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JPH08153829A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

Info

Publication number
JPH08153829A
JPH08153829A JP6292541A JP29254194A JPH08153829A JP H08153829 A JPH08153829 A JP H08153829A JP 6292541 A JP6292541 A JP 6292541A JP 29254194 A JP29254194 A JP 29254194A JP H08153829 A JPH08153829 A JP H08153829A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
semiconductor device
pent roof
fins
fin
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP6292541A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshihiro Matsumura
吉浩 松村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Works Ltd filed Critical Matsushita Electric Works Ltd
Priority to JP6292541A priority Critical patent/JPH08153829A/ja
Priority to US08/563,581 priority patent/US5703295A/en
Publication of JPH08153829A publication Critical patent/JPH08153829A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

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Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M13/00—Testing of machine parts
    • G01M13/04—Bearings
    • G01M13/045—Acoustic or vibration analysis
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01H—MEASUREMENT OF MECHANICAL VIBRATIONS OR ULTRASONIC, SONIC OR INFRASONIC WAVES
    • G01H1/00—Measuring characteristics of vibrations in solids by using direct conduction to the detector
    • G01H1/003—Measuring characteristics of vibrations in solids by using direct conduction to the detector of rotating machines
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S73/00—Measuring and testing
    • Y10S73/04—Piezoelectric

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Acoustics & Sound (AREA)
  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
  • Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
  • Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、放熱効果の高い半導体装置を提供
すること、さらには、放熱効果が高く、且つ、製造の容
易な半導体装置をを提供せんとするものである。 【構成】 半導体素子３を樹脂５にて上部をペントルー
フ１１にしてパッケージし、ペントルーフ１１の上面に
フイン１を並設して成ることを特徴とする半導体装置、
及び、この半導体装置を、樹脂５にて、フイン１とペン
トルーフ１１を一体に形成したもの。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置を樹脂でパ
ッケージした半導体装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図４に従来の半導体装置を示す。
【０００３】従来のものは、半導体素子をパッケージし
た薄い箱型の樹脂５３の上面に表面にフイン１２を並設
した放熱用部材を張り付けたものがある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来例で
は、フィン１２の高さが均一であり、気流の移動が妨げ
られるため、横側からの送風等による冷却効果がいま一
つであった。
【０００５】また、上述のように、フィン１２は、別途
作成して、樹脂５３の上面に張り付けるため、製造に手
間がかかる欠点を有していた。
【０００６】本発明は、上記の点に鑑みてなされたもの
であり、放熱効果の高い半導体装置を提供すること、さ
らには、放熱効果が高く、且つ、製造の容易な半導体装
置を提供せんとするものである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この出願に係る発明の第
１は、半導体素子３を樹脂５にて上部をペントルーフ１
１にしてパッケージし、ペントルーフ１１の上面にフイ
ン１を並設して成ることを特徴とする半導体装置であ
る。
【０００８】この場合、樹脂５にて、フイン１とペント
ルーフ１１を一体に形成してもよい。
【０００９】この出願に係る発明の第２は、半導体素子
３を樹脂５にてパッケージし、この樹脂５の上面にペン
トルーフ１１を有する樹脂５２を上載し、ペントルーフ
１１の上面にフイン１を並設して成ることを特徴とする
半導体装置である。
【００１０】この場合、樹脂５の上面に上載する樹脂５
２にて、フイン１とペントルーフ１１を一体に形成して
もよい。
【００１１】上記の第１、第２の発明において、フイン
１がペントルーフの頂部と平行であるものが望ましい。
【００１２】
【作 用】この出願に係る発明の半導体装置によれば、
並設されたフイン１の高さが端から中央にかけて高くな
るので、横側からの送風、通気等に放熱用のフイン１が
接触し易く、放熱性に優れる。
【００１３】なお、半導体素子３をパッケージする樹脂
５と、上面にフイン１を並設したペントルーフ１１を有
する樹脂５２とを別体に形成したうえで、これを一体化
するようにすれば、樹脂５２のみを、パッケージする半
導体素子３の性能・形状等に対応して、製造できる。
【００１４】
【実施例】以下、本発明を実施例に基づき説明する。
【００１５】図１および図２に本発明の一実施例である
半導体装置を示す。ダイパッド４の上に固定された半導
体素子３は、樹脂５にて封止されている。
【００１６】樹脂５は、薄い方形の箱型に形成され、上
部がペントルーフ１１である。このペントルーフ１１の
上面には、フイン１がペントルーフ１１の頂部に平行に
並設されている。
【００１７】ダイパッド４の周囲にはリード端子２が設
けられ、樹脂５の周囲に導出されている。
【００１８】上記の半導体装置は、電子機器の中等に組
み込んで使用されるが、送風、あるいは通気等がフイン
１に略直角な場合にあってもフイン１が端から中央に向
かって高い位置に設けられているので、確実に冷却さ
れ、放熱効率がよい。通気等のない場合であっても、フ
イン１が、完全に重なり合わないようになっているの
で、放熱効率がよい。
【００１９】図３に本発明の異なる実施例である半導体
装置を示す。ダイパッド４の上に固定された半導体素子
３は、樹脂５にて封止されている。
【００２０】樹脂５は、薄い方形の箱型に形成されてい
る。この樹脂５の上面にペントルーフ１１を有する樹脂
５２を上載し、ペントルーフ１１の上面にフイン１を並
設している。フイン１はペントルーフ１１の頂部に平行
に並設されている。
【００２１】ダイパッド４の周囲にはリード端子２が設
けられ、樹脂５の周囲に導出されている。
【００２２】上記の半導体装置が、前記実施例として示
す半導体装置と同様の効果を奏することはもとよりであ
る。さらに、上面にフイン１を並設したペントルーフ１
１を有する樹脂５２を別体に形成するので、樹脂５２の
みを、パッケージする半導体装置３の性能・形状等に対
応して、製造できる。このため、製造用の金型等が簡単
に造れる等の製造上の利点がある。
【００２３】
【発明の効果】以上のように、この出願に係る発明の半
導体装置によれば、フイン１が外気に接触し易く、放熱
性に優れる。
【００２４】なお、半導体素子３をパッケージする樹脂
５と、上面にフイン１を併設したペントルーフ１１を有
する樹脂５２とを別体に形成したうえで、これを一体化
するようにすれば、樹脂５２のみを、パッケージする半
導体装置３の性能・形状等に対応して、製造できるの
で、金型の製造上等の製造上の利点がある。
【図面の簡単な説明】
【図 １】本発明の一実施例を示す斜視図。
【図 ２】同上の断面図。
【図 ３】本発明の異なる実施例を示す斜視図。
【図 ４】従来例を示す斜視図。
【符号の説明】
１ フイン １１ ペントルーフ １２ フイン ２ リード端子 ３ 半導体素子 ４ ダイパッド ５ 樹脂 ５２ 樹脂 ５３ 樹脂

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 半導体素子３を樹脂５にて上部をペント
    ルーフ１１にしてパッケージし、ペントルーフ１１の上
    面にフイン１を並設して成ることを特徴とする半導体装
    置。
  2. 【請求項２】 半導体素子３を樹脂５にてパッケージ
    し、この樹脂５の上面にペントルーフ１１を有する樹脂
    ５２を上載し、ペントルーフ１１の上面にフイン１を並
    設して成ることを特徴とする半導体装置。
  3. 【請求項３】 フイン１がペントルーフの頂部と平行で
    ある請求項１または請求項２記載の半導体装置。
  4. 【請求項４】 樹脂５にて、フイン１とペントルーフ１
    １が一体に形成されている請求項１記載の半導体装置。
  5. 【請求項５】 樹脂５の上面に上載する樹脂５２にて、
    フイン１とペントルーフ１１が一体に形成されている請
    求項１記載の半導体装置。
JP6292541A 1994-11-28 1994-11-28 半導体装置 Withdrawn JPH08153829A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6292541A JPH08153829A (ja) 1994-11-28 1994-11-28 半導体装置
US08/563,581 US5703295A (en) 1994-11-28 1995-11-28 Vibration sensing method and apparatus therefor

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JP (1) JPH08153829A (ja)

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