JPH0758828B2 - Chip parts removing device - Google Patents
Chip parts removing deviceInfo
- Publication number
- JPH0758828B2 JPH0758828B2 JP60137606A JP13760685A JPH0758828B2 JP H0758828 B2 JPH0758828 B2 JP H0758828B2 JP 60137606 A JP60137606 A JP 60137606A JP 13760685 A JP13760685 A JP 13760685A JP H0758828 B2 JPH0758828 B2 JP H0758828B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- chip component
- substrate
- gas
- chip
- adhesive
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 31
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 27
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims description 20
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims description 19
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 claims 1
- 210000000078 claw Anatomy 0.000 description 9
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- 230000004308 accommodation Effects 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は基板に搭載されているチップ部品の除去装置
に関する。The present invention relates to a chip component removing device mounted on a substrate.
(従来の技術) 先ず、従来のこの種の装置につき説明する。(Prior Art) First, a conventional device of this type will be described.
第5図(A)は従来のチップ部品除去装置を概略的に示
す斜視図、第5図(B)は従来のチップ部品除去装置の
要部拡大図である。11はガス導入口12及びガス噴出口13
間にガス通路を具えたガス加熱器、14は試料固定台であ
る。チップ部品15が搭載された基板16をこの試料固定台
14上にバイス等の手段により固定する。17はチップ部品
を剥離するためのツメで、これはツメ固定台18に固定さ
れていてツメ移動つまみ19で操作出来るように構成され
ている。FIG. 5 (A) is a perspective view schematically showing a conventional chip component removing device, and FIG. 5 (B) is an enlarged view of a main part of the conventional chip component removing device. 11 is a gas inlet 12 and a gas jet 13
A gas heater having a gas passage therebetween, and 14 is a sample fixing base. The substrate 16 on which the chip parts 15 are mounted is used as the sample holder.
It is fixed on 14 by means of vise. Reference numeral 17 is a claw for peeling off a chip component, which is fixed to a claw fixing base 18 and can be operated by a claw moving knob 19.
この従来のチップ部品除去装置によれば、ガス導入口12
より例えばN2ガスを導入し、ガス加熱器11のガス通路を
経てガス噴出口13よりこのガスを基板16上のチップ部品
15に向けて噴出させる。この間にN2ガスは例えば300〜5
00℃に加熱される。通常は基板16は試料固定台14で予備
加熱されており、除去したいチップ部品15にガス噴出口
13から高温のN2ガスを噴出して当てると、基板16とチッ
プ部品15と結合している例えばAg系接着剤20の温度が軟
化点まで上り、これと同時にツメ17でチップ部品15を押
してチップ部品15の除去を行っていた。According to this conventional chip component removing device, the gas inlet 12
For example, N 2 gas is introduced, and this gas is passed from the gas outlet 13 through the gas passage of the gas heater 11 to the chip component on the substrate 16.
Eject toward 15. During this, N 2 gas is, for example, 300 to 5
It is heated to 00 ° C. Normally, the substrate 16 is preheated on the sample fixing base 14, and the gas jet port is placed on the chip component 15 to be removed.
When high-temperature N 2 gas is jetted from 13 and applied, the temperature of, for example, the Ag adhesive 20 bonded to the substrate 16 and the chip component 15 rises to the softening point, and at the same time, the chip component 15 is pushed by the tab 17. The chip component 15 was removed.
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、上述したような従来構成の装置ではチッ
プ部品をツメで押して取り除くという方法のため、除去
するチップ部品の押される側近くに除去の必要のない別
の部品が載置されていたり、また、ツメの移動路内にも
別の部品が搭載されたりしていると、ツメによって除去
された部品或はツメ自体が他の部品や基板上に形成され
た回路パターンを損傷するなどの問題点があった。(Problems to be Solved by the Invention) However, in the device having the conventional configuration as described above, since the chip component is pushed and removed by the claw, another portion that does not need to be removed is provided near the pushed side of the chip component to be removed. If a part is placed or another part is also installed in the movement path of the claw, the part removed by the claw or the claw itself is formed on another part or the substrate. There were problems such as damage to the circuit pattern.
さらに上述した従来構成の装置では、ガス加熱器のガス
噴出口をノズル状に形成しており、従ってこのノズル状
のガス噴出口から高温ガスを噴出させてチップ部品を加
熱しているので、チップ部品の加熱効率が必ずしも良く
ない。その結果、チップ部品除去作業の効率が悪くなる
という問題点があった。チップ部品の下面を接着剤で基
板に接着している場合は、チップ部品下面の接着剤を軟
化させるのに要する時間を短縮するため、チップ部品の
加熱効率を高めることが望まれる。Further, in the above-described conventional apparatus, the gas outlet of the gas heater is formed in a nozzle shape, and therefore, high temperature gas is ejected from the nozzle-shaped gas outlet to heat the chip component. The heating efficiency of parts is not always good. As a result, there has been a problem that the efficiency of the chip component removing work is reduced. When the lower surface of the chip component is adhered to the substrate with an adhesive, it is desirable to increase the heating efficiency of the chip component in order to shorten the time required to soften the adhesive on the lower surface of the chip component.
この発明の目的は、上述した従来の問題点を除去し、高
密度部品実装基板のチップ部品除去を他の部品や回路パ
ターンに損傷を与えずに容易に行うことが出来ると共に
チップ部品の除去作業をより効率良く行えるように構成
したチップ部品除去装置を提供することにある。An object of the present invention is to eliminate the above-mentioned conventional problems, to easily perform chip component removal of a high-density component mounting board without damaging other components or circuit patterns, and to remove chip components. It is an object of the present invention to provide a chip component removing device configured so that the above can be performed more efficiently.
(問題点を解決するための手段) この目的の達成を図るため、この発明によれば、加熱に
より軟化する接着剤を用いてチップ部品の下面が接着さ
れている基板を、固定するためのものであって、基板を
予備加熱するためのヒータを有する試料台と、チップ部
品を収容する凹部を有しかつ接着剤を軟化点温度まで上
昇させるように温度制御された高温ガスを前記凹部から
の噴出するためのガス通路を有する収容加熱手段と、接
着剤の軟化後、基板とチップ部品とを相対的に振動させ
てチップ部品を剥離するための振動手段とを具えること
を特徴とする。(Means for Solving the Problems) In order to achieve this object, according to the present invention, an object for fixing a substrate to which the lower surface of a chip component is bonded by using an adhesive that is softened by heating A sample stage having a heater for preheating the substrate and a recess for accommodating the chip component, and a high-temperature gas whose temperature is controlled so as to raise the adhesive to the softening point temperature are supplied from the recess. It is characterized in that it is provided with a housing heating means having a gas passage for jetting, and a vibrating means for peeling the chip component by vibrating the substrate and the chip component relatively after the adhesive is softened.
また、この発明の好適実施例においては、振動手段は収
容加熱手段を超音波振動させる超音波振動手段とする。In a preferred embodiment of the present invention, the vibrating means is ultrasonic vibrating means for ultrasonically vibrating the housing heating means.
あるいは接着剤を軟化点温度まで上昇させた後にチップ
部品を剥離するため、振動手段によって試料台を振動す
るような構成とするのが好適である。Alternatively, since the chip parts are peeled off after the adhesive has been raised to the softening point temperature, it is preferable to vibrate the sample stage by vibrating means.
あるいはこの発明の実施に当り、収容加熱手段にガス通
路を設け、そのガス通路の一端を吸引装置に接続し、剥
離したチップ部品を収容加熱手段に吸着して基板から除
去する構成とするのが好適である。Alternatively, in carrying out the present invention, a gas passage is provided in the housing heating means, one end of the gas passage is connected to a suction device, and the peeled chip component is adsorbed by the housing heating means and removed from the substrate. It is suitable.
(作用) このように構成すれば、収容加熱手段により取り除くべ
きチップ部品に熱を供給してチップ部品と基板とを結合
する接着剤を軟化点まで上昇させ、この接着剤の軟化
後、振動手段でチップ部品と基板とを相対的に振動させ
ることが出来るので、チップ部品が容易に基板から剥離
し得る。従って、剥離したチップ部品をピンセットでつ
まみ取れば良い。或は収容加熱手段のガス通路を介して
吸引装置で収容加熱手段の凹部に負圧を形成し、この負
圧によりチップ部品を吸着して取り除くことも出来る。(Operation) According to this structure, heat is supplied to the chip component to be removed by the housing heating means to raise the adhesive for bonding the chip component and the substrate to the softening point, and after the adhesive is softened, the vibrating means is used. Since the chip component and the substrate can be vibrated relatively with each other, the chip component can be easily separated from the substrate. Therefore, the peeled chip component may be pinched with tweezers. Alternatively, a negative pressure may be formed in the concave portion of the housing heating means by a suction device via the gas passage of the housing heating means, and the negative pressure may adsorb and remove the chip component.
従って、この発明のチップ部品除去装置によれば従来の
ような剥離用ツメを用いずに済み、従って他の必要部品
や回路パターンを損傷することなく容易に不要なチップ
部品の除去を行える。Therefore, according to the chip component removing apparatus of the present invention, it is not necessary to use a conventional peeling claw, and therefore, unnecessary chip components can be easily removed without damaging other necessary components or circuit patterns.
しかも収容加熱手段は、チップ部品の周囲を覆うように
チップ部品を収容する凹部を有し、かつこの凹部から高
温ガスを噴出するためのガス通路を有する。従ってチッ
プ部品の下面と基板との間に介在してこれらを結合する
接着剤を、軟化させる際に、このチップ部品の周囲に万
遍なく高温ガスを行きわたらせることができるので、高
温ガスからこのチップ部品への熱伝達をより一層効率良
く行うことができる。Moreover, the housing heating means has a recess for housing the chip component so as to cover the periphery of the chip component, and also has a gas passage for ejecting high temperature gas from the recess. Therefore, when softening the adhesive that intervenes between the lower surface of the chip component and the substrate to bond them, it is possible to spread the high temperature gas evenly around the chip component. The heat transfer to the chip component can be performed more efficiently.
(実施例) 以下、図面を参照してこの発明の実施例につき説明す
る。尚、図はこの発明が理解できる程度に各構成成分を
概略的に示してあり、従って、各構成成分の寸法、形状
及び配置関係は図示例に限定されるものではない。又、
第6図(A)及び(B)に示した構成成分と同一構成成
分には同一符号を付して示し、その詳細な説明を省略す
る。Embodiments Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. It should be noted that the drawings schematically show the respective constituents to the extent that the present invention can be understood, and therefore the dimensions, shapes, and positional relationships of the respective constituents are not limited to the illustrated examples. or,
The same components as those shown in FIGS. 6A and 6B are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.
第1図はチップ部品除去装置の概要を示す斜視図であ
る。FIG. 1 is a perspective view showing the outline of a chip component removing device.
この図において、21は収容加熱手段で例えばコレットと
称する器具である。この実施例では、このコレット21は
内部にガス通路を具え、このガス通路(第2図中符号22
を付して示すガス通路)の一端をガス導入口としてガス
加熱器11のガス噴出口13と結合している。尚、ガス加熱
器11のガス噴出口13の形状は、高温ガスをコレット21の
ガス通路22に導くことができる任意好適な形状とするこ
とができる。In this figure, reference numeral 21 denotes an accommodation heating means, which is an instrument called collet, for example. In this embodiment, this collet 21 has a gas passage therein, and this gas passage (reference numeral 22 in FIG. 2).
One end of the gas passage (denoted by a symbol) is connected to the gas ejection port 13 of the gas heater 11 as a gas introduction port. The shape of the gas ejection port 13 of the gas heater 11 can be any suitable shape that can guide the high temperature gas to the gas passage 22 of the collet 21.
試料台14にはこれを予備加熱するためのヒータが設けら
れていて、従って試料台14に固定した基板16をこのヒー
タにより予備加熱することができる。23はこのヒータに
電力を供給するための接続線である。又、24は除去の必
要のない部品である。The sample stage 14 is provided with a heater for preheating it, and therefore the substrate 16 fixed to the sample stage 14 can be preheated by this heater. Reference numeral 23 is a connection line for supplying electric power to this heater. Further, 24 is a part which does not need to be removed.
第2図は収容加熱手段としてのコレット21を主として示
す拡大断面図で、22はコレット21の内部に形成されてい
るガス通路である。このガス通路22の他端側のコレット
内部にチップ部品15を収容する収容部としての凹部が形
成されている。この凹部内にガス通路22のガス噴出口25
を設ける。FIG. 2 is an enlarged cross-sectional view mainly showing the collet 21 as the housing heating means, and 22 is a gas passage formed inside the collet 21. Inside the collet on the other end side of the gas passage 22, a recess is formed as a housing portion for housing the chip component 15. The gas ejection port 25 of the gas passage 22 is provided in this recess.
To provide.
次に第1図及び第2図を参照して、この実施例の動作を
説明する。Next, the operation of this embodiment will be described with reference to FIGS.
先ず、コレット21を、除去しようとするチップ部品15に
セットし、その収容部にチップ部品15を嵌合させる。次
にN2ガス又は空気等の高温で安定なガスをガス導入口12
からガス加熱器11へ導き、そこでこのガス300〜500℃に
加熱する。この加熱ガス(高温ガスとも称す)をコレッ
ト21内のガス通路22を通し、コレット21のガス噴出口25
からチップ部品15へ向けて噴き出す。この加熱ガスによ
り、チップ部品15の温度を上げると共に、チップ部品15
の下面と基板16との間に介在してこれらを結合する接着
剤20をその熱により軟化させる温度まで上昇させる。こ
の場合、使用されている接着剤20は熱により軟化する接
着剤(例えばエポキシ系Agペースト、半田等)であれ
ば、その種類は問わない。First, the collet 21 is set on the chip component 15 to be removed, and the chip component 15 is fitted into the containing portion. Next, a gas that is stable at high temperature, such as N 2 gas or air, is introduced into the gas inlet 12
To the gas heater 11 where it is heated to 300-500 ° C. This heating gas (also referred to as high temperature gas) is passed through the gas passage 22 in the collet 21 and the gas jet port 25 of the collet 21.
It spouts from the chip component 15. This heating gas raises the temperature of the chip part 15 and
The adhesive 20 that is interposed between the lower surface of the substrate and the substrate 16 to bond them together is heated to a temperature at which it is softened. In this case, the adhesive 20 used may be of any type as long as it is an adhesive that is softened by heat (for example, epoxy-based Ag paste, solder, etc.).
軟化点に達した時点で試料台14を振動手段により振動さ
せてチップ部品15と基板16とを相対的に振動させて、チ
ップ部品15を基板16から剥離する。チップ部品15を剥離
した後、加熱ガスの噴き出しを停止し、今度はガス通路
22を使って剥離したチップ部品15を吸着し、コレット21
を基板16から引き離し、よってチップ部品15を基板16か
ら除去する。When the softening point is reached, the sample stage 14 is vibrated by vibrating means to relatively vibrate the chip component 15 and the substrate 16, and the chip component 15 is separated from the substrate 16. After peeling off the chip component 15, the ejection of heating gas was stopped, and this time the gas passage
Adsorb the chip component 15 that has been peeled off using
Is separated from the substrate 16 and thus the chip component 15 is removed from the substrate 16.
第3図(A)及び(B)は収容加熱手段としてのコレッ
トの変形例を示す斜視図である。FIGS. 3 (A) and 3 (B) are perspective views showing modified examples of the collet as the housing heating means.
コレット21としては、第3図(A)に示すようにチップ
部品15の一部を覆って収容する構造のもの或は第3図
(B)に示すようにチップ部品15のほぼ全体を覆って収
容する構造のものとして形成することが出来る。As the collet 21, as shown in FIG. 3 (A), one having a structure in which a part of the chip component 15 is covered and accommodated, or as shown in FIG. It can be formed as a housing structure.
次にこの発明の第二実施例につき説明する。Next, a second embodiment of the present invention will be described.
第4図はこの発明の第二実施例を説明するためのチップ
部品除去装置の斜視図である。FIG. 4 is a perspective view of a chip component removing device for explaining a second embodiment of the present invention.
この実施例でも、コレット21は第一実施例と同様に高温
ガスを噴出するためのガス通路22を有する(第2図参
照)。そして加熱効率をより一層高めるために、コレッ
ト21自体を高温に温度制御出来るヒータ26を適当個所に
具えている。さらに、このコレット21を超音波振動させ
るため外部の超音波発振器と接続できる超音波振動(発
振)ホーン27を設ける。Also in this embodiment, the collet 21 has a gas passage 22 for ejecting a high temperature gas as in the first embodiment (see FIG. 2). Further, in order to further improve the heating efficiency, a heater 26 capable of controlling the temperature of the collet 21 itself to a high temperature is provided at an appropriate position. Further, an ultrasonic vibration (oscillation) horn 27 that can be connected to an external ultrasonic oscillator for ultrasonically vibrating the collet 21 is provided.
このコレット21を除去しようとするチップ部品15にセッ
トし、ヒータ26でコレット21を加熱してこのチップ部品
15に熱を供給する。このようにすると基板16とチップ部
品15とを結合する接着剤20の温度を軟化点まで上昇させ
るもとが出来る。The collet 21 is set on the chip part 15 to be removed, and the collet 21 is heated by the heater 26 to remove the chip part 15.
Supply heat to 15. By doing so, it is possible to raise the temperature of the adhesive 20 that bonds the substrate 16 and the chip component 15 to the softening point.
軟化点に達した時点でコレット21を超音波振動させて基
板16に対してチップ部品15を相対的に振動させ、よって
チップ部品15を基板16から剥離する。剥離されたチップ
部品15はピンセットでつまみ取って除く。この場合コレ
ット21に吸引手段が設けられている場合には、チップ部
品15をコレットで吸着させて除去してもよい。When the softening point is reached, the collet (21) is ultrasonically vibrated to vibrate the chip component (15) relative to the substrate (16), so that the chip component (15) is separated from the substrate (16). The peeled chip component 15 is pinched with tweezers and removed. In this case, when the collet 21 is provided with a suction means, the chip component 15 may be adsorbed by the collet and removed.
(発明の効果) 上述した説明から明らかなように、この発明のチップ部
品除去装置によればチップ部品をツメで押す操作がない
ため高密度チップ部品実装基板でも容易にチップ部品の
除去が出来る。(Effect of the Invention) As is apparent from the above description, according to the chip component removing device of the present invention, since there is no operation of pushing the chip component with the claw, the chip component can be easily removed even on the high-density chip component mounting board.
また収容加熱手段が基板パターンと直接ふれることがな
いのでパターンに傷がつかない。Moreover, since the housing heating means does not directly touch the substrate pattern, the pattern is not damaged.
また、除去すべきチップ部品を収容加熱手段の凹部に収
容し、この凹部内に高温ガスを導入して当該チップ部品
を加熱するので、高温ガスからチップ部品への熱伝達を
一層効率良く行なえる。従って除去すべきチップ部品下
面と基板との間に介在する接着剤を軟化させるのに要す
る時間を短縮でき、その結果、チップ部品除去作業の作
業効率を高めることができる。しかも剥離したチップ部
品が他のチップ部品まで飛ばないので、他のチップ部品
を傷つけることがないなどの効果があり高密度チップ部
品実装基板の効率的で安全なチップ部品除去が期待出来
る。Further, since the chip component to be removed is housed in the recess of the housing heating means and the high temperature gas is introduced into the recess to heat the chip component, heat transfer from the high temperature gas to the chip component can be performed more efficiently. . Therefore, the time required to soften the adhesive agent interposed between the lower surface of the chip component to be removed and the substrate can be shortened, and as a result, the work efficiency of the chip component removing operation can be improved. Moreover, since the peeled chip component does not fly to other chip components, there is an effect that other chip components are not damaged, and efficient and safe chip component removal of the high-density chip component mounting board can be expected.
第1図はこの発明の第一実施例の概要を示す斜視図、 第2図は第一実施例の収容加熱手段の一実施例であるコ
レットの拡大断面図、 第3図(A)及び(B)は第一実施例のコレットの変形
例を示す斜視図、 第4図はこの発明の第二実施例を説明するためのチップ
部品除去装置の斜視図、 第5図(A)は従来のチップ部品除去装置を概略的に示
す斜視図、第5図はその要部拡大図である。 11……ガス加熱器、12……ガス導入口 14……試料固定台、15……チップ部品 16……基板、20……接着剤 21……収容加熱手段(コレット) 22……ガス通路、23……接続線 24……除去不要の部品、25……ガス噴出口 26……ヒータ 27……超音波振動(発振)ホーンFIG. 1 is a perspective view showing the outline of a first embodiment of the present invention, FIG. 2 is an enlarged sectional view of a collet which is an embodiment of the housing heating means of the first embodiment, FIGS. 3 (A) and (A). B) is a perspective view showing a modified example of the collet of the first embodiment, FIG. 4 is a perspective view of a chip component removing device for explaining the second embodiment of the present invention, and FIG. FIG. 5 is a perspective view schematically showing the chip part removing device, and FIG. 5 is an enlarged view of a main part thereof. 11 …… Gas heater, 12 …… Gas inlet 14 …… Sample holder, 15 …… Chip part 16 …… Board, 20 …… Adhesive 21 …… Housing and heating means (collet) 22 …… Gas passage, 23 …… Connecting wire 24 …… Parts that do not need to be removed, 25 …… Gas outlet 26 …… Heater 27 …… Ultrasonic vibration (oscillation) horn
Claims (5)
部品の下面が接着されている基板を、固定するためのも
のであって、該基板を予備加熱するためのヒータを有す
る試料台と、該チップ部品を収容する凹部を有しかつ該
接着剤を難化点温度まで上昇させるように温度制御され
た高温ガスを前記凹部から噴出するためのガス通路を有
する収容加熱手段と、前記接着剤の難化後、前記基板と
チップ部品とを相対的に振動させて該チップ部品を剥離
するための振動手段とを具えることを特徴とするチップ
部品除去装置。1. A sample stage for fixing a substrate to which a lower surface of a chip component is adhered by using an adhesive which is hardened by heating, the sample stage having a heater for preheating the substrate. An accommodating and heating means having a concave portion for accommodating the chip component and having a gas passage for ejecting a high-temperature gas whose temperature is controlled to raise the adhesive to a difficult point temperature from the concave portion; A chip part removing device comprising: a vibrating means for vibrating the substrate and the chip part relative to each other after the agent becomes difficult to separate the chip part.
上昇させるための熱を供給するヒータを具えることを特
徴とする特許請求の範囲第1項記載のチップ部品除去装
置。2. The chip component removing apparatus according to claim 1, wherein the housing heating means comprises a heater for supplying heat for raising the adhesive to the temperature of the difficulty point.
せる超音波振動手段とすることを特徴とする特許請求の
範囲第1項又は第2項記載のチップ部品除去装置。3. The chip component removing apparatus according to claim 1, wherein the vibrating means is ultrasonic vibrating means for ultrasonically vibrating the housing heating means.
させた後にチップ部品を剥離するため、試料台を振動す
ることを特徴とする特許請求の範囲第1項又は第2項記
載のチップ部品除去装置。4. The vibrating means vibrates the sample stage in order to peel off the chip component after raising the adhesive to the softening point temperature, so that the vibrating means vibrates the sample stage. Chip component removing device.
して基板から除去することを特徴とする特許請求の範囲
第1項又は第2項記載のチップ部品除去装置。5. The chip component removing device according to claim 1 or 2, wherein the peeled chip component is adsorbed by the housing heating means to be removed from the substrate.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60137606A JPH0758828B2 (en) | 1985-06-24 | 1985-06-24 | Chip parts removing device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60137606A JPH0758828B2 (en) | 1985-06-24 | 1985-06-24 | Chip parts removing device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61295696A JPS61295696A (en) | 1986-12-26 |
JPH0758828B2 true JPH0758828B2 (en) | 1995-06-21 |
Family
ID=15202619
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60137606A Expired - Lifetime JPH0758828B2 (en) | 1985-06-24 | 1985-06-24 | Chip parts removing device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0758828B2 (en) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2601225B2 (en) * | 1994-11-08 | 1997-04-16 | 日本電気株式会社 | How to dismantle components from a printed circuit board with components |
JP4644455B2 (en) * | 2003-09-12 | 2011-03-02 | 矢崎総業株式会社 | Method for separating adhesive |
JP4660106B2 (en) * | 2004-03-30 | 2011-03-30 | 積水化学工業株式会社 | Part peeling method |
JP5922484B2 (en) * | 2012-05-07 | 2016-05-24 | 日本発條株式会社 | How to remove the slider |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56124294A (en) * | 1980-03-04 | 1981-09-29 | Mitsubishi Electric Corp | Method of removing part mounted on printed board |
JPS5873188A (en) * | 1981-10-27 | 1983-05-02 | 富士通株式会社 | Automatic removal device for electronic components from printed boards |
-
1985
- 1985-06-24 JP JP60137606A patent/JPH0758828B2/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56124294A (en) * | 1980-03-04 | 1981-09-29 | Mitsubishi Electric Corp | Method of removing part mounted on printed board |
JPS5873188A (en) * | 1981-10-27 | 1983-05-02 | 富士通株式会社 | Automatic removal device for electronic components from printed boards |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS61295696A (en) | 1986-12-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
WO1990007191A1 (en) | Ultrasonic laser soldering | |
JP2004304066A (en) | Method of manufacturing semiconductor device | |
JPH01270327A (en) | Tool for flexible electronic device carrier and method of using it | |
JPH0758828B2 (en) | Chip parts removing device | |
JPH10189690A (en) | Semiconductor chip pickup method and pickup device | |
JP2004281659A (en) | Holding member and method of manufacturing semiconductor device | |
CN114730714A (en) | Component mounting system, component supply device, and component mounting method | |
WO2000025360A1 (en) | Operating method and device | |
US20050268457A1 (en) | Apparatus and method for mounting electronic components | |
JP2002043361A (en) | Single point bonding device | |
JPH0712051B2 (en) | Bonding method and device | |
JPH0567648A (en) | Semiconductor mounting method and device | |
JP3415283B2 (en) | Bump forming apparatus, bump forming method, and semiconductor element manufacturing method | |
JPH04164324A (en) | Semiconductor manufacturing device | |
JP2009117867A (en) | Method of manufacturing semiconductor apparatus | |
JP4267749B2 (en) | Component mounting method | |
JP2002373917A (en) | Semiconductor device and manufacturing method thereof | |
JP2005149755A (en) | Joining method and device between terminal of electronic component and bus bar | |
JPS6386551A (en) | Formation of bump | |
JP2924059B2 (en) | Semiconductor pellet mounting method and semiconductor pellet mounting apparatus | |
JPH09330956A (en) | Method and device for repairing semiconductor device | |
JPH01286387A (en) | How to replace electronic parts | |
JP2003203881A (en) | Stripping method and mounting method of electronic component | |
JP2004087610A (en) | Manufacturing method of semiconductor device and mounting apparatus to be used for the same | |
JPH1074767A (en) | Method and apparatus for forming fine ball bumps |