JPH0795159A - 光送信器 - Google Patents
光送信器Info
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- JPH0795159A JPH0795159A JP5238326A JP23832693A JPH0795159A JP H0795159 A JPH0795159 A JP H0795159A JP 5238326 A JP5238326 A JP 5238326A JP 23832693 A JP23832693 A JP 23832693A JP H0795159 A JPH0795159 A JP H0795159A
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- JP
- Japan
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- light
- wavelength
- temperature
- intensity
- optical transmitter
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- Pending
Links
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- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 28
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 3
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- 230000032683 aging Effects 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
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- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Optical Communication System (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 光源の経時変化や出力光強度によらず出力光
の波長が安定で、その波長の設定が容易な光送信器を提
供する。 【構成】 発光波長が温度依存する光源51にこの光源
の出力光の強度を制御する光源駆動部52を接続すると
共に上記光源の温度を検出する温度検出部53及びその
温度を制御する温度制御部54を設けた光送信器におい
て、上記出力光の一部の波長の光の強度から発光中心波
長のずれを検出すると共にこのずれに基づいて温度基準
値を上記温度制御部54に帰還させる波長制御部57を
設けた。
の波長が安定で、その波長の設定が容易な光送信器を提
供する。 【構成】 発光波長が温度依存する光源51にこの光源
の出力光の強度を制御する光源駆動部52を接続すると
共に上記光源の温度を検出する温度検出部53及びその
温度を制御する温度制御部54を設けた光送信器におい
て、上記出力光の一部の波長の光の強度から発光中心波
長のずれを検出すると共にこのずれに基づいて温度基準
値を上記温度制御部54に帰還させる波長制御部57を
設けた。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザ光を用いた光送
信器に係り、特に、光源の経時変化や出力光強度によら
ず出力光の波長が安定で、その波長の設定が容易な光送
信器に関するものである。
信器に係り、特に、光源の経時変化や出力光強度によら
ず出力光の波長が安定で、その波長の設定が容易な光送
信器に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の光送信器の構成例を図6に示す。
光源にはレーザダイオードが用いられている。レーザダ
イオード1は、発光波長が温度依存する性質がある。図
6の構成は、出力光2の強度と波長とを安定化させる構
成である。
光源にはレーザダイオードが用いられている。レーザダ
イオード1は、発光波長が温度依存する性質がある。図
6の構成は、出力光2の強度と波長とを安定化させる構
成である。
【0003】即ち、レーザダイオード1の出力光2、3
の一部である出力光3がモニタダイオード4に入射する
ようになっており、出力光3の強度がモニタダイオード
4で検出される。その検出電流5がレーザ駆動回路6に
おいて所定の基準値と比較される。比較によって得られ
た誤差が増幅されてレーザ駆動電流7となる。レーザ駆
動電流7によりレーザダイオード1が駆動される。これ
により、レーザダイオード1の出力光2の強度が一定に
保たれる。
の一部である出力光3がモニタダイオード4に入射する
ようになっており、出力光3の強度がモニタダイオード
4で検出される。その検出電流5がレーザ駆動回路6に
おいて所定の基準値と比較される。比較によって得られ
た誤差が増幅されてレーザ駆動電流7となる。レーザ駆
動電流7によりレーザダイオード1が駆動される。これ
により、レーザダイオード1の出力光2の強度が一定に
保たれる。
【0004】これと同時に、レーザダイオード1が収容
されているパッケージ14にサーミスタ8が実装されて
おり、このサーミスタ8の抵抗値が温度検出回路9にお
いて所定の基準値と比較される。この比較によりパッケ
ージ14内の温度が検出される。比較で得られた温度の
検出信号10がペルチェ駆動回路11に入力される。ペ
ルチェ駆動回路11では、検出した温度と設定温度基準
値12との差がなくなるように、ペルチェ素子13の電
流が制御される。これによりパッケージ14内の温度が
一定に保たれ、その結果、レーザダイオード1の出力光
2、3の波長が安定に維持される。
されているパッケージ14にサーミスタ8が実装されて
おり、このサーミスタ8の抵抗値が温度検出回路9にお
いて所定の基準値と比較される。この比較によりパッケ
ージ14内の温度が検出される。比較で得られた温度の
検出信号10がペルチェ駆動回路11に入力される。ペ
ルチェ駆動回路11では、検出した温度と設定温度基準
値12との差がなくなるように、ペルチェ素子13の電
流が制御される。これによりパッケージ14内の温度が
一定に保たれ、その結果、レーザダイオード1の出力光
2、3の波長が安定に維持される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記したような従来の
回路により、温度を設定された温度に一定に維持し、か
つ駆動電流を一定にして駆動すれば、光源は一定の波長
で発光する。しかし、光源が経時変化により劣化する
と、同じ温度に保っていても、初期に設定した波長と異
なる波長で発光するようになる。
回路により、温度を設定された温度に一定に維持し、か
つ駆動電流を一定にして駆動すれば、光源は一定の波長
で発光する。しかし、光源が経時変化により劣化する
と、同じ温度に保っていても、初期に設定した波長と異
なる波長で発光するようになる。
【0006】また、光源の温度を一定に保っていても、
出力光強度を変化させると発光波長も変化してしまう。
出力光強度を変化させると発光波長も変化してしまう。
【0007】そこで、本発明の目的は、上記課題を解決
し、光源の経時変化や出力光強度によらず出力光の波長
が安定で、その波長の設定が容易な光送信器を提供する
ことにある。
し、光源の経時変化や出力光強度によらず出力光の波長
が安定で、その波長の設定が容易な光送信器を提供する
ことにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、発光波長が温度依存する光源にこの光源の
出力光の強度を制御する光源駆動部を接続すると共に上
記光源の温度を検出する温度検出部及びその温度を制御
する温度制御部を設けた光送信器において、上記出力光
の一部の波長の光の強度から発光中心波長のずれを検出
すると共にこのずれに基づいた温度基準値を上記温度制
御部に帰還させる波長制御部を設けたものである。
に本発明は、発光波長が温度依存する光源にこの光源の
出力光の強度を制御する光源駆動部を接続すると共に上
記光源の温度を検出する温度検出部及びその温度を制御
する温度制御部を設けた光送信器において、上記出力光
の一部の波長の光の強度から発光中心波長のずれを検出
すると共にこのずれに基づいた温度基準値を上記温度制
御部に帰還させる波長制御部を設けたものである。
【0009】上記波長制御部が、上記出力光の発光中心
波長の短波長側の光の強度と長波長側の光の強度とを検
出し、これらの光強度の比較から上記出力光の発光中心
波長を検出し、さらにこの検出された発光中心波長を任
意に設定された基準波長と比較して上記ずれを検出して
もよい。
波長の短波長側の光の強度と長波長側の光の強度とを検
出し、これらの光強度の比較から上記出力光の発光中心
波長を検出し、さらにこの検出された発光中心波長を任
意に設定された基準波長と比較して上記ずれを検出して
もよい。
【0010】上記波長制御部が、上記出力光からその発
光中心波長の短波長側の光を分離すると共に長波長側の
光を分離する光分離部と、その分離された光の強度をそ
れぞれ検出する光強度検出部と、短・長波長側の光の強
度を比較して発光中心波長を検出する発光波長検出回路
とを有してもよい。
光中心波長の短波長側の光を分離すると共に長波長側の
光を分離する光分離部と、その分離された光の強度をそ
れぞれ検出する光強度検出部と、短・長波長側の光の強
度を比較して発光中心波長を検出する発光波長検出回路
とを有してもよい。
【0011】上記光分離部が、上記出力光からその発光
中心波長の短波長側の光を分離する光分離器と、長波長
側の光を分離する光分離器とからなってもよい。
中心波長の短波長側の光を分離する光分離器と、長波長
側の光を分離する光分離器とからなってもよい。
【0012】上記光分離部が、上記出力光から一部の光
を分岐する光分岐器と、その分岐された光を発光中心波
長の短波長側と長波長側とに分離する光分離器とからな
ってもよい。
を分岐する光分岐器と、その分岐された光を発光中心波
長の短波長側と長波長側とに分離する光分離器とからな
ってもよい。
【0013】上記光分離部が1個の基板上に波長分離器
等の光学素子を集積化して形成した平面型光回路基板か
ら構成されてもよい。
等の光学素子を集積化して形成した平面型光回路基板か
ら構成されてもよい。
【0014】また、発光波長が温度依存する光源にこの
光源の出力光の強度を制御する光源駆動部を接続すると
共に上記光源の温度を検出する温度検出部及びその温度
を制御する温度制御部を設けた光送信器において、上記
出力光の一部の波長の光を分離する光分離部を有しその
分離光の強度から発光中心波長のずれを検出すると共に
このずれに基づいた温度基準値を上記温度制御部に帰還
させる波長制御部を設け、さらに上記光分離部にその分
離波長を変化させる分離波長変化手段を併設したもので
ある。
光源の出力光の強度を制御する光源駆動部を接続すると
共に上記光源の温度を検出する温度検出部及びその温度
を制御する温度制御部を設けた光送信器において、上記
出力光の一部の波長の光を分離する光分離部を有しその
分離光の強度から発光中心波長のずれを検出すると共に
このずれに基づいた温度基準値を上記温度制御部に帰還
させる波長制御部を設け、さらに上記光分離部にその分
離波長を変化させる分離波長変化手段を併設したもので
ある。
【0015】上記分離波長変化手段は、上記光分離部の
温度を変化させることにより分離波長を変化させてもよ
い。
温度を変化させることにより分離波長を変化させてもよ
い。
【0016】
【作用】上記構成により、波長制御部は出力光の一部の
波長の光の強度を検出し、この強度から発光中心波長の
ずれを検出し、このずれに基づいた温度基準値を上記温
度制御部に帰還させる。温度制御部は光源の検出温度が
温度基準値に近付くように温度を制御する。
波長の光の強度を検出し、この強度から発光中心波長の
ずれを検出し、このずれに基づいた温度基準値を上記温
度制御部に帰還させる。温度制御部は光源の検出温度が
温度基準値に近付くように温度を制御する。
【0017】経時変化により光源の波長が変化しようと
するとき、上記波長制御部はその波長の変化に応じて温
度基準値を変化させる。この温度基準値の変化の方向は
勿論光源の波長をもとの波長に戻す方向である。これに
より、光源は初期に設定した波長で出力光を出し続ける
ことになる。
するとき、上記波長制御部はその波長の変化に応じて温
度基準値を変化させる。この温度基準値の変化の方向は
勿論光源の波長をもとの波長に戻す方向である。これに
より、光源は初期に設定した波長で出力光を出し続ける
ことになる。
【0018】出力光の分光特性は、発光中心波長を含む
有限の波長帯域を有し、最も強度の強い中心波長の両側
にほぼ対称的に外側へいくほど強度が弱くなる裾野を形
成する。光分離部は、この出力光から一部の波長の光を
分離する。即ち、裾野のどこかに対応する光が分離され
る。光強度検出部はその分離された光の強度を検出する
ので、もし出力光の波長が変化すれば、分離された光の
強度も変化することになる。
有限の波長帯域を有し、最も強度の強い中心波長の両側
にほぼ対称的に外側へいくほど強度が弱くなる裾野を形
成する。光分離部は、この出力光から一部の波長の光を
分離する。即ち、裾野のどこかに対応する光が分離され
る。光強度検出部はその分離された光の強度を検出する
ので、もし出力光の波長が変化すれば、分離された光の
強度も変化することになる。
【0019】光分離部が出力光からその発光中心波長の
短波長側と長波長側の光とを分離するようにし、この短
波長側及び長波長側の光の強度を光強度検出部が検出す
るようにすれば、上記裾野の両側が検出できることにな
る。両側の光強度の比較から出力光の発光中心波長が検
出できる。この検出された発光中心波長を任意に設定さ
れた基準波長と比較すれば、出力光の波長の変化の大き
さが差として現れる。その差が小さくなるように、温度
基準値を変化させて温度制御部に帰還させれば、出力光
の波長は安定する。
短波長側と長波長側の光とを分離するようにし、この短
波長側及び長波長側の光の強度を光強度検出部が検出す
るようにすれば、上記裾野の両側が検出できることにな
る。両側の光強度の比較から出力光の発光中心波長が検
出できる。この検出された発光中心波長を任意に設定さ
れた基準波長と比較すれば、出力光の波長の変化の大き
さが差として現れる。その差が小さくなるように、温度
基準値を変化させて温度制御部に帰還させれば、出力光
の波長は安定する。
【0020】光分離部は平面型光回路基板上に集積化さ
れた波長分離器で構成できる。この波長分離器は温度に
よって分離波長が変化する。即ち、分離波長変化手段が
光分離部の温度を変化させると、分離波長が変化する。
分離波長が変化すると、上記裾野の検出において検出に
使用する波長が変化することになるので、出力光自体が
変化していなくても相対的に変化しているような検出結
果が得られる。波長制御部はこの検出波長に基づいて温
度基準値を温度制御部に帰還させるから、出力光は分離
波長変化手段の与えた温度変化に応じて変化することに
なる。
れた波長分離器で構成できる。この波長分離器は温度に
よって分離波長が変化する。即ち、分離波長変化手段が
光分離部の温度を変化させると、分離波長が変化する。
分離波長が変化すると、上記裾野の検出において検出に
使用する波長が変化することになるので、出力光自体が
変化していなくても相対的に変化しているような検出結
果が得られる。波長制御部はこの検出波長に基づいて温
度基準値を温度制御部に帰還させるから、出力光は分離
波長変化手段の与えた温度変化に応じて変化することに
なる。
【0021】
【実施例】以下本発明の一実施例を添付図面に基づいて
詳述する。
詳述する。
【0022】図1に示されるように、パッケージ14内
に光源51であるレーザダイオード1、モニタダイオー
ド4、サーミスタ8、ペルチェ素子13が収容されてい
る。モニタダイオード4とレーザ駆動回路6とは、光源
51の出力光の強度を制御する光源駆動部52を構成し
ている。サーミスタ8と温度検出回路9とは、光源の温
度51を検出する温度検出部53を構成している。ペル
チェ素子13とペルチェ駆動回路11とは温度を制御す
る温度制御部54を構成している。
に光源51であるレーザダイオード1、モニタダイオー
ド4、サーミスタ8、ペルチェ素子13が収容されてい
る。モニタダイオード4とレーザ駆動回路6とは、光源
51の出力光の強度を制御する光源駆動部52を構成し
ている。サーミスタ8と温度検出回路9とは、光源の温
度51を検出する温度検出部53を構成している。ペル
チェ素子13とペルチェ駆動回路11とは温度を制御す
る温度制御部54を構成している。
【0023】光源51の出力光2を波長分離する波長分
離器15と波長分離器16とが設けられている。この実
施例では、波長分離器15には出力光2が入射され、そ
の通過光24が波長分離器16に入射され、さらにその
通過光25が光送信器出力光25として取り出され、各
波長分離器15、16の分離光17、18はそれぞれ光
強度検出器19、20に入射するようになっている。波
長分離器15、16は光分離部55を構成し、光強度検
出器19、20は、光強度検出部56を構成している。
光強度検出器19、20の分離光強度検出信号21、2
2はそれぞれ光波長検出回路23に入力されている。光
波長検出回路23には基準波長値26も入力されてい
る。基準波長値26は予め所望の光波長に設定しておく
ことができる。光波長検出回路23の出力は温度制御部
54に入力されている。光分離部55、光強度検出部5
6及び光波長検出回路23は、出力光の検出波長に基づ
いて温度基準値を温度制御部54に帰還させるための波
長制御部57を構成している。
離器15と波長分離器16とが設けられている。この実
施例では、波長分離器15には出力光2が入射され、そ
の通過光24が波長分離器16に入射され、さらにその
通過光25が光送信器出力光25として取り出され、各
波長分離器15、16の分離光17、18はそれぞれ光
強度検出器19、20に入射するようになっている。波
長分離器15、16は光分離部55を構成し、光強度検
出器19、20は、光強度検出部56を構成している。
光強度検出器19、20の分離光強度検出信号21、2
2はそれぞれ光波長検出回路23に入力されている。光
波長検出回路23には基準波長値26も入力されてい
る。基準波長値26は予め所望の光波長に設定しておく
ことができる。光波長検出回路23の出力は温度制御部
54に入力されている。光分離部55、光強度検出部5
6及び光波長検出回路23は、出力光の検出波長に基づ
いて温度基準値を温度制御部54に帰還させるための波
長制御部57を構成している。
【0024】ここで、波長分離器15、16の特性を図
2により説明する。波長分離器15は分離特性31及び
通過特性32を有している。即ち、分離特性31は、レ
ーザダイオード2の発光中心波長より短波長側で100
%の通過割合を示し、発光中心波長の短波長側近傍で急
峻に通過割合が落ち込み、発光中心波長より長波長では
0%の通過割合となる。通過特性32は、発光中心波長
より短波長側で0%の通過割合を示し、発光中心波長の
短波長側近傍で急峻に通過割合が盛り上がり、発光中心
波長より長短波長では100%の通過割合となる。ここ
で通過割合とは、出力光2が通過光24の方向に通過す
る割合のことであり、分離光17の方向にはその残りの
光が分離されることになる。従って、分離特性31と通
過特性32とは互いに相補的な特性となる。
2により説明する。波長分離器15は分離特性31及び
通過特性32を有している。即ち、分離特性31は、レ
ーザダイオード2の発光中心波長より短波長側で100
%の通過割合を示し、発光中心波長の短波長側近傍で急
峻に通過割合が落ち込み、発光中心波長より長波長では
0%の通過割合となる。通過特性32は、発光中心波長
より短波長側で0%の通過割合を示し、発光中心波長の
短波長側近傍で急峻に通過割合が盛り上がり、発光中心
波長より長短波長では100%の通過割合となる。ここ
で通過割合とは、出力光2が通過光24の方向に通過す
る割合のことであり、分離光17の方向にはその残りの
光が分離されることになる。従って、分離特性31と通
過特性32とは互いに相補的な特性となる。
【0025】波長分離器16は分離特性33及び通過特
性34を有している。即ち、分離特性33は、レーザダ
イオード2の発光中心波長より長波長側で100%の通
過割合を示し、発光中心波長の長波長側近傍で急峻に通
過割合が落ち込み、発光中心波長より短波長では0%の
通過割合となる。通過特性34は、発光中心波長より長
波長側で0%の通過割合を示し、発光中心波長の長波長
側近傍で急峻に通過割合が盛り上がり、発光中心波長よ
り短波長では100%の通過割合となる。分離特性33
と通過特性34とが交差している波長と、前記分離特性
31と通過特性32とが交差している波長とは、発光中
心波長を挟んで対称の位置にあり、かつ各特性のカーブ
も対称的に形成されている。
性34を有している。即ち、分離特性33は、レーザダ
イオード2の発光中心波長より長波長側で100%の通
過割合を示し、発光中心波長の長波長側近傍で急峻に通
過割合が落ち込み、発光中心波長より短波長では0%の
通過割合となる。通過特性34は、発光中心波長より長
波長側で0%の通過割合を示し、発光中心波長の長波長
側近傍で急峻に通過割合が盛り上がり、発光中心波長よ
り短波長では100%の通過割合となる。分離特性33
と通過特性34とが交差している波長と、前記分離特性
31と通過特性32とが交差している波長とは、発光中
心波長を挟んで対称の位置にあり、かつ各特性のカーブ
も対称的に形成されている。
【0026】波長分離器15、16は、図3に示される
ように平面型光回路基板35上に集積化して形成され
る。平面型光回路基板35は光回路パッケージ38に収
容され、その光回路パッケージ38には、出力光2を平
面型光回路基板35に導く光ファイバ36、通過光25
を平面型光回路基板35から取り出す光ファイバ37が
挿入されている。平面型光回路基板35上で各光ファイ
バ間を結ぶ導波路61に近接する他の導波路62、63
が2個設けられている。これらの導波路62、63は、
導波路61に近接する部分において、それぞれ波長分離
器15、16を形成すると共に分離光17、18を導く
ものである。光強度検出器19、20は、光回路パッケ
ージ38に収容され、平面型光回路基板35の一辺にお
いて導波路62、63に結合されている。
ように平面型光回路基板35上に集積化して形成され
る。平面型光回路基板35は光回路パッケージ38に収
容され、その光回路パッケージ38には、出力光2を平
面型光回路基板35に導く光ファイバ36、通過光25
を平面型光回路基板35から取り出す光ファイバ37が
挿入されている。平面型光回路基板35上で各光ファイ
バ間を結ぶ導波路61に近接する他の導波路62、63
が2個設けられている。これらの導波路62、63は、
導波路61に近接する部分において、それぞれ波長分離
器15、16を形成すると共に分離光17、18を導く
ものである。光強度検出器19、20は、光回路パッケ
ージ38に収容され、平面型光回路基板35の一辺にお
いて導波路62、63に結合されている。
【0027】波長分離器15、16を覆うようにヒータ
41が設けられている。ヒータ41はヒータ制御回路4
4からヒータ電極42、43を介して電流を供給される
ようになっている。ヒータ41及びヒータ制御回路44
は、光分離部55の分離波長を変化させる波長制御部5
7を構成している。
41が設けられている。ヒータ41はヒータ制御回路4
4からヒータ電極42、43を介して電流を供給される
ようになっている。ヒータ41及びヒータ制御回路44
は、光分離部55の分離波長を変化させる波長制御部5
7を構成している。
【0028】次に実施例の作用を述べる。
【0029】レーザダイオード1の発光時のパワスペク
トルは、その発光中心波長を中心としてほぼ対称であ
り、発光中心波長の短波長側と長波長側と裾野を形成し
ている。光分離部55を構成する一方の波長分離器15
は、出力光2から発光中心波長の短波長側の裾野に相当
する光を分離光17として分離し、他方の波長分離器1
6は、通過光24から発光中心波長の長波長側の裾野に
相当する光を分離光18として分離する。光強度検出部
56を構成する光強度検出器19、20は、それぞれ裾
野のパワを検出する。レーザダイオード1が所望の中心
波長で発光しているときには、それぞれ裾野のパワは相
等しい。
トルは、その発光中心波長を中心としてほぼ対称であ
り、発光中心波長の短波長側と長波長側と裾野を形成し
ている。光分離部55を構成する一方の波長分離器15
は、出力光2から発光中心波長の短波長側の裾野に相当
する光を分離光17として分離し、他方の波長分離器1
6は、通過光24から発光中心波長の長波長側の裾野に
相当する光を分離光18として分離する。光強度検出部
56を構成する光強度検出器19、20は、それぞれ裾
野のパワを検出する。レーザダイオード1が所望の中心
波長で発光しているときには、それぞれ裾野のパワは相
等しい。
【0030】出力光2が所望の中心波長からずれている
と、光強度検出器19、20で検出されるパワは等しく
ない。これらの検出値を比較すると出力光2の中心波長
の凡その値が検出できる。光波長検出回路23は分離光
強度検出信号21、22を比較することにより、出力光
2の中心波長の凡その値を求める。さらにこの中心波長
の凡その値と基準波長値26とを比較し、誤差検出を行
う。誤差検出に基づく温度基準値出力12が温度制御部
54に帰還される。ペルチェ駆動回路11は、図6にお
ける設定温度基準値12の代わりに、温度基準値出力を
用いて温度制御を行う。この結果、出力光2の中心波長
は、所望の中心波長に戻り、安定する。
と、光強度検出器19、20で検出されるパワは等しく
ない。これらの検出値を比較すると出力光2の中心波長
の凡その値が検出できる。光波長検出回路23は分離光
強度検出信号21、22を比較することにより、出力光
2の中心波長の凡その値を求める。さらにこの中心波長
の凡その値と基準波長値26とを比較し、誤差検出を行
う。誤差検出に基づく温度基準値出力12が温度制御部
54に帰還される。ペルチェ駆動回路11は、図6にお
ける設定温度基準値12の代わりに、温度基準値出力を
用いて温度制御を行う。この結果、出力光2の中心波長
は、所望の中心波長に戻り、安定する。
【0031】次に中心波長の設定について説明する。
【0032】波長分離器15、16は温度によって通過
・分離波長が変化する。ヒータ制御回路44からヒータ
41に流れる電流を増減すると、波長分離器15、16
の温度がほぼ同じように変化し、分離波長の変化により
分離光17、18の波長が変化する。出力光2の中心波
長が一定であるのに対し、分離光17、18の波長が変
化すると、光強度検出部56では裾野の対称でない位置
でのパワが検出される。このパワの差に基づいて温度制
御が行われるから、出力光2の中心波長が変化すること
になる。
・分離波長が変化する。ヒータ制御回路44からヒータ
41に流れる電流を増減すると、波長分離器15、16
の温度がほぼ同じように変化し、分離波長の変化により
分離光17、18の波長が変化する。出力光2の中心波
長が一定であるのに対し、分離光17、18の波長が変
化すると、光強度検出部56では裾野の対称でない位置
でのパワが検出される。このパワの差に基づいて温度制
御が行われるから、出力光2の中心波長が変化すること
になる。
【0033】次に本発明の他の実施例を説明する。図4
においては、図1で説明した光源51、光源駆動部5
2、温度検出部53、温度制御部54、光強度検出部5
6が設けられているが、光分離部55は構成が異なって
いる。レーザダイオード1の出力光2は光分岐器27に
より全波長が同じ割合で分岐される。その分岐光28が
中心波長を境に波長分離器29で分離される。分離光1
7、18の処理は図1の例と同様である。
においては、図1で説明した光源51、光源駆動部5
2、温度検出部53、温度制御部54、光強度検出部5
6が設けられているが、光分離部55は構成が異なって
いる。レーザダイオード1の出力光2は光分岐器27に
より全波長が同じ割合で分岐される。その分岐光28が
中心波長を境に波長分離器29で分離される。分離光1
7、18の処理は図1の例と同様である。
【0034】光分岐器27と波長分離器29は図5に示
されるように平面型光回路基板35上に集積化して形成
される。図5において光回路パッケージ38の構成は図
3のものと同じであるが、平面型光回路基板35の導波
路パターンが異なっている。光分岐器27は各光ファイ
バ36、37間を結ぶ導波路61に近接する導波路64
により形成され、波長分離器29は導波路64に近接す
る導波路65により形成される。ヒータ41は波長分離
器29を覆うように設けられる。
されるように平面型光回路基板35上に集積化して形成
される。図5において光回路パッケージ38の構成は図
3のものと同じであるが、平面型光回路基板35の導波
路パターンが異なっている。光分岐器27は各光ファイ
バ36、37間を結ぶ導波路61に近接する導波路64
により形成され、波長分離器29は導波路64に近接す
る導波路65により形成される。ヒータ41は波長分離
器29を覆うように設けられる。
【0035】
【発明の効果】本発明は次の如き優れた効果を発揮す
る。
る。
【0036】(1)光源の経時変化によって出力光の波
長が変わろうとしても、温度制御によりこれを相殺する
方向に出力光の波長が変えられるので、出力光の波長は
結局一定になる。従って、光源の経時変化に関係なく光
送信器が使用できるようになり、光送信器の寿命が伸び
る。
長が変わろうとしても、温度制御によりこれを相殺する
方向に出力光の波長が変えられるので、出力光の波長は
結局一定になる。従って、光源の経時変化に関係なく光
送信器が使用できるようになり、光送信器の寿命が伸び
る。
【0037】(2)出力光強度によらず出力光の波長が
安定となり、光送信器の使用光強度範囲が広がる。
安定となり、光送信器の使用光強度範囲が広がる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す光送信器の回路図であ
る。
る。
【図2】本発明に使用される波長分離器の分離特性及び
通過特性を示すグラフである。
通過特性を示すグラフである。
【図3】本発明に使用される光回路パッケージの構成図
である。
である。
【図4】本発明の他の実施例を示す光送信器の回路図で
ある。
ある。
【図5】本発明の他の実施例を示す光回路パッケージの
構成図である。
構成図である。
【図6】従来の光送信器の回路図である。
51 光源 52 光源駆動部 53 温度検出部 54 温度制御部 55 光分離部 56 光強度検出部 57 波長制御部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H04B 10/28 10/26 (72)発明者 小林 憲文 茨城県日立市日高町5丁目1番1号 日立 電線株式会社オプトロシステム研究所内
Claims (8)
- 【請求項1】 発光波長が温度依存する光源にこの光源
の出力光の強度を制御する光源駆動部を接続すると共に
上記光源の温度を検出する温度検出部及びその温度を制
御する温度制御部を設けた光送信器において、上記出力
光の一部の波長の光の強度から発光中心波長のずれを検
出すると共にこのずれに基づいた温度基準値を上記温度
制御部に帰還させる波長制御部を設けたことを特徴とす
る光送信器。 - 【請求項2】 上記波長制御部が、上記出力光の発光中
心波長の短波長側の光の強度と長波長側の光の強度とを
検出し、これらの光強度の比較から上記出力光の発光中
心波長を検出し、さらにこの検出された発光中心波長を
任意に設定された基準波長と比較して上記ずれを検出す
ることを特徴とする請求項1記載の光送信器。 - 【請求項3】 上記波長制御部が、上記出力光からその
発光中心波長の短波長側の光を分離すると共に長波長側
の光を分離する光分離部と、その分離された光の強度を
それぞれ検出する光強度検出部と、短・長波長側の光の
強度を比較して発光中心波長を検出する発光波長検出回
路とを有することを特徴とする請求項2記載の光送信
器。 - 【請求項4】 上記光分離部が、上記出力光からその発
光中心波長の短波長側の光を分離する光分離器と、長波
長側の光を分離する光分離器とからなることを特徴とす
る請求項3記載の光送信器。 - 【請求項5】 上記光分離部が、上記出力光から一部の
光を分岐する光分岐器と、その分岐された光を発光中心
波長の短波長側と長波長側とに分離する光分離器とから
なることを特徴とする請求項3記載の光送信器。 - 【請求項6】 上記光分離部が1個の基板上に波長分離
器等の光学素子を集積化して形成した平面型光回路基板
から構成されることを特徴とする請求項3記載の光送信
器。 - 【請求項7】 発光波長が温度依存する光源にこの光源
の出力光の強度を制御する光源駆動部を接続すると共に
上記光源の温度を検出する温度検出部及びその温度を制
御する温度制御部を設けた光送信器において、上記出力
光の一部の波長の光を分離する光分離部を有しその分離
光の強度から発光中心波長のずれを検出すると共にこの
ずれに基づいた温度基準値を上記温度制御部に帰還させ
る波長制御部を設け、さらに上記光分離部にその分離波
長を変化させる分離波長変化手段を併設したことを特徴
とする光送信器。 - 【請求項8】 上記分離波長変化手段は、上記光分離部
の温度を変化させることにより分離波長を変化させるこ
とを特徴とする請求項7記載の光送信器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5238326A JPH0795159A (ja) | 1993-09-24 | 1993-09-24 | 光送信器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5238326A JPH0795159A (ja) | 1993-09-24 | 1993-09-24 | 光送信器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0795159A true JPH0795159A (ja) | 1995-04-07 |
Family
ID=17028551
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5238326A Pending JPH0795159A (ja) | 1993-09-24 | 1993-09-24 | 光送信器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0795159A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0981213A1 (en) * | 1998-08-14 | 2000-02-23 | Telefonaktiebolaget Lm Ericsson | Wavelenght control in optical WDM systems |
EP1458070A1 (en) | 2003-03-12 | 2004-09-15 | Agilent Technologies Inc. a Delaware Corporation | Optical wavelength control system |
JP2005020459A (ja) * | 2003-06-26 | 2005-01-20 | Oki Electric Ind Co Ltd | 光符号分割多重伝送方法及び光符号分割多重伝送装置 |
-
1993
- 1993-09-24 JP JP5238326A patent/JPH0795159A/ja active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0981213A1 (en) * | 1998-08-14 | 2000-02-23 | Telefonaktiebolaget Lm Ericsson | Wavelenght control in optical WDM systems |
WO2000010271A2 (en) * | 1998-08-14 | 2000-02-24 | Telefonaktiebolaget Lm Ericsson | Wavelength control in optical wdm systems |
WO2000010271A3 (en) * | 1998-08-14 | 2002-10-24 | Ericsson Telefon Ab L M | Wavelength control in optical wdm systems |
US6980742B1 (en) | 1998-08-14 | 2005-12-27 | Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) | Wavelength control in optical WDM systems |
EP1458070A1 (en) | 2003-03-12 | 2004-09-15 | Agilent Technologies Inc. a Delaware Corporation | Optical wavelength control system |
US7085448B2 (en) | 2003-03-12 | 2006-08-01 | Franco Delpiano | Optical wavelength control system |
JP2005020459A (ja) * | 2003-06-26 | 2005-01-20 | Oki Electric Ind Co Ltd | 光符号分割多重伝送方法及び光符号分割多重伝送装置 |
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