JPH079434B2 - 自動検体測定装置、自動検体測定装置における試験管有無検知方法、及び、自動検体測定装置におけるサンプル有無検知方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は化学分析に用いる自動検体測定装置、特に、半
自動の分析システムにおいて全反応処理を終了したサン
プルの濃度を測定する自動検体測定装置、及び、この自
動検体測定装置における試験管有無検知方法、自動サン
プル有無検知方法に関するものである。

〔従来の技術〕 近年医学の研究や臨床検査における分析の自動化が著し
く発達し、特に生化学検査の分野では分析法が比較的簡
単で統一しやすい所から、オートサンプラーからデータ
ー処理に至る全分析工程を完全自動化し、かつ多数検体
につき多数項目の同時分析が出来る自動分析装置が広く
普及している。しかし、抗原抗体反応の測定を行なう免
疫学の分野などでは、分析の複雑さと多様性のため完全
自動の装置はまだ少なく、分析工程ごとに自動処理装置
を使用し各工程間のサンプルの移送は人手で行なういわ
ゆる半自動の分析システムが多数使用されている。例え
ば、サンプルの希釈分注、抗原抗体反応、標識体の分注
と固相化反応、B/F分離洗浄、酵素基質分注による酵素
反応、酵素反応の結果の測定、などの各工程の処理を行
なう単位自動処理装置を設け、数十本の試験管をマトリ
ックス状に配列した試験管ラックを順次前記処理装置に
かけて分析処理を行なう方式の装置などが使用されてい
る。

このような半自動の分析システムで全反応処置の終了し
たサンプルは、比色計または分光光度計による測定が行
われる。

しかし、一般に化学分析における反応液の測定は従来汎
用の比色計または分光光度計を使用しシッパーによりサ
ンプルをフローセルに吸引して測定を行なっていた。こ
のような方法では一検体毎に人手で試験管にシッパーノ
ズルを浸積させる手数がかかるだけでなく、フローセル
に次々に異なる検体を吸引することによる、フローセル
のコンタミネーションをなくすため、前のサンプルを次
のサンプルで共洗いしなければならないので、サンプル
量を微量化し難しなどの欠点がある。このため、最近で
は試験管を５本ないし10本を単位とした測光用ラックに
配列し、測光用ラックを光度計の光軸に対して直角方向
に走行させ、試験管に直接光を照射して測定を行なう方
法がとられている。

〔発明が解決しようとする問題点〕

従来の半自動分析システムにおいては、数十本の試験管
を単位として縦横のマトリックス状に配列した試験管ラ
ックにより反応処理が行なわれ、全反応処理の終了した
サンプルを、例えば比色計で測定する場合には、上述の
如く、試験管ラックに配列している試験管を測定用ラッ
クに差し替える必要があり、試験管ラックのままでサン
プルの濃度を測定することができない。そのため、試験
管を試験管ラックから測定用ラックに差し替る手数がか
かり、また差し替え時の試験管の取り違の心配があっ
た。

本発明は、半自動システムにおいて反応処理を終了した
サンプルを、その試験管ラックのままで装置にかけ、試
験管ラックに配列した順序で、サンプルの濃度を測定す
ることができ、また、サンプル測定時間を短くし、試験
管ラックを装置にかけてから取り出すまでの待ち時間を
短かくし、さらに、測定にあたり試験管ラック上の試験
管の有無、試験管内のサンプルの有無の情報も併せて判
定できる自動検体測定装置を提供可能とすることを目的
とするものである。

〔問題を解決するための手段〕

上述の問題点を解決するためにとられた本発明の自動検
体測定装置の構成は、 （１）試験管を縦横のマトリックス状に配列した試験管
ラックを移送し、該試験管ラック上の試験管を一列毎に
順次測定待機位置に位置付けるラック移送手段と、前記
測定待機位置にある一列の試験管を同時に上昇せしめ、
前記試験管ラックの上部に設けられた測定位置に位置付
ける試料管昇降手段と、前記測定位置に位置付けられた
前記一列の試験管の各試験管の位置に順次移動して、該
試験管に収容したサンプルの濃度を測定する光度計、及
び該光度計を移送する光度計移送手段とからなることを
特徴とし、 （２）（１）の自動検体測定装置で、前記測定待機位置
において前記各試験管の位置に対応して、下方には上端
面が該試験管の底部を保持するよう凹面に形成された押
し上げ棒を配置し、上方には下端部がテーパー面を有し
バネ圧により前記試験管の上部開口部を保持するよう形
成された押え部材を配置し、前記押し上げ棒により前記
試験管を上昇せしめ、前記押え部材との間に上下から前
記試験管を測定位置に固定せしめる手段を有することを
特徴とし、 （３）（２）の自動検体測定装置で、前記試験管の開口
部を保持する前記押え部材の上方にホトインタラプラー
を配置し、前記押え部材に検出端子を設け、該押え部材
が前記試験管を前記測定位置に保持したときバネ圧に抗
して前記押え部材が上方に変移することにより、前記ホ
トインタラプターを動作せしめ試験管が存在するか否か
を検知する手段を有することを特徴とし、 （４）試験管を縦横のマトリックス状に配列した試験管
ラックを装脱自在に装着可能なラック装着台を一方向に
順次移送することができるラック移送手段と、該ラック
移送手段の移送方向と直角をなすフレーム、該フレーム
の下部に前記試験管の配列間隔と同一間隔に植設され前
記試験管ラック中の前記試験管を上部に設けられた測定
位置に押し上げる押し上げ棒、前記フレームに下方向に
付勢され上下方向に移動可能に取り付けられている移動
フレーム、及び、該移動フレームの上部に前記押し上げ
棒と相対向する位置に上下方向に移動可能に取りつけら
れ、それぞれ下方向に付勢される押え部材を有し、前記
フレームを前記ラック移送手段に対し移動させる試験管
昇降手段と、該試験管昇降手段の上昇により測定位置に
位置付けられた一列に配列している前記各試験管の位置
に該試験管に収容したサンプルの濃度を測定する光度計
を順次移送する光度計移送手段とを有していることを特
徴とし、 （５）（１）又は（２）又は（３）又は（４）の自動検
体装置で、前記試験管ラックが半自動の分析システムに
おいて反応処理を終了した試験管の配列している試験管
ラックであることを特徴とし、 また、本発明の自動検体測定装置における試験管有無検
査方法の構成は、 （６）（１）〜（５）の自動検体測定装置において、試
験管ラックなどの保持容器に直列に配列した一連の試験
管に順次光度計の光を透過せしめ試験管内のサンプルの
濃度を測定するにあたり、光度計を走査する軌道上に試
験管の無い場合の光度計の光強度の測定位置を設け、前
記一連の試験管の測定の前または後で試験管のない場合
の光度計の光の強度を測定し、これを基準値として、各
試験管の測定の際にその透過光強度と前記基準値の比ま
たは差が、予め設定した数値の範囲以内であるか否かに
より、試験管の有り無しの判別を行なうことを特徴と
し、 さらに、本発明の自動検体測定装置におけるサンプル有
無検知方法の構成は、 （７）（１）〜（５）の自動検体測定装置において、直
列に配列した一連の円筒形の試験管に順次光度計の光を
透過せしめ、該試験管内のサンプルの濃度を測定するに
あたり、該試験管の中心が前記光度計の光軸上に位置し
サンプルを透過した光の強度が最大となる位置でサンプ
ルの濃度の測定を行なうとともに、前記試験管の中心が
前記測定位置すなわち光度計の光軸上より、光度計の走
査方向に、少なくとも前記試験管の内径の0.5/100以上
ずれた位置における透過光強度を測定し、この値と前記
測定位置における透過光強度との比または差が予め設定
した値以内であるか否かにより、測定する試験管内にサ
ンプルが存在するか否かを判別することを特徴とする、 ものである。

〔作用〕

上述の如き構成を有する本発明の自動検体測定装置は測
定すべき反応用の試験管ラックを装置のラック装着位置
に装着し操作パネルのスタートキーを押すことにより動
作を開始し、例えば、以下の如く動作する。

（ｉ）試験管ラックはラック移送手段の水平（前後）移
動により装置内に送り込まれ、試験管ラックの１列目の
試験管の列を測定待機位置に停止させる。

（ii）次に試験管昇降手段を動作させて、１列目の各試
験管の下方に配置された試験管押し上げ棒を上昇せし
め、各試験管の底部を押し上げ棒の上端の凹面で支持し
ながら押し上げ、試験管の上部に配列した押え部材によ
り各試験管の上部開口部をバネ圧により挟持せしめる。

（iii）試験管を挟持した状態で、押し上げ棒と押え部
材が一体となって上昇し試験管をラック上部の測定位置
まで持ち上げ停止させる。この状態で押え部材の試験管
検出用端子が上部に配列されたホトインタラプターに挿
入され試験管の有り無しを確認する。試験管がない場合
は押え部材のバネ圧縮分上昇が少ないためホトインタラ
プターは動作しない。

（iv）光度計移送手段により光度計を水平（左右）方向
に移送し各試験管の測定を行なう。測定はまづ試験管の
無い位置で光度計の透過光強度を測定しこの値を基準と
して個々の試験管のサンプルの吸光度を測定しサンプル
の濃度を演算する。

（ｖ）測定は試験管の中心が光度計の光軸上に位置し検
知器の出力が最大となる位置の吸光度を測定すると共
に、この測定位置より光度計の移動方向にたいし所定距
離ずれた位置においても測定を行ない、この測定値を情
報としてサンプルの有り無しの判定も併せて行なう。

（vi）一列の測定が終了すると光度計を原点にもどし、
試験管昇降手段を降下せしめることにより、まづ試験管
を押し上げ棒と押え部材で挟持したままで降下し、途中
で押え部材の降下が停止して試験管が押え部材から離脱
しもとの試験管ラックに収容される。ひきつづきラック
移送手段を動作せしめ次の列の試験管の測定を行なう。

本発明による自動検体測定装置は上述したような手段及
び手順により測定を行なうようになっているため、試験
管を差し替えることなく配列した順序で測定出来るこ
と、また一列づつを単位として試験管を上昇せしめ光度
計を走査させて測定を行なう方式であるため短時間で測
定が出来ること、さらに試験管の有り無しやサンプルの
有り無しも併せて判定することができる。

〔実施例〕

以下、実施例について説明する。

第１図は本発明の自動検体測定装置の一実施例の正面
図、第２図は同じく側断面図、第３図は同じく外観を示
す斜視図である。

１はラック装着台で、２はラック装着台に装脱される試
験管ラック、３は試験管ラック２に縦横のマトリックス
状に配列されている試験管で、半自動の分析システムで
既に全反応処理を終了したサンプル（サンプル液）を収
容した反応用の試験管３の配列している試験管ラック２
が装着できるようになっている。この実施例の試験管ラ
ック２に配列される試験管３の数は横10本、縦５列で計
50本である。

４は試験管ラック２の装着されたラック装着台１を一方
向に順次移送させるラック移送手段で、モーター５によ
りプーリー６、７、８、タイミングベルト９を介して送
りねじ10を回転させることによりラック装着台１を移送
し、試験管ラック２に配列された試験管３を一列ごとに
順次測定待機位置11に位置付けるようになっている。

モーター５には停止位置の検出用のホトインタラプター
12が設けられており、モーター５の１回転が試験管ラッ
ク２の試験管列の１ピッチに対応するようになっている
ので、ホトインタラプター12によりモーター５を停止さ
せることにより試験管３の列を測定待機位置11に正確に
停止させることができる。

なお、13はラック装着台１に設けられている端子で、装
着が不稼動時でラック装着台１が第２図の点線で示す位
置に引き出された時に、ホトインタラプター14と係合し
てラック装着台１が停止位置にくるようになっている。

15は試験管昇降手段で、ラック移送手段４の移送方向と
直角をなすフレーム16と、フレーム16の下部に試験管３
の配列間隔と同一間隔に植設され、測定待機位置11にあ
る試験管ラック２中の試験管３を上部に設けられている
測定位置に押し上げる10本の押し上げ棒17が設けられて
おり、フレーム16はモーター18によりプーリー19、20、
タイミングベルト21を介して一対の送りねじ22を回転さ
せて昇降させるようになっている。

なお、押し上げ棒17の上端面は試験管３を押し上げる際
試験管１の底部球面に適合するよう凹面に形成されてい
る。

23はフレーム16の上方にフレーム16の上下辺に平行に設
けられている移動フレームで、１対各２個のボールベア
リング24により上下方向に活動自在に設けられており、
移動フレーム24には測定待機位置にある試験管３の位置
に対応させて押え部材25が配列されている。押え部材25
はその下端部が試験管３の上部開口部を保持するのに適
するようテーパー面に形成され、バネ26により下方に押
し下げられた状態になっている。押え部材25に設けられ
ている端子27に対向する位置にホトインタラプター28が
設けられている。

移動フレーム23はフレーム16が降下している時は、スト
ッパー29、軸受け30に接触しばね31により押しつけられ
た状態で降下が制限され、押え部材25が試験管３から離
れた状態で停止している。この状態でフレーム16が上昇
すると押し上げ棒17が上昇して試験管３の底部を保持し
て持ち上げ試験管３の開口部を押え部材25のテーパー面
に接触させ、さらにばね26を圧縮して押し上げ棒17と押
え部材25との間に試験管３を挟持する。この状態でスト
ッパー32が移動フレーム23の下端面23′に接触し、さら
にフレーム16が上昇することによりフレーム16と移動フ
レーム23が一体となって上昇して、第２図に示すよう
に、試験管３を試験管ラック２の上部の測定位置33に停
止させる。このとき、押え部材25の上部に設けられた端
子27がホトインタラプター28に挿入され試験管３が存在
することを検知することができる。試験管３が欠落して
いる場合には押え部材25のばね26がのびたままになるた
め、ホトインタラプター28は動作しない。フレーム16を
降下させると前述の手順と逆の手順で、まづ試験管３は
押し上げ棒17と押え部材25に挟持されたまま試験管ラッ
ク２内に降下し、途中で移動フレーム23の降下が停止し
て試験管３は押え部材25から離れて試験管ラック２のも
との位置に収容される。ホトインタラプター34a、34bは
試験管昇降手段15の上下停止位置を決定するために設け
られており、フレーム16に設けられた検知端子35に係合
することにより動作するようになっている。

36は光度計走査手段で、モーター37により歯車38、39を
介して送りねじ40を回転させることにより光度計41を水
平方向に移送する。ホトインタラプター42は光度計41の
原点位置をきめるために設けられている。光度計41は測
光にあたり試験管３の傷や汚れの影響を軽減するため、
２波長方式の光度計を使用している。すなはち、光源43
からの光は集光レンズ44、45により試験管３のサンプル
に照射され、これを透過した光は集光レンズ46を経てハ
ーフミラー47により分割され、一方の光は干渉フルター
48を経て測定用検知器49に、一方の光は干渉フィルター
50を経て参照用検知器51に至る。測定位置32に配列され
た試験管３には外部光を遮蔽するようカバー54が設けら
れ、カバー54には各試験管３の位置に対応して入り口窓
52及び出口窓53が設けられている。

第１図において左端の窓55は測定する試験管のない空気
のみの窓である。測定に当たり光度計41を走査すると光
度計41は先ず窓55の位置で停止し、ここで試験管のない
場合の光度計41の光強度を測定し、これを基準として各
試験管３の測定を行なう。各試験管３の測定は試験管３
の中心と見なされる位置の前後幅2mmの間を0.1mm間隔で
データーを取り込み測定用検知器49の出力が最大となる
位置を試験管３の実際の中心位置と判定し、この値によ
りサンプルの測定を行なうようになっている。

次に、この自動検体測定装置の測定方法について説明す
る。

例えば、半自動の分析システムにおいて、試験管ラック
２にマトリックス状に配列して試験管３中の全反応処理
を終了したサンプルを、試験管３の配列した状態のまま
試験管ラック２ごと装置のラック装着台１に装着し、操
作パネル56のスタートキーを押すと動作を開始する。す
なわち、 （ｉ）試験管ラック２はラック移送手段４の水平（前
後）移動により装置内に送り込まれ、試験管ラック２の
一列目の試験管３の列を測定待機位置11に停止させる。

（ii）次に、試験管昇降手段15を動作させて、第１列目
の各試験管３の下方に配置された試験管押し上げ棒17を
上昇せしめ、各試験管３の底部を押し上げ棒17の上端の
凹面で支持しながら押し上げ、試験管３の上部に配列し
た押え部材25により各試験管３の上部開口部をバネ圧に
より挟持せしめる。

（iii）試験管３を挟持した状態で、押し上げ棒17と押
え部材25が一体となって上昇し試験管３を試験管ラック
２上部の測定位置まで持ち上げ停止させる。この状態で
押え部材25の試験管検出用の端子27が上部に配列された
ホトインタラプター28に挿入され試験管３の有り無しを
確認する。試験管３がない場合は押え部材25のバネ圧縮
分上昇が少ないためホトインタラプター28は動作しな
い。

（iv）光度計走査手段36により光度計41を水平（左右）
方向に移送し各試験管３の測定を行なう。測定はまづ試
験管３のない位置で光度計41の透過光強度を測定しこの
値を基準として個個の試験管３のサンプル液の吸光度を
測定しサンプルの濃度を演算する。

（ｖ）測定は試験管３の中心が光度計41の光軸上に位置
し測定用検知器49の出力が最大となる位置の吸光度を測
定すると共に、この測定位置より光度計41の移動方向に
たいし所定距離ずれた位置においても測定を行ない、こ
の測定値を情報としてサンプルの有り無しの判定も併せ
て行なう。

（vi）一列の測定が終了すると光度計41を原点にもど
し、試験管昇降手段15を降下せしめることにより、まづ
試験管３を押し上げ棒17と押え部材25で挟持したままで
降下し、途中で押え部材25の降下が停止して試験管３が
押え部材25から離脱しもとの試験管ラック２に収容され
る。ひきつづきラック移送手段４を動作せしめ次の列の
試験管の測定を行なう。

本装置の制御及び演算は制御演算部57によりおこなはれ
測定データーは走査パネル56の表示装置58に表示される
と共にブリンター59に打ち出される。測定に要する時間
は１ラック50本の試験管を測定する場合、ラックの装
着、取り出しの時間も含め約１分である。

以上の如く、本実施例の自動検体測定装置は、試験管内
のサンプルの有り無しも併断するようになっているが、
その原理を第４図を用いて説明する。60は試験管３中の
サンプル、61は試験管３中の空気を示している。すなは
ち、光がサンプル60の満たされた試験管３を通過する際
に、試験管３の中心が正確に光軸上にあるときは、第４
図（ａ）に示す如く、光はずれる事なく試験管３の中心
を通り測定用検知器の真中に入射する。試験管３が光軸
より水平方向にずれた位置においては、第４図（ｂ）に
示す如く、試験管３とサンプル60による屈折効果により
光は水平方向に曲げられる。しかし、試験管３内にサン
プル60がない場合は、第４図（ｃ）に示す如く、曲げら
れる程度は微小で殆ど直進する。本実施例によるサンプ
ルの有無判定はこの原理を利用し、試験管により光が曲
げられたとき、光の一部が検知器から外れるように光学
系を設計することにより検知を可能にしたもので、この
実施例の場合は、特定の波長における試験管の中心より
1mmずれた位置における信号強度と正規の測定位置にお
ける信号強度の比が一定の値以内であるかどうかを判定
の基準としている。

本実施例では、試験管の有無をホトインタラプターを使
用した機械的方法により行なっているが、別の方法とし
て光学的に行なう方法も可能である。すなはち、測定に
当たり特定波長における、窓55における試験管３のない
時の透過光強度と、サンプルの有無にかかわらず試験管
３のある時の透過光強度とを比較すると、試験管３のあ
る時の透過光強度が少なくとも試験管３の入出射面にお
ける表面反射の分だけ減衰している。その量は数％であ
る。従って、この比に見合う適当な値を定めこれを基準
として試験管の有無の判定を行なうことが出来る。本実
施例ではこの方法も併せて実施できるようになってい
る。

以上説明したように、本実施例の自動検体測定装置は多
数の試験管をマトリックス状に配列した試験管ラックを
そのまま装置にかけ、試験管内のサンプルの濃度を迅速
に測定することが出来る。

〔発明の効果〕

本発明は、半自動システムにおいて反応処理を終了した
サンプルを、その試験管ラックのままで装置にかけ、ラ
ックに配列した順序で、サンプルの濃度を測定すること
ができ、また、サンプル測定時間を短くし、試験管ラッ
クを装置にかけてから取り出すまでの待ち時間を短かく
し、さらに、測定にあたりラック上の試験管の有無、試
験管内のサンプルの有無の情報も併せて判定できる自動
検体測定装置を提供可能とするもので産業上の効果の大
なるものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の自動検体測定装置の一実施例の正面
図、第２図は同じく側断面図、第３図は同じく外観を示
す斜視図、第４図はサンプル有無の検知原理の説明図で
ある。 １……ラック装着台、２……試験管ラック、３……試験
管、４……ラック移送手段、15……試験管昇降手段、16
……フレーム、17……押上げ棒、23……移動フレーム、
25……押え部材、36……光度計走査手段、41……光度
計、49……測定用検知器。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 菅庭 俊明 茨城県勝田市東石川3517番地 コロナ電気 株式会社内 (72)発明者 笠井 俊三 茨城県勝田市東石川3517番地 コロナ電気 株式会社内 (72)発明者 亀形 健次 茨城県勝田市東石川3517番地 コロナ電気 株式会社内 (56)参考文献 特開 昭56−155854（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−286758（ＪＰ，Ａ)

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】試験管を縦横のマトリックス状に配列した
   試験管ラックを移送し、該試験管ラック上の試験管を一
   列毎に順次測定待機位置に位置付けるラック移送手段
   と、前記測定待機位置にある一列の試験管を同時に上昇
   せしめ、前記試験管ラックの上部に設けられた測定位置
   に位置付ける試料管昇降手段と、前記測定位置に位置付
   けられた前記一列の試験管の各試験管の位置に順次移動
   して、該試験管に収容したサンプルの濃度を測定する光
   度計、及び該光度計を移送する光度計移送手段とからな
   ることを特徴とする自動検体測定装置。
2. 【請求項２】前記測定待機位置において前記各試験管の
   位置に対応して、下方には上端面が該試験管の底部を保
   持するよう凹面に形成された押し上げ棒を配置し、上方
   には下端部がテーパー面を有しバネ圧により前記試験管
   の上部開口部を保持するよう形成された押え部材を配置
   し、前記押し上げ棒により前記試験管を上昇せしめ、前
   記押え部材との間に上下から前記試験管を測定位置に固
   定せしめる手段を有する特許請求の範囲第１項記載の自
   動検体測定装置。
3. 【請求項３】前記試験管の開口部を保持する前記押え部
   材の上方にホトインタラプターを配置し、前記押え部材
   に検出端子を設け、該押え部材が前記試験管を前記測定
   位置に保持したときバネ圧に抗して前記押え部材が上方
   に変移することにより、前記ホトインタラプターを動作
   せしめ試験管が存在するか否かを検知する手段を有する
   特許請求の範囲第２項記載の自動検体測定装置。
4. 【請求項４】試験管を縦横のマトリックス状に配列した
   試験管ラックを装脱自在に装着可能なラック装着台を一
   方向に順次移送することができるラック移送手段と、該
   ラック移送手段の移送方向と直角をなすフレーム、該フ
   レームの下部に前記試験管の配列間隔と同一間隔に植設
   され前記試験管ラック中の前記試験管を上部に設けられ
   た測定位置に押し上げる押し上げ棒、前記フレームに下
   方向に付勢され、上下方向に移動可能に取り付けられて
   いる移動フレーム、及び、該移動フレームの前記押し上
   げ棒と相対向する位置に上下方向に移動可能に取りつけ
   られ、それぞれ下方向に付勢される押え部材を有し、前
   記フレームを前記ラック移送手段に対し移動させる試験
   管昇降手段と、該試験管昇降手段の上昇により測定位置
   に位置付けられた一列に配列している前記各試験管の位
   置に該試験管に収容したサンプルの濃度を測定する光度
   計を順次移送する光度計移送手段とを有していることを
   特徴とする自動検体測定装置。
5. 【請求項５】前記試験管ラックが、半自動の分析システ
   ムにおいて反応処理を終了した試験管の配列している試
   験管ラックである特許請求の範囲第１項、又は第２項、
   又は第３項、又は第４項記載の自動検体測定装置。
6. 【請求項６】試験管ラックなどの保持容器に直列に配列
   した一連の試験管に順次光度計の光を透過せしめ試験管
   内のサンプルの濃度を測定するにあたり、光度計を走査
   する軌道上に試験管の無い場合の光度計の光強度の測定
   位置を設け、前記一連の試験管の測定の前または後で試
   験管のない場合の光度計の光の強度を測定し、これを基
   準値として、各試験管の測定の際にその透過光強度と前
   記基準値の比または差が、予め設定した数値の範囲以内
   であるか否かにより、試験管の有り無しの判別を行なう
   特許請求の範囲第１項から第５項までのいずれか１項記
   載の自動検体測定装置における試験管有無検知方法。
7. 【請求項７】直列に配列した一連の円筒形の試験管に順
   次光度計の光を透過せしめ、該試験管内のサンプルの濃
   度を測定するにあたり、該試験管の中心が前記光度計の
   光軸上に位置しサンプルを透過した光の強度が最大とな
   る位置でサンプルの濃度の測定を行なうとともに、前記
   試験管の中心が前記測定位置すなわち光度計の光軸上よ
   り、光度計の走査方向に、少なくとも前記試験管の内径
   の0.5/100以上ずれた位置における透過光強度を測定
   し、この値と前記測定位置における透過光強度との比ま
   たは差が予め設定した値以内であるか否かにより、測定
   する試験管内にサンプルが存在するか否かを判別する特
   許請求の範囲第１項から第５項までのいずれか１項記載
   の自動検体測定装置におけるサンプル有無検知方法。