている。
【0018】nMOSトランジスタQa1 〜Qan のゲ
ート電極には各画素の蓄積キャリアを蓄積用キャパシタ
C1 〜Cn に転送する転送パルスφtが共通に入力さ
れ、nMOSトランジスタQ1 〜Qn のゲート電極には
水平走査回路23から水平パルスφh1 〜φhn が各々
入力される。
ート電極には各画素の蓄積キャリアを蓄積用キャパシタ
C1 〜Cn に転送する転送パルスφtが共通に入力さ
れ、nMOSトランジスタQ1 〜Qn のゲート電極には
水平走査回路23から水平パルスφh1 〜φhn が各々
入力される。
【0019】出力ライン22はnMOSトランジスタQ
rhを介して接地されるとともに、アンプ24の入力端子
に接続されている。nMOSトランジスタQrhのゲート
電極には出力ライン22のリセットパルスφrhが入力さ
れる。
rhを介して接地されるとともに、アンプ24の入力端子
に接続されている。nMOSトランジスタQrhのゲート
電極には出力ライン22のリセットパルスφrhが入力さ
れる。
【0020】なお、各光電変換素子S11〜Smnのベース
電位を設定するための一定電位Vcは、接地電位とす
る。
電位を設定するための一定電位Vcは、接地電位とす
る。
【0021】次に、図10の固体撮像装置の動作を、図
11のタイミングチャートを参照しつつ説明する。
11のタイミングチャートを参照しつつ説明する。
【0022】まず、時刻t1で、垂直走査回路21の垂
直パルスφv1のみをハイレベルにしてスイッチSW1
をオン状態とする。また、時刻t2で、転送パルスφt
をハイレベルにしてトランジスタQa1 〜Qan をオン
状態とする。
直パルスφv1のみをハイレベルにしてスイッチSW1
をオン状態とする。また、時刻t2で、転送パルスφt
をハイレベルにしてトランジスタQa1 〜Qan をオン
状態とする。
【0023】次に、時刻t3で、3値パルスφdを期間
T1 だけ正電位にすると、スイッチSW1 を通して第1
ラインの素子S11〜S1nの電極6に正電圧が印加され
る。これによりnpnトランジスタがオンしてpベース
領域3の光子電荷がエミッタを介して第1ラインHL1
の読出し動作が行われ、第1ラインHL1の読出し信号
が水平ラインVL1 〜VLn およびトランジスタQa1
〜Qan を通してキャパシタC1 〜Cn に各々pべーす
領域3に蓄積されている電荷が転送される。
T1 だけ正電位にすると、スイッチSW1 を通して第1
ラインの素子S11〜S1nの電極6に正電圧が印加され
る。これによりnpnトランジスタがオンしてpベース
領域3の光子電荷がエミッタを介して第1ラインHL1
の読出し動作が行われ、第1ラインHL1の読出し信号
が水平ラインVL1 〜VLn およびトランジスタQa1
〜Qan を通してキャパシタC1 〜Cn に各々pべーす
領域3に蓄積されている電荷が転送される。
【0024】次に、時刻t4で、転送パルスφtがロー
レベルとなりトランジスタQa1 〜Qan がオフ状態と
なる。そして、時刻t5で、水平走査回路21からパル
スφh1 〜φhn が順次出力され、それに従ってキャパ
シタC1 〜Cn に蓄積された読出し信号がpMOSトラ
ンジスタQ1 〜Qn を介して順次出力ライン22へ取り
出され、アンプ24を通して出力信号Vout として外部
へ各画素のデータをシリアルに出力される。なお、時刻
t5の後時刻t6で、各読出し信号が出力される毎に水平
リセットパルスφrhが立上がり、nMOSトランジスタ
Qrhをオンして、出力ライン22の残留キャリアを除去
する。
レベルとなりトランジスタQa1 〜Qan がオフ状態と
なる。そして、時刻t5で、水平走査回路21からパル
スφh1 〜φhn が順次出力され、それに従ってキャパ
シタC1 〜Cn に蓄積された読出し信号がpMOSトラ
ンジスタQ1 〜Qn を介して順次出力ライン22へ取り
出され、アンプ24を通して出力信号Vout として外部
へ各画素のデータをシリアルに出力される。なお、時刻
t5の後時刻t6で、各読出し信号が出力される毎に水平
リセットパルスφrhが立上がり、nMOSトランジスタ
Qrhをオンして、出力ライン22の残留キャリアを除去
する。
【0025】この画像信号出力動作と平行して、時刻t
6で、リセットパルスφrをハイレベルにしてトランジ
スタQb1 〜Qbn をオンとし、垂直ラインVL1 〜V
Lnを接地して垂直ライン上の残留電荷をリセットする
(第2リセット)。
6で、リセットパルスφrをハイレベルにしてトランジ
スタQb1 〜Qbn をオンとし、垂直ラインVL1 〜V
Lnを接地して垂直ライン上の残留電荷をリセットする
(第2リセット)。
【0026】また、時刻t7から、3値パルスφdを期
間T2 で負電位として、第1ラインのpMOSトランジ
スタTrをオン状態とする(第1リセット)。この第1
リセット時間は(水平画素数)2 に比例し、通常50μ
s程度必要とする。
間T2 で負電位として、第1ラインのpMOSトランジ
スタTrをオン状態とする(第1リセット)。この第1
リセット時間は(水平画素数)2 に比例し、通常50μ
s程度必要とする。
【0027】これによって、すでに述べたように各光電
変換素子S11〜S1nのpベース領域3の電位は、接地電
位Vc に均一に設定され、さらに期間T3 およびT4 の
リフレッシュ動作により初期の中電位に復帰し、期間T
4にnpnトランジスタをオンしてpベース領域の電荷
をエミッタを介して接地し、時刻t8で、3値パルスφ
dが中電位となって、蓄積動作を開始する。
変換素子S11〜S1nのpベース領域3の電位は、接地電
位Vc に均一に設定され、さらに期間T3 およびT4 の
リフレッシュ動作により初期の中電位に復帰し、期間T
4にnpnトランジスタをオンしてpベース領域の電荷
をエミッタを介して接地し、時刻t8で、3値パルスφ
dが中電位となって、蓄積動作を開始する。
【0028】こうして第1ラインの動作が終了すると、
時刻t9で、垂直パルスφv1が立下がり、スイッチSW
1 をオフ状態とする。続いて、転送パルスφtが立上が
りトランジスタQa1 〜Qan をオン状態とする。これ
によって、キャパシタC1〜Cn に残留しているキャリ
アを垂直ラインVL1 〜VLn およびトランジスタQb
1 〜Qbn を通して除去する。時刻t10で、リセットパ
ルスφrが立ち下がり、第1ラインにおける動作が終結
し、時刻t11で、第2水平ラインを活性化する水平パル
スφv2がハイレベルとなって、第2水平ラインの電荷が
読み出される。
時刻t9で、垂直パルスφv1が立下がり、スイッチSW
1 をオフ状態とする。続いて、転送パルスφtが立上が
りトランジスタQa1 〜Qan をオン状態とする。これ
によって、キャパシタC1〜Cn に残留しているキャリ
アを垂直ラインVL1 〜VLn およびトランジスタQb
1 〜Qbn を通して除去する。時刻t10で、リセットパ
ルスφrが立ち下がり、第1ラインにおける動作が終結
し、時刻t11で、第2水平ラインを活性化する水平パル
スφv2がハイレベルとなって、第2水平ラインの電荷が
読み出される。
【0029】以下、同様の動作を水平ライン毎に行い、
第2〜第m水平ラインの読出し信号を順次出力する。な
お、1水平走査期間は時刻t1から時刻t11まで期間を
いい、以下1Hと表現する。
第2〜第m水平ラインの読出し信号を順次出力する。な
お、1水平走査期間は時刻t1から時刻t11まで期間を
いい、以下1Hと表現する。
【0030】このように、3値レベルの3値パルスφd
により駆動される光電変換素子S11〜S1nを用いれば、
期間T2 において各ラインの素子のベース電位が一定電
位に設定され、その後、期間T3 およびT4 においてリ
フレッシュ動作が行われるために、残像特性が良好で、
光電変換特性の線形性の良い固体撮像装置を得ることが
できる。しかも、水平ライン方向に素子分離領域を必要
としないため、素子の微細化に適し、高解像度化に容易
に対応できる固体撮像装置を得ることができる。
により駆動される光電変換素子S11〜S1nを用いれば、
期間T2 において各ラインの素子のベース電位が一定電
位に設定され、その後、期間T3 およびT4 においてリ
フレッシュ動作が行われるために、残像特性が良好で、
光電変換特性の線形性の良い固体撮像装置を得ることが
できる。しかも、水平ライン方向に素子分離領域を必要
としないため、素子の微細化に適し、高解像度化に容易
に対応できる固体撮像装置を得ることができる。
【0031】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来例では同一水平ライン画素の信号読み出し、転送、リ
セットを1H期間(NTSC方式において63.5μ
s)内に行わなければならないので、エリアセンサの画
素数が増えると、リセットが1H期間内に終了しない
(例えば水平画素数が1560画素あるとリセット時間
は約100μs程度必要となる)といった欠点があり、
画素数が増えると、特に動画撮影が困難となっていた。
来例では同一水平ライン画素の信号読み出し、転送、リ
セットを1H期間(NTSC方式において63.5μ
s)内に行わなければならないので、エリアセンサの画
素数が増えると、リセットが1H期間内に終了しない
(例えば水平画素数が1560画素あるとリセット時間
は約100μs程度必要となる)といった欠点があり、
画素数が増えると、特に動画撮影が困難となっていた。
【0032】本出願に係る第1の発明の目的は、リセッ
ト時間が1H期間以上を要するセンサにおいても、動画
撮影を行えることを目的とする。
ト時間が1H期間以上を要するセンサにおいても、動画
撮影を行えることを目的とする。
【0033】
【課題を解決するための手段および作用】上記目的を達
成するため、本出願に係る第1の発明は水平ライン上の
画素を1H期間毎に読み出す手段と、リセットを2H期
間以上行なうリセット手段を設けたことを特徴とする。
ここで、読み出す手段や転送、リセット手段を含んだ手
段を駆動手段として示す。
成するため、本出願に係る第1の発明は水平ライン上の
画素を1H期間毎に読み出す手段と、リセットを2H期
間以上行なうリセット手段を設けたことを特徴とする。
ここで、読み出す手段や転送、リセット手段を含んだ手
段を駆動手段として示す。
【0034】以上の手段としては、1H期間毎にパルス
を発生させる垂直走査回路と、そのパルスをラッチする
ラッチ回路を設けることや、2H期間毎にパルスを発生
させる垂直走査回路を2組設けることで実現できる。
を発生させる垂直走査回路と、そのパルスをラッチする
ラッチ回路を設けることや、2H期間毎にパルスを発生
させる垂直走査回路を2組設けることで実現できる。
【0035】本発明では、従来と異なり2H期間水平画
素を駆動できるため、画素数が増えてもリセット時間が
不足することがなくなる。読み出した水平ラインのリセ
ット中に、次の水平ラインの読み出しを行うため、出力
はTV動作(NTSC、PAL等)フォーマットでも容
易に対応できる。
素を駆動できるため、画素数が増えてもリセット時間が
不足することがなくなる。読み出した水平ラインのリセ
ット中に、次の水平ラインの読み出しを行うため、出力
はTV動作(NTSC、PAL等)フォーマットでも容
易に対応できる。
【0036】
(1)実施例1 図1は、本発明による一実施例を示す光電変換装置の回
路図である。図において、20,25は各光電変換画素
の動作を制御するために供給する3値電圧の3値パルス
端子、21は各水平出力のための水平駆動線を走査する
垂直走査回路、22は蓄積電荷を順次出力する出力線、
23は各垂直出力線を走査する水平走査回路、24は出
力線22の信号を増幅する出力アンプ、26は光電変換
素子をリセットするリセット用pMOSトランジスタ、
27は光電変換素子であるnpnフォトトランジスタ、
28はnpnフォトトランジスタのベース電位を制御す
る容量Cox、VL1〜VLn は垂直出力線、HL1〜HL
n は水平駆動線、29は垂直走査回路21の信号をラッ
チするラッチ回路である。SWa1〜SWanは出力信号を
蓄積容量C1〜Cn へ転送するための転送スイッチ、S
Wb1〜SWbn は蓄積容量C1〜Cnから出力線22を介
して外部へ信号を転送するための水平転送スイッチ、S
Wc1〜SW1nは垂直出力線VL1〜VLn を接地してリ
セットするためのリセットスイッチ、SWd1〜SWdnは
水平駆動線HL1〜HLnを選択する水平選択スイッチで
ある。
路図である。図において、20,25は各光電変換画素
の動作を制御するために供給する3値電圧の3値パルス
端子、21は各水平出力のための水平駆動線を走査する
垂直走査回路、22は蓄積電荷を順次出力する出力線、
23は各垂直出力線を走査する水平走査回路、24は出
力線22の信号を増幅する出力アンプ、26は光電変換
素子をリセットするリセット用pMOSトランジスタ、
27は光電変換素子であるnpnフォトトランジスタ、
28はnpnフォトトランジスタのベース電位を制御す
る容量Cox、VL1〜VLn は垂直出力線、HL1〜HL
n は水平駆動線、29は垂直走査回路21の信号をラッ
チするラッチ回路である。SWa1〜SWanは出力信号を
蓄積容量C1〜Cn へ転送するための転送スイッチ、S
Wb1〜SWbn は蓄積容量C1〜Cnから出力線22を介
して外部へ信号を転送するための水平転送スイッチ、S
Wc1〜SW1nは垂直出力線VL1〜VLn を接地してリ
セットするためのリセットスイッチ、SWd1〜SWdnは
水平駆動線HL1〜HLnを選択する水平選択スイッチで
ある。
【0037】各ラインにおける光電変換素子の電極6は
各水平ラインHL1 〜HLnのそれぞれに共通接続さ
れ、それぞれ水平選択スイッチSWd1〜SWdnを介し
て、奇数水平ラインは3値パルス端子20に、偶数水平
ラインは3値パルス端子25に接続されている。また、
3値パルス端子20には奇数3値パルスφR1が入力し、
3値パルス端子25には偶数3値パルスφR2が入力す
る。水平選択スイッチSWd1〜SWdnのゲート端子には
ラッチ回路29の出力端子が接続され、そのラッチ回路
29の出力パルスφV'1〜φV'nによって制御される。奇
数水平ラインのラッチ回路29には奇数制御パルスφL1
が入力し、奇数制御パルスφL1によって垂直走査回路
21の奇数出力φV(2n-1)をラッチする。偶数水平ライ
ンのラッチ回路29には偶数制御パルスφL2が入力し、
偶数制御パルスφL2によって垂直走査回路の偶数出力φ
V(2n)をラッチする。
各水平ラインHL1 〜HLnのそれぞれに共通接続さ
れ、それぞれ水平選択スイッチSWd1〜SWdnを介し
て、奇数水平ラインは3値パルス端子20に、偶数水平
ラインは3値パルス端子25に接続されている。また、
3値パルス端子20には奇数3値パルスφR1が入力し、
3値パルス端子25には偶数3値パルスφR2が入力す
る。水平選択スイッチSWd1〜SWdnのゲート端子には
ラッチ回路29の出力端子が接続され、そのラッチ回路
29の出力パルスφV'1〜φV'nによって制御される。奇
数水平ラインのラッチ回路29には奇数制御パルスφL1
が入力し、奇数制御パルスφL1によって垂直走査回路
21の奇数出力φV(2n-1)をラッチする。偶数水平ライ
ンのラッチ回路29には偶数制御パルスφL2が入力し、
偶数制御パルスφL2によって垂直走査回路の偶数出力φ
V(2n)をラッチする。
【0038】垂直走査回路21は垂直走査パルスφVS
Rs,φVSR1,φVSR2で制御され、垂直走査スタートパル
スφVSRsに正のパルスを入力すると動作を開始する。垂
直走査回路21の出力は垂直走査同期φVSR1のハイレベ
ル期間と同期して、順次出力される。
Rs,φVSR1,φVSR2で制御され、垂直走査スタートパル
スφVSRsに正のパルスを入力すると動作を開始する。垂
直走査回路21の出力は垂直走査同期φVSR1のハイレベ
ル期間と同期して、順次出力される。
【0039】次に図2のタイミングチャートを参照して
動作を説明する。
動作を説明する。
【0040】まず、垂直走査回路21を走査させ、垂直
パルスφV1と奇数制御パルスφL1をハイレベルにして、
スイッチSWd1をオン状態とする。また転送パルスφT
をハイレベルにして、トランジスタSWa1〜SWanをオ
ン状態とする。
パルスφV1と奇数制御パルスφL1をハイレベルにして、
スイッチSWd1をオン状態とする。また転送パルスφT
をハイレベルにして、トランジスタSWa1〜SWanをオ
ン状態とする。
【0041】次に、3値パルスφR1を期間T1 だけハイ
レベルにすると、水平選択スイッチSWd1を通して、第
1ラインの素子S11〜S1nの電極6に正電圧が印加す
る。これにより第1ラインの読み出し動作が行われ、第
1ラインの読み出し信号が垂直ラインVL1 〜VLn お
よびトランジスタSWa1〜SWanを通して蓄積容量C1
〜Cn に各々蓄積される。
レベルにすると、水平選択スイッチSWd1を通して、第
1ラインの素子S11〜S1nの電極6に正電圧が印加す
る。これにより第1ラインの読み出し動作が行われ、第
1ラインの読み出し信号が垂直ラインVL1 〜VLn お
よびトランジスタSWa1〜SWanを通して蓄積容量C1
〜Cn に各々蓄積される。
【0042】次に、転送パルスφTがローレベルとな
り、トランジスタSWa1〜SWanがオフ状態となる。そ
して、水平走査回路21からパルスφh1 〜φhn が順次
出力され、それに従って蓄積容量C1 〜Cn に蓄積され
た読み出し信号が、トランジスタSWb1〜SWbnを介し
て、順次出力ライン22へ取り出され、出力アンプ24
を通して出力信号Vout として外部へシリアルに出力さ
れる。なお、各読み出し信号が出力される毎に水平リセ
ットパルスφrhが立上り、トランジスタQrhをオンして
出力ラインの残留キャリアを除去する。
り、トランジスタSWa1〜SWanがオフ状態となる。そ
して、水平走査回路21からパルスφh1 〜φhn が順次
出力され、それに従って蓄積容量C1 〜Cn に蓄積され
た読み出し信号が、トランジスタSWb1〜SWbnを介し
て、順次出力ライン22へ取り出され、出力アンプ24
を通して出力信号Vout として外部へシリアルに出力さ
れる。なお、各読み出し信号が出力される毎に水平リセ
ットパルスφrhが立上り、トランジスタQrhをオンして
出力ラインの残留キャリアを除去する。
【0043】この信号出力動作と平行して奇数3値パル
スφR1をローレベルにして、第1ラインのpMOSトラ
ンジスタをオン状態とする(第1リセット)。
スφR1をローレベルにして、第1ラインのpMOSトラ
ンジスタをオン状態とする(第1リセット)。
【0044】第1ラインの読み出しが終了し、次の水平
期間には垂直走査回路の垂直パルスφV2がハイレベルと
なる。ここで垂直パルスφV1はローレベルとなるが、第
1ラインのラッチ回路29で、ハイレベルが保持されて
いるので、スイッチSWd1はオン状態が続き、第2ライ
ンの信号読み出し中に、第1ラインの第1リセットを行
うことが可能となる。第2ラインの読み出し動作は偶数
3値パルスφR2によって行われ、第2ラインの信号出力
動作が終了し、ブランキング期間に入ると、第1ライン
のエミッタを接地し、奇数3値パルスφR1をハイレベル
にして第2リセットを行なう。これにより第1ラインの
素子は初期状態に戻り、蓄積動作を開始する。
期間には垂直走査回路の垂直パルスφV2がハイレベルと
なる。ここで垂直パルスφV1はローレベルとなるが、第
1ラインのラッチ回路29で、ハイレベルが保持されて
いるので、スイッチSWd1はオン状態が続き、第2ライ
ンの信号読み出し中に、第1ラインの第1リセットを行
うことが可能となる。第2ラインの読み出し動作は偶数
3値パルスφR2によって行われ、第2ラインの信号出力
動作が終了し、ブランキング期間に入ると、第1ライン
のエミッタを接地し、奇数3値パルスφR1をハイレベル
にして第2リセットを行なう。これにより第1ラインの
素子は初期状態に戻り、蓄積動作を開始する。
【0045】以下同様の動作をライン毎に行い、第3〜
第mラインの読み出し信号を順次出力する。
第mラインの読み出し信号を順次出力する。
【0046】このように、各ラインに垂直走査回路の出
力を保持するラッチ回路29と、2つ以上の3値レベル
パルスφR1、φR2で、各ラインの素子を制御すること
で、2H期間以上かけて、信号読み出し、第1リセッ
ト、第2リセットを行うことが可能となった。又、信号
出力は1H期間毎(NTSC方式において63.5μ
s)に出力されるので、各動画方式(NTSC、PA
L、HD等)に対応したエリアセンサをリセット時間の
制約をうけずに実現することが可能となった。
力を保持するラッチ回路29と、2つ以上の3値レベル
パルスφR1、φR2で、各ラインの素子を制御すること
で、2H期間以上かけて、信号読み出し、第1リセッ
ト、第2リセットを行うことが可能となった。又、信号
出力は1H期間毎(NTSC方式において63.5μ
s)に出力されるので、各動画方式(NTSC、PA
L、HD等)に対応したエリアセンサをリセット時間の
制約をうけずに実現することが可能となった。
【0047】本実施例では増幅型光電変換装置であるB
ASIS(Base Stored Image Sensor )で説明した
が、SITやMOS型の光電変換装置でも実現できる。
又、液晶表示装置などの書き込み方法にも順次走査にラ
ッチ回路を用いて、ラッチ時間に液晶表示素子のリセッ
トを行なうことで、本発明の方法が有効となる。
ASIS(Base Stored Image Sensor )で説明した
が、SITやMOS型の光電変換装置でも実現できる。
又、液晶表示装置などの書き込み方法にも順次走査にラ
ッチ回路を用いて、ラッチ時間に液晶表示素子のリセッ
トを行なうことで、本発明の方法が有効となる。
【0048】(2)実施例2 図3に本発明の実施例2のエリアセンサの概略的回路図
を示す。実施例1ではノンインターレス駆動の回路図を
示したが、本実施例ではインターレス駆動に対応した場
合である。なお、図1と同一符号のものは同等な動作・
作用を行なうものとして、詳細な説明を省略する。
を示す。実施例1ではノンインターレス駆動の回路図を
示したが、本実施例ではインターレス駆動に対応した場
合である。なお、図1と同一符号のものは同等な動作・
作用を行なうものとして、詳細な説明を省略する。
【0049】インターレス駆動の場合、第1ラインの読
み出しを行った後、第3ラインの読み出しを行うため、
第kライン(k=1,2…)と第k+2ライン(k=
1,2…)は別の奇数/偶数3値パルス(φR1,φR2)
で駆動しなければならない。従って、本実施例におい
て、垂直走査回路21からの出力が実施例1と異なって
おり、従って、第1,第2ラインは奇数3値パルスφR1
で駆動を行ない、第3,4ラインは偶数3値パルスφR2
で駆動を行なう回路となっている。
み出しを行った後、第3ラインの読み出しを行うため、
第kライン(k=1,2…)と第k+2ライン(k=
1,2…)は別の奇数/偶数3値パルス(φR1,φR2)
で駆動しなければならない。従って、本実施例におい
て、垂直走査回路21からの出力が実施例1と異なって
おり、従って、第1,第2ラインは奇数3値パルスφR1
で駆動を行ない、第3,4ラインは偶数3値パルスφR2
で駆動を行なう回路となっている。
【0050】従って、上記実施例1で示した場合と比較
して、垂直走査回路からの垂直出力φV1がハイとなって
水平信号を出力した後にすぐ、垂直出力φV3がハイとな
り第3ラインの水平信号を出力するが、その第3ライン
出力期間に第1ラインのリセットが行われ、次に第5ラ
インの出力中に第3ラインがリセットされる。そうし
て、偶数ラインの第2ラインが出力された後第4ライン
が出力されるがその出力中に第2ラインがリセットされ
る。
して、垂直走査回路からの垂直出力φV1がハイとなって
水平信号を出力した後にすぐ、垂直出力φV3がハイとな
り第3ラインの水平信号を出力するが、その第3ライン
出力期間に第1ラインのリセットが行われ、次に第5ラ
インの出力中に第3ラインがリセットされる。そうし
て、偶数ラインの第2ラインが出力された後第4ライン
が出力されるがその出力中に第2ラインがリセットされ
る。
【0051】本実施例において、1フレーム分の画素を
有するエリアセンサの垂直/水平走査について、飛び越
し走査によるインターレス対応のXYアドレス型エリア
センサが可能となった。
有するエリアセンサの垂直/水平走査について、飛び越
し走査によるインターレス対応のXYアドレス型エリア
センサが可能となった。
【0052】(3)実施例3 図4に本発明による実施例3のエリアセンサの概略的回
路図を示す。実施例1、実施例2では水平出力端子は1
つだけの1線出力であったが、本実施例においては2線
出力となっているのが特徴的なことである。なお、図1
と同一符号のものは同等な動作・作用を行なうものとし
て、詳細な説明を省略する。
路図を示す。実施例1、実施例2では水平出力端子は1
つだけの1線出力であったが、本実施例においては2線
出力となっているのが特徴的なことである。なお、図1
と同一符号のものは同等な動作・作用を行なうものとし
て、詳細な説明を省略する。
【0053】2線出力の場合、1線出力と比較して実効
的な出力速度が2倍となるので、高画素数エリアセンサ
において有効となる。本実施例においても、1水平走査
期間毎に信号を読み出し、読み出しを終了した画素を数
H期間かけてリセットを行える方式により、リセット時
間に制約されないXYアドレス型エリアセンサが可能と
なった。この場合、実施例1で示した図1の回路図にお
ける垂直走査回路21のφv1、φv2、…が出力され、ラ
ッチ回路29を介して、3値パルスφR1、φR2が3値電
圧をタイミングに従ってスイッチSWd1、SWd2、…の
オンオフによって、各水平ラインHL1、HL2…に印加
され、光電電荷がスイッチSWa1、SWa2、…を介して
蓄積容量C1、C2、…に蓄積され、その蓄積容量C1、
C2、…の奇数番目の電荷を出力線22に出力してアン
プ24から出力される。同様にその蓄積容量C1、C2、
…の偶数番目の電荷を出力線22’に出力してアンプ2
4’から出力される。この際ラッチ回路29によって、
各水平ラインのリセットを1H分余裕を持って行うこと
ができる。
的な出力速度が2倍となるので、高画素数エリアセンサ
において有効となる。本実施例においても、1水平走査
期間毎に信号を読み出し、読み出しを終了した画素を数
H期間かけてリセットを行える方式により、リセット時
間に制約されないXYアドレス型エリアセンサが可能と
なった。この場合、実施例1で示した図1の回路図にお
ける垂直走査回路21のφv1、φv2、…が出力され、ラ
ッチ回路29を介して、3値パルスφR1、φR2が3値電
圧をタイミングに従ってスイッチSWd1、SWd2、…の
オンオフによって、各水平ラインHL1、HL2…に印加
され、光電電荷がスイッチSWa1、SWa2、…を介して
蓄積容量C1、C2、…に蓄積され、その蓄積容量C1、
C2、…の奇数番目の電荷を出力線22に出力してアン
プ24から出力される。同様にその蓄積容量C1、C2、
…の偶数番目の電荷を出力線22’に出力してアンプ2
4’から出力される。この際ラッチ回路29によって、
各水平ラインのリセットを1H分余裕を持って行うこと
ができる。
【0054】(4)実施例4 図5に本発明による実施例4のエリアセンサの概略的回
路図を示す。また、図6に、図5に示す回路の駆動タイ
ミングチャートを示す。本実施例において、2行同時4
線出力の場合のエリアセンサに本発明を実施した場合で
ある。本実施例の場合、2行同時4線出力であり、実効
的な読み出し速度が4倍となるので、HD対応の高速駆
動センサが実現できる。
路図を示す。また、図6に、図5に示す回路の駆動タイ
ミングチャートを示す。本実施例において、2行同時4
線出力の場合のエリアセンサに本発明を実施した場合で
ある。本実施例の場合、2行同時4線出力であり、実効
的な読み出し速度が4倍となるので、HD対応の高速駆
動センサが実現できる。
【0055】本実施例において、図6に示す回路の駆動
タイミングチャートは基本的に図2の場合と同様であ
り、水平ラインの駆動手段で3値パルスφR1、〜φR4を
4種供給される点が大きく異なるが、水平走査回路をそ
れぞれ有する読み出し回路30,31へ奇数垂直ライン
と偶数垂直ラインとが接続されているので、実質的な動
作は実施例1と大きな差異はない。
タイミングチャートは基本的に図2の場合と同様であ
り、水平ラインの駆動手段で3値パルスφR1、〜φR4を
4種供給される点が大きく異なるが、水平走査回路をそ
れぞれ有する読み出し回路30,31へ奇数垂直ライン
と偶数垂直ラインとが接続されているので、実質的な動
作は実施例1と大きな差異はない。
【0056】そこで、まず垂直走査回路21が垂直スタ
ートパルスφVSRsの入力によりスタートし、垂直パルス
φVSR1のクロックに同期して垂直出力パルスφv1を出力
する。垂直出力パルスφv1がハイレベルとなった時点
で、制御パルスφL1によりラッチ回路29を動作させ、
垂直出力パルスφv1をラッチする。この結果、スイッチ
SWd1とSWd2がオン状態となり、水平ラインHL1と
HL2の2行が同時に駆動可能状態となる。スイッチS
Wd1には3値パルスφR1が、スイッチSWd2には3値パ
ルスφR2が入力されているため、3値パルスφR1をハイ
状態にすると、水平ラインHL1上の画素の読み出しが
行え、3値パルスφR2をハイ状態にすると、水平ライン
HL2上の画素の読み出しが、同一水平期間内に行え
る。読み出し動作により、画素S11と画素S21の出力が
垂直ラインVL1を介して、上部の蓄積容量C1とC2に
蓄積され、画素S12と画素S22の出力が垂直ラインVL
2を介して下部の蓄積容量C1’とC2’に蓄積される。
その後、水平走査回路23を走査させ、蓄積容量C1と
C3…の電荷を出力ライン22に、蓄積容量C2とC4…
の電荷を出力ライン22’に出力し、出力アンプ24,
24’を介して外部へ出力させる。この時、下部の読み
出し回路31も同様に動作させる。また、この水平転送
期間中に、3値パルスφR1,φR2をローレベル状態とし
て、水平ラインHL1、HL2…上の画素の第1リセット
を行なう。
ートパルスφVSRsの入力によりスタートし、垂直パルス
φVSR1のクロックに同期して垂直出力パルスφv1を出力
する。垂直出力パルスφv1がハイレベルとなった時点
で、制御パルスφL1によりラッチ回路29を動作させ、
垂直出力パルスφv1をラッチする。この結果、スイッチ
SWd1とSWd2がオン状態となり、水平ラインHL1と
HL2の2行が同時に駆動可能状態となる。スイッチS
Wd1には3値パルスφR1が、スイッチSWd2には3値パ
ルスφR2が入力されているため、3値パルスφR1をハイ
状態にすると、水平ラインHL1上の画素の読み出しが
行え、3値パルスφR2をハイ状態にすると、水平ライン
HL2上の画素の読み出しが、同一水平期間内に行え
る。読み出し動作により、画素S11と画素S21の出力が
垂直ラインVL1を介して、上部の蓄積容量C1とC2に
蓄積され、画素S12と画素S22の出力が垂直ラインVL
2を介して下部の蓄積容量C1’とC2’に蓄積される。
その後、水平走査回路23を走査させ、蓄積容量C1と
C3…の電荷を出力ライン22に、蓄積容量C2とC4…
の電荷を出力ライン22’に出力し、出力アンプ24,
24’を介して外部へ出力させる。この時、下部の読み
出し回路31も同様に動作させる。また、この水平転送
期間中に、3値パルスφR1,φR2をローレベル状態とし
て、水平ラインHL1、HL2…上の画素の第1リセット
を行なう。
【0057】この水平同期1H期間終了後、垂直パルス
φVSRをシフトさせ、垂直出力パルスφv2をハイレベル
状態として、水平ラインHL3,HL4の駆動を行なう。
この場合、図5で示すように、ラッチパルスφL2、駆動
パルスφR3,φR4を用いて行うため、上記の駆動ライン
の水平ラインHL1,HL2の駆動とは関係なく動作でき
る。
φVSRをシフトさせ、垂直出力パルスφv2をハイレベル
状態として、水平ラインHL3,HL4の駆動を行なう。
この場合、図5で示すように、ラッチパルスφL2、駆動
パルスφR3,φR4を用いて行うため、上記の駆動ライン
の水平ラインHL1,HL2の駆動とは関係なく動作でき
る。
【0058】以後、ラッチパルスφL2、駆動パルスφR
3,φR4を上記と同様に駆動させ、水平ラインHL3,H
L4上の画素の出力が終了した後、3値パルスφR1,φR
2をミドルレベル、さらにハイレベルとして、先の水平
ラインHL1,HL2の画素の第2リセットを行ない、リ
セットを終了させる。
3,φR4を上記と同様に駆動させ、水平ラインHL3,H
L4上の画素の出力が終了した後、3値パルスφR1,φR
2をミドルレベル、さらにハイレベルとして、先の水平
ラインHL1,HL2の画素の第2リセットを行ない、リ
セットを終了させる。
【0059】以上の動作を繰り返すことにより、2行同
時に4線出力をTV走査スピードで行うことが可能とな
る。
時に4線出力をTV走査スピードで行うことが可能とな
る。
【0060】こうして、読み出し回路30,31からそ
れぞれ2線出力が得られ、4線出力となるので、実効的
な読み出し速度について垂直走査速度及び水平走査速度
を速めて4倍とすることをも可能とするので、HD対応
のセンサが実現できる。
れぞれ2線出力が得られ、4線出力となるので、実効的
な読み出し速度について垂直走査速度及び水平走査速度
を速めて4倍とすることをも可能とするので、HD対応
のセンサが実現できる。
【0061】(5)実施例5 図7に本発明の第5実施例を示す。なお、図1と同一符
号のものは同等な動作・作用を行なうものとして、詳細
な説明を省略する。
号のものは同等な動作・作用を行なうものとして、詳細
な説明を省略する。
【0062】実施例1〜4においては、水平駆動線にラ
ッチ回路を設けることにより、2H期間以上のリセット
を可能としていたが、本実施例においてはラッチ回路を
用いずに垂直走査回路を2つ設けることにより、垂直走
査回路の出力タイミングによって2H期間以上のリセッ
トを可能としたことを特徴とする。
ッチ回路を設けることにより、2H期間以上のリセット
を可能としていたが、本実施例においてはラッチ回路を
用いずに垂直走査回路を2つ設けることにより、垂直走
査回路の出力タイミングによって2H期間以上のリセッ
トを可能としたことを特徴とする。
【0063】図7において、32は第1の垂直走査回路
に対向して偶数の水平ラインを走査する第2の垂直走査
回路で、垂直パルスφv2、φv4、…を出力して、3値パ
ルスφR2を供給するスイッチSWd2、SWd4、…をオン
オフする。
に対向して偶数の水平ラインを走査する第2の垂直走査
回路で、垂直パルスφv2、φv4、…を出力して、3値パ
ルスφR2を供給するスイッチSWd2、SWd4、…をオン
オフする。
【0064】本実施例において、それぞれの垂直走査回
路は2H毎に走査パルスを発生させ、走査開始タイミン
グを1Hずらすことにより実施例1〜4と同様の効果を
得ることができる。
路は2H毎に走査パルスを発生させ、走査開始タイミン
グを1Hずらすことにより実施例1〜4と同様の効果を
得ることができる。
【0065】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
画素数が増加し、画素の電荷を短時間にリセットできな
い回路動作を要するような、リセット時間が1H期間以
上かかる場合でも、ラッチ回路を付加したり、読み出し
回路を2回路以上にしたり、読み出し回路を追加した
り、又は垂直走査回路を追加した構成によって、特に高
速読み出し、高速転送、高速リセットを要求される動画
撮影用の光電変換装置を実現できる。
画素数が増加し、画素の電荷を短時間にリセットできな
い回路動作を要するような、リセット時間が1H期間以
上かかる場合でも、ラッチ回路を付加したり、読み出し
回路を2回路以上にしたり、読み出し回路を追加した
り、又は垂直走査回路を追加した構成によって、特に高
速読み出し、高速転送、高速リセットを要求される動画
撮影用の光電変換装置を実現できる。
【図1】本発明による一実施例の概略的回路構成図であ
る。
る。
【図2】本発明による一実施例の駆動タイミングチャー
トである。
トである。
【図3】本発明による一実施例の概略的回路構成図であ
る。
る。
【図4】本発明による一実施例の概略的回路構成図であ
る。
る。
【図5】本発明による一実施例の概略的回路構成図であ
る。
る。
【図6】本発明による一実施例の駆動タイミングチャー
トである。
トである。
【図7】本発明による一実施例の概略的回路構成図であ
る。
る。
【図8】従来例に示す光電変換素子近傍のの概略的回路
断面図である。
断面図である。
【図9】従来例に示す光電変換部の概略的回路図であ
る。
る。
【図10】従来例に示す光電変換装置の概略的回路図で
ある。
ある。
【図11】従来例に示す光電変換装置の駆動タイミング
チャートである。
チャートである。
【符号の説明】 1 n型Si基板 2 n型エピタキシャル層 3 p型ベースドーピング層 4 n+ 型エミッタ層 5 酸化膜 6 キャパシタ領域Cox 7 エミッタ電極 8 保護膜 9 n+ 高濃度層 10 コレクタ電極 20,25 3値パルス端子 21,32 垂直走査回路 22 水平出力線 23 水平走査回路 24 出力アンプ 26 画素分離MOS 27 フォトトランジスタ 28 キャパシタCox 29 ラッチ回路 30,31 読み出し回路
Claims (8)
- 【請求項1】 光電変換素子を二次元に配列した光電変
換装置において、前記光電変換素子の駆動について水平
走査を行なう水平駆動線を2×水平走査期間以上駆動さ
せる駆動手段を備えたことを特徴とする光電変換装置。 - 【請求項2】 請求項1に記載の光電変換装置におい
て、前記2×水平走査期間以上駆動させる駆動手段が、
1水平走査期間毎に駆動パルスを発生させる走査回路
と、そのパルスを所定の期間ラッチするラッチ回路とを
具備することを特徴とする光電変換装置。 - 【請求項3】 請求項1に記載の光電変換装置におい
て、前記駆動手段が2水平走査期間毎に駆動パルスを発
生させる走査回路を2つ有することを特徴とする光電変
換装置。 - 【請求項4】 請求項1に記載の光電変換装置におい
て、前記光電変換素子がバイポーラフォトトランジスタ
で形成されていることを特徴とする光電変換装置。 - 【請求項5】 請求項1に記載の光電変換装置におい
て、前記駆動手段は奇数水平ライン用の3値パルス供給
端子と偶数水平ライン用の3値パルス供給端子とを具備
することを特徴とする光電変換装置。 - 【請求項6】 請求項1に記載の光電変換装置におい
て、前記駆動手段に加えて、各垂直ラインに備えられた
蓄積容量から水平走査回路の走査手段により2出力端子
を具備することを特徴とする光電変換装置。 - 【請求項7】 請求項1に記載の光電変換装置におい
て、前記駆動手段に加えて、垂直ラインの読み出しにつ
いて奇数垂直ラインと偶数垂直ラインとのそれぞれに読
み出し回路を備えたことを特徴とする光電変換装置。 - 【請求項8】 請求項1に記載の光電変換装置におい
て、前記駆動手段は奇数水平ラインと偶数水平ラインの
それぞれを駆動する垂直走査回路を具備することを特徴
とする光電変換装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7015341A JPH08214177A (ja) | 1995-02-01 | 1995-02-01 | 光電変換装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7015341A JPH08214177A (ja) | 1995-02-01 | 1995-02-01 | 光電変換装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08214177A true JPH08214177A (ja) | 1996-08-20 |
Family
ID=11886097
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7015341A Pending JPH08214177A (ja) | 1995-02-01 | 1995-02-01 | 光電変換装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH08214177A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011135561A (ja) * | 2009-11-27 | 2011-07-07 | Sony Corp | センサ装置、センサ素子の駆動方法、入力機能付き表示装置および電子機器、ならびに放射線撮像装置 |
-
1995
- 1995-02-01 JP JP7015341A patent/JPH08214177A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011135561A (ja) * | 2009-11-27 | 2011-07-07 | Sony Corp | センサ装置、センサ素子の駆動方法、入力機能付き表示装置および電子機器、ならびに放射線撮像装置 |
TWI462581B (zh) * | 2009-11-27 | 2014-11-21 | Japan Display West Inc | A sensing device, a driving method of a sensing element, a display device having an input function and an electronic device, and a radiation imaging device |
US9250743B2 (en) | 2009-11-27 | 2016-02-02 | Japan Display Inc. | Sensor device, method of driving sensor element, display device with input function, electronic unit and radiation image pickup device |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050404 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050526 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20050617 |