JPH081669B2 - 硬貨判別装置 - Google Patents
硬貨判別装置Info
- Publication number
- JPH081669B2 JPH081669B2 JP60162493A JP16249385A JPH081669B2 JP H081669 B2 JPH081669 B2 JP H081669B2 JP 60162493 A JP60162493 A JP 60162493A JP 16249385 A JP16249385 A JP 16249385A JP H081669 B2 JPH081669 B2 JP H081669B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- value
- measurement
- limit value
- coin
- upper limit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Testing Of Coins (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （イ） 産業上の利用分野 本発明は硬貨の転動路に発振磁界を形成する測定セン
サーを配置し、硬貨の通過による発振磁界への影響度を
測定してその適正を判別する硬貨判別方式に関する。
サーを配置し、硬貨の通過による発振磁界への影響度を
測定してその適正を判別する硬貨判別方式に関する。
（ロ） 従来の技術 かかる硬貨判別方式としては特開昭57−27387号公報
に示されている技術があり、これは硬貨の通過による発
振磁界への影響度にて硬貨の材質（電気伝導度）・板厚
・外径の各物理的特徴を測定センサーを設け、硬貨の通
過により各特徴毎の測定センサーによる影響度の値が所
定の許容範囲内であるかを照合して硬貨の適正を判別す
るものである。更に第２図によって説明すると、同図の
Ａは測定センサー（S1）（S2）（S3）の配置構成を示し
ており、硬貨投入口（４）に連通する硬貨レール（６）
上に硬貨の転動方向に沿って順次配設している。かかる
測定センサー（S1）（S2）（S3）を硬貨が通過すると、
発振磁界が通過する硬貨の物理的特徴による影響を受け
て発振周波数が変化し、第２図Ｂにそれぞれ符号（16）
（18）（20）で示す測定信号が得られて、その最大値P1
・P2・P3を測定信号の値として検出している。以下から
の説明においては、測定信号の値である最大値P1・P2・
P3を検査硬貨が測定センサーに与える影響度と述べる。
そしてこれら影響度P1・P2・P3が、測定センサー（S1）
（S2）（S3）毎に設定した第２図Ｃに示す許容範囲l1・
l2・l5に含まれるかを照合して、硬貨の適正を判定する
ものである。
に示されている技術があり、これは硬貨の通過による発
振磁界への影響度にて硬貨の材質（電気伝導度）・板厚
・外径の各物理的特徴を測定センサーを設け、硬貨の通
過により各特徴毎の測定センサーによる影響度の値が所
定の許容範囲内であるかを照合して硬貨の適正を判別す
るものである。更に第２図によって説明すると、同図の
Ａは測定センサー（S1）（S2）（S3）の配置構成を示し
ており、硬貨投入口（４）に連通する硬貨レール（６）
上に硬貨の転動方向に沿って順次配設している。かかる
測定センサー（S1）（S2）（S3）を硬貨が通過すると、
発振磁界が通過する硬貨の物理的特徴による影響を受け
て発振周波数が変化し、第２図Ｂにそれぞれ符号（16）
（18）（20）で示す測定信号が得られて、その最大値P1
・P2・P3を測定信号の値として検出している。以下から
の説明においては、測定信号の値である最大値P1・P2・
P3を検査硬貨が測定センサーに与える影響度と述べる。
そしてこれら影響度P1・P2・P3が、測定センサー（S1）
（S2）（S3）毎に設定した第２図Ｃに示す許容範囲l1・
l2・l5に含まれるかを照合して、硬貨の適正を判定する
ものである。
（ハ） 発明が解決しようとする問題点 上記従来技術において、測定センサーはそれぞれ測定
すべき特徴にのみ適応するように発振周波数や形状或い
は硬貨レール（５）からの取付位置が選定されている
が、測定値にはどうしても他の特徴の要素が入る。例え
ば硬貨の材質を測定しようとしてもその板厚の影響が含
まれてしまう。したがって正貨と比べて電気伝導度の小
さい材質で且つ板厚を厚くした偽貨が投入されると、測
定センサー（S1）（S2）で得られる各影響度が○記号で
表わすように許容範囲l1・l2内の値を示すことがある。
また正貨と比べて電気伝導度の大きい材質で且つ板厚を
薄くした偽貨が投入されると、測定センサー（S1）
（S2）で得られる各影響度が△記号で表わすように許容
範囲l1・l2内の値を示すことがある。更に異種の合金ま
たは同一材質の外国硬貨等による変造貨で板厚が正貨よ
り厚いと×記号で表わすように、また正貨より薄いと□
記号で表わすように、それぞれ許容範囲l1・l2内の値を
示すことがある。
すべき特徴にのみ適応するように発振周波数や形状或い
は硬貨レール（５）からの取付位置が選定されている
が、測定値にはどうしても他の特徴の要素が入る。例え
ば硬貨の材質を測定しようとしてもその板厚の影響が含
まれてしまう。したがって正貨と比べて電気伝導度の小
さい材質で且つ板厚を厚くした偽貨が投入されると、測
定センサー（S1）（S2）で得られる各影響度が○記号で
表わすように許容範囲l1・l2内の値を示すことがある。
また正貨と比べて電気伝導度の大きい材質で且つ板厚を
薄くした偽貨が投入されると、測定センサー（S1）
（S2）で得られる各影響度が△記号で表わすように許容
範囲l1・l2内の値を示すことがある。更に異種の合金ま
たは同一材質の外国硬貨等による変造貨で板厚が正貨よ
り厚いと×記号で表わすように、また正貨より薄いと□
記号で表わすように、それぞれ許容範囲l1・l2内の値を
示すことがある。
上記点より本発明は、発振周波数の変化により硬貨の
材質・板厚をそれぞれ測定する硬貨判別装置において、
材質の測定にも係わらず誤差として測定される板厚の影
響による誤判別及び板厚測定にも係わらず誤差として測
定される材質の影響による誤判別をそれぞれ防止できる
硬貨判別装置を提供するものである。
材質・板厚をそれぞれ測定する硬貨判別装置において、
材質の測定にも係わらず誤差として測定される板厚の影
響による誤判別及び板厚測定にも係わらず誤差として測
定される材質の影響による誤判別をそれぞれ防止できる
硬貨判別装置を提供するものである。
（ニ） 問題点を解決するための手段 上記の問題点を解決するために本発明による硬貨判別
装置は、硬貨通路と、該硬貨通路を通過する検査硬貨に
順次発振磁界を印加するよう配置されて該検査硬貨の主
に材質に起因して変化する発振周波数の変化に基づく測
定信号を出力する第１測定センサー及び該検査硬貨の主
に板厚に起因して変化する発振周波数の変化に基づく測
定信号を出力する第２測定センサーと、該測定センサー
毎に予め設定されるそれぞれの上限値及び下限値から成
る第１照合データを記憶している第１照合データ記憶手
段と、前記各測定センサー毎の前記上限値の和未満の値
である第２上限値及び前記各測定センサー毎の前記下限
値の和を越える値である第２下限値から成る第２照合デ
ータ記憶している第２照合データ記憶手段と、一方の前
記測定センサーの上限値から他方の前記測定センサーの
下限値を減算した値及び一方の前記測定センサーの下限
値から他方の前記測定センサーの上限値を減算した値の
うち大きい方の値未満の値である第３上限値及び小さい
方の値を超える値である第３下限値から成る第３照合デ
ータを記憶している第３照合データ記憶手段と、検査硬
貨が前記硬貨通路を通過し前記各測定センサーによる測
定信号の値がそれぞれ全て該当する前記第１照合データ
の上限値及び下限値との範囲内にあって、各測定信号の
値の和が前記第２照合データの第２上限値及び第２下限
値の範囲内にあって、且つ前記一方の測定センサーの測
定信号の値から前記他方の測定センサーの測定信号の値
を減算した値が前記第３照合データの上限値及び下限値
の範囲内にあると当該検査硬貨を適正と判別する判別手
段とを備えた構成である。
装置は、硬貨通路と、該硬貨通路を通過する検査硬貨に
順次発振磁界を印加するよう配置されて該検査硬貨の主
に材質に起因して変化する発振周波数の変化に基づく測
定信号を出力する第１測定センサー及び該検査硬貨の主
に板厚に起因して変化する発振周波数の変化に基づく測
定信号を出力する第２測定センサーと、該測定センサー
毎に予め設定されるそれぞれの上限値及び下限値から成
る第１照合データを記憶している第１照合データ記憶手
段と、前記各測定センサー毎の前記上限値の和未満の値
である第２上限値及び前記各測定センサー毎の前記下限
値の和を越える値である第２下限値から成る第２照合デ
ータ記憶している第２照合データ記憶手段と、一方の前
記測定センサーの上限値から他方の前記測定センサーの
下限値を減算した値及び一方の前記測定センサーの下限
値から他方の前記測定センサーの上限値を減算した値の
うち大きい方の値未満の値である第３上限値及び小さい
方の値を超える値である第３下限値から成る第３照合デ
ータを記憶している第３照合データ記憶手段と、検査硬
貨が前記硬貨通路を通過し前記各測定センサーによる測
定信号の値がそれぞれ全て該当する前記第１照合データ
の上限値及び下限値との範囲内にあって、各測定信号の
値の和が前記第２照合データの第２上限値及び第２下限
値の範囲内にあって、且つ前記一方の測定センサーの測
定信号の値から前記他方の測定センサーの測定信号の値
を減算した値が前記第３照合データの上限値及び下限値
の範囲内にあると当該検査硬貨を適正と判別する判別手
段とを備えた構成である。
（ホ） 作用 検査硬貨が硬貨通路を通過して、各測定センサーを通
過して測定信号が得られると、判別手段はそれぞれの測
定信号の値が該当する第１照合データの上限値及び下限
値の範囲内にあるかを照合する。そして、それぞれの測
定信号の値の和が第２照合データの第２上限値及び第２
下限値の範囲内にあるかを照合する。更に、一方の測定
センサーの測定信号の値と他方の測定センサーの測定信
号の値との差の値が前記第３照合データの上限値及び下
限値の範囲内にあるかを照合する。そして、全ての照合
で範囲内での一致が取れると当該検査硬貨を適正と判別
する。このとき、各測定センサーの測定信号の値を合算
すると、各測定センサー毎の測定誤差が合計されて強調
されて表れるために、それぞれの各測定値の値が第１照
合データの範囲内にあっても、測定信号の値の和の値は
第２照合データからは外れることになり判別精度が向上
する。また、各測定センサーの測定信号の値を差を算出
すると、互いの測定誤差が打ち消されるために、やはり
各測定値の値が第１照合データの範囲内にあっても、測
定信号の値の差の値は第３照合データからは外れること
になり判別精度が向上する。
過して測定信号が得られると、判別手段はそれぞれの測
定信号の値が該当する第１照合データの上限値及び下限
値の範囲内にあるかを照合する。そして、それぞれの測
定信号の値の和が第２照合データの第２上限値及び第２
下限値の範囲内にあるかを照合する。更に、一方の測定
センサーの測定信号の値と他方の測定センサーの測定信
号の値との差の値が前記第３照合データの上限値及び下
限値の範囲内にあるかを照合する。そして、全ての照合
で範囲内での一致が取れると当該検査硬貨を適正と判別
する。このとき、各測定センサーの測定信号の値を合算
すると、各測定センサー毎の測定誤差が合計されて強調
されて表れるために、それぞれの各測定値の値が第１照
合データの範囲内にあっても、測定信号の値の和の値は
第２照合データからは外れることになり判別精度が向上
する。また、各測定センサーの測定信号の値を差を算出
すると、互いの測定誤差が打ち消されるために、やはり
各測定値の値が第１照合データの範囲内にあっても、測
定信号の値の差の値は第３照合データからは外れること
になり判別精度が向上する。
（ヘ） 実施例 第２図に示す各測定センサー（S1）（S2）（S3）は第
１図で示すごとく、硬貨レール（６）にて形成される硬
貨通路（５）を挾み発振コイル（15）（17）（19）を直
列接続して成り、発振磁界を通過する硬貨による当該発
振磁界への影響度を測定するもので、具体的には通過硬
貨内に発生する渦電流の影響による発振器（11）（12）
（13）の発振周波数の変化を示す信号を測定信号として
捉え、この測定信号の値である最大周波数の値が検査硬
貨が測定センサーに与える影響度として検出される。
１図で示すごとく、硬貨レール（６）にて形成される硬
貨通路（５）を挾み発振コイル（15）（17）（19）を直
列接続して成り、発振磁界を通過する硬貨による当該発
振磁界への影響度を測定するもので、具体的には通過硬
貨内に発生する渦電流の影響による発振器（11）（12）
（13）の発振周波数の変化を示す信号を測定信号として
捉え、この測定信号の値である最大周波数の値が検査硬
貨が測定センサーに与える影響度として検出される。
また本例では第２図に示す許容範囲l1の下限値データ
Ａ及び上限値データＢを材質に関する測定センサー
（S1）についての第１照合データに設定し、許容範囲l2
の下限値データＣ及び上限値データＤを板厚に関する測
定センサー（S2）についての第１照合データに設定して
いる。そして本発明に依ると更に第２照合データを設定
して許容範囲l3及びl4を設けるものである。第２照合デ
ータは第１照合データの和或いは差に基づく値であり、
和の場合における第２照合データの上限データＨ及び下
限データＧは第１照合データの上限データＢ・Ｄ及び下
限データＡ・Ｃと次の関係にある。即ち、Ｈ＜Ｂ＋Ｄ及
びＧ＞Ａ＋Ｃ。
Ａ及び上限値データＢを材質に関する測定センサー
（S1）についての第１照合データに設定し、許容範囲l2
の下限値データＣ及び上限値データＤを板厚に関する測
定センサー（S2）についての第１照合データに設定して
いる。そして本発明に依ると更に第２照合データを設定
して許容範囲l3及びl4を設けるものである。第２照合デ
ータは第１照合データの和或いは差に基づく値であり、
和の場合における第２照合データの上限データＨ及び下
限データＧは第１照合データの上限データＢ・Ｄ及び下
限データＡ・Ｃと次の関係にある。即ち、Ｈ＜Ｂ＋Ｄ及
びＧ＞Ａ＋Ｃ。
また差の場合における第２照合データの上限データＦ
及び下限データＥは上記データと次の関係にある。即
ち、Ｆ＜Ｂ−Ｃ及びＥ＞Ａ−Ｄ。そして硬貨の投入によ
り各測定センサー（S1）（S2）（S3）についての影響度
P1・P2・P3を検出すると、影響度P1・P2・P3がそれぞれ
許容範囲l1・l2・l5内かを判定するとともに、影響度P2
・P1の差（P1−P2）及び和（P1＋P2）がそれぞれ許容範
囲l3・l4内かを判定し、全ての判定で許容範囲内にある
ことが分かるとこの硬貨を適正と判定する。
及び下限データＥは上記データと次の関係にある。即
ち、Ｆ＜Ｂ−Ｃ及びＥ＞Ａ−Ｄ。そして硬貨の投入によ
り各測定センサー（S1）（S2）（S3）についての影響度
P1・P2・P3を検出すると、影響度P1・P2・P3がそれぞれ
許容範囲l1・l2・l5内かを判定するとともに、影響度P2
・P1の差（P1−P2）及び和（P1＋P2）がそれぞれ許容範
囲l3・l4内かを判定し、全ての判定で許容範囲内にある
ことが分かるとこの硬貨を適正と判定する。
このような影響度の和による判別は材厚と板厚とを総
合的に見ることになるために、材質測定でのノイズであ
る材質以外の特徴を示す誤差データ及び板厚測定でのノ
イズである板厚以外の特徴を示す誤差データとが加算さ
れて誤差データが増長され、測定で誤差データが大きな
値を示す硬貨を確実に分別することができる。また影響
度の差による判別は材質と板厚との相関々係を見ること
になるために、材質測定及び板厚測定におけるそれぞれ
の誤差データは打消されて、材質と板厚だけの特徴に基
づく正確な判別を行なうことができる。かかる判別処理
で影響度P2とP1との差をとることで、電気伝導度を小さ
くして板厚を厚くした偽貨或いは電気伝導度を大きくし
て板厚を薄くした偽貨に対しては、板厚の誤差データが
除かれるために電気伝導度による影響度がそのまま表わ
れ夫々○記号及び△記号の値を示して分別できる。また
影響度P1とP2との和をとることで上記の変造貨で板厚が
厚いもの或いは薄いものに対しては板厚と大小が強調さ
れてそれぞれ×記号及び□記号の値を示して分別でき
る。
合的に見ることになるために、材質測定でのノイズであ
る材質以外の特徴を示す誤差データ及び板厚測定でのノ
イズである板厚以外の特徴を示す誤差データとが加算さ
れて誤差データが増長され、測定で誤差データが大きな
値を示す硬貨を確実に分別することができる。また影響
度の差による判別は材質と板厚との相関々係を見ること
になるために、材質測定及び板厚測定におけるそれぞれ
の誤差データは打消されて、材質と板厚だけの特徴に基
づく正確な判別を行なうことができる。かかる判別処理
で影響度P2とP1との差をとることで、電気伝導度を小さ
くして板厚を厚くした偽貨或いは電気伝導度を大きくし
て板厚を薄くした偽貨に対しては、板厚の誤差データが
除かれるために電気伝導度による影響度がそのまま表わ
れ夫々○記号及び△記号の値を示して分別できる。また
影響度P1とP2との和をとることで上記の変造貨で板厚が
厚いもの或いは薄いものに対しては板厚と大小が強調さ
れてそれぞれ×記号及び□記号の値を示して分別でき
る。
第１図において、制御装置（２）は測定センサー
（S1）（S2）（S3）の測定に関連して制御信号ａ・ｂ・
ｃを順次繰返し出力するが、制御信号ａの発生により発
振器（11）の発振出力がANDゲート（21）及びORゲート
（24）を通してカウンタ（１）へ導入され、制御信号ｂ
の発生により発信器（12）の発振出力がANDゲート（2
2）及びORゲート（24）を通してカウンタ（１）へ導入
され、また制御信号ｃの発生により発振器（13）の発振
出力がANDゲート（23）及びORゲート（24）を通してカ
ウンタ（１）へ導入される。カウンタ（１）は制御信号
ａの発生期間でANDゲート（21）から出力される発振出
力をカウントすることで発振器（11）の発振周波数を検
出し、制御信号ｂの発生期間でANDゲート（22）から入
力される発振出力をカウントすることで発振器（12）の
発振周波数を検出し、制御信号ｃの発生期間でANDゲー
ト（23）から出力される発振出力をカウントすることで
発振器（13）の発振周波数を検出する。そして制御装置
（２）は各制御信号ａ・ｂ・ｃの出力により所定のサン
プリング期間でカウンタ（１）がカウントした発振周波
数データを導入し、導入後にリセット信号（14）を出力
する。硬貨が投入されて各測定センサー（S1）（S2）
（S3）に接近すると、それに応じて各発振器（11）（1
2）（13）の発振周波数は第２図Ｂに示すように上昇
し、通過後離反すると下降する。したがって制御装置
（２）は、制御信号ａを出力する度に導入してくる発振
周波数データを逐次比較して硬貨の投入による測定セン
サー（S1）への影響度である発振器（11）の最大周波数
P1を検出し、制御信号ｂを出力する度に導入してくる発
振周波数データを逐次比較して測定センサー（S2）への
影響度である発振器（12）の最大周波数P2を検出し、ま
た制御信号ｃを出力する度に導入してくる発振周波数デ
ータを逐次比較して測定センサー（S3）への影響度であ
る発振器（13）の最大周波数P3を検出する。メモリ
（３）には測定センサー（S1）（S2）（S3）毎に検出さ
れる影響度に対して材質・板厚・外径の各特徴について
の第１照合データ、即ち第２図Ｃに示す各許容範囲l1・
l2・l5についての上限データB,D,J及び下限データA,C,I
を設定している。更にメモリ（３）には材質及び板厚に
ついての第１照合データの和及び差による第２照合デー
タ，即ち第２図Ｃに示す各許容範囲l3・l4についての上
限データF,H及び下限データE,Gを設定している。
（S1）（S2）（S3）の測定に関連して制御信号ａ・ｂ・
ｃを順次繰返し出力するが、制御信号ａの発生により発
振器（11）の発振出力がANDゲート（21）及びORゲート
（24）を通してカウンタ（１）へ導入され、制御信号ｂ
の発生により発信器（12）の発振出力がANDゲート（2
2）及びORゲート（24）を通してカウンタ（１）へ導入
され、また制御信号ｃの発生により発振器（13）の発振
出力がANDゲート（23）及びORゲート（24）を通してカ
ウンタ（１）へ導入される。カウンタ（１）は制御信号
ａの発生期間でANDゲート（21）から出力される発振出
力をカウントすることで発振器（11）の発振周波数を検
出し、制御信号ｂの発生期間でANDゲート（22）から入
力される発振出力をカウントすることで発振器（12）の
発振周波数を検出し、制御信号ｃの発生期間でANDゲー
ト（23）から出力される発振出力をカウントすることで
発振器（13）の発振周波数を検出する。そして制御装置
（２）は各制御信号ａ・ｂ・ｃの出力により所定のサン
プリング期間でカウンタ（１）がカウントした発振周波
数データを導入し、導入後にリセット信号（14）を出力
する。硬貨が投入されて各測定センサー（S1）（S2）
（S3）に接近すると、それに応じて各発振器（11）（1
2）（13）の発振周波数は第２図Ｂに示すように上昇
し、通過後離反すると下降する。したがって制御装置
（２）は、制御信号ａを出力する度に導入してくる発振
周波数データを逐次比較して硬貨の投入による測定セン
サー（S1）への影響度である発振器（11）の最大周波数
P1を検出し、制御信号ｂを出力する度に導入してくる発
振周波数データを逐次比較して測定センサー（S2）への
影響度である発振器（12）の最大周波数P2を検出し、ま
た制御信号ｃを出力する度に導入してくる発振周波数デ
ータを逐次比較して測定センサー（S3）への影響度であ
る発振器（13）の最大周波数P3を検出する。メモリ
（３）には測定センサー（S1）（S2）（S3）毎に検出さ
れる影響度に対して材質・板厚・外径の各特徴について
の第１照合データ、即ち第２図Ｃに示す各許容範囲l1・
l2・l5についての上限データB,D,J及び下限データA,C,I
を設定している。更にメモリ（３）には材質及び板厚に
ついての第１照合データの和及び差による第２照合デー
タ，即ち第２図Ｃに示す各許容範囲l3・l4についての上
限データF,H及び下限データE,Gを設定している。
したがって制御装置（２）は硬貨の投入により測定セ
ンサー（S1）への影響度P1を検出すると、上限データＢ
及び下限データＡと順次照合して許容範囲l1内であるか
を判定する。測定センサー（S2）への影響度P2を検出す
ると、上限データＤ及び下限データＣと順次照合して許
容範囲l2内であるかを判定する。そして制御装置（２）
は影響度P2とP1との差を演算し、この差の値と上限デー
タＦ及び下限データＥとを順次照合して許容範囲l3内で
あるかを判定する。次に制御装置（２）は影響度P1とP2
との和を演算し、この和の値と上限データＨ及び下限デ
ータＥとを順次照合して許容範囲l4であるかを判定す
る。また制御装置（２）は測定センサー（S3）への影響
度P3を検出すると、上限データＪ及び下限データＩと順
次照合して許容範囲l5内であるかを判定する。そして制
御装置（２）は全ての照合で許容範囲l1・l2・l3・l4・
l5内であることを判定するとこの投入硬貨を適正硬貨と
判別して適正信号Ｒを出力する。
ンサー（S1）への影響度P1を検出すると、上限データＢ
及び下限データＡと順次照合して許容範囲l1内であるか
を判定する。測定センサー（S2）への影響度P2を検出す
ると、上限データＤ及び下限データＣと順次照合して許
容範囲l2内であるかを判定する。そして制御装置（２）
は影響度P2とP1との差を演算し、この差の値と上限デー
タＦ及び下限データＥとを順次照合して許容範囲l3内で
あるかを判定する。次に制御装置（２）は影響度P1とP2
との和を演算し、この和の値と上限データＨ及び下限デ
ータＥとを順次照合して許容範囲l4であるかを判定す
る。また制御装置（２）は測定センサー（S3）への影響
度P3を検出すると、上限データＪ及び下限データＩと順
次照合して許容範囲l5内であるかを判定する。そして制
御装置（２）は全ての照合で許容範囲l1・l2・l3・l4・
l5内であることを判定するとこの投入硬貨を適正硬貨と
判別して適正信号Ｒを出力する。
（ト） 発明の効果 本発明によると、硬貨通路を通過する検査硬貨に順次
発振磁界を印加するよう配置されて該検査硬貨の主に材
質に起因して変化する発振周波数の変化に基づく測定信
号を出力する第１測定センサー及び該検査硬貨の主に板
厚に起因して変化する発振周波数の変化に基づく測定信
号を出力する第２測定センサーの各測定信号の値の和及
び差の値にても判別を行うために、材質の測定時に誤差
として測定される板厚の影響や板厚の測定時に誤差とし
て測定される材質の影響は和の場合は増長されて許容範
囲を上回るようになり、差の場合は打ち消されるために
精度の高い硬貨判別を行うことができる。
発振磁界を印加するよう配置されて該検査硬貨の主に材
質に起因して変化する発振周波数の変化に基づく測定信
号を出力する第１測定センサー及び該検査硬貨の主に板
厚に起因して変化する発振周波数の変化に基づく測定信
号を出力する第２測定センサーの各測定信号の値の和及
び差の値にても判別を行うために、材質の測定時に誤差
として測定される板厚の影響や板厚の測定時に誤差とし
て測定される材質の影響は和の場合は増長されて許容範
囲を上回るようになり、差の場合は打ち消されるために
精度の高い硬貨判別を行うことができる。
第１図は本発明の実施例を説明するブロック図、第２図
は硬貨判別処理の説明図である。 （S1）（S2）（S3）……測定センサー、（１）……カウ
ンタ、（２）……制御装置、（11）（12）（13）……発
振器。
は硬貨判別処理の説明図である。 （S1）（S2）（S3）……測定センサー、（１）……カウ
ンタ、（２）……制御装置、（11）（12）（13）……発
振器。
Claims (1)
- 【請求項１】硬貨通路と、該硬貨通路を通過する検査硬
貨に順次発振磁界を印加するよう配置されて該検査硬貨
の主に材質に起因して変化する発振周波数の変化に基づ
く測定信号を出力する第１測定センサー及び該検査硬貨
の主に板厚に起因して変化する発振周波数の変化に基づ
く測定信号を出力する第２測定センサーと、該測定セン
サー毎に予め設定されるそれぞれの上限値及び下限値か
ら成る第１照合データを記憶している第１照合データ記
憶手段と、前記各測定センサー毎の前記上限値の和未満
の値である第２上限値及び前記各測定センサー毎の前記
下限値の和を越える値である第２下限値から成る第２照
合データ記憶している第２照合データ記憶手段と、一方
の前記測定センサーの上限値から他方の前記測定センサ
ーの下限値を減算した値及び一方の前記測定センサーの
下限値から他方の前記測定センサーの上限値を減算した
値のうち大きい方の値未満の値である第３上限値及び小
さい方の値を超える値である第３下限値から成る第３照
合データを記憶している第３照合データ記憶手段と、検
査硬貨が前記硬貨通路を通過し前記各測定センサーによ
る測定信号の値がそれぞれ全て該当する前記第１照合デ
ータの上限値及び下限値との範囲内にあって、各測定信
号の和が前記第２照合データの第２上限値及び第２下限
値の範囲内にあって、且つ前記一方の測定センサーの測
定信号の値から前記他方の測定センサーの測定信号の値
を減算した値が前記第３照合データの上限値及び下限値
の範囲内にあると当該検査硬貨を適正と判別する判別手
段とを備えた硬貨判別装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60162493A JPH081669B2 (ja) | 1985-07-23 | 1985-07-23 | 硬貨判別装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60162493A JPH081669B2 (ja) | 1985-07-23 | 1985-07-23 | 硬貨判別装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6222194A JPS6222194A (ja) | 1987-01-30 |
| JPH081669B2 true JPH081669B2 (ja) | 1996-01-10 |
Family
ID=15755665
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60162493A Expired - Lifetime JPH081669B2 (ja) | 1985-07-23 | 1985-07-23 | 硬貨判別装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH081669B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3363290B2 (ja) * | 1995-09-05 | 2003-01-08 | グローリー工業株式会社 | 硬貨処理機における硬貨識別装置 |
| JP3363305B2 (ja) * | 1996-03-08 | 2003-01-08 | グローリー工業株式会社 | 硬貨処理機における温度補正機能付き硬貨識別装置 |
| JP4422480B2 (ja) * | 2001-08-27 | 2010-02-24 | 株式会社高見沢サイバネティックス | 金属体識別装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55121590A (en) * | 1979-03-12 | 1980-09-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Coin selector |
-
1985
- 1985-07-23 JP JP60162493A patent/JPH081669B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6222194A (ja) | 1987-01-30 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4936435A (en) | Coin validating apparatus and method | |
| US5984074A (en) | Method and apparatus for validating money | |
| KR920704243A (ko) | 코인, 지폐 및 기타 화폐를 인수하며 가짜 코인 또는 위조 지폐를 거부하기 위한 방법 및 장치 | |
| JP2599347B2 (ja) | コイル測寸方法 | |
| JPS62500406A (ja) | 通貨確認のための方法及び装置 | |
| US5085309A (en) | Electronic coin detector | |
| JPH0731324Y2 (ja) | 硬貨判別装置 | |
| EP0581787B1 (en) | Method and apparatus for validating money | |
| EP0300781A2 (en) | Coin discriminator | |
| EP1012796B1 (en) | Method and apparatus for validating coins | |
| JPH081669B2 (ja) | 硬貨判別装置 | |
| US5624019A (en) | Method and apparatus for validating money | |
| US5526918A (en) | Coin validating apparatus and method | |
| JP2936752B2 (ja) | 硬貨選別装置 | |
| JPH0654510B2 (ja) | 硬貨判別装置 | |
| JPH07118031B2 (ja) | 硬貨判別装置 | |
| JPS623396A (ja) | 硬貨判別処理方式 | |
| JP3168737B2 (ja) | 硬貨選別装置 | |
| JPH05242332A (ja) | 硬貨選別装置 | |
| JP2985402B2 (ja) | 硬貨識別装置 | |
| JP3201185B2 (ja) | 硬貨識別装置 | |
| JPH05233914A (ja) | 硬貨選別装置 | |
| JP4379238B2 (ja) | 硬貨識別装置 | |
| JPS5860389A (ja) | 硬貨判別方法 | |
| JPH0117195B2 (ja) |