JPH07235940A - 供給信号補償方法、供給信号補償装置及び供給信号処理システム - Google Patents
供給信号補償方法、供給信号補償装置及び供給信号処理システムInfo
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- JPH07235940A JPH07235940A JP6025320A JP2532094A JPH07235940A JP H07235940 A JPH07235940 A JP H07235940A JP 6025320 A JP6025320 A JP 6025320A JP 2532094 A JP2532094 A JP 2532094A JP H07235940 A JPH07235940 A JP H07235940A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 信号を共通ラインから複数のモジュールに与
えるような装置構成やシステム構成において、内部のモ
ジュールの増減があっても共通ラインから与えられる信
号に影響を与えないようにする。 【構成】 インタフェースモジュールINF1〜INF
nのコネクタk1〜knへの実装による実装情報J1〜
Jnを実装枚数判定部11は取り込む。ここでモジュー
ルの実装枚数を計数し、カウンタ値を抵抗値制御情報と
して抵抗値制御部10に与える。ここでカウンタ値から
電力供給制御回路PCRの可変抵抗回路rc2の抵抗値
を設定する抵抗値制御信号を生成しPCRに与える。こ
れによってPCRはモジュールの実装枚数に応じたrc
2の設定を行い、インサートデータライン/インサート
クロックラインにデータ又はクロックを乱さない最適な
電圧を印加する。
えるような装置構成やシステム構成において、内部のモ
ジュールの増減があっても共通ラインから与えられる信
号に影響を与えないようにする。 【構成】 インタフェースモジュールINF1〜INF
nのコネクタk1〜knへの実装による実装情報J1〜
Jnを実装枚数判定部11は取り込む。ここでモジュー
ルの実装枚数を計数し、カウンタ値を抵抗値制御情報と
して抵抗値制御部10に与える。ここでカウンタ値から
電力供給制御回路PCRの可変抵抗回路rc2の抵抗値
を設定する抵抗値制御信号を生成しPCRに与える。こ
れによってPCRはモジュールの実装枚数に応じたrc
2の設定を行い、インサートデータライン/インサート
クロックラインにデータ又はクロックを乱さない最適な
電圧を印加する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は供給信号補償方法、供
給信号補償装置及び供給信号処理システムに関し、ある
信号発生部の出力信号を共通伝送路(例えば、電気的な
バスラインや、光ファイバなど)を通じて挿抜可能な複
数の信号受信手段(例えば、信号受信モジュールなど)
に分配供給する場合に適用し得るものである。
給信号補償装置及び供給信号処理システムに関し、ある
信号発生部の出力信号を共通伝送路(例えば、電気的な
バスラインや、光ファイバなど)を通じて挿抜可能な複
数の信号受信手段(例えば、信号受信モジュールなど)
に分配供給する場合に適用し得るものである。
【0002】
【従来の技術】近年、電子装置の回路は、複雑な処理を
小型で行い得るように集積化され、処理モジュールなど
が複数(例えば、10個以上)備えられているものが多
くなっている。
小型で行い得るように集積化され、処理モジュールなど
が複数(例えば、10個以上)備えられているものが多
くなっている。
【0003】また、電子装置は信頼性を向上させるため
に、自己点検やシステム試験を行うための試験回路など
を組み込み、何時でも装置の機能が正常か否かを試験す
ることができるようにされている。
に、自己点検やシステム試験を行うための試験回路など
を組み込み、何時でも装置の機能が正常か否かを試験す
ることができるようにされている。
【0004】そこで、例えば、伝送装置におけるインサ
ート試験について次に説明する。図2はインサート試験
を説明するためのシステム構成図である。更に、図3は
このインサート試験に使用されている伝送装置1の具体
的な構成図である。
ート試験について次に説明する。図2はインサート試験
を説明するためのシステム構成図である。更に、図3は
このインサート試験に使用されている伝送装置1の具体
的な構成図である。
【0005】先ず図2のインサート試験システムにおい
て、送信側の伝送装置1と受信側の伝送装置2との内部
の処理モジュールP1〜Pnと、PR1〜PRnとをイ
ンサート試験する訳である。これらの処理モジュールに
試験用信号としてインサート試験データINSDを与
え、そして、伝送回線CLを通じて受信側に与えて、受
信側の処理モジュールの電気的な機能性能を試験するも
のである。
て、送信側の伝送装置1と受信側の伝送装置2との内部
の処理モジュールP1〜Pnと、PR1〜PRnとをイ
ンサート試験する訳である。これらの処理モジュールに
試験用信号としてインサート試験データINSDを与
え、そして、伝送回線CLを通じて受信側に与えて、受
信側の処理モジュールの電気的な機能性能を試験するも
のである。
【0006】このため、送信側の伝送装置1には、信号
発生器であるインサートデータ発生器3からインサート
データINSD(例えば、擬似ランダムデータ)を発生
し、伝送装置1の試験制御回路1aに与える。すると、
試験制御回路1aは、与えられたインサートデータIN
SDをドライバDV1で駆動してインサートデータライ
ンを通じて各処理モジュールP1〜Pnに与える。同時
に試験制御回路1aは、インサートデータINSDに同
期したクロックを生成し、インサートクロックINCK
ラインを通じて各処理モジュールP1〜Pnに与える。
発生器であるインサートデータ発生器3からインサート
データINSD(例えば、擬似ランダムデータ)を発生
し、伝送装置1の試験制御回路1aに与える。すると、
試験制御回路1aは、与えられたインサートデータIN
SDをドライバDV1で駆動してインサートデータライ
ンを通じて各処理モジュールP1〜Pnに与える。同時
に試験制御回路1aは、インサートデータINSDに同
期したクロックを生成し、インサートクロックINCK
ラインを通じて各処理モジュールP1〜Pnに与える。
【0007】そして、各処理モジュールP1〜Pnは、
図3に示すようにレシーバR1〜Rnで受信し、その
後、処理モジュールP1〜Pnはそれぞれ所定の処理を
行い、伝送回線CLへ処理信号とインサートクロックI
NCKとを出力し、受信側の伝送装置2へ伝送する。そ
して、受信側の伝送装置2の内部の処理モジュールPR
1〜PRnはそれぞれ処理信号とインサートクロックI
NCKとから復調処理を行って、インサート受信データ
をそれぞれ出力し、試験制御回路2aに与える。
図3に示すようにレシーバR1〜Rnで受信し、その
後、処理モジュールP1〜Pnはそれぞれ所定の処理を
行い、伝送回線CLへ処理信号とインサートクロックI
NCKとを出力し、受信側の伝送装置2へ伝送する。そ
して、受信側の伝送装置2の内部の処理モジュールPR
1〜PRnはそれぞれ処理信号とインサートクロックI
NCKとから復調処理を行って、インサート受信データ
をそれぞれ出力し、試験制御回路2aに与える。
【0008】そして、試験制御回路2aは、処理モジュ
ールPR1〜PRnから与えられたインサート受信デー
タを外部に接続されているインサート受信データ測定器
4に与える。このインサート受信データ測定器4は、信
号の波形を観測するものであって、例えば、オシロスコ
ープなどであってもよい。そして、このインサート受信
データ測定器4によって、送信したインサートデータI
NSDと、インサート受信データとの波形比較などを行
って、伝送装置1から伝送装置2までの伝送系の機能性
能などを試験するものであった。
ールPR1〜PRnから与えられたインサート受信デー
タを外部に接続されているインサート受信データ測定器
4に与える。このインサート受信データ測定器4は、信
号の波形を観測するものであって、例えば、オシロスコ
ープなどであってもよい。そして、このインサート受信
データ測定器4によって、送信したインサートデータI
NSDと、インサート受信データとの波形比較などを行
って、伝送装置1から伝送装置2までの伝送系の機能性
能などを試験するものであった。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】上述の図2、図3に示
したように、伝送装置1は、内部のインサートデータI
NSDラインとインサートクロックINCKラインとに
それぞれ複数の処理モジュールP1〜Pnが接続されて
いる。従って、試験制御回路1aのドライバDV1に要
求されるの駆動容量(駆動電力)は高い容量が必要とさ
れる。
したように、伝送装置1は、内部のインサートデータI
NSDラインとインサートクロックINCKラインとに
それぞれ複数の処理モジュールP1〜Pnが接続されて
いる。従って、試験制御回路1aのドライバDV1に要
求されるの駆動容量(駆動電力)は高い容量が必要とさ
れる。
【0010】つまり、例えば、インサートデータINS
Dラインに処理モジュールが最大10個接続されるのあ
れば、試験制御回路1aのドライバDV1には最大10
個の処理モジュールP1〜P10の各レシーバR1〜R
10に対して波形が歪むことなく伝送し得る駆動能力が
要求されることは当然のことである。このようにドライ
バDV1の駆動能力を設計しておくことで、インサート
データINSDラインに接続される処理モジュールが少
なくなってもインサートデータINSDの波形が歪むこ
とは特別なことがない限り起こり得ない。
Dラインに処理モジュールが最大10個接続されるのあ
れば、試験制御回路1aのドライバDV1には最大10
個の処理モジュールP1〜P10の各レシーバR1〜R
10に対して波形が歪むことなく伝送し得る駆動能力が
要求されることは当然のことである。このようにドライ
バDV1の駆動能力を設計しておくことで、インサート
データINSDラインに接続される処理モジュールが少
なくなってもインサートデータINSDの波形が歪むこ
とは特別なことがない限り起こり得ない。
【0011】しかしながら、回線使用需要の増大などに
よって、インサートデータINSDラインに接続される
処理モジュールの数を増加させたい場合には、簡単に増
設することはできない。これはインサートデータINS
Dラインに接続される処理モジュールの数を増加させる
ことで、試験制御回路1aのドライバDV1の駆動にか
かる負担が大きくなる。これによって、当初のドライバ
DV1の駆動能力を上回る負荷の数の処理モジュールを
インサートデータINSDラインに接続すると、各処理
モジュールのレシーバに与えられる波形が歪んだり、鈍
ったりすることとなる。このような現象は、インサート
クロックINCKについても同様に起こる。
よって、インサートデータINSDラインに接続される
処理モジュールの数を増加させたい場合には、簡単に増
設することはできない。これはインサートデータINS
Dラインに接続される処理モジュールの数を増加させる
ことで、試験制御回路1aのドライバDV1の駆動にか
かる負担が大きくなる。これによって、当初のドライバ
DV1の駆動能力を上回る負荷の数の処理モジュールを
インサートデータINSDラインに接続すると、各処理
モジュールのレシーバに与えられる波形が歪んだり、鈍
ったりすることとなる。このような現象は、インサート
クロックINCKについても同様に起こる。
【0012】また、接続される処理モジュールの数の増
減によって、ドライバDV1から負荷側をみたときのイ
ンピーダンスの変化が起き、この変化によって負荷側の
処理モジュールからの反射波がドライバDV1に戻って
くることが起こり、各処理モジュールに与えられるイン
サートクロックINCKやインサートデータINSDの
波形が乱れるという問題が起きていた。このような現象
は、低速の場合には顕著に現れず、例えば、一般に専用
線の伝送装置に使用されている速度の6Mbit/s程
度になると上述のような現象が顕著に起きていた。
減によって、ドライバDV1から負荷側をみたときのイ
ンピーダンスの変化が起き、この変化によって負荷側の
処理モジュールからの反射波がドライバDV1に戻って
くることが起こり、各処理モジュールに与えられるイン
サートクロックINCKやインサートデータINSDの
波形が乱れるという問題が起きていた。このような現象
は、低速の場合には顕著に現れず、例えば、一般に専用
線の伝送装置に使用されている速度の6Mbit/s程
度になると上述のような現象が顕著に起きていた。
【0013】このようなインサートデータINSD、イ
ンサートクロックINCKの波形の乱れ(歪みや鈍りな
ど)によって、各レシーバR1〜Rnの出力波形は、正
常なときに比べて、パルス幅が変化したり、パルス周期
が変化することとなる。このような現象によって、各処
理モジュールP1〜Pnにおける処理が正常に行われな
くなるという問題があった。
ンサートクロックINCKの波形の乱れ(歪みや鈍りな
ど)によって、各レシーバR1〜Rnの出力波形は、正
常なときに比べて、パルス幅が変化したり、パルス周期
が変化することとなる。このような現象によって、各処
理モジュールP1〜Pnにおける処理が正常に行われな
くなるという問題があった。
【0014】従って、このような異常な状態が起こらな
いように、上述の図2、図3に示したような伝送装置に
おいて、複数の処理モジュールが共有しているインサー
トデータINSDラインやインサートクロックINCK
に処理モジュールが増設される場合には、従来は、増設
する数に応じて、ドライバDV1の駆動能力も増すよう
に改修する必要があったので、手間がかかった。また、
ドライバDV1は、具体的には汎用のLSI(例えば、
LS240)などを使用するため、新たに要求される駆
動能力によっては、最初は1個で駆動できていても、改
修後に2個以上で構成しなければならない場合もあり、
PWB(Printed WiringBoard)回
路の配置を大きく改修する必要もあった。
いように、上述の図2、図3に示したような伝送装置に
おいて、複数の処理モジュールが共有しているインサー
トデータINSDラインやインサートクロックINCK
に処理モジュールが増設される場合には、従来は、増設
する数に応じて、ドライバDV1の駆動能力も増すよう
に改修する必要があったので、手間がかかった。また、
ドライバDV1は、具体的には汎用のLSI(例えば、
LS240)などを使用するため、新たに要求される駆
動能力によっては、最初は1個で駆動できていても、改
修後に2個以上で構成しなければならない場合もあり、
PWB(Printed WiringBoard)回
路の配置を大きく改修する必要もあった。
【0015】以上のようなことから、信号を共通ライン
から複数のモジュールに与えるような装置構成や、シス
テム構成において、内部のモジュールの増減があっても
共通ラインから与えられる信号に影響を与えないような
仕組みの提供が要請されていた。
から複数のモジュールに与えるような装置構成や、シス
テム構成において、内部のモジュールの増減があっても
共通ラインから与えられる信号に影響を与えないような
仕組みの提供が要請されていた。
【0016】
【課題を解決するための手段】そこで、この発明の供給
信号補償方法は、以上の要請を達成するために、以下の
特徴的な構成で実現した。
信号補償方法は、以上の要請を達成するために、以下の
特徴的な構成で実現した。
【0017】つまり、信号受信手段(例えば、信号受信
モジュールやカプラや、光/電気変換モジュールなど)
で使用するための信号(例えば、電気信号、光信号な
ど)を信号伝送路(例えば、電気的なバスライン、光フ
ァイバケーブルなど)へ出力する信号出力手段(例え
ば、試験信号出力モジュールなど)と、信号出力手段か
らの信号を接続コネクタによって挿抜可能な少なくとも
2以上の信号受信手段に分配するための信号伝送路とを
備える。
モジュールやカプラや、光/電気変換モジュールなど)
で使用するための信号(例えば、電気信号、光信号な
ど)を信号伝送路(例えば、電気的なバスライン、光フ
ァイバケーブルなど)へ出力する信号出力手段(例え
ば、試験信号出力モジュールなど)と、信号出力手段か
らの信号を接続コネクタによって挿抜可能な少なくとも
2以上の信号受信手段に分配するための信号伝送路とを
備える。
【0018】更に信号伝送路からの信号を接続コネクタ
を通じて受ける挿抜可能な信号受信手段を少なくとも2
以上備える。そして、各信号受信手段は接続コネクタに
接続されているときに接続されていることを表す接続状
態信号(例えば、オン、オフ信号、アナログ信号、又は
数ビットデータなど)を出力する。更にまた、接続状態
信号から、信号受信手段の接続コネクタへの接続数に応
じて、信号伝送路への信号分配調整を行う。そして、各
信号受信手段の接続コネクタとの挿抜に応じて各信号受
信手段への供給信号を補償することを特徴とするもので
ある。
を通じて受ける挿抜可能な信号受信手段を少なくとも2
以上備える。そして、各信号受信手段は接続コネクタに
接続されているときに接続されていることを表す接続状
態信号(例えば、オン、オフ信号、アナログ信号、又は
数ビットデータなど)を出力する。更にまた、接続状態
信号から、信号受信手段の接続コネクタへの接続数に応
じて、信号伝送路への信号分配調整を行う。そして、各
信号受信手段の接続コネクタとの挿抜に応じて各信号受
信手段への供給信号を補償することを特徴とするもので
ある。
【0019】尚、ここで、信号分配調整は、信号受信手
段の接続コネクタへの接続数に応じて、(1)信号伝送
路への印加電圧を調整する、(2)信号伝送路の信号の
電流を調整する、(3)信号伝送路と各信号受信手段と
の間のインピーダンス整合状態を調整する、(4)又は
信号伝送路の信号の増幅を調整する、などのいずれかの
信号分配調整を行うことが好ましい。
段の接続コネクタへの接続数に応じて、(1)信号伝送
路への印加電圧を調整する、(2)信号伝送路の信号の
電流を調整する、(3)信号伝送路と各信号受信手段と
の間のインピーダンス整合状態を調整する、(4)又は
信号伝送路の信号の増幅を調整する、などのいずれかの
信号分配調整を行うことが好ましい。
【0020】また、上述の発明を実現する供給信号補償
装置は、以下の特徴的な構成で実現することができる。
装置は、以下の特徴的な構成で実現することができる。
【0021】つまり、この発明の供給信号補償装置は、
信号受信手段(例えば、信号受信モジュールやカプラ
や、光/電気変換モジュールなど)で使用するための信
号(例えば、電気信号、光信号など)を信号伝送路(例
えば、電気的なバスライン、光ファイバケーブルなど)
へ出力する信号出力手段(例えば、試験信号出力モジュ
ールなど)と、上記信号出力手段からの信号を接続コネ
クタによって挿抜可能な少なくとも2以上の信号受信手
段に分配するための信号伝送路とを備える。
信号受信手段(例えば、信号受信モジュールやカプラ
や、光/電気変換モジュールなど)で使用するための信
号(例えば、電気信号、光信号など)を信号伝送路(例
えば、電気的なバスライン、光ファイバケーブルなど)
へ出力する信号出力手段(例えば、試験信号出力モジュ
ールなど)と、上記信号出力手段からの信号を接続コネ
クタによって挿抜可能な少なくとも2以上の信号受信手
段に分配するための信号伝送路とを備える。
【0022】更に、信号伝送路からの信号を接続コネク
タを通じて受ける挿抜可能な信号受信手段を少なくとも
2以上備え、しかも、各信号受信手段は接続コネクタに
接続されているときに接続されていることを表す接続状
態信号を出力し得る接続状態信号出力手段を備える。
タを通じて受ける挿抜可能な信号受信手段を少なくとも
2以上備え、しかも、各信号受信手段は接続コネクタに
接続されているときに接続されていることを表す接続状
態信号を出力し得る接続状態信号出力手段を備える。
【0023】更にまた、接続状態信号を受けて、信号受
信手段の接続コネクタへの接続数に応じて、信号伝送路
への信号分配調整を行う信号分配調整手段を備えて、各
信号受信手段の接続コネクタとの挿抜に応じて各信号受
信手段への供給信号を補償する構成としたことを特徴と
するものである。
信手段の接続コネクタへの接続数に応じて、信号伝送路
への信号分配調整を行う信号分配調整手段を備えて、各
信号受信手段の接続コネクタとの挿抜に応じて各信号受
信手段への供給信号を補償する構成としたことを特徴と
するものである。
【0024】尚、上記信号分配調整手段としては、信号
受信手段の接続コネクタへの接続数に応じて、例えば、
(a)信号伝送路への印加電圧を調整する手段、(b)
信号伝送路の電流を調整する手段、(c)信号伝送路と
各信号受信手段との間のインピーダンス整合状態を調整
する手段、(d)又は信号伝送路の信号の増幅を調整す
る手段、などのいずれかの手段を備えてなることが好ま
しい。
受信手段の接続コネクタへの接続数に応じて、例えば、
(a)信号伝送路への印加電圧を調整する手段、(b)
信号伝送路の電流を調整する手段、(c)信号伝送路と
各信号受信手段との間のインピーダンス整合状態を調整
する手段、(d)又は信号伝送路の信号の増幅を調整す
る手段、などのいずれかの手段を備えてなることが好ま
しい。
【0025】更に、この発明の供給信号処理システム
は、上述の供給信号補償装置の構成を備えるものであっ
て、2以上の各信号受信手段(例えば、信号受信モジュ
ールやカプラや、光/電気変換モジュールなど)にイン
タフェース対応して、2以上の信号処理手段(例えば、
信号処理モジュールなど)が備えられていて、各信号受
信手段は信号伝送路(例えば、電気的なバスライン、光
ファイバケーブルなど)から受信した信号を、インタフ
ェース対応する上記2以上の信号処理手段に与え、各信
号処理手段は与えられた信号を処理することを特徴とす
るものである。
は、上述の供給信号補償装置の構成を備えるものであっ
て、2以上の各信号受信手段(例えば、信号受信モジュ
ールやカプラや、光/電気変換モジュールなど)にイン
タフェース対応して、2以上の信号処理手段(例えば、
信号処理モジュールなど)が備えられていて、各信号受
信手段は信号伝送路(例えば、電気的なバスライン、光
ファイバケーブルなど)から受信した信号を、インタフ
ェース対応する上記2以上の信号処理手段に与え、各信
号処理手段は与えられた信号を処理することを特徴とす
るものである。
【0026】
【作用】一般に信号出力手段からの信号が信号伝送路に
出力され、この信号が挿抜可能な信号受信手段に与えら
れる場合に、信号伝送路に接続される信号受信手段の数
が増加することは、信号出力手段にとっては、負荷が重
くなることであるので、この負荷が重くなりすぎると、
信号の電力が不足し、各信号受信手段に与えられる信号
の品質が劣化する。
出力され、この信号が挿抜可能な信号受信手段に与えら
れる場合に、信号伝送路に接続される信号受信手段の数
が増加することは、信号出力手段にとっては、負荷が重
くなることであるので、この負荷が重くなりすぎると、
信号の電力が不足し、各信号受信手段に与えられる信号
の品質が劣化する。
【0027】そこで、この発明では、信号伝送路に接続
される信号受信手段の数を接続状態信号から求める。そ
して、接続数に応じて信号伝送路の信号に対して信号分
配調整(例えば、電気的又は光信号での調整)を行うこ
とで、信号受信手段に与えられる信号の品質を劣化させ
ないように調整することができる。
される信号受信手段の数を接続状態信号から求める。そ
して、接続数に応じて信号伝送路の信号に対して信号分
配調整(例えば、電気的又は光信号での調整)を行うこ
とで、信号受信手段に与えられる信号の品質を劣化させ
ないように調整することができる。
【0028】また、上述のような構成の供給信号補償装
置を備えた供給信号処理システムにおいては、各信号受
信手段にインタフェース対応する信号処理手段を備える
ことで、信号品質を補償された信号が信号受信手段に供
給されることによって、インタフェース対応している信
号処理手段においても確実な動作を保証することができ
るようになる。
置を備えた供給信号処理システムにおいては、各信号受
信手段にインタフェース対応する信号処理手段を備える
ことで、信号品質を補償された信号が信号受信手段に供
給されることによって、インタフェース対応している信
号処理手段においても確実な動作を保証することができ
るようになる。
【0029】
【実施例】次にこの発明を伝送装置に適用した場合の好
適な実施例を図面を用いて説明する。そこで、上述の従
来の課題を解決するために、この実施例では、試験制御
回路とインサートデータINSDラインやインサートク
ロックINCKラインに接続されるインタフェースモジ
ュールINFの接続枚数の変化によるインサートデータ
INSDやインサートクロックINCKの波形の乱れを
極力少なくさせるように構成するものである。
適な実施例を図面を用いて説明する。そこで、上述の従
来の課題を解決するために、この実施例では、試験制御
回路とインサートデータINSDラインやインサートク
ロックINCKラインに接続されるインタフェースモジ
ュールINFの接続枚数の変化によるインサートデータ
INSDやインサートクロックINCKの波形の乱れを
極力少なくさせるように構成するものである。
【0030】『概 要』: このようにするために、そ
こで、試験制御回路の駆動能力を向上させると共に、イ
ンサートデータINSDやインサートクロックINCK
のラインに接続されるインタフェースモジュールINF
の接続(実装)枚数の変化に応じて、インサートデータ
INSDやインサートクロックINCKのラインに供給
する電力の供給制御を行うことによって、インサートデ
ータINSDやインサートクロックINCKの波形の乱
れを極力少なくさせようとするものである。この電力供
給の制御ために、インサートデータINSDやインサー
トクロックINCKのラインに挿入する終端抵抗の値を
制御することで実現しようとするものである。
こで、試験制御回路の駆動能力を向上させると共に、イ
ンサートデータINSDやインサートクロックINCK
のラインに接続されるインタフェースモジュールINF
の接続(実装)枚数の変化に応じて、インサートデータ
INSDやインサートクロックINCKのラインに供給
する電力の供給制御を行うことによって、インサートデ
ータINSDやインサートクロックINCKの波形の乱
れを極力少なくさせようとするものである。この電力供
給の制御ために、インサートデータINSDやインサー
トクロックINCKのラインに挿入する終端抵抗の値を
制御することで実現しようとするものである。
【0031】また、上述のように試験制御回路の駆動能
力を上げることで、負荷が重くなっても波形を乱すこと
のないように駆動するものである。更に、この伝送装置
のインサートデータINSDやインサートクロックIN
CKのラインに接続されるインタフェースモジュールI
NFの実装状態を監視する手段を備える。そして、監視
手段によって、収集された実装枚数情報をもとにして上
述のインサートデータINSDやインサートクロックI
NCKのラインに電力供給の制御を行うものである。つ
まり、終端抵抗の値を制御することで、ラインへの電力
供給を制御し、これによって、反射などによる波形の乱
れなどを極力抑えようとするものである。
力を上げることで、負荷が重くなっても波形を乱すこと
のないように駆動するものである。更に、この伝送装置
のインサートデータINSDやインサートクロックIN
CKのラインに接続されるインタフェースモジュールI
NFの実装状態を監視する手段を備える。そして、監視
手段によって、収集された実装枚数情報をもとにして上
述のインサートデータINSDやインサートクロックI
NCKのラインに電力供給の制御を行うものである。つ
まり、終端抵抗の値を制御することで、ラインへの電力
供給を制御し、これによって、反射などによる波形の乱
れなどを極力抑えようとするものである。
【0032】図1は一実施例の伝送装置の構成図であ
る。この図1において伝送装置は、主に、試験制御回路
1bと、インタフェースモジュールINF1〜INFn
と、特徴的な抵抗値制御部10と、特徴的な実装枚数判
定部11とから構成されている。更に、試験制御回路1
bには、特徴的にはドライバD1〜Dnと、電力供給制
御回路PCRとが備えられている。そして、ドライバD
1〜Dnの出力はインサートデータINSDライン又は
インサートクロックINCKラインに与えられ、このラ
インにはインタフェースモジュールINF1〜INFn
が負荷として接続されている。そして、このラインに対
する電力供給の制御はこのラインに接続されている電力
供給調整回路PCRによって調整されるように構成され
ている。
る。この図1において伝送装置は、主に、試験制御回路
1bと、インタフェースモジュールINF1〜INFn
と、特徴的な抵抗値制御部10と、特徴的な実装枚数判
定部11とから構成されている。更に、試験制御回路1
bには、特徴的にはドライバD1〜Dnと、電力供給制
御回路PCRとが備えられている。そして、ドライバD
1〜Dnの出力はインサートデータINSDライン又は
インサートクロックINCKラインに与えられ、このラ
インにはインタフェースモジュールINF1〜INFn
が負荷として接続されている。そして、このラインに対
する電力供給の制御はこのラインに接続されている電力
供給調整回路PCRによって調整されるように構成され
ている。
【0033】更に、各インタフェースモジュールINF
1〜INFnは、インサートデータINSDライン又は
インサートクロックINCKラインからインサートデー
タINSD又はインサートクロックINCKをレシーバ
Rx1〜Rxnで受けて、内部処理に使用し得るように
構成されている。更にまた、特徴的には各インタフェー
スモジュールINF1〜INFnは、対応するコネクタ
k1〜knに接続されている場合には、接続されている
ことを表すインタフェースモジュール実装情報を出力
し、そして、実装枚数判定部11に与え得るように構成
するものである。また、試験制御回路1bの電力供給調
整回路PCRは、固定電力源Vccからの電力を固定抵
抗器rc1と、可変抵抗回路rc2との直列抵抗で受
け、そして、この固定抵抗器rc1と可変抵抗回路rc
2との分圧出力をインサートデータINSDライン又は
インサートクロックINCKラインへ与えるように構成
されている。そして、この可変抵抗回路rc2は、抵抗
値制御部10からの抵抗値制御信号によって抵抗値が設
定されるように構成されている。
1〜INFnは、インサートデータINSDライン又は
インサートクロックINCKラインからインサートデー
タINSD又はインサートクロックINCKをレシーバ
Rx1〜Rxnで受けて、内部処理に使用し得るように
構成されている。更にまた、特徴的には各インタフェー
スモジュールINF1〜INFnは、対応するコネクタ
k1〜knに接続されている場合には、接続されている
ことを表すインタフェースモジュール実装情報を出力
し、そして、実装枚数判定部11に与え得るように構成
するものである。また、試験制御回路1bの電力供給調
整回路PCRは、固定電力源Vccからの電力を固定抵
抗器rc1と、可変抵抗回路rc2との直列抵抗で受
け、そして、この固定抵抗器rc1と可変抵抗回路rc
2との分圧出力をインサートデータINSDライン又は
インサートクロックINCKラインへ与えるように構成
されている。そして、この可変抵抗回路rc2は、抵抗
値制御部10からの抵抗値制御信号によって抵抗値が設
定されるように構成されている。
【0034】更に、インタフェースモジュールINF1
〜INFnがコネクタk1〜knに実装されているかを
表す実装情報が実装枚数判定部11に与えられると、実
装枚数判定部11は実装枚数に応じた抵抗値制御情報を
出力し、抵抗値制御部10に与える。
〜INFnがコネクタk1〜knに実装されているかを
表す実装情報が実装枚数判定部11に与えられると、実
装枚数判定部11は実装枚数に応じた抵抗値制御情報を
出力し、抵抗値制御部10に与える。
【0035】このように構成することで、インタフェー
スモジュールINF1〜INFnのコネクタk1〜kn
への実装枚数に応じて電力供給調整回路PCRの終端抵
抗値を調整させて、この調整によってインサートデータ
INSDライン又はインサートクロックINCKライン
への電力供給が実装枚数に応じて調整される。これによ
って、実装枚数の変化が起きた場合であっても、必要な
電力供給制御がなされ、インタフェースモジュールIN
F1〜INFnに供給されるインサートデータINSD
及びインサートクロックINCKの波形が乱れること極
力抑えることができる。
スモジュールINF1〜INFnのコネクタk1〜kn
への実装枚数に応じて電力供給調整回路PCRの終端抵
抗値を調整させて、この調整によってインサートデータ
INSDライン又はインサートクロックINCKライン
への電力供給が実装枚数に応じて調整される。これによ
って、実装枚数の変化が起きた場合であっても、必要な
電力供給制御がなされ、インタフェースモジュールIN
F1〜INFnに供給されるインサートデータINSD
及びインサートクロックINCKの波形が乱れること極
力抑えることができる。
【0036】そこで、次に図1の第1実施例の伝送装置
におけるインサートデータINSDライン又はインサー
トクロックINCKラインへの電力供給の仕組みを詳細
に説明する。
におけるインサートデータINSDライン又はインサー
トクロックINCKラインへの電力供給の仕組みを詳細
に説明する。
【0037】即ち、図1においては試験制御回路1bに
おいて、インサートデータINSDライン又はインサー
トクロックINCKラインとして省略して記述している
が、実際の伝送装置ではインサートデータINSDライ
ンとインサートクロックINCKラインとが併設されて
いるものである。従って、ドライバD1〜Dnもインサ
ートデータINSDラインとインサートクロックINC
Kラインとに対応して2系統備えられるものである。但
し、図1の説明ではインサートデータINSDライン又
はインサートクロックINCKラインとして1系統につ
いて集中して説明する。
おいて、インサートデータINSDライン又はインサー
トクロックINCKラインとして省略して記述している
が、実際の伝送装置ではインサートデータINSDライ
ンとインサートクロックINCKラインとが併設されて
いるものである。従って、ドライバD1〜Dnもインサ
ートデータINSDラインとインサートクロックINC
Kラインとに対応して2系統備えられるものである。但
し、図1の説明ではインサートデータINSDライン又
はインサートクロックINCKラインとして1系統につ
いて集中して説明する。
【0038】そこで、図1のドライバD1〜Dnはイン
サートデータINSD又はインサートクロックINCK
を受ける。尚、ドライバD1〜Dnは基本的にはそれぞ
れ同じ特性のものとする。このようなドライバD1〜D
nは、例えば、いろいろなメーカから市販されているL
S240などをドライバとして使用することができる。
そして、このドライバの数は、実装されるインタフェー
スモジュールINF1〜INFnの数に対応して備える
ものとする。
サートデータINSD又はインサートクロックINCK
を受ける。尚、ドライバD1〜Dnは基本的にはそれぞ
れ同じ特性のものとする。このようなドライバD1〜D
nは、例えば、いろいろなメーカから市販されているL
S240などをドライバとして使用することができる。
そして、このドライバの数は、実装されるインタフェー
スモジュールINF1〜INFnの数に対応して備える
ものとする。
【0039】そして、例えば、1つのドライバD1によ
って流せる電流をI1とし、更にドライバD2によって
流せる電流をI2とすると、n個のドライバD1〜Dn
に流せる電流の合計値Iは、次式(1)となる。 I=I1+I2+I3+・・・・・+In ……(1)式 この式(1)から、ドライバを複数個接続することによ
って、駆動能力を高めることが可能となり、負荷の増大
に対しても駆動することが可能となる。尚、ドライバと
して、HD74LS240(日立製作所製)を使用した
場合、ドライバの流入電流はおよそ24mA程度であ
る。
って流せる電流をI1とし、更にドライバD2によって
流せる電流をI2とすると、n個のドライバD1〜Dn
に流せる電流の合計値Iは、次式(1)となる。 I=I1+I2+I3+・・・・・+In ……(1)式 この式(1)から、ドライバを複数個接続することによ
って、駆動能力を高めることが可能となり、負荷の増大
に対しても駆動することが可能となる。尚、ドライバと
して、HD74LS240(日立製作所製)を使用した
場合、ドライバの流入電流はおよそ24mA程度であ
る。
【0040】(ラインに対する終端抵抗値の決定、設
定): 更に、試験制御回路1bの電力供給調整回路
PCRの抵抗値rc1、rc2の決定若しくは設定は以
下のようになる。つまり、インサートデータINSDラ
イン又はインサートクロックINCKラインからみた、
電力供給調整回路PCRの交流特性等価回路は図4に示
すように表される。
定): 更に、試験制御回路1bの電力供給調整回路
PCRの抵抗値rc1、rc2の決定若しくは設定は以
下のようになる。つまり、インサートデータINSDラ
イン又はインサートクロックINCKラインからみた、
電力供給調整回路PCRの交流特性等価回路は図4に示
すように表される。
【0041】そして、この図4において、この交流特性
等価回路の特性は、次式(2)によって表される。 1/Zo=1/rc1+1/rc2+n/R ……(2)式 この1/ZoはインタフェースモジュールINF1〜I
NFnが実装されるバックボードのインピーダンスZL
である。尚、Rはラインに対する保護抵抗である。以上
のことから可変抵抗回路rc2の抵抗値は次の式(3)
で表される。 1/rc2=1/ZL−1/rc1−n/R ……(3)式 また、図1の電力供給調整回路PCRの直流特性等価回
路は図5に示すように表される。この図5において、抵
抗rc1とR/nの並列抵抗をrとしている。そして、
上記並列抵抗rに流れる電流をiとすると、次式(4)
の関係がある。 Vcc−i・r > 0 ……(4)式 更に、次式(5)に変形することができる。 i < Vcc/r ≦ IOLmax ……(5)式 尚、このIOLmaxは、ドライバに流れ込む最大出力
電流を表している。そして、上述の(5)式から、rc
1とnの関係は次式(6)によって表される。 Vcc≦IOLmax・R・rc1/(R+n・rc1) ……(6)式 更に、展開して次式(7)のように表される。 rc1≦−R・Vcc/(Vcc・n−R/IOLmax) ……(7)式 尚、rc1の値は正であるから、次式(8)の関係があ
る。 Vcc・n−R・IOLmax<0 ……(8)式 更に、上述の(8)式を変形して、次式(9)を得る。 n<R・IOLmax/Vcc ……(9)式 以上のことからインタフェースモジュールINFの実装
枚数はドライバに流れ込む電流の最大値に依存する。そ
して、例えば、R=10kΩ、ZL=50Ω、Vcc=
5Vとした場合に、インタフェースモジュールINFの
実装枚数nが1〜20のときに、IOLmaxに対する
終端抵抗器rc1の値は図6のようなグラフで表すこと
ができる。尚、このZL=50Ωは、マイクロストリッ
プ線又は同軸線などの標準的なインピーダンス値であ
る。
等価回路の特性は、次式(2)によって表される。 1/Zo=1/rc1+1/rc2+n/R ……(2)式 この1/ZoはインタフェースモジュールINF1〜I
NFnが実装されるバックボードのインピーダンスZL
である。尚、Rはラインに対する保護抵抗である。以上
のことから可変抵抗回路rc2の抵抗値は次の式(3)
で表される。 1/rc2=1/ZL−1/rc1−n/R ……(3)式 また、図1の電力供給調整回路PCRの直流特性等価回
路は図5に示すように表される。この図5において、抵
抗rc1とR/nの並列抵抗をrとしている。そして、
上記並列抵抗rに流れる電流をiとすると、次式(4)
の関係がある。 Vcc−i・r > 0 ……(4)式 更に、次式(5)に変形することができる。 i < Vcc/r ≦ IOLmax ……(5)式 尚、このIOLmaxは、ドライバに流れ込む最大出力
電流を表している。そして、上述の(5)式から、rc
1とnの関係は次式(6)によって表される。 Vcc≦IOLmax・R・rc1/(R+n・rc1) ……(6)式 更に、展開して次式(7)のように表される。 rc1≦−R・Vcc/(Vcc・n−R/IOLmax) ……(7)式 尚、rc1の値は正であるから、次式(8)の関係があ
る。 Vcc・n−R・IOLmax<0 ……(8)式 更に、上述の(8)式を変形して、次式(9)を得る。 n<R・IOLmax/Vcc ……(9)式 以上のことからインタフェースモジュールINFの実装
枚数はドライバに流れ込む電流の最大値に依存する。そ
して、例えば、R=10kΩ、ZL=50Ω、Vcc=
5Vとした場合に、インタフェースモジュールINFの
実装枚数nが1〜20のときに、IOLmaxに対する
終端抵抗器rc1の値は図6のようなグラフで表すこと
ができる。尚、このZL=50Ωは、マイクロストリッ
プ線又は同軸線などの標準的なインピーダンス値であ
る。
【0042】この図6において、特性として4つの例を
表している。第1にIOLmax=24mAの場合の特
性曲線、第2にIOLmax=48mAの場合の特性曲
線、第3にIOLmax=72mAの場合の特性曲線、
第4にIOLmax=96mAの場合の特性曲線を表し
ている。
表している。第1にIOLmax=24mAの場合の特
性曲線、第2にIOLmax=48mAの場合の特性曲
線、第3にIOLmax=72mAの場合の特性曲線、
第4にIOLmax=96mAの場合の特性曲線を表し
ている。
【0043】更に、上述の(3)式からrc2と実装枚
数nとの関係は、次式(10)のよに表される。 rc2= R・ZL・rc1/(R・rc1−R・ZL)・(1−ZL・rc1・n/ (R・rc1・R・ZL))−1 ……(10)式 そして、この(10)式の値は、ほぼ次式(11)と同
等で表現することができる。 R・ZL・rc1/(R・rc1−R・ZL)・(1+ZL・rc1・n/ (R・rc1−R・ZL)) ……(11)式 そして、上述のR・ZL・rc1/(R・rc1−R・
ZL)・nが非常に小さいため上記(11)式と近似で
きる。そして、電力供給調整回路PCRの終端抵抗rc
2は、図7のグラフで表すことができる。この図7にお
いて、実線は上記(10)式による理論値の特性曲線で
あって、点線は上記(11)式による近似値である。
数nとの関係は、次式(10)のよに表される。 rc2= R・ZL・rc1/(R・rc1−R・ZL)・(1−ZL・rc1・n/ (R・rc1・R・ZL))−1 ……(10)式 そして、この(10)式の値は、ほぼ次式(11)と同
等で表現することができる。 R・ZL・rc1/(R・rc1−R・ZL)・(1+ZL・rc1・n/ (R・rc1−R・ZL)) ……(11)式 そして、上述のR・ZL・rc1/(R・rc1−R・
ZL)・nが非常に小さいため上記(11)式と近似で
きる。そして、電力供給調整回路PCRの終端抵抗rc
2は、図7のグラフで表すことができる。この図7にお
いて、実線は上記(10)式による理論値の特性曲線で
あって、点線は上記(11)式による近似値である。
【0044】そして、上述の図6によるrc1の値は、
IOLmax=48mAのとき、rc1=100Ωとな
る。また、rc2の値は上述の(11)式から次式(1
2)によって表される。 rc2=100+n ……(12)式 (電力供給調整回路PCRの構成): この(12)
式から、電力供給調整回路PCRの可変抵抗回路rc2
の構成を図8のようにして構成することができる。即
ち、この図8において、線路インピーダンスZoのイン
サートデータINSDライン又はインサートクロックI
NCKラインには固定電力Vcc(例えば、+5V)に
固定抵抗器rc1として100Ωが接続されている。更
に、ラインからインタフェースモジュールINF1〜I
NFnの保護のための保護抵抗器Rとして、10kΩ/
n枚がラインとVccとの間に接続されている。
IOLmax=48mAのとき、rc1=100Ωとな
る。また、rc2の値は上述の(11)式から次式(1
2)によって表される。 rc2=100+n ……(12)式 (電力供給調整回路PCRの構成): この(12)
式から、電力供給調整回路PCRの可変抵抗回路rc2
の構成を図8のようにして構成することができる。即
ち、この図8において、線路インピーダンスZoのイン
サートデータINSDライン又はインサートクロックI
NCKラインには固定電力Vcc(例えば、+5V)に
固定抵抗器rc1として100Ωが接続されている。更
に、ラインからインタフェースモジュールINF1〜I
NFnの保護のための保護抵抗器Rとして、10kΩ/
n枚がラインとVccとの間に接続されている。
【0045】そして、上述の(12)式から、可変抵抗
回路rc2は、上記ラインとアース端子Eとの間に、直
列抵抗器re21〜re2nが直列に接続されている。
そして、re21は100Ωで、残りのre22〜re
2nは、それぞれ1Ωとしている。更に、実装枚数に応
じてラインに対する電力供給(電流供給)を調整するた
めに、1Ωの直列抵抗器re22〜re2nを必要に応
じてリレースイッチre1〜renを用いてバイパスさ
せて、合成直列抵抗値を小さくしたり、バイパスさせず
に合成直列抵抗値を大きくさせたりしている。このよう
にすることで、可変抵抗回路rc2の合成直列抵抗値
を、インタフェースモジュールINFの実装枚数に応じ
て、最小100Ωから最大100Ω+1Ω×nまで可変
させることができる。
回路rc2は、上記ラインとアース端子Eとの間に、直
列抵抗器re21〜re2nが直列に接続されている。
そして、re21は100Ωで、残りのre22〜re
2nは、それぞれ1Ωとしている。更に、実装枚数に応
じてラインに対する電力供給(電流供給)を調整するた
めに、1Ωの直列抵抗器re22〜re2nを必要に応
じてリレースイッチre1〜renを用いてバイパスさ
せて、合成直列抵抗値を小さくしたり、バイパスさせず
に合成直列抵抗値を大きくさせたりしている。このよう
にすることで、可変抵抗回路rc2の合成直列抵抗値
を、インタフェースモジュールINFの実装枚数に応じ
て、最小100Ωから最大100Ω+1Ω×nまで可変
させることができる。
【0046】そして、図8のリレースイッチre1〜r
enのオン、オフは抵抗値制御部10(図1)からの抵
抗値制御信号によって制御される。そして、インタフェ
ースモジュールINFの実装枚数が増加する(コネクタ
に挿入される)場合には、インサートデータINSDラ
イン又はインサートクロックINCKラインへの印加電
圧を大きくさせるために、可変抵抗回路rc2の合成直
列抵抗値が大きくなるようにリレースイッチre1〜r
enをオン、オフ制御する。
enのオン、オフは抵抗値制御部10(図1)からの抵
抗値制御信号によって制御される。そして、インタフェ
ースモジュールINFの実装枚数が増加する(コネクタ
に挿入される)場合には、インサートデータINSDラ
イン又はインサートクロックINCKラインへの印加電
圧を大きくさせるために、可変抵抗回路rc2の合成直
列抵抗値が大きくなるようにリレースイッチre1〜r
enをオン、オフ制御する。
【0047】また、インタフェースモジュールINFの
実装枚数が減少する(コネクタから抜去される)場合に
は、インサートデータINSDライン又はインサートク
ロックINCKラインへの印加電圧を小さくさせるため
に、可変抵抗回路rc2の合成直列抵抗値が小さくなる
ようにリレースイッチre1〜renをオン、オフ制御
するものである。
実装枚数が減少する(コネクタから抜去される)場合に
は、インサートデータINSDライン又はインサートク
ロックINCKラインへの印加電圧を小さくさせるため
に、可変抵抗回路rc2の合成直列抵抗値が小さくなる
ようにリレースイッチre1〜renをオン、オフ制御
するものである。
【0048】(インタフェースモジュールINFの挿入
・抜去): 次にインタフェースモジュールINF1
〜INFnのバックボードのコネクタk1〜knへ挿入
(装着)の場合と、抜去の場合の動作を図9を用いて説
明する。この図9において、インタフェースモジュール
INF1〜INFnをバックボードのコネクタk1〜k
nへ挿入(装着)すると、コネクタk1〜knを通じて
インタフェースモジュールINF1〜INFnと実装枚
数判定部11との間の接続ラインIFMNT−LINE
(1)〜(n)が電気的に閉ループを形成する。
・抜去): 次にインタフェースモジュールINF1
〜INFnのバックボードのコネクタk1〜knへ挿入
(装着)の場合と、抜去の場合の動作を図9を用いて説
明する。この図9において、インタフェースモジュール
INF1〜INFnをバックボードのコネクタk1〜k
nへ挿入(装着)すると、コネクタk1〜knを通じて
インタフェースモジュールINF1〜INFnと実装枚
数判定部11との間の接続ラインIFMNT−LINE
(1)〜(n)が電気的に閉ループを形成する。
【0049】つまり、各接続ラインIFMNT−LIN
E(1)〜(n)は、インタフェースモジュールINF
1〜INFnの内部でアース端子Eに接続されているた
め、レベル的にはロウレベルにされる。そして、各ライ
ンのロウレベル信号は実装枚数判定部11に与えられ
る。
E(1)〜(n)は、インタフェースモジュールINF
1〜INFnの内部でアース端子Eに接続されているた
め、レベル的にはロウレベルにされる。そして、各ライ
ンのロウレベル信号は実装枚数判定部11に与えられ
る。
【0050】一方、インタフェースモジュールINF1
〜INFnをバックボードのコネクタk1〜knから抜
去すると、インタフェースモジュールINF1〜INF
nと実装枚数判定部11との間の接続ラインIFMNT
−LINE(1)〜(n)が電気的に開ループを形成す
る。即ち、接続ラインIFMNT−LINE(1)〜
(n)がオープンになる。この状態は実装枚数判定部1
1に与えられる。
〜INFnをバックボードのコネクタk1〜knから抜
去すると、インタフェースモジュールINF1〜INF
nと実装枚数判定部11との間の接続ラインIFMNT
−LINE(1)〜(n)が電気的に開ループを形成す
る。即ち、接続ラインIFMNT−LINE(1)〜
(n)がオープンになる。この状態は実装枚数判定部1
1に与えられる。
【0051】(実装枚数判定部): 図9は実装枚数
判定部11の一例の機能構成図である。この図9におい
て、実装枚数判定部11は、主にパラレル/シリアル変
換回路11aと、カウンタ11bと、インバータ回路1
1c1〜11cnと、抵抗器回路r31〜r3nとから
構成されている。
判定部11の一例の機能構成図である。この図9におい
て、実装枚数判定部11は、主にパラレル/シリアル変
換回路11aと、カウンタ11bと、インバータ回路1
1c1〜11cnと、抵抗器回路r31〜r3nとから
構成されている。
【0052】そして、この実装枚数判定部11は、イン
タフェースモジュールINF1〜INFnとの接続ライ
ンIFMNT−LINE(1)〜(n)を取り込んでい
る。そして、この取り込まれている接続ラインは入力側
で固定電力Vcc(例えば、+5V)に抵抗器r31〜
r3nを介して接続されている。これと同時に更に、接
続ラインIFMNT−LINE(1)〜(n)はインバ
ータ回路11c1〜11cnに接続されている。
タフェースモジュールINF1〜INFnとの接続ライ
ンIFMNT−LINE(1)〜(n)を取り込んでい
る。そして、この取り込まれている接続ラインは入力側
で固定電力Vcc(例えば、+5V)に抵抗器r31〜
r3nを介して接続されている。これと同時に更に、接
続ラインIFMNT−LINE(1)〜(n)はインバ
ータ回路11c1〜11cnに接続されている。
【0053】((インタフェースモジュールと接続され
ている場合)): 従って、インタフェースモジュー
ルINF1〜INFnとの接続がなされている場合に
は、インバータ回路11c1〜11cnの入力には、ロ
ウレベル信号が与えられる。そして、インバータ回路1
1c1〜11cnの出力は、ハイレベル信号を出力して
パラレル/シリアル変換回路11aに与える。そして、
パラレル/シリアル変換回路11aには、フレームパル
スと、クロックとが与えられていて、インバータ回路1
1c1〜11cnの出力信号をシリアルデータに変換し
てカウンタストップスタートラインでカウンタ11bに
与える。
ている場合)): 従って、インタフェースモジュー
ルINF1〜INFnとの接続がなされている場合に
は、インバータ回路11c1〜11cnの入力には、ロ
ウレベル信号が与えられる。そして、インバータ回路1
1c1〜11cnの出力は、ハイレベル信号を出力して
パラレル/シリアル変換回路11aに与える。そして、
パラレル/シリアル変換回路11aには、フレームパル
スと、クロックとが与えられていて、インバータ回路1
1c1〜11cnの出力信号をシリアルデータに変換し
てカウンタストップスタートラインでカウンタ11bに
与える。
【0054】このときの、クロックは動作タイミングチ
ャート図11(その1)(a)のようなタイミングで与
えられる。更に、フレームパルスは図11(b)に示す
ようなタイミングで与えられる。更にまた、パラレル/
シリアル変換回路11aの出力は図11(c)に示すよ
うなタイミングで出力する。即ち、一つのインタフェー
スモジュールINFの実装状態を1クロックパルスの周
期で表している。そして、1フレームパルスの周期の間
に、インタフェースモジュールINF1〜INFnまで
の実装状態をシリアルデータに編集して出力している。
ャート図11(その1)(a)のようなタイミングで与
えられる。更に、フレームパルスは図11(b)に示す
ようなタイミングで与えられる。更にまた、パラレル/
シリアル変換回路11aの出力は図11(c)に示すよ
うなタイミングで出力する。即ち、一つのインタフェー
スモジュールINFの実装状態を1クロックパルスの周
期で表している。そして、1フレームパルスの周期の間
に、インタフェースモジュールINF1〜INFnまで
の実装状態をシリアルデータに編集して出力している。
【0055】そして、図9のカウンタ11bはパラレル
/シリアル変換回路11aからのシリアルデータ(図1
1(c))からインタフェースモジュールINF1〜I
NFnの実装枚数を計数する。そして、カウンタ値とし
て図11(d)に示すようなタイミングで出力し、終端
抵抗値制御部10に与える。
/シリアル変換回路11aからのシリアルデータ(図1
1(c))からインタフェースモジュールINF1〜I
NFnの実装枚数を計数する。そして、カウンタ値とし
て図11(d)に示すようなタイミングで出力し、終端
抵抗値制御部10に与える。
【0056】((インタフェースモジュールINFが接
続されていない場合)): また、インタフェースモ
ジュールINFが接続されていない場合には、図9の接
続ラインIFMNT−LINE(1)〜(n)はオ−プ
ンとなり、インバータ回路11c1〜11cnにはハイ
レベル信号が与えられ、そして、インバータ回路11c
1〜11cnはロウレベル信号をパラレル/シリアル変
換回路11aを与える。そして、パラレル/シリアル変
換回路11aはインバータ回路11c1〜11cnから
のロウレベル信号をシリアル信号に編集(多重化)し、
シリアルデータをカウンタ11bに与える。そして、こ
のカウンタ11bは、与えられたシリアル信号から実装
枚数の計数を行う訳であるが、ロウレベル信号が多重化
されているわけであるから、実装されていないと判断
し、これに対応するカウンタ値を出力する。
続されていない場合)): また、インタフェースモ
ジュールINFが接続されていない場合には、図9の接
続ラインIFMNT−LINE(1)〜(n)はオ−プ
ンとなり、インバータ回路11c1〜11cnにはハイ
レベル信号が与えられ、そして、インバータ回路11c
1〜11cnはロウレベル信号をパラレル/シリアル変
換回路11aを与える。そして、パラレル/シリアル変
換回路11aはインバータ回路11c1〜11cnから
のロウレベル信号をシリアル信号に編集(多重化)し、
シリアルデータをカウンタ11bに与える。そして、こ
のカウンタ11bは、与えられたシリアル信号から実装
枚数の計数を行う訳であるが、ロウレベル信号が多重化
されているわけであるから、実装されていないと判断
し、これに対応するカウンタ値を出力する。
【0057】((インタフェースモジュールINF1、
3、4、7が接続されている場合)): インタフェ
ースモジュールINF1、3、4、7が実装されている
場合の実装枚数判定部11の動作タイミングを図12
(その2)に示している。この場合には、実装枚数判定
部11のインバータ回路11c1〜11cnの入力に
は、図12(c)〜(l)に示すようなレベルの信号が
与えられる。つまり、接続ラインIFMNT−LINE
(1)、(3)、(4)、(7)はロウレベルで与えら
れ、その他の接続ラインはハイレベルで与えられる。
3、4、7が接続されている場合)): インタフェ
ースモジュールINF1、3、4、7が実装されている
場合の実装枚数判定部11の動作タイミングを図12
(その2)に示している。この場合には、実装枚数判定
部11のインバータ回路11c1〜11cnの入力に
は、図12(c)〜(l)に示すようなレベルの信号が
与えられる。つまり、接続ラインIFMNT−LINE
(1)、(3)、(4)、(7)はロウレベルで与えら
れ、その他の接続ラインはハイレベルで与えられる。
【0058】そして、インバータ回路11c1〜11c
nの入力に与えられたこれらの信号は、反転されパラレ
ル/シリアル変換回路11aに与えられる。そして、シ
リアルデータに編集(多重化)され、図12(m)に示
すようなタイミングでカウンタ11bに与えられる。
nの入力に与えられたこれらの信号は、反転されパラレ
ル/シリアル変換回路11aに与えられる。そして、シ
リアルデータに編集(多重化)され、図12(m)に示
すようなタイミングでカウンタ11bに与えられる。
【0059】この図12(m)のm1のタイミングはイ
ンタフェースモジュールINF1の実装状態を表す信号
部分である。また、図12(m)のm3のタイミングは
インタフェースモジュールINF3の実装状態を表す信
号部分である。更に、図12(m)のm4のタイミング
はインタフェースモジュールINF4の実装状態を表す
信号部分である。更にまた、図12(m)のm7のタイ
ミングはインタフェースモジュールINF7の実装状態
を表す信号部分である。
ンタフェースモジュールINF1の実装状態を表す信号
部分である。また、図12(m)のm3のタイミングは
インタフェースモジュールINF3の実装状態を表す信
号部分である。更に、図12(m)のm4のタイミング
はインタフェースモジュールINF4の実装状態を表す
信号部分である。更にまた、図12(m)のm7のタイ
ミングはインタフェースモジュールINF7の実装状態
を表す信号部分である。
【0060】そして、カウンタ11bはシリアルデータ
から実装枚数を計数し、カウンタ値を図12(n)に示
すようなタイミングで出力する。即ち、図12(n)に
示すようにカウンタ値、0〜4を出力する。
から実装枚数を計数し、カウンタ値を図12(n)に示
すようなタイミングで出力する。即ち、図12(n)に
示すようにカウンタ値、0〜4を出力する。
【0061】(抵抗値制御部10の構成): 図10
は抵抗値制御部10の一例の構成図である。この図10
において、抵抗値制御部10は、主にデコーダ10a
と、ラッチ10b1〜10bn、10c1〜10cn
と、排他的論理和回路10d1〜10dn、10e1〜
10enと、論理和回路10f1〜10f2とから構成
されている。
は抵抗値制御部10の一例の構成図である。この図10
において、抵抗値制御部10は、主にデコーダ10a
と、ラッチ10b1〜10bn、10c1〜10cn
と、排他的論理和回路10d1〜10dn、10e1〜
10enと、論理和回路10f1〜10f2とから構成
されている。
【0062】そして、デコーダ10aには、実装枚数判
定部11から実装枚数を表すカウンタ値を解読し、カウ
ンタ値に応じたデコード出力DEC−LINE(1)〜
(n)をラッチ回路10b1〜10bnに与える。そし
て、このラッチ回路10b1〜10bnにはフレームパ
ルスが与えられていて、デコード出力DEC−LINE
(1)〜(n)をラッチし、ラッチ出力を次のラッチ回
路10c1〜10cnと、排他的論理和回路10d1〜
10dnとに与えている。このラッチ回路10b1〜1
0bnは、カウンタ値の変化による後段回路(論理和回
路10f1〜10f2など)に与える影響を防ぐ機能を
果たしている。
定部11から実装枚数を表すカウンタ値を解読し、カウ
ンタ値に応じたデコード出力DEC−LINE(1)〜
(n)をラッチ回路10b1〜10bnに与える。そし
て、このラッチ回路10b1〜10bnにはフレームパ
ルスが与えられていて、デコード出力DEC−LINE
(1)〜(n)をラッチし、ラッチ出力を次のラッチ回
路10c1〜10cnと、排他的論理和回路10d1〜
10dnとに与えている。このラッチ回路10b1〜1
0bnは、カウンタ値の変化による後段回路(論理和回
路10f1〜10f2など)に与える影響を防ぐ機能を
果たしている。
【0063】そして、このラッチ回路10c1〜10c
nはラッチ回路10b1〜10bnから与えられるラッ
チ出力を更に与えられているフレームパルスによってラ
ッチし、ラッチ出力を排他的論理和回路10d1〜10
dnと、排他的論理和回路10e1〜10enとに与え
ている。
nはラッチ回路10b1〜10bnから与えられるラッ
チ出力を更に与えられているフレームパルスによってラ
ッチし、ラッチ出力を排他的論理和回路10d1〜10
dnと、排他的論理和回路10e1〜10enとに与え
ている。
【0064】そして、排他的論理和回路10d1〜10
dnは、ラッチ回路10b1〜10bnのラッチ出力
と、ラッチ回路10c1〜10cnのラッチ出力との排
他的論理和を行い、この排他的論理和出力を次の排他的
論理和回路10e1〜10enに与えている。つまり、
この排他的論理和回路10d1〜10dnは、ラッチ回
路10b1〜10bnのラッチ出力とラッチ回路10c
1〜10cnのラッチ出力とから、実装枚数の変化、カ
ウンタ値の変化を検出し、次の排他的論理和回路10e
1〜10enの出力を反転させる役目を果たしている。
dnは、ラッチ回路10b1〜10bnのラッチ出力
と、ラッチ回路10c1〜10cnのラッチ出力との排
他的論理和を行い、この排他的論理和出力を次の排他的
論理和回路10e1〜10enに与えている。つまり、
この排他的論理和回路10d1〜10dnは、ラッチ回
路10b1〜10bnのラッチ出力とラッチ回路10c
1〜10cnのラッチ出力とから、実装枚数の変化、カ
ウンタ値の変化を検出し、次の排他的論理和回路10e
1〜10enの出力を反転させる役目を果たしている。
【0065】そして、この排他的論理和回路10e1〜
10enは、ラッチ回路10c1〜10cnのラッチ出
力と、排他的論理和回路10d1〜10dnとの一致検
出を行い、出力を論理和回路10f1、10f2に与え
ている。この論理和回路10f1、10f2は、排他的
論理和回路10e1〜10enからの出力信号の論理和
を行い、この論理和出力で、電力供給調整回路PCRの
リレーre1〜renのスイッチのオン、オフ制御を行
うように構成している。このリレーre1〜renのス
イッチのオン、オフ制御がなされることで、インタフェ
ースモジュールINFの実装枚数に応じて、終端用の抵
抗器re22〜re2nが選択され、終端抵抗値rc2
が決定される。
10enは、ラッチ回路10c1〜10cnのラッチ出
力と、排他的論理和回路10d1〜10dnとの一致検
出を行い、出力を論理和回路10f1、10f2に与え
ている。この論理和回路10f1、10f2は、排他的
論理和回路10e1〜10enからの出力信号の論理和
を行い、この論理和出力で、電力供給調整回路PCRの
リレーre1〜renのスイッチのオン、オフ制御を行
うように構成している。このリレーre1〜renのス
イッチのオン、オフ制御がなされることで、インタフェ
ースモジュールINFの実装枚数に応じて、終端用の抵
抗器re22〜re2nが選択され、終端抵抗値rc2
が決定される。
【0066】つまり、インタフェースモジュールINF
1〜INFnが接続コネクタに全て実装されている場合
は、リレーre1〜renはオフにされ、終端抵抗値r
c2は100Ω+1Ω×n個となる。
1〜INFnが接続コネクタに全て実装されている場合
は、リレーre1〜renはオフにされ、終端抵抗値r
c2は100Ω+1Ω×n個となる。
【0067】(一実施例の効果): 以上の一実施例
の伝送装置の構成によれば、インタフェースモジュール
INFの実装枚数が変化した場合であっても、各インタ
フェースモジュールINFから実装情報が実装枚数判定
部11に与えられ、ここで実装枚数の数に応じた抵抗値
制御情報として、カウンタ値(実装枚数)が抵抗値制御
部10に与えられ、ここで上記カウンタ値に応じて、電
力供給調整回路PCRのリレーre1〜renをオン、
オフ制御して可変抵抗回路rc2の終端用の抵抗値を調
整しているので、インサートデータINSDライン又は
インサートクロックINCKラインへの印加電圧を調整
することができる。
の伝送装置の構成によれば、インタフェースモジュール
INFの実装枚数が変化した場合であっても、各インタ
フェースモジュールINFから実装情報が実装枚数判定
部11に与えられ、ここで実装枚数の数に応じた抵抗値
制御情報として、カウンタ値(実装枚数)が抵抗値制御
部10に与えられ、ここで上記カウンタ値に応じて、電
力供給調整回路PCRのリレーre1〜renをオン、
オフ制御して可変抵抗回路rc2の終端用の抵抗値を調
整しているので、インサートデータINSDライン又は
インサートクロックINCKラインへの印加電圧を調整
することができる。
【0068】このように構成することで、インタフェー
スモジュールINFの実装枚数の変化が起きても、自動
的に調整対応して、ドライバD1〜Dnからラインを通
して各インタフェースモジュールINFへ与えるインサ
ートデータINSD又はインサートクロックINCKを
乱すことなく与えることができる。
スモジュールINFの実装枚数の変化が起きても、自動
的に調整対応して、ドライバD1〜Dnからラインを通
して各インタフェースモジュールINFへ与えるインサ
ートデータINSD又はインサートクロックINCKを
乱すことなく与えることができる。
【0069】従って、従来に比べ伝送装置に実装される
インタフェースモジュールINFの数が頻繁に変更され
てもインタフェースモジュールへの内部へは何等影響を
与えないと考えられる。これによって、伝送装置の信頼
性を大きく向上させることができる。
インタフェースモジュールINFの数が頻繁に変更され
てもインタフェースモジュールへの内部へは何等影響を
与えないと考えられる。これによって、伝送装置の信頼
性を大きく向上させることができる。
【0070】上述の伝送装置は、回線を収容し、多重化
や回線編集機能などを実現している専用回線ノード装置
(CNE)などに適用した場合に今後非常に信頼性を改
善するものと考えられる。
や回線編集機能などを実現している専用回線ノード装置
(CNE)などに適用した場合に今後非常に信頼性を改
善するものと考えられる。
【0071】(他の実施例): (1)図13は、試
験制御回路1bにおける電力供給調整回路の別の構成例
(PCR1)の図である。上述の実施例では、図1に示
したように電力供給調整回路PCRは、固定電力Vcc
(例えば、+5V)から固定の抵抗器rc1と可変抵抗
回路rc2との分圧出力をインサートデータINSDラ
イン又はインサートクロックINCKラインへ印加する
構成であったが、図13の構成では、固定電力Vccか
ら可変抵抗回路rc3(例えば、100Ω+1Ω×n)
と固定の抵抗器rc4(例えば、100Ω)との分圧出
力をインサートデータINSDライン又はインサートク
ロックINCKラインへ印加するものである。そして、
上記可変抵抗回路rc3は、上述の図8において説明し
たような構成で実現する。そして、上述の図1の抵抗値
制御信号によって、リレーre1〜renのオン、オフ
制御を行い、可変抵抗回路rc3の終端の抵抗値を調整
するものである。
験制御回路1bにおける電力供給調整回路の別の構成例
(PCR1)の図である。上述の実施例では、図1に示
したように電力供給調整回路PCRは、固定電力Vcc
(例えば、+5V)から固定の抵抗器rc1と可変抵抗
回路rc2との分圧出力をインサートデータINSDラ
イン又はインサートクロックINCKラインへ印加する
構成であったが、図13の構成では、固定電力Vccか
ら可変抵抗回路rc3(例えば、100Ω+1Ω×n)
と固定の抵抗器rc4(例えば、100Ω)との分圧出
力をインサートデータINSDライン又はインサートク
ロックINCKラインへ印加するものである。そして、
上記可変抵抗回路rc3は、上述の図8において説明し
たような構成で実現する。そして、上述の図1の抵抗値
制御信号によって、リレーre1〜renのオン、オフ
制御を行い、可変抵抗回路rc3の終端の抵抗値を調整
するものである。
【0072】このような構成によって、インタフェース
モジュールINF1〜INFnを、実装している場合
は、例えば、可変抵抗回路rc3の抵抗値を最小値10
0Ωとし、インタフェースモジュールが抜去されるごと
に抵抗値を100Ωから大きくしていくことで、インサ
ートデータINSDライン又はインサートクロックIN
CKラインへ印加する電圧を調整して、インサートデー
タINSD又はインサートクロックINCKの乱れを極
力最小に抑えることができる。
モジュールINF1〜INFnを、実装している場合
は、例えば、可変抵抗回路rc3の抵抗値を最小値10
0Ωとし、インタフェースモジュールが抜去されるごと
に抵抗値を100Ωから大きくしていくことで、インサ
ートデータINSDライン又はインサートクロックIN
CKラインへ印加する電圧を調整して、インサートデー
タINSD又はインサートクロックINCKの乱れを極
力最小に抑えることができる。
【0073】(他の実施例): (2)図14は、他の
実施例の抵抗値制御部10Aの構成図である。上述の一
実施例の図10の抵抗値制御部10では、デコーダ10
aの出力である、DEC−LINE(1)〜(n)に対
して、それぞれ2段のラッチ回路10b1〜10bn、
10c1〜10cnと、2段の排他的論理和回路10d
1〜10dn、10e1〜10enとの構成によって、
実装枚数判定部11からのカウンタ値(実装枚数)がデ
コーダ10aに受け入れられているときの、変化の影響
を保護する構成としているが、このような保護機能を少
し簡素な構成にしてもよい。このような構成を図14で
示している。即ち、図14においては、デコーダ10a
の出力である、DEC−LINE(1)〜(n)に対し
て、1段のラッチ回路10b1〜10bnで信号を受
け、フレームパルスでラッチ出力する。このラッチ出力
を使用して論理和回路10f1、10f2で論理和出力
を生成し、この論理和出力によって、電力供給調整回路
PCRのリレーをオン、オフ制御することもできる。
実施例の抵抗値制御部10Aの構成図である。上述の一
実施例の図10の抵抗値制御部10では、デコーダ10
aの出力である、DEC−LINE(1)〜(n)に対
して、それぞれ2段のラッチ回路10b1〜10bn、
10c1〜10cnと、2段の排他的論理和回路10d
1〜10dn、10e1〜10enとの構成によって、
実装枚数判定部11からのカウンタ値(実装枚数)がデ
コーダ10aに受け入れられているときの、変化の影響
を保護する構成としているが、このような保護機能を少
し簡素な構成にしてもよい。このような構成を図14で
示している。即ち、図14においては、デコーダ10a
の出力である、DEC−LINE(1)〜(n)に対し
て、1段のラッチ回路10b1〜10bnで信号を受
け、フレームパルスでラッチ出力する。このラッチ出力
を使用して論理和回路10f1、10f2で論理和出力
を生成し、この論理和出力によって、電力供給調整回路
PCRのリレーをオン、オフ制御することもできる。
【0074】以上の構成によって、上述の一実施例の図
10の抵抗値制御部10の構成に比べて簡単な構成とす
ることができる。
10の抵抗値制御部10の構成に比べて簡単な構成とす
ることができる。
【0075】(その他の実施例): (3)図15
は、その他の実施例の実装枚数判定部11Aの構成図で
ある。この図15の構成は、上述の一実施例の図9の構
成において、パラレル/シリアル変換回路11aと、カ
ウンタ11bとを備えていない構成である。即ち、図1
5の実装枚数判定部11Aは、インタフェースモジュー
ルINF1〜INFnまでの接続ラインIFMNT−L
INE(1)〜(n)をインバータ回路11c1〜11
cnで受ける。尚、上述の図9と同様にこの接続ライン
IFMNT−LINE(1)〜(n)は、入力で抵抗r
31〜r3n(例えば、10kΩ程度)を介して固定電
力源Vcc(例えば、+5V)に接続されている。
は、その他の実施例の実装枚数判定部11Aの構成図で
ある。この図15の構成は、上述の一実施例の図9の構
成において、パラレル/シリアル変換回路11aと、カ
ウンタ11bとを備えていない構成である。即ち、図1
5の実装枚数判定部11Aは、インタフェースモジュー
ルINF1〜INFnまでの接続ラインIFMNT−L
INE(1)〜(n)をインバータ回路11c1〜11
cnで受ける。尚、上述の図9と同様にこの接続ライン
IFMNT−LINE(1)〜(n)は、入力で抵抗r
31〜r3n(例えば、10kΩ程度)を介して固定電
力源Vcc(例えば、+5V)に接続されている。
【0076】そして、インバータ回路11c1〜11c
nは、反転出力信号を図16の抵抗値制御部10Bへ与
えるものである。このような構成とすることで、上述の
実施例に比べ実装枚数判定部11Aの構成を非常に簡単
にさせることができる。
nは、反転出力信号を図16の抵抗値制御部10Bへ与
えるものである。このような構成とすることで、上述の
実施例に比べ実装枚数判定部11Aの構成を非常に簡単
にさせることができる。
【0077】(その他の実施例): (4)図16
は、その他の実施例の抵抗値制御部10Bの構成図であ
る。この抵抗値制御部10Bは、上述の図15の実装枚
数判定部11Aのインバータ回路11c1〜11cnの
反転出力信号を受け、この反転出力信号を使用して、電
力供給調整回路PCRのリレーre1〜renのオン、
オフ制御を行うものである。このような構成であること
から、上述の実施例に比べ更に簡単な構成で、実装枚数
に応じた終端用の抵抗値rc2に調整することができ
る。
は、その他の実施例の抵抗値制御部10Bの構成図であ
る。この抵抗値制御部10Bは、上述の図15の実装枚
数判定部11Aのインバータ回路11c1〜11cnの
反転出力信号を受け、この反転出力信号を使用して、電
力供給調整回路PCRのリレーre1〜renのオン、
オフ制御を行うものである。このような構成であること
から、上述の実施例に比べ更に簡単な構成で、実装枚数
に応じた終端用の抵抗値rc2に調整することができ
る。
【0078】(その他の実施例): (5)上述の実
施例においては、この発明を伝送装置への適用を例にし
て説明したが、他の装置やシステムへの適用についても
可能である。つまり、装置内のある信号源から、バスラ
インなどを通じて、バスラインに接続され得る処理ボー
ドなどが挿抜可能に複数搭載され、信号が分配して供給
されるような環境であれば、基本的にはこの発明を適用
して効果的であると考えられる。例えば、交換装置や情
報処理装置などである。
施例においては、この発明を伝送装置への適用を例にし
て説明したが、他の装置やシステムへの適用についても
可能である。つまり、装置内のある信号源から、バスラ
インなどを通じて、バスラインに接続され得る処理ボー
ドなどが挿抜可能に複数搭載され、信号が分配して供給
されるような環境であれば、基本的にはこの発明を適用
して効果的であると考えられる。例えば、交換装置や情
報処理装置などである。
【0079】また、信号を供給する信号出力装置からバ
スラインを通じて、複数の処理装置に信号を与えるシス
テムでの、バスラインによる信号供給の補償にも適用す
ることができる。
スラインを通じて、複数の処理装置に信号を与えるシス
テムでの、バスラインによる信号供給の補償にも適用す
ることができる。
【0080】(6)また、上述の実施例では、実装枚数
に応じて、電力供給調整回路PCRによって、インサー
トデータINSDライン又はインサートクロックINC
Kラインへの印加電圧を調整する例を示したが、この他
にラインの電流を積極的に調整するような構成を採る構
成であってもよい。その他、ラインのインピーダンスを
積極的に調整する構成で供給信号の波形が乱れないよう
に調整することであってもよい。
に応じて、電力供給調整回路PCRによって、インサー
トデータINSDライン又はインサートクロックINC
Kラインへの印加電圧を調整する例を示したが、この他
にラインの電流を積極的に調整するような構成を採る構
成であってもよい。その他、ラインのインピーダンスを
積極的に調整する構成で供給信号の波形が乱れないよう
に調整することであってもよい。
【0081】(7)更に、分配供給する信号は、デジタ
ル信号に限らず、アナログ信号の分配供給の補償のため
にも、この発明を適用し得る。
ル信号に限らず、アナログ信号の分配供給の補償のため
にも、この発明を適用し得る。
【0082】(8)更にまた、実装枚数判定部11や、
抵抗値制御部10の具体的な構成について、図9、図1
0などに示すように論理回路のハードウエア構成で示し
たが、この他にプログラム演算による実装枚数の判定
や、抵抗値制御を行う構成であってもよい。
抵抗値制御部10の具体的な構成について、図9、図1
0などに示すように論理回路のハードウエア構成で示し
たが、この他にプログラム演算による実装枚数の判定
や、抵抗値制御を行う構成であってもよい。
【0083】(9)また、上述の実施例の電力供給調整
回路PCRの抵抗器re1〜renの選択においては、
リレーre1〜renをオン、オフ制御する例を示した
が、リレーを使用せずに、半導体スイッチなどで選択す
ることであってもよい。
回路PCRの抵抗器re1〜renの選択においては、
リレーre1〜renをオン、オフ制御する例を示した
が、リレーを使用せずに、半導体スイッチなどで選択す
ることであってもよい。
【0084】(10)更に、上述の実施例では、試験信
号の伝送路を電気信号伝送路であるインサートデータI
NSDライン又はインサートクロックINCKラインと
して説明したが、他に光導波路、光ファイバケーブルな
どとしてもよい。このような場合には、信号は光信号と
して、光導波路を伝送され、光カプラなどで光分岐して
光受信モジュールへ取り込まれる。光受信モジュールの
挿抜がある場合に、実装される光受信モジュールが増加
する場合には、光受信モジュールへの光パワーが不足し
て、光信号の品質が悪くなることがあるので、このよう
な場合に光導波路への光受信モジュールの接続数に応じ
て、光信号の増幅を調整することが好ましい。このよう
に光信号の分配調整を行うことで、光受信モジュールへ
の光信号の品質を劣化させないようにすることができ
る。
号の伝送路を電気信号伝送路であるインサートデータI
NSDライン又はインサートクロックINCKラインと
して説明したが、他に光導波路、光ファイバケーブルな
どとしてもよい。このような場合には、信号は光信号と
して、光導波路を伝送され、光カプラなどで光分岐して
光受信モジュールへ取り込まれる。光受信モジュールの
挿抜がある場合に、実装される光受信モジュールが増加
する場合には、光受信モジュールへの光パワーが不足し
て、光信号の品質が悪くなることがあるので、このよう
な場合に光導波路への光受信モジュールの接続数に応じ
て、光信号の増幅を調整することが好ましい。このよう
に光信号の分配調整を行うことで、光受信モジュールへ
の光信号の品質を劣化させないようにすることができ
る。
【0085】更に、上記光受信モジュールで受信した光
信号を電気信号に変換して、インタフェース対応した信
号処理モジュールへ与えることで、良好な信号処理を実
現することができる。
信号を電気信号に変換して、インタフェース対応した信
号処理モジュールへ与えることで、良好な信号処理を実
現することができる。
【0086】
【発明の効果】以上述べた様にこの発明によれば、信号
受信手段で使用するための信号を信号伝送路へ出力する
信号出力手段と、信号出力手段からの信号を接続コネク
タによって挿抜可能な少なくとも2以上の信号受信手段
に分配するための信号伝送路とを備え、更に信号伝送路
からの信号を接続コネクタを通じて受ける挿抜可能な信
号受信手段を少なくとも2以上備え、各信号受信手段は
接続コネクタに接続されているときに接続されているこ
とを表す接続状態信号を出力し、接続状態信号から、信
号受信手段の接続コネクタへの接続数に応じて、信号伝
送路への信号分配調整を行って、各信号受信手段の接続
コネクタとの挿抜に応じて各信号受信手段への供給信号
を補償することで、各信号受信手段の接続数が変化して
も良好な信号を各信号受信手段に与えることができる。
受信手段で使用するための信号を信号伝送路へ出力する
信号出力手段と、信号出力手段からの信号を接続コネク
タによって挿抜可能な少なくとも2以上の信号受信手段
に分配するための信号伝送路とを備え、更に信号伝送路
からの信号を接続コネクタを通じて受ける挿抜可能な信
号受信手段を少なくとも2以上備え、各信号受信手段は
接続コネクタに接続されているときに接続されているこ
とを表す接続状態信号を出力し、接続状態信号から、信
号受信手段の接続コネクタへの接続数に応じて、信号伝
送路への信号分配調整を行って、各信号受信手段の接続
コネクタとの挿抜に応じて各信号受信手段への供給信号
を補償することで、各信号受信手段の接続数が変化して
も良好な信号を各信号受信手段に与えることができる。
【図1】この発明の一実施例の伝送装置の構成図であ
る。
る。
【図2】従来例におけるインサート試験システムにおけ
る構成図である。
る構成図である。
【図3】従来例の伝送装置の構成図である。
【図4】一実施例の交流特性等価回路図である。
【図5】一実施例の直流特性等価回路図である。
【図6】一実施例の終端抵抗値rc1と実装枚数との関
係図である。
係図である。
【図7】一実施例の終端抵抗値rc2と実装枚数との関
係図である。
係図である。
【図8】一実施例の電力供給調整回路の構成図である。
【図9】一実施例の実装枚数判定部の構成図である。
【図10】一実施例の抵抗値制御部の構成図である。
【図11】一実施例の動作タイミングチャート(その
1)である。
1)である。
【図12】一実施例の動作タイミングチャート(その
2)である。
2)である。
【図13】他の実施例の電力供給調整回路の構成図であ
る。
る。
【図14】他の実施例の抵抗値制御部の構成図である。
【図15】その他の実施例の実装枚数判定部の構成図で
ある。
ある。
【図16】その他の実施例の抵抗値制御部の構成図であ
る。
る。
1b…試験制御回路、10…抵抗値制御部、11…実装
枚数判定部、D1、Dn…ドライバ、INF1〜INF
n…インタフェースモジュール、J1〜Jn…インタフ
ェースモジュール実装情報、k1〜kn…バックボード
の接続コネクタ、PCR…電力供給調整回路、rc1…
固定抵抗器、rc2…可変抵抗回路、Rx1〜Rxn…
レシーバ、Vcc…固定電力源。
枚数判定部、D1、Dn…ドライバ、INF1〜INF
n…インタフェースモジュール、J1〜Jn…インタフ
ェースモジュール実装情報、k1〜kn…バックボード
の接続コネクタ、PCR…電力供給調整回路、rc1…
固定抵抗器、rc2…可変抵抗回路、Rx1〜Rxn…
レシーバ、Vcc…固定電力源。
Claims (5)
- 【請求項1】 信号受信手段で使用するための信号を信
号伝送路へ出力する信号出力手段と、 上記信号出力手段からの信号を接続コネクタによって挿
抜可能な少なくとも2以上の信号受信手段に分配するた
めの信号伝送路とを備え、 更に上記信号伝送路からの信号を接続コネクタを通じて
受ける挿抜可能な信号受信手段を少なくとも2以上備
え、 各信号受信手段は接続コネクタに接続されているときに
接続されていることを表す接続状態信号を出力し、 上記接続状態信号から、信号受信手段の接続コネクタへ
の接続数に応じて、上記信号伝送路への信号分配調整を
行って、 上記各信号受信手段の接続コネクタとの挿抜に応じて各
信号受信手段への供給信号を補償することを特徴とする
供給信号補償方法。 - 【請求項2】 上記信号分配調整は、信号受信手段の接
続コネクタへの接続数に応じて、上記信号伝送路への印
加電圧を調整する、上記信号伝送路の信号の電流を調整
する、上記信号伝送路と各信号受信手段との間のインピ
ーダンス整合状態を調整する、又は上記信号伝送路の信
号の増幅を調整する、のいずれかの信号分配調整を行う
ことを特徴とする請求項1に記載の供給信号補償方法。 - 【請求項3】 信号受信手段で使用するための信号を信
号伝送路へ出力する信号出力手段と、 上記信号出力手段からの信号を接続コネクタによって挿
抜可能な少なくとも2以上の信号受信手段に分配するた
めの信号伝送路とを備え、 上記信号伝送路からの信号を接続コネクタを通じて受け
る挿抜可能な信号受信手段を少なくとも2以上備え、し
かも、各信号受信手段は接続コネクタに接続されている
ときに接続されていることを表す接続状態信号を出力し
得る接続状態信号出力手段を備え、 上記接続状態信号を受けて、信号受信手段の接続コネク
タへの接続数に応じて、上記信号伝送路への信号分配調
整を行う信号分配調整手段を備えて、上記各信号受信手
段の接続コネクタとの挿抜に応じて各信号受信手段への
供給信号を補償する構成としたことを特徴とする供給信
号補償装置。 - 【請求項4】 上記信号分配調整手段は、信号受信手段
の接続コネクタへの接続数に応じて、上記信号伝送路へ
の印加電圧を調整する手段、上記信号伝送路の電流を調
整する手段、上記信号伝送路と各信号受信手段との間の
インピーダンス整合状態を調整する手段、又は上記信号
伝送路の信号の増幅を調整する手段、のいずれかの手段
を備えてなることを特徴とした請求項3に記載の供給信
号補償装置。 - 【請求項5】 上記請求項3又は4に記載の上記供給信
号補償装置が備えられる供給信号処理システムであっ
て、 上記2以上の各信号受信手段にインタフェース対応し
て、2以上の信号処理手段が備えられていて、 各信号受信手段は信号伝送路から受信した信号を、イン
タフェース対応する上記2以上の信号処理手段に与え、 各信号処理手段は与えられた信号を処理することを特徴
とした供給信号処理システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6025320A JPH07235940A (ja) | 1994-02-23 | 1994-02-23 | 供給信号補償方法、供給信号補償装置及び供給信号処理システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6025320A JPH07235940A (ja) | 1994-02-23 | 1994-02-23 | 供給信号補償方法、供給信号補償装置及び供給信号処理システム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07235940A true JPH07235940A (ja) | 1995-09-05 |
Family
ID=12162696
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6025320A Pending JPH07235940A (ja) | 1994-02-23 | 1994-02-23 | 供給信号補償方法、供給信号補償装置及び供給信号処理システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07235940A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006325140A (ja) * | 2005-05-20 | 2006-11-30 | Matsushita Electric Works Ltd | インターホンシステム |
JP2015531193A (ja) * | 2012-07-26 | 2015-10-29 | クゥアルコム・インコーポレイテッドQualcomm Incorporated | 基準クロック信号バッファにおけるバッファ入力インピーダンス補償 |
-
1994
- 1994-02-23 JP JP6025320A patent/JPH07235940A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006325140A (ja) * | 2005-05-20 | 2006-11-30 | Matsushita Electric Works Ltd | インターホンシステム |
JP2015531193A (ja) * | 2012-07-26 | 2015-10-29 | クゥアルコム・インコーポレイテッドQualcomm Incorporated | 基準クロック信号バッファにおけるバッファ入力インピーダンス補償 |
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