JPH0793485B2 - Icユニットの接続方法 - Google Patents
Icユニットの接続方法Info
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- JPH0793485B2 JPH0793485B2 JP63117004A JP11700488A JPH0793485B2 JP H0793485 B2 JPH0793485 B2 JP H0793485B2 JP 63117004 A JP63117004 A JP 63117004A JP 11700488 A JP11700488 A JP 11700488A JP H0793485 B2 JPH0793485 B2 JP H0793485B2
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Description
【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、TAB(Tape Automatad Bonding)方式によ
るICユニットの基板への接続方法に関する。
るICユニットの基板への接続方法に関する。
[従来技術] TAB方式で形成したICユニットに搭載されたICデバイス
のリード端子を液晶テレビジョンや液晶大型画面のLCD
(Liquid Crystal Display)基板の電極端子に接続する
構造が知られている。
のリード端子を液晶テレビジョンや液晶大型画面のLCD
(Liquid Crystal Display)基板の電極端子に接続する
構造が知られている。
この場合、液晶テレビジョンや液晶大型画面のLCDは多
数の表示ドライバチップを接続する必要があるが、従来
のICユニットはICデバイス(表示ドライバチップ)を1
個毎キャリアテープのフィンガリードにボンディングし
たものであり、従って必要数に応じた多数個のICユニッ
トが用いられ、それらのICデバイスのリード端子が個々
にLCDの電極端子に接続され、またこれら多数個のICユ
ニットがLCD基板と配線基板とを接続するものであっ
た。
数の表示ドライバチップを接続する必要があるが、従来
のICユニットはICデバイス(表示ドライバチップ)を1
個毎キャリアテープのフィンガリードにボンディングし
たものであり、従って必要数に応じた多数個のICユニッ
トが用いられ、それらのICデバイスのリード端子が個々
にLCDの電極端子に接続され、またこれら多数個のICユ
ニットがLCD基板と配線基板とを接続するものであっ
た。
また、LCDに接続された各表示ドライバチップ(ICデバ
イス)の対応するリード端子は相互に接続する必要があ
るが、この場合、その接続パターンは他のリード端子を
横切らなければならず、このための引き廻しは大変複雑
になる。従って、従来この複雑な各表示ドライバチップ
のリード端子相互の接続パターンを配線基板に設けてい
た。
イス)の対応するリード端子は相互に接続する必要があ
るが、この場合、その接続パターンは他のリード端子を
横切らなければならず、このための引き廻しは大変複雑
になる。従って、従来この複雑な各表示ドライバチップ
のリード端子相互の接続パターンを配線基板に設けてい
た。
[発明が解決しようとする課題] しかし、上記従来のように、ICデバイス(表示ドライバ
チップ)を1個毎キャリアテープのフィンガリードにボ
ンディングしたICユニットを用いた場合、多数個のICユ
ニットが必要となるため、ICユニットと配線基板の接続
箇所が多くなっている。従って、接続作業が非能率的で
あると同時に接続部分の位置合わせや接続不良のため歩
留まりも低かった。また、上記従来のように表示ドライ
バチップのリード端子相互の接続パターンを配線基板に
設けた場合、配線基板はこのほかに画像処理回路、制御
回路およびメモリ回路等に関する複雑な配線パターンを
設ける必要があるため、全体として極めて複雑な引き廻
しをしなければならず、この結果、配線基板は大型化し
且つ生産時の歩留まりが悪化する原因となっていた。
チップ)を1個毎キャリアテープのフィンガリードにボ
ンディングしたICユニットを用いた場合、多数個のICユ
ニットが必要となるため、ICユニットと配線基板の接続
箇所が多くなっている。従って、接続作業が非能率的で
あると同時に接続部分の位置合わせや接続不良のため歩
留まりも低かった。また、上記従来のように表示ドライ
バチップのリード端子相互の接続パターンを配線基板に
設けた場合、配線基板はこのほかに画像処理回路、制御
回路およびメモリ回路等に関する複雑な配線パターンを
設ける必要があるため、全体として極めて複雑な引き廻
しをしなければならず、この結果、配線基板は大型化し
且つ生産時の歩留まりが悪化する原因となっていた。
この発明は、上述の如き事情に鑑みてなされたもので、
その目的とするところは、ICユニットの配線基板への接
続箇所を可及的に削減することができ、しかも配線基板
の配線パターンが簡単化できるICユニットの接続方法を
提供することにある。
その目的とするところは、ICユニットの配線基板への接
続箇所を可及的に削減することができ、しかも配線基板
の配線パターンが簡単化できるICユニットの接続方法を
提供することにある。
[課題を解決するための手段] 上記目的を達成するため、この発明に係るICユニットの
接続方法は、キャリアテープに、その巾方向に複数行に
配列されたデバイス穴を形成する工程と、前記キャリア
テープの一面に金属箔をラミネートし、エッチングによ
り一端が前記デバイス穴の内部に突出す多数のフィンガ
リードと各々の該フィンガリードに接続されたメッキ電
位印加パターンとを形成する工程と、前記キャリアテー
プの他面に複数の接続パターンを形成する工程と、前記
キャリアテープに複数のスルーホールを形成して隣接す
る前記各デバイス穴に形成された各々対応する所定の前
記フィンガリード同志を前記各接続パターンにより接続
する工程と、前記メッキ電位印加パターンを介してメッ
キ電位を印加し、前記フィンガリードにメッキを施す工
程と、前記各デバイス穴内にICデバイスを配して、前記
デバイス穴から突出す前記各フィンガリードの一端を前
記ICデバイスの対応する電極にボンディングする工程
と、前記キャリアテープの所定部分に切欠きを形成する
ことにより、前記フィンガリードと前記メッキ電位印加
パターンとの接続を切る工程と、前記キャリアテープを
隣接する2個以上のICデバイスを含むように切断してIC
ユニットを得る工程と、前記ICユニットを該ユニット状
態のまま基板に接続する工程とを具備することを特徴と
するものである。
接続方法は、キャリアテープに、その巾方向に複数行に
配列されたデバイス穴を形成する工程と、前記キャリア
テープの一面に金属箔をラミネートし、エッチングによ
り一端が前記デバイス穴の内部に突出す多数のフィンガ
リードと各々の該フィンガリードに接続されたメッキ電
位印加パターンとを形成する工程と、前記キャリアテー
プの他面に複数の接続パターンを形成する工程と、前記
キャリアテープに複数のスルーホールを形成して隣接す
る前記各デバイス穴に形成された各々対応する所定の前
記フィンガリード同志を前記各接続パターンにより接続
する工程と、前記メッキ電位印加パターンを介してメッ
キ電位を印加し、前記フィンガリードにメッキを施す工
程と、前記各デバイス穴内にICデバイスを配して、前記
デバイス穴から突出す前記各フィンガリードの一端を前
記ICデバイスの対応する電極にボンディングする工程
と、前記キャリアテープの所定部分に切欠きを形成する
ことにより、前記フィンガリードと前記メッキ電位印加
パターンとの接続を切る工程と、前記キャリアテープを
隣接する2個以上のICデバイスを含むように切断してIC
ユニットを得る工程と、前記ICユニットを該ユニット状
態のまま基板に接続する工程とを具備することを特徴と
するものである。
[作用] かかる構成の接続方法によれば、複数個のICデバイスが
ユニット化された状態にあるので配線基板との接続箇所
が大巾に削減されることになる。従って、接続作業が能
率的に行なえ且つ接続による歩留まりも向上する。ま
た、ICユニット側に各ICデバイスのリード端子相互の接
続パターンを設けているので配線基板の配線パターンが
簡単化され、配線基板は大型化されず且つ生産時の歩留
まりも悪化することがない。
ユニット化された状態にあるので配線基板との接続箇所
が大巾に削減されることになる。従って、接続作業が能
率的に行なえ且つ接続による歩留まりも向上する。ま
た、ICユニット側に各ICデバイスのリード端子相互の接
続パターンを設けているので配線基板の配線パターンが
簡単化され、配線基板は大型化されず且つ生産時の歩留
まりも悪化することがない。
[実施例] 以下、この発明の実施例を図面に基づいて説明する。第
1図および第2図はこの発明の接続方法によって液晶テ
レビジョン又は液晶大型画面のLCD基板1に接続されたT
AB方式のICユニット2を示している。
1図および第2図はこの発明の接続方法によって液晶テ
レビジョン又は液晶大型画面のLCD基板1に接続されたT
AB方式のICユニット2を示している。
例示のICユニット2はキャリアテープ3に5個の表示ド
ライバチップ(ICデバイス4)を搭載したものである。
この場合、4個の表示ドライバチップはセグメント信号
用のものであり、1個の表示ドライバチップはコモン信
号用のものである。
ライバチップ(ICデバイス4)を搭載したものである。
この場合、4個の表示ドライバチップはセグメント信号
用のものであり、1個の表示ドライバチップはコモン信
号用のものである。
上記ICユニット2は第3図に示すキャリアテープ3から
作成される。すなわち、キャリアテープ3は例えばポリ
エステル樹脂、ポリイミド樹脂等の可撓性および絶縁性
を有した樹脂フィルムからなり、かつ、相当巾広な寸法
とされているものであり、両側縁部にそれぞれ二列のス
プロケット穴5、6を有し、中央部に多数のICデバイス
穴7を有している。二列のスプロケット穴5、6は対向
配置されており、それぞれ長手方向に所定間隔を置いて
形成されている。ここでは外側に配置されたスプロケッ
ト穴5は円形穴とされており、ICデバイスのボンディン
グ工程以外の処理工程においてキャリアテープ3を所定
処理部に送る場合に使用する。また、内側に配置された
スプロケット穴6は角形穴とされており、位置決め精度
が要求されるICデバイスのボンディング工程においてキ
ャリアテープ3を所定処理部に送る場合に使用する。IC
デバイス穴7はキャリアテープ3の巾方向に所定間隔を
置いて複数行(ここでは10行)配置されており、これら
の各ICデバイス穴7部分には第5図(第3図の二点鎖線
部の拡大図)に示すようにセグメント信号用およびコモ
ン信号用の表示ドライバチップとされるICデバイス4が
搭載されている。このICデバイス4はキャリアテープ3
の下側に配置され、キャリアテープ3の上面にICデバイ
ス穴7の内方迄延出して形成されているフィンガリード
8に図示しない電極がボンディングされる。この場合、
フィンガリード8はキャリアテープ3の上面にラミネー
トされた銅箔をエッチング処理して形成されるものであ
る。このエッチング処理ではフィンガリード8に錫又は
半田メッキをする際、各フィンガリード8にメッキ用の
アース電位を印加するためICデバイス4を1個分ごとに
囲む格子状の銅箔パターン9も形成される。第3図はこ
の銅箔パターン9の形成が完了した状態のキャリアテー
プを示し、第5図はICユニット2に切断前のキャリアテ
ープを示している。格子状の銅箔パターン9は全体的に
連続するように形成されており、この銅箔パターン9に
各ICデバイス4のフィンガリード8が接続されている。
またキャリアテープ3の下面には第5図に破線で示すよ
うに複数行のICデバイス穴7に対応するフィンガーリー
ド8の各リード端子8aを接続する接続パターン10が形成
されている。各フィンガーリード8のリード端子8aはス
ルーホール11を介してキャリアテープ3の下面側に引き
廻され、接続パターン10と接続している。この場合、接
続パターン10はフィンガリード8と同様にキャリアテー
プ3の下面にラミネートされた銅箔をエッチング処理し
て形成される。また、格子状の銅箔パターン9の各格子
部にはフィンガリード8にメッキ処理が施された後、隣
りのフィンガリード8との導通を断つための切欠き12、
13が形成される。この場合、格子部のテープと平行する
部位に形成される切欠き12は台形状とされ、フィンガリ
ード8が後述するLCD1の電極端子15に接続されるときに
相隣るリード端子8aの長さを異ならせてショートしない
ようにしている。一方、格子部のテープと直交する部位
に形成される切欠き13は矩形状とされ、各フィンガーリ
ード8のリード端子8aが同じ長さになるようにしてい
る。
作成される。すなわち、キャリアテープ3は例えばポリ
エステル樹脂、ポリイミド樹脂等の可撓性および絶縁性
を有した樹脂フィルムからなり、かつ、相当巾広な寸法
とされているものであり、両側縁部にそれぞれ二列のス
プロケット穴5、6を有し、中央部に多数のICデバイス
穴7を有している。二列のスプロケット穴5、6は対向
配置されており、それぞれ長手方向に所定間隔を置いて
形成されている。ここでは外側に配置されたスプロケッ
ト穴5は円形穴とされており、ICデバイスのボンディン
グ工程以外の処理工程においてキャリアテープ3を所定
処理部に送る場合に使用する。また、内側に配置された
スプロケット穴6は角形穴とされており、位置決め精度
が要求されるICデバイスのボンディング工程においてキ
ャリアテープ3を所定処理部に送る場合に使用する。IC
デバイス穴7はキャリアテープ3の巾方向に所定間隔を
置いて複数行(ここでは10行)配置されており、これら
の各ICデバイス穴7部分には第5図(第3図の二点鎖線
部の拡大図)に示すようにセグメント信号用およびコモ
ン信号用の表示ドライバチップとされるICデバイス4が
搭載されている。このICデバイス4はキャリアテープ3
の下側に配置され、キャリアテープ3の上面にICデバイ
ス穴7の内方迄延出して形成されているフィンガリード
8に図示しない電極がボンディングされる。この場合、
フィンガリード8はキャリアテープ3の上面にラミネー
トされた銅箔をエッチング処理して形成されるものであ
る。このエッチング処理ではフィンガリード8に錫又は
半田メッキをする際、各フィンガリード8にメッキ用の
アース電位を印加するためICデバイス4を1個分ごとに
囲む格子状の銅箔パターン9も形成される。第3図はこ
の銅箔パターン9の形成が完了した状態のキャリアテー
プを示し、第5図はICユニット2に切断前のキャリアテ
ープを示している。格子状の銅箔パターン9は全体的に
連続するように形成されており、この銅箔パターン9に
各ICデバイス4のフィンガリード8が接続されている。
またキャリアテープ3の下面には第5図に破線で示すよ
うに複数行のICデバイス穴7に対応するフィンガーリー
ド8の各リード端子8aを接続する接続パターン10が形成
されている。各フィンガーリード8のリード端子8aはス
ルーホール11を介してキャリアテープ3の下面側に引き
廻され、接続パターン10と接続している。この場合、接
続パターン10はフィンガリード8と同様にキャリアテー
プ3の下面にラミネートされた銅箔をエッチング処理し
て形成される。また、格子状の銅箔パターン9の各格子
部にはフィンガリード8にメッキ処理が施された後、隣
りのフィンガリード8との導通を断つための切欠き12、
13が形成される。この場合、格子部のテープと平行する
部位に形成される切欠き12は台形状とされ、フィンガリ
ード8が後述するLCD1の電極端子15に接続されるときに
相隣るリード端子8aの長さを異ならせてショートしない
ようにしている。一方、格子部のテープと直交する部位
に形成される切欠き13は矩形状とされ、各フィンガーリ
ード8のリード端子8aが同じ長さになるようにしてい
る。
また、キャリアテープ3の両側縁部には、スプロケット
穴5、6の他複数(F)列のICデバイス穴7毎にテープ
の送り量を設定するためのテープ送り量設定穴(又はマ
ーク)14、14が設けられている。
穴5、6の他複数(F)列のICデバイス穴7毎にテープ
の送り量を設定するためのテープ送り量設定穴(又はマ
ーク)14、14が設けられている。
上記構成にあるキャリアテープ3は第4図に示す工程
(A)〜(Q)を経て製造される。すなわち、まず、プ
レス工程(A)において、キャリアテープ3に、二列の
スプロケット穴5、6およびICデバイス穴7、テープ送
り量設定穴4が穿設される。この場合、ICデバイス穴7
は、図面(第3図)上では一部省略してあるが、実際に
は銅箔パターン9によって形成される格子部内のすべて
に形成されるものである。次に、このプレス工程(A)
で所定の穴が穿設されたキャリアテープ3は次段の銅箔
ラミネート工程(B)に送られ、ここで上面にフィンガ
リード8および銅箔パターン9を構成するための銅箔が
ラミネートされる。この銅箔ラミネート工程(B)を終
えたキャリアテープ3は次段のフォトレジスト塗布工程
(C)に送られ、ここで感光面を構成するフォトレジス
トが銅箔上に塗布される。このフォトレジスト塗布工程
(C)を終えたキャリアテープ3は次段の露光工程
(D)に送られ、ここでフォトレジストに光を照射して
フィンガリード8と銅箔パターン9の露光がなされる。
次にキャリアテープ3は次段の現像工程(E)に送ら
れ、ここでフィンガリード8および銅箔パターン9の所
定の画像を現わすための現像処理がなされる。この現像
工程(E)を終えたキャリアテープ3は次段のデバイス
ホール被覆工程(F)に送られ、ここでキャリアテープ
3の下面側からICデバイス穴7を被覆して、次段のエッ
チング工程(G)においてフィンガリード8のICデバイ
ス穴7の内方に延出する部分のエッチングが正しく行な
えるようにする。このデバイスホール被覆工程(F)を
終えたキャリアテープ3は次段のエッチング工程(G)
に送られ、ここで現像工程(E)において現像された画
像(フィンガリード8および銅箔パターン9)以外の銅
箔を除去するためのエッチング処理がなされる。このエ
ッチング工程(G)を終えたキャリアテープ3は次段の
レジスト剥離工程(H)に送られ、ここでフォトレジス
トの剥離除去がなされる。第3図のキャリアテープ3は
このレジスト剥離工程(H)を終えた状態のものであ
る。次いで、キャリアテープ3は次段の接続パターン形
成工程(I)に送られ、ここでまず下面に接続パターン
10を構成するための銅箔をラミネートし、次いで銅箔上
にフォトレジスト塗布し、露光し、現像して接続パター
ン10を形成する。この接続パターン形成工程(I)を終
えたキャリアテープ3は次段のスルーホール形成工程
(J)に送られ、ここで、フィンガーリード8のリード
端子8aを下面に引き廻して接続パターン10に接続するス
ルーホール11を形成する。このスルーホール形成工程
(J)を終えたキャリアテープ3は次段のスルーホール
メッキ工程(K)に送られ、ここでスルーホール11に無
電解銅メッキ又は電解銅メッキが施される。続いてキャ
リアテープ3は次段のハンダメッキ工程(L)に送ら
れ、ここで銅箔パターン9を用いてフィンガリード8に
ハンダメッキが施される。次にキャリアテープ3は次段
のILB(Inner Lead Bonding)工程(M)に送られ、こ
こで各ICデバイス穴7下に配置されたICデバイス4の図
示しない電極がフィンガリード8にボンディングされ、
ICデバイス4はキャリアテープ3に搭載される。次にキ
ャリアテープ3は次段の格子パターン切断工程(N)に
送られ、ここで銅箔パターン9の各格子部に第5図に示
す切欠き12、13が形成される。この後キャリアテープ3
は次段の検査工程(O)に送られてフィンガリード8に
ボンディングされたICデバイス4の導通状態が検査され
る。次にキャリアテープ3は次段のユニット切断工程
(P)に送られ、ここで一列の半分の5個のICデバイス
4を有するICユニット2が構成されるようにキャリアテ
ープ3が切断される。このユニット切断工程(P)で切
断されたICユニット2は最終段のOLB(Outer Lead Bond
ing)工程(Q)に送られ、ここで第1図に示すようにL
CD基板1の両側の電極端子15に接続される。この場合、
LCD基板1の電極端子15は第6図に示すように設けてあ
り、セグメント信号用およびコモン信号用の表示ドライ
バチップとされる各ICデバイス4のフィンガリード8が
ショートしないで接続されるようになっている。ICユニ
ット2はLCD基板1に対し第2図に示すように異方導電
性接着剤16を用いてボンディングされる。
(A)〜(Q)を経て製造される。すなわち、まず、プ
レス工程(A)において、キャリアテープ3に、二列の
スプロケット穴5、6およびICデバイス穴7、テープ送
り量設定穴4が穿設される。この場合、ICデバイス穴7
は、図面(第3図)上では一部省略してあるが、実際に
は銅箔パターン9によって形成される格子部内のすべて
に形成されるものである。次に、このプレス工程(A)
で所定の穴が穿設されたキャリアテープ3は次段の銅箔
ラミネート工程(B)に送られ、ここで上面にフィンガ
リード8および銅箔パターン9を構成するための銅箔が
ラミネートされる。この銅箔ラミネート工程(B)を終
えたキャリアテープ3は次段のフォトレジスト塗布工程
(C)に送られ、ここで感光面を構成するフォトレジス
トが銅箔上に塗布される。このフォトレジスト塗布工程
(C)を終えたキャリアテープ3は次段の露光工程
(D)に送られ、ここでフォトレジストに光を照射して
フィンガリード8と銅箔パターン9の露光がなされる。
次にキャリアテープ3は次段の現像工程(E)に送ら
れ、ここでフィンガリード8および銅箔パターン9の所
定の画像を現わすための現像処理がなされる。この現像
工程(E)を終えたキャリアテープ3は次段のデバイス
ホール被覆工程(F)に送られ、ここでキャリアテープ
3の下面側からICデバイス穴7を被覆して、次段のエッ
チング工程(G)においてフィンガリード8のICデバイ
ス穴7の内方に延出する部分のエッチングが正しく行な
えるようにする。このデバイスホール被覆工程(F)を
終えたキャリアテープ3は次段のエッチング工程(G)
に送られ、ここで現像工程(E)において現像された画
像(フィンガリード8および銅箔パターン9)以外の銅
箔を除去するためのエッチング処理がなされる。このエ
ッチング工程(G)を終えたキャリアテープ3は次段の
レジスト剥離工程(H)に送られ、ここでフォトレジス
トの剥離除去がなされる。第3図のキャリアテープ3は
このレジスト剥離工程(H)を終えた状態のものであ
る。次いで、キャリアテープ3は次段の接続パターン形
成工程(I)に送られ、ここでまず下面に接続パターン
10を構成するための銅箔をラミネートし、次いで銅箔上
にフォトレジスト塗布し、露光し、現像して接続パター
ン10を形成する。この接続パターン形成工程(I)を終
えたキャリアテープ3は次段のスルーホール形成工程
(J)に送られ、ここで、フィンガーリード8のリード
端子8aを下面に引き廻して接続パターン10に接続するス
ルーホール11を形成する。このスルーホール形成工程
(J)を終えたキャリアテープ3は次段のスルーホール
メッキ工程(K)に送られ、ここでスルーホール11に無
電解銅メッキ又は電解銅メッキが施される。続いてキャ
リアテープ3は次段のハンダメッキ工程(L)に送ら
れ、ここで銅箔パターン9を用いてフィンガリード8に
ハンダメッキが施される。次にキャリアテープ3は次段
のILB(Inner Lead Bonding)工程(M)に送られ、こ
こで各ICデバイス穴7下に配置されたICデバイス4の図
示しない電極がフィンガリード8にボンディングされ、
ICデバイス4はキャリアテープ3に搭載される。次にキ
ャリアテープ3は次段の格子パターン切断工程(N)に
送られ、ここで銅箔パターン9の各格子部に第5図に示
す切欠き12、13が形成される。この後キャリアテープ3
は次段の検査工程(O)に送られてフィンガリード8に
ボンディングされたICデバイス4の導通状態が検査され
る。次にキャリアテープ3は次段のユニット切断工程
(P)に送られ、ここで一列の半分の5個のICデバイス
4を有するICユニット2が構成されるようにキャリアテ
ープ3が切断される。このユニット切断工程(P)で切
断されたICユニット2は最終段のOLB(Outer Lead Bond
ing)工程(Q)に送られ、ここで第1図に示すようにL
CD基板1の両側の電極端子15に接続される。この場合、
LCD基板1の電極端子15は第6図に示すように設けてあ
り、セグメント信号用およびコモン信号用の表示ドライ
バチップとされる各ICデバイス4のフィンガリード8が
ショートしないで接続されるようになっている。ICユニ
ット2はLCD基板1に対し第2図に示すように異方導電
性接着剤16を用いてボンディングされる。
なお、上記の各処理工程において、銅箔ラミネート工程
(B)や現像工程(E)、エッチング工程(G)等は位
置合わせを必要とせず、キャリアテープ3を移送しなが
ら処理できるため、その処理速度は各処理装置の性能に
よって一義的に決定される。しかし、プレス工程(A)
やフォトレジスト塗布工程(C)、露光工程(D)等は
各処理を実行するには、キャリアテープ3を一旦停止し
て位置決めを行なう必要がある。このような場合、キャ
リアテープ3は処理能率を高めるべく上述したテープ送
り量設定穴14により複数(F)列処理がなされる。すな
わち(F)列に対して所定の処理を終えると、スプロケ
ットが回転してキャリアテープ3が移送され、次のテー
プ送り量設定穴14がセンサによって検出されるとスプロ
ケットの回転が停止し、キャリアテープ3が位置決めさ
れ、次の(F)列に対する処理がなされるものである。
例示の場合には一度の位置決めで10行×9列=90個のIC
デバイス分に対し一度に処理が実行される。
(B)や現像工程(E)、エッチング工程(G)等は位
置合わせを必要とせず、キャリアテープ3を移送しなが
ら処理できるため、その処理速度は各処理装置の性能に
よって一義的に決定される。しかし、プレス工程(A)
やフォトレジスト塗布工程(C)、露光工程(D)等は
各処理を実行するには、キャリアテープ3を一旦停止し
て位置決めを行なう必要がある。このような場合、キャ
リアテープ3は処理能率を高めるべく上述したテープ送
り量設定穴14により複数(F)列処理がなされる。すな
わち(F)列に対して所定の処理を終えると、スプロケ
ットが回転してキャリアテープ3が移送され、次のテー
プ送り量設定穴14がセンサによって検出されるとスプロ
ケットの回転が停止し、キャリアテープ3が位置決めさ
れ、次の(F)列に対する処理がなされるものである。
例示の場合には一度の位置決めで10行×9列=90個のIC
デバイス分に対し一度に処理が実行される。
上記のようにしてLCD基板1に接続されたICユニット2
は多数個(5個)のICデバイス4をユニット化している
ので、LCD基板1と接続される配線基板(図示せず)の
接続箇所は2箇所の接続リード17、17のみとなる。従っ
て、配線基板の接続箇所が非常に少なく、その接続作業
が能率的に行なえ且つ接続部分の位置合わや接続不良の
ための歩留まりが向上する。また、ICユニット2側に各
ICデバイス4相互の接続パターン10を設けているので配
線基板側の配線パターンは複雑化せず、従って、配線基
板は大型化されず且つ生産時の歩留まりも悪化すること
がない。
は多数個(5個)のICデバイス4をユニット化している
ので、LCD基板1と接続される配線基板(図示せず)の
接続箇所は2箇所の接続リード17、17のみとなる。従っ
て、配線基板の接続箇所が非常に少なく、その接続作業
が能率的に行なえ且つ接続部分の位置合わや接続不良の
ための歩留まりが向上する。また、ICユニット2側に各
ICデバイス4相互の接続パターン10を設けているので配
線基板側の配線パターンは複雑化せず、従って、配線基
板は大型化されず且つ生産時の歩留まりも悪化すること
がない。
第7図はキャリアテープ3′の他の実施例を示す。この
実施例では、切欠き12′、13′は長方形状となされ、ま
た、フィンガリード8のリード端子8aは接続パターン10
に接続するリード端子8a部分を除く部分がキャリアテー
プ3の一側に向かうように配線されている。このよう
に、フィンガリード8を配線した場合には、ICユニット
2は第8図に示すようにLCD基板1にキャリアテープ
3′の接続端子のみを載置して接続することができる。
従って、このようなICユニット2はLCD基板1と配線基
板18とを電気的に接続する接続部材として機能する。こ
の場合もICユニット2のLCD基板1および配線基板18と
のボンディングは異方導電性接着剤16にて行なわれる。
また、第8図に示す接続構造では、キャリアテープ3′
を折曲してLCD基板1と配線基板18とを積層状に配置す
ることもできる。
実施例では、切欠き12′、13′は長方形状となされ、ま
た、フィンガリード8のリード端子8aは接続パターン10
に接続するリード端子8a部分を除く部分がキャリアテー
プ3の一側に向かうように配線されている。このよう
に、フィンガリード8を配線した場合には、ICユニット
2は第8図に示すようにLCD基板1にキャリアテープ
3′の接続端子のみを載置して接続することができる。
従って、このようなICユニット2はLCD基板1と配線基
板18とを電気的に接続する接続部材として機能する。こ
の場合もICユニット2のLCD基板1および配線基板18と
のボンディングは異方導電性接着剤16にて行なわれる。
また、第8図に示す接続構造では、キャリアテープ3′
を折曲してLCD基板1と配線基板18とを積層状に配置す
ることもできる。
なお、上記実施例の接続パターン10はキャリアテープ3
にラミネートされた導箔をエッチング処理して形成した
が、この接続パターン10は導電インク(カーボンイン
ク)を印刷して形成することもできる。また、ICユニッ
ト2のLCD基板1および配線基板18へのボンディング(O
LB)を異方導電性接着剤16を用いて行なったが、半田付
けで行ってもよい。
にラミネートされた導箔をエッチング処理して形成した
が、この接続パターン10は導電インク(カーボンイン
ク)を印刷して形成することもできる。また、ICユニッ
ト2のLCD基板1および配線基板18へのボンディング(O
LB)を異方導電性接着剤16を用いて行なったが、半田付
けで行ってもよい。
[発明の効果] 以上説明したように、この発明に係るICユニットの接続
方法によれば、配線基板との接続箇所を可及的に削減す
ることができ且つ配線基板の配線パターンが簡単化でき
る効果を奏する。
方法によれば、配線基板との接続箇所を可及的に削減す
ることができ且つ配線基板の配線パターンが簡単化でき
る効果を奏する。
図面はそれぞれこの発明の実施例を示し、第1図はICユ
ニットとLCDの接続方法を示す斜視図、第2図は第1図
の要部拡大断面図、第3図はキャリアテープの斜視図、
第4図はICユニットの製造方法を示す工程図、第5図は
第3図に示すキャリアテープの要部を拡大した平面図、
第6図はLCDの電極端子を示した要部拡大平面図、第7
図はキャリアテープの他の実施例の平面図、第8図は第
7図に示すキャリアテープを用いて形成されたICユニッ
トの接続方法を示した断面図である。 1……LCD基板、2……ICユニット、3……キャリアテ
ープ、4……ICデバイス、7……デバイス穴、8……フ
ィンガリード、10……接続パターン、18……配線基板。
ニットとLCDの接続方法を示す斜視図、第2図は第1図
の要部拡大断面図、第3図はキャリアテープの斜視図、
第4図はICユニットの製造方法を示す工程図、第5図は
第3図に示すキャリアテープの要部を拡大した平面図、
第6図はLCDの電極端子を示した要部拡大平面図、第7
図はキャリアテープの他の実施例の平面図、第8図は第
7図に示すキャリアテープを用いて形成されたICユニッ
トの接続方法を示した断面図である。 1……LCD基板、2……ICユニット、3……キャリアテ
ープ、4……ICデバイス、7……デバイス穴、8……フ
ィンガリード、10……接続パターン、18……配線基板。
Claims (1)
- 【請求項1】キャリアテープに、その巾方向に複数行に
配列されたデバイス穴を形成する工程と、 前記キャリアテープの一面に金属箔をラミネートし、エ
ッチングにより一端が前記デバイス穴の内部に突出す多
数のフィンガリードと各々の該フィンガリードに接続さ
れたメッキ電位印加パターンとを形成する工程と、 前記キャリアテープの他面に複数の接続パターンを形成
する工程と、 前記キャリアテープに複数のスルーホールを形成して隣
接する前記各デバイス穴に形成された各々対応する所定
の前記フィンガリード同志を前記各接続パターンにより
接続する工程と、 前記メッキ電位印加パターンを介してメッキ電位を印加
し、前記フィンガリードにメッキを施す工程と、 前記各デバイス穴内にICデバイスを配して、前記デバイ
ス穴から突出す前記各フィンガリードの一端を前記ICデ
バイスの対応する電極にボンディングする工程と、 前記キャリアテープの所定部分に切欠きを形成すること
により、前記フィンガリードと前記メッキ電位印加パタ
ーンとの接続を切る工程と、 前記キャリアテープを隣接する2個以上のICデバイスを
含むように切断してICユニットを得る工程と、 前記ICユニットを該ユニット状態のまま基板に接続する
工程とを具備することを特徴とするICユニットの接続方
法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63117004A JPH0793485B2 (ja) | 1988-05-16 | 1988-05-16 | Icユニットの接続方法 |
KR1019890004294A KR910008628B1 (ko) | 1988-05-16 | 1989-03-31 | Ic 유니트 및 그 접합방법 |
US07/347,391 US4927491A (en) | 1988-05-16 | 1989-05-04 | Method of bonding IC unit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63117004A JPH0793485B2 (ja) | 1988-05-16 | 1988-05-16 | Icユニットの接続方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01287988A JPH01287988A (ja) | 1989-11-20 |
JPH0793485B2 true JPH0793485B2 (ja) | 1995-10-09 |
Family
ID=14701082
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63117004A Expired - Fee Related JPH0793485B2 (ja) | 1988-05-16 | 1988-05-16 | Icユニットの接続方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4927491A (ja) |
JP (1) | JPH0793485B2 (ja) |
KR (1) | KR910008628B1 (ja) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4981817A (en) * | 1988-12-29 | 1991-01-01 | International Business Machines Corporation | Tab method for implementing dynamic chip burn-in |
JP2660934B2 (ja) * | 1989-10-30 | 1997-10-08 | 三井金属鉱業株式会社 | 接続機能を有するテープキャリヤ |
US5152054A (en) * | 1990-05-25 | 1992-10-06 | Seiko Epson Corporation | Method of making film carrier structure for integrated circuit tape automated bonding |
US5113580A (en) * | 1990-11-19 | 1992-05-19 | Schroeder Jon M | Automated chip to board process |
US5234536A (en) * | 1991-04-26 | 1993-08-10 | Olin Corporation | Process for the manufacture of an interconnect circuit |
US5133118A (en) * | 1991-08-06 | 1992-07-28 | Sheldahl, Inc. | Surface mounted components on flex circuits |
US5216277A (en) * | 1991-10-31 | 1993-06-01 | National Semiconductor Corporation | Lead frames with location eye point markings |
TW232065B (ja) * | 1992-04-16 | 1994-10-11 | Sharp Kk | |
JPH0715122A (ja) * | 1993-06-23 | 1995-01-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 接合用フィルム構体および電子部品実装方法 |
US5490639A (en) * | 1993-12-22 | 1996-02-13 | National Semiconductor Corporation | Multi-rail tension equalizer |
US5646068A (en) * | 1995-02-03 | 1997-07-08 | Texas Instruments Incorporated | Solder bump transfer for microelectronics packaging and assembly |
JP3608205B2 (ja) * | 1996-10-17 | 2005-01-05 | セイコーエプソン株式会社 | 半導体装置及びその製造方法並びに回路基板 |
KR100449593B1 (ko) * | 1997-10-27 | 2004-11-16 | 삼성전자주식회사 | 테이프캐리어패키지 구조 |
AU2001242703A1 (en) * | 2000-02-28 | 2001-09-12 | Sts Atl Corporation | A method of forming an opening or cavity in a substrate for receiving an electronic component |
US7132841B1 (en) | 2000-06-06 | 2006-11-07 | International Business Machines Corporation | Carrier for test, burn-in, and first level packaging |
US8398869B2 (en) * | 2008-11-25 | 2013-03-19 | Sikorsky Aircraft Corporation | Transfer film and method for fabricating a circuit |
US9981457B2 (en) * | 2013-09-18 | 2018-05-29 | Semiconductor Emergy Laboratory Co., Ltd. | Manufacturing apparatus of stack |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3480836A (en) * | 1966-08-11 | 1969-11-25 | Ibm | Component mounted in a printed circuit |
US3823467A (en) * | 1972-07-07 | 1974-07-16 | Westinghouse Electric Corp | Solid-state circuit module |
US4118858A (en) * | 1976-04-19 | 1978-10-10 | Texas Instruments Incorporated | Method of making an electronic calculator |
JPS5332382A (en) * | 1976-09-03 | 1978-03-27 | Suwa Seikosha Kk | Flexible printed substrate structure for electronic wrist watch |
-
1988
- 1988-05-16 JP JP63117004A patent/JPH0793485B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1989
- 1989-03-31 KR KR1019890004294A patent/KR910008628B1/ko not_active Expired
- 1989-05-04 US US07/347,391 patent/US4927491A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR890018026A (ko) | 1989-12-18 |
KR910008628B1 (ko) | 1991-10-19 |
US4927491A (en) | 1990-05-22 |
JPH01287988A (ja) | 1989-11-20 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |